KR970030280A - 반도체 제조공정을 위한 가스공급계의 오염측정장치 - Google Patents

반도체 제조공정을 위한 가스공급계의 오염측정장치 Download PDF

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KR970030280A
KR970030280A KR1019950043657A KR19950043657A KR970030280A KR 970030280 A KR970030280 A KR 970030280A KR 1019950043657 A KR1019950043657 A KR 1019950043657A KR 19950043657 A KR19950043657 A KR 19950043657A KR 970030280 A KR970030280 A KR 970030280A
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KR1019950043657A
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박재구
이성재
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김광호
삼성전자 주식회사
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Abstract

본 발명은 반도체 제조를 위하여 반응가스를 공급하는 시스템에 구성되는 각 요소들의 이오닉(Ionic) 성분에 의한 오염도를 측정하여 정확한 오염분석을 수행하는 반도체 제조 공정을 위한 가스공급계의 오염측정장치에 관한 것이다. 본 발명은, 반도체장치 제조 공정에서 가스 공급을 위하여 설치되는 요소의 오염분석을 상기 요소로 질소가스를 유입시킴으로 인하여 포함되는 물리적 및 화학적 불순물의 정량 및 성분 등을 테스트하는 반도체 제조 공정을 위한 가스공급계의 오염측정장치에 있어서; 상기 물리적 및 화학적 불순물을 포함한 질소가스를 배기라인으로 배출하도록 구성되고, 상기 배기라인에 상기 질소가스에 포함된 이오닉 성분 불순물을 포집 및 분석하는 임핀저(Impinger)가 접속됨을 특징으로 한다. 본 발명에 의하면, 입자성 불순물 오염도를 측정 및 포집 뿐만 아니라 이오닉 성분을 샘플링하여 오염도를 복합적으로 측정할 수 있으므로, 정확한 오염 분석 자료를 얻을 수 있는 효과가 있다.

Description

반도체 제조공정을 위한 가스공급계의 오염측정장치
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도는 본 발명에 따른 반도체 제조 공정을 위한 가스송급계의 오염 측정장치의 실시예를 나타내는 블록도이다.

Claims (1)

  1. 반도체장치 제조 공정에서 가스 공급을 위하여 설치되는 요소의 오염분석을 위하여 상기 요소로 질소가스를 유입시킴으로 인하여 포함되는 물리적 및 화학적 불순물의 정량 및 성분 등을 테스트하는 반도체 제조 공정을 위한 가스공급계의 오염측정장치에 있어서; 상기 물리적 및 화학적 불순물을 포함한 질소가스를 배기라인으로 배출하도록 구성되고, 상기 배기라인에 상기 질소가스에 포함된 이오닉(Ionic) 성분 불순물을 포집 및 분석하는 임핀저(Imfinger)가 접속됨을 특징으로 하는 반도체 제조공정을 위한 가스공급계의 오염측정장치.
KR1019950043657A 1995-11-24 1995-11-24 반도체 제조공정을 위한 가스공급계의 오염측정장치 KR970030280A (ko)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100414303B1 (ko) * 1996-12-03 2004-03-30 주식회사 하이닉스반도체 반도체웨이퍼제조장비의가스오염불량방지장치
KR200489281Y1 (ko) 2018-03-28 2019-08-28 주식회사 인토 공정가스라인용 오염감지기

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KR100414303B1 (ko) * 1996-12-03 2004-03-30 주식회사 하이닉스반도체 반도체웨이퍼제조장비의가스오염불량방지장치
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