KR20240078322A - Electrical connecting apparatus - Google Patents
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Abstract
[과제] 전원 특성을 양호하게 하면서, 보다 많은 전자 부품을 배치하는 것이 가능한 전기적 접속 장치가 요구되고 있다.
[해결 수단] 본 발명은, 검사 장치와, 피검사체의 복수의 전극 단자를 전기적으로 접속하는 전기적 접속 장치에 있어서, 검사 장치와 접속하는 배선 회로를 갖는 배선 기판과, 피검사체의 복수의 전극 단자의 각각에 대하여, 전기적으로 접촉시키는 복수의 전기적 접촉자를 갖는 프로브 기판과, 배선 기판과 프로브 기판과의 사이에 설치되고, 배선 기판의 배선 회로와, 프로브 기판의 복수의 전기적 접촉자의 사이를 전기적으로 접속하는 접속 기판을 갖추고, 접속 기판의 적어도 표면에는 1 또는 복수의 단차부가 설치되고 있고, 1 또는 복수의 단차부의 각각의 표면에 전자 부분이 배치되어 있는 것을 특징으로 한다.[Problem] There is a demand for an electrical connection device that allows placement of more electronic components while providing good power characteristics.
[Solution] The present invention provides an electrical connection device for electrically connecting a test device and a plurality of electrode terminals of an object to be inspected, comprising: a wiring board having a wiring circuit connected to the test device; and a plurality of electrode terminals of the object to be inspected. For each of the above, a probe board having a plurality of electrical contacts brought into electrical contact is provided between the wiring board and the probe board, and is electrically connected between the wiring circuit of the wiring board and the plurality of electrical contacts of the probe board. A connection board for connection is provided, and one or more step portions are provided on at least a surface of the connection board, and an electronic portion is disposed on each surface of the one or more step portions.
Description
본 발명은, 전기적 접속 장치에 관한 것으로, 예를 들면, 반도체 집적회로의 통전 시험 등에 이용되는 프로브 카드 등으로 대표되는 전기적 접속 장치에 적용 할 수 있는 것이다.The present invention relates to an electrical connection device, and can be applied to, for example, electrical connection devices such as probe cards used for energization testing of semiconductor integrated circuits.
반도체의 제조 공정에 있어서, 반도체 웨이퍼 상에 형성된 다수의 반도체 집적회로는 각각, 다이싱(dicing) 전에 기대되는 전기적 특성을 갖추고 있는지 아닌지의 전기적 특성의 검사를 수행하고 있다.In the semiconductor manufacturing process, the electrical properties of a plurality of semiconductor integrated circuits formed on a semiconductor wafer are each inspected to determine whether they have the expected electrical properties before dicing.
피검사체로서의 각 반도체 집적회로의 전기적 검사에는, 각 반도체 집적회로를 검사하는 검사 장치에 장착되는 프로브 카드가 이용된다. 프로브 카드는, 다수의 프로브를 가지고 있고, 검사시에, 프로브의 각각을, 피검사체의 전극 단자에 밀어넣어 전기적으로 접촉시키고, 검사 장치가 각 피검사체의 전기적 특성을 검사한다.For electrical inspection of each semiconductor integrated circuit as an object to be inspected, a probe card mounted on an inspection device that inspects each semiconductor integrated circuit is used. The probe card has a plurality of probes, and during an inspection, each of the probes is pushed into the electrode terminal of the object to be inspected to make electrical contact, and the inspection device tests the electrical characteristics of each object to be inspected.
종래, 피검사체의 전기적 특성의 검사에서는, 프로브 카드를 통하여 검사 장치와 피검사체와의 사이에 전기신호를 인가하기 때문에, 검사 장치와 피검사체와의 사이의 도통로가 노이즈의 전송로가 되어, 검사 정밀도를 저하시켜 버린다. 그 때문에, 노이즈 제거용의 콘덴서를 배치시키고, 노이즈를 저감 시키고 있다(특허 문헌 1 참조).Conventionally, in testing the electrical characteristics of an object to be inspected, an electric signal is applied between the test device and the object to be inspected through a probe card, so the conductive path between the test device and the object to be inspected becomes a transmission path for noise. It reduces inspection precision. Therefore, a condenser for noise removal is placed to reduce noise (see Patent Document 1).
종래, 노이즈 제거용의 콘덴서는, 도 2에 예시하는 배선 기판(PCB)(12)의 상면이나 지지 부재(스티프너, stiffener)(11)에도 배치되어 있고, 더욱이 많은 콘덴서를 배치하는 경우에는, 접속 기판(15)의 하면에 배치되어 있다.Conventionally, capacitors for noise removal are placed on the upper surface of the wiring board (PCB) 12 or on the support member (stiffener) 11 as shown in FIG. 2, and when many capacitors are placed, the connection It is disposed on the lower surface of the
하지만, 피검사체의 고밀도화에 수반하여, 프로브 카드의 접속 기판에 배치하는 콘덴서 등의 전자 부품의 수도 증대하여, 전자 부품의 배치 스페이스가 좁아지고 있다. 한편, 향후, 전자 부품의 배치수를 늘리는 요망이 높아질 가능성이 있어, 전자 부품의 효율적인 배치가 바람직하고 있다.However, as the density of the object to be inspected increases, the number of electronic components such as condensers placed on the connection board of the probe card also increases, and the space for placing electronic components is narrowing. On the other hand, there is a possibility that the demand for increasing the number of electronic components placed will increase in the future, and efficient arrangement of electronic components is desirable.
또, 전원 라인의 노이즈 제거를 효율적으로 수행하기 위해서, 프로브 카드에 있어 프로브의 위치에 가까운 위치에 콘덴서를 배치하는 것이 전원 특성의 관점에서 바람직하고 있다.Additionally, in order to efficiently remove noise from the power supply line, it is desirable from the viewpoint of power supply characteristics to place the condenser in a position close to the probe position on the probe card.
그 때문에, 전원 특성을 양호하게 하면서, 보다 많은 전자 부품을 배치하는 것이 가능한 전기적 접속 장치가 요구되고 있다.Therefore, there is a demand for an electrical connection device that allows more electronic components to be placed while providing good power supply characteristics.
이러한 과제를 해결하기 위해서, 검사 장치와, 피검사체의 복수의 전극 단자를 전기적으로 접속하는 전기적 접속 장치에 있어서, (1) 검사 장치와 접속하는 배선회로를 갖는 배선 기판과, (2) 피검사체의 복수의 전극 단자의 각각 대하여, 전기적으로 접촉시키는 복수의 전기적 접촉자를 갖는 프로브 기판과, (3)배선 기판과 프로브 기판과의 사이에 설치되고, 배선 기판의 배선 회로와 프로브 기판의 복수의 전기적 접촉자의 각각과의 사이를 전기적으로 접속하는 접속 기판을 구비하고, 접속 기판의 적어도 표면에는 1 또는 복수의 단차부가 설치되고 있고, 1 또는 복수의 단차부의 각각의 표면에 전자 부분이 배치되어 있는 것을 특징으로 한다.In order to solve this problem, an electrical connection device for electrically connecting a plurality of electrode terminals of an inspection device and an inspection object includes (1) a wiring board having a wiring circuit for connection to the inspection device, and (2) an inspection object. a probe board having a plurality of electrical contacts for electrical contact with each of the plurality of electrode terminals, and (3) a probe board provided between the wiring board and the probe board, and a wiring circuit of the wiring board and a plurality of electrical contacts of the probe board. A connection board is provided for electrically connecting each of the contactors, one or a plurality of step portions are provided on at least a surface of the connection board, and an electronic portion is disposed on each surface of the one or more step portions. It is characterized by
본 발명에 의하면, 전원 특성을 양호하게 하면서, 보다 많은 전자 부품을 배치할 수 있다.According to the present invention, more electronic components can be placed while improving power supply characteristics.
[도 1] 도 1(A)는, 실시 형태에 따른 전기적 접속 장치의 구성을 나타내는 구성도이고, 도 1(B)는, 도 1(A)의 접속 기판에 설치된 단차부의 구성을 나타내는 확대도이다.
[도 2] 도 2(A)는, 종래의 전기적 접속 장치의 구성을 나타내는 구성도이고, 도 2(B)는, 도 2(A)의 접속 기판의 구성을 나타내는 확대도이다.
[도 3] 실시 형태의 전기적 접속 장치의 접속 기판에 설치하는 단차부의 변형예의 구성을 나타내는 구성도이다.
[도 4] 도 4(A)는, 실시 형태에 따른 전기적 접속 장치의 구성을 나타내는 구성도이고, 도 4(B)는, 도 4(A)의 접속 기판의 단차부의 구성을 나타내는 확대도이다.
[도 5] 도 5(A)는, 실시 형태에 따른 전기적 접속 장치의 접속 기판에 설치된 단차부의 구성을 나타내는 확대도이고, 도 5(B)는, 도 5(A)의 단차부 상면에 주목한 평면도이다.
[도 6] 도 6(A)는, 실시 형태에 따른 전기적 접속 장치의 접속 기판에 설치된 단차부의 구성을 나타내는 확대도이고, 도 6(B)는, 도 6(A)의 단차부의 사시도이고, 도 6(C)은, 도 6(A)의 단차부의 상면에 주목한 평면도이다.
[도 7] 실시 형태에 따른 전기적 접속 장치의 접속 기판에 설치된 단차부의 구성을 나타내는 확대도이다.[FIG. 1] FIG. 1(A) is a configuration diagram showing the configuration of an electrical connection device according to an embodiment, and FIG. 1(B) is an enlarged view showing the configuration of a step portion provided on the connection board of FIG. 1(A). am.
[FIG. 2] FIG. 2(A) is a configuration diagram showing the configuration of a conventional electrical connection device, and FIG. 2(B) is an enlarged view showing the configuration of the connection board in FIG. 2(A).
[FIG. 3] is a configuration diagram showing the configuration of a modified example of a step portion installed on a connection board of the electrical connection device of the embodiment.
[FIG. 4] FIG. 4(A) is a configuration diagram showing the configuration of an electrical connection device according to an embodiment, and FIG. 4(B) is an enlarged view showing the configuration of a step portion of the connection board in FIG. 4(A). .
[FIG. 5] FIG. 5(A) is an enlarged view showing the configuration of a step portion installed on the connection board of the electrical connection device according to the embodiment, and FIG. 5(B) focuses attention on the upper surface of the step portion in FIG. 5(A). It is a floor plan.
[FIG. 6] FIG. 6(A) is an enlarged view showing the configuration of a step portion installed on the connection board of the electrical connection device according to the embodiment, and FIG. 6(B) is a perspective view of the step portion in FIG. 6(A); FIG. 6(C) is a plan view focusing on the upper surface of the step portion in FIG. 6(A).
[FIG. 7] is an enlarged view showing the configuration of a step portion provided on the connection board of the electrical connection device according to the embodiment.
(A) 실시 형태(A) Embodiment
이하에서는, 본 발명에 따른 전기적 접속 장치의 실시 형태를, 도면을 참조하면서 상세하게 설명한다.Below, embodiments of the electrical connection device according to the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
(A-1) 실시 형태의 구성(A-1) Configuration of embodiment
도 1(A)는, 실시 형태에 따른 전기적 접속 장치의 구성을 나타내는 구성도이고, 도 1(B)는, 도 1(A)의 접속 기판에 설치된 단차부의 구성을 나타내는 확대도이다.FIG. 1(A) is a configuration diagram showing the configuration of an electrical connection device according to an embodiment, and FIG. 1(B) is an enlarged view showing the configuration of a step portion provided on the connection board of FIG. 1(A).
도 1(A)에 있어서, 실시 형태에 따른 전기적 접속 장치(1)는, 지지 부재(스티프너)(11), 배선 기판(12), 스페이서(13), 접속체(14), 접속 기판(15), 프로브 기판(프로브 헤드)(16)을 갖는다.In FIG. 1(A), the
도 1을 포함해 이 출원에 따른 각 도는, 주요한 구성요소 만을 나타내고 있지만, 실제의 전기적 접속 장치는 도시하지 않는 구성요소도 갖추고 있는 것에 유의한다. 또한, 전기적 접속 장치(1)의 각 구성요소의 사이즈, 즉 Z축방향의 두께나 X축방향의 길이 등은 일례이며, 도면에 나타낸 것에 한정되지 않는다. 게다가 이 실시형태에서, 「상」 「하」 「좌」 「우」 「안」 「앞」을 언급할 때에는, 도 1(A)에 나타내는 방향을 기준으로 하여 설명한다.Note that each figure according to this application, including Figure 1, shows only the main components, but the actual electrical connection device also includes components not shown. In addition, the size of each component of the
전기적 접속 장치(1)는, 반도체 웨이퍼 상에 형성된 복수의 반도체 집적회로의 각각(「피검사체」라고 부른다.)의 전기적 특성을 검사하기 위한 프로브 카드에 적용할 수 있다.The
예를 들면, 도 1(A)에 있어서, 검사 장치(테스터)(10)의 테스트 헤드에 전기적 접속 장치(1)가 장착되고, 검사시에, 전기적 접속 장치(1)가 갖는 프로브(전기적 접촉자)(3)를 피검사체(50)의 전극 단자(51)에 접촉시킨다. 그리고, 검사 장치(10)가 프로브(3)를 통하여 피검사체(50)에 대해서 전기신호를 공급하거나, 피검사체(50)가 프로브(3)를 통하여 검사 장치(10) 측으로 전기신호를 출력한다. 이것에 의해, 검사 장치(테스터)(10)는, 피검사체(50)가 사양대로의 전기적 특성을 갖추고 있는지 아닌지를 검사할 수 있다.For example, in FIG. 1(A), an
피검사체(50)는, 반도체 웨이퍼 상에 형성된 반도체 집적회로로 할 수 있다. 도 1(A)에 예시한 바와 같이, 반도체 웨이퍼는 웨이퍼 척(4)의 상면에 놓여져 웨이퍼 척(4)에 유지되고, 검사시에는, 예를 들면 다축 스테이지의 검사 스테이지의 구동에 의해 웨이퍼 척(4)이 움직이고, 반도체 웨이퍼가 전기적 접속 장치(1)의 하면에 가까워지고, 피검사체(50)의 전극 단자(51)가 프로브(3)의 선단에 접촉하도록, 피검사체(50)의 위치가 조정된다.The object to be inspected 50 can be a semiconductor integrated circuit formed on a semiconductor wafer. As illustrated in FIG. 1(A), the semiconductor wafer is placed on the upper surface of the
[배선 기판(12)] 배선 기판(12)은, 검사 장치(테스터)(10)의 테스트 헤드와 접속하여, 검사 장치(10)와의 사이에 전기신호의 수수(授受)를 하기 위한 기판이다. 예를 들면, 배선 기판(12)은, 프린트 배선 기판(PCB:Printed Circuit Board)를 이용할 수 있고, 위에서 보았을 때의 배선 기판(12)의 외관 형상은, 대략 원형, 혹은 대략 다각형으로 할 수 있다.[Wiring board 12] The
배선 기판(12)의 상면에는, 다수의 전자 부품(콘덴서, 저항 등)이 배치되어 있고, 또 테스트 헤드와 접속하기 위한 다수의 단자가 배치되어 있다. 한편, 배선 기판(12)의 하면에는, 후술하는 접속 기판(15)과 접속하기 위한 배선 패턴이 형성되고 있다. 배선 기판(12)의 내부에는, 상면의 테스트 헤드와 접속하는 단자와, 하면의 배선 패턴 상의 단자를 접속하기 위한 배선로가 형성되고 있다. 이것에 의해, 배선 기판(12) 내부의 배선로를 통해, 상면의 단자와, 하면의 배선 패턴 상의 단자를 전기적으로 접속 가능한 구조로 되어 있다.A large number of electronic components (condensers, resistors, etc.) are arranged on the upper surface of the
또한, 배선 기판(12)의 상면에 있어서, 전원 라인의 노이즈 제거용의 콘덴서(2)를 배치해도 무방하지만, 프로브(3)의 가까운 위치에 콘덴서(2)를 배치하는 것이 효율적으로 노이즈를 제거할 수 있다. 그 때문에, 이 실시 형태에서는, 후술하는 바와 같이 접속 기판(15)에 다수의 콘덴서(2)를 배치하는 경우를 설명하지만, 배선 기판(12)에 콘덴서(2)를 배치하도록 해도 무방하다. 또, 배선 기판(12)의 상면에는, 배선 기판(12)의 변형을 억제하기 위해 지지 부재(11) 등이 나사 등의 고정부재에 의해 고정되어서 배치되어 있다.Additionally, on the upper surface of the
[지지 부재(11)][Support member (11)]
지지 부재(11)는, 배선 기판(12)의 휨 등의 변형을 억제하기 위한 부재이며, 스티프너라고도 불리는 것이다. 지지 부재(11)는, Z방향으로 두께를 갖는 부재이며, 여러가지 형상의 것을 적용할 수 있고, 예를 들면 환상 부분과, 환상 부분의 중심으로부터 환상 부분을 향해서 방사상으로 연장되는 복수의 방사상 부분을 갖추는 것을 적용할 수 있다. 물론, 배선 기판(12)의 변형을 억제하는 것이 가능하면, 지지 부재(11)의 형상은 이것으로 한정되지 않는다. 또, 지지 부재(11)의 표면에 도전성의 패턴이 형성되고, 노이즈 제거용 콘덴서를 배치해도 무방하다.The
지지 부재(11)와 프로브 헤드(16)는, 스페이서(13) 등의 부재가 배치되어 있고, 지지 부재(11)와 프로브 헤드(16)가 평행하게 유지되도록 되어 있다.A member such as a
[접속체(14)][Connect body (14)]
접속체(14)는, 배선 기판(12)의 하면에 배치되고, 접속 기판(15)과 배선 기판(12)을 전기적으로 접속하기 위한 것이다. 접속체(14)는, 배선 기판(12) 하면에 형성되고 있는 배선 패턴과, 접속 기판(15) 상면에 설치되고 있는 단자를 전기적으로 접속한다. 접속체(14)는, 나사나 솔더 볼(solder ball) 등으로 접속 기판(15)과 접속하고 있고, 접속 기판(15)의 휨 등의 변형을 억제하는 부재로서의 역할도 있다.The
[접속 기판(15)][Connection board (15)]
접속 기판(15)은, 복수의 프로브(3)의 일방의 단부(즉 상단부)와 전기적으로 접속하여, 검사 장치(10)측에서의 전기신호를 각 프로브(3)에 전달하거나, 각 프로브(3)로부터의 전기신호를 검사 장치(10) 측에 전달하거나 한다.The
접속 기판(15)은, 다층 배선 기판(스페이스 트랜스포머(ST) 기판)을 적용할 수 있고, 직사각형의 기판으로 할 수 있다. 예를 들면, 접속 기판(15)의 하면에는, 피검사체(50)의 전극 단자(51)에 맞춰, 프로브(3)와 접속하기 위한 접속 단자(예를 들면 프로브 패드 에리어) 및 배선 패턴이 형성되어 있다. 한편, 접속 기판(15)의 상면에는, 접속체(14)와 전기적으로 접속하기 위한 단자가 형성되고 있고, 접속 기판(15)의 내부에 형성되고 있는 배선로가, 하면의 접속 단자 등과 상면의 단자를 접속하고 있다.The
또한, 접속 기판(15)의 하면의 접속 단자 등과 상면의 단자와의 접속 배선은, 접속 기판(15) 내부의 배선로로 한정되는 것은 아니고, 전기적으로 접속 가능하다면, 예를 들면, 접속 기판(15)의 표면에 배선 패턴을 형성하는 등 다른 배선 방법으로 해도 무방하다.In addition, the connection wiring between the connection terminals on the lower surface of the
또, 접속 기판(15)에는, 전원 라인의 노이즈 제거용의 콘덴서(2)가 배치된다. 콘덴서(2)의 배치 방법의 상세한 설명에 대해서는 후술한다.Additionally, a
[프로브 헤드(16)][Probe head (16)]
프로브 헤드(16)는, 복수의 프로브(3)를 실장하는 것이다. 프로브 헤드(16)는, 탑 가이드판으로서의 제1 가이드판(16a)과, 보텀 가이드판으로서의 제2 가이드판(16b)를 구비한다. 제1 가이드판(16a) 및 제2 가이드판(16b)에는, 프로브 수에 따른 개수의 관통공이 설치되고 있고, 제1 가이드판(16a) 및 제2 가이드판(16b)의 대응하는 관통공에 프로브(3)를 삽입하는 것으로, 제1 가이드판(16a)이 프로브(3)의 상부를 지지하고, 제2 가이드판(16b)이 프로브(3)의 하부를 지지하고, 프로브(3)가 세트된다. 프로브(3)가 세팅되었을 때, 프로브(3)의 상단부는, 접속 기판(15)의 하면의 접속 단자(예를 들면 프로브 패드 에리어)에 접촉하고, 프로브(3)가 피검사체(50)의 전극 단자(51)와 전기적으로 접촉 가능하게 하기 때문에, 프로브(3)의 하단부는 제2 가이드판(16b)의 하면으로부터 돌출 상태가 된다. 검사시에는, 프로브(3)의 하단부가 피검사체(50)의 전극 단자(51)와 전기적으로 접촉한다.The
프로브(3)는, 수직 프로브를 적용할 수 있고, 예를 들면, 텅스텐, 구리합금, 팔라듐 합금, 니켈 합금, 텅스텐 합금 등의 도전성 재료로 형성된 것을 적용할 수 있다.The
이 실시 형태에서는, 프로브(3)가 제1 가이드판(16a) 및 제2 가이드판(16b)에 의해 지지를 받은 선재의 프로브(3)가 이용되는 경우를 예시하고 있다. 컨택트(contact)시에 프로브(3)가 상하 방향으로 탄성을 갖추도록 하기 위해, 제1 가이드판(16a)와 제2 가이드판(16b)과의 사이에 설치된 중공 영역(17)에서, 컨택트시에 하중을 받은 프로브(3)가 만곡으로 탄성변형 한다.In this embodiment, the case where the
(A-2) 콘덴서(2)의 배치예(A-2) Example of arrangement of condenser (2)
다음으로, 전원용 라인의 노이즈 제거용의 콘덴서(2)의 배치를, 도면을 참조하면서 상세하게 설명한다.Next, the arrangement of the
여기에서는, 전원 라인의 노이즈를 제거하기 위해, 예를 들면, 수천~수만개 정도의 콘덴서(2)를, 접속 기판(15)에 배치할 수 있도록 하는 것을 상정한다. 이하에서는, 콘덴서(2)의 복수의 배치예를 언급하지만, 복수의 배치 예 중 어느 하나를 채용하는 것에 한정되는 것이 아니라, 복수의 배치예를 조합해도 무방하다.Here, in order to remove noise from the power line, it is assumed that, for example, thousands to tens of thousands of
또, 예를 들면 3개의 콘덴서(2)를 높이 방향으로 3단으로 겹쳐 쌓는 등, 콘덴서(2)의 배치수를 늘리기 위해서, 복수의 콘덴서(2)를 콘덴서(2)의 높이 방향으로 다단으로 포개어 배치하도록 해도 무방하다. 이 경우, 겹쳐 쌓는 콘덴서(2)의 수(단수)는, 2개 이상으로 할 수 있다.In addition, in order to increase the number of arrangement of the
또, 이하에서는, 전자 부품의 일례로서 콘덴서(2)를 예시하지만, 전자부품은 콘덴서(2)로 한정하지 않고, 저항 등의 다른 전자 부품의 배치에도 적용하는 것이 가능하다.In addition, in the following, the
[실시예 1][Example 1]
도 1(A) 및 도 1(B)에 예시한 바와 같이, 접속 기판(15)의 측면부(151)에 콘덴서(2)를 배치한다. 게다가, 접속체(14)와 접속하는 접속 기판(15)의 상면에 단차부(20)를 설치하고, 그 단차부(20)의 상면(22)에 콘덴서(2)를 배치한다.As illustrated in FIGS. 1(A) and 1(B), the
이와 같이, 접속 기판(15)의 하면에 한정하지 않고, 접속 기판(15)의 측면부(151)와 단차부(20)의 상면(22)과의 양쪽 모두 또는 어느 하나에, 콘덴서(2)를 배치하는 것으로 배치수를 증가시킬 수 있다.In this way, the
예를 들면, 평면시에서 직사각형인 접속 기판(15)의 4변 중, 모든 변의 측면부(151)에 콘덴서(2)를 배치해도 무방하고, 일부의 변의 측면부(151)에 콘덴서(2)를 배치해도 무방하다. 접속 기판(15)에 설치하는 단차부(20)도 동일하게 직사각형의 접속 기판(15)의 4변 중, 모든 변에 단차부(20)를 설치하고, 4개의 단차부(20)의 상면(22)에 콘덴서(2)를 배치하도록 해도 무방하고, 일부의 변에 단차부(20)를 설치하고, 그 설치한 단차부(20)의 상면(22)에 콘덴서(2)를 배치하도록 해도 무방하다.For example, of the four sides of the
또 예를 들면, 접속 기판(15)의 측면부(151)에 콘덴서(2)를 배치시키는 경우, 평면시에서 직사각형의 접속 기판(15)의 각 변인 측면부(151)에, 각 변의 길이 방향으로, 복수의 콘덴서(2)의 각각을 배열시켜도 무방하다. 즉, 접속기판(15)의 측면부(151)에 있어서, 콘덴서(2)를 각 변의 길이 방향으로 배치시켜도 무방하다. 동일하게, 접속 기판(15)의 단차부(20)의 상면(22)에 있어서, 접속 기판(15)의 각 변의 길이 방향으로, 복수의 콘덴서(2)의 각각을 배열시켜도 무방하다.Also, for example, when the
여기서, 배선 접속의 일례를 설명한다. 도 1(B)에 나타내듯이, 배선(30)은, 접속체(14) 하면의 배선 패턴에 접속 가능하게 하고, 접속체(14)의 하면과, 접속 기판(15)의 단차부(20)의 벽면(21)과, 상면(22)과, 접속 기판(15)의 측면부(151)와, 접속 기판(15)의 하면과, 접속 기판(15) 하면의 프로브(3)를 연속적으로 형성하는 것으로 한다. 또한, 배선(30) 중, 접속 기판(15)의 단차부(20)의 상면(22)을 경유하여 접속 기판(15)의 측면부(151)에 형성되는 배선을 「제1 배선」이라고도 부른다. 또, 제1 배선은, 접속 기판(15)의 단차부(20)의 벽면(21) 및 상면(22), 접속 기판(15)의 측면부(151), 접속 기판(15)의 하면을 경유하는 제2 배선을 포함한다.Here, an example of wiring connection will be described. As shown in FIG. 1(B), the
접속 기판(15)의 단차부(20)에 대해서, 도 1(A) 및 도 1(B)에서는, 접속 기판(15)의 단부 부근에 단차부(20)를 설치하고 있는 경우를 예시하고 있다. 이와 같이, 접속 기판(15)의 단부 부근에 단차부(20)를 설치하는 것으로, 상술한 것처럼, 접속 기판(15)의 단차부(20)로부터, 접속 기판(15)의 측면부(151)를 경유하여 접속 기판(15)의 하면에 접속하는 배선(30)을 형성할 수 있으므로, 고밀도 실장에서도 스페이스 절약(space saving)으로 배선 형성을 할 수 있다.Regarding the
도 3은, 실시 형태의 전기적 접속 장치(1)의 접속 기판(15)에 설치하는 단차부(20)의 변형예의 구성을 나타내는 구성도이다.FIG. 3 is a configuration diagram showing a configuration of a modified example of the
상술한 도 1(A) 및 도 1(B)의 예는, 접속 기판(15)의 단부에 단차부(20)를 배치하는 경우를 예시했지만, 단차부(20)의 위치는 접속 기판(15)의 단부에 한정되지 않는다.The examples of FIGS. 1 (A) and 1 (B) described above illustrate the case where the
도 3은, 그 일례를 나타내고 있다. 예를 들면, 도 3에서는, 단차부(20)가, 접속 기판(15)의 중앙부 부근, 또는 접속 기판(15)의 측면부(151)로부터 떨어진 위치 등에 설치했을 경우를 예시하고 있다.Figure 3 shows an example. For example, FIG. 3 illustrates a case where the
도 3에서는, 단차부(20)가 접속 기판(15)의 단부에 접하지 않기 때문에, 예를 들면 자구리(spot facing) 등과 같이 접속 기판(15)의 상면에 대해서 오목부를 형성하고, 그 오목부를 단차부(20)로 하고 있다. 따라서, 배선 접속의 형성 방법은, 도 1의 예와는 다르다.In FIG. 3, since the
예를 들면, 도 3에 예시한 바와 같이, 단차부(20)의 상면(22)(즉, 오목부의 저면)에 콘덴서(2)를 배치했을 때에, 도 3과 같이, 접속 기판(15)의 상면에 대해서 오목부로서 단차부(20)의 벽면(21) 및 상면(22)에 배선(30)을 형성하거나, 단차부(20)의 상면(22)으로부터 접속 기판(15) 내부에 배선로를 형성하고, 그 배선로를 통하여 접속 배선을 형성하거나 해도 무방하다.For example, as illustrated in FIG. 3, when the
이와 같이, 접속 기판(15)의 면에 대해서 오목부를 형성하여, 그 오목부에, 배선 접속시킨 콘덴서(2)를 배치시키도록 해도 무방하다.In this way, a concave portion may be formed on the surface of the
[실시예 2][Example 2]
도 4(A)는, 실시 형태에 따른 전기적 접속 장치(1)의 구성을 나타내는 구성도이고, 도 4(B)는, 도 4(A)의 접속 기판(15)의 단차부(20)의 구성을 나타내는 확대도이다.FIG. 4(A) is a configuration diagram showing the configuration of the
도 4(A) 및 도 4(B)에서는, 접속 기판(15)에 설치된 단차부(20)의 벽면(21)에, 콘덴서(2)를 배치한다.4(A) and 4(B), the
이 예의 경우도, 평면시에서 직사각형의 접속 기판(15)의 4변의 모두 또는 일부에 단차부(20)를 설치하고, 설치한 단차부(20)의 벽면(21)에 콘덴서(2)를 배치한다. 이 때의 배선 접속은, 도 1(A) 및 도 1(B)에서 설명한 배선 접속을 적용할 수 있다. 즉, 고밀도 실장에서도 스페이스 절약으로 배선 형성하기 위해서, 접속 기판(15)의 단차부(20)로부터, 접속 기판(15)의 측면부(151)를 경유하여 접속 기판(15) 하면에 접속하는 배선(30)을 형성할 수 있다.In this example as well,
또한, 도 4(A) 및 도 4(B)에서는, 콘덴서(2)의 배치수 증대의 관점에서, 접속 기판(15)의 단차부(20)의 상면(22)이나 접속 기판(15)의 측면부(151)에도, 콘덴서(2)를 배치하고 있지만, 단차부(20)의 벽면(21)에만 콘덴서(2)를 배치하도록 해도 무방하다. 즉, 단차부(20)의 상면(22)이나, 접속 기판(15)의 측면부(151)에 콘덴서(2)를 배치하는 것이 전제가 아니고, 단차부(20)의 벽면(21)에 콘덴서(2)를 배치시키는 것을 단독으로 수행하도록 해도 무방하다.4(A) and 4(B), from the viewpoint of increasing the number of
또 예를 들면, 접속 기판(15)의 단차부(20)의 벽면(21)에 콘덴서(2)를 배치시키는 경우, 평면시에서 직사각형의 접속 기판(15)의 각 변의 길이 방향으로, 복수의 콘덴서(2)의 각각을 배열시켜도 무방하다. 즉, 단차부(20)의 벽면(21)에 있어, 복수의 콘덴서(2)를, 변의 길이 방향으로 나란히 배치시켜도 무방하다.Also, for example, when the
여기서, 도 4(B)에 예시한 바와 같이, 단차부(20)의 벽면(21)에 설치된 콘덴서(2)와, 단차부(20)의 상면(22)에 설치된 콘덴서(2)가 서로 간섭하지 않도록 배치한다. 그 때문에, 양자의 콘덴서(2)가 서로 충돌하지 않도록, 단차부(20)의 상면(22)의 깊이의 길이(즉, 단차부(20)에 있어서, 단부에서 내측 방향의 길이)는, 상면(22)에 배치하는 콘덴서(2)의 크기(특히, 상면(22)의 깊이 방향으로 배치하는 길이)와, 벽면(21)에 배치하는 콘덴서(2)의 크기(특히, 벽면(21)에 대해서 돌출하는 콘덴서(2)의 길이)를 더한 값 보다 크게 한다.Here, as illustrated in FIG. 4(B), the
또한, 단차부(20)의 벽면(21)은, 상면(22)에 대해서 수직인 면으로 하고 있지만, 경사면이라도 무방하고, 경사면으로 한 벽면(21)에 콘덴서(2)를 배치하도록 해도 무방하다. 벽면(21)을 경사면으로 하는 것으로, 안정된 자세로 콘덴서(2)를 배치시킬 수 있다.In addition, the
[실시예 3][Example 3]
도 5(A)는, 실시 형태에 따른 전기적 접속 장치(1)의 접속 기판(15)에 설치된 단차부(20)의 구성을 나타내는 확대도이며, 도 5(B)는, 도 5(A)의 단차부(20)의 상면(22)에 주목한 평면도이다.FIG. 5(A) is an enlarged view showing the configuration of the
도 5(A)에서는, 접속 기판(15)의 단차부(20)의 상면(22)에 콘덴서(2)를 배치한다. 여기서, 도 5(B)에 예시한 바와 같이, 단차부(20)의 상면(22)에 복수의 콘덴서(2)를 배치할 때, 단차부(20)의 상면(22)의 깊이 방향으로, 인접하는 콘덴서(2)의 중심(centroid)의 위치를 변화시켜 콘덴서(2)를 정열하고, 지그재그 모양으로 콘덴서(2)를 배치한다.In Fig. 5(A), the
이와 같이, 지그재그 모양으로 콘덴서(2)를 배치하는 것에 의해, 단차부(20)의 상면(22)에서, 인접하는 배선(30)의 패턴이나 인접하는 콘덴서(2)의 간섭을 회피할 수 있고, 스페이스 절약화를 실현할 수 있다.In this way, by arranging the
도 5(C)는, 도 5(A)의 단차부(20)의 상면(22)에 주목한 평면도이고, 콘덴서(2)의 배치의 변형예를 나타내는 도이다. 도 5(C)에 나타내듯이, 지그재그 모양으로 콘덴서(2)를 배치하고 있지만, 콘덴서(2)가 접속하는 배선 패드(30a) 중, 콘덴서(2)의 폭보다 넓은 배선 패드(30a)의 돌출부(30b)의 위치를, 인접하는 콘덴서(2)의 배선 패드(30a)의 돌출부(30b)의 위치와, 콘덴서(2)의 배열 방향(도 5(C)의 Y축 방향)에 교차하는 방향(예를 들면, 도 5(C)의 X축 방향)에 있어서 겹치는 위치로 하는 것에 의해, 인접하는 콘덴서(2)와의 간격을 돌출부(30b)의 폭에 대략 동등하게(폭장 h )할 수 있는 것에 의해, 콘덴서(2) 간의 거리를 더욱 짧게 할 수 있고, 보다 많은 콘덴서(2)를 배치할 수 있다. 또한, 본 실시예에 있어서의 「폭」이란, 콘덴서(2)의 배열 방향에 있어서의 각 부재 및/또는 각 부의 길이를 나타낸다.FIG. 5(C) is a plan view focusing on the
[실시예 4][Example 4]
도 6(A)는, 실시 형태에 따른 전기적 접속 장치(1)의 접속 기판(15)에 설치된 단차부(20)의 구성을 나타내는 확대도이며, 도 6(B)는, 도 6(A)의 단차부(20)의 사시도이며, 도 6(C)은, 도 6(A)의 단차부(20)의 상면(22)에 주목한 평면도이다.FIG. 6(A) is an enlarged view showing the configuration of the
도 6(A)에서는, 접속 기판(15)의 단차부(20)의 벽면(21)과 상면(22)의 양쪽 모두에 콘덴서(2)를 배치한다.In Fig. 6(A), the
이 예의 경우, 도 6(B) 및 도 6(C)에 예시한 바와 같이, 단차부(20)의 상면(22)으로의 콘덴서 배치와, 벽면(21)으로의 콘덴서 배치를 교대로 반복하여, 콘덴서(2)를 배치한다. 또, 단차부(20)의 상면(22)에는 콘덴서(2)를 눕혀 배치하고(예를 들면, 콘덴서(2)의 면적이 넓은 면을 "상면(22)"에 접촉시켜 배치), 벽면(21)에는 콘덴서(2)를 세워 배치(예를 들면, 콘덴서(2)의 면적이 넓은 면을 "벽면(21)"에 접촉시켜 배치)하는 것으로, 스페이스 절약화를 도모할 수 있다.In this example, as illustrated in FIGS. 6 (B) and 6 (C), the arrangement of the condenser on the
또, 이 예의 경우, 단차부(20)의 상면(22)의 깊이 방향의 길이를 작게 하는 것이 가능해진다.Additionally, in this example, it becomes possible to reduce the length of the
도 6(D)는, 도 6(A)의 단차부(20)의 상면(22)에 주목한 평면도이고, 콘덴서(2)의 배치의 변형예를 나타내는 도이다. 도 6(D)에서는, 도 6(C)와 같이, 단차부(20)의 상면(22)에는 콘덴서(2)를 눕혀 배치하고, 벽면(21)에는 콘덴서(2)를 세워 배치하고 있다. 여기서, 벽면(21)에 세워져 있는 콘덴서(2)의 배선 접속이, 도 6(C)의 경우와 다르다. 도 6(D)에서는, 벽면(21)의 콘덴서(2)는, 인접하는 상면(22)에 눕히고 있는 콘덴서(2)의 배선(30)과 공유하도록 배치하고 있다. 즉, 상면(22)에 형성되어 있는 배선(30)을, 벽면(21)의 콘덴서(2)와, 인접하는 상면(22)의 콘덴서(2)와 공유하고 있다. 이렇게 하는 것으로, 인접하는 콘덴서(2) 간의 거리를 더욱 짧게 할 수 있고, 보다 많은 콘덴서(2)를 배치할 수 있다.FIG. 6(D) is a plan view focusing on the
[실시예 5][Example 5]
도 7은, 실시 형태에 따른 전기적 접속 장치(1)의 접속 기판(15)에 설치된 단차부(20)의 구성을 나타내는 확대도이다.FIG. 7 is an enlarged view showing the configuration of the
도 7에서는, 단차부(20)가 2단의 단차를 형성하고 있고, 상단이 벽면(21a)과 상면(22a)을 가지고 있고, 하단이 벽면(21b)과 상면(22b)를 가지고 있는 것으로 한다.In FIG. 7, the
도 7의 예에서는, 2단의 단차 중 상단에서는, 상면(22a)에 콘덴서(2)를 배치하고, 하단에서는, 벽면(21b)과 상면(22b)의 양쪽 모두에 콘덴서(2)를 배치하는 경우를 나타내고 있다. 이와 같이, 복수단을 갖추는 단차부(20)로 하는 것으로, 각 단의 벽면(21)과 상면(22)에 콘덴서(2)를 배치할 수 있으므로, 콘덴서(2)의 배치수를 증대시킬 수 있다.In the example of FIG. 7, the
또한, 단차부(20)의 상단과 하단과의 각각에 콘덴서(2)를 배치시키는 방법은, 특별히 한정되지 않는다. 예를 들면, 상단의 벽면(21a)에도 콘덴서(2)를 배치하도록 해도 무방하다. 또, 벽면(21)과 상면(22)에 콘덴서(2)를 배치시키는 경우에, [실시예 4]의 도 6(B) 및 도 6(C)에 예시한 벽면 배치와 상면 배치를 교대로 반복하는 배치 방법이라 해도 무방하다.Additionally, the method of arranging the
또, 도 7에서는, 단차부(20)가, 2단으로 하는 경우를 예시했지만, 단차부(20)의 단수가 3단 이상이여도 무방하다. 3단 이상의 단차부(20)로 하는 경우, 각 단의 벽면(21)과 상면(22)으로의 콘덴서(2)의 배치 방법은, 다양한 방법을 적용할 수 있다.In addition, in FIG. 7, the case where the
(A-3) 실시 형태의 효과(A-3) Effect of embodiment
이상과 같이, 이 실시 형태에 의하면, 접속 기판의 고밀도화에 의해, 콘덴서를 배치하는 스페이스가 부족하기 쉽지만, 접속 기판의 측면부에 콘덴서를 배치하는 것에 의해, 보다 많은 콘덴서를 배치할 수 있다.As described above, according to this embodiment, the space for arranging capacitors is likely to be insufficient due to the increased density of the interconnection substrate. However, by disposing the condenser on the side surface of the interconnection substrate, more condensers can be disposed.
또, 프로브의 위치에 비교적 가까운 접속 기판에 많은 콘덴서를 배치할 수 있음으로, 전원 특성을 양호하게 할 수 있다.Additionally, since many capacitors can be placed on a connection board relatively close to the position of the probe, the power supply characteristics can be improved.
이 실시 형태에 의하면, 접속 기판에 단차부를 설치하는 것으로, 단차부의 벽면, 및 또는 상면에 콘덴서를 배치하는 것으로, 보다 많은 콘덴서를 배치 할 수 있다.According to this embodiment, more capacitors can be placed by providing a step portion on the connection board and by disposing capacitors on the wall surface or top surface of the step portion.
또, 이 실시 형태에 의하면, 접속 기판에 단차부를 갖출 때, 단차부의 단수를 늘리는 것으로, 보다 많은 콘덴서를 배치할 수 있다.Additionally, according to this embodiment, when providing a step portion on a connection substrate, more capacitors can be placed by increasing the number of stages of the step portion.
(B) 다른 실시 형태(B) Other embodiments
상술한 제1 실시 형태에서도 본 개시된 여러 가지의 변형예를 언급했지만, 본 개시는, 이하의 변형 실시 형태에도 적용할 수 있다.Although various modification examples of the present disclosure have been mentioned in the above-described first embodiment, the present disclosure can also be applied to the following modification embodiments.
(B-1) 상술한 실시 형태의 실시예 1~실시예 5에서는, 콘덴서(2)의 배치의 방법을 예시했지만, 이러한 배치 방법으로 한정되지 않고, 적당, 배치 방법을 조합할 수도 있다.(B-1) In Examples 1 to 5 of the above-described embodiment, the method of arranging the
(B-2) 상술한 실시 형태에서는, 설명 편의상, 1개의 콘덴서(2)를 접속 기판(15)의 측면부(151)나 상면(22) 등에 배치하는 경우를 예시했지만, 콘덴서(2)의 높이 방향으로, 복수 개(예를 들면, 2개, 3개 등)의 콘덴서(2)를 포개어 배치하도록 해도 무방하다. 이것에 의해, 스페이스 절약에서도, 보다 많은 콘덴서를 배치할 수 있다.(B-2) In the above-described embodiment, for convenience of explanation, the case where one
또, 접속 기판(15)에 자구리 등과 같은 오목부를 설치하고, 그 오목부에 콘덴서(2)를 배치시켜도 무방하다. 환언하면, 콘덴서(2)를 배치하는 위치(접속 기판(15)의 기판 상)에 오목부를 설치하고, 그 오목부에 콘덴서(2)가 들어가도록, 콘덴서(2)를 배치해도 무방하다. 그 때, 오목부에 담는 콘덴서(2)에 대해서도, 콘덴서(2)의 높이 방향으로 복수의 콘덴서(2)를 포개어 배치시켜도 무방하다.Additionally, it is possible to provide a recess, such as a groove, in the
게다가, 접속 기판(15)의 측면부(151)에 자구리와 같은 오목부를 설치하고, 그 측면부(151)의 오목부에 콘덴서(2)를 배치하도록 해도 무방하다.In addition, it is possible to provide a concave portion such as a bead on the
1 …전기적 접속 장치, 2 …콘덴서, 3 …프로브, 4 …웨이퍼 척, 10 …검사 장치, 11 …지지 부재, 12 …배선 기판, 13 …스페이서, 14 …접속체, 15 …접속 기판, 16 …프로브 헤드, 16a …제1 가이드판, 16b …제2 가이드판, 17 …중공 영역, 20 …단차부, 21, 21a, 21b …벽면, 22, 22a, 22b …상면, 30 …배선, 50 …피검사체, 51 …전극 단자, 151 …측면부.One … Electrical connection device, 2... Condenser, 3... Probe, 4... Wafer chuck, 10... Inspection device, 11... Support member, 12... Wiring board, 13... Spacer, 14... Conjunction, 15... Connection board, 16... Probe head, 16a... First guide plate, 16b... Second guide edition, 17... Hollow area, 20... Step part, 21, 21a, 21b... Wall, 22, 22a, 22b... Top surface, 30... Wiring, 50 … Test subject, 51... Electrode terminal, 151... Side part.
Claims (7)
상기 검사 장치와 접속하는 배선 회로를 갖는 배선 기판과,
상기 피검사체의 상기 복수의 전극 단자의 각각에 대하여, 전기적으로 접촉시키는 복수의 전기적 접촉자를 갖는 프로브 기판과,
상기 배선 기판과 상기 프로브 기판과의 사이에 설치되고, 상기 배선 기판의 상기 배선 회로와, 상기 프로브 기판의 상기 복수의 전기적 접촉자의 각각과의 사이를 전기적으로 접속하는 접속 기판
을 갖추고,
상기 접속 기판의 적어도 표면에는 1 또는 복수의 단차부가 설치되고 있고, 상기 1 또는 복수의 단차부의 각각의 표면에 전자 부분이 배치되어 있는
것을 특징으로 하는 전기적 접속 장치.In an electrical connection device that electrically connects a test device and a plurality of electrode terminals of an object to be inspected,
a wiring board having a wiring circuit connected to the inspection device;
a probe substrate having a plurality of electrical contactors electrically contacted with each of the plurality of electrode terminals of the object to be inspected;
A connection board provided between the wiring board and the probe board, and electrically connecting the wiring circuit of the wiring board and each of the plurality of electrical contacts of the probe board.
Equipped with
One or more step portions are provided on at least a surface of the connection substrate, and an electronic part is disposed on each surface of the one or more step portions.
An electrical connection device characterized in that.
상기 1 또는 복수의 단차부의 전부 또는 일부는, 상기 접속 기판의 단부에 설치되어 있고,
상기 배선 회로와, 상기 복수의 전기적 접촉자의 각각의 접속 단자를 묶는 복수의 배선 중 적어도 1개의 제1 배선이, 상기 접속 기판의 단부에 설치되어 있는 상기 단차부의 표면을 경유하여 형성되고 있고, 상기 전자 부품이 상기 제1 배선에 접속되고 있는
것을 특징으로 하는 전기적 접속 장치.According to paragraph 1,
All or part of the one or more step portions are provided at an end of the connection board,
At least one first wiring among the wiring circuit and a plurality of wirings connecting respective connection terminals of the plurality of electrical contactors is formed via a surface of the step portion provided at an end of the connection board, Electronic components are connected to the first wiring.
An electrical connection device characterized in that.
상기 단차부의 표면에 복수의 상기 전자 부품이 배치되고, 상기 복수의 전자 부품의 배열 방향으로, 상기 복수의 전자 부품이 지그재그 모양으로 배치되는 것을 특징으로 하는 전기적 접속 장치.According to paragraph 1,
An electrical connection device, wherein a plurality of electronic components are disposed on a surface of the step portion, and the plurality of electronic components are arranged in a zigzag shape in an arrangement direction of the plurality of electronic components.
상기 전자 부품이, 상기 단차부의 상면, 및 또는, 벽면에 배치되어 있는 것을 특징으로 하는 전기적 접속 장치.According to paragraph 1,
An electrical connection device, wherein the electronic component is disposed on an upper surface of the step portion and/or a wall surface.
복수의 상기 전자 부품이 상기 단차부의 상면 및 벽면의 양쪽 모두에 배치되어 있고, 복수의 상기 전자 부품의 배열 방향으로, 상기 단차부의 상면에 배치되어 있는 상기 전자 부품과, 상기 단차부의 벽면에 배치되어 있는 상기 전자 부품이 교대로 존재하고 있는 것을 특징으로 하는 전기적 접속 장치.According to clause 4,
A plurality of the electronic components are disposed on both the upper surface and the wall surface of the stepped portion, and in the arrangement direction of the plurality of electronic components, the electronic components disposed on the upper surface of the stepped portion are disposed on the wall surface of the stepped portion. An electrical connection device characterized in that the electronic components are alternately present.
상기 단차부가 복수단이며, 상기 단차부의 각각의 단차의 상면, 및 또는, 벽면에, 상기 전자 부품이 배치되어 있는 것을 특징으로 하는 전기적 접속 장치.According to paragraph 1,
An electrical connection device, wherein the step portion has a plurality of stages, and the electronic component is disposed on an upper surface of each step of the step portion and/or a wall surface.
상기 제1의 배선은, 상기 접속 기판의 상면, 상기 단차부의 표면, 상기 측면 및 하면을 경유하는 제2 배선을 포함하는 것을 특징으로 하는 전기적 접속 장치.According to paragraph 2,
An electrical connection device, wherein the first wiring includes a second wiring passing through the top surface of the connection board, the surface of the step portion, the side surface, and the bottom surface.
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