KR950006442Y1 - 반도체 패키지용 리드프레임 - Google Patents
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Abstract
내용 없음.
Description
제 1 도는 일반적인 반도체 패키지용 리드프레임의 구조를 보인 평면도.
제 2 도 및 제 3 도는 종래 리드프레임의 패들구조를 보인 도면으로서, 제 2a, b 도는 일반적인 다이 패들의 구조를 보인 평면도.
제 3a, b 도는 신뢰성 확보를 위한 십자형 슬릿이 형성된 종래 기술에 의한 다이 패들의 구조를 보인 평면도 및 제 3a 도의 B-B선 단면도.
제 4 도 및 제 5 도는 본 고안에 의한 반도체 패키지용 리드프레임의 요부구조를 보이는 도면으로서, 제 4 도는 리드프레임의 패들위에 반도체 칩이 탑재된 상태의 평면도.
제 5 도는 제 4 도의 C-C선 단면도.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
2 : 패들(paddle) 7 : 반도체 칩(chip)
8 : 슬릿(slit) 9 : 에폭시 접착제
11 : 사각 요홈부
본 고안은 반도체 패키지용 리드프레임(Lead frame)에 관한 것으로, 특히 반도체 칩(chip)이 부착 고정되는 다이 패들(Die paddle)에 도포되는 에폭시(Epoxy) 접착제의 퍼짐을 방지하기 위한 수개의 사각 요홈부를 형성하여, 다이 본딩(Die Bonding)의 품질을 높임과 아울러 패키지의 신뢰성 향상에 적합하도록 한 반도체 패키지용 리드프레임에 관한 것이다.
일반적인 반도체 패키지용 리드프레임은 제 1 도에 도시한 바와 같이, 사이드 레일(side rail)(1)(1')의 내측에 반도체 칩이 부착 고정되는 패들(2)이 타이 바(Tie Bar)(3)(3')에 의하여 지지되고, 상기 반도체 칩에 와이어 본딩(Wire bonding)되는 다수개의 인너리드(Inner Lead)(4) 및 아웃 리드(Out Lead)(5)는 댐 바(Dam Bar)(6)에 의하여 지지된 구조로 되어 있다.
상기 패들(2)은 제 2 도 및 제 3 도에 도시한 바와 같이, 채용되는 반도체 칩(7)보다 좀 더 큰 외곽크기를 갖는 사각형의 금속판재로 형성되어 있고, 통상 제 2 도와 같은 표면이 매끄러운 일반적인 구조와, 제 3 도와 같이 신뢰성 보강을 위한 수개(도시예에서는 4개) 슬릿(slit)이 십자(+)형태로 구조가 알려지고 있으며, 일본공개실용신안 공보 소60-181051호는 제 2 도에 도시한 신뢰성 보강을 의한 리드 프레임의 다른 예를 보이고 있다.
상기한 바와 같은 리드프레임을 이용하여 반도체 패키지를 제조함에 있어서는 먼저 리드프레임의 패들(2)위에 반도체 칩(7)을 에폭시 접착제(9)를 이용하여 부착 고정하고, 다수개의 인너 리드(4)와 반도체 칩(7)을 금속 와이어로 접속하여 전기적으로 연결하며, 이후 외부환경으로 보호하기 위한 몰딩공정을 행하고, 소정시간 경화시킨 다음, 통상적인 트림 및 포밍공정과, 플래팅공정의 순으로 제조하게 된다.
그러나, 상기한 바와 같은 종래의 패들구조가 적용된 리드프레임을 이용하는 반도체 패키지 제조기술에 위하면, 리드프레임의 패들(2)에 바도체 칩(7)을 에폭시 접착제(9)로 접착하는 다이 본딩 공정시, 공정조건에 의한 에폭시 블리드 아웃(Epoxy Bleed Out) 및 에폭시 온 다이(Epoxy On Die)등의 불량이 발생되어, 패키지의 신뢰성 저하문제가 유발되는 결함이 있었고, 또한 신뢰성 강화를 위한 십자형 슬릿(8)이 형성된 패들(2) 구조에서는 저점도에 의한 불량과다로 상기한 일반적인 에폭시 접착제(9)를 사용할 수 없고 접착성능이 우수한 고가의 고점도 접착제를 이용해야만 하는 단점이 있었다.
본 고안은 상기한 바와 같은 종래의 결함을 해소하기 위하여 안출한 것으로 신뢰성 강화를 위한 십자형 슬릿이 형성된 패들에 에폭시 접착제의 과도한 퍼짐 현상을 방지하기 위한 수개의 사각요홈부를 형성하여 다이 본딩시의 에폭시 접착제 퍼짐 불량을 현저히 저감시키고, 저감도의 에폭시 접착제를 사용할 수 있도록 한 반도체 패키지용 리드프레임을 제공하는 데 목적이 있다.
이하, 상기한 바와 같은 본 고안에 의한 반도체 패키지용 리드프레임을 첨부한 도면에 의거하여 보다 상세히 설명한다.
제 4 도는 본 고안에 의한 반도체 패키지용 리드프레임의 패들에 반도체 칩이 탑재된 상태의 평면도이고, 제 5 도는 제 4 도의 C-C선 단면도로서 이에 도시한 바와 같이, 리드프레임의 패들(2) 상면에 반도체 칩(7)이 에폭시 접착제(9)의 개재하에 부착 고정되어 있으며, 상기 패들(2)에는 신뢰성 강화를 위한 십자형 슬릿(8)과, 에폭시 접착제(9)의 과도한 퍼짐을 방지하기 위한 수개(도시예에서는 4개)의 사각 요홈부(11)가 형성되어 있다.
즉, 본 고안에 의한 반도체 패키지용 리드프레임은 신뢰성 강화를 위한 수개(도시예에서는 4개)의 슬릿(8)이 십자형태로 배열된 패들(2)내에 에폭시 접착제(9)의 과도한 퍼짐을 방지하기 위한 적어도 한개 이상의 사각 요홈부(11)를 형성하여 구성한 것으로 도면에서 종래구성과 동일한 부분에 대해서는 동일부호를 부여하였다.
상기 사각 요홈부(11)는 십자형태로 배열된 슬릿(8)의 사이사이에 1~4개 정도로 분할 형성함이 바람직하고, 사각요홈부(11)의 깊이는 패들(2) 두께의 10~90% 이내로 형성함이 바람직하다.
이와 같이 구성된 본 안에 의한 반도체 패키지용 리드프레임을 이용하여 반도체 패키지를 제조하는 과정은 종래와 같이, 리드프레임의 패들(2)위에 반도체 칩(7)을 에폭시 접착제(9)를 이용하여 부착 고정하고, 와이어 본딩 공정과, 몰딩 공정과, 통상적인 트림 및 포밍 공정과, 플래팅 공정의 순으로 제조하게 되는데, 이때 본 고안에 의한 리드프레임을 이용함으로써, 다이 본딩 공정시, 다이 부착장치의 노즐(Nozzle)(도시되지 않음)로부터 분사된 에폭시 접착제(9)가 리드프레임의 사각 요홈부(11)에 의해 과도하게 퍼지는 현상을 방지할 수 있는 것이다.
이상에서 상세히 설명한 바와 같이 본 고안에 의한 반도체 패키지용 리드프레임은 반도체 칩이 부착 고정되는 패들내에 에폭시 접착제의 과도한 퍼짐 현상을 방지하기 위한 수개의 사각 요홈부를 형성함으로써, 이 사각 요홈부에 의하여 다이 본딩 에폭시 접착제의 퍼짐 불량이 현저히 감소되고, 이에 따라 에폭시 접착제가 반도체 칩의 상면으로 올라가는 에폭시 온 다이(Epoxy On Die) 불량을 방지할 수 있으며, 특히 신뢰성 확보를 위하여 십자형 슬릿을 채택한 다이 패드 경우에도 종래와는 달리 저점도의 에폭시 접착제를 사용할 수 있다는 효과가 있다.
Claims (2)
- 반도체 칩(7)이 부착 고정되는 패들(2)내에 신뢰성 강화를 위한 수개의 슬릿(8)을 형성한 것에 있어서, 상기 슬릿(8)에 의하여 구획된 패들(2)의 상면에 수개의 사각 요홈부(11)를 형성하여 구성함을 특징으로 하는 반도체 패키지용 리드프레임.
- 제 1 항에 있어서, 상기 사각 요홈부(11)의 깊이는 패들(2) 두께의 10~90% 이내로 형성됨을 특징으로 하는 반도체 패키지용 리드프레임.
Priority Applications (1)
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KR92008257U KR950006442Y1 (ko) | 1992-05-14 | 1992-05-14 | 반도체 패키지용 리드프레임 |
Applications Claiming Priority (1)
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KR92008257U KR950006442Y1 (ko) | 1992-05-14 | 1992-05-14 | 반도체 패키지용 리드프레임 |
Publications (2)
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KR930026525U KR930026525U (ko) | 1993-12-28 |
KR950006442Y1 true KR950006442Y1 (ko) | 1995-08-10 |
Family
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Family Applications (1)
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KR92008257U KR950006442Y1 (ko) | 1992-05-14 | 1992-05-14 | 반도체 패키지용 리드프레임 |
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KR (1) | KR950006442Y1 (ko) |
-
1992
- 1992-05-14 KR KR92008257U patent/KR950006442Y1/ko not_active IP Right Cessation
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Publication number | Publication date |
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KR930026525U (ko) | 1993-12-28 |
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