NL187871C - Roentgenfluorescentiestraling-filmdiktemeter, en werkwijze voor het meten van een filmdikte. - Google Patents

Roentgenfluorescentiestraling-filmdiktemeter, en werkwijze voor het meten van een filmdikte.

Info

Publication number
NL187871C
NL187871C NLAANVRAGE8201472,A NL8201472A NL187871C NL 187871 C NL187871 C NL 187871C NL 8201472 A NL8201472 A NL 8201472A NL 187871 C NL187871 C NL 187871C
Authority
NL
Netherlands
Prior art keywords
film thickness
roentgenfluorescence
measuring
radiation
gauge
Prior art date
Application number
NLAANVRAGE8201472,A
Other languages
English (en)
Dutch (nl)
Other versions
NL8201472A (nl
NL187871B (nl
Original Assignee
Seiko Instr & Electronics
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Instr & Electronics filed Critical Seiko Instr & Electronics
Publication of NL8201472A publication Critical patent/NL8201472A/nl
Publication of NL187871B publication Critical patent/NL187871B/xx
Application granted granted Critical
Publication of NL187871C publication Critical patent/NL187871C/xx

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B15/00—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons
    • G01B15/02—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring thickness

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
NLAANVRAGE8201472,A 1981-04-07 1982-04-06 Roentgenfluorescentiestraling-filmdiktemeter, en werkwijze voor het meten van een filmdikte. NL187871C (nl)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4999581 1981-04-07
JP1981049995U JPS6315767Y2 (fr) 1981-04-07 1981-04-07

Publications (3)

Publication Number Publication Date
NL8201472A NL8201472A (nl) 1982-11-01
NL187871B NL187871B (nl) 1991-09-02
NL187871C true NL187871C (nl) 1992-02-03

Family

ID=12846586

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
NLAANVRAGE8201472,A NL187871C (nl) 1981-04-07 1982-04-06 Roentgenfluorescentiestraling-filmdiktemeter, en werkwijze voor het meten van een filmdikte.

Country Status (7)

Country Link
US (1) US4442535A (fr)
JP (1) JPS6315767Y2 (fr)
CA (1) CA1195438A (fr)
DE (1) DE3212845C2 (fr)
FR (1) FR2503351B1 (fr)
GB (1) GB2098320B (fr)
NL (1) NL187871C (fr)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3710789A1 (de) * 1987-03-31 1988-10-20 Messerschmitt Boelkow Blohm Verfahren zur passiven vermessung von fluessigkeitsfilmen und/oder schaumschichten auf wasser
DE102005058783A1 (de) * 2005-12-09 2007-06-14 Zf Friedrichshafen Ag Torsionsschwingungsdämpfer
GB0801307D0 (en) * 2008-01-24 2008-03-05 3Dx Ray Ltd Can seam inspection
CN102284513A (zh) * 2011-05-16 2011-12-21 清华大学 一种凸度仪用准直机构
CN110742630A (zh) * 2019-09-17 2020-02-04 深圳蓝韵医学影像有限公司 一种x射线图像采集的方法和装置
CN111678464B (zh) * 2020-05-21 2022-04-08 原子高科股份有限公司 一种工业仪表测厚源设计与制备工艺

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CH249401A (de) * 1944-11-01 1947-06-30 Draeger Ges Mbh Verfahren zur zerstörungsfreien Bestimmung der Schichtdicke von Überzügen mit Hilfe von Röntgenstrahlen.
US2890344A (en) * 1955-12-27 1959-06-09 Philips Corp Analysis of materials by x-rays
BE569634A (fr) * 1957-08-14
US3027459A (en) * 1958-08-09 1962-03-27 Curtiss Wright Corp Thickness measurement apparatus
US3499152A (en) * 1966-03-18 1970-03-03 Industrial Nucleonics Corp Method and apparatus for improving backscatter gauge response
GB1255644A (en) * 1968-05-10 1971-12-01 Rolls Royce Method of determining the value of a mechanical property or properties of a fibre
JPS4720853U (fr) * 1971-03-15 1972-11-09

Also Published As

Publication number Publication date
DE3212845C2 (de) 1987-05-14
FR2503351B1 (fr) 1986-08-22
FR2503351A1 (fr) 1982-10-08
GB2098320A (en) 1982-11-17
US4442535A (en) 1984-04-10
JPS6315767Y2 (fr) 1988-05-06
DE3212845A1 (de) 1982-10-21
NL8201472A (nl) 1982-11-01
CA1195438A (fr) 1985-10-15
JPS57162509U (fr) 1982-10-13
GB2098320B (en) 1984-09-12
NL187871B (nl) 1991-09-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
NL190671C (nl) Inrichting voor het meten van een oppervlaktetemperatuur.
NL7801667A (nl) Stelsel en werkwijze voor het meten van een fluidumdrukkracht.
NL187374C (nl) Inrichting voor het detecteren van straling.
NL188541C (nl) Absolute positietransducent voor het meten van een lineaire en hoekpositie.
NL181281C (nl) Werkwijze voor het aantonen en bepalen van een ligande en werkwijze voor het bereiden van een reagenscombinatie daarvoor.
NL7709039A (nl) Werkwijze en inrichting voor het meten van anti- genen en antilichamen.
NL184977C (nl) Fluorescentie-roentgenstraling-filmdiktemeetinrichting.
NL181755C (nl) Inrichting voor het meten van het uitbreiden van een scheur.
NL7904500A (nl) Werkwijze en inrichting voor het meten van de inhoud of hoeveelheid van een gegeven element door middel van roentgenstraling.
NL7612655A (nl) Werkwijze en inrichting voor het meten van werkelijke afstanden in een drie-dimensionaal assenstelsel.
NL188913C (nl) Meetinrichting voor het uitvoeren van metingen in een boorgat.
NL7900278A (nl) Werkwijze en inrichting voor het meten van een gasstroom.
NL7712043A (nl) Werkwijze en inrichting voor het controleren van bankbiljetten.
NL7706712A (nl) Inrichting voor het meten en regelen van de dikte val een laag.
NL186405C (nl) Meetinrichting voor het meten van een afmeting van de dwarsdoorsnede van een langwerpig voorwerp.
NL191320C (nl) Inrichting voor het meten van de druk in een fluidum.
NL7903364A (nl) Werkwijze en inrichting voor het meten van een afwerklaag.
NL7708825A (nl) Werkwijze voor het meten van doorstromende hoe- veelheden.
BE888841A (nl) Stelsel voor het meten van de wanddikte van een meetobject.
NL188377C (nl) Werkwijze en inrichting voor het detecteren van foutstromen.
NL190150B (nl) Werkwijze voor het vervaardigen van een voor straling gevoelig element en werkwijze voor het vervaardigen van een lithografische drukplaat.
NL187871C (nl) Roentgenfluorescentiestraling-filmdiktemeter, en werkwijze voor het meten van een filmdikte.
NL7705443A (nl) Werkwijze en inrichting voor het meten van de dikte van een metalen film met behulp van een roentgenstralenfluorescentiestelsel.
NL7803551A (nl) Inrichting voor het meten van een drukverschil.
NL7714166A (nl) Werkwijze en inrichting voor het meten van de concentratie van een fluidum.

Legal Events

Date Code Title Description
BA A request for search or an international-type search has been filed
A85 Still pending on 85-01-01
BB A search report has been drawn up
BC A request for examination has been filed
V1 Lapsed because of non-payment of the annual fee