KR970066553A - 노화도 측정용 수지 시험 방법 및 장치 - Google Patents

노화도 측정용 수지 시험 방법 및 장치 Download PDF

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윌리암 엠. 팔시스코
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브루스 알. 브레니저
미쯔비시 세미컨덕터 아메리카, 인크.
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Abstract

노화도를 측정하기 위한 수지 펠렛의 시험 방법 및 장치는 펠렛을 예열하고, 소정 시간 동안 측정 설비물내에서 펠렛에 변형력을 가하는 단계로 이루어진다. 소정의 시간의 만료시에, 펠렛의 변형을 측정하고 수지 노화도의 함수로서의 수지의 예측된 변형과 비교하여 펠렛의 노화도를 측정한다.

Description

노화도 측정용 수지 시험 방법 및 장치
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 장치의 투시도임, 제2도는 에폭시 펠렛에 변형 하중의 초기 적용시 제1도의 장치의 투시도임, 제3도는 소정 시간의 만료 후 펠렛을 도시한 제1도 및 제2도의 장치의 투시도임, 제4도는 수지의 노화도의 함수로서의 에폭시 수지의 변형의 시료 그래프임.

Claims (29)

  1. (a) 수지 펠렛을 처리하는 단계; (b) 처리된 펠렛에 소저 시간 동안 변형력을 가하는 단계; (c) 소정 시간의 만료시에 펠렛의 변형을 측정하는 단계; 및 (d) 펠렛의 측정된 변형을 수지의 노화도의 함수로서의 소정의 예측된 수지 변형과 비교하여 펠렛의 노화도를 측정하는 단계로 이루어진 수지 펠렛의 노화도 측정 방법.
  2. 제1항에 있어서, 노화도의 함수로서의 소정의 예측된 변형이, 펠렛의 수명 동안 여러번 펠렛의 변형을 측정함으로써 공식화된 그래프로 나타내어지는 것인 방법.
  3. 제1항에 있어서, 노화도의 함수로서의 소정의 예측 변형이, 펠렛의 수명 동안 여러번 펠렛을 측정하므로써 공식화된 그래프로 나타내어지는 것인 방법.
  4. 제1항에 있어서, 노화도의 함수로서의 소정의 예측된 변형이, 노화도가 알려진 여러개의 펠렛 시료를 측정함으로써 공식화된 그래프로 나타내어지는 것인 방법.
  5. 제1항에 있어서, 펠렛의 처리 단계가 펠렛을 예열하는 것으로 이루어진 방법.
  6. 제5항에 있어서, 펠렛을 약 70℃ 내지 약 90℃ 온도로 예열하는 방법.
  7. 제1항에 있어서, 처리된 펠렛에 한 방향으로 변형 하중을 가하고, 변형 측정 단계는 소정 시간의 만료시에 하중의 변위를 측정함으로써 달성되는 방법.
  8. 제7항에 있어서, 변위가 전자 스케일에 의해 측정되는 방법.
  9. 제1항에 있어서, 소정 시간이 약 10초 내지 약 30초 범위 내인 방법.
  10. 제1항에 있어서, 펠렛 처리 단계 후에 설비물 내에 처리된 펠렛을 놓는 단계를 포함하며, 단계 (b) 및 (c)가 펠렛이 설비물 내에 존재하는 동안 실시되는 방법.
  11. 제1항에 있어서, 펠렛 처리 단계 전에 설비물 내에 펠렛을 놓는 단계를 포함하며, 단계 (a), (b) 및 (c)가 펠렛이 설비물 내에 존재하는 동안 실시되는 방법.
  12. 펠렛을 예열하기 위한 열공급원; 및 펠렛을 지지하는 베이스, 펠렛 상에 변형력을 가하도록 선택적으로 위치된 매스, 및 변형력에 반응하여 펠렛의 변형을 측정하기 위한 스케일을 포함하는 설비물로 이루어진 노화도를 측정하기 위한 수지 펠렛의 시험 장치.
  13. 제12항에 있어서, 소정 시간 만료시에 스케일을 작동시키는 타이머를 추가로 포함하는 장치.
  14. 제12항에 있어서, 상기 매스가 펠렛 위에 수직으로 위치하고, 스케일이 펠렛의 수직 변형을 측정하는 장치.
  15. 제12항에 있어서, 상기 설비물이 지지체, 및 매스가 위치된 지지체를 따라서 변위가능한 이동성 판을 추가로 포함하는 장치.
  16. 제15항에 있어서, 상기 설비물이 릴리스를 추가로 포함하며, 릴리스의 작동시에 이동성 판의 저부 표면이 펠렛 상에 접촉하여 변형력을 가하는 장치.
  17. 제15항에 있어서, 상기 스케일이 이동성 관에 설치되어 이동성 판으 변위를 측정하는 장치.
  18. 제12항에 있어서, 스케일이 전자 스케일인 장치.
  19. (a) 노화도가 알려진 수지 펠렛을 처리하는 단계; (b) 소정 시간 동안 처리된 펠렛에 변형력을 가하는 단계; (c) 소정 시간의 만료시에 펠렛의 변형을 측정하는 단계; 및 (d) 알려진 노화도의 함수로서 펠렛의 변형을 기록하는 단계; 및 (e) 다양한 노화도의 펠렛에 대해 상기 단계 (a)부터 (d)를 반복하여 노화도의 함수로서 수지의 변형 특성을 측정하는 단계로 이루어진 노화도의 함수로서의 수지의 변형 특성의 측정 방법.
  20. 제19항에 있어서, (f) 펠렛의 노화도의 함수로서의 각 펠렛의 변형을 그래프화하여 노화도의 함수로서 수지의 예측된 변형을 그래프로 나타내는 단계를 추가로 포함하는 방법.
  21. 제19항에 있어서, (f) 노화도가 알려지지 않은 펠렛에 대해 단계 (a)부터 (d)를 반복하는 단계; 및 (g) 노화도가 알려지지 않는 펠렛의 측정된 변형을 수지의 노화도의 함수로서의 수지의 측정된 변형 특성과 비교하여 노화도가 알려지지 않은 펠렛의 노화도를 측정하는 단계를 추가로 포함하는 방법.
  22. 제20항에 있어서, (g) 노화도가 알려지지 않은 펠렛에 대해 단계 (a)부터 (d)를 반복하는 단계; 및 (h) 노화도가 알려지지 않는 펠렛의 측정된 변형을 수지의 노화도의 함수로서의 수지의 예측된 변형의 그래프와 비교하여 노화도가 알려지지 않은 펠렛의 노화도를 측정하는 단계를 추가로 포함하는 방법.
  23. 제19항에 있어서, 펠렛의 처리 단계가 펠렛을 예열하는 단계로 이루어진 방법.
  24. (a) 노화도가 알려진 수지 펠렛을 처리하는 단계; (b) 소정 시간 동안 처리된 펠렛에 변형력을 가하는 단계; (c) 소정 시간의 만료시에 펠렛의 변형을 측정하는 단계; (d) 알려진 노화도의 함수로서 펠렛의 변형을 기록하는 단계; 및 (e) 펠렛에 대해 펠렛의 수명 동안 여러번 단계 (a)부터 (d)를 반복하여 노화도의 함수로서의 수지의 변형 특성을 측정하는 단계로 이루어진, 노화도의 함수로서의 수지의 변형 특성의 측정 방법.
  25. 제24항에 있어서, (f) 펠렛의 노화도의 함수로서의 각 펠렛의 변형을 그래프화하여 노화도의 함수서의 수지의 예측된 변형의 그래프를 얻는 단계를 추가로 포함하는 방법.
  26. 제24항에 있어서, (f) 노화도가 알려지지 않은 펠렛에 대해 단계 (a)부터 (d)를 반복하는 단계; 및 (h)노화도가 알려지지 않은 펠렛의 측정된 변형을 수지의 노화도의 함수로서의 수지의 측정된 변형 특성과 비교하여 노화도가 알려지지 않은 펠렛의 노화도를 측정하는 단계를 추가로 포함하는 방법.
  27. 제25항에 있어서, (g) 노화도가 알려지지 않은 펠렛에 대해 단계 (a)부터 (d)를 반복하는 단계; 및 (h) 노화도가 알려지지 않는 펠렛의 측정된 변형을 수지의 노화도의 함수로서의 수지의 예측된 변형의 그래프와 비교하여 노화도가 알려지지 않은 펠렛의 노화도를 측정하는 단계를 추가로 포함하는 방법.
  28. 제20항에 있어서, (f) 다수의 펠렛에 대해 단계 (a)부터 (e)를 반복하는 단계를 추가로 포함하는 방법.
  29. 제28항에 있어서, 펠렛의 처리 단계가 펠렛을 예열하는 것으로 이루어진 방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019970009673A 1996-03-22 1997-03-21 노화도 측정용 수지 시험 방법 및 장치 KR970066553A (ko)

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