KR890000257B1

KR890000257B1 - 방전가공기

Info

Publication number: KR890000257B1
Application number: KR1019850000601A
Authority: KR
Inventors: 마꼬도 고또오; 다까오 오까베; 아끼히로 고모리
Original assignee: 부라더 고오교 가부시기가이샤; 가와시마 가쓰지
Priority date: 1984-03-19
Filing date: 1985-01-31
Publication date: 1989-03-13
Also published as: US4703144A; KR850007021A; JPS60197319A

Abstract

내용 없음.

Description

방전가공기

제1도는 방전가공기의 기계적 배치관계를 나타낸 사시도.

제2도는 방전가공기의 전기회로도.

제3도는 방전가공기의 전기회로도.

제4도는 방전주기를 설명하기 위한 파형도.

제5도는 CPU의 동작을 나타낸 플로우차아트.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명

1 : 피가공물 4 : X축구동모우터

5 : Y축구동모우터 6 : 와이어전극

9, 10 : 급전자 11 : 직류전원

16 : 전계효과 트랜지스터(FET) 21 : 변성기

24 : 발광소자 28 : 중앙처리장치(CPU)

31 : 프로그래머블타이머 32 : 지연회로

본원 발명은 피가공물전극과 방전전극과의 사이에 전압을 인가했을 때의 방전현상을 이용하여 피가공물을 가공토록 한 방전가공기에 관한 것이다.

종래, 이 종류의 방전가공기에 있어서 전극의 이송제어는 피가공물전극과 방전전극과의 사이의 전압(극간 전압 데이터)을 필터, 아이솔레이터, A/D변환기를 통해 중앙처리장치(CPU)등으로 이루어진 제어회로에 출력하여, 그 제어회로에서 국간전압데이터가 소망의 값과 일치하도록 전극의 이송속도를 제어하는 것이었다. 그러나, 이 방식은 신뢰성이 높은 제어방식이지만, 상기 필터, 아이솔레이터, A/D변환기 등의 전기회로를 필요로 하여 회로가 복잡해지는 것 및 휴식시간이 길 경우, 한계피이드까지 가속하면, 피가공물전극과 방전전극이 접속하게 되어 극간전압이 대충 0V로 떨어져 버려, 노이즈, 기타에 의해 정확한 극간전압 데이터를 검출하기란 불가능하게 되어 전극이송의 이송제어는 불충분해진다고 하는 문제가 있었다.

그 결과, 방전가공기의 가공능률이 저하되는 문제가 있었다. 본원 발명은 상기 문제점을 해소시키기 위해 이루어진 것으로서, 그 제1의 목적은 종래의 극간전압데이터를 검출하는 검출기를 설치하는일 없이, 방전주기의 대소에 관계없이 넓은 범위에 걸쳐 각 가공조건에 상응한 가장 효율이 좋은 빠른 가공속도를 안정되게 제어할 수 있는 방전가공기를, 제2의 목적은 상기 제1의 목적에 더해서 가공작업중에 있어서의 가공상태를 감시할 수 있는 방전가공기를 제공하는데 있다.

상기 목적을 달성하기 위해 제1의 발명은 방전전극과 피가공물전극을 상대적으로 이동시키는 동시에 그들 전극간에 전압을 인가하여 그들의 가공간격에 방전을 발생시켜, 그 방전에너지에 의해 피가공물을 가공하는 방전가공기에 있어서, 상기 양 전극을 상대적으로 이송시키기 위한 이송장치와, 상기 양 전극과 전원과의 방전노상에 접속되어 상기 가공 간격에 방전을 발생시키도록 상기 방전로를 개폐하여 상기 전원에서 상기 양 전극간에 전압을 인가하는 스위칭소자와, 그 스위칭소자가 터언온된 상태에 있어서 상기 양 전극간에서 방전이 발생한 것을 검출하여 검출신호를 발생하는 방전발생검출수단과, 그 방전발생검출수단의 검출신호에 의거하여 제1의 설정시간 작동되는 타이머수단과, 상기 가공간격의 방전도중에 있어서 상기 스위치소자를 터언오프하며, 상기 가공간격의 방전도중에 있어서 상기 스위칭소자를 터언오프하며, 상기 타이머수단의 작동후, 상기 스위칭소자를 터언오프하도록 상기 스위칭소자를 제어하는 스위칭제어수단과, 상기 가공간격에 있어서의 방전회수를 제2의 설정시간마다 계수하는 카운터수단과, 그 카운터수단의 계수치와 미리 설정된 기준치를 비교하는 비교수단과, 그 비교수단으로부터의 오차출력에 의해 상기 이송장치의 이송속도를 보정하는 이송제어수단을 구비한 방전가공기를 그 요지로 하는 것이다.

또한, 제2의 발명은 제1의 발명의 구성에 더해서 상기 카운터수단의 계수치를 미리 설정된 제2의 기준치를 비교하고, 그 비교치에 따라 상기 가공간격의 가공상태를 감시판정하기 위한 가공상태 감시수단을 구비한 방전가공기를 그 요지로 하는 것이다.

다음에 본원 발명을 구체화한 일실시예를 도면에 의거하여 설명한다. 제1도는 방전가공기의 기계적 배치도를 나타내며, 피가공물 전극으로서 피가공물(1)은 X축 테이블(2)에 재치되며, 그 X축 테이블(2)은 Y축 테이블(3)에서 재치되어 있다. 그리고, X축 테이블(2)은 이송장치로서의 X축 구동모우터(이하 단지 X축 모우터라고 함) (4)에서 X축 방향으로 왕복동되며, Y축 테이블(3)은 역시 이송장치로서의 Y축 구동모우터(5) (이하 단지 Y축 모우터라고 함)로 Y축 방향으로 왕복동되도록 되어 있다.

방전전극으로서의 와이어전극(6)은 공급리일(7)에서 인출되며, 권취리일(8)에서 적당한 텐션이 부여되면서 감기고 있다.

그리고, 피가공물(1) 및 와이어전극(6)간에 각기 급전자(9), (10)을 통해 와이어전극(6)측이 마이너스레벨로 되는 펄스형상전압을 인가함으로써 피가공물(1)과 와이어전극(6)과의 간격D에 방전을 발방생시키도록 되어 있다.

다음에 방전가공기의 전기회로에 대해 제2도 및 제3도에 의거하여 설명한다.

제2도는 방전구동회로를 나타내며, 전원으로서의 직류전원(11)의 일단은 가공개시스위치(12), 저항(13), 코일(14), 다이오우드(15) 및 스위칭소자로서의 전계효과트랜지스터(이하 단지 FET라고 항) (16)를 통해 와이어전극(6)에 접속되며, 타단은 급전라인(17)을 통해 피가공물(1)에 접속되어 있다. 그리고 직류전원(11)은 상기 가공개시스위치(12)가 온되면, 충전콘덴서(18)를 충전하고. 그 충전콘덴서(18)의 충전전압을 상기 FET(16)의 터언온에 의거하여 피가공물(1)과 와이어전극(6)간의 간격 D에 인가한다. 그리고 상기 각 모우터(4), (5)의 구동에 의거하여 상기 간격D이 좁혀짐으로써 방전이 개시된다.

방전이 개시되고 소정의 시간후 FET(16)를 터언온시킨 다음, 일정시간 휴지하고 다시 FET(16)를 온시켜, 제4도에 나타낸 바와같은 방전이 반복된다.

즉, 제4도에 나타낸 것처럼 방전주기 TO는 FET(16)의 터언온에서 방전이 개시하기까지의 시간(무부하시간) Tc과 방전개시에서 FET(16)의 터언오프까지의 시간(부하시간)Ta과 FET(16)의 터언오프에서 다음의 터언온까지의 시간(휴지시간) Tb로 이루어져있다. 그리고, 무부하시간 Tc은 인가전압 Eo과 간격 D에 의해 결정되기 때문에 불확정한 값이며, 또 부하시간 Ta과 휴지시간 Tb은 미리 설정되는 값으로서, 방전가공효율에 의거하여 결정되도록 되어 있다.

상기 FET(16)의 드레인단자와 상기 급전라인(17)간에 접속한 저항(19) 및 다이오우드(20)가 접속되며, FET(16)의 스위칭동작에 의해 생기는 리액턴스를 소거하도록 되어 있다.

방전발생검출수단으로서의 변성기(21)는 상기 급전라인(17)에 설치되며, 상기 FET(16)가 터언온된 상태에 있어서 피가공물(1)과 와이어전극(6)간의 간격D에서 방전이 발생했을 경우에 급전라인(17)에 흐르는 전류를 검지한다. 변성기(21)는 저항(22), (23)을 통해 발광소자(24)와 접속되어 있어서, 그 검지에 의거하여 발광소자(24)를 발광시킨다. 그리고 발광소자(24)에서 출력되는 빛은 방전발생검출신호 SG1으로서 광하이버(25)를 통해 제3도에 나타낸 후술하는 수광소자에 출력된다. 그리고 제너다이오우드(26)는 발광소자(24)의 보상용 다이오우드이다.

제3도는 X축 및 Y축 모우터(4), (5) 및 상기 FET(16)를 제어하는 전기블록회로를 나타내며, 상기 광화이버(25)를 지나 출력되는 방전검출신호 SG1는 수광소자(27)에서 수광된다.

수광소자(27)는 상기 검출신호 SG1의 수광에 의거하여 온하고, 그온신호 SG2를 중앙처리장치(이하, 단지 CPU라고 함) (28)에 출력한다.

CPU(28)는 독출전문메모리(ROM) (29) 및 독출과 고쳐쓰기 가능한 메모리(RAM) (30)을 구비하며, ROM(29)에 기억한 제어프로그램으로 동작한다. 또 RAM(30)은 각종 메이터 및 그때그때의 각종 데이터가 기억되도록 되어 있다. 또, CPU(28)는 상기 온신호 SG2에 응답해서 즉시 다음 단의 프로그래머블타이머(31) 및 지연회로(32)에 스타아트신호 SG3를 출력한다.

프로그래머블타이머(31)는 상기 스타아트신호 SG3에 응답해서 CPU(28)에서 출력되는 클록신호 CL에 의거하여 미리 설정된 설정시간 T2의 계시를 개시하여 당해시간 T2에 당했을 때, 구동신호 SG4를 출력한다.

프로그래머블타이머(31)에 미리 설정된 설정기간 T2은 제4도에 나타낸 방전의 1주기 To에 있어서의 부하시간(방전시간) Ta과 펄스 휴지시판 Tb의 합을 결정하는 시간으로써, 그 시간 T2은 CPU(28)에서 전송되는 시간데이터 Dl에 의해 설정된다.

지연회로(32)는 상기 스타아트신호 SG3에 응답해서 미리 설정된 제1의 설정시간 T1후에 오프신호 SG5를 출력한다. 지연회로(32)에 미리 설정된 제1의 설정시간 T1은 상기 부하시간(방전시간) Ta을 결정하는 시간으로서, 그 시간 T1은 CPU(28)에서 전송되는 시간데디터 Dl에 의해 설정된다.

상기 시간데이터 Dl는 상기 RAM(30)에 기억되며, 면조도선택(面祖度選擇) 스위치(33)의 선택에 의거하여 CPU(28)에서 최적의 시간데이터 Dl가 독출되어, 지연회로(32)에 전송된다. 또, 상기 시간데이터 D2는 상기 RAM(30)에 기억되며, 키이보오드(28a)에서 입력된 피가공물의 재질 두께, 와이어(6)의 공급속도 등의 입력데이터에 의거하여 CPU(28)에서 최적의 시간이 독출되어 프로그래머블타이머(31)에 전송된다.

RS플립플롭회로(이하 FF회로라고 함) (34)는 상기 프로그래머블타이머(31)로부터의 구동신호 SG4 및 상기지연회로(32)로부터의 오프신호 SG5에 응답해서 상기 FET(16)를 구동제어하는 제어신호 SG6를 등 FET(16)의 게이트단자에 출력한다. 그리고, 동 FF회로(34)는 구동신호 SG4에 응답해서 FET(16)를 터언온프로, 또 오프신호 SG5에 응답해서 FET(16)를 터언오프로 하기 위한 제어신호 SG6를 출력하도록 되어 있다. 또, CPU(28)는 방전회수 카운트기능, 극간단락판정기능 및 측간평균전압 및 극간평균전압 및 극간평균전류산출기능을 가지고 있다. CPU(28)의 방전회수 카운트기능은 제2의 설정시간으로서의 샘플링시간 Ts(본실시예에서는 100m sec)마다 RM 시작 Ts중에 일어난 방전회수(이하, 샘플방전회수라고 함) Ns를 산출하는 것으로서, CPU(28)에 내장된 카운터가 상기 수광소자(27)로부터의 온신호 SG2를 카운트하여 얻은 값에 의거하여 그 일정시간 Ts마다 축차산출하고 있다.

CPU(28)의 극간단락판정기능은 상기 와이어전극(6)이 가공물(1)에 접촉하여(극간단락)방전이 발생하지 않는 상태인지 어떤지를 판별하는것으로서, 미리 설정한 제2의 기준치로서의 기준방전회수 Nx와 상기 샘플방전회수 Ns를 비교하여 Ns=Nx일때, 극간단락으로 판단한다.

기준방전회수 Nx는 상기 방전주기 To(=Ta+Tb+Tc)에 있어서 무부하시간 Tc을 0으로 했을때, 즉 1주기 To(=Ta+Tb)로 행했을 때의 상기 100m sec의 샘플링시간 Ts에서의 방전회수를 기준방전회수 Nx(=Ts/To)로 하고 있다.

따라서, 상기 샘플링방전회수 Ns가 기준방전회수 Nx와 같을 때에는 FET(16)가 온하여 방전이 개시하기까지의 무부하시간 Tc이 0이라고 하는 일, 즉 극간단락이 생기로 있는 것을 알 수 있다. 그리고, CPU(28)는 극간단락으로 판정했을 경우에는 구동모우터를 정지시켜, 와이어전극(6)을 피가공물(1)에서 떨어지는 방향에 상대적으로 약간 복동시킨 다음, 다시 가공진행방향으로 이동시킨다.

또, CPU(28)의 극간평균전압 및 극간평균전류산출기능은 그때그때의 극간에 인가되는 전압 E의 평균전압 Em 및 그때그때의 극간에 흐르는 전류 I의 평균전류 Im를 산출하는 것으로서, 이들 극간평균전압 Em 및 극간평균전류 Em는 다음의 관계식으로 산출하도록 되어있다. 따라서, 전류계, 전압계가 없더라도 평균극간전압 Em 및 평균극간전류 Im를 산출할 수 있다.

Em=(Tc·Eo+Ta·El)/(Ta+Tb+Tc)

Im=I·Ta/To

그리고, Eo는 무부하시의 극간전압, E1은 방전시(부하시)의 극간전압이다. 또, I·Ta는 선택 설정된 방전펄스파형에서 미리 산출하여 설정한 값이다.

또, 무부하시간 Tc(이 "경우는" 평균무부하시간)은 상기 부하시간 Ta 및 휴지시간 Tb이 미리 설정되어있는 일 및 샘플링시간 Ts중에 있어서의 샘플링방전회수 Ns를 알고 있는 일에서 그때그때 용이하게 연산할수 있다.

그리고, 이와 같이 산출한 샘플링방전회수 Ns, 극간평균전압 Em, 국간평균전류 Im 및 극간단략의 유무의 내용 또는 간격 D의 정도를 CPU(28)는 축차 CRT(35)에 표시하도록 되어 있다. 또 상기 샘플링방전회수 Ns는 동 CPU(28)에서 전자카운터(36)에 표시되도록 되어 있다.

또, CPU(28)는 샘플링시간 Ts내에 있어서의 제1의 기준치로서의 목표방전회수 Nz와 상기 샘플링방전회수 Ns를 비교하여, 상기 모우터(4), (5)에 의한 당해 피가공물(1)의 효율이 좋은 최적이송속도(목표이송속도) Fo로 되도록 실제의 이송속도 Fl를 제어한다.

즉, 샘플링시간 Ts을 100m sec로 했을때의 목표방전회수 Nz는 상기 1방전주기 To(=Ta+Tb+Tc)에 있어서, 그 무부하시 간 Tc을 가령 1.5마이크로 sec로 했을 때, Nz=Ts/(Ta+Tb+Tc) = 10000/(Ta+Tb+1.5)로 산출된다. 그리고, 이 무부하시간 Tc의 값은 미리 실험에 의해 얻어진 가장 가공능률이 좋은 시간이며, ROM(29)내에 기억되고 있고 CPU(28)에서 그 무부하시간 Tc이 독출되어 상기 목표방전회수가 산출된다.

다음에, CPU(28)는 그때의 이송속도 Fl를 상기 각 모우터(4), (5)의 회전수에서 연산한다. 그리고 목표이송속도 Fo를 Fo=Fl·Nz/Ns라는 관계 식으로 산출한다.

다음에 CPU(28)는 하기 연산을 하여 ΔF=(F0-Fl), 0.8이라는 보정속도량 ΔF을 산출한다.

그리고, CPU(28)는 이 연산한 보정속도량ΔF을 구동제어회로(37)를 통해 X 및 Y축 구동모우터(4), (5)에 출력하고 있는 구동제어신호의 신호량에 더해 출력해서 이송속도 Fl를 목표이송속도 F_o에 가까와지도록 제어한다.

다음에, 상기와 같이 구성한 방전가공기의 작용에 대해 제5도에 의거하여 설명한다.

지금, 면조도선택스위치(33)로 소정의 면조도가 선택되는 동시에, 키이보오드(28a)에 의해 피가공물(1)의 재질 및 판두께, 와이어전극(6)의 공급속도 등의 데이터가 입력되면, 그들 데이터에 의거하여 CPU(28)에서 제1의 설정시간 T1(=Ta) 및 설정시간 T2(=Ta+Tb)이 RAM(30)에서 독출되며, 각기 프로그래머블타이머(31) 및 지연회로(32)에 세트되어 이 양 설정시간 T1, T2에 따라 방전가공이 행해진다. 또, 목표방전회수 Nz가 상기 양 설정시간 및 무부하시간 Tc, 예를들어 1.5마이크로 sec에 의거하여 산출된다.

이와 같은 상태에서 방전가공이 행해지면, 100m sec의 샘플시간 Ts마다 CPU(28)는 내장한 카운터의 방전회수 Ns를 읽는 동시에 그때의 이송속도 Fl를 구한다. 그리고, 이들로부터 목표이송속도 F_o로 되도록 보정속도량 ΔF을 연산한다. 그리고, 이 보정속도량 ΔF에 의거하여 이송속도 Fl를 목표이송속도 F_o에 가까와지도록 제안한다. 즉 이송속도 Fl가 늦고 간격 D가 좁혀지는 것이 늦을 경우에는 그 보정속도량 ΔF도 커져, 이송속도 Fl를 목표이송속도 F_o까지 울려, 방전주기를 최적의 주기로 하고, 방전가공효율을 높일 수 있다.

다음에 CPU(28)는 기준방전회수 Nx를 구하고 동회수 Nx와 샘플링방전회수 Ns를 비교하여 극간단락이 생기고 있는지 어떤지를 판정하며, 단락하고 있을 경우(Nx=Ns)에는 그 일과 그때의 샘플링방전회수 Ns, 평균극간전압 Em 및 평균극간전류 Im를 CRT(35)에 표시한다. 반대로 Nx≠Ns경우에는 그 일과 그때의 샘플링방전회수 Ns, 평균극간전압 Em 및 평균극간전류 Im를 CRT(35)에 표시토록 되어 있다.

따라서, 이 표시를 봄으로써 방전가공상태를 정확하게 감시할 수 있고, 특히 샘플링방전회수 Ns의 증감을 봄으로써, 어느 정도의 간격D으로 방전이 행해지고 있는지 용이하게 판단할 수 있다. 더구나, 전압계, 전류계를 사용하지 않고 종래대로의 평균극간전압 Em, 평균극간전류 Im를 구할 수 있다.

그리고, 상기 실시예에 있어서는 방전개시시에서 이송속도 Fl가 목표이송속도 F_o로 되도록 이송속도를 보정하도록 하고 있지만, 방전 개시시에는 설정시간 T2 및 무부하시간 Tc을 소정의 값보다도 큰 값으로 설정하여 목표방전회수 Nz를 구하여 이송속도 Fl를 보정하고, 다시 소성시간마다 소정치에 가까와지도록 점차 감소하여 이송속도 Fl를 보정하고, 최종적으로 소정의 설정시간 T2 및 무부하시간 Tc에 대응하는 목표이송속도 F_o로 되도록 이송속도 Fl를 보정해도 좋다.

이상 상술한 것처럼, 이 제1의 발명에 의하면 일정한 시간 Ts의 방전회수 Ns를 구하고, 그 방전회수 Ns와 미리 설정된 기준으로하는 목표방전회수 Nz를 비교하는 것으로, 재질, 형상에 관계없이 피가공물의 이송속도, 즉 전극이송속도를 항상 목표이송속도로 유지할 수 있다. 따라서 종래처럼 극간전압을 계측하여 이송제어하는 방식에 비해, 전압계, 전류계, 아이솔레이터, A/D변환기 등의 각종 기기를 생략할 수 있어서 원가적으로 매우 유리해진다

또한, 제2의 발명은 제1의 발명에 더해서 그때그때의 방전가공상태를 감시할 수 있기 때문에 효율이 좋은 가공작업을 수행할 수 있다.

Claims

방전전극(6)과 피가공물전극(1)을 상대적으로 이동시키는 동시에, 그들 전극(1, 6)사이에 전압을 인가하여 그들가공간격(D)에 방전을 발생시켜, 그 방전에너지에 의해 피가공물(1)을 가공하는 방전가공기에 있어서, 상기 양 전극(1, 6)을 상대적으로 이송시키기 위한 이송장치(4, 5)와, 상기 양 전극(1, 6)과 전원(11)과의 방전로상에 접속되며, 상기 가공간격(D)에 방전을 발생시키도록 상기 방전로를 개폐하여 상기 전원(11)에서 상기 양 전극(1, 6)간에 전압을 인가하는 스위칭소자(16)와, 그 스위칭소자(16)가 터언온된 상태에 있어서 상기 양 전극(1, 6)사이에서 방전이 발생한 것을 검출하여 검출신호(SG1)를 발생하는 방전발생검출수단(21)과, 그 방전발생검출수단(21)의 검출신호(SG1)에 의거하여 제1의 설정시간(T1)작동되는 타이머수단(32)과, 상기 가공간격(D)의 방전도중에 있어서 상기 스위칭소자(16)를 터언오프하고, 상기 타이머수단(32)의 작동후, 상기 스위칭소자(16)를 터언온 하도록 상기 스위칭소자(16)를 제어하는 스위칭 제어수단(31, 32, 33)과, 상기가공간격(D)에 있어서의 방전회수(Ns)를 제2의 설정시간(Ts)마다 계수하는 카운터수단(28)과, 그 카운터수단(28)의 계수치(Ns)와 미리 설정된 기준치(Nz)를 비교하는 비교수단(28)과, 그 비교수단(28)으로부터의 오파출력(ΔF)에 의해 상기 이송장치(4, 5)의 이송속도를 보정하는 이송제어수단(28)을 구비한방전가공기.
방전전극(6)과 피가공물전극(1)을 상대적으로 이동시키는 동시에, 그들 전극(1, 6)간에 전압을 인가하여 그들가공간격(D)에 방전을 발생시켜, 그 방전에너지에 의해 피가공물(1)을 가공하는 방전가공기에 있어서, 상기 양 전극(1, 6)을 상대적으로 이송시키기 위한 이송장치(4, 5)와, 상기 양 전극(1, 6)과 전원(11)과의 방전로상에 접속되며, 상기 가공간격(D)에 방전을발생시키도록 상기 방전로를 개폐하여 상기 전원(11)에서 상기양 전극(1, 6)간에 전압을 인가하는 스위칭소자(16)와, 그 스위칭소자(16)가 터언온된 상태에 있어서 상기 양전극(1, 6)간에서 방전이 발생한 것을 검출하여 검출신호(SG1)를 발생하는 방전발생검출수단(21)과, 그 방전발생검출수단(21)의 검출신호(SG1)에 의거하여 제1의 설정시간(T1)작동되는 타이머수단(32)과, 상기 가공간격(D)의 방전도중에 있어서 상기 스위칭소자(16)를 터언오프하며, 상기 타이머수단(32)의 작동후, 상기 스위칭소자(16)를 터언온하도록 상기 스위칭소자(16)를 제어하는 스위칭제어수단(31, 32, 34)과, 상기 가공간격(D)에 있어서의 방전회수(Ns)를 제2의 설정시간(Ts)마다 계수하는 카운터수단(28)과, 그 카운터수단(28)의 계수치(Ns)와 미리 선정된 제1의 기준치(Nx)를 비교하는 제1의 비교수단(28)과, 그 제1의 비교수단(28)으로부터의 오차출력(ΔF)에 의해 상기 이송장치(4, 5)의 이송속도를 보정하는 이송제어수단(28)과, 상기 카운터수단(28)의 계수치(Ns)를 미리 설정된 제2의 기준치(Nx)와를 비교하고, 그 비교치에 따라서 상기 가공간격(D)의 가공상태를 감시 판정하기 위한 가공상태감시수단(28)을 구비한 방전가공기.
제2항에 있어서, 제2의 기준치(Nx)는 무부하시간(Tc)을 0으로 한 경우에 있어서의 방전주기로 행해지는 제2의 설정시간(Ts)중의 방전회수이며, 감시수단(28)은 그 기준치(Nx)와 상기 계수치(Ns)가 같을 때 단락상태라고 판정하는 판정기능을 가지고 있는 방전가공기.
제2항에 있어서, 감시수단(28)은 카운터수단(28)의 계수치(Ns)에 의거하여 무부하시간(Tc)을 산출하고, 그 무부하시간(Tc)에서 평균각간전압(Em)을 연산하여, 그 평균극간전압(Em)을 표시장치(35)에 표시하는 기능을 갖는 방전가공기.
제2항에 있어서, 감시수단(28)은 카운터수단(28)의 계수치(Ns)에 의거하여 무부하시간(Tc)을 산출하고, 그 무부하시간(Tc)에서 평균극간전류(Im)을 연산하여, 그 평균극간전류(Im)를 표시장치(35)에 표시하는 기능을 갖는 방전가공기.