KR920010920B1 - 조작위치검출 장치 및 그것을 사용한 전자악기 - Google Patents

Abstract

내용 없음.

Description

조작위치검출 장치 및 그것을 사용한 전자악기

제1a도는 전자악현악기의 외관평면도.

제1b도는 전자악현악기의 외관 사시도.

제1c도는 피치밴드 검출부의 사시도.

제2a도 및 제2b도는 제1의 실시예에서의 프렛의 구성도.

제3도는 제1의 실시예의 블럭도.

제4도는 제1의 실시예의 기본동작 타이밍 차트도.

제5a－5c도는 제n프렛에서 제1현과 제2현이 접촉했을때의 제1의 실시예의 등가 회로도.

제6도는 제n프렛에서 제1현과 제2현이 접촉했을때의 제1의 실시예의 동작타이밍챠트.

제7도는 모든현이 접촉했을때의 제1의 실시예의 등가 회로도.

제8도는 제31도 경우의 실시예의 등가 회로도.

제9a－제9e도는 제31도 또는 제8도의 경우의 제1의 실시예의 동작시의 등가 회로도.

제10도는 제31도의 경우의 제1의 실시예의 동작 타이밍 챠트도.

제11도는 제2의 실시예의 블록도.

제12도는 제2의 실시예의 기본동작 타이밍 차트도.

제13도는 제31도의 경우의 제2의 실시예의 등가 회로도.

제14a－14c도는 제31도 또는 제13도의 경우의 제2의 실시예의 동작시의 등가 회로도.

제15도는 제31도의 경우의 제2의 실시예의 동작타이밍 챠트도.

제16도는 제3의 실시예의 블록도.

제17도는 제4의 실시예의 블록도.

제18도는 제3 및 제4의 실시예의 동작설명도.

제19a－제19c도는 제5의 실시예에서의 목 부분의 구성도.

제20도는 제5의 실시예에서의 현의 상세 구성도.

제21도는 제n프렛에서 제1현과 제2현이 접촉했을때의 제5의 실시예의 등가 회로도.

제22a도는 제9의 실시예의 블록도.

제22b도는 스위치부(45)의 단면도.

제23도는 제31도의 경우의 제9의 실시예의 동작타이밍 차트도.

제24도는 제9의 실시예에서의 스위치 스캔 처리의 동작 흐름도.

제25a－제25c도는 스위치부(45)의 ＃2,＃3,＃4,＃5가 동시에 온했을때의 제9의 실시예의 등가 회로도.

제26도는 제10의 실시예의 블록도.

제27도는 제11의 실시예의 블록도.

제28a－제28c도는 제12의 실시예에서의 프렛의 구성도.

제29도는 제12의 실시예에서의 프렛의 타의 구성예를 나타낸 예시도(제1a도의 II－II방향에서 본 단면도).

제30도는 제12의 실시예의 블록도.

제31도는 현누름예를 나타낸 예시도.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명

1 : 현 2 : 프렛

13 : 저항체부재 14 : 도전성부재

16 : 음고지정수단 17 : 전압인가수단

19 : 전압검출수단 24 : 악음발생수단

본 발명은, 복수의 조작위치를 검출하는 조작위치 검출장치 및 이 조작위치 검출장치 및 이 조작위치 검출장치를 사용한 전자기타, 기타신시사이저(synthesize), 전자 바이올린과 같은 전자현악기, 전자오르간, 전자피아노와 같은 전자건반 악기등의 전자악기에 관한 것이다.

최근 전자기술, 디지탈기술의 급속한 발전에 따라, 다종다양한 전자 현악기가 개발되어 있다. 이런 전자현악기는 대별해서 전자바이올린으로 대표되는 전자찰현악기와, 전자기타나 기타 신시사이저로 대표되는 전자찰현악기로 분류가 가능하다. 이와같은 전자현악기의 특징 또는 본질은 모두가 핑거보다 또는 핑거보드위에 팽팽하게 설치되어 있는 복수의 현에 대한 링거링 조작으로서 지정된 음고를 가진 악음을 팽팽하게 설치되어 있는 현에 대한 찰현 조작 또는 발현조작에 따라서, 아날로그 회로나 디지탈 회로등으로서 구성된 악음발생부에서 발생시키면서 연주를 행하는데 있다.

그런데, 이와같은 구성을 가진 전자현악기를 개발하는데 있어서, 중요한 포인트가 되는 것은, 연주자에의하 현의 찰현 조작이나 발현조작의 각 상태를 어떻게 높은 정도로 검출할 수가 있는가, 연주자에게 의한 핑거링 조작을 어떻게 확실하고도 신속하게 검출할 수가 있는가라는 2점이다. 특히, 종래부터 후자의 핑거링 조작위치의 검출기술에 많은 개발노력이 이루어져 왔다.

핑거링 조작위치의 검출기술로서는, 종래부터 다음과 같은 기술이 알려져 있으나 혹은 제안되고 있다. 제1의 종래예로서는, 프렛 스위치 방식이란 것이 있다. 이 방식은, 다수의 프렛위치에 대응한 핑거보드내에 온.오프 타이프의 프렛 스위치를 매설해두고 핑거링 조작에 의해 온 동작된 프렛 스위치에서 출력되는 온.오프 신호의 유무에 따라서 핑거링 조작위치를 검출하는 것이다.

이 방식을 사용한 것은, 예를들면, 미국특허 No. 4,570,521, (Jeffrey Fox)1986년 2월 18일 발행의 공보에 개시되어 있다.

또, 본 발명과 동일의 양수인에 관한 출원 계속중의 다음의 미국특허 출원주에서도 이 방식이 사용된 것이 제안되고 있다.

(a) 미국특허출원 No. 069,612(Yukio Kashio등) 1987년 7월 1일 출원 및 이 출원에 대응하는 일본실개소 63－29193호.

(b) 미국특허출원 No. 094,402(Yoshyuki Murata등) 1987년 9월 9일 출원.

(c) 미국특허출원 No. 171,833(Naoaki Matumoto등) 1987년 3월 21일 출원.

(d) 미국특허출원 No. 184,099(Akio Iba등) 1988년 4월 20일 출원.

(e) 미국특허출원 No. 256,398(Akio Iba등) 1988년 10월 7일 출원.

제2의 종래예로서의 현저항치 검출방식의 것이었다. 이 방식은, 전기저항을 가지는 현에 전류를 흐르게 하고 그 현이 접촉하고 있는 도전성 프렛까지의 현의 휴효현 길이를 현이 가지는 저항치에 대응하는 전압으로서 검출하여 현의 누름위치를 검출하는 것이다.

예를들면, 다음과 같이 공보에 개시되어 있다.

(a) 미국특허 No. 4,306,480(Frank Eventoff) 1981년 12월 22일 발행.

(b) 미국특허 No. 4,468,997(Leroy D. Young. Jr.) 1984년 9월 4일 발행 및 이 특허에 대응하는 일본 특개 소 59－176783호.

(c) 미국특허 No. 4,653,376(David Allured) 1987년 3월 31일 발행.

(d) 미국특허 No. 4,677,419(Frank Meno, 양수인 : University of Pittsburg) 1987년 6월 30일 발행.

(h) 미국특허 No. 4,630,520(Carmine Bonanno) 1986년 12월 26일 발행.

(i) 미국특허 No. 4,702,141(Carmine Bonanno) 1987년 10월 27일 발행.

(j) 일본특개소 62－174795호(M.Konde, 양수인 : Yamaha Corp.) 공개일 1987년 7월 31일.

제3의 종래예로서는 전기펄스 인가방식 및 전류공급방식의 것이었다.

이 방식은 도전성의 복수의 현에 전자펄스신호 또는 현전류를 순차로 송출해서 상기 현이 접촉하고 있는 길이가 긴 도전성의 프렛에서 상기 전기 펄스신호를 검출하므로서 현의 누름위치를 검출하는 것이다.

예를들면 다음과 같은 공보에 개시되어 있다.

(a) 미국특허 No. 3,786,167(James J. Borell, 등) 1974년 1월 15일 발행.

(b) 미국특허 No. 3,871,247(Arthur R. Bonham) 1974년 3월 18일 발행.

(c) 미국특허 No. 3,902,395(William L. Avant) 1975년 9월 2일 발행.

(d) 미국특허 No. 4,038,897(Jaffrey J. Murray 등, 양수인 : Electronic Music Laboratories, Inc.) 1977년 8월 2일 발행.

(e) 미국특허 No. 4,137,811(Ikutar Kakehashi, 양수인 : Roland Corp.) 1979년 2월 6일 발행.

(f) 미국특허 No. 4,321,852(Leroy D. Young, Jr) 1982년 3월 30일 발행.

(g) 미국특허 No. 4,372,187(Arne L. Berg, 양수인 : AB Laboratories) 1983년 2월 8일 발행.

(h) EP공개 No. 142,390(Cintra, Daniel, 등) 1984년 9월 31일 발행 및 이 출원에 대응하는 일본특개소 60－166992호.

제4의 종래예로서는, 유기전압 검출방식의 것이있다.

이 방식은, 도전성의 복수의 현에 전류를 송출하고, 그 전류가 복수의 도전성 프렛의 각각에 대응해서 설치된 코일중의 어느것에서 유기전압으로서 검출되는가를 판정해서 현의 누름위치를 검출하는 것이다.

예를들면, 미국특허, No. 4,760,767(Tooru Tsurubuchi, 양수인 : Roland Corp.)1988년 8월 2일 발행의 공개에 개시되어 있다.

제5의 종래예로서는, 2층의 저항층 구성의 프렛검출 방식이라는 것이었다. 이 방식은 다른저항치를 가지는 2층의 저항층 구성의 프렛 전압펄스를 순차로 인가해서 그 프렛에 접촉하는 도전성의 현에 흐르는 현 전류를 검출해서 현의 누름위치를 검출하는 것이다. 예컨대, PCT, WO,No. 87100330(Pyan, Paul etal 출원인:STEPP ELECTROPONICS LIMITED)국제공개일 1987년 1월 15일의 공보에 개시되어 있다.

이 종래예에서는, 현과 접촉하는 프렛을 높은 접촉저항의 상부저항층과 낮은 접촉저항의 하부저항층으로서 구성되어 있다. 이와같은 구성으로한 이유는 WO－87100330 기재에 의하면, 아래와 같이 설명되고 있다. 즉, 예컨대, 제31도의 p,q와 같은 현누름 상태에서 제1의 프렛이 어느현에 접촉하고 있는가 아닌가를 검출하기 위해서 제1의 프렛에 전압을 인가했을때, 제1의 프렛의 접촉저항을 통해서 제1의 현에 전류가 흘러들어가서 제1의 현에 접속된 현 전류검출수단의 내부저항등과의 관계에서 제1의 현으로 흘러들어온 전류는 제2의 프렛의 접촉저항을 통해 제2의 현에도 흘러들어가 버린다. 따라서, 제2의 현에 접속된 현전류검출수단에 의해서 제1의 프렛의 접촉의 검출되어버리는 일이 일어날 수가 있다. 이로인해, 잘못된 현의 누름위치가 검출되는 결과 잘못된 음고의 검출이 행해질때가 있다. 따라서 이와같이 전류가 돌아서 흐르는 것을 확실하게 방지할 수가 있다.

한편, 프렛에 대한 현의 누름조작후에 피치밴드조작이 있었을 경우, 이 피치밴드 조작상태를 검출하기 위해 프렛의 긴쪽 방향에 따른 프렛 대 현의 접촉위치를 무엇인가의 방법으로서 검출할 필요가 있다. 그래서, 제5의 종래예에서는 이와같은 두개의 요청을 만족시킬 방책으로서, 각 프렛을 높은 접촉저항의 상부저항층과 낮은 접촉저항의 하부저항층으로서 구성된 것으로 해석된다.

또, 제5의 종래 보기에서는, 각 현에 접속되는 프렛과 현의 접촉을 검출하기 위한 회로수단은 각 현에 흐르는 전류를 검출하는 회로구성이라야 한다는 것을 나타내고 있다. 즉, 다른 현으로의 전류가 흘러들어간다는 관점에서 프렛의 접촉저항이 높은 접촉저항이라야 한다는 의론을 행하고 있는 것으로 보아 제5의 종래예에 관한 WO－87/00330의 청구의 범위 제1항 전단에 기재되어 있는 프렛과 현의 접촉을 검출하기 위해 각 현에 접속되는 회로수단은 당연히 각 현에 흐르는 전류를 검출할 수 있는 회로구성이라야 한다는 것을 나타내고 있다고 해석된다.

다시, 제5의 종래 보기에서는, 프렛의 구조로서 접촉저항을 구성하는 제2전도성 재료층(상부저항층)의 하부에 제1의 비저항을 가지는 제1전도성 재료층(하부저항층)을 가지고 있으며, 이 제1전도성 재료층을 가지는 상기 제1의 비저항은 무시할 수 없는 값이라야 한다는 것이 나타내고 있다. 이것은, 제5의 종래예가 프랫과 현의 접촉뿐만이 아니라 접촉후의 피치밴드조작도 검출하는 것을 목적으로 하고 있으며, 이를 위해 필요해지는 조건으로 되고 있다.

또, 제6의 종래예로서는, 복수의 도전편으로되는 도전성 프렛과 전류가 공급되는 복수의 현과를 전자회로와 조합시켜서 사용하여 현의 누름위치를 검출하는 것이있다. 예를들면, 미국특허 제4,658,690호(William A. Aitkn, 양수인 : Synthaxe Limited) 1987년 4월 21일 발행의 공보에 개시되어 있다.

한편, 이와같은 전자현악기에서는, 연주자가 어느 프렛위치에서 어느 현을 눌런는가를 검출하므로서 악음의 음고등의 제어를 행한다. 이런점에 착목을 하면, 전자현악기의 연주가는 복수의 프렛과 복수의 현의 조합으로서 되는 1종의 스위치 매트릭스중에서 소망하는 스위치를 온.오프하는 조작을 행하므로서 연주를 행하고 있다고 생각할 수 있다.

따라서, 상기와 같은 현의 누름조작이 얼마나 정확히 검출되느냐 하는 기술이 필요하게 된다. 다시, 궁극적으로 생각해보면, 스위치 매트릭스 중의 임의의 스위치 조작을 어떻게 좋은 효율로 정확하게 검출하는가라는 기술이 필요하다.

이와같은 기술에 관해, 전자현악기에 한정되지 않고 일반적인 전자기기의 스위치 매트릭스 회로로서 개시되어 있는 제7의 종래예로서 이하에서 나타낸 것이었다. 즉, 스위치 매트릭스의 각 행 라인과 열 라인의 교점의 스위치의 각각에 신호의 들러가기 방지용의 다이오드를 접속한 것이었다.

같은 기술에 속하는 제8의 종래예로서는, 스위치 매트릭스를 단순한 스위치로서 구성하고, 또한 동시에 조작되는 스위치의 수를 1 또는 1개로 한정하고 3이상의 스위치가 조작되었는가 어떤가를 검출하는 회로를 설치해서 오동작을 방지하도록 한것이 있다. 예를들면, 일본특개소 62－159183호 공보기재의 것인데, 양수인은 야마하이다.

그러나, 제1의 종래예에서는 복수의 프렛 사이의 각 현에 대응한 위치의 목의 내부에 프렛 스위치를 하나하나 매설해야하고, 목 부분의 제조단가가 커져버리며, 이 방식과 현진동을 픽업으로서 검출해서 증폭하여 발음하는 방식등과 조합하려는 경우, 목 부분의 가공에 의한 음질열화를 꾀할 수 없다는 문제점을 가지고 있다.

제2의 종래예에서는, 통상의 기타와 같은 현으로서의 기능을 가지며, 또한 누름프렛의 위치의 차에 의해서 전위차가 명확히 나타내는 큰 저항치를 가지는 현의 재료는 일반으로는 없고 또 작은 저항치의 현에서 큰 전위차를 얻기 위해서는 큰 전류를 흐르게 하는 소형의 회로를 구성하는 것이 곤란하다는 문제점을 가지고 있다.

제3의 종래예에서는 아래와 같은 문제점이 있다. 즉, 예컨데 제31도의 제1현 1(＃1)과 제2현 1(＃2)을 이도의 p,q와 같이 눌렀을 경우, 제1현 1(＃1)은 제n＋1 프렛 2(＃n＋1)과 제n＋2 프렛 2(＃n＋2)에 접촉하여 제2현 1(＃2)은 제n프렛 2(＃2)와 제n＋1프렛 2(＃＋1)에 접촉한다. 그러나, 이 상태에서 제2현 1(＃2)에 이 도면 A의 방향에서 전기펄스를 신호를 송출하면, 제2현 1(＃2)에서 제n＋1 프렛 2(＃n＋1)을 통해서 제1현 1(＃1)에 상기 신호가 전달되고 그것이 제2현 1(＃2)이 접촉하고 있지 않는 제n＋2 프렛(n＋2)에서 잘못해서 검출되어 버리는 문제점을 가지고 있다.

제4의 종래예에서는, 각 프렛마다 코일을 목 내에 매설하는 등의 하지 않으면, 않되기 때문에 제1의 종래예와 같이 목 부분의 제조단가가 커져버리고, 제1 종래예와 같은 음질열화도 생겨버린다는 문제점을 가지고 있다.

제5의 종래예에서는, 현과 접촉하는 상부 저항층을 높은 접촉저항치를 가지며, 또한 현과의 접촉에 견디는 내마모성이 풍부한 재료를 사용해야만하며, 이로서 당해 상부 저항층으로서 사용할 수 있는 재료도 한정되어 버리며, 이로서 프렛의 형성재료를 선택하는 자유도가 좁아진다는 문제점을 가지고 있다. 높은 접촉저항치를 가진 상부저항치와 낮은 저항치를 가진 하부저항층으로서 구성된 프렛에서 현에 흐르는 큰 값의 전류를 검출하기 위한 회로로서 변압기를 위시한 상당히 복잡한 회로구성을 필요로 하기 때문에 전자악기의 전체적인 단가증가를 초래하는 문제점을 가지고 있다. 더구나, 피치밴드 조작을 검출하기 위해서 2층 구조의 프렛을 하부저항층에 대해서 각 프렛마다 피치밴드 조작검출용의 차전압을 공급하기 위한 변압기를 설치할 필요가 있다. 그리고, 각 현의 기준위치에 대응하는 검출전류치를 0로 하기 위해서 휘드백 루프를 포함한 복잡한 제어회로가 필요해진다. 그리고 이 휘디드백 제어는 상당히 제어회로 부분의 하드웨어가 증대해서 단가증가를 초래한다는 문제점을 을 가지고 있다. 여기에 가해서, 상기 제1의 종래예 또는 제4의 종래예와 마찬가지로, 목 부분에 피치밴드 검출용의 변압기를 매설해야 하는등 목부분의 단가가 비싸지는 동시에 목을 대폭으로 가공해야 하면, 이 가공에 의한 음질열화가 생겨버리는 문제점을 가지고 있다.

또 제6의 종래예에서는, 전기적으로 독립한 복수의 도전편에 전류가 공급되고 있는 복수의 도전현을 접촉시키므로서 전류의 둘러서 흐르는 것을 방지하고 있다. 그러나, 각 프렛마다 각 현의 계수분의 배설이 필요하며 그 만큼 프렛/현의 접촉검출 시스템의 전기적 복잡성의 증대하는 동시에 지판의 기계적 복잡성이 증대한다는 문제점을 가지고 있다.

한편, 제7의 종래예에서는, 스위치 매트릭스의 각 스위치마다 다이오드가 필요하기 때문에 스위치 매트릭스 부분의 단가증가를 초래한다는 문제점을 가지고 있다.

또, 제8의 종래예에서는, 동시에 조작할 수 있는 스위치의 수가 2까지로 한정되어 버리기 때문에 스위치 매트릭스를 적요할 수 있는 전자기기의 범위가 좁아진다는 문점을 가지고 있다.

이 발명은, 위에서처럼 각 종래예의 문제점을 해소하기 위해서 이루어진 것이다.

이 발명의 목적은, 각 스위치 소자마다 전류의 둘러서 흐르는 것을 방지하기 위한 다이오드를 필요로하지 않고 낮은 단가로서 제조 할 수가 있는 조작위치 검출장치를 제공하는데 있다.

또, 이 발명의 다른 목적은, 핑거보드내에 음고지정용의 다수의 스위치를 설치할 필요가 없으며, 낮은 단가로서 제조할 수 있는 전자악기를 제공하는데 있다.

더우기, 이 발명의 또 다른 목적은, 심플한 구성으로서 각 현을 각 프렛과의 접촉위치를 확실하게 검출할 수가 있는 전자악기를 제공하는데 있다.

다시, 이 발명의 또 다른 목적은 전통적인 전자기타, 기타신세서이저 등에 사용되고 있는 통상의 스틸 현을 그대로 사용해서 현의 누름위치를 정확히 검출할 수가 있는 전자악기를 제공하는데 있다.

그리고, 이 발명의 또 다른 목적은, 각 프렛 주변의 회로구성을 간단하게 하여, 전자악기 전체의 단가를 낮게 억제할 수가 없는 전자악기를 제공하는데 있다.

먼저, 본 발명의 제1의 형태에 대해서 설명한다. 이 형태는, 소정의 간격을 두고서 배치된 복수의 프렛과 이 복수의 프렛을 가로지르도록 각 프렛위에 소정의 간격을 두고 팽팽하게 설치된 도전성의 복수의 현과 이 복수의 현의 어느것이 누름조작되었을때, 이에 응답하여 누름조작된 현의 누름위치를 검출하는 현누름위치 검출수단과, 이 수단에 의해 검출된 현의 누름위치에 따라서 발생해야 할 악음의 음고를 지정하는 음고지정 수단을 구비한 전자악기를 전재로 한다.

이 형태에서는 먼저 복수의 프렛의 각각은 전기저항치를 무시할 수 있는 도전성재료로서 되는 도전성 부재와 이 도전성부재의 각현이 접촉할 수 있는 부분에 형성된 저항체부재와의 2층 구조로서 된다. 그리고, 저항체부재의 막의 두께는 그 막두께 방향의 저항치와 이웃하는 2개의 현이 동시에 저항체 부재에 접촉했을때에 각 현 사이에 생기는 긴쪽방향의 저항치를 비교했을때, 막두께 방향의 저항치가 긴쪽방향의 저항치보다 충분히 큰 값이 두께로 형성되어 있다.

상기 프랫과 함께 상기 현누름위치 검출수단은, 아래와 같은 전압인 가수단, 전압검출수단 및 검출수단으로서 된다. 즉, 전압인가 수단은 복수의 각 현에 대해서 전압펄스를 순차로 인가하고 이 각현에 대해서 전압펄스가 인가되어있지 않을때는 이 인가되어 있지 않은 현을 접지전위를 유지하도록 구동하는 수단인데, 예를들면 출력임피던스가 충분히 작은 버퍼회로이다. 또, 전압검출수단은 전압인가 수단에 의해 인가되는 전압을 저항체부재를 통해서 복수의 각 프렛의 도전성 부재로부터 순차로 검출하는 수단이다. 그리고, 검출수단은 전압인가수단에 의해서 전압펄스가 인가된 현과 전압검출수단에 의해 전압이 검출된 프렛과의 조합에 의해 각 현의 누름위치를 검출하는 수단이다.

또는, 현누름위치 검출수단은, 상기와 역으로 복수의 각 프렛의 도전성부재에 대해서 전압펄스를 순차로 인가해서 이 각 프렛의 도전성부재에 대해 전압펄스가 인가되어있지 않을때는, 이 인가되어 있지않는 프렛의 도전성부재를 접지전위를 유지하도록 이동하는 전압인가수단과 전압인가 수단에 의해 인가되는 전압을 저하에 부재를 통해서 복수의 각 현에서 순차로 검출하는 전압 검출수단과, 전압인가 수단에 의해서 전압펄스가 인가된 프렛과 전압검출수단에 의해서 전압이 검출된 현과의 조합에 의해서 각 현의 누름위치를 검출하는 검출수단으로서 구성된다.

다음에, 본 발명의 제2의 형태에 대해서 설명한다. 이 형태도 상기 제1의 형태와 같은 전자현악기를 전제로 한다.

그리고, 먼저 복수의 현이 각각은 중심부에 형성되는 전기저항치를 무시할 수 있는 도전성 현부재와 이 도전성 현부재의 외주부에 일체적으로 형성되는 저항체부재와, 이 저항체부재의 외주부에 일체적으로 형성되고 복수의 각 프렛에 접촉 가능하며 전기저항치를 무시할 수 있는 도전성 부재로서되는 3음 구조를 가진다.

또는 복수의 현의 각각은 중심부에 형성되는 전기 저항치를 무시할 수 있는 도전성 부재와, 이도전성 부재의 외주부에 일체로 형성되고 복수의 각 프렛에 접촉 가능한 저항체 부재로서되는 2층 구조를 가진다.

상기 현과 함께, 상기현 누름위치 검출수단은 아래와 같은 전압인가수단, 전압검출 수단 및 검출수단으로서 된다. 즉, 전압인가 수단은, 복수의 각 현의 도전성부재에 대해서 전압펄스를 순차로 인가하고 이 각 현의 도전성부재에 대해서 전압펄스가 인가되어 있지 않을때는 이 인가되어 있지 않는 도전성 현부재를 접지전위로 유지하도록 구동하는 수단이다. 또, 전압검출수단은, 전압인가 수단에 의해 인가되는 전압을 저항체 부재 및 도전성부재를 통해서 각 프렛에서 순차로 검출하는 수단이다. 그리고 검출수단은, 전압인가 수단에 의해 전압펄스가 인가된 현과 전압검출수단에 의해 전압이 검출된 프렛과의 조압에 의해 각 현의 누름위치를 검출하는 수단이다.

또, 현누름위치 검출수단은 상기와는 역으로 복수의 각 프렛에 대해 전압펄스를 순차로 인가하는데, 이 각 프렛에 대해 전압 펄스가 인가되어 있지 않을때는 이 인가되어있지 않은 프렛을 접지전위로 유지하도록 구동하는 전압인가수단과 전압인가 수단에 의해 인가되는 전압을 도전성 부채 및 저항체 부재를 통해서 복수의 각현의 도전성 현부재에서 검출하는 전압검출수단과, 전압인가 수단에 의해 전압펄스가 인가된 프렛과 전압 검출수단에 의해 전압이 검출된 현과의 조합에 의해 각 현의 누름위치를 검출하는 검출수단으로 구성된다.

계속해서 본 발명의 제3의 형태에 대해서 설명한다.

이 형태는, 복수의 행방향 접속선과 복수의 열방향 접속선과의 각 교차부분에 이 각 행방향접속선과 이 각 열방향접속선을 접속하는 복수의 스위치 소자를 가지는 스위치 매트릭스이며, 각 행방향 접속선과 각 열방향 접속선의 각 신호상태에서 어느 교차부분의 스위치 조작되었을지를 검출하는 조작위치 검출장치를 제공한다.

먼저, 각 교차부분에는 각각 소정의 저항치를 가지는 저항체가 설치된다.

다음에, 복수의 각 행방향 접속선에 전압펄스를 순차로 인가하고 이 전압펄스가 인가되어 있지않은 타의 행방향 접속선은 접지전위로 유지시키는 전압인가수단을 가진다.

또, 전압인가수단에 의해서 인가된 전압을 저항체를 통해서 복수의 각 열방향 접속선에서 순차로 검출하는 전압검출수단을 가진다.

그리고, 전압인가수단에 의해서 전압펄스가 인가된 행방향 접속선과 전압검출수단에 의해 전압이 검출된 열방향과의 조합에 의해 어느교차부분의 스위치 소자가 조작되었는가를 검출하는 조작위치 검출수단을 가진다.

또, 상기 행방향접속선과 열방향 접속선의 회로관계가 역으로 된 구성을 가져도 좋다.

상기 형태에 있어서, 저항체는 예컨데 교차 부분의 각 행방향 접속선과 각 열방향 접속선과의 적어도 일방의 접속선측에 일체적으로 구성된다. 또는, 이 접속선과 일체로 형성되어 있다. 또, 복수의 행방향 접속선의 복수의 열방향 접속선과는 예컨데, 배선기판상에 형성되어 있으며, 복수의 스위치 소자의 각각은 예컨데, 누름조작에 응답해서 탄성변형 가능한 탄성부재를 가지며, 이 탄성부재의 하부에 행방향접속선과 열방향 접속선과의 어느한쪽의 접속선의 일부를 일체적으로 형성하고 있다.

다음에 본 발명의 제4의 형태에 대해서 설명한다. 이 형태는, 상기 제1 또는 제2의 형태와 같은 형태의 전자현악기를 전제로 한다.

이 형태에서는, 먼저 복수의 프렛의 각각의 구성으로서 복수의 각 현마다의 접촉이 가능하며, 또한 이 각 현의 전기적으로 독립하고 있는 복수의 도전성부재와 이 각 도전성부재의 하부에 설치된 저항부재와 이 저항부재의 하부에 설치된 배선부재로서 되는 구조를 가진다.

상기 프렛과 함께, 상기 현누름위치 검출수단은, 아래와같은 전압인가수단, 전압검출수단 및 검출수단으로서 된다. 즉, 전압인가 수단은 복수의 각 현에 전압펄스를 순차로 인가하여 이 전압펄스가 인가되어 있지 않은 타의 현은 접지전위로 유지하는 수단이다. 또, 전압검출수단은 전압인가수단에서 인가된 전압을 저항부재 및 배선부재를 통해서 복수의 각 도전성부재의 어느것에서 순차로 검출하는 수단이다. 그리고, 검출수단은 전압인가수단에 의해 전압펄스가 인가된 현과 전압 검출수단에 의해 전압이 검출된 프렛과의 조합에 의해 각 현의 누름위치를 검출하는 수단이다.

또는 현누름위치 검출수단은, 상기와는 역으로 복수의 각 배선부재에 전압펄스를 순차로 인가하고 이 전압펄스가 인가되어 있지않는 다른 배선부재는 접지전위를 유지하는 전압인가 수단과 전압인가 수단으로 부터 인가된 전압을 배선부재 및 저항부재를 통해서 복수의 각 현에서 순차로 검출하는 전압검출수단과, 전압인가 수단에 의해 전압펄스가 인가된 프렛과 전압 검출수단에 의해 전압이 검출된 현과의 조합에 의해 각 현의 누름위치를 검출하는 검출수단으로서 구성된다.

이상의 형태중, 제1,제2 또는 제4의 형태에서, 각 현의 어느것에 대한 피치밴드 조작에 응답해서 이 피치밴드 조작량에 따라서 음고지정 수단에 의해서 지정되어 있는 음고에 대해서 피치밴드효과를 부가하는 피치밴드 부가수단을 가지도록 구성할 수 있다. 구체적으로는, 각 현과 계합시키고 이 각 현에 대한 피치밴드조작에 따라서 각 저항치가 변화할 수 있는 각 현대응의 슬라이드형 가변 저항수단과 현 누름위치 검출수단에 의해서 검출된 각 현의 누름위치에 따라서 지정된 음고를 각 가변저항 수단의 각 저항치에 따라서 제어하여 이 음고에 대해서 피치 밴드효과를 부가하는 피치밴드 부가수단을 가지도록 할 수 있다. 또는, 각 현의 현진동 파형을 검출하는 각 현대응의 현진동 파형검출수단과 이 각 현진동 파형검출수단에서 검출되는 각 현진동 파형의 각 피치주기를 추출하는 피치추출수단과 현누름위치 검출수단에 의해 검출된 각 현의 누름위치에 따라서 지정된 음고를 피치추출 수단에서 추출되는 각 피치주기에 따라서 제어하고 이 음고에 대해서 피치밴드 효과를 부가하는 피치밴드 부가수단을 가지게 된다.

다시, 제1 제2 또는 제4의 형태에서, 전압검출수단은 예컨데, 각 프렛의 어느것을 선택하는 선택스위치와 그 출력 전압치를 소정의 문턱치전압을 비교하는 비교기로서 구성된다. 또는, 선택 스위치를 설치하지 않고 비교기를 각 현, 각 행방향 접속선 혹은 열방향 접속선 마다에 설치해도 좋다. 한편, 비교기 대신에 입력측의 인가전압치에 따라서 스위치 동작을 하는 트랜지스터 회로를 설치해도 좋다. 다시, 상기 선택스위치의 출력측에 출력전압치를 디지탈치로 변환하는 A/D변환 수단을 설치하고 이 디지탈치를 판정하는 판정수단을 설치해서 전압검출을 행하도록 해도 좋다.

그리고, 제1 또는 제4의 형태에서, 현과 프렛이라는 관계가 아니고 이것을 보다 더 일반적인 교차형 접촉구조를 할 수도 있으며, 이렇게 하므로서 여기서 여러가지의 기기로의 응용을 가능하게 한다. 그리고, 이와같은 조작위치 검출장치로서 각 교차부분이 검출되는 것에 대응해서 예컨데 발생할 악음의 음고를 음고지정수단에 의해 지정하고, 나아가서는 지정된 음고를 가진악음을 악음발생수단에서 발생하는 전자악기를 구성하는 것도 가능하다.

다음에 본 발명의 제5의 형태에 대해서 설명한다. 이 형태에서는 핑거보드의 긴쪽방향과 직교하는 방향에서 서로 소정의 간격을 두고 배설된 복수의 프렛과 상기 복수의 프렛 상부에 상기 핑거보드의 긴쪽방향으로 팽팽하게 설치된 복수의 도전성 현과 상기 복수의 현의 진동을 각 현마다 검출하는 현진동 검출수단과 상기 복수의 현에 대한 피치밴드조작을 검출하는 피치밴드 검출수단과 상기 복수의 현의 어느것인가의 현의 누름조작에 의해 상기 복수의 프렛중의 특징의 프렛과 누름조작된 현이 접촉했을 때, 당해 접촉한 특정의 프렛에 대응한 현의 누름위치를 검출하는 현누름위치 검출수단과 상기 현진동 검출수단에 의해 현의 진동개시가 검출되었을 경우 이에 응답해서 상기 현에 대한 악음의 발생시기를 지시하는 지시수단과 상기 지시수단에 의해 상기 악음의 발생 개시를 지시하는 지시수단과 상기 지시수단에 의해 상기 악음의 발생 개시가 지시했을 때에 발생해야할 음고를 상기 현누름위치 검출수단에 의해 검출한 현의 누름위치에 대응한 음고 데이타에 따라서, 제어하여 상기 지시수단에 의해 상기 악음의 발생개시가 지시된 후에 상기 피치밴드 검출수단에 의해 피치밴드조작이 검출되었을 때 발생해야할 악음의 음고를 상기 피치밴드 조작에 대응하는 피치밴드 데이타에 따라서 제어하는 음고제어수단을 구비한 전자악기를 전체로 한다. 이 형태에서는, 복수의 프렛의 각각은 앞에서 말한 각 형태와 마찬가지로 도전성부재와 저항체부재와의 2층 구조로서 된다.

또, 상기 현누름위치 검출수단은, 상기 복수의 각 현 또는 상기 복수의 각 프렛의 도전성부재의 어느것의 한쪽에 대해 전압펄스를 순차로 인가하는데, 이 각 현 또는 이 각 도전성부재의 어느것의 한쪽에 대해서 전압 펄스가 인가되어 있지 않을 때는 이 인가되어 있지않는 다른 현 또는 도전성부재를 접지전위를 유지하도록 구동하는 전압인가 수단과 상기 전압인가 수단에 의해 순차로 인가되는 전압을 상기 저항체부재를 통해서 상기 복수의 각 프렛의 도전성부재 혹은 상기 복수의 각 현의 어느 것의 다른쪽에서 순차로 검출하는 전압 검출수단과 상기 전압인가 수단에 의해 상기 전압펄스가 인가된 상기 현 또는 상기 프렛과 상기 전압검출수단에 의해 상기 전압이 검출된 상기 프렛 또는 상기 현과의 조합에 의해 상기 각 현의 누름위치를 검출하는 검출수단으로서 된다.

최후에, 본 발명의 제6의 형태에 대해서 설명한다. 이 형태에서는, 핑거보드의 긴쪽방향 직교하는 방향에 서로 소정의 간격을 두고 배설된 복수의 프렛과 상기 복수의 프렛상부에 상기 핑거보드의 긴쪽방향으로 팽팽하게 설치된 복수의 도전성 현과 상기 복수의 현진동을 각 현마다 검출하는 현진동수단과 상기 현진동부 검출수단에 의해 검출된 현의 진동에서 이 진동의 기본주기를 측정하는 주기측정 수단과 상기 복수의 어느현의 누름조작에 의해 상기 복수의 프렛중의 특정의 프렛과 누름조작된 현이 접촉했을 때, 당해 접촉한 특정의 프렛에 대응한 현의 누름위치를 검출하는 현누름위치 검출수단과 상기 현진동 검출수단에 의해 현의 진동개시가 검출되었을 경우, 이에 응답해서 상기 현에 대한 악음의 발생 개시를 지시하는 지시수단과 상기 지시 수단에 의해 상기 악음의 발생개시가 지시되어을 때에 발생할 악음의 음고를 상기 현 누름위치 검출수단에 의해 검출된 현누름위치에 대응한 음고 데이타에 따라서 제어하고 상기 지시수단에 의해 상기 악음의 발생개시가 지시된 후에 발생할 악음의 음고를 상기 주기 측정수단에 의해 측정된 기본주기 데이타에 따라서 제어하는 음고 제어수단을 구비한 전자악기를 전제로 한다.

이 형태에서는, 복수의 프렛의 각각은 앞에서 말한 각 형태와 마찬가지로 도전성부재와 저항체부재와의 2층부재로서 된다. 또 현 누름위치 검출수단은 앞에서 말한 제5의 형태와 같이 전압인가수단, 전압검출수단 및 검출수단으로서 되어있다.

상기 각 형태 및 특허청구의 범위에서 사용되고 있는 각 용어에 대해서 설명한다.

용어“소정의 간격”은, 대표적으로 12평균율의 음계음에 대응한 부동간격을 뜻하는데 이 간격에 한정되는 것은 아니다, 예를들면, 등간격이라도 상관없다. 또,“소정의 간격”은 기타 타이프와 같은 악기를 고려해서 반음단위의 간격으로 되어있으나 이에 한정되지는 않는다. 예컨데, 바이올린과 같은 악기를 고려해서 센트단위의 간격이라도 좋다.

또, 전음단위의 간격이라도 상관없다. 다만, 피치추출수단 또는 주기측정수단을 사용하는 전자악기의 경우는 12평균의 음계음에 대응한 부동간격임을 요한다. 또, 용어“도전성의 현”은 현의 전체가 도전성재료로서 형성되어 있을 필요는 없다. 예컨데, 현의 외주망이 도전성재료로 형성되어 있고 중앙부가 절연 재료로서 형성되어 있어도 좋다.

또, 용어“팽팽하게 설치된 현”은, 대표적으로는 현의 복수의 프렛의 상부에 팽팽하게 설치되는 동시에 픽업과 같은 현진동 검출수단의 상부에도 팽팽하게 설치되나 이에 한정되는 것은 아니다. 예를들면, 각 현을 각 프렛에 상부에만 팽팽하게 설치하는 경우에도 좋다.

또, 용어“도전성부재의 각 현이 접속할 수 있는 부분에 형성된 저항체부재”는 제2도에서와 같이 도전성부재의 상부에서만 저항체 부재를 형성하고 있으나 이에 한정되는 것은 아니다. 예를들면, 도전성부재의 외주에 소정의 막두께로서 통 모양의 저항체부재를 형성하도록 해도좋다. 또,“각 현의 접촉할 수 있는 부분에 형성된”이란, 앞에서말한 제2도에서와 같이 도전성부재위에 저항체부재가 일체적으로 형성되는 것을 뜻하나, 이에 한정되는 것은 아니다. 예를들면, 도전성부재위에 이것과 별체의 저항체부재를 설치하도록 해도 좋다.

제1의 형태에서는, 예컨데 하나의 프렛에 복수의 현이 좁촉하고 있을 경우, 프렛을 구성하는 저항체 본체에서의 상기 복수의 현 사이의 거리는 각 접촉 부분과 그 하부의 프렛을 구성하는 도전성부재와의 사이의 거리 즉 저항체부재의 막두께에 비교해서 충분히 크게 할 수가 있다. 따라서, 프렛에 접촉하고 있는 복수의 현은 전기적으로는 저항부재에 의해서 근사적으로 격리되어, 현→저항체부재→도전성부재, 도전성부재→저항체부재→현 이라는 경로로서 전압펄스가 전달한다.

그리고, 상기 구성을 가지는 프렛과 함께 현에서 플렛을 향해서 전압을 인가하는 시스템의 경우, 전압인가 수단에서 각 현에 전압펄스를 순차로 인가하며, 또 전압펄스가 인가되어 있지않는 현은 접지전위로 해두므로서 전압검출수단을 통해서 현재 전압펄스가 인가되고 있는 현의 검출되는 등가회로를 형성할 수가 있다. 이어서, 검출수단이 상기의 경우의 현과 프렛의 조합을 판정하므로서 각 현의 누름위치를 검출할 수가 있다.

한편, 프렛에서 현을 향해서 전압을 인가하는 시스템의 경우, 전압인가 수단에서 각 프렛에 전압펄스를 순차로 인가하며, 또 전압펄스가 인가되어 있지않는 프렛은 접지전위로 해두므로서 전압검출수단을 통해서 현제 전압펄스가 인가되고 있는 프렛에 접촉하고 있는 현에서만 전압펄스가 검출되는 등가회로를 형성할 수가 있다. 이어서, 상기와 같은 검출수단이 상기 프렛과 현의 조합을 판정하므로서 각 현의 누름위치를 검출할 수가 있다. 여기서, 상기 도전성 부재와 저항체부재의 2층 구조를 가지는 프렛은 도전성부재의 위에 저항체부재를 코팅하므로서 쉽게 제조할 수가 있으므로, 또 그와 같은 프렛의 목으로의 설치는 통상의 프렛을 목에 설치하는 것과 완전히 똑같은 가공기술로서도 좋다. 이에 가해서, 각 프렛의 도전성부재에 접속되는 코드는, 예컨데 목 중앙부에 통상 설치되어 있는 홈등을 이용해서 배선할 수가 있기 때문에 목 자체의 구조는 통상의 기타등과 거의 같게 할 수가 있다. 따라서, 목 부분의 제조단가를 낮게 억제할 수가 있고, 목의 가공에 의한 음질열화도 거의 없앨 수가 있다.

또, 전압구동형의 시스템 구성으로하므로서, 프렛을 구성하는 저항체부재의 저항치는 긴쪽 방향과 막두께 방향의 상대적인 크기의 관계가 유지되면 막두께 방향의 저항치는 앞에서 말한 제5의 종래 보기와 같이 높은 저항치로 할 필요는 없다. 따라서, 저항체부재의 재질로서 현과의 접촉에 견딜 수 있는 재질의 것을 넓은 범위에서 선택할 수가 있다. 동시에, 전압구동형의 시스템 구성은, 오페앰프와 마이크로 프로세서 등만으로서 구성할 수가 있고, 앞에서의 제5의 종래 보기에서와 같은 변압기등의 필요없기 때문에 전자악기의 단가를 낮게 억제할 수가 있다. 그리고, 현전압 검출수단 또는 프렛전압 검출수단의 입력측은 예컨데, 적당한 저항치에 의해 접지전위에 풀 다운되도록 구성 할 수도 있다. 이렇게 하므로서 각현 또는 각 프렛의 어느것에도 프렛 또는 현이 접촉하고 있지 않을 때는 상기 입력측이 부정치가 되어서 오동작을 하는 것을 방지할 수 있는데, 이와 같은 경우에는 입력측은 접지전위로 유지된다.

더우기, 전자악기, 특히 전자현악기에 피치밴드의 기능을 부가할 경우, 피치밴드 조작의 검출은 전용의장치, 예를들면 슬라이드형 가변저항 수단 또는 현진동파형으로 부터의 피치추출수단에 따라서 행해지고 있기 때문에 당해 회로구성을 현누름위치의 검출회로와 다른 구성으로 할 수도 있다. 이 결과, 앞에서 말한 제5의 종래 보기등에 비교해서 프렛 주변의 회로구성이 간단해지는 동시에 회로의 조정등이 대단히 간단해져서 전자악기전체의 단가를 억제할 수가 있고, 신뢰성도 향상시킬 수가 있다.

제2의 형태에서는, 예컨데 하나의 프렛에 복수의 현이 접촉하고 있을 경우, 각 현의 도전성 현부재의 부분과 프렛은 상기 각 현의 도전성 현부재의 외주에 형성된 저항체부재에 의해서 전기적으로 접촉되며, 상기 3층 구조의 현의 경우 현의 도전성 현부재→그 외주의 저항체부재→다시 그 외주의 도전성 부재→프렛 이라는 경로, 또는 그 역의 경로로 전압펄스가 전달된다. 또는, 상기 2층구조의 현의 경우, 현의 도전성부재→그 외주의 저항체부재→프렛이라는 경로, 또는 그역의 경로로 전압 펄스가 전달된다. 이에 가해서, 상기 제1의 형태와 같은 현누름위치 검출회로의 시스템을 구성하므로서 제1의 형태와 같은 작용할 수가 있다.

여기서, 상기 도전성 현부재와 저항체부재의 3층 또는 2층 구조를 가지는 현은 도전성현부재위에 저항체부재를 코팅하며, 3층구조의 경우, 다시 그위에 도전성부재를 코팅하므로서 비교적 용이하게 제조할 수 있다. 또, 상기 복수의 프렛의 목으로의 설치는 통상의 프렛을 목에 설치하는 기술과 완전히 같은 가공기술이면 되며, 다시, 각 프렛로의 배선은 예컨데, 목중앙부에 통상 뚤어져있는 홈의 부분에 목방향으로 가늘고 긴 프린트기판을 형성키므로서 쉽게 배선이 가능하게 되기 대문에 목자체의 구조는 통상의 기타등과 거의 같게할 수가 있다. 따라서, 상기 제1의 형태와 마찬가지로 목 부분의 구조 단가를 낮게 억제할 수가 있으며, 목의 가공에 의한 음질 열화도 거의 없앨 수가 있다.

제3의 형태는, 전자현악기등의 전자악기에 한정되지 않고 일반적인 전자기기의 스위치 매트릭스를 대상으로 할 수가 있다. 그리고 예컨데, 1개의 행방향접속선(또는 열방향 접속선)위의 복수의 스위치 소자가 동시에 조작되었을 경우, 각 행방향 접속선과 각 열방향 접속선은 스위치 소자에 직열로 접속된 저항을 통해서 전기적으로 접속되어 행방향접속선 스위치 소자→저항(또는 저항→스위치소자)→열방향 접속선 또는 그역의 경로로서 전압펄스가 전달된다. 여기에 가해서, 상기 제1의 형태와 같은 스위치 조작검출회로의 시스템을 구성하므로서 복수의 동시에 행해진 스위치 조작을 정확히 검출할 수가 있다.

여기서, 스위치소자에 접속되는 각 저항치는 프린트 기판위에 카아본인쇄에 의한 저항체 박막을 형성하므로서 용이 또는 값싸게 실현시킨다. 특히, 각 스위치소자를 고무접점등의 탄성부재로 하고 이 접점을 카아본 인쇄에 의해서 형성시키면 이때 동시에 저항체 박막도 인쇄해 버릴수가 있어서 그의 단가가 소요되지 않는다. 또, 고무접점 스위치의 경우 접점자신이 저항치를 가지고 있기 때문에 특히 저항을 필요로하지 않으며 매트릭스 모양으로 배치된 스위치만으로 한다.

따라서, 앞에서의 제6의 종래보기에 비교해서 대단히 값이 싼 스위치 매트릭스를 제공할 수가 있다. 또, 앞에서의 제7의 종래 보기등과 비교해서 적용가능한 전자기기를 넓은 범위에서 선택할 수 있는 스위치 매트릭스를 제공하는 것이 가능해진다.

다음에, 제4의 형태는, 상기 제3의 형태와 같은 원리를 전자악기의 검출시스템에 적용한 것이다. 즉, 프렛의 구성으로서 복수의 각 현마다 접촉가능하며 이 각 현마다에 예를들면 절연성부재에 의해 구획된 전기으로 독립해 있는 도전성부재와 이 각 도전성부재의 하부에 접촉되는 저항부재와 이 저항부재의 하부에 접속되는 배선부재로서되는 구조를 가지므로서 프렛에 접촉하고 있는 복수의 현은 전기적으로 현→도전성부재→저항체부재→배선부재, 또는 그역의 경로로서 전압펄스를 전달한다. 여기에 가해서 상기 제1의 형태와 같은 현누름 위치검출회로의 시스템을 구성하므로서 제1의 형태와 같은 작용을 할 수가 있다.

여기서, 상기 구성의 프렛은, 예컨데 프렛하부에 프린트기판을 설치해서 배선부재(패턴)을 형성하고 그위에 저항체부재를 코팅하고, 다시 절연성부재와 도전성부재를 샌드위치구조로 하므로서 비교적 용이하게 실현시킨다. 이와같은 프렛의 목으로의 설치는 앞에서의 제1의 형태 또는 제2의 형태와 마찬가지로 통상의 프렛을 목에 설치하는 것과 같은 가공기술로서도 좋다.

다시, 앞에서와 같이, 현과 프렛이라는 관계에서만 아니고 보다 일반적인 교차형 접촉구조로도 할 수가 있기 때문에 적용범위가 넓은 조작위치 검출장치 또는 그것을 사용한 전자악기를 실현하는 것이 가능해진다.

다음에 제5의 형태의 경우, 현누름검출수단과 별도로 복수의 현에 대한 피치밴드 조작을 검출하는 피치밴드 검출수단을 구비하고 있다. 이로인해 앞에서의 제5의 종래 보기등에 비해 프렛부 주변의 회로구성이 간단해진다. 마지막으로, 제6의 형태의 경우, 앞에서의 제5의 형태의 경우와 같이 현누름위치 검출수단과는 별도로 악음의 발생후에 현에 대한 피치밴드조작이나 트레몰로암에 의한 어밍조작등이 행해질 경우, 이에 응답해서 현진동주기를 측정하는 수단을 구비하고 있다. 이로인해, 잎에서의 제5의 형태의 경우와 같은 작용효과를 얻을 수가 있다.

[실시예]

아래에, 본 발명의 실시예에 대해서 상세하게 설명을 한다.

[제1의 실시예의 구성]

제1a도는, 제1의 실시예에 관한 전자현악기의 외관 평면도, 제1b도는 같은 외관 사시도이다.

이 전자현악기는 핑거보드(4)를 가지는 목(3)과 동부(9)로서 되어있으며, 핑거보드(4)는 음고지정용의 20개의 프렛(2)(＃1－＃20)에 의해서 구획되어 있다.

핑거보드(4)위에는 비신축성의 부재로서되는 6개의 현(1)(＃1－＃6)이 대체로 평행하게 팽팽하게 설치되어 있으며, 각 현(1)은 그 1단이 헤드(5)측의 현고정용 펙(501)로서 지지되며, 타의 1단은 동부(9)위의 픽업케이스(8)내의 브리지(6)에 지지된다. 그리고, 이들 각 현(1)은 프렛(2) 사이에서 누르므로서 프렛(2)에 접촉이 가능하다.

픽업 케이스(8)내에는 각 현(1)의 트리거 검출용의 6개의 픽업(7)(＃1－＃6)이 설치되어 있다.

또, 헤드(5) 내부 및 목(3)의 동부(9)으로의 붙임 부분에는 피치밴드 검출부(502) 및 (503)이 설치되어 있다.

다시, 각종 절환 스위치(504), 전원스위치(11), 음량조정용의 보륨(10), 악음 발음용의 스피커(12) 등을 가진다. 다음에, 제1c도에 제1a도 및 제1b도의 피치밴드 검출부(503)의 사시도를 표시했다. 상판(5001)의 하부에는, 각 현위치에 대응해서 6개의 슬라이딩형 가변저항기(5002)가 설치되어 있으며, 6개의 현(1)(＃1－＃6)의 각각은 상기 각 저항기(5002)에서 상판(5001)로 뚫어진 6개의 슬라이드구멍(5004)을 관통해서 상판 표면에 돌출하는 슬리이드축(5003)에 의해서 지시된다.

그리고, 연주자가 연주중에 제1a도 도는 제1b도의 핑거보드(4)위의 임의의 위치에서 임의의 현(1)을 누르면서 현(1)과 직교하는 방향으로 당해 현(1)을 밀어올리는 또는 밀어내리는 동작 즉 치치밴드조작(쵸킹조작이라고도 함, 이하가 같음)을 행하므로서 당해 현(1)의 이동과 함께 그것을 지시하는 슬라이드축(5003)로 이동하며, 이로서 대응하는 슬라이드형 가변 저항(5002)에서의 저항치가 변화한다. 이로서, 후술하는 피치밴드 검출회로를 통해서 피치밴드량이 검출되어 악음에 반형된다.

그리고, 헤드(5)축의 피치밴드 검출부(502)는 동 헤드(5)내부에 격납되며, 한편 목(3)의 붙은 부분측의 피치밴드검출부(503)에는 상관(5001)의 상부에 보호용의 커버가 설치되어 있다.

이어서, 제2a, 제2b도는 제1a도 또는 제1b도의 프렛(2)의 구성을 나타낸 도인데, 제2a도는 제1a도의 Ⅰ－Ⅰ방향에서 본 단면도, 제2b도는 제1a도의 II－II방향에서 본 단면도이다.

프렛(2)는 대체로 평행하게 평행하게 설치된 6개의 현(1)의 팽팽하게 설치된 방향과 대체로 직교하는 방향으로 가늘게 길게 각 현(1)(＃1－＃6)에 공통인 구조로 되어 있으며, 목(3) 및 핑거보드(4)는 강하플라스틱재료(절연성부재라도 좋다)에 의해서 구성되어 있다.

그리고, 각 프렛(2)는 제2a,2b도에서와 같이 도체(14)(예컨데 금속)로서 되는 기초부재위에 저항체박막(13)을 코팅한 구조를 가지며, 각 현(1)은 프렛(2)의 전후의 핑거보드(4)에 누르므로서 상기 저항체박막(13)의 부분에 접촉하도록 되어 있다.

또, 프렛(2)의 도체(14)에는 리드선(15)이 접속되며, 리드선(15)은 목(3)내의 홈(통상의 기타에서는 목의 중앙에 파져있다)등을 통해서 제1a도 또는 제1b도의 동부(9)내에 구성되는 뒤에서의 회로에 접속된다.

제3도는 제1a도, 제1b도, 제1c도 및 제2도를 기초로해서 구성되는 전자현악기의 제1의 실시예의 블록도이다. 이 회로는 제1a도 또는 제1b도의 동부(9)내에 설치되는데 제3도의 악음발생회로(24), D/A변환기(25), 앰프(26) 및 스피커(12)는 제1a도 또는 제1b도의 전자현악기 본체의 외부에 따로 설치해도 좋다.

이 도면에서, 중앙제어장치(CPU, 이하같음)(16)의 포트‘A’에서 출력되는 6종류의 전압펄스 S₁－S₆는 각각 6개의 현 드라이버(17)(＃1－＃6)의 각 비반전입력단자(그림에서 기로[＋]로서 표시)에 입력한다. 현 드라이버(17)(＃1－＃6)은 각각 오페앰프로서 구성되며 각 출력이 각 반전입력단자(그림에서 기호[－]로 표시)에 피드백하고 있으며, 각 출력에는 각각 전압펄스 S₁－S₂와 같은 기호가 나타나나 각 신호가 입력하고 있지 않는 경우에는 그 출력인피던스는 극히 작아서 거의 0이다.

현 드라이버(17)(＃1－＃6)의 각 출력은 브리지(6)(제1a도 참조)측에서 제1현1(＃1)－제6현(1)(＃6)의 각 현에 접속되어 이 각 현(1)에 상기 각 전압펄스 S₁－S₆가 인가된다.

한편, 제1프렛(2)(＃1)－제20프렛(2)(＃20)의 각 리드선(15)(제3도에서는 생략, 제2도 참조)를 통해서 출력되는 각 프렛 F₁－F₂₀은 아날로그 스위치(18)에 입력한다. 아날로그 스위치(18)에서는 CPU(16)의 포트‘B’로부터 단자(SEL)에 입력하는 5비트의 프렛셀렉터 신호(20)(2진부호)를 데코드하므로서 프렛신호(F₁－F₂₀)중 1개를 선택하여 공동출력단자(COM)에서 출력한다.

상기 출력은, 오페앰프로서 구성되는 비교기(19)의 비반전 입력단자 입력하고 여기서 반전입력단자에 입력하고 있는 문턱치전위 Vo와 비교되어서 프렛 검출출력 Co로서 출력되어 CPU(16)이 포트‘F’에 입력된다.

그리고, 비교기(19)의 반전입력단자는 저항치 Ro의 저항에 의해 접지전위에 풀 다운 되어 있다.

다음에, 각 현(1)(＃1－＃6)마다 설치되어 있는 픽업(＃1－＃6)부터의 출력은, 각각 6개의 트리거 검출부(21)(＃1－＃6, 도면에서는 ＃1만은 표시)에 입력한다.

트리거검출부(21)에서는 픽업(7)로 부터의 출력은 구동용의 드라이버(21－1)를 통해서 비교부(21－2)의 비반전입력 단자에 입력하고, 여기서 반전입력단자에 입력하고 있는 문턱치전위(V₁)와 비교된다. 그리고, 현(1)의 픽킹되어 피크업(7)로 부터의 출력이 문턱치전위(V₁)를 넘으면, 비교기(21－2)의 출력이 하이레벨로 일어서게 된다.

상기 비교기(21－2)의 출력은 D플립플롭(21－3)의 크록단자(CK)에 입력되고 그 일어섬으로서 입력단자(D)에 입력하는 논리(1)를 나타내는 하이레벨전위(V_H)가 출력단자(Ω)에서 CPU(16)의 포트‘C’로 출력되고, 이 출력이 각 현(1)(＃1－＃6)이 픽킹되었는가 어떤가를 나타내는 트리거 신호가 된다. 그리고, D플립플롭(21－3)는 CPU(16)의 포트‘C’에서 크리어단자(CL)에 일정시간마다 입력하는 신호에 의해 크리어되어, 픽킹의 검출동작이 되풀이 된다.

이어서, 앞에서와 같이 제1a도는 제1b도의 헤드(5)내에는 피치밴드검출부(502)가 설치되어, 제1c도에서와 같이 각 현(1)(＃1－＃6)에 대한 피치밴드 조작검출용의 슬라이드형 가변저항(5002)가 각각 5개 설치되어 있는바, 이들 저항기(5002)는 제3도의 피치밴드 검출회로(505)에 접속되고, 각 슬라이드형 가변저항기(5002)에서의 슬라이드축(5003)의 각 이동량의 6종류의 전압치로 변환된다. 그리고, 상기 각 전압치는 A/D변환기(506)에서 디지탈량으로 변환되어 CPU(16)에 입력한다.

마찬가지로, 제1a도 또는 제1b도의 목(3)의 동부(9)로의 붙은 부분에 설치되는 피치밴드 검출부(502)의 6개의 슬라이드현 가변저항기(5002)는 제3도의 피치밴드(507)에 접속되어, 이 호로로부터의 6종류의 전압치는 A/D변환기(508)에서 디지탈량으로 변환되어 CPU(16)으로 입력된다. CPU(16)에는 리드온리 메모리(ROM, 이하같음)(22) 및 렌덤 악세스 메모리(RAM, 이하같음)(23)가 접속된다. ROM(22)에는 뒤에서 설명하는 제어동작을 행하기 위한 프로그램등이 기재되고, RAM(23)에는 프로그램의 워크영역 또는 유저의 악음정보등의 등록영역으로서 사용한다.

CPU(16)으로 부터의 후술하는 발음개시정보, 음고지정정보 및 음고변경정보등의 악음제어정보는, 악음발생회로(24)로 출력되어, 이 회로(24)에서는 거기에 따라서 악음이 발생되며, D/A변환기(25)에서 아날로그의 악음신호로 변환되어, 앰프(26)에서의 증폭된후 스피커(12)에서 방음된다.

[제1의 실시예의 동작]

상기 제1의 실시예의 동작에 대해서 아래에서 설명을 한다.

먼저, CPU(16)의 포트‘A’에서 출력되는 전압펄스(S₁－S₆)는, 제4도에서와 같이 순차논리[1]를 나타내는 하이레벨전위(V_H)가 되어 S₁－S₆까지 주사되는 각 구간마다에 CPU(16)의 포트‘B’에서 출력되는 5비트의 프렛셀렉트신호(20)가 변환하여, 이에 따라서 아날로그 스위치(18)에서의 선택상태가 제4도에서와 같이 프렛신호(F₂₀)에서 순차로 (F₁)까지 변환한다.

그리고, 지금 제1현(1)(＃1)과 제2현(1)(＃2)이 눌려져서 함께 제n프렛(2)(＃n)에 접촉했다고하고, 제4도에서 아날로그 스위치(18)가 제n프렛(＃n)로 부터의 프렛신호(Fn)를 선택한 구간을 생각해보기로 한다. 이때, 먼저 제n프렛(2)(＃n)의 부분의 등가회로는 제5a도에서와 같이 된다. 즉, 제1현(1)(＃1) 및 제2현(1)(＃2)이 각각 접촉하고 있는 저항체박막(13)과 도체(14)(제2b도 참조)의 사이에 막두께(d)에 대응하는 저항(Ro)이 각각 존재한다. 또, 마찬가지로 저항체박막(13)에 있어서 제1현(1)(＃1)과 제2현(1)(＃2)의 사이에 그들의 현 사이의 거리(D)에 대응하는 저항(Rx)가 존재한다. 다시, 비교기(19)의 반전입력측은, 저항치(Ro)의 저항에 의해 접지전위에 풀 다운된다.

따라서, 그때의 제3도의 시스템전체의 동가회로는 제5b도와 같이 된다. 여기서, 제2a,2b도에서 설명한 것처럼, 프렛(2)를 도체(14)위에 저항체박막(13)을 코팅하는 방식을 제조하므로서 제5a도의 저항체 박막(13)의 막두께 d를 현 사이의 거리(D)에 비교해서 충분히 작은 값으로 할 수가 있다. 그리고 이 경우, 저항 Rx는 저항 Ro에 비교해서 충분히 큰 값이되고 제5a도의 저항체박막(13)에서는 제1현(1)(＃1)과 제2현(1)(＃2)의 사이는 근사적으로 절연할 수가 있다. 즉, 제5b도의 등가회로에서 저항 Rx는 근사적으로 제거할 수가 있어서, 단자 a와 b의 사이는 근사적으로 개방상태가 된다.

따라서, 제4도의 아날라로그스위치(18)가 제n프렛(2)(＃n)로 부터의 프렛신호(Fn)를 선택한 구간에서 전압펄스(S₁)가 하이레벨전위(V_H)가 되었을때의 등가회로는 제5c도에서와 같이 된다. 여기서, 접지(CND)는 제2현(1)(＃2)에 접속되는 현 드라이버(17)(＃2)의 출력임피던스가 거의 0이기 때문에 얻어지게 된다(그리고, S₂는 인가되어 있지 않다). 또, 프렛신호(Fn)가 검출되는 부부은 제3도의 아날로그 스위치(18)를 통해서 접속되는 비교기(19)의 입력임피던스가 극히 크기 때문에 제5c도에서와 같이 개방상태라고 볼 수가 있다.

제5c도의 등가회로에서, Fn＝V_H·(Ro/2)(Ro＋Ro/2)＝V_H/2＝V_H/3이 된다. 따라서, 제4도의 아날로그스위치(18)가 제n프렛(2)(＃n)로 부터의 프렛신호(Fn)를 선택한 구간에서, 전압펄스 (S₁)가 하이레벨전위(V_H)가 되었을 경우 즉, 제6도의 구간(T₁)에서는 프렛신호(Fn)는 이도에서와 같이 V_H/3가 된다. 따라서, 제3도의 비교기(19)에 입력하는 문턱전위(Vo)를 V_H/3보다 낮은 정전위로 해두므로서 구간(T₁)에서 비교기(19)로부터 출력되는 프렛 검출출력(Co)을 제6도에서와 같이 논리(1)에 대응하는 하이레벨전위(V_H)로 할 수가 있다.

이때, CPU(16)는, 프렛셀렉트신호(20)의 상태에 의해 아날로그 스위치(18)가 프렛신호(Fn)를 선택하고 있음을 인식할 수가 있으며, 또 (S₁)가 하이레벨전위(V_H)로 하고 있는 것이 인식되기 때문에 그 타이밍에서 플렛검출출력(Co)이 하이레벨전위(V_H)가 되었음을 인식하므로서, 제1현(1)(＃1)이 제n프렛(2)(＃n)에 접촉하고 있다는 현누름상태를 인식할 수가 있다. 그리고, 이와함께 제3도의 트리거검출부(21)(＃1)가 제1현(1)(＃1)의 픽킹의 개시를 검출했음을 인식하므로서, 악음 발생회로(24)에 발음개시정보를 출력함과 함께 상기 제1현(＃1)의 제n프렛(2)(＃2)에 대응하는 음고정보를 출력한다. 이로서, 악음발생회로(24)는 지정된 음고의 악음의 발음을 개시할 수가 있다.

다음에 상기와 같이, 제1현(1)(＃1)과 제2현(1)(＃2)이 눌려져서 함께 제n프렛(2)(＃n)에 접촉하고 있는 상태에서, 제4도의 아날로그 스위치(18)가 제n프렛(2)(＃n)로 부터의 프렛신호(Fn)를 선택한 구간에서 이번에는 전압펄스(S₂)가 하이레벨전위(V_H)가 되었을때의 등가회로를 생각해 본다. 이때 제5c도의 제1현(1)(＃1)과 제2현(1)(＃2)의 위치를 바꾸는 것만으로도 되므로, 이에 대응하는 제6도의 구간(T₂)에서도 프렛신호(Fn)는 이도에서와 같이 V_H/3가 되어 비교기(19)로 플렛검출출력(Co)가 하이 레벨전위(V_H)가 된다.

따라서, CPU(16)은 프렛신호(Fn)와 전압펄스(S₂)의 조합에서 제2현(1)(＃2)이 제n프렛(2)(＃n)에 접촉하고 있다는 현누름상태를 인식할 수가 있다. 그리고, 이와 동시에 제3도에서 특히 도시하지 않는 트리거 검출부(21)(＃2)가 제2현(1)(＃2)의 픽킹개시를 검출한 것을 인식하므로서 악음발생회로(24)에 발음개시정보를 출력하는 동시에 상기 제2현(1)(＃2)의 제n프렛(2)(＃n)에 대응하는 음고정보를 출력한다.

그리고, 제3도에서 비교기(19)의 번전입력단자측은 저항치(Ro)에 의해 접지전위로 풀 다운되었으나 이것은 아날로그 스위치(19)에서 2(＃1－＃20)의 각 프렛이선택되었을때에 1(＃2－＃6)의 어느 현에도 접촉하고 있지않을때에 비교기(19)의 반전입력단자측이 부정치가 되어서 오동작을 해버리는 것을 방지하기 위해 이와 같은 경우에는 이 단자를 첩지전위로 유지하기 위해서이다.

여기서, 제3도의 비교기(19)에서의 문턱치전위(V₆)의 설정방법에 대해서 설명하겠다.

지금, 제1현(1)(＃1)－제6현(1)(＃6)의 모두가 예를 들면 제n프렛(2)(＃n)에 접촉하고 있을때에 제1현(1)(＃1)에 하이레벨 전위(V_H)의 전위펄스(S₁)를 인가하면, 제n프렛(2)(＃n)에서 검출되는 프렛신호(Fn)에 관한 등가회로는 제7도에서와 같이된다. 그리고, 이때 Fn＝V_Hㆍ(Ro/6)/｛Ro＋(Ro)｝＝V_H/7이 되어, 이 경우가 제1현(1)(＃1)에 제n프렛(2)(＃n)에 접촉했을때에 검출되는 Fn의 전위가 가장 낮을때이다.

따라서, 이 경우에서도 제3도의 비교기(19)로 부터의 프렛검출출력(Co)이 논리(1)에 대응하는 하이레벨전위(V_H)가 되기 위새허는 비교기(19)에서의 문턱치전위(Vo)를 V_H/7〉Vo〉O가 되도록 설정하면 좋다.

다음에, 제31도의 p,q에서와 같이 제1현(1)(＃1)과 제2현(1)(＃2)이 동시에 눌려졌을때의 제3도의 회로의 동작에 대해서 설명을 한다. 이때는, 제1현(1)(＃1)이 제n＋1 프렛(2)(＃n＋1)와 제n＋2 프렛(2)(＃n＋2)에 접촉하고 제2현(1＃2)이 제n 프렛(2)(＃n)와 제n＋1 프렛(2)(＃n＋1)에 접촉하고 있다는 것이 CPU(16)에서 검출뇌면 좋다.

제31도의 경우에서, 제4도에서 아날로그 스위치(18)가 프렛신호 F_n＋2, F_n＋1 또는 F_n를 선택하는 구간에서의 제3도의 등가회로는, 제5도의 경우와 같이 생각하므로서, 제8도에서와 같이 할 수가 있다. 그리고, 이 경우에서도, 저항(R_X)은 근사적으로 제거 할 수가 있다.

따라서, 제4도의 아날로그 스위치(18)가 프렛신호(F_n＋2, F_n＋1 또는 F_n)를 선택한 구간에서 전압펄스(S₁) 또는 (S₂)가 하이레벨전위 (V_H)가 되었을때, 즉 제10도의 구간 T₂,T₄,T₅,T₆,T₇또는 T₈의 경우의 등가회로는 제9a－e도와 같이 된다.

먼저, 제9a도는, 제10도의 구간(T₃)에서, 제3도의 아날로그 스위치(18)로서 제n＋2 프렛(2)(＃n＋2)로 부터의 프렛신호(Fn＋2)가 선택되고, 제1현(1)(＃1)에 하이레벨의 전위(S₁)의 전압펄스(S₁)가 인가되었을 경우이며, 아날로그 스위치(18)의 공동출력단자(COM)로 부터의 프렛신호(F_n＋2)는 비교기(19)의 입력임피던스가 극히 크기 때문에 그 부분에는 전류가 흐르지 않고, 제9a도에서 F_n＋2＝V_H/2가 된다. 제3도의 비교기(19)로 부터의 프렛 검출출력(10)은 제10도에서와 같이 하이레벨전위(V_H)가 되어 이로서 제3도의 CPU(16)는 제31도 에서와 같이 제1현(1)(＃1)이 제n＋2 프렛(2)(＃n＋2)에 접촉하고 있다고 인식할 수 있다.

제9b도는, 제10도의 구간(14)에서 제3도의 아날로그 스위치(18)로서 제n＋2 프렛(2)(＃n＋2)로 부터의 프렛신호(F_n＋2)가 선택되고, 제2현(1)(＃2)에 하이레벨의 전위(V_H)의 전압펄스(S₂)가 인가되었을 경우이며, 아날로그 스위치(18)의 공통출력단자(COM)로 부터의 프렛신호(Fn＋2)는 제9b도에서 접지전위(O볼트)가 된다. 따라서, 제3도의 비교기(19)로 부터의 프렛 검출출력(Co)은 제10도에서와 같이 논리[0]에 대응하는 로우레벨전자(0볼트)가 되고 제31도에서와 같이 제2현(1)(＃2)은 제n＋2 프렛(2)(＃n＋2)에 접촉하고 있지 않음을 알 수가 있다.

제9도는 제10도의 구간(T5)에서 제3도의 아날로그 스위치(18)로서 제n＋1 프렛(2)(＃n＋1)로 부터의 프렛신호(Fn＋1)가 선택되어 제1현(1)(＃1)에 하이레벨의 전위(V_H)의 전압펄스(S₁)가 인가되었을 경우이며, 아날로그 스위치(18)의 공통출력단자(COM)으로 부터의 프렛신호(F_n＋1)는 제9c도에 의해 F_n＋1＝V_Hㆍ(Ro/2)/(Ro＋Ro＋2)＝V_H/3이 된다. 따라서 제3도의 비교기(19)로 부터의 플렛 검출출력(Co)은 제10도에서와 같이 하이레벨번위(VH)가 되고, 이로인헤 제3도의 CPU(16)는 제31도에서와 같이 제1현(1)(＃1)이 제n＋1프렛(2)(＃n＋1)에 접촉하고 있지 않음을 인식할 수가 있다.

다음에, 제10도의 구간(T₆)에서 제3도의 아날로그 스위치(18)로서 제n＋1프렛(2)(＃n＋1)로 부터의 프렛신호(F_n＋1)가 선택되고 제2현(1)(＃2)에 하이레벨의 전위(V_H)의 전압펄스(S₂)가 인가되었을때의 아날로그 스위치(10)의 공통출력 단자(COM)으로 부터의 프렛신호(F_H＋1)는, 제9c도에 괄호내에서 나타낸 것처럼 제1현(1)(＃1)과 제2현(1)(＃2)이 역으로 되는것 뿐이며, Fn＋1＝V_H/3이 된다. 따라서, 이때도 제3도의 비교기(19)로 부터의 프렛 검출출력(Co)는 제10도에서와 같이 하이레벨전위(V_H)가 되며, 이로서 제3도의 CPU(16)는 제31도에서와 같이 제2현(1)(＃2)이 제n＋1프렛(2)(＃n＋1)에 접촉되어 있다고 있다고 인식될 수 있다.

제9d도는, 제10도의 구간(T₇)에 있어서 제3도의 아날로그 스위치(18)로서 제n프렛(2)(＃n)로 부터의 프렛신호(F_n)가 선택되어 제1현(＃1)에 하이레벨의 전위(V_H)가 전압펄스(S₁)가 인가되었을 경우이며, 아날로그 스위치(18)의 공통출력단자(COM)으로부터의 프렛신호(F_n)는 제9d도에서 접지전위(0볼트)가 된다. 따라서, 제3도의 비교기(19)로 부터의 프렛검출출력(CO)은 제10도에서와 같이 논리[0]에 대응하는 로우레벨전위(0볼트)가 되어 제31도에서와 같이 제1현(1)(＃1)은 제n프렛(2)(＃n)에 접촉하고 있는지를 알 수 있다.

마지막에, 제9e도는, 제10도의 구간(T₈)에 있어서, 제3도의 아날로그스위치(18)로서 제n프렛(2)(＃n)로 부터의 프렛신호(F_n)가 선택되고, 제2현(1)(＃2)에 하이레벨의 전위(V_H)가 진압펄스(S₂)가 인가된 경우이며, 아날로그스위치(18)의 공통출력단자(COM)로 부터의 프렛신호(n)는 제9e도에서 F_n＝V_H/2가 된다. 따라서, 제3도의 비교기(19)로 부터의 프렛검출출력(CO)은 제10도에서와 같이 하이레벨전위(V_H)가 되고, 이로서 제3도의 CPU(16)는 제31도에서와 같이 제12현(1)(＃2)이 제n프렛(2)(＃n) 에 접촉해 있음을 인식할 수가 있다.

이상 제8도－제10도에서와 같이 제31도에서와 같은 현누름보기에 있어서도 제4의 종래 보기의 문제로서 설명한 것처럼 제2현(1)(＃2)에 신호를 인가했을 때에 그것이 제n＋1 프렛(2)(＃n＋1), 제1현(＃1), 제n＋2 프렛(2)(＃2＋2)와 함께 어울려서 제n＋2 프렛(2)(＃n＋2)에서 잘못해서 신호가 검출되어버리는 일은 없으며, 제3도의 CPU(16)는 정확한 누름위치를 검출할 수가 있다.

그리고 제31도에서는 동도 A의 방향이 제1a도의 브리지(6)축으로 하면 제1현(1)(＃1) 및 제2현(1)(＃2)에 대응하는 음고는 브리지(6)축에 가장 가까운 위치에서 접촉하고 있는 프렛이 된다. 따라서, 제3도의 CPU(16)는 그것을 인식하기 위해 제4도에서와 같이 브리지(6)축에 가장 가까운 프렛 즉, 제20프렛(2)(＃20)에서 우선적으로 주사하도록 하고 있다. 따라서, 실제로는 제31도의 보기에서는, 제1현(1)(＃1)에 대해서는 제10도(T₃)에서 검출이 행해진 후의 T₅,T₇에서는 검출이 행해지지 않으며, 제2현(1)(＃2)에 대해서는 제10도에서 검출이 행해진후의 T₈에서는 검출이 행해지지 않는다.

이어서, 이상의 동작에 의해 연주자가 어느 현(1)을 어느 프렛(2)의 위치에서 눌런는 가가 검출된 후, 연주자가 피치밴드 조작을 행했을때의 동작에 대해서 설명한다.

피치밴드 조작이란, 앞에서 설명한 것처럼, 연주자가 연주중에 제1a도 또는 제1b도의 핑거보드 위의 임의의 위치에서 임의의 현(1)을 누르면서 현(1)과 직교하는 방향으로 당해 현(1)을 위로올리면서 행하는 동작을 말한다. 그리고, 통상의 기타등에서 이 조작이 행하는 동작을 말한다. 그리고, 통상의 기타등에서 이 조작이 행해지면 현의장력이 변화하기 때문에 이것을 픽업등으로서 주어서 중촉하므로 발음되는 악음의 음고(피치)를 당초의 현누름위치에 대응하는 음고로 부터 변화시킬 수가 있다. 이 실시예에서의 전자기타에서도 아래에 제시하는 동작에 의해서 피치밴드 효과를 악음에 부가할 수가 있다.

즉, 연주자가 임의의 현(1)에 대해서, 피치밴드 조작을 행하므로서 제1a도 또는 제1b도의 피치밴드 조검출부(502) 및 (503)에서 당해현(1)의 이동과 함께 그것을 지시하는 슬라이드측(5003)(제1c도)도 이동해서 이로인해 대응하는 슬라이드형 가변저항기(5002)(제1c도)에서의 저항치가 변화한다.

이 저항치의 변화는 제3도의 피치밴드 검출회로(505) 및 (507)에서 대응하는 전압치로 변환되어 A/D변환기(506) 및 (508)에 의해 디지털치로서 CPU(16)에 들어가게 된다.

CPU(16)는, 각 현(1)마다에 A/D 변환기(506) 및 (508)로 부터의 각 디지털치의 평균치를 계산해서 이 평균치가 악음의 발음개시당초(제3도의 트리거 검출부(21)에서 대응하는 현(1)의 픽킹이 검출되는 시점)의 동평균치에서 어느정도 변화했는가를 계산한다.

그리고, 이 변화분에 대응하는 음고의 변화량을 계산해서 대응하는 음고변경정보를 작성하여 악음발생회로(24)에 출력한다. 이로서, 악음발생회로(24)에 출력되고, 동 회로(24)에서는 그것에 따라서 발음중의 악음의 음고가 변경된다.

그리고, 제1a도 및 제1b도의 피치밴드 검출부(502) 및 (503)의 양자의 정보에서 피치밴드 제어를 행하도록 한 것은 동도의 핑거보드(4)위의 어느 프렛위치에서 현(1)이 눌려지더라도 안정된 피치밴드량의 검출을 행해지게 하기 때문이다. 즉, 헤드(5)측에만 피치밴드 검출부(502)를 설치했을 경우, 고음축의 프렛(보리지(6)축으로의 프렛((2)의 위치에서 피치밴드 조작을 행하면 그 밴드조작에 의해 이동되는 현(2)의 이동량은 헤드(5)축에서는 미소하며, 앞에서의 피치밴드량의 검출이 행해지지 못하게 된다. 이와 같은 상태를 방지하기 위해서이다.

여기서, 현(1)을 피치밴드 했을때에 현 사이의 거리가 접근해서, 제5도 등에서, 저항체박막(13)의 막두께(d)가 각 현(1) 사이거리(D)에 비교해서 충분히 작은 값으로 할 수가 없으며, 이로인해 저항(Rx)을 저항(RO)에 비교해서 충분히 큰 값으로 할 수가 없게되어 제5d도의 등가 회로에서 저항(R_X)을 근사적으로 제거할 수가 없는 가능성이 있다. 일반적으로, 피치밴드 조작은 현(1)의 누름조작과 동시에 행해지는 일은 좀처럼 없고, 현누름시는 정상인 현사이 거리를 유지해서 눌려지는 일이 많기 때문에 특히 문제가 되지는 않는다. 현 누름시에 각 현(1) 서로가 이상으로 접근했을때의 대책으로서는 예컨데 제3도의 트리거 검출부(21)에서 대응하는 현(1)의 픽킹이 검출되었을때의 시점에서만 프렛검출을 행하도록 하고 그후 현(1)의 진동이 없어질때까지(트리거 검출부(21)에서 대응한 현(1)의 픽킹이 검출되지 않을때까지)는 그 현(1)에 관해서는 프렛검출을 행하지 않도록 CPU(16)가 소프트적으로 제어를 행하면 해결할 수가 있다.

또, 발음개시후의 피치밴드 조작시에 현(1)서로가 접촉해서 오동작을 하는 가능성도 있으며, 이 경우도 상기에서와 마찬가지로 생각하면 문제가 되지 않는다.

[제2의 실시예의 구성]

제11도는, 전자현악기의 제2의 실시예의 프로세스도이다. 본체의 전체기구는 앞에서의 제1의 실시예에 관한 제1a도－제1c도와 같으며, 또 프렛의 구성도 앞에서의 제2도와 전혀같다. 제11도는 앞에서의 제3도에 대응해서 이 회로에서는 제3도의 제1의 실시예와는 역으로 프렛(2)축에서 전압펄스를 인가하고 그것을 브리지(6)측의 현단에서 검출하도록 하고 있다.

제11도에서 CPU(16)의 포트“B”에서 출력되는 전압펄스는 각각 20개의 프렛 드라이버(27)(＃1－＃20)의 각 비반전 입력단자에 입력한다.

프렛드라이버(27)(＃1－＃20)은 각각 오페앰프로서 구성되며, 각 출력이 각 반전입력단자에 피드백하고 있으며, 각 출력에는 각각 전압펄스

과 같은 신호가 나타나나, 각 신호가 입력하고 있지 않을때는 그 출력 임피던스는 거의 0이다.

프렛 드라이버(27)(＃1－＃20)의 각 출력은, 제1프렛 (2)(＃1)－제20프렛 (2)(＃20)의 각각에 각 리드선(15)(제11도에서는 생략, 제2도 참조)를 통해서 접속된다.

한편, 브리지(6)(제1a도 참조)측에서는 제1현(1)(＃1)－제6현(＃6)의 각각에서 출력된 각 현신호 MS₁－MS₆는 오페앰프로서 구성되는 비교기(28)(＃1－＃6)의 각 반전입력단잔의 입력하고 있는 문턱치전위(Vo)와 비교되어서 현검출출력

로서 출력되어 CPU(16′)의 프로“A”에 입력한다. 그리고, 비교기(28)(＃1－＃6)의 각 반전 입력단자에는 각각 저항치(Ro)의 각 저항에 의해 접지전위에 풀 다운되어 있다. 이것은 상기 제1의 실시예의 경우와 마찬가지로(1)(＃1－＃6)의 각 현(2)(＃1－＃20)이 어느 프렛과도 접촉하고 있지 않는 경우에 각 비교기(28)(＃1－＃6)의 반전입력단자측이 불전치가 되어 버려서 오동작을 해버리는 것을 방지하기 위해 그와 같은 경우에는 각 단자를 점지전위를 유지하기 위해서이다.

상기 이외의 회로에서, 제3도의 제1의 실시예와 같은 번호를 붙인 회로는, 제1의 실시예의 경우와 같기 때문에 그들의 설명을 생략한다.

[제2실시예의 동작]

상기 제2의 실시예의 동작에 대해 아래에서 설명한다.

먼저, CPU(16′)의 포트“B”에서 출력되는 전압펄스

는 제12도에서와 같이 순차논리[1]를 나타내는 하이레벨전위(V_H)가 되어 그 각각의 타이밍 마다에 CPU(16′)은 포트“A”에서 입력하는 현검출출력

을 한정하다.

지금, 제31도의 p,q에서와 같이 제1현(1)(＃)과 제2현(1)(＃2)이 눌려졌을때의 회로의 동작에 대해서 설명을 한다. 제31도의 경우에서, 제12도에서 전압펄스(F_n-2′,F_n+1′) 또는

가 하이레벨전위(V_H)가 되었을때 즉, 제15도의 구간(T₈,T₁₀) 또는 (T₁₁)의 경우의 제11도의 등가회로는 앞에서의 제1실시예의 제5도 또는 제8도의 경우와 같게 생각하므로서 제13도에서와 같이 개시할 수가 있다. 그리고 이 경우에서도, 저항(R_X)을 근사적으로 제거할 수가 있으며, 각 타이밍마다의 등가회로는 제14a－c도와 같게 된다.

먼저 제14a도는, 제15도의 구간(T₉)에서 제n＋2 프렛(2)(＃n＋2)에 전기펄스(F_n＋2)가 인가되었을 경우이며, 제11도의 제1현(1)(＃1)으로부터의 현 신호(MS₁)는 제14a도의 하이레벨전위(V_H)와 접지전위(0볼트)를 저항(29)와 (30) 및 풀다운 저항치(Ro)로 분압한 전위 즉, S₁＝V_Hㆍ(Ro/2)/(0＋Ro/2)＋V_H/3이 된다. 따라서, 제11도의 비교기(28)(＃1)로 부터의 현 검출출력

는 제15도에서와 같이 하이레벨전위(V_H)가 되어 이로서 제11도의 CPU(16′)는 제31도에서와 같이 제1현(＃1)이 제n＋2 프렛(＃n＋2)에 접촉하고 있다고 인식할 수가 있다.

한편, 상기에서와 같이 제15도의 구간(T₉)에서, 제11도의 제2현(1)(＃2)으로부터의 현 신호(S₂)는 제14a도에서 접지전위(0볼트)가 된다. 따라서, 제11도의 비교기(28)(＃1)로 부터의 현 검출출력

은 제15도에서와 같이 논리[0]에 대응하는 로울레벨전위(0볼트)가 되고 제31도에서와 같이 제2현(2)(＃2)은 제n＋2 프렛(2)(＃2＋2)에 접촉하고 있지 않음을 알 수 있다.

다음에, 제14b도는, 제15도의 구간(T₁₀)에서, 제n＋1 프렛(2)(＃n＋1)에 전압펄스(Fn＋1)가 인가된 경우인데, 제11도의 제1현(1)(＃1)으로부터의 현신호(MS₁)는 제14도(b)의 하이레벨전위(V_H)와 접지전위(0볼트)를 저항(31)과 (32) 및 풀다운 저항치(Ro)로서 분압한 전위 즉, MS＝V_Hㆍ(Ro/2)/(Ro＋Ro/2)＋V_H/3가 된다. 따라서, 제11도의 비교기(28)(＃1)로 부터의 현신호출력

은 제15도에서와 같이 하이레벨전위(V_H)가 되어 이로서 제11도의 CPU(16′)는 제31도에서와 같이 제1현(＃1)이 제n＋1 프렛(2)(＃n＋1)에 접촉하고 있다고 인식할 수가 있다.

한편, 상기와 같은 제15도의 구간(T₁₀)에서, 제11도의 제2현(1)(＃2)으로의 현신호(MS₂)도 상기와 마찬가지로 제14b도의 하이레벨전위(V_H)와 접지전위(0볼트)를 저항(33)과 (34) 및 풀다운 저항치(Ro)로서 분압한 전위 즉, MS₁＝V_Hㆍ(Ro/2)/(Ro＋Ro/2)＋V_H/3가 된다. 따라서, 제11도의 비교기(28)(＃2)로 부터의 현신호출력

도 제15도에서와 같이 하이레벨전위(V_H)가 되어 제11도의 CPU(16′)는 제31도에서와 같이 제2현(＃2)이 제n＋1 프렛(2)(＃n＋1)에 접촉하고 있다고 인식할 수가 있다.

마지막으로, 제14c도는 제15도의 구간(T₁₁)에서, 제n프렛(2)(＃n)에 전압펄스(Fn)가 인가되었을때이며, 제14a도의 경우와는 전혀 역이 된다. 따라서, 제11도의 제1현(1)(＃1)부터의 현신호(MS₁)는 접지전위(0볼트), 마찬가지로 제2현(＃2)으로 부터의 현신호(MS₂)는 V_H/3가 된다. 따라서, 제11도의 각 비교기(28)(＃1) 및 (28)(＃2)부터의 각 현검출출력

및

는 각각 로우레벨전위(0볼트) 및 하이레벨전위(V_H)가 되어 이로서 제11도의 CPU(16′)는 제31도에서와 같이 제1현(1)(＃1)은 제n프렛(2)(＃2)에 접촉하고 있지않으며 제2현(1)(＃2)은 제n프렛(2)(＃n)에 접촉하고 있지 않다고 할 수가 있다.

이상이 동작예에서의 제11도의 각 비교기(28)(＃1－＃6)에서의 문턱치전위(Vo′)의 설정방법에 대해서 설명한다. 앞에서 말한 제1의 실시예는 현(1)측에서 전압펄스를 인가하고 있다. 따라서, 제3도의 비교기(19)에서의 문턱치전위(Vo)는 제7도에서 설명한 것처럼 어떤 프렛(2)에 6개의 현이 동시에 접촉했을때를 문제로 했다. 이에 대해 제2의 실시예에서는 프렛(2)측에서 전압펄스를 인가하기 때문에 제7도의 각현(1)을 각 프렛으로 치환하여 생각하면 된다.

그런데, 어느 현(1)에 동시에 접촉할 수 있는 프렛(2)은 통상의 연주에서는 고작 2개 정도밖에 없다. 이로인해, 제7도와 같이 생각했을때, 병열으로되는 저항치(Ro)의 수는 풀 다운용의 저항치를 넣더라도 고작 3정도이다.

따라서, 제7도와 같이 생각해서 문턱치전위(V_H)는 V_H/3〉

〉0가 되도록 설정하면 좋다.

이상, 제13도－제15도에서와 같이 제31도와 같이 현누름예에서 제11도의 제2의 실시예는 제3도의 제1의 실시예와 전혀 같은 동작을 행할 수가 있다. 그리고 제11도의 보기에서는 검출기를 28(＃1－＃6)과 같이 병열해서 설정했기 때문에 CPU(16′)에서의 처리속도를 향상시킬 수가 있다.

[제3 및 제4의 실시예의 구성]

다음의 제3 및 제4의 실시예의 구성을 제16도 및 제17도에 도시한다. 이들은 각각 제3도의 제1의 실시예 및 제11도의 제2의 실시예에 대응한다.

이들 실시예에 있어서는, 우선 제1a도 또는 제1b도의 외관 구성에 있어서, 제1c도의 피치밴드검출부(502)와 (503)은 없고, 각 현(1)(＃1－＃6)마다 설치된 픽업(7)(＃1－＃6)이 통상의 에레키기타나 기타신시사이저등과 동일하게 각현 현진동을 직접 검출할 수 있게 되어있다. 더욱 이들 실시예에 있어서는 악음의 발음 개시후의 피치변경처리와 현진동으로 부터의 피치추출에 기준하여 하고 있으므로, 통상의 에레키기타나 신세사이자등에 사용되고 있는 현과 동일 재질, 굵기로 형성되었다. 또 각현(1)과도 적당한 장력으로 장설되었다.

그리고 제16도 및 제17도의 각 구성이 제3도 및 제11도의 각 구성과 상이한점은 제3도 및 제11도의 피치밴드 검출회로(505)와 (507), A/D 변환기(506)과 (508) 및 트리거 검출부(21)(＃1－＃6)가 없고, 대신 픽업(7)(＃1－＃6)의 출력을 입력하는 피치추출 아날로그부(35), 그것에 계속하여 접속되는 피치추출 디지털부(36)를 가지는 점이다. 제16도 및 제17도에 있어서, 피치추출 아날로그(35)는 각 픽업(7)(＃1－＃6)에서 출력되는 각 현(1)(＃1－＃6) 대응의 파형신호로부터 각종 디지털신호(후술한다)를 생성하는 회로이다.

피치추출 디지털부(36)는 피치추출 아날로그부(35)에서의 각 신호에 기준하여 피치추출을 위한 피이크치제로크로스 시각등의 각종 페러미터(후술한다)를 생성하고, CPU(16) 및 (16′)에 인터럽션신호 INT로 인터럽션을 거는 것에 의하여 버스 BUS를 개재하여 상기 각종 페러미터를 COU(16) 및 (16′)에 출력한다.

이것에 대하여 제16도 및 제17도의 CPU(16) 및 (16′)는 피치추출 디지털부(36)에서의 각종 정보에 기증하여 현(1)(＃1－＃6)중 어느현이 픽킹되는가를 검출함과 함께 비교기(19) 및 (＃1－＃6)를 통하여 상기 제1 및 제2의 실시예에서 표시한 동작에 의하여 픽킹된 현(1)에 대하여서의 프렛번호의 검출, 즉 프렛(2)(＃!－＃21)중 어느 프렛이 픽킹된 현(1)에 접촉되고 있는가의 검출을 하고, 그 프렛번호에 대응하는 음고에 의한 발음개시의 정보를 악음발생회로(24)에 출력한다.

또, 발음개시후, 연주자가 피치밴드 조작을 하므로서 픽킹된 현(1)의 장력을 변화시킨 바와 같은 경우, 피치추출 디지털부(36)로 부터의 정보에 기준하여 픽킹된 현진동의 피치주기의 변화를 추출하고 이것에 기준한 음고의 변경을 지시하는 정보를 악음발생회로(24)에 출력한다.

이상의 제어동작은 CPU(16)에 접속되는 ROM(22)에 기억된 제어프로그램에 기준하여 행해진다.

[제3 및 제4의 실시예의 동작]

상기 제3 및 제4의 실시예의 동작에 대하여 다음에서 설명한다.

우선 제16도의 DI은 피치추출 아날로그부(35)에서 피치추출 디지털부(36)에 출력되는 디지털 파형신호 DI의 1현분에 대하여 아날로그적으로 표시한 것이다. 이 파형은 각 현(1)(＃1－＃6)중의 1개의 현(2)을 픽킹하므로서 대응하는 픽업(7)(＃1－＃6)에서 검출되는 전기신호 로오페스필터로 여파한후, A/D 변환하여 디지털신호로서 출력한 것이고, 당해 현(1)을 제1a도 또는 제1b도의 각 프렛(2)에 끼워진 핑거보드의 (4)상에서 누르면서 픽킹하므로서 제1b도 T₀－T₅등에 표시한 바와 같은 피치주기를 가지는 진동 파형이 발생한다.

다음에 제3 및 제4의 실시예에서는 피치추출 디지털부(36)가 제18도의 디지털파형신호 DI에서 피이크 a₀－a₃또는 b₀－b₃등을 추출하고, 동시에 피이크치의 직후의 제로크로스 시간 t₀－t₇등을 추출한다. 그리고 이들의 데이타를 CPU(16) 및 (16′)에 인터럽션신호 INT를 출력하여 인터럽션을 거는것에 의하여 버스 BUS를 통하여 순차로 전송한다.

상기 동작에 의하여 CPU(16) 및 (16′)는 처음 데이타의 조(bo,to)가 입력된 시점에 있어서, 대응하는 현(1)이 픽킹되었다고 판단하고, 그 현(1)에 주목하여 즉석에서 상술한 제1 및 제2의 실시예로 표시한 프렛번호 검출동작, 즉 프렛(2)(＃1－＃21)중 어느 프렛이 현에 접촉하였는가를 검출하는 동작을 한다. 이하 이것을 프레스캔처리라고 호칭하고, 그 타이밍을 제18도 ①에 표시한다.

이것에 의하여 프렛번호가 검출되면, 그것에 대응하는 음고정보를 생성하고 키이온(발음개시) 정보와 함께 악음발생회로(24)에 출력하는 노오트온 처리를 한다(제18도 ②). 이것에 의하여 악음발생회로(24)가 지정된 음고로 악음의 발생을 개시하고, D/A변환기(25)로 아날로그신호를 변환된후 앰프(26), 스피이커(12)를 통하여 발음된다. 계속하여 CPU(16) 및 (16′)는 피치추출 디지털부(36)에서 인터럽션신호 INT가 입력하여 인터럽션이 걸릴때마다 입력하는 데이타의 조(a₀,t₁)(b₁,t₂)(a₁,t₃)…등에서 제18도의 각 피치주기 T₀－T₅등을 리얼타임으로 추출한다. 그리고 제16도의 ③④⑤등에 있어서, 가장 새롭게 얻어진 피치주기 T₁,RT₃,T₅등에 기준하여 음고정보를 순차생성하고, 악음발생회로(24)에 공급하므로서, 발음되고 있는 악음의 음고를 상기 각 음고정보에 기준하여 순차 변경해가는 피치변경처리를 한다.

따라서 발음개시후, 연주자가 상기 피치밴드 조작을 하므로서, 픽킹된 현(1)의 장력을 변화시킨 경우, 그것에 따라 제18도의 디지털 파형신호 D1의 각 피치주기 T₀-T₅등이 변화하기 때문에 음고정보도 그것에 따라서 리얼타임으로 변화하고, 악음이 풍부한 표현을 부가할 수가 있다.

일방, 제18도의 디지털 파형신호 D1 만에서 음고정보를 얻어 발음을 개시하고져하면, 파형입상시에 부근의 피치주기 T_O,T₁등을 얻기까지에 동 도면에 도시한 바와같이 최저에서도 1.5 피치주기정도 기다려야만 한다. 이 때문에 특히 피치주기가 긴 저음현을 픽킹한 경우에는 발음 개시의 지연이 특출하여 응답의 나쁜 악음이 되어 버린다.

그러므로 본실시예에서는 연주자가 현(1)을 누른 프렛(2)의 위치에서 현진동의 기본적인 피치주기가 정해지는 것에 착안하고, 발음개시시의 음고정보만은 제18도 ①의 프렛스캔처리로 얻어지는 프랫번호에서 생성하도록 하여 노오트온(발음개시)를 극히 빠른 타이밍으로 할 수 있는 전자현악기를 실현하고 있다.

더우기 각현(1)(＃1－＃6)의 장력은 각 프렛(2)(＃1－＃21)의 위치에서 얻어지는 음고정보와 대응하도록 미리 특별하게는 도시없는 실감개에 의하여 츄닝하여 둘 수가 있다.

또한 상기 동작은 당연하게 기타의 현(1)(＃1－＃6)의 6현분의 픽업(＃1－＃6)의 각 출력에 대하여 시분할 처리된다.

상기 설명에서 알 수 있는 바와같이 제3 및 제4의 실시예에서는 현진동에서 피치추출을 한 악음의 발음제어를 하는 타입의 전자현악기에 있어서, 발음개시시의 응답을 빠르게 하기 때문에 상술한 제1 및 제2실시예에 기준한 프렛번호 검출시스템을 조합하여 적용하고 있다. 이 경우 제2a,2b도에 도시한 바와같은 프렛구조를 채용하므로서 목(3)의 부분은 통상의 어코오스틱 기타에 비교하고 거의 가공할 필요가 없다. 이것은 [종래의 기술]의 항에서 상술한 제4도 또는 제5도의 종래예와 같이 목 부분을 상당히 대폭으로 가공하지 않으면 아니될 경우에 비교하여 우수한 점이다. 즉 목부분을 대폭으로 가공하면 현진동에 미치는 영향이 크고, 특히 현진동을 추출하여 악음을 제어하는 전자현악기에서는 음질의 열화가 불가피하지만 제3 및 제4의 실시예는 그러한 음질열화를 최소한으로 억제하고 또한 응답가 좋은 전자현악기를 제공할 수 있다.

더우기 제1a도 또는 제1b도의 동체부(9)에 전체현(1)(＃1－＃6)의 장력을 한번에 변경 조작할 수가 있는 트레몰로 아암을 설치하므로서도, 현(1)(＃1－＃6)에 의한 현진동의 피치주기를 변경할 수가 있기 때문에 피치밴드의 경우와 동일한 효과를 얻을 수가 있다.

여기에서 현(1)을 피치밴드 하였을때에 현사이의 거리가 접근 또는 접촉하는 것에 의한 오동작의 문제에 관하여 상기 제1의 실시예에 있어서 설명한 바와같이 프렛번호의 검출은 피치밴드가 실행된 가능성이 적은 발음개시시의 프렛스캔처리 ①(제18도)만에 있어서, 실행되기 때문에 오동작의 가능성은 거의 없다.

상기 설명에 있어서는 본 발명이 프렛구조 및 프렛번호의 검출에 특히 관계하기 위하여 피치주기의 추출동작은 상세하게 설명은 되어있지 아니하지만, 그 상세에 관하여는 특허출원번호 P 63－109625의 본출원인에 의한 선출원에서 상세하게 개시된바 있다.

[제5의 실시예의 구성]

다음은 제5의 실시예에 대하여 설명한다. 이 실시예에서는 전자현악기의 외관구성은 전술한 제1의 실시예에 관한 제1a도, 제1b도와 동일하고, 또 도면에 있어서의 피치밴드검출부(502)(503)에 관한 제1c도의 구성도 동일하지만, 본 실시예에서는 제1a도 또는 제1b도의 목(3) 및 현(1)의 구성이 상이한다.

제19a,19b,19c도는 제1a도 또는 제1b도의 목(3) 부분의 상세한 구성을 표시한 도면이다. 제19a도는, 제1a도의 II－II 방향에서 본 단면도, 제19b도는 도전성 프렛부재를 제외시킨 핑거보오드의 사시도, 제19c도는 제1a도의 Ⅰ－Ⅰ 방향에서 본 단면도이다. 플라스틱성의 목부재(3)(제1a도의 목(3)과 동일)의 중심부에는 그 길이방향에 이 굴설되고, 그 내부에 금속성의 목 보장부재(38)가 고정나사(39)에 의하여 고정되어 있다.

그리고 이 홈의 상부의 홈에 끼워넣어진 플라스틱성의 핑거보오드(4)(제1a도 또는 제1b도 참조)의 복수의 위치에는 제19b도에 도시한 바와 같이 프렛배치공(40)이 뚫어져있고, 이 각 프렛배치공(40)에 도전성의 프렛부재(2)(금속 또는 카본성)(제1a도 또는 제1b도 참조)가 하측에서 끼워넣어져 있다.

더우기 핑거보오드(4)에 둘러싸이고, 또 상기 복수의 각 프렛부재(2)를 목부재(3)의 홈의 하측에서 끼워넣도록 목부재(3)의 길이방향(현1의 장설방향)에 프린트 배선기판(37)이 배치되어 있다. 그리고 각 도전성 프렛부재(2)에는 리이드선(41)이 접속되고, 각 리이드선(41)은 상기 프린트 배선기판(37)상의 배선 패턴에 접속되며, 제1a도 또는 제1b도의 동체부(9)내에 구성되는 후술하는 회로에 전기적으로 접속된다.

다음은 제1a도 또는 제1b도에 또는 제19도의 현(1)(6본있다)의 상세한 구성을 제20도에 도시한다. 동도면에서 도시된 바와같이 우선 중앙부에는 현의 추구성부재인 도전성현부재(42)가 구성되고, 그 외주에 저항체 박막부재(43)가 일체적으로 형성되고, 더우기 그 외주에 도전성의 보강박막부재(44)가 일체적으로 형성되어 있다. 이 현(1)의 구성은 본 실시예의 커다란 특징으로 하는 것이다.

상기 현(1)은 보강박막부재(44)의 부분이 각 도전성 프렛부재(2)에 접촉가능하고, 도전성현부재(42)와 도전성 프렛부재(2)는 저항체 박막부재(43)를 개재하여 전기적으로 접속된다.

다음은 제1a도 또는 제1b도의 피치밴드검출부(502)(503)의 상세 구성을 전술한 제1의 실시예에 관한 제1c도와 동일한다.

계속하여 이상 제1a도－제1c도, 제19a도－19c도 및 제20도를 기초로하여 구성되는 전자현악기의 제5의 실시예의 블록도는, 상술한 제1의 실시예에 관한 제3도의 구성과 완전 동일한 것이다.

여기 제3도에 있어서, 현 드라이버(17)(＃1－＃6)의 각 출력은 브리지(6)(제1a도 참조)측에서 6본의 각현(1)(＃1－＃6)의 각현의 도전성현부재(42)(제20도 참조)에 접속되고, 당해 각 현(1)에 전압펄스 S₁－S₆이 인가된다.

일방 21개의 각 프렛(2)(＃1－＃21)에서 출력되는 각 프렛신호 F₁－F₂₀은, 이 각 프렛(2)의 리이드선(41)에서 프린트 배선기판(37)(제3도에서는 생략, 제19c도 참조)를 개재하여 출력된다.

제3도에 있어서, 상기 구성이외의 기타의 구성은 상술한 제1의 실시예의 경우와 같다.

[제5의 실시예의 동작]

상기 제5의 실시예의 동작에 대하여 설명한다.

우선 CPU(16)의 보오트“A”에서 출력되는 전압 펄스S₁－S₆의 동작 타이밍은 제1의 실시예에 관한 제4도와 같다.

지금 제1현(2)(＃1)과 제2현(1)(＃2)가 눌러져서 함께 제 n프렛(2)(＃n)에 접촉되었다고 하여 제5도에 있어서, 아날로그 스위치(18)(제3도)가 제 n프렛(2)(＃n)에서의 프렛신호 Fn를 선택된 구간을 생각한다.

이 경우 우선 제 n프렛(2)(＃n)의 부분의 등가회로는 21도와 같이 된다. 즉 각 현(1)의 도전성현부재(42)와 도전성 프렛부재(2)(＃n)의 사이에 저항체 박막부재(43)에 대응하는 저항 Ro이 각각 존재한다.

그리고 이 경우의 제3도의 시스템 전제의 등가회로는 상기 제 1의 실시예에 관한 제5a도의 저항 Rx를 제외시킨 회로와 같게된다.

따라서, 제5도에 있어서 아날로그 스위치(18)(제3도)가 제 n프렛(2)(＃2)에서의 프렛신호 Fn를 선택된구간에 있어서, 전압펄스 S₁이 하이레벨전위 V_H가 되었을 경우의 등가회로는 상기 제1의 실시예에 관한 제5c도와 완전 동일하다.

이것에 의하여 제3도에 있어서, 아날로그 스위치(18)가 제 n프렛(2)(＃n)에서의 프렛신호 Fn를 선택된구간에 있어서, 전압펄스 S₁이 하이레벨전위 V_H가 되었을 경우는 상기 제1의 실시예에 관한 제6도의 동작 상태와 같게되며, CPU(16)는 상기 타이밍으로 프렛검출출력 Co가 하이레벨전위 V_H가 되었음을 인식하므로서, 제1현(1)(＃1)이 제 n프렛(2)(＃n)에 접촉되어 있다는 현 누름상태를 인식할 수 있다.

다음에 상기와 동일하게 제1현(1)(＃1)과 제2현(1)(＃2)이 눌러져서 함께 제 n프렛(2)(＃n)에 접촉하고 있는 상태로, 제5도에 있어서 아날로그 스위치(18)가 제 n프렛(2)(＃n)에서의 프렛신호 F_n를 선택한 구간에 있어서, 금회는 전압펄스 S₂가 하이레벨전위 V_H가 되었을 경우의 등가회로는, 상기 제1의 실시예의 경우에 있어서, 금회는 전압펄스 S₂가 하이레벨전위 V_H가 되었을 경우의 등가회로는, 상기 제1의 실시예의 경우와 동일하게 제5c도의 제1현(2)(＃1)과 제2현(1)(＃2)의 위치를 바꾸는 것만으로 좋으므로, 이것에 대응하는 제6도의 구간 T₂에 있어서도, 프렛신호 F_nV_H/3, 비교기(19)에서의 프렛검출출력 Co가 하이레벨전위 V_H가 되므로서 CPU(16)는 제2현(1)(＃2)가 제 n프렛(2)(＃n)에 접촉하고 있다는 현누름 상태를 인식할 수가 있다.

여기에서 제3도의 비교기(19)에 있어서의 역치전위 Vo의 설정방법은, 상기 제1의 실시예의 경우와 완전동일하고 제7도로 부터 V_H/7 Vo 0이 되도록 설정하면 된다.

다음은 제31도의 p,q에 도시한 바와같이 제1현(1)(＃1)과 제2현(1)(＃2)이 눌려진 경우는 아날로그 스위치(18)(제3도)가 프렛신호 F_n＋2, F_n＋1또는 Fn를 선택하는 제4도의 각 구간에 있어서의 제3도의 등가회로는 상기 제1의 실시예에 관한 제9도에 있어서의 R_x를 제외한 것과 같게된다.

따라서, 상기간 타이밍 즉 상기 제1의 실시예와 동일한 상기 제10도의 구간 T₃,T₄,T₅,T₆,T₇또는 T₈의 경우의 등가회로는 상기 제1의 실시예에 관한 제9a－9e도의 각각과 완전동일하게 된다. 이것에 의하여 전술한 제1의 실시예의 경우와 동일하게하며 CPU(16)는 제3도의 비교기(19)를 통하여 제1현(1)(＃1)이 제 n＋1프렛(2)(＃n＋1)과 제 n＋2프렛(2)(＃n＋2)에 접촉하고, 제2현(1)(＃2)이 제 n프렛(＃n)과 제 n＋1프렛(2)(＃n＋1)에 접촉하고 있는것을 검출할 수가 있다.

이상과 같이하여 제31도와 같은 현누름예에 있어서도, 상기 1의 실시예의 경우와 완전동일하여 정확한 누름위치를 검출할 수 있다.

여기에서 제31도의 현누름상태에서 연주자가 피치밴드 조작을 할 경우, 상술한 제1의 실시예에서 설명한 바와같이 피치밴드 조작에 기준한 현(1)의 이동량이 제1a도 또는 제1b도의 피치밴드검출부(502)(503)와 제3도의 피치밴드 검출회로(505)(507)에서 검출되고, A/D변환기(506)(508)를 통하여 CPU(16)에 입력하는 것에 의하여 CPU(16)가 음고변경 정보를 작성하고 악음발생회로(24)에서 발음중의 악음의 음고를 변경시킨다.

여기에서 제1현(1)(＃1)과 제2현(1)(＃2)가 접촉된 경우를 생각한다. 이상태는 각현의 보강박막부재(44)(제21a도 참조)끼리가 접촉하는 상태에 상당하지만 제31도의 현누름상태에서는 제 n＋1프렛(2)(＃n＋1)을 통하여 제1현(1)(＃1)과 제2현(1)(＃2)의 보강박막부재(44)끼리가 간접적으로 접촉하고 있기 때문에 이경우의 등가회로는 기히 표시된 제8도 또는 제9도와 완전 같게된다. 즉 제8도 또는 제9도에 있어서의 제 n＋1프렛(2)(＃n＋1)의 등가회로의 부 각 현의 보강박막부재(44)끼리가 간접적으로 접촉되어 있을 경우의 등가회로를 표시하고 있다. 따라서 이 경우도 CPU(16)은 제10도의 경우와 완전 같아서 정확한 현의 누름위치를 검출할 수가 있다.

더우기 제1실시예에서 설명한 바와같이 일반적으로 피치밴드 조작은 현(1)의 누름조작과 동시에 되는일은 절대로 없으므로, 프렛검출을 픽킹개시시에만 하도록하면 문제는 없다는 것을 설명하였지만, 제5의 실시예에서는 현끼리가 접근 또는 접촉하여도 절대로 오동작하는 일은 없으므로 보다 신뢰성이 높은 프렛검출이 된다.

[제6의 실시예의 구성]

이어서, 이상 제1a도－제1c도, 제19도 및 제20도를 기초로하여 구성되는 전자현악기의 제6의 실시예의 블록도로서, 상술한 제2의 실시예에 관한 제11도의 구성과 완전 동일한 것이 생각된다. 즉 제19도 및 제20도의 목(3), 현(1)등의 구성은 상기 제5의 실시예와 전혀 동일하지만, 시스템 구성이 제3도와는 반대로 프렛(2)측에서 전압펄스를 인가하고, 그것을 브리지(6)측의 현단에서 검출하는 구성으로 되었다.

이 경우, 브리지(6)(제1a도 참조)측에서 6본의 현(1)(＃1－＃6)의 각각에서 출력되어, 비교기(28)(＃1－＃6)의 각 비반전입력단자에 입력하는 각 현신호 MS₁－MS₆은 각 현(1)의 도전성현부재(42)(제20도 참조)의 각각에서 출력된다.

제11도에 있어서의 기타구성은 상술한 제2의 실시예의 경우와 완전 동일하다.

[제6의 실시예의 동작]

상기 제6의 실시예의 동작에 대하여 설명한다.

우선 CPU(16′)의 보오트‘B’에서 출력되는 전압펄스

이 동작 타이밍은 제2의 실시예에 관한 제12도와 동일하다.

지금 제31도의 p,q에 도시한 바와같이 제1현(1)(＃1)과 제2현(1)(＃2)가 눌려진 경우는, 제12도에서 전압펄스 F_n＋1′, F_n＋1′, 또는 F_n가 하이레벨전위 V_H가 되는 각 구간에 있어서의 제11도의 등가회로는 상기 제2의 실시예에 관한 제13도에 있어서, 저항 R_x를 제외시킨것과 같게된다.

따라서, 상기 각 타이밍 즉 상기 제2의 실시예와 동일한 상기 제15도의 구간 T₉,T₁₀또는 T₁₁의 경우의 등가회로는 상기 제2의 실시예에 관한 제14a－14c도의 각기와 완전 동일하게 된다.

이것에 의하여 상술한 제2의 실시예의 경우와 동일하게하여 제11도의 CPU(16′)는 제31도와 같은 현누름상태를 상기 제2의 실시예의 경우와 완전 동일하게하여 정확하게 검출된다.

여기에서 제31도의 현누름상태로, 상기 제1의 실시예의 경우와 동일하게 연주자가 피치밴드조작을 한것과 같은 경우에 있어서, 제1현(1)(＃1)과 제2현(1)(＃2)가 접촉된 경우를 생각한다. 이 상태에서는 기히설명한 바와같이 제 n＋1프렛(2)(＃n＋1)을 개재하여 제1현(1)(＃1)과 제2현(1)(＃2)의 보강박막부재(44)끼리가 간접적으로 접촉되어 있기 때문에, 이 경우에 있어서의 제2의 실시예의 경우의 등가회로를 기히 제시한 제13도 또는 제14도와 완전 동일하게 된다. 즉, 제13도 또는 제14도에 있어서의 제 n＋1프렛(2)(＃n＋1)의 등가회로의 부분이 각 현의 보강박막부재(44)끼리가 간접적으로 접촉하고 있을 경우의 등가회로를 표시하고 있다. 따라서, 이 경우도 CPU(16′)는 제15도의 경우와 완전 동일하게하여 정확한 현의 누름위치를 검출할 수가 있다.

이상 제5 및 제6의 실시예에 있어서도 제20도에 도시한 바와같은 3층 구조의 현을 사용하는 것을 전제로 하고 있다. 여기에서 현의 구조는 제20도에 도시한 바와같은 3층 구조에 한정되어지는 것만은 아니고, 강도적으로 문제가 없다면 제20도의 최외주의 보강박막부재(44)가 없는 2층구조의 것이어도 동일한 효과를 얻는 것도 가능하다. 즉, 현과 프렛이 접촉된 경우에 전기적으로 저항을 개재하고 접속되게 된 구조이면 된다.

[제7 및 제8의 실시예의 구조 및 동작]

이어서 제7 및 제8의 실시예에 대하여 설명한다. 이들의 시스템 구성은 상술한 제3 및 제4의 실시에에 관한 제16도 및 제17도와 동일하고, 각기 제3도 및 제11도에 대응한다. 이 경우, 제19도 및 제20도의 목(3), 현(1)등의 구성은 상기 제5 및 제6의 실시예와 완전 동일하지만 상기 제3 및 제4의 실시예에서 설명한 바와같이 제1a도 또는 제1b도의 외관구성에 있어서, 제1c의 피치밴드검출부(502)와 (503)은 없고, 각 현(1)(＃1－＃6)마다 설치된 픽업(7)(＃1－＃6)이 통상의 에렉기타등과 동일하게 각현(1)의 현진동을 직접 검출할 수 있게 되어있다. 그리고 제16도 및 제17도의 구성은 상술한 제3 및 제4의 실시예의 경우와 완전 동일하다.

이와같이 제7 및 제8의 실시예에서는 현 진동에서 피치추출을 하여 악음의 발음제어를 하는 타입의 전자현악기에 있어서, 발음개시시의 응답을 빠르게 하기위하여 상술한 제5 및 제6의 실시예에 기준한 프렛번호 검출시스템을 조합하여 적용하고 있다. 이것에 의하여 상술한 제3 및 제4의 실시예와 동일한 효과를 얻을 수 있게하고 있다.

[제9의 실시예의 구성]

제22a도－제22c도는 본 발명에 의한 스위치 매트릭스를 전자악기의 스위치부에 적용한 제9의 실시예의 블록도이다. 이 경우의 전자악기로서는 전자키이 보오드, 전자현악기, 전자관악기등 여러종류의 것이 고려된다. 또 스위치 매트릭스를 사용하는 바와같은 제어장치면 전자악기에 한정되지 않고 여러가지의 기기, 예를들면 소형전자계산기와 같은 전자기기에 적용가능하다.

동 도면에 있어서 스위치부(45)(＃1－＃6)는 전자악기의 음색, 리즘의 선택, 각종 패러미터의 설정등을 하기위한 각종 제어스위치이다. 이 복수의 스위치부(45)의 각각은, 제22b도 및 제22c도에 도시한 바와같이 복수의 행방향 접속선(22a－220c)과 복수의 열방향 접속선(223a－223c)과의 각 표차 부분에 설치되어 있다. 상기 각 스위치부(45)의 각각에는 돔형의 탄성지지체(224)와, 이 지지체(224)의 내면에 형성한 도전성의 단자(45a)와를 가지고 있다. 상기 각 열방향 접속선(223a)(223b)의 각각의 상기 교차부분상에는 저항층(221)이 형성되어 있다. 상기 각 스위치부(45)를 누름조작하면 상기 단자(45)는 상기 저항층(221)를 개재하여 상기 열방향 접속선(223a)(223b)과 전기적으로 접속된다. 더우기 각 접속선(220a)(220b)(223a－223c)끼리는 각 교차 부분에 있어서 각기 절연체(도시없음)에 의하여 전기적으로 절연되어 있다. CPU(46)의 포오트 PORT ＃1에서 출력되는 전압펄스 P₁이 인가시키는 행방향 접속선(220a)은 스위치부(45)(＃1 및 ＃4)의 각 스위치소자 SW(제22b도 참조)의 단자 45a에 접속된다. 동일하게 PORT ＃2에서 출력되는 전압펄스 P₂가 인가되는 행방향 접속선(220b)은, 각 스위치부(45)(＃2 및 ＃5)에 또 PORT ＃3에서 출력되는 전압펄스 P₃가 인가되는 행방향 접속선(220c)는 각 스위치부(45)(＃9 및 ＃6)의 제1의 단자(45a)에 공통으로 접속된다.

각 스위치부(45)(＃1－＃6)에 있어서의 스위치소자 SW의 각 단자(45a)는, 저항치 Ro의 저항층(221)이 접속된다. 그리고 스위치부(45)(＃1－＃3)에 있어서의 상기 저항층(221)에 인가된 전압은 게이트(46)(＃1)에 입력됨과 함께, 저항치 Ro의 저항체(223)을 개재하여 접지레벨에 풀 다운된다. 동일하게 스위치부(45)(＃1－＃6)에 있어서의 상기 저항층(221)의 타방의 단자는 게이트(46)(＃2)에 입력함과 함께 저항치 Ro의 저항체(223)을 개재하여 접지레벨에 풀 다운된다.

더우기 상기 풀 다운용의 저항체(223)는 각 스위치부(45)의 어느것인가가 온 하고 있지 않은 경우에, A/D변환기(48)에 입력한 Vin의 부정치가 되어 오동작해버리는 것을 방지하여 접지전위를 유지하기 위하여서이다.

게이트(46)(＃1 및 ＃2)는 각각 PORT ＃4 및 ＃5로 부터의 전압펄스 P₄및 P₅가 하이레벨이된 타이밍에서 온이되어 각 입력을 A/D변환기(48)에 출력전압 Vin으로하여 출력한다.

A/D변환기(48)의 A/D치는 CPU(47)에 입력한다.

CPU(47)에는 ROM(49) 및 RAM(50)이 접속된다. ROM(49)에는 후술하는 제어동작을 하기위한 프로그램등이 기억되며, RAM(50)은 프로그램의 와크영역 또는 유저의 악음정보등의 등록영역으로서 사용된다.

CPU(47)로 부터의 각종악음 제어정보는 악음발생회로(51)에 출력되며 동회로(51)에서는 그것에 따라서 악음이 발생되고 D/A변환기(52)로 아날로그의 악음신호로 변환되어 앰프(53)에서 증폭된후, 스피이커(54)에서 방음된다.

더우기 스위치부(45)에 있어서의 각 저항치 Ro는 프린트기판(220)상에 카아본 인쇄에 의한 저항체박막(221)을 형성하는 것에 의하여 용이 또한 값싸게 실현시킬 수 있다. 이 실시예의 경우와 따라서 각 스위치부(45)의 스위치소자 SW를 형성한 단자(45a)를 고무접점으로하여 이 접점을 카아본인쇄에 의하여 형성하면 그때 동시에 저항체 박막층(221)에 상당하는 저항체 박막층도 인쇄해 버릴수가 있어 단가가 절감된다. 또 스위치부(45)를 고무접점스위치 형으로 구성하였을 경우에는 각 제1단자(45a)으로 구성되는 접점자체가 카아본 인쇄에 의하여 형성되기 때문에 그 설정 자체가 소정의 저항치를 갖고 있기때문에 특별히 칼럼방향 접속선(223a)상에 저항층(제22b도의 221 참조)을 필요로 하지 않는다.

[제9실시예의 동작]

상기 제9실시예의 동작에 대하여 이하에 설명한다.

우선, 후술하는 동작플로우챠트(제24도)에 따라서 CPU(46)의 포오트 PORT ＃1 내지 ＃3의 각각으로부터 출력되는 전압펄스 P₁내지 P₃은 제23도에 표시하는 각 구간 T₁,T₂및 T₃에 있어서 순차로 논리[1]을 나타내는 하이레벨전위 V_H로 된다. 또 CPU(47)의 PORT ＃4로 부터 출력되는 전압펄스 P₄는 PORT ＃1 내지 ＃3의 각 전압펄스가 V_H로 되는 전반부분에서 하이레벨전위 V_H1후반부분에서 로우레벨전위 0으로된다. 또 CPU(47)의 PORT ＃5로 부터 출력되는 전압펄스 P₅는 PORT ＃1 내지 ＃3의 각 전압펄스 V_H로 되는 전반부분에서 로우레벨전위 0, 후반부분에서 하이레벨전위 V_H로 된다.

이제, 제22도의 스위치부(45)에 있어서 ＃2,＃3,＃4 및 ＃5의 각 스위치부(45)가 동시에 온이 되었을 경우의 동 도면의 회로동작에 대하여 설명한다. 이 스위치 온상태는 전술한 전자현악기에 관한 제1 내지 제8실시예에 있어서의 제31도의 현누름상태를 실질적으로 같은 전기적 상태이다.

상기의 경우에서 CPU(47)의 PORT ＃1 내지 ＃3로 부터의 각 전압펄스 P₁,P₂또는 P₃이 하이레벨전위 V_H되는 타이밍의 제22도의 등가회로는 제25a 내지 제25c도와 같이 표시된다.

이 등가회로는 전술한 제2 또는 제6실시예에 관한 제14c도, 제14b도 또는 제14a도의 등가회로와 실질적으로 같다.

먼저, 제25a도는 제23도의 구간 T₁에 있어서 제22도의 CPU(47)의 PORT ＃ 에 하이레벨전위 V_H의 전압펄스 P₁이 인가되었을 경우이다. 그리고 동도면 T₁의 전반구간에 있어서 CPU(47)의 PORT ＃4에 인가되는 전압펄스 P₄가 V_H로 되었을 경우, 전술한 제2실시예에 관한 제14c도의 MS₁과 마찬가지로 고려함으로서, 제22도의 게이트(46)(＃1)의 출력 Vin＝0으로 된다. 따라서, 제22도의 CPU(47)는 A/D변환기(48)의 출력 0볼트를 인식하는 것으로서 스위치(45)(＃1)가 오프라고 판별할 수 있다.

한편, 상기와 같은 제23도의 구간 T₁의 후반구간에 있어서 CPU(47)의 PORT ＃5에 인가되는 전압펄스 P₅가 V_H로 되었을 경우 제14c도의 MS₂와 마찬가지로 고려함으로서 게이트(45)(＃2)의 출력 Vin＝V_H/3으로 된다. 따라서, CPU(47)는 상기 전위를 A/D변환기(48)를 통하여 검출하는 것으로서 스위치부(45)(＃4)가 온되고 있다고 인식할 수 있다.

다음으로, 제25b도는 제23도의 구간 T₂에 있어서 CPU(47)의 PORT ＃2에 하이레벨전위 V_H의 전압펄스 P₂가 인가되었을 경우이다. 그리고 동도면 T₂의 전반구간에 있어서 CPU(47)의 PORT ＃4에 인가되는 전압펄스 P₄가 V_H로 되었을 경우, 제14b도의 MS₁과 마찬가지로 고려하는 것에 의하여 게이트(45)(＃1)의 출력 Vin＝V_H/3으로 된다. 따라서, CPU(47)는 스위치부(45)(＃2)가 온 되어있다고 인식할 수 있다.

상기와 같은 제23도의 구간 T₂의 후반구간에 있어서, CPU(47)의 PORT ＃5에 인가되는 전압펄스 P₅가 V_E로 되었을 경우 제14b도의 MS₂와 마찬가지로 고려함으로서 게이트(45)(＃2)의 출력 Vin＝V_H/3으로 된다. 따라서, CPU(47)는 스위치부(45)(＃5)가 온 되어있다고 인식할 수 있다.

끝으로, 제25c도는 제23도의 구간 T₃에 있어서 CPU의 PORT ＃3에 하이레벨전위 V_H의 전압펄스 T₃이 인가되었을 경우이며 제25a도의 경우와 전혀 반대로 된다. 따라서, 동 도면 T₃의 전반구간에 있어서 CPU(47)의 PORT ＃4에 인가되는 전압펄스 P₄가 V_H로 되었을 경우 게이트(46)(＃1)의 출력 Vin＝V_H/3으로 되고 CPU(47)는 스위치부(45)(＃3)가 온되어 있다고 인식할 수 있다. 또 구간 T₃의 후반구간에 있어서 CPU(47)의 PORT ＃5에 인가되는 전압펄스 P₅가 V_H로 되었을 경우 게이트(46)(＃1)의 출력 Vin＝0으로 되고 CPU(47)는 스위치부(45)(＃6)가 오프라고 판별할 수 있다.

여기에서, 제22도의 A/D변환기(48)로부터의 디지탈에 의하여 스위치 온을 판단하는 경우의 임계값 TH를 설정하는 방법에 대하여는 전술한 제2실시예의 경우와 마찬가지로 생각할 수 있다.

따라서, 제22도의 게이트(46)(＃1)에 수용되는 스위치(45)(＃1 내지 ＃3)가 동시에 온되는 경우 또는 게이트(46)(＃2)에 수용되는 스위치부(45)(＃4 내지 ＃6)가 동시에 온되는 경우를 생각하면 된다. 구체적으로는, 제7도와 마찬가지의 등가회로를 생각한 경우, 병렬이되는 저항치 Ro의 수가 풀 다운용의 저항치로 포함하여 4인 경우를 생각한 것으로 된다. 이 경우 A/D변환기(418)의 양자화비트수를 8비트로하면 하이레벨전위 V_H가 최대레벨 255에 상당한다. 따라서 255/4≒63〉TH〉0으로 되도록 설정하면 된다. 실제로는 TH의 값은 32정도가 좋다.

이상의 동작에 있어서 각 스위치부(45)(＃1 내지 ＃6)의 스위치상태를 판별하기 위하여 CPU(47)에 의하여 실행되는 스위치 스캔처리의 동작흐름도를 제24도에 나타낸다. 그리고 그 이하 S₁내지 S₁₈의 각 처리는 동도면을 참조하는 것으로 한다.

먼저 제22도의 PORT ＃1, PORT ＃4를 [1](이하 레벨전위 V_H)로 하고 PORT ＃2, PORT ＃3, PORT ＃5를 [0](접지전위 0)으로 한다(S₁). 이것에 의하여 제23도의 구간 T₁의 전반의 상태가 생성된다. 그 다음 이상태로 A/D변환기(48)로부터의 A/D값을 CPU(47) 내에 거둬들여 그값을 판정한(S₂) 이 결과 A/D값이 전술한 임계값 TH보다 크면 스위치부(45)(＃1)가 온되었다고 판별하고 동 스위치에 대응하는 서브루우틴처리가 실행된다(S₂→S₁₃). 이 처리후에는 S₃으로 나아간다. A/D값이 TH 이하이면 상기 스위치가 오프라고 판별하고 아무것도 아니라고 S₃으로 나아간다. 이어서 PORT ＃4를 [0]으로, PORT ＃5를 [1]로하고 다른 포오트의 상태는 변경하지 않는다(S₃). 이에따라 제23도의 구간 T₁의 후반의 상태가 생성된다.

그리고 상기 S₂와 마찬가지로 A/D값을 판정하여(S_A), 임계값 TH보다 크면 스위치부(45)(＃4)가 온되었다고 판별하고 동 스위치에 대응하는 서브 루우틴 처리가 실행된다(S₄→S₁₄). 이 처리후에는 제24도 S₅로 나아간다. A/D값이 TH 이하이면 상기 스위치가 오프라고 판별하고 아무것도 아니하고 S₅로 나아간다.

이하 마찬가지로하여 S₅에서 제23도의 구간 T₂전반의 상태가 생성되고 S₆→S₁₅에서 스위치부(45)(＃2)의 처리가 이뤄진다. 또한, S₇에서 제23도의 구간 T₂이 후반의 상태가 생성된다. S₈→S₁₆에서 스위치부(45)(＃5)의 처리가 이뤄진다.

마찬가지로 S₈에서 제23도의 구간 T₃전반의 상태가 생성되고 S₁₀→S₁₇에서 스위치부(45)(＃3)의 처리가 이루어지고 S₁₁에서 제23도의 구간 T₃후반의 상태가 생성되고 S₁₂→S₁₉에서 스위치부(45)(＃6)의 처리가 이루어진다.

또한, 상기 제9실시예의 경우(제22b도 참조). 일반향 접속선(223a,223b)상에 저항층(221)을 형성하고 있는데 이것과는 반대로 로우방향 접속선(220a 내지 220c)에 접속되어 있는 단자(45a)상에 저항층(221)을 형성하도록 하여도 상기 제9실시예의 경우와 마찬가지의 효과를 얻을 수 있다.

[제10실시예의 구성 및 동작]

제26도는 제10실시예의 블록도이다. 이 실시예에서는 제22도의 제9실시예의 게이트(46)(＃1,＃2) 및 A/D변환기(48)의 조합대신에 스위칭용의 트랜지스터(55)와 저항(56)을 조합시킨 전압검출회로를 사용하고 있다.

즉, 각 스위치부(45)(＃1 내지 ＃3)에 각각 인가된 전압을 트랜지스터(55)(＃1)의 베이스에 입력하여 각 스위치부(45)(＃4 내지 ＃6)에 각각 인가된 전압은 트랜지스터(55)(＃2)의 베이스에 입력한다. 그리고 트랜지스터(55)(＃1 및 ＃2)의 에미터는 접지되고 컬렉터는 저항(56)(＃1 및 ＃2)을 통하여 하이레벨전위 V_H에 풀업됨과 동시에 CPU(47)의 PORT ＃4 및 PORT ＃5에 접속된다.

트랜지스터(55)는 통상 상태에서는 오프로 되어있기 때문에 CPU(47)의 PORT ＃4 및 PORT ＃5의 입력은 하이레벨전위 V_H로 되어 있다.

한편, 스위치부(45)의 어느것이 온으로되고 트랜지스터(55)에의 베이스 입력전위가 약 0.5볼트보다 커지면 트랜지스터(55)는 온으로 된다. 이에 따라 CPU(47)의 PORT ＃4 및 PORT ＃5의 입력은 접지전위로 된다.

따라서, CPU(47)의 PORT ＃4 및 PORT ＃5의 접지전위를 검출하는 것에 의하여 스위치 온을 검출할 수 있고 제24도 S₂등과 마찬가지의 판별처리를 하아드적으로 행한다.

[제11실시예의 구성 및 동작]

제27도는 제11실시예의 블록도이다.

이 실시예에서는 제22도의 제9실시예의 게이트(46)(＃1,＃2) 및 A/D변환기(48)의 조합 대신에 비교기(57)(＃1 및 ＃2)에 의한 전압 검출회로를 사용하고 있고 제2실시예에 관한 제11도의 비교기(28)(＃1 내지 ＃2)등과 같은 역할을 한다. 즉, 각 스위치부(45)(＃1 내지 ＃3)에 각각 인가된 전압은 비교기(57)(＃1)의 비반전 입력단자에 입력되고 또 각 스위치부(45)(＃4 내지 ＃6)에 각각 인가된 전압은 비교기(57)(＃2)의 비반전입력 단자에 입력한다. 비교기(＃1 및 ＃2)의 각 출력은 CPU(47)의 PORT ＃4 및 PORT ＃5에 입력한다. 또한, 특별하게 도시하지 않지만 비교기(＃1 및 ＃2)에는 하이레벨전위 V_H가 인가되어 있다.

비교기(5＆)는 통상 오프로되어 있기 때문에 CPU(47)의 PORT ＃4 및 PORT ＃5의 입력은 접지전위로 되어있다.

한편, 스위치부(45)의 어느것이 온으로되고 비교기(57)로의 입력전위가 V_H/8보다 커지면 비교기(57)는 온으로 된다. 이에 따라 CPU(4＆)의 PORT ＃4 및 PORT ＃5의 입력은 하이레벨전위 V_H로 된다.

따라서, CPU(47)의 PORT ＃4 및 PORT ＃5의 하이레벨전위 V_H를 검출하는 것에 의하여 스위치 온을 검출할 수 있고 제24로 S₂등과 마찬가지의 판별처리를 하아드적으로 행할 수 있다.

[제12실시예의 구성]

다음으로, 제12실시예에 대하여 설명한다. 이 실시예에서는 전자현악기의 외관구성은 전술한 제1실시예에 관한 제1a도, 제1b도와 마찬가지이고, 또 동도면에 있어서의 피치밴드 검출부(502,503)에 관한 제1c도의 구성도 마찬가지이다. 그러나 본 실시예에서는 제1a도는 또는 제1b도의 프렛(2)를 현(1)과 프렛(2) 접속부의 등가회로가 전술한 제9 내지 제11실시예에 있어서의 스위치부(45)의 등가회로와 마찬가지가 되도록 구성되어 있다.

제28a도, 제28b도 및 제28c도는 제1a도 또는 제1b도의 프렛(2)부분의 상세한 구성을 나타낸 도면이다. 제28a도는 프렛(2)를 위해서 내려다본 평면도, 제28b도는 제1a도의 II－II방향에서 본 단면도, 제28c도는 제1a도의 Ⅰ－Ⅰ방향에서 본 단면도이다. 프렛(2)는 절연체에 의하여 구성되는 목(3)상에는 목(3)의 길이방향(현 1의 줄쳐진방향)으로 거의 목(3)의 폭으로 프린트기판(62)이 배칭된다.

한편, 각 프렛(2)는 절연체에 의하여 구성되는 핑거보드(3)로 파여진 홈에 끼워져있다. 각 프렛(2)에 있어서 6줄의 현(1)이 자연스럽게 당겨쳐진 상태로서 그 하부에 위치한 6개의 도전체(59)는 절연체(60)의 일부인 6개의 스리트(58)로 전기적으로 각막이 된 구조를 지닌다. 각 스위치(58)는 현(1)의 피치밴드 조작등을 행하기 쉽도록 하기위하여 V자형(제28a도)으로 배치되어있다.

각 프렛(2)가 끼워져있는 홈의 밑부분에는 플렛(2)에 따라서 저항체(61)가 한결같이 깔려있고 플렛(2)를 구성하는 상기 6개의 도전체(59)는 각각이 절연체(60)를 관통하는 저항체(61)에 전기적으로 접속된다.

또 저항체(61) 밑부분의 프린트기관(62)상에는 이 저항체(61)의 한쪽 전면에 전기적으로 접촉하는 배선패턴(63)이 형성된다.

이 배선패턴(63)은 각 프렛(2) 마다에 전기적으로 독립적으로 설치되고 제1a도 또는 제1b도의 동체부(9)내에 구성되는 후술하는 회로에 전기적으로 접속된다.

또 제28c도와 같은 단면형상외에 제29도에 표시하는 바와 같은 단면형상을 지니는 실시예로 하여도 된다. 이 경우 도전체(59′)는 제28c도의 도전체(59)에 대응되고 절연체(60′)는 마찬가지로 절연체(60)에 대응한다.

제30도는 상기 프렛구성을 기초로하는 제12실시예의 블록도이다. 동 도면은 전술한 제11도에 표시되는 제2실시예와 마찬가지로 프렛(21)축으로부터 전압펄스를 인가하여 그것을 브리지(6)측의 현끝에서 검출하도록하고 있다.

따라서, CPU(16′)가 각현(1)(＃1 내지 ＃6)에 대응하는 픽업(7)(동도면에서는 ＃5 및 ＃6만이 표시되어 있다)으로부터 트리거검출부(21)를 통하여 발음개시의 검출을 행하는 구성 및 동작은 제11도의 제2실시예와 마찬가지이다.

또 제1a도, 제1b도 또는 제1c도의 피치밴드 검출부(502,503)에서 피치밴드 검출회로(505,507), A/D변화기(506,508)를 통하여 피치밴드 조작의 검출을 해하는 구성 및 동작도 제2실시예와 마찬가지이다.

그 밖에 CPU(16′)와 악음발생회로(24)등과의 관계도 제2실시예와 마찬가지이다.

그리고 CPU(16′)의 포오트 B에서 출력되는 전압펄스

…는 대응하는 각 프렛 드라이버(27)(＃1,＃2,＃3,…)의 각 비반전 입력단자에 입력한다. 동 드라이버(27)(＃1,＃2,＃3,…)의 구성도 제11도의 경우와 마찬가지이다. 프렛 드라이버(27)의 각 출력은 제1프렛(2)(＃1), 제2프렛(2)(＃2), 제3프렛(2)(＃3)…의 각각에 각 배선패턴(63)(제28c도 참조)을 통하여 접속된다.

또, 프렛은 실제에는 제1플렛(2)(＃1) 내지 제20프렛(＃20)까지있으나 제30도에서는 1부분만 표시되어 있다. 또 현(1)도 ＃1 내지 ＃6의 6개현이 있지만 ＃5 및 ＃6의 2개현만이 표시되어 있다.

각 현(1)은 저항치 Ro의 각 저항에 의하여 접지전위에 풀다운 된다. 이것은 전술한 제1실시예의 경우와 마찬가지로 각 현(1)(＃1 내지 ＃6)이 각 프렛(2)(＃1 내지 ＃20)의 어느것에도 접촉되어 있지않을 경우에 A/D변환기(65)에로의 입력전압 Vin의 부정치로 되어서 오동작해 버리는 것을 방지하여 접지전위로 유지하기 위해서이다.

한편, 브리지(6)(제1a도 참조)측에서 제1현(1)(＃1) 내지 제6현(1)(＃6)의 각각으로부터 출력되는 각현신호 MS₁내지 MS₄(제30도에서는 MS₅및 MS₆만을 표시한다)은 게이트964)(＃1 내지 ＃6, 동도면에는 ＃5 및 ＃6만을 표시한다)의 각각을 통하여 입력전압 Vin으로서 A/D변환기(65)에 입력한다. 게이트(64)9＃1 내지 ＃6)는 CPU(16′)의 포오트 D에서 출력되는 제어신호에 의하여 개폐 제어된다.

A/D변환기(65)의 출력은 CPU(16′)의 포오트 A에 입력한다.

[제12실시예의 동작]

상기 제12실시예의 동작에 대하여 이하에 설명한다.

먼저, 제30도에서 현(1)과 프렛(2)의 전기적인 관계는 양자의 접축부분이 동도면에 등가적으로 표시되는 스위치소자 SW로 되고, 또 프렛(2)축에는 마찬가지로 등가적으로 표시되는 저항치 Ro가 존재한다. 이 저항치 Ro는 제28도의 각 현(1) 바로 아래의 도전체(59)와 그 아래쪽의 프린트기판(62)상에 배선패턴(63) 사이에서 최단거리로 존재하는 저항체(61)에 의하여 형성되는 것이다.

여기에서, 제30도의 CPU(16′)의 포오트 B에서 출력되는 전압펄스

…은 전술한 제2실시예에 관한 제12도와 같은 타이밍으로 순차논리[1]을 나타내는 하이레벨전위 V_H로 된다. 또, 이들 하이레벨전위 V_H의 구간은각각이 6분할되고 각 분할 마다에 게이트(64)(＃1 내지 ＃6)의 각각이 CPU(16′)의 포오트 D로 부터의 각 제어신호에 의하여 순차 온으로 된다(제23도 P₄,P₅등 참조). 이에따라 각현(1)(＃1 내지 ＃6)으로 부터의 현신호 MS₁내지 MS₆이 입력전압 Vin으로서 A/D변환기(65)에 입력한다.

지금 제31도 p,q에 표시하는 바와 같이 제1현(1)(＃1) 및 제2현(1)(＃2)이 눌려질 경우, 제12도에 있어서 전압펄스 F'_n+2,F'_n+1또는

가 하이레벨전위 V_H로 되는 각 구간에 있어서의 제30도의 등가회로는 상기 제2실시예의 경우와 마찬가지로되며 제14a 내지 제14c도에 표시된다.

여기에서, 제30도의 CPU(16′)는 제14도의 각현신호 MS₁내지 MS₆을, 게이트(64)(＃1 내지 ＃6)로 순차선택하고 입력전압 Vin을 A/D변환기(654)로 디지탈값으로 변환시켜서 포오트 A로부터 거둬들인다.

그리고 CPU(16′)는 전술한 제9실시예에 관한 제24도의 동작 플로우챠트와 마찬가지의 처리동작을 행함으로서 제31와 같은 현누름상태 상기 제2실시예의 경우와 마찬가지로하여 정확하게 검출할 수 있다.

여기에서 현(1)을 피치밴드하였을때에 현(1)이 제28도의 스리트(58)를 넘어서 옆이 현(1)에 대등하는 도전체(59)에 접속되어버릴 가능성이 있다. 그러나 상술한 제1실시예에 있어서 설명한 바와 같이 일반적으로 피치밴드조작은 누름조작과 동시에 이루어지는 일은 절대로 없기 때문에 문제가 없다.

또, 제30도의 제12실시예는 제1 내지 제8실시예와 마찬가지로 프렛 드라이버(27)(＃1,＃2,＃3…)를 갖는데 대하여 제22도의 제9실시예 등은 CPU(47)의 PRTR ＃1 내지 PORT ＃3의 출력이 직접 스위치부(45)(＃1 내지 ＃6)를 구동하고 있다. 이것은 제9실시예와 같이 구동하는 스위치수가 적은 경우에는 CPU(47)의 각 포오트의 팬 아우트에 여유가 있기 때문이며 실질적으로는 같은 동작을 한다.

[그밖의 실시예]

이상 제30도의 제12실시예에서는 현신호 MS₁내지 MS₆이 검출을 위하여 제22도의 제9실시예와 마찬가지로 게이트(64)(＃1 내지 ＃6) 및 A/D변환기(65)의 조합을 사용하였지만 제11도와 같이 비교기(28)(＃1 내지 ＃6)를 사용하여도 좋다. 또는 제26도의 제10실시예와 같이 스위치용의 트랜지스터를 사용해도 좋다.

또 제12도의 실시예에서는 제1a도 또는 제1b도의 프렛(2) 구성에 제28도 또는 제29도의 구성의 것을 적용하였다. 그리고 상술한 제2실시예와 마찬가지로 제30도에 표시되는 바와 같이 프렛(2)쪽으로부터 전압을 인가하고 현(1)쪽에서 전압을 검출하므로서 프렛(2)와 현(1)의 접촉을 검출하고 있다. 이에 대하여 전술한 제1실시예와 마찬가지로 하여 한(1)쪽에서 전압을 인가하여 프렛(2)쪽에서 전압을 검출하는 바와 같은 시스템 구성으로 할 수도 있다.

또, 제12실시예에서는 전술한 제1 제2실시예와 마찬가지로 피치밴드 조작을 제1a도, 제1b도 또는 제1c도의 피치밴드 검출부(502,503)에서 제30도의 피치밴드 검출회로(505,507), A/D변환기(506과 508)를 통하여 검출하고 있다. 이에 대하여 검출한 제16도 또는 제17도의 제3, 제4실시예와 마찬가지로하여 픽업(7)(＃1 내지 ＃6)이 각현(1)의 현진동을 직접 검출할 수 있도록 하여 그것을 피치추출 아날로그부(35) 및 피치추출 디지탈부(36)가 검출하는 바와 같은 구성으로 하여도 된다. 이에 따라 현진동에서 피치추출을 행하여 악음의 발음제어를 행하는 타입의 전자현악기에 있어서 발음개시시의 리스폰스를 빠르게 하기위하여 전술한 제12실시예에 의거한 프렛검출시스템을 조합시켜서 적용할 수가 있고 전술한 제3 및 제4실시예와 마찬가지의 효과를 얻는 것이 가능해진다.

한편, 상기 제1 내지 제8실시예에 있어서는 전압검출을 비교기에 의하여 행하고 있지만, 상기 제9 또는 제12실시예와 마찬가지로 게이트와 A/D변환기의 조합에 의하여 디지탈 값으로서 검출하여 프로그램에 의하여 그 값을 판정하도록 해도 된다.

제조 및 목에 부착이 간단한 도전성부재와 저항부재로 되는 2층구조의 프렛을 채택하는 양태에 의하면 현누름위치를 용이하게 검출하는 것이 가능한 전자악기를 저단가로 실현시킬 수가 있다.

여기에서 상기 도전성 부재와 저항체부재의 2층 구조를 갖는 프렛은 도전성부재상에 저항체재료를, 또는 반대로 저항체부재의 하부에 도전성재료를 코우팅하는 것에 의하여, 또, 별개체로 형성된 저항체부재와 도전성 부재를 조합시키는 것에 의하여 용이하게 제조할 수가 있고 또 그와같은 프렛의 목에의 부착은 통상의 프렛을 목에 부착시키는 것과 전혀 마찬가지의 가공기술로 된다. 더구나, 각 프레스이 도전성부에 접속되는 코오드(배선)는 예를들면 목중앙부에 통상적으로 파여져 있는 홈등을 이용하여 배선할 수 있기 때문에 네크자체의 구조는 보통의 기타 아동과 거의 같게 할 수가 있다. 따라서 목부분에 제조단가를 낮게 억제할 수가 있고 목의 가공에 따른 음질열화도 거의 없앨 수가 있기 때문에 현진동을 그대로 증폭시켜 음성을 즉, 생음을 발음시키는 기능과 병용시키는 경우라도 목의 가공등에 따른 음질열화를 거의 없앨수가 있다. 이 때문에 이 발명에 따라서 얻어지는 악음과 상기의 생음과를 조화시킨 상태로 동시에 발음시킬 수가 있다.

또 이 발명은 전압구동형의 시스템 구성으로 한 것에 의하여 프렛을 구성하는 저항체부재의 저항치는 이 저항체부재의 길이방향과 막두께방향의 상대적인 크기의 관계가 유지된다면 막두께 방향의 저항치는 전술한 제5종래예와 같이 고저항치로 할 필요는 없다. 저저항치 예를들면 수 Ω 정도의 저항치라도 충분하다. 따라서 저항체부재의 재질로서 현과의 접촉에 견딜만한 내마모성이 풍부한 재질의 저항체부재중에서 선택할 수가 있다.

동시에, 전압구동형의 시스템 구성은 오페앰프와 마이크로 프로세서 등만으로 구성할 수가 있고 전술한 제5종래예와 같은 변압기등은 필요없기 때문에 전자악기의 단가를 낮게 억제할 수가 있다.

또, 전자악기에 피치밴드 기능을 부가할 경우 피치밴드 조작의 검출은 전용의 슬라이드형 가변저항수단 또는 현진동 파형으로 부터의 피치 추출수단등에 의거하여 행하고 있기 때문에 해당회로 구성을 현누름위치의 검출회로와 별개구성으로 할 수 있다. 이 결과 전술한 제5종래 예등에 비교하여 프렛주변의 회로 구성이 간단해짐과 동시에 회로조정등이 매우 간단해지고 전자악기 전체의 단가를 억제할 수 있으며 신뢰성도 향상시킬 수 있다.

한편, 2층 또는 3층 구조의 현을 사용하는 양태에 의하면 상기 양태와 마찬가지로 목부분구성을 변경하지 않고 현누름위치를 정확 또는 용이하게 검출하는 것이 가능한 전자악기를 저단가로 실현시킬 수가 있다.

이 경우 전기신호가 인가되는 현의 중심부와 도전성의 예를들면 강철제의 현 부재로 형성 가능하게 하기 때문에 통상의 기타아 현으로서의 기능을 충분히 지니게 할 수가 있다.

또 목 부분의 구조를 통상의 기타아와 거의 같은 간단한 구조로 할 수기 있기 때문에 상기의 대응과 마찬가지로 현진동을 그대로 증폭하여 발음시키는 기능과 병용시키는 경우라도 목의 가공등에 따른 음질열화를 거의 없앨 수가 있다.

또 2층 구조로된 현의 양태에 의하면 비교적 간단한 구성이기 때문에 값싸고 또한 대량생산에 접합한 전자 악기용의 현을 제고할 수가 있다. 더구나 3층 구조로된 현의 양태에 의하며, 프렛에 대하여 현을 빈번하게 접촉시킨 경우라도 그 프렛에 의한 저항체부재의 외적 손상등을 미연에 방지할 수가 있다.

한편, 스위치 매트릭스를 대상으로한 양태에 의하면 각 교차부분의 스위치소자에 직렬로 저항을 접속하는 것에 의하여 복수의 동시에 이루어진 스위치조작을 정확하게 검출할 수가 있다.

여기에서 스위치소자에 접속되는 각 저항치는 프린트기판상에 카아본인쇄에 의한 저항체박막을 형성함으로서 용이 또한 값싸게 실현시킬 수 있다. 특히, 각 스위치소자를 고무 접점으로하여 이 접점을 카아본인쇄에 의하여 형성하면 그때, 동시에 저항체박막도 인쇄해버릴 수가 있고 단가가 절감된다. 또, 고무 접점스위치의 경우에는 접점자체가 저항치를 갖고 있기 때문에 특별히 저항을 필요로 하지않고 매트릭스 형상으로 배치된 스위치만으로 된다. 따라서, 상술한 제6종래예등에 비교하여 대단히 저 단가의 스위치 매트릭스를 제공할 수가 있다. 또 전술한 제7종래예등에 비교하여 적용할 수 있는 전자기기의 범위가 넓은 스위치매트릭스를 제공할 수가 있다.

끝으로, 각현 독립적인 도전성부재와 저항부재 및 배선 부재로된 프렛을 가진 양태에 의하면 상기 2층 구조의 프렛을 가진 양태와 마찬가지의 효과가 얻어진다.

여기에서, 상기 구성의 프렛은 예를들면 프렛 하부에 프린트기관을 설치하여 (배선패턴)을 형성하고 그위에 저항체부재를 코우팅하고 다시 절연성부재와 도전성부재를 샌드위치구조로 함으로서 비교적 용이하게 실현시킬 수 있다. 또 그와 같은 프렛의 목에의 부착은 전술한 제1의 양태 또는 제2의 양태와 마찬가지로 통상의 프렛을 네크에 부착시키는 것과 마찬가지의 가공기술로 가능하다.

Claims (22)

1. 소정의 간격을 두고 배치된 복수의 프렛(2)과, 앞에서의 복수의 프렛(2)을 가로지르도록 이 각 프렛(2)위에 소정의 간격을 두고 팽팽하게 설치된 도전성의 복수의 현(1)과, 상기 복수의 현(1)의 어느것이 누름조작되었을때, 이에 응답해서 느름조작된 현(1)의 누름위치를 검출하는 현누름위치 검출수단(16)과, 상기 현누름위치 검출수단(16)에 의해 검출된 현의 누름위치에 따라서, 발생해야할 현의 누름위치에 따라서 발생할 악음의 음고를 지정하는 음고지정수단(16)을 구비한 전자악기에 있어서, 상기 복수의 프렛(2)의 각각은, 전기저항치를 무시할 수 있는 양도전성 재료로서 되는 도전성 부재(14)와, 이 도전성부재(14)의 상기 각 현(1)이 접촉할 수 있는 부분에 형성된 저항체부재(13)와의 2층 구조로서 되며, 상기 저항체부재(13)의 막두께는 그 막 두께방향의 저항치와 이웃하는 2개의 현(1)이 동시에 상기 저항체부재(13)에 접촉했을때, 각 현(1)사이에 생기는 긴쪽 방향의 저항치를 비교했을때, 상기 막두께 방향의 저항치가 상기 긴쪽방향의 저항치보다도 충분히 큰 값이 되는 두께로 형성되었으며, 상기 현누름위치검출수단(16)은, 상기 복수의 각 현(1)에 대해서 전압펄스를 순차로 인가하여, 이 각 현(1)에 대해 전압펄스가 인가되어 있지 않을때는 이 인가되어 있지 않는 타의 현(1)을 접지전위를 유지하도록 구동하는 전압인가수단(17)과, 상기 전압인가수단(17)에 의해 인가되는 전압을 상기 저항체부재(13)를 통해서, 상기 복수의 각 프렛의 도전성 부재(14)에서 순차로 검출하는 전압검출수단(19)과, 상기 전압 인가수단에 의해 상기 전압펄스가 인가된 상기 현(1)과 상기 전압검출수단에 의해 상기 전압이 검출된 상기 프렛과의 조합에 의해 상기 각 현(1)의 누름위치를 검출하는 검출수단(16)으로서 되는 것을 특징으로 하는 전자악기.
2. 제1항에 있어서, 상기 음고지정수단에 의해 지정된 음고를 가진 악음을 발생하는 악음발생수단(24)을 다시 가지는 것을 특징으로 하는 전자악기.
3. 제1항에 있어서, 팽팽하게 설치된 복수의 현(1)의 진동을 검출하는 현 진동검출수단(7,21)과, 상기 현 진동체수단(7,21)에 의해 현 진동이 검출되었을때, 이에 응답해서 상기 음고지정 수단(16)에 의해 지정된 음고를 가진 악음을 발생하도록 제어하는 수단(16)을 다시 가지는 것을 특징으로 하는 전자악기.
4. 소정의 간격을 두고 배치된 복수의 프렛(2)과 상기 복수의 프렛(2)은 가로지르도록 이 각 프렛(2)위에, 소정의 간격을 두고 팽팽하게 설치된 도전성의 복수의 현(1)과, 상기 복수의 현(1)의 어느것이 누름 조작되었을때, 이에 응답해서 누름조작된 현(1)의 누름위치를 검출하는 현누름 위치검출수단(16)과, 상기 현누름위치 검출수단(16)에 의해 검출된 현(1)의 누름위치에 따라서, 발생할 악음의 음고를 지정하는 음고지정수단(16)을 구비한 전자악기에 있어서, 상기 복수의 프렛(2)의 각각은, 전기저항치를 무시할 수 있는 양 도전성 재료로서되는 도전성부재(14)와, 이 도전성 부재(14)의 상기 각 현(1)이 접촉할 수 있는 부분에 형성된 저항체 부재(13)와의 2층 구조로서 되며, 상기 저항체부재(13)의 막두께는 그 막두께방향의 저항치와 이웃하는 2개의 현(1)이 동시에 상기 저항체부재(13)에 접촉했을때에 각 현(1)사이에 생기는 긴쪽방향의 저항치를 비교했을때, 상기 막두께 방향의 저항치가 상기 긴쪽방향의 저항치보다도 충분히 큰 값이 되는 두께로 형성되었으며, 상기 현누름위치검출수단(16)은, 상기 복수의 각 프렛(2)의 도전성 부재에 대해서 전압펄스를 순차로 인가하여, 이 각 프렛(2)의 위치의 도전성 부재(14)에 대해서 전압펄스가 인가되어 있지 않을때는, 이 인가되어 있지 않은 타의 프렛(2)의 도전성부재(14)를 접지전위로 유지하도록 구동하는 전압인가수단(27)과, 상기 전압인가 수단(27)에 의해 인가되는 전압을 상기 저항체부재(13)를 통해서 상기 전압인가수단(27)에 의해 상기 전압펄스가 인가된 상기 프렛(2)과 상기 전압검출수단(27)에 의해 상기 전압이 검출된 상기 현(1)과의 조합에 의해 상기 각 현(1)의 누름위치를 검출하는 검출수단(16)으로 되는 것을 특징으로 하는 전자악기.
5. 제4항에 있어서, 음고지정수단에 의해 지정된 음고를 가진 악음을 발생하는 악음발생수단(24)을 다시 가지는 것을 특징으로 하는 전자악기.
6. 제4항에 있어서, 팽팽하게 설치된 복수의 현(1)의 진동을 검출하는 현 진동검출수단(7,21)과, 상기 현진동검출수단(7,21)에 의해 현진동이 검출되었을때, 이에 응답해서 상기 음고지정수단(6)에 의해 지정된 음고를 가진 악음을 발생하도록 제어하는 제어수단(16)을 다시 가지는 것을 특징으로 하는 전자악기.
7. 소정의 간격을 두고 배치된 도전성의 복수의 프렛(2)과, 상기 복수의 프렛(2)을 가로지르도록 이 각 프렛(2)위에, 소정의 간격을 두고 팽팽하게 설치되는 복수의 현(1)과, 상기 복수의 현(1)의 어느것이 누름조작되었을때, 이에 응답해서 누름조작된 현(1)의 누름위치를 검출하는 현누름위치 검출수단(16)과, 상기 현누름위치 검출수단(16)에 의해 검출된 현(1)의 누름위치에 따라서, 발생할 악음의 음고를 지정하는 음고지정수단(16)을 구비한 전자악기에 있어서, 상기 복수의 현(1)의 각각은, 중심부에 형성된 전기저항치를 무시할 수 있는 양도전성 재료로서 되는 제1도전성 현부재(42)와, 이 제1도전성 부재의 외주부에 일체적으로 형성된 저항체부재(43)와, 이저항체부재(43)의 외주부에 일체적으로 형성된 전기저항치를 무시할 수 있는 양도전성 재료로서는 제2도전성 현부재(44)로서 되는 3층구조를 가지며, 상기 현누름위치 검출수단(16)은, 상기 복수 각 제1도전성 현부재(42)에 대해서 전압펄스를 순차로 인가하여 이 각도전성 현부재(42)에 대해서 전압펄스가 인가되어 있지 않을때에는, 이 인가되어 있지 않는 타의 제1도전성 현부재(42)를 접지전위로 유지하도록 구동하는 전압인가수단(17)과, 상기 전압인가수단(17)에 의해서 인가되는 전압을, 상기 저항체부재(43) 및 상기 제1 및 제2도전성 부재(42,44)를 통해서, 상기 복수의 각 프렛(2)에서 순차로 검출하는 전압검출수단(18)과, 상기 전압인가수단(18)에 의해 상기 전압펄스가 인가된 상기 현(1)과 상기 전압검출수단(18)에 의해 상기 전압이 검출된 상기 프렛(2)과의 조합에 의해, 상기 각 현(1)의 누름위치를 검출하는 검출수단(16)으로서 되는 것을 특징으로 하는 전자악기.
8. 소정의 간격을 두고 배치된 도전성의 복수의 프렛(2)과, 상기 복수의 프렛(2)을 가로지르도록 이 각 프렛(2)위에, 소정의 간격을 두고 팽팽하게 설치되는 복수의 현(1)과, 상기 복수의 현(1)의 어느것이 누름조작되었을때, 이에 응답해서 누름조작된 현(1)의 누름위치를 검출하는 현누름위치 검출수단(16)과, 상기 현누름위치 검출수단(16)에 의해 검출된 현(1)의 누름위치에 따라서, 발생할 악음의 음고를 지정하는 음고지정수단(16)을 구비한 전자악기에 있어서, 상기 복수의 현(1)의 각각은, 중지부에 형성된, 전기 저항치를 무시할 수 있는 양 도전성 재료로서 되는 제1도전성 현부재(42)와, 이 제1도전성 현부재(42)의 외주부에 일체적으로 형성된 저항체부재(43)와, 이 저항체부재의 외주부에 일체로 형성된 전기저항치를 무시할 수 있는 양도전성 재료로서 되는 제2도전성 현부재로서 되는 제2도전성 현부재(44)로서 되는 3층 구조를 가지며, 상기 현누름위치 검출수단(16)은, 상기 복수의 각 프렛(2)에 대해 전압펄스를 순차로 인가하며, 이 각 프렛(2)에 대해 전압펄스가 인가되어 있지 않을때는, 이 인가되어 있지않는 타의 프렛(2)을 접지전위로 유지하도록 구동하는 전압인가 수단과, 상기 전압인가 수단(27)에 의해 인가되는 전압을, 상기 제2도전성 현부재(44) 및 상기 저항체부재(43)를 통해서 상기 복수의 각 제1도전성 현부재(42)에서 순차로 검출하는 전압검출수단(28)과, 상기 전압인가 수단(27)에 의해 상기 전압펄스가 인가된 상기 프렛(2)과 상기 전압검출수단(28)에 의해 상기 전압이 검출된 상기 현(1)과의 조합에 의해 상기 각 현(1)의 누름위치를 검출하는 검출수단(16)으로서 되는 것을 특징으로 하는 전자기기.
9. 소정의 간격을 두고 배치된 도전성의 복수의 프렛(2)과, 상기 복수의 프렛(2)을 가로지르도록 이 각 프렛(2)위에, 소정의 간격을 두고 팽팽하게 설치되는 복수의 현(1)과, 상기 복수의 현(1)의 어느것이 누름조작되었을때, 이에 응답해서 누름조작된 현(1)의 누름위치를 검출하는 현누름위치 검출수단과, 상기 현누름위치 검출수단(16)에 의해 검출된 현(1)의 누름위치에 따라서, 발생할 악음의 음고를 지정하는 음고지정수단(16)을 구비한 전자악기에 있어서, 상기 복수의 현(1)의 각각은, 중심부에 형성된, 전기 저항치를 무시할 수 있는 열전도성 재료로서 되는 도전성 현부재와, 이 도전성 현부재(42)의 외주부에 일체적으로 형성된 상기 복수의 각 프렛(2)에 접촉가능한 저항체부재(43)로서 되는 2층 구조를 가지며, 상기 현누름위치 검출수단(16)은, 상기 복수의 각 현(1)의 도전성 현부재(42)에 대해 전압펄스를 순차로 인가하여, 각 현(1)의 도전성 현부재(42)에 대해서 전압펄스가 인가되어 있지않을때는, 이 인가되어 있지 않는 타의 협(1)의 도전성 현부재(42)를 접지전위로 유지하도록 구동하는 전압인가 수단(42)과, 상기 전압인가수단(17)에 의해 인가되는 전압을 상기 저항체부재(17)를 통해서 상기 복수의 각 프렛(2)에서 순차로 검출하는 전압검출수단(18,19)과, 상기 전압인가수단(17)에 의해 상기 전압펄스가 인가된 상기 현(1)과 상기 전압검출수단(18,19)에 의해 상기 전압이 검출된 상기 프렛(2)과의 조합에 의해 상기 각 현(1)의 누름위치를 검출하는 검출수단(16)으로 되는 것을 특징으로 하는 전자악기.
10. 소정의 간격을 두고 배치된 도전성의 복수의 프렛(2)과, 상기 복수의 프렛(2)을 가로지르도록 이 각 프렛(2)위에, 소정의 간격을 두고 팽팽하게 설치되는 복수의 현(1)과, 상기 복수의 현(1)의 어느것이 누름조작되었을때, 이에 응답해서 누름조작된 현(1)의 누름위치를 검출하는 현누름위치 검출수단(16)과, 상기 현누름위치 검출수단(16)에 의해 검출된 현(1)의 누름위치에 따라서, 발생할 악음의 음고를 지정하는 음고지정수단(16)을 구비한 전자악기에 있어서, 상기 복수의 현(1)의 각각은, 중심부에 형성된, 전기 저항치를 무시할 수 있는 양도전성재료로서되는 도전성 현부재와, 이 도전성 현부재(42)의 외주부에 일체적으로 형성된, 상기 복수의 각 프렛(2)에 접촉 가능한 저항체부재(43)로서 되는 2층 구조를 가지며, 상기 현누름위치 검출수단(16)은, 상기 복수의 각 프렛(2)에 대해서 전압펄스를 순차로 인가하여, 이 각 프렛(2)에 대해 전압펄스가 인가되어 있지않을때는 이 인가되어 있지않는 타의 프렛(2)을 접지전위로 유지하도록 구동하는 전압인가 수단(27)과, 상기 전압인가 수단(27)에 의해 인가되는 전압을, 상기 저항치부재(43)을 통해서, 상기 복수의 각 현(1)의 도전성 현부재에서 순차로 검출하는 전압검출수단(27)과 상기 전압인가 수단(27)에 의해 상기 전압펄스가 인가된 상기 프렛(2)과 상기 전압검출수단(28)에 의해 상기 전압이 검출된 상기 현(1)과의 조합에 의해, 상기 각 현(1)의 누름위치를 검출하는 검출 수단(16)으로 되는 것을 특징으로 하는 전자악기.
11. 복수의 행방향 접속선(220)과 복수의 열방향 접속선(223)과의 각 교차 부분에, 이 각 행방향 접속선(220)과 이 각 열방향 접속선(223)과를 접속하는 복수의 스위치 소자(45)를 가지며, 상기 각 행방향 접속선과 상기 열방향 접속선의 각 신호상태에서 어느 교차부분의 스위치 소자가 조작되었는가를 검출하는 조작위치 검출장치에서, 상기 각 교차부분에 설치된 각각의 소정의 저항치를 가지는 저항체(221)와, 상기 복수의 각 행방향 접속선(220)에 전압펄스를 순차로 인가하고, 이 전압펄스가 인가되어 있지않는 타의 행방향 접속선(220)은 접지전위로 유지하는 전압인가 수단(47)과, 상기 전압인가 수단(47)에 의해 인가된 전압을, 상기 저항체(221)를 통해서 상기 복수의 각 열방향 접속선(223)에서 순차로 검출하는 전압검출수단(46,47,48,55,57)과, 상기 전압인가 수단(46,47,48,55,57)에 의해 상기 전압펄스가 인가된 상기 행방향 접속선(220)과 상기 전압검출수단(46,47,48,55,57)에 의해 상기 전압이 검출된 상기 열방향 접속선(223)과의 조합에 의해 어느 교차부분의 스위치소자(45)가 조작되었는가를 검출하는 조작위치 검출수단(47)과를 가지는 것을 특징으로 하는 조작위치 검출 장치.
12. 복수의 행방향 접속선(220)과의 복수의 열방향 접속선(223)과의 각 교차부분에, 이 각 행방향 접속선(220)과 이 각 열방향접속선(223)을 접속하는 복수의 스위치 소자(45)를 가지며, 상기 각 행방향 접속선(220)과 상기 열방향 접속선(223)의 각 신호상태에서 어느 교차부분의 스위치 소자(45)가 조작되었는가를 검출하는 조작위치 검출장치에 있어서, 상기 각 교차부분에 설치된, 각각 소정의 저항치를 가지는 저항체(221)와, 상기 복수의 각 행방향 접속선(220)에 전압펄스를 순차로 인가하고, 이 전압펄스가 인가되어 있지않는 타의 행방향 접속선(220)은 접지 전위로 유지하는 전압인가 수단(47)과, 상기 전압인가 수단(47)에 의해 인가된 전압을, 상기 저항체(221)를 통해서 상기 복수의 각 열방향 접속선(223)에서 순차로 검출하는 전압검출수단(46,47,48,55,57)과, 상기 전압인가 수단(47)에 의해 상기 전압펄스가 인가된 상기 행방향 접속선(220)과 상기 전압검출수단(46,47,48,55,57)에 의해 상기 전압이 검출된 상기 열방향 접속선(223)과의 조합에 의해 어느 교차부분의 스위치소자(45)가 조작되었는가를 검출하는 조작위치 검출수단(47)과, 상기 조작위치 검출수단(47)에 의해 검출된 상기 스위치소자(45)에 대응해서, 발생할 악음의 음고를 지정하는 음고지정수단(47)과, 상기 음고 지정수단(47)에 의해 지정된 음고를 가진 악음을 발생하는 악음발생 수단(51)과를 가지는 것을 특징으로 하는 전자악기.
13. 제12항에 있어서, 평팽하게 설치된 복수의 협(1)의 진동을 검출하는 현(1)의 진동을 검출하는 현진동 검출수단(7,21)과, 상기 현진동 검출수단(7,21)에 의해서, 현진동이 검출되었을때, 거기에 응답해서, 상기 음고지정수단(47)에 의해 지정된 음고를 가진 악음을 발생하도록 제어하는 제어수단(47)과를 다시 가지는 것을 특징으로 하는 전자악기.
14. 소정의 간격을 두고 배치된 복수의 프렛(2)과, 상기 복수의 프렛(2)을 가로지르도록 이 각 프렛(2)위에, 소정의 간격을 두고 팽팽하게 설치된 도전성의 복수의 현(1)과, 상기 복수의 현(1)의 어느것이 누름조작되었을때, 거기에 응답해서 누름조작된 현(1)의 누름위치를 검출하는 현누름위치 검출수단(16)과 현누름위치 검출수단(16′)에 의해 검출된 현의 누름위치에 따라서, 발생할 악음의 음고를 지정하는 음고지정수단(16′)을 구비한 전자악기에서, 상기 복수의 프펫(2)의 각각은, 상기 복수의 각 현(1)마다 접촉가능하며, 또한 이 각 현(1)마다 전기적으로 독립해있는 복수의 도전성부재(59,59′)와, 이 각 도전성부재의 하부에 설치된 저항부재(61)와, 이 저항부재의 하부에 설치된 배선부재(63)로서되는 구조를 가지며, 상기 현누름위치 검출수단(16′)은, 상기 복수의 각 현(1)에 전압펄스를 순차로 인가하며, 이 전압펄스가 인가되지 않는 타의 현(1)은 접지전위로 유지되는 전압인가 수단(27)과, 상기 전압인가수단(27)에 의해 인가된 전압을 상기 저항부재(61) 및 상기 배선부재(63)를 통해서 상기 복수의 각 도전성부재(59,59′)의 어느것부터 순차검출하는 전압검출수단(64,65)과, 상기 전압인가 수단(64,65)에 의해 상기 전압이 검출된 상기 프렛(2)과의 조합에 의해 상기 각 현(1)의 누름위치를 검출하는 수단(47)으로서 되는 것을 특징으로 하는 전자악기.
15. 소정의 간격을 두고서 배치된 복수의 프렛(2)과, 상기 복수의 프렛(2)을 가로지르도록, 이 각 프렛(2)위에 소정의 간격을 두고 팽팽하게 설치된 도전성의 복수의 현(1)과, 상기 복수의 현(1)의 어느것이 누름조작되었을때, 거기에 응답해서, 누름조작된 현(1)의 누름위치를 검출하는 현누름우치 검출수단(47)과, 상기 현누름위치 검출수단(47)에 의해 검출된 현(1)의 누름위치에 따라서, 발생할 악음의 음고를 지정하는 음고지정수단(47)을 구비한 전자 악기에서, 상기 복수의 프렛(2)의 각각은, 상기 복수의 각 현(1)마다 접촉이 가능하며, 또한 이 각 현(1)마다 전기적으로 독립해 있는 복수의 도전성 부재(59,59′)와, 이 각 도전성부재의 하부에 설치된 저항부재(61)와, 이 저항부재의 하부에 설치된 배선부재(63)로서는 구조를 가지며, 상기 현누름위치 검출수단(47)은, 이 복수의 각 배선부재(16)에 전압펄스를 순차로 인가하며, 이 전압펄스가 인가되지 않는 타의 배선부재(63)는 접지전위를 유지하며, 전압인가 수단(27)과, 상기 전압인가 수단(27)에 의해 인가된 전압을, 상기 배선부재(63) 및 상기 저항부재(61)를 통해서, 상기 복수의 각 현(1)에서 순차검출하는 전압검출 수단(64,65)과, 상기 전압인가 수단(27)에 의해서 상기 전압펄스가 인가된 상기 프렛(2)과 상기 전압 검출수단(64,65)에 의해 상기 전압이 검출된 상기 현(1)과의 조합에 의해 상기 각 현(1)의 누름위치를 검출하는 검출수단(16)으로서 되는 것을 특징으로 하는 전자악기.
16. 소정의 간격을 두고 배치된 복수의 제1도전성 부재(220)와, 상기 제1도전성 부재(220)를 가로지르도록, 이 제1도전성부재위에, 소정의 간격을 두고 배치된 누름가능한 복수의 제2도전성 부재(223)와, 상기 각 제1도전성 부재(220)의 상기 각 제2도전성 부재(223)가 접촉할 수 있는 부분에 형성된 저항체부재(221)와, 상기 각 제2도전성 부재(223)의 각각에 대해서 전압펄스를 순차인가하고, 이 제2도전성 부재(223)에 대해 전압펄스가 인가되어있지 않을때는, 이 인가되어 있지않은 타의 상기 각 제2도전성부재(47)를 접지전위로 유지하도록 구동하는 전압인가 수단과, 상기 전압인가수단(47)에 의해 인가되는 전압을 상기 저항체부재(221)를 통해서, 상기 각 제1도전성부재(220)에서 순차검출하는 전압검출수단(46,48)과, 상기 전압인가 수단(47)에 의해 상기 전압펄스가 인가된 상기 제2도전성 부재(223)의 어느것이 눌러졌을 경우, 이 눌려진 이 제2도전성 부재(223)와 상기 전압검출수단(47)에 의해서 상기 전압이 검출된 상기 제1도전성 부재(220)와의 조합에 의해, 상기 제1도전성부재(220)와 상기 각 저항체부재(221)와의 교차부분중에서 어느것의 교차부분이 누름조작 되었는가를 검출하는 조작위치 검출수단(47)을 가지는 것을 특징으로 하는 조작위치 검출장치.
17. 소정의 간격을 두고 배치된 복수의 제1도전성부재(220)와, 상기 제1도전성 부재(220)를 가로지르도록, 이 제1도전성부재위(220)위에, 소정의 간격을 두고 배치된 누름가능한 복수의 제2도전성부재(223)와, 상기 각 제1도전성부재(220)의 상기 각 제2도전성부재(223)가 접촉할 수 있는 부분에 형성된 저항체부재(221)와, 상기 각 제2도전성부재(223)의 각각에 대해서 전압펄스를 순차로 인가하고, 이 제2도전성 부재(223)에 대해 전압펄스가 인가되어 있지않을때는, 이 인가되어 있지않은 타의 상기 각 제2도전성부재(223)를 접지전위로 유지하도록 구동하는 전압인가 수단(47)과, 상기 전압인가 수단(47)에 의해 인가되는 전압을, 상기 저항체부재(221)를 통해서, 상기 각 제1도전성 부재(220)에서 순차검출하는 전압검출수단(46,48)과, 상기 전압인가 수단(47)에 의해 상기 전압펄스가 인가된 상기 제2도전성부재(223)의 어느것이 눌러졌을 경우, 이 눌려진 이 제2도전성부재(223)와 상기 전압검출수단(47)에 의해서 상기 전압이 검출된 상기 제1도전성 부재와의 조합에 의해 상기 각 제1도전성 부재(220)와 상기 각 저항체부재(221)와의 교차부분중에서 어느교차부분이 누름조작되었는가를 검출하는 조작위치 검출수단(47)과, 상기 조작위치검출 수단(47)에 의해 검출된 상기 교차부분에 대응해서, 발생할 악음의 음고를 지정하는 음고 지정수단(47)을 가지는 것을 특징으로 하는 전자악기.
18. 소정의 간격을 두고 배치될 복수의 제1도전성부재(220)와, 상기 제1도전성부재(220)를 가로지르도록 이 제1도전성부재(220)위에 소정의 간격을 두고 배치된 누름가능한 제2도전성부재(223)와, 상기 각 제1도전성부재(220)의 상기 각 제2도전성부재(223)가 접촉할 수 있는 부분에 형성된 저항체부재(221)와, 상기 각 제1도전성부재(220)의 각각에 대해서 전압펄스를 순차인가하고, 이 제1도전성부재(220)에 대해서 전압펄스가 인가되어있지않을 때는 이 인가되어 있지않는 타의 상기 각 제1도전성부재(220)를 접지전위에 유지하도록 구동하는 전압인가 수단(47)과, 상기 전압인가 수단(47)에 의해 인가된 전압을, 상기 저항체부재(221)를 통해서, 제2도전성부재(223)에서 순차검출하는 전압검출수단과, 상기 각 제2도전성부재(223)의 어느것이 눌려졌을때, 이 눌려진 이 제2도전성부재와 상기 전압검출수단에 의해 상기 전압이 인가된 상기 제1도전성부재와의 조합에 의해, 상기 각 저항체부재(13)와 상기 각 제2도전성부재와의 교차부분중에서 어느 교차부분이 누름조작되었는가를 검출하는 조작위치검출수단(47)과를 가지는 것을 특징으로 하는 조작위치 검출수단.
19. 소정의 간격을 두고 배치된 복수의 제1도전성 부재(63)와, 상기 각 제1도전성 부재(62)위에 설치된 저항부재(61)와, 상기 각 저항부재위에 설치된, 서로 전기적으로 독립된 복수의 제2도전성 부재(59,59′)와, 상기 복수의 제2도전성 부재위에, 이 각 제2도전성부재와 접촉가능한 복수의 제3도전성 부재(1)와 상기 각 도전성부재의 각각에 대해서 전압펄스를 순차 인가하고 이 각 제3도전성부재(1)에 대해서 전압펄스가 인가되어 있지않을때는, 이 인가되어 있지않는 타의 제3도전성부재를 전지전위를 유지하도록 구동하는 전압인가 수단(17)과, 상기 전압인가수단(17)에 의해 인가되는 전압을, 상기 각 제2도전성 부재(59,59′) 및 상기 저항부재(61)를 통해서, 상기 각 제1도전성부재(63)에서 순차검출하는 전압검출 수단(18,19)과, 상기 전압인가 수단(17)에 의해 상기 전압펄스가 인가된 상기 각 제3도전성부재(1)의 어느것이 눌려졌을때, 이 눌려진 이 제3도전성부재(1)와 상기 전압검출 수단에 의해 상기 전압이 검출된 상기 제1도전성부재(63)와의 조합에 의해, 상기 각 제3도전성부재(1)와 상기 각 제2도전성부재(59,59′)와의 교차 부분중에서 어느것의 교차부분이 누름조작 되었는가를 검출하는 누름위치검출수단(16)과를 가지는 것을 특징으로 하는 조작위치 검출장치.
20. 소정의 간격을 두고 배치된 복수의 제1도전부재(63)와, 상기 각 제1도전성부재(63)위에 설치된 저항부재(61)와, 상기 각 저항부재(61)위에 설치된, 서로 전기적으로 독립된 복수의 제2도전성부재(59,59′)와, 상기 복수의 제2도전성부재위에, 이 각 제2도전성부재와 접촉가능한 복수의 제3도전성 부재(1)와, 상기 제1도전성부재(63)의 각각에 대해서 전압펄스를 순차인가하고, 이 각 제1도전성부재에 대해서 전압펄스가 인가되어있지 않을때는, 이 인가되어 있지않는 타의 상기 각 제1도전성부재를 접지전위로 유지하도록 구동하는 전압인가 수단(27)과, 상기 전압인가수단에 의해 인가되는 전압을, 상기 저항 부재(61) 및 상기 각 제2도전성부재(59,59′)를 통해서 상기 각 제3도 전성부재에서 순차검출하는 전압검출수단(64,65)과, 상기 각 제3도전성부재(1)의 어느것이 눌려졌을 경우, 이 눌려진 이 제3도전성부재(1)와 상기 전압검출수단(64,65)에 의해 상기 전압이 인가된 상기 제1도전성부재와의 조합에 의해 상기 각 제2도전성부재의 상기 각 제3도전성부재와의 교차부분의 중에서 어느 교차부분이 누름조작되었는가를 검출하는 조작위치검출수단(16)을 가지는 것을 특징으로 하는 조작위치 검출장치.
21. 핑거보드(4)의 긴쪽 방향과 직교하는 방향에, 서로 소정의 간격을 두고 배설된 복수의 프렛(2)과, 상기 복수의 프렛(2)상부에, 상기 핑거보드(4)의 긴쪽 방향으로 팽팽하게 설치된 복수의 도전성 현(1)과, 상기 복수의 현(1)의 진동을 각 현(1)마다 검출하는 현진동 검출수단(7,21)과, 상기 복수의 현(1)에 대한 피치밴드 조작을 검출하는 피치 밴드 검출수단(502,503,505,507)과, 상기 복수의 현(1)의 어느 현(1)의 누름조작에 의해 상기 복수의 프렛(2)중의 특정의 프렛(2)과 누름조작된 현(1)이 접촉했을때, 당해 접촉한 특정의 프렛(2)에 대응한 현(1)의 누름위치를 검출하는 현누름위치 검출수단(16,16′)과, 상기 현진동 검출수단(7,21)에 의해 현(1)의 진동개시가 검출되었을때, 거기에 응답해서, 상기 현(1)에 대한 악음의 발생개시를 지시하는 지시수단(16,16′)과, 상기 지지수단(16,16′)에 의해 상기 악음의 발생개시가 지시되었을때에 발생할 악음의 음고를, 상기 현누름위치 검출 수단에 의해 검출한 현(1)의 누름위치에 대응하는 음고 데이타에 따라서 제어하고, 상기 지시수단에 의해서 상기 악음의 발생개시가 지시된 후에, 상기 피치밴드 검출수단에 의해 피치밴드 조작이 검출되었을때에 발생할 악음의 음고를, 상기 피치밴드조작에 따라서 제어하는 음고제어 수단과 (16,16′)를 구비하는 전자악기에 있어서, 상기 복수의 프렛(2)의 각각은, 전지저항치를 무시할 수 있는 양도전성 재료로서되는 도전성부재(14)와, 이 도전성부재(14)의 상기 각 현(1)이 접촉할 수 있는 부분에 형성된 저항체부재(13)와의 2층 구조로서되며, 상기 저항체부재(13)의 막의 두께는 그 막두께 방향의 저항치와 이웃하는 2개의 현(1)이 동시에 상기 저항체부재(13)에 접촉했을때에 각 현(1)사이에서 생기는 긴쪽방향의 저항치를 비교했을때, 상기 막 두께방향의 저항치가 상기 긴쪽방향의 저항치보다도 충분한 값이되는 두께로 형성되어 있으며, 상기 현누름위치 검출수단(16,16′)은, 상기 복수의 각 현(1) 또는 상기 복수의 각 프렛(2)의 도전성부재(14)의 어느 한쪽에 대해서 전압펄스를 순치인가하고, 이 각 현(1) 또는 이 각 도전성 부재(14)의 어느 현(1)쪽에 대해 전압팔스기 인가되어 있지않을때는, 이 인가되어 있지않는 타의 현(1) 또는 도전성 부재를 접지전위로 유지하도록 구동하는 전압인가수단(17,27)과, 상기 전압인가수단에 의해 순차인가되는 전압을 상기 저항체부재(13)를 통해서 상기 복수의 각 프렛(2)의 도전성부재 또는 상기 복수의 각 현(1)의 어느 다른쪽에서 순차 검출하는 전압검출 수단(18,19,28)과, 상기 전압인가수단(17,27)에 의해 상기 전압펄스가 인가된 상기 현(1) 또는 상기 프렛(2)과 상기 전압 검출수단에 의해 상기 전압이 검출된 상기 프렛(2) 또는 상기 현(1)과의 조합에 의해 상기 각 현(1)의 누름위치를 검출하는 검출수단(16,16′)으로서 되는 것을 특징으로 하는 전자악기.
22. 핑거보드(4)의 긴쪽방향과 직교하는 방향에, 서로 소정의 간격을 두고 배설된 복수의 프렛(2)과, 상기 복수의 프렛(2) 상부에 상기 핑거 보드(4)의 긴쪽방향으로 팽팽하게 설치된 복수의 도전성 현(1)과, 상기 복수의 현(1)의 진동을 각 현(1)마다 검출하는 현진동검출 수단(7,21)과, 상기 현진동 검출수단(7,21)에 의해 검출된 현(1)의 진동에서 이진동의 기본주기를 측정하는 주기측정수단(35,36)과, 상기 복수의 현(1)의 어느 현(1)의 누름조작에 의해 상기 복수의 프렛(2)중의 특정의 프렛(2)과 누름조작된 현(1)이 접촉했을때, 당해 접촉한 특정의 프렛(2)에 대응한 현(1)의 누름위치를 검출하는 누름위치 검출수단(16,16′)과, 상기 현진동 검출수단(7,21)에 의해 현(1)의 진동개시가 검출되었을때, 거기에 응답해서 상기 현(1)에 대한 악음의 발생개시를 지시하는 지시수단(16,16′)과, 상기 지시수단에 의해 상기 악음의 발생개시가 지시되었을때에 발생할 악음의 음고를, 상기 현누름위치 검출수단에 의해 검출된 현(1)의 누름위치에 대응한 음고 데이타에 따라서 제어하고, 상기 지시수단에 의해 상기 악음의 발생 개시가 지시된 후에 상기 기본주기가 측정된 것을 조건으로, 발생할 악음의 음고를, 상기 주지측정수단(35,36)에 의해 측정된 상기 기본주기에 대응하는 피치밴드 데이타에 제어하는 음고제어수단(16,16′)과를 구비한 전자악기에 있어서, 상기 복수의 프렛(2)의 각각은, 전기저항치를 무시할 수 있는 양도전성부재로서 되는 도전성부재(14)와, 이 도전성부재의 상기 각 현(1)이 접촉할 수 있는 부분에 형성된 저항체부재(13)와의 2층 구조로서 되며, 상기 저항체부재(13)의 막두께는, 그 막두께 방향의 저항치와 이웃하는 3개의 현(1)이 동시에 상기 저항체부재(13)에 접촉했을때에 각 현(1)사이에 생기는 긴쪽방향의 저항치를 비교했을때, 상기 막두께방향의 저항치가 상기 긴쪽방향의 저항치보다도 충분히 큰 값이 되도록 한 두께로 형성되어 있으며, 상기 현 누름위치 검출수단(16,16′)은, 상기 복수의 각 현(1) 또는 상기 복수의 각 프렛(2)의 도전성부재의 어느 한쪽에 대해 전압펄스를 순차인가하고, 이 각 현(1) 또는 이 각 도전성부재의 어느 한쪽에 대해서 전압펄스가 인가되어 있지 않을때는, 이 인가되어 있지 않은 타의 현(1) 또는 도전성부재를 접지전위로 유지하도록 구동하는 전압인가 수단과(17,27), 상기 전압인가 수단에 의해 순차인가되는 전압을 상기 저항체부재(13)를 통해서 상기 복수의 각 프렛(2)의 도전성부재 또는 상기 복수의 각 현(1)의 어느 다른쪽에서 순차검출하는 전압검출수단(18,19,28)과, 상기 전압인가 수단(17,27)에 의해 상기 전압펄스가 인가된 상기 현(1) 또는 상기 프레(2)과 상기 전압검출수단에 의해 상기 전압이 검출된 상기 프렛(2) 또는 상기 현(1)과의 조립에 의해, 상기 각 현(1)의 누름위치를 검출하는 검출수단(16,16′)으로서 되는 것을 특징으로 하는 전자악기.

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