KR20230113740A - 리튬 이온 이차 전지용 세퍼레이터의 검사 방법 및 제조 방법 - Google Patents
리튬 이온 이차 전지용 세퍼레이터의 검사 방법 및 제조 방법 Download PDFInfo
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Abstract
본 발명은, 리튬 이온 이차 전지용 세퍼레이터의 제조시, 세퍼레이터 기재 상의 접착 영역의 형성량을 높은 정밀도로 특정할 수 있는 검사 방법의 제공을 목적으로 한다. 본 발명의 리튬 이온 이차 전지용 세퍼레이터의 검사 방법은, 세퍼레이터 기재의 적어도 일방의 표면에, 결착재로 이루어지는 접착 영역이 형성된 리튬 이온 이차 전지용 세퍼레이터의 검사 방법이다. 당해 검사 방법은, 상기 접착 영역이 형성된 상기 세퍼레이터 기재의 표면에, 입사광으로서 백색광의 직선 편광을 조사하여 반사광의 편향 상태의 변화를 측정하는 분광 엘립소메트리에 의해, 상기 접착 영역의 형성량을 특정하는 공정을 구비한다.
Description
본 발명은, 세퍼레이터 기재의 표면에 접착 영역이 형성되어 이루어지는 리튬 이온 이차 전지용 세퍼레이터의 검사 방법, 및 당해 검사 방법을 이용한 리튬 이온 이차 전지용 세퍼레이터의 제조 방법에 관한 것이다.
리튬 이온 이차 전지는, 소형이며 경량, 또한, 에너지 밀도가 높고, 나아가 반복 충방전이 가능하다는 특성이 있어, 폭넓은 용도로 사용되고 있다. 그리고 리튬 이온 이차 전지는, 일반적으로, 복수의 전극(정극, 부극)과, 이들 전극을 격리하여 내부 단락을 방지하는 세퍼레이터를 구비하고 있다.
여기서, 리튬 이온 이차 전지의 제조 과정에 있어서는, 전해액에 침지하기 전의 전극과 세퍼레이터를 접착시켜 적층체로 하고, 필요에 따라 원하는 사이즈로 절단하거나, 적층, 절첩 또는 권회하거나 하는 경우가 있다. 그리고, 당해 절단, 적층, 절첩 또는 권회시에는, 접착된 전극과 세퍼레이터가 위치 어긋남 등을 일으켜, 불량의 발생, 생산성의 저하와 같은 문제를 일으키는 경우가 있다.
이에 근년에는, 세퍼레이터 기재의 표면에 결착재로 이루어지는 접착 영역을 형성하여, 얻어진 세퍼레이터를 전극과 첩합하는 기술이 검토되고 있다. 예를 들어 특허문헌 1에서는, 소정의 열가소성 폴리머를 함유하는 도료를 세퍼레이터에 도공하고, 도막을 건조하여 도공액 중의 용매를 제거함으로써, 열가소성 폴리머로 이루어지는 접착 영역을 표면에 갖는 세퍼레이터가 제작되고 있다.
여기서, 결착재를 세퍼레이터 기재의 표면에 부여하여 접착 영역이 형성된 세퍼레이터를 제작함에 있어서, 접착 영역이 형성된 측의 세퍼레이터 기재 표면(이하, 「형성면」 또는 「접착 영역 형성면」이라고 한다.)에 소기량의 접착 영역이 형성된 것을 확인하기 위한 검사 방법이 종래 요구되고 있었다. 이러한 검사 방법으로는, 결착재가 갖는 카르보닐기 등의 관능기를 적외 분광법에 의해 검출하는 방법을 생각할 수 있다.
그러나, 적외 분광법에 의한 검사 방법에는, 결착재에 포함되는 카르보닐기 등의 관능기량이 적은 경우나, 접착 영역의 형성량이 적은 경우 등에 있어서, 실제의 형성량과 검사에 의해 얻어지는 형성량에 큰 오차가 발생하는 것이, 본 발명자의 검토로 분명해졌다.
이에, 본 발명은, 리튬 이온 이차 전지용 세퍼레이터의 제조시, 세퍼레이터 기재 상의 접착 영역의 형성량을 높은 정밀도로 특정할 수 있는 검사 방법, 및 당해 검사 방법을 이용한 리튬 이온 이차 전지용 세퍼레이터의 제조 방법의 제공을 목적으로 한다.
본 발명자는, 상기 과제를 해결하는 것을 목적으로 하여 예의 검토를 행하였다. 이에, 본 발명자는, 분광 엘립소메트리를 이용한 검사에 의해, 세퍼레이터 기재 상의 접착 영역의 형성량을 높은 정밀도로 특정할 수 있는 것을 새롭게 알아내어, 본 발명을 완성시켰다.
즉, 이 발명은, 상기 과제를 유리하게 해결하는 것을 목적으로 하는 것으로, 본 발명의 리튬 이온 이차 전지용 세퍼레이터의 검사 방법은, 세퍼레이터 기재의 적어도 일방의 표면에, 결착재로 이루어지는 접착 영역이 형성된 리튬 이온 이차 전지용 세퍼레이터의 검사 방법으로서, 상기 접착 영역이 형성된 상기 세퍼레이터 기재의 표면에, 입사광으로서 백색광의 직선 편광을 조사하여 반사광의 편향 상태의 변화를 측정하는 분광 엘립소메트리에 의해, 상기 접착 영역의 형성량을 특정하는 공정을 구비하는 것을 특징으로 한다. 상술한 분광 엘립소메트리를 이용하면, 세퍼레이터 기재 상에 있어서의 접착 영역의 형성량을 높은 정밀도로 특정할 수 있다.
여기서, 본 발명의 리튬 이온 이차 전지용 세퍼레이터의 검사 방법에 있어서, 상기 접착 영역을, 평균 직경이 0.1 μm 이상 5 μm 이하인 입자상 결착재로 이루어지는 것으로 할 수 있다. 접착 영역을 상술한 평균 직경을 갖는 미세한 입자상 결착재로 구성하면, 세퍼레이터를 전극과 양호하게 접착시키면서, 리튬 이온 이차 전지의 전지 특성(출력 특성, 사이클 특성 등)을 향상시킬 수 있다. 또한 본 발명의 검사 방법에 의하면, 접착 영역이 상술한 평균 직경을 갖는 미세한 입자상 결착재로 구성되는 경우라도, 접착 영역의 형성량을 충분히 높은 정밀도로 특정할 수 있다.
한편, 본 발명에 있어서, 입자상 결착재의 평균 직경은, 주사형 전자 현미경(SEM)에 의한 관찰로 얻어진, 접착 영역 형성면의 평면시(平面視) 화상에 있어서의 임의의 1000개의 입자상 결착재의 최대 직경(하나의 입자상 결착재의 외연 상의 2점을 연결하는 선분의 길이 중, 최대의 길이)의 평균값으로서 산출할 수 있다.
또한, 본 발명의 리튬 이온 이차 전지용 세퍼레이터의 검사 방법에 있어서, 상기 접착 영역을 1 또는 복수의 평면시(平面視) 섬 모양의 영역으로 구성할 수 있다. 접착 영역을 1 또는 복수의 평면시 섬 모양의 영역으로 구성하면, 세퍼레이터를 전극과 양호하게 접착시키면서, 접착 영역의 형성량을 저감하여 리튬 이온 이차 전지의 전지 특성을 향상시킬 수 있다. 또한 본 발명의 검사 방법에 의하면, 접착 영역이 1 또는 복수의 평면시 섬 모양의 영역으로 구성되는 경우라도, 접착 영역의 형성량을 충분히 높은 정밀도로 특정할 수 있다.
또한, 본 발명의 리튬 이온 이차 전지용 세퍼레이터의 검사 방법에 있어서, 상기 접착 영역의 형성량을 0.02 g/m2 이상 0.6 g/m2 이하로 할 수 있다. 접착 영역의 형성량, 즉 접착 영역 형성면에 있어서의 단위 면적(m2)당의 접착 영역의 질량(g)이 상술한 범위 내이면, 세퍼레이터를 전극과 양호하게 접착시키면서, 접착 영역의 형성량을 저감하여 리튬 이온 이차 전지의 전지 특성을 향상시킬 수 있다. 또한 본 발명의 검사 방법에 의하면, 접착 영역의 형성량이 상술한 범위 내로 단위 면적당 질량이 작은 경우라도, 접착 영역의 형성량을 충분히 높은 정밀도로 특정할 수 있다.
그리고, 본 발명의 리튬 이온 이차 전지용 세퍼레이터의 검사 방법에 있어서, 상기 백색광을, 크세논 램프가 발하는 광으로 할 수 있다. 백색 광원으로서 크세논 램프를 사용하면, 접착 영역의 형성량을 충분히 높은 정밀도로 특정할 수 있다.
여기서, 본 발명의 리튬 이온 이차 전지용 세퍼레이터의 검사 방법에서는, 장척의 상기 리튬 이온 이차 전지용 세퍼레이터를 길이 방향으로 반송하면서, 상기 분광 엘립소메트리에 의한 측정을 행할 수 있다.
또한, 이 발명은, 상기 과제를 유리하게 해결하는 것을 목적으로 하는 것으로, 본 발명의 리튬 이온 이차 전지용 세퍼레이터의 제조 방법은, 상기 결착재와 용매를 포함하는 도공액을 상기 세퍼레이터 기재의 적어도 일방의 표면에 도공하는 공정과, 도공된 상기 세퍼레이터 기재 상의 상기 도공액을 건조하여, 상기 접착 영역을 형성하는 공정과, 상기 접착 영역의 형성량을, 상술한 어느 하나의 리튬 이온 이차 전지용 세퍼레이터의 검사 방법을 이용하여 특정하는 공정을 구비하는 것을 특징으로 한다. 상술한 분광 엘립소메트리에 의한 검사를 거치는 본 발명의 리튬 이온 이차 전지용 세퍼레이터의 제조 방법은, 접착 영역의 형성량을 소기량에 가깝게 하기 위하여, 검사 결과에 입각하여 각종 제조 조건(도공액의 고형분 농도나 도공 조건 등)을 조정하는 것이 가능하다는 이점이 있다.
여기서, 본 발명의 리튬 이온 이차 전지용 세퍼레이터의 제조 방법에 있어서, 상기 도공액이 분산 조제를 더 포함할 수 있다. 분산 조제를 포함하는 도공액을 사용하면, 당해 도공액을 균일하게 또한 고속으로 세퍼레이터 기재 표면에 도공할 수 있다.
또한, 본 발명의 리튬 이온 이차 전지용 세퍼레이터의 제조 방법에 있어서, 상기 도공액의 고형분 농도를 1 질량% 이상 40 질량% 이하로 할 수 있다. 고형분 농도가 상술한 범위 내인 도공액을 사용하면, 당해 도공액의 취급성 및 건조 효율을 높일 수 있다.
그리고, 본 발명의 리튬 이온 이차 전지용 세퍼레이터의 제조 방법에 있어서, 상기 도공액의 도공 속도를 2 m/분 이상 300 m/분 이하로 할 수 있다. 도공 속도가 상술한 범위 내로 고속이라도, 본 발명의 리튬 이온 이차 전지용 세퍼레이터의 제조 방법은 상술한 검사 방법을 이용하고 있기 때문에, 리튬 이온 이차 전지용 세퍼레이터를 효율 좋게 연속 생산하면서, 접착 영역의 형성량을 충분히 높은 정밀도로 특정하는 것이 가능하다.
본 발명에 의하면, 리튬 이온 이차 전지용 세퍼레이터의 제조시, 세퍼레이터 기재 상의 접착 영역의 형성량을 높은 정밀도로 특정할 수 있는 검사 방법, 및 당해 검사 방법을 이용한 리튬 이온 이차 전지용 세퍼레이터의 제조 방법을 제공할 수 있다.
도 1은 세퍼레이터 기재의 접착 영역 형성면의 SEM 화상이다.
이하, 본 발명의 실시형태에 대하여 상세하게 설명한다.
여기서, 본 발명의 검사 방법은, 세퍼레이터 기재와, 당해 세퍼레이터 기재의 표면에 형성된 접착 영역을 갖는 리튬 이온 이차 전지용 세퍼레이터를 검사하는 방법이다. 또한 본 발명의 제조 방법은, 본 발명의 검사 방법에 의한 검사를 거쳐 리튬 이온 이차 전지용 세퍼레이터를 제조하는 방법이다.
(리튬 이온 이차 전지용 세퍼레이터의 검사 방법)
본 발명의 검사 방법에서는, 세퍼레이터 기재의 표면에 존재하는 접착 영역의 형성량을, 분광 엘립소메트리에 의해 특정한다.
그리고 본 발명의 검사 방법은, 분광 엘립소메트리를 이용하고 있기 때문에, 적외 분광법 등을 이용한 종래의 검사 방법과 비교하여, 세퍼레이터 기재 표면에 있어서의 접착 영역의 형성량을 높은 정밀도로 특정할 수 있다.
<세퍼레이터 기재>
세퍼레이터 기재로는, 특별히 한정되지 않고, 리튬 이온 이차 전지의 분야에서 사용되는 기지의 세퍼레이터 기재를 사용할 수 있다. 이러한 세퍼레이터 기재로는, 미세한 구멍을 갖는 다공성 기재가 사용되며, 예를 들어, 폴리에틸렌, 폴리프로필렌 등의 폴리올레핀 수지, 방향족 폴리아미드 수지 등을 포함하는 미공막 또는 부직포 등을 들 수 있다.
또한 세퍼레이터 기재는, 적어도 일방의 표면에 내열층을 구비하고 있어도 된다. 즉, 세퍼레이터 기재로는, 상술한 다공성 기재만으로 이루어지는 기재를 사용해도 되고, 상술한 다공성 기재의 편면 또는 양면에 내열층을 구비하여 이루어지는 기재를 사용해도 된다.
한편 내열층으로는, 특별히 한정되지 않고, 리튬 이온 이차 전지의 분야에서 사용되는 기지의 내열층(예를 들어, 알루미나 등의 비도전성 입자가 내열층용 결착재에 의해 결착되어 이루어지는 층)을 사용할 수 있다.
<접착 영역>
상술한 세퍼레이터 기재의 표면에 형성되는 접착 영역은, 적어도 결착재를 포함하는 영역이다. 한편 접착 영역은, 결착재 이외의 성분을 포함하고 있어도 된다. 접착 영역에 포함되는 결착재 이외의 성분으로는, 특별히 한정되지 않지만, 접착 영역의 형성에 사용하는 도공액에 포함되는 분산 조제 등을 들 수 있다.
<<결착재>>
결착재로는, 결착능을 갖고, 또한, 전지 반응을 저해하지 않는 것이면, 특별히 한정되지 않고, 리튬 이온 이차 전지의 분야에 있어서 사용되고 있는 임의의 결착재를 사용할 수 있다. 그 중에서도, 결착재로는, 중합체로 이루어지는 결착재를 사용하는 것이 바람직하다. 한편, 접착 영역을 구성하는 결착재는, 1종류뿐이어도 되고, 2종류 이상이어도 된다.
결착재로서 사용할 수 있는 중합체로는, 특별히 한정되지 않고, 폴리불화비닐리덴, 폴리비닐리덴플루오라이드-헥사플루오로프로필렌(PVdF-HFP) 공중합체 등의 불소계 중합체; 스티렌-부타디엔 공중합체(SBR), 아크릴로니트릴-부타디엔 공중합체(NBR) 등의 공액 디엔계 중합체; 공액 디엔계 중합체의 수소화물; (메트)아크릴산알킬에스테르 단량체 단위를 포함하는 중합체(아크릴계 중합체); 폴리비닐알코올(PVA) 등의 폴리비닐알코올계 중합체; 등을 들 수 있다.
한편, 본 발명에 있어서, 「(메트)아크릴산」이란, 아크릴산 및/또는 메타크릴산을 의미한다.
그리고, 중합체로 이루어지는 결착재의 형상은, 특별히 한정되지 않고, 입자상이어도 되고, 비입자상이어도 되며, 입자상과 비입자상의 조합이어도 된다.
한편, 중합체로 이루어지는 결착재가 입자상 결착재인 경우, 당해 입자상 결착재는, 단일의 중합체로 형성된 단일상 구조의 입자여도 되고, 서로 다른 2개 이상의 중합체가 물리적 또는 화학적으로 결합하여 형성된 이상(異相) 구조의 입자여도 된다. 여기서, 이상 구조의 구체예로는, 구상의 입자로서 중심부(코어부)와 외각부(쉘부)가 다른 중합체로 형성되어 있는 코어쉘 구조; 2개 이상의 중합체가 병치된 구조인 사이드 바이 사이드 구조; 등을 들 수 있다. 한편, 본 발명에 있어서, 「코어쉘 구조」에는, 코어부의 외표면을 쉘부가 완전히 덮는 구조 외에도, 코어부의 외표면을 쉘부가 부분적으로 덮는 구조도 포함되는 것으로 한다. 그리고, 본 발명에서는, 외관상, 코어부의 외표면이 쉘부에 의해 완전히 덮여 있는 것처럼 보이는 경우라도, 쉘부의 내외를 연통하는 구멍이 형성되어 있으면, 그 쉘부는 코어부의 외표면을 부분적으로 덮는 쉘부로 한다.
여기서, 코어쉘 구조를 갖는 중합체는, 유리 전이 온도가, 예를 들어, 25℃ 이상인 것이 바람직하고, 40℃ 이상인 것이 보다 바람직하고, 45℃ 이상인 것이 더욱 바람직하며, 105℃ 이하인 것이 바람직하고, 85℃ 이하인 것이 보다 바람직하고, 65℃ 이하인 것이 더욱 바람직하다. 코어쉘 구조를 갖는 중합체의 유리 전이 온도가 25℃ 이상이면, 세퍼레이터를 전극과 양호하게 접착시킬 수 있고, 105℃ 이하이면, 리튬 이온 이차 전지의 전지 특성을 향상시킬 수 있다.
한편, 본 발명에 있어서, 유리 전이 온도는, 실시예에 기재된 방법을 이용하여 측정할 수 있다.
상술한 코어쉘 구조를 갖는 중합체로는, 특별히 한정되지 않지만, 예를 들어 국제 공개 제2020/040031호에 기재된 것을 사용할 수 있다.
<<접착 영역의 성상>>
접착 영역이 결착재로서 입자상 결착재를 포함하는 경우, 입자상 결착재의 평균 직경은, 0.1 μm 이상인 것이 바람직하고, 0.5 μm 이상인 것이 보다 바람직하며, 5 μm 이하인 것이 바람직하다. 접착 영역을 상술한 평균 직경을 갖는 미세한 입자상 결착재로 구성하면, 세퍼레이터를 전극과 양호하게 접착시키면서, 리튬 이온 이차 전지의 전지 특성을 향상시킬 수 있다. 덧붙여 본 발명의 검사 방법에 의하면, 접착 영역이 상술한 평균 직경을 갖는 미세한 입자상 결착재로 구성되는 경우라도, 접착 영역의 형성량을 충분히 높은 정밀도로 특정할 수 있다.
또한, 접착 영역은, 세퍼레이터 기재의 형성면 전체면에 배치되어 있어도 되지만, 1 또는 복수의 평면시 섬 모양의 영역으로 구성되어 있는 것이 바람직하다. 접착 영역을 1 또는 복수의 평면시 섬 모양의 영역으로 구성하면, 세퍼레이터를 전극과 양호하게 접착시키면서, 접착 영역의 형성량을 저감하여 리튬 이온 이차 전지의 전지 특성을 향상시킬 수 있다. 또한 본 발명의 검사 방법에 의하면, 접착 영역이 1 또는 복수의 평면시 섬 모양의 영역으로 구성되는 경우라도, 접착 영역의 형성량을 충분히 높은 정밀도로 특정할 수 있다.
그리고, 접착 영역이, 세퍼레이터 기재의 형성면에서 차지하는 비율(접착 영역의 점유 면적 비율)은, 형성면 전체의 면적을 100 면적%로 하여, 5 면적% 이상인 것이 바람직하고, 10 면적% 이상인 것이 보다 바람직하고, 20 면적% 이상인 것이 더욱 바람직하며, 80 면적% 이하인 것이 바람직하고, 60 면적% 이하인 것이 보다 바람직하다. 접착 영역의 점유 면적 비율이 5 면적% 이상이면, 접착 영역의 형성량을 충분히 높은 정밀도로 특정하면서 세퍼레이터를 전극과 양호하게 접착시킬 수 있다. 한편, 접착 영역의 점유 면적 비율이 80 면적% 이하이면, 접착 영역의 형성량을 저감하여 리튬 이온 이차 전지의 전지 특성을 향상시킬 수 있다.
한편, 본 발명에 있어서, 접착 영역 형성면에 있어서의 접착 영역의 점유 면적 비율은, 당해 형성면의 SEM 화상으로부터 산출할 수 있다.
한편, 도 1은, 세퍼레이터 기재의 접착 영역 형성면의 SEM 화상이다. 이 접착 영역 형성면에서는, 결착재가 입자상 결착재이고, 접착 영역은, 입자상 결착재가 집합하여 이루어지는 복수의 평면시 섬 모양의 영역으로 구성되어 있다.
여기서, 접착 영역의 형성량은, 0.02 g/m2 이상인 것이 바람직하고, 0.05 g/m2 이상인 것이 보다 바람직하며, 0.6 g/m2 이하인 것이 바람직하고, 0.4 g/m2 이하인 것이 보다 바람직하다. 접착 영역의 형성량이 상술한 범위 내이면, 세퍼레이터를 전극과 양호하게 접착시키면서, 접착 영역의 형성량을 저감하여 리튬 이온 이차 전지의 전지 특성을 향상시킬 수 있다. 또한 본 발명의 검사 방법에 의하면, 접착 영역의 형성량이 상술한 범위 내로 단위 면적당 질량이 작은 경우라도, 접착 영역의 형성량을 충분히 높은 정밀도로 특정할 수 있다.
<분광 엘립소메트리에 의한 측정>
본 발명의 리튬 이온 이차 전지용 세퍼레이터의 검사 방법에서는, 세퍼레이터 기재의 접착 영역 형성면에, 입사광으로서 백색광의 직선 편광을 조사하여 반사광의 편향 상태의 변화를 측정하는 분광 엘립소메트리에 의한 측정을 실시한다.
분광 엘립소메트리에 의한 측정에 있어서 사용하는 입사광은, p편광 성분과 s편광 성분의 진폭과 위상이 일치한 직선 편광이다. 이 직선 편광을 접착 영역 형성면에 조사하면, 조사된 부분의 상태로부터 광의 간섭 정도나 굴절률(예를 들어, 접착재가 아크릴계 중합체인 경우, 굴절률은 약 1.6이다.)이 다르기 때문에, 반사광에 있어서는, p편광 성분과 s편광 성분에 있어서 진폭과 위상이 일치하지 않고 타원 편광이 된다.
이 편광 상태의 변화(진폭차 및 위상차)로부터, 조사된 부분의 세퍼레이터 기재 표면을 기준으로 한 변위(두께)가 도출되고, 상세하게는 실시예에 기재된 방법에 의해 접착 영역의 형성량을 어림할 수 있다.
백색광은, 접착 영역의 형성량을 충분히 높은 정밀도로 특정하는 관점에서, 크세논 램프가 발하는 광(파장은 예를 들어 185 nm~2,000 nm의 범위 내)인 것이 바람직하다.
또한, 상술한 분광 엘립소메트리에 의한 측정에는, 기지의 분광 엘립소미터를 사용할 수 있다.
분광 엘립소메트리에 의해 접착 영역의 형성량을 특정하는 본 발명의 검사 방법에 의하면, 상술한 적외 분광법에 의한 검사 방법과는 달리, 접착 영역을 구성하는 결착재의 종류나 형성량에 상관없이, 높은 정밀도로의 검사가 가능해진다.
덧붙여, 본 발명의 검사 방법에 의하면, 분광 엘립소메트리를 채용하고 있기 때문에, 리튬 이온 이차 전지용 세퍼레이터를 반송하면서의 검사가 가능해진다. 예를 들어, 리튬 이온 이차 전지용 세퍼레이터 및/또는 적층체의 연속된 제조 과정에 있어서, 장척의 리튬 이온 이차 전지용 세퍼레이터를 길이 방향으로 반송하면서, 검사를 행하는 것이 가능하다.
(리튬 이온 이차 전지용 세퍼레이터의 제조 방법)
본 발명의 리튬 이온 이차 전지용 세퍼레이터의 제조 방법은, 결착재와 용매를 포함하는 도공액을 세퍼레이터 기재의 적어도 일방의 표면에 도공하는 공정(도공 공정)과, 도공된 세퍼레이터 기재 상의 도공액을 건조하여, 접착 영역을 형성하는 공정(건조 공정)과, 접착 영역의 형성량을 특정하는 공정(검사 공정)을 구비하고, 검사 공정에 있어서, 상술한 본 발명의 리튬 이온 이차 전지용 세퍼레이터의 검사 방법을 이용한다.
그리고, 본 발명의 제조 방법은, 분광 엘립소메트리를 이용한 검사를 거치는 본 발명의 검사 방법을 실시하기 때문에, 접착 영역의 형성량을 소기량에 가깝게 하기 위하여, 검사 결과에 입각하여 각종 제조 조건(예를 들어, 도공액의 고형분 농도나 도공 조건)을 조정하는 것이 가능하다는 이점이 있다.
덧붙여, 본 발명의 제조 방법에서 채용하는 분광 엘립소메트리에 의한 검사는, 상술한 바와 같이 리튬 이온 이차 전지용 세퍼레이터를 반송하면서 행할 수 있기 때문에, 도공 공정, 건조 공정, 및 검사 공정을 하나의 라인에서 실시하는 인라인 생산에 의한 세퍼레이터의 제조가 가능해진다. 그리고 이러한 일련의 과정에 있어서, 검사 공정에서 얻어진 검사 결과를 즉시 피드백하여, 상술한 도공액의 고형분 농도나 도공 조건(그라비아 롤의 종류 변경 등)의 조정을 신속하게 행할 수 있다.
<도공액>
도공액은, 결착재가 용매에 용해 및/또는 분산되어 이루어지는 액상 조성물이다. 여기서 도공액은, 결착재 및 용매 이외의 성분을 포함하고 있어도 된다. 결착재 및 용매 이외의 성분으로는, 예를 들어, 분산 조제가 바람직하다. 도공액이 분산 조제를 포함함으로써, 당해 도공액을 균일하게 또한 고속으로 세퍼레이터 기재 표면에 도공할 수 있다.
결착재로는, 「리튬 이온 이차 전지용 세퍼레이터의 검사 방법」의 항에서 상술한, 접착 영역을 구성하는 결착재를 사용한다.
용매로는, 결착재를 용해 및/또는 분산 가능하면 특별히 한정되지 않고, 물, 유기 용매를 어느 것이나 사용할 수 있다. 한편, 유기 용매로는, 특별히 한정되지 않고, 시클로펜탄, 시클로헥산 등의 고리형 지방족 탄화수소류; 톨루엔, 크실렌 등의 방향족 탄화수소류; 에틸메틸케톤, 시클로헥산온 등의 케톤류; 아세트산에틸, 아세트산부틸, γ-부티로락톤, ε-카프로락톤 등의 에스테르류; 아세토니트릴, 프로피오니트릴 등의 니트릴류; 테트라하이드로푸란, 에틸렌글리콜디에틸에테르 등의 에테르류; 메탄올, 에탄올, 이소프로판올, 에틸렌글리콜, 에틸렌글리콜모노메틸에테르 등의 알코올류; 등을 들 수 있다. 한편 용매는, 1종류를 단독으로 사용해도 되고, 2종류 이상을 조합하여 사용해도 된다.
도공액이 임의로 함유할 수 있는 분산 조제로는, 예를 들어, 도데실벤젠술폰산나트륨, 도데실황산나트륨 등의 음이온성 계면 활성제; 폴리옥시에틸렌노닐페닐에테르, 소르비탄모노라우레이트 등의 비이온성 계면 활성제; 옥타데실아민아세트산염 등의 양이온성 계면 활성제;를 들 수 있다. 이들 분산 조제는, 1종류를 단독으로 사용해도 되고, 2종류 이상을 조합하여 사용해도 된다. 그리고 이들 중에서도, 음이온성 계면 활성제가 바람직하고, 도데실벤젠술폰산나트륨이 보다 바람직하다.
또한, 도공액 중의 분산 조제의 함유량은, 특별히 한정되지 않지만, 도공액의 균일 또한 고속의 도공을 한층 더 양호하게 행하는 관점에서, 결착재 100 질량부당 0.1 질량부 이상인 것이 바람직하고, 0.5 질량부 이상인 것이 보다 바람직하며, 3 질량부 이하인 것이 바람직하고, 2 질량부 이하인 것이 보다 바람직하다.
도공액은, 고형분 농도가 1 질량% 이상인 것이 바람직하고, 2 질량% 이상인 것이 보다 바람직하고, 5 질량% 이상인 것이 더욱 바람직하며, 40 질량% 이하인 것이 바람직하고, 30 질량% 이하인 것이 보다 바람직하고, 20 질량% 이하인 것이 더욱 바람직하다. 도공액의 고형분 농도가 1 질량% 이상이면, 후술하는 건조 공정에 있어서의 건조 효율을 확보할 수 있고, 40 질량% 이하이면, 당해 도공액의 점도가 과도하게 높아지지도 않아서, 취급이 용이해진다.
한편, 도공액의 조제 방법은 특별히 한정되지 않고, 도공액은, 결착재와 용매를 기지의 방법으로 혼합함으로써 조제할 수 있다.
<도공 공정>
도공 공정에서는, 상술한 도공액을 세퍼레이터 기재의 편면 또는 양면에 도공한다. 도공액을 세퍼레이터 기재의 표면에 도공하는 방법은, 특별히 한정되지 않고, 예를 들어, 잉크젯법, 스프레이법, 디스펜서법, 그라비아 코팅법, 스크린 인쇄법 등의 기지의 방법을 이용하여 행할 수 있다.
또한, 도공액의 도공 속도는, 특별히 한정되지 않지만, 예를 들어, 2 m/분 이상 300 m/분 이하의 범위 내로 할 수 있다. 도공 속도가 상술한 범위 내로 고속이라도, 본 발명의 제조 방법에서는, 리튬 이온 이차 전지용 세퍼레이터를 효율 좋게 연속 생산하면서, 접착 영역의 형성량을 충분히 높은 정밀도로 특정하는 것이 가능하다.
<건조 공정>
건조 공정에서는, 도공 공정에서 세퍼레이터 기재 상에 도공된 도공액을 건조하여 용매를 제거하고, 세퍼레이터 기재 상에 접착 영역을 형성한다. 세퍼레이터 기재 상의 도공액을 건조하는 방법으로는, 특별히 한정되지 않고, 기지의 건조 방법을 이용할 수 있다. 한편, 바람 건조에 의해 건조를 행하는 경우에는, 예를 들어, 풍속을 0.1 m/분 이상 3 m/분 이하, 건조 온도를 30℃ 이상 80℃ 이하로 설정하는 것이 바람직하다.
<검사 공정>
검사 공정에서는, 건조 공정에서 세퍼레이터 기재 상에 형성된 접착 영역의 형성량을, 상술한 본 발명의 리튬 이온 이차 전지용 세퍼레이터의 검사 방법을 이용하여 특정한다.
한편, 본 발명의 리튬 이온 이차 전지용 세퍼레이터의 제조 방법으로 얻어지는 세퍼레이터를, 동일한 라인에서 연속해서 전극과 접착시켜, 적층체를 제조할 수도 있다.
[실시예]
이하, 본 발명에 대하여 실시예에 기초하여 구체적으로 설명하는데, 본 발명은 이들 실시예에 한정되는 것은 아니다. 한편, 이하의 설명에 있어서, 양을 나타내는 「%」 및 「부」는, 특별히 언급하지 않는 한, 질량 기준이다.
그리고 실시예에 있어서, 결착재의 유리 전이 온도는 하기의 방법으로 측정하고, 접착 영역의 형성량 특정 정밀도는, 하기의 방법으로 평가하였다.
<결착재의 유리 전이 온도>
조제한 결착재를 포함하는 수분산액을, 각각 온도 25℃에서 48시간 건조하고, 얻어진 분말을 측정용 시료로 하였다.
그리고, 측정용 시료 10 mg을 알루미늄 팬에 계량하고, 시차 열 분석 측정 장치(에스아이아이·나노테크놀로지사 제조, 제품명 「EXSTAR DSC6220」)로, 측정 온도 범위 -100℃~200℃ 사이에서, 승온 속도 20℃/분으로, JIS Z8703에 규정된 조건 하에서 측정을 실시하여, 시차 주사 열량 분석(DSC) 곡선을 얻었다. 레퍼런스로는, 빈 알루미늄 팬을 사용하였다. 이 승온 과정에서, 미분 신호(DDSC)가 피크를 나타내는 온도를 유리 전이 온도(℃)로서 구하였다. 한편, 피크가 복수 측정되었을 때에는, 가장 변위가 큰 피크가 나타내는 온도를 결착재의 유리 전이 온도로 하였다.
<접착 영역의 형성량 특정 정밀도>
분광 엘립소메트리 등에 의한 측정으로 특정한 접착 영역의 형성량(어림량)을 X g/m2, 분광 엘립소메트리 등에 의한 측정 후에 중량 측정으로 특정한 접착 영역의 형성량(실제의 양)을 Y g/m2로 하여, 특정 정밀도를 식: 특정 정밀도(%) = 100 - |X - Y|/Y × 100으로 산출하였다. 얻어진 특정 정밀도를 하기의 기준으로 평가하였다.
A: 특정 정밀도가 95% 이상 100% 이하
B: 특정 정밀도가 90% 이상 95% 미만
C: 특정 정밀도가 85% 이상 90% 미만
D: 특정 정밀도가 85% 미만
(실시예 1)
<결착재 및 도공액의 조제>
코어부의 형성에 있어서, 교반기 장착 5 MPa 내압 용기에, (메트)아크릴산알킬에스테르 단량체로서의 메틸메타크릴레이트 38.5 부 및 n-부틸아크릴레이트 28.6 부, 가교성 단량체로서의 알릴메타크릴레이트 0.1 부, 산성기 함유 단량체로서의 메타크릴산 2.8 부, 유화제(분산 조제)로서의 도데실벤젠술폰산나트륨 1 부, 이온 교환수 150 부, 그리고 중합 개시제로서의 과황산칼륨 0.5 부를 넣고, 충분히 교반한 후, 60℃로 가온하여 중합을 개시하였다. 중합 전화율이 96%가 될 때까지 중합을 계속시킴으로써, 코어부를 구성하는 입자상의 중합체를 포함하는 수분산액을 얻었다. 이어서, 중합 전화율이 96%가 된 시점에서, 쉘부를 형성하기 위하여, 방향족 모노비닐 단량체로서의 스티렌 29.5 부, 및 산성기 함유 단량체로서의 메타크릴산 0.5 부를 연속 첨가하고, 70℃로 가온하여 중합을 계속하고, 전화율이 96%가 된 시점에서, 냉각하여 반응을 정지시켜, 결착재(코어쉘 구조를 갖는 중합체)와, 분산 조제로서의 도데실벤젠술폰산나트륨을 포함하는 분산액을 얻었다. 한편, 결착재의 유리 전이 온도는 45℃였다.
얻어진 분산액에 이온 교환수를 첨가하여, 고형분 농도가 5%인 도공액을 얻었다.
<세퍼레이터 기재의 준비>
세퍼레이터 기재로서, 폴리프로필렌(PP)제의 미공막(제품명 「셀가드 2500」)을 준비하였다.
<도공 공정 및 건조 공정>
상기 세퍼레이터 기재를 반송하면서, 세퍼레이터 기재의 일방의 표면에 대하여 상기 도공액을 도공하였다. 한편 도공은, 그라비아 코팅법을 이용하여, 도공 속도 5 m/분으로 행하였다.
그리고 세퍼레이터 기재를 반송하면서, 도공액을 도공한 면을 바람 건조(건조 온도: 60℃, 풍속: 1 m/분)하여, 세퍼레이터 기재의 편면에 접착 영역이 형성된 세퍼레이터를 얻었다. 한편 접착 영역은, 평균 직경이 0.5 μm인 입자상 결착재로 이루어지고, 당해 입자상 결착재가 집합하여 이루어지는 복수의 평면시 섬 모양의 영역으로 구성되어 있었다. 또한, 형성면에 있어서의 접착 영역의 점유 면적 비율은 40 면적%였다.
<검사 공정>
하기의 사전 준비를 행하고, 나아가서는 하기 순서로 접착 영역의 형성량 X(g/m2)를 특정하고, 당해 형성량 X와, 별도 중량 측정으로 특정한 접착 영역의 형성량 Y(g/m2)를 이용하여 상술한 형성량 특정 정밀도의 평가를 행하였다. 결과를 표 1에 나타낸다. 한편, 중량 측정으로 특정되는 접착 영역의 형성량(Y)은 0.05 g/m2였다.
<<사전 준비>>
(1) 세퍼레이터 기재의 편측 전체면에 두께가 균일한 접착 영역을 형성한 검량선 작성용 샘플을 4개 준비하였다. 이 4개의 샘플은, 중량 측정으로 특정되는 접착 영역의 형성량이, 각각 0.05 g/m2, 0.1 g/m2, 0.4 g/m2, 0.6 g/m2였다.
(2) 얻어진 4개의 검량선 작성용 샘플에 있어서의 접착 영역의 두께를 세로축, 중량 측정으로 특정된 접착 영역의 형성량을 가로축으로서 플롯하고, 두께와 형성량의 관계를 나타내는 검량선을 최소 제곱법에 의해 얻었다.
<<형성량 X의 특정 순서>>
상기의 도공 공정 및 건조 공정을 거쳐 얻어진 세퍼레이터(세퍼레이터 기재의 편면에 접착 영역이 형성되어 있음)에 대하여, 하기의 검사 조건으로 분광 엘립소메트리를 실시하고, 접착 영역의 형성면에 있어서의, 세퍼레이터 기재 표면을 기준으로 한 세퍼레이터 표면(즉, 접착 영역이 형성된 개소는 접착 영역의 표면, 접착 영역이 형성되지 않은 개소는 세퍼레이터 기재의 표면)의 변위의 평균값 H를 특정하였다. 이 평균값 H를, 상기 「사전 준비」에서 얻어진 검량선의 두께(세로축)로 하여 대응하는 형성량(가로축)을 특정하고, 이것을 형성량 X로 하였다.
-검사 조건-
측정 장치: 분광 엘립소미터(호리바 제작소 제조, 제품명 「UVISEL Plus」)
백색 광원: 크세논 램프
측정 대상으로 한 편광 상태의 변화: 진폭차 및 위상차
(실시예 2~4)
도공 공정시, 도공하는 영역의 위치 및 면적은 변경하지 않고 도공액의 도공량을 변경하여, 중량 측정으로 특정되는 접착 영역의 형성량(Y)을 각각 0.1 g/m2(실시예 2), 0.4 g/m2(실시예 3), 0.6 g/m2(실시예 4)로 조정한 것 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여, 결착재 및 도공액을 조제하고, 세퍼레이터 기재를 준비하고, 그리고 도공 공정, 건조 공정 및 검사 공정을 실시하고, 평가를 행하였다. 결과를 표 1에 나타낸다.
(실시예 5)
하기와 같이 하여 준비한 내열층을 구비하는 세퍼레이터 기재를 사용한 것 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여, 결착재 및 도공액을 조제하고, 그리고 도공 공정, 건조 공정 및 검사 공정을 실시하고, 평가를 행하였다. 결과를 표 1에 나타낸다. 한편, 세퍼레이터 기재의 내열층을 구비하는 측의 면을, 접착 영역 형성면으로 하였다.
<세퍼레이터 기재의 준비>
<<내열층용 결착재의 조제>>
교반기를 구비한 반응기에, 이온 교환수 70 부, 유화제로서 라우릴황산나트륨(카오 케미컬사 제조, 「에말 2F」) 0.15 부, 및 중합 개시제로서 과황산암모늄 0.5 부를 공급하고, 기상부를 질소 가스로 치환하고, 60℃로 승온하였다. 한편, 다른 용기에 이온 교환수 50 부, 유화제로서 도데실벤젠술폰산나트륨 0.8 부, 그리고 (메트)아크릴로니트릴 단량체로서 아크릴로니트릴 2 부, (메트)아크릴산에스테르 단량체로서 부틸아크릴레이트 93.8 부, 산성기 함유 단량체로서 메타크릴산 2 부, 가교성 단량체로서 알릴글리시딜에테르 1 부 및 N-메틸올아크릴아미드 1.2 부, 그리고 킬레이트제로서 에틸렌디아민4아세트산나트륨 4수화물(킬레스트사 제조, 「킬레스트 400G」) 0.15 부를 혼합하여, 단량체 조성물을 얻었다. 이 단량체 조성물을 4시간에 걸쳐 상기 반응기에 연속적으로 첨가하여, 중합을 행하였다. 첨가 중에는, 60℃에서 반응을 행하였다. 첨가의 종료 후, 70℃에서 3시간 더 교반하고 나서 반응을 종료하고, 내열층용 결착재(아크릴계 중합체)의 수분산액을 조제하였다.
한편, 본 발명에 있어서, 「(메트)아크릴로」는 아크릴로 및/또는 메타크릴로를 의미한다.
<<내열층의 형성>>
비도전성 입자로서의 알루미나 100 부와, 상기 내열층용 결착재의 수분산액을 13.3 부(내열층용 결착재의 양으로 6 부)를 혼합하여, 내열층용 조성물을 얻었다.
폴리프로필렌(PP)제의 미공막(제품명 「셀가드 2500」)의 편면 전체면에 내열층용 조성물을 도포하고, 50℃에서 3분간 건조시켰다. 이에 의해, 미다공막의 편면에 내열층을 구비하여 이루어지는 세퍼레이터 기재를 얻었다.
(실시예 6~8)
도공 공정시, 도공하는 영역의 면적은 변경하지 않고 도공액의 도공량을 변경하여, 중량 측정으로 특정한 접착 영역의 형성량(Y)을 각각 0.1 g/m2(실시예 6), 0.4 g/m2(실시예 7), 0.6 g/m2(실시예 8)로 조정한 것 이외에는, 실시예 5와 동일하게 하여, 결착재 및 도공액을 조제하고, 세퍼레이터 기재를 준비하고, 그리고 도공 공정, 건조 공정 및 검사 공정을 실시하고, 평가를 행하였다. 결과를 표 1에 나타낸다.
(실시예 9~12)
결착재의 조제시, 중합 개시제로서의 과황산칼륨의 양을 변경하여, 접착 영역을 형성하는 입자상 결착재의 평균 직경을 각각 0.1 μm, 1 μm, 2 μm, 5 μm로 한 것 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여, 결착재 및 도공액을 조제하고, 세퍼레이터 기재를 준비하고, 그리고 도공 공정, 건조 공정 및 검사 공정을 실시하고, 평가를 행하였다. 결과를 표 1에 나타낸다.
(실시예 13~16)
도공 공정시, 도공액의 도공량을 변경하지 않고 도공하는 영역의 면적을 변경하여, 형성면에 있어서의 접착 영역의 점유 면적 비율을 각각 10 면적%, 20 면적%, 60 면적%, 100 면적%로 조정한 것 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여, 결착재 및 도공액을 조제하고, 세퍼레이터 기재를 준비하고, 그리고 도공 공정, 건조 공정 및 검사 공정을 실시하고, 평가를 행하였다. 결과를 표 1에 나타낸다.
(비교예 1~2)
분광 엘립소메트리를 이용하는 검사 공정 대신에, 하기와 같은 검사 공정(적외 분광법)을 실시하여 접착 영역의 형성량 X(g/m2)를 특정한 것 이외에는, 각각 실시예 1~2와 동일하게 하여, 결착재 및 도공액을 조제하고, 세퍼레이터 기재를 준비하고, 그리고 도공 공정 및 건조 공정을 실시하고, 평가를 행하였다. 결과를 표 1에 나타낸다.
<검사 공정>
하기의 사전 준비를 행하고, 나아가서는 하기 순서로 접착 영역의 형성량 X(g/m2)를 특정하고, 당해 형성량 X와, 별도 중량 측정으로 특정한 접착 영역의 형성량 Y(g/m2)를 이용하여 상술한 형성량 특정 정밀도의 평가를 행하였다. 결과를 표 1에 나타낸다. 한편, 중량 측정으로 특정되는 접착 영역의 형성량(Y)은 각각, 0.05 g/m2(비교예 1), 0.1 g/m2(비교예 2)였다.
<<사전 준비>>
(1) 세퍼레이터 기재의 편측 전체면에 두께가 균일한 접착 영역을 형성한 검량선 작성용 샘플을 4개 준비하였다. 이 4개의 샘플은, 중량 측정으로 특정되는 접착 영역의 형성량이, 각각 0.05 g/m2, 0.1 g/m2, 0.4 g/m2, 0.6 g/m2였다.
(2) 얻어진 4개의 검량선 작성용 샘플에 대하여, 중간 적외 막두께계(KURABO 제조, 제품명 「RX-410」)를 사용하여 카르보닐기의 흡수 피크를 세로축, 중량 측정으로 특정된 접착 영역의 형성량을 가로축으로서 플롯하고, 카르보닐기의 흡수 피크와 형성량의 관계를 나타내는 검량선을 최소 제곱법에 의해 얻었다.
<<형성량 X의 특정 순서>>
실시예 1~2와 동일한 도공 공정 및 건조 공정을 거쳐 얻어진 비교예 1~2의 세퍼레이터(세퍼레이터 기재의 편면에 접착 영역이 형성되어 있음)에 대하여, 각각 상기 중간 적외 막두께계를 사용하여 카르보닐기의 흡수 피크 P를 특정하였다. 이 P의 값을, 상기 「사전 준비」에서 얻어진 검량선의 흡수 피크(세로축)로 하여 대응하는 형성량(가로축)을 특정하고, 이것을 형성량 X로 하였다.
(비교예 3~6)
분광 엘립소메트리를 이용하는 검사 공정 대신에, 하기와 같은 검사 공정(광 간섭법)을 실시하여 접착 영역의 형성량 X(g/m2)를 특정한 것 이외에는, 각각 실시예 1~4와 동일하게 하여, 결착재 및 도공액을 조제하고, 세퍼레이터 기재를 준비하고, 그리고 도공 공정 및 건조 공정을 실시하고, 평가를 행하였다. 결과를 표 1에 나타낸다. 한편, 중량 측정으로 특정되는 접착 영역의 형성량(Y)은 각각, 0.05 g/m2(비교예 3), 0.1 g/m2(비교예 4), 0.4 g/m2(비교예 5), 0.6 g/m2(비교예 6)였다.
<검사 공정>
실시예 1~4와 동일한 도공 공정 및 건조 공정을 거쳐 얻어진 비교예 3~6의 세퍼레이터(세퍼레이터 기재의 편면에 접착 영역이 형성되어 있음)에 대하여, 각각 광 간섭식 막두께계(FILMETRICS 제조, 제품명 「F20 막두께 측정 시스템」 측정 파장 범위: 190-1100 nm)를 사용하여, 접착 영역의 평균 두께 T를 측정하였다. 이 평균 두께 T를, 상기 실시예 1~4의 각각과 동일하게 하여 얻어진 검량선의 두께(세로축)로 하여 대응하는 형성량(가로축)을 특정하고, 이것을 형성량 X로 하였다.
표 1로부터, 분광 엘립소메트리에 의한 검사를 행한 실시예 1~16에서는, 세퍼레이터 기재 상의 접착 영역의 형성량을 높은 정밀도로 특정할 수 있는 것을 알 수 있다. 한편, 적외 분광법에 의한 검사를 행한 비교예 1~2, 광 간섭법에 의한 검사를 행한 비교예 3~6에서는, 세퍼레이터 기재 상의 접착 영역의 형성량을 높은 정밀도로 특정할 수 없는 것을 알 수 있다.
본 발명에 의하면, 리튬 이온 이차 전지용 세퍼레이터의 제조시, 세퍼레이터 기재 상의 접착 영역의 형성량을 높은 정밀도로 특정할 수 있는 검사 방법, 및 당해 검사 방법을 이용한 리튬 이온 이차 전지용 세퍼레이터의 제조 방법을 제공할 수 있다.
Claims (10)
- 세퍼레이터 기재의 적어도 일방의 표면에, 결착재로 이루어지는 접착 영역이 형성된 리튬 이온 이차 전지용 세퍼레이터의 검사 방법으로서,
상기 접착 영역이 형성된 상기 세퍼레이터 기재의 표면에, 입사광으로서 백색광의 직선 편광을 조사하여 반사광의 편향 상태의 변화를 측정하는 분광 엘립소메트리에 의해, 상기 접착 영역의 형성량을 특정하는 공정을 구비하는, 리튬 이온 이차 전지용 세퍼레이터의 검사 방법. - 제1항에 있어서,
상기 접착 영역은 평균 직경이 0.1 μm 이상 5 μm 이하인 입자상 결착재로 이루어지는, 리튬 이온 이차 전지용 세퍼레이터의 검사 방법. - 제1항 또는 제2항에 있어서,
상기 접착 영역이 1 또는 복수의 평면시 섬 모양의 영역으로 구성되는, 리튬 이온 이차 전지용 세퍼레이터의 검사 방법. - 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 접착 영역의 형성량이 0.02 g/m2 이상 0.6 g/m2 이하인, 리튬 이온 이차 전지용 세퍼레이터의 검사 방법. - 제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 백색광은 크세논 램프가 발하는 광인, 리튬 이온 이차 전지용 세퍼레이터의 검사 방법. - 제1항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서,
장척의 상기 리튬 이온 이차 전지용 세퍼레이터를 길이 방향으로 반송하면서, 상기 분광 엘립소메트리에 의한 측정을 행하는, 리튬 이온 이차 전지용 세퍼레이터의 검사 방법. - 리튬 이온 이차 전지용 세퍼레이터의 제조 방법으로서,
상기 결착재와 용매를 포함하는 도공액을 상기 세퍼레이터 기재의 적어도 일방의 표면에 도공하는 공정과,
도공된 상기 세퍼레이터 기재 상의 상기 도공액을 건조하여, 상기 접착 영역을 형성하는 공정과,
상기 접착 영역의 형성량을, 제1항 내지 제6항 중 어느 한 항에 기재된 리튬 이온 이차 전지용 세퍼레이터의 검사 방법을 이용하여 특정하는 공정
을 구비하는, 리튬 이온 이차 전지용 세퍼레이터의 제조 방법. - 제7항에 있어서,
상기 도공액이 분산 조제를 더 포함하는, 리튬 이온 이차 전지용 세퍼레이터의 제조 방법. - 제7항 또는 제8항에 있어서,
상기 도공액의 고형분 농도가 1 질량% 이상 40 질량% 이하인, 리튬 이온 이차 전지용 세퍼레이터의 제조 방법. - 제7항 내지 제9항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 도공액의 도공 속도가 2 m/분 이상 300 m/분 이하인, 리튬 이온 이차 전지용 세퍼레이터의 제조 방법.
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