NL8200561A - Werkwijze voor het neerslaan van een metaal. - Google Patents

Werkwijze voor het neerslaan van een metaal. Download PDF

Info

Publication number
NL8200561A
NL8200561A NL8200561A NL8200561A NL8200561A NL 8200561 A NL8200561 A NL 8200561A NL 8200561 A NL8200561 A NL 8200561A NL 8200561 A NL8200561 A NL 8200561A NL 8200561 A NL8200561 A NL 8200561A
Authority
NL
Netherlands
Prior art keywords
substrate
metal
layer
irradiated
deposited
Prior art date
Application number
NL8200561A
Other languages
English (en)
Original Assignee
Philips Nv
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Philips Nv filed Critical Philips Nv
Priority to NL8200561A priority Critical patent/NL8200561A/nl
Priority to US06/459,859 priority patent/US4441964A/en
Priority to DE8383200147T priority patent/DE3360538D1/de
Priority to EP83200147A priority patent/EP0086520B1/en
Priority to JP58019901A priority patent/JPS58147584A/ja
Priority to CA000421348A priority patent/CA1217163A/en
Publication of NL8200561A publication Critical patent/NL8200561A/nl

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C25ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
    • C25DPROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
    • C25D5/00Electroplating characterised by the process; Pretreatment or after-treatment of workpieces
    • C25D5/02Electroplating of selected surface areas
    • C25D5/024Electroplating of selected surface areas using locally applied electromagnetic radiation, e.g. lasers
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C18/00Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating
    • C23C18/16Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by reduction or substitution, e.g. electroless plating
    • C23C18/1601Process or apparatus
    • C23C18/1603Process or apparatus coating on selected surface areas
    • C23C18/1607Process or apparatus coating on selected surface areas by direct patterning
    • C23C18/1612Process or apparatus coating on selected surface areas by direct patterning through irradiation means
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L2224/32Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
    • H01L2224/321Disposition
    • H01L2224/32151Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/32221Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/32245Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/484Connecting portions
    • H01L2224/48463Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a ball bond
    • H01L2224/48464Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a ball bond the other connecting portion not on the bonding area also being a ball bond, i.e. ball-to-ball
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73251Location after the connecting process on different surfaces
    • H01L2224/73265Layer and wire connectors

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Electrochemistry (AREA)
  • Electroplating Methods And Accessories (AREA)
  • Chemically Coating (AREA)

Description

EHN 10.274 T
* -··» % N.V. Philips' Gloeilampenfabrieken te Eindhoven.
"Vferkwijze voor het neerslaan van een metaal."
De uitvinding heeft betrekking op een werkwijze voor het neerslaan van een metaal op een warmtegeleidend substraat, waarbij het oppervlak van het substraat op tenminste êên plaats in een bad door een laserbundel bestraald wordt en het metaal uit het bad op die plaats op het 5 substraat wordt neergeslagen.
m de techniek worden werkwijzen, waarbij substraten van metaal? lagen warden voorzien, veelvuldig toegepast. Het gaat daarbij cm volledige of gedeeltelijke bedekking van een substraatoppervlak. Bij gedeeltelijke bedekking van een substraatoppervlak wordt bijvoorbeeld een 10 maskering van het substraatoppervlak toegepast, waardoor met metaal te bedekken delen van dat oppervlak worden vrijgelaten. Ook kan metaal op het gehele substraatoppervlak warden aangebracht en vervolgens bijvoorbeeld met behulp van een geschikte maskeringstechniek van plaatsen, waar het metaal niet gewenst is, worden verwijderd.
15 Een belangrijk probleem bij de gedeeltelijke bedekking van sub- straatcppervlakken net. iretaallagen zijn de kosten. Zowel bij gemaskeerd opbrengen als verwijderen van. het metaal, wordt over een relatief groot oppervlak metaal aangebracht waardoor vaak metaal terecht komt op plaatsen waar het niet gewenst is. Bovendien zijn de gebruikelijke masker ings-20 technieken vaak omslachtig en tijdrovend.
Het is bekend (zie i^opl. Phys. Letters 35 651-653 (1979)) cm ander vermijding van maskeringstechnieken op een warmte-isolerend substraat galvanisch metaal neer te slaan pp plaatsen,die door een laserbundel worden bestraald,en in de naaste omgeving van die plaatsen. De lo-25 kale metallisatie hangt waarschijnlijk samen met lokale warmte-ontwik-keling door bestraling met de laserbundel.
Het is echter van belang dat het, onder vermijding van maskerings-technieken, ook mogelijk wordt cm, al of niet galvanisch, plaatselijk metaal neer te slaan op een warmtegeleidend substraat. Een dergelijke 30 techniek is bijvoorbeeld van belang cm een halfgeleiderlichaam te kunnen monteren op een wanrrte-absorberend substraat (z.g. heatsink).
In het bovengenoemde artikel is vermeld dat metaal is neergeslagen pp een metallisch substraat ter plaatse waar dit substraat is be-·' 8200561 * EHN 10.274 2 straald met een laserbundel.
Bij experimenten die aan de uitvinding ten grondslag liggen is echter gebleken dat het metaal ook buiten de bestraalde plaatsen en hun naaste omgeving wordt neergeslagen en wel met een dikte die afneemt met 5' de afstand tot de bestraalde plaats, zodat een gewenste begrenzing van het neerslag niet gemakkelijk wordt verkregen.
Met de uitvinding wordt onder meer beoogd de homogeniteit van de dikte en de begrenzing van het metaalneerslag althans in belangrijke mate te verbeteren.
10 De uitvinding berust onder meer op het inzicht dat het gebrek aan selektiviteit waarschijnlijk samenhangt met het vaak hoge warmtege- -leidend vermogen van toegepaste substraten waardoor het effekt van de laserbundel zich van de bestraalde plaats sterk naar de niet-bestraalde omgeving van die plaats uitbreidt.
15 De in de aanhef vermelde werkwijze wordt volgens de uitvinding derhalve daardoor gekenmerkt, dat het metaal op een, zich althans ter plaatse van de bestraalde plaats en zijn niet-bestraalde omgeving bevindende, laag van het substraat wordt neergeslagen, welke laag een warmte-geleidingscoëfficiënt heeft die kleiner is dan de warmtegeleidingscoëffi-20 ciënt van het. aan de laag grenzende materiaal van het substraat.
Bij de werkwijze volgens de uitvinding blijft het neerslaan van metaal beperkt tot die plaatsen die door de laserbundel bestraald worden en hun naaste omgeving en is het metaalneerslag nagenoeg homogeen van dikte en begrensd.
25 De werkwijze volgens de uitvinding kan electroless worden uit gevoerd, bij voorkeur wordt het metaal echter langs galvanische weg neergeslagen.
Bijzonder goede resultaten qua selektiviteit worden verkregen indien de verhouding van de warmtegeleidingscoëfficiënten van de mate-30 rialen van de laag en van het aangrenzende substraat kleiner is dan de verhouding van de dikte van de laag en de diameter van de laserbundel.
Bij voorkeur wordt het substraat een platte vorm gegeven en strekt de laag zich althans langs één hoofdvlak van het substraat uit.
Een dergelijk substraat is in het algemeen eenvoudig te vervaar-35 digen en bovendien kan dan de laag elders op het substraat met voordeel worden toegepast bij een andere bewerkingsstap waarbij een lokale warmtebehandeling moet worden toegepast.
Waar de toepassing van het substraat voor halfgeleiderinrichting- 8200561 Λ i' PHN 10.274 3 en een werking als "heatsink" vereist, worden vaak koper of koperhoudende legeringen toegepast, bij voorbeeld koperzink-, kqpertin- en. koperzircoon-legeringen. Dergelijke materialen hebben een hoge warmtegeleidingscoëffi-ciënt en lenen zich, zonder meer, slecht voor seléktieve bedekking met g behulp van een laserbundel.
Bij voorkeur wordt de laag verkregen door neerslaan van een materiaal behorende tot de groep bestaande uit cobalt- en nikkelfosforlege-ringen, nikkelboorlegeringen en titaannitride. Hiermee worden gunstige resultaten bereikt wat betreft bijvoorbeeld het aanbrengen van voor half-geleiderinrichtingen noodzakelijke metalliseringsgebieden en wordt de werking van het substraat als heatsink niet nadelig beïnvloed.
Bij voorkeur wordt als metaal goud neergeslagen. Dit geschiedt bijvoorbeeld qp een nikkelfosforlaag. Het selektieve goudneerslag kan dan bijvoorbeeld warden toegepast voor het solderen van een halfgeleider-15 lichaam, dat bijvoorbeeld uit silicium bestaat, terwijl elders op het substraat de nikkelfosforlaag kan worden gebruikt voor externe verbindingen met delen van het halfgeleiderlichaam door aluminiumbonding.
De uitvinding zal nu worden toegelicht aan de hand van een voorbeeld en van bijgaande tekening.
2Q In de tekening stelt figuur 1 schematisch een aanzicht voor van een deel van een halfgeleider inrichting in een stadium van vervaardiging met behulp van de werkwijze volgens de uitvinding, stelt figuur 2 schematisch een doorsnede voor volgens de lijn II-II in figuur 1 van de halfgeleiderinrichting in dat stadium en 25 geeft figuur 3 schematisch een opstelling weer voor het uitvoe ren van de werkwijze volgens de uitvinding.
Bij de vervaardiging van de als voorbeeld gekozen halfgeleiderinrichting wordt uitgegaan van een warmtegeleidend substraat 1.. Een oppervlak 2 van het substraat 1 wordt op een plaats 3 in een bad bestraald 3Q door een laserbundel waarbij het metaal uit het bad op die plaats 3 op het substraat 1 wordt neergeslagen.
Het gevormde metaalneerslag is aangeduid met het verwijzings- cijfer 5.
Volgens de uitvinding wordt het metaal op een, zich althans ter 3g plaatse van de bestraalde plaats 3 en zijn niet-bestraalde omgeving bevindende, laag 7 van het substraat 1 neergeslagen, welke laag 7 een warmtegeleidingscoëfficiënt heeft die kleiner is dan de warmtegeleidings-coëfficiënt van het aan de laag 7 grenzende materiaal van het substraat 1.
8200561 EHN 10.274 4 *
Met behulp van de werkwijze volgens de uitvinding kan worden bereikt dat het metaalneerslag 5 nagenoeg beperkt blijft tot de door de laser bestraalde plaats 3 en zijn naaste omgeving hetgeen, bijvoorbeeld in het geval waarin selektief goud wordt neergeslagen, tot belangrijke 5' kostenbesparingen kan leiden.
Bij voorkeur wordt uitgegaan van een plat, bijvoorbeeld kamvor-mig, substraat met een dikte van 0,4 irm en tanden 4,6 en 9, en strekt de laag 7 zich langs het gehele oppervlak van het substraat uit.
Voor het substraat wordt bij voorkeur een koperzinklegering toe-10 gepast met bijvoorbeeld een samenstelling van 85 gewichts % koper en 15 gewichts % zink. Dit materiaal heeft een warmtegeleidingscoëfficiënt van ca. 0,38 cal/cm.sec. K bij een temperatuur van 20°C.
De laag 7 wordt bij voorkeur verkregen door het op een gebruikelijke wijze galvanisch dan wel electroless neerslaan van een nikkel-15 fosforlaag. Het materiaal van deze laag heeft een warmtegeleidingscoëfficiënt van ca. 0,01 cal/cm.sec. K bij een temperatuur van 20°C. De laag is bijvoorbeeld 4 ^um dik.
Het metaalneerslag 5 vordt verkregen door galvanische depositie (zie fig. 3) vanuit een goudbad 36 met bijvoorbeeld de samenstelling: 20 kaliumgoudcyanide KAu(CN) 2 1Q0g/l en citroenzuur C^HgO-, 100g/l, waarvan de pH met behulp van KOH op 5,6 is gesteld.
De voor de depositie benodigde spanning wordt geleverd door een potentiostatische spanningsbron 40, waarmee de spanning tussen het als kathode 39 geschakelde substraat en de referentie-elektrode 38 konstant 25 op 800 mV wordt gehouden door de spanning tussen de kathode 39 en een goudanode 37 te regelen . De te bestralen plaats van het substraat wordt met een 20W argonlaser 31 via een optisch lenzensysteem 32,33,35 en een sluiter 34 bestraald. De laserbundel heeft ter plaatse van de kathode een diameter van 100^um. De depositiesnelheid bedraagt ca. 2 ^uit/sek.
30 In het beschreven voorbeeld bedraagt de verhouding van de warmtegeleidingscoëfficiënten van de materialen van de laag 7 en van het aangrenzende substraat hetgeen belangrijk kleiner is dan de verhouding van dikte van de laag en de diameter van de laserbundel, die bedraagt.
35 Het metallische neerslag 5 heeft bijvoorbeeld een ronde vorm met een diamter van 300^um, is 4^um dik en bestaat uit goud. Op het neerslag 5 kan een halfgeleiderlichaam 8 van ongeveer dezelfde afmeting en eventueel met een van een goudlaag voorzien oppervlak op een gebruike- 8200561 *?= _ 4 ΕΉΝ 10.274 5 _______lijke wijze door solderen worden bevestigd. --------
In het halfgeleiderlichaam is reeds een schakelelement, bijvoorbeeld een transistor, gevormd. Het substraat 1 dient hier voor kontak-tering en warmte-afvoer van het halfgeleiderlichaam 8. Op het halfgelei-5 derlichaam reeds aanwezige kontaktplaatsen kunnen door aluminiumbonding met de laag 7 op de tanden 6 en 9 worden verbonden en na omhulling van de halfgeleiderinrichting worden de tanden 4,6 en 9 van elkaar gescheiden, deze tanden dienen voor uitwendige kontaktering van de halfgeleiderinrichting.
10 De werkwijze volgens de uitvinding is niet beperkt tot het ge geven voorbeeld doch kan binnen het kader van de uitvinding op vele wijzen warden gevarieerd. Bijvoorbeeld kan in plaats van goud, als metaal platina of iridium worden neergeslagen.
15 * 20 25 1 35 8200561

Claims (6)

  1. 2. Werkwijze volgens conclusie 1, met het kenmerk, dat het metaal langs galvanische weg wordt neergeslagen.
  2. 3. Werkwijze volgens conclusie 1 of 2, net het kenmerk, dat de verhouding van de warmtegeleidingscoëfficiënten van de materialen van de laag en van het aangrenzende substraat kleiner is dan de verhouding van 16 de dikte van de laag en de diameter van de laserbundel.
  3. 4. Werkwijze volgens een van de voorgaande conclusies, met het kenmerk, dat het substraat een platte vorm wordt gegeven en de laag zich althans langs één hoofdvlak van het substraat uitstrekt.
  4. 5. Werkwijze volgens een van de voorgaande conclusies, met het 20 kenmerk, dat als materiaal voor het substraat koper of koperlegeringen worden toegepast.
  5. 6. Werkwijze volgens een van de voorgaande conclusies, met het kenmerk, dat de laag wordt verkregen door neerslaan van een materiaal behorende tot de groep bestaande uit cobalt- en nikkelfosfor legeringen, 25 nikkelboorlegeringen en titaannitride.
  6. 7. Werkwijze volgens een van de voorgaande conclusies, met het kenmerk, dat als metaal goud wordt neergeslagen. 30 1 8200561 *
NL8200561A 1982-02-15 1982-02-15 Werkwijze voor het neerslaan van een metaal. NL8200561A (nl)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
NL8200561A NL8200561A (nl) 1982-02-15 1982-02-15 Werkwijze voor het neerslaan van een metaal.
US06/459,859 US4441964A (en) 1982-02-15 1983-01-21 Method of depositing a metal
DE8383200147T DE3360538D1 (en) 1982-02-15 1983-01-27 Method of depositing a metal
EP83200147A EP0086520B1 (en) 1982-02-15 1983-01-27 Method of depositing a metal
JP58019901A JPS58147584A (ja) 1982-02-15 1983-02-10 金属を堆積する方法
CA000421348A CA1217163A (en) 1982-02-15 1983-02-10 Method of depositing a metal

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
NL8200561 1982-02-15
NL8200561A NL8200561A (nl) 1982-02-15 1982-02-15 Werkwijze voor het neerslaan van een metaal.

Publications (1)

Publication Number Publication Date
NL8200561A true NL8200561A (nl) 1983-09-01

Family

ID=19839257

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
NL8200561A NL8200561A (nl) 1982-02-15 1982-02-15 Werkwijze voor het neerslaan van een metaal.

Country Status (6)

Country Link
US (1) US4441964A (nl)
EP (1) EP0086520B1 (nl)
JP (1) JPS58147584A (nl)
CA (1) CA1217163A (nl)
DE (1) DE3360538D1 (nl)
NL (1) NL8200561A (nl)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2188774B (en) * 1986-04-02 1990-10-31 Westinghouse Electric Corp Method of forming a conductive pattern on a semiconductor surface
US5171709A (en) * 1988-07-25 1992-12-15 International Business Machines Corporation Laser methods for circuit repair on integrated circuits and substrates
US5182230A (en) * 1988-07-25 1993-01-26 International Business Machines Corporation Laser methods for circuit repair on integrated circuits and substrates
US6900119B2 (en) 2001-06-28 2005-05-31 Micron Technology, Inc. Agglomeration control using early transition metal alloys
US20060166013A1 (en) * 2005-01-24 2006-07-27 Hoden Seimitsu Kako Kenyusho Co., Ltd. Chromium-free rust inhibitive treatment method for metal products having zinc surface and metal products treated thereby
CN106467965B (zh) * 2016-09-27 2018-07-27 北京科技大学 一种陶瓷电路基板表面精细化金属图案的制备方法

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4217183A (en) * 1979-05-08 1980-08-12 International Business Machines Corporation Method for locally enhancing electroplating rates

Also Published As

Publication number Publication date
JPS6210317B2 (nl) 1987-03-05
EP0086520B1 (en) 1985-08-14
DE3360538D1 (en) 1985-09-19
JPS58147584A (ja) 1983-09-02
EP0086520A1 (en) 1983-08-24
CA1217163A (en) 1987-01-27
US4441964A (en) 1984-04-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5156997A (en) Method of making semiconductor bonding bumps using metal cluster ion deposition
US4144139A (en) Method of plating by means of light
US8030744B2 (en) Arrangement for electrically connecting semiconductor circuit arrangements to an external contact device and method for producing the same
EP0171129A2 (en) Method of electro-coating a semiconductor device
JP2526007B2 (ja) 半導体チップへの電気的相互接続を形成するための構造および方法
EP0911886A3 (de) Optoelektronisches Bauelement und Verfahren zur Herstellung
US20030152773A1 (en) Diamond integrated heat spreader and method of manufacturing same
US4702941A (en) Gold metallization process
US3528090A (en) Method of providing an electric connection on a surface of an electronic device and device obtained by using said method
NL8200561A (nl) Werkwijze voor het neerslaan van een metaal.
US7923842B2 (en) GaAs integrated circuit device and method of attaching same
US6603190B2 (en) Semiconductor device
US4767049A (en) Special surfaces for wire bonding
US7911041B2 (en) Semiconductor device with gold coatings, and process for producing it
US10937744B2 (en) Semiconductor packages including roughening features
RU98120170A (ru) Подложка, способ ее получения (варианты) и металлическое соединенное изделие
US20210050227A1 (en) Dual Step Laser Processing of an Encapsulant of a Semiconductor Chip Package
EP0756325A3 (de) Halbleitervorrichtung mit einem Träger
US6805786B2 (en) Precious alloyed metal solder plating process
US2916806A (en) Plating method
US5935719A (en) Lead-free, nickel-free and cyanide-free plating finish for semiconductor leadframes
US20070116864A1 (en) Metal layer formation method for diode chips/wafers
EP1524693A1 (en) Leadframe being protected against corrosion
JP3289890B2 (ja) ヒートシンクおよびその製造方法
JPS62122157A (ja) 光半導体用ヒ−トシンクの電極構造

Legal Events

Date Code Title Description
A1B A search report has been drawn up
BV The patent application has lapsed