KR970022900A - 액티브 매트릭스 액정 패널의 결함을 검출하는 방법 - Google Patents

액티브 매트릭스 액정 패널의 결함을 검출하는 방법 Download PDF

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Abstract

액티브 매트릭스 액정 패널의 결함을 검출하는 방법이 개시된다. 이 방법은 제2신호 라인 및 제3신호 라인을 제1신호 라인과 인접하게 하고 제2신호 라인 및 제3신호 라인에 검은 색 이미지를 디스플레이하기 위한 데이타 신호를 입력하는 동안 최대 휘도보다 낮은 휘도를 갖는 이미지를 디스플레이하기 위한 데이타 신호를 제1신호 라인에 입력하여 제1신호 라인에 대응하는 픽셀이 단일 색상을 디스플레이하도록 하는 단계를 포함한다. 따라서, 본 발명 방법에 따르면, 어떠한 결함있는 픽셀도 트랜스미턴스(transmittance)에서의 감소로 인해 정상보다 어둡게 디스플레이되어 S-D 누설 결함(S-D leak defect)과 같은 포인트 결함(Point defect)이 용이하게 검출될 수 있다.

Description

액티브 매트릭스 액정 패널의 결함을 검출하는 방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명에 대한 액티브 매트릭스 액정 패널의 예로서의 컬러 액티브 매트릭스 액정 패널을 도시하는 정면도.
제2도는 본 발명에 따른 액티브 매트릭스 액정 패널에 인가되는 데이타 신호의 예로서의 파형을 도시하는 개략도.
제3도는 (S-D 누설에 기인한) 결함 픽셀과 정상 픽셀(viable pixel) 사이의 트랜스미턴스 차이를 나타내며 본 발명의 방법의 검출 원리를 도시하는 그래프.

Claims (7)

  1. 액티브 매트릭스 액정 패널 (active matrix liquid crystal panel)의 결합을 검출하는 방법에 있어서, 검은색 이미지 (image)를 디스플레이하기 위한 데이타 신호를 제2신호 라인 및 제3신호 라인에 입력하면서 최대 휘도(luminance level)보다 낮은 휘도를 갖는 이미지를 디스플레이하기 위한 데이타 신호를 제1신호 라인에 입력하는 단계를 포함하며, 상기 제2신호 라인과 상기 제3신호 라인을 상기 제1신호 라인에 인접하게 하여 상기 제1신호 라인에 대응하는 픽셀(pixel)들이 단일한 색상(color)을 디스플레이하는 것을 특징으로 하는 액티브 매트릭스 액정 패널의 결함을 검출하는 방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 데이타 신호는 3 또는 3의 배수(multiple)개의 테스트 라인 (test line)들을 통해 입력되며, 상기 3 또는 3의 배수개의 테스트 라인들은 상기 제1신호 라인, 상기 제2신호 라인 및 상기 제3신호 라인의 신호 라인 연장부(signal line extension portions)와 교차하도록 배치되는 것을 특징으로 하는 액티브 매트릭스 액정 패널의 결함을 검출하는 방법.
  3. 제2항에 있어서, 상기 테스트 라인은 상기 각 신호 라인 연장부가 상기 테스트 라인들 중 단지 하나에만 접속되는 방식으로 상기 신호 라인 연장부에 전기적으로 접속 또는 그로부터 차단되는 것을 특징으로 하는 액티브 매트릭스 액정 패널의 결함을 검출하는 방법.
  4. 제1항에 있어서, 최대 휘도보다 낮은 휘도를 갖는 이미지를 디스플레이하기 위한 상기 데이타 신호의 전압은 약 OV보다 크고 약 ±3.5V보다 작은 것을 특징으로 하는 액티브 매트릭스 액정 패널의 결함을 검출하는 방법.
  5. 제4항에 있어서, 최대 휘도보다 낮은 휘도를 갖는 이미지를 디스플레이하기 위한 상기 데이타 신호의 전압은 약 ±0.8V 내지 약 ±2.OV 범위 내에 있는 것을 특징으로 하는 액티브 매트릭스 액정 패널의 결함을 검출하는 방법.
  6. 제1항에 있어서, 상기 액티브 매트릭스 액정 패널은 컬러 액티브 매트릭스 액정 패널인 것을 특징으로 하는 액티브 매트릭스 액정 패널의 결함을 검출하는 방법.
  7. 제1항에 있어서, 상기 결함은 픽셀 전극과 상기 픽셀 전극 자신의 신호 라인 사이에 발생하는 S-D 누설 결함(S-D leak defect)이거나, 또는 상기 픽셀 전극 자신의 신호 라인이 아닌 신호 라인과 단락된 상기 픽셀 전극에 기인해 발생하는 포인트 결함(point defect)인 것을 특징으로 하는 액티브 매트릭스 액정 패널의 결함을 검출하는 방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019960050588A 1995-10-31 1996-10-31 액티브 매트릭스 액정 패널의 결함을 검출하는 방법 KR100225569B1 (ko)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100849940B1 (ko) * 2006-09-08 2008-08-01 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스 컬러 디스플레이 패널의 화질 검사방법 및 화질 검사장치

Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3333686B2 (ja) * 1996-06-28 2002-10-15 松下電器産業株式会社 表示画面検査方法
USRE41873E1 (en) 1997-05-12 2010-10-26 Samsung Electronics Co., Ltd. Multiple testing bars for testing liquid crystal display and method thereof
KR100490040B1 (ko) * 1997-12-05 2005-09-06 삼성전자주식회사 두개이상의쇼팅바를갖는액정표시장치및그제조방법
US6734925B1 (en) 1998-12-07 2004-05-11 Samsung Electronics Co., Ltd. Multiple testing bars for testing liquid crystal display and method thereof
US8310262B2 (en) 1997-12-05 2012-11-13 Samsung Electronics Co., Ltd. Multiple testing bars for testing liquid crystal display and method thereof
KR100474002B1 (ko) * 1998-04-28 2005-07-18 엘지.필립스 엘시디 주식회사 액정표시장치의불량패드수리방법및그구조
US6219443B1 (en) * 1998-08-11 2001-04-17 Agilent Technologies, Inc. Method and apparatus for inspecting a display using a relatively low-resolution camera
US6281701B1 (en) * 1999-06-04 2001-08-28 Chi Mei Optoelectronics Corporation Apparatus for testing flat panel display
US6710765B1 (en) * 1999-10-05 2004-03-23 Nippon Telegraph And Telephone Corporation Input device of 3-D translation and rotation and its method and recording medium
JP3437152B2 (ja) * 2000-07-28 2003-08-18 ウインテスト株式会社 有機ｅｌディスプレイの評価装置および評価方法
KR100831280B1 (ko) * 2001-12-26 2008-05-22 엘지디스플레이 주식회사 액정표시장치
TWI333094B (en) * 2005-02-25 2010-11-11 Au Optronics Corp System and method for display testing
JPWO2010103696A1 (ja) * 2009-03-11 2012-09-10 シャープ株式会社 電子回路、電子装置
CN102881241B (zh) * 2012-09-29 2015-03-25 深圳市华星光电技术有限公司 漏电辉点拦检方法及装置
CN108169935A (zh) * 2017-12-19 2018-06-15 武汉华星光电技术有限公司 拦截显示面板的漏电像素的方法及显示面板
CN110706629B (zh) * 2019-09-27 2023-08-29 京东方科技集团股份有限公司 显示基板的检测方法和检测装置
KR20210130333A (ko) * 2020-04-21 2021-11-01 삼성디스플레이 주식회사 표시장치 및 그 검사방법
US11906827B2 (en) 2021-03-15 2024-02-20 Beijing Boe Display Technology Co., Ltd. Method for determining light-leakage degree of display panel, test fixture and computer-readable storage medium

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5113134A (en) * 1991-02-28 1992-05-12 Thomson, S.A. Integrated test circuit for display devices such as LCD's
US5546013A (en) * 1993-03-05 1996-08-13 International Business Machines Corporation Array tester for determining contact quality and line integrity in a TFT/LCD
JPH075481A (ja) * 1993-06-18 1995-01-10 Fujitsu Ltd 液晶表示パネルおよびその検査方法
US5444390A (en) * 1994-02-02 1995-08-22 Texas Digital Systems, Inc. Means and method for sequentially testing electrical components
JP3213472B2 (ja) * 1994-04-26 2001-10-02 シャープ株式会社 アクティブマトリクス基板又はアクティブマトリクス液晶パネルの欠陥検出検査方法、欠陥検出検査装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100849940B1 (ko) * 2006-09-08 2008-08-01 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스 컬러 디스플레이 패널의 화질 검사방법 및 화질 검사장치

Also Published As

Publication number Publication date
JPH09127552A (ja) 1997-05-16
KR100225569B1 (ko) 1999-10-15
US5825196A (en) 1998-10-20
JP3190238B2 (ja) 2001-07-23

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