KR960024490A - 비디오 마이크로스코프 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 시료를 반사식과 투과식으로 조사할 수 있도록 함으로써, 시료의 정확한 표면상태와 광학성 특성을 조사할 목적으로; 베이스의 일측으로 세워지는 아암을 포함하여 이루어지는 스텐드와; 상기 아암에 높이 조절수단과 촛점조절수단을 개재시켜 배치되는 고체촬상소자와; 상기 고체촬상소자의 하측으로 결합되어 반사식과 투과식의 편광을 동시에 수용하는 렌즈부와; 상기 렌즈부의 일측으로 결합되어 반사식 광원을 조사하는 라이트 가이드부와; 상기 렌즈부의 직하방의 베이스상에 반사식 광원을 포함하여 배치되는 스테이지부를 포함하여 이루어지는 비디오 마이크로스코프를 제공한다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제3도는 본 발명에 적용되는 라이트 가이드부의 단면도, 제4도는 본 발명에 적용되는 스텐드부의 단면도, 제5도는 종래 마이크로스코프의 구성도이다.
Claims (6)
- 베이스(12)의 일측으로 세워지는 아암(14)을 포함하여 이루어지는 스텐드(16)와; 상기 아암(14)에 높이조절수단(18)과 촛점조절수단(20)을 개재시켜 배치되는 고체촬상소자(22)와; 상기 고체촬상소자(22)의 하측으로 결합되어 반사식과 투과식의 편광을 동시에 수용하는 렌즈부(24)와; 상기 렌즈부(24)의 일측으로 결합되어 반사식 광원을 조사하는 라이트 가이드부(26)와; 상기 렌즈부(24)의 직하방의 베이스(12)상에 반사식 광원을 포함하여 배치되는 스테이부(28)를 포함하여 이루어지는 비디오 마이크로스코프.
- 제1항에 있어서, 고체촬상소자(22)는 상기 아암(14)을 타고 상하 슬라이드 가능하게 결합되어 높이 조절수단(18)을 형성하는 제1슬라이더(30)에 다시 상하 슬라이드 가능하게 결합되는 촛점조절수단(20)의 제2슬라이더(32)의 일측단에 결합됨을 특징으로 하는 비디오 마이크로스코프.
- 제1항에 있어서, 렌즈부(24)는 상하 분리 형성되어 나사 결합되는 경통(34)의 내부로 회전 가능하게 결합되는 회전 경통(36)과; 상기 회전 경통(36)의 내경 중간부에 배치되는 검광자(38)와; 하측부로 대물렌즈(40)가 배치되고 그의 상측으로 빔 스프릴터(42)와, 라이트 가이드부(26)의 결합공(44)이 형성되어 상기 경통(34)의 하측부에 결합되는 빔 스플리터 경통(46)을 포함하여 이루어지는 비디오 마이크로스코프.
- 제3항에 있어서, 회전 경통(36)은 중간부 외주연에 깔쭈기(48)를 형성한 것을 특징으로 하는 비디오 마이크로스코프.
- 제1항에 있어서, 라이트 가이드부(26)는 빔 스플리터 경통(46)에 나사결합되는 중공체인 연결구(48)와; 상기 연결부(48)의 후측으로 편광자(50)를 개재시켜 고정 너트(52)로서 연결되는 라이트 가이드(54)로 이루어짐을 특징으로 하는 비디오 마이크로스코프.
- 제1항에 있어서, 스테이지부(28)는 베이스(12)상에 결합되는 스페이서(56)와; 중앙부로 배치되는 편광자(58)의 하측을 지지할 수 있도록 상기 스페이서(56)의 상측으로 결합되는 편광자 하부 지지판(60)과 상기 스페이서(56) 편광자 하부 하부 지지판(60) 사이로 내경부가 회전 가능하게 결합되는 회전판(62)과; 상기 회전판(62)의 상측으로 고정되어 상기 편광자(58)의 상측을 지지하여 주는 고정판(64)을 포함하여 이루어지는 비디오 마이크로스코프.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019940033174A KR100272329B1 (ko) | 1994-12-07 | 1994-12-07 | 비디오 마이크로스코프 |
US08/555,113 US5691840A (en) | 1994-12-07 | 1995-11-08 | Video microscope |
TW084111922A TW336280B (en) | 1994-12-07 | 1995-11-10 | Video microscope |
CN95119752A CN1132358A (zh) | 1994-12-07 | 1995-11-21 | 视频显微镜 |
EP95308859A EP0720036A1 (en) | 1994-12-07 | 1995-12-06 | Video microscope |
JP7345282A JPH08234112A (ja) | 1994-12-07 | 1995-12-07 | 撮像顕微鏡 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019940033174A KR100272329B1 (ko) | 1994-12-07 | 1994-12-07 | 비디오 마이크로스코프 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR960024490A true KR960024490A (ko) | 1996-07-20 |
KR100272329B1 KR100272329B1 (ko) | 2000-11-15 |
Family
ID=19400625
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019940033174A KR100272329B1 (ko) | 1994-12-07 | 1994-12-07 | 비디오 마이크로스코프 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5691840A (ko) |
EP (1) | EP0720036A1 (ko) |
JP (1) | JPH08234112A (ko) |
KR (1) | KR100272329B1 (ko) |
CN (1) | CN1132358A (ko) |
TW (1) | TW336280B (ko) |
Families Citing this family (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1172717A (ja) * | 1997-08-29 | 1999-03-16 | Nikon Corp | 顕微鏡デジタル写真撮影システム |
US6147797A (en) * | 1998-01-20 | 2000-11-14 | Ki Technology Co., Ltd. | Image processing system for use with a microscope employing a digital camera |
JP4053653B2 (ja) * | 1998-04-21 | 2008-02-27 | 株式会社モリテックス | Ccdマイクロスコープ |
AU2179500A (en) * | 1998-12-14 | 2000-07-03 | Sensir Technologies, Llc. | Miniaturized opto-electronic magnifying system |
US6233350B1 (en) | 1999-03-04 | 2001-05-15 | Materials Technologies Corporation | Apparatus for viewing and inspecting a surface area of an object |
TW526928U (en) * | 2001-08-08 | 2003-04-01 | Mustek Systems Inc | Microscopic function expansion module of digital camera |
US7139121B2 (en) * | 2004-06-18 | 2006-11-21 | Quickmate Company, Inc | Projection microscope |
FR2886404B1 (fr) * | 2005-05-25 | 2008-03-07 | Framatome Anp Sas | Procede de mesure de l'anisotropie dans un element comprenant au moins un materiau fissile et installation correspondante. |
RU2419778C2 (ru) * | 2005-05-25 | 2011-05-27 | Арева Нп | Способ измерения анизотропии элемента, содержащего, по меньшей мере, один делящийся материал, и соответствующая установка |
CN100398978C (zh) * | 2005-11-23 | 2008-07-02 | 佛山市吉茂工业自动化技术有限公司 | 一种手动影像测量仪 |
CN100399102C (zh) * | 2005-11-23 | 2008-07-02 | 佛山市吉茂工业自动化技术有限公司 | 用于影像测量系统中的摄像机和显微镜的固定调整装置 |
DE102007027084B4 (de) * | 2007-06-12 | 2021-01-14 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Mikroskop für die Beobachtung einer Probe im Hellfeld-Durchlicht- oder im Fluoreszenz-Auflicht-Kontrastverfahren |
JP2009216825A (ja) * | 2008-03-07 | 2009-09-24 | Olympus Corp | 顕微鏡システム |
DE102011108553B4 (de) | 2011-07-22 | 2021-05-06 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Anordnung zur Einstellung von Beleuchtungseinrichtungen an Durchlichtmikroskopen |
CN104931416A (zh) * | 2015-06-01 | 2015-09-23 | 安徽禄讯电子科技有限公司 | 一种高发光强度光源显微镜及图像鉴别分析装置和应用 |
CN111474173B (zh) * | 2020-04-26 | 2022-12-16 | 山东省地质矿产勘查开发局第一地质大队 | 岩石中透明矿物突起等级的确定方法、系统及应用 |
USD1009113S1 (en) * | 2021-05-25 | 2023-12-26 | Mitutoyo Corporation | Microscope unit |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3972619A (en) * | 1975-08-11 | 1976-08-03 | General Atomic Company | Method and apparatus for surface analysis |
JPS5632116A (en) * | 1979-08-23 | 1981-04-01 | Toshiba Corp | Specimen observing device |
US4412246A (en) * | 1981-07-13 | 1983-10-25 | Hamamatsu Systems, Inc. | Method of adjusting a video microscope system incorporating polarization or interference optics for optimum imaging conditions |
US5386317A (en) * | 1992-05-13 | 1995-01-31 | Prometrix Corporation | Method and apparatus for imaging dense linewidth features using an optical microscope |
US5559630A (en) * | 1992-09-10 | 1996-09-24 | The Open University | Polarized light microscopy |
-
1994
- 1994-12-07 KR KR1019940033174A patent/KR100272329B1/ko not_active IP Right Cessation
-
1995
- 1995-11-08 US US08/555,113 patent/US5691840A/en not_active Expired - Fee Related
- 1995-11-10 TW TW084111922A patent/TW336280B/zh active
- 1995-11-21 CN CN95119752A patent/CN1132358A/zh active Pending
- 1995-12-06 EP EP95308859A patent/EP0720036A1/en not_active Withdrawn
- 1995-12-07 JP JP7345282A patent/JPH08234112A/ja active Pending
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR100272329B1 (ko) | 2000-11-15 |
EP0720036A1 (en) | 1996-07-03 |
JPH08234112A (ja) | 1996-09-13 |
CN1132358A (zh) | 1996-10-02 |
TW336280B (en) | 1998-07-11 |
US5691840A (en) | 1997-11-25 |
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Legal Events
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---|---|---|---|
N231 | Notification of change of applicant | ||
A201 | Request for examination | ||
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