KR860000504B1 - Apparatus for detecting cracked grain of unhulled rice or hulled rice - Google Patents
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Abstract
Description
제 1 도는 본 발명의 실시예에 의한 장치의 정단면도.1 is a front sectional view of an apparatus according to an embodiment of the present invention.
제 2 도는 제 1 도에 나타낸 장치의 동작원리 설명도.2 is an explanatory view of the operation principle of the apparatus shown in FIG.
제 3 도는 제 1 도에 나타낸 장치에 사용한 전기회로의 블록도이다.3 is a block diagram of an electric circuit used in the apparatus shown in FIG.
본 발명은 벼 또는 현미의 균열입자를 검출하는 장치에 관한 것이다.The present invention relates to an apparatus for detecting cracked particles of rice or brown rice.
근래 쌀 생산의 기계화에 따라 탈곡후에 벼를 건조하기 위해 건조기가 사용되고 있다. 이 건조기로 기후조건에 관계없이 일정한 조건하에서 높은 효율로 벼의 건조가 가능하다.Recently, with the mechanization of rice production, a dryer is used to dry rice after threshing. This dryer enables the drying of rice with high efficiency under certain conditions regardless of climatic conditions.
반면에 벼의 건조율이 높을 경우에 건조기를 사용함으로써 특히 균열곡립이 많이 발생하는 문제가 있다. 이런 문제는 효과적으로 균열곡립을 검출할 수 있는 장치가 필요로 하게 되었다.On the other hand, when the drying rate of rice is high, there is a problem that a lot of cracks occur especially by using a dryer. This problem requires a device that can effectively detect cracking grains.
따라서, 본 발명의 목적은 벼 및 현미의 균열을 고정도(高精度)로 검출하는 장치를 제공하는 데 있다.Accordingly, it is an object of the present invention to provide an apparatus for accurately detecting cracks in rice and brown rice.
따라서, 본 발명의 한 실시예에 의하면 송출통로를 따라 실제적으로 수평 또는 완만한 경사로 배열되고 송출 통로저부에 설치한 투광창을 통해 벼 및 현미의 곡립의 균열을 검출하는 장치와 투광창을 가로질러 실제로 대응되게 배치한 광원자 수광소자를 갖는 광량검출장치를 설치하여 광량 검출소자에서 수신되는 광량 균열곡립을 검출한다.Therefore, according to one embodiment of the present invention, across the transmission window and the device for detecting the cracks of rice and brown rice grains through the transmission window arranged in the horizontal or gentle slope along the discharge passage and installed on the bottom of the discharge passage A light quantity detecting device having a light source light receiving element arranged correspondingly is provided to detect light quantity cracking grains received by the light quantity detecting element.
본 발명의 또 다른 실시예에 의하면 상기형식의 벼 및 현미중에서 균열곡립을 검출하는 장치를 제공하여 투광창을 통과하는 곡립을 투과하는 기준명암(reference darlmess)을 검출하여 곡립의 수를 계수하는 계수회로와, 짧은 그림자 또는 길고 연속적인 그림자로부터 미리 설정된 곡립의 시간당 통과수와 균열곡립의 수를 검출계수하기 위한 계수회로를 구비하는 것을 특징으로 하는 투광창을 통과한 총 곡립의 수와 균열곡립을 검출하는 장치를 제공하는데 있다.According to still another embodiment of the present invention, there is provided a device for detecting crack grains in rice and brown rice of the above type to detect reference darlmess passing through the grains passing through the floodlight window, and counting the number of grains. A circuit and a counting circuit for detecting coefficients of the number of passages per hour and the number of crack grains, which are preset from short or long continuous shadows. It is to provide an apparatus for detecting.
본 발명의 일 실시예를 첨부 도면에 따라 설명한다. 먼저 제 1 도에 나타낸 본 발명의 실시예에 의해 구성된 벼 및 현미의 균열을 검출하기 위한 장치는, 상자형 프레임(1) 내에 진동장치(2)를 구비한 쌀 이송 통(3)을 갖는다. 쌀 공급호퍼(5)는 쌀 이송통(3)의 입구부(4)상에 배치되고, 반면에 송출통로(3)의 출구단은 개구부(6)로부터 프레임(1)의 외측에 돌출 설치되어 있다. 쌀 송출통(3)은 저부에 투광창(7)을 구비하고 있다. 백열등과 같은 광원자 포토 다이이드와 같은 수광소자(9)는 투광창(7)을 사이에 두고 서로 대향하게 배치되어 있다. 수광소자(9)는 프레임(1)의 상단에 설치된 균열곡립검출기(10)에 전기적으로 작동가능하게 접속되어 있으므로 균열곡립은 투광창(7)을 지나는 곡립을 통해 투과된 광량에 의해 검출된다.An embodiment of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. First, the apparatus for detecting cracks in rice and brown rice constituted by the embodiment of the present invention shown in FIG. 1 has a rice feed container 3 provided with a
상기에 있어서 "서로 대향된"이란 의미는 광원(8)과 수광소자(9)의 관계 위치가 투광창(7)과 평면상으로 임의의 각으로 배치되어 있고, 광원과 수광 소자는 서로 정확하게 대향하고 있으며, 이 때에 광원과 수광소자가 서로 차단되어 있다 할지라도, 그들은 광학 섬유 등에 의해 나타나는 굴곡된 광통로를 따라 서로 광학적으로 대응하게 된다.In the above, the term " facing each other " means that the relation positions of the light source 8 and the light receiving element 9 are arranged at arbitrary angles in the plane of the light transmission window 7, and the light source and the light receiving element are exactly opposite to each other. At this time, although the light source and the light receiving element are blocked from each other, they optically correspond to each other along the curved optical path represented by the optical fiber or the like.
균열입자 검출기(10)는 곡립수를 계수하는 계수회로(11), 균열곡립 입자를 계수하는 계수회로(12), 디지탈 표시장치(13),(14),(15) 등을 포함한다.The
이하, 균열곡립 검출기(10)의 구성은 제 3 도에 나타낸 회로도를 참조해서 설명한다. 수광세자(9)의 출력일측은 곡립 계수회로(11)와 타측은 균열곡립 계수회로(12)에 접속되는 두 분로(分路)를 갖는다. 곡립 계수회로(11)는 수광소자(9)의 출력을 수신하고, 비교기(18)의 입력측의 일단자에 출력을 전달하기 위해 설치된 증폭기(16)를 포함한다. 또한 계수회로(11)에는 곡립 입자수를 계수하기 위한 기준 명암도(A)을 설정하는 설정기(19)가 비교기(18)의 두 입력중 타측입력에 접속되어 있다. 또 계수회로(11)는 비교기(18)의 출력에 접속된 계수기(20)와, 계수기(20)에 접속된 기준 클럭회로(21)와 계수기(20)의 출력측에 접속된 곡립수 디지탈 표시장치(13)를 포함한다.Hereinafter, the structure of the
한편, 균열곡립 계수회로(12)는 수광소자(9)의 출력을 수신하는 증폭기(17), 증폭기(17)의 출력을 일측 입력단에 접속된 비교기(23), 비교기(23)의 다른 입력에 접속된 균열곡립 검출을 위한 소정 명암도(B)을 설정하기 위한 설정장치(24), 비교기(23)의 출력에 접속된 계수기(25), 계수기(25)에 접속된 기준 클럭회로(26)와 계수기(25)의 출력에 접속된 균열곡립의 디지탈 표시장치(14)를 포함하고 있다. 비교기(23)의 출력으로부터 분지된 회로는 보정기준 클럭회로(28)가 접속되어 있는 보정계수기(27)에 접속되어 있다. 보정계수기(27)의 출력은 표시장치(14)의 수치로부터 보정계수(27)에 의해 계수된 수치를 감산하도록 균열곡립의 디지탈 표시기(14)에 접속되어 있다. 곡립수 표시기(13)와 균열곡립의 계수기(14)는 총 곡립의 입자수에 대한 균열곡립 입자수의 비율을 표시하기 위해 디지탈 표시장치(15)에 접속되어 있다.On the other hand, the crack
제 2 도는 본 발명에 의한 장치의 동작원리를 나타낸다. 현미 및 정규의 벼, 파손된 벽, 미숙벼 및 쓸모없는 쭉정이가 상기 순서로 배열된다고 가정하면 빛은 하단으로부터 각 곡립을 주사하므로 각 곡립에 대한 수광소자로 수신된 광의 그림자 또는 광량은 제 2 도에 나타낸 굵은 곡선에 의해 나타낸 것과 같이 된다. 제 2 도에 있어서 점선(A-A)은 정규의 벼 곡립의 중앙 투명부분의 기준 명암도(A)를 나타내고, 한편 점선(B-B)은 벼 곡립자 미숙벼의 하얀 불투명 부분 및 쓸모없는 쭉정이에 대응하는 임의의 설정된 명암도(B)를 나타낸다. 또 점선(C-C)은 현미의 그림자에 대응하는 임의의 설정명암도의 레벨을 나타낸다.2 shows the principle of operation of the device according to the invention. Assuming that brown and regular rice, broken walls, immature rice and useless chaffs are arranged in this order, light scans each grain from the bottom, so the shadow or amount of light received by the light receiving element for each grain is shown in FIG. As shown by the thick curve shown in FIG. In Fig. 2, the dotted line AA represents the reference contrast A of the central transparent portion of the regular rice grain, while the dotted line BB corresponds to the white opaque portion of the rice grain immature rice and the unusable straight line. The set contrast (B) of. Moreover, the dotted line C-C shows the level of arbitrary setting contrast degree corresponding to the shadow of brown rice.
그리고 (D)는 현미의 배아에 대응하는 명암도의 레벨이다. 좀더상세히 설명하면, 기호(X)는 배아(胚芽)의 하얀 불투명 부분의 그림자를 나타낸다. 곡립내에 균열이 있을 경우의 투과된 광은 곡립의 파손된 부분의 하축에서 짧고 어두운 그림자를 발생하므로, 파손된 표면에서 산란된다.And (D) is the level of contrast corresponding to the embryo of brown rice. More specifically, the symbol X represents the shadow of the white opaque part of the embryo. The transmitted light when there is a crack in the grain generates short and dark shadows on the lower axis of the broken portion of the grain, so it is scattered on the broken surface.
이러한 어두운 그림자는 파손되어 있는 면에서 마다 나타난다. 배아의 하얀 불투명 부분은 짧고 어두운 그림자를 나타내는 반면에, 미숙곡립이나 쭉정이는 길고 어두운 그림자로 나타난다. 그러므로 이러한 곡립을 식별하고 계속해서 각각의 쌀을 정밀하게 주사람으로써 각 종류에 따른 곡립 수의 계수가 가능해진다. 곡립이 파손되어 있을 경우, 파손된 곡립 입자의 각각에 대해서 두개 또는 그보다 많은 짧고 어두운 그림자들이 나타나는 것에 주의하여야 한다.These dark shadows appear whenever they are broken. The white opaque part of the embryos shows short and dark shadows, while the immature grains or straight lines appear as long and dark shadows. Therefore, by identifying these grains and continuing to give each rice precisely, it is possible to count the number of grains according to each kind. If the grain is broken, note that two or more short and dark shadows appear for each of the broken grain particles.
이하, 상기와 같은 구성의 본 실시예의 동작을 설명한다. 기준 명암도(A)는 곡립수 계수회로(11)의 비교기(18)에 접속된 설정장치(19)에 설정되고, 소정 명암도(B)는 균열 곡립수의 계수회로(12)의 비교기(23)에 접속된 설정기(24)에 설정된다. 그리고 공급호퍼(5) 내에 곡립을 투입하고 장치를 가동하면, 쌀은 송출통로(3)상의 깔때기(5)로부터 아래로 흐른다. 곡립은 진동기(2)에 의해 발생된 진동 작용으로 송출통(3)을 따라 한줄로 배열되어 송출통(3)의 밑면에 설비된 투광창(7)상을 통과한다. 한편, 광은 투광창(7)상의 곡립에 광전달창구(7)의 저면으로부터 광원(8)에 의해 조사된 빛은 각각의 곡립의 상태에 대응하는 그림자의 명암이 반대측에 형성된다. 이 그림자는 투광창(7)의 상측에 배치된 수광소자(9)에 의해 수광되고, 각각의 곡립의 그림자에 대응하는 수광소자로부터의 출력은 곡립입자의 계수회로(11)와 균열곡립의 계수회로(12)에 입력된다. 곡립의 계수회로(11)에서는 수광소자(9)에서 검출된 신호를 증폭기(16)에 의해 증폭하고 설정기(19)로부터의 기준 명암도의 설정치(A)와 비교하기 위해 비교기(18)에 공급된다. 비교기(18)에서는 두 신호간의 일치신호를 발생하고 이 일치신호는 계수기(20)에 공급된다. 계수기(20)는 계수되는 신호가 나오고 있는 동안 기준 클럭회로(21)로부터의 클럭 펄스수를 계수한다. 계수기(20)는 파손되지 않는 길이 방향으로 배열된 곡립에 대응하는 미리 설정된 펄스의 수를 계수하고, 곡립의 통과를 나타내는 신호를 표시장치(13)에 공급함으로써 투광창을 통과한 기준 명암도(A)의 그림자를 갖는 곡립의 총 수를 계수한다. 즉, 정규의 곡립, 균열곡립, 미숙곡립 및 쭉정이 등의 곡립수가 표시장치(13)에 표시된다.The operation of this embodiment of the above-described configuration will be described below. The reference intensity A is set in the
또 균열곡립의 계수기(12)에서는 수광소자(9)에서 검출된 신호를 증폭기(17)로 증폭하고, 증폭된 신호는 비교기(23)에 공급된다. 비교기(23)는 설정기(24)에 의해 미리 설정된 명암도(B)의 선정신호와 증폭된 신호를 비교하고, 그 일치신호를 계수기(25)에 공급한다. 계수기(25)는 기준 시간회로(26)에서 공급되는 시간펄스의 수를 계수함과 동시에 계수신호를 계속 공급된다. 계수기(25)는 그때마다 표시장치(14)에 신호를 전달하고 그것은 미리 설정된 클럭펄스의 수를 계수할 때마다 표시기(14)는 미리 설정된 명암도(B)의 그림자를 갖는 투광창을 통과한 정규의 곡립, 균열곡립, 미숙곡립 및 쭉정이 등의 곡립의 수를 표시한다.In the crack-
비교기(23)의 출력측에서 분지된 출력은 보정용 계수기(27)에 공급되고, 보정계수기(27)는 보정기준 시간회로(28)로부터의 클럭펄스의 수를 계산하고, 계수신호는 계속 송출되므로 계수클럭에 의해 그림자가 단일하고 짧은지 또는 단일하고 긴지를 식별하게 된다. 식별신호는 표시장치(14)에 공급된다. 결과적으로, 표시장치(14)에 있어서는 정규의 곡립, 미숙곡립과 쭉정이 곡립의 수를 계수기(25)에 의하여 계수된 미리 설정된 그림자의 명암도(B)인 곡립의 총 수량으로부터 감산하므로서 표시장치(14)는 단지 파손된 곡립만을 표시한다. 곡립 계수회로(11)의 표시장치(13)로부터의 출력과, 균열 곡립의 계수회로(12)축의 표시장치(14)로부터의 출력은 디지탈 장치(15)에 공급되고, 이 디지탈 장치(15)에는 총 곡립수에 대한 균열된 곡립의 수를 비율을 연산하여 표시하게 된다.The output branched at the output side of the
또한 본 장치는, 곡립 계수회로(11)와 균열곡립의 계수회로(12)의 설정장치(19),(24) 내의 기준 명암도(A)의 값(전압)과 미리 결정된 임의의 소정 명암도(B)의 값을 설정기(19)로 기준 명암도(C)를 설정하고 또, 설정기(24)로 소정의 명암도 예를 들면 제 2 도에서 2점 쇄선(D)으로 변화시킴으로써 현미중의 균열곡립을 검출하기 위한 장치로 간단히 용이하게 변환시킬 수가 있게 된다.In addition, the apparatus includes the value (voltage) of the reference contrast intensity A in the setting
이상 설명한 바와 같이, 본 발명에 의한 균열곡립의 검출장치는 각 곡립의 표명을 주사함으로써 각 꼭립의 통과시간과 곡립을 투과한 광량을 검출함으로써 투광창을 통과한 통 곡립수의 계수가 가능함과 동시에, 각 곡립의 통과시간과 그림자의 길이가 검출된다. 따라서, 균열곡립은 여러개의 짧은 그림자로 나타나 직접 또는 간접적으로 검출되어 균열곡립의 계수가 가능해진다. 그러므로 검출작업을 현저하게 상력화시키며 균열곡립검출의 완전자동화가 가능하다. 또한 검출은 계속해서 각각의 곡립에 주사되어 나타나는 곡립의 그림자의 광량의 변화를 검출함으로써 연속적으로 이룩되기 때문에 총 곡립수에 대한 균열곡립의 비율을 정밀하고 신속하게 계산하고 표시하는 것이 가능하다.As described above, the apparatus for detecting crack grains according to the present invention enables the counting of the number of grain grains passing through the floodlight window by detecting the passing time of each grain and the amount of light passing through the grains by scanning the manifestation of each grain. The passing time and shadow length of each grain are detected. Therefore, the crack grains appear in several short shadows and are detected directly or indirectly, so that the coefficient of crack grains can be determined. Therefore, the detection operation can be remarkably enhanced and full automatic crack detection is possible. In addition, since the detection is continuously performed by detecting a change in the amount of light of the shadow of the grain appearing by scanning each grain, it is possible to accurately and quickly calculate and display the ratio of the crack grain to the total grain number.
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