KR20240114259A - Bonding device, bonding method and computer readable medium - Google Patents

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KR20240114259A
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히데히로 타자와
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가부시키가이샤 신가와
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Abstract

낭비되는 시간을 최소한으로 하여 전자 부품을 기판의 목표 위치에 실장할 수 있는 본딩 장치에 관한 기술을 제공한다.
전자 부품(D)을 기판(F)에 본딩하는 본딩 장치(1)는, 전자 부품(D)을 초기 위치(0, 0, 0)로부터 픽업하여 기판(F)상의 목표 위치(Sx, Sy, Sz)에 본딩하는 본딩 툴(2)과, 본딩 툴(2)을 이동시키는 구동부(5)와, 본딩 툴(2)의 좌표(X, Y, Z)를, 제1 좌표로부터 제2 좌표로 소정 시간 간격으로 주기적으로 갱신하고, 제1 좌표로부터 제2 좌표로의 이동량의 총합(Sx, Sy, Sz)에 기초하여, 본딩 툴(2)을 초기 위치(0, 0, 0)로부터 목표 위치(Sx, Sy, Sz)로 이동하도록 구동부(5)를 제어하는 제어부(4)를 구비하고 있다.
Provides technology for a bonding device that can mount electronic components at target locations on a board with minimal wasted time.
The bonding device 1 for bonding the electronic component D to the substrate F picks up the electronic component D from the initial position (0, 0, 0) and moves it to the target position (S x , S) on the substrate F. y , S z ), a bonding tool 2 for bonding, a drive unit 5 for moving the bonding tool 2, and the coordinates (X, Y, Z) of the bonding tool 2 are determined from the first coordinates. 2 coordinates are periodically updated at predetermined time intervals, and based on the total amount of movement from the first coordinate to the second coordinate (S x , S y , S z ), the bonding tool 2 is moved to the initial position (0, 0) , 0) and is provided with a control unit 4 that controls the drive unit 5 to move from the target position (S x , S y , S z ).

Description

본딩 장치, 본딩 방법 및 컴퓨터로 읽을 수 있는 매체{Bonding device, bonding method and computer readable medium}Bonding device, bonding method and computer readable medium

본 발명은, 전자 부품을 기판에 실장하는 본딩 장치의 기술에 관한 것이다.The present invention relates to technology of a bonding device for mounting electronic components on a board.

본딩 장치는, 흡착 콜릿 등의 본딩 툴을 이용하여 반도체 웨이퍼의 다이 등의 전자 부품을 픽업하여, 리드 프레임 등의 기판의 표면에 실장한다. 전자 부품을 픽업할 때에, 본딩 툴과 전자 부품 사이에 위치 어긋남이 발생하는 경우가 있다.A bonding device uses a bonding tool such as a suction collet to pick up electronic components such as die of a semiconductor wafer and mount them on the surface of a substrate such as a lead frame. When picking up electronic components, positional misalignment may occur between the bonding tool and the electronic component.

기판의 목표 위치에 전자 부품을 고정밀도로 실장하기 위해, 카메라를 이용하여 본딩 툴을 하방으로부터 촬상하여 본딩 툴과 전자 부품 간의 어긋남량을 측정하여, 본딩 툴의 위치의 보정을 행하는 본딩 장치가 제안되어 있다(예를 들면, 특허 문헌 1 참조). 이러한 본딩 장치는, 초기 위치로부터 목표 위치까지의 모든 행정의 이동 궤적을 산출하고, 어긋남량을 산출하면 기존의 이동 궤적에서 보정 후의 목표 위치를 향하는 이동 궤적으로 환승하여 위치 보정을 한다.In order to mount electronic components at target positions on a board with high precision, a bonding device has been proposed that uses a camera to capture images of the bonding tool from below, measures the amount of misalignment between the bonding tool and the electronic component, and corrects the position of the bonding tool. (For example, see Patent Document 1). This bonding device calculates the movement trace of all strokes from the initial position to the target position, and when the amount of deviation is calculated, the position is corrected by switching from the existing movement trace to the movement trace heading toward the corrected target position.

[특허 문헌 1] 일본 공개특허 2012-59933호 공보[Patent Document 1] Japanese Patent Publication No. 2012-59933

그런데, 촬상한 화상으로부터 어긋남량을 산출하기까지 시간이 걸리는 경우가 있다. 본딩 툴이 목표 위치에 가까워져 감속중인 시점에서 어긋남량을 산출하면, 이동 궤적의 환승이 시간에 맞지 않아 본딩 툴이 그대로 목표 위치까지 이동하여 일단 정지하고 있었다. 일단 정지하고 나서 보정 후의 목표 위치를 향해 재이동할 때까지 낭비되는 시간이 발생한다.However, there are cases where it takes time to calculate the amount of misalignment from the captured image. When the amount of deviation was calculated at a time when the bonding tool was approaching the target position and decelerating, the movement trajectory did not change in time, so the bonding tool moved to the target position and stopped for now. Once it stops, there is wasted time until it moves back toward the target position after correction.

본 발명은, 상기 과제를 감안하여 이루어진 것으로서, 낭비되는 시간을 최소한으로 하여 전자 부품을 기판의 목표 위치에 실장할 수 있는 본딩 장치에 관한 기술을 제공하는 것을 목적으로 한다.The present invention was made in view of the above problems, and its purpose is to provide technology related to a bonding device that can mount electronic components at target positions on a board while minimizing wasted time.

본 발명의 일 형태에 관한 본딩 장치는, 전자 부품을 기판에 본딩하는 본딩 장치로서, 전자 부품을 초기 위치로부터 픽업하여 기판상의 목표 위치에 본딩하는 본딩 툴과, 본딩 툴을 이동시키는 구동부와, 본딩 툴의 좌표를, 제1 좌표로부터 제2 좌표로 소정 시간 간격으로 주기적으로 갱신하고, 제1 좌표로부터 제2 좌표로의 이동량의 총합에 기초하여, 본딩 툴을 초기 위치로부터 목표 위치로 이동하도록 구동부를 제어하는 제어부를 구비하고 있다.A bonding device according to one embodiment of the present invention is a bonding device for bonding an electronic component to a substrate, including a bonding tool that picks up the electronic component from an initial position and bonds it to a target position on the substrate, a drive unit that moves the bonding tool, and a bonding tool that moves the bonding tool. A driving unit to periodically update the coordinates of the tool from the first coordinate to the second coordinate at predetermined time intervals and move the bonding tool from the initial position to the target position based on the total amount of movement from the first coordinate to the second coordinate. It is equipped with a control unit that controls.

본 발명에 의하면, 초기 위치로부터 목표 위치까지의 모든 행정의 이동 궤적을 산출하여 본딩 툴을 이동시키는 것이 아니라, 각 주기에서의 미소(微小) 이동의 이동 궤적을 반복하여 산출하고, 그것들을 서로 연결하여 본딩 툴을 이동시키기 때문에, 감속중에도 목표 위치의 변경이 가능해져, 연속적으로 변경 후의 목표 위치로의 이동이 가능해진다. 낭비되는 시간을 최소한으로 하여 전자 부품을 기판의 목표 위치에 실장할 수 있는 본딩 장치에 관한 기술을 제공할 수 있다.According to the present invention, rather than calculating the movement traces of all strokes from the initial position to the target position to move the bonding tool, the movement traces of minute movements in each cycle are repeatedly calculated and connected to each other. Since the bonding tool is moved, the target position can be changed even during deceleration, and continuous movement to the changed target position is possible. It is possible to provide technology related to a bonding device that can mount electronic components at target positions on a board with minimal wasted time.

[도 1] 본 발명의 일실시 형태의 본딩 장치의 일례를 도시한 단면도이다.
[도 2] 도 1에 도시된 본딩 장치의 기능적인 구성요소의 관계를 도시한 블럭도이다.
[도 3a] 도 1에 도시된 본딩 헤드와 전자 부품이 어긋나지 않은 경우의 본딩 헤드의 이동 궤적을 도시한 단면도이다.
[도 3b] 도 1에 도시된 본딩 헤드와 전자 부품이 어긋나 있는 경우의 본딩 헤드의 이동 궤적을 도시한 단면도이다.
[도 4] 도 1에 도시된 본딩 장치를 이용하는 본딩 방법을 도시한 흐름도이다.
[Figure 1] A cross-sectional view showing an example of a bonding device according to an embodiment of the present invention.
[FIG. 2] is a block diagram showing the relationship between functional components of the bonding device shown in FIG. 1.
[FIG. 3A] is a cross-sectional view showing the movement trajectory of the bonding head shown in FIG. 1 when the electronic component is not misaligned with the bonding head.
[FIG. 3B] is a cross-sectional view showing the movement trajectory of the bonding head shown in FIG. 1 when the electronic component is misaligned.
[FIG. 4] is a flowchart showing a bonding method using the bonding device shown in FIG. 1.

첨부 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시 형태에 대해 설명하기로 한다. 각 도면에서 동일한 부호가 부여된 것은 동일 또는 마찬가지의 구성을 가진다. 이하, 도 1 내지 도 4를 참조하여 각 구성에 대해 자세히 설명하기로 한다. 도 1은, 본 발명의 일실시 형태의 본딩 장치(1)의 일례를 도시한 단면도이다.A preferred embodiment of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. Items assigned the same reference numeral in each drawing have the same or similar configuration. Hereinafter, each configuration will be described in detail with reference to FIGS. 1 to 4. Fig. 1 is a cross-sectional view showing an example of a bonding device 1 according to an embodiment of the present invention.

본 발명의 일실시 형태의 본딩 장치(1)는, 다이 등의 전자 부품(D)을 리드 프레임 등의 기판(F)에 본딩하는 다이 본더이다. 전자 부품(D)을 기판(F)에 본딩한다는 것은, 기판(F)에 직접적으로 전자 부품(D)을 본딩하는 것 뿐만 아니라, 기판(F)에 본딩되어 있는 다른 전자 부품 위에 전자 부품(D)을 겹쳐 쌓아 본딩하는 형태를 포함한다.The bonding device 1 of one embodiment of the present invention is a die bonder that bonds an electronic component D such as a die to a substrate F such as a lead frame. Bonding the electronic component (D) to the substrate (F) means not only bonding the electronic component (D) directly to the substrate (F), but also bonding the electronic component (D) on top of other electronic components bonded to the substrate (F). ) includes stacking and bonding.

전자 부품(D)은, 다이(반도체 소자)로 한정되지 않으며, MEMS 칩 등 다른 종류의 전자 부품이어도 좋다. 전자 부품(D)이 다이인 경우, 능동면이 위를 향하는 다이 본딩이어도 좋고, 능동면이 아래를 향하는 플립칩 본딩이어도 좋다. 기판(F)은, 리드 프레임으로 한정되지는 않으며, 인터포저 기판 등 다른 종류의 기판이어도 좋다.The electronic component D is not limited to a die (semiconductor element), and may be another type of electronic component such as a MEMS chip. When the electronic component D is a die, die bonding with the active surface facing upward may be used, or flip chip bonding with the active surface facing downward may be used. The substrate F is not limited to a lead frame, and may be another type of substrate such as an interposer substrate.

도 1에 도시한 바와 같이, 본딩 장치(1)는, 기판(F)을 반송하는 스테이지(3), 본딩 헤드에 장착된 흡착 콜릿 등의 본딩 툴(2), 본딩 툴(2)을 하방으로부터 촬상하는 카메라(61) 등을 구비하고 있다.As shown in FIG. 1, the bonding device 1 includes a stage 3 for transporting a substrate F, a bonding tool 2 such as a suction collet mounted on a bonding head, and the bonding tool 2 from below. It is equipped with a camera 61 for imaging.

본딩 장치(1)는, 임의의 구성으로서, 웨이퍼 링 등에 고정된 전자 부품(D)을 본딩 헤드에 공급하는 웨이퍼 카세트 리프터, 기판(F)을 스테이지(3)에 공급하는 프레임 스택 로더, 스테이지(3)상에 반송되는 기판(F)에 은(銀)페이스트 등의 접착제를 도포하는 디스펜서, 전자 부품(D)이 실장된 기판(F)을 스테이지(3)로부터 회수하는 언로더 매거진 등을 더 구비해도 좋다.The bonding device 1 may have any configuration, including a wafer cassette lifter for supplying the electronic component D fixed to a wafer ring or the like to the bonding head, a frame stack loader for supplying the substrate F to the stage 3, and a stage ( 3) A dispenser for applying adhesive such as silver paste to the substrate (F) transported on the stage, an unloader magazine for recovering the substrate (F) on which the electronic components (D) are mounted from the stage (3), etc. You may have it.

이하의 설명에서, 기판(F)이 흐르는 스테이지(3)의 반송 방향을 X축 방향, 반송 방향을 횡단하는 스테이지(3)의 폭방향을 Y축 방향, 상하 방향을 Z축 방향으로서 정의한다. 도시한 예에서는, X축, Y축 및 Z축은 서로 직교되어 있다. 본딩 헤드는, 후술하는 구동부(5)를 구비하고, 본딩 툴(2)을 이용하여 초기 위치(0, 0, 0)에 있는 전자 부품(D)을 웨이퍼 링 등으로부터 픽업하여 접착제나 땜납 등이 도포된 기판(F)의 목표 위치(Sx, Sy, Sz)에 실장한다.In the following description, the conveyance direction of the stage 3 along which the substrate F flows is defined as the X-axis direction, the width direction of the stage 3 crossing the conveyance direction is defined as the Y-axis direction, and the vertical direction is defined as the Z-axis direction. In the example shown, the X-axis, Y-axis and Z-axis are orthogonal to each other. The bonding head is provided with a drive unit 5, which will be described later, and uses a bonding tool 2 to pick up the electronic component D at the initial position (0, 0, 0) from a wafer ring, etc., and remove adhesive, solder, etc. It is mounted at the target position (S x , S y , S z ) of the coated substrate (F).

도 2는, 도 1에 도시된 본딩 장치(1)의 기능적인 구성요소의 관계를 도시한 블럭도이다. 도 2에 도시한 바와 같이, 본딩 장치(1)는, 본딩 툴(2)을 이동시키는 구동부(5), 구동부(5)를 제어하는 제어부(4), 본딩 툴(2)과 전자 부품(D) 간의 어긋남량을 측정하는 측정부(6) 등을 구비하고 있다.FIG. 2 is a block diagram showing the relationship of functional components of the bonding device 1 shown in FIG. 1. As shown in FIG. 2, the bonding device 1 includes a drive unit 5 that moves the bonding tool 2, a control unit 4 that controls the drive unit 5, a bonding tool 2, and an electronic component (D). ) and a measuring unit 6 that measures the amount of misalignment.

제어부(4)는, 본딩 툴(2)의 이동 궤적을 연산하는 모션 컨트롤러 등의 궤적 연산부(41)를 구비하고 있다. 제어부(4)는, 다른 종류의 컨트롤 보드를 더 구비해도 좋다. 측정부(6)는, 전술한 카메라(61)에 추가하여, 카메라(61)가 촬상한 화상을 화상 처리하여 본딩 툴(2)과 전자 부품(D) 간의 어긋남량을 산출하는 비전 보드 등의 화상 처리부(62)를 더 구비하고 있다.The control unit 4 is provided with a trajectory calculation unit 41 such as a motion controller that calculates the movement trajectory of the bonding tool 2. The control unit 4 may further include other types of control boards. In addition to the camera 61 described above, the measuring unit 6 is a vision board or the like that processes the image captured by the camera 61 to calculate the amount of misalignment between the bonding tool 2 and the electronic component D. An image processing unit 62 is further provided.

구동부(5)는, 본딩 툴(2)을 X축, Y축 및 Z축 방향으로 이동시키는 모터(52X, 52Y, 52Z), 궤적 연산부(41)의 지령을 받아 각 모터(52X, 52Y, 52Z)를 구동하는 서보 앰프(51X, 51Y, 51Z) 등을 구비하고 있다. 구동부(5)는, Z축에 평행한 회전축 둘레로 본딩 툴(2)을 회전시키는 모터, 해당 모터를 구동하는 서보 앰프 등을 더 구비해도 좋다.The driving unit 5 receives commands from the motors 52X, 52Y, and 52Z that move the bonding tool 2 in the ) is equipped with servo amplifiers (51X, 51Y, 51Z) that drive. The drive unit 5 may further include a motor for rotating the bonding tool 2 around a rotation axis parallel to the Z-axis, a servo amplifier for driving the motor, etc.

궤적 연산부(41)는, 본딩 툴(2)의 이동처의 좌표(X, Y, Z)를 주기적으로 갱신하고, 구동부(5)는, 궤적 연산부(41)로부터 주어진 좌표로 본딩 툴(2)을 순차 이동시키는 것이 특징 중 하나이다. 이하의 설명에서, 각 주기에서의 갱신 전 좌표를 「제1 좌표」 또는 「이동원(元)의 좌표」라고 부르고, 갱신 후의 좌표를 「제2 좌표」 또는 「이동처의 좌표」라고 부르는 경우가 있다. 각 주기에서, 갱신 전의 좌표와 갱신 후의 좌표는 동일해도 좋다. 그 경우, 해당 주기의 이동량은 제로이며, 본딩 툴(2)은 이동하지 않고 그 자리에 정지할 수 있다.The trajectory calculation unit 41 periodically updates the coordinates (X, Y, Z) of the moving destination of the bonding tool 2, and the drive unit 5 moves the bonding tool 2 with the coordinates given from the trajectory calculation unit 41. One of the characteristics is that it moves sequentially. In the following description, the coordinates before update in each cycle are called "first coordinates" or "coordinates of movement source," and the coordinates after update are called "second coordinates" or "coordinates of movement destination." there is. In each cycle, the coordinates before update and the coordinates after update may be the same. In that case, the amount of movement in that cycle is zero, and the bonding tool 2 can stop in place without moving.

이상과 같이 구성된 본딩 장치(1)에 의하면, 초기 위치(0, 0, 0)로부터 목표 위치(Sx, Sy, Sz)까지의 모든 행정의 이동 궤적을 산출하여 본딩 툴(2)을 이동시키는 것이 아니라, 각 주기에서의 미소 이동의 이동 궤적을 반복하여 산출하고, 그것들을 서로 연결하여 본딩 툴(2)을 이동시키기 때문에, 본딩 툴(2)의 감속중에도 목표 위치(Sx, Sy, Sz)의 변경이 가능해지고, 연속적으로 변경 후의 목표 위치(Sx+Xdc, Sy+Ydc, Sz)로의 이동이 가능해진다. 낭비되는 시간을 최소한으로 하여 전자 부품(D)을 기판(F)의 목표 위치(Sx, Sy, Sz)에 실장할 수 있다.According to the bonding device 1 configured as above, the movement trajectory of all strokes from the initial position (0, 0, 0) to the target position (S x , S y , S z ) is calculated and the bonding tool 2 is used. Instead of moving it, the movement trajectory of the micro-movement in each cycle is repeatedly calculated and connected to each other to move the bonding tool 2, so even during deceleration of the bonding tool 2, the target position (S x , S y , S z ) can be changed, and continuous movement to the target position (S x + Electronic components (D) can be mounted at target positions (S x , S y , S z ) on the board (F) with minimal wasted time.

본딩 툴(2)의 좌표(X, Y, Z)를 갱신하는 주기가 충분히 작을 때, 초기 위치(0, 0, 0)로부터 목표 위치(Sx, Sy, Sz)까지의 모든 행정의 이동 궤적을 출력하는 경우와 비교하여 본딩 툴(2)의 이동 궤적을 매끄럽게 변경할 수 있다. 궤적 연산부(41)가 좌표를 갱신하는 주기는, 예를 들면, 400μsec 이내가 바람직하고, 200μsec 이내가 보다 바람직하다.When the cycle of updating the coordinates (X, Y, Z) of the bonding tool (2) is sufficiently small, all strokes from the initial position (0, 0, 0) to the target position (S x , S y , S z ) Compared to the case where the movement trajectory is output, the movement trajectory of the bonding tool 2 can be changed smoothly. The cycle at which the trajectory calculation unit 41 updates the coordinates is preferably within 400 μsec, and more preferably within 200 μsec, for example.

도 3a는, 도 1에 도시된 본딩 툴(2)과 전자 부품(D)이 어긋나지 않은 경우의 본딩 툴(2)의 이동 궤적을 나타내는 단면도이고, 도 3b는, 도 1에 도시된 본딩 툴(2)과 전자 부품(D)이 어긋나 있는 경우의 본딩 툴(2)의 이동 궤적을 도시한 단면도이다. 전자 부품(D)을 픽업할 때에, 본딩 툴(2)과 전자 부품(D) 간의 사이에 위치 어긋남이 발생하는 경우가 있다. 본딩 툴(2)이 흡착 콜릿인 경우, Z방향의 위치 어긋남이 발생하기 어렵기 때문에, 도 3b에 도시한 바와 같이, XY평면에 평행한 위치 어긋남이 발생한다.FIG. 3A is a cross-sectional view showing the movement trace of the bonding tool 2 shown in FIG. 1 when the electronic component D is not misaligned, and FIG. 3B is a cross-sectional view showing the bonding tool 2 shown in FIG. 1 ( This is a cross-sectional view showing the movement trace of the bonding tool 2 when 2) and the electronic component D are misaligned. When picking up the electronic component D, positional misalignment may occur between the bonding tool 2 and the electronic component D. When the bonding tool 2 is a suction collet, positional deviation in the Z direction is unlikely to occur, so positional deviation parallel to the XY plane occurs, as shown in FIG. 3B.

궤적 연산부(41)는, 측정부(6)가 측정한 어긋남량(-Xdc, -Ydc, 0)을 수신하면, 가산된 보정치의 총합(Xdc, Ydc, 0)에 의해 어긋남량(-Xdc, -Ydc, 0)을 상쇄하도록, 주기적으로 갱신되는 제2 좌표의 각각에 어긋남량(-Xdc, -Ydc, 0)에 따른 보정치를 가산한다. 그 결과, 도 3b에 도시한 바와 같이, 본딩 툴(2)의 이동 궤적이 변화하여 본딩 툴(2)과 전자 부품(D) 사이에 위치 어긋남이 발생하더라도 전자 부품(D)을 기판(F)의 목표 위치(Sx, Sy, Sz)에 실장할 수 있다. When the trajectory calculation unit 41 receives the amount of deviation ( - A correction value according to the amount of deviation (-X dc , -Y dc , 0) is added to each of the periodically updated second coordinates to offset (-X dc , -Y dc , 0). As a result, as shown in FIG. 3B, even if the movement trajectory of the bonding tool 2 changes and a positional misalignment occurs between the bonding tool 2 and the electronic component D, the electronic component D is connected to the substrate F. It can be mounted at the target location (S x , S y , S z ).

본 발명의 일실시 형태의 본딩 장치(1)는, 궤적 연산부(41)가 초기 위치(0, 0, 0)로부터 목표 위치(Sx, Sy, Sz)까지의 모든 행정의 이동 궤적을 산출하고, 어긋남량(-Xdc, -Ydc, 0)을 산출하면 기존의 이동 궤적으로부터 보정 후의 목표 위치를 향하는 이동 궤적으로 환승하여 위치 보정을 하는 것이 아니라, 각 주기에서 보정치를 포함한 미소 이동의 이동 궤적을 반복하여 산출하고, 그것들을 서로 연결하여 본딩 툴(2)을 이동시킨다. 다수의 이동 궤적 중 어느 이동 궤적으로부터도 보정치의 가산을 개시할 수 있기 때문에, 연속적으로 보정 후의 목표 위치(Sx+Xdc, Sy+Ydc, Sz)로의 이동이 가능해진다. 도 3b에 도시한 바와 같이, 변경 전후의 이동 궤적이 매끄럽게 연속되어 있기 때문에, 낭비되는 시간을 최소한으로 할 수 있다.In the bonding device 1 of one embodiment of the present invention, the trajectory calculation unit 41 calculates the movement trajectory of all strokes from the initial position (0, 0, 0) to the target position (S x , S y , S z ). When calculating the amount of deviation ( - The movement trajectories of are calculated repeatedly, and they are connected to each other to move the bonding tool 2. Since addition of the correction value can be started from any of the multiple movement trajectories, continuous movement to the corrected target position (S x +X dc , S y + Y dc , S z ) becomes possible. As shown in FIG. 3B, since the movement trajectory before and after the change continues smoothly, wasted time can be minimized.

본 발명의 일실시 형태의 본딩 장치(1)가 본딩 툴(2)의 이동 궤적을 변경하는 형태는, 본딩 툴(2)과 전자 부품(D) 간의 위치 보정으로 한정되지는 않는다. 예를 들면, 어긋남 폭이 어느 정도 큰 목표 위치를 향해 초기 위치로부터 본딩 툴(2)이 이동을 개시하고, 본딩 툴(2)의 이동중에 제어부(4)가 상세한 목표 위치를 외부 장치로부터 연락받아 이동 개시시의 목표 위치와는 다른 목표 위치로 이동 궤적을 변경하는 형태로 본딩 장치(1)를 이용해도 좋다.The form in which the bonding device 1 of one embodiment of the present invention changes the movement trajectory of the bonding tool 2 is not limited to position correction between the bonding tool 2 and the electronic component D. For example, the bonding tool 2 starts moving from the initial position toward a target position with a relatively large deviation width, and while the bonding tool 2 is moving, the control unit 4 receives detailed target position information from an external device. The bonding device 1 may be used in a form that changes the movement trajectory to a target position different from the target position at the start of movement.

도 4는, 본 발명의 일실시 형태의 본딩 방법의 일례로서, 도 1에 도시된 본딩 장치(1)를 이용하는 본딩 방법(순서 S1∼S13)을 도시한 흐름도이다. 도 4에 도시한 바와 같이, 본딩 방법은, 우선, 본딩 툴(2)을 이용하여 전자 부품(D)을 초기 위치(0, 0, 0)로부터 픽업한다(순서 S1).FIG. 4 is a flowchart showing a bonding method (steps S1 to S13) using the bonding device 1 shown in FIG. 1 as an example of a bonding method according to an embodiment of the present invention. As shown in FIG. 4, the bonding method first picks up the electronic component D from the initial position (0, 0, 0) using the bonding tool 2 (step S1).

다음으로, 본딩 툴(2)의 좌표(X, Y, Z)를 제1 좌표로부터 제2 좌표로 주기적으로 갱신하고(순서 S2), 갱신된 좌표(X, Y, Z)로 구동부(5)가 본딩 툴(2)을 이동시킨다(순서 S3). 본딩 툴(2)이 카메라(61)의 광축(61Z)상에 도달할 때까지 순서 S2∼S3을 반복한다(순서 S4:No).Next, the coordinates (X, Y, Z) of the bonding tool 2 are periodically updated from the first coordinate to the second coordinate (step S2), and the driver 5 is adjusted to the updated coordinates (X, Y, Z). Move the bonding tool 2 (step S3). Steps S2 to S3 are repeated until the bonding tool 2 reaches the optical axis 61Z of the camera 61 (step S4: No).

본딩 툴(2)이 카메라(61)의 광축(61Z)상에 도달했을 때(순서 S4:Yes), 카메라(61)가 본딩 툴(2)에 보유지지된 전자 부품(D)을 촬상한다(순서 S5). 촬상 후에도 본딩 툴(2)의 좌표(X, Y, Z)를 제1 좌표로부터 제2 좌표로 주기적으로 갱신하고(순서 S6), 갱신된 좌표(X, Y, Z)로 구동부(5)가 본딩 툴(2)을 이동시킨다(순서 S7).When the bonding tool 2 reaches the optical axis 61Z of the camera 61 (step S4: Yes), the camera 61 captures an image of the electronic component D held by the bonding tool 2 ( Sequence S5). Even after imaging, the coordinates (X, Y, Z) of the bonding tool 2 are periodically updated from the first coordinates to the second coordinates (step S6), and the driver 5 is moved to the updated coordinates (X, Y, Z). Move the bonding tool 2 (step S7).

측정부(6)의 화상 처리부(62)가, 촬상된 화상으로부터 어긋남량(-Xdc, -Ydc, 0)을 측정할 때까지 순서 S6∼S7을 반복한다(순서 S8:No). 화상 처리부(62)가, 촬상된 화상으로부터 어긋남량(-Xdc, -Ydc, 0)을 측정하면(순서 S8:Yes), 측정부(6)의 제어부(4)에 연락한다.Steps S6 to S7 are repeated until the image processing unit 62 of the measurement unit 6 measures the amount of deviation (-X dc , -Y dc , 0) from the captured image (step S8: No). When the image processing unit 62 measures the amount of deviation (-X dc , -Y dc , 0) from the captured image (step S8: Yes), it contacts the control unit 4 of the measurement unit 6.

어긋남량(-Xdc, -Ydc, 0)을 수신한 제어부(4)에서는, 궤적 연산부(41)가, 제1 좌표로부터 제2 좌표로 주기적으로 갱신한 후(순서 S9), 갱신된 제2 좌표의 각각에 어긋남량(-Xdc, -Ydc, 0)에 따른 미소한 보정치를 가산함으로써 본딩 툴(2)의 좌표(X, Y, Z)를 약간씩 위치 보정하여 갱신한다. 구동부(5)는, 갱신된 좌표(X, Y, Z)로 본딩 툴(2)를 이동시킨다(순서 S11).In the control unit 4 that has received the deviation amount ( - By adding a small correction value according to the amount of deviation (-X dc , -Y dc , 0) to each of the two coordinates, the coordinates (X, Y, Z) of the bonding tool 2 are slightly corrected and updated. The drive unit 5 moves the bonding tool 2 to the updated coordinates (X, Y, Z) (step S11).

본딩 툴(2)이 보정 후의 목표 위치(Sx+Xdc, Sy+Ydc, Sz)에 도달할 때까지 순서 S9∼S11을 반복한다(순서 12:No). 본딩 툴(2)이 보정 후의 목표 위치(Sx+Xdc, Sy+Ydc, Sz)에 도달하면(순서 S12:Yes), 본딩 툴(2)이 전자 부품(D)을 기판(F)의 목표 위치(Sx, Sy, Sz)에 실장한다(순서 S13).Steps S9 to S11 are repeated until the bonding tool 2 reaches the target position (S x +X dc , S y + Y dc , S z ) after correction (step 12: No). When the bonding tool 2 reaches the target position (S x + Mount at the target position (S x , S y , S z ) (step S13).

본 발명의 일실시 형태의 프로그램은, 도 1에 도시된 본딩 장치(1)에 도 4에 도시한 본딩 방법(순서 S1∼S13)을 실행시킨다. 프로그램은, 본딩 장치(1)의 하드 디스크 드라이브나 플래쉬 메모리 등의 기억 장치에 저장되어 있어도 좋고, 광디스크 등의 착탈 가능한 기억 매체에 저장되어 있으며, 기억 매체가 드라이브 장치에 장착됨으로써 본딩 장치(1)의 기억 장치에 인스톨되도록 되어 있어도 좋다. 본 발명의 일실시 형태의 본딩 장치(1)에 관한 이러한 기술에 의하면, 낭비되는 시간을 최소한으로 하여 전자 부품(D)을 기판(F)의 목표 위치(Sx, Sy, Sz)에 실장할 수 있다.The program of one embodiment of the present invention causes the bonding device 1 shown in FIG. 1 to execute the bonding method (steps S1 to S13) shown in FIG. 4. The program may be stored in a storage device such as a hard disk drive or flash memory of the bonding device 1, or may be stored in a removable storage medium such as an optical disk, and is stored in the bonding device 1 when the storage medium is mounted on the drive device. It may be installed on a storage device. According to this technology regarding the bonding device 1 of one embodiment of the present invention, the electronic component D is positioned at the target position (S x , S y , S z ) on the substrate F with minimal wasted time. It can be installed.

이상 설명한 실시 형태는, 본 발명의 이해를 용이하게 하기 위한 것으로서, 본 발명을 한정하여 해석하기 위한 것은 아니다. 실시 형태가 구비한 각 요소 및 그 배치, 재료, 조건, 형상 및 사이즈 등은 예시한 것으로 한정되지는 않으며 적절히 변경할 수 있다. 또 다른 실시 형태에서 나타낸 구성끼리 부분적으로 치환 또는 조합할 수 있다.The embodiments described above are intended to facilitate understanding of the present invention and are not intended to limit or interpret the present invention. Each element included in the embodiment and its arrangement, materials, conditions, shape, size, etc. are not limited to the examples and can be changed as appropriate. The components shown in another embodiment can be partially substituted or combined.

[부기 1][Appendix 1]

본딩 장치(1)는, 전자 부품(D)을 기판(F)에 본딩하는 본딩 장치로서, 전자 부품(D)을 초기 위치(0, 0, 0)로부터 픽업하여 기판(F)상의 목표 위치(Sx, Sy, Sz)에 본딩하는 본딩 툴(2)과, 본딩 툴(2)을 이동시키는 구동부(5)와, 본딩 툴(2)의 좌표(X, Y, Z)를, 제1 좌표로부터 제2 좌표로 소정 시간 간격으로 주기적으로 갱신하고, 제1 좌표로부터 제2 좌표로의 이동량의 총합(Sx, Sy, Sz)에 기초하여, 본딩 툴(2)을 초기 위치(0, 0, 0)로부터 목표 위치(Sx, Sy, Sz)로 이동하도록 구동부(5)를 제어하는 제어부(4)를 구비하고 있다.The bonding device 1 is a bonding device that bonds the electronic component D to the substrate F, and picks up the electronic component D from the initial position (0, 0, 0) and moves it to the target position ( The bonding tool 2 for bonding to S Periodically updates from the first coordinate to the second coordinate at predetermined time intervals, and moves the bonding tool 2 to the initial position based on the total amount of movement (S x , S y , S z ) from the first coordinate to the second coordinate. It is provided with a control unit 4 that controls the drive unit 5 to move from (0, 0, 0) to the target position (S x , S y , S z ).

상기 부기 1에 의하면, 초기 위치(0, 0, 0)로부터 목표 위치(Sx, Sy, Sz)까지의 모든 행정의 이동 궤적을 산출하여 본딩 툴(2)을 이동시키는 것이 아니라, 각 주기에서의 미소 이동의 이동 궤적을 반복하여 산출하고, 그것들을 서로 연결하여 본딩 툴(2)을 이동시키기 때문에, 감속중에도 목표 위치(Sx, Sy, Sz)의 변경이 가능해지고, 연속적으로 변경 후의 목표 위치(Sx+Xdc, Sy+Ydc, Sz)로 이동이 가능해진다. 낭비되는 시간을 최소한으로 하여 전자 부품(D)을 기판(F)의 목표 위치(Sx, Sy, Sz)에 실장할 수 있는 본딩 장치(1)에 관한 기술을 제공할 수 있다.According to Supplementary Note 1, the bonding tool 2 is not moved by calculating the movement trajectory of all strokes from the initial position (0, 0, 0) to the target position (S x , S y , S z ), but each Since the movement trajectories of small movements in a cycle are repeatedly calculated and the bonding tool 2 is moved by connecting them to each other, the target position (S x , S y , S z ) can be changed even during deceleration, and continuous It becomes possible to move to the target position (S x + It is possible to provide technology regarding a bonding device 1 that can mount electronic components D at target positions S x , S y , and S z on a substrate F with minimal wasted time.

[부기 2][Appendix 2]

상기 부기 1에서, 본딩 툴(2)과 전자 부품(D) 간의 어긋남량(-Xdc, -Ydc, 0)을 측정하는 측정부(6)를 더 구비하고, 제어부(4)는, 주기적으로 갱신되는 제2 좌표의 각각에 어긋남량(-Xdc, -Ydc, 0)에 따른 보정치를 가산하고, 가산된 보정치의 총합(Xdc, Ydc, 0)에 기초하여 어긋남량(-Xdc, -Ydc, 0)을 보정해도 좋다.In Supplementary Note 1, it is further provided with a measuring unit 6 that measures the amount of misalignment (-X dc , -Y dc , 0) between the bonding tool 2 and the electronic component D, and the control unit 4 periodically measures A correction value according to the amount of deviation ( - You may correct X dc , -Y dc , 0).

[부기 7][Appendix 7]

본딩 방법(순서 S1∼S13)은, 본딩 툴(2)을 이용하여 전자 부품(D)을 초기 위치(0, 0, 0)로부터 픽업하는 것(순서 S1), 본딩 툴(2)의 좌표(X, Y, Z)를 제1 좌표로부터 제2 좌표로 주기적으로 갱신하는 것(순서 S2, S9, S12), 본딩 툴(2)에 보유지지된 전자 부품(D)을 촬상하는 것(순서 S5), 촬상된 화상으로부터, 본딩 툴과 전자 부품 간의 어긋남량을 측정하는 것(순서 S8), 주기적으로 갱신되는 제2 좌표의 각각에 어긋남량(-Xdc, -Ydc, 0)에 따른 보정치를 가산하는 것(순서 S10), 및 본딩 툴(2)을 이동시키는 구동부(5)를 제어하여, 제1 좌표로부터 제2 좌표로의 이동량의 총합(Sx+Xdc, Sy+Ydc, Sz)에 기초하여, 본딩 툴(2)을 초기 위치(0, 0, 0)로부터 어긋남량(-Xdc, -Ydc, 0)이 보정된 목표 위치(Sx+Xdc, Sy+Ydc, Sz)로 이동시키고(순서 S12), 본딩 툴(2)에 보유지지된 전자 부품(D)을 기판(F)상의 목표 위치(Sx, Sy, Sz)에 실장하는 것(순서 S13), 을 포함하고 있다.The bonding method (sequences S1 to S13) involves picking up the electronic component D from the initial position (0, 0, 0) using the bonding tool 2 (sequence S1), and selecting the coordinates of the bonding tool 2 (sequence S1). Periodically updating ), measuring the amount of misalignment between the bonding tool and the electronic component from the captured image (step S8), correction values according to the amount of misalignment (-X dc , -Y dc , 0) for each of the periodically updated second coordinates (step S10), and controlling the drive unit 5 that moves the bonding tool 2 to obtain the total amount of movement from the first coordinate to the second coordinate (S x +X dc , S y + Y dc , S Based on z ), the bonding tool 2 is moved to the target position (S x + , S z ) (step S12), and mounting the electronic component D held by the bonding tool 2 at the target position (S x , S y , S z ) on the substrate F (step S12). S13), includes.

[부기 8][Appendix 8]

프로그램은, 본딩 툴(2)을 이용하여 전자 부품(D)을 초기 위치(0, 0, 0)로부터 픽업하는 것(순서 S1), 본딩 툴(2)의 좌표(X, Y, Z)를 제1 좌표로부터 제2 좌표로 주기적으로 갱신하는 것(순서 S2, S9, S12), 본딩 툴(2)에 보유지지된 전자 부품(D)을 촬상하는 것(순서 S5), 촬상된 화상으로부터, 본딩 툴과 전자 부품 간의 어긋남량을 측정하는 것(순서 S8), 주기적으로 갱신되는 제2 좌표의 각각에 어긋남량(-Xdc, -Ydc, 0)에 따른 보정치를 가산하는 것(순서 S10), 및 본딩 툴(2)을 이동시키는 구동부(5)를 제어하여, 제1 좌표로부터 제2 좌표로의 이동량의 총합(Sx+Xdc, Sy+Ydc, Sz)에 기초하여, 본딩 툴(2)을 초기 위치(0, 0, 0)로부터 어긋남량(-Xdc, -Ydc, 0)이 보정된 목표 위치(Sx+Xdc, Sy+Ydc, Sz)로 이동시키고(순서 S12), 본딩 툴(2)에 보유지지된 전자 부품(D)을 기판(F)상의 목표 위치(Sx, Sy, Sz)에 실장하는 것(순서 S13), 을 본딩 장치(1)에 실행시킨다.The program picks up the electronic component D from the initial position (0, 0, 0) using the bonding tool 2 (step S1), and sets the coordinates (X, Y, Z) of the bonding tool 2. Periodically updating from the first coordinate to the second coordinate (steps S2, S9, S12), taking an image of the electronic component D held in the bonding tool 2 (step S5), from the captured image, Measuring the amount of misalignment between the bonding tool and the electronic component (step S8), adding a correction value according to the amount of misalignment (-X dc , -Y dc , 0) to each of the periodically updated second coordinates (step S10) ), and controlling the drive unit 5 that moves the bonding tool 2, based on the total amount of movement from the first coordinate to the second coordinate (S x + Move the tool (2 ) from the initial position (0, 0 , 0) to the target position (S x + (step S12), mounting the electronic component D held by the bonding tool 2 at the target position (S x , S y , S z ) on the substrate F (step S13), the bonding device ( Run it in 1).

상기 부기 2 및 상기 부기 7 및 8에 의하면, 측정부(6)를 이용하여 측정한 본딩 툴(2)과 전자 부품(D) 간의 어긋남량(-Xdc, -Ydc, 0)을, 가산된 보정치의 총합(Xdc, Ydc, 0)에 기초하여 보정할 수 있다. 전자 부품(D)을 픽업할 때에, 본딩 툴(2)과 전자 부품(D) 사이에 위치 어긋남이 발생하더라도 기판(F)의 목표 위치(Sx+Xdc, Sy+Ydc, Sz)에 전자 부품(D)을 고정밀도로 실장할 수 있다.According to Supplementary Note 2 and Supplementary Notes 7 and 8, the amount of misalignment (-X dc , -Y dc , 0) between the bonding tool 2 and the electronic component D measured using the measuring unit 6 is added. Correction can be made based on the total of the corrected correction values (X dc , Y dc , 0). When picking up the electronic component (D), even if a positional misalignment occurs between the bonding tool (2) and the electronic component ( D ) , the target position (S x + Electronic components (D) can be mounted with high precision.

[부기 3][Appendix 3]

상기 부기 2에서, 측정부(6)는, 본딩 툴(2)에 보유지지된 전자 부품(D)을 촬상 가능한 카메라(61)를 더 구비하고, 촬상된 화상으로부터 어긋남량(-Xdc, -Ydc, 0)을 측정해도 좋다.In the above Supplementary Note 2, the measurement unit 6 further includes a camera 61 capable of capturing an image of the electronic component D held by the bonding tool 2, and a deviation amount (- Y dc , 0) may be measured.

상기 부기 3에 의하면, 카메라(61)에 의해 촬상된 화상으로부터 비접촉으로 고정밀도로 어긋남량(-Xdc, -Ydc, 0)을 측정할 수 있다. According to Supplementary Note 3 above, the amount of deviation ( -

[부기 4][Book 4]

상기 부기 2에서, 가산된 보정치의 총합(Xdc, Ydc, 0)은, XY평면에 평행한 수평 이동이어도 좋다.In Supplementary Note 2 above, the total of the added correction values (X dc , Y dc , 0) may be a horizontal movement parallel to the XY plane.

흡착 콜릿을 이용하여 픽업하면, Z방향의 위치 어긋남이 발생하기 어렵다. 상기 부기 4에 의하면, 본딩 툴(2)이 흡착 콜릿인 경우에 적합하다. 본딩 툴(2)은 흡착 콜릿으로 한정되지 않으며, 척 등이어도 좋다.When picked up using a suction collet, positional deviation in the Z direction is unlikely to occur. According to Supplementary Note 4 above, it is suitable when the bonding tool 2 is a suction collet. The bonding tool 2 is not limited to a suction collet, and may be a chuck or the like.

[부기 5][Appendix 5]

상기 부기 1 내지 4 중 어느 하나에서, 제어부(4)는, 하기 식(1), (2)를 이용하여 제2 좌표를 산출해도 좋다.In any of the above Supplementary Notes 1 to 4, the control unit 4 may calculate the second coordinates using the following equations (1) and (2).

X, Y: 좌표X, Y: Coordinates

Sx, Sy: 목표 위치의 좌표Sx, Sy: Coordinates of target location

Cx0∼Cx7, Cy0∼Cy7: 계수C x0 ∼C x7 , C y0 ∼C y7 : coefficients

tx, ty: 이동 개시로부터의 경과 시간t x , t y : Elapsed time from movement start

Tx, Ty: 이동 개시로부터 이동 종료까지의 이동 시간T x , T y : Movement time from movement start to movement end

상기 부기 5에 의하면, 초기 위치(0, 0, 0)와 목표 위치(Sx, Sy, Sz)와의 사이에 있는 장애물(예를 들면, 카메라(61), 스테이지(3)의 가이드)을 7차식으로 산출되는 매끄러운 이동 궤적으로 피하면서 본딩 툴(2)을 이동시킬 수 있다.According to Supplementary Note 5 above, obstacles (e.g., camera 61, guide of stage 3) between the initial position (0, 0, 0) and the target position (S x , S y , S z ) The bonding tool 2 can be moved while avoiding the smooth movement trajectory calculated by the 7th equation.

[부기 6][Appendix 6]

상기 부기 2 내지 4 중 어느 하나에서, 제어부(4)는, 하기 식(3), (4)를 이용하여 보정치를 가산한 제2 좌표를 산출해도 좋다.In any of the above Supplementary Notes 2 to 4, the control unit 4 may calculate the second coordinates by adding the correction value using the following equations (3) and (4).

X, Y: 좌표X, Y: Coordinates

Sx, Sy: 목표 위치의 좌표Sx, Sy: Coordinates of target location

Xdc, Ydc: 어긋남량을 상쇄하는 보정치X dc , Y dc : Correction value to offset the amount of misalignment

Cx0∼Cx7, Cy0∼Cy7: 계수C x0 ∼C x7 , C y0 ∼C y7 : coefficients

tx, ty: 이동 개시로부터의 경과 시간t x , t y : Elapsed time from movement start

Tx, Ty: 이동 개시로부터 이동 종료까지의 이동 시간T x , T y : Movement time from movement start to movement end

tdx, tdy: 보정 개시로부터의 경과 시간t dx , t dy : Elapsed time from correction start

Tdx, Tdy: 보정 개시로부터 이동 종료까지의 이동 시간T dx , T dy : Movement time from correction start to movement end

상기 부기 6에 의하면, 주기적으로 갱신되는 제2 좌표의 각각에 가산되는 보정치가 보정 전의 이동 궤적과 마찬가지의 7차식으로 산출되기 때문에, 보정치를 가산한 각 주기에서의 이동 궤적을 매끄럽게 연결할 수 있다.According to Supplementary Note 6 above, since the correction value added to each of the periodically updated second coordinates is calculated using the same 7th-order equation as the movement trajectory before correction, the movement trajectory in each period to which the correction value is added can be smoothly connected.

1…본딩 장치, 2…본딩 툴, 3…스테이지, 4…제어부, 5…구동부, 6…측정부, 41…궤적 연산부, 51X, 51Y, 51Z…서보 앰프, 52X, 52Y, 52Z…모터, 61…카메라, 61Z…카메라의 광축, 62…화상 처리부, D…전자 부품, F…기판.One… Bonding device, 2… Bonding tool, 3… Stage, 4… Control unit, 5… Drive part, 6… Measuring part, 41... Trajectory calculation unit, 51X, 51Y, 51Z… Servo amplifiers, 52X, 52Y, 52Z… Motor, 61… Camera, 61Z… The optical axis of the camera, 62… Image processing unit, D… Electronic components, F… Board.

Claims (8)

전자 부품을 기판에 본딩하는 본딩 장치로서,
상기 전자 부품을 초기 위치에서 픽업하여 상기 기판 위의 목표 위치에 본딩하는 본딩 툴과,
상기 본딩 툴을 이동시키는 구동부와,
상기 본딩 툴의 좌표를, 제1 좌표로부터 제2 좌표로 소정 시간 간격으로 주기적으로 갱신하고, 상기 제1 좌표에서 상기 제2 좌표로의 이동량의 총합에 기초하여 상기 본딩 툴을 상기 초기 위치에서 상기 목표 위치로 이동하도록 상기 구동부를 제어하는 제어부를 구비하는 본딩 장치.
A bonding device for bonding electronic components to a substrate,
a bonding tool that picks up the electronic component from an initial position and bonds it to a target position on the substrate;
A driving unit that moves the bonding tool,
The coordinates of the bonding tool are periodically updated from the first coordinate to the second coordinate at predetermined time intervals, and the bonding tool is moved from the initial position based on the total amount of movement from the first coordinate to the second coordinate. A bonding device including a control unit that controls the driving unit to move to a target position.
청구항 1에 있어서,
상기 본딩 툴과 상기 전자 부품 간의 어긋남량을 측정하는 측정부를 더 구비하고,
상기 제어부는, 주기적으로 갱신되는 상기 제2 좌표의 각각에 상기 어긋남량에 따른 보정치를 가산하고, 가산된 보정치의 총합에 기초하여 상기 어긋남량을 보정하는 본딩 장치.
In claim 1,
Further comprising a measuring unit that measures the amount of misalignment between the bonding tool and the electronic component,
The bonding device wherein the control unit adds a correction value according to the amount of misalignment to each of the periodically updated second coordinates, and corrects the amount of misalignment based on the total of the added correction values.
청구항 2에 있어서,
상기 측정부는, 상기 본딩 툴에 보유지지된 상기 전자 부품을 촬상 가능한 카메라를 더 구비하고, 촬상된 화상으로부터 상기 어긋남량을 측정하는 본딩 장치.
In claim 2,
A bonding device wherein the measuring unit further includes a camera capable of capturing an image of the electronic component held by the bonding tool, and measures the amount of deviation from the captured image.
청구항 2에 있어서,
상기 가산된 보정치의 총합은, XY평면에 평행한 수평 이동인 본딩 장치.
In claim 2,
A bonding device where the total of the added correction values is a horizontal movement parallel to the XY plane.
청구항 1에 있어서,
상기 제어부는, 하기 식(1), (2)를 이용하여 상기 제2 좌표를 산출하는 본딩 장치.

X, Y: 좌표
Sx, Sy: 목표 위치의 좌표
Cx0∼Cx7, Cy0∼Cy7: 계수
tx, ty: 이동 개시로부터의 경과 시간
Tx, Ty: 이동 개시로부터 이동 종료까지의 이동 시간
In claim 1,
The bonding device wherein the control unit calculates the second coordinates using the following equations (1) and (2).

X, Y: Coordinates
Sx, Sy: Coordinates of target location
C x0 ∼C x7 , C y0 ∼C y7 : coefficients
t x , t y : Elapsed time from movement start
T x , T y : Movement time from movement start to movement end
청구항 2에 있어서,
상기 제어부는, 하기 식(3), (4)를 이용하여 상기 보정치를 가산한 상기 제2 좌표를 산출하는 본딩 장치.

X, Y: 좌표
Sx, Sy: 목표 위치의 좌표
Xdc, Ydc: 어긋남량을 상쇄하는 보정치
Cx0∼Cx7, Cy0∼Cy7: 계수
tx, ty: 이동 개시로부터의 경과 시간
Tx, Ty: 이동 개시로부터 이동 종료까지의 이동 시간
tdx, tdy: 보정 개시로부터의 경과 시간
Tdx, Tdy: 보정 개시로부터 이동 종료까지의 이동 시간
In claim 2,
The bonding device wherein the control unit calculates the second coordinates by adding the correction values using the following equations (3) and (4).

X, Y: Coordinates
Sx, Sy: Coordinates of target location
X dc , Y dc : Correction value to offset the amount of misalignment
C x0 ∼C x7 , C y0 ∼C y7 : coefficients
t x , t y : Elapsed time from movement start
T x , T y : Movement time from movement start to movement end
t dx , t dy : Elapsed time from correction start
T dx , T dy : Movement time from correction start to movement end
본딩 툴을 이용하여 전자 부품을 초기 위치로부터 픽업하는 것,
상기 본딩 툴의 좌표를 제1 좌표로부터 제2 좌표로 주기적으로 갱신하는 것,
상기 본딩 툴에 보유지지된 상기 전자 부품을 촬상하는 것,
촬상된 화상으로부터, 상기 본딩 툴과 상기 전자 부품 간의 어긋남량을 측정하는 것,
주기적으로 갱신되는 상기 제2 좌표의 각각에 상기 어긋남량에 따른 보정치를 가산하는 것, 및
상기 본딩 툴을 이동시키는 구동부를 제어하고, 상기 제1 좌표에서 상기 제2 좌표로의 이동량의 총합에 기초하여 상기 본딩 툴을 상기 초기 위치로부터 상기 어긋남량이 보정된 상기 목표 위치로 이동시키고, 상기 본딩 툴에 보유지지된 상기 전자 부품을 기판상의 목표 위치에 실장하는 것을 포함한 본딩 방법.
Picking up electronic components from their initial position using a bonding tool;
Periodically updating the coordinates of the bonding tool from first coordinates to second coordinates,
imaging the electronic component held in the bonding tool,
Measuring the amount of misalignment between the bonding tool and the electronic component from the captured image,
Adding a correction value according to the amount of deviation to each of the periodically updated second coordinates, and
Controlling a driving unit that moves the bonding tool, moving the bonding tool from the initial position to the target position where the amount of misalignment is corrected based on the total amount of movement from the first coordinate to the second coordinate, and A bonding method including mounting the electronic component held in a tool at a target position on a substrate.
본딩 툴을 이용하여 전자 부품을 초기 위치로부터 픽업하는 것,
상기 본딩 툴의 좌표를 제1 좌표로부터 제2 좌표로 주기적으로 갱신하는 것,
상기 본딩 툴에 보유지지된 상기 전자 부품을 촬상하는 것,
촬상된 화상으로부터, 상기 본딩 툴과 상기 전자 부품 간의 어긋남량을 측정하는 것,
주기적으로 갱신되는 상기 제2 좌표의 각각에 상기 어긋남량에 따른 보정치를 가산하는 것, 및
상기 본딩 툴을 이동시키는 구동부를 제어하고, 상기 제1 좌표에서 상기 제2 좌표로의 이동량의 총합에 기초하여 상기 본딩 툴을 상기 초기 위치로부터 상기 어긋남량이 보정된 상기 목표 위치로 이동시키고, 상기 본딩 툴에 보유지지된 상기 전자 부품을 기판상의 목표 위치에 실장하는 것을 본딩 장치에 실행시키기 위한 프로그램을 기록한 컴퓨터로 읽을 수 있는 매체.
Picking up electronic components from their initial position using a bonding tool;
Periodically updating the coordinates of the bonding tool from first coordinates to second coordinates,
imaging the electronic component held in the bonding tool,
Measuring the amount of misalignment between the bonding tool and the electronic component from the captured image,
Adding a correction value according to the amount of deviation to each of the periodically updated second coordinates, and
Controlling a driving unit that moves the bonding tool, moving the bonding tool from the initial position to the target position where the amount of misalignment is corrected based on the total amount of movement from the first coordinate to the second coordinate, and A computer-readable medium that records a program for causing a bonding device to mount the electronic component held in a tool at a target position on a board.
KR1020230177828A 2023-01-16 2023-12-08 Bonding device, bonding method and computer readable medium KR20240114259A (en)

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