KR930000952Y1 - Simple test equipment of ic tester - Google Patents
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- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
- G01R31/2886—Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks
- G01R31/2887—Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks involving moving the probe head or the IC under test; docking stations
Abstract
내용 없음.No content.
Description
제1도의 본 고안을 갖는 IC 테스터의 전체 개략도.Overall schematic of an IC tester having the present invention of FIG.
제2도는 본 고안 장치로서 제1도의 "A"부분 상세도.FIG. 2 is a partial detail "A" of FIG. 1 as a device of the present invention.
제3도는 본 고안의 요부인 전자석 접극자의 작동상태도.Figure 3 is an operating state of the electromagnet fold, which is the main part of the present invention.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings
1 : 메가진출구 2 : 분배기1: Mega exit 2: Splitter
3 : 공급기 4 : 테스트검사기3: Feeder 4: Test Inspector
5 : 구분기 6 : 언로우드부5: Separator 6: Unlock part
7 : 메인테스터 8 : IC7: Main tester 8: IC
9 : 테스트접점부 10 : 전자석9: test contact section 10: electromagnet
11 : 작동봉 12 : 접점구동기11: operating rod 12: contact driver
13 : 간이테스터13: Simple Tester
본 고안은 IC 테스터내에 간이테스트를 일체형으로 추가설치하여 IC의 단순기능에 대한 1차 테스트를 수행함에 따라 기존 테스터의 시간단축, 관전류에 의한 장비보호, 공정단축을 수행하도록 한 IC 테스터의 간이테스트장치에 관한 것이다.The present invention is a simple test of an IC tester that performs short time of existing tester, protects equipment by tube current, and shortens process by performing simple test of IC's simple function by additionally installing a simple test in an integrated IC tester. Relates to a device.
종래의 IC 테스터는 제1도에서 "A"부분을 뺀 나머지 부분의 구성으로 이루어져, 슬리이브 내에 채워진 IC를 메가진출구(1)를 경유하여 테스터내로 주입시켜 주게되면, 한개씩의 IC가 분배기(2)를 통하여 히터장치(15)가 구비된 레인(16)상에 적치된 상태에서 IC의 특성검사를 위에 일정온도까지 가열된후, 다시 공급기(3)를 통하여 테스터소켓 기판이 부착되어 있는 테스트 검사기(4)로 하나씩 공급되어 진다.Conventional IC tester is composed of the remaining part minus the "A" part in Figure 1, when the IC filled in the sleeve is injected into the tester via the mega-outlet (1), one by one IC divider ( 2) Test the characteristics of the IC in a state where it is placed on the lane 16 equipped with the heater device 15 through the heating unit to a predetermined temperature, and then attach the tester socket substrate through the feeder 3 again. It is supplied to the inspector 4 one by one.
이와같이 공급된 IC는 테스트 검사기(4)를 통해 테스트를 설시하고, 테스트가 완료된 IC는 각각 양품과 불량품으로 판정 구별되어 테스트결과 신호에 따라 드롭부(17)를 통해 구분기(5)를 지나 언로우드부(6)에 장착된 슬리이브내로 선별된 IC의 상태에 따라 다시 충진이 이루어지게 된다.In this way, the supplied IC initiates the test through the test inspector 4, and the IC which has been tested is judged as good or bad, respectively, and is unloaded after passing through the separator 5 through the drop unit 17 according to the test result signal. The filling is performed again according to the state of the IC selected into the sleeve mounted on the wood part 6.
종래에는, 이와같이 하나의 IC를 테스트하는 사이클의 반복 작업에 따라 테스터를 통해 여러가지의 테스팅, 즉 단순 기능테스트로 부터 고기능의 테스트를 모드 수행하기 때문에 하나의 IC 테스트 수행작업에 많은 시간이 소요되는 단점이 되었다.In the related art, according to the repetitive operation of a single IC test cycle, the tester takes a lot of time to perform a single IC test because various modes of testing are performed through the tester, that is, a simple function test is performed. It became.
또한, 테스트중에서 발생한 불량 IC들로 인하여 관전류가 발생함에 따라 테스터에 커다란 손상을 주는 경우도 자주 발생하였다.In addition, the defective ICs generated during the test often caused great damage to the tester as the tube current was generated.
본 고안은 이와같은 종래의 문제점에 착안하여 안출한 것으로서, 기존의 테스터에 건이 테스터에 간이테스트설비를 추가로 설치하여 주테스터내에 주입되기 전에 간이테스트를 통해 단순기능을 사전에 체크할 수 있도록 한것인바, 이를 첨부도면에 의하여 더욱 상세히 설명하면 다음과 같다.The present invention has been devised in view of such a conventional problem, and a simple test facility is additionally installed in the tester so that a simple function can be checked in advance by a simple test before being injected into the main tester. It will be described in more detail by the accompanying drawings as follows.
슬리이브내의 IC를 메가진출구(1), 분배기(2), 공급기(3), 테스트검사기(4), 구분기(5)및 언로우드부(6)를 통해 IC의 기능을 테스트 해주는 메인테스트(7)에 있어서, 메가진출구(1)와 분배기(2)사이로 메가진출구(1)를 통해 이송된 IC(8)의 단자들과 접촉하는 양측방의 테스트 접점부(9)를 전자석(10)의 작동봉(11)을 따라 연동하는 접점구동기(12)를 통하여 단속시키도록 구성된 간이테스트(13)를 설치하여서 된것이다.Main test to test the function of the IC in the sleeve through the mega-outlet (1), distributor (2), feeder (3), test inspector (4), separator (5) and unlocking part (6) In (7), the electromagnet 10 is provided with the test contact portions 9 on both sides contacting the terminals of the IC 8 transferred through the mega outlet 1 between the mega outlet 1 and the distributor 2. By installing a simple test (13) configured to interrupt through the contact driver 12 interlocking along the operating rod (11) of the).
이와같이 된 본 고안은 종래의 메인테스터(7) 입구부측에 간이테스터(13)를 추가 설치하여 메인테스터(7)로 IC의 공급을 실시하기 전에 간이테스터(13)를 통해서 1차 간이 테스트를 수행할 수 있도록 한 것으소서, 간이테스터(13)의 작동은 제2도 및 제3도에 도시된 바와 같이, 종래 메인테스(7)의 메가진출구(1)를 거쳐 IC(8)가 간이테스터(13)측으로 공급되어 오면, IC의 정해진 검사위치에서 IC의 양측방에 존재하는 전자석(10)에 전원이 인가됨에 따라 전류 작용에 의해 그 중앙부의 작동봉(11)이 IC측을 향하여 출물하게 된다.According to the present invention, the simple tester 13 is additionally installed at the inlet side of the conventional main tester 7 to perform the first simple test through the simple tester 13 before supplying the IC to the main tester 7. The operation of the simple tester 13 is performed by the IC 8 via the mega exit 1 of the conventional main test 7 as shown in FIGS. 2 and 3. When supplied to the (13) side, the power is applied to the electromagnet 10 existing on both sides of the IC at the predetermined inspection position of the IC so that the actuating rod 11 at its center part exits toward the IC side by the current action. do.
이에따라, 작동봉(11)과 접촉하고 있는 접점구동기(12)가 하방의 일측을 회전 중심점으로 하여 회전하면서 제3도의 이점쇄선 형태와 같이 접점구동기(12)의 전방으로 위치하고 있는 테스트접점부(9)를 이동시켜 테스트접점부(9)가 IC(8)의 각 단자들과 접촉을 이루도록 한다.Accordingly, the test contact unit 9 positioned in front of the contact driver 12 as shown in the two-dot chain line of FIG. 3 while the contact driver 12 in contact with the operating rod 11 rotates with the lower side as the rotation center point. ) So that the test contact 9 makes contact with each terminal of the IC 8.
이상태에서 IC(8)와 접촉하고 있는 테스트접점부(9)를 통하여 원하는 IC의 간이테스트 항목에 따라 필요한 계측장치들, 예를 들면 전압/전류 입출력, 각종 전원장치, 펄스발생기들을 통해 컴퓨터와 연결시켜 IC의 테스트를 실시해주게 된다,In this state, the test contact unit 9 is in contact with the IC 8 and connected to the computer through the necessary measuring devices, such as voltage / current input / output, various power supplies, and pulse generators, according to the simple test item of the desired IC. To test the IC,
이와같이 간이테스터(13)를 통하여 IC의 1차 테스트가 완료되면, 상기와 같은 테스트를 위한 작동의 역순에 따라 다시 전자석(10)의 인가되어 접점구동기(12)가 후방의 스프링 복원력에 의하여 후퇴하면서 IC(8)단자부로 부터 테스트 접점부(9)로 이동되어 종래의 메인테스트(7)의 검사경로를 통해 검사를 받게 된다.As such, when the primary test of the IC is completed through the simple tester 13, the electromagnet 10 is applied again in the reverse order of the operation for the above test, and the contact driver 12 retreats by the spring restoring force of the rear side. The IC 8 is moved from the terminal portion to the test contact portion 9 to be inspected through the inspection path of the conventional main test 7.
이때, 분배기(2)에 IC의 간이테스터(13)를 통해 불량 유무가 체크되어 불량으로 판정된 IC의 전용 배출을 위한 라인을 구성하여 이들 불량품들은 메인테스터(7)로 공급시키지 않고 바로 불량처리를 할 수 있도록 하였다.At this time, the dispenser 2 is checked through the simple tester 13 of the IC and constitutes a line for exclusively discharging the IC which is determined to be defective so that the defective products are not immediately supplied to the main tester 7. To be able to.
따라서 본 고안의 간이테스터를 통해 1차로 IC의 기본사항을 체크하여 불량품을 선별하고 난뒤, 1차 테스트를 마친 양호한 IC만이 메인테스터로 공급되어 검사를 받을 수 있게 되는 것이다.Therefore, after checking the basics of the IC through the simple tester of the present invention, after selecting the defective products, only the good IC that has completed the first test can be supplied to the main tester for inspection.
이와 같이 본 고안은 기존의 메인테스터내에 간이 테스터를 추가 설치하여 간이테스터를 통해 IC의 1차 선별테스트를 실시하도록 함에 따라 IC의 테스트 시간을 대폭 단축하여 고가장비인 종래 테스터의 생산성과 함께 장비 가동을 향상시켜 주게되고, 불량 IC에 의한 메인테스터의 고장을 미연에 방지하여 장비를 보호해주게되는 효과를 갖는다.As such, the present invention installs a simple tester in the existing main tester to perform the first screening test of the IC through the simple tester, thereby drastically shortening the test time of the IC and operating the equipment together with the productivity of the expensive tester. It improves the performance and protects the equipment by preventing the failure of the main tester by the defective IC in advance.
Claims (1)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR2019900006040U KR930000952Y1 (en) | 1990-05-09 | 1990-05-09 | Simple test equipment of ic tester |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR2019900006040U KR930000952Y1 (en) | 1990-05-09 | 1990-05-09 | Simple test equipment of ic tester |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR910020706U KR910020706U (en) | 1991-12-20 |
| KR930000952Y1 true KR930000952Y1 (en) | 1993-03-02 |
Family
ID=19298490
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR2019900006040U KR930000952Y1 (en) | 1990-05-09 | 1990-05-09 | Simple test equipment of ic tester |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR930000952Y1 (en) |
-
1990
- 1990-05-09 KR KR2019900006040U patent/KR930000952Y1/en not_active IP Right Cessation
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR910020706U (en) | 1991-12-20 |
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