NL7701496A - Werkwijze en inrichting voor het meten van de waarde van een verontreiniging door ionen. - Google Patents

Werkwijze en inrichting voor het meten van de waarde van een verontreiniging door ionen.

Info

Publication number
NL7701496A
NL7701496A NL7701496A NL7701496A NL7701496A NL 7701496 A NL7701496 A NL 7701496A NL 7701496 A NL7701496 A NL 7701496A NL 7701496 A NL7701496 A NL 7701496A NL 7701496 A NL7701496 A NL 7701496A
Authority
NL
Netherlands
Prior art keywords
pollution
ions
measuring
value
Prior art date
Application number
NL7701496A
Other languages
English (en)
Dutch (nl)
Original Assignee
Kenco Alloy & Chemical Co Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kenco Alloy & Chemical Co Inc filed Critical Kenco Alloy & Chemical Co Inc
Publication of NL7701496A publication Critical patent/NL7701496A/xx

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/2806—Apparatus therefor, e.g. test stations, drivers, analysers, conveyors
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/02—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance
    • G01N27/04—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance by investigating resistance
    • G01N27/06—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance by investigating resistance of a liquid

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Electrochemistry (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
NL7701496A 1976-02-17 1977-02-11 Werkwijze en inrichting voor het meten van de waarde van een verontreiniging door ionen. NL7701496A (nl)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US05/658,182 US4023931A (en) 1976-02-17 1976-02-17 Means and method for measuring levels of ionic contamination

Publications (1)

Publication Number Publication Date
NL7701496A true NL7701496A (nl) 1977-08-19

Family

ID=24640230

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
NL7701496A NL7701496A (nl) 1976-02-17 1977-02-11 Werkwijze en inrichting voor het meten van de waarde van een verontreiniging door ionen.

Country Status (6)

Country Link
US (1) US4023931A (xx)
JP (2) JPS5299894A (xx)
DE (1) DE2706834C2 (xx)
FR (1) FR2342005A1 (xx)
GB (1) GB1516812A (xx)
NL (1) NL7701496A (xx)

Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4434233A (en) 1981-03-03 1984-02-28 Carrier Corporation Method of testing oil for ionic contaminants
GB2128335A (en) * 1982-08-13 1984-04-26 Omnium Assets Trust Syndicate Measuring conductivity of a soil sample
JPS59214750A (ja) * 1983-05-20 1984-12-04 Mitsubishi Electric Corp ナトリウムイオン物質濃度の連続モニタ−装置
US4731154A (en) * 1986-06-23 1988-03-15 The Dow Chemical Company Method and apparatus for quantitative measurement of organic contaminants remaining on cleaned surfaces
WO1988004962A1 (en) * 1986-12-24 1988-07-14 Fry Metals Inc. Apparatus and method for determining surface ionic contamination levels of electronic assemblies such as printed circuit assemblies
US4996160A (en) * 1987-06-09 1991-02-26 The Dow Chemical Company Method and apparatus for quantitative measurement of ionic and organic contaminants remaining on cleaned surfaces
US4922205A (en) * 1989-06-08 1990-05-01 Rikagaku Kenkyusho Apparatus for detecting contamination on probe surface
WO1992009185A1 (en) * 1990-11-16 1992-05-29 Nichimen Kabushiki Kaisha Device for diagnosing plasma
US5201958A (en) * 1991-11-12 1993-04-13 Electronic Controls Design, Inc. Closed-loop dual-cycle printed circuit board cleaning apparatus and method
JPH08211592A (ja) * 1995-02-07 1996-08-20 Nikon Corp 洗浄乾燥方法及び洗浄乾燥装置
DE19607795C2 (de) * 1996-03-01 1999-09-02 Temic Semiconductor Gmbh Verfahren zur Untersuchung von ionischen Verunreinigungen im Innern gemoldeter elektronischer Bauelemente
US6177279B1 (en) * 1998-11-12 2001-01-23 Memc Electronic Materials, Inc. Ion extraction process for single side wafers
US6367679B1 (en) * 2000-06-28 2002-04-09 Advanced Micro Devices, Inc. Detection of flux residue
JP2004077378A (ja) * 2002-08-21 2004-03-11 Somakkusu Kk 電解洗浄液の劣化測定装置及び該装置を用いた電解洗浄液の劣化度評価方法
KR101240333B1 (ko) * 2007-08-24 2013-03-07 삼성전자주식회사 마스크 표면에 흡착된 이온 분석 장치 및 방법
CN101334432B (zh) * 2008-07-10 2010-06-09 广东正业科技有限公司 一种离子污染检测装置
WO2010030505A1 (en) * 2008-09-10 2010-03-18 Austin American Technology Corporation Cleaning and testing ionic cleanliness of electronic assemblies
DE102016113072A1 (de) * 2016-07-15 2018-01-18 Microtronic Produktions Gmbh Kontaminationstester zum Prüfen einer ionischen Kontamination von Leiterplatten

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3366554A (en) * 1964-01-06 1968-01-30 Boeing Co Method for evaluating coating discontinuities
US3490873A (en) * 1965-08-10 1970-01-20 United Aircraft Corp Method and composition for inspecting semiconductor devices
US3459505A (en) * 1965-10-11 1969-08-05 United Carr Inc Method of testing the porosity of coated articles
JPS5221916B2 (xx) * 1972-04-26 1977-06-14
DE2514905A1 (de) * 1974-04-10 1975-10-23 Philips Nv Konduktometrische analyse

Also Published As

Publication number Publication date
FR2342005A1 (fr) 1977-09-16
DE2706834A1 (de) 1977-08-18
FR2342005B1 (xx) 1980-11-14
JPS5299894A (en) 1977-08-22
GB1516812A (en) 1978-07-05
JPS58175451U (ja) 1983-11-24
JPH0119082Y2 (xx) 1989-06-02
US4023931A (en) 1977-05-17
DE2706834C2 (de) 1986-06-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
NL7709039A (nl) Werkwijze en inrichting voor het meten van anti- genen en antilichamen.
NL7704638A (nl) Inrichting voor het meten van tenminste een dimensie van een objekt.
NL7600644A (nl) Werkwijze en inrichting voor het meten van de dichtheid van een geologische formatie.
NL184384C (nl) Inrichting en werkwijze voor het waarnemen en meten van een object binnen een ontoegankelijke behuizing.
NL7704126A (nl) Werkwijze voor het bepalen van een aminoglyco- side antibioticum en daartoe geschikte inrich- ting.
NL7702647A (nl) Analyse-inrichting en werkwijze voor het analy- seren.
NL7701496A (nl) Werkwijze en inrichting voor het meten van de waarde van een verontreiniging door ionen.
NL7703298A (nl) Inrichting voor het meten en analyseren van golfvormen.
NL182913C (nl) Inrichting voor het meten van een gasconcentratie.
NL7602921A (nl) Werkwijze en inrichting voor het meten van de polarisatiepotentiaal van in een electrolyt en in een stroomveld aangebrachte metalen construc- ties.
NL7713357A (nl) Inrichting en werkwijze voor het meten van de enthalpie bij fluida.
NL7904500A (nl) Werkwijze en inrichting voor het meten van de inhoud of hoeveelheid van een gegeven element door middel van roentgenstraling.
NL174988C (nl) Inrichting voor het detecteren van geioniseerde stoffen.
NL7610858A (nl) Apparaat voor het meten van lokale absorptie- verschillen.
NL7712043A (nl) Werkwijze en inrichting voor het controleren van bankbiljetten.
NL7900278A (nl) Werkwijze en inrichting voor het meten van een gasstroom.
NL7712022A (nl) Werkwijze en inrichting voor het aantonen van microbe-ziekteverwekkers.
NL7611443A (nl) Werkwijze voor het meten van de afstand van een voorwerp en van de snelheidscomponent ervan lood- recht op een referentielijn.
NL186405C (nl) Meetinrichting voor het meten van een afmeting van de dwarsdoorsnede van een langwerpig voorwerp.
NL7609350A (nl) Inrichting voor het meten van stroming volgens de ultrasonore-doppler-methode.
NL182101C (nl) Toestel voor het meten van de hoeveelheid van een door een leiding stromende stof.
NL7903364A (nl) Werkwijze en inrichting voor het meten van een afwerklaag.
NL7708825A (nl) Werkwijze voor het meten van doorstromende hoe- veelheden.
NL7902327A (nl) Werkwijze en inrichting voor het meten van een oppervlaktespanning.
NL7807640A (nl) Inrichting voor het meten van een komponent van de windsnelheid.

Legal Events

Date Code Title Description
BV The patent application has lapsed