KR20240000478A - 이산화탄소의 회수방법, 및 이산화탄소 회수장치 - Google Patents

이산화탄소의 회수방법, 및 이산화탄소 회수장치 Download PDF

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Abstract

아민 화합물(a)과 이산화탄소를 포함하는 가스(b)와의 반응물(c)에 전자파를 조사함으로써, 상기 반응물(c)로부터 이산화탄소를 탈리시키는 공정(A)을 포함하는, 이산화탄소의 회수방법, 및, 아민 화합물(a)과 이산화탄소를 포함하는 가스(b)와의 반응물(c)을 수용하기 위한 수용부(1)와, 상기 반응물(c)에 대하여 전자파를 조사하기 위한 전자파조사부(2)를 구비하는 이산화탄소 회수장치(10)이다.

Description

이산화탄소의 회수방법, 및 이산화탄소 회수장치
본 발명은, 이산화탄소의 회수방법, 및 이산화탄소 회수장치에 관한 것이다.
지구온난화 문제의 관점에서, 이산화탄소의 삭감이 요구되고 있다.
이산화탄소의 삭감방법의 하나로서, 화력발전소 등으로부터 배출되는 배기가스로부터 고농도(약 10~30체적%)의 이산화탄소를 효율적으로 회수하여, 땅 속이나 바닷속에 매립하여 저장하는 기술(CCS: Carbon dioxide Capture and Storage)을 들 수 있다. CCS에서 이용되는 이산화탄소 흡수제에 관한 기술로는, 예를 들어, 특허문헌 1 및 2에 기재된 것을 들 수 있다.
특허문헌 1에는, 이산화탄소 흡수제로서 특정한 알칸올아민류를 이용한, 이산화탄소의 회수방법이 기재되어 있다.
특허문헌 2에는, 이산화탄소 흡수제로서, 질소-수소결합을 갖는 이산화탄소 화학흡수성 아민과, 질소-수소결합을 갖지 않는 3급 아민용매를 포함하는 이산화탄소 흡수액을 이용하는 것이 기재되어 있다.
최근, 공기 중의 저농도의 이산화탄소(약 0.04체적%)를 직접 회수하는 기술(DAC: Direct Air Capture)이 주목받고 있다. DAC에서 이용되는 이산화탄소 흡수제에 관한 기술로는, 예를 들어, 특허문헌 3에 기재된 것을 들 수 있다.
특허문헌 3에는, 하이드록시기 또는 치환되어 있을 수도 있는 아미노기로 치환된 알킬아민을 함유하여 이루어지는, 공기 중의 이산화탄소 흡수제가 기재되어 있다.
일본특허공개 2008-13400호 공보 일본특허공개 2017-104776호 공보 일본특허공개 2017-031046호 공보
특허문헌 1~3에 기재되어 있는 바와 같은, 아민 화합물을 이용한 이산화탄소 흡수제는, 이산화탄소의 탈리온도가 높아, 이산화탄소를 탈리시키기 위해 고온을 장시간 가할 필요가 있었다.
이산화탄소 흡수제에 대하여 고온을 장시간 가하면, 예를 들어, 아민 화합물이 열화되거나, 에너지소비량이 많아지거나 하는 등의 우려가 있다.
본 발명은 상기 사정을 감안하여 이루어진 것으로, 이산화탄소의 탈리온도를 저하시킬 수 있는, 이산화탄소의 회수방법, 및 이산화탄소 회수장치를 제공하는 것이다.
본 발명자들은, 상기 과제를 해결하기 위해 예의 검토를 거듭하였다. 그 결과, 전자파를 조사하여 아민 화합물로부터 이산화탄소를 탈리시킴으로써, 이산화탄소의 탈리온도를 저하시킬 수 있는 것을 발견하여, 본 발명을 완성시켰다.
즉, 본 발명에 따르면, 이하에 나타내는 이산화탄소의 회수방법, 및 이산화탄소 회수장치가 제공된다.
[1]
아민 화합물(a)과 이산화탄소를 포함하는 가스(b)와의 반응물(c)에 전자파를 조사함으로써, 상기 반응물(c)로부터 이산화탄소를 탈리시키는 공정(A)을 포함하는, 이산화탄소의 회수방법.
[2]
상기 공정(A)의 전에, 상기 반응물(c)을 준비하는 공정(B)을 추가로 포함하고,
상기 공정(B)에서는, 상기 아민 화합물(a)을 포함하는 이산화탄소 흡수제와 상기 가스(b)를 접촉시켜 상기 반응물(c)을 얻는, 상기 [1]에 기재된 이산화탄소의 회수방법.
[3]
상기 가스(b)가 공기인, 상기 [1] 또는 [2]에 기재된 이산화탄소의 회수방법.
[4]
상기 아민 화합물(a)의 분자량이 50 이상 1000 이하인, 상기 [1]~[3] 중 어느 하나에 기재된 이산화탄소의 회수방법.
[5]
이하의 방법으로 측정되는, 상기 아민 화합물(a)의 이산화탄소 최대해리온도가 150℃ 이하인, 상기 [1]~[4] 중 어느 하나에 기재된 이산화탄소의 회수방법.
(방법)
이산화탄소를 흡수시킨 상기 아민 화합물(a)을, 승온속도 10℃/분으로 23℃에서부터 250℃까지 가열하고, 상기 이산화탄소의 탈리에 수반되는 흡열량이 최대가 되는 온도를 측정하고, 상기 온도를 상기 이산화탄소 최대해리온도로 한다.
[6]
상기 아민 화합물(a)의 아민가가 500mgKOH/g 이상 1500mgKOH/g 이하인, 상기 [1]~[5] 중 어느 하나에 기재된 이산화탄소의 회수방법.
[7]
상기 반응물(c)이 23℃에서 고체상인, 상기 [1]~[6] 중 어느 하나에 기재된 이산화탄소의 회수방법.
[8]
상기 전자파가, 마이크로파, 자외선, 적외선, 감마선, 전자선, 및 X선으로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종인, 상기 [1]~[7] 중 어느 하나에 기재된 이산화탄소의 회수방법.
[9]
상기 공정(A)에 있어서, 상기 반응물(c)의 표면온도가 35℃ 이상 120℃ 이하인, 상기 [1]~[8] 중 어느 하나에 기재된 이산화탄소의 회수방법.
[10]
아민 화합물(a)과 이산화탄소를 포함하는 가스(b)와의 반응물(c)을 수용하기 위한 수용부와,
상기 반응물(c)에 대하여 전자파를 조사하기 위한 전자파조사부,
를 구비하는 이산화탄소 회수장치.
[11]
상기 전자파가, 마이크로파, 자외선, 적외선, 감마선, 전자선, 및 X선으로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종인, 상기 [10]에 기재된 이산화탄소 회수장치.
[12]
상기 [1]~[9] 중 어느 하나에 기재된 이산화탄소의 회수방법에서 이용되는, 상기 [10] 또는 [11]에 기재된 이산화탄소 회수장치.
본 발명에 따르면, 이산화탄소의 탈리온도를 저하시킬 수 있는, 이산화탄소의 회수방법, 및 이산화탄소 회수장치를 제공할 수 있다.
도 1은 본 발명에 따른 이산화탄소 회수장치의 일례를 나타내는 모식도이다.
도 2는 본 발명에 따른 이산화탄소 회수장치의 일례를 나타내는 모식도이다.
도 3은 본 발명에 따른 이산화탄소 회수장치의 일례를 나타내는 모식도이다.
본 발명을 실시하기 위한 형태(이하, 간단히 「본 실시형태」라고 한다.)에 대하여 상세히 설명한다. 이하의 본 실시형태는, 본 발명을 설명하기 위한 예시이며, 본 발명의 내용을 한정하지 않는다. 본 발명은, 그 요지의 범위 내에서 적당히 변형하여 실시할 수 있다. 본 실시형태에 있어서, 바람직하다고 되어 있는 규정은 임의로 채용할 수 있고, 바람직한 것끼리의 조합은 보다 바람직하다고 할 수 있다. 본 실시형태에 있어서, 「XX~YY」의 기재는, 「XX 이상 YY 이하」를 의미한다.
[이산화탄소의 회수방법]
본 발명에 따른 이산화탄소의 회수방법은, 아민 화합물(a)과 이산화탄소를 포함하는 가스(b)와의 반응물(c)에 전자파를 조사함으로써, 반응물(c)로부터 이산화탄소를 탈리시키는 공정(A)을 포함한다.
본 발명에 따른 이산화탄소의 회수방법에 따르면, 이산화탄소의 탈리온도를 저하시킬 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 이산화탄소의 회수방법에 따르면, 종래 행해지고 있던 열풍을 이용한 가열에 의한 이산화탄소의 탈리에 비해, 보다 낮은 온도에서 이산화탄소의 탈리를 행할 수 있고, 그 결과, 아민 화합물(a)을 포함하는 이산화탄소 흡수제의 열화를 억제할 수 있고, 이산화탄소 흡수제의 반복사용성을 향상시킬 수 있다.
<공정(A)>
공정(A)에서는, 반응물(c)에 전자파를 조사함으로써, 반응물(c)로부터 이산화탄소를 탈리시킨다.
전자파로는, 조사함으로써 반응물(c)로부터 이산화탄소를 탈리시킬 수 있는 것이면 특별히 한정되지 않는데, 예를 들어, 마이크로파, 자외선, 적외선, 감마선, 전자선, 및 X선으로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종을 들 수 있다. 이들 중에서도, 전자파로는 마이크로파 및 자외선으로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종이 바람직하고, 마이크로파가 보다 바람직하다.
본 명세서에 있어서, 마이크로파란, 파장이 100μm~1m, 주파수가 300MHz~3THz인 전자파의 총칭이다.
마이크로파는, 마이크로파 조사원(마이크로파 발진기(마그네트론))으로부터 발생시킬 수 있다. 마이크로파 조사원은, 싱글모드시스템, 멀티모드시스템의 어느 쪽도 사용할 수 있다.
마이크로파의 조사조건(파장, 출력, 조사시간 등)은 특별히 한정되지 않고, 이산화탄소 탈리온도나 처리량 등을 고려하여 적당히 조정할 수 있다.
마이크로파 조사원의 출력은, 이산화탄소 탈리온도나 처리량 등에 따라 적당히 조정할 수 있고, 특별히 한정되지 않는데, 예를 들어, 반응물(c) 1g에 대하여 1W 이상 300KW 이하이며, 바람직하게는 1W 이상 1KW 이하이다.
마이크로파 조사 원으로부터 발생하는 마이크로파의 주파수는, 이산화탄소 탈리온도나 처리량 등에 따라 적당히 조정할 수 있고, 특별히 한정되지 않는데, 예를 들어 0.1GHz 이상, 바람직하게는 0.5GHz 이상, 보다 바람직하게는 1.0GHz 이상, 더욱 바람직하게는 1.5GHz 이상, 더욱 바람직하게는 2.0GHz 이상이며, 그리고, 예를 들어 30GHz 이하, 바람직하게는 25GHz 이하, 보다 바람직하게는 5.0GHz 이하, 더욱 바람직하게는 3.0GHz 이하이다.
또한, 마이크로파 조사 원으로부터 발생하는 마이크로파의 주파수는, 공업적으로 사용할 수 있는 주파수를 고려하면, ISM(Industry-Science-Medical)밴드로서 공업적으로 사용이 허가되어 있는 주파수가 바람직하고, 구체적으로는 915MHz대(910MHz~920MHz), 2.45GHz대(2.40GHz~2.50GHz), 5.8GHz대(5.725GHz~5.875GHz), 24GHz대(24.0GHz~24.25GHz)가 보다 바람직하고, 915MHz대(910MHz~920MHz), 2.45GHz대(2.40GHz~2.50GHz)가 더욱 바람직하고, 2.45GHz대(2.40GHz~2.50GHz)가 더욱 바람직하다.
자외선은, 예를 들어 고압수은등, 저압수은등 등을 구비한 자외선조사장치로부터 발생시킬 수 있다.
자외선의 조사조건(파장, 조도, 조사시간 등)은 특별히 한정되지 않고, 이산화탄소 탈리온도나 처리량 등을 고려하여 적당히 조정할 수 있다.
자외선의 적산광량(조도(mW/cm2)×시간(초))은, 이산화탄소 탈리온도나 처리량 등에 따라 적당히 조정할 수 있고, 특별히 한정되지 않는데, 예를 들어, 반응물(c) 1g에 대하여 100(mJ/cm2) 이상 100,000(mJ/cm2) 이하, 바람직하게는 100(mJ/cm2) 이상 50,000(mJ/cm2) 이하이다.
자외선조사장치로부터 발생하는 자외선의 파장은, 이산화탄소 탈리온도나 처리량 등에 따라 적당히 조정할 수 있고, 예를 들어 10nm 이상, 바람직하게는 100nm 이상, 보다 바람직하게는 200nm 이상, 더욱 바람직하게는 250nm 이상이며, 그리고, 예를 들어 400nm 이하, 바람직하게는 380nm 이하, 보다 바람직하게는 370nm 이하이다. 그 중에서도, 200nm 이상 380nm 이하의 소위 근자외선이 바람직하다.
반응물(c)에의 전자파의 조사시간은, 사용하는 전자파의 종류나 이산화탄소 탈리온도, 처리량 등에 따라 적당히 조정할 수 있고, 특별히 한정되지 않는데, 예를 들어 1분간 이상, 바람직하게는 10분간 이상, 보다 바람직하게는 30분간 이상이며, 그리고, 예를 들어 24시간 이하, 바람직하게는 18시간, 보다 바람직하게는 12시간 이하, 더욱 바람직하게는 4시간 이하, 보다 더욱 바람직하게는 2시간 이하이다.
반응물(c)에 전자파를 조사할 때에는, 반응물(c)을 포함하는 용기를 회전시키면서 전자파를 조사해도 되고, 반응물(c)을 교반하면서 전자파를 조사해도 된다. 이에 따라, 반응물(c)에 전자파를 보다 균일하게 조사할 수 있다.
또한, 반응물(c)에 전자파를 조사할 때에는, 반응물(c)을 벨트컨베이어 등으로 반송하면서 전자파를 조사해도 된다. 이에 따라, 반응물(c)에 전자파를 연속적으로 조사할 수 있다.
공정(A)에 있어서의 반응물(c)의 표면온도 즉 이산화탄소가 탈리할 때의 반응물(c)의 표면온도는, 이산화탄소의 탈리성을 보다 향상시키는 관점에서, 바람직하게는 35℃ 이상, 보다 바람직하게는 40℃ 이상, 더욱 바람직하게는 50℃ 이상, 보다 더욱 바람직하게는 55℃ 이상이며, 아민 화합물(a)의 열화나 에너지소비량을 억제하는 관점에서, 바람직하게는 120℃ 이하, 보다 바람직하게는 110℃ 이하, 더욱 바람직하게는 100℃ 이하, 더욱 바람직하게는 90℃ 이하이다.
즉, 공정(A)에 있어서의 반응물(c)의 표면온도가 상기 범위 내가 되도록, 반응물(c)의 표면온도를 조정하는 것이 바람직하다. 반응물(c)의 표면온도를 조정하는 방법은 특별히 한정되지 않고, 조사하는 전자파의 종류 등에 따라 적당히 선택할 수 있고, 예를 들어, 전자파의 조사조건을 조정하거나, 오일배스나 열풍건조기 등을 이용하여 외온조정하거나 하는 방법 등을 들 수 있다. 그 중에서도, 전자파의 조사조건을 조정하는 것이 바람직하고, 필요에 따라 다른 온도조정방법과 조합하여 행해도 된다.
여기서, 반응물(c)의 표면온도는, 적외선온도계(IR센서)에 의해 측정할 수 있다.
이산화탄소가 탈리한 후의 아민 화합물(a)은, 이산화탄소 흡수제로서 재이용할 수 있다.
<공정(B)>
본 발명에 따른 이산화탄소의 회수방법은, 공정(A)의 전에, 반응물(c)을 준비하는 공정(B)을 추가로 포함할 수 있다.
공정(B)에서는, 예를 들어, 아민 화합물(a)을 포함하는 이산화탄소 흡수제와 가스(b)를 접촉시켜 반응물(c)을 얻음으로써, 반응물(c)을 준비할 수 있다.
아민 화합물(a)을 포함하는 이산화탄소 흡수제와 이산화탄소를 포함하는 가스(b)와의 접촉방법으로는, 이산화탄소가 아민 화합물(a)과 반응할 수 있는 방법이면 특별히 한정되지 않는데, 예를 들어, 이산화탄소 흡수제를 가스(b) 중에 방치하는 방법, 이산화탄소 흡수제 중에 가스(b)를 버블링시키는 방법, 가스(b)에 이산화탄소 흡수제를 스프레이하는 방법, 이산화탄소 흡수제를 함침 또는 겔화시킨 재료와 가스(b)를 접촉시키는 방법, 초음파 등으로 미스트화한 이산화탄소 흡수제를 가스(b)에 접촉시키는 방법 등을 들 수 있다.
공정(B)에 있어서, 아민 화합물(a)을 포함하는 이산화탄소 흡수제와 이산화탄소를 포함하는 가스(b)를 접촉시키는 시간은, 접촉방법에 따라 적당히 조정하면 되는데, 이산화탄소의 반응량을 보다 향상시키는 관점에서, 예를 들어 1시간 이상, 바람직하게는 10시간 이상, 보다 바람직하게는 30시간 이상, 더욱 바람직하게는 50시간 이상이다. 한편, 상기 접촉시키는 시간의 상한값은 특별히 한정되지 않는데, 예를 들어 200시간 이하이다.
공정(B)에 있어서, 아민 화합물(a)을 포함하는 이산화탄소 흡수제와 이산화탄소를 포함하는 가스(b)를 접촉시킬 때의 온도는 특별히 한정되지 않는데, 반응속도를 보다 향상시키는 관점에서, 바람직하게는 10℃ 이상, 보다 바람직하게는 15℃ 이상, 더욱 바람직하게는 20℃ 이상이며, 이산화탄소의 반응량을 보다 향상시키는 관점에서, 바람직하게는 60℃ 이하, 보다 바람직하게는 50℃ 이하, 더욱 바람직하게는 45℃ 이하이다.
공정(B)과 공정(A)은, 동일한 용기나 장치 내에서 연속적 또는 단계적으로 행해도 되고, 상이한 용기나 장치에서 단계적으로 행해도 된다. 또한, 공정(B)과 공정(A)은, 동일한 장소에서 연속적 또는 단계적으로 행해도 되고, 상이한 장소에서 단계적으로 행해도 된다.
공정(B)과 공정(A)을 동일한 용기 내에서 행하는 태양으로는 특별히 한정되지 않는데, 예를 들어, 이하의 예 1을 들 수 있다.
예 1: 용기에 충전한 아민 화합물(a)을 포함하는 이산화탄소 흡수제에 대하여, 가스(b)를 버블링시킴으로써, 이산화탄소 흡수제와 가스(b)를 접촉시켜 반응물(c)을 얻는다(공정(B)). 반응이 진행됨에 따라, 생성된 반응물(c)이 용기 내로 침전하므로, 용기의 상부에는 이산화탄소 흡수제를 보다 많이 포함하는 층이 생성되고, 용기의 하부에는 반응물(c)을 보다 많이 포함하는 층이 생성된다. 그리고, 반응물(c)을 보다 많이 포함하는 층에 대하여, 전자파를 조사함으로써, 반응물(c)로부터 이산화탄소를 탈리시킨다(공정(A)). 예 1의 태양에서는, 가스(b)의 버블링과 전자파의 조사를 동시에 행함으로써, 공정(B)과 공정(A)을 연속적으로 행하는 것이 가능하다. 나아가, 예 1의 태양에서는, 가스(b)의 버블링과 전자파의 조사를 단계적으로 행함으로써, 공정(B)과 공정(A)을 단계적으로 행하는 것도 가능하다.
공정(B)과 공정(A)을 상이한 용기 내에서 행하는 태양으로는 특별히 한정되지 않는데, 예를 들어, 이하의 예 2를 들 수 있다.
예 2: 제1 용기에 충전한 아민 화합물(a)을 포함하는 이산화탄소 흡수제에 대하여, 가스(b)를 버블링시킴으로써, 이산화탄소 흡수제와 가스(b)를 접촉시켜 반응물(c)을 얻는다(공정(B)). 이어서, 얻어진 반응물(c)을 제2 용기에 이동시키고, 반응물(c)에 전자파를 조사함으로써, 반응물(c)로부터 이산화탄소를 탈리시킨다(공정(A)). 예 2의 태양에서는, 공정(B)과 공정(A)의 사이에서, 아민 화합물(a) 및 반응물(c)을 분리하는 공정을 행해도 된다. 이 경우, 분리한 반응물(c)을 제2 용기에 이동시키고, 아민 화합물(a)은 제1 용기에 되돌려서 재이용할 수 있다.
(이산화탄소 흡수제)
본 발명에 따른 이산화탄소 흡수제는, 아민 화합물(a)을 포함한다.
아민 화합물(a)로는 이산화탄소를 흡수할 수 있는 아민 화합물이면 특별히 한정되지 않는데, 예를 들어, 비환식 지방족계 아민 화합물, 환식 구조를 갖는 아민 화합물 등을 들 수 있고, 이산화탄소 흡수능력 및 열안정성의 밸런스를 향상할 수 있는 관점에서, 환식 구조를 갖는 아민 화합물이 보다 바람직하다. 환식 구조로는, 예를 들어, 지환식 탄화수소구조, 방향족 탄화수소구조, 환 중에 헤테로원자를 포함하는 복소환식 구조 등을 들 수 있다.
또한, 환식 구조를 갖는 아민 화합물(a)은, 시스체, 트랜스체, 시스체와 트랜스체의 혼합물 중 어느 것이어도 된다.
아민 화합물(a)의 환식 구조는, 이산화탄소 흡수능력을 보다 향상시키는 관점에서, 5원환 및 6원환으로부터 선택되는 적어도 1종을 포함하는 것이 바람직하고, 6원환을 포함하는 것이 보다 바람직하다.
아민 화합물(a)의 아미노기의 수는, 이산화탄소 흡수능력을 보다 향상시키는 관점에서, 바람직하게는 1 이상, 보다 바람직하게는 2 이상이며, 그리고, 바람직하게는 6 이하, 보다 바람직하게는 4 이하이며, 더욱 바람직하게는 3 이하이며, 더욱 바람직하게는 2이다.
또한, 아미노기로는, 이산화탄소의 흡수량을 보다 향상시키는 관점에서, 질소-수소결합을 갖는 아미노기가 바람직하고, 1급 아미노기가 보다 바람직하다.
비환식 지방족계 아민 화합물로는, 예를 들어, 모노에탄올아민, 2-아미노-2-메틸-1-프로판올, 디에탄올아민, 2-(메틸아미노)에탄올, 2-(에틸아미노)에탄올, 2-(디메틸아미노)에탄올, 2-(디에틸아미노)에탄올, 에틸렌디아민, N,N’-디메틸에틸렌디아민, 디에틸렌트리아민 등을 들 수 있다.
아민 화합물(a)로는, 이산화탄소 흡수능력을 보다 향상시키는 관점에서, o-자일릴렌디아민 및 그의 유도체, m-자일릴렌디아민 및 그의 유도체, p-자일릴렌디아민 및 그의 유도체, 비스(아미노메틸)시클로헥산 및 그의 유도체, 리모넨디아민 및 그의 유도체, 이소포론디아민 및 그의 유도체, 2,5-비스아미노메틸푸란 및 그의 유도체, 2,5-비스(아미노메틸)테트라하이드로푸란 및 그의 유도체, 푸르푸릴아민 및 그의 유도체, 테트라하이드로푸르푸릴아민 및 그의 유도체, 4-아미노메틸테트라하이드로피란 및 그의 유도체, 4-(2-아미노에틸)모르폴린 및 그의 유도체, 그리고, 2-티오펜메틸아민 및 그의 유도체로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종이 바람직하고, o-자일릴렌디아민 및 그의 유도체, m-자일릴렌디아민 및 그의 유도체, p-자일릴렌디아민 및 그의 유도체, 그리고, 비스(아미노메틸)시클로헥산 및 그의 유도체로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종이 보다 바람직하고, m-자일릴렌디아민 및 그의 유도체, 그리고, 1,3-비스(아미노메틸)시클로헥산 및 그의 유도체로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종이 더욱 바람직하고, m-자일릴렌디아민 및 1,3-비스(아미노메틸)시클로헥산으로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종이 더욱 바람직하다.
여기서, 상기 각종 아민의 유도체로는, 예를 들어, 아미노기의 수소원자 중의 적어도 1개가, 아미노기, 시아노기 및 페닐기로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종의 치환기를 갖고 있을 수도 있는 탄소수 1 이상 10 이하의 탄화수소기, 바람직하게는 아미노기, 시아노기 및 페닐기로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종의 치환기를 갖고 있을 수도 있는 탄소수 1 이상 4 이하의 알킬기, 보다 바람직하게는 아미노기 및 시아노기로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종의 치환기를 갖고 있을 수도 있는 탄소수 1 이상 4 이하의 알킬기, 더욱 바람직하게는 아미노기 및 시아노기로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종의 치환기를 갖고 있을 수도 있는 탄소수 2 이상 4 이하의 알킬기로 치환된 화합물을 들 수 있다.
또한, 상기 각종 아민의 유도체로는, 예를 들어, 환식 구조의 수소원자 중의 적어도 일부가 탄소수 1 이상 4 이하의 탄화수소기, 바람직하게는 탄소수 1 이상 3 이하의 알킬기, 보다 바람직하게는 메틸기 또는 에틸기, 더욱 바람직하게는 메틸기로 치환된 화합물을 들 수 있다.
아민 화합물(a)은, 단독으로 또는 2종 이상을 조합하여 이용할 수 있다.
본 발명에 따른 이산화탄소 흡수제 중의 아민 화합물(a)의 함유량은, 이산화탄소 흡수능력을 향상시키는 관점에서, 이산화탄소 흡수제의 전체량을 100질량%로 했을 때, 바람직하게는 50질량% 이상, 보다 바람직하게는 60질량% 이상, 더욱 바람직하게는 70질량% 이상, 더욱 바람직하게는 80질량% 이상, 더욱 바람직하게는 90질량% 이상, 더욱 바람직하게는 95질량% 이상, 더욱 바람직하게는 98질량% 이상이며, 그리고, 바람직하게는 100질량% 이하이다.
또한, 본 발명에 따른 이산화탄소 흡수제 중의 아민 화합물(a)의 함유량은, 이산화탄소 흡수능력을 보다 향상시키는 관점에서, 이산화탄소 흡수제에 포함되는 아민 화합물의 전체량을 100질량부로 했을 때, 바람직하게는 50질량부 이상, 보다 바람직하게는 60질량부 이상, 더욱 바람직하게는 70질량부 이상, 더욱 바람직하게는 80질량부 이상, 더욱 바람직하게는 90질량부 이상, 더욱 바람직하게는 95질량부 이상이며, 그리고, 바람직하게는 100질량부 이하이다.
본 발명에 따른 이산화탄소 흡수제 중의 물의 함유량은, 이산화탄소 흡수능력을 향상시키는 관점에서, 바람직하게는 30질량% 이하, 보다 바람직하게는 15질량% 이하, 더욱 바람직하게는 10질량% 이하, 더욱 바람직하게는 5질량% 이하, 더욱 바람직하게는 1질량% 이하, 더욱 바람직하게는 0.5질량% 이하, 더욱 바람직하게는 0.1질량% 이하, 더욱 바람직하게는 0.01질량% 이하이며, 본 발명에 따른 이산화탄소 흡수제는 물을 실질적으로 포함하지 않는 것이 더욱 바람직하다. 여기서, 「물을 실질적으로 포함하지 않는다」란, 의도적으로 물을 첨가하지 않는다는 의미이며, 불순물로서 소량의 물이 존재하는 것을 배제하는 것이 아니다.
이하의 방법으로 측정되는, 아민 화합물(a)의 이산화탄소 최대해리온도는, 이산화탄소의 탈리성을 향상시키는 관점에서, 바람직하게는 150℃ 이하, 보다 바람직하게는 145℃ 이하, 더욱 바람직하게는 140℃ 이하이다. 상기 이산화탄소 최대해리온도의 하한값은 특별히 한정되지 않는데, 예를 들어 40℃ 이상이다.
(방법)
이산화탄소를 흡수시킨 아민 화합물(a)을, 질소분위기의 조건하에서, 승온속도 10℃/분으로 23℃에서부터 250℃까지 가열하고, 이산화탄소의 탈리에 수반하는 흡열량이 최대가 되는 온도를 측정하고, 이 온도를 이산화탄소 최대해리온도로 한다. 측정은, 시차열중량측정계(예를 들어 주식회사시마즈제작소제, DTG-60)를 이용하여 행할 수 있고, 얻어진 DTA곡선으로부터, 이산화탄소의 탈리에 수반하는 흡열량이 최대가 되는 온도를 산출할 수 있다. 여기서, 이산화탄소를 흡수시킨 아민 화합물(a)은, 예를 들어, 아민 화합물(a) 5mmol을 23℃, 50%RH의 공기 중에 24시간 정치함으로써 조제할 수 있다.
아민 화합물(a)의 산해리상수(pKa)는, 이산화탄소 흡수능력을 보다 향상시키는 관점에서, 바람직하게는 8.0 이상, 보다 바람직하게는 9.0 이상, 더욱 바람직하게는 9.3 이상이며, 그리고 이산화탄소의 탈리성을 향상시키는 관점에서, 바람직하게는 12.0 이하이다.
본 명세서에 있어서, 아민 화합물(a)의 산해리상수는, 산염기적정법에 기초하는 하기 측정방법에 의해 구해지는 값이다.
(1)아민 화합물(a) 0.2g을 정제수 30mL에 용해한다.
(2)상기 (1)에 의해 얻어진 용액을, 전위차자동적정장치(예를 들어 쿄토전자공업주식회사제, AT-610)를 이용하여, 0.1규정 과염소산-아세트산용액으로 적정함으로써 산해리상수(pKa)를 산출한다.
한편, 측정시의 온도는, 25±2℃로 한다.
아민 화합물(a)의 분자량은, 이산화탄소를 해리시킬 때의 열처리시의 중량감소를 억제하고, 반복사용성을 보다 향상시키는 관점에서, 바람직하게는 50 이상, 보다 바람직하게는 80 이상, 더욱 바람직하게는 100 이상, 더욱 바람직하게는 120 이상, 더욱 바람직하게는 130 이상이며, 이산화탄소 흡수능력을 보다 향상시키는 관점에서, 바람직하게는 1000 이하, 보다 바람직하게는 500 이하, 더욱 바람직하게는 300 이하, 더욱 바람직하게는 250 이하, 더욱 바람직하게는 200 이하, 더욱 바람직하게는 150 이하이다.
이하의 방법으로 측정되는 아민 화합물(a)의 최대흡열온도는, 이산화탄소를 해리시킬 때의 열처리시의 중량감소를 억제하고, 반복사용성을 보다 향상시키는 관점에서, 바람직하게는 130℃ 이상, 보다 바람직하게는 140℃ 이상, 더욱 바람직하게는 150℃ 이상, 더욱 바람직하게는 155℃ 이상이며, 이산화탄소 흡수능력을 보다 향상시키는 관점에서, 바람직하게는 300℃ 이하, 보다 바람직하게는 250℃ 이하, 더욱 바람직하게는 200℃ 이하이다.
(방법)
아민 화합물(a)을, 질소분위기의 조건하에서, 승온속도 10℃/분으로 23℃에서부터 350℃까지 가열하고, 아민 화합물(a)의 휘발에 수반하는 흡열량이 최대가 되는 온도를 측정하고, 이 온도를 아민 화합물(a)의 최대흡열온도로 한다. 측정은, 시차열중량측정계(예를 들어 주식회사시마즈제작소제, DTG-60)를 이용하여 행할 수 있고, 얻어진 DTA곡선으로부터, 아민 화합물(a)의 휘발에 수반하는 흡열량이 최대가 되는 온도를 산출할 수 있다.
아민 화합물(a)의 아민가는, 이산화탄소 흡수능력을 보다 향상시키는 관점에서, 바람직하게는 500mgKOH/g 이상, 보다 바람직하게는 550mgKOH/g 이상, 더욱 바람직하게는 600mgKOH/g 이상, 더욱 바람직하게는 700mgKOH/g 이상이며, 그리고, 바람직하게는 1500mgKOH/g 이하, 보다 바람직하게는 1200mgKOH/g 이하, 더욱 바람직하게는 1000mgKOH/g 이하, 더욱 바람직하게는 900mgKOH/g 이하이다. 아민가란, 화합물 중의 아민의 양을 나타내고, 화합물 1g양을 중화하기에 필요로 하는 산과 당량의 수산화칼륨(KOH)의 mg수를 말한다.
아민가는 JIS K7237-1995에 준하여, 하기 방법에 의해 측정할 수 있다.
(1)아민 화합물(a) 0.1g을 아세트산 20mL에 용해한다.
(2)상기 (1)에 의해 얻어진 용액을, 전위차자동적정장치(예를 들어 쿄토전자공업주식회사제, AT-610)를 이용하여, 0.1규정 과염소산-아세트산용액으로 적정함으로써 아민가를 산출한다.
본 발명에 따른 이산화탄소 흡수제는, 발명의 효과를 손상시키지 않는 범위에서, 아민 화합물(a) 이외의 성분을 적당히 함유할 수 있다. 아민 화합물(a) 이외의 성분으로는, 예를 들어, 아민 화합물(a) 이외의 이산화탄소를 흡수할 수 있는 화합물(예를 들어, 메탄올, 폴리에틸렌글리콜 등), 이산화탄소흡착제(예를 들어, 제올라이트, 활성탄, 흑연, 카본파이버, 카본나노튜브, 분자체, 금속산화물 등), 물, 유기용매, 열화억제제, 소포제, 점도조정제, 산화방지제, 수분을 제거하기 위한 건조제(예를 들어, 황산마그네슘, 몰레큘러시브스(モレキュラ-シ-ブス) 등) 등을 들 수 있다.
유기용매로는, 예를 들어, 알코올, 디메틸아세트아미드, N-메틸피롤리돈, 및 디메틸포름아미드 등을 들 수 있다.
(가스(b))
가스(b)로는 이산화탄소를 포함하는 가스이면 특별히 한정되지 않는데, 예를 들어, 공기, 화력발전소나 공장 등으로부터 배출되는 배기가스 등을 들 수 있다.
본 발명에 따른 이산화탄소의 회수방법은, 공기 중의 이산화탄소를 직접 흡수하는 기술(DAC)에 호적하게 이용할 수 있으므로, 가스(b)로는, 이산화탄소의 농도가 0.01체적% 이상 1체적% 이하의 가스나, 공기가 바람직하고, 공기가 보다 바람직하다.
(반응물(c))
반응물(c)은, 아민 화합물(a)과 이산화탄소를 포함하는 가스(b)와의 반응물이며, 예를 들어, 아민 화합물(a)과 이산화탄소와의 반응물인, 카르밤산(カルバミン酸), 카르밤산염, 탄산염, 탄산수소염 등으로부터 선택되는 적어도 1종을 포함한다.
반응물(c)은, 공정(A)에 있어서의 이산화탄소의 탈리성을 보다 향상시키는 관점에서, 23℃에서 고체상인 것이 바람직하다. 또한, 반응물(c)이 23℃에서 고체상이면, 아민 화합물(a)과 반응물(c)의 분리도 용이해지고, 아민 화합물(a)의 리사이클성을 향상시킬 수 있다.
[이산화탄소 회수장치]
도 1~3은, 본 발명에 따른 이산화탄소 회수장치(10)의 일례를 나타내는 모식도이다.
본 발명에 따른 이산화탄소 회수장치(10)는, 아민 화합물(a)과 이산화탄소를 포함하는 가스(b)와의 반응물(c)을 수용하기 위한 수용부(1, 3)와, 반응물(c)에 대하여 전자파를 조사하기 위한 전자파조사부(2)를 구비한다.
본 발명에 따른 이산화탄소 회수장치(10)에 따르면, 이산화탄소의 탈리온도를 저하시킬 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 이산화탄소 회수장치(10)에 따르면, 종래 행해지고 있던 열풍을 이용한 가열에 의한 이산화탄소의 탈리에 비해, 보다 낮은 온도에서 이산화탄소의 탈리를 행할 수 있고, 그 결과, 아민 화합물(a)을 포함하는 이산화탄소 흡수제의 열화를 억제할 수 있고, 이산화탄소 흡수제의 반복사용성을 향상시킬 수 있다.
전자파조사부(2)는, 전자파조사부(2)로부터 발해진 전자파가 수용부(1, 3)에 조사가능하도록 배치되어 있다. 한편, 도 1~3에 있어서, 전자파조사부(2)는, 수용부(1, 3)의 외측에 배치되어 있는데, 전자파조사부(2)가 수용부(1, 3)의 내부에 수용가능한 형태인 경우(예를 들어 전자파조사부(2)가 자외선조사장치인 경우 등)에는, 전자파조사부(2)는 수용부(1, 3)의 내부에 배치될 수도 있다.
본 발명에 따른 이산화탄소 회수장치(10)는, 반응물(c)에 대하여 전자파를 조사하기 위한 전자파조사부(2)를 구비하므로, 전술한 본 발명에 따른 이산화탄소의 회수방법에서 호적하게 이용할 수 있다.
여기서, 도 2에 나타내는 이산화탄소 회수장치(10)는, 예를 들어, 전술한 공정(B)과 공정(A)을 동일한 용기 내에서 행하는 태양의 예 1에서 이용할 수 있다.
구체적으로는, 수용부(1)(용기)에 충전한 아민 화합물(a)을 포함하는 이산화탄소 흡수제에 대하여, 가스(b)를 버블링시킴으로써, 이산화탄소 흡수제와 가스(b)를 접촉시켜 반응물(c)을 얻을 수 있다(공정(B)). 반응이 진행됨에 따라, 생성된 반응물(c)이 수용부(1) 내에 침전하므로, 수용부(1)의 상부에는 이산화탄소 흡수제를 보다 많이 포함하는 층이 생성되고, 수용부(1)의 하부에는 반응물(c)을 보다 많이 포함하는 층이 생성된다. 그리고, 반응물(c)을 보다 많이 포함하는 층에 대하여, 전자파를 조사함으로써, 반응물(c)로부터 이산화탄소를 탈리시킬 수 있다(공정(A)).
또한, 도 3에 나타내는 이산화탄소 회수장치(10)는, 예를 들어, 전술의 공정(B)과 공정(A)을 상이한 용기 내에서 행하는 태양의 예 2에서 이용할 수 있다.
구체적으로는, 수용부(1)(제1 용기)에 충전한 아민 화합물(a)을 포함하는 이산화탄소 흡수제에 대하여, 가스(b)를 버블링시킴으로써, 이산화탄소 흡수제와 가스(b)를 접촉시켜 반응물(c)을 얻을 수 있다(공정(B)). 이어서, 얻어진 반응물(c)을 수용부(3)(제2 용기)에 이동시키고, 반응물(c)에 전자파를 조사함으로써, 반응물(c)로부터 이산화탄소를 탈리시킬 수 있다(공정(A)). 예 2의 태양에서는, 공정(B)과 공정(A)의 사이에서, 아민 화합물(a) 및 반응물(c)을 분리할 수 있는 분리부를 구비해도 된다. 이 경우, 분리한 반응물(c)을 수용부(3)에 이동시키고, 아민 화합물(a)은 수용부(1)에 되돌려서 재이용할 수 있다.
수용부(1)나 수용부(3)의 형상은, 이산화탄소 흡수제나 반응물(c)을 수용가능하면 특별히 한정되지 않고, 예를 들어, 원통형, 각통형 등을 들 수 있다.
또한, 수용부(1)나 수용부(3)의 재질은, 조사되는 전자파를 투과가능하면 특별히 한정되지 않는데, 조사되는 전자파에 대하여 내성을 갖는 것이 바람직하다.
본 발명에 따른 이산화탄소 회수장치(10)에 있어서의 전자파조사부(2)가 조사하는 전자파의 종류 및 그의 호적태양은, 전술한 본 발명에 따른 이산화탄소의 회수방법과 동일하다.
본 발명에 따른 이산화탄소 회수장치(10)에 있어서의 이산화탄소 흡수제, 아민 화합물(a), 이산화탄소를 포함하는 가스(b) 및 반응물(c)의 호적태양은, 전술한 본 발명에 따른 이산화탄소의 회수방법과 동일하다.
실시예
이하, 본 발명을 실시예에 의해 설명하는데, 본 발명은 실시예의 범위로 한정되지 않는다.
[측정방법]
아민 화합물(a)의 각종 물성의 측정은 이하의 방법에 의해 행하였다.
(아민 화합물(a)의 산해리상수(pKa))
아민 화합물(a)의 산해리상수는, 하기 측정방법에 의해 구하였다.
(1)아민 화합물(a) 0.2g을 정제수 30mL에 용해하였다.
(2)상기 (1)에 의해 얻어진 용액을, 전위차자동적정장치(쿄토전자공업주식회사제, AT-610)를 이용하여, 0.1규정 과염소산-아세트산용액으로 적정함으로써 산해리상수(pKa)를 산출하였다.
한편, 측정시의 온도는, 25±2℃로 하였다.
(아민 화합물(a)의 아민가)
아민가는 JIS K7237-1995에 준하여, 하기 측정방법에 의해 측정하였다.
(1)아민 화합물(a) 0.1g을 아세트산 20mL에 용해하였다.
(2)상기 (1)에 의해 얻어진 용액을, 전위차자동적정장치(쿄토전자공업주식회사제, AT-610)를 이용하여, 0.1규정 과염소산-아세트산용액으로 적정함으로써 아민가를 산출하였다.
(아민 화합물(a)의 최대흡열온도)
아민 화합물(a)에 대하여, 다음과 같이 하여 TG-DTA측정을 행하고, 아민 화합물(a)의 최대흡열온도를 측정하였다. 우선, 아민 화합물(a)에 대하여, 측정온도범위 23~350℃, 승온속도 10℃/분, 질소분위기의 조건하에서, 시차열중량측정계(제품명: DTG-60, 주식회사시마즈제작소제)를 이용하여 시차주사열량측정을 행하였다. 이에 따라 얻어진 DTA곡선으로부터, 아민 화합물(a)의 휘발에 수반하는 흡열량이 최대가 되는 온도를 산출하고, 그 온도를 아민 화합물(a)의 최대흡열온도로 하였다.
(아민 화합물(a)의 이산화탄소(CO2) 최대해리온도)
개폐가능한 데시케이터(내측의 치수: 370mm×260mm×272mm) 내에 이산화탄소농도계와 샬레를 배치하였다. 그 후, 아민 화합물(a)(5mmol)을 데시케이터 내의 샬레에 더하고, 바로 문을 닫고, 데시케이터 내에 아민 화합물(a)을, 23℃, 50%RH의 공기환경하, 24시간 정치하였다.
이어서, 데시케이터 내로부터 아민 화합물(a)을 취출하고, 이산화탄소를 흡수시킨 아민 화합물(a)을 얻었다. 이산화탄소를 흡수시킨 아민 화합물(a)에 대하여, 다음과 같이 하여 TG-DTA측정을 행하고, 아민 화합물(a)의 이산화탄소 최대해리온도를 측정하였다. 우선, 아민 화합물(a)에 대하여, 측정온도범위 23~250℃, 승온속도 10℃/분, 질소분위기의 조건하에서, 시차열중량측정계(제품명: DTG-60, 주식회사시마즈제작소제)를 이용하여 시차주사열량측정을 행하였다. 이에 따라 얻어진 DTA곡선으로부터, 이산화탄소의 탈리에 수반하는 흡열량이 최대가 되는 온도를 산출하고, 그 온도를 아민 화합물(a)의 이산화탄소 최대해리온도로 하였다.
실시예 및 비교예에 있어서, 아민 화합물(a)로는 이하의 것을 이용하였다.
(아민 화합물(a))
MXDA: m-자일릴렌디아민(미쯔비시가스화학주식회사제, 분자량: 136.2, pKa: 9.5, 아민가: 824mgKOH/g, CO2최대해리온도: 135.5℃, 최대흡열온도: 183.5℃)
1,3-BAC: 1,3-비스(아미노메틸)시클로헥산(미쯔비시가스화학주식회사제, 분자량: 142.2, pKa: 10.8, 아민가: 789mgKOH/g, CO2최대해리온도: 125.7℃, 최대흡열온도: 160.9℃)
실시예 1
표 1에 나타내는 아민 화합물(a)의 함유량이 100질량%인 이산화탄소 흡수제 50g을, 23℃, 50%RH의 공기환경하에서 60시간 정치하고, 아민 화합물(a)과 공기 중의 이산화탄소를 반응시켜, 고체상의 반응물(c)을 얻었다.
이어서, 얻어진 반응물(c) 3g을 유리병에 충전하고, Biotage사제 마이크로파합성장치를 이용하여, 싱글모드, 주파수 2.45GHz의 조건으로 마이크로파를 60분간 조사하였다. 마이크로파의 출력은 반응물(c)의 표면온도가 60℃가 되도록, 10W 이상 220W 이하의 범위에서 조정하였다.
여기서, 반응물(c)의 표면온도는, 유리병 내부를 IR센서로 측정함으로써 확인하였다.
이어서, 이하의 기준에 따라, 이산화탄소의 탈리성을 평가하였다. 결과를 표 1에 나타낸다.
(이산화탄소의 탈리성 평가)
A: 반응물(c)로부터 이산화탄소가 탈리하고, 고체상의 반응물(c)이 액상이 되었다
B: 반응물(c)의 상태에 변화가 없었다
실시예 2~4
표 1에 나타내는 아민 화합물(a)을 사용하고, 반응물(c)의 표면온도가 표 1에 기재된 온도가 되도록 마이크로파의 출력을 10W 이상 300W 이하의 범위에서 조정한 것 이외는 실시예 1과 동일하게 하여 이산화탄소의 탈리성을 평가하였다. 결과를 표 1에 나타낸다.
실시예 5
실시예 1과 동일하게 하여 고체상의 반응물(c)을 얻었다. 이어서, 얻어진 반응물(c) 3g을 유리병에 충전하고, 오일배스에 침지하면서, 고압수은등(센특수광원주식회사제, HL100GL-1)을 구비한 자외선조사장치를 이용하여, 주파장 365nm, 조도 2.5mW/cm2의 조건으로, 자외선을 60분간 조사하였다. 그동안, 반응물(c)의 표면온도가 40℃가 되도록 오일배스의 온도를 조정하였다.
이어서, 실시예 1과 동일하게 하여 이산화탄소의 탈리성을 평가하였다. 결과를 표 1에 나타낸다.
실시예 6~8
표 1에 나타내는 아민 화합물(a)을 사용하고, 반응물(c)의 표면온도가 표 1에 기재된 온도가 되도록 오일배스의 온도를 조정한 것 이외는 실시예 1과 동일하게 하여 이산화탄소의 탈리성을 평가하였다. 결과를 표 1에 나타낸다.
비교예 1
실시예 1과 동일하게 하여 고체상의 반응물(c)을 얻었다. 이어서, 얻어진 반응물(c) 3g을 유리병에 충전하고, 열풍건조기에 넣고, 반응물(c)의 표면온도가 60℃가 되는 조건하에서 60분간 가열하였다.
이어서, 실시예 1과 동일하게 하여 이산화탄소의 탈리성을 평가하였다. 결과를 표 1에 나타낸다.
비교예 2~4
표 1에 나타내는 아민 화합물(a)을 사용하고, 반응물(c)의 표면온도가 표 1에 기재된 온도가 되도록 열풍건조기의 조건을 조정한 것 이외는 비교예 1과 동일하게 하여 이산화탄소의 탈리성을 평가하였다. 결과를 표 1에 나타낸다.
[표 1]
실시예 1~4의 마이크로파 조사를 이용한 방법 및 실시예 5~8의 자외선조사를 이용한 방법에서는, 이산화탄소의 탈리가 진행되었다. 한편, 비교예 1~4의 열풍을 이용한 가열방법에서는, 반응물(c)의 표면온도가 60℃ 및 80℃에서는 이산화탄소의 탈리가 진행되지 않았다.
이상의 결과로부터, 본 발명에 따른 이산화탄소의 회수방법에 따르면, 종래 행해지고 있던 열풍을 이용한 가열에 의한 이산화탄소의 탈리에 비해, 보다 낮은 온도에서 이산화탄소의 탈리를 행할 수 있는 것을 이해할 수 있다.
1 수용부
2 전자파조사부
3 수용부
10 이산화탄소 회수장치

Claims (12)

  1. 아민 화합물(a)과 이산화탄소를 포함하는 가스(b)와의 반응물(c)에 전자파를 조사함으로써, 상기 반응물(c)로부터 이산화탄소를 탈리시키는 공정(A)을 포함하는, 이산화탄소의 회수방법.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 공정(A)의 전에, 상기 반응물(c)을 준비하는 공정(B)을 추가로 포함하고,
    상기 공정(B)에서는, 상기 아민 화합물(a)을 포함하는 이산화탄소 흡수제와 상기 가스(b)를 접촉시켜 상기 반응물(c)을 얻는, 이산화탄소의 회수방법.
  3. 제1항 또는 제2항에 있어서,
    상기 가스(b)가 공기인, 이산화탄소의 회수방법.
  4. 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 아민 화합물(a)의 분자량이 50 이상 1000 이하인, 이산화탄소의 회수방법.
  5. 제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서,
    이하의 방법으로 측정되는, 상기 아민 화합물(a)의 이산화탄소 최대해리온도가 150℃ 이하인, 이산화탄소의 회수방법.
    (방법)
    이산화탄소를 흡수시킨 상기 아민 화합물(a)을, 승온속도 10℃/분으로 23℃에서부터 250℃까지 가열하고, 상기 이산화탄소의 탈리에 수반하는 흡열량이 최대가 되는 온도를 측정하고, 상기 온도를 상기 이산화탄소 최대해리온도로 한다.
  6. 제1항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 아민 화합물(a)의 아민가가 500mgKOH/g 이상 1500mgKOH/g 이하인, 이산화탄소의 회수방법.
  7. 제1항 내지 제6항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 반응물(c)이 23℃에서 고체상인, 이산화탄소의 회수방법.
  8. 제1항 내지 제7항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 전자파가, 마이크로파, 자외선, 적외선, 감마선, 전자선, 및 X선으로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종인, 이산화탄소의 회수방법.
  9. 제1항에 내지 제8항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 공정(A)에 있어서, 상기 반응물(c)의 표면온도가 35℃ 이상 120℃ 이하인, 이산화탄소의 회수방법.
  10. 아민 화합물(a)과 이산화탄소를 포함하는 가스(b)와의 반응물(c)을 수용하기 위한 수용부와,
    상기 반응물(c)에 대하여 전자파를 조사하기 위한 전자파조사부,
    를 구비하는 이산화탄소 회수장치.
  11. 제10항에 있어서,
    상기 전자파가, 마이크로파, 자외선, 적외선, 감마선, 전자선, 및 X선으로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종인, 이산화탄소 회수장치.
  12. 제10항 또는 제11항에 있어서,
    제1항 내지 제9항 중 어느 한 항에 기재된 이산화탄소의 회수방법에서 이용되는, 이산화탄소 회수장치.
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