KR910007737B1 - Apparatus of gainning the fault of hole of shadow mask - Google Patents
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Abstract
Description
제1도는 종래의 새도우 마스크 공경 자동 검사장치의 블록도.1 is a block diagram of a conventional automatic shadow mask diameter inspection device.
제2도는 본 발명의 새도우 마스크 공경 결점 영상취득장치 구성 예시도.Figure 2 is an exemplary configuration of the shadow mask pore defect image acquisition device of the present invention.
제3도는 제2도의 위킹패턴(Working Pattern)의 동작관계를 보인 설명도.FIG. 3 is an explanatory diagram showing an operation relationship of the working pattern of FIG.
제4도는 본 발명에 의해 취득한 새도우 마스크 공경 결점 영상 상태도.4 is a shadow mask pore defect image state diagram obtained according to the present invention.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings
11 : 라인조명 12 : 집속렌즈11: line light 12: focusing lens
13 : 새도우 마스크 14 : 워킹패턴13: shadow mask 14: walking pattern
15 : 라인스캔 카메라 16 : 아날로그/디지탈 변환기15: line scan camera 16: analog / digital converter
본 발명의 새도우 마스크(Shadow mask) 공경 자동 검사장치에 관한 것으로, 특히 새도우 마스크의 공경 결점에 대한 장치를 강조(Enhancement)하고, 영상 데이타량을 최소화하여 새도우 마스크의 공경 결점의 검사를 빠른 속도로 수행할 수 있도록 한 새도우 마스크 공경 결점 영상취득장치에 관한 것이다.The present invention relates to a shadow mask automatic automatic inspection device of the present invention, in particular, highlighting the device for the defect of the defect of the shadow mask (Enhancement), by minimizing the amount of image data to inspect the inspection of the defects of the shadow mask at high speed The present invention relates to a shadow mask mirror defect image acquisition device that can be performed.
종래의 새도우 마스크 공경 자동 검사장치는 제1도에 도시한 바와 같이, 컨베이어(C)에 놓여 있는 새도우 마스크(2)에 빛을 비추는 라인조명(1)과, 상기 새도우 마스크(2)를 통한 라인 영상을 아날로그 신호로 변환하는 라인스캔 카메라(3)와, 이 라인스캔 카메라(3)의 출력신호를 디지탈 신호로 변환하는 아날로그/디지탈 변환기(4)와, 이 아날로그/디지탈 변환기(4)에 출력되는 디지탈 영상신호를 기억하는 메모리(5)와, 이 메모리(5)에 기억되어 있는 디지탈 영상신호에 대하여 검사 알고리즘을 적용하는 디지탈 이미지 프로세서(6)와, 이 디지탈 이미지 프로세서(6)의 출력신호를 처리하여 최종적인 검사판정을 하는 호스트 컴퓨터(7)와, 이 호스트 컴퓨터(7)의 제어를 받는 새도우 마스크 로더(Loader)(8) 및 스캐너(9), 새도우 마스크 언로더(unloader)(10)로 구성되어 있는 것으로, 이의 동작과정에 대하여 설명한다.As shown in FIG. 1, a conventional shadow mask diameter automatic inspection device has a line illumination (1) for illuminating a shadow mask (2) placed on a conveyor (C), and a line through the shadow mask (2). A line scan camera 3 for converting an image into an analog signal, an analog / digital converter 4 for converting an output signal of the line scan camera 3 into a digital signal, and an output to the analog / digital converter 4 A memory 5 for storing the digital video signal to be used, a digital image processor 6 for applying an inspection algorithm to the digital video signal stored in the memory 5, and an output signal of the digital image processor 6; Host computer 7 for final inspection and processing of shadow, shadow mask loader 8 and scanner 9 and shadow mask unloader 10 under the control of the host computer 7; Consists of Is to be explained is the operation process thereof.
검사하고자 하는 새도우 마스크(2)를 호스트 컴퓨터(7)의 제어를 받는 새도우 마스크 로더(8)에 의해 스캐너(9)에 로드(Load)하고, 그 로드된 새도우 마스크(2)의 하단에서 균일한 라인조명(1)을 비추게 되면, 그 라인조명(1)은 그 새도우 마스크(2)의 공경을 통해 라인스캔 카메라(3)에 인가된다. 따라서, 이때 라인스캔 카메라(3)에서는 새도우 마스크(2)를 통한 라인 영상을 아날로그 영상신호로 변환하게 되고, 이 아날로그 영상신호는 아날로그/디지탈 변환기(4)에서 디지탈 영상신호로 변환된 후 메모리(5)에 기억된다. 이때 디지탈 프로세서(6)는 메모리(5)에 기억되어 있는 디지탈 영상신호를 읽어 그 디지탈 영상신호에 대한 검사를 수행하여 호스트 컴퓨터(7)에 알리고, 이에따라 호스트 컴퓨터(7)는 현재 검사한 새도우 마스크(2)가 정상인가 비정상인가를 판별하게 된다.The shadow mask 2 to be inspected is loaded into the scanner 9 by the shadow mask loader 8 under the control of the host computer 7, and is uniform at the bottom of the loaded shadow mask 2. When the line light 1 is illuminated, the line light 1 is applied to the line scan camera 3 through the diameter of the shadow mask 2. Therefore, at this time, the line scan camera 3 converts the line image through the shadow mask 2 into an analog image signal, which is converted into a digital image signal by the analog / digital converter 4 and then stored in a memory ( 5) is remembered. At this time, the digital processor 6 reads the digital video signal stored in the memory 5, performs a test on the digital video signal, and informs the host computer 7 of the digital video signal. Accordingly, the host computer 7 checks the current shadow mask. It is determined whether (2) is normal or abnormal.
그러나, 이러한 종래의 장치에 있어서는 라인조명을 새도우 마스크에 직접 비추는 것이므로, 새도우 마스크에서 정확한 라인 영상을 얻을 수 없게 되고, 또 새도우 마스크의 공경을 통하게 되는 빛이 난반사를 일으키게 되므로 그 새도우 마스크의 공경 에지(Edge)에 대한 정확한 정보를 얻을 수 없게 되어 새도우 마스크의 공경 검사를 정확히 수행할 수 없는 결점이 있었다.However, in such a conventional apparatus, since the line light is directly reflected on the shadow mask, an accurate line image cannot be obtained from the shadow mask, and light passing through the void of the shadow mask causes diffuse reflection, so that the edge of the shadow mask is mirrored. There was a flaw in not being able to accurately perform the shadow test of the shadow mask because accurate information on Edge was not available.
본 발명은 이러한 종래의 결점을 해결하기 위하여, 새도우 마스크의 공경 에지에 대한 정보를 정확히 취득할 수 있는 새도우 마스크 공경 결점 영상취득장치를 창안한 것으로, 이를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명하면 다음과 같다.In order to solve the above-mentioned drawbacks, the present invention has been made a shadow mask pore defect image acquisition device that can accurately obtain information on the edge of the shadow mask, it will be described in detail with reference to the accompanying drawings as follows. same.
제2도는 본 발명의 새도우 마스크 공경 결점 영상취득장치 구성예시도로서, 이에 도시한 바와 같이 균일한 라인빛을 발생하는 라인조명(11)과, 이 라인조명(11)의 빛을 집속하여 새도우 마스크(13)에 가하는 집속렌즈(12)와, 상기 마스크(13)와 동일한 공경패턴을 갖는 워킹패턴(14)과, 상기 집속렌즈(12) 및 워킹패턴(14)을 통한 빛을 아날로그 영상신호로 변환하는 라인스캔 카메라(15)와, 이 라인스캔 카메라(15)에서 출력되는 아날로그 영상신호를 디지탈 영상신호로 변환하는 아날로그/디지탈 변환기(16)로 구성한 것으로, 상기 아날로그/디지탈 변환기(16)에서 출력되는 디지탈 영상신호는 상기에서 설명한 제1도의 메모리(5)에 인가되게 되어 있다. 그리고, 상기 라인조명(11)은 고주파 형광등 구동기에 의해 구동되는 형광등이고, 워킹패턴(14)은 새도우 마스크의 원재료인 철판위에 올려 놓고 자외선을 조사함으로써 새도우 마스크의 공경을 형성시키는 노광공정에 사용되는 패턴이다.2 is an exemplary view showing the configuration of a shadow mask defect defect image acquisition device according to an embodiment of the present invention. As shown therein, a line mask 11 for generating uniform line light and a shadow mask by converging the light of the line light 11 are shown. The focusing lens 12 applied to (13), the working pattern 14 having the same pore pattern as the mask 13, and the light through the focusing lens 12 and the working pattern 14 are converted into analog image signals. It consists of a
이와 같이 구성된 본 발명의 작용 효과를 상세히 설명하면 다음과 같다.Referring to the effect of the present invention configured as described in detail as follows.
고주파 형광등 구동기에 의해 라인조명(11)에서 라인빛이 발생되면, 이 라인빛은 집속렌즈(12)에서 집속되어 새도우 마스크(13)에 비춰진다. 따라서, 새도우 마스크(13)의 공경에 워킹패턴(14)이 대응되게 위치시키게 되면, 집속렌즈(12)에서 집속된 라인빛은 새도우 마스크(13)의 공경과 워킹패턴(14)의 사이를 통과하게 된다. 즉, 제3도에 도시된 바와 같이 집속렌즈(12)에서 집속된 빛은 새도우 마스크(13)의 소공경(13a)을 통과한 후 그의 대구경(13b) 및 워킹패턴(14) 사이의 공간부를 통하게 되고, 이와 같이 새도우 마스크(13) 및 워킹패턴(14)를 통한 빛은 라인스캔 카메라(15)에서 라인 영상신호를 변환된다. 따라서, 새도우 마스크(13)의 공경이 정상적인 경우에는 그 새도우 마스크(13) 및 워킹패턴(14)을 통하는 라인 빛이 일정하게 되므로 라인스캔 카메라(15)에서 출력되는 라인 영상신호는 제4a도에 도시된 바와 같이 새도우 마스크(13)의 피치를 주기로 하는 주기성 신호로된다. 그러나, 새도우 마스크(13)의 공경이 정상적인 경우보다 큰 경우에는 그 새도우 마스크(13) 및 워킹패턴(14)을 통하는 빛이 많아지게 되고, 이에 따라 라인스캔 카메라(15)에서 출력되는 라인 영상신호는 제4b도에 도시된 바와 같이 그의 펄스폭 및 크기가 커지게 된다.When line light is generated in the line light 11 by the high-frequency fluorescent lamp driver, the line light is focused on the focusing lens 12 and is reflected on the shadow mask 13. Therefore, when the walking pattern 14 is positioned correspondingly to the pore of the shadow mask 13, the line light focused by the focusing lens 12 passes between the pore of the shadow mask 13 and the walking pattern 14. Done. That is, as shown in FIG. 3, the light focused in the focusing lens 12 passes through the small pore diameter 13a of the shadow mask 13, and then the space between the large diameter 13b and the working pattern 14 thereof. In this way, the light through the shadow mask 13 and the working pattern 14 is converted by the
또한, 새도우 마스크(13)의 공경이 정상적인 경우보다 작은 경우에는 그 새도우 마스크(13) 및 워킹패턴(14)을 통하는 빛이 적어지게 되고, 이에 따라 라인스캔 카메라(15)에서 출력되는 라인 영상신호는 제4c도에 도시된 바와 같이 그의 펄스폭 및 크기가 작아지게 된다.In addition, when the pore size of the shadow mask 13 is smaller than normal, the light passing through the shadow mask 13 and the working pattern 14 is reduced, and thus the line image signal output from the
이와 같이 라인스캔 카메라(15)에서 출력된 라인 영상신호는 아날로그/디지탈 변환기(16)에서 디지탈 영상신호로 변환되므로 그 디지탈 영상신호 값으로부터 새도우 마스크(13)의 공경이 정상상태인가를 손쉽게 판별할 수 있게 된다.Since the line video signal output from the
이상에서 상세히 설명한 바와 같이 본 발명의 새도우 마스크의 공경에 대한 정보신호만을 강조시키므로 새도우 마스크의 공경검사를 정확히 할 수 있고, 조명의 밝기 변화에 따른 검사 정확성이 떨어지는 것을 방지할 수 있으며, 최소한의 공경 데이만을 취득하게 되므로 검사 알고리즘의 처리시간을 줄일 수 있는 효과가 있다.As described in detail above, only the information signal for the pore of the shadow mask of the present invention can be emphasized, so that the pore inspection of the shadow mask can be precisely performed, and the inspection accuracy can be prevented from falling due to the change in brightness of the illumination, and the minimum pore Since only the data is acquired, the processing time of the inspection algorithm can be reduced.
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