KR950014751B1 - 디지탈 아이씨 출력특성 측정장치 - Google Patents

디지탈 아이씨 출력특성 측정장치 Download PDF

Info

Publication number
KR950014751B1
KR950014751B1 KR1019930026423A KR930026423A KR950014751B1 KR 950014751 B1 KR950014751 B1 KR 950014751B1 KR 1019930026423 A KR1019930026423 A KR 1019930026423A KR 930026423 A KR930026423 A KR 930026423A KR 950014751 B1 KR950014751 B1 KR 950014751B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
digital
output
voltage
measured
current
Prior art date
Application number
KR1019930026423A
Other languages
English (en)
Other versions
KR950019750A (ko
Inventor
김진호
Original Assignee
대우전자주식회사
배순훈
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 대우전자주식회사, 배순훈 filed Critical 대우전자주식회사
Priority to KR1019930026423A priority Critical patent/KR950014751B1/ko
Publication of KR950019750A publication Critical patent/KR950019750A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR950014751B1 publication Critical patent/KR950014751B1/ko

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/02Measuring effective values, i.e. root-mean-square values

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

내용 없음.

Description

디지탈 아이씨 출력특성 측정장치
제1도는 본 발명에 따른 회로도.
제2a도는 디지탈 IC 출력이 "하이"레벨시 전압/전류 출력 특성을 측정하기 위한 구성도, (b)는 (a)의 전압/전류 출력특성을 나타낸 그래프.
제3a도는 디지탈 IC 출력이 "로우"레벨시 전압/전류 출력 특성을 측정하기 위한 구성도, (b)는 (a)의 전압/전류 출력 특성을 나타낸 그래프.
제4도는 본 발명에 따른 순서도이다.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
1 : 중양제어 및 처리수단 2 : 인터페이스 유니트(Interface Unit)
3 : 디지탈 출력 유니트(Digital output Unit)
4 : 아날로그/디지탈 변환기(Analog/Digital Converter)
5 : 멀티플렉서(Multiplexer) 6 : 피측정 디지탈 IC
7 : 디지탈/아날로그 변환기(Digital/Analog Converter)
8 : 전압/전류 변환기 OP1,OP2: 증폭기(Amplifier)
R1-R5: 저항(Resistance)
본 고안은 디지탈 아이씨의 동작에 따른 출력특성 측정을 자동화하여 측정속도와 측정 신뢰도를 높일 수 있도록 한 디지탈 아이씨 출력특성 측정장치에 관한 것이다.
전자제품에 구성되어져 제품의 기능을 제어하는 디지탈 아이씨의 기능을 측정하여 전자제품에 구성되어져 디지탈 아이씨의 기능을 완벽하게 수행할 수 있도록 하고 있다.
즉, 디지탈 아이씨의 특성에 맞게 전자제품을 설계하거나 전자제품의 효능이나 기능등을 제한할 수 있도록 하고 있다.
이때 디지탈 아이씨의 기능측정은 디지탈 아이씨의 입력단에 임의의 신호를 가하여 출력이 "하이" 혹은 "로우"레벨로 출력될때 디지탈 아이씨의 양단 전압/전류를 측정함으로 디지탈 아이씨의 특성을 측정한다.
종래에는 이같이 측정하는 디지탈 아이씨의 전압/전류 특성을 외부로부터 디지탈 아이씨 입력단에 임의의 신호로부터 디지탈 아이씨의 출력이 "로우"레벨 혹은 "하이"레벨이 되로록 조정하고 디지탈 아이씨의 출력단 출력이 "하이" 혹은 "로우"레벨인지 확인한 후 전류계나 전압계를 이용하여 전류와 전압을 측정하고 있다.
따라서 디지탈 아이씨 특성을 측정하는데 외부로부터 다수의 기기가 투입되어져야함은 물론이고 모든 측정을 수작업에 의해 반복 수행함으로 측정 시간이 장시간에 거쳐 이루어지며 측정 전류/전압값에도 오차가 발생하는 등의 문제점을 가지고 있었다.
따라서 본 발명은 상기한 바와같은 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로 디지탈 아이씨의 출력이 "하이" 혹은 "로우" 레벨을 갖도록 디지탈 입력단 입력을 가하고 디지탈 아이씨의 출력단 출력 전압을 자동 측정할 수 있도록 한 디지탈 아이씨 출력특성 특정장치를 제공하는데 목적이 있다.
이를 실현하기 위한 본 발명 디지탈 아이씨 출력특성 측정장치는 측정하고자 하는 피측정 디지탈 아이씨(Digital Integrated Circuit)의 동작상태를 설정하고 상기 동작된 피측정 디지탈 아이씨에 입출력 되어지는 전압 및 전류를 처리하도록 구성된 것이다.
이하 본 발명의 구성 및 동작효과를 첨부된 도면에 의하여 보다 자세히 설명하면 다음과 같다.
본 발명 디지탈 아이씨 출력특성 측정장치는 제1도에서와 같이 디지탈 출력 유니트(3)에 피측정 디지탈 아이씨(6)와 멀티플렉서(5)의 구동을 제어하는 구동제어데이타를 출력하고, 디지탈/아날로그 변환기(7)에 전압을 출력시키며 피측정 디지탈 아이씨(6)의 전압 및 전류를 검출하는 중앙제어 및 처리수단(1)과, 상기 중앙제어 및 어리수단(1)의 구동제어 데이타에 따라 피측정 디지탈 아이씨(6)의 동작상태를 전환시키는 한편 멀티플렉서(5)의 구동을 제어하는 디지탈 출력 유니트(3)와, 상기 디지탈 출력유니트(3)의 제어로 스위칭 동작하여 피측정 디지탈 아이씨(6)의 출력단을 선택하는 멀티플렉서(5)와, 디지탈/아날로그 변환기(7)의 전압 출력을 전류값으로 변환시키는 전압/전류 변환기(8)와, 상기 전압/전류 변환기(8)와 피측정 디지탈 아이씨(6)에 입출력되는 출력 전압을 디지탈 값으로 변환시켜 중앙제어 및 처리수단(1)에 인가시키는 아날로그/디지탈 변환기(4)로 구성되어 진다.
도면중 미설명 부호 OP1, OP2는 증폭기(Amplifier)이고, R1-R5는 저항 (Resistance)이다.
이같이 구성된 본 발명은 중앙제어 및 처리수단(1)에서 피측정 디지탈 아이씨(6)의 동작상태(출력상태 ; "로우" 혹은 "하이") 및 멀티플렉서(5)의 스위칭 상태를 결정하기 위하여 구동제어 데이타를 인터페이스 유니트(2)를 통하여 디지탈 출력 유니트(3)에 출력되는 한편 디지탈/아날로그 변환기(7)에는 피측정 디지탈 아이씨(6)에 구동에 필요한 전압과 동일한 레벨의 전압을 출력한다.
중앙제어 및 처리수단(1)으로부터 구동제어 데이타가 인가된 디지탈 출력유니트(3)에서는 피측정 디지탈 아이씨(6)의 동작 상태가 출력단 출력이 "하이"레벨 혹은 "로우"레벨이 되도록 구동시키는 한편 피측정 디지탈 아이씨(6)의 출력단(a-e)중 임의의 출력단을 선택할 수 있도록 멀티플렉서(5)의 스위칭 동작을 제어한다.
그리고 중앙 제어 및 처리수단(1)으로부터 디지탈 전압을 인가받는 디지탈/아날로그 변환기(7)에서 아날로그 값으로 변환된 전압이 인가된 전압/전류 변환기(8)에서는 전압값에 대응하는 전류값을 변환시켜 아날로그/디지탈 변환기(4) 및 피측정 디지탈 아이씨(6)의 출력단(a-e)을 선택하는 멀티플렉서(5)의 일단(f)에 인가시킨다.
이에 따라 아날로그/디지탈 변환기(4)에는 피측정 디지탈 아이씨(6)의 출력레벨과 멀티플렉서(5)의 스위칭 동작에 따른 피측정 디지탈 아이씨(6)에서 피측정 디지탈 아이씨(6)로 입력되어지는 전압/전류 변환기(5)의 출력이나 피측정 디지탈 아이씨(6)에서 출력되어져 전압/전류 변환기(5)으로 흐르는 출력이 인가되어져 디지탈 전압으로 변환되어 인터페이스 유니트(2)를 통하여 중앙제어 및 처리수단(1)에 유입되어 진다.
따라서 중앙제어 및 처리수단(10)에서는 디지탈/아날로그 변환기(7)와 디지탈 출력 유니트(3)를 통하여 피측정 디지탈 아이씨(6)에 인가되어진 후 피측정 디지탈 아이씨(6)의 출력레벨과 출력단(a-e) 선택에 따라 선택되어져 아날로그/디지탈 변환기(4)를 통하여 디지탈 값으로 변환되어져 유입되어진 전압을 피측정 디지탈 아이씨(6)의 약한 전압으로 인지하고 이때 중앙제어 및 처리수단(1)으로부터 출력되어진 전압에 대한 전류값을 피측정 디지탈 아이씨(6)에 입, 출력되는 전류값으로 검출함으로 피측정 디지탈 아이씨(6)의 동작상태와 출력단(a-e)를 임의로 결정되어 출력특성을 측정할 수 있다.
즉, 본 발명 디지탈 아이씨 특성 측정 장치를 이용하면 제2a도에서와 같이 피측정 디지탈 아이씨(101)의 출력레벨이 "하이" 레벨에서는 부하(102)로 출력되어지는 디지탈 아이씨(101)의 출력전류(IOR)와 부하 양단에 걸리는 전압(VH)을 측정하여 제2a도와 같은 출력특성 곡선을 구할 수 있다.
피측정 디지탈 아이씨(103)의 출력레벨이 "로우" 레벨에서는 부하(104)를 통하여 피측정 디지탈 아이씨(103)에 유입되는 전류(IOC)와 부하(104) 양단에 걸리는 전압(VL)을 측정하여 제3b도와 같은 출력 특성 곡선을 구할 수 있다.
여기서 제2도 및 제3b도에서와 같이 나타낸 출력 전류(IOC)(IOH)와 출력전압(VL)(VH)의 그래프 중 특성곡선의 기울기기 큰 값을 가지고 변환되어져 출력되는 경우에는 피측정 디지탈 아이씨의 특성이 나쁜것을 나타내며 특성곡선의 기울기가 작은 값을 가지고 변환되어져 출력되는 경우에는 피측정 디지탈 아이씨의 특성이 양호한 상태임을 알 수 있다.
즉, 피측정 디지탈 아이씨의 사용가능한 전압 및 전류레벨 구역이 기울기가 완만하면 넓어지고 기울기가 급경사를 이루고 있을 때에는 좁은 범위에서만 사용가능한 것을 알 수 있다.
이같은 피측정 디지탈 아이씨 출력특성을 측정하는 본 발명을 제4도에 의해 좀더 살펴보면 다음과 같다.
중앙제어 및 처리수단(1)의 구동제어 데이타가 디지탈 출력 유니트(3)의 제어로 스위칭 동작하는 멀티플렉서(5)에 의하여 피측정 디지탈 아이씨(6)의 출력단(a-e)중 출력특성을 측정하고자 하는 출력단을 선택한다.
피측정 디지탈 아이씨(6)의 출력단(a-e)중 임의의 출력단은 멀티플렉서(5)에 의해 선택한 후 피측정 디지탈 아이씨(6)의 출력단 출력상태가 "하이" 레벨로 출력되도록 중앙제어 및 처리수단(1)에서는 인터피이스 유니트(2) 및 지지탈 출력유니트(3)를 통하여 구동제어 데이타를 피측정 디지탈 아이씨(6)에 인가시킨다.
피측정 디지탈 아이씨(6)의 출력이 "하이" 레벨이 되도록 구동 제어 데이타를 피측정 디지탈 아이씨(6)에 인가한 중앙제어 및 처리 수단(1)에서는 출력 전류(IO)를 제로(0) 상태로 세팅시키고 이때 아날로그/디지탈 변환기(4)를 통하여 디지탈 값으로 변환되어져 중앙제어 및 처리수단(1)에 인가되어지고 전압은 중앙제어 및 처리수단(1)내측에 구성되어진 기억소자(저항소자)에 기억시킨다.
이같은 출력 전류(IS)와 출력전압 값을 측정하여 기억소자에 저장하고 동작은 출력전류(IO)가 최소값(Imin)이 되기까지 출력전류(IO)값은 일정 레벨(α)씩 감소시켜 가면서 변화하는 출력전압을 측정하여 기억소자에 저장시킨다.
피측정 디지탈 아이씨(6)의 한 출력건에 대해 출력단 출력상태가 "하이" 레벨상태에서 출력전류(IO)가 최저값이 되기까지 출력 전압을 측정하여 기억소자에 기억시킨 후 피측정 디지탈 아이씨(6)의 출력단 출력이 "로우"레벨이 되도록 중앙제어 및 처리수단(1)의 구동제어 데이타를 인터페이스 유니트(2) 및 디지탈 출력 유니트(3)를 통하여 피측정 디지탈 아이씨(6)에 인가시켜 피측정 디지탈 아이씨(6)를 구동 피측정 디지탈 아이씨(6)의 출력이 "로우"레벨이 되도록 구동 제어 데이타를 피측정 디지탈 아이씨(6)에 인가한 중앙제어 및 처리수단(1)에서는 출력 전류(IO)를 제로(0) 상태로 세팅시키고 이때 아날로그/디지탈 변환기(4)를 통하여 디지탈 값으로 변환되어져 중앙 제어 및 처리수단(1)에 인가되어지는 전압을 중앙제어 및 처리수단(1) 내측에 구성되어진 기억소자(저항소자)에 기억시킨다.
이같은 출력전류(IO)와 출력전압 값을 측정하여 기억소자에 저장하고 동작은 출력전류(IO)가 최대값(Imax)이 되기까지 출력전류(IO) 값은 일정레벨(α)씩 증가시켜 가면서 변화하는 출력전압을 측정하여 기억소자에 저장시킨다.
이같이 하여 피측정 디지탈 아이씨(6)의 한 출력단에 대한 출력 전류/전압 특성을 기억소자에 기억한 중앙제어 및 처리수단(1)에서는 인터페이스 유니트(2) 및 디지탈 출력 유니트(3)을 통하여 멀티플렉서(5)의 스위칭 소자를 절환 시키는 구동제어 데이타를 멀티플렉서(5)에 인가시켜 피측정 디지탈 아이씨(6)의 출력단(a-e)를 절환선택된다.
피측정 디지탈 아이씨(6)의 출력단을 절환한 후에는 위에서 설명한 바와같은 전류/전압 측정 동작을 반복 수행하며 이같은 전류/전압 측정은 피측정 디지탈 아이씨의 모든 단자(출력단)에 대하여 이루어지기까지 반복하여 이루어진다.
특히 이같이 측정된 피측정 디지탈 아이씨의 출력 전압/전류 값은 중앙제어 및 처리수단(1)에 모니터를 연결하여 디스플레이 시키거나 인쇄매체를 이용하여 프린팅함으로써 보다 높은 효과를 가져올 수 있다.
상술한 바와같이 본 발명은 전류/전압 출력 특성을 측정하고자 하는 피측정 디지탈 아이씨의 출력레벨 상태를 설명하고 출력 상태가 결정되어진 피측정 디지탈 아이씨의 출력 전압과 출력 전류를 전류값은 증가/감소시켜 가면서 측정하여 저장소자에 저장시켜 출력매체를 출력시킴으로서 디지탈 아이씨에 대한 전류/전압 특성을 빠른 시간에 정확하게 측정할 수 있는 효과가 있다.

Claims (1)

  1. 디지탈 출력 유니트(3)에 피측정 디지탈 아이씨(6)와 멀티플렉서(5)의 구동을 제어하는 구동제어 데이타를 출력하고, 디지탈/아날로그 변환기(7)에 전압을 출력시키며, 피측정 디지탈 아이씨(6)의 전압 및 전류를 검출하는 중앙제어 및 처리수단(1)과, 상기 중앙제어 및 처리수단(1)의 구동제어 데이타에 따라 피측정 디지탈 아이씨(6)의 동작상태를 전환시키는 한편 멀티플렉서(5)의 구동을 제어하는 디지탈 출력 유니트(3)와, 상기 디지탈 출력유니트(3)의 제어로 스위칭 동작하여 피측정 디지탈 아이씨(6)의 출력단을 선택하는 멀티플렉서(5)와, 디지탈/아날로그 변환기(7)의 전압 출력을 전류값으로 변환시키는 전압/전류 변환기(8)와, 상기 전압/전류 변환기(8)와 피측정 디지탈 아이씨(6)에 입출력되는 출력 전압을 디지탈 값으로 변환시켜 중앙제어 및 처리수단(1)에 인가시키는 아날로그/디지탈 변환기(4)로 구성되어진 특징을 갖는 디지탈 아이씨 출력특성 측정장치.
KR1019930026423A 1993-12-03 1993-12-03 디지탈 아이씨 출력특성 측정장치 KR950014751B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019930026423A KR950014751B1 (ko) 1993-12-03 1993-12-03 디지탈 아이씨 출력특성 측정장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019930026423A KR950014751B1 (ko) 1993-12-03 1993-12-03 디지탈 아이씨 출력특성 측정장치

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR950019750A KR950019750A (ko) 1995-07-24
KR950014751B1 true KR950014751B1 (ko) 1995-12-14

Family

ID=19369866

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019930026423A KR950014751B1 (ko) 1993-12-03 1993-12-03 디지탈 아이씨 출력특성 측정장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR950014751B1 (ko)

Also Published As

Publication number Publication date
KR950019750A (ko) 1995-07-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR950010295B1 (ko) 자동기능선택 멀티미터
US5754041A (en) Device for measuring voltage/current characteristics with means to prevent output transients during changes in settings
KR19990067608A (ko) 가변전압 컴포넌트 검사장치
GB2336217A (en) Method of measuring current while applying a voltage and apparatus therefor
US6194911B1 (en) Integrated circuit tester with compensation for leakage current
US6255839B1 (en) Voltage applied type current measuring circuit in an IC testing apparatus
US4408128A (en) Electric resistance type wide range moisture meter
JP4977013B2 (ja) 電力印加回路、及び試験装置
TWI409484B (zh) 電壓/電流源及具有電壓/電流源之測試系統
KR0181997B1 (ko) 에이디변환기 및 에이디변환기의 테스트방법
KR950014751B1 (ko) 디지탈 아이씨 출력특성 측정장치
CN1244924A (zh) 施加电压测定电流的方法及装置
KR100733256B1 (ko) 시험장치
US6194910B1 (en) Relayless voltage measurement in automatic test equipment
JPH11326441A (ja) 半導体試験装置
US3212001A (en) Electrical circuit for testing the current-voltage relationship of electrical devices
US3440530A (en) Method and apparatus for measuring the resistance of an electrical component which may be shunted by a semiconductor device
JP2007178257A (ja) 計測装置
JPS60253883A (ja) 定電流負荷兼定電圧印加電流測定器
KR0168067B1 (ko) 제너다이오드의 동작검사장치
JP2562547Y2 (ja) 抵抗測定装置
KR0154431B1 (ko) 인쇄회로기판의 오픈쇼트 측정장치
JP2554575B2 (ja) 素子特性値測定装置
KR910002573Y1 (ko) 피.씨.비.자동 검사장치의 다이오드 측정회로
JPH07183346A (ja) 半導体テスト装置

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
G160 Decision to publish patent application
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20001128

Year of fee payment: 6

LAPS Lapse due to unpaid annual fee