NL154619B - Werkwijze voor het vervaardigen van een veldeffecttransistor met geisoleerde stuurelektrode onder toepassing van ionenimplantatie en volgens deze werkwijze vervaardigde veldeffecttransistor. - Google Patents

Werkwijze voor het vervaardigen van een veldeffecttransistor met geisoleerde stuurelektrode onder toepassing van ionenimplantatie en volgens deze werkwijze vervaardigde veldeffecttransistor.

Info

Publication number
NL154619B
NL154619B NL717106558A NL7106558A NL154619B NL 154619 B NL154619 B NL 154619B NL 717106558 A NL717106558 A NL 717106558A NL 7106558 A NL7106558 A NL 7106558A NL 154619 B NL154619 B NL 154619B
Authority
NL
Netherlands
Prior art keywords
field effect
effect transistor
procedure
manufacture
ion implantation
Prior art date
Application number
NL717106558A
Other languages
English (en)
Dutch (nl)
Other versions
NL7106558A (de
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Publication of NL7106558A publication Critical patent/NL7106558A/xx
Publication of NL154619B publication Critical patent/NL154619B/xx

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/66Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/68Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
    • H01L29/76Unipolar devices, e.g. field effect transistors
    • H01L29/772Field effect transistors
    • H01L29/78Field effect transistors with field effect produced by an insulated gate
    • H01L29/7833Field effect transistors with field effect produced by an insulated gate with lightly doped drain or source extension, e.g. LDD MOSFET's; DDD MOSFET's
    • H01L29/7835Field effect transistors with field effect produced by an insulated gate with lightly doped drain or source extension, e.g. LDD MOSFET's; DDD MOSFET's with asymmetrical source and drain regions, e.g. lateral high-voltage MISFETs with drain offset region, extended drain MISFETs
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/18Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
    • H01L21/26Bombardment with radiation
    • H01L21/263Bombardment with radiation with high-energy radiation
    • H01L21/265Bombardment with radiation with high-energy radiation producing ion implantation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/02Semiconductor bodies ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/06Semiconductor bodies ; Multistep manufacturing processes therefor characterised by their shape; characterised by the shapes, relative sizes, or dispositions of the semiconductor regions ; characterised by the concentration or distribution of impurities within semiconductor regions
    • H01L29/0684Semiconductor bodies ; Multistep manufacturing processes therefor characterised by their shape; characterised by the shapes, relative sizes, or dispositions of the semiconductor regions ; characterised by the concentration or distribution of impurities within semiconductor regions characterised by the shape, relative sizes or dispositions of the semiconductor regions or junctions between the regions
    • H01L29/0692Surface layout
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/66Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/68Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
    • H01L29/76Unipolar devices, e.g. field effect transistors
    • H01L29/772Field effect transistors
    • H01L29/78Field effect transistors with field effect produced by an insulated gate
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S148/00Metal treatment
    • Y10S148/053Field effect transistors fets

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • Insulated Gate Type Field-Effect Transistor (AREA)
NL717106558A 1970-05-13 1971-05-13 Werkwijze voor het vervaardigen van een veldeffecttransistor met geisoleerde stuurelektrode onder toepassing van ionenimplantatie en volgens deze werkwijze vervaardigde veldeffecttransistor. NL154619B (nl)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP45040114A JPS4936514B1 (de) 1970-05-13 1970-05-13

Publications (2)

Publication Number Publication Date
NL7106558A NL7106558A (de) 1971-11-16
NL154619B true NL154619B (nl) 1977-09-15

Family

ID=12571805

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
NL717106558A NL154619B (nl) 1970-05-13 1971-05-13 Werkwijze voor het vervaardigen van een veldeffecttransistor met geisoleerde stuurelektrode onder toepassing van ionenimplantatie en volgens deze werkwijze vervaardigde veldeffecttransistor.

Country Status (4)

Country Link
US (1) US3787962A (de)
JP (1) JPS4936514B1 (de)
GB (1) GB1348066A (de)
NL (1) NL154619B (de)

Families Citing this family (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5166354A (de) * 1974-09-18 1976-06-08 Kubota Ltd
JPS5213125A (en) * 1975-07-19 1977-02-01 Kubota Ltd Resin pipe joint reinforced with glass fiber and its process
US4028717A (en) * 1975-09-22 1977-06-07 Ibm Corporation Field effect transistor having improved threshold stability
JPS52156576A (en) * 1976-06-23 1977-12-27 Hitachi Ltd Production of mis semiconductor device
US4125933A (en) * 1976-07-08 1978-11-21 Burroughs Corporation IGFET Integrated circuit memory cell
US4128439A (en) * 1977-08-01 1978-12-05 International Business Machines Corporation Method for forming self-aligned field effect device by ion implantation and outdiffusion
JPH02237159A (ja) * 1989-03-10 1990-09-19 Toshiba Corp 半導体装置
US5191401A (en) * 1989-03-10 1993-03-02 Kabushiki Kaisha Toshiba MOS transistor with high breakdown voltage
JPH0362568A (ja) * 1989-07-31 1991-03-18 Hitachi Ltd 半導体装置の製造方法
US5120669A (en) * 1991-02-06 1992-06-09 Harris Corporation Method of forming self-aligned top gate channel barrier region in ion-implanted JFET
US5874754A (en) * 1993-07-01 1999-02-23 Lsi Logic Corporation Microelectronic cells with bent gates and compressed minimum spacings, and method of patterning interconnections for the gates
US5440154A (en) * 1993-07-01 1995-08-08 Lsi Logic Corporation Non-rectangular MOS device configurations for gate array type integrated circuits
US5414283A (en) * 1993-11-19 1995-05-09 Ois Optical Imaging Systems, Inc. TFT with reduced parasitic capacitance
EP0845813A1 (de) * 1996-12-02 1998-06-03 Zetex Plc Bipolartransistor mit isolierter Gateelektrode
DE19705791C1 (de) * 1997-02-14 1998-04-02 Siemens Ag Leistungs-MOSFET
JP2000091574A (ja) 1998-09-07 2000-03-31 Denso Corp 半導体装置および半導体装置の製造方法
JP4647404B2 (ja) * 2004-07-07 2011-03-09 三星電子株式会社 転送ゲート電極に重畳しながら自己整列されたフォトダイオードを有するイメージセンサの製造方法
KR100653691B1 (ko) * 2004-07-16 2006-12-04 삼성전자주식회사 적어도 메인 화소 어레이 영역의 전면을 노출시키는패시베이션막을 갖는 이미지 센서들 및 그 제조방법들
FR3072375B1 (fr) * 2017-10-18 2021-04-16 Commissariat Energie Atomique Dispositif quantique a qubits de spin couples de maniere modulable

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1153428A (en) * 1965-06-18 1969-05-29 Philips Nv Improvements in Semiconductor Devices.
US3655457A (en) * 1968-08-06 1972-04-11 Ibm Method of making or modifying a pn-junction by ion implantation
US3576478A (en) * 1969-07-22 1971-04-27 Philco Ford Corp Igfet comprising n-type silicon substrate, silicon oxide gate insulator and p-type polycrystalline silicon gate electrode
US3679492A (en) * 1970-03-23 1972-07-25 Ibm Process for making mosfet's

Also Published As

Publication number Publication date
JPS4936514B1 (de) 1974-10-01
US3787962A (en) 1974-01-29
NL7106558A (de) 1971-11-16
GB1348066A (en) 1974-03-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
NL154619B (nl) Werkwijze voor het vervaardigen van een veldeffecttransistor met geisoleerde stuurelektrode onder toepassing van ionenimplantatie en volgens deze werkwijze vervaardigde veldeffecttransistor.
NL159815B (nl) Werkwijze voor het vervaardigen van een van een geisoleer- de stuurelektrode voorziene veldeffecttransistor met n-type kanaal.
NL159726B (nl) Werkwijze voor het vervaardigen van een elektrode voor elektrochemische processen.
DK132145C (da) Felteffekttransistor med isoleret styreelektrode
NL7503726A (nl) Veldeffecttransistor met geisoleerde stuur- electrode en diepe depletie.
NL7700290A (nl) Werkwijze voor het vervaardigen van een comple- mentaire geisoleerde poortveldeffekttransistor en veldeffekttransistor verkregen onder toepas- sing van deze werkwijze.
NL7513532A (nl) Lichaamselektrode voor elektro-medische toepassing.
NL154118B (nl) Werkwijze voor het isoleren van antitrombine uit dierlijk materiaal door adsorptie aan een ionenuitwisselende gel.
NL159820B (nl) Geintegreerde halfgeleiderschakeling van veldeffect- transistoren met een geisoleerde stuurelektrode.
CH441509A (de) Feldeffekt-Transistor mit isolierter Steuerelektrode und Verfahren zu dessen Herstellung
NL161306B (nl) Werkwijze voor de vervaardiging van veldeffecttransis- toren met geisoleerde stuurelektrode.
NL172197C (nl) Elektrode voor elektrochemische processen.
NL7512593A (nl) Werkwijze voor het vervaardigen van een elektrode.
NL159532B (nl) Werkwijze voor het vervaardigen van een, van een geisoleerde stuurelektrode voorziene veldeffecttransistor van het verrijkingstype, alsmede veldeffecttransistor, vervaardigd met deze werkwijze.
NL154683B (nl) Werkwijze voor het continu vervaardigen van laselektroden, alsmede door toepassing van deze werkwijze vervaardigde laselektroden.
NL139912B (nl) Werkwijze en inrichting voor de vervaardiging van doorzichtige foelies.
NL155399B (nl) Werkwijze voor het vervaardigen van veldeffecttransistoren met geisoleerde stuurelektrode, alsmede aldus vervaardigde veldeffecttransistoren.
NL160988C (nl) Halfgeleiderinrichting met een halfgeleiderlichaam, be- vattende ten minste een eerste veldeffecttransistor met geisoleerde stuurelektrode en werkwijze voor de vervaar- diging van de halfgeleiderinrichting.
NL162790C (nl) Werkwijze voor het vervaardigen van veldeffect- transistoren met een geisoleerde stuurelektrode.
NL145730B (nl) Elektrische keten voorzien van een veldeffecttransistor met geisoleerde poortelektrode, alsmede een werkwijze voor het vervaardigen van een veldeffecttransistor en een volgens deze werkwijze vervaardigde veldeffecttransistor.
NL150666B (nl) Werkwijze voor het vervaardigen van een tabaksvel en volgens deze werkwijze vervaardigd tabaksvel.
NL145991B (nl) Werkwijze voor de vervaardiging van buiselektroden en buiselektroden vervaardigd onder toepassing van de werkwijze.
NL7506288A (nl) Complementair veldeffekttransistorstelsel met geisoleerde poortelektrode.
NL148189B (nl) Sterkstroomkryotron en werkwijze voor het vervaardigen daarvan.
AT315240B (de) Feldeffekttransistor mit isolierter Torelektrode

Legal Events

Date Code Title Description
NL80 Abbreviated name of patent owner mentioned of already nullified patent

Owner name: HITACHI

V4 Lapsed because of reaching the maximum lifetime of a patent