KR900008086B1 - 광기록 매체 - Google Patents

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Abstract

내용 없음.

Description

광기록 매체
제1도는 종래 디스크 구조의 개략도.
제2도는 제1도의 호울(Hole) 부분의 확대 단면도.
제3도는 본 발명의 한 실시예의 도식적 단면도.
제4도는 본 발명의 기록 비트(bit) 생성구조의 설명도.
제5도는 본 발명에 의한 재생원리의 설명도.
제6도는 Sn(5%) 첨가에 의한 반사율의 저하 효과를 나타낸 그래프이다.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
A : 보호층 B : Rh층
C : Si층 D : 기판
M : 레이저조사를 안한 구역 N : 레이저조사에 의해 합금형성구역
본 발명은 추기형(追記型) 광디스크 매체에 관한 것이며, 특히 기존의 광디스크 매체에 비하여 높은 S/N 비를 얻을 수 있으며, 정보가 기록된 기록층 재료의 열화가 거의 없이, 반영구적으로 보관사용될 수 있는 환경조건에 강하고 높은 신뢰성을 갖는 광디스크 매체에 관한 것이다.
종래의 추기형 광디스크 매체는 애블레이션 형(Ablation type)에 의하여 비트(bit)를 기록하도록 되어 있다.
종래기술에 의해 제조된 추기형 광디스크의 구조는 제1도에 표시되어 있는 바와같이 기록층(1)이 주로 Te계의 재료로 되고, 투명유전체층(2)은 SiO2등으로 구성되며 두께가 약 λ/4n(λ : 입사빔의 파장, n : 매질의 굴절율)이고, 반사막(3)은 알루미늄을 이용하며 입사빔을 반사시키게 되어 있고, 4는 기판이다. 이 기판(4)은 주로 유리, 폴리카보네이트(PC)나 폴리메틸메타아크릴레이트(PMMA)등이 사용된다. 각층을 전자빔총에 의하여 진공증착시키거나 또는 스퍼터링(sputtering)에 의하여 형성시킨다.
기판(4)은 소정의 트랙피치(Track pitch) 홈을 PC 또는 PMMA의 경우에 사출성형시켜서 제작한다. 기록층(1)의 두께는 통상 500Å 미만이며, 유전층(2)은 3000∼4000Å이고, 반사층(3)은 약 1200Å 정도로 한다.
이와같은 종래의 광기록 매체는 소정의 강도(약 8mw)를 갖는 반도체 레이저의 조사에 의하여 기록층이 레이저빔의 포커스(focus)된 직경만큼의 호울이 형성되어 비트가 기록된다. 재생은 제1도에서와 같이 기록시의 파워(Power) 보다 적은 레이저의 조사에 의하여, 즉 호울이 형성된 부분은 유전층을 지나 반사막에 이르는 빛의 대부분이 반사되고 호울이 형성안된 부분은 입사된 빛의 상당량이 산란되어 반사율이 저하하게 된다. 따라서 이 반사율의 차이에 의하여 디지틀신호의 재생이 가능하게 되는 구조이다.
상기 종래기술의 디스크 구조에서는 제2도의 표시와 같이 기록비트로부터의 호울형성이 불균일하며, 또한 재료가 완전제거되지 않고 호울형성부에 일부 재료가 남게되므로 잡음발생의 원인이 되고 따라서 S/N비등의 저하를 초래하게 된다.
본 발명의 기록층은 합금을 형성하는 2종류 이상의 재료에 의하여 형성하고 소정의 강도를 갖는 레이저빔의 조사에 의한 온도상승에 의하여 상기 2종류의 이상의 금속이 국부적으로 녹아 서로 합금을 형성하게 되므로서 합금을 형성하지 않는 부분과의 반사율 차이에 의하여 정보를 재생할 수 있도록 하므로서 잡음이 없는 양질의 광기록 매체를 제공하는 것을 목적으로 한다.
제3도에 표시한 것과 같이 기록층을 이루고 있는 Rh층(B)과, Si층(C)에 제4도(a),(b),(c)와 같이 박막을 진공증착 등으로 제작한 후, 빛(레이저빔)을 조사하면 합금이 타원형(빗금친 영역)으로 생성되기 시작하고, 빛 조사가 완료하면 제4도(C)와 같은 새로운 합금을 형성한 부분이 생성되고 이것이 정보의 비트역할을 하게 된다.
기록재료로서는 하층이 Si층(C)을, 상층에 Rh층(B)을 스퍼터링 또는 전자빔에 의해 진공증착시킨다.
도면에서 A는 보호층이며, D는 기판이다. 이때 Si층(C)에 Sn를 4∼7wt%를 첨가하므로서 빛의 반사율을 현저하게 저하시킬 수 있다.
제5에 본 발명에 의한 디스크의 정보재생 원리의 설명도가 나타나 있다. 도면에서 레이저빔을 조사하지 않는 부분(M)에서는 반사율이 크머, 레이저조사에 의하여 합금을 형성한 부분(N)에서는 반사율이 저하되어 정보의 비트 구별에 이용할 수 있게 된다.
제6도에서 Si층(C)에 5wt%의 Sn를 첨가하였을때의 반사율의 차이를 비교하였다. 이 측정은 레이저조사에 의해 합금을 형성한후에 기록빔보다 낮은 강도를 가진 레이저빔을 입사시켜서 반사되는 빛의 양을 포토디텍터에 의하여 비교한 것이다. 보호층(A)은 Si3N4또는 AlN등을 리액티브스 퍼터링(Reactivesputtering)에 의하여 형성시켰다. Rh층(B)와 Si층(C)의 두께는 각각 600Å으로 하여 총기록 층의 두께를 1200Å으로 하였다.
이상과 같이 본 발명의 광기록 매체를 구성하므로서 기존의 디스크에 비하여 양호한 형상의 정보 비트의 기록에 의한 높은 S/N 비를 얻을 수 있게 되고, 비트로 기록되는 합금상(合金相)이 대단히 안정되고, 또한 기록층의 열화에 의한 성능저하를 감소시킬 수 있으며, 따라서 환경에 대한 내력이 강하고 높은 신뢰성을 가진 디스크 제작을 가능케하는 광기록 매체를 제공하게 되는 효과를 가진다.

Claims (2)

  1. 기판상부에 Si층(C)과 Rh층(B)으로 구성된 기록층과, 상기 기록층에 레이저빔을 조사하여 형성된 합금영역을 가지는 것을 특징으로 하는 광기록 매체.
  2. 제1항에 있어서, 상기 Si층(C)에 4∼7wt%의 Sn이 첨가된 것을 특징으로 하는 광기록 매체.
KR1019870013623A 1987-11-30 1987-11-30 광기록 매체 KR900008086B1 (ko)

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