NL194480C - Method and device for determining the location of errors in flat glass. - Google Patents

Method and device for determining the location of errors in flat glass. Download PDF

Info

Publication number
NL194480C
NL194480C NL8600790A NL8600790A NL194480C NL 194480 C NL194480 C NL 194480C NL 8600790 A NL8600790 A NL 8600790A NL 8600790 A NL8600790 A NL 8600790A NL 194480 C NL194480 C NL 194480C
Authority
NL
Netherlands
Prior art keywords
glass
scanning
signals
errors
error
Prior art date
Application number
NL8600790A
Other languages
Dutch (nl)
Other versions
NL194480B (en
NL8600790A (en
Original Assignee
Glaverbel
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Glaverbel filed Critical Glaverbel
Publication of NL8600790A publication Critical patent/NL8600790A/en
Publication of NL194480B publication Critical patent/NL194480B/en
Application granted granted Critical
Publication of NL194480C publication Critical patent/NL194480C/en

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G01N21/892Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
    • G01N21/896Optical defects in or on transparent materials, e.g. distortion, surface flaws in conveyed flat sheet or rod
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8851Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
    • G01N2021/8854Grading and classifying of flaws
    • G01N2021/8861Determining coordinates of flaws
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/10Scanning
    • G01N2201/11Monitoring and controlling the scan
    • G01N2201/117Indexed, memorised or programmed scan

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Textile Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Re-Forming, After-Treatment, Cutting And Transporting Of Glass Products (AREA)

Description

1 1944801 194480

Werkwijze en inrichting voor het bepalen van de plaats van fouten in vlakglasMethod and device for determining the location of errors in flat glass

De uitvinding heeft betrekking op een werkwijze voor het bepalen van de plaats van fouten in vlakglas tijdens het doorlopen van een baan, waarbij het glas wordt afgetast met een bundel elektromagnetische 5 straling en waarbij een fotodetector wordt gebruikt, waarmede het invallen van de bundel op fouten in het glas wordt gedetecteerd terwijl het glas wordt afgetast door een bundel elektromagnetische straling, die dwars over de baan van het glas beweegt, zodat de bundel opeenvolgende dwarssporen over het glas volgt en daarbij verzwakkingen of afbuigingen van de bundel door fouten in het glas worden gedetecteerd.The invention relates to a method for determining the location of errors in flat glass while traversing a web, wherein the glass is scanned with a beam of electromagnetic radiation and wherein a photo detector is used, with which the beam is incident on errors is detected in the glass while the glass is scanned by a beam of electromagnetic radiation, which travels across the path of the glass, so that the beam follows successive traces across the glass and thereby weaknesses or deflections of the beam are detected due to errors in the glass .

De uitvinding heeft in het bijzonder betrekking op het bepalen van de plaats van fouten in een bewe-10 gende band glas, doch kan ook worden gebruikt voor het bepalen van de plaats van fouten in vooraf gerichte glasplaten gedurende het transport hiervan langs een voorafbepaalde baan.The invention relates in particular to determining the location of errors in a moving glass band, but can also be used to determine the location of errors in pre-oriented glass sheets during their transport along a predetermined path.

De kwaliteitsaanduiding van glasplaten is afhankelijk van het aantal en de ernst van de fouten in de platen. Wanneer een band of plaat vlakglas gesneden moet worden, zodat platen met de gewenste afmetingen en kwaliteitsaanduiding worden verkregen, is het gewenst de aanwezigheid en plaats van 15 significante fouten vooraf te bepalen, zodat met hun posities rekening kan worden gehouden bij het bepalen van de posities, waar het glas moet worden gesneden.The quality indication of glass plates depends on the number and seriousness of the errors in the plates. When a strip or plate of flat glass is to be cut, so that plates with the desired dimensions and quality indication are obtained, it is desirable to determine the presence and location of significant errors in advance, so that their positions can be taken into account when determining the positions , where the glass must be cut.

In geval van een industriële fabriek is het zeer gewenst de foutdetectieprocedure automatisch uit te voeren en automatische detectiemethoden, die gebruik maken van de afbuigende invloed van fouten op een aftastende lichtbundel zijn reeds bekend. De bovengenoemde werkwijze is bekend uit het Britse octrooi* 20 schrift 1.526.930, dat een systeem beschrijft, waarbij een plaat of band van glas, die over een transporteur beweegt, herhaaldelijk in dwarsrichting wordt afgetast door een lichtbundel en waarbij afbuigingen van de lichtbundel tengevolge van de aanwezigheid van fouten worden bewaakt door een fotodetectorsysteem, dat geschikte signalen aan een geheugen afgeeft. De plaats van lichtafbuigende fouten kan worden afgeleid uit de tijdrelatie van deze signalen. Het nummer van de aftasting in dwarsrichting of het aftasttijdstip geeft een 25 indicatie van de plaats van de fout in langsrichting van het glas en de plaats in dwarsrichting wordt afgeleid door vergelijken met een vaste positie.In the case of an industrial plant, it is highly desirable to automatically carry out the error detection procedure and automatic detection methods which make use of the deflecting influence of errors on a scanning light beam are already known. The above-mentioned method is known from British patent specification No. 1,526,930, which describes a system in which a glass plate or belt moving over a conveyor is repeatedly scanned transversely by a light beam and in which deflections of the light beam are caused. of the presence of errors are monitored by a photo-detector system, which outputs appropriate signals to a memory. The location of light-deflecting errors can be deduced from the time relationship of these signals. The number of the transverse scan or the scanning time gives an indication of the location of the longitudinal error of the glass and the transverse direction is derived by comparing with a fixed position.

De bekende detectiemethoden, die gebruik maken van een aftastende lichtbundel, kunnen de plaatsen van fouten alleen met voldoende nauwkeurigheid vaststellen, indien is gewaarborgd dat een zijrand van het onderzochte glas een constante bewegingslijn volgt gedurende de gehele aftastbewerking van het glas, 30 anders is hetgeen wordt gesignaleerd niet de plaats van een fout in dwarsrichting van het glas doch de plaats ten opzichte van de breedte van de transporteur. Onder omstandigheden kan de positionering van het werkstuk niet op geschikte wijze worden gewaarborgd. In sommige installaties is een variatie in de bewegingslijn van de zijranden van het bewegende glas onvermijdelijk. Een belangrijk voorbeeld hiervan is een productie-installatie voor float-glas.The known detection methods, which make use of a scanning light beam, can only determine the locations of errors with sufficient accuracy if it is ensured that a side edge of the examined glass follows a constant line of movement during the entire scanning operation of the glass, which is different signaled not the location of a transverse error of the glass but the location relative to the width of the conveyor. Under certain circumstances, the positioning of the workpiece cannot be adequately guaranteed. In some installations, a variation in the movement line of the side edges of the moving glass is inevitable. An important example of this is a production installation for float glass.

35 De bekende detectiemethoden voldoen derhalve niet bij het automatisch signaleren van de plaats van fouten in een juist gevormde band float-glas en er bestaat behoefte aan een werkwijze, die voor dit doel geschikt is.The known detection methods are therefore inadequate for automatically signaling the location of errors in a correctly formed strip of float glass, and there is a need for a method suitable for this purpose.

De uitvinding beoogt een dergelijke werkwijze te verschaffen.It is an object of the invention to provide such a method.

Dienovereenkomstig verschaft de uitvinding een werkwijze voor het bepalen van de plaats van fouten in 40 vlakglas tijdens het doorlopen van een baan, waarbij het glas wordt afgetast met een bundel elektromagnetische straling en waarbij een fotodetector wordt gebruikt, waarmede het invallen van de bundel op fouten in het glas wordt gedetecteerd terwijl het glas wordt afgetast door een bundel elektromagnetische straling, die dwars over de baan van het glas beweegt, zodat de bundel opeenvolgende dwarssporen over het glas volgt en daarbij verzwakkingen of afbuigingen van de bundel door fouten in het glas worden gedetecteerd, met 45 het kenmerk, dat bij elke aftastgang de bundel door de tegenover elkaar liggende zijranden van het glas gaat en daarbij de afbuigingen van de bundel, die worden veroorzaakt door het raken van één of elke zijrand van het glas worden gedetecteerd waarbij de detector uitgangssignalen levert, die posities langs de afgetaste lengte van het glas volgens de dwarssporen aangeven, waarin fouten worden gedetecteerd en de langs deze sporen gemeten afstanden aangeven tussen deze fouten en een zijrand van het glas.Accordingly, the invention provides a method for determining the location of errors in flat glass while traversing a web, wherein the glass is scanned with a beam of electromagnetic radiation and wherein a photo detector is used, with which the beam is incident on errors in the glass is detected while the glass is being scanned by a beam of electromagnetic radiation, which travels across the path of the glass, so that the beam follows successive traces across the glass and thereby weaknesses or deflections of the beam are detected due to errors in the glass, characterized in that at each scanning pass the beam passes through the opposite side edges of the glass and thereby detects the deflections of the beam caused by hitting one or each side edge of the glass with the detector providing output signals , those positions along the scanned length of the glass according to the transverse trace and indicate in which errors are detected and indicate the distances measured along these tracks between these errors and a side edge of the glass.

50 Op deze wijze wordt het belangrijke voordeel bereikt, dat wijzigingen in de positie van een zijrand van het glas in het aftaststation gedurende de beweging van het glas door dat station worden uitgeschakeld in die zin, dat zij geen invloed hebben op de juistheid van de gesignaleerde foutplaatsen op het glas. De werkwijze volgens de uitvinding is derhalve in het bijzonder geschikt voor toepassing voor het automatisch registreren van de plaatsen van fouten in een bewegende band van nieuw vervaardigd vlakglas. De 55 uitvinding kan echter ook worden toegepast voor het bepalen van de plaats van fouten in bewegende vooraf gerichte platen vlakglas, waarvan de zijdelingse posities op een transporteur niet nauwkeurig worden gecontroleerd.In this way the important advantage is achieved that changes in the position of a side edge of the glass in the scanning station during the movement of the glass by that station are switched off in the sense that they have no influence on the accuracy of the signals identified. error places on the glass. The method according to the invention is therefore particularly suitable for use for automatically registering the locations of errors in a moving strip of newly manufactured flat glass. However, the invention can also be used to determine the location of errors in moving, pre-directed, flat glass plates, the lateral positions of which are not accurately controlled on a conveyor.

194480 2194480 2

Door een geschikte opstelling van het fotodetectie-orgaan, zoals hierna nader wordt beschreven, kan de werkwijze volgens de uitvinding de plaats van fouten van één of meer verschillende typen bepalen: - bellen, korrels en steentjes; - ondooriatende zones; 5 - bepaalde verkleuringen, zoals tintverkleuringen afkomstig van een metaalbad.By a suitable arrangement of the photo-detection device, as described in more detail below, the method according to the invention can determine the location of errors of one or more different types: bubbles, grains and stones; - non-opaque zones; 5 - certain discolorations, such as tint discolorations from a metal bath.

Ter wille van de eenvoud worden posities langs de afgetaste lengte van het glas van de dwarssporen, waarin fouten worden gedetecteerd, hierna aangeduid als de langsposities van de fouten, terwijl de dwarsafstanden tussen de gedetecteerde fouten en een zijrand van het glas worden aangeduid als de dwarsordinaten van de fouten.For the sake of simplicity, positions along the scanned length of the glass of the transverse tracks in which errors are detected are hereinafter referred to as the longitudinal positions of the errors, while the transverse distances between the detected errors and a side edge of the glass are referred to as the transverse ordinates of the errors.

10 Een bijzonder belangrijk praktisch gebruik van de werkwijze volgens de uitvinding is gelegen in de automatische besturing van een markeringsorgaan of glassnijder, welke gedurende de doorgaande beweging van het glas langs het detectiestation, waar het glas wordt afgetast, het glas markeert ter plaatse van de fouten of het glas snijdt op de plaatsen, die de fouten betreffen. Volgens een voorkeursuitvoeringsvorm van de uitvinding wekt het signaleringsorgaan uitgangssignalen op, die worden gebruikt als een 15 besturingsfactor bij het automatisch besturen van een glasmarkeringseenheid of snijder voor het markeren of snijden van het bewegende glas op een plaats, stroomafwaarts van het station, waar het glas wordt afgetast. Bij een dergelijke uitvoeringsvorm van de uitvinding kunnen de langsposities van fouten eenvoudig worden voorgesteld door de tijdstippen, waarop foutdetectiesignalen optreden, aangezien het aankomst-tijdstip van een fout in het markeer- of snijstation afhankelijk is enerzijds van het tijdstip van de foutdetectie 20 en anderzijds van de bewegingssnelheid van het glas en de afstand tussen het markeer- of snijstation en het detectiestation, waar het glas wordt afgetast.A particularly important practical use of the method according to the invention lies in the automatic control of a marking member or glass cutter, which during the continuous movement of the glass along the detection station, where the glass is scanned, marks the glass at the location of the errors or the glass cuts at the places where the errors are concerned. According to a preferred embodiment of the invention, the signaling device generates output signals which are used as a control factor in automatically controlling a glass marking unit or cutter for marking or cutting the moving glass at a location downstream of the station where the glass is scanned. In such an embodiment of the invention, the longitudinal positions of errors can simply be represented by the times at which error detection signals occur, since the arrival time of an error in the marking or cutting station depends on the one hand on the time of the error detection and on the other hand on the speed of movement of the glass and the distance between the marking or cutting station and the detection station, where the glass is scanned.

Als alternatief voor het opwekken van uitgangssignalen, die de langsposities van de fouten aangeven door de tijdstippen, waarop deze signalen optreden, kan het signaleringsorgaan uitgangssignalen opwekken, die de langsafstanden tussen dwarssporen aangeven, waarin fouten worden opgewekt, en een in dwars-25 richting verlopende uitgangslijn.As an alternative to generating output signals which indicate the longitudinal positions of the errors by the times at which these signals occur, the signaling device can generate output signals which indicate the longitudinal distances between transverse tracks in which errors are generated, and a transverse direction baseline.

De dwarsordinaat van een fout kan door het signaleringsorgaan worden bepaald rechtstreeks uit de aftastafstand, die door de aftastbundel wordt afgelegd tussen het tijdstip (aangegeven door het optreden van een randafbuigingssignaal van het fotodetectororgaan), waarop de bundel aankomt bij de plaats van een zijrand van het glas, en het tijdstip bij die aftastgang, waarop een foutsignaal van het fotodetectie-30 orgaan aangeeft dat de bundel de fout raakt. Als alternatief kan de dwarsordinaat door het signaleringsorgaan worden bepaald als functie van het tijdinterval tussen de tijdstippen van optreden van de randafbuigings- en foutsignalen, waarbij echter de aftastsnelheid van de bundel over het glas althans nagenoeg constant moet zijn.The transverse ordinate of an error can be determined by the signaling device directly from the scanning distance traveled by the scanning beam between the time (indicated by the occurrence of an edge deflection signal from the photo-detector device) at which the beam arrives at the location of a side edge of the glass, and the time at that scanning pass, at which an error signal from the photo-detecting device indicates that the beam hits the error. Alternatively, the transverse ordinate can be determined by the signaling device as a function of the time interval between the times of occurrence of the edge deflection and error signals, but the scanning speed of the beam over the glass must, however, be at least substantially constant.

Volgens de uitvinding kan een gemiddelde waarde worden afgeleid uit de glasrand-afbuigingssignalen, 35 die door het fotodetectororgaan worden geleverd bij een aantal opeenvolgende gangen van de bundel over het glas in één richting, welke gemiddelde waarde wordt gebruikt bij het afleiden van de uitgangssignalen, die de dwarsordinaten van fouten aangeven.According to the invention, an average value can be derived from the glass edge deflection signals supplied by the photo-detector member at a number of consecutive passes of the beam over the glass in one direction, which average value is used in deriving the output signals which indicate the cross orders of errors.

Bij voorkeur worden de foutplaats-uitgangssignalen alleen opgewekt voor fouten, waarvan de dwarsordinaat (-ordinaten) vanaf elke zijrand van het glas boven een voorafbepaalde minimum waarde liggen.The error location output signals are preferably generated only for errors whose cross ordinate (ordinates) from any side edge of the glass are above a predetermined minimum value.

40 Randdelen van getrokken of float-glas hebben dikwijls een inferieure kwaliteit en bij het bepalen, waar dit glas moet worden gesneden om de vereiste plaatafmetingen voor verkoop te verkrijgen, is het dikwijls nodig de randdelen als afval te behandelen. Het signaleringsorgaan kan zodanig zijn uitgevoerd, dat dergelijke randfouten niet het opwekken van foto-elektrische detectiesignalen veroorzaken of dat dergelijke signalen wel worden opgewekt, doch geen uitgangssignalen tot gevolg hebben.40 Edge parts of drawn or float glass often have an inferior quality and when determining where this glass must be cut to obtain the required plate dimensions for sale, it is often necessary to treat the edge parts as waste. The signaling device can be designed such that such edge errors do not cause the generation of photoelectric detection signals or that such signals are generated, but do not result in output signals.

45 Bij voorkeur wordt de verplaatsing van de bundel bewaakt door een bewakingsorgaan, die signalen levert, die de bundelposities aangeven ten opzichte van een vaste uitgangspositie, die buiten de grenzen van de bundelbeweging over het glas ligt, welke signalen door het signaleringsorgaan worden gebruikt bij het afleiden van de uitgangssignalen. Het opwekken van uitgangssignalen, die de dwarsplaatsen van de zijranden en van fouten aangeven ten opzichte van een vaste uitgangspositie, is van voordeel, omdat de 50 uitgangssignalen onder deze omstandigheden bijzonder nuttig zijn voor het automatisch besturen van bewerkingen op het bewegende glas door een inrichting, die op een voorafbepaalde vaste positie stroomafwaarts van de plaats, waar her glas wordt afgetast, is gemonteerd.Preferably, the movement of the bundle is monitored by a monitoring device which supplies signals indicating the bundle positions with respect to a fixed starting position which lies outside the limits of the beam movement over the glass, which signals are used by the signaling device at the derive the output signals. Generating output signals indicating the transverse positions of the side edges and of errors relative to a fixed starting position is advantageous because the 50 output signals are particularly useful in these circumstances for automatically controlling operations on the moving glass by a device, which is mounted at a predetermined fixed position downstream of the location where the glass is scanned.

Bij het vervaardigen van een continue band van glas, waarvan de randdelen als afval moeten worden verwijderd, is het van voordeel de randen van de band af te snijden door middel van snij-organen, die 55 worden bestuurd in afhankelijkheid van de variaties in de posities van de zijranden van de band, zodat dergelijke variaties geen aanmerkelijke variaties in de breedte van de verwijderde randen tot gevolg hebben. Om dit voordeel te bereiken, is bij een uitvoering van de uitvinding voor het detecteren van foutplaatsen in 3 194480 een continue band van glas, de uitgangspositie vastgelegd ten opzichte van het frame van de glastransporteur, waarbij signalen, die de afstand aangeven van ten minste één zijrand van de band tot de uitgangspositie, worden gebruikt voor het automatisch besturen van een snij-orgaan, dat verder stroomafwaarts langs de baan van de band is gemonteerd en dat dient voor het afsnijden van een randdeel met 5 voorafbepaalde breedte van één of elke zijde van de band.In the manufacture of a continuous strip of glass, the edge parts of which must be removed as waste, it is advantageous to cut off the edges of the strip by means of cutting members, which are controlled in dependence on the variations in the positions of the side edges of the tire, so that such variations do not result in significant variations in the width of the removed edges. To achieve this advantage, in an embodiment of the invention for detecting error sites in 3 194480, a continuous band of glass, the starting position is fixed with respect to the frame of the glass conveyor, wherein signals indicating the distance of at least one side edge of the tire to the starting position, are used for automatically controlling a cutter, which is further mounted downstream along the web of the tire and which serves to cut off an edge portion with predetermined width from one or each side of the band.

Indien de bundelverplaatsingen worden bewaakt ten opzichte van een vaste uitgangspositie, hetgeen de voorkeur verdient, kan het noodzakelijk of gewenst zijn om het bewakingsorgaan periodiek terug te stellen, teneinde de betrouwbaarheid van de bewakingssignalen over een periode, waarin de werkwijze continu wordt toegepast, te handhaven. Het terugstellen kan met de hand of automatisch plaatsvinden afhankelijk 10 van de uitvoering van het gebruikte bewakingsorgaan. Een voorkeursuitvoeringsvorm van de uitvinding wordt daardoor gekenmerkt, dat signalen, die worden geleverd door een fotodetector, welke is opgesteld in de uitgangspositie of in een vaste stand ten opzichte van deze uitgangspositie, in responsie op bestralen van deze fotodetector door de aftastende bundel, automatisch herhaaldelijk het bewakingsorgaan voor de bundelverplaatsing terugstellen, teneinde te waarborgen dat dit op juiste wijze de posities van de bundel ten 15 opzichte van de uitgangspositie weergeeft.If the beam displacements are monitored relative to a fixed starting position, which is preferable, it may be necessary or desirable to periodically reset the monitoring means to maintain the reliability of the monitoring signals over a period in which the method is continuously applied . The reset can be done manually or automatically depending on the design of the monitoring device used. A preferred embodiment of the invention is characterized in that signals supplied from a photo detector, which is arranged in the home position or in a fixed position relative to this home position, in response to irradiation of this photo detector by the scanning beam, automatically repeatedly reset the beam displacement monitoring means to ensure that it correctly displays the positions of the beam relative to the home position.

Bij voorkeur levert het signaleringsorgaan uitgangssignalen, die (a) de afstand, welke wordt afgelegd door de aftastende bundel in opeenvolgende aftastcycli vanaf de vaste uitgangspositie naar de positie, waarin de bundel de dichtstbijgelegen zijrand van het glas ontmoet, en (b) de afstand tussen de uitgangspositie en een gesignaleerde fout, aangeven. De dwarsordinaat van een gesignaleerde fout wordt hierdoor 20 aangegeven en is gelijk aan het verschil tussen de gesignaleerde afstanden. Het signaleren van de zijranden foutposities in de vorm van hun afstanden tot een gemeenschappelijke uitgangspositie, vereenvoudigt de signaalverwerking.Preferably, the signaling device provides output signals that (a) the distance traveled by the scanning beam in successive scanning cycles from the fixed starting position to the position in which the beam meets the nearest side edge of the glass, and (b) the distance between indicate the starting position and a signaled error. The transverse ordinate of an identified error is hereby indicated and is equal to the difference between the identified distances. Signaling the side edges of error positions in the form of their distances to a common starting position simplifies signal processing.

Bij voorkeur treft bij elke aftastgang van de bundel, de bundel een referentiefotodetector, waardoor een referentiesignaal wordt opgewekt, juist voordat de bundel de dlchtstbij gelegen zijrand van het glas bereikt, 25 waarbij het eerstvolgende bundelafbuigingssignaal door het signaleringsorgaan wordt verwerkt als een signaal, dat het treffen van een zijrand van het glas door de bundel aangeeft. Incidentele valse signalen, welke het gevolg zouden kunnen zijn van bundelreflecties op delen van de inrichting, waarop de bundel valt, voordat het de onmiddellijke nabijheid van het glas bereikt, worden aldus buiten beschouwing gelaten. Wanneer de bundel een zijrand van het glas ontmoet, wordt de bundel afgebogen en deze afbuiging kan 30 door een fotoelektrische detector op dezelfde wijze worden geregistreerd als een afwijking, welke door een fout wordt veroorzaakt. Desgewenst kan dezelfde detector zowel worden gebruikt voor het detecteren van zijranden als fouten. In elk geval maakt het opwekken van een referentiesignaal het overbodig, dat de zijrandsignalen zich onderscheiden, aangezien zij van foutsignalen te onderscheiden zijn, doordat zij altijd de eerste detectorsignalen zijn, die na een referentiesignaal worden opgewekt.Preferably, at each scanning pass of the bundle, the bundle hits a reference photo detector, thereby generating a reference signal just before the bundle reaches the nearest side edge of the glass, the next bundle deflection signal being processed by the signaling device as a signal that the hitting a side edge of the glass by the bundle. Incidental false signals that could result from beam reflections on parts of the device on which the beam falls before it reaches the immediate vicinity of the glass are thus disregarded. When the bundle meets a side edge of the glass, the bundle is deflected and this deflection can be recorded by a photoelectric detector in the same way as an error caused by an error. If desired, the same detector can be used both for detecting side edges and errors. In any case, the generation of a reference signal makes it unnecessary for the side-edge signals to be distinguished, since they can be distinguished from error signals in that they are always the first detector signals which are generated after a reference signal.

35 De bovengenoemde referentie-fotodetectors kunnen tevens dienen als de bovengenoemde uitgangspositie-fotodetectors. Het is echter beter de referentiefotodetectors en één of een paar uitgangspositie-fotodetectors aan te brengen, waarbij de referentie-fotodetectors dichter bij de baan van het glas zijn gemonteerd.The above-mentioned reference photo detectors can also serve as the above-mentioned starting position photo detectors. However, it is better to provide the reference photodetectors and one or a pair of starting position photodetectors, the reference photodetectors being mounted closer to the path of the glass.

Het is van voordeel, wanneer elke aftastbeweging van de bundel wordt gecodeerd als een reeks 40 signaalimpulsen, zodat elke gegeven momentele positie van de bundel overeenkomt met een gegeven impulsnummer. Een dergelijke codering kan eenvoudig worden uitgevoerd en levert signalen op, die gemakkelijk kunnen worden verwerkt door het signaleringsorgaan tezamen met de signalen, die het bestralen van de glasrand of een fout aangeven.It is advantageous if each scanning movement of the beam is coded as a series of 40 signal pulses, so that any given current position of the beam corresponds to a given pulse number. Such coding can be carried out in a simple manner and produces signals which can be easily processed by the signaling device together with the signals which indicate the irradiation of the glass edge or an error.

Bij een bijzonder gunstige uitvoeringsvorm van de werkwijze volgens de uitvinding zijn er referentie-45 fotodetectors, zoals bovenbedoeld, waarbij de aftastbeweging van de bundel wordt gecodeerd als een reeks signaalimpulsen, welke signaalimpulsen worden toegevoerd aan een impulsteller, die in elke aftastcyclus bundelposities omzet in impulsaantallen, waarbij geteld wordt vanaf nul of een andere voorafbepaalde uitgangsinstelling, die overeenkomt met een voorafbepaalde positie van de bundel buiten de grenzen van de bundelbeweging over het glas en waarbij voor elke opeenvolgende aftastgang van de bundel, bestraling van 50 de eerste van de twee referentie-fotodetectors, die de bundel tegenkomt, de terugstelling van de teller naar een waarde teweegbrengt, die overeenkomt met de afstand van de bundelverplaatsing tussen de uitgangspositie en die referentie-fotodetector. Deze combinatie van kenmerken verbetert de betrouwbaarheid van de fout-plaatssignalen over een periode, waarin de werkwijze doorlopend wordt toegepast.In a particularly favorable embodiment of the method according to the invention, there are reference 45 photo-detectors, as referred to above, wherein the scanning movement of the beam is coded as a series of signal pulses, which signal pulses are applied to a pulse counter which converts beam positions into pulse numbers in each scanning cycle. counting from zero or another predetermined output setting corresponding to a predetermined position of the beam outside the boundaries of the beam movement over the glass and wherein for each successive scanning pass of the beam, irradiation of 50 the first of the two reference photodetectors encountered by the beam causes the reset of the counter to a value corresponding to the distance of the beam displacement between the starting position and said reference photodetector. This combination of features improves the reliability of the error location signals over a period in which the method is applied continuously.

Volgens de uitvinding kan een stralingsbundel afkomstig van dezelfde stralingsbron als de glasaftast-55 bundel worden opgewekt synchroom met het aftasten van het glas voor het aftasten van een reflector, die afwisselend reflecterende en niet-reflecterende banden bezit, waarbij de stralingsquanta, die door de met banden uitgevoerde reflector worden gereflecteerd, invallen op een foto-elektrische detector en daardoor de 194480 4 signaalimpulsen opwekken. Dit bewaken van de bundelverplaatsingen maakt het mogelijk voldoende nauwkeurig foutplaatssignalen op te wekken, zelfs indien er een aanmerkelijke variatie in de snelheid van de aftastbundel gedurende elke aftastgang over het glas optreedt. Het synchronisme tussen het aftasten van het glas en het aftasten van de met banden uitgevoerde reflector wordt bij voorkeur gerealiseerd door 5 toepassing van een gemeenschappelijke oscillerende reflector voor het verkrijgen van de aftastbewegingen van de beide bundels.According to the invention, a radiation beam from the same radiation source as the glass scanning-55 beam can be generated in synchronism with scanning the glass for scanning a reflector which has alternating reflecting and non-reflecting bands, the radiation quanta passing through the met Reflector tires are reflected, raid on a photoelectric detector and thereby generate the 194480 4 signal impulses. This monitoring of the beam displacements makes it possible to generate sufficiently accurate error location signals, even if there is a considerable variation in the speed of the scanning beam during each scanning pass over the glass. The synchronism between scanning the glass and scanning the reflector equipped with bands is preferably realized by using a common oscillating reflector for obtaining the scanning movements of the two beams.

Volgens een andere uitvoeringsvorm van de uitvinding worden de posities van de aftastbundel in de loop van elke aftastgang bewaakt op basis van het tijdsverloop vanaf het begin van de aftastgang. Dit tijdsverloop kan worden gemeten door een digitale klok, die impulsen kan afleveren, welke op dezelfde wijze 10 worden verwerkt als de impulsen, die worden geleverd in responsie op de stralingsquanta, welke door een met banden uitgevoerde reflector volgens de voorgaande uitvoeringsvorm worden gereflecteerd. Bij voorkeur is de glasaftastbundel een over een hoek oscillerende bundel en bedraagt de amplitude van de bundelbeweging in het vlak van het glas ten minste tweemaal de breedte van het glas. Onder deze omstandigheden zal de snelheid van de bundel tijdens de baan over het glas voldoende constant zijn en 15 kan de snelheid van de beweging over het glas gelijk worden genomen aan de gemiddelde snelheid van de bundel over de volledige bewegingsboog. In of nabij een uiteinde van de bewegingsboog kan de aftastbundel een fotodetector treffen, welke een responsiesignaal zendt aan de bewakingsklok, waardoor deze wordt teruggesteld, teneinde een bepaalde nauwkeurigheid voor de bewaking te handhaven.According to another embodiment of the invention, the positions of the scanning beam in the course of each scanning pass are monitored on the basis of the passage of time from the beginning of the scanning pass. This lapse of time can be measured by a digital clock capable of delivering pulses which are processed in the same way as the pulses that are supplied in response to the radiation quanta reflected by a banded reflector according to the preceding embodiment. Preferably, the glass scanning beam is an angle oscillating beam and the amplitude of the beam movement in the plane of the glass is at least twice the width of the glass. Under these conditions, the speed of the beam during the path across the glass will be sufficiently constant and the speed of the movement over the glass can be taken to be the average speed of the beam over the entire movement arc. In or near one end of the movement arc, the scanning beam can strike a photodetector, which sends a response signal to the monitoring clock, thereby resetting it, to maintain a certain accuracy for monitoring.

De amplitude van de oscillaties van een oscillerende aftastbundel kan automatisch worden ingesteld, 20 indien de amplitude begint vanuit een voorafbepaald bereik. In het geval dat de bundeloscillaties worden gerealiseerd door een oscillerende reflector, zoals hierna beschreven, kan deze automatische instelling worden bereikt door het instellen van de bekrachtigingsimpulsen voor een elektromagneet, die de oscillatie-kracht aan de reflector levert.The amplitude of the oscillations of an oscillating scanning beam can be adjusted automatically if the amplitude starts from a predetermined range. In the case that the beam oscillations are realized by an oscillating reflector, as described below, this automatic adjustment can be achieved by adjusting the excitation pulses for an electromagnet which supplies the oscillation force to the reflector.

De werkwijze volgens de uitvinding kan op zodanige wijze worden uitgevoerd, dat de uitgangssignalen de 25 langsafmetingen van gedetecteerde fouten aangeven, dat wil zeggen hun afmeting gemeten in de richting van het transport van het glas door het aftaststation. Hiertoe wordt een aantal direct op elkaar volgende bundelgangen, waarin door een fout veroorzaakte signalen worden opgewekt, wanneer de bundel zich op ongeveer dezelfde afstand van een bepaalde rand van het glas bevindt, geregistreerd en uitgangssignalen teweeggebracht, die de afmeting van de fout aangeven.The method according to the invention can be carried out in such a way that the output signals indicate the longitudinal dimensions of detected errors, i.e. their dimensions measured in the direction of the transport of the glass through the scanning station. To this end, a number of directly consecutive beam paths in which signals caused by an error are generated when the beam is approximately the same distance from a certain edge of the glass are recorded and output signals indicating the size of the error are produced.

30 Volgens een voorkeursuitvoeringsvorm van de uitvinding wordt de bundel op elk moment gedurende het bestralen van het glas door het glas teruggereflecteerd, voordat de fotodetector(s) wordt bereikt, waarvan foutsignalen afkomstig zijn. Hierdoor kan de werkwijze worden uitgevoerd in een kleinere ruimte, dan anders nodig zou zijn. Bovendien kan het optische systeem gemakkelijker ten opzichte van de baan van het glas worden opgesteld. Bij voorkeur zijn de zones van het glas, die op elk gegeven tijdstip door de invallende en 35 gereflecteerde aftastbundels worden bestraald, niet gescheiden of niet gescheiden over meer dan twee cm. Op deze wijze wordt het optreden van een dubbel signaal voor elke gegeven fout vermeden of gemakkelijk identificeerbaar als afkomstig van één fout.According to a preferred embodiment of the invention, the beam is reflected back at any time during the irradiation of the glass by the glass, before the photodetector (s) from which error signals originate is reached. This allows the method to be performed in a smaller space than would otherwise be necessary. Moreover, the optical system can be arranged more easily with respect to the path of the glass. Preferably, the zones of the glass that are irradiated at any given time by the incident and reflected scanning beams are not separated or not separated by more than two cm. In this way, the occurrence of a double signal for each given error is avoided or easily identifiable as originating from one error.

Volgens een andere mogelijke, doch voordelige uitvoeringsvorm wordt de het glas verlatende stralings-bundel gesplitst in een deel, dat naar de plaats van een eerste detector wordt gezonden, en een deel, dat 40 naar een tweede detector wordt gezonden, waarbij één van deze detectors zodanig is opgesteld, dat deze wordt bestraald als de bundel wordt afgebogen, terwijl de andere detector zodanig is opgesteld, dat deze wordt bestraald, tenzij de bundel wordt onderbroken door een niet-doorlatende fout of door een fout in meer dan een voorafbepaalde mate wordt afgebogen (zoals bijvoorbeeld door een zijrand van het glas). Dit gezamenlijk gebruik van twee detectors, die op verschillende manieren werken, maakt het mogelijk 45 fotodetectorsignalen op te wekken, die niet alleen de aanwezigheid van een straling afbuigende fout signaleren, doch deze tevens karakteriseren als al dan niet van een bepaalde type zijnde. In het bijzonder dit gebruik van twee detectors maakt het mogelijk te onderscheiden tussen straling doorlatende en ondoorlatende fouten.According to another possible, but advantageous embodiment, the radiation beam leaving the glass is split into a part that is sent to the location of a first detector, and a part that is sent to a second detector, one of these detectors is arranged so that it is irradiated when the beam is deflected, while the other detector is arranged so that it is irradiated, unless the beam is interrupted by an impermeable error or is deflected by more than a predetermined degree (such as through a side edge of the glass). This joint use of two detectors, which operate in different ways, makes it possible to generate 45 photodetector signals which not only signal the presence of a radiation-deflecting error, but also characterize them as being of a certain type or not. In particular, this use of two detectors makes it possible to distinguish between radiation-permeable and impermeable errors.

Volgens een uitvoeringsvorm van de uitvinding detecteert het fotodetectie-orgaan niet alleen afbuigingen 50 van de aftastbundel, zoals veroorzaakt door de zijranden van het glas, doch tevens fouten, welke de bundel verzwakken zonder deze af te buigen. Deze werkwijze kan worden uitgevoerd met behulp van een enkele fout-fotodetector, die normaal wordt bestraald door de uit het glas afkomstige bundel en alleen een signaal opwekt, indien de invallende straling beneden een voorafbepaalde minimum waarde komt.According to an embodiment of the invention, the photo-detecting device not only detects deflections 50 of the scanning beam, such as caused by the side edges of the glass, but also errors which weaken the beam without deflecting it. This method can be carried out with the aid of a single error photodetector, which is normally irradiated by the beam coming from the glass and only generates a signal if the incident radiation falls below a predetermined minimum value.

Het is mogelijk het aftasten te realiseren door de zender van de aftastbundel te bewegen, doch bij 55 voorkeur is de zender stationair en wordt het glas afgetast door een bundel, die door een oscillerend afbuigorgaan, bijvoorbeeld een reflector, naar het glas wordt afgebogen. Op deze wijze kunnen de aftastbewegingen gemakkelijker tot stand worden gebracht.It is possible to realize the scanning by moving the transmitter from the scanning beam, but preferably the transmitter is stationary and the glass is scanned by a beam which is deflected towards the glass by an oscillating deflector, for example a reflector. The scanning movements can be accomplished more easily in this way.

5 1944805 194480

Volgens een uitvoeringsvorm van de uitvinding veroorzaken afwijkingen van de aftastgangen van de bundel uit een voorafbepaald vlak in meer dan een gegeven mate bestraling van afwijkingsfotodetectors, waarbij de aftastbaan automatisch wordt gecorrigeerd door een responsiesignalen van deze afwijkings-detectors. Hierdoor wordt een nuttige beveiliging gerealiseerd tegen een foutieve werking tengevolge van 5 het onjuist richten van de aftastbundel, zoals het gevolg zou kunnen zijn door bijvoorbeeld het verplaatsen van onderdelen van de inrichting uit vooraf gekozen posities tengevolge van omgevingsinvloeden.According to an embodiment of the invention, deviations of the scanning paths of the beam from a predetermined plane cause more than a given degree of irradiation of deviation photo detectors, the scanning path being automatically corrected by a response signals from these deviation detectors. Hereby, a useful protection is achieved against malfunction due to incorrect alignment of the scanning beam, as might be the result of, for example, moving parts of the device from preselected positions due to environmental influences.

Volgens een andere mogelijke aanbeveling verdienende uitvoeringsvorm wordt het glas afgetast met een frequentie van ten minste 20 cycli per centimeter lengte van het glas. Hierdoor wordt beter gewaarborgd, dat een bezwaarlijke fout zal worden gedetecteerd in een aantal opeenvolgende aftastingen, hetgeen de 10 betrouwbaarheid bevordert.According to another possible preferred embodiment, the glass is scanned with a frequency of at least 20 cycles per centimeter of the length of the glass. This ensures better that an objectionable error will be detected in a number of successive scans, which promotes reliability.

De stralingsbundel, die bij de werkwijze volgens de uitvinding wordt toegepast, is bij voorkeur een laserbundel. De laserbundel kan gemakkelijk zeer smal worden gemaakt, hetgeen de nauwkeurigheid van de fout-plaatsdetectie bevordert.The radiation beam used in the method according to the invention is preferably a laser beam. The laser beam can easily be made very narrow, which promotes the accuracy of the error location detection.

De werkwijze volgens de uitvinding wordt gerealiseerd met een inrichting voor het bepalen van de plaats 15 van fouten in vlakglas tijdens het doorlopen van een baan, voorzien van middelen voor het transporteren van vlakglas door een onderzoekstation, middelen voor het opwekken van een bundel elektromagnetische straling en het herhaaldelijk dwars over de baan doen gaan van deze bundel, waardoor opeenvolgende dwarssporen over het glas in het onderzoekstation worden doorlopen, en een fotodetectororgaan voor het detecteren wanneer de bundel fouten in het glas treft.The method according to the invention is realized with a device for determining the location of errors in flat glass during the passage of a path, provided with means for transporting flat glass through a research station, means for generating a bundle of electromagnetic radiation and causing this bundle to cross repeatedly over the path, traversing successive traces across the glass in the testing station, and a photo-detector member for detecting when the bundle encounters errors in the glass.

20 Volgens de uitvinding heeft de inrichting het kenmerk, dat het fotodetectororgaan signalen levert, die bundelafbuigingen of bundelverzwakkingen alsmede bundelafbuigingen door het glas aangeven, waarbij de inrichting is voorzien van een bundelbewakingsorgaan voor het opwekken van signalen, die de bundel-posities voorstellen, bij het bundelbewakingsorgaan behorende middelen voor het registreren ten aanzien van elke aftastgang van de bundel in één richting of periodiek ten aanzien van een opeenvolging van 25 dergelijke aftastgangen, van de positie of gemiddelde positie, die door de bundel in een aftastgang of aftastgangen wordt bereikt, wanneer een eerste signaal, dat wordt veroorzaakt door de bundelafbuiging door het glas, wordt ontvangen van het fotodetectororgaan, en een signaalverwerkingsorgaan, dat zodanig is uitgevoerd, dat tijdens gebruik uitgangssignalen worden geleverd, die het tijdstip van optreden van een bundelgang aangeven, waarin een later signaal, dat de bundelafbuiging of -verzwakking door het glas 30 aangeeft, wordt ontvangen van het fotodetectororgaan, nadat de bundel de genoemde positie of gemiddelde bundelpositie heeft verlaten en die tevens de afstand aangeven, die door de bundel is afgelegd in het tijdinterval tussen het moment, waarop de bundel de genoemde positie of gemiddelde positie bereikt en het moment van de latere signaalontvangst.According to the invention, the device is characterized in that the photodetector member supplies signals which indicate beam deflections or beam attenuations as well as beam deflections through the glass, the device being provided with a beam monitoring means for generating signals representing the beam positions at the beam monitor means for recording with respect to each scanning pass of the beam in one direction or periodically with respect to a sequence of such scanning passes, of the position or average position achieved by the beam in a scanning pass or scanning passes when a first signal, caused by the beam deflection through the glass, is received from the photo-detector member, and a signal processing member which is designed such that during use output signals are provided which indicate the time of occurrence of a beam pass in which a later signal, that the bundle deflection g or attenuation by the glass 30 is received from the photo-detector member after the beam has left said position or average beam position and also indicates the distance traveled by the beam in the time interval between the moment at which the beam reaches the said position or average position and the moment of the later signal reception.

De inrichting volgens de uitvinding kan niet alleen de langsposities van fouten, doch tevens hun 35 dwarsordinaten (dat wil zeggen hun afstanden vanaf een zijrand van het glas) automatisch signaleren, zelfs indien de zijrandpositie varieert ten opzichte van de breedte van de glastransporteur gedurende het transport van het glas door het aftaststation.The device according to the invention can automatically signal not only the longitudinal positions of errors, but also their transverse ordinates (ie their distances from a side edge of the glass), even if the side edge position varies with respect to the width of the glass conveyor during transport of the glass through the scanning station.

Bij voorkeur is het signaalverwerkingsorgaan aangesloten op een besturingsmechanisme van een glasmarkeer- of snij-orgaan, dat langs de transportbaan van het glas stroomafwaarts van het aftaststation is 40 opgesteld, zodat het markeer- of snijorgaan het glas markeert op plaatsen van fouten of het glas snijdt op plaatsen, die de gesignaleerde foutposities veroorzaken.Preferably, the signal processing means is connected to a control mechanism of a glass marking or cutting means, which is arranged along the conveying path of the glass downstream of the scanning station, so that the marking or cutting means marks the glass at places of error or cuts the glass in places that cause the error positions identified.

De inrichting kan als alternatief zodanig zijn uitgevoerd, dat uitgangssignalen worden opgewekt, die de langsposities van fouten aangeven, uitgedrukt in de afstand tot een in dwarsrichting verlopende uitgangslijn.The device can alternatively be designed such that output signals are generated which indicate the longitudinal positions of errors, expressed in the distance to a transversely extending output line.

Volgens een voorkeursuitvoeringsvorm van de inrichting volgens de uitvinding voorkomt een blokkeer-45 orgaan, dat uitgangssignalen van het signaalverwerkingsorgaan de plaats van fouten aangeven, die op minder dan een vooraf bepaalde afstand liggen van een zijrand van het glas.According to a preferred embodiment of the device according to the invention, a blocking member prevents output signals from the signal processing member from indicating the location of errors that are less than a predetermined distance from a side edge of the glass.

Het blokkeerorgaan kan deel uitmaken van het signaalverwerkingsorgaan en glasfoutsignalen blokkeren, welke buiten beschouwing moeten worden gelaten. Als alternatief kan het fotodetectororgaan samenwerken met een orgaan, dat gedurende elke gang van de aftastbundel voorkomt, dat buiten beschouwing te laten 50 signalen worden doorgegeven aan het signaalverwerkingsorgaan.The blocking member may form part of the signal processing member and block glass error signals which must be disregarded. Alternatively, the photodetector member may cooperate with a member which prevents 50 signals from being passed on to the signal processing member during each pass of the scanning beam.

Volgens de uitvinding kan het bundelbewakingsorgaan signalen opwekken, die de bundelposities aangeven ten opzichte van een vaste uitgangspositie, die buiten de grenzen van de bundelbeweging over het glas ligt. Bij een dergelijke inrichting kan het signaalverwerkingsorgaan uitgangssignalen leveren, welke zijrand- en foutplaatsen over de aftastbaan aangeven ten opzichte van een vaste uitgangspositie. Dit is van 55 voordeel, omdat dergelijke uitgangssignalen in het bijzonder geschikt zijn voor het automatisch besturen van bewerkingen op het bewegende glas door een inrichting, die op een vaste afstand stroomafwaarts van het gebied, waar het glas wordt afgetast, is gemonteerd.According to the invention, the beam monitor can generate signals which indicate the beam positions relative to a fixed starting position that lies outside the limits of the beam movement over the glass. In such a device, the signal processing device can provide output signals which indicate side edge and error locations across the scanning path with respect to a fixed starting position. This is advantageous because such output signals are particularly suitable for automatically controlling operations on the moving glass by a device mounted at a fixed distance downstream of the area where the glass is scanned.

194480 6194480 6

Het is van voordeel indien de glassnij-organen op een positie langs de baan van het glas stroomafwaarts van het onderzoekstation zijn gemonteerd, waarbij middelen zijn aangebracht, die voor opeenvolgende aftastcycli signalen opwekken, die de afstanden van de bundel tot uitgangspositie aangeven, wanneer de bundel de zijranden van het glas treft, en waarbij middelen zijn aangebracht voor het besturen van de 5 snij'Organen in afhankelijkheid van die signalen, zodat de snij-organen randdelen met voorafbepaalde breedte van het glas afsnijden gedurende het transport uit het onderzoekstation.It is advantageous if the glass cutters are mounted at a position along the path of the glass downstream of the examination station, with means being provided which, for successive scanning cycles, generate signals which indicate the distances from the bundle to the starting position when the bundle hits the side edges of the glass, and means are provided for controlling the cutting members in dependence on those signals, so that the cutting members cut off edge portions of predetermined width of the glass during transport from the examination station.

Bij de uitvoeringsvorm, waarbij het bundelbewakingsorgaan is aangebracht voor het bewaken van de bundelverplaatsingen ten opzichte van een vaste uitgangspositie, zoals hierboven beschreven, kan het noodzakelijk of gewenst zijn, dat de inrichting middelen bevat, die het bewakingsorgaan periodiek terugstel· 10 len om de betrouwbaarheid van de bewakingssignalen over een periode, waarin de werkwijze continu wordt toegepast, te handhaven. Dergelijke terugstelmiddelen kunnen met de hand bedienbaar zijn of automatisch werken. Volgens een voorkeursuitvoeringsvorm van de uitvinding is ten minste één fotodetector, die in de aftastbaan van de bundel is opgesteld in een vaste verhouding tot de uitgangspositie, verbonden met het bundelbewakingsorgaan, zodat dit automatisch herhaaldelijk wordt teruggesteld door signalen, die door de 15 fotodetector worden geleverd, waardoor wordt gewaarborg dat de signalen van het bewakingsorgaan op juiste wijze de bundelposities ten opzichte van de uitgangspositie aangeven.In the embodiment in which the beam monitor is provided for monitoring the beam displacements relative to a fixed starting position as described above, it may be necessary or desirable for the device to include means that periodically reset the monitor to ensure reliability of the monitoring signals over a period in which the method is applied continuously. Such resetting means may be manually operable or operate automatically. According to a preferred embodiment of the invention, at least one photodetector, which is arranged in the scanning path of the beam in a fixed ratio to the starting position, is connected to the beam monitor so that it is automatically repeatedly reset by signals supplied by the photodetector whereby it is ensured that the signals from the monitoring device correctly indicate the beam positions with respect to the starting position.

Het signaalverwerkingsorgaan van de inrichting volgens de uitvinding levert bij voorkeur uitgangssignalen, die (a) de afstand aangeven, welke door de aftastbundel wordt afgelegd in opeenvolgende aftastcycli vanaf de vaste uitgangspositie naar de positie, waarin de bundel de dichtstbij gelegen zijrand van 20 het glas raakt en (b) de afstand aangeven tussen de uitgangspositie en de positie, waarin de bundel een fout in het glas raakt. Het signaleren van de zijrand- en foutposities uitgedrukt in hun afstanden tot een gemeenschappelijke uitgangspositie, is van voordeel van weg de vereenvoudiging van de signaalverwerking. De signalen, die de afstanden (a) en (b) voorstellen, geven een indicatie van de dwarsordinaat van een gesignaleerde fout, welke ordinaat het verschil is tussen de gesignaleerde afstanden.The signal processing device of the device according to the invention preferably provides output signals which (a) indicate the distance covered by the scanning beam in successive scanning cycles from the fixed starting position to the position in which the beam touches the nearest side edge of the glass and (b) indicate the distance between the starting position and the position at which the bundle hits an error in the glass. The signaling of the side edge and error positions expressed in their distances from a common starting position is advantageous because of the simplification of the signal processing. The signals representing the distances (a) and (b) give an indication of the transverse ordinate of an identified error, which ordinate is the difference between the identified distances.

25 Volgens een voordelige uitvoeringsvorm van de uitvinding is een paar fotodetectors (hierna referentie-fotodetectors genoemd) gelegen nabij de tegenover elkaar liggende uiteinden van de baan, welke door de bundel gedurende de beweging over het glas wordt afgelegd, welke referentie-fotodetectors zijn aangesloten op het signaalverwerkingsorgaan, die uitgangssignalen levert, welke de bundelafbuiging door het glas aangeven, waarbij het signaalverwerkingsorgaan zodanig is uitgevoerd, dat het een fotodetector-30 responsiesignaal niet verwerkt als aanduiding voor een bundelafbuiging of -verzwakking door een fout in het glas, indien dit signaal wordt geleverd gedurende een eerste deel van de aftastgang van de bundel voordat de bundel een referentiefotodetector heeft bereikt. Het aanbrengen van dergelijke referentie-fotodetectors heeft het voordeel, dat uitgangssignaalfouten door toevallige reflecties van straling op de fotodetectors gedurende beweging van de bundel voorbij de uiteinden van de baan over het glas, worden vermeden.According to an advantageous embodiment of the invention, a pair of photodetectors (hereinafter referred to as reference photodetectors) is located near the opposite ends of the web which the beam travels over the glass during movement, which reference photodetectors are connected to the signal processing device which supplies output signals indicating the beam deflection through the glass, the signal processing device being designed such that it does not process a photodetector response signal as an indication of a beam deflection or attenuation due to an error in the glass, if this signal is supplied during a first part of the beam's scanning pass before the beam has reached a reference photodetector. The provision of such reference photo-detectors has the advantage that output signal errors due to accidental reflections of radiation on the photo-detectors during movement of the beam past the ends of the web over the glass are avoided.

35 De inrichting omvat bij voorkeur een codeerorgaan, dat elke aftastbeweging van de stralingsbundel codeert als een reeks signaalimpulsen, zodat elke gegeven momentele positie van de bundel overeenkomt met een gegeven impulsnummer. Dergelijke signaalimpulsen kunnen gemakkelijk worden verwerkt tezamen met de fotodetectorsignalen voor het afleiden van de vereiste uitgangssignalen, die de foutplaatsen voorstellen.The device preferably comprises an encoder which encodes each scanning movement of the radiation beam as a series of signal pulses, so that each given current position of the beam corresponds to a given pulse number. Such signal pulses can be easily processed together with the photodetector signals to derive the required output signals representing the error locations.

40 Volgens een voorkeursuitvoeringsvorm van de inrichting volgens de uitvinding is er een impulsteller voor het omzetten van bundelposities in elke aftastcyclus in impulsaantallen, waarbij wordt geteld vanaf nul of een andere voorafbepaalde uitgangsinstelling, die overeenkomt met een voorafbepaalde uitgangspositie van de bundel, waarbij de referentie-fotodetectors met de teller zijn verbonden, zodat voor elke opeenvolgende aftastgang van de bundel het responsiesignaal, dat wordt veroorzaakt door bestraling van de eerste van de 45 beide referentie-fotodetectors, die de bundel treft, het terugstellen van de teller veroorzaakt naar een waarde, die overeenkomt met de bundelverplaatsingsafstand tussen de uitgangspositie en de referentiefotodetector. Hierdoor wordt de betrouwbaarheid van de fout-plaatssignalen over perioden van doorlopend gebruik van de inrichting verbeterd, in het bijzonder wanneer de referentiefotodetectors dichtbij de posities, waarin de bundel aan de baan over het glas begint, zijn gemonteerd.According to a preferred embodiment of the device according to the invention, there is a pulse counter for converting beam positions in each scanning cycle into pulse numbers, counting from zero or another predetermined output setting corresponding to a predetermined starting position of the bundle, the reference photodetectors are connected to the counter so that for each successive scanning pass of the beam, the response signal caused by irradiation of the first of the two reference photodetectors affecting the bundle causes the counter to reset to a value which corresponds to the beam displacement distance between the home position and the reference photodetector. As a result, the reliability of the error location signals over periods of continuous use of the device is improved, in particular when the reference photo detectors are mounted close to the positions in which the beam begins on the path across the glass.

50 Volgens de uitvinding kan de inrichting zijn gekenmerkt door een reflector met afwisselend reflecterende en niet-reflecterende banden, middelen, die een tweede stralingsbundel (hierna bewakingsbundel genoemd), welke afkomstig is van het opwekorgaan voor de aftastbundel, de reflector laten aftasten synchroon met de aftastbewegingen van de glasaftastbundel, waarbij een fotodetector is opgesteld voor bestraling door stralingsquanta, die door de met banden uitgevoerde reflector worden gereflecteerd, en die de signaal-55 impulsen in responsie op dit bestralen opwekt. Deze uitvoeringsvorm voor het coderen van de aftastbewegingen van de aftastbundel heeft het voordeel, dat de nauwkeurigheid, waarmee het impulssignaal de positie van de bundel op een gegeven tijdstip voorstelt, niet wordt beïnvloed door fluctuaties in de snelheid 7 194480 van de bundel tijdens de aftastbeweging over het glas.According to the invention, the device can be characterized by a reflector with alternating reflecting and non-reflecting bands, means which cause a second radiation beam (hereinafter referred to as monitoring beam), which originates from the generating beam generating means, to scan the reflector in synchronism with the scanning movements of the glass scanning beam, wherein a photodetector is arranged for irradiation by radiation quanta, which is reflected by the banded reflector, and which generates the signal 55 pulses in response to this irradiation. This embodiment for coding the scanning movements of the scanning beam has the advantage that the accuracy with which the pulse signal represents the position of the beam at a given time is not influenced by fluctuations in the speed 7 194480 of the beam during the scanning movement over the glass.

Bij voorkeur wordt het synchronisme van de aftast- en bewakingsbundels gewaarborgd door een gemeenschappelijk oscillerend afbuigorgaan (bijvoorbeeld een reflector) dat wordt gebruikt voor het verkrijgen van de aftastoscillaties van de beide bundels.Preferably the synchronization of the scanning and monitoring beams is ensured by a common oscillating deflector (e.g. a reflector) that is used to obtain the scanning oscillations of the two beams.

5 Volgens een uitvoeringsvorm van de uitvinding kan de inrichting zijn gekenmerkt door een digitale klok, welke de beweging van de aftastbundel bewaakt aan de hand van het verloop van de tijd vanaf het begin van elke aftastgang en signaalimpulsen levert, die de bundelpositie aangeven. Een dergelijk bundel-bewakingsorgaan vermijdt de noodzaak een tweede stralingsbundel af te leiden van het opwekkingsorgaan voor de aftastbundel, terwijl evenmin de met banden uitgevoerde reflector en bijbehorende fotodetector 10 nodig zijn. Door middel van een bewakingsklok is het mogelijk resultaten met een zelfde nauwkeurigheid te verkrijgen.According to an embodiment of the invention, the device can be characterized by a digital clock, which monitors the movement of the scanning beam on the basis of the passage of time from the start of each scanning step and supplies signal pulses which indicate the beam position. Such a beam monitoring device avoids the need to divert a second radiation beam from the scanning beam generating means, while the reflector and associated photo detector 10 are not required either. By means of a monitoring clock it is possible to obtain results with the same accuracy.

Volgens een voorkeursuitvoeringsvorm levert het signaalverwerkingsorgaan tijdens bedrijf uitgangssignalen, die het aantal direct op elkaar volgende bundelgangen aangeven, waarin een bundelafbuigings· of verzwakkingssignaal wordt geleverd, wanneer de bundel op ongeveer dezelfde afstand is van een zijrand 15 van het glas. Een dergelijke uitvoering van het signaalverwerkingsorgaan heeft het voordeel, dat de uitgangssignalen van de inrichting niet alleen informatie geven over de plaats van straling afbuigende fouten, doch tevens over de afmetingen van de fouten.According to a preferred embodiment, the signal processor during operation supplies output signals which indicate the number of successive bundle runs in which a bundle deflection or attenuation signal is provided when the bundle is at approximately the same distance from a side edge of the glass. Such an embodiment of the signal processing device has the advantage that the output signals of the device provide information not only about the location of radiation-deflecting errors, but also about the dimensions of the errors.

Volgens een andere mogelijke, doch gunstige uitvoeringsvorm is een reflector zo opgesteld, dat het de aftastbundel door het glas heen terugreflecteert, waarbij het fotodetectororgaan voor het detecteren van 20 door fouten veroorzaakte bundelafbuigingen of -verzwakkingen zo is opgesteld, dat dit reageert op afbuigingen of verzwakkingen van de gereflecteerde bundel, nadat deze voor de tweede maal uit het glas komt. Dit heeft het voordeel, dat de inrichting minder ruimte in beslag neemt.According to another possible, but advantageous embodiment, a reflector is arranged so that it reflects back the scanning beam through the glass, the photo-detector member for detecting beam deflections or attenuations caused by errors being arranged such that it responds to deflections or attenuations of the reflected bundle after it comes out of the glass for the second time. This has the advantage that the device takes up less space.

Volgens een andere mogelijke, doch niettemin bijzonder voordelige uitvoeringsvorm wordt de inrichting gekenmerkt door een bundelsplitsingsorgaan voor het splitsen van de aftastbundel nadat deze de 25 bewegingsbaan van het glas verlaat, in twee afgeleide bundels, waarbij gescheiden fotodetectors voor de afgeleide bundels zijn aangebracht, die zo zijn opgesteld, dat tijdens bedrijf één van de fotodetectors alleen wordt bestraald wanneer de aftastbundel door het glas wordt afgebogen, terwijl de andere zal worden bestraald tenzij wordt voorkomen dat de aftastbundel door het glas wordt gezonden of meer dan in voorafbepaalde mate wordt afgebogen. Het voordeel van deze uitvoering met twee detectors is, dat 30 informatiesignalen kunnen worden opgewekt, die niet alleen de plaats van een fout aangeven, doch tevens of de fout al dan niet onder een bepaald type categorie valt.According to another possible, but nevertheless particularly advantageous embodiment, the device is characterized by a beam splitter for splitting the scanning beam after it leaves the path of movement of the glass, into two derived beams, with separate photo detectors for the derived beams being arranged are arranged that during operation one of the photodetectors is irradiated only when the scanning beam is deflected by the glass, while the other will be irradiated unless the scanning beam is prevented from being sent through the glass or deflected by more than a predetermined amount. The advantage of this embodiment with two detectors is that information signals can be generated which not only indicate the location of an error, but also whether or not the error falls under a certain type of category.

Volgens de uitvinding omvat het fotodetectie-orgaan een fotodetector, die zo is opgesteld, dat tijdens bedrijf de fotodetector normaal door de uit het glas komende bundel wordt bestraald, waarbij de fotodetector een signaal levert, indien de invallende straling beneden een voorafbepaalde minimum drempelwaarde 35 komt. Een dergelijk fotodetectororgaan kan fouten detecteren en signaleren, welke de aftastbundel verzwakken zonder deze af te buigen. Het fotodetectie-orgaan van de inrichting dient uiteraard tevens bundelafbuigingen te detecteren, zoals deze door de randen van het glas worden veroorzaakt. Dergelijke grote bundelafbuigingen alsmede dergelijke bundelverzwakkingen kunnen door één en dezelfde fotodetector worden gedetecteerd, welke een gevoelig oppervlak met zodanige afmeting heeft, dat het onbestraald blijft 40 tenzij de aftastbundel in meer dan een voorafbepaalde minimum mate wordt afgebogen.According to the invention, the photodetector comprises a photodetector arranged so that during operation the photodetector is normally irradiated by the beam coming out of the glass, the photodetector supplying a signal if the incident radiation falls below a predetermined minimum threshold value 35 . Such a photo-detector member can detect and signal errors which weaken the scanning beam without deflecting it. The photodetecting member of the device must of course also detect beam deflections, such as are caused by the edges of the glass. Such large beam deflections as well as such beam attenuations can be detected by one and the same photodetector, which has a sensitive surface of such a size that it remains un irradiated unless the scanning beam is deflected to more than a predetermined minimum degree.

Bij voorkeur wordt het bundelopwekorgaan zo gehouden, dat het stationair blijft tijdens het gebruik van de inrichting, terwijl de inrichting een afbuigorgaan, bijvoorbeeld een reflector, omvat, dat is gekoppeld met een oscillatie-orgaan voor het oscilleren van het afbuigorgaan voor het verkrijgen van de aftastbewegingen van de bundel. Een in het bijzonder aanbevolen oscillatiemechanisme voor het oscilleren van het afbuig-45 orgaan omvat een torsie-element, dat is bevestigd aan het afbuigorgaan, en een elektromagnetisch of ander orgaan voor het oscilleren van dit element op de natuurlijke frequentie. Gebleken is, dat een dergelijk oscillatiesysteem nauwkeurig en betrouwbaar werkt. De oscillerende massa kan zeer klein zijn. De elektromagneet kan worden bekrachtigd door spanningsimpulsen, die worden bestuurd door de beweging van het afbuigorgaan zelf, zodat de impulsfrequentie samenvalt met de grondresonantiefrequentie van het 50 torsie-element.Preferably, the beam generating means is held so that it remains stationary during use of the device, while the device comprises a deflector, for example a reflector, which is coupled to an oscillation means for oscillating the deflection means to obtain the scanning movements of the bundle. A particularly recommended oscillation mechanism for oscillating the deflecting means comprises a torsion element attached to the deflecting means and an electromagnetic or other means for oscillating this element at the natural frequency. It has been found that such an oscillation system works accurately and reliably. The oscillating mass can be very small. The electromagnet can be energized by voltage pulses, which are controlled by the movement of the deflector itself, so that the pulse frequency coincides with the fundamental resonance frequency of the torsion element.

Volgens een uitvoeringsvorm van de uitvinding leveren afwijkingsfotodetectors een responsiesignaal, indien de baan van de aftastbundel meer dan in voorafbepaalde mate van een voorafbepaald vlak afwijkt, en zijn deze aangesloten op een instelorgaan, waardoor een automatische correctie-instelling van de baan wordt bereikt. Hierdoor wordt een nuttige bescherming verkregen tegen een onjuist functioneren tengevolge 55 van het verkeerd richten van de aftastbundel, hetgeen bijvoorbeeld het gevolg kan zijn indien onderdelen van de inrichting zich verplaatsen uit vooraf ingestelde posities tengevolge van omgevingsinvloeden.According to an embodiment of the invention, deviation photodetectors provide a response signal if the path of the scanning beam deviates more than a predetermined degree from a predetermined plane, and they are connected to an adjustment member, whereby an automatic correction adjustment of the path is achieved. A useful protection is hereby obtained against improper functioning due to the misalignment of the scanning beam, which may, for example, be the result if parts of the device move from preset positions due to environmental influences.

Het verdient de voorkeur, wanneer de middelen voor het opwekken van de aftastbundel, de fout- 194480 8 fotodetectors en de middelen voor het verkrijgen van de aftastbewegingen van de bundel tot één geheel zijn geïntegreerd. Hierdoor wordt het installeren van de inrichting in een geschikte stand ten opzichte van een bepaalde glastransporteur vergemakkelijkt.It is preferable if the means for generating the scanning beam, the error detectors and the means for obtaining the scanning movements of the beam are integrated into one unit. This facilitates the installation of the device in a suitable position with respect to a specific glass conveyor.

Bij voorkeur is de stralingsbundelzender een laser.The radiation beam emitter is preferably a laser.

5 Het gebruik van een laser heeft het voordeel, dat de momenteel bestraalde zone van het glas zo klein mogelijk is, zodat de inrichting een bijzonder hoge resolutie heeft.The use of a laser has the advantage that the currently irradiated zone of the glass is as small as possible, so that the device has a particularly high resolution.

De uitvinding wordt hierna nader toegelicht aan de hand van de tekening, waarin een uitvoeringsvoorbeeld is weergegeven.The invention is explained in more detail below with reference to the drawing, which shows an exemplary embodiment.

1010

Figuur 1 geeft schematisch een aftast- en detectiesysteem weer, waarmee de werkwijze volgens de onderhavige uitvinding kan worden uitgevoerd.Figure 1 schematically shows a scanning and detection system with which the method according to the present invention can be carried out.

Figuur 2 is een blokschema van het signaleringsorgaan 15 In figuur 1 is het aftast- en detectiesysteem weergegeven gezien in de transportrichting van een glasband 1.Figure 2 is a block diagram of the signaling device 15. Figure 1 shows the scanning and detection system as viewed in the transport direction of a glass strip 1.

Een bundelzender 2 en een aantal fotodetectors voor het bewaken van de aftastbewegingen van de bundel en het detecteren van bundelafbuigingen zijn op een plaats onder de baan van de glasband gemonteerd, terwijl boven deze baan een concave reflector 3 is opgesteld voor het naar de detectors terugreflecteren van straling.A beam emitter 2 and a plurality of photo detectors for monitoring beam scanning movements and detecting beam deflections are mounted at a location below the web of the glass band, while a concave reflector 3 is arranged above this web for reflecting back to the detectors radiation.

20 De bundelzender 2 bestaat bij voorkeur uit een laserkanon en de stralingsbundel zal hierna als laserbundel worden aangeduid. De zender 2 is in een vaste positie opgesteld. De laserbundel wordt gesplitst door een halve spiegelreflector 4 in een doorgezonden deel 5 en een gereflecteerd deel 6. Dit gereflecteerde deel wordt voorts door reflectors 7 en 8 gereflecteerd. De doorgelaten bundel 5 en de door de spiegel 8 gereflecteerde bundel 9 vallen beide op een reflector 10. Het midden van de reflector 10 ligt in 25 het bissectrice vlak van en bevat de kromte-as van de reflector 3.The beam emitter 2 preferably consists of a laser cannon and the radiation beam will hereinafter be referred to as a laser beam. The transmitter 2 is arranged in a fixed position. The laser beam is split by half a mirror reflector 4 into a transmitted part 5 and a reflected part 6. This reflected part is furthermore reflected by reflectors 7 and 8. The transmitted beam 5 and the beam 9 reflected by the mirror 8 both fall on a reflector 10. The center of the reflector 10 lies in the bisector plane of and contains the curvature axis of the reflector 3.

De reflector 10 is op een torsiestaaf gemonteerd en wordt geoscilleerd door een elektromagneet, waarvan het bekrachtigingscircuit een schakelaar bevat, welke wordt bediend door de reflectorbewegingen, zodat de reflector oscilleert op de natuurlijke frequentie van de staaf. De oscillatiefrequentie van de reflector 10 bedraagt 800 cs/s. De oscillatie van de reflector 10 heeft tot gevolg, dat de gereflecteerde bundel 11 de 30 glasband 1 met deze frequentie aftast. Indien wordt aangenomen, dat de snelheid van de glasband 20 cm. per seconde bedraagt, betekent dit dat de band veertig aftastcycli door de bundel per centimeter lengte ondergaat.The reflector 10 is mounted on a torsion bar and is oscillated by an electromagnet whose excitation circuit includes a switch which is operated by the reflector movements so that the reflector oscillates at the natural frequency of the rod. The oscillation frequency of the reflector 10 is 800 cs / s. The oscillation of the reflector 10 causes the reflected beam 11 to scan the glass band 1 with this frequency. If it is assumed that the speed of the glass band is 20 cm. per second, this means that the tape undergoes forty scanning cycles through the bundle per centimeter of length.

De bundel 9 wordt door de oscillerende reflector 10 omgezet in een oscillerende gereflecteerde bundel 12, welke nauwkeurig synchroon met de aftastbundel 11 heen en weerzwaait. De bundel 12 tast een 35 concave gestreepte reflector 13 af, die reflecterende en niet-reflecterende stroken omvat, welke afwisselend langs de door de bundel gevolgde baan zijn gelegen. De reflector 13 reflecteert derhalve intermitterend het invallende licht, waarbij het licht wordt gereflecteerd als een reeks afzonderlijke quanta of impulsen, zoals door de onderbroken lijn 14 is aangeduid. Deze lichtimpulsen worden naar de plaats van een fotodetector 15 gericht. Het midden van deze fotodetector en het midden van de oscillerende reflector 10 zijn symme-40 trisch opgesteld ten opzichte van het bissectrice vlak van de reflector 13, dat ook de kromte-as van de reflector 13 bevat, zodat alle lichtimpulsen door de fotodetector 15 worden ontvangen ondanks de oscillatiebeweging van de bundel 12, waardoor de impulsen worden opgewekt. De synchrone aftastbundel 12, de gestreepte reflector 13 en de detector 15 dienen tezamen voor het koderen van de aftastbewegingen van de hoofdaftastbundel 11 als een reeks elektrische signaalimpulsen, die op de hierna beschreven wijze 45 door een signaalverwerkingsorgaan worden verwerkt.The beam 9 is converted by the oscillating reflector 10 into an oscillating reflected beam 12, which swings back and forth accurately in synchronism with the scanning beam 11. The beam 12 scans a concave striped reflector 13, which comprises reflective and non-reflective strips, which are alternately located along the path followed by the beam. The reflector 13 therefore intermittently reflects the incident light, the light being reflected as a series of individual quanta or pulses, as indicated by the broken line 14. These light pulses are directed to the location of a photo detector 15. The center of this photodetector and the center of the oscillating reflector 10 are arranged symmetrically with respect to the bisector surface of the reflector 13, which also contains the curvature axis of the reflector 13, so that all light pulses are transmitted through the photodetector 15 despite the oscillation movement of the beam 12, thereby generating the pulses. The synchronous scanning beam 12, the striped reflector 13 and the detector 15 together serve to encode the scanning movements of the main scanning beam 11 as a series of electrical signal pulses, which are processed by a signal processor in the manner described below.

De oscillatie-amplitude van de oscillerende reflector 10 is zodanig, dat de door de bundel in het vlak van de glasband afgelegde baan, zich aanmerkelijk tot voorbij de grenzen van de baan van de band uitstrekt. In feite is de amplitude zodanig, dat de bundel beweegt vanaf een uitgangspositie, die door de lijn X aan de ene zijde van de baan wordt aangegeven, naar een positie, die door de lijn Y aan de andere zijde van deze 50 baan wordt aangegeven. Bijgevolg beweegt de bundel door beide zijranden van de band gedurende elke in dwarsrichting verlopende aftastbeweging van de bundel. Bij het weergegeven uitvoeringsvoorbeeld zijn referentie-fotodetectors 16 en 17 nabij de tegenover elkaar liggende uiteinden van de reflector 3 opgesteld voor een nog te beschrijven doel en de aftastbundel 11 beweegt ook over deze fotodetectors bij elke aftastbeweging.The oscillation amplitude of the oscillating reflector 10 is such that the path covered by the beam in the plane of the glass band extends considerably beyond the boundaries of the band path. In fact, the amplitude is such that the beam moves from a starting position indicated by the line X on one side of the path to a position indicated by the line Y on the other side of this path. Consequently, the bundle moves through both side edges of the belt during each transverse scanning movement of the bundle. In the exemplary embodiment shown, reference photodetectors 16 and 17 are arranged near the opposite ends of reflector 3 for a purpose to be described, and the scanning beam 11 also moves over these photodetectors with each scanning movement.

55 Tijdens het bewegen over de glasband wordt de aftastbundel 11 door de band heen teruggereflecteerd door de reflector 3 als een gereflecteerde aftastbundel 18. De optische uitvoering van het systeem is zodanig, dat de plaatsen waar het glas momenteel wordt bestraald door de invallende en gereflecteerde 9 194480 aftastbundels, zeer dichtbij elkaar liggen (bij voorkeur binnen twee cm. van elkaar) en bij voorkeur elkaar overlappen of aan elkaar grenzen.55 While moving over the glass band, the scanning beam 11 is reflected back through the band through the reflector 3 as a reflected scanning beam 18. The optical design of the system is such that the places where the glass is currently being irradiated by the incident and reflected 9 194480 scanning beams, lying very close to each other (preferably within two cm of each other) and preferably overlapping or adjacent to each other.

De gereflecteerde bundel 18 valt na het verlaten van de glasband op een half doorlatende reflector 19 en wordt daardoor gesplitst in een doorgelaten deel 20 en een gereflecteerd deel 21. In de tekening is het 5 onvermijdelijk, dat het lijkt alsof de invallende en gereflecteerde aftastbundels 11 en 18 beide in hetzelfde vlak liggen, doch in werkelijkheid is dit niet het geval anders zouden de oscillerende reflector 10 en de gekromde reflector 13 de gereflecteerde aftastbundel tegenhouden. Het doorgelaten deel 20 gaat naar een fotodetector 22, terwijl het gereflecteerde deel 21 naar een fotodetector 23 gaat. Een onderscheppingsschijf 24 is centraal voor het gevoelige oppervlak van de fotodetector 22 opgesteld en onderschept het doorgela-10 ten deel 20 van de gereflecteerde aftastbundel 18, indien en voor zo lang als de aftastbundel 11 en derhalve ook de gereflecteerde aftastbundel 18 niet worden afgebogen door de glasband. Afbuiging van deze bundels treedt op, wanneer de aftastbundel een zijrand van de band tegenkomt en kan ook optreden, wanneer de bundels een fout in het glas tegenkomen. Elke aanmerkelijke afbuiging van de aftastbundel heeft tot gevolg, dat de fotodetector 22 door het doorgelaten deel 20 van de gereflecteerde aftastbundel 15 wordt bestraald. Het gereflecteerde deel 21 van de gereflecteerde aftastbundel 18 treft steeds het lichtgevoelige oppervlak van de fotodetector 23, behalve wanneer de gereflecteerde aftastbundel door het glas wordt afgebogen. Desgewenst kan de fotodetector 23 een zodanige gevoeligheid hebben, dat deze reageert op een afname van de binnenkomende stralingsstroom tot beneden een bepaalde drempelwaarde, zodat de fotodetector kan signaleren, wanneer de aftastbundel glasfouten treft, die de bundel zonder afbuiging te 20 veroorzaken, verzwakken.The reflected beam 18 falls on a semi-transparent reflector 19 after leaving the glass band and is thereby split into a transmitted part 20 and a reflected part 21. In the drawing, it is inevitable that the incident and reflected scanning beams 11 appear and 18 are both in the same plane, but in reality this is not the case otherwise the oscillating reflector 10 and the curved reflector 13 would stop the reflected scanning beam. The transmitted part 20 goes to a photo detector 22, while the reflected part 21 goes to a photo detector 23. An intercept disk 24 is arranged centrally for the sensitive surface of the photo-detector 22 and intercepts the transmitted part 20 of the reflected scanning beam 18 if and for as long as the scanning beam 11 and therefore also the reflected scanning beam 18 are not deflected by the glass band. Deflection of these bundles occurs when the scanning beam encounters a side edge of the belt and can also occur when the bundles encounter an error in the glass. Any significant deflection of the scanning beam results in the photodetector 22 being irradiated by the transmitted part 20 of the reflected scanning beam 15. The reflected portion 21 of the reflected scanning beam 18 always strikes the light-sensitive surface of the photo-detector 23, except when the reflected scanning beam is deflected by the glass. If desired, the photodetector 23 can have such a sensitivity that it responds to a decrease in the incoming radiation current below a certain threshold value, so that the photodetector can signal when the scanning beam hits glass errors, which weaken the beam without causing deflection.

De opeenvolgende afstandsincrementen, die bij elke gegeven aftastgang worden afgelegd door de bundel langs de reflector 3 en de gestreepte reflector 13, staan niet in een konstante verhouding tot de afstandsincrementen, die gelijktijdig over het glas worden afgelegd. Teneinde de signalerings fout tengevolge van deze ongelijkheid zo klein mogelijk te houden, is het gewenst, dat een zo lang mogelijke optische 25 baan aanwezig is tussen de oscillerende reflector 10 enerzijds en het glas en de reflector 3 anderzijds. Goede resultaten zijn bereikt met een afstand tussen de oscillerende reflector en de reflector 3 van 7-8 meter.The successive distance increments made by the beam along the reflector 3 and the striped reflector 13 at each given scanning pass are not in a constant relationship to the distance increments made simultaneously over the glass. In order to keep the signaling error due to this inequality as small as possible, it is desirable that an optical path as long as possible is present between the oscillating reflector 10 on the one hand and the glass and the reflector 3 on the other hand. Good results have been achieved with a distance between the oscillating reflector and the reflector 3 of 7-8 meters.

In het blokschema volgens figuur 2 van het signaleringsorgaan zijn aan de linkerzijde de fotodetectors 15, 16, 17, 22 en 23 uit figuur 1 afgebeeld. De bundelbewakingsimpulsen, die door de fotodetector 15 30 worden geleverd, worden na versterking toegevoerd aan een impulsteller 26, evenals de signalen, welke worden geleverd door de fotodetectors 16, 17, welke dichtbij de reflector 3 voor de aftastende bundel zijn gemonteerd.In the block diagram according to Figure 2 of the signaling device, the photo-detectors 15, 16, 17, 22 and 23 of Figure 1 are shown on the left-hand side. The beam monitoring pulses supplied by the photodetector 15 are supplied after amplification to a pulse counter 26, as well as the signals supplied by the photodetectors 16, 17 mounted close to the scanning beam reflector 3.

De bewakingsimpulsen, die door de fotodetector 15 worden geleverd, gedurende een verplaatsing van de bundel naar rechts volgens het aanzicht van figuur 1, worden als opeenvolgende toenamen van de door de 35 teller geregistreerde waarde geregistreerd, terwijl bewakingsimpulsen, die worden geleverd gedurende een aftastgang naar links worden geregistreerd als opeenvolgende afnamen van deze waarde. De teller kan periodiek worden teruggesteld, zodat de impulstelling de bundelpositie blijft representeren ten opzichte van de vaste uitgangspositie X met een voldoende nauwkeurigheid. Een dergelijke terugstelling kan met de vereiste intervallen met de hand plaatsvinden. Het tellergedrag kan bijvoorbeeld worden bewaakt met een 40 weergeeforgaan, dat laat zien wanneer een terugstellen nodig is. Bij voorkeur wordt de teller echter automatisch ingesteld en teruggesteld. Bij voorkeur vindt het terugstellen automatisch plaats in elke cyclus van de aftastbundel of met een interval van twee of meer cycli, in responsie op het invallen van de bundel op één of meer fotodetectors. Indien bijvoorbeeld een uitgangspositie-fotodetector is opgesteld in X, kan de teller automatisch worden teruggesteld op een uitgangsstand, bijvoorbeeld nul, door een signaal, dat door 45 deze fotodetector in responsie op het bestralen daarvan wordt gezonden. In dit geval verdient het deThe monitoring pulses supplied by the photodetector 15 during a movement of the beam to the right according to the view of Fig. 1 are recorded as successive increases in the value recorded by the counter, while monitoring pulses supplied during a scanning run to links are recorded as successive decreases of this value. The counter can be reset periodically, so that the pulse count continues to represent the beam position with respect to the fixed starting position X with a sufficient accuracy. Such a reset can be done manually at the required intervals. The counter behavior can be monitored, for example, with a display that shows when a reset is needed. Preferably, however, the counter is set and reset automatically. Preferably, the reset takes place automatically in each cycle of the scanning beam or with an interval of two or more cycles, in response to the incident of the beam on one or more photodetectors. For example, if an initial position photo detector is arranged in X, the counter can be automatically reset to an output position, e.g. zero, by a signal sent by this photo detector in response to irradiation thereof. In this case it deserves the

voorkeur de teller terug te stellen in responsie op het bestralen van de referentie-fotodetector 16 gedurende een beweging naar rechts van de bundel en opnieuw te worden teruggesteld in responsie op het bestralen van de referentie-fotodetector 17 gedurende een beweging naar links van de bundel, zodat de impulstellingen, die worden geregistreerd wanneer de bundel ter plaatse van deze referentiefotodetectors is op 50 juiste wijze de respectieve afstanden van deze fotodetectors ten opzichte van de uitgangspositie Xpreferable to reset the counter in response to irradiating the reference photodetector 16 during a movement to the right of the beam and to be reset again in response to irradiating the reference photodetector 17 during a movement to the left of the beam, so that the pulse counts, which are recorded when the beam at these reference photo detectors is correctly 50, are the respective distances of these photo detectors from the home position X

voorstellen. Als een alternatief kan de uitgangspositie-fotodetector worden weggelaten en kan het terugstellen van de teller uitsluitend worden veroorzaakt door signalen van de referentie-fotodetectors 16 en 17, welke signalen dienen om de teller op impulstellingen in te stellen, welke op de juiste wijze de genoemde betreffende afstanden voorstellen.introduce. As an alternative, the starting position photodetector can be omitted and the counter reset can only be caused by signals from the reference photodetectors 16 and 17, which signals serve to set the counter to pulse counts, which correctly said the distances concerned.

55 Door de beschreven terugstelling van de teller, is de door de teller 26 geregistreerde waarde altijd een juiste weergave van de positie van de bundel ten opzichte van de vaste uitgangspositie.55 Due to the described reset of the counter, the value recorded by the counter 26 is always a correct representation of the position of the beam with respect to the fixed starting position.

Bewakingsimpulsen, die de variërende positie van de aftastbundel aangeven, worden uit de teller 26 194480 10 toegevoerd aan een randpositiecomputer 27, waarop de fotodetectors 22, 23 via een OF-circuit 32 zijn aangesloten. De computer omvat een poortcircuit 28, een aantal-instelorgaan 29, een accumulator/ rekeneenheid 30 en een register 31.Surveillance pulses indicating the varying position of the scanning beam are supplied from the counter 26 194480 to an edge position computer 27, to which the photo-detectors 22, 23 are connected via an OR circuit 32. The computer comprises a gate circuit 28, a number-setting member 29, an accumulator / calculator 30 and a register 31.

Gedurende elke aftastbeweging van de aftastbundel 11 treedt de eerste afbuiging van de bundel door 5 het glas op, wanneer de bundel voor de eerste maal een zijrand van het glas treft. Het hierdoor veroorzaakte fotodetectorsignaal wordt toegevoerd aan het bijbehorende poortcircuit 28, evenals de bundelpositie-bewakingsimpulsen van de teller 26. Het poortcircuit laat van de teller 26 een telleruitgangssignaal door naar de accumulator/rekeneenheid 30, welk signaal de bundelpositie aangeeft op het moment, dat het bundelafbuigsignaal wordt geleverd aan het poortcircuit via het OF-circuit 32. Een dergelijk doorlaten van 10 het signaal via het poortcircuit 28 vindt plaats in elk van een aantal aftastcycli van de bundel, waarbij dit aantal wordt bepaald door de instelling van het aantal-instelorgaan 29. De bundelpositiesignalen, die door het poortcircuit worden doorgelaten in het vooraf ingestelde aantal aftastcycli worden geaccumuleerd in de accumulator/rekeneenheid 30 en deze eenheid berekent vervolgens de gemiddelden van de geaccumuleerde bundelposities en zendt signalen, die deze gemiddelden aangeven, naar het randpositieregister 31.During each scanning movement of the scanning beam 11, the first deflection of the beam through the glass occurs when the beam hits a side edge of the glass for the first time. The photodetector signal caused by this is applied to the associated gate circuit 28, as well as the beam position monitoring pulses from the counter 26. The gate circuit passes a counter output signal from the counter 26 to the accumulator / computer unit 30, which signal indicates the beam position at the moment that it beam deflection signal is supplied to the gate circuit via the OR circuit 32. Such passage of the signal through the gate circuit 28 takes place in each of a plurality of scanning cycles of the beam, this number being determined by the setting of the number setting member 29. The beam position signals passed through the gate circuit in the preset number of scan cycles are accumulated in the accumulator / calculator 30 and this unit then calculates the averages of the accumulated beam positions and sends signals indicating these averages to the edge position register 31.

15 Volgens een uitvoeringsvorm is het ingestelde aantal 128 cycli en het optellen van de 128 bewakingsimpuls-aantallen, die de plaats van een bandrand voorstellen, en het berekenen van de gemiddelde waarde neemt 8 seconden in beslag.According to an embodiment, the set number of 128 cycles and the addition of the 128 monitoring pulse numbers representing the location of a band edge is 8, and the calculation of the average value takes 8 seconds.

De signalen, die de gemiddelde posities van de respectieve glasranden voorstellen over de tijdintervallen, welke worden bepaald door de instelling van het aantal-instelorgaan 29 worden toegevoerd aan een 20 comparatorcircuit 33. Zij worden tevens toegevoerd aan een mechanisme voor het besturen van de posities van glassnij-organen voor het snijden van de glasband op een plaats, stroomafwaarts van het foutdetectie-station, waarbij snij-organen aanwezig zijn, die de glasband in platen met de gewenste afmeting en kwaliteitsaanduiding snijden, alsmede snij-organen voor het continu verwijderen van de zijranden van de band. Door de genoemde signalen te gebruiken voor het besturen van de beweging van de randsnij-25 organen in een richting dwars op de baan van de band, kan de breedte van de randen, die van het glas worden afgesneden, constant worden gehouden zelfs gedurende perioden, waarin een variatie in de posities van de bandranden bij het passeren door het snijstation optreedt. De glasrandpositiesignalen kunnen eventueel ook worden toegevoerd aan een weergeeforgaan of registratieorgaan 34, dat door een bedie-ningsman kan worden geïnspecteerd.The signals representing the average positions of the respective glass edges over the time intervals determined by the setting of the number-setting member 29 are applied to a comparator circuit 33. They are also applied to a mechanism for controlling the positions of glass cutting means for cutting the glass strip at a location downstream of the error detection station, with cutting means being provided which cut the glass strip into plates with the desired size and quality designation, as well as cutting means for continuously removing the side edges of the tire. By using said signals to control the movement of the edge cutters in a direction transverse to the path of the belt, the width of the edges cut off from the glass can be kept constant even during periods, wherein a variation in the positions of the band edges occurs as they pass through the cutting station. The glass edge position signals can optionally also be supplied to a display or recording device 34, which can be inspected by an operator.

30 De bundelposities, die samenvallen met bundelafbuigingen door fouten in het glas, worden geregistreerd door een foutregister 35. Hiertoe worden signalen van de fotodetectors 22 en 23 toegevoerd aan dit foutregister 35 via een blokkeercircuit 36, waarvan een van de doelen het uitfilteren van ruis is, waaronder valse signalen, die worden veroorzaakt door incidentele lichtreflecties van delen van de glastransport- en onderzoekinstallatie. Het register 35 ontvangt bundelpositie-bewakingssignalen van de teller 26 en zendt 35 aan het comparatorcircuit 33 signalen, die de posities aangeven van de bundel op momenten, waarop bundelafbuigingssignalen worden ontvangen van de fotodetectors 22 en 23. Het blokkeercircuit 36 ontvangt tevens signalen van de fotodetectors 16 en 17, die dicht bij de uiteinden van de aftastbundelreflector 3 zijn opgesteld en alleen afbuigsignalen zenden aan het foutregister 35, die optreden gedurende de beweging van de bundel tussen deze detectors.The beam positions, which coincide with beam deflections due to errors in the glass, are recorded by an error register 35. For this purpose, signals from the photo-detectors 22 and 23 are supplied to this error register 35 via a blocking circuit 36, one of which is filtering out noise. , including false signals, caused by incidental light reflections from parts of the glass transport and research installation. The register 35 receives beam position monitoring signals from the counter 26 and sends 35 signals to the comparator circuit 33 indicating the positions of the beam at times when beam deflection signals are received from the photo detectors 22 and 23. The blocking circuit 36 also receives signals from the photo detectors 16 and 17, which are arranged close to the ends of the scanning beam reflector 3 and only send deflection signals to the error register 35 which occur during the movement of the beam between these detectors.

40 Signalen, die bundelposities aangeven, welke samenvallen met door de detectors 22 en 23 gesignaleerde fouten, zoals de bandrandpositiesignalen van het randpositieregister 31, worden toegevoerd aan het comparatorcircuit 33 en een poortcircuit 37. In het comparatorcircuit worden de foutpositiesignalen van het foutregister 35 vergeleken met de randpositiesignalen van het register 31 om te bepalen welke fouten op meer dan een voorafbepaalde afstand van elke rand van de band liggen. In responsie op foutpositie-45 signalen, die in deze categorie vallen, zendt het comparatorcircuit een vrijgeefsignaal aan het poortcircuit 37. Dit signaal opent het poortcircuit en laat de bijbehorende foutpositiesignalen van het foutregister 35 door naar een microprocessor 38. Deze microprocessor is via een OF-circuit 39 eveneens verbonden met de referentie-detectors 16,17, zodat signalen worden ontvangen, die de momenten aangeven, waarop de bundel een nieuwe gang over het glas begint. Deze signalen zijn uiteraard van belang voor het bepalen van 50 de afmetingen van de afzonderlijke fouten.Signals indicating beam positions which coincide with errors signaled by detectors 22 and 23, such as the band edge position signals from the edge position register 31, are applied to the comparator circuit 33 and a gate circuit 37. In the comparator circuit, the error position signals of the error register 35 are compared to the edge position signals of the register 31 to determine which errors are more than a predetermined distance from each edge of the tape. In response to error position-45 signals falling into this category, the comparator circuit sends a release signal to the gate circuit 37. This signal opens the gate circuit and passes the associated error position signals from the error register 35 to a microprocessor 38. This microprocessor is via an OR circuit 39 also connected to the reference detectors 16, 17, so that signals are received which indicate the moments at which the bundle starts a new path across the glass. These signals are of course important for determining the dimensions of the individual errors.

De microprocessor heeft drie uitgangslijnen 40-42. De lijn 40 levert signalen, die de dwarsafstand van de fouten ten opzichte van de uitgangspositie X voorstellen. De lijn 41 levert signalen, die de aard van een gesignaleerde fout aangeven. Van fouten worden verschillende categorieën aangegeven in afhankelijkheid van het feit of zij al dan niet een bundel afbuiging veroorzaken, die voldoende is om onderbreking van de 55 bestraling van de detector 23 te veroorzaken. De lijn 42 levert signalen, die de lengte van een gesignaleerde fout aangeven, een factor welke kan worden afgeleid uit het aantal opeenvolgende aftastgangen van de bundel, waarin een bundelafbuiging wordt gesignaleerd op ongeveer dezelfde bundelpositie. In ditThe microprocessor has three output lines 40-42. The line 40 supplies signals which represent the transverse distance of the errors with respect to the starting position X. The line 41 supplies signals which indicate the nature of an identified error. Various categories of errors are indicated depending on whether or not they cause a beam deflection that is sufficient to cause interruption of the irradiation of the detector 23. The line 42 provides signals which indicate the length of a signalized error, a factor that can be deduced from the number of consecutive scanning passes of the beam, in which a beam deflection is signaled at approximately the same beam position. In this

Claims (9)

11 194480 verband is het dikwijls gunstig kleine fouten, die zeer dicht bij elkaar liggen, te registreren als een enkele fout. Indien bijvoorbeeld foutsignalen op dezelfde positie meer dan eens binnen een interval tot veertig aftastcycli optreden, kunnen dergelijke signalen worden behandeld als voorstellende een enkele fout. De signalen, die via de lijnen 40*4 2 worden gezonden, worden min of meer gelijktijdig gezonden met het 5 invallen van de aftastbundel op de fouten, die deze signalen veroorzaken. De tijdstippen, waarop deze signalen worden geschonden, geven derhalve de langsposities van de fouten aan. Rekening houdende met de bewegingssnelheid van het glas, verschaffen deze tijdstippen, waarop foutsignalen worden gezonden, de mogelijkheid de aankomsttijdstippen van de fouten in elke positie stroomafwaarts van het aftaststation te bepalen. 10 Voor het classificeren van de afmeting is de microprocessor voorzien van een aantal uit meerdere cellen bestaande registers. Foutpositiesignalen worden geleverd aan een cel van elk register afhankelijk van de dwarsordinaat van de gesignaleerde positie. Foutpositiesignalen, die overeenkomende dwarsordinaten voorstellen, worden aan dezelfde registercellen geleverd. De cellen van elk register hebben bij elkaar behorende uitgangspoorten, waarop een drempelladingswaarde wordt geleverd, welke passend is voor een 15 bepaalde categorie foutafmeting. Er zijn verschillende drempelladingswaarden, één voor elk register. Het aantal registers komt overeen met het aantal verschillende afmetingscategorieên, waarin fouten moeten worden geclassificeerd. Positiesignalen, die overeenkomen met dezelfde dwarsordinaat en die in direct opeenvolgende gangen van de aftastbundel worden gezonden, hebben een cumulerend laadeffect op de cellen, waaraan zij worden geleverd. Het aantal ladingsincrementen, dat in elke bepaalde cel wordt 20 geaccumuleerd, geeft derhalve de langsafmeting van de fout aan, welke het laden van de cel veroorzaakt. Het toevoegen van een ladingsincrement aan elke bepaalde cel wordt vergezeld door een afname van de drempelladingswaarde, die op de bijbehorende poort wordt geleverd. Indien de drempelladingswaarde op een poort beneden nul komt, wordt een signaal door de bijbehorende cel gezonden, waardoor wordt aangegeven dat de langsafmeting van de fout, die de dwarsordinaat heeft, welke bij die cel behoort, ten 25 minste gelijk is aan de drempelwaarde, welke wordt voorgesteld door de vooraf ingestelde poortlading. Indien een ladingsincrement niet aan een cel wordt toegevoegd bij een bepaalde aftastgang van de bundel, wordt een lading, die eerder door de cel werd geaccumuleerd en het resterende ladingsincrement van de bijbehorende cel automatisch afgevoerd. Een gunstige verfijning omvat het installeren van fotodetectors, die naast elkaar op de juiste aftastbaan 30 van de aftastbundel over de reflector 3 worden geïnstalleerd, welke fotodetectors worden verbonden met een instelorgaan voor de oscillerende reflector 10, zodat de reflector automatisch wordt ingesteld indien trilling of een andere storende invloed de bundel in zijdelingse richting van de juiste baan over de reflector 3 doet afwijken. Dergelijke extra fotodetectors kunnen bijvoorbeeld nabij het ene einde van de reflector 3 zijn opgesteld, bijvoorbeeld in een vlak, dat loodrecht op het vlak van figuur 1 staat en tussen de referentie-35 fotodetector 16 en het bijbehorende uiteinde van de reflector 3. De fotodetector 22 kan worden weggelaten. Alleen de fotodetector 23 wordt dan gebruikt voor het detecteren van de glasrandposities en de posities van fouten in het glas. De fotodetector 23 kan in dit geval op de beschreven wijze werken of kan zodanig zijn uitgevoerd, dat het tevens een signaal levert wanneer de invallende hoeveelheid straling beneden een bepaalde waarde komt, waardoor een verzwakking van de 40 bundel, die bijvoorbeeld door een verkleuring op het glas wordt veroorzaakt, wordt aangegeven. Onder deze omstandigheden zal de inrichting niet de plaats van fouten signaleren, welke slechts een geringe af buigende invloed op de aftastbundel hebben. In het geval dat een enkele glasranden foutpositie-fotodetector wordt gebruikt, is uiteraard de halfdoorlatende spiegel 19 niet nodig. De fotodetector kan zich op de positie van de fotodetector 22 in de tekening bevinden. Uiteraard zijn verschillende andere opstellingen van fotodetectors 45 mogelijk. De fotodetector 23 kan bijvoorbeeld in de getekende stand blijven voor het detecteren van grote bundelafbuigingen en de fotodetector 22 kan worden gebruikt zonder het masker 24 voor het detecteren van bundelverzwakkingen. 50 Conclusies11 194480 it is often favorable to register small errors, which are very close to each other, as a single error. For example, if error signals occur at the same position more than once within an interval of up to forty scanning cycles, such signals may be treated as representing a single error. The signals which are sent via the lines 40 * 4 2 are sent more or less simultaneously with the incident beam incident on the errors which these signals cause. The times at which these signals are violated therefore indicate the longitudinal positions of the errors. Taking into account the speed of movement of the glass, these times at which error signals are sent provide the possibility to determine the arrival times of the errors at any position downstream of the scanning station. For classifying the size, the microprocessor is provided with a number of multi-cell registers. Error position signals are supplied to a cell of each register depending on the transverse ordinate of the signaled position. Error position signals, representing corresponding transverse ordinates, are supplied to the same register cells. The cells of each register have associated output ports on which a threshold charge value is provided, which is appropriate for a particular category of error size. There are different threshold load values, one for each register. The number of registers corresponds to the number of different size categories in which errors must be classified. Position signals corresponding to the same transverse ordinate and sent in directly successive passages of the scanning beam have a cumulative charge effect on the cells to which they are delivered. The number of charge increments accumulated in each particular cell, therefore, indicates the longitudinal dimension of the error caused by the cell loading. The addition of a charge increment to each particular cell is accompanied by a decrease in the threshold charge value, which is supplied on the corresponding port. If the threshold charge value on a gate falls below zero, a signal is sent by the associated cell, indicating that the longitudinal dimension of the error which has the transverse ordinate associated with that cell is at least equal to the threshold value, which is represented by the preset port charge. If a charge increment is not added to a cell at a particular scanning pass of the bundle, a charge that was previously accumulated by the cell and the remaining charge increment of the associated cell is automatically discharged. A favorable refinement includes installing photo detectors which are installed side by side on the correct scanning path 30 of the scanning beam over the reflector 3, which photo detectors are connected to an oscillating reflector 10 setting means, so that the reflector is automatically adjusted if vibration or a another disturbing influence causes the beam to deviate in the lateral direction from the correct path over the reflector 3. Such additional photodetectors can for instance be arranged near the one end of the reflector 3, for instance in a plane which is perpendicular to the plane of figure 1 and between the reference photodetector 16 and the associated end of the reflector 3. The photodetector 22 can be omitted. Only the photo detector 23 is then used to detect the glass edge positions and the positions of errors in the glass. The photodetector 23 can in this case operate in the manner described or can be designed in such a way that it also supplies a signal when the incident amount of radiation falls below a certain value, as a result of which a weakening of the 40 beam, which is caused for example by is caused. Under these circumstances, the device will not signal the location of errors which only have a slight deflecting influence on the scanning beam. In the case that a single glass-edge error position photodetector is used, the semi-transparent mirror 19 is of course not necessary. The photo detector can be located at the position of the photo detector 22 in the drawing. Various other arrangements of photo detectors 45 are of course possible. For example, the photo detector 23 can remain in the position shown for detecting large beam deflections and the photo detector 22 can be used without the mask 24 for detecting beam attenuations. 50 Conclusions 1. Werkwijze voor het bepalen van de plaats van fouten in vlakglas tijdens het doorlopen van een baan, waarbij het glas wordt afgetast met een bundel elektromagnetische straling en waarbij een fotodetector wordt gebruikt, waarmede het invallen van de bundel op fouten in het glas wordt gedetecteerd terwijl het 55 glas wordt afgetast door een bundel elektromagnetische straling, die dwars over de baan van het glas beweegt, zodat de bundel opeenvolgende dwarssporen over het glas volgt en daarbij verzwakkingen of afbuigingen van de bundel door fouten in het glas worden gedetecteerd, met het kenmerk, dat bij elke 194460 12 aftastgang de bundel door de tegenover elkaar liggende zijranden van het glas gaat en daarbij de afbuigingen van de bundel, die worden veroorzaakt door het raken van één of elke zijrand van het glas worden gedetecteerd waarbij de detector uitgangssignalen levert, die posities langs de afgetaste lengte van het glas volgens de dwarssporen aangeven, waarin fouten worden gedetecteerd en de langs deze sporen 5 gemeten afstanden aangeven tussen deze fouten en een zijrand van het glas.A method for determining the location of errors in flat glass while traversing a web, wherein the glass is scanned with a beam of electromagnetic radiation and wherein a photodetector is used, with which the incident of the beam on errors in the glass is detected while the glass is scanned by a beam of electromagnetic radiation, which travels across the path of the glass, so that the beam follows successive transverse traces over the glass and thereby detects weakening or deflection of the beam due to errors in the glass, characterized in that at every scan step the beam passes through the opposite side edges of the glass and thereby detects the deflections of the beam caused by hitting one or each side edge of the glass with the detector providing output signals which indicate positions along the scanned length of the glass according to the traces of error, in which errors are made and indicate the distances measured along these tracks 5 between these errors and a side edge of the glass. 2. Werkwijze volgens conclusie 1, met het kenmerk, dat de fotodefector uitgangssignalen opwekt, die worden gebruikt als een besturingsfactor bij het automatisch besturen van een glasmarkeringseenheid of snijder voor het markeren of snijden van het bewegende glas op een plaats, stroomafwaarts van het station, waar het glas wordt afgetast.Method according to claim 1, characterized in that the photodefector generates output signals which are used as a control factor for automatically controlling a glass marking unit or cutter for marking or cutting the moving glass at a location downstream of the station, where the glass is scanned. 3. Werkwijze volgens conclusie 1 of 2, met het kenmerk, dat de uitgangssignalen alleen worden opgewekt voor fouten, die verder dan een voorafbepaalde afstand van elke zijrand van het glas liggen.Method according to claim 1 or 2, characterized in that the output signals are generated only for errors that are further than a predetermined distance from each side edge of the glass. 4. Werkwijze volgens één der voorgaande conclusies 1-3, met het kenmerk, dat de verplaatsing van de bundel wordt bewaakt door een bewakingsorgaan, dat signalen levert, die de bundelposities aangeven ten opzichte van een vaste uitgangspositie, die buiten de grenzen van de bundelbeweging over het glas ligt, 15 welke signalen door het signaleringsorgaan worden gebruikt bij het afleiden van de uitgangssignalen.Method according to any one of the preceding claims 1-3, characterized in that the movement of the bundle is monitored by a monitoring device which supplies signals which indicate the bundle positions with respect to a fixed starting position which is outside the limits of the bundle movement over the glass, which signals are used by the signaling device in deriving the output signals. 5. Werkwijze volgens conclusie 4, toegepast voor het detecteren van foutplaatsen in een continue band van glas, met het kenmerk, dat de uitgangspositie vastligt ten opzichte van het frame van de glastransporteur, waarbij signalen, die de afstand aangeven van ten minste één zijrand van de band tot de uitgangspositie, worden gebruikt voor het automatisch besturen van een snij-orgaan, dat verder stroomafwaarts langs de 20 baan van de band is gemonteerd en dat dient voor het afsnijden van een randdeel met voorafbepaalde breedte van één of elke zijde van de band.A method according to claim 4, used for detecting error locations in a continuous glass band, characterized in that the starting position is fixed with respect to the frame of the glass conveyor, wherein signals indicating the distance of at least one side edge of the tape to the starting position, are used to automatically control a cutter, which is further mounted downstream along the web of the tape and which serves to cut off an edge portion with predetermined width of one or each side of the tape . 6. Werkwijze volgens conclusie 4 of 5, met het kenmerk, dat signalen, die worden geleverd door een fotodetector, welke is opgesteld in de uitgangspositie of in een vaste stand ten opzichte van deze uitgangspositie, in responsie op bestralen van deze fotodetector door de aftastende bundel, automatisch herhaalde- 25 lijk het bewakingsorgaan voor de bundelverplaatsing terugstellen, teneinde te waarborgen dat dit op de juiste wijze de posities van de bundel ten opzichte van de uitgangspositie weergeeft.A method according to claim 4 or 5, characterized in that signals supplied from a photo detector, which is arranged in the home position or in a fixed position with respect to this home position, in response to irradiation of this photo detector by the scanning device beam, automatically and repeatedly resetting the beam displacement monitor to ensure that it correctly displays the positions of the beam relative to the home position. 7. Werkwijze volgens één der voorgaande conclusies, met het kenmerk, dat elke aftastbeweging van de bundel wordt gecodeerd als een reeks signaalimpulsen, zodat elke gegeven momentele positie van de bundel overeenkomst met een gegeven impulsnummer.Method according to one of the preceding claims, characterized in that each scanning movement of the bundle is coded as a series of signal pulses, so that each given current position of the bundle corresponds to a given pulse number. 8. Werkwijze volgens conclusie 7, met het kenmerk, dat de signaalimpulsen worden toegevoerd aan een impulsteller, die in elke aftastcyclus bundelposities omzet in impulsaantallen, waarbij gesteld wordt vanaf nul of een andere voorafbepaalde uitgangsinstelling, die overeenkomt met een voorafbepaalde positie van de bundel buiten de grenzen van de bundelbeweging over het glas en waarbij voor elke opeenvolgende aftastgang van de bundel, bestraling van de eerste van de twee referentie-fotodetectors, die de bundel 35 tegenkomt, de terugstelling van de teller naar een waarde teweegbrengt, die overeenkomt met de afstand van de bundelverplaatsing tussen de uitgangspositie en die referentie-fotodetector.A method according to claim 7, characterized in that the signal pulses are applied to a pulse counter which converts beam positions into pulse numbers in each scanning cycle, setting from zero or another predetermined output setting corresponding to a predetermined position of the beam outside the boundaries of the beam movement across the glass and where for each successive scanning pass of the beam, irradiation of the first of the two reference photodetectors encountered by the beam 35 causes the counter to reset to a value corresponding to the distance of the beam displacement between the home position and that reference photo detector. 9. Werkwijze volgens conclusie 8, met het kenmerk, waarbij een stralingsbundel afkomstig van dezelfde stralingsbron als de glasaftastbundel wordt opgewekt synchroon met het aftasten van het glas voor het aftasten van een reflector, die afwisselend reflecterende en niet-reflecterende banden bezit, waarbij de 40 stralingsquanta, die door de met banden uitgevoerde reflector worden gereflecteerd, invallen op een foto-elektrische detector en daardoor de signaalimpulsen opwekken. Hierbij 2 bladen tekening9. A method according to claim 8, characterized in that a radiation beam from the same radiation source as the glass scanning beam is generated in synchronism with scanning the glass for scanning a reflector which has alternating reflecting and non-reflecting bands, the 40 radiation quanta, which are reflected by the reflector equipped with bands, impinge on a photoelectric detector and thereby generate the signal pulses. Hereby 2 sheets of drawing
NL8600790A 1985-04-02 1986-03-27 Method and device for determining the location of errors in flat glass. NL194480C (en)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
GB08508590A GB2173294B (en) 1985-04-02 1985-04-02 Method of and apparatus for determining the location of defects present in flat glass
GB8508590 1985-04-02

Publications (3)

Publication Number Publication Date
NL8600790A NL8600790A (en) 1986-11-03
NL194480B NL194480B (en) 2002-01-02
NL194480C true NL194480C (en) 2002-05-03

Family

ID=10577080

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
NL8600790A NL194480C (en) 1985-04-02 1986-03-27 Method and device for determining the location of errors in flat glass.

Country Status (10)

Country Link
AT (1) AT399596B (en)
BE (1) BE904465A (en)
DE (1) DE3610484C2 (en)
ES (1) ES8707340A1 (en)
FR (1) FR2579750B1 (en)
GB (1) GB2173294B (en)
IT (1) IT1189618B (en)
LU (1) LU86375A1 (en)
NL (1) NL194480C (en)
PT (1) PT82302B (en)

Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3641862A1 (en) * 1986-12-08 1988-06-09 Bosch Gmbh Robert DEVICE FOR TESTING ROTATION-SYMMETRICAL WORKPIECES
DE3641863A1 (en) * 1986-12-08 1988-06-09 Bosch Gmbh Robert SURFACE TEST DEVICE
DE3717274A1 (en) * 1987-05-22 1988-12-01 Sick Erwin Gmbh Optical defect inspecting device
JPH07151706A (en) * 1993-09-03 1995-06-16 Minnesota Mining & Mfg Co <3M> Flaw detector for article and using method thereof
GB9812091D0 (en) * 1998-06-05 1998-08-05 Glaverbel Defect detecting unit
DE102004027411A1 (en) * 2004-06-04 2005-12-29 Boraglas Gmbh Method and apparatus for identifying tin and fire side of float glass
JP5248052B2 (en) 2006-10-11 2013-07-31 日東電工株式会社 Defect inspection device for sheet-like product having optical film, inspection data processing device, cutting device and manufacturing system thereof
AT509963B1 (en) 2010-06-07 2012-05-15 Hermann Sonnleitner DEVICE FOR PUNCTUALLY CLEANING AND INSPECTING ERRORS ON FLAT GLASS PANES
US8164818B2 (en) * 2010-11-08 2012-04-24 Soladigm, Inc. Electrochromic window fabrication methods
AT511055B1 (en) 2011-03-24 2012-09-15 Softsolution Gmbh DEVICE FOR PROJECTION OF PRODUCT OR BZW. PRODUCTION RELEVANT PICTURE AND TEXT DATA AT PLANTS FOR THE PRODUCTION OF INDIVIDUAL OR BIN. INSULATING DISCS
US10739658B2 (en) 2011-12-12 2020-08-11 View, Inc. Electrochromic laminates
DE102014107542B4 (en) 2014-05-28 2020-02-06 Softsolution Gmbh Process for the manufacture of multi-pane flat glass products
CN104730145B (en) * 2015-03-06 2017-04-26 中国航空工业集团公司北京航空材料研究院 Method for accurately positioning defects of material during ultrasonic detection
DE102015108553B4 (en) * 2015-05-29 2019-02-14 Schott Ag Methods and devices for reducing the saberiness of thin glasses
DE102016104273B4 (en) * 2016-03-09 2021-02-04 Hegla Gmbh & Co. Kg Method and device for treating flat glass units in a glass processing plant and glass processing plant
CN107798376A (en) * 2017-10-16 2018-03-13 福耀集团(上海)汽车玻璃有限公司 Glass intelligent counter and method of counting

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
NL272308A (en) * 1960-12-13
US3445672A (en) * 1966-08-15 1969-05-20 Philco Ford Corp Flaw detection and marking system
GB1315654A (en) * 1969-05-21 1973-05-02 Pilkington Brothers Ltd Detection of faults in transparent material using lasers
FR2078535A5 (en) * 1970-02-16 1971-11-05 British Aircraft Corp Ltd
US3759620A (en) * 1972-05-30 1973-09-18 Philco Ford Corp Flaw detection and marking apparatus
GB1526930A (en) * 1974-12-19 1978-10-04 Bfg Glassgroup Process and apparatus for testing glass
US4038554A (en) * 1976-03-09 1977-07-26 Columbia Research Corporation Detection of flaws in a moving web of transparent material
US4097151A (en) * 1976-03-16 1978-06-27 Ppg Industries, Inc. Method of and apparatus for locating B type and point type defects in a glass ribbon
US4203672A (en) * 1976-11-18 1980-05-20 E. I. Du Pont De Nemours And Company Scanning beam displacement compensation control system
DE3034901A1 (en) * 1979-09-17 1981-04-30 Intec Corp., Trumbull, Conn. Defect detector system automatic scanning beam positioner - has beam sensor next edge of moving web detecting laser beam position w.r.t. its scanning path
US4306808A (en) * 1979-12-14 1981-12-22 Ford Aerospace & Communications Corp. Glass flaw inspection system

Also Published As

Publication number Publication date
FR2579750A1 (en) 1986-10-03
IT1189618B (en) 1988-02-04
ES554081A0 (en) 1987-07-16
GB2173294B (en) 1988-10-12
FR2579750B1 (en) 1988-11-10
ES8707340A1 (en) 1987-07-16
IT8667222A0 (en) 1986-03-20
AT399596B (en) 1995-06-26
NL194480B (en) 2002-01-02
PT82302A (en) 1986-04-01
DE3610484C2 (en) 1998-09-17
LU86375A1 (en) 1986-06-24
ATA84086A (en) 1994-10-15
NL8600790A (en) 1986-11-03
DE3610484A1 (en) 1986-10-09
PT82302B (en) 1992-06-30
GB2173294A (en) 1986-10-08
BE904465A (en) 1986-09-24
GB8508590D0 (en) 1985-05-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
NL194480C (en) Method and device for determining the location of errors in flat glass.
US4384195A (en) Edge-responsive apparatus for counting conveyor-transported articles
US3802774A (en) Method and apparatus for determining the thickness or width of work pieces
US4063820A (en) Apparatus for measuring a dimension of an object
US8561902B2 (en) Systems and methods for weigh scale perimeter monitoring for scanner-scales
US4286880A (en) Scanning light beam lumber defect position system and method of using same
KR920003534B1 (en) Optical apparatus for the detection of holes
JPH04274706A (en) Thickness measuring apparatus
US5434428A (en) Length measurement system along UV-shaped conveyor using data from object sensors
GB1424418A (en) Apparatus for detercting the skew of an opaque band material travelling on a delivery system
SE414543B (en) METHOD VALUE PROCEDURE FOR DETERMINING A DETERMINED DIAMETER AND / OR CURVING VALUE OF A LONG-TERM FORM LIKE A STOCK OR CLEAR AND DEVICE FOR IMPLEMENTATION OF THE PROCEDURE
EP0167277B1 (en) A micro-displacement measuring apparatus
US5329091A (en) Weld monitoring device
US3761723A (en) Apparatus for measuring dimensional deviations
US3743428A (en) Device for optically measuring a dimension of an object
US5168163A (en) Method and apparatus for detecting the positions of articles transported on a conveyor, particularly for automatic packaging plants
US4043673A (en) Reticle calibrated diameter gauge
US20070052978A1 (en) Device and method for measuring the thickness of a transparent sample
US5705817A (en) Apparatus for optical monitoring of a thread for irregularities
KR880001286B1 (en) Apparatus for measuring the flow rate of melten material
JPS59501027A (en) Method and apparatus for measuring flow velocity of molten material emitting light
KR100448440B1 (en) Speed measurement apparatus and method of hot steel
JP2799492B2 (en) Position or length measuring device
JP3491975B2 (en) Error signal detecting device and Doppler velocimeter using the same
NL8902699A (en) SEALING MACHINE.

Legal Events

Date Code Title Description
BA A request for search or an international-type search has been filed
BB A search report has been drawn up
BC A request for examination has been filed
V1 Lapsed because of non-payment of the annual fee

Effective date: 20041001