KR970025222A - 디지탈 전전자 교환기의 동기클럭 자동 시험장치 - Google Patents

디지탈 전전자 교환기의 동기클럭 자동 시험장치 Download PDF

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Abstract

본 발명에 따른 동기클럭 시험장치는, 시험을 위한 T1/E1 기준클럭을 발생하는 클럭발생부(11); 상기 T1/E1 클럭발생부(11)에서 발생한 T1/E1클럭을 시험대상 동기장치(1)에 공급하는 T1/E1 클럭 분배부(12); 상기 클럭발생부(11)의 클럭을 입력받아 소정 주파수의 모니터 클럭을 발생하는 모니터클럭 발생부(13); 상기 시험대상 동기장치(1)로부터 피측정대상 클럭을 수신하는 피측정클럭 수신부(14); 상기 피측정클럭 수신부(14)로부터 수신된 클럭중 시험을 위한 하나의 클럭을 선택하는 피측정클럭 선택부(15); 상기 선택된 피측정클럭을 상기 모니터 클럭에 의해 모니터하여 그 결과를 출력하는 클럭 모니터부(16); 상기 클럭 모니터부(16)의 출력을 입력받아 일시 저장하고 프로세서(2)의 요구에 따라 프로세서(2)로 출력하는 프로세서 인터페이스부(18); 상기 클럭 모니터부(16)의 카운트 결과를 표시하는 표시부(17)로 구성되어 자동으로 동기장치를 시험할 수 있다.

Description

디지탈 전전자 교환기의 동기클럭 자동 시험장치
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명에 따른 동기클럭 자동 시험장치의 구성을 도시한 블러도,
제2도는 제1도에 도시된 모니터 클럭발생부의 세부 블럭도,
제3도는 제1도에 도시된 클럭 모니터부의 제1실시예,
제5도는 제1도에 도시된 프로세서 인터페이스부의 세부 블럭도이다.

Claims (7)

  1. 시험을 위한 T1/E1기준클럭을 발생하는 클럭발생부(11); 상기 T1/E1클럭발생부(11)에서 발생된 T1/E1클럭을 시험대상 동기장치(1)에 공급하는 T1/E1클럭 분배부(12); 상기 클럭발생부(11)의 클럭을 입력받아 소정 주파수의 모니터 클럭을 발생하는 모니터클럭 발생부(13); 상기 시험대상 동기장치(1)로부터 피측정대상 클럭을 수신하는 피측정클럭 수신부(14); 상기 피측정클럭 수신부(14)로 부터 수신된 클럭중 시험을 위한 하나의 클럭을 선택하는 피특정클럭 선택부(15); 상기 선택된 피측정클럭을 상기 모니터 클럭에 의해 모니터하여 그 결과를 출력하는 클럭 모니터부(16); 및 상기 클럭 모니터부(16)의 출력을 입력받아 일시 저장하고 프로세서(2)의 요구에 따라 프로세러(2)로 출력하는 프로세서 인터레이스부(18)를 포함하여 구성되는 디지탈 전전자 교환기의 동기클럭자동 시험장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 시험장치는 상기 클럭 모니터부(16)의 카운트 결과를 표시하는 표시부(17)가 더 구비되는 것을 특징으로 하는 디지탈 전전자 교환기의 동기클럭 자동 시험장치.
  3. 제1항에 있어서, 상기 모니터클럭 발생부(13)는 T1/E1클럭발생부(11)로부터 T1/E1클럭을 입력받아 궤환된 모니터 클럭과 비교하는 위상비교기(21); 상기 위상비교기(21)의 출력을 입력받아 소정의 모니터 클럭을 발생하는 전압제어발진기(22); 상기 전압제어발진기(22)에서 발진된 모니터 클럭을 분주하여 상기 위상 비교기(23)로 궤환시키는 분주기(23); 상기 전압제어발진기(22)의 모니터 클럭을 분배 및 버퍼링하는 모니터클럭 분주 및 버퍼부(24)로 구성되는 것을 특징으로 하는 디지털 전전자 교환기의 동기클럭 자동 시험장치.
  4. 제1항에 있어서, 상기 클럭 모니터부(16)는 N개의 피측정클럭을 입력받아 선택신호에 따라 하나의 피측정클럭을 선택하는 클럭수신 및 선택부(31); 상기 클럭수신 및 선택부(31)에서 선택된 클력에 의해 카운트하는 클럭 카운트부(32); 카운트된 결과를 순차적으로 피측정클럭에서 따라 저장하여 시프트시키는 시프트레지스터(33)로 구성되는 디지털 전전자 교환기의 동기클럭 자동 시험장치.
  5. 제1항에 있어서, 상기 클럭 모니터부(16)는 N개의 프리임 펄스(FP)를 입력받아 선택신호에 따라 선택하는 하나의 프레임 펄스(FP)를 선택하는 FP수신 및 선택부(41); 상기 FP수신 및 선택부(41)에서 선택된 FP클럭을 카운트하는 FP클럭 카운트부(42); 프레임펄스 카운트 결과를 프레임펄스클럭에 따라 순차적으로 저장하여 시프트시키는 시프트 레지스터(43); 상기 FP수신 및 선택부(41)에서 선택된 프레임 펄스(FP)와 다른 사이드의 프레임 펄스 (FP)를 입력받아 위상를 비교하는 위상비교기(44); 상기 위상비교기(44)의 출력을 카운트하는 FP클럭카운트부(45); FP클럭 카운트 결과를 FP클럭에 따라 순차적으로 저장하여 시프트시키는 시프트 레지스터(46)로 구성되는 디지털 전전자 교환기의 동기클럭 자동 시험장치.
  6. 제5항에 상기 위상비교기(44)는 오아게이트로 구현되는 것을 특징으로 하는 디지털 전전자 교환기으 동기 클럭 자동 시험장치.
  7. 제1항에 있어서, 상기 프로세서 정합부(18)는 시험결과 데이터를 피측정 클럭으로 발생된 어드레스에 따라 저장하는 이중푸트램(51); 상기 이중포트램(51)을 프로세서(2)와 정합시키기 위한 프로세서 정합회로(52)로 구성하는 것을 특징으로 하는 디지털 전전자 교환기의 동기클럭 자동 시험장치.
KR1019950038866A 1995-10-31 1995-10-31 디지탈 전전자 교환기의 동기클럭 자동 시험장치 KR0163142B1 (ko)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20000038027A (ko) * 1998-12-03 2000-07-05 김영환 전전자 교환기의 망동기 시험 장치 및 그 제어 방법
KR100392854B1 (ko) * 1999-08-24 2003-07-28 엘지전자 주식회사 교환 시스템의 클럭 모니터 장치
KR100463846B1 (ko) * 2000-08-28 2004-12-29 엘지전자 주식회사 교환 시스템의 클럭 모니터링 장치

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KR100392854B1 (ko) * 1999-08-24 2003-07-28 엘지전자 주식회사 교환 시스템의 클럭 모니터 장치
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