LT4876B - Kristalo moduliuotos šviesos atspindžio ir sugerties koeficientų matavimo būdas - Google Patents
Kristalo moduliuotos šviesos atspindžio ir sugerties koeficientų matavimo būdas Download PDFInfo
- Publication number
- LT4876B LT4876B LT1999155A LT99155A LT4876B LT 4876 B LT4876 B LT 4876B LT 1999155 A LT1999155 A LT 1999155A LT 99155 A LT99155 A LT 99155A LT 4876 B LT4876 B LT 4876B
- Authority
- LT
- Lithuania
- Prior art keywords
- signals
- light
- intensity
- proportional
- sample
- Prior art date
Links
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Description
Išradimas priklauso optikos sričiai ir gali būti panaudotas bangiškai moduliuotos šviesos kristalų atspindžio ir sugerties koeficientų spektro tiksliam matavimui.
Žinomas kristalo moduliuotos šviesos atspindžio ir sugerties koeficientų matavimo būdas, pagrįstas nustatymu dydžių (gavimu spektro) kur R - tiriamojo bandinio šviesos atspindžio koeficientas, λ - bangos ilgis. (M. Welkovsky, R. Braunstein, A double bean single detector wavelength modulation spectrometer, Rev. Sci. Instrum., V. 43, No.3, p. 339-407 (1972)).
Tam monochromatoriaus sukurti du šviesos spinduliai paduodami į optinę sistemą, kurioje iš vieno spindulio gaunamas vienas dažniu ω bangiškai moduliuotas krintantis į bandinį spindulys ir antras - dažniu 6¾ moduliuotas krintantis spindulys. Abu skirtingais laiko tarpais atsispindėję spinduliai nuo bandinio paviršiaus sukuria du atsispindėjusius spindulius: vienas atsispindėjęs spindulys yra dažniu ω bangiškai moduliuotas, o antras yra dažniu gą moduliuotas pagal šviesos intensyvumą. Visi keturi spinduliai paduodami į du fotoimtuvus, kurie prijungti prie sinchroninių stiprintuvų. Išėjusieji iš sinchroninių stiprintuvų du signalai dažnio ω ir ap. ir du signalai proporcingi dažnio ω ir ap krintančių į bandinį šviesos intensyvumui sudalomi panaudojant elektromechaninius mazgus. Gautieji dalybos signalai dažnio ω ir op paduodami į registratorius.Šis kristalo moduliuotos šviesos atspindžio ir sugerties koeficiento matavimo būdas turi trūkumų. Matavimo tikslumą mažina dviejų fotoimtuvų, elektromechaninių mazgų ir kintančių laikui bėgant skirtingo dydžio signalų nevienalaikis matavimas.
Artimiausias siūlomam būdui yra kristalo moduliacinio šviesos atspindžio ir sugerties koeficientų matavimo būdas, pagrįstas gavimu spektro kur R - tiriamojo bandinio šviesos atspindžio koeficientas, λ -bangos ilgis. (R. Zucca, Y. R. Shen, Wide range wavelength modulation spectrometer, Applied Optics, V. 12, No. 6, p. 1293-1298 (1973)).
Jame monochromatoriaus sukurtas vienas šviesos spindulys, per bangos ilgio moduliatorių paduodamas į optinę sistemą kurioje optinis perjungiklis suskirsto šviesos spindulį į krintantį ir atsispindėjusį nuo bandinio.Visi spinduliai patenka į fotoimtuvą ir stiprintuvus, iš kurių išeina signalas proporcingas atspindžio koeficiento dR(A) 1 5(2) ’ R(2) ’ pirmajai išvestinei pagal bangos ilgį —, padalintai iš atspindžio koeficiento R. Tokius δλ signalus padeda sukurti grįžtamieji elektroninio ryšio grandinės tarp sinchroninių stiprintuvo išėjimo ir elektromechaninio bloko, kuris valdo monochromatoriaus įėjimo plyšio plotį. Kintant bangos ilgiui λ plyšio plotis keičiamas taip, kad atspindžio koeficientas 7?(2) būtų pastovus.Šio matavimo būdo trūkumas tas, kad būtina panaudoti elektromechaninį bloką ir plyšį ekranuojančią fotometrinę diafragmą, kas duoda sistemines matavimo paklaidas.
Išradimo tikslas - patobulinti bangiškai moduliuotos šviesos kristalų atspindžio koeficiento — ·— ir sugertieskoeficiento l—, δλ R δλ kur R-bandinio šviesos atspindžio koeficientas,
A- - bandinio šviesos sugerties koeficientas, l - bandinio storis, matavimo būdą, padidinant matavimo tikslumą ir sutrumpinant matavimo laiką.
Minėtas tikslas pasiekiamas kristalo moduliuotos šviesos atspindžio ir sugerties koeficientų matavimo būdu, kuriame monochromatinė šviesa bangiškai moduliuojama ir registruojama. Papildomai moduliuojamas šviesos intensyvumas, o po to komutuojamas veidrodžių optinė sistema, ko pasėkoje gaunami signalai, proporcingi ąiM sįM δ(λ) ’ δ(λ) ’
Ια(λ),Ι</λ), kur /0 - krintančios į bandinį šviesos intensyvumas,
Ia - atsispindėjusios nuo bandinio šviesos intensyvumas, λ - bangos ilgis, ir perstačius veidrodžius komutuojant gaunami signalai, proporcingi /(2),/0(2), kur /o - krintančios į bandinį šviesos intensyvumas, la - atsispindėjusios nuo bandinio šviesos intensyvumas, /-praėjusios pro l storio bandinį šviesos intensyvumas,
- bangos ilgis, kurie keturiais atminties elementais ir trimis įtampų keitikliais paverčiami . , . . . 5/(2) 1 . 5/0 1 signalais,proporcingais ir kur /-praėjusios pro l storio bandinį šviesos intensyvumas, /0 - krintančios į bandinį šviesos intensyvumas,
- bangos ilgis, kurie diferenciniais stiprintuvais paverčiami į signalus proporcingus dR 1 = 5/g(2) _J__5/0(2)__1_ δλ' 7?(2) 52 ’/0(2) 52 /0(2)’ o perstačius veidrodžius paverčiami signalais, proporcingais Γ5Α(2)Ί _ 9/(2) 1 5/0(2) 1 δλ Jo 52 9(2) 92 /0(2)’ kur K - bandinio šviesos sugerties koeficientas, /0 - krintančios į bandinį šviesos intensyvumas, /-praėjusios pro l storio bandinį šviesos intensyvumas, λ - bangos ilgis, iš kurių registratoriumi gaunamas bangiškai Stf(2) 1 δλ ’ φ) sugerties koeficientas atspindžio koeficientas moduliuotos šviesos kristalų ir bangiškai moduliuotos šviesos kristalų
8Κ(λ) δλ
1-7?(A)'
Išradimas iliustruojamas brėžiniu, kur fig 1. pavaizduota bangiškai moduliuotos šviesos spektrometro blokinė schema.
Šviesos šaltinio (1) šviesa moduliuojama dažnio 6¾ optinio intensyvumo moduliatoriumi (2) ir paduodamas į monochromatorių (3), kuriame šviesa dažniu ω moduliuojama bangiškai su bangos ilgio moduliatoriumi (4), patenka į optinį komutatorių (5), kuris paeiliui komutuoja į fotoimtuvą (6) krintančią ir atsispindėjusią nuo bandinio (7) šviesą dažniu a>i. Fotoimtuvo (6) signalas susideda iš keturių skirtingų signalų: dažnio 6¾ signalo, proporcingo krintančios šviesos į bandinį (7) intensyvumui - 7o(2), kur λ - monochromatinės šviesos bangos ilgis; dažnio ω signalo, proporcingo krintančios šviesos į bandinį (7) intensyvumo pagal bangos ilgį λ pirmajai
8λ bandinio (7) intensyvumui - /„(2); dažnio ω signalo, proporcingo atspindžio šviesos nuo tiriamojo bandinio (7) intensyvumo pagal bangos ilgį λ pirmajai išvestinei išvestinei — ; dažnio ciy signalo, proporcingo atspindžio šviesos nuo tiriamojo „W
Keturi signalai proporcingi /a(2).
8lM
1M,
8IM paduodami į δλ δλ δλ sinchroninius stiprintuvus (8,9), kuriems atraminius signalus sukuria signalų davikliai (11,12). Sinchroniškai detektuoti signalai nuo sinchroninių stiprintuvų (8, 9) (jL j proporcingi —ir Ια(λ) paduodami į atminties elementus (13,15) atatinkamai.
δλ
Sinchroniškai detektuoti signalai nuo sinchroninių stiprintuvų (8,9) proporcingi • 8Ι„(λ) dA ir /o(2) paduodami į atminties elementus (14,16) atatinkamai. Iš atminties elementų (13, 16) vienu metu išeinančius signalus sudalina įtampų dalybos keitikliai (17 - 19). Įtampų dalybos keitiklis (17) sudalina signalus išeinančius iš atminties elementų (13 ir 15). Įtampų dalybos keitiklio (17) išėjime gaunamas signalas yra proporcingas —Įtampų dalybos keitiklis (18) sudalina signalus išeinančius iš atminties 52 Ια(λ) elementų (14 ir 16). Įtampų dalybos keitiklio (18) išėjime gaunamas signalas, 8Ια(λ) 1 proporcingas /0(2)'
Įtampų dalybos keitiklis (19) sudalina signalus išeinančius iš atminties elementų (15 ir 16). Įtampų dalybos keitiklio (19) išėjime gaunamas signalas, proporcingas bandinio šviesos atspindžio koeficientui = R.
Signalai iš įtampų dalybos keitiklių (17) ir (18) patenka į diferencinį stiprintuvą (20) kurio išėjime gaunamas signalas proporcingas δΙα{λ) _J__370(2) 1 dR(X) 1 ’ Ια(λ) δλ ’ I o (Λ)” δλ ’ R(/Y dR(A) 1
Signalas proporcingas iš diferencinio stiprintuvo (12) išėjimo ir δλ R(k) signalas proporcingas R(A) iš įtampų dalybos keitiklio (19) išėjimo paduodami į dvikanalio registratoriaus (21) abiejų kanalų įėjimus.
Norint su spektrometru matuoti bangiškai moduliuotos šviesos sugerties koeficiento δλ spektrą, optiniame komutatoriuje (5) veidrodžiai perstatomi taip, kad į fotoimtuvą (6) patektų krintanti ir praėjusi pro bandinį (7) šviesa dažniu op. Tuomet fotoimtuvo (6) signalas susideda iš keturių skirtingų signalų: dažnio 6¾ signalo, proporcingo krintančios šviesos į bandinį (7) intensyvumui 7o(2) kur λ monochromatinės šviesos bangos ilgis; dažnio ω signalo, proporcingo krintančios į dl f/l) bandinį (7) intensyvumo pagal bangos ilgį λ pirmajai išvestinei--; dažnio op δλ signalo, proporcingo praėjusios šviesos pro bandinį (7) intensyvumui - 7(2); dažnio ω signalo, proporcingo praėjusios šviesos pro bandinį (7) intensyvumui pagal bangos ilgį λ pirmajai išvestinei - -~y-· Keturi signalai proporcingi /(λ), 70(2),
3/0W δλ δλ ' ' δλ paduodami į stiprintuvus (8, 9), kuriems atraminius signalus sukuria signalų davikliai (11, 12). Sinchroniškai detektuoti signalai nuo sinchroninių stiprintuvų (8, 9) —ir 70(λ) paduodami atatinkamai į atminties elementus (13) ir (15).
proporcingi δλ
Sinchroniškai detektuoti signalai nuo sinchroninių stiprintuvų (8, 9) proporcingi —įr Ι0(λ) paduodami atatinkamai į atminties elementus (14) ir (16). Iš atminties δλ elementų (13, 16) vienu metu išeinančius signalus sudalina įtampų dalybos keitikliai (17 - 19). Įtampų dalybos keitiklio (17) išėjime gaunamas signalas yra proporcingas . Įtampų dalybos keitiklis (18) sudalina signalus, išeinančius iš atminties δλ Ι(λ) elementų (14) ir (16). Įtampų dalybos keitiklio (18) išėjime gaunamas signalas, \/(f) 1 proporcingas —-—- —j-r. Signalai iš įtampų dalybos keitiklių (17) ir (18) patenka į 32 70(2) diferencinį stiprintuvą (20), kurio išėjime gaunamas signalas, proporcingas δΐ(λ) 1 δΙ0(λ) 1 δλ ’ /(2) δλ ’/oM“ . Dydis δλ Jo δλ δλ jeigu
Λ(Λ) nepriklauso nuo λ. Tuo atveju, kai matuojamojo spektro srityje 7?(2) priklauso nuo λ, «ai δλ δλ dR{f) 1 δλ ’[l-7?(2)]'
Dydis dvikanaliame registratoriuje (21) nubrėžtų dviejų grafikų
Dydis dR(X) randamas sudauginus dR(f) δλ [l-7?U)l a/?(2) δλ .
nustatomas iš ir
Λ(Α)
Φ) l-7?(2)' tam pačiam λ.
ir δλ [l-J?(2)] R(fl) “ ΐ-7?(2)
Išradime pateiktas kristalo moduliuotos šviesos atspindžio koeficiento dR(f) 1 δλ ’ Λ(λ) , paprasto atspindžio koeficiento 7?(a) ir moduliuotos šviesos sugerties koeficiento / - spektrų matavimo būdas padidina matavimo tikslumą dėl sekančių δλ priežaščių:
1. Signalai Ur arba ^7^77) ir ^77^'777)’ 777) reikalingi ολ Ια(λ) δλ /(λ) δλ IQ(2) /0(2) δΡ(λ) 1 , ν ,9Κ(λ)χ . η/ιλ . ... .
——· , . (arba /——) ir λ!2Ι nustatymui matuojami vienu metu ir todėl J?(2) δλ δλ nejaučia šviesos šaltinio (l) nestabilumų.
2. Matavimo metu nenaudojami elektromechaniniai blokai ir judančios diafragmos sukeliantys sistematines paklaidas.
Signalai proporcingi
Si M
Ια(λ) (arba δΐ(λ) , /(2)) atfiltruojami nuo δλ..... δλ fotoimtuvo (6) triukšmo signalų, nes naudojami sinchroniniai stiprintuvai (8, 9).
4. Kadangi spektrometre naudojamas tik vienas fotoimtuvas (6), tai išnyksta paklaidos, sąlygojamos fotoimtuvų jautrio kitimo laikui bėgant.
IŠRADIMO APIBRĖŽTIS
Claims (1)
- IŠRADIMO APIBRĖŽTISKristalo moduliuotos šviesos atspindžio ir sugerties koeficientų matavimo būdas, kuriame monochromatinė šviesa bangiškai moduliuojama, registruojama, besiskiriantis tuo, kad šviesos intensyvumą papildomai moduliuoja, o po to komutuoja veidrodžių optine sistema, ko pasėkoje gauna signalus, proporcingus kur Io - krintančios į bandinį šviesos intensyvumas,Ia - atsispindėjusios nuo bandinio šviesos intensyvumas, λ- bangos ilgis.ir komutavus perstačius veidrodžius, gauna signalus, proporcingusM*) ai„W kur Io - krintančios į bandinį šviesos intensyvumas,Ia - atsispindėjusios nuo bandinio šviesos intensyvumas,I— praėjusios pro / storio bandinį šviesos intensyvumas, λ - bangos ilgis, kuriuos keturiais atminties elementais ir trimis įtampų keitikliais paverčia signalais, proporcingais δΐ(λ) 1 . dIQ 1
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
LT1999155A LT4876B (lt) | 1999-12-30 | 1999-12-30 | Kristalo moduliuotos šviesos atspindžio ir sugerties koeficientų matavimo būdas |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
LT1999155A LT4876B (lt) | 1999-12-30 | 1999-12-30 | Kristalo moduliuotos šviesos atspindžio ir sugerties koeficientų matavimo būdas |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
LT99155A LT99155A (lt) | 2001-07-25 |
LT4876B true LT4876B (lt) | 2001-12-27 |
Family
ID=19722143
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
LT1999155A LT4876B (lt) | 1999-12-30 | 1999-12-30 | Kristalo moduliuotos šviesos atspindžio ir sugerties koeficientų matavimo būdas |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
LT (1) | LT4876B (lt) |
-
1999
- 1999-12-30 LT LT1999155A patent/LT4876B/lt not_active IP Right Cessation
Non-Patent Citations (2)
Title |
---|
M. WELKOVSKY: "A double bean single detector wavelenght modulation spectrometer", REV.SCI. INSTRUM, V 43, NO 3, 1972, pages 339 - 407 |
R. ZUCCA ET AL: "Wide range wavelength modulation spectrometer", APPLIED OPTICS, V. 12, NO. 6, 1973, pages 1293 - 1298 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
LT99155A (lt) | 2001-07-25 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6985234B2 (en) | Swept wavelength meter | |
US6570894B2 (en) | Real-time wavelength calibration for swept lasers | |
US6873405B2 (en) | Propagation measuring apparatus and a propagation measuring method | |
US6836330B2 (en) | Optical beamsplitter for a polarization insensitive wavelength detector and a polarization sensor | |
EP0819924A2 (en) | Apparatus and method for measuring characteristics of optical pulses | |
US4176951A (en) | Rotating birefringent ellipsometer and its application to photoelasticimetry | |
JPS6132607B2 (lt) | ||
EP1645854A1 (en) | Method and apparatus for measurement of optical detector linearity | |
US20060027737A1 (en) | Array and method for monitoring the performance of DWDM multiwavelength systems | |
EP1593955A2 (en) | Wavelength-tuned intensity measurement with a surface plasmon resonance sensor | |
Genzel et al. | Double-beam Fourier spectroscopy with two inputs and two outputs | |
JP2605385B2 (ja) | 光波長分解測定装置 | |
LT4876B (lt) | Kristalo moduliuotos šviesos atspindžio ir sugerties koeficientų matavimo būdas | |
JPH07190712A (ja) | 干渉計 | |
JP2002228521A (ja) | 分光装置および分光方法 | |
JPH07260684A (ja) | 高精度反射率測定方法及び測定器 | |
JPH06117810A (ja) | 外乱補正機能付きアブソリュ−ト測長器 | |
US4272197A (en) | Apparatus and method for measuring the ratio of two signals | |
JPH02307027A (ja) | 光周波数測定装置 | |
TW387055B (en) | Distributed fiber grating sensing systems using birefringence fiber interferometers for detecting wavelength shifts | |
JPH07128408A (ja) | Eoプローブ | |
LT4762B (lt) | Bangiškai moduliuotos šviesos spektrometras | |
JP2591610Y2 (ja) | 光周波数変調特性測定装置 | |
JP2000146693A (ja) | 光スペクトラム測定装置 | |
JPH0783965A (ja) | 非接触型電圧測定装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MM9A | Lapsed patents |
Effective date: 20011230 |