KR930008143B1 - 포지티브형 감광성 수지 현상액 - Google Patents

Abstract

내용 없음.

Description

포지티브형 감광성 수지 현상액

본 발명은 프지티브형 감광성 수지 현상액에 관한 것이다. 특히 본 발명은 퀴논디아지드계 포지티브형 감광성수지의 패턴을 형성하기에 적합한 현상액으로 현상후 미현상 감광성 수지 잔유물(sucm)발생의 억제효과가 뛰어난 포지티브형 감광성 수지 현상액에 관한 것이다.

포지티브형 감광성 수지는 광활성 물질과 바인더레진의 혼합물로서 노광을 받은 부분의 현상액에 대한 용해도가 노광을 받지 않은 미노광부의 용해도보다 커지는 성질을 이용한 것이다.

여기서 포지티브형 감광성 수지의 광활성 물질로는 퀴논디아지드계 화합물을 사용하며, 바인더레진으로는 페놀- 알데히드레진, 즉 노볼락 수지를 사용한다. 그런데, 순수한 노볼락 수지는 적절한 유기용매나 알칼리수용액에 대한 용해도가 매우 떨어진다. 그러나, 노광을 하게되면 알칼리 수용액에 대한 용해도가 순수한 노볼락 수지의 용해도보다 오히려 올라간다. 이것은 광활성 물질이 빛에 의해서 알칼리 수용액에 가용성인 카르복실산 형태로 변하여 혼합물의 용해도가 촉진되기 때문이다.

위의 포지티브형 감광성 수지는 LSI 혹은 VLSI 반도체 디바이스 제조의 주요공정인 포트리소그라피 공정에 널리 사용된다.

포토리소그라피 공정을 요약하면 다음과 같다.

먼저 실리콘 웨이퍼 기판위에 Sio₂, 폴리실리콘 혹은 Si₃N₄같은 무기질 막을 형성시킨 뒤 감광성 수지를1-2μm정도의 두께로 스핀코팅하고, 열건조과정을 통해 용매를 증발시킨 뒤, 회로모양의 마스크를 통해 자외선 노광을 준다음, 알칼리 수용액 현상액으로 처리하면 전술한 바 있는 무기질 막위에 감광성 수지 패턴이 사용한 마스크의 회로모양과 같이 형성된다.

이것을 불화탄소/산소 프라즈마 등으로 건식식각하게 되면 감광성 수지로 덮여있지 않은 부분의 무기질 막은 플라즈마에 의해 제거되어 마스크의 회로모양과 동일한 패턴의 감광성 수지패턴과 역시 동일한 모양의 무기질 막의 패턴이 재현된다.

여기까지 처리된 웨이퍼는 유기물인 감광성 수지를 태우는 에싱을 거쳐 끓는 황산 및 과산화 수소수등을 이용하여 그 잔유물을 깨끗이 제거하면 원하는 반도체 디바이스 회로만을 남기게 된다.

그러나, 감광성 수지 현상에 의해 완전히 제거되지 않고 패턴과 패턴 사이에 조금 남게되면 플라즈마 건식식각시 무기질 막이 이와같은 "미현상 감광성 수지 잔유물"에 의해 보호가 되어 원하는 모양과 깊이만큼 식각되어 나가지 못하여 반도체 디바이스 회로가 제대로 형성되지 않는 경우가 있다.

따라서, 본 발명의 목적은 이와같은 퀴논디아지드계 포지티브형 감광성 수지 현상시 발생할 수 있는 스컴제거효과를 높일 수 있는 포지티브형 감광성 수지 현상액을 제공하는데 있다.

이와같은 본 발명의 목적은 4급 암모늄염 수용액을 주성분으로 하는 비금소계의 포지티브형 감광성 수지현상액에 아자시크로케톤계 화합물을 첨가함으로써 달성할 수 있었다. 본 발명은 퀴논디이지드계 화합물인 광활성 물질과 노볼락 수지인 바인더레진으로 이루어진 포지티브형 감광시 수지 현상액에 있어서, 다음 일반식(I)의 4급 암모늄계 유기염기 1-10 중량부, 그릭 다음 일반식(II)의 아자시크로케톤계 화합물중 1종 또는 2종 이상의 혼합물 0.01-5 중량부가 험유됨을 특징으로 하는 포지티브형 감광성 수지 현상액에 관한 것이다.

위에서, R₁,R₂,R₃,R₄는 C₁-C₄의 알킬기 혹은 수소

m,n=2,3,4

X=2n-1

Y=2m-1

한편, 본 발명에서는 위의 성분 이외도 비이온 계면활성제, 안정제, 용해조제 등을 첨가제로 포함시킬 수 있다. 실시예를 들어 본 발명을 더욱 자세히 설명하면 다음과 같다.

[실시예 1]

다음과 같이 현상액을 조제하였다. 테트라메틸 암모니움 히드록사이드 25% 수용액[TMAH] 100g5-아자시클로옥타논 0.6gm을 취한 후 증류수를 부어 전체 조성물 부피가 1리터가 되도록 하였다. 한편, 300Å의 실리콘 산화막이 입혀진 6인치 실리콘 웨이퍼 기판위에 시판되는 포지티브형 감광성 수지 S 1400-27(상품명,미국 쉬플리사 제품) 혹은 TSMR-800(상품명,일본국 토쿄 오카사 제품)은 두께 1.42μm로 스핀 코팅하여 1.0μm Line/Space 패턴의 마스크를 통해 436nm자외선 노광(노광기, 일본국 니콘사 NSR 1505 G4C)을 한 후 본 발명의 조제현상액을 사용하여 상온에서 1분간 침지현상한 후 전자선 주사현미경(SEM)을 통하여 1.0μm Line/Space 패턴을 관찰한 결과 미현상 감광성 수지 잔유물, 즉 스컴의 발생이 매우 억제된 것을 발견했다.

이와같은 작업을 계속한 결과 총 25매의 웨이퍼 중에서 건식식각 공정에 악영향을 줄 수 있는 직경 0.1μm 이상의 크기를 가진 큰 스컴을 발견할 수 없었다.

[실시예 2]

5-아자시클로옥타논 대신에 2-메틸-5-아자시클로옥타논을 사용한 것 외에는 실시예 1과 같다.

[실시예 3]

8-이소프로필-5-아자시클로옥타논을 5-아자시클로옥타는 대신 사용한 것 외에는 실시예 1과 같다.

[실시예 4]

5-아자시클로옥타는 대신에 5 -아자시클로노나논을 사용한 것 외에는 실시예 1과 같다.

[비교 실시예 1]

5-아자시클로옥타논을 사용하지 않은 것 외에는 실시예 1에서 조제한 현상액과 동일하다. 단, 25매의 웨이퍼중에서 직경 0.1μm 이상의 스컴을 발견 할 수 있었다.

[실시예 5]

5-아자시클로옥타논 대신에 5-아자시클로옥타논 0.3g과 2-메틸-5-아자시클로옥타논 0.3g을 혼합하여 사용한 것 외에는 실시예 1과 같다. 이상의 결과를 다음표에 정리하였다.

Claims (1)

1. 퀴논디아지드계 화합물인 광활성 물질과 노볼락 수지인 바인더레진으로 이루어진 포지티브형 감광성 수지 현상액에 있어서, 다음 일반식(I)의 4급 암모늄계 유기염기 1-10 중량부, 그리고 다음 일반식(II)의 아자시클로케톤계 화합물 중 1종 또는 2종 이상의 혼합물 0.01-5 중량부가 함유됨을 특징으로 하는 포지티브형 감광성 수지 현상액

   위에서, R₁,R₂,R₃,R₄는 C₁-C₄의 알킬기 혹은 수소

   m,n=2,3,4

   x=2n-1

   y=2m-1