KR20240050461A - 배터리 전극 시트 절연 코팅층 결함의 검출 방법, 장치 및 컴퓨터 장치 - Google Patents

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다준 니
준 후
시안펭 시에
웬 창
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컨템포러리 엠퍼렉스 테크놀로지 씨오., 리미티드
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Abstract

배터리 전극 시트 절연 코팅층 결함의 검출 방법, 장치, 컴퓨터 장치, 컴퓨터 판독 가능한 저장 매체, 컴퓨터 프로그램 제품 및 배터리 전극 시트 결함 검출 시스템으로서, 상기 방법은, 전극 시트를 촬영하여 얻은 전극 시트 이미지를 획득하되, 전극 시트 이미지는 적어도 하나의 완전한 전극 시트를 포함하는 단계; 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역 및 탭 영역을 결정하는 단계; 절연 코팅층 영역 및 탭 영역에 따라, 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역의 결함 검출 영역을 결정하는 단계; 결함 검출 영역에 대해 결함 검출을 진행하여, 결함 검출 결과를 얻는 단계;를 포함한다. 상기 방법은 복합 전 전극 시트 절연 코팅에 대한 검출을 실현하고, 절연 코팅층 영역에 결함이 있는지 여부를 검출하여, 결함이 있는 전극 시트를 적시에 제거할 수 있으며, 검출 정확도가 높고, 적층 장치의 실행 효율도 향상시킨다.

Description

배터리 전극 시트 절연 코팅층 결함의 검출 방법, 장치 및 컴퓨터 장치
본 발명은 배터리 유지보수 기술 분야에 관한 것으로, 특히 배터리 전극 시트 절연 코팅층 결함의 검출 방법, 장치, 컴퓨터 장치, 컴퓨터 판독 가능한 저장 매체, 컴퓨터 프로그램 제품 및 배터리 전극 시트 결함 검출 시스템에 관한 것이다.
과학 기술의 지속적인 발전에 따라, 리튬 이온 배터리는 이미 전기 자동차에 응용되어 전기 자동차의 주요 동력 에너지 중 하나가 되었다. 신에너지 자동차 산업의 급속한 발전은 리튬 이온 배터리의 안전, 환경 보호 및 대전류 충방전의 사용 성능 등에 대해 아주 높은 요구를 제시하였다. 대규모 생산에서, 배터리의 성능을 향상시키려면, 리튬 이온 배터리 제조에서의 코팅 공정이 특히 중요하다.
기존의 배터리 전극 시트 결함 검출은 상반되는 두 세트의 이미지 센서를 사용하여 이미지를 수집하고, 전극 시트 활물질 코팅막과 전극 시트 에지 사이의 거리를 각각 획득하며, 코팅막의 위치 오차량을 산출하고, 제어 시스템과 폐루프 제어를 수행함으로써, 위치 오차량이 규격값보다 작아질 때까지 코팅막 영역을 조절한다. 기존의 배터리 전극 시트 결함 검출 수단은 검출 정확도가 낮은 단점이 있다.
본 출원의 다양한 실시예에 따라, 배터리 전극 시트 절연 코팅층 결함의 검출 방법, 장치, 컴퓨터 장치, 컴퓨터 판독 가능한 저장 매체, 컴퓨터 프로그램 제품 및 배터리 전극 시트 결함 검출 시스템을 제공한다.
제1 양태에서, 본 출원은 배터리 전극 시트 절연 코팅층 결함의 검출 방법을 제공하고, 상기 방법은,
전극 시트를 촬영하여 얻은 전극 시트 이미지를 획득하되, 전극 시트 이미지는 적어도 하나의 완전한 전극 시트를 포함하는 단계;
전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역 및 탭 영역을 결정하는 단계;
절연 코팅층 영역 및 탭 영역에 따라, 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역의 결함 검출 영역을 결정하는 단계;
결함 검출 영역에 대해 결함 검출을 진행하여, 결함 검출 결과를 얻는 단계;를 포함한다.
상기 배터리 전극 시트 절연 코팅층 결함의 검출 방법에서, 전극 시트를 촬영하여 적어도 하나의 완전한 전극 시트를 포함하는 전극 시트 이미지를 얻고, 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역 및 탭 영역을 결정하여, 절연 코팅층 영역 및 탭 영역에 따라, 상기 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역의 결함 검출 영역을 결정한다. 마지막으로, 결함 검출 영역에 대해 결함 검출을 진행하여, 결함 검출 결과를 얻는다. 상기 방법은 복합 전 전극 시트 절연 코팅에 대한 검출을 실현하고, 절연 코팅층 영역에 결함이 있는지 여부를 검출하여, 결함이 있는 전극 시트를 적시에 제거할 수 있으며, 검출 정확도가 높고, 적층 장치의 실행 효율도 향상시킨다.
그 중 일 실시예에 있어서, 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역 및 탭 영역을 결정하는 단계는, 전극 시트 이미지에 대해 전체 이미지 에지 검색을 진행하여, 초기 위치결정 전극 시트 에지를 얻는 단계; 초기 위치결정 전극 시트 에지에 따라 위치 재결정을 진행하여, 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역을 결정하는 단계; 절연 코팅층 영역을 통해 검색함으로써, 전극 시트 이미지 내 탭 영역을 결정하는 단계;를 포함한다. 전극 시트 이미지에 대해 전체 이미지 에지 검색 및 위치 재결정을 진행하여, 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역을 찾아내고, 결정된 절연 코팅층 영역에 기반하여 전극 시트 이미지 내 탭 영역을 찾아냄으로써, 전극 시트 이미지의 서로 다른 영역을 단계적으로 찾고, 정확하고 신뢰적인 검출을 실현한다.
그 중 일 실시예에 있어서, 전극 시트 이미지에 대해 전체 이미지 에지 검색을 진행하여, 초기 위치결정 전극 시트 에지를 얻는 단계는, 전극 시트 이미지에 대해 탭에서 멀리 떨어진 일측으로부터 탭에 가까워지는 방향으로 전체 이미지 에지 검색을 진행하여, 초기 위치결정 전극 시트 에지를 얻는 단계를 포함한다. 전극 시트 이미지에서 탭에서 멀리 떨어진 일측으로부터 점차적으로 탭에 가까워지는 방향으로 전체 이미지 에지 검색을 진행함으로써, 초기 위치결정 전극 시트 에지를 정확하게 찾을 수 있다.
그 중 일 실시예에 있어서, 전극 시트 이미지에 대해 탭에서 멀리 떨어진 일측으로부터 탭에 가까워지는 방향으로 전체 이미지 에지 검색을 진행하여, 초기 위치결정 전극 시트 에지를 얻는 단계는, 전극 시트 이미지에 대해 탭에서 멀리 떨어진 일측으로부터 탭에 가까워지는 방향으로 전체 이미지 에지 검색을 진행하는 단계; 사전 결정된 돌연변이 에지가 검색되면, 에지 검색에 성공한 것으로 결정하고, 검색된 사전 결정된 돌연변이 에지를 초기 위치결정 전극 시트 에지로 결정하는 단계를 포함한다. 전극 시트 이미지에 대해 탭에서 멀리 떨어진 일측으로부터 탭에 가까워지는 방향으로 전체 이미지 에지 검색을 진행할 경우, 사전 결정된 돌연변이 에지를 검색할 수 있는지 여부를 분석하고, 사전 결정된 돌연변이 에지를 찾아내면, 초기 위치결정 전극 시트 에지로 함으로써, 에지 검색의 정확도를 더 향상시킨다.
그 중 일 실시예에 있어서, 초기 위치결정 전극 시트 에지에 따라 위치 재결정을 진행하여, 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역을 결정하는 단계는, 초기 위치결정 전극 시트 에지에 따라 목표 절연 코팅층 영역을 결정하고, 목표 절연 코팅층 영역에서 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역을 추출하는 단계를 포함한다. 초기 위치결정 전극 시트 에지에 따라 목표 절연 코팅층 영역을 결정한 후, 목표 절연 코팅층 영역에 기반하여 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역을 추출함으로써, 절연 코팅층 영역을 간편하고 빠르게 찾을 수 있다.
그 중 일 실시예에 있어서, 절연 코팅층 영역을 통해 검색함으로써, 전극 시트 이미지 내 탭 영역을 결정하는 단계는, 절연 코팅층 영역에 따라 영역 위치 재결정을 진행하여, 목표 탭 검출 영역을 결정하는 단계; 목표 탭 검출 영역에서 탭 추출 영역을 검색하는 단계;를 포함한다. 절연 코팅층 영역을 결합하여 영역 위치 재결정을 진행하여, 목표 탭 검출 영역을 결정한 후, 목표 탭 검출 영역에 기반하여 탭 영역을 검색함으로써, 마찬가지로 탭 영역을 간편하고 빠르게 찾을 수 있다.
그 중 일 실시예에 있어서, 절연 코팅층 영역에 따라 영역 위치 재결정을 진행하여, 목표 탭 검출 영역을 결정하는 단계는, 절연 코팅층 영역의 초기 위치결정 절연 에지를 추출하는 단계; 초기 위치결정 절연 에지에 따라, 목표 탭 검출 영역을 결정하는 단계;를 포함한다. 절연 코팅층 영역의 초기 위치결정 절연 에지를 추출하고, 초기 위치결정 절연 에지를 결합하여 목표 탭 검출 영역을 선택함으로써, 신속하고 정확하게 목표 탭 검출 영역을 결정할 수 있다.
그 중 일 실시예에 있어서, 목표 탭 검출 영역에서 탭 추출 영역을 검색하는 단계는, 목표 탭 검출 영역 중 탭 그레이 스케일 특징에 부합하는 영역을 추출하여, 예비 탭 영역을 획득하는 단계; 예비 탭 영역의 영역 형상 및 영역 크기에 따라, 예비 탭 영역이 탭인지 여부를 결정하고, 만약 탭이라면, 탭 영역을 얻었음을 결정하는 단계;를 포함한다. 탭 그레이 스케일 특징을 결합하여 목표 탭 검출 영역에 대해 예비 선별을 진행하여 예비 탭 영역을 결정하고, 예비 탭 영역의 영역 형상 및 영역 크기를 결합하여 탭 영역이 검색되었는지 여부를 분석함으로써, 탭 영역의 검색 정확도를 확보할 수 있다.
그 중 일 실시예에 있어서, 절연 코팅층 영역 및 탭 영역에 따라, 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역의 결함 검출 영역을 결정하는 단계는, 탭 영역에 대해 에지 검색을 진행하여, 탭 에지를 얻는 단계; 탭 에지 및 기 설정된 거리 데이터에 따라, 전극 시트 에지를 얻되, 기 설정된 거리 데이터는 탭 에지와 전극 시트 에지 사이의 거리 데이터인 단계; 초기 위치결정 전극 시트 에지, 초기 위치결정 절연 에지 및 전극 시트 에지에 따라, 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역의 결함 검출 영역을 결정하는 단계;를 포함한다. 탭 영역이 검색된 후, 탭 에지 및 기 설정된 거리 데이터를 결합하여 전극 시트 에지를 결정하고, 나아가 초기 위치결정 전극 시트 에지, 초기 위치결정 절연 에지 및 전극 시트 에지에 따라, 후속 결함 검출을 위해, 절연 코팅층 영역의 결함 검출 영역을 정확하게 찾을 수 있다.
그 중 일 실시예에 있어서, 결함 검출 영역에 대해 결함 검출을 진행하여, 결함 검출 결과를 얻는 단계는, 결함 검출 영역 내 연결 도메인을 추출하는 단계; 사전 결정된 결함 영역과 유사한 연결 도메인이 존재하면, 결함이 존재하는 것으로 결정하는 단계;를 포함하되, 결함 검출 결과는 결함이 존재한다는 정보를 포함한다. 결함 검출 영역 내 연결 도메인을 추출하여 사전 결정된 결함 영역과 비교하고, 결함 검출 영역에 결함이 있는 지 여부를 분석하므로, 검출이 정확하고 효율적이다.
그 중 일 실시예에 있어서, 결함 검출 영역에 대해 결함 검출을 진행하여, 결함 검출 결과를 얻는 단계는, 사전 결정된 결함 영역과 유사한 연결 도메인이 존재하지 않으면, 전극 시트의 코팅막 영역 위치 오차량을 산출하는 단계를 더 포함하되, 결함 검출 결과는 결함이 존재하지 않는다는 정보 및 코팅막 영역 위치 오차량을 포함한다. 절연 코팅층 영역의 결함 검출 영역에 결함이 존재하지 않을 경우, 또한 전극 시트의 코팅막 영역 위치 오차량을 산출하여, 전극 시트 양면의 절연 코팅층 영역의 크기 및 폭이 일치한지 여부에 대한 분석에 사용하여, 비정상적인 크기의 전극 시트를 제거하여, 배터리 전극 시트의 결함 검출 정확도를 더욱 향상시킨다.
그 중 일 실시예에 있어서, 전극 시트 이미지는 전극 시트의 양면을 촬영하여 얻은 제1 전극 시트 이미지 및 제2 전극 시트 이미지를 포함하고; 사전 결정된 결함 영역과 유사한 연결 도메인이 존재하지 않으면, 전극 시트의 코팅막 영역 위치 오차량을 산출하는 단계는, 제1 전극 시트 이미지와 제2 전극 시트 이미지에 대응하는 결함 검출 영역에, 모두 사전 결정된 결함 영역과 유사한 연결 도메인이 존재하지 않으면, 전극 시트의 코팅막 영역 위치 오차량을 산출한다. 전극 시트의 양면을 촬영하여 얻은 전극 시트 이미지를 결합하여, 대응하는 결함 검출 영역에 결함이 존재하는 지 여부를 각각 검출하고, 두 개의 전극 시트 이미지의 결함 검출 영역에 모두 결함이 존재하면, 전극 시트의 코팅막 영역 위치 오차량을 산출함으로써, 전극 시트 절연 코팅층 영역의 결함 검출 정확도를 향상시킨다.
그 중 일 실시예에 있어서, 전극 시트 이미지는 전극 시트의 양면을 촬영하여 얻은 제1 전극 시트 이미지 및 제2 전극 시트 이미지를 포함하고; 전극 시트의 코팅막 영역 위치 오차량을 산출하는 단계는, 제1 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역의 결함 검출 영역에 대해 에지 검색을 진행하여, 제1 전극 시트 가상 에지 및 제1 절연 에지를 얻는 단계; 제2 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역의 결함 검출 영역에 대해 에지 검색을 진행하여, 제2 전극 시트 가상 에지 및 제2 절연 에지를 얻는 단계; 제1 전극 시트 가상 에지 및 제1 절연 에지에 따라, 제1 절연 코팅층 영역 폭을 산출하고, 제2 전극 시트 가상 에지 및 제2 절연 에지에 따라, 제2 절연 코팅층 영역 폭을 산출하는 단계; 제1 절연 코팅층 영역 폭 및 제2 절연 코팅층 영역 폭에 따라, 전극 시트의 코팅막 영역 위치 오차량을 산출하는 단계;를 포함한다. 두 개의 전극 시트 이미지 중 절연 코팅층 영역의 결함 검출 영역에 대해 에지 검색을 진행하여, 대응하는 전극 시트 가상 에지 및 절연 에지를 찾고, 나아가 전극 시트 가상 에지 및 절연 에지에 따라 두 개의 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역 폭을 산출하며, 마지막으로 두 개의 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역 폭에 따라, 전극 시트의 코팅막 영역 위치 오차량을 정확하게 산출할 수 있다.
그 중 일 실시예에 있어서, 제1 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역의 결함 검출 영역에 대해 에지 검색을 진행하여, 제1 전극 시트 가상 에지 및 제1 절연 에지를 얻는 단계, 제1 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역의 결함 검출 영역의 에지 포인트를 검색하는 단계; 검색된 에지 포인트에 따라 피팅을 진행하여, 제1 전극 시트 가상 에지 및 제1 절연 에지를 얻는 단계;를 포함한다. 절연 코팅층 영역의 결함 검출 영역의 에지 포인트를 검색하고, 검색된 에지 포인트를 결합하여 피팅을 진행하여 전극 시트 가상 에지 및 절연 에지를 결정함으로써, 전극 시트 가상 에지 및 절연 에지의 검색 성공률을 향상시킨다.
그 중 일 실시예에 있어서, 결함 검출 영역에 대해 결함 검출을 진행하여, 결함 검출 결과를 얻는 단계 이후, 상기 방법은, 결함 검출 결과와 전극 시트 식별자 정보를 바인딩하는 단계를 더 포함한다. 결함 검출 결과와 전극 시트 식별자 정보를 바인딩함으로써, 결함 검출 결과를 구체적인 전극 시트와 바인딩하여, 후속적인 전극 시트의 제거 등 동작에 대한 데이터 지원을 제공한다.
제2 양태에서, 본 출원은 배터리 전극 시트 절연 코팅층 결함의 검출 장치를 제공하고, 상기 검출 장치는,
전극 시트를 촬영하여 얻은 전극 시트 이미지를 획득하되, 전극 시트 이미지는 적어도 하나의 완전한 전극 시트를 포함하는 이미지 획득 모듈;
전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역 및 탭 영역을 결정하는 이미지 분석 모듈;
절연 코팅층 영역 및 탭 영역에 따라, 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역의 결함 검출 영역을 결정하는 영역 추출 모듈;
결함 검출 영역에 대해 결함 검출을 진행하여, 결함 검출 결과를 얻는 결함 분석 모듈;을 포함한다.
제3 양태에서, 본 출원은 컴퓨터 장치를 제공하고, 상기 컴퓨터 장치는 메모리 및 프로세서를 포함하며, 메모리에는 컴퓨터 프로그램이 저장되고, 프로세서가 컴퓨터 프로그램을 실행할 경우 상기 방법의 단계가 구현된다.
제4 양태에서, 본 출원은 컴퓨터 프로그램이 저장되어 있는 컴퓨터 판독 가능한 저장 매체를 제공하고, 컴퓨터 프로그램이 프로세서에 의해 실행될 경우 상기 방법의 단계가 구현된다.
제5 양태에서, 본 출원은 컴퓨터 프로그램을 포함하는 컴퓨터 프로그램 제품을 제공하고, 상기 컴퓨터 프로그램이 프로세서에 의해 실행될 경우 상기 방법의 단계가 구현된다.
제6 양태에서, 본 출원은 배터리 전극 시트 결함 검출 시스템을 제공하고, 상기 배터리 전극 시트 결함 검출 시스템은 이미지 획득 장치 및 상위 기기를 포함하되, 이미지 획득 장치는 전극 시트를 촬영하여 전극 시트 이미지를 획득하고, 전극 시트 이미지를 상위 기기로 전송하며, 상위 기기는 상기 방법에 따라 배터리 전극 시트 절연 코팅층 결함에 대한 검출을 진행한다.
본 출원의 하나 이상의 실시예의 세부 사항은 아래의 도면 및 설명에서 제시된다. 본 발명의 기타 특징, 목적 및 이점은 명세서, 도면 및 특허청구범위에서 명확해질 것이다.
본 출원의 실시예 또는 선행기술의 기술방안을 보다 명확하게 설명하기 위하여 아래에서 실시예 또는 선행기술의 설명에 필요한 도면을 간략히 소개하고자 하며, 아래 설명의 도면은 본 출원의 일부 실시예에 불과하며, 해당 분야의 통상적인 지식을 가진 기술자들의 경우 창조적인 노동을 하지 않고도, 이러한 첨부도면을 바탕으로 다른 도면들을 얻을 수 있음은 자명한 것이다.
도 1은 일 실시예에 따른 배터리 전극 시트 절연 코팅층 결함의 검출 방법의 흐름도이다.
도 2는 일 실시예에 따른 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역 및 탭 영역을 결정하는 단계의 흐름도이다.
도 3은 일 실시예에 따른 전극 시트 이미지에 대해 탭에서 멀리 떨어진 일측으로부터 탭에 가까워지는 방향으로 전체 이미지 에지 검색을 진행하여, 초기 위치결정 전극 시트 에지를 얻는 단계의 흐름도이다.
도 4는 일 실시예에 따른 절연 코팅층 영역을 통해 검색함으로써, 전극 시트 이미지 내 탭 영역을 결정하는 단계의 흐름도이다.
도 5는 일 실시예에 따른 절연 코팅층 영역 및 탭 영역에 따라, 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역의 결함 검출 영역을 결정하는 단계의 흐름도이다.
도 6은 일 실시예에 따른 결함 검출 영역에 대해 결함 검출을 진행하여, 결함 검출 결과를 얻는 단계의 흐름도이다.
도 7은 일 실시예에 따른 전극 시트의 코팅막 영역 위치 오차량을 산출하는 단계의 흐름도이다.
도 8은 일 실시예에 따른 배터리 전극 시트 절연 코팅층 결함 검출 하드웨어 배치 모식도이다.
도 9는 일 실시예에 따른 카메라의 이미징 모식도이다.
도 10은 일 실시예에 따른 위치 오차량의 산출 방법의 모식도이다.
도 11은 일 실시예에 따른 배터리 전극 시트 절연 코팅층 결함의 검출 장치의 구조 블록도이다.
도 12는 일 실시예에 따른 컴퓨터 장치의 내부 구조도이다.
이하, 도면을 참조하여 본 출원의 기술적 해결수단의 실시예에 대해 상세히 설명한다. 이하 실시예는 본 출원의 기술적 해결수단을 보다 명확하게 설명하기 위한 것일 뿐, 이들로써 본 출원의 보호 범위를 제한할 수 없다.
달리 정의되지 않는 한, 본 명세서에 사용되는 모든 기술 및 과학 용어는 본 출원의 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 통상적으로 이해하는 의미와 동일하고; 본 명세서에 사용되는 용어는 단지 구체적인 실시예를 설명하기 위한 목적일 뿐, 본 출원을 한정하려는 의도가 아니며; 본 출원의 명세서 및 청구범위 및 상술한 도면의 설명의 용어 "포함" 및 "구비" 및 이들의 임의의 변형은 비배타적인 포함을 포함하도록 의도된다.
본 출원의 실시예의 설명에서, 기술 용어 "제1" "제2" 등은 상이한 대상을 구별하기 위한 것일 뿐, 상대적 중요성을 지시 또는 암시하거나 지시된 기술 특징의 수량, 특정 순서 또는 1차-2차 관계를 은연히 나타내는 것으로 이해되어서는 아니된다. 본 출원의 실시예의 설명에서, 달리 명시적으로 그리고 구체적으로 한정되지 않는 한, "복수"의 의미는 두 개 이상이다.
본 명세서에 언급된 "실시예"는, 실시예에 결부하여 설명되는 특정 특징, 구조 또는 특성이 본 출원의 적어도 하나의 실시예에 포함될 수 있음을 의미한다. 명세서의 각 위치에 상기 단어가 나타날 시, 반드시 모두 동일한 실시예를 의미하는 것이 아니며, 기타 실시예와 배척되는 독립적이거나 대안적인 실시예를 의미하는 것도 아니다. 본 분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 명세서에 설명된 실시예는 다른 실시예와 결합될 수 있다는 것을 명시적으로 그리고 은연히 이해한다.
본 출원의 실시예의 설명에서, 용어 "및/또는"은 단지 관련된 객체의 관련 관계를 설명하기 위한 것이고, 3가지 관계가 존재할 수 있음을 나타내는 바, 예를 들어 A 및/또는 B는, A가 단독으로 존재하는 것, B가 단독으로 존재하는 것, 및 A와 B가 공존하는 3가지 경우를 나타낼 수 있다. 또한, 본 명세서에서 문자 "/"는, 일반적으로 전후 관련된 대상이 "또는"의 관계임을 나타낸다.
본 출원의 실시예의 설명에서, 용어 "복수 개"는 두 개 이상(두 개 포함)을 지칭하고, 마찬가지로, "다중 그룹"은 두 개의 그룹 이상(두 개의 그룹 포함)을 지칭하며, "다중 시트"는 두 개의 시트 이상(두 개의 시트를 포함)을 지칭한다.
본 출원의 실시예에 대한 설명에서, 기술 용어 "중심", "종방향", "횡방향", "길이", "폭", "두께", "상", "하", "전", "후", "좌", "우", "수직", "수평", "상단", "바닥", "내", "외", "시계 방향", "반시계 방향", "축방향", "종방향", "원주 방향" 등이 가리키는 방위 또는 위치관계는 첨부 도면에서 도시하는 방위 또는 위치관계에 기초하는 것으로, 이는 단지 본 출원의 실시예를 설명 및 간단하게 설명하기 위해 편의를 제공한 것일 뿐, 가리키는 장치 또는 소자가 반드시 특정의 방위를 갖고, 특정한 방위로 구조 및 동작되는 것을 의미하거나 또는 암시하는 것은 아니므로, 이를 본 출원의 실시예에 대한 한정이라고 이해해서는 아니된다.
본 출원의 실시예의 설명에서, 달리 명시적으로 규정 및 한정되지 않는 한, 기술 용어 "장착", "서로 연결", "연결", "고정" 등은 넓은 의미로 이해되어야 하고, 예를 들어, 고정 연결일 수 있고, 탈착 가능한 연결일 수도 있거나, 일체로 연결되며; 기계적 연결일 수 있고, 전기적 연결일 수도 있으며; 직접적으로 연결될 수 있고, 중간 매체를 통해 간접적으로 연결될 수도 있으며, 두 개의 소자 내부의 연통이거나 두 개의 소자의 상호 작용 관계일 수 있다. 본 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어서, 구체적인 상황에 근거하여 본 출원의 실시예에서 상기 용어의 구체적인 의미를 이해할 수 있다.
과학 기술의 발전과 사회의 지속적인 발전에 따라, 동력 배터리의 응용 분야는 지속적으로 확장되어, 전기 자전거, 전기 오토바이, 전기 자동차와 같은 전기 교통 수단에 응용될 뿐만 아니라, 군사 장비 및 항공 우주와 같은 다양한 분야에도 응용되고 있다. 동력 배터리는 도구에 동력원을 공급하는 전원으로서, 밸브 밀봉형 납축전지, 개방형 튜브 납축전지 및 인산철 리튬 축전지가 주로 사용되며, 고에너지, 고출력, 높은 에너지 밀도 등 특성을 갖고 있다. 기존의 배터리 전극 시트 결함 검출은 상반되는 두 세트의 이미지 센서를 사용하여 이미지를 수집하고, 전극 시트 활물질 코팅막과 전극 시트 에지 사이의 거리를 각각 획득하며, 코팅막의 위치 오차량을 산출하고, 제어 시스템과 폐루프 제어를 수행함으로써, 위치 오차량이 규격값보다 작아질 때까지 코팅막 영역을 조절한다. 기존의 결함 검출 방법은 전 공정의 코팅 섹션/다이컷 섹션 검출에 있으며, 코팅 섹션 검출 및 코팅막 영역 위치 오차량 검출만 포함되며, 전극 시트가 적층 셀 제조를 거치기 전의 검출이 부족하여, 이송 중 손상을 효과적으로 제어할 수 없고, 특정 전극 시트 및 셀에 데이터를 정확하게 바인딩할 수 없다. 이를 바탕으로, 본 출원은 배터리 전극 시트 절연 코팅층 결함의 검출 방법을 제공하여, 전극 시트를 촬영하여 적어도 하나의 완전한 전극 시트를 포함하는 전극 시트 이미지를 얻고, 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역 및 탭 영역을 결정하여, 절연 코팅층 영역 및 탭 영역에 따라, 상기 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역의 결함 검출 영역을 결정한다. 마지막으로, 결함 검출 영역에 대해 결함 검출을 진행하여, 결함 검출 결과를 얻는다. 상기 방법은 복합 전 전극 시트 절연 코팅에 대한 검출을 실현하고, 절연 코팅층 영역에 결함이 있는지 여부, 탭에 결함이 있는지 여부, 그리고 전극 시트 양면의 절연 코팅층 영역의 크기 및 폭이 일치한지 여부를 정확하게 검출할 수 있으므로, 복합 전 검출은 장치와 연동하여 결함이 있거나 비정상적인 크기의 전극 시트를 적시에 제거하여, 장치의 실행 효율성을 향상시킬 수 있다.
본 실시예에서 제공하는 배터리 전극 시트 절연 코팅층 결함의 검출 방법은, 예를 들어, 적층, 권취 또는 코팅 공정과 같은 배터리 생산 라인 장치의 동작 과정에 적용되어 배터리 전극 시트 절연 코팅층에 대해 결함 검출을 진행할 수 있다. 여기서, 배터리 전극 시트의 절연 코팅층은 구체적으로 세라믹 코팅층, 알루미나 코팅층 등일 수 있으며, 세라믹 코팅층은 탄화규소 세라믹 또는 질화규소 세라믹을 이용할 수 있다. 적층 장치의 롤 이송 과정에서 전극 시트에 대해 배터리 극판 절연 코팅층 결함을 진행하는 경우를 예로 들면, 하부 음극 카메라 스테이션과 상부 음극 카메라 스테이션에서 모두 전극 시트 공급 벨트 양측에 카메라를 설치하고, 양측의 카메라를 통해 전극 시트 공급 벨트 상의 음극 시트를 촬영하여 전극 시트 이미지를 얻고, 전극 시트 이미지를 처리하여, 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역 및 탭 영역을 결정하고, 절연 코팅층 영역 및 탭 영역에 따라, 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역의 결함 검출 영역을 결정할 수 있다. 마지막으로, 결함 검출 영역에 대해 결함 검출을 진행하여, 결함 검출 결과를 얻는다. 나아가, 결함 검출에는 절연 코팅층 영역의 위치 오차량, 결함, 탭의 결함 검출 및 데이터 바인딩 저장 등이 포함되며, 적층 장치의 음극 복합 전에 음극 시트 절연 코팅층의 일측 탭의 결함, 절연 코팅층 영역의 결함 및 크기를 검출할 수 있다. 부연하여 설명하면, 본 출원의 실시예와 관련되는 배터리는 차량, 선박 또는 항공기와 같은 전기 장치에 사용될 수 있으나, 이에 제한되지 않는다.
일 실시예에서, 복합 전 음극 시트에 대해 절연 코팅층 결함의 검출을 진행하기에 적합한 배터리 전극 시트 절연 코팅층 결함의 검출 방법을 제공한다. 도 1에 도시된 바와 같이, 상기 방법은 다음과 같은 단계를 포함한다.
단계 S100: 전극 시트를 촬영하여 얻은 전극 시트 이미지를 획득한다.
전극 시트 이미지는 적어도 하나의 완전한 전극 시트를 포함한다. 여기서, 하나의 완전한 전극 시트는 하나의 완전한 탭을 포함하며, 탭을 기준으로 양측으로 일정 범위만큼 확장되며, 확장된 구체적인 범위값은 전극 시트의 실제 제품 크기에 따라 설정될 수 있다. 구체적으로, 마찬가지로 적층 장치 상의 전극 시트에 대해 결함을 진행하는 경우를 예로 들면, 이미지 획득 장치를 통해 적층 장치에서 롤 이송되고 있는 전극 시트를 촬영하여, 적어도 하나의 완전한 전극 시트를 포함하는 전극 시트 이미지를 획득한 다음, 전극 시트 이미지를 상위 기기로 전송하여 상위 기기가 후속적으로 이미지 처리를 수행할 수 있도록 한다. 여기서, 이미지 획득 장치는 카메라 그룹, 센서 및 컨트롤러를 포함할 수 있으며, 상부 음극 카메라 스테이션을 예로 들면, 카메라 그룹 중 두 개의 카메라를 상부 음극 카메라 스테이션의 전극 시트 공급 벨트의 양측에 설치하고, 컨트롤러는 센서 판단에 따라 탭이 감지된 것으로 판단하여 카메라가 촬영하도록 를 트리거(trigger)하거나, 전극 시트 공급 벨트의 이송 속도에 따라, 카메라가 주기적으로 촬영하도록 제어하여, 카메라가 촬영한 전극 시트 이미지를 상위 기기에 업로드한다. 또한, 각각의 카메라에 대해 광원을 설치하여 주변 밝기를 확보하여 카메라가 더 용이하게 이미지를 수집할 수 있도록 한다. 여기서, 컨트롤러는 PLC(Programmable Logic Controller, 프로그래머블 로직 컨트롤러), MCU(Micro Control Unit, 마이크로 컨트롤 유닛) 등일 수 있고, 카메라는 CCD(Charge Coupled Device, 전하 커플링 장치) 카메라일 수 있으며, 센서는 광전 유도 센서를 사용할 수 있으며, 상위 기기는 다양한 개인용 컴퓨터, 노트북, 스마트폰, 태블릿 PC 및 휴대용 웨어러블 기기일 수 있으나 이에 제한되지 않으며, 휴대용 웨어러블 기기는 스마트 워치, 스마트 밴드, 헤드셋 등일 수 있다.
나아가, 전극 시트를 촬영하기 전에, 양측 카메라를 공동으로 보정(calibration)하여 보정 모델을 생성하고, 두 카메라의 좌표를 정렬하여, 후속적으로 앞뒷면 전극 시트 이미지의 크기를 산출하여 전극 시트의 코팅막 영역 위치 오차량을 정확하게 산출할 수 있도록 확보할 수도 있다. 또한, 카메라가 전극 시트 이미지를 촬영한 후, 컨트롤러는 또한 현재 전극 시트의 전극 시트 식별자 정보를 함께 상위 기기로 업로드하여, 상위 기기가 결함 검출 결과와 전극 시트 식별자 정보를 바인딩하여 저장하도록 할 수 있다.
단계 S200: 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역 및 탭 영역을 결정한다.
여기서, 절연 코팅층 영역은 전극 시트 이미지에서 절연 재료 코팅층이 위치한 영역을 가리키고, 탭 영역은 전극 시트 이미지에서 탭이 위치한 영역을 가리킨다. 구체적으로, 상위 기기는 전극 시트 이미지를 획득한 후, 전극 시트 이미지의 이미지 데이터를 분석하고, 이미지 데이터를 결합하여 이미지 처리를 진행하여, 획득한 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역 및 탭 영역을 검색한다. 여기서, 이미지 데이터는 구체적으로 그레이 스케일 값일 수 있고, 전극 시트 이미지의 각 픽셀점의 그레이 스케일 값을 결합하여, 전극 시트 이미지에 대해 그레이 스케일 차이값, 에지 검색 등 방식으로 처리 검출을 진행하여, 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역 및 탭 영역을 찾는다. 상위 기기가 전극 시트 이미지에 대해 처리 검출을 진행하는 방법은 유일하지 않으며, 구체적으로 전극 시트 공급 벨트 상의 전극 시트의 배치 방식에 따라, 상위 기기에 이미지 검출 방향을 미리 저장할 수 있다. 예를 들어, 도 9에 도시된 바와 같이, 촬영된 전극 시트 이미지의 오른쪽에서 왼쪽으로 순차적으로 현재 전극 시트의 활물질 코팅층 영역(103), 절연 재료 코팅층 영역 및 전극 시트 탭인 경우, 상위 기기는 전극 시트 이미지에 대해 오른쪽에서 왼쪽으로 그레이 스케일 차이값 및 에지 검색 검출을 진행하여, 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역(107) 및 탭 영역(104)을 차례로 찾는다.
단계 S300: 절연 코팅층 영역 및 탭 영역에 따라, 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역의 결함 검출 영역을 결정한다.
여기서, 결함 검출 영역은 현재 전극 시트의 절연 코팅층에 대해 결함 검출을 진행하는 목표 영역이다. 구체적으로, 상위 기기는 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역 및 탭 영역을 검색한 후, 탭 영역에 기반하여 서로 다른 전극 시트 사이의 이미지 경계를 찾은 후, 절연 코팅층 영역 및 전극 시트의 이미지 경계를 결합하여 전극 시트 이미지 내 현재 전극 시트의 절연 코팅층 영역의 결함 검출 영역을 결정하고, 이를 후속적인 현재 전극 시트의 절연 코팅층에 대해 결함 검출을 진행하는 목표 영역으로 사용한다.
단계 S400: 결함 검출 영역에 대해 결함 검출을 진행하여, 결함 검출 결과를 얻는 단계;를 포함한다.
이에 대응하여, 현재 전극 시트의 절연 코팅층 영역의 결함 검출 영역을 결정한 후, 상위 기기는 기 설정된 결함 영역 정보를 결합하여 결함 검출 영역에 대해 결함 검색을 진행하여, 결함 검출 영역에 결함 영역 정보와 매칭되는 결함이 있는지 여부를 판단하며, 나아가 현재 전극 시트의 절연 코팅층 영역에 결함이 있는지에 관한 결함 검출 결과를 얻는다.
또한, 일 실시예에서, 단계(S400) 이후, 상기 방법은, 결함 검출 결과와 전극 시트 식별자 정보를 바인딩하는 단계를 더 포함한다. 구체적으로, 전극 시트 식별자 정보는 전극 시트를 유일하게 결정할 수 있는 정보를 가리키고, 전극 시트 식별자 정보의 유형은 유일하지 않으며, 구체적으로 전극 시트의 번호, 식별자 코드 등일 수 있다. 상위 기기가 결함 검출 결과와 전극 시트 식별자 정보를 바인딩한 후, 로컬 데이터베이스에 저장하거나, 이미지 획득 장치의 컨트롤러에 전송할 수도 있다. 결함 검출 결과와 전극 시트 식별자 정보를 바인딩함으로써, 결함 검출 결과를 구체적인 전극 시트와 바인딩하여, 후속적인 전극 시트의 제거 등 동작에 대한 데이터 지원을 제공한다.
상기 배터리 전극 시트 절연 코팅층 결함의 검출 방법에서, 전극 시트를 촬영하여 적어도 하나의 완전한 전극 시트를 포함하는 전극 시트 이미지를 얻고, 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역 및 탭 영역을 결정하여, 절연 코팅층 영역 및 탭 영역에 따라, 상기 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역의 결함 검출 영역을 결정한다. 마지막으로, 결함 검출 영역에 대해 결함 검출을 진행하여, 결함 검출 결과를 얻는다. 상기 방법은 복합 전 전극 시트 절연 코팅에 대한 검출을 실현하고, , 절연 코팅층 영역에 결함이 있는지 여부를 검출하여, 결함이 있는 전극 시트를 적시에 제거할 수 있으며, 검출 정확도가 높고, 적층 장치의 실행 효율도 향상시킨다.
일 실시예에서, 도 2에 도시된 바와 같이, 단계 S200는 단계 S210 내지 단계 S230를 포함한다.
단계 S210: 전극 시트 이미지에 대해 전체 이미지 에지 검색을 진행하여, 초기 위치결정 전극 시트 에지를 얻는다.
구체적으로, 상위 기기는 전극 시트의 서로 다른 영역의 배열 위치를 결합하여, 대응하는 방향을 따라 전극 시트 이미지에 대해 전체 이미지 에지 검색을 진행하여, 전극 시트 이미지 내 초기 위치결정 전극 시트 에지를 찾는다. 일 실시예에서, 단계S210는, 전극 시트 이미지에 대해 탭에서 멀리 떨어진 일측으로부터 탭에 가까워지는 방향으로 전체 이미지 에지 검색을 진행하여, 초기 위치결정 전극 시트 에지를 얻는 단계를 포함한다. 도 9에 도시된 바와 같이, 마찬가지로, 전극 시트 이미지의 오른쪽에서 왼쪽으로 순차적으로 현재 전극 시트의 활물질 코팅층 영역(103), 절연 재료 코팅층 영역 및 전극 시트 탭인 경우를 예로 들면, 상위 기기는 전체 이미지 에지 검색을 통해, 전극 시트 이미지의 오른쪽에서 왼쪽으로 초기 위치결정 전극 시트 에지(106)를 검색한다. 전극 시트 이미지의 탭에서 멀리 떨어진 일측으로부터 점차적으로 탭에 가까워지는 방향으로 전체 이미지 에지 검색을 진행함으로써, 초기 위치결정 전극 시트 에지를 정확하게 검색할 수 있다.
단계 S220: 초기 위치결정 전극 시트 에지에 따라 위치 재결정을 진행하여, 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역을 결정한다. 이에 대응하여, 상위 기기는 전극 시트 이미지 내 초기 위치결정 전극 시트 에지(106)를 결정한 후, 초기 위치결정 전극 시트 에지(106)에 기반하여 계속하여 탭에 가까워지는 방향으로 영역 위치 재결정을 진행하여, 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역(107)을 찾는다.
단계 S230: 절연 코팅층 영역을 통해 검색함으로써, 전극 시트 이미지 내 탭 영역을 결정하는 단계;를 포함한다. 상위 기기는 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역(107)을 찾은 후, 절연 코팅층 영역(107)에 기반하여 계속하여 탭에 가까워지는 방향으로 검색하여, 전극 시트 이미지 내 탭 영역(104)을 찾는다.
상기 실시예에서, 전극 시트 이미지에 대해 전체 이미지 에지 검색 및 위치 재결정을 진행하여, 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역을 찾아내고, 결정된 절연 코팅층 영역에 기반하여 전극 시트 이미지 내 탭 영역을 찾아냄으로써, 전극 시트 이미지의 서로 다른 영역을 단계적으로 찾고, 정확하고 신뢰적인 검출을 실현한다.
나아가, 일 실시예에서, 도 3에 도시된 바와 같이, 전극 시트 이미지에 대해 탭에서 멀리 떨어진 일측으로부터 탭에 가까워지는 방향으로 전체 이미지 에지 검색을 진행하여, 초기 위치결정 전극 시트 에지를 얻는 단계 S210은 단계 S212 및 단계 S214를 포함한다.
단계 S212: 전극 시트 이미지에 대해 탭에서 멀리 떨어진 일측으로부터 탭에 가까워지는 방향으로 전체 이미지 에지 검색을 진행한다. 이에 대응하여, 마찬가지로 전극 시트 이미지에 대해 오른쪽에서 왼쪽으로 전체 이미지 에지 검색을 진행하는 경우를 예로 들면, 상위 기기는 전극 시트 이미지의 서로 다른 픽셀점의 그레이스케일 값을 결합하여 오른쪽에서 왼쪽으로 블랙에서 화이트로 돌연변이된 첫번째 사전 결정된 돌연변이 에지를 검색한다. 여기서, 전극 시트 이미지에서 일정한 간격으로 N(구체적인 수치는 설정 가능함)개의 검색 프레임을 배치하되, 검색 프레임은 이미지의 좌측에서 우측으로 연장되고, 각각의 검색 프레임은 하나의 에지 포인트를 검출하는 역할을 한다. 각 검색 프레임에 대해, 오른쪽에서 왼쪽으로 픽셀점을 순회하여, 그레이 스케일 값이 설정 정도로 변하는 제1 에지 포인트를 검색한 후, 직선 피팅 알고리즘을 사용하여, 모든 검색 프레임에 의해 검색된 에지 포인트들이 일 직선으로 피팅될 수 있는지 여부, 피팅이 완료된 직선과 전극 시트 이미지의 상부 에지 사이의 끼인각이 설정 범위 내(예를 들어, 85° 내지 95° 사이)에 있는지를 판단하고, 전극 시트 이미지의 상부 에지와의 끼인각이 설정 범위 내의 있는 직선이 검색될 경우, 사전 결정된 돌연변이 에지를 찾은 것으로 간주한다.
단계 S214: 사전 결정된 돌연변이 에지가 검색되면, 에지 검색에 성공한 것으로 결정하고, 검색된 사전 결정된 돌연변이 에지를 초기 위치결정 전극 시트 에지로 결정하는 단계를 포함한다. 사전 결정된 돌연변이 에지가 검색되면, 상위 기기는 에지 검색이 성공한 것으로 판단하고, 검색된 사전 결정된 돌연변이 에지를 초기 위치결정 전극 시트 에지로 결정한다.
상기 실시예에서, 전극 시트 이미지에 대해 탭에서 멀리 떨어진 일측으로부터 탭에 가까워지는 방향으로 전체 이미지 에지 검색을 진행할 경우, 사전 결정된 돌연변이 에지를 검색할 수 있는지 여부를 분석하고, 사전 결정된 돌연변이 에지를 찾아내면, 초기 위치결정 전극 시트 에지로 함으로써, 에지 검색의 정확도를 더 향상시킨다.
또한, 일 실시예에서, 상기 방법은, 사전 결정된 돌연변이 에지가 검색되지 않으면, 에지 검색에 성공하지 못한 것으로 결정하고, 전극 시트 에지 검색 실패 정보와 전극 시트 식별자 정보를 바인딩하는 단계를 더 포함한다. 전극 시트 에지 검색에 성공하지 못하면 후속적인 영역 검색 동작을 진행할 필요가 없고, 배터리 전극 시트 절연 코팅층 결함 검출이 종료되며, 전극 시트 에지 검색 실패 정보와 전극 시트 식별자 정보를 바인딩하여 로컬 데이터 베이스에 저장하거나 컨트롤러로 전송한다.
일 실시예에서, 단계 S220는, 초기 위치결정 전극 시트 에지에 따라 목표 절연 코팅층 영역을 결정하고, 목표 절연 코팅층 영역에서 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역을 추출하는 단계를 포함한다.
구체적으로, 상위 기기는 전극 시트의 절연 코팅층 영역의 크기를 미리 저장할 수 있고, 도 9에 도시된 바와 같이, 오른쪽에서 왼쪽으로 전극 시트 이미지 내 초기 위치결정 전극 시트 에지(106)를 찾은 후, 초기 위치결정 전극 시트 에지(106)에서 좌측으로 절연 코팅층 영역을 위치 재결정을 진행하며, 초기 위치결정 전극 시트 에지의 좌측에서 절연 코팅층 영역의 크기보다 크거나 같은 하나의 검출 흥취 영역을 결정하여, 목표 절연 코팅층 영역으로 사용한다. 나아가, 상위 기기는 목표 절연 코팅층 영역에 기반하여 영역 추출을 진행하는 바, 예를 들어, Blob 알고리즘을 통해 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역(107)을 획득한다. 여기서, 컴퓨터 비전에서의 Blob은 이미지 중 하나의 연결 영역을 가리키며, Blob 알고리즘은 이미지의 전경/배경을 분리한 후의 바이너리 이미지에 대해, 연결 도메인의 추출 및 표기를 진행하는 것이다. 바이너리 이미지 내 연결 영역을 분석하여 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역을 추출할 수 있다.
상기 실시예에서, 초기 위치결정 전극 시트 에지에 따라 목표 절연 코팅층 영역을 결정한 후, 목표 절연 코팅층 영역에 기반하여 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역을 추출함으로써, 절연 코팅층 영역을 간편하고 빠르게 찾을 수 있다。
일 실시예에서, 도 4에 도시된 바와 같이, 단계 S230는 단계 S232 및 단계 S234를 포함한다.
단계 S232: 절연 코팅층 영역에 따라 영역 위치 재결정을 진행하여, 목표 탭 검출 영역을 결정한다. 여기서, 상위 기기는 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역을 결정한 후, 절연 코팅층 영역에 기반하여 계속하여 탭에 가까워지는 방향으로 영역 위치 재결정을 진행하여, 목표 탭 검출 영역을 결정한다.
일 실시예에서, 단계 S232는, 절연 코팅층 영역의 초기 위치결정 절연 에지를 추출하는 단계; 초기 위치결정 절연 에지에 따라, 목표 탭 검출 영역을 결정하는 단계;를 포함한다. 구체적으로, 도 9에 도시된 바와 같이, 상위 기기는 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역(107)을 검색한 후, 절연 코팅층 영역(107)을 탭 방향의 에지에 가까이 하는 바, 구체적으로 절연 코팅층 영역(107)의 가장 좌측에 위치한 에지를 절연 코팅층 영역(107)의 초기 위치결정 절연 에지(105)로 사용한다. 나아가, 상위 기기는 전극 시트의 탭 크기를 미리 저장할 수도 있고, 획득한 초기 위치결정 절연 에지(105)의 위치를 위치 재결정하여, 초기 위치결정 절연 에지(105)의 좌측에서 탭 크기보다 크거나 같은 하나의 탭 검출 프레임을 결정하여 목표 탭 검출 영역으로 사용한다. 세라믹 코팅층 영역의 초기 위치결정 절연 에지를 추출하고, 초기 위치결정 절연 에지를 결합하여 목표 탭 검출 영역을 선택함으로써, 신속하고 정확하게 목표 탭 검출 영역을 결정할 수 있다.
또한, 일 실시예에서, 상기 방법은, 절연 코팅층 영역의 초기 위치결정 절연 에지 추출에 성공하지 못하면, 절연 에지에 대한 에지 검색 실패 정보와 전극 시트 식별자 정보를 바인딩한다. 초기 위치결정 절연 에지에 대한 에지 검색에 성공하지 못하면, 마찬가지로 후속적인 동작이 필요하지 않으며, 배터리 전극 시트 절연 코팅층 결함 검출이 종료되고, 절연 에지에 대한 에지 검색 실패 정보와 전극 시트 식별자 정보를 바인딩하여 로컬 데이터 베이스에 저장하거나 컨트롤러로 전송한다.
단계 S234: 목표 탭 검출 영역에서 탭 추출 영역을 검색하는 단계;를 포함한다. 상위 기기는 목표 탭 검출 영역을 결정한 후, 목표 탭 검출 영역 내의 이미지에 대해 분석을 진행하여, 탭 영역을 추출한다.
일 실시예에서, 단계 S234는, 목표 탭 검출 영역 중 탭 그레이 스케일 특징에 부합하는 영역을 추출하여, 예비 탭 영역을 획득하는 단계; 예비 탭 영역의 영역 형상 및 영역 크기에 따라, 예비 탭 영역이 탭인지 여부를 결정하고, 만약 탭이라면, 탭 영역을 얻었음을 결정하는 단계;를 포함한다. 구체적으로, 상위 기기는 목표 탭 검출 영역 내의 이미지에 대해 이진화 처리를 진행하고, 이진화 처리된 이미지에 대해 그레이 스케일 값 분석을 진행하여, 탭 그레이 스케일 특징과 부합되는 영역을 추출하여 예비 탭 영역으로 사용한다. 나아가, 상위 기기는 기 설정된 탭 특징 파라미터를 결합하여 예비 탭 영역의 영역 형상 및 영역 크기를 분석하여, 예비 탭 영역이 탭인지 여부를 판단한다. 예비 탭 영역이 탭일 경우, 탭 영역(104)이 검색된다. 여기서, 탭 특징 파라미터는 탭 형상 및 크기 등 파라미터를 포함할 수 있고, 예비 탭 영역의 영역 형상, 영역 크기가 기 설정된 탭 형상, 크기와 동일하거나, 차이값이 기 설정된 허용 범위 내에 있을 경우, 예비 탭 영역의 영역 형상 및 영역 크기가 탭 특징 파라미터와 일치한 것으로 간주되고, 예비 탭 영역을 탭으로 결정한다. 탭 그레이 스케일 특징을 결합하여 목표 탭 검출 영역에 대해 예비 선별을 진행하여 예비 탭 영역을 결정하고, 예비 탭 영역의 영역 형상 및 영역 크기를 결합하여 탭 영역이 검색되었는지 여부를 분석함으로써, 탭 영역의 검색 정확도를 확보할 수 있다.
상기 실시예에서, 절연 코팅층 영역을 결합하여 영역 위치 재결정을 진행하여, 목표 탭 검출 영역을 결정한 후, 목표 탭 검출 영역에 기반하여 탭 영역을 검색함으로써, 마찬가지로 탭 영역을 간편하고 빠르게 찾을 수 있다.
또한, 일 실시예에서, 상기 방법은, 예비 탭 영역이 탭이 아닌 것으로 결정되는 경우, 탭 부재 정보와 전극 시트 식별자 정보를 바인딩한다. 탭이 존재하지 않으면, 마찬가지로 후속적인 동작이 필요하지 않으며, 배터리 전극 시트 절연 코팅층 결함 검출이 종료되고, 탭 부재 정보와 전극 시트 식별자 정보를 바인딩한 후 로컬 데이터 베이스에 저장하거나 컨트롤러로 전송한다.
일 실시예에서, 도 5에 도시된 바와 같이, 단계 S300는 단계 S310 내지 단계 S330를 포함한다.
단계 S310: 탭 영역에 대해 에지 검색을 진행하여, 탭 에지를 얻는다. 탭 영역이 검색된 후, 상위 기기는 탭 영역에서 초기 위치결정 절연 에지와 평행한 방향으로 에지 검색을 진행하여, 탭 에지를 검색한다. 도 9에 도시된 바와 같이, 마찬가지로 전극 시트 이미지에 대해 오른쪽에서 왼쪽으로 점차적으로 초기 위치결정 전극 시트 에지(106) 및 초기 위치결정 절연 에지(105)를 검색하는 경우를 예로 들면, 상위 기기는 탭 영역(104)에서 상하방향으로, 에지 검색 알고리즘을 통해 탭 에지에 대해 에지 검색을 진행하여, 탭의 상부 에지(110)와 하부 에지(111)를 찾는다. 구체적으로, 먼저 탭 영역(104)의 위치에 따라, 탭 영역(104)의 상하 가장자리 위치에서 두 개의 탭 에지 검색 프레임을 결정한 후, 각 에지 검색 프레임 내에서 상하방향으로 픽셀점을 순회하여, 그레이 스케일 값 변화가 기설정 정도에 달하는 에지 포인트를 검색하고, 동일한 에지 검색 프레임 내에서 찾은 다수의 에지 포인트를 피팅하여 하나의 직선을 얻으면, 해당 에지 검색 프레임 내에서 탭 에지 검색이 성공한 것이다.
단계 S320: 탭 에지 및 기 설정된 거리 데이터에 따라, 전극 시트 에지를 얻는다. 여기서, 기 설정된 거리 데이터는 탭 에지와 전극 시트 에지 사이의 거리 데이터이고, 기 설정된 거리 데이터의 구체적인 값은 실제 제품에서 전극 시트 에지와 탭 에지 사이의 거리에 따라 설정할 수 있다. 구체적으로, 도 9에 도시된 바와 같이, 전극 시트 에지는 전극 시트 상부 에지(112) 및 전극 시트 하부 에지(113)를 포함하고, 탭 에지가 검색된 후, 탭 상부 에지(110)의 위치에 기 설정된 거리 데이터를 가하면 전극 시트 상부 에지(112)를 찾을 수 있고, 탭 하부 에지(111)의 위치에 기 설정된 거리 데이터를 가하면 전극 시트 하부 에지(113)를 찾을 수 있다.
단계 S330: 초기 위치결정 전극 시트 에지, 초기 위치결정 절연 에지 및 전극 시트 에지에 따라, 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역의 결함 검출 영역을 결정하는 단계;를 포함한다. 이에 대응하여, 상위 기기는 초기 위치결정 전극 시트 에지(106), 초기 위치결정 절연 에지(105), 전극 시트 상부 에지(112) 및 전극 시트 하부 에지(113)를 결정한 후, 네 개의 에지를 결합하여 피팅하여 현재 전극 시트의 절연 코팅층 영역(107)의 결함 검출 영역을 생성한다.
상기 실시예에서, 탭 영역이 검색된 후, 탭 에지 및 기 설정된 거리 데이터를 결합하여 전극 시트 에지를 결정하고, 나아가 초기 위치결정 전극 시트 에지, 초기 위치결정 절연 에지 및 전극 시트 에지에 따라, 후속 결함 검출을 위해 절연 코팅층 영역의 결함 검출 영역을 정확하게 찾을 수 있다.
또한, 일 실시예에서, 상기 방법은, 탭 영역의 에지 검색에 성공하지 못하면, 탭 에지 검색 실패 정보와 전극 시트 식별자 정보를 바인딩하여 출력한다. 탭 영역의 에지 검색에 성공하지 못하면, 마찬가지로 후속적인 동작이 필요하지 않으며, 배터리 전극 시트 절연 코팅층 결함 검출이 종료되고, 탭 에지 검색 실패 정보와 전극 시트 식별자 정보를 바인딩하여 로컬 데이터 베이스에 저장하거나 컨트롤러로 전송한다.
일 실시예에서, 도 6에 도시된 바와 같이, 단계 S400는 단계 S410 및 단계 S420를 포함한다.
단계 S410: 결함 검출 영역 내 연결 도메인을 추출한다. 여기서, 연결 도메인은 결함 검출 영역에서 그레이 스케일 값이 모두 동일한 설정 범위 내에 있으면서 인접하는 픽셀점들의 집합을 가리킨다. 현재 전극 시트의 절연 코팅층 영역의 결함 검출 영역을 결정한 후, 상위 기기는 마찬가지로 결함 검출 영역에 대해 Blob 알고리즘 처리를 진행하여, 처리 후의 바이너리 이미지 내 연결 도메인을 획득할 수 있다.
단계 S420: 사전 결정된 결함 영역과 유사한 연결 도메인이 존재하면, 결함이 존재하는 것으로 결정한다. 결함 검출 결과는 결함이 존재한다는 정보를 포함한다. 미리 전극 시트의 절연 코팅층 영역에 실제로 발생할 수 있는 결함에 따라, 대응하는 사전 결정된 결함 영역 정보를 생성하여 상위 기기에 저장하되, 사전 결정된 결함 영역 정보는 사전 결정된 결함 영역의 위치, 형상 및 크기 등 정보를 포함할 수 있고, 상위 기기는 사전 결정된 결함 영역 정보를 결합하여 결함 검출 영역의 연결 도메인과 사전 결정된 결함 영역이 유사한지 여부를 분석하는 바, 예를 들어, 결함 검출 영역의 연결 도메인과 사전 결정된 결함 영역의 위치, 형상 및 크기의 유사도가 모두 상응한 설정 역치보다 높으면, 해당 연결 도메인과 사전 결정된 결함 영역이 유사하다고 간주하고, 나아가 결함 검출 영역에 결함이 존재하는 것으로 결정한다.
상기 실시예에서, 결함 검출 영역 내 연결 도메인을 추출하여 사전 결정된 결함 영역과 비교하고, 결함 검출 영역에 결함이 있는 지 여부를 분석하므로, 검출이 정확하고 효율적이다.
부연하여 설명하면, 현재 전극 시트의 절연 코팅층 영역에 결함이 있는지 여부 검출 시, 두 개의 카메라를 통해 전극 시트의 복합면 및 비복합면을 각각 촬영하여 두 장의 전극 시트 이미지를 얻고, 동기적으로 두 장의 전극 시트 이미지를 분석하여, 두 개의 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역의 결함 검출 영역을 결정하고, 나아가 두 개의 전극 시트 이미지 내 결함 검출 영역에 사전 결정된 결함 영역과 유사한 연결 도메인이 존재하는 지를 검출하며, 두 개의 전극 시트 이미지 내 결함 검출 영역에 사전 결정된 결함 영역과 유사한 연결 도메인이 모두 존재하지 않으면, 현재 전극 시트의 절연 코팅층 영역에 결함이 존재하지 않는 것으로 간주한다. 하나 또는 두 개의 전극 시트 이미지의 결함 검출 영역에서 사전 결정된 결함 영역과 유사한 연결 도메인이 검출되면, 현재 전극 시트의 절연 코팅층 영역에 결함이 존재하는 것으로 간주한다.
기타 실시예에서, 상기 방법은 먼저 단계 S100 내지 단계 S400를 통해, 그 중 하나의 전극 시트 이미지에 대해 이미지 분석하여, 해당 전극 시트 이미지 내 결함 검출 영역을 찾아 사전 결정된 결함 영역과 유사한 연결 도메인이 존재하는지 여부를 분석하며, 존재한다면, 현재 전극 시트의 절연 코팅층 영역에 결함이 존재하는 것으로 간주하여, 다른 전극 시트 이미지를 분석할 필요가 없고; 존재하지 않는다면, 다시 단계 S100 내지 단계 S400를 통해, 다른 전극 시트 이미지 내 결함 검출 영역을 찾아 사전 결정된 결함 영역과 유사한 연결 도메인이 존재하는지 여부를 분석한다. 다른 전극 시트 이미지 내 결함 검출 영역에도 사전 결정된 결함 영역과 유사한 연결 도메인이 존재하지 않으면, 현재 전극 시트의 절연 코팅층 영역에 결함이 존재하지 않는 것으로 간주하고, 반대인 경우, 마찬가지로 현재 전극 시트의 절연 코팅층 영역에 결함이 존재하는 것으로 간주한다. 또한, 사전 결정된 결함 영역에 결함이 존재하는 것으로 결정되면, 상위 기기는 결함이 존재한다는 정보와 전극 시트 식별자 정보를 바인딩하여 로컬 데이터 베이스에 저장하거나 컨트롤러로 전송한다.
나아가, 일 실시예에서, 단계 S400는, 사전 결정된 결함 영역과 유사한 연결 도메인이 존재하지 않으면, 전극 시트의 코팅막 영역 위치 오차량을 산출하는 단계 S430를 더 포함한다. 결함 검출 결과는 결함이 존재하지 않는다는 정보 및 코팅막 영역 위치 오차량을 포함한다. 구체적으로, 현재 전극 시트를 촬영한 두 장의 전극 시트 이미지 내 결함 검출 영역에 사전 결정된 결함 영역과 유사한 연결 도메인이 모두 존재하지 않으면, 현재 전극 시트의 절연 코팅층에 결함이 존재하지 않는 것으로 간주하고, 두 개의 전극 시트 이미지를 결합하여 현재 전극 시트의 코팅막 영역 위치 오차량을 산출한다. 또한, 상위 기기는 결함이 존재하지 않는다는 정보와 코팅막 영역 위치 오차량을 전극 시트 식별자 정보와 바인딩하여 로컬 데이터 베이스에 저장하거나 컨트롤러로 전송한다.
상기 실시예에서, 절연 코팅층 영역의 결함 검출 영역에 결함이 존재하지 않을 경우, 또한 전극 시트의 코팅막 영역 위치 오차량을 산출하여, 전극 시트 양면의 절연 코팅층 영역의 크기 및 폭이 일치한지 여부에 대한 분석에 사용하여, 비정상적인 크기의 전극 시트를 제거하여, 배터리 전극 시트의 결함 검출 정확도를 더욱 향상시킨다.
일 실시예에서, 전극 시트 이미지는 전극 시트의 양면을 촬영하여 얻은 제1 전극 시트 이미지 및 제2 전극 시트 이미지를 포함하고; 단계 S430는, 제1 전극 시트 이미지와 제2 전극 시트 이미지에 대응하는 결함 검출 영역에, 모두 사전 결정된 결함 영역과 유사한 연결 도메인이 존재하지 않으면, 전극 시트의 코팅막 영역 위치 오차량을 산출한다. 여기서, 제1 전극 시트 이미지 및 제2 전극 시트 이미지는 각각 현재 전극 시트의 복합면 및 비복합면을 촬영하여 얻은 전극 시트 이미지이고, 두 개의 전극 시트 이미지 내 결함 검출 영역 모두에 사전 결정된 결함 영역과 유사한 연결 도메인이 존재하지 않으면, 상위 기기는 현재 전극 시트의 절연 코팅층에 결함이 존재하지 않는 것으로 판정하고, 전극 시트의 코팅막 영역 위치 오차량을 산출한다. 전극 시트의 양면을 촬영하여 얻은 전극 시트 이미지를 결합하여, 대응하는 결함 검출 영역에 결함이 존재하는 지 여부를 각각 검출하고, 두 개의 전극 시트 이미지의 결함 검출 영역에 모두 결함이 존재하면, 전극 시트의 코팅막 영역 위치 오차량을 산출함으로써, 전극 시트 절연 코팅층 영역의 결함 검출 정확도를 향상시킨다.
나아가, 일 실시예에서, 전극 시트 이미지는 전극 시트의 양면을 촬영하여 얻은 제1 전극 시트 이미지 및 제2 전극 시트 이미지를 포함하고; 도 7에 도시된 바와 같이, 전극 시트의 코팅막 영역 위치 오차량을 산출하는 단계 S430은 단계 S432 내지 단계 S438를 포함한다.
단계 S432: 제1 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역의 결함 검출 영역에 대해 에지 검색을 진행하여, 제1 전극 시트 가상 에지 및 제1 절연 에지를 얻는다. 구체적으로, 제1 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역의 결함 검출 영역을 결정하고, 결함 검출 영역에 사전 결정된 결함 영역과 유사한 연결 도메인이 존재하지 않는 것으로 판단되는 경우, 결함 검출 영역에 대해 에지 검색을 진행하여, 제1 전극 시트 이미지 내 제1 전극 시트 가상 에지 및 제1 절연 에지를 찾는다.
일 실시예에서, 단계 S432는, 제1 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역의 결함 검출 영역의 에지 포인트를 검색하는 단계; 검색된 에지 포인트에 따라 피팅을 진행하여, 제1 전극 시트 가상 에지 및 제1 절연 에지를 얻는 단계;를 포함한다. 구체적으로, 현재 전극 시트의 제1 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역의 결함 검출 영역에 기반하여, 초기 위치결정 전극 시트 에지, 초기 위치결정 절연 에지, 전극 시트 상부 에지 및 전극 시트 하부 에지에 따라 하나의 현재 전극 시트의 절연 에지의 에지 검색 프레임 및 전극 시트 가상 에지의 에지 검색 프레임을 결정한 후, 각각 절연 에지의 에지 검색 프레임 및 전극 시트 가상 에지의 에지 검색 프레임 내에서 에지 검색 알고리즘을 통해 에지 검색을 진행하여, 두개의 에지 검색 프레임 내의 에지 포인트를 찾고, 나아가 각 에지 검색 프레임 내의 에지 포인트를 피팅하여, 대응하는 제1 전극 시트 가상 에지 및 제1 절연 에지를 얻는다. 절연 코팅층 영역의 결함 검출 영역의 에지 포인트를 검색하고, 검색된 에지 포인트를 결합하여 피팅을 진행하여 전극 시트 가상 에지 및 절연 에지를 결정함으로써, 전극 시트 가상 에지 및 절연 에지의 검색 성공률을 향상시킨다.
나아가, 제1 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역의 결함 검출 영역의 에지 포인트를 검색한 후, 상기 방법은, 에지 포인트에 대해 필터링 제거하는 단계를 더 포함하여, 비정상적인 에지 포인트를 필터링 제거한 후, 필터링 제거된 후 나머지 에지 포인트를 피팅하여, 대응되는 제1 전극 시트 가상 에지 및 제1 절연 에지를 얻는다. 여기서, 에지 포인트를 필터링 제거하는 방식은 유일하지 않고, 구체적으로, 각 에지 포인트의 위치를 결합하여 가중 최소 제곱법으로 비정상적인 에지 포인트를 필터링 제거하는 것과 같이, 피팅 알고리즘을 통해 에지 포인트를 필터링 제거하는 것일 수 있다.
단계 S434: 제2 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역의 결함 검출 영역에 대해 에지 검색을 진행하여, 제2 전극 시트 가상 에지 및 제2 절연 에지를 얻는다. 제2 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역의 결함 검출 영역에 대해 에지 검색을 진행하여, 제2 전극 시트 가상 에지 및 제2 절연 에지를 얻는 방법은 단계 S432와 유사하다는 것을 이해할 수 있으므로, 여기서 더 이상 설명하지 않는다.
단계 S436: 제1 전극 시트 가상 에지 및 제1 절연 에지에 따라, 제1 절연 코팅층 영역 폭을 산출하고, 제2 전극 시트 가상 에지 및 제2 절연 에지에 따라, 제2 절연 코팅층 영역 폭을 산출한다. 제1 전극 시트 이미지 내 제1 전극 시트 가상 에지 및 제1 절연 에지, 그리고 제2 전극 시트 이미지 내 제2 전극 시트 가상 에지 및 제2 절연 에지를 찾은 후, 상위 기기는 제1 전극 시트 가상 에지와 제1 절연 에지 사이의 거리를 산출하여, 제1 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역 폭, 즉, 제1 절연 코팅층 영역 폭을 얻는다. 상위 기기는 또한 제2 전극 시트 가상 에지와 제2 절연 에지 사이의 거리를 산출하여, 제2 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역 폭, 즉, 제2 절연 코팅층 영역 폭을 얻는다.
단계 S438: 제1 절연 코팅층 영역 폭 및 제2 절연 코팅층 영역 폭에 따라, 전극 시트의 코팅막 영역 위치 오차량을 산출하는 단계;를 포함한다. 이에 대응하여, 상위 기기는 제1 절연 코팅층 영역 폭과 제2 절연 코팅층 영역 폭을 감산하여, 차이값을 얻고, 이를 현재 전극 시트의 코팅막 영역 위치 오차량으로 간주한다.
상기 실시예에서, 두 개의 전극 시트 이미지 중 절연 코팅층 영역의 결함 검출 영역에 대해 에지 검색을 진행하여, 대응하는 전극 시트 가상 에지 및 절연 에지를 찾고, 나아가 전극 시트 가상 에지 및 절연 에지에 따라 두 개의 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역 폭을 산출하며, 마지막으로 두 개의 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역 폭에 따라, 전극 시트의 코팅막 영역 위치 오차량을 정확하게 산출할 수 있다.
또한, 일 실시예에서, 상기 방법은, 에지 포인트가 검색되지 않으면, 에지 포인트 검색 실패 정보와 전극 시트 식별자 정보를 바인딩하여 출력하는 단계를 더 포함한다. 제1 전극 시트 이미지 또는 제2 전극 시트 이미지 내 결함 검출 영역의 에지 포인트 검색에 성공하지 못하면, 마찬가지로 후속적인 동작이 필요하지 않으며, 배터리 전극 시트 절연 코팅층 결함 검출이 종료되고, 에지 포인트 검색 실패 정보와 전극 시트 식별자 정보를 바인딩하여 로컬 데이터 베이스에 저장하거나 컨트롤러로 전송한다.
상기 배터리 전극 시트 절연 코팅층 결함의 검출 방법을 더 잘 이해하기 위하여, 이하 구체적인 실시예를 결합하여 상세히 설명한다.
기존의 배터리 전극 시트 결함 검출은 코팅 섹션 검출 및 코팅막 영역 위치 오차량 검출만 포함하고, 절연 코팅층 결함 검출은 포함하지 않으며, 코팅 과정 검출에서 구체적인 전극 시트에 데이터를 바인딩할 수 없는 문제에 대해, 본 출원은 양극 연속 적층 복합 전 음극 시트 절연 코팅층의 크기 결함 온라인 검출 방법을 제공하고, 고효율 고정밀도 비전 알고리즘을 사용하여, 복합 전 음극 시트 절연 코팅층을 검출하여, 절연 코팅층 영역에 결함이 있는지 여부, 탭에 결함이 있는지 여부, 그리고 음극 시트 양면의 절연 코팅층 영역의 크기 및 폭이 일치한지 여부를 정확하게 검출할 수 있고, 복합 전 검출은 장치와 연동하여 결함이 있거나 비정상적인 크기의 전극 시트를 적시에 제거하여, 장치의 실행 효율성을 향상시키고, 제거 누락 위험을 줄일수 있다. 구체적으로, 도8은 절연 코팅층 결함 검출 하드웨어 배치의 모식도이고, 음극 공급 벨트 양측에 고프레임 레이트 어레이 카메라를 각각 설치하고, 흰색 막대형 광원을 각각 설치하여, 측면에서 절연 코팅층 영역에 광을 조사한다. 여기서, A101은 음극 공급 벨트이고, A102는 검출 카메라 1이고, A103은 검출 카메라 1와 대응하는 광원이며, A104는 검출 카메라 2이고, A105는 검출 카메라 2와 대응하는 광원이다. 전극 시트 공급 벨트의 양측에 각각 하나의 카메라로 절연 코팅층 영역을 촬영하고, 양측 카메라를 공동으로 보정(calibration)하여 보정 모델을 생성하며, PLC는 탭을 감지하여 카메라가 촬영하도록 를 트리거하여 현재 전극 시트의 고유 식별자 코드를 제공하고, 상위 기기의 비전 소프트웨어를 이용하여 그레이 스케일 차이값, 에지 검색 등 수단으로 이미지에 대해 처리 검출을 진행하여, 절연 코팅층 영역의 위치 오차량, 결함, 및 탭 결함 검출 및 데이터 바인딩 저장을 구현한다.
도 9는 실시예에 따른 카메라의 이미징 모식도를 나타내고, 각 영역의 명칭은 아래와 같다. 101: 이전 음극 시트; 102: 다음 음극 시트; 103: 현재 음극 시트 활물질 코팅층 영역; 104: 현재 음극 시트 탭, 즉 탭 영역; 105: 초기 위치결정 절연 에지, 즉 절연 재료 코팅층 영역의 외부 가장자리; 106: 음극 가상 에지/초기 위치결정 전극 시트 에지, 즉 음극 시트 활물질 코팅층 영역과 절연 재료 코팅층 영역 사이의 경계 에지; 107: 절연 재료 코팅층 영역, 즉 절연 코팅층 영역; 108: 탭 상부 에지와 현재 전극 시트 상부 에지의 오프셋; 109: 탭 하부 에지와 현재 전극 시트 하부 에지의 오프셋; 단계(110)에서, 탭 상부 에지; 111: 탭 하부 에지; 112: 전극 시트 상부 에지; 113: 전극 시트 하부 에지.
도 10은 위치 오차량의 산출 방법의 모식도이고, 여기서, A면은 전극 시트의 비복합면을 촬영한 것이고, B면은 전극 시트의 복합면을 촬영한 것이다. 결함 검출 방법의 결함 검출 항목은, 106 영역 누출 금속 파손 결함 검출, 106 영역 폭 검출, 106영역 폭 AB면의 위치 오차량 및 104 영역 탭 결실 검출을 포함한다.
상기 결함 검출 방법은 전극 시트의 에지 및 절연 코팅층 영역을 위치 결정하여 검출 영역을 정확하게 재배치하고, 검출 프레임을 대응되는 검출이 필요한 영역에 정확하게 위치 결정시킨 다음, 에지 검색, 크기 측정 및 결함 검출 알고리즘을 통해 각각 검출을 수행하고, 결함 검출 결과를 출력하며, 적층 장치에서 절연 코팅층 검출은 롤 이송 과정에서의 절연 코팅층의 손상까지 제어할 수 있으며, 장치에 극판 시트 정보를 제공하여 후속적인 제거 등 동작에 대해 데이터 지원을 제공할 수 있으며; 각각의 전극 시트에 고유 번호를 바인딩하여 저장하여 각각의 전극 시트의 절연 코팅층의 데이터가 추적 가능성을 갖도록 할 수 있다. 상기 검출 방법은 검출 정확도가 높고, 픽셀 정확도가 0.02 mm에 달할 수 있으며, 검출 효율이 빠르며, 일회 검출 시간이 20 ms 미만이다.
위의 각 실시예와 관련된 흐름도의 각 단계들이 화살표의 지시에 따라 순차적으로 표시되지만, 이러한 단계들은 반드시 화살표로 표시된 순서대로 수행되는 것은 아님을 이해해야 한다. 이러한 단계의 수행은 여기에 명확하게 명시되지 않는 한 다른 순서로 수행할 수 있는 바, 엄격한 순서 제한이 없다. 또한, 상기 각 실시예와 관련된 흐름도의 적어도 일부 단계들은 다수의 단계 또는 다수의 구간을 포함할 수 있으며, 이러한 단계 또는 구간은 반드시 같은 시각에 실행되는 것이 아니라 서로 다른 시각에 실행될 수 있으며, 이러한 단계 또는 구간의 실행 순서는 반드시 순차적으로 수행되는 것이 아니라 다른 단계 또는 다른 단계 내의 단계 또는 구간의 적어도 일부와 번갈아 수행될 수도 있다.
동일한 발명 구상에 기초하여, 본 출원의 실시예는 또한 상기 배터리 전극 시트 절연 코팅층 결함의 검출 방법을 구현하기 위한 배터리 전극 시트 절연 코팅층 결함 검출 장치를 제공한다. 상기 장치에서 제공하는 과제 해결수단은 상기 방법에 설명된 수단과 유사하므로 아래에 제공된 하나 이상의 전원 교환 처리 장치의 실시예의 구체적인 한정은 배터리 전극 시트 절연 코팅층 결함의 검출 방법에 대한 한정을 참조할 수 있으며 여기서 중복 설명하지 않는다.
일 실시예에서, 복합 전 음극 시트에 대해 절연 코팅층 결함의 검출을 진행하기에 적합한 배터리 전극 시트 절연 코팅층 결함의 검출 장치를 제공한다. 도 11에 도시된 바와 같이, 상기 장치는, 이미지 획득 모듈(100), 이미지 분석 모듈(200), 영역 추출 모듈(300) 및 결함 분석 모듈(400)을 포함하고, 여기서,
이미지 획득 모듈(100)은, 전극 시트를 촬영하여 얻은 전극 시트 이미지를 획득하되, 전극 시트 이미지는 적어도 하나의 완전한 전극 시트를 포함한다.
이미지 분석 모듈(200)은 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역 및 탭 영역을 결정한다.
영역 추출 모듈(300)은 절연 코팅층 영역 및 탭 영역에 따라, 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역의 결함 검출 영역을 결정한다.
결함 분석 모듈(400)은 결함 검출 영역에 대해 결함 검출을 진행하여, 결함 검출 결과를 얻는다.
일 실시예에서, 이미지 분석 모듈(200)은 전극 시트 이미지에 대해 전체 이미지 에지 검색을 진행하여, 초기 위치결정 전극 시트 에지를 얻고; 초기 위치결정 전극 시트 에지에 따라 위치 재결정을 진행하여, 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역을 결정하는 단계; 절연 코팅층 영역을 통해 검색함으로써, 전극 시트 이미지 내 탭 영역을 결정하는 단계;를 포함한다.
일 실시예에서, 이미지 분석 모듈(200)은 전극 시트 이미지에 대해 탭에서 멀리 떨어진 일측으로부터 탭에 가까워지는 방향으로 전체 이미지 에지 검색을 진행하여, 초기 위치결정 전극 시트 에지를 얻는다.
일 실시예에서, 이미지 분석 모듈(200)은 전극 시트 이미지에 대해 탭에서 멀리 떨어진 일측으로부터 탭에 가까워지는 방향으로 전체 이미지 에지 검색을 진행하며; 사전 결정된 돌연변이 에지가 검색되면, 에지 검색에 성공한 것으로 결정하고, 검색된 사전 결정된 돌연변이 에지를 초기 위치결정 전극 시트 에지로 결정하는 단계를 포함한다.
일 실시예에서, 이미지 분석 모듈(200)은 초기 위치결정 전극 시트 에지에 따라 목표 절연 코팅층 영역을 결정하고, 목표 절연 코팅층 영역에서 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역을 추출한다.
일 실시예에서, 이미지 분석 모듈(200)은 절연 코팅층 영역에 따라 영역 위치 재결정을 진행하여, 목표 탭 검출 영역을 결정하고; 목표 탭 검출 영역에서 탭 추출 영역을 검색하는 단계;를 포함한다.
일 실시예에서, 이미지 분석 모듈(200)은 절연 코팅층 영역의 초기 위치결정 절연 에지를 추출하고; 초기 위치결정 절연 에지에 따라, 목표 탭 검출 영역을 결정하는 단계;를 포함한다.
일 실시예에서, 이미지 분석 모듈(200)은 목표 탭 검출 영역 중 탭 그레이 스케일 특징에 부합하는 영역을 추출하여, 예비 탭 영역을 획득하고; 예비 탭 영역의 영역 형상 및 영역 크기에 따라, 예비 탭 영역이 탭인지 여부를 결정하고, 만약 탭이라면, 탭 영역을 얻었음을 결정하는 단계;를 포함한다.
일 실시예에서, 영역 추출 모듈(300)은 탭 영역에 대해 에지 검색을 진행하여, 탭 에지를 얻는다. 탭 에지 및 기 설정된 거리 데이터에 따라, 전극 시트 에지를 얻되, 기 설정된 거리 데이터는 탭 에지와 전극 시트 에지 사이의 거리 데이터인 단계; 초기 위치결정 전극 시트 에지, 초기 위치결정 절연 에지 및 전극 시트 에지에 따라, 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역의 결함 검출 영역을 결정하는 단계;를 포함한다.
일 실시예에서, 결함 분석 모듈(400)은 결함 검출 영역 내 연결 도메인을 추출하고; 사전 결정된 결함 영역과 유사한 연결 도메인이 존재하면, 결함이 존재하는 것으로 결정하는 단계;를 포함하되, 결함 검출 결과는 결함이 존재한다는 정보를 포함한다.
일 실시예에서, 결함 분석 모듈(400)은 또한, 사전 결정된 결함 영역과 유사한 연결 도메인이 존재하지 않으면, 전극 시트의 코팅막 영역 위치 오차량을 산출하고; 결함 검출 결과는 결함이 존재하지 않는다는 정보 및 코팅막 영역 위치 오차량을 포함한다.
일 실시예에서, 전극 시트 이미지는 전극 시트의 양면을 촬영하여 얻은 제1 전극 시트 이미지 및 제2 전극 시트 이미지를 포함하고; 결함 분석 모듈(400)은 제1 전극 시트 이미지 및 제2 전극 시트 이미지와 대응하는 결함 검출 영역에 사전 결정된 결함 영역과 유사한 연결 도메인이 모두 존재하지 않으면, 전극 시트의 코팅막 영역 위치 오차량을 산출한다.
일 실시예에서, 전극 시트 이미지는 전극 시트의 양면을 촬영하여 얻은 제1 전극 시트 이미지 및 제2 전극 시트 이미지를 포함하고; 결함 분석 모듈(400)은 제1 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역의 결함 검출 영역에 대해 에지 검색을 진행하여, 제1 전극 시트 가상 에지 및 제1 절연 에지를 얻으며; 제2 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역의 결함 검출 영역에 대해 에지 검색을 진행하여, 제2 전극 시트 가상 에지 및 제2 절연 에지를 얻는 단계; 제1 전극 시트 가상 에지 및 제1 절연 에지에 따라, 제1 절연 코팅층 영역 폭을 산출하고, 제2 전극 시트 가상 에지 및 제2 절연 에지에 따라, 제2 절연 코팅층 영역 폭을 산출하는 단계; 제1 절연 코팅층 영역 폭 및 제2 절연 코팅층 영역 폭에 따라, 전극 시트의 코팅막 영역 위치 오차량을 산출하는 단계;를 포함한다.
일 실시예에서, 결함 분석 모듈(400)은 제1 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역의 결함 검출 영역의 에지 포인트를 검색한다. 검색된 에지 포인트에 따라 피팅을 진행하여, 제1 전극 시트 가상 에지 및 제1 절연 에지를 얻는 단계;를 포함한다.
일 실시예에서, 결함 분석 모듈(400)은 또한 결함 검출 결과와 전극 시트 식별자 정보를 바인딩한다.
일 실시예에서, 컴퓨터 장치를 제공하며, 상기 컴퓨터 장치는 서버일 수도 있고, 단말기일 수도 있으며, 서버인 경우를 예로 들면, 그 내부 구조는 도 12에 도시된 바와 같을 수 있다. 상기 컴퓨터 장치는 시스템 버스를 통해 연결된 프로세서, 메모리 및 네트워크 인터페이스를 포함한다. 여기서, 상기 컴퓨터 장치의 프로세서는 컴퓨팅 및 제어 능력을 제공한다. 상기 컴퓨터 장치의 메모리는 비휘발성 저장 매체 및 내부 메모리를 포함한다. 상기 비휘발성 저장 매체에는 운영 체제, 컴퓨터 프로그램 및 데이터 베이스가 저장된다. 상기 내부 메모리는 비휘발성 저장 매체 내의 실행 체제 및 컴퓨터 프로그램의 실행을 위한 환경을 제공한다. 상기 컴퓨터 장치의 데이터 베이스는 결함 검출 결과 데이터를 저장한다. 상기 컴퓨터 장치의 네트워크 인터페이스는 외부의 단말기와 네트워크 연결을 통해 통신하는 데 사용된다. 상기 컴퓨터 프로그램이 프로세서에 의해 실행될 경우, 배터리 전극 시트 절연 코팅층 결함의 검출 방법이 구현된다.
해당 분야의 기술자라면, 도 12에 도시된 구조가 본 출원의 수단과 관련된 일부 구조의 블록도이고, 본 출원의 수단에 적용되는 컴퓨터 장치에 대한 제한을 구성하지 않으며, 구체적인 컴퓨터 장치는 도면에 도시된 것보다 더 많거나 적은 부재를 포함하거나, 일부 부품을 조합하거나, 이와 다른 부재 배치를 가질 수 있음을 이해할 수 있다.
일 실시예에서, 컴퓨터 장치를 제공하고, 이는 메모리 및 프로세서를 포함하며, 메모리에는 컴퓨터 프로그램이 저장되고, 프로세서가 컴퓨터 프로그램을 실행할 경우 상기 각 방법 실시예의 단계가 구현된다.
일 실시예에서, 컴퓨터 프로그램이 저장되어 있는 컴퓨터 판독 가능한 저장 매체를 제공하고, 컴퓨터 프로그램이 프로세서에 의해 실행될 경우, 상기 각 방법 실시예의 단계가 구현된다.
일 실시예에서, 컴퓨터 프로그램을 포함하는 컴퓨터 프로그램 제품을 제공하고, 상기 컴퓨터 프로그램이 프로세서에 의해 실행될 경우, 상기 각 방법 실시예의 단계가 구현된다.
일 실시예에서, 배터리 전극 시트 결함 검출 시스템을 제공하며, 이는 이미지 획득 장치 및 상위 기기를 포함하되, 이미지 획득 장치는 전극 시트를 촬영하여 전극 시트 이미지를 획득하고, 전극 시트 이미지를 상위 기기로 전송하며, 상위 기기는 상기 방법에 따라 배터리 전극 시트 절연 코팅층 결함의 검출을 진행한다. 여기서, 이미지 획득 장치는 구체적으로 카메라 그룹, 센서 및 컨트롤러를 포함하고, 컨트롤러는 카메라 그룹, 센서 및 상위 기기를 연결한다. 컨트롤러는 PLC, MCU 등일 수 있고, 카메라 그룹은 CCD 카메라 그룹일 수 있으며, 센서는 광전 유도 센서를 사용할 수 있으며, 상위 기기는 다양한 개인용 컴퓨터, 노트북, 스마트폰, 태블릿 PC및 휴대용 웨어러블 기기일 수 있으나 이에 제한되지 않으며, 휴대용 웨어러블 기기는 스마트 워치, 스마트 밴드, 헤드셋 등일 수 있다.
해당 분야에서 통상적인 지식을 가진 자는 위에서 언급한 실시예의 방법의 전부 또는 일부 과정의 구현은, 컴퓨터 프로그램을 통해 관련 하드웨어를 지시하여 완료될 수 있으며, 상기 컴퓨터 프로그램은 컴퓨터 판독 가능한 저장 매체에 저장될 수 있고, 상기 프로그램 실행 시 위의 각 방법의 실시예와 같은 과정을 포함할 수 있다는 것을 이해할 수 있다. 여기서, 상기 저장 매체는 자기 디스크, 광 디스크, 판독 전용 메모리(Read-Only Memory, ROM) 등의 비휘발성 저장 매체 또는 랜덤 액세스 메모리(Random Access Memory, RAM) 등일 수 있다.
위의 실시예의 각 기술특징은 임의로 조합될 수 있으며, 설명을 단순화하기 위해, 위의 실시예의 각 기술특징의 모든 가능한 조합을 설명하지는 않았으나, 이러한 기술특징의 조합이 모순되지 않는 한 본 명세서에 기재된 범위로 간주되어야 한다.
위의 실시예는 본 발명의 몇몇 실시 형태만을 나타내며, 이에 대한 설명은 구체적이고 상세하지만, 이에 따라 발명 특허의 범위에 대한 제한으로 이해되어서는 아니된다. 마땅히 지적해야 할 것은, 해당 분야에서 통상적인 지식을 가진 자의 경우, 본 발명의 사상을 벗어나지 않으면서 여러 변형 및 개선을 진행할 수 있으며, 이들은 모두 본 발명의 보호 범위에 속한다. 따라서 본 발명특허의 보호범위는 첨부한 청구범위를 기준으로 하여야 한다.

Claims (20)

  1. 배터리 전극 시트 절연 코팅층 결함의 검출 방법으로서,
    전극 시트를 촬영하여 얻은 전극 시트 이미지를 획득하되, 상기 전극 시트 이미지는 적어도 하나의 완전한 전극 시트를 포함하는 단계;
    상기 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역 및 탭 영역을 결정하는 단계;
    상기 절연 코팅층 영역 및 탭 영역에 따라, 상기 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역의 결함 검출 영역을 결정하는 단계; 및
    상기 결함 검출 영역에 대해 결함 검출을 진행하여, 결함 검출 결과를 얻는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 배터리 전극 시트 절연 코팅층 결함의 검출 방법.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역 및 탭 영역을 결정하는 상기 단계는,
    상기 전극 시트 이미지에 대해 전체 이미지 에지 검색을 진행하여, 초기 위치결정 전극 시트 에지를 얻는 단계;
    상기 초기 위치결정 전극 시트 에지에 따라 위치 재결정을 진행하여, 상기 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역을 결정하는 단계; 및
    상기 절연 코팅층 영역을 통해 검색함으로써, 상기 전극 시트 이미지 내 탭 영역을 결정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 배터리 전극 시트 절연 코팅층 결함의 검출 방법.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 전극 시트 이미지에 대해 전체 이미지 에지 검색을 진행하여, 초기 위치결정 전극 시트 에지를 얻는 상기 단계는,
    상기 전극 시트 이미지에 대해 탭에서 멀리 떨어진 일측으로부터 탭에 가까워지는 방향으로 전체 이미지 에지 검색을 진행하여, 상기 초기 위치결정 전극 시트 에지를 얻는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 배터리 전극 시트 절연 코팅층 결함의 검출 방법.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 전극 시트 이미지에 대해 탭에서 멀리 떨어진 일측으로부터 탭에 가까워지는 방향으로 전체 이미지 에지 검색을 진행하여, 상기 초기 위치결정 전극 시트 에지를 얻는 상기 단계는,
    상기 전극 시트 이미지에 대해 탭에서 멀리 떨어진 일측으로부터 탭에 가까워지는 방향으로 전체 이미지 에지 검색을 진행하는 단계; 및
    사전 결정된 돌연변이 에지가 검색되면, 에지 검색에 성공한 것으로 결정하고, 검색된 사전 결정된 돌연변이 에지를 상기 초기 위치결정 전극 시트 에지로 결정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 배터리 전극 시트 절연 코팅층 결함의 검출 방법.
  5. 제2항에 있어서,
    상기 초기 위치결정 전극 시트 에지에 따라 위치 재결정을 진행하여, 상기 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역을 결정하는 상기 단계는,
    상기 초기 위치결정 전극 시트 에지에 따라 목표 절연 코팅층 영역을 결정하고, 상기 목표 절연 코팅층 영역에서 상기 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역을 추출하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 배터리 전극 시트 절연 코팅층 결함의 검출 방법.
  6. 제2항에 있어서,
    상기 절연 코팅층 영역을 통해 검색함으로써, 상기 전극 시트 이미지 내 탭 영역을 결정하는 상기 단계는,
    상기 절연 코팅층 영역에 따라 영역 위치 재결정을 진행하여, 목표 탭 검출 영역을 결정하는 단계; 및
    상기 목표 탭 검출 영역에서 탭 추출 영역을 검색하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 배터리 전극 시트 절연 코팅층 결함의 검출 방법.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 절연 코팅층 영역에 따라 영역 위치 재결정을 진행하여, 목표 탭 검출 영역을 결정하는 상기 단계는,
    상기 절연 코팅층 영역의 초기 위치결정 절연 에지를 추출하는 단계; 및
    상기 초기 위치결정 절연 에지에 따라, 목표 탭 검출 영역을 결정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 배터리 전극 시트 절연 코팅층 결함의 검출 방법.
  8. 제6항에 있어서,
    상기 목표 탭 검출 영역에서 탭 추출 영역을 검색하는 상기 단계는,
    상기 목표 탭 검출 영역 중 탭 그레이 스케일 특징에 부합하는 영역을 추출하여, 예비 탭 영역을 획득하는 단계; 및
    상기 예비 탭 영역의 영역 형상 및 영역 크기에 따라, 상기 예비 탭 영역이 탭인지 여부를 결정하고, 만약 탭이라면, 탭 영역을 얻었음을 결정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 배터리 전극 시트 절연 코팅층 결함의 검출 방법.
  9. 제7항에 있어서,
    상기 절연 코팅층 영역 및 탭 영역에 따라, 상기 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역의 결함 검출 영역을 결정하는 상기 단계는,
    상기 탭 영역에 대해 에지 검색을 진행하여, 탭 에지를 얻는 단계;
    상기 탭 에지 및 기 설정된 거리 데이터에 따라, 전극 시트 에지를 얻되, 상기 기 설정된 거리 데이터는 탭 에지와 전극 시트 에지 사이의 거리 데이터인 단계; 및
    상기 초기 위치결정 전극 시트 에지, 상기 초기 위치결정 절연 에지 및 상기 전극 시트 에지에 따라, 상기 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역의 결함 검출 영역을 결정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 배터리 전극 시트 절연 코팅층 결함의 검출 방법.
  10. 제1항에 있어서,
    상기 결함 검출 영역에 대해 결함 검출을 진행하여, 결함 검출 결과를 얻는 상기 단계는,
    상기 결함 검출 영역 내 연결 도메인을 추출하는 단계; 및
    사전 결정된 결함 영역과 유사한 상기 연결 도메인이 존재하면, 결함이 존재하는 것으로 결정하는 단계;를 포함하되, 상기 결함 검출 결과는 결함이 존재한다는 정보를 포함하는 것을 특징으로 하는 배터리 전극 시트 절연 코팅층 결함의 검출 방법.
  11. 제10항에 있어서,
    상기 결함 검출 영역에 대해 결함 검출을 진행하여, 결함 검출 결과를 얻는 상기 단계는,
    상기 사전 결정된 결함 영역과 유사한 상기 연결 도메인이 존재하지 않으면, 상기 전극 시트의 코팅막 영역 위치 오차량을 산출하는 단계; 를 더 포함하되, 상기 결함 검출 결과는 결함이 존재하지 않는다는 정보 및 상기 코팅막 영역 위치 오차량을 포함하는 것을 특징으로 하는 배터리 전극 시트 절연 코팅층 결함의 검출 방법.
  12. 제11항에 있어서,
    상기 전극 시트 이미지는 상기 전극 시트의 양면을 촬영하여 얻은 제1 전극 시트 이미지 및 제2 전극 시트 이미지를 포함하고;
    상기 사전 결정된 결함 영역과 유사한 상기 연결 도메인이 존재하지 않으면, 상기 전극 시트의 코팅막 영역 위치 오차량을 산출하는 상기 단계는,
    상기 제1 전극 시트 이미지와 상기 제2 전극 시트 이미지에 대응하는 결함 검출 영역에 상기 사전 결정된 결함 영역과 유사한 상기 연결 도메인이 모두 존재하지 않으면, 상기 전극 시트의 코팅막 영역 위치 오차량을 산출하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 배터리 전극 시트 절연 코팅층 결함의 검출 방법.
  13. 제11항에 있어서,
    상기 전극 시트 이미지는 상기 전극 시트의 양면을 촬영하여 얻은 제1 전극 시트 이미지 및 제2 전극 시트 이미지를 포함하고; 상기 전극 시트의 코팅막 영역 위치 오차량을 산출하는 상기 단계는,
    상기 제1 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역의 결함 검출 영역에 대해 에지 검색을 진행하여, 제1 전극 시트 가상 에지 및 제1 절연 에지를 얻는 단계;
    상기 제2 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역의 결함 검출 영역에 대해 에지 검색을 진행하여, 제2 전극 시트 가상 에지 및 제2 절연 에지를 얻는 단계;
    상기 제1 전극 시트 가상 에지 및 상기 제1 절연 에지에 따라, 제1 절연 코팅층 영역 폭을 산출하고, 상기 제2 전극 시트 가상 에지 및 상기 제2 절연 에지에 따라, 제2 절연 코팅층 영역 폭을 산출하는 단계; 및
    상기 제1 절연 코팅층 영역 폭 및 상기 제2 절연 코팅층 영역 폭에 따라, 상기 전극 시트의 코팅막 영역 위치 오차량을 산출하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 배터리 전극 시트 절연 코팅층 결함의 검출 방법.
  14. 제13항에 있어서,
    상기 제1 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역의 결함 검출 영역에 대해 에지 검색을 진행하여, 제1 전극 시트 가상 에지 및 제1 절연 에지를 얻는 상기 단계는,
    상기 제1 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역의 결함 검출 영역의 에지 포인트를 검색하는 단계; 및
    검색된 에지 포인트에 따라 피팅을 진행하여, 상기 제1 전극 시트 가상 에지 및 상기 제1 절연 에지를 얻는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 배터리 전극 시트 절연 코팅층 결함의 검출 방법.
  15. 제1항 내지 제14항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 결함 검출 영역에 대해 결함 검출을 진행하여, 결함 검출 결과를 얻는 단계 이후, 상기 방법은, 상기 결함 검출 결과와 전극 시트 식별자 정보를 바인딩하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 배터리 전극 시트 절연 코팅층 결함의 검출 방법.
  16. 배터리 전극 시트 절연 코팅층 결함의 검출 장치로서,
    전극 시트를 촬영하여 얻은 전극 시트 이미지를 획득하되 상기 전극 시트 이미지는 적어도 하나의 완전한 전극 시트를 포함하는 이미지 획득 모듈;
    상기 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역 및 탭 영역을 결정하는 이미지 분석 모듈;
    상기 절연 코팅층 영역 및 탭 영역에 따라, 상기 전극 시트 이미지 내 절연 코팅층 영역의 결함 검출 영역을 결정하는 영역 추출 모듈; 및
    상기 결함 검출 영역에 대해 결함 검출을 진행하여, 결함 검출 결과를 얻는 결함 분석 모듈;을 포함하는 것을 특징으로 하는 배터리 전극 시트 절연 코팅층 결함의 검출 장치.
  17. 컴퓨터 장치로서,
    메모리 및 프로세서를 포함하되, 상기 메모리에는 컴퓨터 프로그램이 저장되어 있고, 상기 프로세서가 상기 컴퓨터 프로그램을 실행할 경우, 제1항 내지 제15항 중 어느 한 항에 따른 방법의 단계가 구현되는 것을 특징으로 하는 컴퓨터 장치.
  18. 컴퓨터 프로그램이 저장되어 있는 컴퓨터 판독 가능한 저장 매체로서,
    상기 컴퓨터 프로그램이 프로세서에 의해 실행될 경우, 제1항 내지 제15항 중 어느 한 항에 따른 방법의 단계가 구현되는 것을 특징으로 하는 컴퓨터 판독 가능한 저장 매체.
  19. 컴퓨터 프로그램을 포함하는 컴퓨터 프로그램 제품으로서,
    상기 컴퓨터 프로그램이 프로세서에 의해 실행될 경우, 제1항 내지 제15항 중 어느 한 항에 따른 방법의 단계가 구현되는 것을 특징으로 하는 컴퓨터 프로그램 제품.
  20. 배터리 전극 시트 결함 검출 시스템으로서,
    이미지 획득 장치 및 상위 기기를 포함하되, 상기 이미지 획득 장치는 전극 시트를 촬영하여 전극 시트 이미지를 획득하고, 상기 전극 시트 이미지를 상기 상위 기기로 전송하며, 상기 상위 기기는 제1항 내지 제15항 중 어느 한 항에 따른 방법에 따라, 배터리 전극 시트 절연 코팅층 결함의 검출을 진행하는 것을 특징으로 하는 배터리 전극 시트 결함 검출 시스템.
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