KR960010313Y1 - 제어판넬의 램프 테스트 회로 - Google Patents

제어판넬의 램프 테스트 회로 Download PDF

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KR960010313Y1
KR960010313Y1 KR2019940026008U KR19940026008U KR960010313Y1 KR 960010313 Y1 KR960010313 Y1 KR 960010313Y1 KR 2019940026008 U KR2019940026008 U KR 2019940026008U KR 19940026008 U KR19940026008 U KR 19940026008U KR 960010313 Y1 KR960010313 Y1 KR 960010313Y1
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임형용
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대우중공업 주식회사
석진철
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/44Testing lamps

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
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Abstract

내용 없음.

Description

제어판넬의 램프 테스트 회로
제1도는 본 고안에 따른 실시예의 회로도.
제2도는 종래의 램프테스트 회로도를 도시한 도면이다.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
10 : 베이스단자 구동부 21, 22 : 구동트랜지스터부
L11 내지 L24 : 표시램프 SW11 내지 SW24 : 스위치
Q11 내지 Q24 : 구동트랜지스터 FF1, FF2 : JK플립플롭
본 고안은 전자전기 제어장치용 표시판넬의 램프테스트회로에 관한 것으로, 특히 램프회로의 갯수가 다수인 경우 이를 필요에 따라 분류하여 순차적으로 테스트할 수 있도록 한 표시판넬용 램프테스트회로에 관한 것이다.
일반적으로 전기전자 제어장치는 동작중에 검출되는 동작신호 및 오류신호등과 같은 기기운용에 필요한 정보들을 사용자에게 알리기 위하여 많은 지시용 램프를 사용하고 있는 바, 이러한 지시용 램프들이 오동작을 하여 사용자에게 잘못된 정보를 제공하게 되는 경우 기기 운용에 장애 및 막대한 손실을 입힐 수 있는 것이다.
따라서 이러한 지시용 램프의 고정에 따른 오동작을 막기 위하여 종래에는 제2도에 도시된 바와 같이 다수의 지시용 램프(L1 내지 L8)를 각각의 제어회로에 의해 개/폐되는 스위치(SW1 내지 SW8)외에도 별도로 모든 지시용 램프를 일괄적으로 온/오프시킬 수 있는 램프테스트회로를 구비하고 있어, 이 램프테스트의 스위치를 작동시킴으로써, 지시용 램프들의 고장유무를 검사하도록 된 램프 테스트회로가 사용되었다.
그러나 이러한 종래의 램프테스트 회로는 사용되는 지시용 램프의 수량이 많거나 지시용 판널의 부피가 큰 경우에는 램프테스트 스위치를 한번 작동시켜 모든 지시용 램프를 확인하기 힘든 문제점이 있었다.
이에 본 고안은 상기한 바와 같은 제 문제점을 해소시키기 위해 안출한 것으로 기기의 운용전에 램프의 이상 유무를 확인할 수 있을 뿐아니라 기기의 운용중에도 램프를 테스트할 수 있어 램프에 의한 오동작을 확인할 수 있는 램프테스트 회로를 제공하는 데 그 목적이 있다.
이러한 목적을 달성하기 위한 본 고안의 제어판넬용 램프테스트 회로는, 램프테스트스위치(SW)와; 상기 램프테스트스위치에 의해 트리거입력됨에 따라 정논리와 부논리를 교번적으로 출력하기 되는 베이스단자구동부(10) 및; 상기 베이스단자 구동부(10)의 출력신호에 의해 각각 연결된 표시램프(L11 내지 L24)를 구동하게되는 구동트랜지스터부(21)(22)로 구성된 것을 특징으로 하며, 조작반의 표시램프를 기능별로 볼럭화하여 스위치를 접속시킴으로써 상기 기능블럭에 해당하는 표시램프를 교대로 점검할 수 있도록 된 것이다.
이하 첨부한 예시도면을 참조하여 본 고안을 자세히 설명한다.
제1도는 본 고안에 따른 실시예를 도시한 것으로, 조작반의 지시램프들(L11 내지 L24)은 고유의 제어신호에 따라 단속되어지는 스위치(SW11 내지 SW24)와 연결되어짐과 동시에, 이들 스위칭와 각각 병렬로 다이오드(D11 내지 D24)와 트랜지스터(Q11 내지 Q24)가 연결되어져, 이들 트래니지스터(Q11 내지 q24)에 의해서도 지시용램프를 온/오프시킬 수 있도록 구성되어 있으며, 또한 상기 트랜지스터(Q11 내지 Q24)는 연결되어진 지시용램프의 기능에 따라 2개의 블럭으로 구별되어 각각의 블럭의 베이스단자가 공통으로 제어될 수 있도록 구성된다.
여기서 베이스단자구동부는 2개의 JK플립플롭(FF1, FF2)으로 구성되어지되, 제1JK플립플롭(FF1)의 J입력단자는 제2 JK플립플롭(FF2)의 부출력단자(Q~)에 연결되고, 제2 JK플립플롭(FF2)의 J입력단자는 제1 JK플립플롭(FF1)이 정출력단자(Q)에 연결되며, 상기 제1, 2플립플롭(FF1, FF2)의 K입력단지는 고정전원에 연결되어 항상 H가 입력되도록 구성되어 램프테스트 스위치(LT SW)을 접속시킴에 따라 트리거입력되면 상기 제1, 2플립플롭은 각각 부논리와 정논리를 출력하게 될 뿐아니라, 램프테스트스위치를 한번더 누르면 상기 출력논리가 반전되어 출력하게 되는 것이다.
이렇게 구성된 본 고안이 동작은 다음과 같다.
조반의 표시램프를 점검하기 위하여 램프테스트스위치를 온/오프함에 따라 2개의 JK플립플롭(FF1)(FF2)으로 구성된 베이스단자구동부(10)의 제1플럽플롭(FF1)은 H의 출력을 하게되고, 재2플럽플롭(FF2)는 L의 출력을 하게 됨으로써, 상기 제2플립플롭에 연결된 구동트랜지스터부(22)의 트랜지스터들(Q21 내지 Q24)이 도통되고 이들에 연결된 표시램프(L21 내지 L24)가 점등되므로서 이들 표시램프의 이상유무를 점검할 수 있게 되는 것이다.
이어서, 상기 램프레스트스위치를 한번 더 누르면 제1플립플롭(FF1)의 출력이 H에서 L로 반전되고, 제2플립플롭(FF2)의 출력이 L에서 H로 반전되므로서, 상기 제1플립플롭(FF1)에 연결된 구동트랜지스터부(21)의 트랜지스터(Q11 내지 Q14)가 도통되어 이들 트랜지스터에 연결된 표시램프(L11 내지 L14)가 점등되고 이들 점등된 표시램프의 이상유무를 검사하게 되는 것이다.
이와같이 다수개의 표시램프를 기능별로 블럭화하여 순차적으로 각 해당블럭의 표시램프를 점등시킴으로서 이들 표시램프의 이상유무를 확인하고 용이하게 되는 잇점이 있는 것이다.
이상에서 서술된 실시에는 모든 점에서 단순한 예시에 불과한 것이고 이를 가지고 한정적으로 해석해서는 안되며, 단지 본 고안의 진정한 정신 및 범위내에 존재하는 변형에는 모두 본 고안의 청구범위에 속하는 것이다.

Claims (1)

  1. 램프테스트 스위치(SW)와; 상기 램프테스트스위치에 의해 트리거입력됨에 따라 정논리와 부논리를 교번적으로 출력하게 되는 베이스단자구동부(10) 및; 상기 베이스단자 구동부(10)의 출력신호에 의해 각각 연결된 표시램프(L11 내지 L24)를 구동하게 되는 구동트랜지스터부(21)(22)로 구성된 제어판넬의 램프테스트회로.
KR2019940026008U 1994-10-05 1994-10-05 제어판넬의 램프 테스트 회로 KR960010313Y1 (ko)

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