KR960009760B1 - 유리 섬유중에 함유된 도전성 물질의 검출 방법 및 그 장치 - Google Patents

유리 섬유중에 함유된 도전성 물질의 검출 방법 및 그 장치 Download PDF

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Abstract

요약없음

Description

유리 섬유중에 함유된 도전성 물질의 검출 방법 및 그 장치
제1도는 본 발명의 검출 장치를 도시한 블록도.
제2도는 제조공정에 있어서 검출 코일의 설치 위치를 보인 약도.
제3도는 두가지 상태의 발진을 보인 LG 발진기의 출력신호의 파형도.
제4도는 신호(S1,S2및 S3)의 발생 상태 및 그들간의 관계를 나타낸 파형도.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
1 : 발진 코일2 : LG 발진기
3 : 케이크4 : 보빈
5 : 유리 섬유6 : AM 검파기
7 : FM 검파기8 : 합성파 발생기
9 : 교류 증폭기10 : 비교기
11 : 전압 설정기12 : 경보 장치
13 : 자동 제거장치14 : 스핀들
20 : 정상 상태21 : 변화 상태
26 : 가산된 파형
본 발명의 유리 섬유중에 편재 상태로 함유된 도전성 물질(electrically-conductive material)을 검출하는 방법 및 장치에 관한 것이며, 특히 유리 섬유의 제조 공정에 있어서 유리 섬유를 주행시킨 상태하에서 유리 섬유중에 함유될 가능성이 있는 미세한 도전성 물질의 존재를 간단하고도 정밀하게 검출할 수 있는 방법 및 장치에 관한 것이다.
유리 로빙(glass roving) 또는 유리 직물(glass cloth)을 구성하는 유리 필라멘트(glass filaments), 유리실(glass yarns) 또는 스트랜드(strands) 등과 같은 유리 섬유중에 도전성 물질의 미세 입자가 편재 상태로 함유될 수가 있다.
이것은 배치 원료(batch material) 혹은 내화 벽돌 등으로 인하여 금속 성분이 유리중에 함유될 수도 있기 때문이다. 유리 섬유중에 함유된 도전성 물질은 유리 섬유가 인쇄 회로기판 등에 적용되었을 때 전기 절연성이 저하되는 등의 문제가 생긴다.
따라서, 유리 섬유의 전도성 물질을 함유하는 부분은 유리 섬유의 제작 공정에 있어서 제거되어질 필요가 있다.
종래에, 유리 섬유중에 함유된 미소량의 도전성 물질을 검출하는 방법으로서는, 유전율의 변화를 이용한 방법, 마이크로 웨이브의 위상차를 이용한 방법 및 방전을 이용한 방법이 알려져 있다. 유전율의 변화를 이용한 검출 방법에 있어서는, 유리 섬유의 유전율을 직접적으로 측정할 필요가 있다. 마이크로 웨이브의 위상차를 이용한 검출 방법에 있어서는, 마이크로 웨이브의 송신 파형과 수신 파형과의 위상차로부터 유리 섬유중의 도전성 물질 또는 결함이 검출된다(JP-A-60-20138). 방전을 이용한 검출 방법으로써는, 도전성 물질에 고주파 방전을 일으킴으로써 유리 섬유중에 함유된 도전성 물질을 검출할 수가 있다(JP-A-59-214748).
유전율의 변화를 이용한 검출 방법에 있어서, 유리 섬유중에 함유된 도전성 물질의 량이 극히 적을 때, 측정되어질 유전율의 값이 너무 적어서 측정된 유전율의 값을 나타낸 측정기의 수치의 자리수가 부족하므로 측정이 불가능해진다는 문제점이 있다. 또한, 일반적으로 유리 섬유가 정지 상태로 있지 않으면, 유전율의 측정이 불가능하므로 유전율의 변화를 이용한 검출 방법은 유리 섬유가 이동중인 경우에는 적용할 수가 없다. 따라서, 이 방법은 유리 섬유의 생산 관리에 전혀 이용될 수가 없다는 문제점이 있다. 마이크로 웨이브의 위상차를 이용한 검출 방법 및 방전을 이용한 검출 방법에 있어서, 수분, 집속제, 먼지 등의 은폐작용의 영향으로 인해서 유리 섬유에 함유된 도전성 물질을 검출하는 능력이 극도로 저하되는 단점이 있다. 또, 가령 이런 요인들에 의한 은폐 작용이 없다 할지라도, 현실의 문제로서 유리 섬유중에 존재하는 도전성 물질의 것들중에, 유리 섬유 측방향의 길이가 2mm 미만의 것은 검출할 수가 없었다.
유리 섬유를 제조하는 공정에 있어서 유리 섬유가 이동 중일지라도 함유된 도전성 물질을 검출할 수 있고, 유리 섬유의 표면상에 부착된 수분, 접속제, 먼지 등에 영향을 받지 않고 유리 섬유중에 편재된 도전성 물질만을 검출할 수 있으며 또한 유리 섬유의 측방향의 길이가 2mm 미만의 미세한 도전성 물질이라도 이것을 검출할 수가 있는 유리 섬유중의 도전성 물질을 검출하는 방법 및 장치를 제공하는 것이 본 발명의 목적이다.
상기의 목적을 실현하기 위하여, 본 발명은 LG 발진기을 이용하여 발진 상태를 미리 발생케하여 유리 섬유중의 도전성 물질이 LG 발진기의 회로 요소를 이루는 리액턴스 소자에 작용하여 그의 리액턴스를 변화시킴으로써 발생되는 상기 발진 상태의 변화에 따라 유리 섬유중에 편재하는 도전성 물질의 유무를 검출하도록 한 유리 섬유의 도전성 물질의 검출 방법을 제공한다.
또한 본 발명은, 상기 방법을 실현하기 위하여, 유리 섬유의 근방에 배치되고 유리 섬유중의 도전성 물질에 의해 변화되는 리액턴스를 갖는 리액턴스 소자와, 리액턴스 소자를 그 회로 요소로 함유하는 LG 발진기와, 그 LG 발진기의 출력을 AM 검파하여 AM 검파신호를 출력하는 제1검파기와, 그 LG 발진기의 출력을 FM 검파하여 FM 검파신호를 출력하는 제2검파기와, AM 및 FM 검파신호를 합성하여 합성 신호를 발생하는 합성파 발생기와 상기 합성 신호를 기준치와 비교하여 도전성 물질 검출신호를 발생하는 비교기를 함유하는 유리 섬유중의 도전성 물질의 검출 장치를 제공한다.
첨부한 도면들에 관련하여서 된 다음의 상세한 설명에서 본 발명의 다른 목적들과 특징과 장점들을 더욱 명백하게 알 수 있을 것이다.
이하, 본 발명에 따른 실시예를 첨부한 도면을 참조하여 설명한다.
제1도는 본 발명에 따른 유리 섬유중에 편재한 도전성 물질을 검출하는 장치를 도시한 블록도이다. 제1도에 있어서, 리액턴스 소자인 발진 코일(1)은 소결합 LG 발진기(2)에 접속되어서 발진 코일(1)은 LG 발진기(2)의 발진 상태를 결정하는 회로 요소를 작용한다. LG 발진기(2)는 기지의 것을 사용한다. LG 발진기(2)의 발진 주파수는 일반적으로 노이즈가 적은 10MHz~50MHz의 범위에 설정되며 양호하게는 30MHz의 주파수가 사용된다. 또한 유리 섬유제품의 제조 공정에 있어서, 발진 코일(1)은 집속기(size applicator)의 적하의 위치에, 또는 되감기에 있어서의 케이크(cake)(3)와 보빈(bobbin)(4)과의 사이의 위치(도면중 A의 위치) 또는 와인더와 스트랜드 가이드와의 사이의 위치에 배설된다. 발진 코일(1)의 치수는 직경 3~10mm, 길이 3~10mm인 소형의 것이 선택된다. 참고부호 5는 제조 공정중에 있는 유리 섬유의 일부를 나타내며, 유리 섬유는 제2도에 보인 바와 같이 발진 코일(1)의 내부 공간을 통과하도록 또는 발진 코일(1)의 근방의 외부 공간을 통과하도록 설치된다. 상술한 바와 같은 발진 코일(1)의 설치에 있어서, 극히 미세한 도전성 물질이 편재하여 함유되는 유리 섬유(5)의 부분이 발진 코일(1)의 근방의 공간을 통과할때, 발진 코일(1)의 리액턴스(인덕턴스)는 변화되며, 그 결과 LG 발진기(2)의 발진 상태를 변화시킨다.
LG 발진기(2)로부터 출력된 진동 전류는 AM 검파기(6)와 FM 검파기(7)에 공급되며 이 검파기들은 LG 발진기(2)의 출력측에 서로 병렬로 접속되어 있다. AM 검파기(6)에 의해 취출된 AM 검파신호(S1)와 FM 검파기(7)에 의해 취출된 FM 검파신호(S2)는 합성파 발생기(8)에 공급되며, 여기서 이들 2개의 신호(S1및 S2)들의 각각의 진폭이 상호간에 가산된다. 이렇게 얻어진 합성 신호(S3)는 다음 단의 교류증폭기(9)에 의해 증폭된다. 이 증폭된 신호(S4)는 비교기(10)의 2개의 입력 단자중의 한 단자에 가해진다. 전압 설정기(11)로부터의 기준 전압 V0는 비교기(10)의 다른 하나의 입력 단자에 가해져서 신호(S4)는 이 기준 전압 V0와 비교된다. 비교 결과에 따라, 유리 섬유(5)중에 목적하는 도전성 물질의 함유 여부를 검출할 수가 있다. 전압 설정기(11)는 기준 전압 V0의 설정치를 임의로 변화시킬 수 있도록 설치된다. 따라서, 기준 전압 V0의 소망의 값이 한계치로 설정되면, 적당한 길이와 직경을 갖는 도전성 물질을 검출할 수 있다. 즉, 신호(S4)는 기준 전압 V0보다 클 때, 검출신호(S5)는 비교기(10)의 출력에 발생되어 도전성 물질의 검출을 입증한다.
다음에, 상기의 검출 장치의 검출 작용을 상술한다.
제3도는 LG 발진기(2)로부터 발생된 진동 전류의 파형도이며, 여기서 파형(20)은 정상 상태이며 파형(21)은 변화 상태를 나타낸다. 정상 상태의 파형(20)은 유리 섬유(5)가 발진 코일(1)의 내부 또는 근방을 통과하지 않는 경우, 또는 유리 섬유(5)가 실제적으로 발진 코일(1)의 내부 또는 근방을 통과하더라도 유리 섬유(5)중에 도전성 물질이 함유되지 않은 경우에 생기는 파형이다. 즉, 파형(20)은 발진 코일(1)의 인덕턱스가 초기치로 유지되어서 LG 발진기(2)가 미리 설정된 상태로 발진을 계속하는 상태의 파형이다. 이 경우에, 일반적으로, 유리 섬유(5)의 표면에 부착된 수분 및 집속재(size)를 검출한다. 반대로, 변화 상태의 파형(21)은 도전성 물질이 함유된 유리 섬유가 발진 코일(1)의 근방을 통과할 경우에 발생된다. 즉, 파형(21)은 발진 코일(1)의 인덕턴스가 도전성 물질의 존재에 의하여 변화하여, LG 발진기(2)의 발진 상태가 변화된 상태하에서 발생된다. 그러나, 도전성 물질이 유리 섬유중에 극소량이 함유되어 있을 때, 진동 전류의 파형은 변화하나 그 변화가 적으므로, 변화 상태의 진동 전류의 파형과 정상 상태의 그것과를 구별하기는 어렵다. 따라서, 발진 코일(1)의 인덕턴스는 유리 섬유(5)중의 도전성 물질의 존재에 따라 변화되며 LG 발진기(2)의 출력 신호의 파형(20) 및 파형(21)의 어느 하나를 갖는다. 파형(20 및 21)은 진폭뿐만 아니라 주파수도 서로 다르다.
LG 발진기(2)의 출력 신호는 분지되어서 AM 검파기(6) 및 FM 검파기(7)에 공급된다. AM 검파기(6)로써는 발진 신호를 AM 검파하고 FM 검파기(7)로써는 발진 신호를 FM 검파한다. 제4도(A) 및 제4도(B)는 AM 검파신호(S1)의 전압 파형과 FM 검파신호(S2)의 전압 파형을 각각 나타낸다. AM 검파신호(S1)과 FM 검파신호(S2)가 파형의 변화에 관하여 다음의 특징들을 갖는다는 것이 경험적으로 알려져 있다.
즉, 도전성 물질을 함유하는 유리 섬유(5)의 부분이 발진 코일(1)의 근방을 통과할 때, 발진 코일(1)의 인덕턴스가 변화되어서, 그 결과 신호(S1및 S2)의 각 파형들을 플러스측(도면중 22 및 23의 부분)으로 변화시킨다. 그후, 수분 또는 집속제가 부착된 유리 섬유(5)의 부분만 발진 코일(1)을 통과하거나 근방을 지나가면, 반대로, 발진 코일(1)의 인덕턴스가 다시 변화되어서, 그 결과 신호(S1)의 파형은 마이너스측으로 신호(S2)의 파형은 플러스측으로 변화한다(도면중 24 및 25의 부분). 이 경우에, AM 검파신호(S1) 및 FM 검파신호(S2)는 그 진폭의 크기가 일치하도록 회로적으로 미리 조정된다.
상술한 바와 같이, FM 검파신호(S2)의 경우에는, 전도성 물질이 수분 및 집속제인 경우의 것과 동일한 신호 상태로 검출되므로, 양자를 구별할 수가 없다. AM 검파신호(S1)의 경우에는, 반대로, 전도성 물질의 검출과 수분 등의 검출과의 사이에는 일반적으로 파형이 반전되므로 양자를 식별할 수가 있다. 그러나, 엄밀히 말해서, AM 검파신호(S1)의 경우일지라도, 유리 섬유(5)의 표면에 부착된 수분의 영향에 의한 헌팅현상(hunting phenomenon)에 의해서 수분 등의 검출의 경우에 파형이 플러스측으로 변화되므로, AM 검파신호(S1)만으로는 도전성 물질과 수분 등과를 엄밀히 식별할 수가 없다.
그러므로, 신호(S1및 S2)들은 다음 단의 합성파 발생기(8)에 입력되어서 양 신호(S1및 S2)의 파형의 변화 시점에서 등기하여 양 신호들이 합성된다. 결과적으로, 합성파 발생기(8)의 출력 신호(S3)에 있어서, 제4도(C)에 도시된 바와 같이 신호(S1및 S2)에 있어서 위상이 동상(파형(22 및 23))인 전도성 물질의 검출시에는 가산된 파형(26)이 생기며, 반대로 위상이 180°반전(파형(24 및 25))되어 있는 수분 등의 검출시에는 양 신호는 서로 상쇄되어 본질적으로 어떠한 파형도 생기지 않는다. 또한, 출력 신호(S3)의 경우에는, 파형이 약간 생기더라도, 이것은 상기 파형(26)과 분명하게 구별이 된다. 상술한 바와 같이, 발진 코일(1)의 인덕턴스는 도전성 물질의 검출 또는 수분 등만의 검출의 어느 경우이던지 변화된다. 그러나, 본 실시예의 검출 장치는 신호의 변화를 AM 검파신호(S1)와 FM 검파신호(S2)에 있어서의 진폭 및 주파수의 변화로써 검출하며, 또한 양 검출신호(S1및 S2)를 합성파 발생기(8)에 의해서 서로 합성하도록 구성되므로 전도성 물질의 검출만을 오인함이 없이 엄밀하게 행할 수가 있다.
상기와 같이하여 얻어진 신호(S3)는 그후 교류 증폭기(9)에 의해 소요 레벨가지 증폭되며, 이 증폭된 신호(S4)는 비교기(10)에 가해져서 기준 전압 V0과 비교된다. 신호(S4)가 기준 전압 V0보다 큰 경우에는, 도전성 물질 검출신호(S5)가 발생된다. 신호(S5)는 다음단의 경보 장치(12)에 제공되어서, 작업자에게 도전성 물질의 검출을 알린다. 동시에, 신호(S5)는 자동 제거장치(13)에 보내어져서, 자동 제거장치(13)에 의해서, 전도성 물질을 함유하는 유리 섬유의 부분을 커터로써 절단하여 제거하는 처리를 행한다. 그후, 작업자는 절단된 유리 섬유를 다시 접속한다. 상기 작업의 모든 단계들을 신호(S5)를 사용하므로써 자동화 할 수 있다.
상기 실시예에서는 코일이 리액턴스 소자로 사용되었다. 코일의 형태는 임의로 변형하여도 된다. 또한, 코일을 대신하여, 소정의 형태를 갖는 캐패시터를 사용하여도 된다. 더우기, 본 발명에 의하면, 유리 섬유 중에 함유된 도전성 물질의 최소 직경이 0.5㎛이고 최소 길이가 0.5mm인 것까지 검출해 낼 수가 있다.
특히, 본 발명에 따른 검출 장치에 있어서, 제조 공정의 각 단계에서 도전성 물질의 존재 유무를 유리 섬유의 모든 부분에 대하여 체크할 수가 있다.
그러나, 본 발명에 따른 검출 장치에 있어서, 유리 섬유와 검출 장치에 포함된 리액턴스 소자가 상대적으로 이동하는 관계에 있음이 반드시 필요한 것은 아니다. 리액턴스 소자의 근방에 유리 섬유가 정지 상태로 배치되어 있더라도 유리 섬유중에 도전성 물질이 함유되어 있으면, 본 발명에 따른 검출 장치는 도전성 물질을 검출할 수 있다.
다음에, 실제로 본 발명에 따른 검출 장치를 적용한 예에 관하여 설명한다. 제2도에 보인 바와 같이, 케이크(3)와 리와인더의 스핀들(14) 사이에 길이가 7mm이고 내경이 5mm인 원통형 발진 코일(1)이 배치되며, 발진 코일(1)의 내부 공간을 통해서 유리 섬유(5)가 주행된다. 발진 코일(1)은 제1도에 보인 바와 같이 구성되어서, 유리 섬유(5)중에 함유된 도전성 물질(주로, 황화철, 황화 니켈, 크롬, 철, 니켈, 구리 또는 금)에 대응하는 인덕턴스의 변화를 전압 신호(S4)의 변화로써 검출한다. 유리 섬유(5)는 예를 들면 100m/분의 속도로 주행하고 있었다. K[mm]의 길이를 갖는 도전성 물질이 유리 섬유(5)중에 함유되었을 때 L[mV]의 전압치를 갖는 합성파 신호(S3)가 발생된 것으로 가정한다. 이 신호(S3)는 교류 증폭기(9)에 의해서 94dB로 증폭되고, 길이가 0.5mm인 도전성 물질을 검출할 수 있도록 기준 전압 V0를 설정한 비교기(10)에 보내어진다. 기준 전압 V0보다 큰 값의 신호(S4)가 비교기(10)에 가해졌을 때, 비교기(10)로부터 신호(S5)가 출력된다. 자동 제거장치(13)는 작동되어서 도전성 물질이 함유된 유리 섬유의 부분을 절단 제거한다. 그후, 작업자는 스핀들(14)을 정지시켜서 유리 섬유의 접속 등의 그후 처리를 행한다. 이 경우에, 릴레이를 통해서 도전성 물질이 검출된 시각, 절단 등의 작업 시간 등을 기록하는 프린터 등을 동작시키도록 구성하여도 된다. 프린터에 의해 기록된 데이타는 작업 효율의 연구에 이용된다. LG 발진기(2)에 사용된 주파수는 30MHz였다. 하기의 표는 실험의 결과를 나타낸다.
Figure kpo00001
이상의 설명으로부터 밝힌 바와 같이, 본 발명에 따른 검출 장치는, 소정의 발진 상태에 세트된 발진기의 구성 요소를 이루는 리액턴스 소자를 유리 섬유의 제조 공정중에 배설하여, 유리 섬유중의 도전성 물질과 리액턴스 소자의 상호 작용에 의해 발진기의 발진 상태의 변화에 의거하여 도전성 물질을 검출하도록 구성되어 있으므로, 유리 섬유를 주행시킨 상태하에서 유리 섬유에 부착된 수분 등의 영향을 배제하고, 유리 섬유중에 편재한 도전성 물질만을 간단하고도 정밀하게 검출할 수 있다. 또한, 극히 미세한 도전성 물질일지라도 검출할 수 있다. 더우기, 모든 유리 섬유에 대하여 검사하는 전수 검사를 행할 수가 있다. 따라서, 불량한 유리 섬유의 부분을 전부 제거할 수 있다는 효과를 발휘한다. 본 발명에 의해, 본 발명에 따른 구성에 의해 발휘할 수 있는 다른 다양한 효과를 얻을 수 있음은 명백하다.

Claims (11)

  1. 유리 섬유가 비교적 고속으로 이동하는 조건하에서 이 유리 섬유에 극히 소량으로 포함된 미세한 도전성 물질을 검출하는 방법에 있어서, 소정의 진동 진폭과 비교적 높은 주파수의 범위에 있는 소정의 진동주파수를 갖는 발진 상태에 있는 리액턴스 소자를 포함하는 발진기를 제공하는 단계 ; 검출된 도전성 물질을 포함하고 있는 상기 유리 섬유를 리액턴스 소자 근방으로 이동시키는 단계 ; 상기와 같은 유리 섬유의 이동에 대응해 상기 진동 진폭과 진동 주파수의 순간적인 변화를 검출하는 단계로, 대응하는 값은 이 값과 비교해서 증가 또는 감소하는 방향의 다른 값으로 변하고, 그리고 진동 진폭에서의 검출된 변화의 방향과 진동 주파수에서 동시적으로 검출된 변화가 언제 서로 일치하는 가를 탐지함으로써, 발진 상태에서의 검출변화가 유리 섬유에 포함된 도전성 물질에 기인된 것임을 동시에 결정하여 이러한 도전성 물질의 존재를 순간적으로 결정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 유리 섬유중의 도전성 물질의 검출 방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 소정의 값으로부터 다른 값으로 진폭에 있어서의 순간적인 변화의 검출이 AM 검출로 수행되면, 상기 소정의 값으로부터 다른 값으로 주파수에 있어서의 순간적인 변화의 검출이 FM 검출로 수행되는 것을 특징으로 하는 방법.
  3. 제1항에 있어서, 검출되는 도전성 물질이 유리 섬유의 축방향으로 2mm 이하의 길이를 갖는 것을 특징으로 하는 방법.
  4. 제1항에 있어서, 상기 주파수의 범위가 10 내지 50MHz인 것을 특징으로 하는 방법.
  5. 제1항에 있어서, 상기 소정의 주파수가 약 30MHz인 것을 특징으로 하는 방법.
  6. 제1항에 있어서, 상기 유리 섬유의 속도가 100m/min인 것을 특징으로 하는 방법.
  7. 유리 섬유가 비교적 고속으로 이동하는 조건하에서 이 유리 섬유에 극히 소량으로 포함된 미세한 도전성 물질을 검출하는 방법에 있어서, 상기 유리 섬유의 이동부 근방에 위치하도록 배치된 리액턴스 소자, 상기 리액턴스 소자를 회로 부품으로서 포함하며, 소정 진폭 값과 비교적 높은 주파수 범위에 존재하는 소정 진동 주파수 값을 갖는 발진 상태로 설정된 LG 발진기, 상기 LG 발진기로부터의 출력 신호의 소정 진폭 값으로부터 이 소정 진폭값에 대해 증가 또는 감소하는 방향의 상이한 값으로의 순간적인 변화를 검출하고, 이 순간 진폭 변화의 검출에 응답하여 AM 검출신호를 발생시키도록 상기 발진기에 접속된 AM 검파기, 상기 LG 발진기로부터의 출력 신호의 소정 진동 주파수값으로부터 이 소정 진동 주파수값에 대해 증가 또는 감소하는 방향의 상이한 값으로의 순간적인 변화를 검출하고, 이 순간 주파수 변화의 검출에 응답하여 FM 검출신호를 발생시키도록 상기 발진기에 접속된 FM 검파기, 상기 AM 검출신호와 FM 검출신호를 합성하고 합성신호를 발생시키는 합성파 발생기, 및 상기 합성 신호를 기준값과 비교하고, 진폭의 검출된 변화값과 진동 주파수의 검출된 변화값이 동일 방향인 진폭과 진동 주파수의 합과 상기 합성신호가 같을 때 도전성 물질 검출신호를 발생시키는 것을 특징으로 하는 장치.
  8. 제7항에 있어서, 상기 리액턴스 소자가 코일을 포함하는 것을 특징으로 하는 장치.
  9. 제8항에 있어서, 상기 유리 섬유가 상기 코일이 공간 내부를 관통하도록 배치된 것을 특징으로 하는 장치.
  10. 제8항에 있어서, 상기 코일은 그의 직경이 3-10mm이고 그의 길이가 3-10mm인 것을 특징으로 하는 장치.
  11. 제7항에 있어서, 상기 기준값은 검출되는 도전성 재료의 길이에 대해 소정값으로 조정가능한 것을 특징으로 하는 장치.
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