KR940010646A - 정전 전자 사진 기록 장치의 정착 온도 제어 방법 - Google Patents

정전 전자 사진 기록 장치의 정착 온도 제어 방법 Download PDF

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KR940010646A
KR940010646A KR1019920019756A KR920019756A KR940010646A KR 940010646 A KR940010646 A KR 940010646A KR 1019920019756 A KR1019920019756 A KR 1019920019756A KR 920019756 A KR920019756 A KR 920019756A KR 940010646 A KR940010646 A KR 940010646A
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정근국
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정용문
삼성전자 주식회사
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Abstract

본 발명은 화상메모리를 구비하여 화상 정보를 입출력 처리하는 디지탈 화상 처리 장치의 정착부 온도 제어하는 경우, 정착부의 설정온도를 가변적으로 결정한다. 이를 위하여 먼저 시스템의 상태를 분석한다. 이때 분석과정에서 대기 상태인 경우에는 화상 메모리의 데이타 량을 검사하며, 상기 데이타 량에 따라 상기 정착부의 예열온도를 가변적으로 설정한다. 즉, 예열 온도를 설정하는 경우 화상 메모리에 저장할 수 있는 총 정보의 량에서 현재 저장하고 있는 정보 량을 감산하고, 감산 결과에 따라 저장 정보의 량이 많은 경우에는 저장 정보 수에 비례되도록 예열 온도를 높게 설정하며 저장 정보의 량이 적은 경우에는 저장 정보 수에 비례되도록 예열 온도를 낮게 설정한다. 그리고 분석과정에서 동작 상태일시에는 고정된 복사 온도로 설정한다. 이후 정착부의 온도를 입력하며 설정 온도와 비교하여 상기 정착부의 온도를 제어한다.

Description

정전 전자 사진 기록 장치의 정착 온도 제어 방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제4도는 본 발명에 따른 가변 예열 온도 특성도,
제5도는 본 발명에 따른 정착 온도 제어 흐름도.

Claims (2)

  1. 화상 메모리를 구비하여 화상 정보를 입출력 처리하는 디지탈 화상 처리 장치의 정착부 온도 제어 방법에 있어서, 시스템의 상태를 분석하는 과정과, 상기 분석과정에서 대기 상태일시 상기 화상 메모리의 데이타 량을 검사하며, 상기 데이타 량에 따라 상기 정착부의 예열 온도를 가변적으로 설정하는 과정과, 상기 분석과정에서 동작 상태일시 복사 온도로 설정하는 과정과, 상기 정착부의 온도 설정 후 정착부의 온도를 입력하며, 설정 온도와 비교하여 상기 정착부의 온도를 제어하고 상기 시스템 분서과정으로 되돌아가는 과정으로 이루어짐을 특징으로 하는 디지탈 화상 처리 장치의 정착부 온도 제어 방법.
  2. 제1항에 있어서, 정착부의 예열 온도를 설정하는 과정이, 상기 화상 메모리에 저장할 수 있는 총 정보의 량에서 현재 저장하고 있는 정보 량을 감산하는 단계와, 상기 감산 결과에 따라 저장 정보의 량이 많은 경우, 저장 정보 수에 비례되도록 예열 온도률 높게 설정하는 단계와, 상기 감산 결과에 따라 저장 정보의 량이 많은 경우, 저장 정보 수에 비례되도록 예열 온도를 낮게 설정하는 단계를 이루어짐을 특징으로 하는 디지탈 화상 처리장치의 정착부 온도 제어 방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR100436188B1 (ko) * 2000-08-04 2004-07-02 가부시끼가이샤 도시바 칩 픽업 장치 및 반도체 장치의 제조 방법

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