KR900010384A - 폴리에틸렌 샘플 검사 장치 및 방법 - Google Patents

폴리에틸렌 샘플 검사 장치 및 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR900010384A
KR900010384A KR1019890018267A KR890018267A KR900010384A KR 900010384 A KR900010384 A KR 900010384A KR 1019890018267 A KR1019890018267 A KR 1019890018267A KR 890018267 A KR890018267 A KR 890018267A KR 900010384 A KR900010384 A KR 900010384A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
sample
polyethylene
camera
polyethylene sample
light beam
Prior art date
Application number
KR1019890018267A
Other languages
English (en)
Other versions
KR960003194B1 (ko
Inventor
저먼 오티즈 마소스
스팰딩 스틱스 마샤
Original Assignee
리챠드 비. 하빌
아메리칸 텔리폰 앤드 텔레그라프 캄파니
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 리챠드 비. 하빌, 아메리칸 텔리폰 앤드 텔레그라프 캄파니 filed Critical 리챠드 비. 하빌
Publication of KR900010384A publication Critical patent/KR900010384A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR960003194B1 publication Critical patent/KR960003194B1/ko

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/952Inspecting the exterior surface of cylindrical bodies or wires
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/8422Investigating thin films, e.g. matrix isolation method
    • G01N2021/8427Coatings

Abstract

내용 없음

Description

폴리에틸렌 샘플 검사 장치 및 방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 천연 폴리에틸렌 샘플의 용적에 대한 파괴없는 반사적 광학 검사를 실행하는 샘플 검사 배열에 대한 다이어그램. 제2도는 할로겐 석영 광원으로부터의 스펙트럼 방사선에 대한 그래프. 제3도는 매체 밀도 천연폴리에틸렌의 스펙트럼 전송도에 대한 그래프.

Claims (20)

  1. 인접 적외선 빛의 범위내의 파장에 응답하는 카메라; 결점있는 폴리에틸렌 샘플; 및 폴리에틸렌 샘플과 결점있는 폴리에틸렌 샘플에 관한 데이타를 수집하기 위하여 폴리에틸렌 샘플의 적어도 일부를 통하여 카메라로 전송되는 전기-광학 빔을 발생시키는 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 샘플 검사장치.
  2. 제1항에 있어서, 수집된 데이타를 결점있는 폴리에틸렌 샘플을 보여주는 가시 영상으로 변환시키는 카메라가 접속되어 있는 수단을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 샘플 검사장치.
  3. 제2항에 있어서, 카메라는 전자 무비 카메라이고; 폴리에틸렌 샘플은 천연 폴리에틸렌으로 구성된 것이고; 전기-광학 빔 발생 수단은 인접 적외선 빛의 범위내의 파장을 갖고 있는 전기-광학 빔을 발생시키는 것을 특징으로 하는 샘플 검사장치.
  4. 제1항에 있어서, 샘플은 카메라 및 전기-광학 빔의 파장 범위와 공통적인 파장 범위에서 높은 스펙트럼 전송도를 갖고 있는 스펙트럼 전송도 특성 곡선을 갖고 있는 것을 특징으로 하는 샘플 검사장치.
  5. 제4항에 있어서, 공통 파장 범위는 대략 600과 2400mm 사이인 것을 특징으로 하는 샘플 검사장치.
  6. 제1항에 있어서, 카메라에 관하여 샘플을 이동시키는 수단; 및 샘플이 카메라에 관하여 이동될때 수집된 데이타에서의 차이점을 검출하기 위한 카메라에 접속되어 있는 수단을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 샘플 검사장치.
  7. 인접 적외선 빛의 범위내의 파장에 응답하는 카메라; 결점을 갖고 있는 폴리에틸렌 샘플; 및 샘플 및 결점에 관한 데이타를 수집하기 위해 폴리에틸렌 샘플을 통해 전송되어 결점으로부터 카메라에 반사되는 인접적외선 파장을 포함하는 빛빔을 발생시키는 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 샘플 검사장치.
  8. 제7항에 있어서, 수집된 데이타를 폴리에틸렌 샘플과 결점을 보여주는 가시 영상으로 변환시키기 위한 카메라에 접속되어 있는 수단을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 샘플 검사장치.
  9. 인접 적외선 파장 범위내의 빛 파에 응답하여 인접 적외선 파장을 포함하는 빛 빔을 폴리에틸렌 샘플의 적어도 일부를 통해 비디오 카메라로 전송하는 단계; 폴리에틸렌 샘플로부터 나오는 빛 빔으로부터 폴리에틸렌 샘플내의 결점을 가리키는 것을 포함하는 데이타를 비디오 카메라로 검출하는 단계; 및 검출된 데이타를 폴리에틸렌 샘플과 결점의 가시 영상으로 변환시키는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 샘플 검사방법.
  10. 제9항에 있어서, 폴리에틸렌 샘플의 여러 부분이 빛 빔에 순차적으로 노출되게 비디오 카메라에 관하여 폴리에틸렌 샘플을 이동시키는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 샘플 검사방법.
  11. 인접 적외선 빛의 파장 범위에 응답하여 인접 적외선 빛 빔을 폴리에틸렌 샘플으리 적어도 일부를 통해 비디오 카메라에 전송하는 단계; 및 폴리에틸렌 샘플로부터 나오는 빛 빔으로 부터, 폴리에틸렌 샘프의 결점없는 영역을 가리키는 비교적 일정한 값과 폴리에틸렌 샘플내의 결점을 가리키는 어떤 변화값을 포함하는 데이타를 수집하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 샘플 검사방법.
  12. 제11항에 있어서, 수집된 데이타를 폴리에틸렌 샘플과 결점에 대한 가시 영상으로 변환시키는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 샘플 검사방법.
  13. 제11항에 있어서, 폴리에틸렌 샘플의 여러 부분들이 빔에 순차적으로 노출되게 비디오 카메라에 관하여 샘플을 이동시키는 단계; 및 결점 있는 위치를 가리키기 위해 데이타의 변화값을 검출하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 샘플 검사방법.
  14. 인접 적외선 파장을 포함하는 빛 빔을 폴리에틸렌 샘플의 적어도 일부를 통해 인접 적외선 파장의 범위내에서 동작하는 광학 검출기로 전송하는 단계; 폴리에틸렌 샘플로부터 나오는 빛 빔으로부터 폴리에틸렌 샘플내의 결점을 가리키는 것을 포함하는 데이타를 검출하는 단계; 및 검출된 데이타를 폴리에틸렌 샘플과 결점에 대한 가시 영상으로 변환시키는 단계를 포함하는 샘플 검사방법.
  15. 제14항에 있어서, 폴리에틸렌 샘플의 여러 부분들이 빛 빔에 순차적으로 노출되게 폴리에틸렌 샘플을 이동시키는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 샘플 검사방법.
  16. 폴리에틸렌 샘플로부터으리 일정 적외선 빛 빔을 인접 적외선 빛의 파장 범위내에서 작용하는 검출기로 반사시키는 단계; 및 반사된 인접 적외선 빛 빔으로부터, 폴리에틸렌 샘플의 결점없는 영역을 가리키는 비교적 일정한 값과 폴리에틸렌 샘플내에 결점이 있음을 가리키는 실제 변화값을 포함하는 데이타를 수집하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 샘플 검사방법.
  17. 제16항에 있어서, 수집된 데이타를 폴리에틸렌 샘플과 결점을 보여주는 가시 영상으로 변환시키는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 샘플 검사방법.
  18. 제16항에 있어서, 샘플의 여러 부분이 순차적으로 인접 적외선 빛 빔에 노출되게 검출기 및 인접 적외선 빛 빔에 관하여 샘플을 이동시키는 단계; 및 결점 있는 위치를 판정하기 위하여 수집된 데이타내에서 어떤 변화를 검출하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 샘플 검사방법.
  19. 제16항에 있어서, 샘플의 여러 부분들이 인접 적외선 빛 빔에 순차적으로 노출되게 검출기 및 인접 적외선 빛 빔을 샘플엘 관하여 이동시키는 단계; 및 결점 있는 위치를 검출하기 위하여 수집된 데이타내에서 어떤 변회를 검출하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 샘플 검사방법.
  20. 인접 적외선 빛의 범위내의 파장에 응답하는 카메라; 결점 있는 폴리에틸렌 샘플; 및 폴리에틸렌 샘플 및 결점 있는 샘플에 관한 데이타를 수집하기 위하여 폴리에틸렌 샘플과 결점있는 샘플로부터 카메라에 반사되는 전기-광학 빔을 발생시키는 수단을 포함하는 것을 특징으로 하여 샘플 검사장치.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019890018267A 1988-12-13 1989-12-11 폴리에틸렌 샘플 검사 장치 및 방법 KR960003194B1 (ko)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US07/283,650 US4988875A (en) 1988-12-13 1988-12-13 Near infrared polyethylene inspection system and method
US283,650 1988-12-13

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR900010384A true KR900010384A (ko) 1990-07-07
KR960003194B1 KR960003194B1 (ko) 1996-03-06

Family

ID=23087000

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019890018267A KR960003194B1 (ko) 1988-12-13 1989-12-11 폴리에틸렌 샘플 검사 장치 및 방법

Country Status (6)

Country Link
US (1) US4988875A (ko)
EP (1) EP0373796A3 (ko)
JP (1) JPH0692942B2 (ko)
KR (1) KR960003194B1 (ko)
AU (1) AU613253B2 (ko)
CA (1) CA2001666C (ko)

Families Citing this family (30)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
IT1240980B (it) * 1990-09-10 1993-12-27 Sip Apparecchiatura per la misura e il controllo dell'eccentricita' dello strato di rivestimento colorato di fibre ottiche.
US5256886A (en) * 1991-04-30 1993-10-26 E. I. Du Pont De Nemours And Company Apparatus for optically detecting contamination in particles of low optical-loss material
US5241184A (en) * 1991-09-26 1993-08-31 Electric Power Research Institute Apparatus and method for quantizing remaining lifetime of transmission cable insulation
US5345081A (en) * 1992-09-10 1994-09-06 Penetect, Inc. Pit detector and method
FR2696006B1 (fr) * 1992-09-21 1995-04-28 Alcatel Cable Dispositif de contrôle de qualité d'un gainage du type polyéthylène.
US5383135A (en) * 1992-12-31 1995-01-17 Zellweger Uster, Inc. Acquisition, measurement and control of thin webs on in-process textile materials
US5444265A (en) * 1993-02-23 1995-08-22 Lsi Logic Corporation Method and apparatus for detecting defective semiconductor wafers during fabrication thereof
DE19507643C1 (de) * 1995-03-04 1996-07-25 Rockwool Mineralwolle Verfahren zum Unschädlichmachen von in einem Mineralwollevlies befindlichen heißen Einschlüssen und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
US5880825A (en) * 1997-03-11 1999-03-09 Lucent Technologies Inc. Method and apparatus for detecting defects in an optical fiber
US5943126A (en) * 1997-03-11 1999-08-24 Lucent Technologies Inc. Method and apparatus for detecting surface qualities on an optical fiber
US6301380B1 (en) * 1997-09-12 2001-10-09 Philip Morris Incorporated Fold inspection device for transparent overwrap film
AUPP298698A0 (en) 1998-04-17 1998-05-07 Crc For Intelligent Manufacturing Systems & Technologies Ltd Fault detection apparatus
US6661502B1 (en) 1999-10-28 2003-12-09 Fitel Usa Corp. Method and apparatus for measuring the diameter and/or eccentricity of a coating layer of a coated optical fiber
DE19955135C2 (de) * 1999-11-17 2001-10-18 Der Gruene Punkt Duales Syst Vorrichtung zum Bestimmen der Materialsorte bei Folien aus Kunststoff als Bestandteil einer Wertstoffsortieranlage
US20020033943A1 (en) * 2000-09-19 2002-03-21 Horst Clauberg Device and method for the optical inspection, assessment, and control of colored plastic articles and/or container contents
US20030118230A1 (en) * 2001-12-22 2003-06-26 Haoshi Song Coiled tubing inspection system using image pattern recognition
US6677591B1 (en) 2002-01-30 2004-01-13 Ciena Corporation Method and system for inspecting optical devices
EP1490672B1 (en) * 2002-03-06 2011-12-21 Polymer Aging Concepts, Inc. An electrical condition monitoring method for polymers
US20040026622A1 (en) * 2002-08-06 2004-02-12 Dimarzio Don System and method for imaging of coated substrates
US20080111074A1 (en) * 2004-10-22 2008-05-15 Northrop Grumman Corporation Method for infrared imaging of substrates through coatings
US7164146B2 (en) * 2004-10-22 2007-01-16 Northrop Grumman Corporation System for detecting structural defects and features utilizing blackbody self-illumination
US7462809B2 (en) * 2004-10-22 2008-12-09 Northrop Grumman Corporation Spectral filter system for infrared imaging of substrates through coatings
US20060244948A1 (en) * 2005-04-12 2006-11-02 Overbeck James L Systems and methods for validating a security feature of an object
KR20080011208A (ko) 2005-04-21 2008-01-31 스미토모 덴키 고교 가부시키가이샤 초전도 선재의 검사 장치 및 검사 방법
US8766192B2 (en) * 2010-11-01 2014-07-01 Asm Assembly Automation Ltd Method for inspecting a photovoltaic substrate
US9665932B2 (en) * 2013-09-03 2017-05-30 Thales Transport & Security, Inc. Camera based cable inspection system
WO2016018343A1 (en) * 2014-07-31 2016-02-04 Halliburton Energy Services, Inc. Self-diagnosing composite slickline cables
US11333613B2 (en) * 2015-04-07 2022-05-17 The Boeing Company Apparatus and methods of inspecting a wire segment
FI129412B (en) * 2018-04-13 2022-01-31 Maillefer Sa Arrangement and procedure for detecting faults in a cable surface
ES2847236B2 (es) 2020-01-11 2022-04-20 Quandum Aerospace S L Sistema de posicionamiento de camaras y luces para inspeccion de mangueras empleadas en el repostaje aereo y procedimiento de inspeccion

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CH452229A (de) * 1965-06-18 1968-05-31 Siemens Ag Kabelprüfverfahren
US3870884A (en) * 1973-08-24 1975-03-11 Infra Systems Inc Apparatus for negating effect of scattered signals upon accuracy of dual-beam infrared measurements
US4139306A (en) * 1977-02-07 1979-02-13 General Electric Company Television inspection system
US4208126A (en) * 1978-05-24 1980-06-17 Electric Power Research Institute, Inc. System for detecting foreign particles or voids in electrical cable insulation and method
US4302108A (en) * 1979-01-29 1981-11-24 Polaroid Corporation Detection of subsurface defects by reflection interference
US4363966A (en) * 1980-09-22 1982-12-14 Electric Power Research Institute, Inc. Detection system for distinguishing between voids and foreign particles in materials and method
CH653459A5 (de) * 1981-04-16 1985-12-31 Landis & Gyr Ag Dokument mit einem sicherheitsfaden und verfahren zur echtheitspruefung desselben.
US4692799A (en) * 1982-04-05 1987-09-08 Showa Electric Wire & Cable Co., Ltd. Automatic inspection system for detecting foreign matter
US4764681A (en) * 1987-06-04 1988-08-16 Owens-Illinois Televison Products Inc. Method of and apparatus for electrooptical inspection of articles

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0692942B2 (ja) 1994-11-16
AU4585989A (en) 1990-07-05
AU613253B2 (en) 1991-07-25
EP0373796A3 (en) 1991-05-22
CA2001666A1 (en) 1990-06-13
CA2001666C (en) 1994-12-13
EP0373796A2 (en) 1990-06-20
KR960003194B1 (ko) 1996-03-06
JPH02223849A (ja) 1990-09-06
US4988875A (en) 1991-01-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR900010384A (ko) 폴리에틸렌 샘플 검사 장치 및 방법
US5334844A (en) Optical illumination and inspection system for wafer and solar cell defects
WO1992021016A1 (en) Method for obtaining internal structure image of object
KR850004331A (ko) 페턴 검출장치
KR900007082A (ko) 포토마스크의 결함검출방법 및 장치
US4402612A (en) Apparatus for detecting foreign particles in a liquid
KR970066557A (ko) 적외선 수분 측정장치 및 적외선 수분 측정방법
White New method for measuring diffuse reflectance in the infrared
CA1165585A (en) Optical apparatus for a fluorescence polarization instrument
Vilkomerson Measurements of the noise spectral power density of photosensitive materials at high spatial frequencies
US4591723A (en) Optical egg inspecting apparatus
US4555181A (en) Apparatus for automatically detecting and evaluating the characteristics of prints
US3653772A (en) Two lamp light comparison type densitometer
EP0223416A2 (en) Determination of heat transfer rates
US4512663A (en) Optical inspection of machined surfaces
Eldridge et al. Distribution of irradiance in haze and fog
SU1714403A1 (ru) Способ проверки изделий на герметичность
SU746260A1 (ru) Дистанционный теневой визуализатор плотностных неоднородностей морской воды
JPS54124780A (en) Surface inspection apparatus
KR950019710A (ko) 표준시편을 이용한 광학적 표면거칠기 측정오차의 관찰방법
RU2073851C1 (ru) Устройство для бесконтактного неразрушающего контроля материалов
Rasoulian An experimental method for total internal reflectance measurements
Papa et al. Turbidity monitoring by fiber optics instrumentation
Platt Instruments for Measuring Properties of Infrared Transmitting Optical Materials.
JPS61240122A (ja) 液面計指示値の読取り装置

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
G160 Decision to publish patent application
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
LAPS Lapse due to unpaid annual fee