KR900000948A - 새도우 마스크 검사용 영상취득 방법 및 장치 - Google Patents

새도우 마스크 검사용 영상취득 방법 및 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR900000948A
KR900000948A KR1019880007840A KR880007840A KR900000948A KR 900000948 A KR900000948 A KR 900000948A KR 1019880007840 A KR1019880007840 A KR 1019880007840A KR 880007840 A KR880007840 A KR 880007840A KR 900000948 A KR900000948 A KR 900000948A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
shadow mask
screen
parallel light
image
image acquisition
Prior art date
Application number
KR1019880007840A
Other languages
English (en)
Other versions
KR950003643B1 (ko
Inventor
우동민
Original Assignee
이희종
금성산전 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 이희종, 금성산전 주식회사 filed Critical 이희종
Priority to KR1019880007840A priority Critical patent/KR950003643B1/ko
Publication of KR900000948A publication Critical patent/KR900000948A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR950003643B1 publication Critical patent/KR950003643B1/ko

Links

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J9/00—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture, installation, removal, maintenance of electric discharge tubes, discharge lamps, or parts thereof; Recovery of material from discharge tubes or lamps
    • H01J9/42—Measurement or testing during manufacture

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Character Input (AREA)

Abstract

내용 없음

Description

새도우 마스크 검사용 영상취득 방법 및 장치
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제3도는 본 발명에 따라 구성된 새도우 마스크 검사 장치의 구성도.
제4도는 본 발명의 요부인 평행라인광 발생 장치 발췌도.

Claims (2)

  1. 평행광 조명 장치에서 주사된 평행광의 상측으로 새도우 마스크를 횡단 통과시켜 그 상측방의 스크린(6)에 새도우 마스크 영상이 맺히도록 한 다음, 상기 영상을 라인스캔 카메라(7)로 취득하여 비데오 메모리(8)에 저장시켰다가, 새도우 마스크 완전 통과후 고해상도 모니터(9)에 디스플레이시켜 육안관찰 검사토록 함을 특징으로 하는 새도우 마스크 검사용 영상취득 방법.
  2. 할로겐 램프(2)와 빛 통과용 미소간격을 가지는 슬릿(3)과 슬릿을 통과하여 나온 빛을 평행광으로 주사시키는 블록렌즈(4)로 구성된 평행광 조명장치(1)와; 상기 조명장치의 상측에 위치하는 스크린(6)과, 스크린의 하측방에 인접위치 상태로 새도우 마스크를 평행광과 횡단 상태로 통과시키는 컨베이어(5)와, 스크린상에 맺힌 영상을 취득하는 라인 스캔 카메라(7)와, 취득된 영상을 저장하는 비데오 메모리(8)와, 그리고 저장된 영상을 디스플레이시키는 고해상도 모니터(9)로 구성됨을 특징으로 하는 새도우 마스크 검사용 영상취득 장치.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019880007840A 1988-06-28 1988-06-28 새도우 마스크 검사용 영상취득 장치 KR950003643B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019880007840A KR950003643B1 (ko) 1988-06-28 1988-06-28 새도우 마스크 검사용 영상취득 장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019880007840A KR950003643B1 (ko) 1988-06-28 1988-06-28 새도우 마스크 검사용 영상취득 장치

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR900000948A true KR900000948A (ko) 1990-01-31
KR950003643B1 KR950003643B1 (ko) 1995-04-17

Family

ID=19275605

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019880007840A KR950003643B1 (ko) 1988-06-28 1988-06-28 새도우 마스크 검사용 영상취득 장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR950003643B1 (ko)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100249270B1 (ko) * 1995-06-21 2000-03-15 이시다 아키라 불균일 검사방법 및 장치
KR100293249B1 (ko) * 1997-05-28 2001-07-12 이시다 아키라 주기성패턴의검사방법
KR100570276B1 (ko) * 2005-10-04 2006-04-11 (주)글로벌링크 이방성 도전필름의 압흔 검사방법

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100249270B1 (ko) * 1995-06-21 2000-03-15 이시다 아키라 불균일 검사방법 및 장치
KR100293249B1 (ko) * 1997-05-28 2001-07-12 이시다 아키라 주기성패턴의검사방법
KR100570276B1 (ko) * 2005-10-04 2006-04-11 (주)글로벌링크 이방성 도전필름의 압흔 검사방법

Also Published As

Publication number Publication date
KR950003643B1 (ko) 1995-04-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0474002B1 (en) Print scanner
KR910018797A (ko) 물체의 표면 형상패턴 검사방법 및 장치
EP1151283A4 (en) INSPECTION SYSTEM FOR THE SURFACE OF CYLINDRICAL OBJECTS
KR950016899A (ko) 용기의 투명부분 특히 병의 아가리부분의 광학검사를 위한 프로세스와 장치
DE60135562D1 (de) Vollautomatischer schneller mikroskopprobenabtaster
ES2170128T3 (es) Procedimiento para reconocer y evaluar defectos en capas superficiales parcialmente reflectantes.
BR9902690A (pt) Inspeção de recipientes empregando um sensor de matriz de área única e fontes de luz alternadamente estroboscópicas
KR920000207A (ko) 인쇄회로기판(pcb) 검사장치 및 방법
KR910010180A (ko) 땜납 외관 검사장치
KR930007254A (ko) 결함표시 방법 및 장치
KR900000948A (ko) 새도우 마스크 검사용 영상취득 방법 및 장치
JPS52101883A (en) Illuminator
DE69008676D1 (de) Inspektionsgerät mit Dunkelfeldbeleuchtung.
KR960019631A (ko) 테이프캐리어패키지의 외관검사장치 및 검사방법
JP2004132801A (ja) 帯状体の表面欠陥検査装置
JPH03105307A (ja) 管端観察装置
KR920005935B1 (ko) 전자부품 조립상태 검사기의 조명방법
KR100187017B1 (ko) Pcb의 부품 장착상태 검사 장치 및 방법
JPH0526580Y2 (ko)
KR890014997A (ko) 3차원형상인식장치
JPH01296762A (ja) 画像入力装置
KR910007737B1 (ko) 새도우 마스크 공경 결점 영상취득장치
DE69903958D1 (de) Bilderfassungsgerät
JPH03206908A (ja) 半導体装置のリード検査装置
SU140458A1 (ru) Устройство дл автоматического вычерчивани изображений предметов с натуры

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
G160 Decision to publish patent application
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20090415

Year of fee payment: 15

EXPY Expiration of term