KR920003967B1 - 음극선관의 랜딩 측정방법 - Google Patents

Abstract

내용 없음.

Description

음극선관의 랜딩 측정방법

제 1 도는 본 발명에 따른 빔 스포트를 측정하는 측정기를 나타낸 것으로서, (a)는 사용 상태도이고, (b)는 측정기에 장착된 변환기이다.

제 2 도는 본 발명에 따른 음극선관의 랜딩 측정방법을 나타낸 스크린면을 발췌하여 도시된 정면도.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명

10 : 광학 현미경 11 : 전자석

11A : 링형코너 12 : 변환기

2 0 : 음극선관 21 : (음극선관의) 스크린면

B : 블랙매트릭스 S : 빔 스포트

본 발명은 음극선관의 랜딩 측정방법에 관한 것으로서, 더 상세하게는 음극선관의 전자총으로부터 방출된 전자빔이 형광면 상에 랜딩되는 상태를 측정하는 방법에 관한 것이다.

일반적으로 음극선관을 제조함에 있어서, 최종 검수단계에서 화질검사 특성검사 외관검사등 각종 검사단계를 행하게 된다. 이중에 화질검사는 다음과 같은 순서로 이루어지는 바, 먼저 소정의 조건하에서 색조정을 하고 색조정이 끝나면 3색전자빔(R.G.B)중에서 중앙의 전자빔(Green 빔)만 화면의 중심부에 주사해서 중앙의 전자빔이 형광면상에 랜딩되는 상태를 측정하고 그 빔을 좌우방향등으로 편향시켜 각 방향에서의 랜딩 상태를 조정한 다음 최소한 두개의 빔을 조합한 크로스 신호를 주사하여 상호 일치되도록 조정한다.

여기에서 상기 전자빔이 형광면상에 랜딩되는 상태를 측정하여야 하는데, 형광면상에 전자빔이 랜딩되는 상태를 측정하는 방법은 일반적으로 광학현미경에 의한 측정이나 1차원 광소자를 이용하여 형광면의 휘도변화를 측정하여 랜딩을 측정하는 방법으로 대별된다. 광학 현미경에 측정방법은 특수하게 제작된 광학현미경을 음극선관의 스크린면에 올려 놓고 검사자의 눈으로 직접 측정하게 되는데, 비발광 물질인 블랙매트릭스 사이에 랜딩되는 상태를 휘도차에 의해 측정하여야 하므로 검사자의 목측에 의해 측정오차가 크게 발생된다. 그리고 상기 1차원 광소자를 이용하여 휘도변화에 의한 측정방법은 휘도레벨의 변화에 따른 랜딩 상태를 정확히 측정한 기준 데이터를 확보하고 있어야 하고, 또한 음극선관의 길이나 형태 크기에 따라 설정된 기준데이터를 바꾸어 주어야 하는 등의 문제점이 있다.

따라서 본 발명은 상기한 문제점을 해결하기 위하여 창출된 것으로서, 전자빔이 스크린면에 랜딩되는 상태를 휘도 차이에 의해 개인오차 거의 없이 정밀하게 측정할 수 있는 음극선관의 랜딩 측정방법을 제공함에 그 목적이 있다.

상기의 목적을 달성하기 위하여 본 발명은 전자빔이 음극선관의 스크린면에 랜딩되는 상태를 측정하는 음극선관의 랜딩 측정방법에 있어서, 블랙매트릭스 사이의 형광체스트라이프에 소정크기의 빔 스포트를 상기 양측 블랙매트릭스 사이에서 상기 스트라이프에 대해 직각 방향으로 좌우진동시켜 상기 전자빔이 중복되는 부분과 중복되지 않는 부분의 휘도 차이에 의해 전자빔의 랜딩 상태를 측정하도록 하는 점에 그 특징이 있다.

이하 첨부된 도면을 참조하면서 본 발명에 다른 한 바람직한 실시예를 상세하게 설명한다.

제 1 도 및 제 2 도에는 본 발명을 실시하기에는 적합한 전자빔의 측정구가 도시되어 있는바, 이는 광학현미경(10) 하부에 렌즈를 감싸는 전자석(11)을 설치하되, 상기 전자석(11)은 음극선관(20)의 스크린면(21)과 인접하는 렌즈를 감싸는 링형 코어(11a)에 감긴 코일과, 그 코일에 전원을 인가하는 인입단에 양 극성을 서로 바꿀수 있도록 발진기(Oscillator : 12)로 이루어져 있다.

이와 같이 구성된 광학현미경(10)으로서 음극선관(20)의 랜딩 상태를 측정하기 위해서는 먼저 음극선관을 작동시켜 전자빔이 스크린면(21)상에 랜딩되도록 하고 랜딩상태를 측정하고자 하는 위치의 스크린면(21)에 상기 광학 현미경(20)을 밀착시킨다. 이때에 형광막에 랜딩되는 전자빔은 제 2 도에 도시된 바와 같이 스크린면(21)에 형성된 스트라이프상의 양측 블랙매트릭스(B) 사이의 형광체 스트라이프에 빔 스포트(S)가 형성되게 되는데, 이때의 빔 스포트(s)는 양측 블랙매트릭스(B)와 형광체스트라이프(P)를 공유하게 된다. 따라서 상기 광학현미경(10)을 통하여 보이는 전자빔 스포트는 블랙매트릭스(B)부분은 보이지 않게 되고 형광체에 랜딩되어 형광체가 발광하는 부분만 가시화되어 나타나게 된다.

이 상태에서 상기 광학현미경(10)에 장착된 전자석의 극성을 상기 발진기(12)에 의해 일정주기로 반전시킨다. 이와 같이 하면 상기 양 블랙매트릭스(B)와 형광체스트라이프(P)에 랜딩된 빔 스포트(S)는 양측 블랙매트릭스(B)를 벗어나지 않는 상태에서 스트라이프상의 블랙매트릭스(B)에 직각방향으로 왕복이동하게 된다. 이때에 왕복이동하는 빔 스포트(S)는 양측 블랙매트릭스(B) 사이를 벗어나지 않게 되므로, 전자빔은 상기 형광체스트라이프(P)내에서 교차되는 부분, 즉 중복되는 부분이 형성되게 된다. 이 중복되는 부분은 형광체스트라이프(P)내에서 빔 스포트(S)에 비해 상대적으로 발광휘도가 밝게 나타내게 된다. 따라서 측정자는 광학현미경(10)을 통하여 양 블랙매트릭스(B) 형광체스트라이프(P)내에서 위치하며 발광휘도가 놓은 빔 스포트(S)의 중복되는 부분의 외측과 블랙매트릭스(B)사이의 간격을 육안으로 측정하여 그 간격의 차이에 의해 전자빔의 랜딩상태를 정확하게 측정할 수 있는 것이다. 즉, 종래에는 상기 형광막에 랜딩되는 전자빔 단면의 일부가 블랙매트릭스(B)에 흡수되어 그 형광막에 랜딩되는 전자빔 단면형상을 정확하게 알 수 없었으나 상기 전자빔을 블랙매트릭스 사이에서 진동시킴으로써 전자빔의 일부가 상기 블랙매트릭스(B)에 의해 흡수된다하여도 그 진상을 이용하여 전자빔이 형광막에 랜딩되는 상태를 알 수 있게 되는 것이다. 이 때에 광학현미경의 렌즈에 상기 간격을 측정할 수 있는 눈금을 새겨두면 더욱 정밀한 측정이 가능하다.

따라서 본 발명은 종래 형광막에 랜딩되는 전자빔의 단면이 상기 블랙매트릭스에 의해 일부 흡수되게 되므로 형광막에 랜딩되는 전자빔의 단면형상을 정확하게 알 수 없었던 문제를 근본적으로 해결하여 형광막에 랜딩되는 전자빔의 단면을 형광막의 전자빔의 단면발광 휘도차이에 의해 랜딩상태를 측정할 수 있으므로 측정하는 사람에 따른 개인적인 측정오차를 최소화할 수 있는 이점이 있다.

Claims (1)

1. 전자빔이 음극선관의 형광면에 랜딩되는 상태를 측정하는 음극선관의 랜딩 측정방법에 있어서, 블랙매트릭스(B)사이의 형광체스트라이프(P)에 소정 크기의 빔 스포트(S)를 랜딩시키고, 이 빔 스포트(S)를 양측 블랙 매트릭스(B)사이에서 이에 직각방향으로 일정주기로 왕복이동시켜서, 이 빔 스포트(S)가 중복되는 부분과 중복되지 않는 부분의 휘도차이를 통해 랜딩 상태를 측정하는 것을 특징으로 하는 음극선관으 랜딩측정방법.

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