Claims (10)
CRT 목표 스크린(14)상에서 적어도 하나의 영상 프레임을 한정하는 주사 CRT전자 비임(13A)교정 제어 회로가,A scanning CRT electron beam 13A calibration control circuit defining at least one image frame on the CRT target screen 14,
CRT 목표 스크린(14) 상에서 적어도 하나의 영상 프레임을 발생하기 위해 사용된 주사 전자 비임 (13A)의 수평 위치에 따라 크기가 변동하는 제 1 신호(103)를 공급하기 위한 제 1 수단(19 내지 22, 26, 32 내지 33,35 내지 40)과,First means 19 to 22 for supplying a first signal 103 whose magnitude varies depending on the horizontal position of the scanning electron beam 13A used to generate at least one image frame on the CRT target screen 14. , 26, 32 to 33, 35 to 40),
상기 영상 프레임을 발생하기 위해 사용된 상기 주사 전자 비임의 수직 위치에 따라 변동하는 제 2 신호(107)를 공급하기 위한 제 2 수단 (16 내지 17,24,27,42 내지 51)과,Second means (16 to 17, 24, 27, 42 to 51) for supplying a second signal (107) that varies with the vertical position of the scanning electron beam used to generate the image frame;
상기 제 1 및 제 2 신호(103, 107)를 수신하고 상기 제 1 및 제 2 신호 크기의 효과적 결합의 함수로서 변동하는 크기를 갖는 결과 신호(108)를 공급하기 위한 상기 제 1 및 제 2 수단에 결합된 결합기 수단(34)을 포함하며,The first and second means for receiving the first and second signals 103, 107 and for supplying a resultant signal 108 having a varying magnitude as a function of the effective combination of the first and second signal magnitudes. A combiner means 34 coupled to the
적어도 상기 결과 신호(108)에 응답해서 바람직한 CRT전자 비임 교정 신호(100)를 수신하고 상기 신호를 CRT전극에 공급하기 위한 회로수단(60 내지 64, 70 내지 85)을 포함하는데, 여기서 상기 바람직한 교정 회로(100)는 적어도 상기 결과 신호 크기에 따라 상기 영상 프레임의 발생중에 최대 및 최소 크기 사이에서 변동하는 크기를 갖으며,Circuit means (60-64, 70-85) for receiving a preferred CRT electron beam calibration signal (100) in response to at least said result signal (108) and for supplying said signal to a CRT electrode, wherein said preferred calibration The circuit 100 has a magnitude that varies between maximum and minimum magnitudes during generation of the image frame at least in accordance with the resulting signal magnitude,
상기 교정 신호(100)의 최대/최소 크기중 적어도 하나를 조정가능한 DC신호 레벨(86)로 조이기 위한 중심 조정 수단(80 내지 85)을 포함하는 상기 회로 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 주사 CRT전자 비임 교정 제어회로.Scanning CRT electronics comprising the circuit means comprising centering means (80 to 85) for tightening at least one of the maximum / minimum magnitude of the calibration signal (100) to an adjustable DC signal level (86) Beam calibration control circuit.
제 1 항에 있어서,The method of claim 1,
상기 제 1 및 제 2 신호(103,107)를 수신하고 상기 결과 신호로서 적 신호(108)를 공급하는 증배기 수단(34)을 포함하는 상기 결합기 수단(34)을 포함하는데, 상기 적 신호의 크기는 상기 제1및 제2신호크기의 유효 적의 함수로서 변동하는 것을 특징으로 하는 주사 CRT 전자 비임 교정 제어회로.The combiner means 34 comprising multiplier means 34 for receiving the first and second signals 103 and 107 and for supplying the red signal 108 as the resulting signal, the magnitude of the red signal being Scanning CRT electron beam calibration control circuit, characterized in that it varies as a function of an effective function of the first and second signal magnitudes.
제 2 항에 있어서,The method of claim 2,
상기 주사 전자 비임(13A)의 수직 위치에 따라 변동하는 크기를 갖는 상부/하부 교정 신호(111)를 상 기 회로 수단에 공급하기 위해서 상기 회로수단(60 내지 64, 70 내지 85)에 결합된 상부/하부 조정수단(65 내지 6 8)을 포함하며, 상기 바람직한 신호(100)의 크기는 상기 상부/하부 교정 신호(111)및 상기적 신호(108)의 크기에 따라 결정되는 것을 특징으로 하는 주사 CRT 전자 비임 교정 제어 회로.Upper coupled to the circuit means 60-64, 70-85 for supplying the upper / lower calibration signal 111 having a magnitude that varies with the vertical position of the scanning electron beam 13A to the circuit means. / Lower adjustment means (65 to 6 8), the magnitude of the preferred signal 100 is characterized in that it is determined in accordance with the magnitude of the upper / lower calibration signal 111 and the drop signal 108 CRT electronic beam calibration control circuit.
제 3 항에 있어서,The method of claim 3, wherein
상기 회로수단(60 내지 64, 70 내지 85)이 상기 바람직한 교정 신호를 결정하는 합성신호(110)를 공급하기 위해서 상기 상부/하부 교정신호(111)를 상기적 신호(108)에 효율적으로 가산하기 위한 유효 신호 가산기 회로(60 내지 64)를 포함하는 것을 특징으로 하는 주사CRT전자 비임 교정 제어회로.The circuit means 60-64, 70-85 efficiently add the upper / lower calibration signal 111 to the product signal 108 in order to supply the combined signal 110 which determines the desired calibration signal. And a valid signal adder circuit (60 to 64) for the scanning CRT electron beam calibration control circuit.
제 4 항에 있어서,The method of claim 4, wherein
각각의 상기 제 1 및 제 2 수단이, 각각 상기 제 1 및 제 2 신호로서 피크 크기의 조여진 제 1 및 제 2 신호(103, 107)를 공급하기 위해서 제1(32, 35 내지 40) 및 제2(42,43 내지 51)조임 수단을 포함하고, 상기 증배기 수단(34)은 상기적 신호(108)를 공급하기 위해서 상기 크기의 조여진 제 1 및 제 2 신호를 증배시키는 것을 특징으로 하는 주사 CRT전자 비임 교정 제어회로.Each of the first and second means, respectively, provides first, second, and third signals 32, 35 and 40 to supply peak-tight, tightened first and second signals 103, 107 as the first and second signals, respectively. Scanning means characterized in that it comprises two (42,43 to 51) tightening means, said multiplier means (34) multiplying the tightened first and second signals of said magnitude to supply said drop signal (108). CRT electronic beam calibration control circuit.
제 5 항에 있어서,The method of claim 5,
상기 적신호(108)가 상기 제 1 신호 (103)에 따라 변동하는 유효 반송과 신호의 하나의 엔벨로우프 경계 (55)로서 고정된 피크 레벨 크기(55)를 갖고, 상기 반송파 신호의 또 다른 엔벨로우프 경계(109)로서 상기 제 2 신호(107)에 따라 변동하는 또 다른 피크 레벨을 갖는 신호를 포함하는 것을 특징으로 하는 주사 CRT 전자 비임 교정 제어회로.The red signal 108 has a fixed peak level magnitude 55 as one envelope boundary 55 of the effective carrier and signal that varies in accordance with the first signal 103, and another envelope of the carrier signal. Scanning CRT electron beam calibration control circuit as a boundary (109) comprising a signal having another peak level that varies with the second signal (107).
제 6 항에 있어서,The method of claim 6,
상기 제 1 및 제 2 신호(103,107)는 수평 및 수직전자 비임 위치 포물선 신호를 포함하는 것을 특징으로 하는 주사 CRT 전자 비임교정 제어회로.The first and second signals (103, 107) comprise horizontal and vertical electron beam position parabolic signals.
제 3 항에 있어서,The method of claim 3, wherein
상기 제 1(103) 및 제 2(107)신호의 크기 변동 양을 독립적으로 조정하기 위해서 분리된 모퉁이(26)및 측면(27)조정 수단을 포함하며, 상기 신호(103, 107)는 증배기(34)에 의해 증배되고, 그것에 의해 상기 적신호(108)의 크기를 조정하는 것을 특징으로 하는 주사(CRT)전자 비임 교정 제어회로.Separate corner 26 and side 27 adjustment means for independently adjusting the amount of variation in magnitude of the first 103 and second 107 signals, the signals 103, 107 being multipliers; A scanning (CRT) electron beam calibration control circuit, multiplied by (34), thereby adjusting the magnitude of the red signal (108).
제 8 항에 있어서,The method of claim 8,
상기 모퉁이 및 측면 수단(26,27)이 각각 세트 가능하여 상기 적신호 크기가 초기에 전자 비임 위치에 대해 상수이고, 상기 적신호 크기를 조정하여 그것이 비임 위치헤 따라 그리고 상기 모퉁이 및 상기 조정수단(26,27)의 독립적 세팅에 따라 변동하는 것을 특징으로 하는 주사 CRT 전자 비임 교정 제어회로.The corner and side means 26 and 27 can be set respectively so that the red signal magnitude is initially constant for the electron beam position, and the red signal magnitude is adjusted so that it is along the beam position and the corner and the adjustment means 26, 27. A scanning CRT electronic beam calibration control circuit, characterized in that it varies according to the independent setting of < RTI ID = 0.0 >
제 9 항에 있어서,The method of claim 9,
상기 제 1 및 제 2 신호 크기가 각각 상기 비임의 수평및 수직 위치를 나타내는 주기적 포물선 파형을 갖는 것을 특징으로 하는 주사 CRT전자 비임 교정 제어회로.And said first and second signal magnitudes each have a periodic parabolic waveform representing the horizontal and vertical positions of said beam.
※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.※ Note: The disclosure is based on the initial application.