MD152Y - Procedeu de formare a unei microstructuri tridimensionale - Google Patents
Procedeu de formare a unei microstructuri tridimensionale Download PDFInfo
- Publication number
- MD152Y MD152Y MDS20090031A MDS20090031A MD152Y MD 152 Y MD152 Y MD 152Y MD S20090031 A MDS20090031 A MD S20090031A MD S20090031 A MDS20090031 A MD S20090031A MD 152 Y MD152 Y MD 152Y
- Authority
- MD
- Moldova
- Prior art keywords
- working layer
- sectors
- dimensional microstructure
- layer
- ito
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 28
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 title description 2
- KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N Fluorane Chemical compound F KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 31
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims abstract description 20
- 239000002131 composite material Substances 0.000 claims abstract description 10
- 238000000151 deposition Methods 0.000 claims description 5
- 238000003486 chemical etching Methods 0.000 claims description 2
- 230000008021 deposition Effects 0.000 abstract description 4
- 238000004377 microelectronic Methods 0.000 abstract description 2
- 238000005554 pickling Methods 0.000 abstract 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 abstract 1
- QPJSUIGXIBEQAC-UHFFFAOYSA-N n-(2,4-dichloro-5-propan-2-yloxyphenyl)acetamide Chemical compound CC(C)OC1=CC(NC(C)=O)=C(Cl)C=C1Cl QPJSUIGXIBEQAC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 11
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 6
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 4
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 3
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 2
- 230000008030 elimination Effects 0.000 description 2
- 238000003379 elimination reaction Methods 0.000 description 2
- 238000007373 indentation Methods 0.000 description 2
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 2
- XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N tin dioxide Chemical compound O=[Sn]=O XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000008034 disappearance Effects 0.000 description 1
- 239000012153 distilled water Substances 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 1
- PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N indium(III) oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[In+3].[In+3] PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 1
- 238000005304 joining Methods 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 239000011265 semifinished product Substances 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Chemical compound O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Landscapes
- Photovoltaic Devices (AREA)
Abstract
Inventia se refera la un procedeu de formare a unei microstructuri tridimensionale prin modificarea conform imaginii date a proprietatilor substantei semifabricatului initial in sectoarele prelucrate si poate fi utilizata in microelectronica la prepararea celulelor solare, mijloacelor de pastrare a informatiei. Procedeul de formare a unei microstructuri tridimensionale include depunerea pe un suport de Si a unui strat de lucru de substanta cu structura compozita ITO si prelucrarea structurii obtinute prin microindentare cu sarcini in limitele 0,01…0,50 N cu inlaturarea ulterioara a sectoarelor deformate prin intermediul decaparii chimice cu acid fluorhidric concentrat.
Description
Invenţia se referă la un procedeu de formare a unei microstructuri tridimensionale prin modificarea conform imaginii date a proprietăţilor substanţei semifabricatului iniţial în sectoarele prelucrate şi poate fi utilizată în microelectronică la prepararea celulelor solare, mijloacelor de păstrare a informaţiei.
Este cunoscut procedeul de creare a structurilor tridimensionale. Esenţa procedeului constă în aceea că prin doparea ionică a solidelor concomitentă sau consecutivă, totodată, prin tratarea cu ioni de gaz inert în obiect se formează nanopori de gaz cu umplerea concomitentă sau consecutivă a volumului lor cu ioni ai elementelor de fază nativă [1].
Dezavantajul procedeului cunoscut constă în aceea că fazele menţionate se formează haotic în materialul prelucrat, fără distribuirea lor determinată din start, ceea ce limitează sfera aplicării lor practice.
Mai este cunoscut procedeul de preparare a imaginii conductibile în volumul straturilor fine cu grosimea de 20 nm prin extragerea atomilor nemetalici sub acţiunea unui fascicul de particule încărcate [2]. Dezavantajul procedeului cunoscut constă în aceea că nu este posibil de obţinut structuri voluminoase cu grosimea (adâncimea) mai mare decât ~ 100 nm, inclusiv multistrat. Pentru majorarea densităţii amplasării elementelor de structuri paternate la grosimi mai mari ale straturilor prelucrate este necesar de a alege o astfel de energie pentru ca înălţimea gâtului (gurii) retortei de dispersie să coincidă cu grosimea straturilor prelucrate pentru a se evita unirea elementelor învecinate ale structurii conductibile la atingerea pereţilor retortei de dispersie. Gâtul retortei de dispersie în acest procedeu poate avea o altitudine mică datorită grosimii mici a straturilor prelucrate. Simpla majorare a energiei particulelor care ar putea să alungească gâtul retortei de dispersie (şi prin aceasta să majoreze grosimea straturilor prelucrate fără micşorarea densităţii atinse a structurilor formate paternate şi fără modificarea condiţiilor de realizare a procedeului duce la dispariţia materialului în zonele supuse iradierii, cea ce poate fi explicat prin influenţa unor procese care au loc la iradiere (spre exemplu, tratament ionoreactiv, pulverizarea fizică). Afară de aceasta în cazul dat apar mari probleme la evacuarea căldurii pentru menţinerea temperaturii admisibile a mostrelor în procesul de iradiere.
Cel mai apropiat de procedeul propus după esenţa tehnică şi rezultatul obţinut este procedeul de creare a structurii voluminoase, care include depunerea pe substrat a unuia sau mai multor straturi de lucru din combinaţii de două sau multe straturi de lucru din compuşi biatomici sau multiatomici, iradierea lor ulterioară prin mască sau şablon cu un fascicul de particule accelerate, care asigură eliminarea selectivă a atomilor de un anumit tip de pe sectoarele iradiate însoţită de modificarea proprietăţilor substanţei, totodată deasupra stratului de lucru se aplică un strat suplimentar de substanţă, afinitatea chimică a căruia la atomii eliminaţi din stratul de lucru este mai mică decât la atomii care nu au fost eliminaţi din stratul de lucru [3].
Dezavantajul procedeului cunoscut constă în complexitatea lui şi absorbţia înaltă de energie, totodată procedeul nu permite de a obţine un relief bine conturat al imaginii şi de a dirija arhitectura structurii voluminoase.
Problema pe care o rezolvă invenţia propusă constă în majorarea gradului de reliefare a imaginii structurii tridimensionale după schema stabilită din start, facilitarea şi ieftinirea procesului de obţinere a desenului în volumul straturilor cu grosimea de 100…700 nm şi posibilitatea dirijării dimensiunilor şi a proprietăţilor structurilor obţinute.
Esenţa invenţiei constă în aceea că procedeul de formare a unei microstructuri tridimensionale include depunerea pe un suport de Si a unui strat de lucru de substanţă cu structură compozită ITO şi prelucrarea structurii obţinute prin microindentare cu sarcini în limitele 0,01…0,50 N cu înlăturarea ulterioară a sectoarelor deformate prin intermediul decapării chimice cu acid fluorhidric concentrat.
Procedeul permite evitarea apariţiei efectelor legate de iradierea stratului de lucru şi contribuie la extinderea nomenclaturii tipurilor de compoziţii chimice utilizate în calitate de strat de lucru şi variaţia alegerii diferitor combinaţii „strat de lucru-substrat” ceea ce face posibilă aplicarea procedeului propus pentru crearea structurilor tridimensionale cu diferite destinaţii. Procedeul permite de a dirija arhitectura structurii tridimensionale obţinute datorită modificării grosimii stratului de lucru, timpului de tratament selectiv, mărimii sarcinii la prelucrarea mecanică a stratului şi datorită modificării desenului de prelucrare.
Rezultatul menţionat a fost obţinut la realizarea procedeului de formare a structurii tridimensionale, care include aplicarea pe un suport a unui strat de lucru şi prelucrarea ulterioară a structurii obţinute, ce permite înlăturarea selectivă a stratului în sectoarele prelucrate, pentru aceasta în calitate de suport este folosit Si, în calitate de strat de lucru este aplicat un strat de ITO (indium tin oxide), pentru prelucrarea stratului de lucru se aplică microindentarea structurii obţinute cu sarcini în limitele 0,01…0,5 N, iar eliminarea sectoarelor deformate este realizată prin tratament chimic cu acid fluorhidric concentrat (HF).
Rezultatul tehnic al procedeului propus constă în obţinerea structurii tridimensionale după schema planificată, forma şi dimensiunile căreia pot fi dirijate în funcţie de domeniul aplicării practice. Invenţia se explică prin desenele din fig. 1-4, care reprezintă:
- fig. 1, microstructura, spectrele şi compoziţia chimică a structurii ITO/Si în funcţie de distanţa de la suprafaţă (aspectul în secţiune): A,b - în interiorul stratului ITO; c,d - la o distanţă de la stratul ITO în volumul cristalului de Si;
- fig. 2, amprente depuse cu diferite sarcini P, N: a - 0,15; b - 0,20; c - 0,50 x 800;
- fig. 3, aspectul amprentelor depuse cu trei sarcini diferite şi zonele din jurul lor după tratamentul chimic timp de 2 min P, N: a - 0,01; b - 0,1; c - 0,4 x800;
- fig. 4, structura tridimensională (a, b) în secţiune şi, respectiv, imaginea frontală a acestei figuri pe suprafaţa stratului ITO (c). P=0,1 N: (a) - relieful suprafeţei amprentei (d) şi zona din jurul ei până la tratamentul chimic (în secţiune), (b) - profilul zonei dizolvate (Df) după 4 min de tratament chimic selectiv cu acid fluorhidric concentrat (HF). Axa Y: nm. Linia suprafeţei de secţiune schematic este prezentată în inserţie; (c) - suprafaţa amprentei şi zona din jurul ei după tratamentul selectiv cu HF (imagine frontală).
Procedeul propus se realizează în felul următor.
La prima etapă se obţine structura planară TCO/Si (oxizi conductibili transparenţi). În calitate de TCO se folosesc pelicule de In2O3·SnO2 (ITO) cu grosimea de la 100 nm până la 700 nm care se depun pe substrat de Si. Structura de aşa fel poate fi clasată drept tip „dur-pe-dur”.
După aceasta structura compozită se supune microindentării după metoda lui Vickers cu sarcini în limitele 0,01…0,5 N cu scopul de a crea amprente de duritate de diferite dimensiuni.
Următoarea etapă este extragerea parţială a stratului ITO prin tratament chimic din zonele de deformare elastoplastică din jurul amprentelor utilizând acidul fluorhidric concentrat (HF).
Rezultatul acţiunii acidului fluorhidric este crearea figurilor de gravură a stratului ITO. Forma şi dimensiunea figurilor de gravură pot fi dirijate prin schimbarea sarcinii la microindentare, duratei timpului de acţiune chimică şi modului de deformare după desenul planificat din start (depunerea amprentelor în serii după desenul dat, formarea zgârieturilor după o schemă anumită sau depunerea clişeului (matriţiei) de forma dorită).
Exemple de realizare a procedeului
Exemplul 1
Pe structura compozită obţinută de ITO/Si se depun amprente cu trei sarcini diferite: 0,1; 0,2 и 0,3 N, diagonalele cărora se măsoară. După aceasta structura compozită se supune tratamentului chimic cu aplicarea acidului fluorhidric concentrat (HF) timp de un minut, se spală cu apă distilată, apoi se măsoară diametrul figurilor de gravură. Raportul dimensiunilor diagonalelor amprentelor (d) şi diametrelor figurilor de gravură respective pentru timpul de acţiune de HF 1 min este prezentat în tabelul 1.
Tabelul 1
Raportul dimensiunilor diagonalelor de amprente (d) şi diametrelor figurilor de gravură respective pentru timpul de acţiune de HF 1 min
P, N Diagonala amprentei, d, µm Diametrul figurii de gravură, Df, µm δ Df=Df-d 0,1 4,02 5,60 1,58 0,2 4,84 6,72 1,88 0,3 5,80 7,80 2,00
Exemplul 2
Pe structura de compozit ITO/Si se depun amprente cu patru sarcini diferite: 0,1; 0,2; 0,3 şi 0,5 N, diagonalele cărora se măsoară. După aceasta structura compozită se supune tratamentului chimic cu acid fluorhidric concentrat (HF) timp de 1, 2, 4 şi 6 min, totodată pentru fiecare termen de tratament se măsoară diametrul figurilor de gravură şi se apreciază cinetica majorării diametrului figurilor de gravură odată cu majorarea duratei de tratament. Coeficienţii gradului de gravare al stratului ITO în funcţie de valoarea sarcinii aplicate (P) pentru diferite durate de gravare (τ) sunt prezentaţi în tabelul 2.
Tabelul 2
Modificarea coeficientului gradului de gravare a stratului ITO în funcţie de valoarea sarcinii aplicate (P) pentru diferite durate de gravare (τ)
P, N Diagonala amprentei, d, µm k = Df/d τ min→ 1 2 4 6 0,1 4,02 1,39 6,68 21,2 32,9 0,2 4,84 1,39 6,01 18,9 27,8 0,3 5,80 1,34 5,21 15,9 23,9 0,5 8,06 1,39 4,58 10,3 16,7
Exemplul 3
Pe structura de compozit ITO/Si se depun amprente cu şapte sarcini diferite: 0,01; 0,03; 0,05; 0,1; 0,2; 0,3 şi 0,5 N. Pentru sarcini mai mici (0,01; 0,03; 0,05 N) amprentele sunt atât de mici, încât nu pot fi măsurate chiar la mărirea de 800x a microscopului optic. Ulterior structura compozită este supusă tratamentului chimic cu acid fluorhidric concentrat (HF) timp de 1, 2, 4 şi 6 min, totodată pentru fiecare termen de tratament se măsoară diametrul figurilor de gravură obţinute, cu excepţia amprentei depuse cu 0,01 N (τ=1 min), pentru care figura se evidenţiază începând cu timpul de tratament 2 min. Modificarea dimensiunii figurilor de gravură a stratului ITO din jurul amprentelor de duritate în funcţie de timpul acţiunii acidului concentrat HF (τ) pentru diferite valori ale sarcinii aplicate (P) este prezentată în tabelul 3.
Tabelul 3
Modificarea dimensiunii figurilor de gravură a stratului ITO din jurul amprentelor de duritate în funcţie de timpul acţiunii acidului concentrat HF (τ) pentru diferite valori ale sarcinii aplicate (P)
Figurile comparate Durata tratamentului, τ, min P, N 0,01 0,03 0,05 00,1 0,2 0,3 0,5 Diagonala amprentei, d, µm 0 - - - 4,0 4,8 5,8 8,1 Dimensiunea figurilor de gravură, Df, µm 1 3,36 4,50 5,60 6,72 7,80 11,21 2 20,16 21,28 24,64 26,88 29,12 30,24 36,96 4 85,12 85,12 76,16 85,12 91,84 92,08 82,88 6 129,90 129,90 132,10 132,10 134,40 138,80 134,40
1. RU 2193080 C2 2002.11.20
2. RU 2129320 C1 1999.04.20
3. RU 2243613 C1 2004.12.27
Claims (1)
- Procedeu de formare a unei microstructuri tridimensionale care include depunerea pe un suport a unui strat de lucru de substanţă cu structură compozită şi prelucrarea lui pentru înlăturarea selectivă a stratului de lucru din sectoarele prelucrate, caracterizat prin aceea că în calitate de suport se utilizează Si, în calitate de strat de lucru se depune un strat de ITO, prelucrarea structurii obţinute se efectuează prin microindentare cu sarcini în limitele 0,01…0,50 N cu înlăturarea ulterioară a sectoarelor deformate prin intermediul decapării chimice cu acid fluorhidric concentrat.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| MDS20090031A MD152Z (ro) | 2009-03-10 | 2009-03-10 | Procedeu de formare a unei microstructuri tridimensionale |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| MDS20090031A MD152Z (ro) | 2009-03-10 | 2009-03-10 | Procedeu de formare a unei microstructuri tridimensionale |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| MD152Y true MD152Y (ro) | 2010-02-26 |
| MD152Z MD152Z (ro) | 2010-09-30 |
Family
ID=43568922
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| MDS20090031A MD152Z (ro) | 2009-03-10 | 2009-03-10 | Procedeu de formare a unei microstructuri tridimensionale |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| MD (1) | MD152Z (ro) |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU2129320C1 (ru) * | 1998-05-22 | 1999-04-20 | Гурович Борис Аронович | Способ формирования проводящей структуры |
| RU2193080C2 (ru) * | 2000-04-05 | 2002-11-20 | Объединенный Институт Ядерных Исследований | Способ ионного легирования твердых тел |
| RU2243613C1 (ru) * | 2003-07-16 | 2004-12-27 | Гурович Борис Аронович | Способ формирования объемной структуры |
| MD2556G2 (ro) * | 2004-06-01 | 2005-03-31 | Ион ТИГИНЯНУ | Procedeu de obtinere a nanostructurilor semiconductoare |
| MD2714G2 (ro) * | 2004-10-19 | 2005-10-31 | Ион ТИГИНЯНУ | Procedeu de obtinere a structurilor semiconductoare poroase |
| RU2302054C1 (ru) * | 2006-02-16 | 2007-06-27 | Борис Аронович Гурович | Способ создания пространственно-объемной структуры |
-
2009
- 2009-03-10 MD MDS20090031A patent/MD152Z/ro not_active IP Right Cessation
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| MD152Z (ro) | 2010-09-30 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP2175478B1 (fr) | Procédé pour le transfert d'un film mince comportant une étape de création d'inclusions | |
| US20130334170A1 (en) | Techniques for producing thin films of single crystal diamond | |
| Stepanov et al. | Porous germanium formed by low energy high dose Ag+-ion implantation | |
| US20220038070A1 (en) | Method for preparing film bulk acoustic wave device by using film transfer technology | |
| EA016990B1 (ru) | Кристаллографически текстурированная металлическая подложка, кристаллографически текстурированное устройство, фотогальванический элемент и фотогальванический модуль, содержащий такое устройство, и способ нанесения тонких слоев | |
| CN110970363A (zh) | 一种异质集成单晶钻石薄膜的制备方法 | |
| Chu et al. | A new electrochemical lithography: Fabrication of self-organized titania nanostructures on glass by combined anodization | |
| Chen et al. | One-step fabrication of fine surfaces via femtosecond laser on sliced SiC | |
| CN102779747B (zh) | 一种纳米柱/针森林结构的加工方法 | |
| US11807571B2 (en) | Silicon and silica nanostructures and method of making silicon and silica nanostructures | |
| MD152Y (ro) | Procedeu de formare a unei microstructuri tridimensionale | |
| KR101630932B1 (ko) | 전자소자용 기판, 그의 제조방법 및 그를 포함하는 박막형 태양전지 | |
| CN101456534A (zh) | 聚焦离子束注入结合氟化氙气体辅助刻蚀的微纳加工方法 | |
| CN109234702A (zh) | 一种单晶二硫化钼器件阵列的制备方法 | |
| CN105304736B (zh) | 磁控溅射联合快速退火技术制备Ge/Si量子点 | |
| EP2058075B1 (de) | Verfahren zur Oberflächenbehandlung einer elektrisch leitfähigen Substratoberfläche | |
| TW200939297A (en) | Method for patterning two-dimensional islands | |
| Stepanov et al. | New approach to the synthesis of porous silicon with silver nanoparticles using ion implantation technique | |
| CN109941960A (zh) | 一种制备纳米孔阵列结构的方法 | |
| DE10055636A1 (de) | Transparenter leitfähiger Film und Verfahren zur Herstellung des Films | |
| DE102021003446A1 (de) | Verfahren zur Herstellung eines Ausgangsmaterials für eine Siliziumsolarzelle mit passivierten Kontakten | |
| CN102891210A (zh) | 一种单面电极晶体硅太阳能电池的制法 | |
| Guo et al. | Controllable growth of flowerlike ZnO nanostructures by combining laser direct writing and hydrothermal synthesis | |
| CN120026290B (zh) | 加速器中子源靶复合过渡层及其水热-磁控溅射制备方法 | |
| Kashin et al. | Structure and properties of coatings obtained by plasma-immersion treatment with silicon ions of TiNi alloy |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| KA4Y | Short-term patent lapsed due to non-payment of fees (with right of restoration) |