KR960027693A - 기본 속도 정합 회로 보드 테스트 지그보드 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 기본 속도 정합 회로 보드 테스트 지그 보드에 관한 것으로, 기본 속도 정합 회로 보드 지그에서 필요한 PCM하이웨이를 구성할 수 있도록 하며, IDPA의 제어에 따라 'B'채널 데이터를 IBQA로 송수신하여 LT 혹은 NT 루프백시 데이터 오류 유무를 판정하고, 외부 시험 경로 설정을 확인하는 등의 자동 시험을 수행하는 데 활용할 수 있는 효과가 있다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명이 적용되는 테스트 지그 구성도, 제2도는 본 발명에 따른 테스트 지그 보드의 블럭 구성도.
Claims (1)
- 수행되는 프로그램을 탑재하는 ROM(Read Only Memory)(26) : 상기 ROM(26)에 내장된 프로그램에 따라 각 기능 블록을 제어하는 마이크로 프로세서(21) : 오실레이터를 이용하여 클럭을 발생시켜 상기 마이크로 프로세서(21)에서 필요한 클럭을 제공하며, 외부의 IBQA(ISDN Basic access 2BIQ Board Assembly) 및 후술할 크로스 포인트 스위치(22)에서 필요한 PCM 하이웨이 클럭 및 동기신호를 생성하여 공급하는 클럭 발생수단(23) : 상기 마이크로 프로세서(21) 및 ROM(26)에 연결되며 외부 회로와 동작할 수 있도록 지원하는 주변회로부(27) : 외부의 IDPA(ISDN D channel ControlProcessor Board Assembly)와 상기 마이크로 프로세서(21)가 공동으로 이 메모리를 억세스하여 데이터를 주고 받도록 하는 공통 메모리(24) : 상기 IBQA에서 PCM 하이웨이의 해당 채널에 다중화하여 전송한 데이타를 수신하여 이를 역다중화하여 상기 마이크로 프로세서(21)가 읽을 수 있도록 하며 상기 마이크로 프로세서(21)가 쓴 데이터를 PCM 하이웨이에 다중화하여 상기 IBQA로 송신하는 크로스 포인트 스위치(22) : 및 상기 IBQA의 시험 릴레이 구동 상태를 확인하기 위한 외부 시험 경로 읽기 버퍼(25)를 구비하는 것을 특징으로 하는 기본 속도 정합 회로 보드 테스트 지그보드.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019940033549A KR0123258B1 (ko) | 1994-12-09 | 1994-12-09 | 기본 속도 정합 회로 보드 테스트 지그 보드 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019940033549A KR0123258B1 (ko) | 1994-12-09 | 1994-12-09 | 기본 속도 정합 회로 보드 테스트 지그 보드 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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KR960027693A true KR960027693A (ko) | 1996-07-22 |
KR0123258B1 KR0123258B1 (ko) | 1997-11-19 |
Family
ID=19400918
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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KR1019940033549A KR0123258B1 (ko) | 1994-12-09 | 1994-12-09 | 기본 속도 정합 회로 보드 테스트 지그 보드 |
Country Status (1)
Country | Link |
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KR (1) | KR0123258B1 (ko) |
-
1994
- 1994-12-09 KR KR1019940033549A patent/KR0123258B1/ko not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR0123258B1 (ko) | 1997-11-19 |
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