KR970005714B1 - A semiconductor device and its manufacture method - Google Patents
A semiconductor device and its manufacture methodInfo
- Publication number
- KR970005714B1 KR970005714B1 KR1019960058149A KR19960058149A KR970005714B1 KR 970005714 B1 KR970005714 B1 KR 970005714B1 KR 1019960058149 A KR1019960058149 A KR 1019960058149A KR 19960058149 A KR19960058149 A KR 19960058149A KR 970005714 B1 KR970005714 B1 KR 970005714B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- semiconductor chip
- semiconductor device
- lead
- electrode pads
- electrode
- Prior art date
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/48—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/50—Assembly of semiconductor devices using processes or apparatus not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326, e.g. sealing of a cap to a base of a container
- H01L21/60—Attaching or detaching leads or other conductive members, to be used for carrying current to or from the device in operation
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01013—Aluminum [Al]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01022—Titanium [Ti]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01078—Platinum [Pt]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/10—Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/11—Device type
- H01L2924/12—Passive devices, e.g. 2 terminal devices
- H01L2924/1204—Optical Diode
- H01L2924/12041—LED
Abstract
내용 없음.No content.
Description
제1도는 본 발명의 한 실시예 장치의 일부 구성을 도시한 단면도.1 is a cross-sectional view showing a part of the configuration of an embodiment of the present invention.
제2도는 상기 실시예 장치의 거의 전체 구성을 도시한 단면도.2 is a cross-sectional view showing almost the entire configuration of the device of the embodiment.
제3도는 상기 실시예 장치에 있어서 전극 패드의 상세한 구성을 도시한 단면도.3 is a cross-sectional view showing the detailed configuration of an electrode pad in the above-described device.
제4도는 상기 실시예 장치에 있어서 복수의 전극 패드와 복수의 내부 리드와의 접속 상태를 도시한 평면도.4 is a plan view showing a connection state between a plurality of electrode pads and a plurality of internal leads in the above-described embodiment device.
제5도 및 제6도는 각 TBA 테이프의 평면도.5 and 6 are plan views of each TBA tape.
제7도 및 제8도는 각각 상기 실시예의 변형예 장치의 평면도.7 and 8 are respectively plan views of a modification apparatus of the above embodiment.
제9도 및 제10도는 각각 본 발명의 다른 실시예 장치의 단면도.9 and 10 are cross-sectional views of another embodiment apparatus of the present invention, respectively.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings
11 : 반도체 칩 12, 13 : 금속층11 semiconductor chip 12, 13 metal layer
14 : 전극 패드 15 : 절연성 표면 보호막14 electrode pad 15 insulating surface protective film
16 : 에폭시계 접착제 17 : TAB 테이프16: epoxy adhesive 17: TAB tape
18 : 유기 필름 기재 19 : 내부 리드18: organic film substrate 19: internal lead
20 : 금속 도금층20: metal plating layer
가. 발명의 목적end. Purpose of the Invention
(1) 발명이 속하는 기술 분야 및 그 분야의 종래 기술(1) the technical field to which the invention belongs and the prior art in that field
본 발명은 반도체 칩상의 전극과 내부 리드 사이의 전기적 접속, 외부 리드와 인쇄 배선 기판상의 배선 패턴과의 전기적 접속을 도모한 반도체 장치 및 그 제조 방법에 관한 것으로, 특히 전기적 접속을 도모한 배선 간격이 미소한 반도체 장치 및 그 제조 방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention [0001] The present invention relates to a semiconductor device and a method of manufacturing the same, wherein the electrical connection between the electrode on the semiconductor chip and the internal lead and the electrical connection between the external lead and the wiring pattern on the printed wiring board are provided. A micro semiconductor device and its manufacturing method are provided.
반도체 장치를 제조할 때, 반도체 칩상의 전극 패드와 내부 리드와의 사이, 외부 리드와 인쇄 배선기판상의 배선 패턴과의 사이 등과 같이 서로 전기적 접속을 도모할 개소가 많이있다. 종래에는, 예를들면 반도체 칩상의 전극 패드와 내부 리드와의 사이의 전기적 접속은 통상적으로 와이어 본딩에 의한 Au 와이어 또는 Al와이어를 이용한 금속 접합, TAB테이프(Tapy Automated Bonding)에 의한 금속 접합, 및 플립 칩(flip chip)등의 범프(bump)전극과 리드와의 사이에 금속간 접합에 의한 오음 접촉(ohmic contact)등에 의해 행해진다.When manufacturing a semiconductor device, there are many places where electrical connection can be made to each other, such as between an electrode pad on a semiconductor chip and an internal lead, between an external lead and a wiring pattern on a printed wiring board. Conventionally, for example, the electrical connection between an electrode pad on a semiconductor chip and an internal lead is usually made of Au bonding by wire bonding or metal bonding using Al wire, metal bonding by TAB tape (Tapy Automated Bonding), and An ohmic contact by an intermetallic junction between a bump electrode such as a flip chip and the lead is performed.
(2) 발명이 이루고자 하는 기술적 관계(2) Technical relationship to be invented
그런데 와이어 본딩에 의한 접속은 사용하는 본딩용 캐필러리(Capillary; 침)의 외형에 따라 인접하는 와이어 간의 최단 거리가 제약됴어 반도체 칩상의 패드간 거리를 약 100㎛ 정제 이하로 축소하는 것은 곤란하다. 또한, Au 볼이나 Al와이어와 반도체 칩상의 알루미늄·패드와의 금속 접속을 위해 가열, 가압, 초음파 진동등의 물리적 부하를 가할 필요가 있고, 때에 따라서는 전극 패드 아래의 반도체 칩에 손상을 줄 수 있다.However, connection by wire bonding is limited by the shortest distance between adjacent wires depending on the appearance of the bonding capillary used, and it is difficult to reduce the distance between the pads on the semiconductor chip to about 100 μm or less. . In addition, it is necessary to apply physical loads such as heating, pressurization, and ultrasonic vibration for the metal connection between the Au ball or the Al wire and the aluminum pad on the semiconductor chip. In some cases, the semiconductor chip under the electrode pad may be damaged. have.
한편, TAB테이프를 사용하는 경우나 플립 칩을 사용하는 경우에는 Au 범프, 땜납 범프와 내부 리드와의 금속 접속어이고, 와이어 본딩 접속보다도 고온으로 되는 경우가 있기 때문에 가압력에 의한 물리적 손상이 남은 경우가 있다. 이 경우, 패드 간격은 80㎛ 정도까지 축소할 수 있으나, 금속 접합을 행하기 때문에 범프사이즈 축소에는 한계가 있다. 더욱이, 다수 개소의 접속을 일괄해서 행하기 때문에 범프 높이, 접속 조건 등, 접속 개소가 많을수록 접속 안정성을 얻기 위해, 어렵지만 프로세스 조건을 안정화시킬 필요가 있다.On the other hand, when TAB tape is used or flip chip is used, it is a metal connection word between Au bumps, solder bumps, and internal leads, and it may be higher than the wire bonding connection, so physical damage due to pressing force remains. have. In this case, the pad spacing can be reduced to about 80 mu m, but the bump size reduction is limited because the metal bonding is performed. In addition, since a large number of locations are connected at once, the more connection points such as bump height and connection conditions, the more difficult to obtain connection stability, but it is necessary to stabilize the process conditions.
또한, 상기와 같은 문제는 반도체 칩상의 패드나 범프와 내부 리드와의 사이에 전기적 접속뿐 아니라 외부 리드와 인쇄 배선 기판상의 배선 패턴과의 사이의 전기적 접속의 경우 등에도 발생할 수 있다.In addition, the above problem may occur not only in the electrical connection between the pad or bump on the semiconductor chip and the internal lead, but also in the case of the electrical connection between the external lead and the wiring pattern on the printed wiring board.
본 발명은 상기와 같은 사정을 고려하여 이루어진 것으로 그 목적은 서로 전기적 접속을 도모하려는 개소와 간격을 종래보다 축소할 수 있고, 또 전기적 접속시에 가열, 가압 등의 물리적 손상을 주지 않고서도 신뢰성이 높은 반도체 장치를 제고하기 위한 것이다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above circumstances, and its object is to reduce the location and spacing of the electrical connection to each other, and to provide reliability without causing physical damage such as heating and pressurization during electrical connection. It is for improving a high semiconductor device.
나. 발명의 구성 및 작용I. Composition and Function of the Invention
본 발명의 반도체 장치는 표면에 복수의 전극 패드가 있는 반도체 칩, 절연 필름, 절연 필름 상에 형성되고 전극 패드들 중의 대응하는 것에 가까이 위치하는 제1선단부와 제1선단부에 대향하는 제2선단부를 각각 가지고 이는 제1와이어링 패턴(wiring pattern), 물리적 압력이나 열을 사용하지 않고서도 그 각각이 전극 패드 각각을 대응하는 제1와이어링 패턴의 제1선단부에 전기적으로 접속시키는 복수의 제1금속 도금층(plating layer), 표면에 복수의 제2와이어링 패턴이 있는 와이어링 보드(wiring board), 및 물리적 압력이나 열을 사용하지 않고서도 그 각각이 복수의 제2와이어링 패턴 중의 어느 하나를 복수의 제1와이어링 패턴 중의 대응하는 것의 제2선단부에 전기적으로 접속시키는 복수의 제2금속 도금층을 포함한다.The semiconductor device of the present invention has a first tip portion formed on a semiconductor chip, an insulating film, and an insulating film having a plurality of electrode pads on a surface thereof, and positioned close to a corresponding one of the electrode pads, and a second tip portion facing the first tip portion. Each having a first wiring pattern, a plurality of first metals electrically connecting each of the electrode pads to the first leading end of the corresponding first wiring pattern without using physical pressure or heat; A plating layer, a wiring board having a plurality of second wiring patterns on its surface, and each of the plurality of second wiring patterns without using physical pressure or heat And a plurality of second metal plating layers electrically connected to second ends of the corresponding ones of the first wiring patterns.
본 발명의 반도체 장치는 도전성 재료로 이루어지는 리드 프레임, 표면에 전극이 형성된 반도체 칩, 및 상기 리드 프레임의 소정 위치와 상기 반도체 칩의 전극을 전기적으로 접속하는 금속 도금에 의한 접속부를 구비한다.The semiconductor device of the present invention includes a lead frame made of a conductive material, a semiconductor chip having electrodes formed on a surface thereof, and a connection portion made of metal plating electrically connecting a predetermined position of the lead frame and an electrode of the semiconductor chip.
본 발명의 반도체 장치는 절연 필름, 상기 절연 필름상에 형성된 배선 패턴, 표면에 전극이 형성된 반도체 칩, 및 상기 배선 패턴의 단면과 상기 반도체 칩의 전극을 전기적으로 접속하는 금속 도금에 의한 접속부를 구비한다.The semiconductor device of the present invention includes an insulating film, a wiring pattern formed on the insulating film, a semiconductor chip having electrodes formed on a surface thereof, and a connecting portion by metal plating electrically connecting the end surface of the wiring pattern and the electrode of the semiconductor chip. do.
또한, 본 발명의 반도체 장치는 반도체 칩이 접속된 리드 프레임, 표면에 배선 패턴이 형성된 배선기판, 및 상기 리드 프레임과 상기 배선 기판의 배선 패턴을 전기적으로 접속하는 금속 도금에 의한 접속부를 구비한다.Further, the semiconductor device of the present invention includes a lead frame to which a semiconductor chip is connected, a wiring board having a wiring pattern formed on a surface thereof, and a connecting portion by metal plating electrically connecting the wiring pattern of the lead frame and the wiring board.
또한, 본 발명의 반도체 장치는 도전성 재료로 이루어지는 리드 프레임, 표면에 전극이 형성된 반도체 칩, 상기 리드 프레임의 소정 위치나 상기 반도체 칩의 전극을 전기적으로 접속하는 도전성 접착제로 이루어지는 제1접속부, 및 상기 제1접속부의 주위를 덮도록 설치되어 상기 리드 프레임과 상기 반도체 칩의 전극을 전기적으로 접속하는 금속 도금에 의한 제2접속부를 구비한다.In addition, the semiconductor device of the present invention includes a lead frame made of a conductive material, a semiconductor chip having electrodes formed on a surface thereof, a first connecting portion made of a conductive adhesive electrically connecting a predetermined position of the lead frame or an electrode of the semiconductor chip, and the It is provided so as to cover the periphery of a 1st connection part, and the 2nd connection part by metal plating which electrically connects the said lead frame and the electrode of the said semiconductor chip is provided.
본 발명의 반도체 장치의 제조 방법은 도전성 재료로 이루어지는 리드 프레임의 소정 위치와 반도체칩의 표면에 형성된 전극을 근접시킨 상태에서 이 리드프레임에 반도체 칩을 점착하는 공정, 및 양자를 전계 도금 용액중에 침적해서 상기 리드 프레임의 소정 위치와 상기 반도체 칩의 전극을 전기적으로 접속하는 금속 도금층을 형성하는 공정을 구비한다.The manufacturing method of the semiconductor device of this invention adhere | attaches a semiconductor chip to this lead frame in the state which the predetermined position of the lead frame which consists of electroconductive materials, and the electrode formed in the surface of a semiconductor chip adjoined, and both were immersed in the field plating solution. And forming a metal plating layer for electrically connecting the predetermined position of the lead frame and the electrode of the semiconductor chip.
서로 전기적으로 접속할 필요가 있는 리드 프레임과 반도체 칩의 전극 또는 리드 프레임과 배선 기판의 배선 패턴과의 사이의 접속을 금속 도금을 사용하거나 도전성 접착제와 금속 도금을 병용해서 행함으로써 각 접속간에 충분한 오음 접촉을 형성할 수 있음과 동시에 충분한 기계적 강도를 지니게 할 수 있다. 특히, 복수개소를 일괄 접속할 수 있고, 접속시 가열이나 가압은 불필요하다.Sufficient ohmic contact between the connections by using metal plating or by using a conductive adhesive and metal plating together between the lead frame and the electrode of the semiconductor chip or the lead frame and the wiring pattern of the wiring board which need to be electrically connected to each other. Can be formed and at the same time have sufficient mechanical strength. In particular, it is possible to collectively connect a plurality of places, and heating and pressurization are unnecessary at the time of connection.
이하, 첨부 도면을 참조하여 본 발명을 실시예에 따라 설명한다.Hereinafter, the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.
제1도는 본 발명을 반도체 칩상의 전극 패드와 내부 리드와의 사이의 접속에 실시한 반도체 장치의 일부 구성을 도시한 단면도이고, 제2도는 제1도의 반도체 장치의 거의 전체의 구성을 도시한 단면도이다.FIG. 1 is a cross-sectional view showing a partial configuration of a semiconductor device in which the present invention is connected between an electrode pad on a semiconductor chip and an internal lead, and FIG. 2 is a cross-sectional view showing almost the entire configuration of the semiconductor device of FIG. .
도면에서 참조 번호(11)은 트랜지스터 등의 능동 소자나 저항, 요량 등의 수동 소자가 형성되어 있는 반도체 칩이다. 반도체 칩(11)의 주면(主面)상의 주위 전체에는 각각 하부층이, 예를 들면 알루미늄(Al)으로 이루어지는 금속층(12)로 형성되고, 상부층이 적어도 하나의 니켈층을 포함한 금속층(13)로 구성된 복수의 전극 패드(14)가 일정한 간격을 두고 일렬로 배열되어 있다. 그리고, 상기 각 전극 패드(14)의 형성 위치 이외에서는, 반도체 칩(11)은 실리콘 산화막 등의 절연성 표면 보호막(15)로 덮여있다. 또한, 상기 반도체 칩(11)은 에폭시계의 접착제(16)에 의해 TAB 테이프(17)의 소정 개소에 점착되어 있다.In the drawing, reference numeral 11 denotes a semiconductor chip in which active elements such as transistors and passive elements such as resistors and capacitors are formed. The lower layer is formed of the metal layer 12 which consists of aluminum (Al), for example, in the whole periphery on the main surface of the semiconductor chip 11, and the upper layer is the metal layer 13 containing at least 1 nickel layer. The configured plurality of electrode pads 14 are arranged in a row at regular intervals. The semiconductor chip 11 is covered with an insulating surface protective film 15 such as a silicon oxide film except for the positions where the respective electrode pads 14 are formed. The semiconductor chip 11 is attached to a predetermined position of the TAB tape 17 by an epoxy adhesive 16.
상기 TAB테이프(17)은 제1도에 도시한 것처럼 에폭시나 폴리 이미드계 등의 수지로 이루어진 막두께가 예를들면 75㎛ 정도의 우기 필름 기재(18)에, 막두께가 예를들면 35㎛ 정도의 동(Cu)등의 도체층을 도포하고, 그후 선택 에칭 기술에 의해 상기 복수의 전극 패드(14)와 접속해야 할 복수의 내부 리드(19) 및 이들 각각의 내부 리드(19)와 접속된 도시하지 않은 외부 리드를 구비한 배선 패턴을 형성하여 구성되어 있다. 그리고 이 배선 패턴의 형성면이 접착제(16)에 의해 반도체 칩(11)에 점착되어 있다.As shown in FIG. 1, the TAB tape 17 is formed on a rainy film base material 18 having a film thickness of about 75 μm, for example, epoxy or polyimide resin, and a thickness of 35 μm, for example. Conductor layers such as copper (Cu) to a degree are applied, and then connected to the plurality of internal leads 19 and their respective internal leads 19 to be connected to the plurality of electrode pads 14 by a selective etching technique. It is comprised by forming the wiring pattern provided with the external lead which is not shown in figure. And the formation surface of this wiring pattern is adhere | attached on the semiconductor chip 11 by the adhesive agent 16. As shown in FIG.
또한, 상기 TAB 테이프(17)에 반도체 칩(11)을 점착할 때에는 상기 복수의 내부 리드(19)의 선단부의 각 단면이 노출해 있는 부근에 사기 각 전극 패드(14)가 위치하는 것과 같은 상태로 위치가 맞추어진다. 그리고 반도체 칩(11)상의 각 전극 패드(14)와 내부 리드(19)의 각 선단부는, 예를들면 니켈(Ni)로 이루어지는 금속 도금층(20)을 통해 전기적으로 접속되어 있다.In addition, when sticking the semiconductor chip 11 to the TAB tape 17, a state in which the respective electrode pads 14 are positioned in the vicinity of each end portion of the tip portion of the plurality of internal leads 19 is exposed. Position is adjusted. The tip portions of the electrode pads 14 and the internal leads 19 on the semiconductor chip 11 are electrically connected to each other via a metal plating layer 20 made of nickel (Ni), for example.
제3도는 상기 각 전극 패드(14)의 상세한 구성을 도시한 단면도이다. 알루미늄(Al)으로 이루어지는 금속층(12)상에 형성되어 있는 금속층(13)은 적어도 2층의 금속층으로 구성되어 있다. 즉, 알루미늄으로 이루어지는 금속층(12)와 접촉하는 하부층은 예를들면 막두께가 1000Å인 티탄(Ti)층(31)로 이루어지고, 상부층은 예를 들면 막두께가 8000Å의 니켈(Ni)층(32)로 이루어져 있다. 여기서 상부층의 니켈층(32)는 전극 패드(14)에 대해 니켈로 이루어지는 금속 도금층(20)의 형성을 가능하게 하기 위해 설치되어 있는 것이고, 하부층의 티탄층(31)은 장벽 금속층(barrier metal)역할을 한다.3 is a cross-sectional view showing the detailed configuration of each of the electrode pads 14. The metal layer 13 formed on the metal layer 12 made of aluminum (Al) is composed of at least two metal layers. That is, the lower layer in contact with the metal layer 12 made of aluminum is made of, for example, a titanium (Ti) layer 31 having a film thickness of 1000 kPa, and the upper layer is, for example, a nickel (Ni) layer having a film thickness of 8000 kPa ( 32). The nickel layer 32 of the upper layer is provided to enable the formation of the metal plating layer 20 made of nickel with respect to the electrode pads 14, and the titanium layer 31 of the lower layer is a barrier metal layer. Play a role.
제4도는 상기 복수의 전극 패드(14)와 TAB 테이프(17)에 형성된 복수의 내부리드(19)와의 접속상태를 도시한 평면도로, 도면중 사선으로 나타낸 영역이 금속 도금층(20)이다.FIG. 4 is a plan view showing a connection state between the plurality of electrode pads 14 and the plurality of internal leads 19 formed on the TAB tape 17, and the region shown by the diagonal lines in the figure is the metal plating layer 20. As shown in FIG.
상기 실시예에서 따르면 반도체 칩(11)상의 각각의 전극 패드(14)와 내부 리드(19)을 금속 도금층(20)을 이용하여 접속하도록 하고 있으므로, 와이어 본딩, TAB접속 등에 사용되는 본딩용 캐필러리, TAB툴 지그(tool jig)를 사용할 필요가 없다. 이 때문에, 각 전극 피드(14)간의 간격을 100㎛이하, 예를 들면 50㎛ 정도까지 축소할 수 있다. 또 각 전극 패드(14)와 각 내부 리드(19)을 전기적으로 접속할 때에는 물리적 압력이 반도체 칩(11)에 가해지지 않으므로, 가압력에 따른 손상으로 생기는 신뢰성 저하가 없어진다. 그리고 다수의 접속 개소를 이괄해서 동일 조건으로 접속할 수 있기 때문에 접속의 신뢰성이 향상된다. 또한, 접속시에 가열할 필요가 없어서 반도체 칩(11)을 구성하는 각 층의 열팽창 계수의 부정합에서 오는 열응력에 의한 신뢰성 저하도 방지할 수 있다.According to the above embodiment, since each electrode pad 14 and the inner lead 19 on the semiconductor chip 11 are connected using the metal plating layer 20, a bonding capillary used for wire bonding, TAB connection, or the like. There is no need to use the TAB tool jig. For this reason, the space | interval between each electrode feed 14 can be reduced to 100 micrometers or less, for example, about 50 micrometers. In addition, since the physical pressure is not applied to the semiconductor chip 11 when the electrode pads 14 and each of the internal leads 19 are electrically connected to each other, the reliability deterioration caused by damage due to the pressing force is eliminated. In addition, since a large number of connection points can be connected to each other under the same conditions, the reliability of the connection is improved. In addition, since there is no need to heat at the time of connection, reliability deterioration due to thermal stress resulting from mismatch of thermal expansion coefficient of each layer constituting the semiconductor chip 11 can also be prevented.
그런데, 상기 전극 패드와 내부 리드를 전기적으로 접속하는 금속 도금층의 형성은 다음과 같이 행해진다. 즉, 제5도의 TAB테이프에서 도시한 것처럼 상기 유기 필름 기재(18)에 동(Cu) 등의 도체층을 도포한 후 선택 에칭 기술로 상기 내부 리드 및 이 내부 리드와 접속된 외부 리드로 이루어지는 복수의 리드 전극(41)을 각 반도체 장치마다 형성한다. 이때 동시에 각 반도체 장치마다에 복수의 리드 전극(41) 전체를 접속하는 공통 전극(42)를 주위에 형성함과 동시에 이들 모두의 공통전극(42)도 공통으로 접속해 둔다. 또 제5도에 있어서 참조 번호(43)은 상기 유기 필름 기재(18)에 형성된 개공부(開孔部)이다. 제6도는 상기 도5의 TAB테이프에 있어서 하나의 반도체 장치 부분을 확대하여 도시한 평면도이다. 제6도 중에서 일점쇄선으로 도시한 영역에 반도체 칩(11)이 위치하도록 위치를 맞춘 상태에서 TAB테이프에 점착된다. 이때, 전술한 바와 같이 복수의 내부 리드의 선단부의 각 단면이 노출해 있는 부근에 반도체 칩상의 각 전극 패드가 위치하게 된다.By the way, formation of the metal plating layer which electrically connects the said electrode pad and an internal lead is performed as follows. That is, as shown in the TAB tape of FIG. 5, a plurality of layers consisting of the inner lead and the outer lead connected to the inner lead by a selective etching technique after applying a conductor layer such as copper (Cu) to the organic film substrate 18 Lead electrodes 41 are formed for each semiconductor device. At the same time, a common electrode 42 for connecting the entire plurality of lead electrodes 41 to each semiconductor device is formed at the same time, and both common electrodes 42 are connected in common. In FIG. 5, reference numeral 43 is a perforation formed in the organic film base 18. As shown in FIG. FIG. 6 is an enlarged plan view of one semiconductor device portion in the TAB tape of FIG. It adhere | attaches on a TAB tape in the state which was set so that the semiconductor chip 11 may be located in the area | region shown by the dashed-dotted line in FIG. At this time, as described above, the electrode pads on the semiconductor chip are positioned in the vicinity of the exposed portions of the end portions of the plurality of internal leads.
이후, TAB테이프를 도금용 전극과 함께 니켈·도금욕(浴)에 침지한다. 이 니켈·도금욕은 일반적으로 와트욕이라 하고, 황산 니켈, 염화 니켈 및 첨가제 등으로 이루어진 것이 있다. 상기 양자를 와트욕에 침지한 후, 상기 공통 전극(42)가 정(正)극성, 도금용 전극이 부(負)극성으로 되도록 양자간에 소정의 직류 전압을 인가하여 소정 시간 동안 전계 도금을 행한다. 예를들면, 인가하는 직류 전압을 2V, 양자간에 흐르는 전류를 60mA, 도금 시간을 10분간 했을 때, 상기 금속 도금층(20)으로서 10㎛ 두께의 니켈·도금층이 얻어졌다. 니켈 도금층은 처음에는 내부 리드의 선단부의 각 단면에서 성장한다. 이것이 칩상의 전극 패드 접촉하면, 전극패드상에도 도금층이 성장하여 최종적으로 양자가 도금층에 의해 전기적으로 접속되게 된다. 도금 종류 후에는 순수한 물로 세정하여 도금시에 표면에 부착된 오염 물질을 제거한다.Thereafter, the TAB tape is immersed in a nickel plating bath together with the plating electrode. This nickel plating bath is generally referred to as a watt bath, and may be made of nickel sulfate, nickel chloride, additives and the like. After immersing the both in a watt bath, a predetermined DC voltage is applied between the common electrodes 42 so that the common electrode is positive polarity and the plating electrode is negative polarity. . For example, a nickel-plated layer having a thickness of 10 µm was obtained as the metal plating layer 20 when the DC voltage to be applied was 2 V, the current flowing between both was 60 mA and the plating time was 10 minutes. The nickel plating layer initially grows at each cross section of the tip of the inner lead. When this comes into contact with the chip-shaped electrode pads, the plating layer also grows on the electrode pads, and finally both are electrically connected by the plating layer. After plating, it is washed with pure water to remove contaminants attached to the surface during plating.
또 미리 내부 리드 및 외부 리드로 이루어지는 각 리드 전극(41)의 내부 리드의 선단부를 제외한 대부분의 표면을 예를들면 그린 코트(green coat)라 하는 에폭시계의 절연 피막을 피착시켜 둠으로써 필요한 부분에만 도금층을 형성할 수 있고 도금 시간의 단축을 도모할 수 있다.In addition, most surfaces except for the leading end of the inner lead of each lead electrode 41 made of the inner lead and the outer lead are deposited with an epoxy-based insulating film, for example, a green coat, only to a necessary portion. A plating layer can be formed and plating time can be shortened.
다음에 상기 실시예의 여러 변형예를 설명한다. 상기 실시예에서는 반도체 칩의 주면상에 전극 패드가 일정한 간격으로 일렬로 배열되어 있는 경우에 대해 설명했으나, 제7도의 변형예 장치에서는 본 발명을 반도체 칩상의 전극 패드(14)가 갈지자 형으로 배열되게 실시한 것이다. 또 상기 제4도와 대응하는 개소에는 동일 부호를 붙여서 그 설명을 생략한다. 또 제8도의 변형예 장치에서는 본 발명을 반도체 칩상의 전극 패드가 칩상의 전체면에 무작위하게 배치된 이른바 프리·억세스·패드·레이아웃(free·access·pad·layout) 방식으로 실시한 것이다. 이와 같이 본 발명은 칩상의 전극 패드의 배치 상태와 무관하게 어떠한 방식으로도 실시 가능하다.Next, various modifications of the above embodiment will be described. In the above embodiment, the case where the electrode pads are arranged in a row at regular intervals on the main surface of the semiconductor chip has been described. However, in the modification of FIG. 7, the present invention arranges the electrode pads 14 on the semiconductor chip in a zigzag shape. It was done. In addition, the same code | symbol is attached | subjected to the part corresponding to the said FIG. 4, and the description is abbreviate | omitted. In the modification of FIG. 8, the present invention is implemented by a so-called free access pad layout in which electrode pads on a semiconductor chip are randomly arranged on the entire surface of the chip. As described above, the present invention can be implemented in any manner regardless of the arrangement of the electrode pads on the chip.
다음에 본 발명의 다른 실시예를 설명한다.Next, another embodiment of the present invention will be described.
제9도는 본 발명을 리드 프레임의 외부 리드와 인쇄 배선 기판상의 배선 패턴사이의 접속에 실시한 반도체 장치의 구성을 도시한 단면도이다. 도면에서 참조 번호(11)은 반도체 칩, 참조 번호(17)은 TAB테이프이다. 본 실시예 장치의 경우, TAB 테이프의 내부 리드의 선단부와 반도체 칩(11)상의 전극 패드와 상기 실시예의 경우와 마찬가지로 금속 도금층(20)에 의해 전기적으로 접속되어 있다. 또 본 실시예 장치에서는 인쇄 배선 기판(51)상에 형성되어 있는 배선 패턴(52)와 TAB 테이프의 외부 리드의 사이도 금속 도금층(20)에 의해 전기적으로 접속되어 있다.9 is a cross-sectional view showing the configuration of a semiconductor device in which the present invention is carried out for connection between an external lead of a lead frame and a wiring pattern on a printed wiring board. In the drawing, reference numeral 11 is a semiconductor chip, and reference numeral 17 is a TAB tape. In the case of the present embodiment device, the tip of the internal lead of the TAB tape, the electrode pad on the semiconductor chip 11, and the metal plating layer 20 are electrically connected in the same manner as in the above embodiment. In the present embodiment device, the metal plated layer 20 is also electrically connected between the wiring pattern 52 formed on the printed wiring board 51 and the external lead of the TAB tape.
제10도는 본 발명을 리드 프레임의 외부 리드와 인쇄 배선 기판상의 배선 패턴 사이의 접속에 실시한 잔도체 장치의 구성을 도시한 단면도이다. 본 실시예의 경우, 리드 프레임은 예를들면 4-2 합금(alloy)이라고 하는 합금이나 동(Cu) 등으로 이루어지는 금속 박막을 프레스로 찍어서 가공하여 얻어지는 것으로, 이 리드 프레임의 내부 리드(53)과, 반도체 칩(11)상의 전극 패드(14)는 도전성 접착제(54)와 금속 도금층(55)를 병용해서 전기적으로 접속되어 있다. TAB테이프를 사용하는 상기 실시예의 경우에는 TAB 테이프상에 반도체 칩을 접착제로 미리 고정한 뒤 금속 도금층을 형성할 수 있다. 그러나 금속 박막을 펀칭 가공한 리드 프레임을 사용하는 경우에도 각 전극 패드(14)상에 스크린 인쇄로 미리 접착제(54)를 형성해 두고 이들 접착제에 의해 리드 프레임과 접착한 후, 상기와 마찬가지 방법으로 도금층을 형성함으로써 양자를 전기적으로 접속할 수 있다.FIG. 10 is a cross-sectional view showing the configuration of a residual conductor device in which the present invention is carried out for connection between an external lead of a lead frame and a wiring pattern on a printed wiring board. In the present embodiment, the lead frame is obtained by pressing a metal thin film made of, for example, an alloy called 4-2 alloy, copper, or the like by pressing, and the inner lead 53 of the lead frame The electrode pads 14 on the semiconductor chip 11 are electrically connected together using the conductive adhesive 54 and the metal plating layer 55. In the above embodiment using the TAB tape, a metal plating layer may be formed after the semiconductor chip is fixed with an adhesive on the TAB tape in advance. However, even in the case of using a lead frame punched with a metal thin film, an adhesive 54 is formed on each electrode pad 14 by screen printing in advance, and then bonded to the lead frame by these adhesives, and then the plating layer is formed in the same manner as described above. By forming a, both can be electrically connected.
이와 같이 본 발명은 리드 프레임의 내부 리드와 반도체 칩상의 전극 패드의 접속뿐 아니라 외부 리드와 인쇄 배선 기판상의 배선 패턴 사이의 접속에도 실시가능하고 각각 마찬가지 효과를 얻을 수 있다. 또 액정 표시 장치와 TAB 테이프 사이의 전기적 접속 등에도 실시할 수 있다.As described above, the present invention can be implemented not only for the connection between the inner lead of the lead frame and the electrode pad on the semiconductor chip, but also for the connection between the external lead and the wiring pattern on the printed wiring board, and the same effects can be obtained. Moreover, electrical connection between a liquid crystal display device and a TAB tape can also be implemented.
또 본 발명은 상기 각 실시예에 한정되는 것은 아니고 여러가지 변형이 가능한 것은 물론이다. 예를들면 상기 각 실시예에서는 금속 도금층이 니켈 도금층인 경우에 대해 설명했으나 이밖에 금(Au) 도금층, 동 도금층 등도 사용할 수 있다.In addition, this invention is not limited to said each Example, Of course, various deformation | transformation is possible. For example, in the above embodiments, a case where the metal plating layer is a nickel plating layer has been described. In addition, gold (Au) plating layers and copper plating layers may also be used.
또 상기 실시예에서는 미리 내부 리드의 선단부를 제외한 대부분의 표면에 절연 피막을 피착해 둔 경우에 대해 설명했다. 그러나 전계 도금시 내부 리드의 선단부 이외의 개소에는 선단부의 약 1/10이하 두께밖에 도금층이 성장하지 않아서 상기 절연 피막의 피착을 생략할 수도 있다.Moreover, in the said Example, the case where the insulating film was deposited on most surfaces except the front end of an internal lead was demonstrated. However, at the time of electric field plating, only the thickness of about 1/10 or less of a tip part grows in parts other than the tip part of an internal lead, and deposition of the said insulating film can also be skipped.
또 상기 실시예의 방법에서는 상기 도금층을 전계 도금법으로 형성하는 경우에 대해 설명했으나, 이것은 무전계 도금법으로 형성할 수도 있다.Moreover, in the method of the said Example, although the case where the said plating layer was formed by the field plating method was demonstrated, this can also be formed by the electroless plating method.
또, 본원 청구 범위의 각 구성 요소에 병기한 도면 참조 번호는 본원 발명의 이해를 용이하게 하기 위한 것으로, 본원 발명의 기술적인 범위를 도면에 도시한 실시예에 한정하는 의미에서 병기한 것은 아니다.In addition, drawing reference numbers written together in the components of the claims are for ease of understanding of the present invention, and are not written in the sense of limiting the technical scope of the present invention to the embodiments shown in the drawings.
다. 발명의 효과All. Effects of the Invention
이상 설명한 것처럼 본 발명에 따르면 서로 전기적 접속을 도모하려고하는 개소의 간격을 종래보다 축소할 수 있고, 또한 전기적 접속을 도모할 때 가열, 가압등의 물리적 손상을 주지 않고서도 신뢰성이 높은 반도체 장치 및 그 제조 방법을 제공할 수 있다.As described above, according to the present invention, a semiconductor device having high reliability can be made smaller than before, and highly reliable without causing physical damage such as heating and pressurization when the electrical connection is made. A manufacturing method can be provided.
Claims (4)
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP90-141684 | 1990-06-01 | ||
| JP2141684A JP2540652B2 (en) | 1990-06-01 | 1990-06-01 | Semiconductor device |
| KR1019910009041A KR970000972B1 (en) | 1990-06-01 | 1991-05-31 | A semiconductor device and its manufacture method |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1019910009041A Division KR970000972B1 (en) | 1990-06-01 | 1991-05-31 | A semiconductor device and its manufacture method |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR970005714B1 true KR970005714B1 (en) | 1997-04-19 |
Family
ID=26473874
Family Applications (5)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR96058153A KR970005718B1 (en) | 1990-06-01 | 1996-11-27 | A semiconductor device and its menufacture method |
| KR1019960058151A KR970005716B1 (en) | 1990-06-01 | 1996-11-27 | A semiconductor device and its manufacture method |
| KR1019960058149A KR970005714B1 (en) | 1990-06-01 | 1996-11-27 | A semiconductor device and its manufacture method |
| KR1019960058150A KR970005715B1 (en) | 1990-06-01 | 1996-11-27 | A semiconductor device and its manufacture |
| KR1019960058152A KR970005717B1 (en) | 1990-06-01 | 1996-11-27 | A semiconductor device and its manufacture method |
Family Applications Before (2)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR96058153A KR970005718B1 (en) | 1990-06-01 | 1996-11-27 | A semiconductor device and its menufacture method |
| KR1019960058151A KR970005716B1 (en) | 1990-06-01 | 1996-11-27 | A semiconductor device and its manufacture method |
Family Applications After (2)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1019960058150A KR970005715B1 (en) | 1990-06-01 | 1996-11-27 | A semiconductor device and its manufacture |
| KR1019960058152A KR970005717B1 (en) | 1990-06-01 | 1996-11-27 | A semiconductor device and its manufacture method |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (5) | KR970005718B1 (en) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3440238B2 (en) * | 1999-01-20 | 2003-08-25 | シチズン時計株式会社 | Mounting structure of semiconductor device on liquid crystal display device and semiconductor device |
-
1996
- 1996-11-27 KR KR96058153A patent/KR970005718B1/en not_active IP Right Cessation
- 1996-11-27 KR KR1019960058151A patent/KR970005716B1/en not_active IP Right Cessation
- 1996-11-27 KR KR1019960058149A patent/KR970005714B1/en not_active IP Right Cessation
- 1996-11-27 KR KR1019960058150A patent/KR970005715B1/en not_active IP Right Cessation
- 1996-11-27 KR KR1019960058152A patent/KR970005717B1/en not_active IP Right Cessation
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR970005718B1 (en) | 1997-04-19 |
| KR970005716B1 (en) | 1997-04-19 |
| KR970005715B1 (en) | 1997-04-19 |
| KR970005717B1 (en) | 1997-04-19 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR970000972B1 (en) | A semiconductor device and its manufacture method | |
| US5556810A (en) | Method for manufacturing a semiconductor device wherein a semiconductor chip is connected to a lead frame by metal plating | |
| US6541848B2 (en) | Semiconductor device including stud bumps as external connection terminals | |
| US6420787B1 (en) | Semiconductor device and process of producing same | |
| KR100541649B1 (en) | Tape circuit substrate and semiconductor chip package using thereof | |
| US6319749B1 (en) | Lead frame, semiconductor package having the same and method for manufacturing the same | |
| US6372620B1 (en) | Fabrication method of wiring substrate for mounting semiconductor element and semiconductor device | |
| JPH1140723A (en) | Lead frame for integrated circuit package and manufacture thereof | |
| EP0465253A2 (en) | Integrated circuit and lead frame assembly | |
| US5406119A (en) | Lead frame | |
| KR970005714B1 (en) | A semiconductor device and its manufacture method | |
| JPH09232506A (en) | Semiconductor device and manufacturing method thereof | |
| JP2736247B2 (en) | Method for manufacturing semiconductor device | |
| JP2777345B2 (en) | Semiconductor device | |
| JP2974840B2 (en) | Semiconductor element mounting method | |
| JP3889311B2 (en) | Printed wiring board | |
| KR100246848B1 (en) | Land grid array and a semiconductor package having a same | |
| JP2652222B2 (en) | Substrate for mounting electronic components | |
| JP2782374B2 (en) | Electronic component mounting apparatus and manufacturing method thereof | |
| JP3053935B2 (en) | Semiconductor device and manufacturing method thereof | |
| JPS6242549A (en) | Package for electronic part and manufacture thereof | |
| JPH0547847A (en) | Semiconductor device | |
| JPH05218280A (en) | Lead frame and its manufacture | |
| JPH0385740A (en) | Semiconductor device | |
| JPS6276744A (en) | Vessel for integrated circuit |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A107 | Divisional application of patent | ||
| A201 | Request for examination | ||
| G160 | Decision to publish patent application | ||
| E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
| GRNT | Written decision to grant | ||
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20030801 Year of fee payment: 7 |
|
| LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |