KR940011124B1 - X-선 흡수 유리 조성물 - Google Patents

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Abstract

내용 없음.

Description

X-선 흡수 유리 조성물
제 1 도는 망상구조 성형체 대 총 알칼리의 관계 및 유리 팽창계수에 대한 그들의 효과를 나타내는 그래프이다.
제 2 도는 망상구조 성형체 대 유리 팽창계수의 관계를 나타내는 그래프이다.
제 3 도는 산화 스트론튬 대 산화 바륨의 관계 및 유리 액상선 온도에 대한 그들의 효과를 나타내는 그래프이다.
제 4 도는 산화 스트론튬 대 산화 나트륨의 관계 및 유리 액상선 온도에 대한 그들의 효과를 나타내는 그래프이다.
제 5 도는 이산화 규소 대 산화 스트론튬의 관계 및 유리 액상선 온도에 대한 그들의 효과를 나타내는 그래프이다.
제 6 도는 이상화 규소 대 산화 바륨의 관계 및 유리 액상선 온도에 대한 그들의 효과를 나타내는 그래프이다.
제 7 도는 총 알칼리 토류 물질(즉, SrO+BaO+CaO+MgO)의 변화 및 유리 밀도에 대한 그들의 효과를 나타내는 그래프이다.
제 8 도는 산화 나트륨 대 산화 칼륨의 관계 및 유리 밀도에 대한 그들의 효과를 나타내는 그래프이다.
제 9 도는 산화 스트론튬 대 산화 바륨의 관계 및 유리 변형점에 대한 그들의 효과를 나타나는 그래프이다.
본 발명은 통상적인 유리 용융로에 용융되고 용융된 주석 욕조에서 형성되도록 특수 제조한 유리, 및 놀라운 X-선 흡수력을 나타내고 전자 갈변화(Browning) 및/또는 X-선 갈변화에 대한 우수한 저항성을 갖는 유리에 관한 것이다.
X-방사선은 어떤 물질의 원자와의 충돌로 인해 전자의 움직임이 감속되거나 정지될 때 발생한다. 이러한 X-방사선의 세기는 가속 전압, 전자 전류 및 폭파된 물질의 원자수에 따라서 변화한다.
X-레이 관에서 고온 음극으로부터 발생된 전자들은 작은 스폿트(spot)로 접속되어, 양극 또는 타겟트(target)쪽으로 가속화 된다. 텔레비젼 수상관은 집속된 전자비임 및 고직류 가속 전압인, X-선관과 동일한 기본 요소를 함유한다.
컴퓨터 감지기 및 컬러 텔레비젼 수상관의 적용시에는 특히 유리관 면판의 영역에서 X-선 방출의 흡수력이 매우 중요한 고려대상이므로, "흑백" 텔레비젼 수상관의 적용시 보다 높은 전압을 사용한다.
미합중국 특허 제 3,464,932 호, 제 4,015,966 호, 제 4,065,696 호 및 제 4,065,697 호와 같은 선행기술에서는 X-선 흡수와 관계되는 유리 조성물이 충분히 공급되어 있다. 선행 기술에서 개시된 많은 유리 조성물은 X-선 방출을 적절히 흡수 할 수 있지만, "표준"유리 제조공정에 상당히 지장을 주는 물질이 어느 수준만큼 함유되어 있다.
유리 조성물은 유리의 용융 및 성형도중에 내화 물질이 가속으로 용해하지 않도록 유리 용융 및 성형 장치에서 사용된 내화물질과 양립성이 있어야 한다. 이외에도, 유리 조성물은 유리의 용융 및 성형도중에 휘발하는 물질을 함유하지 않아야 하는데, 그 이유는 휘발하는 물질이 내화성 초강력 구조에 손상을 주며 또한 유독한 냄새 및 유독한 기체를 방출시키기 때문이다.
미합중국 특허 제 3,220,816 호 및 제 3,843,346 호에 기재된 바와 같이 통상적인 용융 주석 부동 유리 성형공정을 이용할 경우, 유리 조성물은 용융 주석과 양립성이 있어야 하고 주석/유리 계면에서 유리상에 막을 형성시키는 환원이 용이한 산화물을 함유하지 않아야 한다. 또한, 환원이 용이한 산화물은 후속적으로 성형된 유리에 결점을 일으키는 불필요한 물질로 주석 욕조를 오염시키는 경향이 있다.
선행기술의 X-선 흡수 유리 조성물은 이러한 몇몇 중요한 문제들을 만족시키고 있지만, 통상적인 부동유리 용융 및 성형 공정 및 장치에 의해 제조되도록 만들어 놀라운 X-선 흡수력을 나타내는 유리는 상기 유리 조성물중의 아무것에도 제공되어 있지 않다.
본 발명은 통상적인 유리 용융 및 성형 공정 및 장치에 의해 제조되도록 만들어 놀라운 X-선 흡수력을 나타내는 유리를 제공하며, 더욱 구체적으로 본 발명은 0.6Å에서 측정된 최소 선형 흡수계수 24/유리 두께 1㎝를 제공한다. 또한, 본 유리는 전자 갈변화 및 X-선 갈변화에 대한 우수한 저항성을 제공한다. 본 발명의 하나의 특정 양태로서, 유리 조성물은 SiO2가 약 57.0 내지 66.0중량%를, Al2O3가 약 0 내지 5.0중량%를 차지하면서 유리 조성물중의 SiO2와 Al2O3의 결합량이 약 57.0 내지 68.0중량%를 구성하며 ; K2O가 약 7.0 내지 11.0중량%를, Na2O가 약 4.0 내지 8.0중량%를 차지하면서 유리 조성물중의 K2O와 Na2O의 결합량이 약 10.0 내지 18.0중량%를 구성하고; BaO가 약 0 내지 13중량%를, SrO가 약 11.0 내지 21.0중량%를 차지하면서 유리 조성물중의 BaO와 SrO가 약 11.0 내지 21.0중량%를 차지하면서 유리 조성물의 BaO와 SrO의 결합량이 약 16.0 내지 24.0중량%를 구성하며; 유리 조성물중의 CeO2가 약 0.1 내지 1.0중량%를 포함한다.
유리 제조공정은 결함이 없는 최종 제품을 만들기 위하여 많은 에너지 비용을 필요로 하는 에너지 세기에 관계한다. 그러므로, 본 발명에 의해 통상 고려되어 있는 유형의 유리 조성물은 2650℉(1460℃) 미만의 로그 10점도 2.0으로 용융시키기가 비교적 용이한 것이 매우 바람직하다. 로그 10점도 2.0 내지 6.0의 범위에 대한 온도를 측정하는데 사용되는 방법은 American Society for Testing Material(ASTM)방법 C 965-81에 따라서 수행된다.
또한, 유리 조성물은 로그 10점도 4.0에서 그의 온도와 액상선 온도사이의 차로서 정의되는 정작업(positive working) 범위를 갖는 것이 바람직하다. 액상선 온도는 냉각시 결정이 처음 형성되는 온도 또는 가열시 결정이 용해되는 온도로서 정의된다. ASTM 방법 C 829-81은 액상선 온도를 측정하는 한가지 방법이다.
음극선 관(CRT)에 대한 전면판으로서 유리를 사용하는 경우, 전면판은 CRT의 퍼넬(funnel) 부분에 융합되어야만 하므로, 유리의 팽창계수 및 변형점 특성이 매우 중요하다. 이후, CRT를 밀봉시키고, 전체 유리관 구조물성에서 변형을 일으키는 조합관의 내부에 진공을 가한다. 전면판과 퍼넬 사이의 융합 영역은 일반적으로 유리관 구조물의 기타 다른 부분보다도 변형이 높은 영역이다. 그러므로, 전면판의 팽창계수 및 변형점은 전면판과 퍼넬의 유리 조성물이 함께 융합되는 일반덕인 영역 또는 결합지점에서 응력의 증대를 방지하기 위하여 퍼넬관의 팽창계수의 및 응력점과 밀접하게 조화해야 된다. ASTM 방법 E 228-71은 팽창계수를 측정하는 방법이고, ASTM 방법 C 336-71은 아닐링(annealing) 범위 및 변형점을 측정하는 방법이다.
상기 기재된 바람직한 유리 특성은 본 발명의 유리에 의해 모두 입증되며, 이들 특성의 수지들을 기록하고 있는 몇몇 실시예는 본 발명의 상세한 설명에서 하기에 더욱 상세히 기재되어 있다.
또한, 유리 조성물은 용융도중에 유리와 접촉하는 내화물질을 용해시키지 않거나, 또는 휘발하여 유리 용융장치에서 헤드 스페이스(head space)에 사용된 내화물질과 반응할 수도 있는 물질을 함유하지 않는 것이 매우 중요하다. ASTM 방법 C 621-68은 내화물질의 내부식성을 시험하는 방법이다.
본 발명의 유리는 선행기술의 전형적인 X-선 흡수 유리보다 내화물질에 대한 부식성이 적으며, 특히 부동 유리 성형 고정으로 성형시켜 만든 유리 보다도 부식성이 적다. 부동 유리 성형 공정은 선행기술의 공정에 널리 공지되어 있으며, 예를 들면 미합중국 특허 제 3,220,816 호 및 제 3,843,346 호에 기재되어 있다.
하기 표 1은 ASTM 방법 C 621-68 시험을 기초로 하여 유리 제조로에서 사용된 내화물질에 대하여, 전형적인 소다-석회-실리카 부동 유리("A"로서 표시) 및 본 발명의유리("B"로서 표시)와의 차이(금속라인 절단물에서 48시간 시험)를 나타낸다.
부동 유리 성형 공정에 의해 성형되어 하기 표 1에 사용된 전형적인 소다-석회-실리카 유리 조성물(중량%)의 실례는 다음과 같다:
[표 1]
내화물질에 대한 유리의 전달물
* 상기 표 1에 기록된 내화물질은 각각 뉴욕, 나이아가라에 소재하는 카보런덤 코포레이숀(Carborundum Corporation) 사제의 상기 나타난 상표명이다.
예를 들면, 컬러 텔레비젼 수상관 적용시 유리 전면판에 대하여 유리를 고압 X-선에 노출시킬시, 선행기술의 대부분의 유리 조성물은 변색되거나 "갈변"된다. 그러므로, 유리 조성물은 고도의 광 전송을 유지하기 위해 "갈변화"를 방지하는 물질을 함유하는 것이 매우 바람직하다. 산화 세륨은 본 발명의 조성물에서 이러한 작용을 매우 효과적으로 수행한다.
용융 주석 부동 유리 성형 공정으로 유리 조성물을 성형하기 위하여, 유리는 주석을 강하게 환원시키는 물질을 함유하지 않아야 한다. 주식이 한개 또는 몇개의 유리 성분에 의해 환원된다면, 주석만은 유리를 통한 광전송을 엄격히 제한하는 성형 유리의 기면상에 형성될 것이다. 또한, 유리내에서 상기 바람직하지 않은 성분들은 주석욕조의 독성을 야기시키는 용융된 주석 욕조내로 확산하여, 그 결과 동일한 욕조상에서 형성된 후속적인 유리 조성물의 결함을 발생시킬 것이다. 임의의 선행기술의 유리 조성물에서 밝혀진 바와 같이, 이러한 바람직하지 않은 유리 성분의 실례는 산화납이다. 산화납은 X-선을 쉽게 흡수하기 때문에, 일부 X-선 흡수 유리 조성물에서 통상 사용되고 있다.
통상적인 유리 제조로내에서 용융될 수 있고 용융된 주석 욕조에서 성형될 수 있는 X-선 흡수 유리 조성물에 대해 상기 기재된 필수조건들과 부합시키기 위해서는 6개의 성분이 필요하다. 보편적으로 사용되는 6개의 욕조 성분들은 모래, 소다회, 탄산칼륨, 탄산 바륨, 탄산 스트론튬 및 탄산 세륨이다. 하기 기록된 바와 같이 필요한 산화물을 함유하는 한, 기타 다른 배지(batch) 물질로 사용할 수 있다. 이때, 생성된 유리 생성물은 다음과 같은 필수적인 산화물을 함유한다 : 이산화 규소(SiO2), 산화 나트륨(Na2O), 산화 칼륨(K2O), 산화 바륨(BaO), 산화 스트론튬(SrO) 및 산화 세륨(CeO2).
기타 다른 유리 조성물은 본 발명의 유리를 용융시키기전에 특수 탱크내에서 용융될 수 있으므로, 최종생성물은 이미 용융된 나머지의 유리 조성물 및/또는 유리로부터 용해된 미량의 내화물질을 함유할 수도 있다. 또한, 본 발명의 유리는 착색제가 본 발명에 대해 필수적인 요소가 아닐지라도, 목적하는 광전송을 제공하기 위해 보편적으로 유리를 착색시키는데 사용되는 성분들 소량을 함유할 수도 있다.
그러므로, 본 발명의 유리는 2% 미만이 착색제, 용해된 내화물질, 배지 물질로부터 발생된 부유 물질 또는 로에 이미 용융되어 있는 그나머지의 조성물을 함유한다.
본 유리 조성물중에 SiO2는 망상구조 성형체로서 작용하며, 유리질 매트릭스의 기본 구조를 제공한다. 본 발명의 유리에서 기타 다른 망상구조 성형체로는 산화 알루미나(Al2O3), 삼산화 황(SO3) 및 산화 세룸(CeO2)을 들수 있다.
Na2O 및 K2O는 본 발명의 유리 조성물에 사용되는 알칼리로서, 유리를 용융시키고 조성물의 팽창계수를 조절하는 것을 돕는다.
본 발명의 유리에 대해 상기 기재된 매우 바람직한 물성중 맞게는 제 1 도 내지 제 9 도에 나타나 있다.
제 1 도 및 제 2 도에 나타난 팽창계수는 음극선관의 전면판 유리와 퍼넬 유리사이에 밀접한 팽창 "균형" (전자는 후자에 밀봉적으로 융합됨)이 있어야 한다는 점에 있어서 결정적인 물성이다. 본 발명의 유리의 팽창계수는 전형적인 퍼넬 유리의 팽창 계수범위와 조화하도록 조절되어 그들사이에 효과적이면서도 효율적인 융합을 이룰 수 있다.
제 1 도는 망상구조 성형체 대 총 알칼리의 비가 낮아질 때 팽창계수가 증가함을 나타내는 그래프이다.
또한, 제 2 도는 총 망상구조 성형체가 낮아질때 팽창계수가 증가함을 나타내는 그래프이다.
또한, 제 3 도 내지 제 8 도에 나타난 액상선 온도는 그것이 낮은 액상선 온도를 유지하는데 필수적이라는 점에 있어서 결정적인 물성이다. 낮은 액상선 온도로 인해, 유리 성형 조작의 유형에 역효과를 미치는 순간적인 결정화의 우려없이 유리를 성형할 수 있다.
제 3 도는 SrO 대 BaO의 비가 감소함에 따라 액상선 온도로 낮아진다는 것을 나타내는 그래프이다. SrO 및 BaO는 둘다 본 발명의 유리에서 X-선의 주흡수제로서 작용한다. SrO는 BaO보다 비교적 우수한 X-선 흡수제이지만, BaO는 본 발명의 유리에 대해 낮은 액상선 온도를 유지시키는데 필수적이다.
제 4 도는 SrO 대 Na2O의 비가 감소됨에 따라서 액상선 온도도 낮아짐을 나타내는 그래프이다.
또한, 제 5 도는 SiO2와 SrO사이의 비를 증가시킴에 따라 액상선 온도가 감소함을 나타내는 그래프이다.
제 6 도는 SiO2 대 BaO의 비율이 15이하일때 액상선 온도가 1016℃(1850℉)이하라는 것을 나타내는 그래프이다.
제 7 도 및 제 8 도에 나타낸 유리 밀도는 또한 그것이 유리의 X-선 흡수성을 향상시킨다는 점에 있어서 결정적인 물성이다. 질량 X-선 흡수 계수는 EIA Tube Engineering Panel Advisory Council에 의해 발간된 Electronic Industries Association(EIA) publication No. TEP-194의 페이지 20, 표 5에 기재된 방법에 의해 0.6Å에서 계산된다.
제 7 도는 알칼리 토류물질(즉, SrO+BaO+CeO+MgO)의 농도가 증가함에 따라 유리 밀도도 증가함을 나타내는 그래프이다.
제 8 도는 NaO와 K2O 사이의 비율이 감소함에 따라 유리 밀도는 증가함을 나타내는 그래프이다.
제 9 도에 나타낸 변형점은 또한 또다른 결정적인 물성이다. 저 변형점은 CRT의 전면판이 퍼넬에 융합할 시 매우 중요하게 된다. 이러한 관부분들의 융합은 융합 결합영역에서 어떠한 응력이라도 발생시킴이 없이 이루어져야만 한다.
제 9 도는 SrO와 BaO사이의 비가 감소함에 따라, 변형점도 낮아짐을 나타내는 그래프이다.
상기 나타낸 바와 같이, CeO2는 우수한 X-선 흡수제로서, X-선 갈색화를 방지하는 주작용을 할 뿐만 아니라, 본 발명의 유리 조성물에서 상기 X-선 흡수작용을 수행한다. 상기 기재된 바와 같이, X-선 갈색화는 유리의 광전송질을 낮추며, 전형적으로 X-선을 방출하는 고전압 전자원에 유리를 노출시킬 시 발생한다.
하기 표 2는 본 발명의 변수들을 입증하는 많은 유리 조성물(산화물을 기준으로 중량부를 나타냄)을 기록하고 있다. 개개 성분들의 총합은 거의 100이므로, 모든 실제 목적에 있어서 표에 나타난 값은 중량%를 나타낸다고 간주할 수 있다. 실제로 각각의 유리에 대해 배지를 구성하고 있는 성분들은 임의의 물질인 산화물, 또는 함께 용융시 적당한 비율의 목적하는 산화물로 전환되는 기타 화합물을 포함할 수도 있다. 상기 나타난 바와 같이, 본 발명의 유리는 Al2O3, SO3및 CeO2를 비롯하여 기타 다른 소량의 망상구조 성형체를 함유할 수도 있다. 또한, 이미 나타낸 바와 같이, 본 발명의 유리는 착색제, 청정제, 용해된 내화물질, 배치물질로부터 발생된 부유 성분 또는 로에 이미 용융되어 있는 그 나머지 조성물들을 함유할 수도 있다. 더욱 구체적으로는, 배치는 NiO, CoO, Se 및 Fe2O3와 같은 착색제(이에 한정되어 있지 않음) 및 Na2SO4및 CaF2와 같은 청정제(이에 연결되어 있지 않음)를 포함할 수도 있다. 이러한 물질들은 배치 조성물중의 2중량% 이하, 바람직하게는 1중량% 미만이다. 유사하게, ZrO2와 같은 용해된 내화물질(이에 한정되어 있지 않음), TiO2와 같은 부유물질(이에 제한되어 있지 않음) 및 CaO 및 MgO와 같은 그 나머지 물질(이에 제한되어 있지 않음)들은 배치 조성물중의 1중량% 이하, 바람직하게는 0.5중량% 미만이다.
표 3은 상기 나타낸 시험방법에 의해 표본상에서 수행된 물성의 측정치를 기록하고 있다.
[표 2]
[표 3]
표 2의 유리 조성물을 다음과 같이 제조하였다 :
(a) 배치 성분들을 실험실용 평형저울로 무게를 단 다음, 약 10분간 V-형상의 혼련기내에서 혼합하였다.
(b) 혼합된 배치 성분 약 1.51b(0.68㎏)를 직경 4in, 높이 4in(10.2㎝×10.2㎝)의 백금/로듐 도가니내에서 2550℉(1399℃)에서 2시간동안 용융시켰다.
(c) 그 다음, 유리를 유동수에 의해 냉각된 용기에 조심스럽게 부어 급냉시킨후, 물을 배수시키고, 유리를 도가니로 회수했다.
(d) 급냉된 유리를 2700℉(1482℃)에서 4시간동안 용융시켰다.
(e) 유리를 강철 주조 테이블상에서 붓고, 공칭 두께 0.26in(0.54㎝)로 롤링시켰다.
(f) 유리를 1200℉(649℃)의 온도로부터 레하(lehr)내에서 아닐링 시켰다. 유리를 약 16시간동안 서냉시킨 다음, 샘플 단편으로 절단하였다.
이때, 유리 샘플 단편을 상기 언급한 시험기술로 시험할 준비를 하였다.
전체량의 망상구조 성형체 및 알칼리들은 각각 유리 샘플의 선형 팽창계수의 반대방식으로 영향을 미친 것으로 밝혀졌다. 더욱 구체적으로, 전체량의 망상구조 성형체가 증가함에 따라, 팽창계수는 떨어졌다. 역으로, 전체량의 알칼리가 증가함에 따라, 팽창계수도 증가하였다. 그 결과, 본 발명에 한정되어 있지는 않지만, 본 발명의 바람직한 양태에서, SiO2및 Al2O3형태의 망상구조 성형체는 결합하여 SiO2약 57 내지 66중량% 및 Al2O3약 0 내지 5중량%를 갖는 유리 배치중의 약 57 내지 68중량%를 구성하였다. 이외에도, K2O 및 Na2O 형태의 알칼리는 결합하여 K2O 약 7 내지 11중량% 및 Na2O 약 4 내지 8중량%를 갖는 유리배치중의 약 10 내지 28중량%를 구성하였다. 본 발명의 더욱 바람직한 양태로서, SiO2및 Al2O3는 결합하여 SiO2약 61 내지 66중량% 및 Al2O3약 0 내지 3중량%를 갖는 유리 배치중의 약 61 내지 67중량%를 구성하였으며, K2O 및 Na2O는 결합하여 K2O 약 7.5 내지 9.5중량% 및 Na2O 약 6.5 내지 7.5중량%를 갖는 유리 배치중의 14 내지 17중량%를 구성하였다.
BaO 및 SrO의 양이 증가함에 따라, 유리 배치의 액상선 온도도 증가하였으며, 그 결과 냉각시 유리의 파괴를 야기시키는 유리중에 형성된 결함이 발생된 것으로 또한 관측되었다. 결과로서, 본 발명에 한정되어 있지는 않지만, BaO와 SrO는 결합하여 BaO 약 0내지 13중량% 및 SrO 약 11 내지 21중량%를 갖는 유리 배치중의 16 내지 24중량%를 구성하는 것이 바람직하다. 더우기, BaO와 SrO는 결합하여 BaO 약 3 내지 8중량% 및 SrO 약 11.5 내지 15중량%를 갖는 유리 배치중의 약 17 내지 22중량%를 구성하는 것이 더욱 바람직하다.
상기 표 2 및 표 3, 및 이미 언급한 본 발명으로 부터 판단할 수 있는 바와같이, 청구된 본 발명의 범위중의 유리 조성물은 목적하는 용융 및 성형 거동, 및 물성을 비롯하여 목적하는 성질을 나타낸다.

Claims (19)

  1. SiO2약 57.0 내지 66.0중량%, Al2O3약 0 내지 5.0중량%, K2O 약 7.0 내지 11.0중량%, Na2O 약 4.0 내지 8.0중량%, BaO 약 0 내지 13.0중량%, SrO 약 11.0 내지 21.0중량% 및 CeO2약 0.1 내지 1.0중량%를 함유하며, 전자 갈변(browning) 및 /또는 X-선 갈변에 대한 우수한 저항성을 가지며, 0.6Å에서 측정된 24/유리 두께 ㎝의 최소 선형 흡수 계수를 갖는, 놀라운 X-선 흡수력을 나타내는 유리.
  2. 제 1 항에 있어서, SiO2가 약 61.0 내지 66.0중량%, Al2O3가 약 0 내지 3.0중량%, K2O가 약 7.5 내지 9.5중량%, Na2O가 약 6.5 내지 7.5중량%, BaO가 약 3.0 내지 8.0중량%, SrO가 약 11.5 내지 15.0중량%, CeO2가 약 0.2 내지 0.6중량%를 구성하는, 놀라운 X-선 흡수력을 나타내는 유리.
  3. 제 1 항에 있어서, SiO2및 Al2O3가 약 57.0 내지 68.0중량%, K2O 및 Na2O가 약 1.0 내지 18.0중량%, BaO 및 SrO가 약 16.0 내지 24.0중량%, CeO2가 약 0.1 내지 1.0중량%를 구성하는, 놀라운 X-선 흡수력을 나타내는 유리.
  4. 제 3 항에 있어서, SiO2및 Al2O3가 약 61.0 내지 67.0중량%를 구성하는, 놀라운 X-선 흡수력을 나타내는 유리.
  5. 제 3 항에 있어서, K2O 및 Na2O가 약 14.0 내지 17.0중량%를 구성하는, 놀라운 X-선 흡수력을 나타내는 유리.
  6. 제 3 항에 있어서, BaO 및 SrO가 약 17.0 내지 22.0중량%를 구성하는, 놀라운 X-선 흡수력을 나타내는 유리.
  7. 제 3 항에 있어서, CeO2가 약 0.2 내지 0.6중량%를 구성하는, 놀라운 X-선 흡수력을 나타내는 유리.
  8. 제 3 항에 있어서, SiO2가 약 61.0 내지 66.0중량%를, Al2O3가 약 0 내지 3.0중량%를 차지하면서, SiO2와 Al2O3가 결합하여 약 61.0 내지 67.0중량%를 구성하는, 놀라운 X-선 흡수력을 나타내는 유리.
  9. 제 3 항에 있어서, K2O가 약 7.5 내지 9.5중량%를, Na2O가 약 6.5 내지 7.5중량%를 차지하면서, K2O 및 Na2O가 결합하여 약 14.0 내지 17.0중량%를 구성하는, 놀라운 X-선 흡수력을 나타내는 유리.
  10. 제 3 항에 있어서, BaO가 약 3.0 내지 8.0중량%를, SrO가 약 11.5 내지 15.0중량%를 차지하면서, BaO 및 SrO가 결합하여 약 17.0 내지 22.0중량%를 구성하는, 놀라운 X-선 흡수력을 나타내는 유리.
  11. 제 3 항에 있어서, SiO2가 약 61.0 내지 66.0중량%를, Al2O3가 약 0 내지 3.0중량%를 차지하면서, SiO2및 Al2O3가 결합하여 약 61.0 내지 67.0중량%를 구성하며, K2O가 약 7.5 내지 9.5중량%를, Na2O가 약 6.5 내지 7.5중량%를 차지하면서, K2O와 Na2O가 결합하여 약 14.0 내지 17.0중량%를 구성하고, BaO가 약 3.0 내지 8.0중량%를, SrO가 약 11.5 내지 15.0중량%를 차지하면서, BaO 및 SrO가 결합하여 약 17.0 내지 22.0중량%를 구성하며, CeO2가 약 0.2 내지 0.6중량%를 구성하는, 놀라운 X-선 흡수력을 나타내는 유리.
  12. 제 1 항에 있어서, 유리 총 중량의 1중량% 이하의 양으로, 용존 내화물질, 배치(batch) 물질로부터 발생된 부유 성분들, 이미 용융되어 있는 그 나머지의 유리 배치물질을 추가로 함유하는, 놀라운 X-선 흡수력을 나타내는 유리.
  13. 제 1 항에 있어서, 유리 총 중량의 2중량% 이하의 양으로 청징제 및 착색제를 추가로 함유하는, 놀라운 X-선 흡수력을 나타내는 유리.
  14. 제 1 항에 있어서, 용융 주석 부동(浮動) 공정에 의해 성형되는, 놀라운 X-선 흡수력을 나타내는 유리.
  15. 유리 퍼넬(funnel) 부분, 이 퍼넬 부분에 밀봉 융착시킨 유리 전면판 및 음극선관내에 배치되어 고전압 X-선을 방출하는 전자총을 포함하며; 상기 전면판은 SiO2약 57.0 내지 66.0중량%, Al2O3약 0 내지 5.0중량%, K2O 약 7.0 내지 11.0중량%, Na2O 약 4.0 내지 8.0중량%, BaO 약 0 내지 13.0중량%, SrO 약 11.0 내지 21.0중량% 및 CeO2약 0.1 내지 1.0중량%를 함유하고, 전자 갈변 및 / X-선 갈변에 대한 우수한 저항성을 가지며, 0.6Å에서 측정된 24/유리 두께 ㎝의 최소 선형 흡수 계수를 갖는, 놀라운 X-선 흡수력을 나타내는 유리로부터 성형되는 음극선관.
  16. 제 15 항에 있어서, SiO2가 약 61.0 내지 66.0중량%, Al2O3가 약 0 내지 3.0중량%, K2O가 약 7.5 내지 9.5중량%, Na2O가 약 6.5 내지 7.5중량%, BaO가 약 3.0 내지 8.0중량%, SrO가 약 11.5 내지 15.0중량%, CeO2가 약 0.2 내지 0.6중량%를 구성하는, 놀라운 X-선 흡수력을 나타내는 유리로 성형되는 음극선관.
  17. 제 15 항에 있어서, SiO2및 Al2O3가 약 57.0 내지 68.0중량%, Na2O 및 K2O가 약 10.0 내지 18.0중량%, BaO 및 SrO가 약 16.0 내지 24.0중량%를 구성하는 놀라운 X-선 흡수력을 나타내는 유리로 성형되는 음극선관.
  18. 제 17 항에 있어서, SiO2및 Al2O3가 약 61.0 내지 67.0중량%, Na2O 및 K2O가 약 14.0 내지 17.0중량%, BaO 및 SrO가 약 17.0 내지 22.0중량%, CeO2가 약 0.2 내지 0.6중량%를 구성하는 놀라운 X-선 흡수력을 나타내는 유리로 성형되는 음극선관.
  19. 제 17 항에 있어서, SiO2가 약 61.0 내지 66.0중량%를, Al2O3가 약 0 내지 3.0중량%를 차지하면서, SiO2및 Al2O3가 결합하여 약 61.0 내지 67.0중량%를 구성하며; K2O가 약 7.5 내지 9.5중량%를 Na2O 약 6.5 내지 7.5중량%를 차지하면서, K2O 및 Na2O가 결합하여 약 14.0 내지 17.0중량%를 구성하고; BaO가 약 3.0 내지 8.0중량%를, SrO가 약 11.5 내지 15.0중량%를 차지하면서, BaO 및 SrO가 결합하여 약 17.0 내지 22.0중량%를 구성하며; CeO2가 약 0.2 내지 0.6중량%를 구성하는, 놀라운 X-선 흡수력을 나타내는 유리로 성형되는 음극선관.
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