MX2007001489A - Aparato y metodo de posicionamiento de dispositivo de procesamiento de muestra. - Google Patents

Aparato y metodo de posicionamiento de dispositivo de procesamiento de muestra.

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Chad J Carter
Kenneth B Wood
Christopher R Kokaisel
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Abstract

Se describe un aparato y metodo de posicionamiento de las camaras de proceso de dispositivos microfluidicos de procesamiento de muestra en el plano focal adecuado de un lector de microplaca. El aparato y metodo podrian ser adaptados para posicionar el dispositivo de procesamiento de muestra en alturas diferentes como podria ser necesario para el procesamiento en distintos lectores de microplaca. Un dispositivo de posicionamiento es utilizado en conexion con el dispositivo de procesamiento de muestra para ubicar las camaras de proceso dentro del plano focal del lector de microplaca.

Description

APARATO Y MÉTODO DE POSICIONAMIENTO DE DISPOSITIVO DE PROCESAMIENTO DE MUESTRA Campo de la Invención La presente invención se refiere a un método y aparato de posicionamiento de dispositivos de procesamiento de muestra para la interrogación óptica (es decir, una señal que requiere respuesta) . De manera más específica, la invención se dirige a un aparato para la colocación de un dispositivo de procesamiento de muestra en una altura elegida, de manera que coincida con el plano focal de un lector de microplaca. De preferencia, el dispositivo de procesamiento de muestra es situado, de modo que todas las cámaras de proceso sean uniformemente alineadas en este plano.
Antecedentes de la Invención Los dispositivos de procesamiento de muestra podrían ser utilizados para realizar reacciones y ensayos biológicos o químicos con volúmenes pequeños de reactivo y muestra . Algunos dispositivos microf luídicos son descritos en la Patente de los Estados Unidos No . 6 , 627 , 159 Bl (Bedingha et al ) y en la Publicación de Solicitud de Patente de los Estados Unidos No . US 2002 / 0048533 Al (Harms et al ) y en la Patente de los Estados Unidos No . US 2002 / 0064885 ( Bedingham et al ) . Los dispositivos microf luídicos , que se describen en estos documentos , podrían incluir estructuras laminadas de REF.: 179675 una primera capa con características, tales como cámaras de proceso y conductos estampados en las mismas, y una segunda capa, que es normalmente plana, y forma el lado de soporte del dispositivo. Comúnmente, los conductos son utilizados para suministrar muestras líquidas a las cámaras de proceso. Normalmente, las reacciones son realizadas en las cámaras de proceso. De la manera más frecuente, el progreso de la reacción es monitoreado en estas mismas cámaras de proceso por medio de técnicas ópticas, tales como fluorescencia o absorbencia, etc. En consecuencia, la primera capa normalmente es construida de material transmisivo, de modo que la reacción pueda ser interrogada en forma óptica a través de esta capa. Los dispositivos microfluídicos podrían ser proporcionados con o sin portadores como se describió en los documentos identificados con anterioridad. Con frecuencia, las cámaras de proceso están presentes en series, tales como en grupos de 96 ó 384 cámaras por dispositivo. Comúnmente, estas series corresponden con los formatos estándares en los cuales se encuentran disponibles las placas convencionales de micro-título. En forma alterna, las cámaras de proceso pueden estar presentes en agrupamientos y/o separaciones que son elegidas para aplicaciones o necesidades específicas. Los dispositivos microfluídicos que incluyen conductos y cámaras de proceso podrían distinguirse de las placas convencionales de microtítulo en virtud de su bajo perfil. Es decir, el cuerpo fluídico del dispositivo microfluídico es normalmente muy delgado, a menudo tiene un espesor de un milímetro o menos. Como resultado, las cámaras de proceso en estos dispositivos de procesamiento de muestra por lo regular son menores de una altura de un milímetro. Es decir, el volumen de la cámara de proceso se extiende menos de un milímetro en la dimensión del eje-z (perpendicular a la superficie plana del dispositivo de procesamiento de muestra) . Esto es en contraste con las placas convencionales de microtítulo, para las cuales son mucho más grandes las profundidades del eje-z de las cavidades de la muestra, normalmente están en el intervalo de varios milímetros. De esta manera, para una cámara de proceso en un dispositivo microfluídico de procesamiento de muestra, la distancia del eje-z a través de la cual está presente la muestra líquida de interrogación, puede ser extremadamente pequeña en comparación con la distancia de las placas convencionales de microtítulo. El hecho que las cámaras de proceso y los dispositivos microfluídicos de procesamiento de muestra tengan una dimensión muy pequeña en el eje-z presentaría desafíos si el dispositivo microfluídico de procesamiento de muestra fuera interrogado en forma óptica. De manera específica, en el intento de interrogación del dispositivo con un escáner o lector de microplaca, podría ser difícil llevar la serie de cámaras de proceso a una coincidencia adecuada con el "plano focal" del lector de microplaca (es decir, a la ubicación en el eje-z, con relación a la superficie plana establecida por el piso de la cámara dentro de la cual será introducida la placa de microtítulo o el dispositivo microfluídico de procesamiento de muestra, en el que el lector de microplaca tiene la capacidad de proporcionar la señal óptica más intensa) . Normalmente, los lectores de microplaca proporcionan un piso u otra superficie sobre la cual el dispositivo, tal como una placa de microtítulo, es colocado con el fin de que sea interrogada en forma óptica. A menudo, el plano focal del lector de microplaca podría ser de varios milímetros por encima del piso del compartimiento de muestra (u otra superficie sobre la cual se apoya el dispositivo de procesamiento de muestra) . Esto no presenta dificultad para estos dispositivos como placas estándares de microtítulo. No obstante, debido a su espesor reducido, las cámaras de proceso del dispositivo microfluídico de procesamiento de muestra se apoyarían junto al piso del compartimiento de muestra, a menudo por debajo del plano focal del lector de microplaca. Un reto adicional, en el uso de algunos dispositivos microfluídicos de procesamiento de muestra, es que incluso si los dispositivos de procesamiento de muestra pudieran ser colocados en forma nominal en coincidencia con el plano focal, todas las cámaras de proceso no podrían estar alineadas de manera adecuada debido a que el dispositivo de procesamiento de muestra por sí mismo pudiera poseer sinuosidad o alabeo. En contraste, las microplacas convencionales de microtítulo, en virtud de que son cuerpos inflexibles gruesos con cavidades de muestra que se extienden varios milímetros a lo largo del eje-z, tienen la capacidad inherente de ser situados, de manera que al menos alguna porción de la muestra líquida en cada una de las cavidades individuales se sitúe dentro del plano óptimo focal del lector de microplaca.
Sumario de la Invención La presente invención proporciona un aparato y método de posicionamiento de las cámaras de proceso de dispositivos microfluídicos de procesamiento de muestra en el plano focal adecuado de un lector de microplaca. El aparato y método podrían ser adaptados para posicionar el dispositivo de procesamiento de muestra en alturas diferentes como podría ser necesario para el procesamiento en distintos lectores de microplaca. Además, debido al pequeño volumen de la muestra y a la baja intensidad resultante de la señal que podría ser encontrada con las cámaras de proceso en los dispositivos microfluídicos de procesamiento de muestra, podría preferirse que los materiales utilizados en los distintos componentes de la invención no impacten de una manera significativamente adversa en la señal que podría ser obtenida a partir de las cámaras de proceso en base a la interrogación óptica. Además, podría preferirse que el posicionamiento sea conseguido sin la aplicación de una fuerza externa sobre el dispositivo de procesamiento de muestra (tal como por ejemplo, una microplatina) que pudiera interferir con el proceso de interrogación. La presente invención involucra el uso de un dispositivo de posicionamiento en conexión con el dispositivo de procesamiento de muestra para situar las cámaras de proceso dentro del plano focal del lector de microplaca. De preferencia, el dispositivo de posicionamiento se apoya sobre el piso del compartimiento de muestra de un lector de microplaca, y es designado con una altura en el eje-z, de modo que se coloquen las cámaras de proceso en el plano focal adecuado del lector dado de microplaca. En algunas modalidades, el dispositivo microfluídico de procesamiento de muestra podría ser preferiblemente diseñado, de modo que el peso del dispositivo de procesamiento de muestra por sí mismo, en combinación con el soporte proporcionado por el dispositivo de posicionamiento, sean de manera que el dispositivo de procesamiento de muestra pudiera ser mantenido lo suficientemente plano de modo que todas las cámaras de proceso residan uniformemente en el plano focal. Para este fin, podría preferirse que el dispositivo de posicionamiento proporcione soporte por debajo del área total ocupada por las cámaras de proceso, condición que es opuesta a proporcionar soporte sólo alrededor del perímetro del dispositivo de procesamiento de muestra. Una amplia variedad de dispositivos de procesamiento de muestra podría utilizarse en conexión con el aparato y método de la presente invención, aunque algunos dispositivos convenientes de procesamiento de muestra podrían incluir aquellos descritos, por ejemplo, en la Patente de los Estados Unidos No. 6, 627,159 Bl (Bedingham et al) y en la publicación de Solicitud de Patente de los Estados Unidos No. US 2002/0048533 Al (Harms et al) y en la Patente de los Estados Unidos No. US 2002/0064885 (Bedingham et al). La frase "dispositivo de procesamiento de muestra" podría ser utilizada en los documentos identificados con anterioridad para reconocer un dispositivo fluídico (incluyendo las cámaras de proceso, los conductos y otras características de transferencia de fluido) que podría ser unido con un portador separado. No obstante, como se utiliza en conexión con la presente invención un "dispositivo de procesamiento de muestra" incluye tanto un dispositivo fluídico (que contiene cámaras de proceso, conductos y otras características de transferencia de fluido, sólo y la combinación de un portador y un dispositivo fluídico. En otras palabras, en algunas modalidades el dispositivo fluídico podría ser utilizado sólo en conexión con el dispositivo de posicionamiento de acuerdo con la presente invención, y en otras modalidades, el dispositivo de procesamiento de muestra utilizado en conexión con el dispositivo de posicionamiento podría incluir un dispositivo fluídico y un portador asociado. Otras características posiblemente útiles podrían ser proporcionadas, de manera opcional, en conexión con la presente invención. Las características de acoplamiento (que incluyen aunque no se limitan a, postes y orificios) podrían ser diseñadas no sólo para registro, sino también podrían servir para colocar a presión juntos el dispositivo de procesamiento de muestra y el dispositivo de posicionamiento si fuera necesario con el fin de aplicar una fuerza suficiente para mantener plano el dispositivo de procesamiento de muestra. En otras palabras, el dispositivo de procesamiento de muestra podría ser mantenido plano contra el dispositivo de posicionamiento no sólo por el peso del dispositivo de procesamiento de muestra por sí mismo, sino a través de las fuerzas generadas por la funcionalidad de colocación a presión juntos del montaje, sin requerir la presencia de una fuerza externa para que sea aplicada durante la interrogación óptica del dispositivo microfluídico de procesamiento de muestra. En forma alterna, podrían proporcionarse fuerzas para retener el dispositivo de procesamiento de muestra sobre el dispositivo de posicionamiento utilizando abrazaderas, adhesivos, atracción magnética, etc. Sin embargo, podría preferirse que cualquiera de estas características, estructuras, etc., esté contenida dentro del montaje del dispositivo de procesamiento de muestra y el dispositivo de posicionamiento (es decir, que no serán requeridas fuerzas externas) . Podría preferirse que el dispositivo de posicionamiento tenga una o más esquinas adecuadas para la colocación del dispositivo de procesamiento de muestra en forma precisa en el plano x-y del lector de microplaca. Por ejemplo, este posicionamiento a menudo puede ser conseguido simplemente al colocar la esquina del dispositivo de posicionamiento a nivel contra una esquina del piso de compartimiento de muestra el lector de microplaca (como es frecuentemente realizado con las microplacas de micro-título) . El dispositivo de procesamiento de muestra y el dispositivo de posicionamiento también podrían incluir características que ayuden en la separación temporal y/o en el manejo de los dos dispositivos. Estas características podrían incluir, por ejemplo, festones, muescas, ranuras, etc., los cuales proporcionan una sujeción fácil.
De preferencia, el dispositivo de procesamiento de muestra y el dispositivo de posicionamiento también podrían incluir características que permitan su apilamiento. Podría preferirse que los dispositivos de procesamiento de muestra y los dispositivos de posicionamiento tengan características de manera que kits de montajes completos (dispositivo de procesamiento de muestra y dispositivo de posicionamiento) puedan ser apilados según se desee. También podría preferirse que los dispositivos de posicionamiento tengan características de manera que kits de dispositivos de posicionamiento puedan ser apilados (lo cual podría ser útil para el embarque y el almacenamiento . De preferencia, el dispositivo de procesamiento de muestra y el dispositivo de posicionamiento son suministrados como un montaje. En algunas circunstancias, podría ser necesario que los dos dispositivos sean separados en forma temporal para una etapa particular de procesamiento (tal como el sellado del dispositivo de procesamiento de muestra) antes de la interrogación óptica. Sin embargo, los dos dispositivos son normalmente requeridos que vuelvan a ser unidos en un montaje antes de la interrogación óptica. En una modalidad alternativa, los dos dispositivos podrían ser proporcionados como un kit o kit. En esta modalidad, una vez más es comúnmente requerido que los dos dispositivos sean unidos en un montaje antes de la interrogación óptica.
En algunas modalidades, el dispositivo de procesamiento de muestra y el dispositivo de posicionamiento podrían ser conectados juntos por medio de una o más articulaciones, de manera que los dos componentes sean unidos, aunque se proporcione acceso hacia la superficie del dispositivo de procesamiento de muestra que orienta el dispositivo de posicionamiento cuando los componentes sean girados hacia una posición cerrada alrededor de la articulación o articulaciones. Este acceso al dispositivo de procesamiento de muestra podría ser útil para la carga de materiales de muestra, el alojamiento de canales de suministro de fluido, el procesamiento térmico del dispositivo de procesamiento de muestra, etcétera. De preferencia, los dispositivos de procesamiento de muestra (o porciones de los mismos) y los dispositivos de posicionamiento podrían ser construidos de piezas moldeadas de plástico, por ejemplo, a través del proceso de moldeo de inyección. En forma alterna, los dispositivos de procesamiento de muestra (o porciones de los mismos) y/o dispositivo de posicionamiento podrían ser maquinados de bloques sólidos (por ejemplo, de plástico, metal, etc.) para formar las estructuras deseadas. Podría preferirse que los materiales utilizados no afecten de una manera significativamente adversa la señal óptica. Por ejemplo, podría ser ventajosa la utilización de materiales no fluorescentes si las cámaras de proceso fueran a ser interrogadas por la fluorescencia óptica. En un método de uso, el dispositivo microfluídico de procesamiento de muestra podría ser cargado con material de muestra y/o podría ser procesado (es decir, incubado) antes de unir el dispositivo de procesamiento de muestra con el dispositivo de posicionamiento para su interrogación óptica. Cuando las cámaras de proceso del dispositivo de procesamiento de muestra vayan a ser interrogadas, el dispositivo de procesamiento de muestra es acoplado con el dispositivo de posicionamiento. El montaje completo puede ser entonces colocado en un lector de microplaca, de manera que la serie de cámaras de proceso sea situada en el plano focal del lector de microplaca. Esta colocación podría ser realizada en forma manual, en este caso podría ser conseguido el posicionamiento lateral adecuado (x-y) del dispositivo de procesamiento de muestra, por ejemplo, apoyando una esquina del montaje en la esquina del piso de lector de microplaca para así alinear el montaje en forma adecuada en el lector de microplaca. A continuación, las cámaras de proceso son interrogadas, después de lo cual el montaje puede ser removido . En una modalidad alternativa, el montaje podría ser traído en el lugar en el compartimiento de muestra del lector de microplaca utilizando el manejo robótico. Por ejemplo, el montaje puede ser colocado en una bandeja de carga de un lector de microplaca, el cual entonces mueve el montaje en posición en el interior del compartimiento de muestra del lector de microplaca para su interrogación. Para propósitos de la presente invención, el "piso" del compartimiento de muestra en modalidades que utilizan una bandeja de carga, es la superficie de la bandeja de carga que soporta el dispositivo de posicionamiento y el dispositivo de procesamiento de muestra. Mientras que el propósito principal del dispositivo de posicionamiento es facilitar la interrogación óptica del dispositivo de procesamiento de muestra en el lector de microplaca, el dispositivo de procesamiento de muestra también puede ser colocado sobre el dispositivo de posicionamiento durante otro procesamiento antes o después de la interrogación óptica. Por ejemplo, si el dispositivo de procesamiento de muestra fuera a ser mantenido en una incubadora u horno, colocado en un refrigerador, etc., esto puede ser realizado con el dispositivo de procesamiento de muestra ya situado sobre el dispositivo de posicionamiento. En un aspecto, la presente invención proporciona un método de posicionamiento de un dispositivo de procesamiento de muestra dentro de un lector de microplaca que tiene un compartimiento de muestra con un piso y un plano focal separado del piso del compartimiento de muestra. El método incluye proporcionar un dispositivo de procesamiento de muestra que tiene por lo menos una serie de procesos, en donde al menos una serie de procesos incluye un conducto principal y una pluralidad de cámaras de proceso situadas a lo largo del conducto principal, y en donde el dispositivo de procesamiento de muestra incluye una primera superficie principal con bordes en la periferia de la primera superficie principal; Situar un dispositivo de posicionamiento próximo a la primera superficie principal del dispositivo de procesamiento de muestra; y situar el dispositivo de procesamiento de muestra y el dispositivo de posicionamiento en el compartimiento de muestra del lector de microplaca, en donde el dispositivo de posicionamiento es situado entre la primera superficie principal del dispositivo de procesamiento de muestra y el piso del compartimiento de muestra. En otro aspecto, la presente invención proporciona un método de posicionamiento de un dispositivo de procesamiento de muestra dentro de un lector de microplaca que tiene un compartimiento de muestra con un piso sobre el cual se apoya el dispositivo de procesamiento de muestra durante la lectura. El método incluye proporcionar un dispositivo de procesamiento de muestra que tiene al menos una serie de procesos, en donde al menos una serie de procesos incluye un conducto principal y una pluralidad de cámaras de proceso situadas a lo largo del conducto principal, y en donde el dispositivo de procesamiento de muestra incluye una primera superficie principal con bordes en la periferia de la primera superficie principal; suspender el dispositivo de procesamiento de muestra dentro del dispositivo de posicionamiento, en donde el dispositivo de procesamiento de muestra es retenido dentro del dispositivo de posicionamiento a lo largo de dos o más de los bordes del dispositivo de procesamiento de muestra; colocar el dispositivo de procesamiento de muestra y el dispositivo de posicionamiento en el compartimiento de muestra del lector de microplaca, en donde el dispositivo de posicionamiento sitúa la primera superficie principal del dispositivo de procesamiento de muestra a una distancia seleccionada del piso del compartimiento de muestra. En otro aspecto, la presente invención proporciona un kit o kit de procesamiento de muestra que incluye un dispositivo de procesamiento de muestra que tiene al menos una serie de procesos, en donde al menos una serie de procesos incluye un conducto principal y una pluralidad de cámaras de proceso situadas a lo largo del conducto principal, en donde el conducto principal es abierto a lo largo de su longitud, y en donde el dispositivo de procesamiento de muestra incluye una primera superficie principal con bordes en la periferia de la primera superficie principal; un dispositivo de posicionamiento con dos superficies principales situadas, de manera general, en paralelo entre sí, en donde las dos superficies principales incluyen una superficie de soporte y una superficie de base opuesta a la superficie de soporte, en donde la superficie de soporte es sustancialmente coextensiva con el área de la primera superficie principal ocupada por la pluralidad de cámaras de proceso al menos de una serie de procesos; y las primeras características de alineación sobre la superficie de soporte del dispositivo de posicionamiento y las segundas características complementarias de alineación sobre el dispositivo de procesamiento de muestra, en donde las primeras características de alineación y las segundas características de alineación se conectan, en forma operativa, para centrar el dispositivo de procesamiento de muestra sobre la superficie de soporte del dispositivo de posicionamiento; en donde el dispositivo de procesamiento de muestra no es unido en forma fija con el dispositivo de posicionamiento . En otro aspecto, la presente invención proporciona un kit o kit de procesamiento de muestra que incluye un dispositivo de procesamiento de muestra que tiene al menos una serie de procesos, en donde al menos una serie de procesos incluye un conducto principal y una pluralidad de cámaras de proceso situadas a lo largo del conducto principal, en donde el conducto principal es abierto a lo largo de su extensión, y en donde el dispositivo de procesamiento de muestra incluye una primera superficie principal con bordes en la periferia de la primera superficie principal; y un dispositivo de posicionamiento con dos o más canales opuestos adaptados para suspender el dispositivo de procesamiento de muestra dentro del dispositivo de posicionamiento; en donde el dispositivo de procesamiento de muestra no es unido en forma fija con el dispositivo de posicionamiento. Estas y otras características y ventajas que podrían ser proporcionadas en conexión con la presente invención pueden ser descritas en conexión con varias modalidades de ejemplo de la invención más adelante.
Breve Descripción de las Figuras La Figura 1 es un diagrama esquemático de un lector de microplaca de ejemplo con el cual podría utilizarse el método y aparato de la presente invención. La Figura 2 es una vista en perspectiva en despiece de una modalidad de ejemplo de un dispositivo de procesamiento de muestra y un dispositivo de posicionamiento de acuerdo con la presente invención. La Figura 3 es una vista en perspectiva en despiece del dispositivo de procesamiento de muestra y el dispositivo de posicionamiento de la Figura 2 tomada a partir del lado opuesto del dispositivo de posicionamiento. La Figura 4 es una vista de una abrazadera de ejemplo que retiene un borde de un dispositivo de procesamiento de muestra contra un dispositivo de posicionamiento de acuerdo con la presente invención. La Figura 5 es una vista en perspectiva de un dispositivo de procesamiento de muestra y un dispositivo de posicionamiento con adhesivo para la unión del dispositivo de procesamiento de muestra con el dispositivo de posicionamiento . La Figura 6 es una vista en perspectiva de otra modalidad de ejemplo de un dispositivo de posicionamiento de acuerdo con la presente invención. La Figura 7 es una vista en perspectiva de otra modalidad de ejemplo de un dispositivo de procesamiento de muestra suspendido dentro de un dispositivo de posicionamiento de acuerdo con la presente invención. La Figura 8 es una vista en alzado lateral del dispositivo de procesamiento de muestra y del dispositivo de posicionamiento que son articulados juntos. La Figura 9 es una vista en alzado lateral del dispositivo de procesamiento de muestra y el dispositivo de posicionamiento de la Figura 8, en la cual el dispositivo de procesamiento de muestra y el dispositivo de posicionamiento son girados juntos alrededor de la conexión articulada. La Figura 10 es una vista en perspectiva del dispositivo de procesamiento de muestra y el dispositivo de posicionamiento de la Figura 9. La Figura 11 es una vista en perspectiva en despiece de otro dispositivo de procesamiento de muestra y dispositivo de posicionamiento conectados a través de lengüetas de inmovilización. La Figura 12 es una vista en perspectiva de un dispositivo de procesamiento de muestra con un kit de lengüetas de inmovilización en una ubicación diferente de la que se representa en la Figura 11. La Figura 13 es una vista en alzado lateral de un dispositivo de procesamiento de muestra articulado y un dispositivo de posicionamiento en el cual el dispositivo de procesamiento de muestra incluye lengüetas de inmovilización.
Descripción Detallada de la Invención Como se discutió con anterioridad, la presente invención proporciona un método y aparato para el posicionamiento de dispositivos de procesamiento de muestra dentro de lectores de microplaca. En la siguiente descripción de las modalidades de ejemplo de la invención se hace referencia a las figuras que la acompañan que forman una parte de la misma, y en las cuales se muestran por medio de ilustración, las modalidades específicas de ejemplo en las cuales la invención podría ser puesta en práctica. Se entiende que otras modalidades podrían ser utilizadas y que podrían realizarse cambios estructurales sin apartarse del alcance de la presente invención. La presente invención proporciona un método y aparato adaptados para posicionar dispositivos de procesamiento de muestra con relación al plano focal de un lector de microplaca, de manera que las cámaras de proceso en el dispositivo de procesamiento de muestra sean situadas dentro del plano focal. Al hacerlo de este modo, podría ser mejorada la exactitud con la cual pueden obtenerse resultados utilizando dispositivos de procesamiento de muestra de cavidad poco profunda. Aunque los términos tales como "por encima", "por debajo", "piso", etc., podrían ser utilizados en conexión con la presente invención, debe entenderse que estos términos sólo son utilizados en su sentido relativo. Por ejemplo, cuando se utiliza en conexión con los dispositivos de la presente invención, el término "piso" sólo se utiliza de manera que significa una superficie contra la cual el dispositivo de posicionamiento se apoya durante la interrogación. Aunque el piso a menudo podría ser encontrado en la parte inferior, por ejemplo, de un compartimiento de muestra (cuando se considera la dirección de la fuerza de gravitación) , el uso del término piso no significa que se requiere que el piso en realidad se encuentre en la parte inferior del compartimiento de muestra. En uso actual, una superficie descrita como un "piso" podría ser encontrada en cualquier orientación o ubicación y no debe considerarse que limite el método y aparato a cualquier orientación o ubicación particular. Por ejemplo, el piso de un compartimiento de muestra podría ser situado en realidad por encima (con respecto a las fuerzas de gravitación) de un dispositivo de procesamiento de muestra y un dispositivo de posicionamiento cuando estos dos componentes sean cargados en el compartimiento de muestra. Un diagrama esquemático de un lector de microplaca de ejemplo se proporciona en la Figura 1, en la cual el lector óptico 2 es situado por encima del compartimiento de muestra 6 formado en la porción inferior 4 del lector de microplaca. El compartimiento de muestra incluye un piso 7 sobre el cual se apoya un dispositivo de procesamiento de muestra durante el proceso de lectura. Normalmente, los componentes ópticos del lector óptico 2 definirán el plano focal 8 dentro del compartimiento- de muestra 6 que es situado a alguna distancia del piso 7. El plano focal 8 define una ubicación dentro de la cual el material de muestra podría ser preferiblemente situado para su lectura a través del lector óptico 2. Aunque se describe como un "plano", debe entenderse que el plano óptico 8 podría tener algún espesor en el eje-z en función de los dispositivos ópticos utilizados en el lector óptico 2. Aunque el lector de microplaca de la Figura 1 se representa como un sistema de lectura superior, es decir, uno en el cual el lector óptico 2 es situado por encima del piso 7 del compartimiento de muestra 6, debe entenderse que al menos en algunas modalidades, la presente invención también podría ser utilizada en conexión con lectores de microplaca que realicen la lectura a partir de la dirección opuesta es decir, por debajo del dispositivo de procesamiento de muestra que es cargado en el compartimiento de muestra. En este sistema, el lector óptico podría dirigir energía óptica hacia un dispositivo de procesamiento de muestra situado dentro del compartimiento de muestra 6 a partir de la dirección del piso 7. En muchos ejemplos, este sistema podría requerir que la energía de interrogación óptica pase a través del dispositivo de posicionamiento antes de alcanzar el dispositivo de procesamiento de muestra. Además, las superficies de las cámaras de proceso del dispositivo de procesamiento de muestra que orientan el lector óptico se prefiere que sean transmisivas a la energía de interrogación óptica. Las Figuras 2 y 3 representan vistas opuestas en perspectiva de un sistema en despiece de la presente invención. El sistema incluye un dispositivo de procesamiento de muestra 10 que comprende tanto un portador 20 como un dispositivo fluídico 30 que será normalmente suministrado acoplado con el portador 20. No obstante, en las Figuras 2 y 3 , el montaje es representado en una forma en despiece para ayudar con la descripción de los distintos componentes en esta modalidad de ejemplo de la invención. De preferencia, el portador 20 incluye dos superficies principales 22 (véase la Figura 2) y 24 (véase la Figura 3) . La superficie 22 se orienta hacia afuera del dispositivo fluídico 30 y la superficie 24 se orienta hacia adentro del dispositivo fluídico 30. De preferencia, el portador 20 también incluye los huecos o vacíos 26 formados a través del mismo que se prefiere sean alineados con las cámaras de proceso 36 en el dispositivo fluídico 30. De preferencia, los huecos o vacíos 26 permiten la transmisión de luz (ultravioleta, visible, infrarroja y combinaciones de las mismas) hacia y/o fuera de las cámaras de proceso 36. Como se observa en la Figura 2, el portador 20 también se prefiere que incluya estructuras diseñadas para transferir fuerzas de compresión al dispositivo fluídico 30 como se discutió en un número de los documentos identificados en la presente. De preferencia, el dispositivo fluídico 30 incluye una superficie principal 32 (véase la Figura 2) que orienta el portador 20 y una superficie principal opuesta 34 (véase la Figura 3) que se orienta hacia afuera del portador 20. De preferencia, el dispositivo fluídico 30 del dispositivo de procesamiento de muestra 10 también incluye al menos una serie de procesos, en donde cada serie de procesos se prefiere que incluya un conducto principal 35 con las cámaras de proceso 36 distribuidas a lo largo del conducto principal 35. De preferencia, cada serie de procesos podría incluir una estructura de carga en la forma, por ejemplo, de un recipiente 37 que podría ser utilizado para el suministro de fluidos, materiales de muestra, etc., hacia las cámaras de proceso 36 a través del conducto principal 35. Los detalles de algunas construcciones posiblemente preferidas para el portador 20 y el dispositivo fluídico 30 del dispositivo de procesamiento de muestra 10 podrían ser encontrados en los documentos identificados con anterioridad. Por ejemplo, podría preferirse que el dispositivo fluídico 30 sea construido utilizando un material polimérico formado que es laminado en una capa de hoja delgada metálica, de manera que la deformación de la hoja delgada metálica podría ser utilizada para cerrar el conducto principal y aislar las distintas cámaras de proceso entre sí. Un adhesivo podría ser proporcionado dentro del conducto principal para ayudar en el sellado del conducto principal y en el aislamiento de las cámaras de proceso.
La modalidad que se representa en las Figuras 2 y 3 también incluye un dispositivo de posicionamiento 40 que se prefiere sea seleccionado para posicionar las cámaras de proceso 36 del dispositivo de procesamiento de muestra 10 dentro del plano focal de un lector de microplaca, tal como por ejemplo, el lector de microplaca que se representa en la Figura 1. De preferencia, el dispositivo de posicionamiento 40 incluye una superficie de soporte 42 y una base 44 opuesta a la superficie de soporte 42. Cuando se coloque en el compartimiento de muestra de un lector de microplaca, se prefiere que la base 44 haga contacto con el piso del compartimiento de muestra. La superficie de soporte 42 es la superficie sobre la cual se sitúa el dispositivo de procesamiento de muestra 10. Podría preferirse que la superficie de soporte 42 sea sustancialmente coextensiva con el área de la superficie principal 34 del dispositivo de procesamiento de muestra 10 que es ocupada por las cámaras de proceso 36, de manera que la altura de las cámaras de proceso 36 dentro de un compartimiento de muestra de un lector de microplaca pueda ser controlada utilizando el dispositivo de posicionamiento 40. Aunque la superficie de soporte 42 se describe que es coextensiva con el área ocupada por las cámaras de proceso 36, debe entenderse que el término "coextensiva" (como se utiliza en la presente) significa que la superficie de soporte 42 es al menos tan grande como el área ocupada por las cámaras de proceso 36, aunque podría ser más grande. En otras modalidades, la superficie de soporte 42 del dispositivo de posicionamiento 40 podría ser más pequeña que el área ocupada por las cámaras de proceso 36. También, en algunas modalidades (tal como la que se representa en las Figuras 2 y 3), las porciones del dispositivo de procesamiento de muestra 10 no podrían ser soportadas por el dispositivo de posicionamiento 40. Como se describió, la porción del dispositivo fluídico 30 que contiene los recipientes 37 se sitúa en el exterior de la superficie de soporte 42 del dispositivo de posicionamiento 40. Debido a que el dispositivo de posicionamiento 40 tiene un espesor en el eje-z (entre la superficie de soporte 42 y la base 44) , las cámaras de proceso 36 del dispositivo de procesamiento de muestra 10 se prefiere que sean situadas dentro de un plano óptico de un lector de microplaca. El espesor del dispositivo de posicionamiento 40 utilizado en conexión con un dispositivo de procesamiento de muestra particular y/o lector de microplaca podría ser seleccionado para situar las cámaras de proceso en el plano óptico. Por ejemplo, debido a que la ubicación del plano óptico podría variar entre diferentes lectores de microplaca, la ubicación exacta de las cámaras de proceso en un dispositivo de procesamiento de muestra particular, podría variar. El dispositivo de posicionamiento será suministrado con un espesor adecuado para colocar el dispositivo de procesamiento de muestra en el plano focal del lector de microplaca dado. En otra técnica, un dispositivo de posicionamiento podría ser proporcionado con uno o más calzos de ajuste o cuñas que podrían ser utilizadas para incrementar el espesor del dispositivo de posicionamiento hasta que un espesor seleccionado sea obtenido de manera que se sitúen las cámaras de proceso dentro del plano focal del lector de microplaca. Una característica opcional que se representa en conexión con el dispositivo de posicionamiento 40 son los huecos o vacíos 46 situados en la superficie de soporte 42. Podría preferirse que los vacíos 46 se extiendan a través del dispositivo de posicionamiento 40, de manera que los objetos sobre la superficie de soporte 42 puedan ser vistos por un observador en el lado de la base 44 del dispositivo de posicionamiento 40. Podría preferirse en algunas modalidades que los vacíos 46 sean alineados con las cámaras de proceso 36 del dispositivo de procesamiento de muestra 10. El dispositivo de posicionamiento 40 podría incluir cualquier número de huecos o vacíos 46, que incluyen tan pocos como un vacío. Por ejemplo, en algunas modalidades, el dispositivo de posicionamiento podría incluir un gran vacío, de manera que el dispositivo de posicionamiento proporcione un bastidor o faldón por encima del cual sea suspendido el dispositivo de procesamiento de muestra 10. Esta modalidad podría funcionar mejor cuando las cámaras de proceso sean situadas en un montaje relativamente rígido, de manera que la ubicación de las cámaras de proceso sea consistente sobre la superficie del dispositivo de procesamiento de muestra. En algunos ejemplos, el dispositivo de procesamiento de muestra por sí mismo podría ser construido con un bastidor o faldón integral con el mismo (por ejemplo, moldeado como una unidad integral de una pieza o unido en forma fija en dirección longitudinal con el mismo) , de manera que un dispositivo de posicionamiento separado no necesita ser proporcionado para ubicar las cámaras de proceso en el plano focal del lector de microplaca. Podría preferirse que los dispositivos de procesamiento de muestra y dispositivos de posicionamiento de la presente invención incluyan características de alineación, de manera que los dispositivos de procesamiento de muestra puedan ser alineados con el dispositivo de posicionamiento. Esto podría ser útil en donde por ejemplo, el compartimiento de muestra del lector dé microplaca en el cual el montaje será situado, incluye características de alineación diseñadas para centrar las cámaras de proceso del dispositivo de procesamiento de muestra con el lector de microplaca. En este sistema, el dispositivo de posicionamiento 40 podría ser situado con exactitud dentro del compartimiento de muestra y las cámaras de proceso 36 del dispositivo de procesamiento de muestra 10 también podrían entonces ser situadas con exactitud utilizando las características de alineación del dispositivo de posicionamiento 40. Las características de alineación podrían tomar una variedad de formas. En la modalidad que se representa en las Figuras 2 y 3, las características de alineación incluyen los postes 48 que sobresalen a partir de la superficie de soporte 42 del dispositivo de posicionamiento 40. De preferencia, el dispositivo de procesamiento de muestra 10 incluye características complementarias de alineación en la forma de orificios 38 en el dispositivo fluídico 30 y los orificios 28 en el portador 20 (véase la Figura 2) . De preferencia, los orificios 28/38 y los postes 48 podrían ser acuñados o situados en un modo que permita el acoplamiento del dispositivo de procesamiento de muestra 10 y el dispositivo de posicionamiento 40 sólo en una orientación para garantizar la alineación adecuada de los componentes. Debe entenderse que entre las muchas variaciones posibles en las características de alineación, el arreglo opuesto también podría ser contemplado, es decir, el dispositivo de procesamiento de muestra 10 podría incluir postes y el dispositivo de posicionamiento 40 podría incluir orificios dimensionados para recibir los postes. Aunque no se muestra, el dispositivo de posicionamiento 40 podría incluir manguitos que abren sobre la superficie de base 44, de manera que los postes que sobresalen a partir del piso del compartimiento de muestra podrían ser recibidos en los manguitos para alinear el dispositivo de posicionamiento 40 en el compartimiento de muestra. Debido a que las características de alineación descritas con anterioridad entre el dispositivo de procesamiento de muestra 10 y el dispositivo de posicionamiento 40 alinean con exactitud estos componentes, las cámaras de proceso 36 podrían ser preferiblemente proporcionadas en ubicaciones seleccionadas en el compartimiento de muestra. Además de las estructuras de alineación descritas con anterioridad, en algunos ejemplos las estructuras utilizadas para retener los dispositivos de procesamiento de muestra sobre los dispositivos de posicionamiento también podrían funcionar para alinear los dispositivos de procesamiento de muestra sobre los dispositivos de posicionamiento. Estas estructuras de doble función podrían incluir, por ejemplo, las abrazaderas, lengüetas de inmovilización o bloqueo, articulaciones, etc., descritas en la presente. Asimismo, aunque no se muestra, una esquina de cada componente del montaje, es decir, una esquina de cada dispositivo de procesamiento de muestra 10 y el dispositivo de posicionamiento 40 podría ser proporcionada con un rebajo en diagonal como se utiliza en las microplacas convencionales de título para ayudar en la orientación adecuada del montaje dentro de un compartimiento de muestra de un lector de microplaca. De preferencia, el dispositivo de procesamiento de muestra 10 y el dispositivo de posicionamiento 40 también podrían incluir medios para la retención del dispositivo de procesamiento de muestra 10 próximo a la superficie de soporte 42 del dispositivo de posicionamiento 40. En algunos ejemplos, podría ser deseable proporcionar una fuerza suficiente para aplanar el dispositivo de procesamiento de muestra si éste tuviera una curvatura que pudiera provocar que algunas de las cámaras de proceso sean situadas en el exterior del plano focal. En algunos ejemplos, esta fuerza podría ser proporcionada por el peso del dispositivo de procesamiento de muestra por sí mismo (por ejemplo, el portador 20 podría tener una masa suficiente, de manera que el dispositivo fluídico sea aplanado contra la superficie de soporte 42 del dispositivo de posicionamiento) . Una variedad de técnicas diferentes podría utilizarse para retener el dispositivo de procesamiento de muestra 10 sobre el dispositivo de posicionamiento 40. Una técnica podría incluir, por ejemplo, el dimensionamiento de los orificios 28/38 y los postes 48, de manera que un ajuste o colocación por fricción sea obtenido de manera que retenga el dispositivo de procesamiento de muestra 10 sobre el dispositivo de posicionamiento 40. Otras construcciones posibles podrían incluir, por ejemplo, el suministro de un reborde u otra característica sobre los postes 48 que embrague de manera efectiva con una característica complementaria en los orificios 28/38 del dispositivo de procesamiento de muestra para retener el dispositivo de procesamiento de muestra 10 sobre el dispositivo de posicionamiento 40. Esta construcción podría ser referida como un "montaje o colocación a presión" y las características que embragan entre sí podrían tomar formas distintas que son conocidas por aquellas personas expertas en la técnica. Otra técnica de retención del dispositivo de procesamiento de muestra sobre el dispositivo de posicionamiento es el suministro de un montaje de retención. Como se representa en la Figura 4, una modalidad del montaje de retención incluye una abrazadera 149 adaptada para retener el dispositivo de procesamiento de muestra 10 sobre el dispositivo de posicionamiento 140. De preferencia, la abrazadera 149 que se representa podría ser configurada como una parte integral de uno de los componentes . En la modalidad de la Figura 4, la abrazadera 149 es una parte integral del dispositivo de posicionamiento 140. En forma alterna, una o más abrazaderas que son separadas e independientes del dispositivo de procesamiento de muestra 110 y el dispositivo de posicionamiento 140 podrían ser utilizadas para retener el dispositivo de procesamiento de muestra 110 sobre el dispositivo de posicionamiento. Las abrazaderas separadas podrían proporcionar su fuerza de fijación o sujeción a través de cualquier técnica adecuada, por ejemplo, magnética, elásticas, miembros elásticos, abrazaderas de tornillo, etcétera. De preferencia, la abrazadera 149 podría ser desviada hacia la posición que se observa en la Figura 4, en donde la abrazadera se superpone al borde 119 del dispositivo de procesamiento de muestra 110 para retener el dispositivo de procesamiento de muestra 110 sobre el dispositivo de posicionamiento 140. La fuerza de desviación podría ser proporcionada mediante la elasticidad en los materiales utilizados para formar la abrazadera 149. En forma alterna, los miembros elásticos separados tales como resortes, bandas elastoméricas etc., podrían ser utilizadas para proporcionar la fuerza de desviación a la abrazadera. Todavía en otras alternativas, la atracción magnética podría proporcionar la fuerza de desviación. La Figura 5 representa otra técnica para la retención del dispositivo de procesamiento de muestra 210 sobre el dispositivo de posicionamiento 240. La técnica incluye el uso de adhesivo 250 entre el dispositivo de procesamiento de muestra 210 y el dispositivo de posicionamiento 240. Aunque el adhesivo se representa como una capa sólida, debe entenderse que el adhesivo podría ser proporcionado en cualquier forma adecuada, por ejemplo, una capa sólida, una capa de patrón que incluye vacíos, puntos, tiras, etcétera. Además, el adhesivo podría ser proporcionado sobre el dispositivo de procesamiento de muestra 210, el dispositivo de posicionamiento 240, sobre ambos componentes, como un artículo separado interpuesto entre el dispositivo de procesamiento de muestra 210 y el dispositivo de posicionamiento 240, y cualquier combinación de los mismos. El adhesivo podría ser cualquier adhesivo conveniente, por ejemplo, un adhesivo sensible a la presión, susceptible de ser curado, de fusión en caliente, etcétera. En algunas modalidades, podría preferirse que el adhesivo utilizado pueda ser liberable, por ejemplo, que tenga una baja adherencia similar por ejemplo, al adhesivo de nota POST-IT. En otras modalidades, podría ser deseable utilizar adhesivos susceptibles de ser liberados por estiramiento con o sin lengüetas (algunos ejemplos de adhesivos susceptibles de ser liberados por estiramiento que son posiblemente adecuados son descritos por ejemplo, en la Patente de los Estados Unidos No. 5, 516,581 de Kreckel et al). Las Figuras 6 y 7 representan una modalidad alterna de un dispositivo de posicionamiento 340 en el cual un dispositivo de procesamiento de muestra 310 es suspendido dentro del dispositivo de posicionamiento para situar las cámaras de proceso del dispositivo de procesamiento de muestra 310 dentro del plano focal del compartimiento de muestra del lector de microplaca. El dispositivo de procesamiento de muestra 310 podría ser situado dentro del dispositivo de posicionamiento 340 a través de cualquier técnica conveniente. Podría preferirse que el dispositivo de procesamiento de muestra 310 sea situado dentro del dispositivo de posicionamiento 340 deslizando el dispositivo de procesamiento de muestra 310 hacia el dispositivo de posicionamiento 340. De preferencia, el deslizamiento podría ser realizado al desplazar el dispositivo de procesamiento de muestra 310 en una dirección generalmente paralela a su primera superficie principal . Otras técnicas de carga de dispositivos de procesamiento de muestra en los dispositivo de posicionamiento también podrían ser utilizadas, por ejemplo, mediante la colocación a presión del dispositivo de procesamiento de muestra 310 dentro de los canales en el dispositivo de posicionamiento 340, etcétera. De preferencia, el dispositivo de procesamiento de muestra 310 podría incluir los bordes 312 y 314. De preferencia, los bordes 312 y 314 podrían ser bordes rectos los cuales se prefiere que sean paralelos entre sí como se representa en la Figura 7. Sin embargo, debe entenderse que los bordes del dispositivo de procesamiento de muestra 310 no podrían ser rectos ni paralelos. De preferencia, el dispositivo de posicionamiento 340 podría incluir canales utilizados para suspender el dispositivo de procesamiento de muestra 310 a lo largo de dos o más bordes del dispositivo de procesamiento de muestra 310. De preferencia, los bordes del dispositivo de procesamiento de muestra 310 son recibidos dentro de los canales u otras estructuras dentro del dispositivo de posicionamiento 340, de manera que el dispositivo de procesamiento de muestra 310 sea suspendido a una distancia seleccionada de la base 344 del dispositivo de posicionamiento 340. Una modalidad de los canales que podrían utilizarse en conexión con el dispositivo de posicionamiento 340 se representa en las Figuras 6 y 7. El dispositivo de procesamiento de muestra 340 incluye canales en dos posiciones 350 y 352 situadas a distancias diferentes por encima de la base 344 del dispositivo de posicionamiento 340. Los canales en la modalidad representada son situados en grupos en las paredes laterales opuestas 353 y 355 del dispositivo de posicionamiento 340. No obstante, debido a las vistas en perspectiva, solamente se observan los grupos 354 y 356 en el lado 353. De preferencia, los canales correspondientes son situados sobre la superficie interior de la pared lateral 355, aunque se encuentran ocultos en las vistas de las Figuras 6 y 7. El dispositivo de posicionamiento 340 también incluye canales situados en el grupo 358 en la pared de extremo 357 del dispositivo de posicionamiento 340. Como resultado, el dispositivo de procesamiento de muestra 310 suspendido dentro del dispositivo de posicionamiento 340 podría ser soportado a lo largo de tres bordes por los canales en las paredes laterales 353 y 355 y la pared de extremo 357. Aunque el dispositivo de posicionamiento 340 incluye dos posiciones en las cuales podría ser suspendido el dispositivo de procesamiento de muestra 310, otros dispositivos de posicionamiento de acuerdo con la presente invención sólo podrían proporcionar una posición en la cual podría ser suspendido el dispositivo de procesamiento de muestra. Todavía otros dispositivos de posicionamiento de acuerdo con la presente invención podrían proporcionar tres o más posiciones en las cuales podría ser suspendido un dispositivo de procesamiento de muestra. De preferencia, la base 344 del dispositivo de posicionamiento 340 podría incluir los huecos o vacíos 346 que pueden ser similares a los vacíos 46 discutidos con anterioridad en conexión con el dispositivo de posicionamiento 40. Si los huecos o vacíos 346 fueran proporcionados y alineados con las cámaras de proceso que serán leídas en el dispositivo de procesamiento de muestra 340, el dispositivo de procesamiento de muestra puede ser suspendido dentro del dispositivo de posicionamiento 340 en cualquier dirección. En otras palabras, las cámaras de proceso podrían orientar la base 344 o fuera de la base 344. Además, la base 344 podría ser colocada sobre el piso de un compartimiento de muestra o el dispositivo de posicionamiento 340 podría ser cargado dentro del compartimiento de muestra con la base 344 soportada por encima del piso del compartimiento de muestra mediante las paredes laterales 353 y 355 junto con la pared de extremo 357. Podría preferirse que los bordes del dispositivo de procesamiento de muestra 310 sean montados a presión dentro de los canales para retener el dispositivo de procesamiento de muestra 310 dentro del dispositivo de posicionamiento 340 por fricción. Muchas otras técnicas alternativas podrían ser utilizadas para retener el dispositivo de procesamiento de muestra 310 dentro del dispositivo de posicionamiento 340 tales como abrazaderas, adhesivos, estructuras de montaje a presión, etcétera. Aunque los canales son utilizados para suspender el dispositivo de procesamiento de muestra 310 en la modalidad de las Figuras 6 y 7, debe entenderse que muchas otras estructuras podrían ser utilizadas en lugar de los canales, por ejemplo, postes, rieles, un bastidor, etcétera. Las Figuras 8-10 representan otra modalidad de ejemplo de un dispositivo de procesamiento de muestra 410 y el dispositivo de posicionamiento 440, los cuales son conectados entre sí en forma rotacional a través de una o más articulaciones. De preferencia, la conexión rotacional es obtenida al proporcionar una primera estructura de articulación sobre el dispositivo de procesamiento de muestra 410 y una estructura complementaria de articulación sobre el dispositivo de posicionamiento 440. Las articulaciones representadas incluyen dos pares de brazos de articulación 460, cada uno con un par de brazos de articulación 460 que soportan un pasador de articulación 462 sobre el dispositivo de procesamiento de muestra 410. El dispositivo de posicionamiento 440 incluye un par de retenedores de pasador de articulación 470, cada uno de los cuales es adaptado para recibir un pasador de articulación 462 y lo retiene en un modo que permiten la rotación del dispositivo de procesamiento de muestra 410 y el dispositivo de posicionamiento 440 entre sí alrededor de un eje definido por los pasadores de articulación 462. La conexión entre los pasadores de articulación 462 y los retenedores 470 podría ser por ejemplo, una conexión de montaje a presión como es conocido en la técnica. Las articulaciones representadas en la modalidad de las Figuras 8-10 sólo son una modalidad de las muchas articulaciones diferentes que podrían ser utilizadas en conexión con la presente invención. Cualquier otra articulación o articulaciones podrían ser utilizadas de manera que proporcionen la conexión rotacional deseada entre el dispositivo de procesamiento de muestra 410 y el dispositivo de posicionamiento 440. Podría preferirse por ejemplo, que una articulación directa sea proporcionada entre el dispositivo de procesamiento de muestra 410 y el dispositivo de posicionamiento 440 si los dos componentes fueran moldeados juntos. En otras alternativas, el retenedor de pasador de articulación podría capturar el pasador de articulación en un modo que requiera la destrucción por lo menos de una porción de la articulación para liberar el pasador de articulación (que es opuesto a las estructuras representadas en las Figuras 8-10 en las cuales los pasadores de articulación 462 podrían ser sacados a presión de los retenedores 470) . En otras variaciones, el dispositivo de procesamiento de muestra 410 y el dispositivo de posicionamiento 440 podrían ser articulados a lo largo de cualquier lado adecuado de los componentes . En la modalidad rectangular que se representa, la conexión articulada es una de los lados cortos del rectángulo, aunque los componentes podrían ser articulados a lo largo de uno de los lados largos si se deseara. La Figura 11 representa otra modalidad de un dispositivo de procesamiento de muestra 510 y un dispositivo de posicionamiento 540, en la cual el dispositivo de procesamiento de muestra 510 incluye un montaje de retención en la forma de una lengüeta de inmovilización o bloqueo 580 con un orificio 582 que recibe un poste 584 sobre el dispositivo de posicionamiento 540. De preferencia, la lengüeta de inmovilización 580 y el poste 584 retienen el dispositivo de procesamiento de muestra 510 y el dispositivo de posicionamiento 540 conectados cuando se encuentran en uso. Sin embargo, la lengüeta de inmovilización 580 puede ser doblada o flexionada para liberar los dos componentes por separación. Aunque no se observa en la vista de la Figura 11, normalmente será referido que al menos otro montaje de retención ha sido proporcionado en el lado opuesto del dispositivo de procesamiento de muestra 510 y el dispositivo de posicionamiento 540. La Figura 12 representa otra modalidad del dispositivo de procesamiento de muestra 610 que incluye las lengüetas de inmovilización o bloqueo 610 en los lados largos del dispositivo de procesamiento de muestra rectangular 610 (que es opuesto a los lados cortos como se observa en el dispositivo de procesamiento de muestra 510 de la Figura 11) . Las lengüetas de inmovilización 680 también incluyen los orificios 682 adaptados para recibir una estructura (por ejemplo, un poste, etc.) sobre el dispositivo de posicionamiento complementario (no se muestra) . La Figura 13 representa todavía otra modalidad de la invención en la cual un dispositivo de procesamiento de muestra 710 y un dispositivo de posicionamiento 740 son unidos juntos con una conexión articulada y las lengüetas de inmovilización. Como se observa en la Figura 13, el dispositivo de procesamiento de muestra 710 incluye los brazos de articulación 760 y un pasador de articulación 762 que es mantenido dentro de un retenedor de pasador de articulación 770 sobre el dispositivo de posicionamiento 740. El dispositivo de procesamiento de muestra 710 también incluye una lengüeta de inmovilización 780 con un orificio 782 adaptado para recibir un poste 784 en el dispositivo de posicionamiento 740. La estructura de articulación y la lengüeta de inmovilización/poste funcionan juntas en la modalidad representada para retener el dispositivo de procesamiento de muestra 710 y el dispositivo de posicionamiento 740 juntos. Los métodos de posicionamiento de un dispositivo de procesamiento de muestra dentro de un lector de microplaca que tiene un compartimiento de muestra con el piso y un plano focal separado del piso del compartimiento de muestra podrían incluir un dispositivo de posicionamiento próximo a la primera superficie principal del dispositivo de procesamiento de muestra. El dispositivo de procesamiento de muestra y el dispositivo de posicionamiento podrían entonces ser situados en el compartimiento de muestra del lector de microplaca. Normalmente, será preferido que el dispositivo de posicionamiento sea situado entre la primera superficie del dispositivo de procesamiento de muestra y el piso del compartimiento de muestra. Comúnmente, será preferido que las cámaras de proceso en el dispositivo de procesamiento de muestra sean situadas dentro del plano focal del compartimiento de muestra cuando el dispositivo de procesamiento de muestra y el dispositivo de posicionamiento sean ubicados dentro del compartimiento de muestra. Si el lector de microplaca fuera un sistema de lectura superior, podría preferirse que el dispositivo de posicionamiento sea situado entre la primera superficie del dispositivo de procesamiento de muestra y el piso del compartimiento de muestra para situar las cámaras de proceso en el plano focal . Los métodos de la presente invención también podrían incluir la determinación de la posición de un plano focal dentro del compartimiento de muestra y la selección de un dispositivo de posicionamiento que sitúa las cámaras de proceso del dispositivo de procesamiento de muestra dentro del plano focal dentro del compartimiento. Como se discutió en la presente, se podría proporcionar al usuario diferentes dispositivo de posicionamiento con distintos espesores, una o más cuñas junto con un dispositivo de posicionamiento para ajustar el espesor del dispositivo de posicionamiento, o (en el caso de dispositivos de posicionamiento de suspensión) , los dispositivos de posicionamiento podrían proporcionar dos o más posiciones que coloquen de manera efectiva un dispositivo de procesamiento de muestra en diferentes alturas por encima del piso del compartimiento de muestra. La determinación de la posición actual del plano focal dentro de un lector de microplaca dado podría conseguirse en forma empírica, en base a las especificaciones del fabricante, etcétera. Los métodos de la presente invención también podrían incluir el registro o la alineación del dispositivo de procesamiento de muestra sobre el dispositivo de posicionamiento. La alineación podría ser realizada utilizando características de alineación en el dispositivo de posicionamiento que se acoplen con las características complementarias de alineación en el dispositivo de procesamiento de muestra. En forma alterna, la alineación podría ser realizada en forma visual, con el dispositivo de procesamiento de muestra siendo mantenido en una posición seleccionada sobre el dispositivo de posicionamiento por medio de abrazaderas, adhesivos, en forma magnética, etcétera. Además de alinear el dispositivo de procesamiento de muestra sobre el dispositivo de posicionamiento, los métodos de la presente invención también podrían incluir la alineación del dispositivo de posicionamiento dentro del compartimiento de muestra. Por ejemplo, el dispositivo de posicionamiento podría incluir características de alineación que se acoplen con las características complementarias de alineación sobre el piso del compartimiento de muestra. Todavía en otra alternativa, la alineación del dispositivo de procesamiento de muestra dentro del compartimiento de muestra podría ser conseguida centrando el dispositivo de procesamiento de muestra por sí mismo dentro del compartimiento sólo con una alineación aproximada del dispositivo de procesamiento de muestra sobre el dispositivo de posicionamiento que se requiere. En los métodos de la presente invención, podría preferirse que el dispositivo de procesamiento de muestra no sea unido en forma fija con el dispositivo de posicionamiento. El término "en forma fija" significa que el dispositivo de procesamiento de muestra, si fuera unido con el dispositivo de posicionamiento, no podría ser removido del dispositivo de posicionamiento sin destruir la integridad de las características fluídicas en el dispositivo de procesamiento de muestra tal como las cámaras de proceso y el conducto principal. Como tal, incluso un dispositivo de procesamiento de muestra y un dispositivo de posicionamiento conectados en forma giratoria no son unidos "en forma fija" entre sí cuando los dos componentes puedan girar entre sí alrededor de una o más articulaciones sin destruir la integridad de las características fluídicas. Mediante la unión en una forma no fija, el dispositivo de procesamiento de muestra y el dispositivo de posicionamiento, el dispositivo de procesamiento de muestra y el dispositivo de posicionamiento pueden ser separados en forma temporal según sea necesario para las etapas de procesamiento corriente arriba. Por ejemplo, si los dispositivos de procesamiento de muestra fueran similares a los descritos en las Patente de los Estados Unidos No. 6, 627,159 Bl (Bedingham et al) y en la Publicación de Solicitud de Patente de los Estados Unidos No. US 2002/0048533 Al (Harms et al) y en la Patente de los Estados Unidos No. US 2002/0064885 (Bedingham et al), el usuario podría requerir tener acceso a la primera superficie principal del dispositivo de procesamiento de muestra (es decir, la superficie colocada sobre el dispositivo de posicionamiento) para completar los procesos de carga de procesamiento de los materiales de muestra antes de situar el dispositivo de procesamiento de muestra sobre el dispositivo de posicionamiento para la lectura en un lector de microplaca.
En forma alterna, el dispositivo de procesamiento de muestra y el dispositivo de posicionamiento pueden ser suministrados en la forma de un kit o kit. En este caso, se requiere unir los dispositivos en un montaje antes de la interrogación óptica. Como se utilizan en la presente y en las reivindicaciones adjuntas, las formas singulares "una", "y", "la" incluyen referencias plurales a menos que el contexto lo señale en forma clara de otro modo. De esta manera, por ejemplo, la referencia a "una serie de procesos" incluye una pluralidad de series de procesos y los equivalentes de las mismas que son conocidos por aquellas personas expertas en la técnica. En forma similar, en donde dos componentes o características sean señalados, debe entenderse que más de dos componentes o características también serían incluidos a menos que el contexto lo señale en forma clara de otro modo (por ejemplo, "dos canales" incluye tres o más canales) . Las modalidades ilustrativas de esta invención son discutidas y la referencia ha sido realizada en las variaciones posibles dentro del alcance de esta invención. Éstas y otras variaciones y modificaciones en la invención serán aparentes para aquellas personas expertas en la técnica sin apartarse del alcance de la invención, y debe entenderse que esta invención no se limita a las modalidades ilustrativas señaladas en la presente. En consecuencia, la invención no será limitada sólo por las reivindicaciones proporcionadas más adelante y los equivalentes de las mismas . Se hace constar que con relación a esta fecha el mejor método conocido por la solicitante para llevar a la práctica la citada invención, es el que resulta claro de la presente descripción de la invención.

Claims (39)

  1. REIVINDICACIONES Habiéndose descrito la invención como antecede, se reclama como propiedad lo contenido en las siguientes reivindicaciones : 1. Un método de posicionamiento de un dispositivo de procesamiento de muestra dentro de un lector de microplaca que tiene un compartimiento de muestra con un piso y un plano focal separado del piso del compartimiento de muestra, caracterizado porque comprende: proporcionar un dispositivo de procesamiento de muestra que está constituido al menos por una serie de procesos, en donde por lo menos una serie de procesos incluye un conducto principal y una pluralidad de cámaras de proceso situadas a lo largo del conducto principal, y en donde el dispositivo de procesamiento de muestra incluye una primera superficie principal con bordes en la periferia de la primera superficie principal; situar un dispositivo de posicionamiento próximo a la primera superficie principal del dispositivo de procesamiento de muestra; y situar el dispositivo de procesamiento de muestra y el dispositivo de posicionamiento en el compartimiento de muestra del lector de microplaca, en donde el dispositivo de posicionamiento es situado entre la primera superficie principal del dispositivo de procesamiento de muestra y el piso del compartimiento de muestra.
  2. 2. El método de conformidad con la reivindicación 1, caracterizado porque la pluralidad de cámaras de proceso se sitúa dentro del plano focal del compartimiento de muestra cuando el dispositivo de procesamiento de muestra y el dispositivo de posicionamiento sean ubicados dentro del compartimiento de muestra y el dispositivo de posicionamiento sea colocado entre la primera superficie principal del dispositivo de procesamiento de muestra y el piso del compartimiento de muestra.
  3. 3. El método de conformidad con la reivindicación 1, caracterizado porque el dispositivo de posicionamiento comprende una superficie de soporte coextensiva, de manera sustancial, con el área de la primera superficie principal ocupada por la pluralidad de cámaras de proceso al menos de una serie de procesos.
  4. 4. El método de conformidad con la reivindicación 1, caracterizado porque la superficie de soporte comprende vacíos formados en la misma, en donde la primera superficie principal del dispositivo de procesamiento de muestra es visible a través del dispositivo de posicionamiento.
  5. 5. El método de conformidad con la reivindicación 1, caracterizado además porque comprende determinar la posición de un plano focal dentro del compartimiento de muestra y seleccionar un dispositivo de posicionamiento que sitúe la pluralidad de cámaras de proceso al menos de una serie de procesos dentro del plano focal dentro del compartimiento de muestra cuando el dispositivo de procesamiento de muestra y el dispositivo de posicionamiento sean ubicados dentro del compartimiento de muestra y el dispositivo de posicionamiento sea situado entre la primera superficie principal del dispositivo de procesamiento de muestra y la base del compartimiento de muestra.
  6. 6. El método de conformidad con la reivindicación 1, caracterizado además porque comprende el registro del dispositivo de procesamiento de muestra sobre la superficie de soporte del dispositivo de posicionamiento.
  7. 7. El método de conformidad con la reivindicación 1, caracterizado porque el dispositivo de posicionamiento comprende características de alineación que se acoplan con las características complementarias de alineación en el dispositivo de procesamiento de muestra.
  8. 8. El método de conformidad con la reivindicación 7, caracterizado porque las características de alineación del dispositivo de posicionamiento comprenden postes que sobresalen de la superficie de soporte del dispositivo de posicionamiento y en donde las características complementarias de alineación del dispositivo de procesamiento de muestra comprenden orificios dimensionados para recibir los postes que sobresalen de la superficie de soporte del dispositivo de posicionamiento.
  9. 9. El método de conformidad con la reivindicación 7, caracterizado porque las características de alineación del dispositivo de posicionamiento comprenden orificios en la superficie de soporte del dispositivo de posicionamiento, y en donde, las características complementarias de alineación del dispositivo de procesamiento de muestra comprenden postes que sobresalen de la primera superficie principal del dispositivo de procesamiento de muestra, en donde los orificios en el dispositivo de posicionamiento son dimensionados para recibir los postes que sobresalen de la primera superficie principal del dispositivo de procesamiento de muestra.
  10. 10. El método de conformidad con la reivindicación 1, caracterizado además porque comprende la retención del dispositivo de procesamiento de muestra próximo a la superficie de soporte del dispositivo de posicionamiento.
  11. 11. El método de conformidad con la reivindicación 10, caracterizado porque la retención comprende la fijación del dispositivo de posicionamiento junto con el dispositivo de procesamiento de muestra.
  12. 12. El método de conformidad con la reivindicación 10, caracterizado además porque comprende la adhesión del dispositivo de posicionamiento junto con el dispositivo de procesamiento de muestra.
  13. 13. El método de conformidad con la reivindicación 10, caracterizado porque la retención comprende la captura de un poste en una lengüeta de inmovilización.
  14. 14. El método de conformidad con la reivindicación 1, caracterizado porque el dispositivo de procesamiento de muestra no es unido en forma fija en el dispositivo de posicionamiento cuando el dispositivo de procesamiento de muestra y el dispositivo de posicionamiento sean situados dentro del compartimiento de muestra y cuando el dispositivo de posicionamiento sea colocado entre la primera superficie principal del dispositivo de procesamiento de muestra y el piso del compartimiento de muestra.
  15. 15. El método de conformidad con la reivindicación 1, caracterizado porque el dispositivo de procesamiento de muestra y el dispositivo de posicionamiento son conectados entre sí en forma giratoria por una o más articulaciones.
  16. 16. Un método de posicionamiento de un dispositivo de procesamiento de muestra dentro de un lector de microplaca que tiene un compartimiento de muestra con un piso sobre el cual se apoya el dispositivo de procesamiento de muestra durante la lectura, caracterizado porque comprende: proporcionar un dispositivo de procesamiento de muestra que está constituido al menos por una serie de procesos, en donde por lo menos una serie de procesos incluye un conducto principal y una pluralidad de cámaras de proceso situadas a lo largo del conducto principal, y en donde el dispositivo de procesamiento de muestra incluye una primera superficie principal con bordes en la periferia de la primera superficie principal; suspender el dispositivo de procesamiento de muestra dentro de un dispositivo de posicionamiento, en donde el dispositivo de procesamiento de muestra es retenido dentro del dispositivo de posicionamiento a lo largo de dos o más de los bordes del dispositivo de procesamiento de muestra; colocar el dispositivo de procesamiento de muestra y el dispositivo de posicionamiento en el compartimiento de muestra del lector de microplaca, en donde el dispositivo de posicionamiento sitúa la primera superficie principal del dispositivo de procesamiento de muestra a una distancia seleccionada del piso del compartimiento de muestra.
  17. 17. El método de conformidad con la reivindicación 16, caracterizado porque la suspensión del dispositivo de procesamiento de muestra dentro del dispositivo de posicionamiento comprende el deslizamiento del dispositivo de procesamiento de muestra hacia el dispositivo de posicionamiento en una dirección generalmente paralela a la primera superficie principal del dispositivo de procesamiento de muestra.
  18. 18. El método de conformidad con la reivindicación 16, caracterizado porque el dispositivo de procesamiento de muestra es suspendido entre dos canales opuestos en el dispositivo de posicionamiento.
  19. 19. El método de conformidad con la reivindicación 16, caracterizado porque el dispositivo de procesamiento de muestra es suspendido a lo largo de tres de los bordes del dispositivo de procesamiento de muestra mediante canales en el dispositivo de posicionamiento.
  20. 20. El método de conformidad con la reivindicación 16, en donde el dispositivo de posicionamiento incluye dos o más posiciones en las cuales el dispositivo de procesamiento de muestra puede ser suspendido, caracterizado además porque comprende : seleccionar una posición de las dos o más posiciones en el dispositivo de posicionamiento; y suspender el dispositivo de procesamiento de muestra en la posición seleccionada.
  21. 21. El método de conformidad con la reivindicación 20, caracterizado porque cada posición de las dos o más posiciones comprende dos canales opuestos en el dispositivo de posicionamiento.
  22. 22. El método de conformidad con la reivindicación 20, caracterizado porque el dispositivo de procesamiento de muestra es suspendido a lo largo de tres de los bordes del dispositivo de procesamiento de muestra mediante canales en el dispositivo de posicionamiento.
  23. 23. El método de conformidad con la reivindicación 16, caracterizado porque la pluralidad de cámaras de proceso se sitúa dentro del plano focal del compartimiento de muestra cuando el dispositivo de procesamiento de muestra y el dispositivo de posicionamiento sean ubicados dentro del compartimiento de muestra.
  24. 24. El método de conformidad con la reivindicación 16, caracterizado además porque comprende determinar la ubicación del plano focal dentro del compartimiento de muestra y seleccionar un dispositivo de posicionamiento que sitúe la pluralidad de cámaras de proceso al menos de una serie de procesos dentro del plano focal dentro del compartimiento de muestra cuando el dispositivo de procesamiento de muestra y el dispositivo de posicionamiento sean ubicados dentro del compartimiento de muestra y cuando el dispositivo de procesamiento de muestra sea suspendido dentro del dispositivo de posicionamiento.
  25. 25. El método de conformidad con la reivindicación 16, caracterizado porque el dispositivo de procesamiento de muestra no es unido en forma fija con el dispositivo de posicionamiento cuando el dispositivo de procesamiento de muestra sea suspendido dentro del dispositivo de posicionamiento .
  26. 26. Un kit de procesamiento de muestra, caracterizado porque comprende: un dispositivo de procesamiento de muestra que está constituido al menos por una serie de procesos, en donde por lo menos una serie de procesos incluye un conducto principal y una pluralidad de cámaras de proceso situadas a lo largo del conducto principal, en donde el conducto principal es abierto a lo largo de su extensión, y en donde el dispositivo de procesamiento de muestra comprende una primera superficie principal con bordes en la periferia de la primera superficie principal; un dispositivo de posicionamiento que incluye dos superficies principales situadas entre sí, de manera general, en paralelo, en donde las dos superficies principales incluyen una superficie de soporte y una superficie de base opuesta a la superficie de soporte, en donde la superficie de soporte es coextensiva, de manera sustancial, con el área de la primera superficie principal ocupada por la pluralidad de cámaras de proceso al menos de una serie de procesos; y las primeras características de alineación sobre la superficie de soporte del dispositivo de posicionamiento y las segundas características complementarias de alineación sobre el dispositivo de procesamiento de muestra, en donde las primeras características de alineación y las segundas características de alineación se conectan en forma operativa para centrar el dispositivo de procesamiento de muestra sobre la superficie de soporte del dispositivo de posicionamiento; en donde el dispositivo de procesamiento de muestra no es unido en forma fija con el dispositivo de posicionamiento .
  27. 27. El kit de conformidad con la reivindicación 26, caracterizado porque la superficie de soporte comprende vacíos formados en la misma, en donde al menos una porción de la primera superficie principal del dispositivo de procesamiento de muestra es visible a través del dispositivo de posicionamiento.
  28. 28. El kit de conformidad con la reivindicación 26, caracterizado porque el dispositivo de posicionamiento comprende medios que retienen la primera superficie principal del dispositivo de procesamiento de muestra próximo a la superficie de soporte del dispositivo de posicionamiento.
  29. 29. El kit de conformidad con la reivindicación 26, caracterizado porque el dispositivo de posicionamiento comprende abrazaderas de borde adaptadas para retener los bordes del dispositivo de procesamiento de muestra próximo a la superficie de soporte del dispositivo de posicionamiento.
  30. 30. El kit de conformidad con la reivindicación 26, caracterizado porque las primeras características de alineación comprenden una pluralidad de postes que sobresalen a partir de la superficie de soporte del dispositivo de posicionamiento, y en donde las segundas estructuras de alineación comprenden orificios dimensionados para recibir los postes que sobresalen a partir de la superficie de soporte del dispositivo de posicionamiento.
  31. 31. El kit de conformidad con la reivindicación 30, caracterizado porque los postes del dispositivo de posicionamiento y los orificios del dispositivo de procesamiento de muestra son dimensionados para comprender un montaje por fricción cuando el dispositivo de procesamiento de muestra sea situado sobre la superficie de soporte del dispositivo de posicionamiento.
  32. 32. El kit de conformidad con la reivindicación 26, caracterizado porque las segundas características de alineación comprenden una pluralidad de postes que sobresalen a partir de la primera superficie principal del dispositivo de procesamiento de muestra, y en donde las primeras estructuras de alineación comprenden orificios en la superficie de soporte del dispositivo de posicionamiento que son dimensionados para recibir los postes que sobresalen a partir de la primera superficie principal del dispositivo de procesamiento de muestra.
  33. 33. El kit de conformidad con la reivindicación 32, caracterizado porque los postes del dispositivo de procesamiento de muestra y los orificios del dispositivo de posicionamiento son dimensionados de manera que comprendan un montaje por fricción cuando el dispositivo de procesamiento de muestra sea situado sobre la superficie de soporte del dispositivo de posicionamiento.
  34. 34. El kit de conformidad con la reivindicación 26, caracterizado además porque comprende el adhesivo adaptado para unir en forma adhesiva el dispositivo de procesamiento de muestra con el dispositivo de posicionamiento.
  35. 35. El kit de conformidad con la reivindicación 26, caracterizado porque el dispositivo de procesamiento de muestra y el dispositivo de posicionamiento son conectados entre sí en forma giratoria.
  36. 36. El kit de conformidad con la reivindicación 26, caracterizado porque el dispositivo de procesamiento de muestra comprende una primer estructura de articulación y en donde el dispositivo de posicionamiento incluye una estructura complementaria de articulación, de manera que el dispositivo de procesamiento de muestra y el dispositivo de posicionamiento puedan ser conectados entre sí en forma giratoria.
  37. 37. Un kit de procesamiento de muestra, caracterizado porque comprende: un dispositivo de procesamiento de muestra que está constituido al menos por una serie de procesos, en donde por lo menos una serie de procesos incluye un conducto principal y una pluralidad de cámaras de proceso situadas a lo largo del conducto principal, en donde el conducto principal es abierto a lo largo de su extensión, y en donde el dispositivo de procesamiento de muestra incluye una primera superficie principal con bordes en la periferia de la primera superficie principal ; y un dispositivo de posicionamiento que incluye dos o más canales opuestos adaptados para suspender el dispositivo de procesamiento de muestra dentro del dispositivo de posicionamiento; en donde el dispositivo de procesamiento de muestra no es unido en forma fija con el dispositivo de posicionamiento.
  38. 38. El kit de conformidad con la reivindicación 37, caracterizado porque el dispositivo de posicionamiento comprende tres o más canales, en donde cada canal de los tres o más canales es adaptado para recibir un borde de los bordes del dispositivo de procesamiento de muestra cuando el dispositivo de procesamiento de muestra sea suspendido en el dispositivo de posicionamiento.
  39. 39. El kit de conformidad con la reivindicación 37, caracterizado porque el dispositivo de posicionamiento comprende dos o más posiciones en las cuales el dispositivo de procesamiento de muestra puede ser suspendido, en donde cada posición de las dos o más posiciones incluye dos o más canales en el dispositivo de posicionamiento.
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