KR20240047836A - 병렬 서미스터 온도 측정부를 포함하는 전지모듈 - Google Patents

병렬 서미스터 온도 측정부를 포함하는 전지모듈 Download PDF

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KR20240047836A
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Abstract

본원발명은 2개 이상의 서미스터를 병렬로 연결하여 1개의 서미스터가 작동되지 않더라도 나머지 서미스터를 사용하여 계속적으로 온도를 모니터링을 하여 최소한의 안전을 보장할 수 있는 온도 측정부를 포함하는 전지모듈 및 이를 이용하여 전지모듈의 온도를 측정하는 방법에 관한 것이다.

Description

병렬 서미스터 온도 측정부를 포함하는 전지모듈 {Battery module comprising a parallel thermistor temperature measuring unit }
본원발명은 병렬 서미스터 온도 측정부를 포함하는 전지모듈에 관한 것이다. 구체적으로 온도 측정을 위한 서미스터를 병렬로 연결한 온도 측정부를 포함하는 전지모듈 및 이를 이용하여 전지모듈의 온도를 측정하는 방법에 관한 것이다.
리튬 이차전지는 전극조립체가 수용되는 전지케이스의 종류에 따라 구분될 수 있다. 예를 들어, 금속 캔 형태의 전지케이스를 포함하는 각형 전지셀과 원통형 전지셀, 및 수지층과 금속층을 포함하는 라미네이트 시트로 이루어진 파우치형 전지셀로 구분될 수 있다.
리튬 이차전지는 충전과 방전 과정에서 열이 발생하는데, 이러한 온도 증가는 전지셀의 수명을 단축하는 원인이 될 수 있다. 화재 발생의 위험도 증가할 수 있는바, 실시간으로 리튬 이차전지의 온도를 측정하여 모니터링할 필요가 있다.
이차전지를 복수개 포함하는 전지모듈의 경우, 온도를 측정하는 영역에 별도 구조물이 고정된 서미스터를 위치시킨다. 전지모듈 밖에서 서미스터의 저항을 측정하고 룩업 테이블(Look up table)을 기반으로 온도를 확인한다.
도 1은 종래기술에 따른 전지모듈(1000)의 결합사시도, 사시도 및 일부 확대도이다. 복수의 원통형 전지셀(10)들을 셀프레임(100)에 수용하고 상기 원통형 전지셀(100)들 사이 공간에 단열 물질을 부가하여 발화 확산을 방지하였다. 셀프레임(100)의 상부 및/또는 하부에 플레이트(120)가 더 결합될 수 있다. 도 3은 셀프레임(100)의 하부에 결합되는 플레이트(120)만 도시하고 있으나, 셀프레임(100)의 상부에 결합되는 플레이트를 더 포함할 수 있다.
상기 셀프레임(100)에 관통홀(110)을 뚫고, 온도센서(도면 미도시)를 부착하여 상기 관통홀을 통해 온도센서가 원통형 전지셀과 인접하게 배치되도록 구성했다.
도 1에서는 온도센서의 위치를 관통홀로 한정하였으나, 본원발명에 따른 온도센서는 전지셀의 온도뿐만 아니라 전지모듈 자체 내의 온도도 측정할 수 있는바 전지셀에 접촉하는 경우 외에도 전지모듈 케이스의 측면 또는 내부 어느 곳도 가능하다. 전지셀에 접촉하는 경우도 도 1과 다르게 각형 전지셀, 원통형 전지셀, 파우치형 전지셀 모두에 적용할 수 있다.
온도센서는 원통형 전지셀의 온도를 실시간으로 정확하게 측정할 수 있는 것이라면 그 형태를 특별히 한정하지 않으며, 예를 들어, 서모커플, 서미스터, 바이메탈릭 장치, 및 RTD(Resistance Temperature Detectors)로 이루어진 군에서 선택되는 하나 이상일 수 있다.
온도센서 중 서미스터(thermistor)는 온도에 따라 저항이 변하는 물질을 이용한 저항기의 일종이다. 회로의 온도를 감지하거나 회로의 전류가 일정 이상 증가하는 것을 방지하는데 사용된다.
서미스터는 고분자 수지나 세라믹 소재를 이용하여 제조되며, -90℃ 내지 130℃의 넓은 범위에서 온도를 높은 정확도로 측정할 수 있다. 서미스터는 충격에 강하고 좁은 부위에도 장착할 수 있는바 전지모듈/팩의 온도 측정에 널리 사용된다.
서미스터는 온도에 따른 저항 변화를 측정하여 역으로 온도를 역산하는 방식이다. 서미스터의 온도와 저항이 일차원적인 관계식에 의해서 변하지 않는 경우가 있어, 미리 준비된 룩업 테이블을 이용하여 저항으로부터 온도를 추산한다.
서미스터의 용접 불량, 단선 등으로 저항이 0이거나 매우 높게 나타날 경우, 정확한 온도를 측정할 수 없다. 전지모듈이 자동차 등에 많이 사용되고, 이러한 경우 자동차 운행 중에서도 실시간으로 전지모듈/팩의 온도를 측정하여 모니터링하는 것은 안전에 있어서 매우 중요하다.
특허문헌 1은 복수의 전지셀 이상 발열의 유무를 감지할 수 있는 이상 감지장치 및 이를 포함한 전지팩에 관한 것이다. 특허문헌 1은 복수의 전지셀 각각에 배치되는 제1온도 검출소자(서미스터 TH1 내지 THn)와 복수의 전지셀들 주변 온도변화에 따라 저항값이 변하는 제2온도 검출소자(서미스터 THa)에 대한 구성을 개시하고 있다.
특허문헌 2는 복수의 서미스터를 병렬로 접속하고 양단 전압을 측정함으로써 온도를 감시하는 서미스터 감시 장치에 대한 것이다. 특허문헌 2는 복수의 서미스터를 병렬로 연결하고 스위치를 이용하여 1개씩 개별로 사용한다. 또한 1개씩 개별로 이들의 저항을 측정하여 서미스터의 이상 여부를 확인하는 장치다. 특허문헌 2는 종래와 달리 서미스터 자체의 이상인지, 서미스터 감시 장치에 의한 이상인지를 판별하기 위한 것이다. 서미스터 감시 장치의 비정상으로, 정확한 온도를 감시할 수 없게 되었을 때 장치의 이상을 검출할 수 있는 기술을 개시하고 있다.
특허문헌 3은 B상수(서미스터의 온도에 대한 감도를 나타내는 상수)가 다른 서미스터를 병렬로 접속하고, 저온측에서는 제1서미스터 저항값이 제2서미스터 저항값 보다 낮고, 고온에서는 제1서미스터의 저항값이 제2서미스터 저항값 보다 높게 구성하여, 광범위한 온도 영역에서 온도의 고정밀도 계측을 할 수 있는 기술을 개시하고 있다.
특허문헌 4는 전지의 온도 모니터링 장치의 고장 여부를 판단하는 장치에 관한 것이다. 고장을 진단할 때, 스위치를 전환해 제1온도 검출소자, 제1기준저항, 제2온도 검출 소자, 제2기준저항을 포함하는 검출회로의 합성 저항값을 변화시키고 스위치를 전환하는 전후의 제1접속 노드 또는 제2접속 노드의 전압값 변화를 관측한다. 고장 없고 정상적으로 동작하고 있을 때는 스위치를 닫으면, 2개의 전압값이 크게 변화한다. 이 변화를 감지할 수 있을 경우는 고장이 아니라고 판단할 수 있다. 온도 검출소자를 접속하는 단자에 단락이 발생할 경우는 스위치를 닫아도 검출 전압값이 변화되지 않는다.
종래의 기술들은 병렬로 연결된 서미스터를 개별적으로 사용하면서, 각각의 이상을 검사하는 장치이거나, 온도 감도 특성이 다른 서미스터를 병렬로 연결하여 광범위한 온도에 대응할 수 있는 기술만을 제공하고 있다.
자동차 운행과 같이 실시간으로 전지모듈/팩의 온도를 측정하여 모니터링해야 하는 장치에 있어서, 서미스터의 이상이 있음에도 불구하고 계속적으로 온도 모니터링을 하여 최소한의 안전을 보장할 수 있는 기술은 아직까지 제공되지 않았다.
일본 공개특허공보 제2019-002795호 (2019.01.10) ('특허문헌 1') 일본 공개특허공보 제2011-075530호 (2011.04.14) ('특허문헌 2') 일본 공개특허공보 제2011-033343호 (2011.02.17) ('특허문헌 3') 일본 공개특허공보 제2020-123433호 (2020.08.13) ('특허문헌 4')
본원발명은 상기와 같은 문제를 해결하기 위한 것으로서, 서미스터의 이상이 있음에도 불구하고 계속적으로 온도를 모니터링을 하여 최소한의 안전을 보장할 수 있는 온도 측정부를 포함하는 전지모듈 및 이를 이용하여 전지모듈의 온도를 측정하는 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.
상기와 같은 목적을 달성하기 위해서 본원발명은 전지모듈 케이스 측면 또는 내부에 위치하며 2개 이상의 서미스터를 포함하는 온도센서부를 포함하는 전지모듈에 있어서, 상기 2개 이상의 서미스터는 모두 병렬로 연결된 전지모듈을 제공한다.
상기 서미스터는 상기 전지모듈 내의 전지셀에 접촉한 상태로 배치될 수 있으며, 상기 서미스터는 별도의 구조물에 고정되어 있을 수 있다.
상기 온도센서부는 2개 이상 마련될 수 있다.
상기 온도센서부는 2개 이상이 모두 병렬로 연결된 서미스터, 상기 2개 이상이 모두 병렬로 연결된 서미스터와 직렬로 연결된 풀업저항을 포함할 수 있다.
상기 2개 이상이 모두 병렬로 연결된 서미스터 전체 저항을 측정하고, 상기 저항값으로부터 온도를 구하는 온도제어부가 부가될 수 있다.
상기 풀업저항은 측정하는 온도에 따라서 2단계로 저항의 크기를 변화시킬 수 있다.
상기 온도제어부 및 상기 풀업저항을 제어하는 풀업저항 제어부가 모두 하나의 마이크로 콘트롤 유닛 내에 배치될 수 있다.
상기 2개 이상의 서미스터는 저항이 모두 서로 다를 수 있으며, 상기 저항 사이의 값 차이는 10배 이상일 수 있다.
상기 온도센서부는 2개의 서미스터를 포함하며, 상기 2개 서미스터 사이의 저항값 차이는 10배일 수 있다.
본원발명은 또한 상기 전지모듈을 사용하여 상기 전지모듈의 온도를 측정하는 방법을 제공한다.
본원발명은 또한, 상기 과제의 해결 수단을 다양하게 조합한 형태로도 제공할 수 있다.
이상에서 설명한 바와 같이, 본원발명은 2개 이상의 서미스터를 병렬로 연결하여 1개의 서미스터가 작동되지 않더라도 나머지 서미스터를 사용하여 계속적으로 온도를 모니터링을 하여 최소한의 안전을 보장할 수 있는 온도 측정부를 포함하는 전지모듈 및 이를 이용하여 전지모듈의 온도를 측정하는 방법을 제공할 수 있다.
도 1은 전지모듈의 결합사시도, 사시도 및 일부 확대도이다.
도 2는 본원발명의 제1실시예에 따른 온도 측정부의 회로도이다.
도 3은 본원발명의 제2실시예에 따른 온도 측정부의 회로도이다.
도 4는 본원발명의 제3실시예에 따른 온도 측정부의 회로도이다.
이하 첨부된 도면을 참조하여 본원발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본원발명을 쉽게 실시할 수 있는 실시예를 상세히 설명한다. 다만, 본원발명의 바람직한 실시예에 대한 동작 원리를 상세하게 설명함에 있어 관련된 공지 기능 또는 구성에 대한 구체적인 설명이 본원발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명을 생략한다.
또한, 도면 전체에 걸쳐 유사한 기능 및 작용을 하는 부분에 대해서는 동일한 도면 부호를 사용한다. 명세서 전체에서, 어떤 부분이 다른 부분과 연결되어 있다고 할 때, 이는 직접적으로 연결되어 있는 경우뿐만 아니라, 그 중간에 다른 소자를 사이에 두고, 간접적으로 연결되어 있는 경우도 포함한다. 또한, 어떤 구성요소를 포함한다는 것은 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라, 다른 구성요소를 더 포함할 수 있는 것을 의미한다.
또한, 구성요소를 한정하거나 부가하여 구체화하는 설명은, 특별한 제한이 없는 한 모든 발명에 적용될 수 있으며, 특정한 발명에 대한 설명으로 한정되지 않는다.
또한, 본원의 발명의 설명 및 청구범위 전반에 걸쳐서 단수로 표시된 것은 별도로 언급되지 않는 한 복수인 경우도 포함한다.
또한, 본원의 발명의 설명 및 청구범위 전반에 걸쳐서 "또는"은 별도로 언급되지 않는 한 "및"을 포함하는 것이다. 그러므로 "A 또는 B를 포함하는"은 A를 포함하거나, B를 포함하거나, A 및 B를 포함하는 상기 3가지 경우를 모두 의미한다.
본원발명을 도면에 따라 상세한 실시예와 같이 설명한다.
전지모듈의 온도를 측정하는 온도센서의 위치는 앞에서 설명한바와 같이 전지셀에 접촉하는 경우 외에도 전지모듈 케이스의 측면 또는 내부 어느 곳도 가능하다. 전지셀에 접촉하는 경우도 도 1과 다르게 각형 전지셀, 원통형 전지셀, 파우치형 전지셀 모두에 적용할 수 있다.
본원발명에 따른 실시예는 전지모듈의 온도를 측정하는 기술에 대해서 구체적인 물리적 형태가 아닌 본원발명의 특징인 회로도를 중심으로 설명한다.
본원발명은 전지모듈 케이스 측면 또는 내부에 위치하며 2개 이상의 서미스터를 포함하는 온도센서부를 포함하는 전지모듈에 있어서, 상기 2개 이상의 서미스터는 모두 병렬로 연결된다. 온도를 측정하기 위해서 서미스터는 상기 전지모듈 내의 전지셀에 접촉한 상태로 배치될 수 있으며, 또는 전지모듈 케이스 측면, 전지모듈 내부에 위치할 수 있다. 상기 서미스터는 별도의 구조물에 고정되어 있을 수 있다.
상기 2개 이상의 서미스터를 포함하는 온도센서부는 본원발명에 따른 전지모듈에 2개 이상이 마련될 수 있으나, 구체적으로 제한되지 않는다.
상기 온도센서부는 2개 이상이 모두 병렬로 연결된 서미스터, 상기 2개 이상이 모두 병렬로 연결된 서미스터와 직렬로 연결된 풀업저항을 포함할 수 있다. 풀업저항은 플로팅 현상에 의한 오류를 해소하기 위한 것이다. 상기 풀업저항은 측정하는 온도에 따라서 2단계로 저항의 크기를 변화시킬 수 있다.
상기 2개 이상이 모두 병렬로 연결된 서미스터 전체 저항을 측정하고, 상기 저항값으로부터 온도를 구하는 온도제어부가 부가될 수 있다.
도 2는 본원발명의 제1실시예에 따른 온도 측정부의 회로도이다. 도 2 내지 도 4에서 검은 점은 전기적으로 연결되는 포인트를 말한다.
제1실시예에 제어부(1500)인 MCU(Micro Control Unit)은 내부에 풀업저항 제어부(Pull-up Resistance Control Unit), A/D 변환부(A/D 변환부)를 포함한다.
병렬로 연결된 2개의 서미스터(1312, 1314)는 직렬로 연결된 2개의 풀업저항(1322, 1324)에 의해서 전원부(Vcc)에 접속되어 있다. 풀업저항(1322, 1324)은 양단에 접속한 스위칭 소자인 트랜지스터(1400)가 온 상태로 됨으로써 풀업저항(1322)을 단락시키고, 풀업저항(1322, 1324)의 합성 저항값을 작게 할 수 있다.
저온 영역에서의 온도를 측정할 시에는 트랜지스터(1400)를 오프로 해 풀업저항(1322, 1324)의 합성 저항값을 높게 설정하고, 고온 영역에서의 온도를 측정할 시에는 트랜지스터(1400)를 온으로 해 풀업저항(1322, 1324)의 합성 저항값을 낮게 설정함으로써, 각 온도 영역에 따른 고정밀도의 온도 계측을 할 수 있다. 상기 트랜지스터의 설정은 풀업저항 제어부를 통해서 이루어진다.
온도센서부(1300)는 풀업저항(1322, 1324), 서미스터(1314, 1312), 트랜지스터(1400)가 포함될 수 있다. MCU(1500) 내의 제어부(Control Unit)는 서미스터(1312, 1324) 양단 전압 또는 저항을 측정하여 이를 디지털 값으로 변환하는 A/D 변환기(A/D Converter)가 포함되어 있다. 아울러 Control Unit에는 룩업 테이블 등의 수단에 의해서 서미스터의 온도를 역산하는 구성을 포함하고 있다.
2개가 병렬로 연결된 서미스터(1312, 1314)의 총저항값은 아래와 같이 각각 서미스터 저항값을 역수로 하여 더한 후 다시 이것을 역수로 취한 값이다. 여기서 R은 저항값이며 아래 첨자는 각 구성의 도면 번호이다.
총저항값 = R1314*R1312/(R1314+R1312)
1) 만약 2개의 저항이 같다면, 총저항값은 1/2*R1314가 된다.
예를 들어, 25℃에서 R1314의 저항이 10㏀, R1312의 저항이 10㏀이라면, 정상적인 병렬 연결일 경우 전체 저항값은 5㏀이 된다. 만약 각각이 단선된 경우, 저항은 10㏀으로 동일하다.
둘 중에 하나가 단선이 되면 저항이 2배로 증가하므로 별도의 단선에 대한 룩업 테이블을 사용하여 새로운 기준으로 온도를 측정함으로써 계속적인 모니터링이 가능하다. 다만 이 경우, 어느 서미스터에서 이상이 생겼는지는 알 수 없다.
2) 만약 1개의 저항이 다른 저항의 10배일 경우, 즉 R1312 = 10*R1314일 경우
총저항값 = R1314*R1312/(R1314+R1312) = R1314*10*R1314/(R1314+10*R1314) = 10/11*R1314 ≒ 0.9 R1314
예를 들어, 25℃에서 R1314의 저항이 10㏀, R1312의 저항이 100㏀이라면, 정상적인 병렬 연결일 경우 전체 저항값은 9㏀이 된다. 만약 각각이 단선된 경우, R1314가 단선되면 100㏀, R1312가 단선되면 10㏀이 된다.
1314가 단선된다면, 갑자기 저항이 10배로 증가하므로 별도의 단선에 대한 룩업 테이블을 사용하여 새로운 기준으로 온도를 측정함으로써 계속적인 모니터링이 가능하다. 1312가 단선된다면, 총저항값이 유사하므로 과거의 룩업 테이블을 계속하여 온도를 모니터링 하거나, 이에 맞춘 새로운 룩업 테이블을 사용하여 온도를 모니터링할 수 있다.
아울러 본원발명에서는 총저항값의 순간적인 변화를 통해서 어느 서미스터에 문제가 생겼는지를 알 수 있다.
3) 만약 1개의 저항이 다른 저항의 100배일 경우, 즉 R1312 = 100*R1314일 경우
총저항값 = R1314*R1312/(R1314+R1312) = R1314*100*R1314/(R1314+100*R1314) = 100/101*R1314 ≒ 0.99 R1314
예를 들어, 25℃에서 R1314의 저항이 10㏀, R1312의 저항이 1000㏀이라면, 정상적인 병렬 연결일 경우 전체 저항값은 9.99㏀이 된다. 만약 각각이 단선된 경우, R1314가 단선되면 1000㏀, R1312가 단선되면 10㏀이 된다.
1314가 단선된다면, 갑자기 저항이 100배로 증가하므로 별도의 단선에 대한 룩업 테이블을 사용하여 새로운 기준으로 온도를 측정함으로써 계속적인 모니터링이 가능하다. 1312가 단선될 경우 차이가 1%이므로 단선 여부를 명확하게 파악하기 어려울 수 있다. 이때는 기존의 룩업 테이블을 계속하여 온도를 모니터링 할 수 있으며, 단선 여부를 알 수 없는바, 향후 1312가 단선될 경우 온도를 모니터링 할 수 없는 상태가 된다. 따라서 2개의 서미스터를 병렬로 연결할 때, 2개의 저항은 동일하거나 10배 이하인 것이 바람직하다.
아울러 본원발명에서는 총저항값의 순간적인 변화를 통해서 어느 서미스터에 문제가 생겼는지를 알 수 있다.
4) 만약 서미스터를 3개 이상 병렬로 연결하여 사용할 경우, 이상 여부에 따른 저항의 순간적인 변화를 파악하기 위해서는 동일한 저항을 사용하는 것이 좋다.
예를 들어, 25℃에서 서미스터 한 개의 저항이 10㏀이라면, 정상적인 병렬 연결일 경우 전체 저항값은 10/3 = 3.333㏀이 된다. 만약 1개가 단선된 경우라면 10/2 = 5㏀, 2개가 단선되면 10㏀이 되므로 서미스터 저항의 순간적인 튐 현상을 통해서 몇 개의 서미스터가 단선이 되었는지를 파악할 수 있고, 이에 따라서 새로운 룩업 테이블을 사용하여 온도를 계속 모니터링 할 수 있다.
5) 만약 서미스터를 3개 병렬로 연결하여 사용할 경우, 예를 들어, 25℃에서 R1의 저항이 10㏀, R2의 저항이 100㏀, R3의 저항이 1000㏀이라면, 정상적인 병렬 연결일 경우 전체 저항값은 (10*100*1000)/(10*100 + 100*1000 + 1000*10) = 9.09㏀이 된다.
만약 R1이 단선되면 90.90㏀, R2가 단선되면 9.90㏀, R1 및 R2가 단선되면 1000㏀, R1 및 R3가 단선되면 100㏀, R2 및 R3가 단선되면 10㏀이 된다. 병렬의 수가 늘어날수록 그 경우의 수도 늘어나며 관측되는 저항도 많아지는바, 모든 경우에 대해서 룩업 테이블을 마련하기 어렵고 또한 9.90㏀, 9.09㏀, 10㏀의 구별도 쉽지 않은바, 이 경우는 동일한 저항을 사용하여 경우의 수를 줄이는 것이 바람직하다.
아래 표 1은 25℃에서 10배의 저항 차이가 나는 2개의 서미스터를 병렬로 연결하여, 제2서미스터가 이상일 경우(Thermistor 1), 제1서미스터가 이상일 경우(Thermistor 2), 모두 정상일 경우(Normal)의 온도에 따른 저항값을 측정한 것이다. 제1서미스터가 이상일 경우 편차가 정상(Normal) 대비 5 내지 21.66배이고, 제2서미스터가 이상일 경우 편차가 정상(Normal) 대비 1.04 내지 1.21배 발생한다. 이를 통해서 특정 서미스터가 이상이 생긴 것을 알 수 있고 해당 경우에 맞는 룩업 테이블을 사용하여 새로운 기준에 따라서 온도를 계속 모니터링할 수 있음을 알 수 있다.
도 3은 본원발명의 제2실시예에 따른 온도 측정부의 회로도이며, 도 4는 본원발명의 제3실시예에 따른 온도 측정부의 회로도이다. 각 실시예는 제1실시예와 차이가 있는 부분에 대해서만 설명한다. 제2실시예는 제1실시예에 대비하여 풀업저항이 1개로 줄어서 변하지 않고, 그에 따른 제어부가 없다. 아울러 서미스터를 3개 병렬로 연결하였다. 제3실시예는 제1실시예에 대비하여 풀업저항이 1개로 줄어서 변하지 않고, 그에 따른 제어부가 없다. 아울러 서미스터를 명확한 숫자가 아닌 n개를 예시로 나타냈다. 서미스터가 3개 이상을 경우에는 저항이 동일한 것을 사용하는 것이 바람직하다.
이와 같이, 본원발명은 2개 이상의 서미스터를 병렬로 연결하여 1개의 서미스터가 작동되지 않더라도 나머지 서미스터를 사용하여 계속적으로 온도를 모니터링을 하여 최소한의 안전을 보장할 수 있는 온도 측정부를 포함하는 전지모듈 및 이를 이용하여 전지모듈의 온도를 측정하는 방법을 제공할 수 있다.
상기 도 2 내지 도 4는 하나의 예시로서 서미스터, 풀업저항, 제어부는 각각 서로서로 다른 조합으로 제공될 수 있다.
본원발명이 속한 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 상기 내용을 바탕으로 본원발명의 범주내에서 다양한 응용 및 변형을 수행하는 것이 가능할 것이다.
1000: 전지모듈
10: 원통형 전지셀
100: 셀프레임
110: 관통홀
120: 플레이트
1300, 2300, 3300: 온도센서부
1312, 1314, 2312, 2314, 2316, 3312, 33nn: 서미스터
1322, 1324, 2322, 3322: 풀업저항
1400: 트랜지스터
1500, 2500, 3500: MCU
R: 저항값
Vcc: 전원부

Claims (11)

  1. 전지모듈 케이스 측면 또는 내부에 위치하며 2개 이상의 서미스터를 포함하는 온도센서부;
    를 포함하는 전지모듈에 있어서,
    상기 2개 이상의 서미스터는 모두 병렬로 연결된 전지모듈.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 서미스터는 상기 전지모듈 내의 전지셀에 접촉하거나 주변에 위치한 상태로 배치되는 전지모듈.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 온도센서부는 2개 이상 마련되는 전지모듈.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 온도센서부는,
    2개 이상이 모두 병렬로 연결된 서미스터;
    상기 2개 이상이 모두 병렬로 연결된 서미스터와 직렬로 연결된 풀업저항;
    을 포함하는 전지모듈.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 2개 이상이 모두 병렬로 연결된 서미스터 전체 저항을 측정하고, 상기 저항값으로부터 온도를 구하는 온도제어부;
    가 부가된 전지모듈.
  6. 제4항에 있어서,
    상기 풀업저항은,
    측정하는 온도에 따라서 2단계로 저항의 크기를 변화시킬 수 있는 전지모듈.
  7. 제5항에 있어서,
    상기 온도제어부 및 상기 풀업저항을 제어하는 풀업저항 제어부가 모두 하나의 마이크로 콘트롤 유닛 내에 배치되는 전지모듈.
  8. 제1항에 있어서,
    상기 2개 이상의 서미스터는 저항이 모두 서로 다른 전지모듈.
  9. 제8항에 있어서,
    상기 저항 사이의 값 차이는 10배 이상인 전지모듈.
  10. 제1항에 있어서,
    상기 온도센서부는 2개의 서미스터를 포함하며,
    상기 2개 서미스터 사이의 저항값 차이는 10배인 전지모듈.
  11. 제1항 내지 제10항 중 어느 한 항에 따른 전지모듈을 사용하여 상기 전지모듈의 온도를 측정하는 방법.
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