NL7505441A - Stelsel voor het testen van een logisch netwerk, met op een simulator gerichte opwekking van foutentestpatronen. - Google Patents

Stelsel voor het testen van een logisch netwerk, met op een simulator gerichte opwekking van foutentestpatronen.

Info

Publication number
NL7505441A
NL7505441A NL7505441A NL7505441A NL7505441A NL 7505441 A NL7505441 A NL 7505441A NL 7505441 A NL7505441 A NL 7505441A NL 7505441 A NL7505441 A NL 7505441A NL 7505441 A NL7505441 A NL 7505441A
Authority
NL
Netherlands
Prior art keywords
simulator
testing
test patterns
logical network
error test
Prior art date
Application number
NL7505441A
Other languages
English (en)
Dutch (nl)
Original Assignee
Ibm
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ibm filed Critical Ibm
Publication of NL7505441A publication Critical patent/NL7505441A/xx

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/3181Functional testing
    • G01R31/3183Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences
    • G01R31/318392Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences for sequential circuits
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/3181Functional testing
    • G01R31/3183Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences
    • G01R31/318371Methodologies therefor, e.g. algorithms, procedures

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
  • Data Exchanges In Wide-Area Networks (AREA)
NL7505441A 1974-05-08 1975-05-07 Stelsel voor het testen van een logisch netwerk, met op een simulator gerichte opwekking van foutentestpatronen. NL7505441A (nl)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US05/468,108 US3961250A (en) 1974-05-08 1974-05-08 Logic network test system with simulator oriented fault test generator

Publications (1)

Publication Number Publication Date
NL7505441A true NL7505441A (nl) 1975-11-11

Family

ID=23858461

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
NL7505441A NL7505441A (nl) 1974-05-08 1975-05-07 Stelsel voor het testen van een logisch netwerk, met op een simulator gerichte opwekking van foutentestpatronen.

Country Status (9)

Country Link
US (1) US3961250A (xx)
JP (1) JPS5647509B2 (xx)
AU (1) AU8053975A (xx)
CA (1) CA1039813A (xx)
DE (1) DE2515297A1 (xx)
FR (1) FR2270596B1 (xx)
GB (1) GB1478438A (xx)
IT (1) IT1034642B (xx)
NL (1) NL7505441A (xx)

Families Citing this family (42)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4066882A (en) * 1976-08-16 1978-01-03 Grumman Aerospace Corporation Digital stimulus generating and response measuring means
JPS53119642A (en) * 1977-03-29 1978-10-19 Fujitsu Ltd Testing equipment for logic circuit
US4176780A (en) * 1977-12-06 1979-12-04 Ncr Corporation Method and apparatus for testing printed circuit boards
US4242751A (en) * 1978-08-28 1980-12-30 Genrad, Inc. Automatic fault-probing method and apparatus for checking electrical circuits and the like
US4228537A (en) * 1978-08-29 1980-10-14 Genrad, Inc. Method of and apparatus for automatic fault diagnosis of electrical circuits employing on-line simulation of faults in such circuits during diagnosis
US4204633A (en) * 1978-11-20 1980-05-27 International Business Machines Corporation Logic chip test system with path oriented decision making test pattern generator
JPS5585265A (en) * 1978-12-23 1980-06-27 Toshiba Corp Function test evaluation device for integrated circuit
US4459695A (en) * 1979-11-07 1984-07-10 Davy Mcgee (Sheffield) Limited Fault finding in an industrial installation by means of a computer
FR2498849B1 (fr) * 1981-01-26 1986-04-25 Commissariat Energie Atomique Generateur de signaux logiques combines
FR2501867A1 (fr) * 1981-03-11 1982-09-17 Commissariat Energie Atomique Systeme de test de la defaillance ou du bon fonctionnement d'un circuit a composants logiques
FR2531230A1 (fr) * 1982-07-27 1984-02-03 Rank Xerox Sa Ensemble destine au test automatique centralise de circuits imprimes et procede de test de circuits a microprocesseur faisant application de cet ensemble
US4587625A (en) * 1983-07-05 1986-05-06 Motorola Inc. Processor for simulating digital structures
DE3485560D1 (de) * 1983-10-17 1992-04-16 British Telecomm System zur testerzeugung fuer digitalschaltungen.
US4594677A (en) * 1983-11-09 1986-06-10 International Business Machines Corporation System for detecting and diagnosing noise caused by simultaneous current switching
WO1985004739A1 (en) * 1984-04-06 1985-10-24 Advanced Micro Devices, Inc. Active leakage resistance control to improve numerical convergence in an electronic circuit simulator which seeks circuit solutions iteratively
US4633417A (en) * 1984-06-20 1986-12-30 Step Engineering Emulator for non-fixed instruction set VLSI devices
JPS6142040A (ja) * 1984-08-03 1986-02-28 Nec Corp 論理シミユレ−タ
US4716564A (en) * 1985-11-15 1987-12-29 Tektronix, Inc. Method for test generation
JPH0743733B2 (ja) * 1985-12-11 1995-05-15 株式会社日立製作所 論理シミュレーション方法
US4937770A (en) * 1986-02-07 1990-06-26 Teradyne, Inc. Simulation system
US4726023A (en) * 1986-05-14 1988-02-16 International Business Machines Corporation Determination of testability of combined logic end memory by ignoring memory
US5126966A (en) * 1986-06-25 1992-06-30 Ikos Systems, Inc. High speed logic simulation system with stimulus engine using independent event channels selectively driven by independent stimulus programs
US4759019A (en) * 1986-07-10 1988-07-19 International Business Machines Corporation Programmable fault injection tool
FR2605112B1 (fr) * 1986-10-10 1989-04-07 Thomson Csf Dispositif et procede de generation de vecteurs de test et procede de test pour circuit integre
US4792913A (en) * 1986-11-03 1988-12-20 Grumman Aerospace Corporation Simulator for systems having analog and digital portions
DE3853860D1 (de) * 1987-09-22 1995-06-29 Siemens Ag Vorrichtung zur Herstellung einer testkompatiblen, weitgehend fehlertoleranten Konfiguration von redundant implementierten systolischen VLSI-Systemen.
US5257268A (en) * 1988-04-15 1993-10-26 At&T Bell Laboratories Cost-function directed search method for generating tests for sequential logic circuits
US5095483A (en) * 1989-04-28 1992-03-10 International Business Machines Corporation Signature analysis in physical modeling
US5051938A (en) * 1989-06-23 1991-09-24 Hyduke Stanley M Simulation of selected logic circuit designs
DE69212673T2 (de) * 1991-03-14 1997-03-13 Matsushita Electric Ind Co Ltd Prüfmustererzeugungseinrichtung
US5602856A (en) * 1993-04-06 1997-02-11 Nippon Telegraph And Telephone Corporation Test pattern generation for logic circuits with reduced backtracking operations
JPH06334513A (ja) * 1993-05-13 1994-12-02 Intel Corp データ処理装置
US5633813A (en) * 1994-05-04 1997-05-27 Srinivasan; Seshan R. Apparatus and method for automatic test generation and fault simulation of electronic circuits, based on programmable logic circuits
US5920485A (en) * 1996-12-05 1999-07-06 Hewlett-Packard Method of selecting gates for efficient code generation by a circuit compiler
US5896399A (en) * 1996-12-11 1999-04-20 International Business Machines Corporation System and method for testing self-timed memory arrays
JP2982741B2 (ja) * 1997-05-13 1999-11-29 日本電気株式会社 集積回路の故障診断装置及びその記録媒体
JPH11154103A (ja) * 1997-11-20 1999-06-08 Mitsubishi Electric Corp 半導体集積回路装置
JP4488595B2 (ja) * 2000-06-08 2010-06-23 株式会社アドバンテスト テストパターン生成方法
US6618826B1 (en) * 2000-10-26 2003-09-09 Cadence Design Systems, Inc. Test sequences generated by automatic test pattern generation and applicable to circuits with embedded multi-port RAMs
GB2377517A (en) * 2001-07-13 2003-01-15 Sun Microsystems Inc Apparatus and method for testing computer equipment for use in networks
WO2009050805A1 (ja) * 2007-10-18 2009-04-23 Fujitsu Limited 論理回路モデルの検証方法及び装置
JP7214440B2 (ja) * 2018-11-01 2023-01-30 三菱重工エンジニアリング株式会社 検証処理装置、検証処理方法及びプログラム

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3614608A (en) * 1969-05-19 1971-10-19 Ibm Random number statistical logic test system

Also Published As

Publication number Publication date
JPS515935A (xx) 1976-01-19
JPS5647509B2 (xx) 1981-11-10
DE2515297A1 (de) 1975-11-20
IT1034642B (it) 1979-10-10
FR2270596B1 (xx) 1981-03-06
FR2270596A1 (xx) 1975-12-05
CA1039813A (en) 1978-10-03
AU8053975A (en) 1976-10-28
GB1478438A (en) 1977-06-29
US3961250A (en) 1976-06-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
NL7505441A (nl) Stelsel voor het testen van een logisch netwerk, met op een simulator gerichte opwekking van foutentestpatronen.
NL7703608A (nl) Werkwijze voor het bereiden van een roet/rubber- -voormengsel.
NL190667C (nl) Werkwijze voor het uitvoeren van een verknoping van een halogeen bevattend polymeer.
DK151688C (da) Modelbyggesaet.
NL164072C (nl) Werkwijze ter bereiding van een aryleensulfidepolymeer.
NL179912C (nl) Werkwijze ter bereiding van een alkeenpolymerisatiekatalysator.
NL183296C (nl) Werkwijze voor het bereiden van een polair poreus polymeer.
NL7613961A (nl) Werkwijze ter bereiding van een antischuim- mengsel.
NL7513656A (nl) Werkwijze voor het conditioneren van een semiper- meabel membraan voor een elektrolysecel.
NL7700625A (nl) Werkwijze voor het bereiden van chemische test- systemen.
NL181114C (nl) Werkwijze voor het bereiden van een geconcentreerd antistatisch preparaat, en werkwijze voor het antistatisch maken van een alkeenpolymeer.
NL7409515A (nl) Toetsenbord voor een fysiologisch meetsysteem.
NL7407369A (nl) Werkwijze voor het bereiden van een vertaaid polystyreen.
NL7613148A (nl) Werkwijze ter bereiding van een katalysatorcom- ponent voor de polymerisatie van (alpha)- alkenen.
NL185013B (nl) Werkwijze voor het bereiden van een polymeer.
NL7600322A (nl) Gasontwikkelingsstelsel.
NL7500651A (nl) Meetopstelling voor een copieer/dupliceerinrich- ting.
NL7513017A (nl) Testinrichting voor het testen van verschillende functies van een radartoestel.
NL7700687A (nl) Werkwijze ter bereiding van een katalysator- systeem voor het polymeriseren van (alpha)-alkenen.
NL7500559A (nl) Werkwijze voor het bereiden van een wasmiddel met ingestelde dichtheid.
NL186003C (nl) Werkwijze voor het bereiden van n,n-diallyldichlooraceetamide.
NL7504996A (nl) Werkwijze voor het bereiden van een cyclo-olefine.
NL7509005A (nl) Schakeling voor het opwekken van een foutsignaal.
NL7504536A (nl) Werkwijze voor het bereiden van een entcopoly- meer.
NL7704904A (nl) Werkwijze voor het bereiden van cholecystokini- nepancreozymine-octapeptideamide-sulfaatester.

Legal Events

Date Code Title Description
BA A request for search or an international-type search has been filed
BB A search report has been drawn up
BV The patent application has lapsed