KR20240106496A

KR20240106496A - 표시 장치

Info

Publication number: KR20240106496A
Application number: KR1020220189378A
Authority: KR
Inventors: 한종현; 이동훈; 문영규
Original assignee: 엘지디스플레이 주식회사
Filing date: 2022-12-29
Publication date: 2024-07-08

Abstract

본 명세서의 일 실시예에 따른 표시 장치는 표시 영역 및 상기 표시 영역 내의 비표시 영역을 포함하는 기판; 상기 표시 영역에 배치되는 복수의 발광 소자; 상기 복수의 발광 소자를 커버하는 봉지부; 상기 표시 영역에서 상기 봉지부 상에 배치되며, 제1 방향으로 연장되는 복수의 터치 감지 전극; 및 상기 표시 영역에서 상기 봉지부 상에 배치되며, 상기 제1 방향과 상이한 제2 방향으로 연장되는 복수의 터치 구동 전극을 포함하고, 상기 복수의 터치 감지 전극 각각은 서로 이격된 복수의 서브 터치 감지 전극을 포함하고, 상기 복수의 서브 터치 감지 전극 중 상기 비표시 영역과 인접하는 적어도 하나의 서브 터치 감지 전극은 나머지 서브 터치 감지 전극과 상이한 형상의 제1 이형 전극으로 구성된다. 이에, 표시 장치의 터치 성능을 개선할 수 있다.

Description

표시 장치{DISPLAY DEVICE}

본 명세서는 표시 장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 터치 성능을 개선할 수 있는 표시 장치에 관한 것이다.

최근 정보화 시대로 접어듦에 따라 전기적 정보신호를 시각적으로 표현하는 디스플레이(display) 분야가 급속도로 발전해 왔고, 이에 부응하여 박형화, 경량화, 저소비전력화의 우수한 성능을 지닌 여러 가지 다양한 표시장치(Display Device)가 개발되고 있다. 이러한 표시 장치의 구체적인 예로 액정 표시 장치(Liquid Crystal Display; LCD), 플라즈마 표시장치(Plasma Display Panel device: PDP), 전계 방출 표시장치(Field Emission Display device: FED), 유기 발광 표시장치(Organic Light Emitting Display Device: OLED) 등을 들 수 있다.

표시 장치는 사용자가 디스플레이 화면을 보면서 손가락이나 펜 등으로 화면을 터치하여 정보를 입력할 수 있도록 입력 장치를 구비할 수 있다. 일예로, 터치 입력을 감지하기 위한 터치 센서가 표시 장치의 일면에 부착되거나, 표시 장치와 일체로 형성되어 사용될 수 있다. 또한, 표시 장치는 카메라, 스피커 및 센서 등을 추가하여 발전하고 있다.

본 명세서가 해결하고자 하는 과제는 일부 서브 터치 감지 전극 또는 일부 서브 터치 구동 전극의 면적비를 변경함으로써, 관통홀에 의하여 유실된 터치 전극의 면적을 보상할 수 있는 표시 장치를 제공하는 것이다.

본 명세서가 해결하고자 하는 다른 과제는 일부 서브 터치 감지 전극 또는 일부 서브 터치 구동 전극의 유효 면적을 증가시킴으로써, 관통홀에 의하여 유실된 터치 전극의 면적을 보상할 수 있는 표시 장치를 제공하는 것이다.

본 명세서의 과제들은 이상에서 언급한 과제들로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 과제들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.

본 명세서의 일 실시예에 따른 표시 장치는 표시 영역 및 상기 표시 영역 내의 비표시 영역을 포함하는 기판; 상기 표시 영역에 배치되는 복수의 발광 소자; 상기 복수의 발광 소자를 커버하는 봉지부; 상기 표시 영역에서 상기 봉지부 상에 배치되며, 제1 방향으로 연장되는 복수의 터치 감지 전극; 및 상기 표시 영역에서 상기 봉지부 상에 배치되며, 상기 제1 방향과 상이한 제2 방향으로 연장되는 복수의 터치 구동 전극을 포함하고, 상기 복수의 터치 감지 전극 각각은 서로 이격된 복수의 서브 터치 감지 전극을 포함하고, 상기 복수의 서브 터치 감지 전극 중 상기 비표시 영역과 인접하는 적어도 하나의 서브 터치 감지 전극은 나머지 서브 터치 감지 전극과 상이한 형상의 제1 이형 전극으로 구성된다.

기타 실시예의 구체적인 사항들은 상세한 설명 및 도면들에 포함되어 있다.

본 명세서는 터치 전극에 포함된 복수의 서브 터치 감지 전극 또는 복수의 서브 터치 구동 전극 중 일부를 이형 전극으로 구성함으로써 터치 센싱 감도 저하를 방지할 수 있다.

본 명세서는 복수의 서브 터치 감지 전극 또는 복수의 서브 터치 구동 전극 중 일부에만 플로팅 전극이 형성됨으로써, 터치 센싱 감도를 향상시킬 수 있다.

본 명세서에 따른 효과는 이상에서 예시된 내용에 의해 제한되지 않으며, 더욱 다양한 효과들이 본 명세서 내에 포함되어 있다.

도 1은 본 명세서의 일 실시예에 따른 표시 장치의 개략적인 평면도이다.
도 2a는 도 1의 A의 확대도이다.
도 2b은 도 2a의 메쉬 구조를 도시한 평면도이다.
도 2c는 도 2b의 IIc-IIc'의 단면도이다.
도 3a는 도 1의 B의 확대도이다.
도 3b는 도 3a의 IIIb-IIIb'의 단면도이다.
도 4는 본 명세서의 다른 실시예에 따른 표시 장치의 평면도이다.
도 5는 본 명세서의 또 다른 실시예에 따른 표시 장치의 평면도이다.

본 명세서의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나, 본 명세서는 이하에서 개시되는 실시예들에 제한되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형상으로 구현될 것이며, 단지 본 실시예들은 본 명세서의 개시가 완전하도록 하며, 본 명세서가 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명세서의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이다.

본 명세서의 실시예를 설명하기 위한 도면에 개시된 형상, 면적, 비율, 각도, 개수 등은 예시적인 것이므로 본 명세서가 도시된 사항에 제한되는 것은 아니다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다. 또한, 본 명세서를 설명함에 있어서, 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 본 명세서의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명은 생략한다. 본 명세서 상에서 언급된 '포함한다', '갖는다', '이루어진다' 등이 사용되는 경우 '~만'이 사용되지 않는 이상 다른 부분이 추가될 수 있다. 구성 요소를 단수로 표현한 경우에 특별히 명시적인 기재 사항이 없는 한 복수를 포함하는 경우를 포함한다.

구성 요소를 해석함에 있어서, 별도의 명시적 기재가 없더라도 오차 범위를 포함하는 것으로 해석한다.

위치 관계에 대한 설명일 경우, 예를 들어, '~상에', '~상부에', '~하부에', '~옆에' 등으로 두 부분의 위치 관계가 설명되는 경우, '바로' 또는 '직접'이 사용되지 않는 이상 두 부분 사이에 하나 이상의 다른 부분이 위치할 수도 있다.

소자 또는 층이 다른 소자 또는 층 "위 (on)"로 지칭되는 것은 다른 소자 바로 위에 또는 중간에 다른 층 또는 다른 소자를 개재한 경우를 모두 포함한다.

또한 제 1, 제 2 등이 다양한 구성 요소들을 서술하기 위해서 사용되나, 이들 구성 요소들은 이들 용어에 의해 제한되지 않는다. 이들 용어들은 단지 하나의 구성 요소를 다른 구성 요소와 구별하기 위하여 사용하는 것이다. 따라서, 이하에서 언급되는 제 1 구성 요소는 본 명세서의 기술적 사상 내에서 제 2 구성 요소일 수도 있다.

명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다.

도면에서 나타난 각 구성의 면적 및 두께는 설명의 편의를 위해 도시된 것이며, 본 명세서가 도시된 구성의 면적 및 두께에 반드시 한정되는 것은 아니다.

본 명세서의 여러 실시예들의 각각 특징들이 부분적으로 또는 전체적으로 서로 결합 또는 조합 가능하고, 기술적으로 다양한 연동 및 구동이 가능하며, 각 실시예들이 서로에 대하여 독립적으로 실시 가능할 수도 있고 연관 관계로 함께 실시할 수도 있다.

이하에서는 도면을 참조하여 본 명세서에 대해 설명하기로 한다.

도 1은 본 명세서의 일 실시예에 따른 표시 장치의 개략적인 평면도이다. 도 1에서는 표시 장치(100)의 구성 요소 중 기판(110), 복수의 터치 전극(160, 170), 복수의 터치 라우팅 배선(RL1, RL2) 및 복수의 터치 패드(TP1, TP2)만을 도시하였다.

도 1을 참조하면, 본 명세서의 일 실시예에 따른 표시 장치(100)는 기판(110), 복수의 터치 전극(160, 170), 복수의 터치 라우팅 배선(RL1, RL2) 및 복수의 터치 패드(TP1, TP2)를 포함한다.

기판(110)은 표시 장치(100)의 다른 구성 요소를 지지하기 위한 지지 부재로, 절연 물질로 이루어질 수 있다. 예를 들어, 기판(110)은 유리 또는 수지 등으로 이루어질 수 있다. 또한, 기판(110)은 고분자 또는 폴리이미드(Polyimide, PI) 등과 같은 플라스틱을 포함하여 이루어질 수도 있고, 플렉서빌리티(flexibility)를 갖는 물질로 이루어질 수도 있다.

기판(110)은 표시 영역(AA), 제1 비표시 영역(NA1) 및 제2 비표시 영역(NA2)을 포함한다.

표시 영역(AA)은 영상을 표시하는 영역이다. 표시 영역(AA)에는 영상을 표시하기 위한 복수의 서브 화소 및 복수의 서브 화소를 구동하기 위한 구동 회로가 배치될 수 있다. 복수의 서브 화소 각각은 빛을 발광하는 개별 단위로, 복수의 서브 화소 각각에는 후술할 발광 소자(130)가 배치될 수 있다. 복수의 서브 화소는 적색 서브 화소, 녹색 서브 화소, 청색 서브 화소 및 백색 서브 화소를 포함할 수 있으나, 이에 제한되지 않는다. 구동 회로는 복수의 서브 화소를 구동하기 위한 다양한 트랜지스터, 스토리지 커패시터 및 배선 등을 포함할 수 있다. 예를 들어, 구동 회로는 구동 트랜지스터, 스위칭 트랜지스터, 센싱 트랜지스터, 스토리지 커패시터, 게이트 배선, 데이터 배선 등과 같은 다양한 구성 요소로 이루어질 수 있으나, 이에 제한되지 않는다.

제1 비표시 영역(NA1)은 영상이 표시되지 않는 영역으로, 표시 영역(AA)을 둘러싸도록 배치된다. 제1 비표시 영역(NA1)은 표시 영역(AA)에 배치된 복수의 서브 화소와 복수의 터치 전극(160, 170)을 구동하기 위한 다양한 배선, 패드, 구동 IC 등이 배치되는 영역이다. 예를 들어, 제1 비표시 영역(NA1)에는 게이트 구동부, 데이터 구동부, 터치 구동부와 같은 다양한 구동 IC 등이 배치될 수 있다.

제2 비표시 영역(NA2)은 영상이 표시되지 않는 영역으로, 표시 영역(AA) 내에 배치된다. 제2 비표시 영역(NA2)은 발광 소자(130) 및 복수의 터치 전극(160, 170)이 배치되지 않는 영역일 수 있다. 제2 비표시 영역(NA2)은 관통홀(TH)을 포함할 수 있다. 관통홀(TH)은 기판(110)을 관통하는 홀일 수 있다. 관통홀(TH)은 카메라 또는 광센서와 대응되도록 형성될 수 있다.

복수의 터치 전극(160, 170)은 표시 영역(AA)에 배치된다. 복수의 터치 전극(160, 170)은 복수의 터치 감지 전극(160) 및 복수의 터치 구동 전극(170)을 포함할 수 있다. 복수의 터치 감지 전극(160)과 복수의 터치 구동 전극(170)은 일부가 교차하도록 배치될 수 있다. 즉, 복수의 터치 감지 전극(160)과 복수의 터치 구동 전극(170)은 일부가 중첩하도록 배치될 수 있다.

복수의 터치 감지 전극(160)과 복수의 터치 구동 전극(170)은 표시 장치(100)에 입력되는 터치 입력을 감지할 수 있다. 이때, 터치 입력은 사용자의 손가락 또는 터치 펜에 의한 입력일 수 있다. 구체적으로, 표시 장치(100)의 특정 영역에 터치 동작이 이루어질 경우, 특정 영역과 인접한 복수의 터치 감지 전극(160)과 복수의 터치 구동 전극(170) 사이에는 정전 용량(capacitance) 변화가 발생할 수 있다. 표시 장치(100)는 이러한 정전 용량 변화를 감지하여 터치 좌표를 검출할 수 있다.

복수의 터치 감지 전극(160) 각각은 제1 방향을 따라 연장된다. 복수의 터치 감지 전극(160)은 제1 방향과 상이한 제2 방향에서 일정 간격을 갖도록 이격될 수 있다. 이에, 제2 방향에서 서로 이격된 복수의 터치 감지 전극(160)은 서로 전기적으로 절연될 수 있다. 여기서, 제1 방향과 제2 방향은 서로 교차하는 방향일 수 있다. 제1 방향은 도 1을 기준으로 가로 방향일 수 있고, 제2 방향은 도 1을 기준으로 세로 방향일 수 있으나, 이에 제한되지 않는다. 제1 방향으로 연장된 터치 감지 전극(160)은 특정 영역에서 분리될 수 있다. 구체적으로, 복수의 터치 감지 전극(160) 각각은 터치 감지 전극(160)과 터치 구동 전극(170)의 중첩 영역에서 분리되도록 형성될 수 있다. 분리된 터치 감지 전극(160)은 브릿지 전극(162)에 의하여 연결될 수 있다.

복수의 터치 구동 전극(170)은 제2 방향을 따라 연장된다. 복수의 터치 구동 전극(170)은 제2 방향에서 끊어지지 않고 연속적으로 형성될 수 있다. 복수의 터치 구동 전극(170)은 제1 방향에서 일정 간격을 갖도록 이격될 수 있다. 이에, 제1 방향에서 서로 이격된 복수의 터치 구동 전극(170)은 서로 전기적으로 절연될 수 있다.

복수의 터치 감지 전극(160)과 복수의 터치 구동 전극(170)은 서로 일정 간격을 갖도록 이격되어 배치될 수 있다. 이에, 복수의 터치 감지 전극(160)과 복수의 터치 구동 전극(170)은 서로 전기적으로 분리될 수 있다. 복수의 터치 감지 전극(160)과 복수의 터치 구동 전극(170)은 메탈 메쉬 구조를 가질 수 있다. 복수의 터치 감지 전극(160)과 복수의 터치 구동 전극(170)의 구체적 구조에 대해서는 도 2a 및 도 2b를 참조하여 후술하도록 한다. 한편, 본 발명에서는 복수의 터치 감지 전극(160)이 제1 방향으로 연장되고, 복수의 터치 구동 전극(170)이 제2 방향으로 연장되는 것을 기준으로 설명하였으나, 그 반대로 형성되어도 무방하다.

복수의 터치 라우팅 배선(RL1, RL2)은 제1 비표시 영역(NA)에 배치된다. 복수의 터치 라우팅 배선(RL1, RL2)은 복수의 제1 터치 라우팅 배선(RL1) 및 복수의 제2 터치 라우팅 배선(RL2)을 포함한다. 복수의 제1 터치 라우팅 배선(RL1)은 복수의 터치 감지 전극(160)과 전기적으로 연결될 수 있다. 복수의 제2 터치 라우팅 배선(RL2)은 복수의 터치 구동 전극(170)과 전기적으로 연결될 수 있다. 복수의 터치 라우팅 배선(RL1, RL2) 각각의 일단은 복수의 터치 전극(160, 170)과 연결되고, 타단은 복수의 터치 패드(TP1, TP2)와 연결될 수 있다.

복수의 터치 패드(TP1, TP2)는 제1 비표시 영역(NA)에 배치된다. 복수의 터치 패드(TP1, TP2)는 복수의 제1 터치 패드(TP1) 및 복수의 제2 터치 패드(TP2)를 포함한다. 복수의 제1 터치 패드(TP1)는 복수의 제1 터치 라우팅 배선(RL1)을 통해 복수의 터치 감지 전극(160)과 전기적으로 연결될 수 있다. 복수의 제2 터치 패드(TP2)는 복수의 제2 터치 라우팅 배선(RL2)을 통해 복수의 터치 구동 전극(170)과 전기적으로 연결될 수 있다. 복수의 터치 패드(TP1, TP2)에는 터치 구동부가 연결될 수 있다. 이에, 복수의 터치 패드(TP1, TP2)는 터치 구동부로부터 터치 신호를 전달받거나 터치 감지 신호를 터치 구동부에 전달할 수 있다.

터치 구동부는 복수의 터치 전극(160, 170)과 연결되어 신호를 전송하거나 수신받을 수 있다. 예를 들어, 터치 구동부는 복수의 터치 감지 전극(160)으로부터 터치 감지 신호를 수신할 수 있다. 또한, 터치 구동부는 복수의 터치 구동 전극(170)으로 터치 구동 신호를 전송할 수 있다. 터치 구동부는 복수의 터치 감지 전극(160)과 복수의 터치 구동 전극(170) 사이의 상호 정전 용량(mutual capacitance)을 이용하여 터치를 감지할 수 있다. 즉, 표시 장치(100)에 터치 동작이 이루어질 경우, 복수의 터치 감지 전극(160)과 복수의 터치 구동 전극(170) 사이에는 정전 용량 변화가 발생할 수 있다. 터치 구동부는 이러한 정전 용량 변화를 감지하여 터치 좌표를 검출할 수 있다.

이하에서는 도 2a 내지 도 2c를 참조하여 표시 장치(100)의 표시 영역(AA)에 대하여 구체적으로 설명하도록 한다.

도 2a는 도 1의 A의 확대도이다. 도 2b은 도 2a의 메쉬 구조를 도시한 평면도이다.

도 2a 및 도 2b를 참조하면, 복수의 터치 감지 전극(160)은 제1 방향으로 연장되고, 복수의 터치 구동 전극(170)은 제2 방향으로 연장된다. 복수의 터치 감지 전극(160)과 복수의 터치 구동 전극(170)은 서로 교차하도록 배치된다. 복수의 터치 감지 전극(160) 각각은 복수의 서브 터치 감지 전극(161), 복수의 브릿지 전극(162) 및 복수의 제1 플로팅 전극(163)을 포함한다. 복수의 터치 구동 전극(170) 각각은 복수의 서브 터치 구동 전극(171), 복수의 연결부(172) 및 복수의 제2 플로팅 전극(173)을 포함한다.

복수의 서브 터치 감지 전극(161)은 서로 이격되어 배치된다. 이때, 제1 방향을 따라 동일 행에 배치된 복수의 서브 터치 감지 전극(161)은 복수의 브릿지 전극(162)에 의하여 서로 전기적으로 연결될 수 있다. 복수의 브릿지 전극(162)은 복수의 서브 터치 감지 전극(161)과 상이한 층 상에 배치되어 서로 이격된 복수의 서브 터치 감지 전극(161)을 전기적으로 연결할 수 있다. 동일 행에 배치된 복수의 서브 터치 감지 전극(161)과 복수의 브릿지 전극(162)은 복수의 제1 터치 라우팅 배선(RL1) 중 어느 하나와 전기적으로 연결될 수 있다.

복수의 서브 터치 구동 전극(171)은 서로 이격되어 배치된다. 이때, 제2 방향을 따라 동일 열에 배치된 복수의 서브 터치 구동 전극(171)은 복수의 연결부(172)에 의하여 서로 전기적으로 연결될 수 있다. 동일 열 내에 배치된 복수의 서브 터치 구동 전극(171)과 복수의 연결부(172)는 일체로 형성될 수 있다. 즉, 복수의 연결부(172)는 복수의 서브 터치 구동 전극(171)과 동일 층 상에서 복수의 서브 터치 구동 전극(171)으로부터 연장될 수 있다. 동일 열에 배치된 복수의 서브 터치 구동 전극(171)과 복수의 연결부(172)는 복수의 제2 터치 라우팅 배선(RL2) 중 어느 하나와 전기적으로 연결될 수 있다.

복수의 서브 터치 감지 전극(161)과 복수의 서브 터치 구동 전극(171)은 동일 층 상에서 서로 이격되도록 배치된다. 복수의 브릿지 전극(162)과 복수의 연결부(172)는 서로 다른 층 상에서 서로 중첩하도록 배치된다. 복수의 터치 감지 전극(160)과 복수의 터치 구동 전극(170)의 교차 영역에는 복수의 브릿지 전극(162)과 복수의 연결부(172)가 배치된다. 이에, 복수의 터치 감지 전극(160)과 복수의 터치 구동 전극(170)은 서로 전기적으로 절연될 수 있다.

복수의 제1 플로팅 전극(163) 각각은 복수의 서브 터치 감지 전극(161) 내에 배치된다. 복수의 제1 플로팅 전극(163)은 복수의 서브 터치 감지 전극(161)과 전기적으로 분리된다. 즉, 복수의 제1 플로팅 전극(163)은 복수의 서브 터치 감지 전극(161)으로부터 전기적으로 플로팅(floating)된다. 이에, 복수의 제1 플로팅 전극(163)은 복수의 제1 터치 라우팅 배선(RL1)과 전기적으로 분리된다. 복수의 제1 플로팅 전극(163)은 전기적으로 접지(ground)될 수 있다.

복수의 제2 플로팅 전극(173) 각각은 복수의 서브 터치 구동 전극(171) 내에 배치된다. 복수의 제2 플로팅 전극(173)은 복수의 서브 터치 구동 전극(171)과 전기적으로 분리된다. 즉, 복수의 제2 플로팅 전극(173)은 복수의 서브 터치 구동 전극(171)으로부터 전기적으로 플로팅된다. 이에, 복수의 제2 플로팅 전극(173)은 복수의 제2 터치 라우팅 배선(RL2)과 전기적으로 분리된다. 복수의 제2 플로팅 전극(173)은 전기적으로 접지될 수 있다.

복수의 서브 터치 감지 전극(161)은 복수의 제1 플로팅 전극(163)을 둘러싸도록 배치된다. 복수의 서브 터치 구동 전극(171)은 복수의 제2 플로팅 전극(173)을 둘러싸도록 배치된다. 복수의 서브 터치 감지 전극(161), 복수의 제1 플로팅 전극(163), 복수의 서브 터치 구동 전극(171) 및 복수의 제2 플로팅 전극(173)은 외곽이 모두 마름모 형상을 갖도록 형성될 수 있다. 그러나, 본 명세서가 이에 제한되지 않는다. 즉, 복수의 서브 터치 감지 전극(161)과 복수의 제1 플로팅 전극(163)이 전기적으로 분리되고, 복수의 서브 터치 구동 전극(171)과 복수의 제2 플로팅 전극(173)이 전기적으로 분리된다면, 이들의 형상 및 배치 구조는 변경될 수도 있다.

표시 장치는 손가락과 같은 정전기를 띈 물체가 표시 장치에 접촉될 때, 접촉점에서 터치 감지 전극과 터치 구동 전극 사이의 뮤추얼 커패시턴스가 변화되는 현상을 감지함으로써, 터치 입력을 감지한다. 한편, 표시 장치의 소형화, 박형화 등에 의해 터치 전극들 사이의 간격과 손가락과 터치 전극들 사이의 간격이 줄어들 수 있다. 이 경우, 손가락은 접촉점 이외의 다른 부분에서 기생 커패시턴스를 발생시킬 수 있으며, 기생 커패시턴스는 접촉점 이외의 다른 부분에서 뮤추얼 커패시턴스를 변화시키는 리트랜스미션 현상을 유발할 수 있다. 결국, 접촉점 이외의 다른 부분에서 터치 신호가 발생되거나, 다른 부분에서 발생된 터치 신호가 접촉점의 터치 신호와 서로 상쇄되어 터치를 인식하지 못하는 문제가 발생될 수 있다.

복수의 제1 플로팅 전극(163)과 복수의 제2 플로팅 전극(173)은 상술한 리트랜스미션 현상을 최소화할 수 있다. 즉, 복수의 제1 플로팅 전극(163)과 복수의 제2 플로팅 전극(173)은 손가락과 터치 감지 전극(160) 사이 및 손가락과 터치 구동 전극(170) 사이의 기생 커패시턴스를 감소시킬 수 있다. 커패시턴스는 서로 대향하는 2개의 도전체 사이의 거리에 반비례하고, 도전체의 면적에 비례한다. 서브 터치 감지 전극(161) 내에는 서브 터치 감지 전극(161)과 전기적으로 분리된 제1 플로팅 전극(163)이 배치된다. 서브 터치 구동 전극(171) 내에는 서브 터치 구동 전극(171)과 전기적으로 분리된 제2 플로팅 전극(173)이 배치된다. 이에, 복수의 터치 감지 전극(160)과 복수의 터치 구동 전극(170) 각각의 유효 전극 면적은 감소될 수 있다. 즉, 복수의 터치 감지 전극(160)의 유효 전극 면적은 복수의 제1 플로팅 전극(163)의 면적을 제외한 만큼 감소되고, 복수의 터치 구동 전극(170)의 유효 전극 면적은 복수의 제2 플로팅 전극(173)의 면적을 제외한 만큼 감소될 수 있다. 따라서, 손가락과 터치 감지 전극(160) 사이 및 손가락과 터치 구동 전극(170) 사이의 기생 커패시턴스가 감소되고, 리트랜스미션 현상이 최소화될 수 있다.

한편, 도 2a를 참조하면, 복수의 터치 감지 전극(160)과 복수의 터치 구동 전극(170)이 교차하는 지점을 노드(node)로 정의할 수 있다. 예를 들어, 하나의 노드는 도 2a의 점선들 사이의 영역으로 설정될 수 있다. 구체적으로, 복수의 서브 터치 감지 전극(161)의 상단부를 연결하는 가상의 연결선, 복수의 서브 터치 감지 전극(161)의 하단부를 연결하는 가상의 연결선, 복수의 서브 터치 구동 전극(171)의 일측 단부를 연결하는 가상의 연결선 및 복수의 서브 터치 구동 전극(171)의 타측 단부를 연결하는 가상의 연결선에 의하여 형성되는 복수의 영역 각각을 노드로 설정할 수 있다. 이에, 하나의 노드에는 서로 인접하는 2개의 서브 터치 감지 전극(161) 각각이 절반씩 배치되고, 서로 인접하는 2개의 서브 터치 구동 전극(171) 각각이 절반씩 배치될 수 있다. 또한, 노드의 중앙에는 브릿지 전극(162) 및 연결부(172)가 배치될 수 있다. 다만, 노드의 정의가 이에 제한되는 것은 아니다.

표시 장치(100)에는 복수의 노드가 제1 방향 및 제2 방향을 따라 연속적으로 나열되어 있다. 표시 장치(100)는 복수의 노드에 나타나는 전압 변화를 감지하여 터치 좌표를 판단할 수 있다. 구체적으로, 특정 영역에 터치 동작이 이루어지면, 특정 영역과 인접하는 일부 서브 터치 감지 전극(161)과 일부 서브 터치 구동 전극(171) 사이의 정전 용량 변화가 발생한다. 그리고 특정 영역과 인접하는 일부 노드 별로 정전 용량 변화값을 산출하고, 이를 조합하여 터치 위치를 판단할 수 있다.

도 2b를 참조하면, 복수의 터치 감지 전극(160)과 복수의 터치 구동 전극(170)은 메탈 메쉬 구조를 가질 수 있다. 구체적으로, 복수의 터치 감지 전극(160)과 복수의 터치 구동 전극(170)은 매우 얇은 선폭을 갖는 메탈 라인들이 서로 교차하여 이루어진 메쉬 패턴(mesh pattern)을 포함할 수 있다. 메쉬 패턴은 몰리브덴(Mo), 은(Ag), 티타늄(Ti), 구리(Cu), 알루미늄(Ti), 티타늄/알루미늄/티타늄(Ti/Al/Ti), 몰리브덴/알루미늄/몰리브덴(Mo/Al/Mo) 등의 메탈 물질로 이루어진 단층 또는 다층 구조를 가질 수 있으나, 이에 제한되지 않는다.

복수의 터치 감지 전극(160)과 복수의 터치 구동 전극(170)의 메쉬 패턴 내부에는 개구부(OP)가 형성될 수 있다. 개구부(OP)는 서브 화소와 대응될 수 있다. 즉, 개구부(OP) 내에는 발광 소자(130)가 배치될 수 있다. 이하에서는 도 2c를 참조하여 표시 장치(100)의 구체적인 구조에 대하여 설명하도록 한다.

도 2c는 도 2b의 IIc-IIc'의 단면도이다.

도 2c를 참조하면, 표시 장치(100)는 기판(110), 트랜지스터(120), 발광 소자(130), 봉지부(140), 터치 감지 전극(160) 및 터치 구동 전극(170)을 포함한다.

트랜지스터(120)는 기판(110) 상에 배치되어 발광 소자(130)를 구동시키도록 구성된다. 트랜지스터(120)는 액티브층(121), 게이트 전극(122), 소스 전극(123) 및 드레인 전극(124)을 포함할 수 있다. 한편, 도시되지는 않았으나, 기판(110)과 트랜지스터(120) 사이에는 버퍼층이 배치될 수도 있다. 버퍼층은 기판(110)을 통해 수분 또는 불순물이 침투되는 것을 저감할 수 있다. 버퍼층은 예를 들어, 실리콘 산화물(SiOx) 또는 실리콘 질화물(SiNx)의 단일층 또는 복층으로 구성될 수 있으나, 이에 제한되지 않는다.

액티브층(121)은 기판(110) 상에 배치된다. 액티브층(121)은 트랜지스터(120) 구동 시 채널이 형성되는 영역이다. 액티브층(121)은 채널 영역, 소스 영역 및 드레인 영역을 포함할 수 있다. 액티브층(121)은 산화물 반도체, 비정질 실리콘 또는 폴리 실리콘 등과 같은 반도체 물질로 이루어질 수 있으나, 이에 제한되지 않는다.

액티브층(121) 상에는 게이트 절연층(111)이 배치된다. 게이트 절연층(111)은 액티브층(121)과 게이트 전극(122)을 절연시키기 위한 절연층으로, 실리콘 산화물(SiOx) 또는 실리콘 질화물(SiNx)의 단일층 또는 복층으로 구성될 수 있으나, 이에 제한되지 않는다.

게이트 전극(122)은 게이트 절연층(111) 상에 배치된다. 게이트 전극(122)은 액티브층(121)의 채널 영역과 중첩하도록 게이트 절연층(111) 상에 배치된다. 게이트 전극(122)은 도전성 물질, 예를 들어, 구리(Cu), 알루미늄(Al), 몰리브덴(Mo), 니켈(Ni), 티타늄(Ti), 크롬(Cr) 또는 이에 대한 합금으로 구성될 수 있으나, 이에 제한되지 않는다.

게이트 전극(122) 상에는 제1 층간 절연층(112) 및 제2 층간 절연층(113)이 배치된다. 제1 층간 절연층(112) 및 제2 층간 절연층(113)에는 소스 전극(123) 및 드레인 전극(124) 각각이 액티브층(121)에 접속하기 위한 컨택홀이 형성된다. 제1 층간 절연층(112)은 실리콘 산화물(SiOx) 또는 실리콘 질화물(SiNx)의 단일층 또는 복층으로 구성될 수 있으나, 이에 제한되지 않는다. 제2 층간 절연층(113)은 유기 물질로 이루어질 수 있고, 예를 들어, 폴리이미드(Polyimide) 또는 포토아크릴(Photo Acryl)의 단일층 또는 복층으로 구성될 수 있으나, 이에 제한되지 않는다.

소스 전극(123) 및 드레인 전극(124)은 제2 층간 절연층(113) 상에 서로 이격되어 배치된다. 소스 전극(123) 및 드레인 전극(124)은 게이트 절연층(111), 제1 층간 절연층(112) 및 제2 층간 절연층(113)의 컨택홀을 통해 액티브층(121)과 전기적으로 연결된다. 소스 전극(123) 및 드레인 전극(124)은 도전성 물질, 예를 들어, 구리(Cu), 알루미늄(Al), 몰리브덴(Mo), 니켈(Ni), 티타늄(Ti), 크롬(Cr) 또는 이에 대한 합금으로 구성될 수 있으나, 이에 제한되지 않는다.

트랜지스터(120) 상에는 평탄화층(114)이 배치된다. 평탄화층(114)은 기판(110)의 상부를 평탄화하는 절연층이다. 평탄화층(114)에는 트랜지스터(120)의 소스 전극(123)을 노출시키기 위한 컨택홀이 형성된다. 그러나, 평탄화층(114)에는 드레인 전극(124)을 노출시키기 위한 컨택홀이 형성될 수도 있다. 평탄화층(114)은 유기 물질로 이루어질 수 있고, 예를 들어, 폴리이미드(Polyimide) 또는 포토아크릴(Photo Acryl)의 단일층 또는 복층으로 구성될 수 있으나, 이에 제한되지 않는다.

발광 소자(130)는 평탄화층(114) 상에 배치된다. 발광 소자(130)는 트랜지스터(120)로부터 공급되는 데이터 신호에 의해 광을 방출한다. 발광 소자(130)는 복수의 터치 감지 전극(160)과 복수의 터치 구동 전극(170)의 메쉬 패턴에 의하여 형성되는 개구부(OP)와 대응되도록 배치될 수 있다. 발광 소자(130)는 제1 전극(131), 발광층(132) 및 제2 전극(133)을 포함한다. 여기서, 제1 전극(131)은 애노드 전극이고, 제2 전극(133)은 캐소드 전극일 수 있다.

한편, 표시 장치(100)는 탑 에미션(Top Emission) 또는 바텀 에미션(Bottom Emission) 방식으로 구현될 수 있다. 탑 에미션 방식인 경우, 제1 전극(131)의 하부에는 발광층(132)에서 발광된 광을 제2 전극(133) 측으로 반사시키기 위한 반사층이 배치될 수 있다. 예를 들어, 반사층은 알루미늄(Al) 또는 은(Ag)과 같은 반사성이 우수한 물질을 포함할 수 있으나, 이에 제한되지 않는다. 반대로, 바텀 에미션 방식인 경우, 제1 전극(131)은 투명 도전성 물질로만 이루어질 수 있다. 이하에서는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치(100)가 탑 에미션 방식인 것으로 가정하여 설명하기로 한다.

제1 전극(131)은 평탄화층(114) 상에 배치된다. 제1 전극(131)은 복수의 서브 화소 각각과 대응될 수 있다. 즉, 제1 전극(131)은 개구부(OP)와 대응되도록 배치될 수 있다. 제1 전극(131)은 평탄화층(114)에 형성된 컨택홀을 통해 트랜지스터(120)의 소스 전극(123)과 전기적으로 연결될 수 있다. 제1 전극(131)은 발광층(132)에 정공을 공급하기 위하여 일함수가 높은 도전성 물질로 이루어질 수 있다. 예를 들어, 제1 전극(131)은 인듐 주석 산화물(Indium Tin Oxide, ITO), 인듐 아연 산화물(Indium Zin Oxide, IZO) 등과 같은 투명 도전성 물질로 형성될 수 있으나, 이에 제한되지 않는다.

제1 전극(131) 및 평탄화층(114) 상에는 뱅크(115)가 배치된다. 뱅크(115)는 제1 전극(131)의 가장자리를 덮도록 평탄화층(114) 상에 형성될 수 있다. 뱅크(115)는 복수의 서브 화소를 구분하기 위해, 복수의 서브 화소 사이에 배치된 절연층이다. 뱅크(115)는 유기 절연 물질일 수 있다. 예를 들어, 뱅크(115)는 폴리이미드(polyimide), 아크릴(acryl) 또는 벤조사이클로부텐(benzocyclobutene, BCB)계 수지로 이루어질 수 있으나, 이에 제한되는 것은 아니다.

발광층(132)은 제1 전극(131) 및 뱅크(115) 상에 배치된다. 발광층(132)은 기판(110)의 전면에 걸쳐서 형성될 수 있다. 즉, 발광층(132)은 복수의 서브 화소에 공통적으로 형성되는 공통층일 수 있다. 발광층(132)은 특정 색의 광을 발광하기 위한 유기층일 수 있다. 발광층(132)은 정공 수송층, 정공 주입층, 정공 저지층, 전자 주입층, 전자 저지층, 전자 수송층 등과 같은 다양한 층을 더 포함할 수도 있다.

제2 전극(133)은 발광층(132) 상에 배치된다. 제2 전극(133)은 기판(110)의 전면에 걸쳐서 하나의 층으로 형성될 수 있다. 즉, 제2 전극(133)은 복수의 서브 화소에 공통적으로 형성되는 공통층일 수 있다. 제2 전극(133)은 발광층(132)으로 전자를 공급하므로, 일함수가 낮은 도전성 물질로 이루어질 수 있다. 제2 전극(133)은 예를 들어, 인듐 주석 산화물(Indium Tin Oxide, ITO), 인듐 아연 산화물(Indium Zin Oxide, IZO) 등과 같은 투명 도전성 물질, MgAg와 같은 금속 합금이나 이테르븀(Yb) 합금 등으로 형성될 수 있고, 금속 도핑층이 더 포함될 수도 있으며, 이에 제한되지 않는다.

봉지부(140)는 발광 소자(130) 상에 배치된다. 봉지부(140)는 표시 장치(100) 외부로부터 침투하는 수분 등으로부터 발광 소자(130)를 보호한다. 봉지부(140)는 제1 봉지층(141), 이물 커버층(142) 및 제2 봉지층(143)을 포함한다.

제1 봉지층(141)은 제2 전극(133) 상에 배치되어 수분이나 산소의 침투를 억제할 수 있다. 제1 봉지층(141)은 질화 실리콘(SiNx), 산질화 실리콘(SiNxOy) 또는 산화알루미늄(AlyOz) 등과 같은 무기물로 이루어질 수 있으나, 이에 제한되는 것은 아니다.

이물 커버층(142)은 제1 봉지층(141) 상에 배치되어 표면을 평탄화한다. 또한 이물 커버층(142)은 제조 공정 상 발생할 수 있는 이물 또는 파티클을 커버할 수 있다. 이물 커버층(142)은 유기물, 예를 들어, 실리콘옥시카본(SiOxCz), 아크릴 또는 에폭시 계열의 수지 등으로 이루어질 수 있으나, 이에 제한되는 것은 아니다.

제2 봉지층(143)은 이물 커버층(142) 상에 배치되고, 제1 봉지층(141)과 같이 수분이나 산소의 침투를 억제할 수 있다. 이때, 제2 봉지층(143)과 제1 봉지층(141)은 이물 커버층(142)을 밀봉하도록 형성될 수 있다. 따라서, 제2 봉지층(143)에 의하여 발광 소자(130)로 침투하는 수분이나 산소가 보다 효과적으로 감소될 수 있다. 제2 봉지층(143)은 실리콘 산화물(SiOx), 실리콘 질화물(SiNx), 실리콘 산질화물(SiNxOy) 또는 산화알루미늄(AlyOz) 등과 같은 무기물로 이루어질 수 있으나, 이에 제한되는 것은 아니다.

봉지부(140) 상에는 터치 버퍼층(152)이 배치된다. 즉, 터치 버퍼층(152)은 제2 봉지층(143) 상에 배치된다. 터치 버퍼층(152)은 수분 또는 불순물의 침투를 저감할 수 있다. 터치 버퍼층(152)은 실리콘 산화물(SiOx) 또는 실리콘 질화물(SiNx)의 단일층 또는 복층으로 구성될 수 있으나, 이에 제한되지 않는다.

복수의 서브 터치 감지 전극(161) 및 복수의 서브 터치 구동 전극(171)은 터치 버퍼층(152) 상에 배치된다. 복수의 서브 터치 감지 전극(161)과 복수의 서브 터치 구동 전극(171)은 터치 버퍼층(152) 상에서 일정 간격 이격되어 배치될 수 있다. 제1 방향으로 인접하는 복수의 서브 터치 감지 전극(161)은 복수의 브릿지 전극(162)에 의하여 전기적으로 연결될 수 있다. 이때, 복수의 서브 터치 감지 전극(161)과 복수의 브릿지 전극(162)은 서로 다른 층에 배치될 수 있다. 제2 방향으로 인접하는 복수의 서브 터치 구동 전극(171)은 복수의 연결부(172)에 의하여 전기적으로 연결될 수 있다. 이때, 복수의 서브 터치 구동 전극(171)과 복수의 연결부(172)는 터치 버퍼층(152) 상에서 일체로 형성될 수 있다.

한편, 도 2c에는 도시되지 않았으나, 복수의 제1 플로팅 전극(163)과 복수의 제2 플로팅 전극(173)은 터치 버퍼층(152) 상에 배치된다. 복수의 제1 플로팅 전극(163)은 터치 버퍼층(152) 상에서 복수의 서브 터치 감지 전극(161)과 이격되도록 배치된다. 복수의 제2 플로팅 전극(173)은 터치 버퍼층(152) 상에서 복수의 서브 터치 구동 전극(171)과 이격되도록 배치된다.

터치 버퍼층(152), 복수의 서브 터치 감지 전극(161), 복수의 제1 플로팅 전극(163), 복수의 서브 터치 구동 전극(171), 복수의 연결부(172) 및 복수의 제2 플로팅 전극(173) 상에는 터치 절연층(153)이 배치된다. 터치 절연층(153)은 복수의 연결부(172)와 복수의 브릿지 전극(162)을 전기적으로 절연시킬 수 있다. 터치 절연층(153)은 복수의 서브 터치 감지 전극(161)과 복수의 브릿지 전극(162)이 서로 연결되기 위한 컨택홀을 포함할 수 있다. 터치 절연층(153)은 실리콘 산화물(SiOx) 또는 실리콘 질화물(SiNx)의 단일층 또는 복층으로 구성될 수 있으나, 이에 제한되지 않는다.

복수의 브릿지 전극(162)은 터치 절연층(153) 상에 배치된다. 복수의 브릿지 전극(162)은 제1 방향으로 인접하는 복수의 서브 터치 감지 전극(161) 사이에 배치된다. 이에, 복수의 브릿지 전극(162)은 서로 이격된 복수의 서브 터치 감지 전극(161)을 전기적으로 연결할 수 있다. 또한, 복수의 브릿지 전극(162)은 복수의 연결부(172)와 중첩하도록 배치될 수 있다. 이때, 복수의 브릿지 전극(162)과 복수의 연결부(172)는 서로 다른 층에 형성되므로, 전기적으로 절연될 수 있다.

터치 절연층(153) 및 복수의 브릿지 전극(162) 상에는 제2 터치 평탄화층(154)이 배치된다. 제2 터치 평탄화층(154)은 복수의 터치 감지 전극(160) 및 복수의 터치 구동 전극(170)의 상부를 평탄화할 수 있다. 제2 터치 평탄화층(154)은 유기 물질로 이루어질 수 있고, 예를 들어, 폴리이미드(Polyimide) 또는 포토아크릴(Photo Acryl)의 단일층 또는 복층으로 구성될 수 있으나, 이에 제한되지 않는다.

이하에서는 도 3a 및 도 3b를 참조하여 표시 장치(100)의 제2 비표시 영역(NA2)에 대하여 구체적으로 설명하도록 한다.

도 3a는 도 1의 B의 확대도이다. 도 3b는 도 3a의 IIIb-IIIb'의 단면도이다.

도 3a 및 도 3b를 참조하면, 표시 영역(AA) 내에는 제2 비표시 영역(NA2)이 배치된다. 제2 비표시 영역(NA2)은 관통홀(TH), 복수의 댐(DM1, DM2) 및 연결 라인(180)을 포함한다. 제2 비표시 영역(NA2)은 관통홀(TH) 및 관통홀(TH)과 인접하는 주변 영역을 의미할 수 있다. 관통홀(TH)에 의하여 제2 비표시 영역(NA2)에는 발광 소자(130)와 터치 전극(160, 170)이 배치되지 않을 수 있다. 다만, 제2 비표시 영역(NA2)의 외곽에는 터치 전극(160, 170)으로부터 연장되어 연결 라인(180)과 연결되기 위한 메탈 라인들의 일부가 배치될 수도 있다.

관통홀(TH)은 제2 비표시 영역(NA2) 내에 형성된다. 관통홀(TH)은 기판(110), 게이트 절연층(111), 제1 층간 절연층(112), 제1 봉지층(141), 제2 봉지층(143), 제1 터치 평탄화층(151), 터치 버퍼층(152), 터치 절연층(153) 및 제2 터치 평탄화층(154)을 물리적으로 관통하도록 형성될 수 있다. 관통홀(TH)은 카메라 또는 광센서와 대응되도록 형성될 수 있다. 관통홀(TH)에 의하여 카메라 또는 광센서의 상부에서 빛이 용이하게 투과될 수 있다.

복수의 댐(DM1, DM2)은 관통홀(TH)을 둘러싸도록 배치된다. 복수의 댐(DM1, DM2)은 제1 댐(DM1) 및 제2 댐(DM2)을 포함한다.

제1 댐(DM1)은 관통홀(TH)의 외곽을 둘러싸는 폐곡선 형상으로 형성될 수 있다. 제1 댐(DM1)은 제2 층간 절연층(113)으로 이루어진 제1 층, 평탄화층(114)으로 이루어진 제2 층 및 뱅크(115)로 이루어진 제3 층을 포함할 수 있다. 도 3b에서는 제1 댐(DM1)이 하나인 것으로 도시되었으나, 이에 제한되지 않는다. 제1 댐(DM1)은 이물 커버층(142)이 관통홀(TH)로 흘러 넘치는 것을 방지할 수 있다. 즉, 이물 커버층(142)은 제1 댐(DM1)에 의하여 표시 영역(AA)으로부터 제1 댐(DM1)의 내측까지 형성될 수 있다.

제2 댐(DM2)은 관통홀(TH)의 외곽을 둘러싸는 폐곡선 형상으로 형성될 수 있다. 제2 댐(DM2)은 제1 댐(DM1)과 관통홀(TH) 사이 및 제1 댐(DM1)과 표시 영역(AA) 사이에 복수로 배치될 수 있다. 복수의 제2 댐(DM2)은 서로 일정 거리를 갖도록 이격될 수 있다. 제2 댐(DM2)은 제2 층간 절연층(113)으로 이루어진 제1 층 및 평탄화층(114)으로 이루어진 제2 층을 포함할 수 있다. 도 3b에서는 제2 댐(DM2)이 제1 댐(DM1)을 기준으로 양측에 3개씩 배치된 것으로 도시되었으나, 이에 제한되지 않는다.

제2 댐(DM2)은 발광층(132)을 통해 수분이 표시 영역(AA)으로 침투하는 것을 방지할 수 있다. 즉, 수분 침투에 취약한 발광층(132)은 제2 댐(DM2)에 의하여 단선(disconnection) 구조를 가질 수 있다. 구체적으로, 제2 댐(DM2)의 제2 층간 절연층(113)의 상면은 평탄화층(114)의 하면보다 작은 폭을 가질 수 있다. 이에, 제2 댐(DM2)의 상부에 배치되는 발광층(132)은 제2 댐(DM2)에 의하여 연속되지 않고 단절될 수 있다. 이때, 발광층(132) 상의 제2 전극(133)도 발광층(132)과 유사하게 단절된 구조를 가지며 발광층(132)을 커버할 수 있다. 또한, 제2 전극(133) 상의 제1 봉지층(141)은 단절된 발광층(132) 및 제2 전극(133)을 완전히 커버하도록 배치될 수 있다. 따라서, 관통홀(TH)의 측면으로 노출된 발광층(132)을 통해 수분이 침투하더라도, 복수의 제2 댐(DM2)에 의하여 침투된 수분이 표시 영역(AA)으로 이동하는 것이 방지될 수 있다. 또한, 제1 봉지층(141)이 단절된 발광층(132) 및 제2 전극(133)을 완전히 커버하므로, 수분 침투가 보다 효과적으로 방지될 수 있다.

제1 댐(DM1)의 상부에서 제1 봉지층(141)과 제2 봉지층(143)은 서로 접촉할 수 있다. 즉, 제1 댐(DM1)과 관통홀(TH) 사이에서 제1 봉지층(141)과 제2 봉지층(143)은 완전히 접촉할 수 있다. 이에, 관통홀(TH)을 통한 수분의 침투가 보다 효과적으로 방지될 수 있다.

제2 비표시 영역(NA2)에서 복수의 댐(DM1, DM2) 상에는 제1 터치 평탄화층(151)이 배치될 수 있다. 제1 터치 평탄화층(151)은 제2 봉지층(143) 상에 배치될 수 있다. 또한, 제1 터치 평탄화층(151)은 관통홀(TH)과 표시 영역(AA) 사이와 대응되는 영역에 배치될 수 있다. 제1 터치 평탄화층(151)은 관통홀(TH)을 통한 수분의 침투를 방지할 수 있다. 제1 터치 평탄화층(151)은 유기 물질로 이루어질 수 있고, 예를 들어, 폴리이미드(Polyimide) 또는 포토아크릴(Photo Acryl)의 단일층 또는 복층으로 구성될 수 있으나, 이에 제한되지 않는다.

제1 터치 평탄화층(151) 상에서 터치 버퍼층(152), 터치 절연층(153) 및 제2 터치 평탄화층(154)은 서로 접하며 순차적으로 배치될 수 있다. 이에, 관통홀(TH)을 통한 수분의 침투가 최소화될 수 있다.

연결 라인(180)은 터치 절연층(153) 상에서 관통홀(TH)을 둘러싸도록 배치된다. 연결 라인(180)은 복수의 댐(DM1, DM2)의 외곽에 배치될 수 있다. 연결 라인(180)은 관통홀(TH)에 의하여 분리된 터치 감지 전극(160) 또는 분리된 터치 구동 전극(170)을 전기적으로 연결한다. 구체적으로, 관통홀(TH)은 기판(110) 및 그 상부의 구성들을 관통하도록 구성되므로, 관통홀(TH) 내에는 복수의 터치 전극(160, 170)이 형성될 수 없다. 이에, 연결 라인(180)은 관통홀(TH)을 사이에 둔 2개의 서브 터치 감지 전극(161)을 연결할 수 있다. 또는, 연결 라인(180)은 관통홀(TH)을 사이에 둔 2개의 서브 터치 구동 전극(171)을 연결할 수 있다. 도 3a 및 도 3b에서는 연결 라인(180)이 3개로 구비되는 것으로 도시되었으나, 이에 제한되지 않는다. 즉, 분리된 터치 감지 전극(160) 또는 분리된 터치 구동 전극(170)을 서로 연결할 수만 있다면 연결 라인(180)의 개수 및 형상은 제한되지 않는다.

한편, 도 3a를 참조하면, 복수의 서브 터치 감지 전극(161) 중 제2 비표시 영역(NA2)과 인접하는 적어도 하나의 서브 터치 감지 전극(161)은 나머지 서브 터치 감지 전극(161)과 상이한 형상을 갖는다. 이하에서는 설명의 편의를 위하여 나머지 서브 터치 감지 전극(161)을 일반 서브 터치 감지 전극(161)으로 지칭하고, 일반 서브 터치 감지 전극(161)과 상이한 형상을 가진 서브 터치 감지 전극(161)을 제1 이형 전극(HE1)으로 지칭하도록 한다. 일반 서브 터치 감지 전극(161)은 도 2a와 같은 형상을 가진 서브 터치 감지 전극(161)을 의미할 수 있다. 또한, 제1 이형 전극(HE1)은 도 3a에 도시된 바와 같이 일반 서브 터치 감지 전극(161)과 상이한 형상을 가진 서브 터치 감지 전극(161)을 의미할 수 있다. 여기서, 제1 이형 전극(HE1)은 관통홀(TH)에 의하여 잘림으로써 형상이 변경된 전극을 의미하지는 않는다. 즉, 제1 이형 전극(HE1)은 관통홀(TH)에 의하여 형상이 변경된 것이 아닌, 제2 비표시 영역(NA2)과 접하지 않는 부분에서 의도적으로 형상이 변경되어 일반 서브 터치 감지 전극(161)과 상이한 형상을 가진 전극을 의미할 수 있다.

또한, 복수의 서브 터치 구동 전극(171) 중 제2 비표시 영역(NA2)과 인접하는 적어도 하나의 서브 터치 구동 전극(171)은 나머지 서브 터치 구동 전극(171)과 상이한 형상을 갖는다. 이하에서는 설명의 편의를 위하여 나머지 서브 터치 구동 전극(171)을 일반 서브 터치 구동 전극(171)으로 지칭하고, 일반 서브 터치 구동 전극(171)과 상이한 형상을 가진 서브 터치 구동 전극(171)을 제2 이형 전극(HE2)으로 지칭하도록 한다. 일반 서브 터치 구동 전극(171)은 도 2a와 같은 형상을 가진 서브 터치 구동 전극(171)을 의미할 수 있다. 또한, 제2 이형 전극(HE2)은 도 3a에 도시된 바와 같이 일반 서브 터치 구동 전극(171)과 상이한 형상을 가진 서브 터치 구동 전극(171)을 의미할 수 있다. 여기서, 제2 이형 전극(HE2)은 관통홀(TH)에 의하여 잘림으로써 형상이 변경된 전극을 의미하지는 않는다. 즉, 제2 이형 전극(HE2)은 관통홀(TH)에 의하여 형상이 변경된 것이 아닌, 제2 비표시 영역(NA2)과 접하지 않는 부분에서 의도적으로 형상이 변경되어 일반 서브 터치 구동 전극(171)과 상이한 형상을 가진 전극을 의미할 수 있다.

복수의 터치 감지 전극(160) 중 일부와 복수의 터치 구동 전극(170) 중 일부는 관통홀(TH)을 포함하는 제2 비표시 영역(NA2)에 의하여 일부 영역이 잘리게 된다. 이에, 본 명세서에서는 제2 비표시 영역(NA2)과 인접한 일부 서브 터치 감지 전극(161)과 일부 서브 터치 구동 전극(171)의 형상을 변경하여 이형 전극(HE1, HE2)으로 구성한다. 이에, 관통홀(TH)에 의하여 손실된 터치 전극(160, 170)의 면적을 보상할 수 있다.

정전 용량 방식의 터치 센서는 터치 감지 전극과 터치 구동 전극 사이의 상호 정전 용량에 의하여 터치 입력을 감지할 수 있다. 일반적으로, 전극의 면적이 클수록 상호 정전 용량이 증가하고, 터치의 센싱 감도가 향상될 수 있다. 그러나, 카메라 또는 광센서 등을 배치하기 위하여 표시 영역 내부에 관통홀을 형성할 경우, 관통홀과 인접하는 전극의 면적이 손실되어 센싱 감도가 저하되는 문제가 발생할 수 있다. 즉, 전극의 면적 감소에 의하여 터치 동작 시 발생하는 정전 용량 변화량이 감소된다. 따라서, 면적이 손실된 전극이 포함된 노드에서 검출되는 정전 용량 변화량이 감소되어 터치 성능이 저하될 수 있다.

이에, 본 명세서에 따른 표시 장치(100)는 제2 비표시 영역(NA2)과 인접한 일부 서브 터치 감지 전극(161)과 일부 서브 터치 구동 전극(171)을 이형 전극(HE1, HE2)으로 구성할 수 있다. 따라서, 이형 전극(HE1, HE2)에 의하여 관통홀(TH)에 의한 노드의 면적 손실을 보상할 수 있다. 이에, 표시 장치(100)의 터치 감도가 저하되는 것을 방지할 수 있다.

구체적으로, 도 3a를 참조하면, 복수의 터치 감지 전극(160)은 제2 비표시 영역(NA2)과 인접하는 제1 터치 감지 전극(160A)과 제2 터치 감지 전극(160B)을 포함할 수 있다. 제1 터치 감지 전극(160A)과 제2 터치 감지 전극(160B)은 서로 이웃하도록 배치될 수 있다. 여기서, 제1 터치 감지 전극(160A)은 관통홀(TH)에 의하여 일부 면적이 손실된 터치 감지 전극(160)이고, 제2 터치 감지 전극(160B)은 관통홀(TH)에 의한 면적 손실이 없는 터치 감지 전극(160)일 수 있으나, 이에 제한되지 않는다.

제1 터치 감지 전극(160A)의 복수의 서브 터치 감지 전극(161) 중 일부는 제1 이형 전극(HE1)으로 구성된다. 제2 터치 감지 전극(160B)의 복수의 서브 터치 감지 전극(161) 중 일부는 제1 이형 전극(HE1)으로 구성된다. 이하에서는 관통홀(TH)의 좌측과 우측 각각에 배치된 제1 터치 감지 전극(160A)의 제1 이형 전극(HE1)을 제1a 이형 전극(HE1a)과 제1b 이형 전극(HE1b)으로 정의하도록 한다. 또한, 제1a 이형 전극(HE1a) 및 제1b 이형 전극(HE1b)과 제2 방향으로 서로 이웃하는 제2 터치 감지 전극(160B)의 제1 이형 전극(HE1)을 제1c 이형 전극(HE1c) 및 제1d 이형 전극(HE1d)으로 정의하도록 한다. 서로 이웃하는 제1a 이형 전극(HE1a)과 제1c 이형 전극(HE1c) 사이의 경계는 일반 서브 터치 감지 전극(161) 사이의 경계와 상이하게 이루어질 수 있다.

복수의 제1 이형 전극(HE1)의 제2 방향에 대한 길이는 일반 서브 터치 감지 전극(161)의 제2 방향에 대한 길이와 상이하게 이루어진다. 예를 들어, 제1 터치 감지 전극(160A)의 제1a 이형 전극(HE1a)과 제1b 이형 전극(HE1b)의 제2 방향에 대한 길이는 일반 서브 터치 감지 전극(161)의 제2 방향에 대한 길이보다 길다. 또한, 제2 터치 감지 전극(160B)의 제1c 이형 전극(HE1c)과 제1d 이형 전극(HE1d)의 제2 방향에 대한 길이는 일반 서브 터치 감지 전극(161)의 제2 방향에 대한 길이보다 짧다. 특히, 제2 방향을 기준으로, 제1a 이형 전극(HE1a)의 길이와 제1c 이형 전극(HE1c)의 길이의 합은 일반 서브 터치 감지 전극(161) 2개의 길이의 합과 동일하다. 즉, 제1a 이형 전극(HE1a)의 길이를 상대적으로 길게 형성하고, 제1c 이형 전극(HE1c)의 길이를 상대적으로 짧게 형성할 수 있다. 여기서, 길이는 제2 방향의 양측 끝단 사이의 거리를 의미할 수 있다.

한편, 제1a 이형 전극(HE1a)과 제1b 이형 전극(HE1b)의 사이 및 제1c 이형 전극(HE1c)과 제1d 이형 전극(HE1d)의 사이에도 제1 이형 전극(HE1)이 존재할 수 있다. 제1a 이형 전극(HE1a)과 제1b 이형 전극(HE1b)의 사이에 배치된 제1 이형 전극(HE1)은 관통홀(TH)에 의하여 대부분이 손실된 상태일 수 있다. 제1c 이형 전극(HE1c)과 제1d 이형 전극(HE1d)의 사이에 배치된 제1 이형 전극(HE1)은 제1c 이형 전극(HE1c) 및 제1d 이형 전극(HE1d)와 유사한 형상을 갖도록 형성될 수 있다. 그러나, 본 발명이 이에 제한되지 않는다.

노드는 복수의 터치 감지 전극(160)과 복수의 터치 구동 전극(170)이 교차하는 지점을 의미할 수 있다. 또한, 노드는 복수의 서브 터치 감지 전극(161)의 상단부를 연결하는 가상의 연결선, 복수의 서브 터치 감지 전극(161)의 하단부를 연결하는 가상의 연결선, 복수의 서브 터치 구동 전극(171)의 일측 단부를 연결하는 가상의 연결선 및 복수의 서브 터치 구동 전극(171)의 타측 단부를 연결하는 가상의 연결선에 의하여 형성되는 영역으로 설정될 수 있다. 예를 들어, 노드는 도 3a의 점선들 사이의 영역으로 설정될 수 있다. 이하에서는 설명의 편의를 위하여 관통홀(TH)에 의하여 면적 손실이 발생된 노드를 손실 발생 노드로 지칭하고, 면적 손실이 발생되지 않은 노드를 일반 노드로 지칭하도록 한다.

도 3a를 참조하면, 관통홀(TH)이 형성된 일부 노드의 경계선은 인접한 다른 노드의 경계선과 상이하게 이루어질 수 있다. 구체적으로, 제1a 이형 전극(HE1a)의 길이가 길어짐에 따라, 제1a 이형 전극(HE1a)이 포함된 노드의 길이는 일반 서브 터치 감지 전극(161)이 포함된 노드의 길이보다 확장될 수 있다. 이때, 제1a 이형 전극(HE1a)이 포함된 노드는 손실 발생 노드일 수 있다. 즉, 제1a 이형 전극(HE1a)의 길이를 상대적으로 길게 형성함으로써, 제1a 이형 전극(HE1a)이 포함된 노드의 면적이 확장되고, 관통홀(TH)에 의한 면적 손실이 보상될 수 있다. 특히, 노드의 면적이 확장됨에 따라 노드에 포함된 터치 감지 전극(160)과 터치 구동 전극(170)의 면적이 증가될 수 있다. 이때, 정전 용량은 전극의 면적이 증가할수록 커진다. 따라서, 손실 발생 노드에서도 터치가 발생했음을 인지할 만큼 충분한 정전 용량 변화량이 감지될 수 있다.

손실 발생 노드의 면적은 일반 노드의 면적의 60% 이상이 되도록 구성될 수 있다. 여기서, 손실 발생 노드는 도 3a에 도시된 바와 같이 제2 비표시 영역(NA2)과 접하는 노드일 수 있다. 일반 노드는 도 2a에 도시된 바와 같이 제2 비표시 영역(NA2)과 완전히 이격된 노드일 수 있다. 만약, 손실 발생 노드의 면적이 일반 노드의 면적의 60%보다 작을 경우, 손실 발생 노드에서의 터치 센싱 감도가 저하될 수 있다. 즉, 손실 발생 노드의 면적이 작아진 만큼, 손실 발생 노드에 포함된 터치 감지 전극(160)과 터치 구동 전극(170)의 면적은 작아질 수 있다. 따라서, 해당 노드 주변에서 터치 동작이 이루어지더라도, 터치 감지 전극(160)과 터치 구동 전극(170)의 정전 용량 변화가 매우 작을 수 있다. 이러한 경우, 터치 좌표의 정확한 검출이 어려워질 수 있다.

제1a 이형 전극(HE1a)의 길이가 확장됨에 따라, 제1a 이형 전극(HE1a)과 인접하는 제1c 이형 전극(HE1c)의 길이는 축소된다. 이때, 제1c 이형 전극(HE1c)이 포함된 노드는 면적 손실이 없는 노드일 수 있다. 또한, 제1c 이형 전극(HE1c)이 포함된 노드의 면적은 일반 노드의 면적의 60% 이상이 되도록 구성될 수 있다. 이에, 제1c 이형 전극(HE1c)의 길이가 상대적으로 짧아지더라도, 터치 센싱 감도가 저하되는 것을 방지할 수 있다.

제1b 이형 전극(HE1b)은 제1a 이형 전극(HE1a)과 유사하게 구성되고, 제1d 이형 전극(HE1d)은 제1 c 이형 전극(HE1c)과 유사하게 구성된다. 이에, 제1b 이형 전극(HE1b) 및 제1d 이형 전극(HE1d)에 대한 중복 설명은 생략한다. 한편, 제1b 이형 전극(HE1b)이 배치된 일부 노드는 면적 손실이 없는 노드일 수 있다. 즉, 제1b 이형 전극(HE1b)의 일측에 해당되는 노드는 관통홀(TH)에 의하여 면적이 손실되나, 타측에 해당되는 노드는 면적 손실이 없다. 이에, 제1b 이형 전극(HE1b)의 타측에 해당되는 노드는 일반 노드로 설정될 수 있다.

제1 터치 감지 전극(160A)의 상부에는 제3 터치 감지 전극(160C)이 배치될 수 있다. 또한, 제3 터치 감지 전극(160C)에도 관통홀(TH)에 의한 면적 손실이 발생할 수 있다. 다만, 제3 터치 감지 전극(160C) 내에서의 면적 손실은 제1 터치 감지 전극(160A) 내에서의 면적 손실보다 작을 수 있다. 또한, 제3 터치 감지 전극(160C) 상의 손실 발생 노드의 면적은 일반 노드의 면적의 60% 이상일 수 있다. 이에, 제3 터치 감지 전극(160C) 및 이와 교차하는 복수의 터치 구동 전극(170)의 노드들은 이형 전극에 의한 면적 보상 없이도 용이하게 터치 동작을 검출할 수 있다.

도 3a를 참조하면, 복수의 터치 구동 전극(170)의 복수의 서브 터치 구동 전극(171) 중 일부는 제2 이형 전극(HE2)으로 구성된다. 이하에서는 관통홀(TH)의 좌측 하부 및 우측 하부에 각각 배치된 제2 이형 전극(HE2)을 제2a 이형 전극(HE2a) 및 제2b 이형 전극(HE2b)으로 정의하도록 한다.

제2a 이형 전극(HE2a)은 제1a 이형 전극(HE1a)과 이웃하게 배치된다. 특히, 제2a 이형 전극(HE2a)의 외곽 형상은 제1a 이형 전극(HE1a)의 외곽 형상과 대응될 수 있다. 즉, 제1a 이형 전극(HE1a)의 형상이 변경됨에 따라, 이와 인접하는 제2a 이형 전극(HE2a)의 형상도 함께 변경될 수 있다. 제2b 이형 전극(HE2b)은 제1b 이형 전극(HE1b)과 이웃하게 배치된다. 특히, 제2b 이형 전극(HE2b)의 외곽 형상은 제1b 이형 전극(HE1b)의 외곽 형상과 대응될 수 있다. 즉, 제1b 이형 전극(HE1b)의 형상이 변경됨에 따라, 이와 인접하는 제2b 이형 전극(HE2b)의 형상도 함께 변경될 수 있다.

한편, 도 3a 도시된 관통홀(TH), 제2 비표시 영역(NA2), 이형 전극(HE1, HE2) 등의 위치 및 구조는 본 명세서를 설명하기 위한 하나의 예일 뿐이며, 이것으로 본 명세서가 제한되는 것은 아니다. 즉, 표시 장치(100)의 설계에 따라 이들의 위치 및 구조는 다양하게 수 있다.

본 명세서에 따른 표시 장치(100)는 제2 비표시 영역(NA2)과 인접하는 복수의 서브 터치 감지 전극(161) 중 적어도 하나를 제1 이형 전극(HE1)으로 구성한다. 또한, 제2 비표시 영역(NA2)과 인접하는 복수의 서브 터치 구동 전극(171) 중 적어도 하나를 제2 이형 전극(HE2)으로 구성한다. 이에, 관통홀(TH)에 의한 면적 손실이 발생된 노드에서 터치 센싱 감도가 저하되는 것을 방지할 수 있다.

구체적으로, 서로 이웃하는 제1 이형 전극(HE1) 중 하나의 길이를 상대적으로 길게 구성하고, 그 대신 다른 하나의 길이를 상대적으로 짧게 구성할 수 있다. 이때, 상대적으로 길게 형성된 제1 이형 전극(HE1)을 포함하는 터치 감지 전극(160)은 관통홀(TH)에 의하여 면적 손실이 발생한 전극일 수 있다. 또한, 상대적으로 짧게 형성된 제1 이형 전극(HE1)을 포함하는 터치 감지 전극(160)은 관통홀(TH)에 의한 면적 손실이 없거나 면적 손실이 상대적으로 적은 전극일 수 있다. 즉, 도 3a에 도시된 바와 같이, 제1 터치 감지 전극(160A)의 일부 서브 터치 감지 전극(161)의 면적을 이웃하는 제2 터치 감지 전극(160B)의 영역까지 확장할 수 있다. 따라서, 제1 터치 감지 전극(160A)에 발생한 면적 손실을 보상할 수 있다. 특히, 관통홀(TH)과 인접하는 노드에서의 서브 터치 감지 전극(161)의 면적이 확장됨에 따라 해당 노드에서 검출될 수 있는 정전 용량 변화량이 증가될 수 있다. 따라서, 표시 장치(100)의 터치 센싱의 정확도를 향상시킬 수 있다.

도 4는 본 명세서의 다른 실시예에 따른 표시 장치의 평면도이다. 도 4는 제2 비표시 영역(NA2)이 포함된 일부 영역에 대한 확대 평면도일 수 있다. 도 4의 표시 장치(400)는 도 1 내지 도 3b의 표시 장치(100)와 비교하여 플로팅 전극(163, 173)만이 상이하고 나머지는 실질적으로 동일하므로, 중복 설명은 생략하도록 한다.

도 4를 참조하면, 표시 장치(400)는 제1 방향으로 연장되는 복수의 터치 감지 전극(160) 및 제2 방향으로 연장되는 복수의 터치 구동 전극(170)을 포함한다.

복수의 터치 감지 전극(160)은 서로 이웃하는 제1 터치 감지 전극(460A) 및 제2 터치 감지 전극(460B)을 포함할 수 있다. 여기서, 제1 터치 감지 전극(460A)은 관통홀(TH)에 의하여 일부 면적이 손실된 터치 감지 전극(160)이고, 제2 터치 감지 전극(460B)은 관통홀(TH)에 의한 면적 손실이 없는 터치 감지 전극(160)일 수 있으나, 이에 제한되지 않는다.

제1 터치 감지 전극(460A)의 복수의 서브 터치 감지 전극(161) 중 일부는 제1 이형 전극(HE1)으로 구성된다. 제2 터치 감지 전극(460B)의 복수의 서브 터치 감지 전극(161) 중 일부는 제1 이형 전극(HE1)으로 구성된다. 구체적으로, 제1 터치 감지 전극(460A)은 제1a 이형 전극(HE1a)과 제1b 이형 전극(HE1b)을 포함하고, 제2 터치 감지 전극(460B)은 제1c 이형 전극(HE1c)과 제1d 이형 전극(HE1d)을 포함한다. 또한, 제1 터치 감지 전극(460A)은 제1a 이형 전극(HE1a)과 제1b 이형 전극(HE1b) 사이의 또 다른 제1 이형 전극(HE1)을 더 포함할 수도 있다. 또한, 제2 터치 감지 전극(460B)은 제1c 이형 전극(HE1c)과 제1d 이형 전극(HE1d) 사이의 또 다른 제1 이형 전극(HE1)을 더 포함할 수도 있다.

복수의 터치 구동 전극(170)은 서로 이웃하는 제1 터치 구동 전극(470A) 및 제2 터치 구동 전극(470B)을 포함할 수 있다. 제1 터치 구동 전극(470A)과 제2 터치 구동 전극(470B)은 모두 관통홀(TH)에 의하여 일부 면적이 손실된 터치 구동 전극(170)일 수 있으나, 이에 제한되지 않는다.

제1 터치 구동 전극(470A)의 복수의 서브 터치 구동 전극(171) 중 일부는 제2 이형 전극(HE2)으로 구성된다. 제2 터치 구동 전극(470B)의 복수의 서브 터치 구동 전극(171) 중 일부는 제2 이형 전극(HE2)으로 구성된다. 구체적으로, 제1 터치 구동 전극(470A)은 제2a 이형 전극(HE2a)을 포함하고, 제2 터치 구동 전극(470B)은 제2b 이형 전극(HE2b)을 포함한다.

제1 플로팅 전극(163)은 복수의 서브 터치 감지 전극(161) 중 일부에만 배치된다. 예를 들어, 제1 플로팅 전극(163)은 복수의 서브 터치 감지 전극(161) 중 제1 이형 전극(HE1) 외의 일반 서브 터치 감지 전극(161)에만 배치될 수 있다. 또한, 제1 플로팅 전극(163)은 일반 서브 터치 감지 전극(161) 중 일부에만 배치될 수도 있다. 구체적으로, 제1 플로팅 전극(163)은 일반 서브 터치 감지 전극(161) 중 면적 손실이 전혀 발생하지 않은 서브 터치 감지 전극(161) 또는 면적 손실이 적은 서브 터치 감지 전극(161)에만 배치될 수 있다.

제2 플로팅 전극(173)은 복수의 서브 터치 구동 전극(171) 중 일부에만 배치된다. 예를 들어, 제2 플로팅 전극(173)은 복수의 서브 터치 구동 전극(171) 중 제2 이형 전극(HE2) 외의 일반 서브 터치 구동 전극(171)에만 배치될 수 있다. 또한, 제2 플로팅 전극(173)은 일반 서브 터치 구동 전극(171) 중 일부에만 배치될 수도 있다. 구체적으로, 제2 플로팅 전극(173)은 일반 서브 터치 구동 전극(171) 중 면적 손실이 전혀 발생하지 않은 서브 터치 감지 전극(171) 또는 면적 손실이 적은 서브 터치 감지 전극(171)에만 배치될 수 있다.

본 명세서의 다른 실시예에 따른 표시 장치(400)는 제2 비표시 영역(NA2)과 인접하는 복수의 서브 터치 감지 전극(161) 중 적어도 하나를 제1 이형 전극(HE1)으로 구성한다. 또한, 제2 비표시 영역(NA2)과 인접하는 복수의 서브 터치 구동 전극(171) 중 적어도 하나를 제2 이형 전극(HE2)으로 구성한다. 이에, 관통홀(TH)에 의한 면적 손실을 보상하고, 터치 센싱 감도가 저하되는 것을 방지할 수 있다.

제1 플로팅 전극(163)은 복수의 서브 터치 감지 전극(161) 중 일부에만 배치되고, 제2 플로팅 전극(173)은 복수의 서브 터치 구동 전극(171) 중 일부에만 배치된다. 이에, 플로팅 전극(163, 173)이 배치되지 않은 서브 터치 감지 전극(161) 또는 서브 터치 구동 전극(171)의 유효 면적을 증가시킬 수 있다. 따라서, 표시 장치(400)의 터치 센싱 감도를 향상시킬 수 있다.

구체적으로, 도 4에 도시된 바와 같이, 제1 이형 전극(HE1)은 제1 플로팅 전극(163)을 포함하지 않는다. 이때, 정전 용량은 면적이 커질수록 증가한다. 따라서, 제1 이형 전극(HE1)의 유효 면적이 증가되고, 정전 용량 변화량이 증가될 수 있다. 특히, 제1 이형 전극(HE1)은 관통홀(TH)에 의하여 면적 손실이 발생된 터치 감지 전극(160) 또는 이웃한 터치 감지 전극(160)의 면적 보상을 위하여 일부 면적이 축소된 터치 감지 전극(160)에 배치된다. 따라서, 제1 이형 전극(HE1)의 유효 면적 증가에 따라, 관통홀(TH)에 의한 면적 손실이 보다 효과적으로 보상될 수 있다. 또한, 제1 이형 전극(HE1)의 유효 면적 증가에 따라, 터치 감지 전극(160)의 일부 면적이 축소되는 것이 보상될 수 있다.

제2 이형 전극(HE2)은 제2 플로팅 전극(173)을 포함하지 않는다. 따라서, 제2 이형 전극(HE2)의 유효 면적이 증가되고, 정전 용량 변화량이 증가될 수 있다. 특히, 제2 이형 전극(HE2)은 관통홀(TH)에 의하여 면적 손실이 발생된 터치 구동 전극(170)에 배치된다. 따라서, 제2 이형 전극(HE2)의 유효 면적 증가에 따라, 관통홀(TH)에 의한 면적 손실이 보다 효과적으로 보상될 수 있다.

특히, 도 4에 도시된 바와 같이, 관통홀(TH)의 좌측 상단 및 우측 상단에 배치된 서브 터치 구동 전극(171)에는 제2 플로팅 전극(173)이 형성되지 않는다. 즉, 관통홀(TH)에 의하여 면적 손실이 크게 발생한 서브 터치 구동 전극(171)에는 제2 플로팅 전극(173)이 형성되지 않는다. 따라서, 해당 서브 터치 구동 전극(171)의 유효 면적 증가에 따라, 관통홀(TH)에 의한 면적 손실이 보상될 수 있다. 또한, 제1c 이형 전극(HE1c)과 동일 노드 및 제1d 이형 전극(HE1d)과 동일 노드에 배치된 서브 터치 구동 전극(171)에는 제2 플로팅 전극(173)이 형성되지 않는다. 이때, 제1c 이형 전극(HE1c)과 제1d 이형 전극(HE1d)이 배치된 노드는 축소된 노드일 수 있다. 따라서, 일반 노드 대비 면적이 축소된 노드에 포함된 서브 터치 구동 전극(171)의 유효 면적을 증가시키고, 노드의 면적 축소를 보상할 수 있다.

도 5는 본 명세서의 또 다른 실시예에 따른 표시 장치의 평면도이다. 도 5는 제2 비표시 영역(NA2)이 포함된 일부 영역에 대한 확대 평면도일 수 있다. 도 5의 표시 장치(500)는 도 4의 표시 장치(400)와 비교하여 이형 전극(HE1, HE2)만이 상이하고 나머지는 실질적으로 동일하므로, 중복 설명은 생략하도록 한다.

도 5를 참조하면, 표시 장치(500)는 제1 방향으로 연장되는 복수의 터치 감지 전극(160) 및 제2 방향으로 연장되는 복수의 터치 구동 전극(170)을 포함한다.

복수의 터치 감지 전극(160)은 서로 이웃하는 제1 터치 감지 전극(560A) 및 제2 터치 감지 전극(560B)을 포함할 수 있다. 여기서, 제1 터치 감지 전극(560A)은 관통홀(TH)에 의하여 일부 면적이 손실된 터치 감지 전극(160)이고, 제2 터치 감지 전극(560B)은 관통홀(TH)에 의한 면적 손실이 없는 터치 감지 전극(160)일 수 있으나, 이에 제한되지 않는다.

제1 터치 감지 전극(560A)의 복수의 서브 터치 감지 전극(161) 중 일부는 제1 이형 전극(HE1)으로 구성된다. 제2 터치 감지 전극(560B)의 복수의 서브 터치 감지 전극(161) 중 일부는 제1 이형 전극(HE1)으로 구성된다. 구체적으로, 제1 터치 감지 전극(560A)은 제1a 이형 전극(HE1a), 제1b 이형 전극(HE1b) 및 제1c 이형 전극(HE1c)을 포함하고, 제2 터치 감지 전극(560B)은 제1d 이형 전극(HE1d), 제1e 이형 전극(HE1e) 및 제1f 이형 전극(HE1f)을 포함한다. 제1 이형 전극(HE1)은 모두 제1 플로팅 전극(163)을 포함하지 않는다.

복수의 터치 구동 전극(170)은 서로 이웃하는 제1 터치 구동 전극(570A) 및 제2 터치 구동 전극(570B)을 포함할 수 있다. 제1 터치 구동 전극(570A)과 제2 터치 구동 전극(570B)은 모두 관통홀(TH)에 의하여 일부 면적이 손실된 터치 구동 전극(170)일 수 있으나, 이에 제한되지 않는다.

제1 터치 구동 전극(570A)의 복수의 서브 터치 구동 전극(171) 중 일부는 제2 이형 전극(HE2)으로 구성된다. 제2 터치 구동 전극(570B)의 복수의 서브 터치 구동 전극(171) 중 일부는 제2 이형 전극(HE2)으로 구성된다. 구체적으로, 제1 터치 구동 전극(570A)은 제2a 이형 전극(HE2a), 제2b 이형 전극(HE2b), 제2c 이형 전극(HE2c)을 포함하고, 제2 터치 구동 전극(570B)은 제2d 이형 전극(HE2d), 제2e 이형 전극(HE2e), 제2f 이형 전극(HE2f)을 포함한다. 제2 이형 전극(HE2)은 모두 제2 플로팅 전극(173)을 포함하지 않는다.

본 명세서의 또 다른 실시예에 따른 표시 장치(500)는 제2 비표시 영역(NA2)과 인접하는 복수의 서브 터치 감지 전극(161) 중 적어도 하나를 제1 이형 전극(HE1)으로 구성한다. 또한, 제2 비표시 영역(NA2)과 인접하는 복수의 서브 터치 구동 전극(171) 중 적어도 하나를 제2 이형 전극(HE2)으로 구성한다. 이에, 관통홀(TH)에 의한 면적 손실을 보상하고, 터치 센싱 감도가 저하되는 것을 방지할 수 있다.

이웃하는 제1 이형 전극(HE1)과 제2 이형 전극(HE2)의 외곽의 형상은 서로 대응될 수 있다. 특히, 제1 이형 전극(HE1)과 제2 이형 전극(HE2)은 모두 일반 서브 터치 감지 전극(161) 및 일반 서브 터치 구동 전극(171)과 완전히 상이한 형상을 갖도록 구성될 수 있다. 이에, 하나의 노드에서의 제1 이형 전극(HE1)과 제2 이형 전극(HE2)의 면적비를 유사하게 구성할 수 있다. 따라서, 터치 센싱의 정확도가 보다 향상될 수 있다.

이형 전극(HE1, HE2)은 모두 플로팅 전극(163, 173)을 포함하지 않는다. 이에, 이형 전극(HE1, HE2)의 유효 면적을 증가시킬 수 있다. 따라서, 표시 장치(500)의 터치 센싱 감도를 향상시킬 수 있다.

본 명세서의 다양한 실시예들에 따른 표시 장치는 다음과 같이 설명될 수 있다.

본 명세서의 다른 특징에 따르면, 상기 제1 이형 전극과 상기 나머지 서브 터치 감지 전극은 상기 제2 방향에 대하여 상이한 길이를 가질 수 있다.

본 명세서의 또 다른 특징에 따르면, 상기 복수의 터치 감지 전극은 상기 비표시 영역과 인접하는 영역에서 서로 이웃하게 배치된 제1 터치 감지 전극 및 제2 터치 감지 전극을 포함하고, 상기 제1 터치 감지 전극의 상기 제1 이형 전극과 상기 제2 터치 감지 전극의 상기 제1 이형 전극은 상기 제2 방향으로 서로 이웃하게 배치될 수 있다.

본 명세서의 또 다른 특징에 따르면, 상기 제1 터치 감지 전극의 상기 제1 이형 전극의 상기 제2 방향에 대한 길이는 상기 나머지 서브 터치 감지 전극의 상기 제2 방향에 대한 길이보다 길고, 상기 제2 터치 감지 전극의 상기 제1 이형 전극의 상기 제2 방향에 대한 길이는 상기 나머지 서브 터치 감지 전극의 상기 제2 방향에 대한 길이보다 짧을 수 있다.

본 명세서의 또 다른 특징에 따르면, 상기 복수의 터치 구동 전극 각각은 서로 이격된 복수의 서브 터치 구동 전극을 포함하고, 상기 복수의 서브 터치 구동 전극 중 상기 비표시 영역과 인접하는 적어도 하나의 서브 터치 구동 전극은 나머지 서브 터치 구동 전극과 상이한 형상의 제2 이형 전극으로 구성될 수 있다.

본 명세서의 또 다른 특징에 따르면, 상기 복수의 터치 감지 전극은 상기 복수의 서브 터치 감지 전극을 전기적으로 연결하는 복수의 브릿지 전극을 더 포함하고, 상기 복수의 터치 구동 전극은 상기 복수의 서브 터치 구동 전극을 연결하며 상기 복수의 서브 터치 구동 전극과 일체로 이루어진 복수의 연결부를 더 포함하고, 상기 복수의 브릿지 전극과 상기 복수의 연결부는 서로 중첩하도록 배치될 수 있다.

본 명세서의 또 다른 특징에 따르면, 상기 복수의 터치 감지 전극의 상기 제1 이형 전극과 상기 복수의 터치 구동 전극의 상기 제2 이형 전극은 서로 이웃하게 배치될 수 있다.

본 명세서의 또 다른 특징에 따르면, 상기 제1 이형 전극의 외곽의 형상은 상기 제1 이형 전극과 이웃하는 상기 제2 이형 전극의 외곽의 형상과 대응될 수 있다.

본 명세서의 또 다른 특징에 따르면, 상기 복수의 서브 터치 감지 전극 내에서 상기 복수의 서브 터치 감지 전극과 전기적으로 분리되는 복수의 제1 플로팅 전극; 및 상기 복수의 서브 터치 구동 전극 내에서 상기 복수의 서브 터치 구동 전극과 전기적으로 분리되는 복수의 제2 플로팅 전극을 더 포함할 수 있다.

본 명세서의 또 다른 특징에 따르면, 상기 복수의 제1 플로팅 전극은 상기 복수의 서브 터치 감지 전극 중 일부에만 배치되고, 상기 복수의 제2 플로팅 전극은 상기 복수의 서브 터치 구동 전극 중 일부에만 배치될 수 있다.

본 명세서의 또 다른 특징에 따르면, 상기 복수의 제1 플로팅 전극은 상기 복수의 서브 터치 감지 전극 중 상기 제1 이형 전극 외의 상기 나머지 서브 터치 감지 전극에 배치될 수 있다.

본 명세서의 또 다른 특징에 따르면, 상기 복수의 제2 플로팅 전극은 상기 복수의 서브 터치 구동 전극 중 상기 제2 이형 전극 외의 상기 나머지 서브 터치 구동 전극에 배치될 수 있다.

본 명세서의 또 다른 특징에 따르면, 상기 비표시 영역에서 상기 기판을 관통하도록 배치되는 관통홀을 더 포함할 수 있다.

본 명세서의 또 다른 특징에 따르면, 상기 복수의 터치 감지 전극 및 상기 복수의 터치 구동 전극 중 적어도 하나는 상기 관통홀에 의하여 분리되고, 분리된 터치 감지 전극 또는 분리된 터치 구동 전극은 상기 관통홀의 외곽을 따라 배치된 연결 라인에 의하여 전기적으로 연결될 수 있다.

이상 첨부된 도면을 참조하여 본 명세서의 실시예들을 더욱 상세하게 설명하였으나, 본 명세서는 반드시 이러한 실시예로 국한되는 것은 아니고, 본 명세서의 기술사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 다양하게 변형실시될 수 있다. 따라서, 본 명세서에 개시된 실시예들은 본 명세서의 기술 사상을 제한하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시예에 의하여 본 명세서의 기술 사상의 범위가 제한되는 것은 아니다. 그러므로, 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 제한적이 아닌 것으로 이해해야만 한다. 본 명세서의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 명세서의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.

100, 400, 500: 표시 장치
110: 기판
111: 게이트 절연층
112, 113: 층간 절연층
114: 평탄화층
115: 뱅크
120: 트랜지스터
121: 액티브층
122: 게이트 전극
123: 소스 전극
124: 드레인 전극
130: 발광 소자
131: 제1 전극
132: 발광층
133: 제2 전극
140: 봉지부
141: 제1 봉지층
142: 이물 커버층
143: 제2 봉지층
151, 154: 터치 평탄화층
152: 터치 버퍼층
153: 터치 절연층
160, 160A, 160B, 160C, 460A, 460B, 560A, 560B: 터치 감지 전극
161: 서브 터치 감지 전극
162: 브릿지 전극
163: 제1 플로팅 전극
170, 470A, 470B, 570A, 570B: 터치 구동 전극
171: 서브 터치 구동 전극
172: 연결부
173: 제2 플로팅 전극
180: 연결 라인
AA: 표시 영역
NA1: 제1 비표시 영역
NA2: 제2 비표시 영역
TH: 관통홀
OP: 개구부
RL1, RL2: 터치 라우팅 배선
TP1, TP2: 터치 패드
HE1, HE2: 이형 전극
DM1, DM2: 댐

Claims

표시 영역 및 상기 표시 영역 내의 비표시 영역을 포함하는 기판;
상기 표시 영역에 배치되는 복수의 발광 소자;
상기 복수의 발광 소자를 커버하는 봉지부;
상기 표시 영역에서 상기 봉지부 상에 배치되며, 제1 방향으로 연장되는 복수의 터치 감지 전극; 및
상기 표시 영역에서 상기 봉지부 상에 배치되며, 상기 제1 방향과 상이한 제2 방향으로 연장되는 복수의 터치 구동 전극을 포함하고,
상기 복수의 터치 감지 전극 각각은 서로 이격된 복수의 서브 터치 감지 전극을 포함하고,
상기 복수의 서브 터치 감지 전극 중 상기 비표시 영역과 인접하는 적어도 하나의 서브 터치 감지 전극은 나머지 서브 터치 감지 전극과 상이한 형상의 제1 이형 전극으로 구성되는, 표시 장치.
제1항에 있어서,
상기 제1 이형 전극과 상기 나머지 서브 터치 감지 전극은 상기 제2 방향에 대하여 상이한 길이를 갖는, 표시 장치.
제2항에 있어서,
상기 복수의 터치 감지 전극은 상기 비표시 영역과 인접하는 영역에서 서로 이웃하게 배치된 제1 터치 감지 전극 및 제2 터치 감지 전극을 포함하고,
상기 제1 터치 감지 전극의 상기 제1 이형 전극과 상기 제2 터치 감지 전극의 상기 제1 이형 전극은 상기 제2 방향으로 서로 이웃하게 배치되는, 표시 장치.
제3항에 있어서,
상기 제1 터치 감지 전극의 상기 제1 이형 전극의 상기 제2 방향에 대한 길이는 상기 나머지 서브 터치 감지 전극의 상기 제2 방향에 대한 길이보다 길고,
상기 제2 터치 감지 전극의 상기 제1 이형 전극의 상기 제2 방향에 대한 길이는 상기 나머지 서브 터치 감지 전극의 상기 제2 방향에 대한 길이보다 짧은, 표시 장치.
제1항에 있어서,
상기 복수의 터치 구동 전극 각각은 서로 이격된 복수의 서브 터치 구동 전극을 포함하고,
상기 복수의 서브 터치 구동 전극 중 상기 비표시 영역과 인접하는 적어도 하나의 서브 터치 구동 전극은 나머지 서브 터치 구동 전극과 상이한 형상의 제2 이형 전극으로 구성되는, 표시 장치.
제5항에 있어서,
상기 복수의 터치 감지 전극은 상기 복수의 서브 터치 감지 전극을 전기적으로 연결하는 복수의 브릿지 전극을 더 포함하고,
상기 복수의 터치 구동 전극은 상기 복수의 서브 터치 구동 전극을 연결하며 상기 복수의 서브 터치 구동 전극과 일체로 이루어진 복수의 연결부를 더 포함하고,
상기 복수의 브릿지 전극과 상기 복수의 연결부는 서로 중첩하도록 배치되는, 표시 장치.
제5항에 있어서,
상기 복수의 터치 감지 전극의 상기 제1 이형 전극과 상기 복수의 터치 구동 전극의 상기 제2 이형 전극은 서로 이웃하게 배치되는, 표시 장치.
제7항에 있어서,
상기 제1 이형 전극의 외곽의 형상은 상기 제1 이형 전극과 이웃하는 상기 제2 이형 전극의 외곽의 형상과 대응되는, 표시 장치.
제5항에 있어서,
상기 복수의 서브 터치 감지 전극 내에서 상기 복수의 서브 터치 감지 전극과 전기적으로 분리되는 복수의 제1 플로팅 전극; 및
상기 복수의 서브 터치 구동 전극 내에서 상기 복수의 서브 터치 구동 전극과 전기적으로 분리되는 복수의 제2 플로팅 전극을 더 포함하는, 표시 장치.
제9항에 있어서,
상기 복수의 제1 플로팅 전극은 상기 복수의 서브 터치 감지 전극 중 일부에만 배치되고,
상기 복수의 제2 플로팅 전극은 상기 복수의 서브 터치 구동 전극 중 일부에만 배치되는, 표시 장치.
제9항에 있어서,
상기 복수의 제1 플로팅 전극은 상기 복수의 서브 터치 감지 전극 중 상기 제1 이형 전극 외의 상기 나머지 서브 터치 감지 전극에 배치되는, 표시 장치.
제9항에 있어서,
상기 복수의 제2 플로팅 전극은 상기 복수의 서브 터치 구동 전극 중 상기 제2 이형 전극 외의 상기 나머지 서브 터치 구동 전극에 배치되는, 표시 장치.
제1항에 있어서,
상기 비표시 영역에서 상기 기판을 관통하도록 배치되는 관통홀을 더 포함하는, 표시 장치.
제13항에 있어서,
상기 복수의 터치 감지 전극 및 상기 복수의 터치 구동 전극 중 적어도 하나는 상기 관통홀에 의하여 분리되고,
분리된 터치 감지 전극 또는 분리된 터치 구동 전극은 상기 관통홀의 외곽을 따라 배치된 연결 라인에 의하여 전기적으로 연결되는, 표시 장치.