NL8201472A - Fluorescerende roentgenstraling-filmdiktemeter voor zeer kleine oppervlakken. - Google Patents

Fluorescerende roentgenstraling-filmdiktemeter voor zeer kleine oppervlakken. Download PDF

Info

Publication number
NL8201472A
NL8201472A NL8201472A NL8201472A NL8201472A NL 8201472 A NL8201472 A NL 8201472A NL 8201472 A NL8201472 A NL 8201472A NL 8201472 A NL8201472 A NL 8201472A NL 8201472 A NL8201472 A NL 8201472A
Authority
NL
Netherlands
Prior art keywords
sample
detector
fluorescent
ray
rays
Prior art date
Application number
NL8201472A
Other languages
English (en)
Other versions
NL187871C (nl
NL187871B (nl
Original Assignee
Seiko Instr & Electronics
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Instr & Electronics filed Critical Seiko Instr & Electronics
Publication of NL8201472A publication Critical patent/NL8201472A/nl
Publication of NL187871B publication Critical patent/NL187871B/nl
Application granted granted Critical
Publication of NL187871C publication Critical patent/NL187871C/nl

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B15/00Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons
    • G01B15/02Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring thickness

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)

Description

r 4 * VO 3226
Titel: Fluorescerende röntgenstraling-filmdiktemeter voor zeer kleine oppervlakken.
De onderhavige uitvinding heeft betrekking op een verbetering van een fluorescerende röntgenstraling-filmdiktemeter, in het bijzonder om de hoeveelheid verandering in de gedetecteerde intensiteit rond de afstand tussen een detector en een monster te minimaliseren.
5 In het algemeen heeft een fluorescerende röntgenstraling-film diktemeter zoals getoond in fig. 1 een stralingsbron 1 die bijvoorbeeld is samengesteld uit een róntgenbuis voor het opwekken van een geëxciteerde röntgenstraling "X", een sluiter 2 voor het regelen van de doorgang van de exciteerde straling "X", een collimator 3 voor het focusseren van de 10 exciteerde röntgenstraling "X", een monstertafel 4, een monster "S" van waaraf een fluorescerende röntgenstraling "R" wordt gestraald door de toepassing van de exciteerde straling "X", waarbij het monster "S” op de basistafel 4 is geplaatst, en een detector 5 voor het ontvangen van de fluorescerende röntgenstraling "R", welke bijvoorbeeld een proportio-15 _ nele teller kan zijn, en geschikt is om een filmdikte van het monster "S" te meten.
Natuurlijk wordt het outputsignaal van de detector 5 doorgegeven aan een rekenkringloop (niet weergegeven), waarbij het resultaat van de betekening door een geschikt instrument zichtbaar wordt genaakt.
20 Omdat de grootte van het monster "S" niet constant is, zal volgens de bovenbeschreven opstelling echter het monster "S" noodzakelijkerwijze in opwaartse of neerwaartse richting van positie veranderen zoals getoond in fig. 1. Bijgevolg zal de intensiteit van de door de detector 5 gedetecteerde fluorescerende röntgenstraling omgekeerd evenredig met het 25 kwadraat van de afstand tussen de detector 5 en het monster "Srt veranderen omdat de afstand tussen de detector 5 en het monster "S" met de verandering van positie in opwaartse of neerwaartse richting variëren. Tegelijkertijd verandert de Θ van inval van de fluorescerende röntgenstraling om detector 5. Omdat de detector 5 een openingsgedeelte 5a 30 voor het ontvangen van röntgenstraling heeft varieert in dit geval de gevoeligheid van de röntgenstralingdetectie zoals in fig. 2 is getoond.
De gevoeligheid van de röntgenstralingdetectie van de detector 5 is iiiiiiii 8201472 V « - 2 - > groot wanneer het monster neerwaarts is geplaatst zoals getoond in ' fig. 2a, zodat de invalshoek ©^ groot is, omdat een gebied voor het ontvangen van een fluorescerende röntgenstraling "R^" van het monster groot is. Wanneer het monster "S2” naar boven is geplaatst zoals : 5 getoond in fig. 2b zodat de invalshoek ©2 klein is, is de detectie— gevoeligheid van de detector 5 klein, omdat een gebied Z2 voor het ontvangen van een fluorescerende röntgenstraling "R2" kleiner wordt.
Omdat het röntgenstralingsgebied voor het ontvangen van de röntgenstraling door de opening van de detector 5 variëert met de invalshoek ©
10 en de gevoeligheid ruwweg evenredig is met het oppervlak van het gebied, zal de relatie tussen de intensiteit van de gedetecteerde röntgenstraling en de positie van het monster "S" in de verticale richting, d.w.z. de verticale afstand van het monster "S" tot de detector 5, door fig. 3 worden getoond. Wanneer het monster opwaarts is geplaatst (de afstand 15 tussen het monster "S" en de detector 6 is kleiner), wordt dus de gevoeligheid van de detectie verminderd omdat de intensiteit van de röntgenstraling volgens de kwadratenwet wordt vergroot en de invalshoek © klein is. Anderzijds wordt het monster op een lagere positie geplaatst, omdat de verandering van de intensiteit van de detectie teniet 20 wordt gedaan door de verandering in de relatieve positie van de detector 5, welke eigenschappen getoond worden door de kromme met een locale maximale waarde "X
P
Wanneer het monster "S" zich op de positie bevindt die overeenstemt met de locale maximale waarde "X " van de intensiteitskromme van
P
25 de gedetecteerde röntgenstraling, is het duidelijk dat de verandering in de intensiteit van de detectie rond de verandering in de verticale afstand minimaal is. Omdat echter de conventionele inrichting geen enkel instelorgaan heeft, is het onmogelijk om de verandering in de gedetecteerde röntgenstraling te minimaliseren.
30 Het doel van de onderhavige uitvinding is om de bovenstaand ver melde nadelen op te lossen, en een doel van de onderhavige uitvinding is om te voorzien in een filmdiktemeter, welke gebruik maakt van fluorescerende röntgenstraling, waarbij de richting van de; naar een monster gekeerde opening veranderd wordt door een rotatie van de detec-" 35 tor, waarbij de instelling op zodanige wijze kan plaatsvinden, dat de 8201472 »' Tt Γ~; . .
- 3 - I :.- ingestelde positie van het monster samenvalt met de locale maximale waarde van de intensiteit van de gedetecteerde röntgenstraling/ en waarbij het gebied van de veranderingiin de intensiteit van de gedetecteerde röntgenstraling tegen de verticale verandering in de positie van het ! 5 ; monster op een minimum, wordt ingesteld.
Fig. 4 toont een voorkeursuitvoeringsvorm van een detector volgens de onderhavige uitvinding, waarin een opening 5a voor het ontvangen van de röntgenstraling aanwezig is aan één deel van het cantreksgedeelte van een cilindrisch®detector 5, en een voorversterker 6 integraal aan-10 wezig is aan één eindgedeelte daarvan. Wanneer de detector 5 en de voorversterker 6 bevestigd worden aan een lichaam van een filmdiktemeter (niet getoond), en wanneer de voorversterker 6 geroteerd wordt door de voorversterker 6 als een hefboom te gebruiken, wordt tegelijkertijd ook de detector 5 geroteerd, en kan de richting van de opening 5a naar het 15 monster worden ingesteld.
Wanneer de voorversterker in de door de pijl A van fig. 4 getoonde richting wordt geroteerd, zullen in dit geval de detectoren 5 worden geroteerd in de met een pijl B getoonde richting, zodat de positie van de opening 5a van positie.'5a wordt verplaats naar de positie 5a' in fig. 5.
20 Als gevolg van de beweging van de opening 5a wordt de hoeveelheid van de lading in het gebied van de detector 5 waar de röntgenstraling binnentreedt, hetwelk bewerkt wordt door de verticale beweging van het monster S', verandert van Z tot Z ,. Dat wil zeggen dat wanneer het monster in de verticale richting tussen en wordt bewogen, wanneer de opening 5a 25 zodanig geroteerd wordt dat deze op de door 5a1 getoonde plaats ligt, de hoeveelheid verandering van het gebied voor het ontvangen van de röntgenstraling vergroot wordt omdat Z veranderd wordt in Z ,. Tegelijkertijd beweegt ook een ander openingsgedeelte 5b naar 5b1, maar zoals uit de figuur duidelijk zal zijn, is het verschil in hoeveelheid van verande—1 30 ring die veroorzaakt, is door de verticale verplaatsing van het monster, zeer gering zodat dit verschil kan worden verwaarloosd.
Wanneer derhalve de detector 5 geroteerd wordt in de door pijl B aangegeven richting, wordt de hoeveelheid verandering in het gebied van de detector 5 waar de röntgenstraling binnentreedt, die bewerkt wordt 35 door de verticale beweging van het monster, verandert van Z tot in Z ,, 3. cl 8201472 - 4 - J ; zodat de mate waarin de toename van de intensiteit van de ?.röntgenstra-ling, veroorzaakt door verandering van de positie van het monster van S, tot S9, teniet wordt gedaan (evenredig met de hoeveelheid Z en Z ,). groot wordt. Bijgevolg wordt de kromme die de intensiteit van de gedetec-! 5 teerde röntgenstraling toont, van de door een vaste lijn getoonde kromme veranderd in de door een onderbroken lijn getoonde kromme, en wordt de I locale maximale waarde van X verandert in X ,, dat wil zeggen een lager deel van het monster S (grote afstand).
Wanneer de detector 5 in de tegengestelde richting van de pijl 10 van fig. 4 wordt geroteerd, beweegt het locale maximum natuurlijk tegengesteld in de linkse richting van de afstandsas van fig. 3.
Daarom is het in het geval dat de detector 5 gemonteerd is op het lichaam van de apparatuur (niet getoond), wanneer de detector 5 op geschikte wijze geroteerd wordt om gegevens in responsie op verandering ,15 in hoogte van het monster S te. verkrijgen, mogelijk om hem zodanig in te stellen, dat de intensiteit, van de gedetecteerde röntgenstraling een maximale waarde heeft bij de ingestelde hoogtepositie van het monster S.
Zoals bovenstaand beschreven is het volgens de onderhavige uitvinding mogelijk, omdat de inrichting zodanig is uitgevoerd dat het 20 mogelijk is om de afstand tussen de detector en het monster (de positie van het monster) zodanig in te stellen dat de intensiteit van de gedetecteerde fluorescentie röntgenstraling een maximale waarde bereikt, de afwijking in de monsterbasis van de filmdiktemeter, d.w.z. de positie van het monster ten opzichte van de daarvoor ontworpen waarde, te com-25 penseren. Bijgevolg wordt een filmdiktemeter welke gebruik maakt van fluorescerende röntgenstraling, verschaft, die in staat is om de hoeveelheid verandering in de intensiteit van de gedecteerde röntgenstraling te minimaliseren.
In de tekening toont: 30 fig. 1 een schematisch zijaanzicht van een filmdiktemeter volgens de onderhavige uitvinding; fig. 2 een plaatje dat de gevoeligheid toont van een detector van fig. 1, waarin (a) een plaatje is voor het geval dat het monster zich op een hoger gelegen positie bevindt en (b) een plaatje is voor het geval 35 dat het monster zich op een lagere positie bevindt; 8201472 « | »---------------------1---: : \ - 5 - fig. 3 een. karakteristieke kromme voor de detectie, welke de röntgenstralinggevoeligheid voor de afstand tot het monster toont; fig. 4 een aanzicht in prespectief van de detector volgens de onderhavige uitvinding? en j 5 . fig. 5 een schematisch plaatje dat de verandering in de piekposi- tie als gevolg van de rotatie van de detectie toont.
De verwijzingscijfers en symbolen hebben de volgende betekenissen; 1 stralingsbron 4 basis 10 5 detector 5a openinggedeelte 6 voorversterker X geexciteerde straling (röntgenstraling).
5 monster 15 r fluorescerende röntgenstraling Θ invalshoek
Zj, Z2 gebieden voor het ontvangen van röntgen-* straling X , X 1 detectiepiek
P P
20 X , Z , de hoeveelheid verandering in het gebied a a voor het ontvangen van röntgenstraling.
8201472

Claims (1)

  1. m- - 6 - Fluorescerende röntgenstraling-filmdiktemeter, omvattende een stralingsbron voor het opwekken van röntgenstraling? een monster van i waar fluorescerende röntgenstraling wordt gestraald door de toepassing van de röntgenstraling? en een detector met een opening voor het ont-5 vangen van de fluorescerende röntgenstraling> met het kenmerk, dat de detector zodanig is uitgevoerd dat het mogelijk is om de detector in te stellen door hem op een zodanige wijze te roteren dat de positie van het monster samenvalt met een punt waar de hoeveelheid verandering in de gedetecteerde intensiteit van de fluorescerende röntgenstraling 10 minimaal is. 8201472
NLAANVRAGE8201472,A 1981-04-07 1982-04-06 Roentgenfluorescentiestraling-filmdiktemeter, en werkwijze voor het meten van een filmdikte. NL187871C (nl)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4999581 1981-04-07
JP1981049995U JPS6315767Y2 (nl) 1981-04-07 1981-04-07

Publications (3)

Publication Number Publication Date
NL8201472A true NL8201472A (nl) 1982-11-01
NL187871B NL187871B (nl) 1991-09-02
NL187871C NL187871C (nl) 1992-02-03

Family

ID=12846586

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
NLAANVRAGE8201472,A NL187871C (nl) 1981-04-07 1982-04-06 Roentgenfluorescentiestraling-filmdiktemeter, en werkwijze voor het meten van een filmdikte.

Country Status (7)

Country Link
US (1) US4442535A (nl)
JP (1) JPS6315767Y2 (nl)
CA (1) CA1195438A (nl)
DE (1) DE3212845C2 (nl)
FR (1) FR2503351B1 (nl)
GB (1) GB2098320B (nl)
NL (1) NL187871C (nl)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3710789A1 (de) * 1987-03-31 1988-10-20 Messerschmitt Boelkow Blohm Verfahren zur passiven vermessung von fluessigkeitsfilmen und/oder schaumschichten auf wasser
DE102005058783A1 (de) * 2005-12-09 2007-06-14 Zf Friedrichshafen Ag Torsionsschwingungsdämpfer
GB0801307D0 (en) * 2008-01-24 2008-03-05 3Dx Ray Ltd Can seam inspection
CN102284513A (zh) * 2011-05-16 2011-12-21 清华大学 一种凸度仪用准直机构
CN110742630A (zh) * 2019-09-17 2020-02-04 深圳蓝韵医学影像有限公司 一种x射线图像采集的方法和装置
CN111678464B (zh) * 2020-05-21 2022-04-08 原子高科股份有限公司 一种工业仪表测厚源设计与制备工艺

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CH249401A (de) * 1944-11-01 1947-06-30 Draeger Ges Mbh Verfahren zur zerstörungsfreien Bestimmung der Schichtdicke von Überzügen mit Hilfe von Röntgenstrahlen.
US3027459A (en) * 1958-08-09 1962-03-27 Curtiss Wright Corp Thickness measurement apparatus

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2890344A (en) * 1955-12-27 1959-06-09 Philips Corp Analysis of materials by x-rays
BE569634A (nl) * 1957-08-14
US3499152A (en) * 1966-03-18 1970-03-03 Industrial Nucleonics Corp Method and apparatus for improving backscatter gauge response
GB1255644A (en) * 1968-05-10 1971-12-01 Rolls Royce Method of determining the value of a mechanical property or properties of a fibre
JPS4720853U (nl) * 1971-03-15 1972-11-09

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CH249401A (de) * 1944-11-01 1947-06-30 Draeger Ges Mbh Verfahren zur zerstörungsfreien Bestimmung der Schichtdicke von Überzügen mit Hilfe von Röntgenstrahlen.
US3027459A (en) * 1958-08-09 1962-03-27 Curtiss Wright Corp Thickness measurement apparatus

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
INSTRUMENTS AND EXPERIMENTAL TECHNIQUES, vol. 24, no. 1, deel 2, januari/februari 1981, blz. 242-244, Plenum Publishing Corp., New York, US; K.V. ANISOVICH et al.: "Improved aperture in an iogansson X-ray fluorescence spectrometer" *

Also Published As

Publication number Publication date
DE3212845C2 (de) 1987-05-14
FR2503351B1 (fr) 1986-08-22
FR2503351A1 (fr) 1982-10-08
GB2098320A (en) 1982-11-17
US4442535A (en) 1984-04-10
JPS6315767Y2 (nl) 1988-05-06
DE3212845A1 (de) 1982-10-21
CA1195438A (en) 1985-10-15
NL187871C (nl) 1992-02-03
JPS57162509U (nl) 1982-10-13
GB2098320B (en) 1984-09-12
NL187871B (nl) 1991-09-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6839406B2 (en) Apparatus and method for detecting items in objects
JP4149230B2 (ja) 放射線画像撮影システムおよび放射線画像検出器
EP0377446A2 (en) Surface analysis method and apparatus
JP2005519668A (ja) 電離放射線の走査式検出における曝露制御
JPH05119035A (ja) イメージングフローサイトメータ
NL8102926A (nl) Fluorescentieroentgenstralingsfilmdiktemeter.
JPH0690423B2 (ja) スリツト放射線写真装置
NL8201472A (nl) Fluorescerende roentgenstraling-filmdiktemeter voor zeer kleine oppervlakken.
US3774046A (en) Counterfeit currency detector
US4111561A (en) Defocused unicell photometer with diffusion zone
US4512642A (en) Automatic focusing apparatus in optical drawing machine
US5266802A (en) Electron microscope
CN109946329B (zh) X射线测量装置
DE3503231A1 (de) Verfahren und einrichtung zur 3-d-erfassung von szenen mittels optischem 2-d-sensor
US7030402B2 (en) Optical distance measuring device and printing apparatus using the same
CA1173284A (en) Auto focus system
US5111037A (en) Device for measuring light scattered by an information support
US5155354A (en) Target detector capable of rejecting close-in objects
JPH01106566A (ja) 画像読取方法
US4105300A (en) Defocused unicell photometer with aspheric zone
JP3217637B2 (ja) 自動焦点合わせ機構付き電子プローブマイクロアナライザ
GB2122835A (en) Rangefinder
Berger Design of telecentric imaging systems for noncontact velocity sensors
JP4730054B2 (ja) アスベスト用位相コントラストx線撮影システム及びアスベスト用位相コントラストx線撮影方法
JPH03115844A (ja) 表面欠点検出方法

Legal Events

Date Code Title Description
BA A request for search or an international-type search has been filed
A85 Still pending on 85-01-01
BB A search report has been drawn up
BC A request for examination has been filed
V1 Lapsed because of non-payment of the annual fee