KR880003299A - 광학식 헤드 장치 - Google Patents

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KR880003299A
KR880003299A KR1019870007728A KR870007728A KR880003299A KR 880003299 A KR880003299 A KR 880003299A KR 1019870007728 A KR1019870007728 A KR 1019870007728A KR 870007728 A KR870007728 A KR 870007728A KR 880003299 A KR880003299 A KR 880003299A
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light
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diffraction grating
optical head
light beam
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KR1019870007728A
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Inventor
신스게 시기마
Original Assignee
시기 모리야
미쓰비시덴기 가부시기가이샤
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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/08Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
    • G11B7/09Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following

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  • Optical Head (AREA)
  • Optical Recording Or Reproduction (AREA)

Abstract

내용 없음

Description

광학식 헤드 장치
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 광학계 구성도.
제2도는 본 발명의 실시예로 사용된 위상형 회절격자의 단면 형태를 도시한 설명도.
제3도는 위상형 회절격자에 광속이 경사 입사한 경우의 위상량 연산을 도시한 설명도.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
1 : LD 5 : 집광렌즈
6 : 광디스크 8 : 정보트랙
9a,9e,9f : 광스포트 10 : 광검출기
30 : 제1의 면 31 : 제2의 면
40 : 빔 스플리터(평관 광학소자) 30a : 위상형 회절격자

Claims (14)

  1. 반도체 레이저 광원, 그 광원에서 발사한 광속을 제1의 면에 의해서 반사하면 동시에 0차 회절광과 그 이외의 회절광의 여러개의 광속에 회절분리한 광속분리소자 그 광속분리소자에 의해서 반사 분리된 광속을 광학식 정보 기억 매채에 여러개의 광 스포트로서 집광하는 집광렌즈 수단, 상기광학식 정보 기억매체의 정보면에 의해서 반사되어 상기 집광렌즈 수단을 재투과하여, 상기 광속분리 소자의 제1의 면 및 제2의 면을 투과한 광속을 수광하여 광전변화하는 광 검출기으로 구성되어, 그광 검출기 상에 0차 회절광의 변형에 의해서 디스크 집광광속의 초점 어긋남을 검출하고,0차 회절광에 의해 광학식 정보기억 매체에 축적한 정보를 재생하고, 0차 이외의 회절광에 의해 상기 광학식 정보 기억매체상의 정보 트랙과 0차 회절광의 집광 스포트와의 먼내 어긋남을 검출하는 광학식 혜드장치에 있어서,그 제1의 면에 회절격자를 마련하고, 그 회절격자는 입사광의 위상을 공간적으로 변조하는 위상형 회절격자이며, 그 회절격자에 의해서 광파를 나눈결과, 광 스포트가 상기 정보 기억매체상의 소정 위치에 조사되는 것과 같이 배치하고, 정보 기억매체에서의 반사광이 상기 제1의 면에 의해서 투과 회절된 경우에, +l차 반사광의 투과 -1차광과 0차 반사광의 투과 0차광과의 강도비 IF-1/IM및 -1차 반사광의 투과 +1차광과 0차 반사광의 투과 0차광과의 강도비 IEl/IM이 검출오차를 발생하지 않는 일정치 이하로 되도록 상기 위상형 회절격자의 위상량을 설정한것을 특징으로 하는 광학식 헤드장치.
  2. 상기 위상형의 회절격자는, 면내의 위상 변화량이 구형형으로 되어 있고, 동시에 근접의 구형형 위상 시프트 계수의 듀리비가 0.5로 되어 있는 특허청구의 범위 제1항의 광학식 헤드장치.
  3. 상기 회절격자는, 격자의 단면형상이 구형파형으로 되어 있는 특허청구의 범위 제2항의 광학식 헤드장치.
  4. 상기 회절격자가 2산화 규소 재료에 의해 형성된 것을 특징으로 하는 특허청구의 범위 제1항,제2항, 또는 제3항 기재의 광학식 헤드장치.
  5. 상기 광속 분리소자의 회절격자는 폴리 에틸 메타 크리레이트 재료에 의해 형성된 것을 특징으로하는 특허청구의 범위 제1항, 제2항 또는 제3항 기재의 광학식 헤드장치.
  6. 상기 +1차 반사광의 투과 -1차광과 0차 반사광의 투과 0차광과의 강도비 IF-1/IM및 -1차 반사광의 투과+1차광과 0차, 반사광의 투과 0차광과의 강도비 IEl/IM이 0.01인 것을 특징으로 하는 특허 청구의범위 제1항 또는 제2항 기재의 광학식 헤드장치.
  7. 상기 회절격자에 의해서 분리된 광속의 수가 3개인 것을 특징으로 하는 특허청구의 범위 제l항의 광학식 헤드장치.
  8. 상기 광학식 정보 기억 매체에 의해서 반사한 광속이, 상기 광속 분리소자의 제1의 면 및 제2의 면을 투과하는 것에 의해서 비점수차가 부여되고, 상기 0차광에 의한 초점 어긋남 검출을 위한 변형이 주어진 것을 특징으로 하는 특허청구의 범위 제1항의 광학식 헤드장치.
  9. 상기 광속 분리소자의 제1의 면과 제2의 면이 평행으로 있는 것을 특징으로 하는 특허청구의 범의 제1항의 광학식 혜드장치.
  10. 상기 회절 분리된 광속이 상기 광속 분리 소자의 제1의 면에 관한 메리디오날 면내에 존재하는 3개의 광 스포트로서 디스크상에 집광되는 것을 특징으로 하는 특허 청구의 범위 제1항의 광학식헤드장치.
  11. 상기 회절분리된 광속이 상기 광속 분리 소자의 제1의 면에 관한 사지탈면내에 존재하는 3개의 광 스포트로서 디스크상에 집광되는 것을 특징으로 하는 특허청구의 범위 제1항의 광학식 헤드장치.
  12. 상기 회절분리된 광속이 상기 광속 분리소자의 제1의 면에 관한 메리디오날 광면에서 광축을 중심으로 45°의 각도를 이루는 방향의 면내에 존재하는 3개의 광 스포트로서 디스크상에 집광되는 것을 특징으로 하는 특허청구의 범위 제1항의 광학식 헤드장치.
  13. 상기 회절격자의 무늬궤적이 상기 반도체 레이저의 광속 발사점 및 그 발사점을 포함하고,반도체 레이저 발사광의 광륜에 수직한 면내의 한점의 각각에 배치된 점광원에서 출발된 상기 반도체 레이저 발사광의 파장과 같은 파장의 광파에 의해, 상기 제1의 면에 있어서 간점 무늬 궤적으로 되어 있는것을 특징으로 하는 특허청구의 범위 제1항의 광학식 헤드장치.
  14. 상기 회절 분리된 광속이 상기 광속 분리 소자의 상기 제1의 면에 관한 메리디오날 면내에존재하는 3개의 광 스포트로서 디스크상에 집광되고, 상기 회절 격자의 무늬궤적이, 주기가 직선적으로 변화하는 직선인것을 특징으로 하는 특허청구의 범위 제1항의 광학식 헤드장치.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019870007728A 1986-08-05 1987-07-16 광학식 헤드 장치 KR900007143B1 (ko)

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JP61183660A JPS6339144A (ja) 1986-08-05 1986-08-05 光学式ヘツド装置
JP183660 1986-08-05

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KR880003299A true KR880003299A (ko) 1988-05-16
KR900007143B1 KR900007143B1 (ko) 1990-09-29

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JP3714984B2 (ja) * 1995-03-06 2005-11-09 シャープ株式会社 分布帰還型半導体レーザ装置

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JPS6339144A (ja) 1988-02-19

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