KR20230102424A - 표시 장치 - Google Patents

표시 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR20230102424A
KR20230102424A KR1020210192533A KR20210192533A KR20230102424A KR 20230102424 A KR20230102424 A KR 20230102424A KR 1020210192533 A KR1020210192533 A KR 1020210192533A KR 20210192533 A KR20210192533 A KR 20210192533A KR 20230102424 A KR20230102424 A KR 20230102424A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
disposed
layer
wiring
patterns
switching transistor
Prior art date
Application number
KR1020210192533A
Other languages
English (en)
Inventor
조성희
김유훈
지문배
박원서
신승현
강민규
강진수
Original Assignee
엘지디스플레이 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 엘지디스플레이 주식회사 filed Critical 엘지디스플레이 주식회사
Priority to KR1020210192533A priority Critical patent/KR20230102424A/ko
Publication of KR20230102424A publication Critical patent/KR20230102424A/ko

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/02Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
    • H01L27/12Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body
    • H01L27/1214Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs
    • H01L27/124Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs with a particular composition, shape or layout of the wiring layers specially adapted to the circuit arrangement, e.g. scanning lines in LCD pixel circuits
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/62Arrangements for conducting electric current to or from the semiconductor body, e.g. lead-frames, wire-bonds or solder balls

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)

Abstract

본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치는 연신 가능한 하부 기판 및 하부 기판 상에 배치되고, 복수의 판 패턴과 복수의 배선 패턴으로 구성되는 패턴층 및 복수의 판 패턴 각각의 상부에 배치되는 복수의 화소를 포함하고, 복수의 화소 각각은 빛을 발광하는 발광 소자와 복수의 화소 각각의 높이를 제어하는 기계 소자를 구비하여, 시각 디스플레이와 촉각 디스플레이를 동시에 구현할 수 있다.

Description

표시 장치{DISPLAY DEVICE}
본 발명은 표시 장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 연신 가능한 스트레쳐블 표시 장치에 관한 것이다.
컴퓨터의 모니터나 TV, 핸드폰 등에 사용되는 표시 장치에는 스스로 광을 발광하는 유기 발광 표시 장치(Organic Light Emitting Display; OLED) 등과 별도의 광원을 필요로 하는 액정 표시 장치(Liquid Crystal Display; LCD)등이 있다.
표시 장치는 컴퓨터의 모니터 및 TV 뿐만 아니라 개인 휴대 기기까지 그 적용 범위가 다양해지고 있으며, 넓은 표시 면적을 가지면서도 감소된 부피 및 무게를 갖는 표시 장치에 대한 연구가 진행되고 있다.
또한, 최근에는 플렉서블(flexible) 소재인 플라스틱 등과 같이 유연성 있는 기판에 표시부, 배선 등을 형성하여, 특정 방향으로 신축이 가능하고 다양한 형상으로 변화가 가능하게 제조되는 표시 장치가 차세대 표시 장치로 주목받고 있다.
본 발명에서 해결하고자 하는 과제는 촉각 정보를 구현할 수 있는 표시 장치를 제공하는 것이다.
본 발명에서 해결하고자 하는 다른 과제는 복수의 화소 각각을 돌출시킬 수 있는 표시 장치를 제공하는 것이다.
본 발명의 과제들은 이상에서 언급한 과제들로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 과제들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
전술한 바와 같은 과제를 해결하기 위하여, 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치는 연신 가능한 하부 기판 및 하부 기판 상에 배치되고, 복수의 판 패턴과 복수의 배선 패턴으로 구성되는 패턴층 및 복수의 판 패턴 각각의 상부에 배치되는 복수의 화소를 포함하고, 복수의 화소 각각은 빛을 발광하는 발광 소자와 복수의 화소 각각의 높이를 제어하는 기계 소자를 구비하여, 시각 디스플레이와 촉각 디스플레이를 동시에 구현할 수 있다.
기타 실시예의 구체적인 사항들은 상세한 설명 및 도면들에 포함되어 있다.
본 발명은 복수의 화소 내의 기계 소자를 제어함으로써, 보다 효과적으로 촉각 디스플레이를 구현할 수 있다.
본 발명은 기계 소자와 발광 소자를 한번에 제어할 수 있어, 시각 디스플레이와 촉각 디스플레이를 동기화시킬 수 있다.
본 발명에 따른 효과는 이상에서 예시된 내용에 의해 제한되지 않으며, 더욱 다양한 효과들이 본 발명 내에 포함되어 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 사시도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 평면도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 표시 영역에 대한 확대 평면도이다.
도 4a 및 도 4b는 도 3에 도시된 절단선 Ⅳ-Ⅳ'에 따라 절단한 단면도이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 서브 화소의 회로도이다.
본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나, 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 제한되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형상으로 구현될 것이며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하며, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다.
본 발명의 실시예를 설명하기 위한 도면에 개시된 형상, 면적, 비율, 각도, 개수 등은 예시적인 것이므로 본 발명이 도시된 사항에 제한되는 것은 아니다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어서, 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명은 생략한다. 본 발명 상에서 언급된 '포함한다', '갖는다', '이루어진다' 등이 사용되는 경우 '~만'이 사용되지 않는 이상 다른 부분이 추가될 수 있다. 구성 요소를 단수로 표현한 경우에 특별히 명시적인 기재 사항이 없는 한 복수를 포함하는 경우를 포함한다.
구성 요소를 해석함에 있어서, 별도의 명시적 기재가 없더라도 오차 범위를 포함하는 것으로 해석한다.
위치 관계에 대한 설명일 경우, 예를 들어, '~상에', '~상부에', '~하부에', '~옆에' 등으로 두 부분의 위치 관계가 설명되는 경우, '바로' 또는 '직접'이 사용되지 않는 이상 두 부분 사이에 하나 이상의 다른 부분이 위치할 수도 있다.
소자 또는 층이 다른 소자 또는 층 "위 (on)"로 지칭되는 것은 다른 소자 바로 위에 또는 중간에 다른 층 또는 다른 소자를 개재한 경우를 모두 포함한다.
또한 제 1, 제 2 등이 다양한 구성 요소들을 서술하기 위해서 사용되나, 이들 구성 요소들은 이들 용어에 의해 제한되지 않는다. 이들 용어들은 단지 하나의 구성 요소를 다른 구성 요소와 구별하기 위하여 사용하는 것이다. 따라서, 이하에서 언급되는 제 1 구성 요소는 본 발명의 기술적 사상 내에서 제 2 구성 요소일 수도 있다.
명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다.
도면에서 나타난 각 구성의 면적 및 두께는 설명의 편의를 위해 도시된 것이며, 본 발명이 도시된 구성의 면적 및 두께에 반드시 한정되는 것은 아니다.
본 발명의 여러 실시예들의 각각 특징들이 부분적으로 또는 전체적으로 서로 결합 또는 조합 가능하고, 기술적으로 다양한 연동 및 구동이 가능하며, 각 실시예들이 서로에 대하여 독립적으로 실시 가능할 수도 있고 연관 관계로 함께 실시할 수도 있다.
이하에서는 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 다양한 실시예들을 상세히 설명한다.
본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치는 휘거나 늘어나도 화상 표시가 가능한 표시 장치이며, 스트레쳐블 표시 장치, 신축성 표시 장치 및 연신가능한 표시 장치으로도 지칭될 수 있다. 표시 장치는 종래의 일반적인 표시 장치와 비교하여 높은 가요성(Flexibility)을 가질 뿐만 아니라, 연신성(Stretchability)를 가질 수 있다. 이에, 사용자가 표시 장치를 휘게 하거나 늘어나게 할 수 있을 뿐만 아니라, 사용자의 조작에 따라 표시 장치의 형상이 자유롭게 변경될 수 있다. 예를 들어, 사용자가 표시 장치의 끝 단을 잡고 잡아당기는 경우 표시 장치는 사용자가 잡아당기는 방향으로 늘어날 수 있다. 또는, 사용자가 표시 장치를 평평하지 않은 외면에 배치시키는 경우, 표시 장치는 벽면의 외면의 형상을 따라 휘어지도록 배치될 수 있다. 또한, 사용자에 의해 가해지는 힘이 제거되는 경우, 표시 장치는 다시 본래의 형태로 복원될 수 있다.
<스트레쳐블 기판 및 패턴층>
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 사시도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 평면도이다.
도 1을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치(100)는 복수의 화소(PX)를 포함할 수 있다. 복수의 화소(PX)는 XY평면에서 매트릭스 형태로 배치되어, 복수의 화소(PX) 각각은 빛을 발광하여 시각적 디스플레이를 구현할 수 있다. 그리고, 복수의 화소(PX)는 Z축 방향으로 돌출되어, 촉각적 디스플레이 또한 구현할 수 있다. 이를 위해 복수의 화소(PX) 각각은 빛을 발광하는 발광 소자와 복수의 화소(PX) 각각의 높이를 제어하는 기계 소자를 포함할 수 있다. 이에 대한 구체적인 설명은 도 4a 및 도 4b를 통해 후술한다.
구체적으로, 도 2를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치(100)는 하부 기판(111), 패턴층(120), 복수의 화소(PX), 게이트 드라이버(GD), 데이터 드라이버(DD) 및 파워 서플라이(PS)를 포함할 수 있다. 그리고, 도 3에 도시하지 않았으나, 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치(100)는 충진층 및 상부 기판을 더 포함할 수 있다.
하부 기판(111)은 표시 장치(100)의 여러 구성요소들을 지지하고 보호하기 위한 기판이다. 그리고, 상부 기판은 표시 장치(100)의 여러 구성요소들을 커버하고 보호하기 위한 기판이다. 즉, 하부 기판(111)은 화소(PX), 게이트 드라이버(GD) 및 파워 서플라이(PS)이 형성된 패턴층(120)을 지지하는 기판이다. 그리고, 상부 기판은 화소(PX), 게이트 드라이버(GD) 및 파워 서플라이(PS)를 덮는 기판이다.
하부 기판(111)은 연성 기판으로서 휘어지거나 늘어날 수 있는 절연 물질로 구성될 수 있다. 예를 들어, 하부 기판(111)은 폴리 메탈 실록산(polydimethylsiloxane; PDMS)과 같은 실리콘 고무(Silicone Rubber), 폴리 우레탄(polyurethane; PU), PTFE(polytetrafluoroethylene) 등의 탄성 중합체(elastomer)로 이루어질 있으며, 이에, 유연한 성질을 가질 수 있다. 그리고, 하부 기판(111) 및 상부 기판의 재질은 동일할 수 있으나 이에 제한되지 않고 다양하게 변형될 수 있다.
하부 기판(111)은 연성 기판으로서, 팽창 및 수축이 가역적으로 가능할 수 있다. 이에, 하부 기판(111)은 하부 스트레쳐블 기판, 하부 신축 기판, 하부 연신 기판, 하부 연성 기판, 하부 가요성 기판, 제1 스트레쳐블 기판, 제1 신축 기판, 제1 연신 기판, 제1 연성 기판 또는 제1 가요성 기판으로도 지칭될 수 있다. 또한 하부 기판(111) 및 상부 기판의 탄성 계수(Modulus of elasticity)가 수 MPa 내지 수 백 MPa일 수 있다. 그리고, 하부 기판(111) 및 상부 기판의 연성 파괴율(ductile breaking rate)이 100% 이상일 수 있다. 여기서, 연성 파괴율이란 연신되는 객체가 파괴되거나 크랙되는 시점에서의 연신율을 의미한다. 하부 기판의 두께는 10um 내지 1mm일 수 있으나, 이에 제한되는 것은 아니다.
하부 기판(111)은 표시 영역(Active Area; AA) 및 표시 영역(AA)을 둘러싸는 비표시 영역(Non-active Area; NA)을 가질 수 있다. 다만, 표시 영역(AA) 및 비표시 영역(Non-active Area; NA)은 하부 기판(111)에만 국한 되어 언급되는 것이 아니라 표시 장치 전반에 걸쳐서 언급될 수 있다.
표시 영역(AA)은 표시 장치(100)에서 영상이 표시되는 영역이다. 표시 영역(AA)에는 복수의 화소(PX)가 배치된다. 그리고, 각각의 화소(PX)는 표시 소자 및 표시 소자를 구동하기 위한 다양한 구동 소자들을 포함할 수 있다. 다양한 구동 소자들은 적어도 하나의 박막 트랜지스터(Thin Film Transistor; TFT) 및 커패시터(Capacitor)를 의미할 수 있으나, 이에 한정되지 않는다. 그리고, 복수의 화소(PX) 각각은 다양한 배선과 연결될 수 있다. 예를 들어, 복수의 화소(PX) 각각은 게이트 배선, 데이터 배선, 고전위 전압 배선, 저전위 전압 배선, 기준 전압 배선 및 초기화 전압 배선 등과 같은 다양한 배선과 연결될 수 있다.
비표시 영역(NA)은 영상이 표시되지 않는 영역이다. 비표시 영역(NA)은 표시 영역(AA)에 인접하여 표시 영역(AA)을 둘러싸는 영역일 수 있다. 다만, 이에 한정되지 않고, 비표시 영역(NA)은 하부 기판(111) 중 표시 영역(AA)을 제외한 영역에 해당하고, 이는 다양한 형상으로 변형 및 분리될 수 있다. 비표시 영역(NA)에는 표시 영역(AA)에 배치된 복수의 화소(PX)를 구동하기 위한 구성요소가 배치된다. 비표시 영역(NA)에는 게이트 드라이버(GD) 및 파워 서플라이(PS)가 배치될 수 있다. 그리고, 비표시 영역(NA)에는 게이트 드라이버(GD) 및 데이터 드라이버(DD)와 연결되는 복수의 패드가 배치될 수 있으며, 각각의 패드는 표시 영역(AA)의 복수의 화소(PX) 각각과 연결될 수 있다.
하부 기판(111) 상에는 표시 영역(AA)에 배치되는 복수의 제1 판(plate) 패턴(121) 및 복수의 제1 배선(line) 패턴(122)과 비표시 영역(NA)에 배치되는 복수의 제2 판(plate) 패턴(123) 및 복수의 제2 배선(line) 패턴(124)을 포함하는 패턴층(120)이 배치된다.
복수의 제1 판 패턴(121)은 하부 기판(111)의 표시 영역(AA)에 배치되어, 복수의 제1 판 패턴(121) 상에는 복수의 화소(PX)가 형성된다. 그리고, 복수의 제2 판 패턴(123)은 하부 기판(111)의 비표시 영역(NA)에 배치되어, 복수의 제2 판 패턴(123) 상에는 게이트 드라이버(GD) 및 파워 서플라이(PS)가 형성된다.
상술한, 복수의 제1 판 패턴(121) 및 복수의 제2 판 패턴(123)은 서로 이격되는 아일랜드 형태로 배치되어, 복수의 제1 판 패턴(121) 및 복수의 제2 판 패턴(123) 각각은 개별적으로 분리될 수 있다. 이에, 복수의 제1 판 패턴(121) 및 복수의 제2 판 패턴(123)은 제1 아일랜드 패턴(first island pattern) 및 제2 아일랜드 패턴(second island pattern) 혹은 제1 개별 패턴(first individual pattern) 및 제2 개별 패턴(second individual pattern)으로 지칭될 수 있다.
구체적으로, 복수의 제2 판 패턴(123)에는 게이트 드라이버(GD)가 실장될 수 있다. 게이트 드라이버(GD)는 제1 판 패턴(121) 상의 다양한 구성요소 제조 시 게이트 인 패널(Gate In Panel; GIP) 방식으로 제2 판 패턴(123) 상에 형성될 수 있다. 이에, 복수의 제2 판 패턴(123) 상에는 다양한 트랜지스터, 커패시터, 배선 등과 같은 게이트 드라이버(GD)를 구성하는 다양한 회로 구성이 배치될 수 있다. 다만, 이에 제한되지 않고 게이트 드라이버(GD)는 COF(Chip on Film) 방식으로 실장될 수도 있다.
그리고, 복수의 제2 판 패턴(123)에는 파워 서플라이(PS)가 실장될 수 있다. 파워 서플라이(PS)는 제1 판 패턴(121) 상의 다양한 구성요소 제조 시 패터닝되는 복수의 파워 블록으로 제2 판 패턴(123) 상에 형성될 수 있다. 이에, 제2 판 패턴(123)에는 상에는 서로 다른층에 배치되는 파워 블록이 배치될 수 있다. 즉, 제2 판 패턴(123) 상에는 하부 파워 블록 및 상부 파워 블록이 순차적으로 배치될 수 있다. 그리고, 하부 파워 블록에는 저전위 전압이 인가될 수 있고, 상부 파워 블록에는 고전위 전압이 인가될 수 있다. 이에, 하부 파워 블록을 통해 저전위 전압이 복수의 화소(PX)에 공급될 수 있다. 그리고, 상부 파워 블록을 통해 고전위 전압이 복수의 화소(PX)에 공급될 수 있다.
도 2를 참조하면, 복수의 제2 판 패턴(123)의 크기는 복수의 제1 판 패턴(121)의 크기보다 클 수 있다. 구체적으로, 복수의 제2 판 패턴(123) 각각의 크기는 복수의 제1 판 패턴(121) 각각의 크기보다 클 수 있다. 상술한 바와 같이, 복수의 제2 판 패턴(123) 각각에는 게이트 드라이버(GD)가 배치되고, 복수의 제2 판 패턴(123) 각각에는 게이트 드라이버(GD)의 하나의 스테이지가 배치될 수 있다. 이에, 게이트 드라이버(GD)의 하나의 스테이지를 구성하는 다양한 회로 구성이 차지하는 면적이 화소(PX)가 차지 면적보다 상대적으로 더 크므로, 복수의 제2 판 패턴(123) 각각의 크기는 복수의 제1 판 패턴(121) 각각의 크기보다 클 수 있다.
도 2에서는 복수의 제2 판 패턴(123)이 비표시 영역(NA)에서 제1 방향(X)의 양측에 배치되는 것으로 도시되었으나, 이에 제한되지 않고 비표시 영역(NA)의 임의의 영역에 배치될 수 있다. 또한, 복수의 제1 판 패턴(121) 및 복수의 제2 판 패턴(123)이 사각형의 형태로 도시되었으나, 이에 제한되지 않고, 복수의 제1 판 패턴(121) 및 복수의 제2 판 패턴(123)은 다양한 형태로 변형가능하다.
도 2를 참조하면, 패턴층(120)은 표시 영역(AA)에 배치되는 복수의 제1 배선(line) 패턴(122)과 비표시 영역(NA)에 배치되는 복수의 제2 배선(line) 패턴(124)을 더 포함할 수 있다.
복수의 제1 배선 패턴(122)은 표시 영역(AA)에 배치되고 서로 인접하는 제1 판 패턴(121)을 연결하는 패턴으로, 제1 연결 패턴으로 지칭될 수 있다. 즉, 복수의 제1 판 패턴(121) 사이에는 복수의 제1 배선 패턴(122)이 배치된다.
복수의 제2 배선 패턴(124)은 비표시 영역(NA)에 배치되고, 서로 인접하는 제1 판 패턴(121)과 제2 판 패턴(123)을 연결하고, 서로 인접하는 복수의 제2 판 패턴(123)을 연결하는 패턴으로, 제2 연결 패턴으로 지칭될 수 있다. 즉, 서로 인접하는 제1 판 패턴(121)과 제2 판 패턴(123) 사이 및 서로 인접한 복수의 제2 판 패턴(123) 사이에는 복수의 제2 배선 패턴(124)이 배치된다.
도 2을 참조하면, 복수의 제1 배선 패턴(122) 및 제2 배선 패턴(124)은 굴곡진 형상을 가진다. 예를 들면, 복수의 제1 배선 패턴(122) 및 제2 배선 패턴(124)은 사인파 형상을 가질 수 있다. 다만, 복수의 제1 배선 패턴(122) 및 제2 배선 패턴(124)의 형상은 이에 제한되지 않으며, 예를 들어, 복수의 제1 배선 패턴(122) 및 제2 배선 패턴(124)은 지그재그 형상으로 연장될 수도 있고, 복수의 마름모 모양의 기판들이 꼭지점에서 연결되어 연장되는 등의 다양한 형상을 가질 수 있다. 또한, 도 2에 도시된 복수의 제1 배선 패턴(122) 및 제2 배선 패턴(124)의 개수 및 형상은 예시적인 것이며, 복수의 제1 배선 패턴(122) 및 제2 배선 패턴(124)의 개수 및 형상은 설계에 따라 다양하게 변경될 수 있다.
그리고, 복수의 제1 판 패턴(121), 복수의 제1 배선 패턴(122), 복수의 제2 판 패턴(123) 및 복수의 제2 배선 패턴(124)은 강성 패턴이다. 즉, 복수의 제1 판 패턴(121), 복수의 제1 배선 패턴(122), 복수의 제2 판 패턴(123) 및 복수의 제2 배선 패턴(124)은 하부 기판(111) 및 상부 기판과 비교하여 강성(Rigid)일 수 있다. 즉, 복수의 제1 판 패턴(121), 복수의 제1 배선 패턴(122), 복수의 제2 판 패턴(123) 및 복수의 제2 배선 패턴(124)의 탄성 계수(Modulus of elasticity)는 하부 기판(111)의 탄성 계수(Modulus of elasticity) 보다 높을 수 있다. 탄성 계수(Modulus of elasticity)는 기판에 가해지는 응력에 대하여 변형되는 비율을 나타내는 파라미터로서, 탄성 계수가 상대적으로 높을 경우 경도(Hardness)가 상대적으로 높을 수 있다. 이에, 복수의 제1 판 패턴(121) 및 복수의 제1 배선 패턴(122) 및 복수의 제2 판 패턴(123) 및 복수의 제2 배선 패턴(124) 각각은 복수의 제1 강성 패턴, 복수의 제2 강성 패턴, 복수의 제3 강성 패턴 및 복수의 제4 강성 패턴으로 지칭될 수 있다. 복수의 제1 판 패턴(121), 복수의 제1 배선 패턴(122), 복수의 제2 판 패턴(123) 및 복수의 제2 배선 패턴(124)의 탄성 계수는 하부 기판(111) 및 상부 기판의 탄성 계수보다 1000배 이상 높을 수 있으나, 이에 제한되는 것은 아니다.
복수의 강성 기판인 복수의 제1 판 패턴(121), 복수의 제1 배선 패턴(122), 복수의 제2 판 패턴(123) 및 복수의 제2 배선 패턴(124)은 하부 기판(111) 및 상부 기판보다 낮은 플렉서빌리티(flexibility)를 갖는 플라스틱 물질로 이루어질 수 있고, 예를 들어, 폴리이미드(polyimide; PI), 폴리아크릴레이트(polyacrylate), 폴리아세테이트(polyacetate) 등으로 이루어질 수도 있다. 이때, 복수의 제1 판 패턴(121), 복수의 제1 배선 패턴(122), 복수의 제2 판 패턴(123) 및 복수의 제2 배선 패턴(124)은 동일한 물질로 이루어질 수도 있으나, 이에 제한되는 것은 아니고, 서로 다른 물질로 이루어질 수도 있다.
몇몇 실시예에서, 하부 기판(111)은 복수의 제1 하부 패턴 및 제2 하부 패턴을 포함하는 것으로 정의될 수 있다. 복수의 제1 하부 패턴은 하부 기판(111) 중 복수의 제1 판 패턴(121) 및 복수의 제2 판 패턴(123)과 중첩하는 영역에 배치되고, 제2 하부 패턴은 복수의 제1 판 패턴(121) 및 복수의 제2 판 패턴(123)이 배치된 영역을 제외한 영역에 배치되거나 상부 기판 전체 영역에 배치될 수도 있다.
또한, 상부 기판은 복수의 제1 상부패턴 및 제2 상부패턴을 포함하는 것으로 정의될 수 있다. 복수의 제1 상부패턴은 상부 기판 중 복수의 제1 판 패턴(121) 및 복수의 제2 판 패턴(123)과 중첩하는 영역에 배치되고, 제2 상부패턴은 복수의 제1 판 패턴(121) 및 복수의 제2 판 패턴(123)이 배치된 영역을 제외한 영역에 배치되거나 상부 기판 전체 영역에 배치될 수도 있다.
이때, 복수의 제1 하부 패턴 및 제1 상부 기판의 탄성 계수는 제2 하부 패턴 및 제2 상부 패턴의 탄성 계수보다 클 수 있다. 예를 들어, 복수의 제1 하부 패턴 및 제1 상부 패턴은 복수의 제1 판 패턴(121) 및 복수의 제2 판 패턴(123)과 동일한 물질로 이루어질 수 있으며, 제2 하부 패턴 및 제2 상부 패턴은 복수의 제1 판 패턴(121) 및 복수의 제2 판 패턴(123)보다 낮은 탄성 계수를 갖는 물질로 이루어질 수 있다.
즉, 제1 하부 패턴 및 제1 상부 패턴은 폴리이미드(polyimide; PI), 폴리아크릴레이트(polyacrylate), 폴리아세테이트(polyacetate) 등으로 이루어질 수도 있고, 제2 하부 패턴 및 및 제2 상부 패턴은 폴리 메탈 실록산(polydimethylsiloxane; PDMS)과 같은 실리콘 고무(Silicone Rubber), 폴리 우레탄(polyurethane; PU), PTFE(polytetrafluoroethylene) 등의 탄성 중합체(elastomer)로 이루어질 수 있다.
<비표시 영역 구동 소자>
게이트 드라이버(GD)는 표시 영역(AA)에 배치된 복수의 화소(PX)로 게이트 전압을 공급하는 구성요소이다. 게이트 드라이버(GD)는 복수의 제2 판 패턴(123) 상에 형성된 복수의 스테이지를 포함하고, 게이트 드라이버(GD)의 각각의 스테이지는 복수의 게이트 연신 배선을 통해 서로 전기적으로 연결될 수 있다. 따라서, 어느 하나의 스테이지에서 출력된 게이트 전압을 다른 스테이지에 전달할 수 있다. 그리고, 각각의 스테이지는 각각의 스테이지와 연결된 복수의 화소(PX)에 순차적으로 게이트 전압을 공급할 수 있다.
파워 서플라이(PS)는 게이트 드라이버(GD)에 연결되어, 게이트 구동 전압 및 게이트 클럭 전압을 공급할 수 있다. 그리고, 파워 서플라이(PS)는 복수의 화소(PX)에 연결되어, 복수의 화소(PX) 각각에 화소 구동 전압을 공급할 수 있다. 또한, 파워 서플라이(PS)는 복수의 제2 판 패턴(123) 상에 형성될 수 있다. 즉 파워 서플라이(PS)는 제2 판 패턴(123)상에서 게이트 드라이버(GD)에 인접되게 형성될 수 있다. 그리고, 복수의 제2 판 패턴(123)에 형성된 파워 서플라이(PS) 각각은 게이트 드라이버(GD) 및 복수의 화소(PX)에 전기적으로 연결될 수 있다. 즉, 복수의 제2 판 패턴(123)에 형성된 복수의 파워 서플라이(PS)는 게이트 전원 연신 배선 및 화소 전원 연신 배선에 의해 연결될 수 있다. 이에, 복수의 파워 서플라이(PS) 각각은 게이트 구동 전압, 게이트 클럭 전압 및 화소 구동 전압을 공급할 수 있다.
인쇄 회로 기판(PCB)은 표시 소자를 구동하기 위한 신호 및 전압을 제어부로부터 표시 소자로 전달하는 구성이다. 이에, 인쇄 회로 기판(PCB)은 구동 기판으로도 지칭될 수 있다. 인쇄 회로 기판(PCB)에는 IC 칩, 회로부 등과 같은 제어부가 장착될 수 있다. 또한, 인쇄 회로 기판(PCB)에는 메모리, 프로세서 등도 장착될 수 있다. 그리고, 표시 장치(100)에 구비되는 인쇄 회로 기판(PCB)은 연신성(stretchability)을 확보하기 위하여, 연신 영역과 비연신 영역을 포함할 수 있다. 그리고 비연신 영역에는 IC 칩, 회로부, 메모리, 프로세서 등도 장착될 수 있고, 연신 영역에는 IC 칩, 회로부, 메모리, 프로세서와 전기적으로 연결되는 배선들이 배치될 수 있다.
데이터 드라이버(DD)는 표시 영역(AA)에 배치된 복수의 화소(PX)로 데이터 전압을 공급하는 구성요소이다. 데이터 드라이버(DD)는 IC칩 형태로 구성될 수 있어 데이터 집적 회로(D-IC)로도 지칭될 수 있다. 그리고, 데이터 드라이버(DD)는 인쇄 회로 기판(PCB)의 비연신 영역에 탑재될 수 있다. 즉, 데이터 드라이버(DD)는 COB(Chip On Board)의 형태로 인쇄 회로 기판(PCB)에 실장될 수 있다. 다만, 도 1에서는 데이터 드라이버(DD)가 COF(Chip On Film) 방식으로 실장되는 것으로 도시하였으나, 이에 제한되지 않고, 데이터 드라이버(DD)는 COF(Chip on Board), COG(Chip On Glass), TCP (Tape Carrier Package) 등의 방식으로 실장될 수도 있다.
또한, 도 2에서는 표시 영역(AA)에 배치된 일렬의 제1 판 패턴(121)에 대응하도록 하나의 데이터 드라이버(DD)가 배치되는 것으로 도시되었으나, 이에 제한되는 것은 아니다. 즉, 복수개 열의 제1 판 패턴(121)에 대응하도록 하나의 데이터 드라이버(DD)가 배치될 수 있다.
이하에서는, 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치(100)의 표시 영역(AA)에 대한 보다 상세한 설명을 위해 도 3 내지 4b를 함께 참조한다.
<표시 영역의 평면 및 단면 구조>
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 표시 영역에 대한 확대 평면도이다. 구체적으로, 도 3은 도 2에 도시된 A 영역의 확대 평면도이다.
도 4a 및 도 4b는 도 3에 도시된 절단선 Ⅳ-Ⅳ'에 따라 절단한 단면도이다.
도 4a는 복수의 화소가 돌출되지 않은 경우를 도시하였고, 도 4b는 복수의 화소가 돌출된 경우에 대해서 도시하였다. 그리고, 설명의 편의를 위하여 도 1 및 도 2을 함께 참조하여 설명한다.
도 3 내지 도 4b를 참조하면, 복수의 제1 판 패턴(121)은 하부 기판(111) 상에 배치되는 하부 판 패턴(121a) 및 하부 판 패턴(121a) 상에 배치되는 상부 판 패턴(121b)을 포함한다. 그리고, 복수의 제1 배선 패턴(122)은 하부 기판(111) 상에 배치되는 하부 배선 패턴(122a) 및 하부 배선 패턴(122a) 상에 배치되는 상부 배선 패턴(122b)을 포함한다. 즉, 패턴층(120)은 하부 기판(111) 상에 배치되고, 복수의 하부 판 패턴(121a) 및 복수의 하부 배선 패턴(122a)으로 구성되는 하부 패턴층(121a, 122a)과 상기 하부 패턴층(121a, 122a) 상에 배치되고, 복수의 상부 판 패턴(121b) 및 복수의 상부 배선 패턴(122b)으로 구성되는 상부 패턴층(121b, 122b)을 포함할 수 있다.
그리고, 복수의 제1 판 패턴(121) 상에는 복수의 서브 화소(SPX)를 포함하는 화소(PX)가 배치된다. 구체적으로, 서브 화소(SPX) 각각은 상부 판 패턴(121b) 상에 배치된 발광 소자(170b) 및 발광 소자(170b)를 구동하기 위한 구동 트랜지스터(160) 및 제2 스위칭 트랜지스터(150b)로 구성되는 화소 회로를 포함할 수 있다. 다만, 서브 화소(SPX)에서 발광 소자는 LED로 제한되는 것이 아니라, 유기 발광 다이오드로 변경될 수 있다. 그리고, 복수의 서브 화소(SPX)는 적색 서브 화소, 녹색 서브 화소 및 청색 서브 화소를 포함할 수 있으나, 이에 제한되지 않고, 복수의 서브 화소(SPX)의 색상은 필요에 따라 다양하게 변형될 수 있다.
그리고, 서브 화소(SPX) 각각은 하부 판 패턴(121a) 상에 배치된 기계 소자(170a) 및 기계 소자(170a)(170)를 구동하기 위한 제1 스위칭 트랜지스터(150a)로 구성되는 화소 회로를 더 포함할 수 있다. 다만, 상술한 기계 소자(170a)는 MEMS(Micro-Electro-Mechanical System) 소자일 수 있으나, 이에 한정되지 않고, 전기 활성 고분자 섬유(Elctro Active Polymer: EAP), 압전 소자, 형상 기억 합금(Shape Memory Alloy: SMA), 열 유체주머니, MEMS 펌프, 공진 디바이스 등으로 구성될 수 있다. 상술한, 전기 활성 고분자 섬유는 전압의 인가에 응답하여 자신의 형태를 변경할 수 있다. 상술한, 전기 활성 고분자 섬유는 EP(Electrostrictive Polymers), DE(Dielectric elastomers), 전도성 고분자(Conducting Polymers), IPMC(Ionic Polymer Metal Composites), 응답성 겔(Responsive Gels) 및 버키 젤(Bucky gel) 중 적어도 하나를 이용하여 구성될 수 있다. 상술한 형상 기억 합금은 구리-아연-알루미늄, 구리-알루미늄-니켈, 니켈-티타늄 합금으로 또는 구리-아연-알루미늄, 구리-알루미늄-니켈, 및/또는 니켈-티타늄 합금의 조합으로 구성될 수 있다.
복수의 서브 화소(SPX)는 복수의 연신 배선(181, 182)과 연결될 수 있다. 즉, 복수의 서브 화소(SPX)는 제1 방향(X)으로 연장되는 제1 연신 배선(181)과 전기적으로 연결될 수 있다. 그리고, 복수의 서브 화소(SPX)는 제2 방향(Y)으로 연장되는 제2 연신 배선(182)과 전기적으로 연결될 수 있다.
보다 구체적으로, 도 4a 및 도 4b에 도시된 바와 같이, 제1 연신 배선(182)은 하부 배선 패턴(122a) 상에 배치되는 제1 하부 연신 배선(181a) 및 상부 배선 패턴(122b) 상에 배치되는 제1 상부 연신 배선(181b)을 포함할 수 있다. 그리고, 제2 연신 배선(182)은 하부 배선 패턴(122a) 상에 배치되는 제2 하부 연신 배선(182a) 및 상부 배선 패턴(122b) 상에 배치되는 제2 상부 연신 배선(182b)을 포함할 수 있다.
이하에서는 도 4a 및 도 4b을 참조하여, 표시 영역(AA)의 단면 구조에 대해서 구체적으로 설명한다.
도 4a 및 도 4b을 참조하면, 복수의 하부 판 패턴(121a) 상에는 복수의 무기 절연층이 배치된다. 예를 들어, 복수의 무기 절연층은 하부 버퍼층(141a), 하부 게이트 절연층(142a), 하부 층간 절연층(143a) 및 하부 패시베이션층(144a)을 포함할 수 있지만, 이에 제한되지 않고, 복수의 하부 판 패턴(121a) 상에는 다양한 무기 절연층이 추가적으로 배치되거나 무기 절연층인 하부 버퍼층(141a), 하부 게이트 절연층(142a), 하부 층간 절연층(143a) 및 하부 패시베이션층(144a) 중 하나 이상이 생략될 수도 있다.
구체적으로, 복수의 하부 판 패턴(121a) 상에 하부 버퍼층(141a)이 배치된다. 하부 버퍼층(141a)은 하부 기판(111) 및 복수의 하부 판 패턴(121a) 외부로부터의 수분(H2O) 및 산소(O2) 등의 침투로부터 표시 장치(100)의 다양한 구성요소들을 보호하기 위해 복수의 하부 판 패턴(121a) 상에 형성된다. 하부 버퍼층(141a)은 절연 물질로 구성될 수 있다. 예를 들어, 하부 버퍼층(141a)은 실리콘 질화물(SiNx), 실리콘 산화물(SiOx), 및 실리콘 산화질화물(SiON)중 적어도 하나로 이루어지는 단층 또는 복층으로 구성될 수 있다. 다만, 하부 버퍼층(141a)은 표시 장치(100)의 구조나 특성에 따라 생략될 수도 있다.
이때, 하부 버퍼층(141a)은 하부 기판(111)이 복수의 하부 판 패턴(121a)과 중첩되는 영역에만 형성될 수 있다. 상술한 바와 같이 하부 버퍼층(141a)은 무기물로 이루어질 수 있으므로, 표시 장치(100)를 연신하는 과정에서 쉽게 크랙(crack)이 발생되는 등 손상될 수 있다. 이에, 하부 버퍼층(141a)은 복수의 하부 판 패턴(121a) 사이의 영역에는 형성되지 않고, 복수의 하부 판 패턴(121a)의 형상으로 패터닝되어 복수의 하부 판 패턴(121a) 상부에만 형성될 수 있다. 이에, 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치(100)는 하부 버퍼층(141a)을 강성 패턴인 복수의 하부 판 패턴(121a)과 중첩되는 영역에만 형성하여 표시 장치(100)가 휘거나 늘어나는 등 변형되는 경우에도 표시 장치(100)의 다양한 구성요소들의 손상을 방지할 수 있다.
도 4a 및 도 4b을 참조하면, 하부 버퍼층(141a) 상에는 게이트 전극(151a), 액티브층(152a), 소스 전극(153a) 및 드레인 전극(154a)을 포함하는 제1 스위칭 트랜지스터(150a)가 형성된다.
먼저, 도 1을 참조하면, 하부 버퍼층(141a) 상에는 제1 스위칭 트랜지스터(150a)의 액티브층(152a)이 배치된다. 예를 들어, 제1 스위칭 트랜지스터(150a)의 액티브층(152a)은 산화물 반도체로 형성될 수도 있다 또는, 제1 스위칭 트랜지스터(150a)의 액티브층(152a)은 비정질 실리콘(amorpho113 silicon, a-Si), 다결정 실리콘(polycrystalline silicon, poly-Si), 또는 유기물(organic) 반도체 등으로 형성될 수 있다.
제1 스위칭 트랜지스터(150a)의 액티브층(152a) 상에는 하부 게이트 절연층(142a)이 배치된다. 하부 게이트 절연층(142a)은 제1 스위칭 트랜지스터(150a)의 게이트 전극(151a)과 제1 스위칭 트랜지스터(150a)의 액티브층(152a)을 전기적으로 절연시키기 위한 층이다. 그리고, 하부 게이트 절연층(142a)은 절연 물질로 이루어질 수 있다. 예를 들어, 하부 게이트 절연층(142a)은 무기물인 질화 실리콘(SiNx) 또는 산화 실리콘(SiOx)의 단일층 또는 질화 실리콘(SiNx) 또는 산화 실리콘(SiOx)의 다중층으로 구성될 수 있으나, 이에 제한되는 것은 아니다.
하부 게이트 절연층(142a) 상에는 제1 스위칭 트랜지스터(150a)의 게이트 전극(151a)이 배치된다. 제1 스위칭 트랜지스터(150a)의 게이트 전극(151a)은 하부 게이트 절연층(142a) 상에서 서로 이격되도록 배치된다. 그리고, 제1 스위칭 트랜지스터(150a)의 게이트 전극(151a)은 제1 스위칭 트랜지스터(150a)의 액티브층(152a)과 중첩한다.
제1 스위칭 트랜지스터(150a)의 게이트 전극(151a)은 다양한 금속 물질, 예를 들어, 몰리브덴(Mo), 알루미늄(Al), 크롬(Cr), 금(Au), 티타늄(Ti), 니켈(Ni), 네오디뮴(Nd), 및 구리(Cu) 중 어느 하나이거나 둘 이상의 합금, 또는 이들의 다중층일 수 있으나, 이에 제한되는 것은 아니다.
하부 게이트 절연층(142a) 상에는 게이트 패드(GP)가 배치될 수 있다.
구체적으로, 도 4a 및 도 4b를 참조하면, 게이트 패드(GP)는 게이트 전압을 복수의 서브 화소(SPX)에 전달하기 위한 패드이다. 게이트 패드(GP)는 제1 하부 연신 배선(181a)과 컨택홀을 통해 연결된다. 그리고, 제1 하부 연신 배선(181a)으로부터 공급된 게이트 전압은 게이트 패드(GP)로부터 하부 판 패턴(121a) 상에 형성된 비연신 배선을 통해 제1 스위칭 트랜지스터(150a)의 게이트 전극(151a)으로 전달될 수 있다. 그리고, 제1 스위칭 트랜지스터(150a)의 게이트 전극(151a)과 제2 스위칭 트랜지스터(150b)의 게이트 전극(151b)은 신축 연결 전극(Stretching connection electrode; 191)에 의해 전기적으로 연결될 수 있다. 이에, 신축 연결 전극(191)을 통해 제2 스위칭 트랜지스터(150b)의 게이트 전극(151b)에도 게이트 전압이 공급될 수 있다.
한편, 도 4b에 도시된 바와 같이 기계 소자(170b)가 신장될 경우, 이와 대응되게 신축 연결 전극(191) 또한 신장되어야 한다. 이에, 신축 연결 전극(191)은 베이스 폴리머 및 전도성 입자를 포함한다. 베이스 폴리머는 하부 기판(111)과 유사하게 휘어지거나 늘어날 수 있는 절연 물질로 구성될 수 있다. 예를 들어, 베이스 폴리머는 SBS(Styrene Butadiene Styrene) 등을 포함할 수 있으나, 이 에 제한되지는 않는다. 이에, 기계 소자(170b)가 신장될 경우, 신축 연결 전극(191)는 손상되지 않고, 제1 스위칭 트랜지스터(150a)의 게이트 전극(151a)과 제2 스위칭 트랜지스터(150b)의 게이트 전극(151b)은 연결될 수 있다.
제1 스위칭 트랜지스터(150a)의 게이트 전극(151a) 상에는 하부 층간 절연층(143a)이 배치된다. 하부 층간 절연층(143a)은 제1 스위칭 트랜지스터(150a)의 게이트 전극(151a)과 제1 스위칭 트랜지스터(150a)의 소스 전극(153a) 및 드레인 전극(154a)을 절연시킨다. 예를 들어, 하부 층간 절연층(143a)은 무기물인 질화 실리콘(SiNx) 또는 산화 실리콘(SiOx)의 단일층 또는 질화 실리콘(SiNx) 또는 산화 실리콘(SiOx)의 다중층으로 구성될 수 있으나, 이에 제한되는 것은 아니다.
하부 층간 절연층(143a) 상에는 제1 스위칭 트랜지스터(150a)의 소스 전극(153a) 및 드레인 전극(154a)이 배치된다. 제1 스위칭 트랜지스터(150a)의 소스 전극(153a) 및 드레인 전극(154a)은 동일 층에서 이격되어 배치된다. 제1 스위칭 트랜지스터(150a)에서, 소스 전극(153a) 및 드레인 전극(154a)은 액티브층(152a)과 접하는 방식으로 액티브층(152a)과 전기적으로 연결될 수 있다.
제1 스위칭 트랜지스터(150a)의 소스 전극(153a) 및 드레인 전극(154a)은 다양한 금속 물질, 예를 들어, 몰리브덴(Mo), 알루미늄(Al), 크롬(Cr), 금(Au), 티타늄(Ti), 니켈(Ni), 네오디뮴(Nd), 및 구리(Cu) 중 어느 하나이거나 둘 이상의 합금, 또는 이들의 다중층일 수 있으나, 이에 제한되는 것은 아니다.
또한, 본 명세서에서는 제1 스위칭 트랜지스터(150a)가 코플래너(coplanar) 구조인 것으로 설명하였으나, 스태거드(staggered) 구조 등의 다양한 트랜지스터도 사용될 수 있다.
도 4a 및 도 4b을 참조하면, 제1 스위칭 트랜지스터(150a) 상에 하부 패시베이션층(144a)이 형성된다. 즉, 하부 패시베이션층(144a)는 제1 스위칭 트랜지스터(150a)를 수분 및 산소 등의 침투로부터 보호하기 위해, 제1 스위칭 트랜지스터(150a)를 덮는다. 하부 패시베이션층(144a)은 무기물로 이루어질 수 있고, 단층 또는 복층으로 이루어질 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.
그리고, 하부 게이트 절연층(142a), 하부 층간 절연층(143a) 및 하부 패시베이션층(144a)은 패터닝되어 복수의 하부 판 패턴(121a)과 중첩되는 영역에만 형성될 수 있다. 하부 게이트 절연층(142a), 하부 층간 절연층(143a) 및 하부 패시베이션층(144a) 또한 하부 버퍼층(141a)와 동일하게 무기물로 이루어질 수 있으므로, 표시 장치(100)를 연신하는 과정에서 쉽게 크랙이 발생되는 등 손상될 수 있다. 이에, 하부 게이트 절연층(142a), 하부 층간 절연층(143a) 및 하부 패시베이션층(144a)은 복수의 하부 판 패턴(121a) 사이의 영역에는 형성되지 않고, 복수의 하부 판 패턴(121a)의 형상으로 패터닝되어 복수의 하부 판 패턴(121a) 상부에만 형성될 수 있다.
하부 패시베이션층(144a) 상에 하부 평탄화층(145a)이 형성된다. 하부 평탄화층(145a)은 제1 스위칭 트랜지스터(150a) 상부를 평탄화한다. 하부 평탄화층(145a)은 단층 또는 복수의 층으로 구성될 수 있으며, 유기 물질로 이루어질 수 있다. 이에, 하부 평탄화층(145a)은 유기 절연층으로 지칭될 수도 있다. 예를 들어, 하부 평탄화층(145a)은 아크릴(acryl)계 유기 물질로 이루어질 수 있으나, 이에 제한되지 않는다.
도 4a 및 도 4b을 참조하면, 하부 평탄화층(145a)은 복수의 하부 판 패턴(121a) 상에서 하부 버퍼층(141a), 하부 게이트 절연층(142a), 하부 층간 절연층(143a) 및 하부 패시베이션층(144a)의 상면 및 측면을 덮도록 배치될 수 있다. 그리고, 하부 평탄화층(145a)은 복수의 하부 판 패턴(121a)과 함께 하부 버퍼층(141a), 하부 게이트 절연층(142a), 하부 층간 절연층(143a) 및 하부 패시베이션층(144a)을 둘러싼다. 구체적으로, 하부 평탄화층(145a)은 하부 패시베이션층(144a)의 상면 및 측면, 하부 층간 절연층(143a)의 측면, 제2 층간 절연층(144)의 측면, 하부 게이트 절연층(142a)의 측면, 하부 버퍼층(141a)의 측면 및 복수의 하부 판 패턴(121a)의 상면의 일부를 덮도록 배치될 수 있다. 이에, 하부 평탄화층(145a)은 하부 버퍼층(141a), 하부 게이트 절연층(142a), 하부 층간 절연층(143a) 및 하부 패시베이션층(144a)의 측면에서의 단차를 보완할 수 있고, 하부 평탄화층(145a)과 하부 평탄화층(145a)의 측면에 배치되는 제1 하부 연신 배선(181a) 및 제2 하부 연신 배선(182a)의 접착 강도를 증가시킬 수 있다.
그리고, 하부 평탄화층(145a) 상에는 기계 소자(170a)가 배치될 수 있다.
기계 소자(170a)는 제1 데이터 전압이 인가되는 제1 전극(171a), 고정 전압이 인가되는 제2 전극(172a) 및 수직 방향으로 신축되는 신축층(173a)을 포함할 수 있다.
제1 전극(171a)은 제1 스위칭 트랜지스터(150a)에 연결되어, 제1 스위칭 트랜지스터(150a)로부터 제1 데이터 전압을 인가 받는다. 구체적으로, 제1 전극(171a)은 하부 평탄화층(145a) 상에 배치된다. 그리고, 제1 전극(171a)은 하부 평탄화층(145a)에 형성된 컨택홀을 통해 제1 스위칭 트랜지스터(150a)의 드레인 전극(154a)에 연결될 수 있다.
그리고, 제2 전극(172a)은 저전위 전압이 인가되는 제1 상부 연신 배선(181b)에 연결되어, 저전위 전압을 인가 받는다. 구체적으로, 제2 전극(172a)은 상부 패턴층(121b, 122b)의 하부에 배치된다. 그리고, 제2 전극(172a)은 상부 배선 패턴(122b)에 형성된 컨택홀을 통해 제1 상부 연신 배선(181b)에 연결될 수 있다.
신축층(173a)은 제1 전극(171a)과 제2 전극(172a) 사이에 배치되어, 제1 전극(171a)과 제2 전극(172a)의 전압차에 따라 수직 방향(도 1의 Z 축 방향)으로 연신될 수 있다. 즉, 제1 전극(171a)에는 가변 전압인 제1 데이터 전압이 인가되고, 제2 전극(172a)에는 고정 전압인 저전위 전압이 인가된다. 이에, 제1 데이터 전압의 천이에 따라 신축층(173a)은 연신될 수 있다. 예를 들어, 도 4a에 도시된 바와 같이, 제1 데이터 전압이 로우 레벨인 경우에는 신축층(173a)이 압축될 수 있다. 반면에, 도 4b에 도시된 바와 같이, 제1 데이터 전압이 하이 레벨인 경우에는 신축층(173a)이 신장될 수 있다.
그리고, 기계 소자(170a)는 하부 평탄화층(145a)의 상면의 일부에만 배치되므로, 기계 소자(170a)가 배치되지 않는 하부 평탄화층(145a)의 상면의 다른 일부에는 제1 충진층(190a)이 배치될 수 있다. 이에, 제1 충진층(190a)은 하부 평탄화층(145a)과 상부 패턴층(121b, 122b) 사이를 충진시킬 수 있다. 구체적으로, 제1 충진층(190a)은 기계 소자(170a)의 양측면과 하부 평탄화층(145a)의 상면과 상부 패턴층(121b, 122b)의 하면에 접촉하며 이들 사이의 공간을 충진시킬 수 있다. 그리고, 제1 충진층(190a)은 폴리 메탈 실록산(polydimethylsiloxane; PDMS)과 같은 실리콘 고무(Silicone Rubber), 폴리 우레탄(polyurethane; PU), PTFE(polytetrafluoroethylene) 등의 탄성 중합체(elastomer)로 이루어질 수 있으며, 이에, 유연한 성질을 가질 수 있다. 이에, 기계 소자(170b)가 신장될 경우, 제1 충진층(190a)는 손상되지 않고, 상부 패턴층(121a, 122a)과 하부 패턴층(121b, 122b) 사이의 영역을 충진시킬 수 있다. 구체적으로, 제1 충진층(190a)은 하부 판 패턴(121a)와 상부 판 패턴(121b) 사이의 영역을 충진시키고, 하부 배선 패턴(122a)와 상부 배선 패턴(122b) 사이의 영역을 충진시킬 수 있다.
도 4a 및 도 4b을 참조하면, 복수의 상부 판 패턴(121b) 상에는 복수의 무기 절연층이 배치된다. 예를 들어, 복수의 무기 절연층은 상부 버퍼층(141b), 상부 게이트 절연층(142b), 제1 상부 층간 절연층(143b), 제2 상부 층간 절연층(144b) 및 상부 패시베이션층(145b)을 포함할 수 있지만, 이에 제한되지 않고, 복수의 상부 판 패턴(121b) 상에는 다양한 무기 절연층이 추가적으로 배치되거나 무기 절연층인 상부 버퍼층(141b), 상부 게이트 절연층(142b), 제1 상부 층간 절연층(143b), 제2 상부 층간 절연층(144b) 및 상부 패시베이션층(145b) 중 하나 이상이 생략될 수도 있다.
구체적으로, 복수의 상부 판 패턴(121b) 상에 상부 버퍼층(141b)이 배치된다. 상부 버퍼층(141b)은 하부 기판(111) 및 복수의 상부 판 패턴(121b) 외부로부터의 수분(H2O) 및 산소(O2) 등의 침투로부터 표시 장치(100)의 다양한 구성요소들을 보호하기 위해 복수의 상부 판 패턴(121b) 상에 형성된다. 상부 버퍼층(141b)은 절연 물질로 구성될 수 있다. 예를 들어, 상부 버퍼층(141b)은 실리콘 질화물(SiNx), 실리콘 산화물(SiOx), 및 실리콘 산화질화물(SiON)중 적어도 하나로 이루어지는 단층 또는 복층으로 구성될 수 있다. 다만, 상부 버퍼층(141b)은 표시 장치(100)의 구조나 특성에 따라 생략될 수도 있다.
이때, 상부 버퍼층(141b)은 하부 기판(111)이 복수의 상부 판 패턴(121b)과 중첩되는 영역에만 형성될 수 있다. 상술한 바와 같이 상부 버퍼층(141b)은 무기물로 이루어질 수 있으므로, 표시 장치(100)를 연신하는 과정에서 쉽게 크랙(crack)이 발생되는 등 손상될 수 있다. 이에, 상부 버퍼층(141b)은 복수의 상부 판 패턴(121b) 사이의 영역에는 형성되지 않고, 복수의 상부 판 패턴(121b)의 형상으로 패터닝되어 복수의 상부 판 패턴(121b) 상부에만 형성될 수 있다. 이에, 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치(100)는 상부 버퍼층(141b)을 강성 패턴인 복수의 상부 판 패턴(121b)과 중첩되는 영역에만 형성하여 표시 장치(100)가 휘거나 늘어나는 등 변형되는 경우에도 표시 장치(100)의 다양한 구성요소들의 손상을 방지할 수 있다.
도 4a 및 도 4b을 참조하면, 상부 버퍼층(141b) 상에는 게이트 전극(151b), 액티브층(152b), 소스 전극(153b) 및 제2 드레인 전극(154b)을 포함하는 제2 스위칭 트랜지스터(150b) 및 게이트 전극(161), 액티브층(162), 소스 전극 및 드레인 전극(164)을 포함하는 구동 트랜지스터(160)가 형성된다.
구체적으로, 상부 버퍼층(141b) 상에는 제2 스위칭 트랜지스터(150b)의 액티브층(152b) 및 구동 트랜지스터(160)의 액티브층(162)이 배치된다. 예를 들어, 제2 스위칭 트랜지스터(150b)의 액티브층(152b) 및 구동 트랜지스터(160)의 액티브층(162) 각각은 산화물 반도체로 형성될 수도 있다 또는, 제2 스위칭 트랜지스터(150b)의 액티브층(152b) 및 구동 트랜지스터(160)의 액티브층(162)은 비정질 실리콘(amorpho113 silicon, a-Si), 다결정 실리콘(polycrystalline silicon, poly-Si), 또는 유기물(organic) 반도체 등으로 형성될 수 있다.
제2 스위칭 트랜지스터(150b)의 액티브층(152b) 및 구동 트랜지스터(160)의 액티브층(162) 상에는 상부 게이트 절연층(142b)이 배치된다. 상부 게이트 절연층(142b)은 제2 스위칭 트랜지스터(150b)의 게이트 전극(151b)과 제2 스위칭 트랜지스터(150b)의 액티브층(152b)을 전기적으로 절연시키고, 구동 트랜지스터(160)의 게이트 전극(161)과 구동 트랜지스터(160)의 액티브층(162)을 전기적으로 절연시키기 위한 층이다. 그리고, 상부 게이트 절연층(142b)은 절연 물질로 이루어질 수 있다. 예를 들어, 상부 게이트 절연층(142b)은 무기물인 질화 실리콘(SiNx) 또는 산화 실리콘(SiOx)의 단일층 또는 질화 실리콘(SiNx) 또는 산화 실리콘(SiOx)의 다중층으로 구성될 수 있으나, 이에 제한되는 것은 아니다.
상부 게이트 절연층(142b) 상에는 제2 스위칭 트랜지스터(150b)의 게이트 전극(151b) 및 구동 트랜지스터(160)의 게이트 전극(161)이 배치된다. 제2 스위칭 트랜지스터(150b)의 게이트 전극(151b) 및 구동 트랜지스터(160)의 게이트 전극(161)은 상부 게이트 절연층(142b) 상에서 서로 이격되도록 배치된다. 그리고, 제2 스위칭 트랜지스터(150b)의 게이트 전극(151b)은 제2 스위칭 트랜지스터(150b)의 액티브층(152b)과 중첩하고, 구동 트랜지스터(160)의 게이트 전극(161)은 구동 트랜지스터(160)의 액티브층(162)과 중첩한다.
제2 스위칭 트랜지스터(150b)의 게이트 전극(151b) 및 구동 트랜지스터(160)의 게이트 전극(161) 각각은 다양한 금속 물질, 예를 들어, 몰리브덴(Mo), 알루미늄(Al), 크롬(Cr), 금(Au), 티타늄(Ti), 니켈(Ni), 네오디뮴(Nd), 및 구리(Cu) 중 어느 하나이거나 둘 이상의 합금, 또는 이들의 다중층일 수 있으나, 이에 제한되는 것은 아니다.
제2 스위칭 트랜지스터(150b)의 게이트 전극(151b) 및 구동 트랜지스터(160)의 게이트 전극(161) 상에는 제1 상부 층간 절연층(143b)이 배치된다. 제1 상부 층간 절연층(143b)은 구동 트랜지스터(160)의 게이트 전극(161)과 중간 금속층(IM)을 절연시킨다. 제1 상부 층간 절연층(143b)은 상부 버퍼층(141b)과 동일하게 무기물로 이루어질 수 있다. 예를 들어, 제1 상부 층간 절연층(143b)은 무기물인 질화 실리콘(SiNx) 또는 산화 실리콘(SiOx)의 단일층 또는 질화 실리콘(SiNx) 또는 산화 실리콘(SiOx)의 다중층으로 구성될 수 있으나, 이에 제한되는 것은 아니다.
제1 상부 층간 절연층(143b) 상에는 중간 금속층(IM)이 배치된다. 그리고, 중간 금속층(IM)은 구동 트랜지스터(160)의 게이트 전극(161)과 중첩한다. 이에, 중간 금속층(IM)과 구동 트랜지스터(160)의 게이트 전극(161)의 중첩 영역에서, 스토리지 커패시터가 형성된다. 구체적으로 구동 트랜지스터(160)의 게이트 전극(161), 제1 상부 층간 절연층(143b) 및 중간 금속층(IM)은 저장 커패시터를 형성된다. 다만, 중간 금속층(IM)의 배치 영역은 이에 한정되지 않고, 중간 금속층(IM)은 다른 전극과 중첩되어 다양하게 저장 커패시터를 형성할 수 있다.
중간 금속층(IM)은 다양한 금속 물질, 예를 들어, 몰리브덴(Mo), 알루미늄(Al), 크롬(Cr), 금(Au), 티타늄(Ti), 니켈(Ni), 네오디뮴(Nd), 및 구리(Cu) 중 어느 하나이거나 둘 이상의 합금, 또는 이들의 다중층일 수 있으나, 이에 제한되는 것은 아니다.
중간 금속층(IM) 상에는 제2 상부 층간 절연층(144b)이 배치된다. 제2 상부 층간 절연층(144b)은 제2 스위칭 트랜지스터(150b)의 게이트 전극(151b)과 제2 스위칭 트랜지스터(150b)의 소스 전극(153b) 및 제2 드레인 전극(154b)을 절연시킨다. 그리고, 제2 상부 층간 절연층(144b)은 중간 금속층(IM)과 구동 트랜지스터(160)의 소스 전극 및 드레인 전극(164)을 절연시킨다. 제2 상부 층간 절연층(144b)은 상부 버퍼층(141b)과 동일하게 무기물로 이루어질 수 있다. 예를 들어, 제1 상부 층간 절연층(143b)은 무기물인 질화 실리콘(SiNx) 또는 산화 실리콘(SiOx)의 단일층 또는 질화 실리콘(SiNx) 또는 산화 실리콘(SiOx)의 다중층으로 구성될 수 있으나, 이에 제한되는 것은 아니다.
제2 상부 층간 절연층(144b) 상에는 제2 스위칭 트랜지스터(150b)의 소스 전극(153b) 및 제2 드레인 전극(154b)이 배치된다. 그리고, 제2 상부 층간 절연층(144b) 상에는 구동 트랜지스터(160)의 소스 전극 및 드레인 전극(164)이 배치된다. 제2 스위칭 트랜지스터(150b)의 소스 전극(153b) 및 제2 드레인 전극(154b)은 동일 층에서 이격되어 배치된다. 그리고, 도 1에서는 구동 트랜지스터(160)의 소스 전극이 생략되었으나, 구동 트랜지스터(160)의 소스 전극 또한 드레인 전극(164)과 동일 층에서 이격되어 배치된다. 제2 스위칭 트랜지스터(150b)에서, 소스 전극(153b) 및 제2 드레인 전극(154b)은 액티브층(152b)과 접하는 방식으로 액티브층(152b)과 전기적으로 연결될 수 있다. 그리고, 구동 트랜지스터(160)에서, 소스 전극 및 드레인 전극(164)은 액티브층(162)과 접하는 방식으로 액티브층(162)과 전기적으로 연결될 수 있다. 그리고, 제2 스위칭 트랜지스터(150b)의 제2 드레인 전극(154b)은 구동 트랜지스터(160)의 게이트 전극(161)과 컨택홀을 통해 접하는 방식으로 구동 트랜지스터(160)의 게이트 전극(161)과 전기적으로 연결될 수 있다.
소스 전극(153b) 및 드레인 전극(154, 164)은 다양한 금속 물질, 예를 들어, 몰리브덴(Mo), 알루미늄(Al), 크롬(Cr), 금(Au), 티타늄(Ti), 니켈(Ni), 네오디뮴(Nd), 및 구리(Cu) 중 어느 하나이거나 둘 이상의 합금, 또는 이들의 다중층일 수 있으나, 이에 제한되는 것은 아니다.
제2 상부 층간 절연층(144b) 상에는 데이터 패드(DP)가 배치될 수 있다.
그리고, 도 4a 및 도 4b을 참조하면, 데이터 패드(DP)는 데이터 전압을 복수의 서브 화소(SPX)에 전달하기 위한 패드이다. 데이터 패드(DP)는 제2 상부 연신 배선(182b)과 컨택홀을 통해 연결된다. 그리고, 제2 상부 연신 배선(182b)으로부터 공급된 제2 데이터 전압은 데이터 패드(DP)로부터 상부 판 패턴(121b) 상에 형성된 비연신 배선을 통해 제2 스위칭 트랜지스터(150b)의 소스 전극(153b)으로 전달될 수 있다.
그리고, 도 4a 및 도 4b을 참조하면, 전압 패드(VP)는 저전위 전압을 복수의 서브 화소(SPX)에 전달하기 위한 패드이다. 전압 패드(VP)는 제1 상부 연신 배선(181b)과 컨택홀을 통해 연결된다. 그리고, 제1 상부 연신 배선(181b)으로부터 공급된 저전위 전압은 전압 패드(VP)로부터 상부 판 패턴(121b)상에 형성된 제2 컨택 패드(CNT2)를 통해 LED(170b)의 n전극(174b)으로 전달될 수 있다.
도 4a 및 도 4b을 참조하면, 제2 스위칭 트랜지스터(150b) 및 구동 트랜지스터(160) 상에 상부 패시베이션층(145b)이 형성된다. 즉, 상부 패시베이션층(145b)는 제2 스위칭 트랜지스터(150b) 및 구동 트랜지스터(160)를 수분 및 산소 등의 침투로부터 보호하기 위해, 제2 스위칭 트랜지스터(150b) 및 구동 트랜지스터(160)를 덮는다. 상부 패시베이션층(145b)은 무기물로 이루어질 수 있고, 단층 또는 복층으로 이루어질 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.
그리고, 상부 게이트 절연층(142b), 제1 상부 층간 절연층(143b), 제2 상부 층간 절연층(144b) 및 상부 패시베이션층(145b)은 패터닝되어 복수의 상부 판 패턴(121b)과 중첩되는 영역에만 형성될 수 있다. 상부 게이트 절연층(142b), 제1 상부 층간 절연층(143b), 제2 상부 층간 절연층(144b) 및 상부 패시베이션층(145b) 또한 상부 버퍼층(141b)와 동일하게 무기물로 이루어질 수 있으므로, 표시 장치(100)를 연신하는 과정에서 쉽게 크랙이 발생되는 등 손상될 수 있다. 이에, 상부 게이트 절연층(142b), 제1 상부 층간 절연층(143b), 제2 상부 층간 절연층(144b) 및 상부 패시베이션층(145b)은 복수의 상부 판 패턴(121b) 사이의 영역에는 형성되지 않고, 복수의 상부 판 패턴(121b)의 형상으로 패터닝되어 복수의 상부 판 패턴(121b) 상부에만 형성될 수 있다.
상부 패시베이션층(145b) 상에 상부 평탄화층(146b)이 형성된다. 상부 평탄화층(146b)은 제2 스위칭 트랜지스터(150b) 및 구동 트랜지스터(160) 상부를 평탄화한다. 상부 평탄화층(146b)은 단층 또는 복수의 층으로 구성될 수 있으며, 유기 물질로 이루어질 수 있다. 이에, 상부 평탄화층(146b)은 유기 절연층으로 지칭될 수도 있다. 예를 들어, 상부 평탄화층(146b)은 아크릴(acryl)계 유기 물질로 이루어질 수 있으나, 이에 제한되지 않는다.
도 4a 및 도 4b을 참조하면, 상부 평탄화층(146b)은 복수의 상부 판 패턴(121b) 상에서 상부 버퍼층(141b), 상부 게이트 절연층(142b), 제1 상부 층간 절연층(143b), 제2 상부 층간 절연층(144b) 및 상부 패시베이션층(145b)의 상면 및 측면을 덮도록 배치될 수 있다. 그리고, 상부 평탄화층(146b)은 복수의 상부 판 패턴(121b)과 함께 상부 버퍼층(141b), 상부 게이트 절연층(142b), 제1 상부 층간 절연층(143b), 제2 상부 층간 절연층(144b) 및 상부 패시베이션층(145b)을 둘러싼다. 구체적으로, 상부 평탄화층(146b)은 상부 패시베이션층(145b)의 상면 및 측면, 제1 상부 층간 절연층(143b)의 측면, 제2 상부 층간 절연층(144b)의 측면, 상부 게이트 절연층(142b)의 측면, 상부 버퍼층(141b)의 측면 및 복수의 상부 판 패턴(121b)의 상면의 일부를 덮도록 배치될 수 있다. 이에, 상부 평탄화층(146b)은 상부 버퍼층(141b), 상부 게이트 절연층(142b), 제1 상부 층간 절연층(143b), 제2 상부 층간 절연층(144b) 및 상부 패시베이션층(145b)의 측면에서의 단차를 보완할 수 있고, 상부 평탄화층(146b)과 상부 평탄화층(146b)의 측면에 배치되는 제1 상부 연신 배선(181b) 및 제2 상부 연신 배선(182b)의 접착 강도를 증가시킬 수 있다.
그리고, 상부 평탄화층(146b)상에는 뱅크(147b) 및 발광 소자(170b)가 배치될 수 있다.
구체적으로, 도 4a 및 도 4b를 참조하면, 제1 연결 패드(CNT1), 상부 연신 배선(181b, 182b) 및 상부 평탄화층(146b) 상에 뱅크(147b)가 형성된다. 뱅크(147b)는 인접하는 서브 화소(SPX)를 구분하는 구성요소이다. 뱅크(147b)는 패드(PD), 상부 연신 배선(181b, 182b) 및 상부 평탄화층(146b)의 적어도 일부를 덮도록 배치된다. 뱅크(147b)는 절연 물질로 이루어질 수 있다. 또한, 뱅크(147b)는 블랙 물질을 포함하여 이루어질 수 있다. 뱅크(147b)는 블랙 물질을 포함함으로써 표시 영역(AA)을 통해 시인될 수 있는 배선들을 가리는 역할을 한다. 뱅크(147b)는, 예를 들어, 투명한 카본(carbon) 계열의 혼합물로 이루어질 수 있고, 구체적으로 카본 블랙(carbon black)을 포함할 수 있다. 다만, 이에 제한되는 것은 아니고, 뱅크(147b)는 투명한 절연 물질로 이루어질 수도 있다. 그리고, 도 4a 및 도 4b에서 뱅크(147b)의 높이는 발광 소자(170b)의 높이보다 낮은 것을 도시하였으나, 이에 한정되지 않고, 뱅크(147b)의 높이는 발광 소자(170b)의 높이와 같을 수 있다.
도 4a 및 도 4b를 참조하면, 제1 연결 패드(CNT1)와 제2 연결 패드(CNT2) 상에는 발광 소자(170b)가 배치된다. 발광 소자(170b)는 n형층(171b), 활성층(172b), p형층(173b), n전극(174b) 및 p전극(175b)을 포함한다. 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치(100)의 발광 소자(170b)는 한쪽 면에 n전극(174b)과 p전극(175b)이 형성되는 플립 칩(filp-chip)의 구조를 가진다.
n형층(171b)은 우수한 결정성을 갖는 질화갈륨(GaN)에 n형 불순물을 주입하여 형성될 수 있다. n형층(171b)은 발광될 수 있는 물질로 이루어지는 별도의 베이스 기판 상에 배치될 수도 있다.
n형층(171b) 상에는 활성층(172b)이 배치된다. 활성층(172b)은 발광 소자(170b)에서 빛을 발하는 발광층으로, 질화물 반도체, 예를 들어, 인듐질화갈륨(InGaN)으로 이루어질 수 있다. 활성층(172b) 상에는 p형층(173b)이 배치된다. p형층(173b)은 질화갈륨(GaN)에 p형 불순물을 주입하여 형성될 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 발광 소자(170b)는, 이상에서 설명한 바와 같이, n형층(171b), 활성층(172b) 및 p형층(173b)을 차례대로 적층한 후, 소정 부분을 식각한 후, n전극(174b)과 p전극(175b)을 형성하는 방식으로 제조된다. 이때, 소정 부분은 n전극(174b)과 p전극(175b)을 이격시키기 위한 공간으로, n형층(171b)의 일부가 노출되도록 소정 부분이 식각된다. 다시 말해, n전극(174b)과 p전극(175b)이 배치될 발광 소자(170b)의 면은 평탄화된 면이 아닌 서로 다른 높이 레벨을 가질 수 있다.
이와 같이, 식각된 영역에는 n전극(174b)이 배치되며, n전극(174b)은 도전성 물질로 이루어질 수 있다. 그리고, 식각되지 않은 영역에는 p전극(175b)이 배치되며, p전극(175b)도 도전성 물질로 이루어질 수 있다. 예를 들면, 식각 공정으로 노출된 n형층(171b) 상에는 n전극(174b)이 배치되고, p형층(173b) 상에는 p전극(175b)이 배치된다.p전극(175b)은 n전극(174b)과 동일한 물질로 이루어질 수 있다.
접착층(AD)은 제1 연결 패드(CNT1) 및 제2 연결 패드(CNT2)의 상면과 제1 연결 패드(CNT1) 및 제2 연결 패드(CNT2) 사이에 배치되어, 발광 소자(170b)가 제1 연결 패드(CNT1) 및 제2 연결 패드(CNT2) 상에 접착될 수 있다. 이때, n전극(174b)은 제2 연결 패드(CNT2) 상에 배치되고, p전극(175b)은 제1 연결 패드(CNT1) 상에 배치될 수 있다.
접착층(AD)은 절연성 베이스 부재에 도전볼이 분산된 도전성 접착층일 수 있다. 이에, 접착층(AD)에 열 또는 압력이 가해지는 경우, 열 또는 압력이 가해진 부분에서 도전볼이 전기적으로 연결되어 도전 특성을 갖고, 가압되지 않은 영역은 절연 특성을 가질 수 있다. 예를 들어, n전극(174b)은 접착층(AD)를 통해 제2 연결 패드(CNT2)과 전기적으로 연결되고, p전극(175b)은 접착층(AD)를 통해 제1 연결 패드(CNT1)와 전기적으로 연결된다. 접착층(AD)을 제2 연결 패드(CNT2)의 상면과 제1 연결 패드(CNT1) 상에 잉크젯 등의 방식으로 도포한 후, 발광 소자(170b)를 접착층(AD) 상에 전사하고, 발광 소자(170b)를 가압하고 열을 가하는 방식으로 제1 연결 패드(CNT1)과 p전극(175b) 및 제2 연결 패드(CNT2)과 n전극(174b)을 전기적으로 연결시킬 수 있다. 다만, n전극(174b)과 제2 연결 패드(CNT2) 사이에 배치된 접착층(AD)의 부분 및 p전극(175b)과 제1 연결 패드(CNT1) 사이에 배치된 접착층(AD)의 부분을 제외한 다른 접착층(AD)의 부분은 절연 특성을 가진다. 한편, 접착층(AD)은 분리된 형태로 제1 연결 패드(CNT1) 및 제2 연결 패드(CNT2) 각각에 배치될 수도 있다.
그리고, 제1 연결 패드(CNT1)는 구동 트랜지스터(160)의 드레인 전극(164)에 전기적으로 연결되어, 구동 트랜지스터(160)로부터 발광 소자(170b)의 구동을 위한 구동 전압을 인가 받는다. 도 4a 및 도 4b에서는 제1 연결 패드(CNT1)와 구동 트랜지스터(160)의 드레인 전극(164)이 직접적으로 접촉하지 않고 간접적으로 연결되는 것을 도시하였으나, 이에 한정되지 않고 제1 연결 패드(CNT1)와 구동 트랜지스터(160)의 드레인 전극(164)는 직접적으로 접촉할 수 있다. 그리고, 제2 연결 패드(CNT2)에는 발광 소자(170b)의 구동을 위한 저전위 전압이 인가된다. 이에, 표시 장치(100)가 온(on)되면 제1 연결 패드(CNT1) 및 제2 연결 패드(CNT2) 각각에 인가되는 서로 상이한 전압 레벨이 각각 n전극(174b)과 p전극(175b)으로 전달되어 발광 소자(170b)가 발광된다.
상부 기판(112)은 상부 기판(112)의 아래에 배치되는 다양한 구성요소들을 지지하는 기판이다. 상부 기판(112)은 상부 스트레쳐블 기판, 상부 신축 기판, 상부 연신 기판, 상부 연성 기판, 상부 가요성 기판, 제2 스트레쳐블 기판, 제2 신축 기판 제2 연신 기판, 제2 연성 기판 또는 제2 가요성 기판으로도 지칭될 수 있다. 구체적으로, 상부 기판(112)은 상부 기판(112)을 구성하는 물질을 코팅한 후 경화시키는 방식으로 형성할 수 있다. 그리고, 상부 기판(112)은 하부 기판(111)과 동일한 물질로 이루어질 수 있다. 예를 들어, 상부 기판(112)은 폴리 메탈 실록산(polydimethylsiloxane; PDMS)과 같은 실리콘 고무(Silicone Rubber), 폴리 우레탄(polyurethane; PU), PTFE(polytetrafluoroethylene) 등의 탄성 중합체(elastomer)로 이루어질 수 있으며, 이에, 유연한 성질을 가질 수 있다. 그러나, 상부 기판(112)의 재질은 이에 제한되는 것은 아니다.
한편, 도 4a 및 도 4b에는 도시되지 않았으나, 상부 기판(112) 상에는 편광층이 배치될 수도 있다. 편광층은 표시 장치(100)의 외부로부터 입사되는 광을 편광시켜, 외광 반사를 감소시키는 기능을 할 수 있다. 또한, 편광층이 아닌 다른 광학 필름 등이 상부 기판(112) 상에 배치될 수 있다.
또한, 하부 기판(111) 전면에 배치되어, 상부 기판(112)과 하부 기판(111) 상에 배치되는 구성요소 사이를 충진시키는 제2 충진층(190b)이 배치될 수 있다. 제2 충진층(190b)은 경화성 접착제로 구성될 수 있다. 구체적으로, 제2 충진층(190b)을 구성하는 물질을 하부 기판(111) 전면에 코팅한 후 경화시키는 방식으로 형성하여, 상부 기판(112)과 하부 기판(111) 상에 배치되는 구성요소 사이에 제2 충진층(190b)을 배치시킬 수 있다. 예를 들어, 제2 충진층(190b)은 OCA (optically clear adhesive)일 수 있으며, 아크릴계 접착제, 실리콘계 접착제 및 우레탄계 접착제등으로 구성될 수 있다.
도 3을 참조하면, 연신 배선(181, 182)은 복수의 화소를 전기적으로 연결하는 배선을 의미한다. 연신 배선(181, 182)은 복수의 배선 패턴(122a, 122b) 상에 배치된다.
보다 구체적으로, 도 4a 및 도 4b를 참조하면, 제1 하부 연신 배선(181a) 및 제2 하부 연신 배선(182a)은 하부 배선 패턴(122a) 상에 배치되고, 제1 상부 연신 배선(181b) 및 제2 상부 연신 배선(182b)은 상부 배선 패턴(122b) 상에 배치될 수 있다.
도 3을 참조하면, 연신 배선(181, 182)은 제1 연신 배선(181), 제2 연신 배선(182)을 포함한다. 제1 연신 배선(181) 및 제2 연신 배선(182)은 복수의 제1 판 패턴(121) 사이에 배치된다. 구체적으로, 제1 연신 배선(181)은 연신 배선(181, 182) 중 복수의 제1 판 패턴(121) 사이에서 X 축 방향으로 연장되는 배선을 의미하고, 제2 연신 배선(182)은 연신 배선(181, 182) 중 복수의 제1 판 패턴(121)사이에서 Y 축 방향으로 연장되는 배선을 의미한다.
보다 구체적으로, 도 4a 및 도 4b에 도시된 바와 같이, 제1 연신 배선(181)은 하부 배선 패턴(122a) 상에 배치되는 제1 하부 연신 배선(181a) 및 상부 배선 패턴(122b) 상에 배치되는 제1 상부 연신 배선(181b)을 포함할 수 있다. 그리고, 제2 연신 배선(182)은 하부 배선 패턴(122a) 상에 배치되는 제2 하부 연신 배선(182a) 및 상부 배선 패턴(122b) 상에 배치되는 제2 상부 연신 배선(182b)을 포함할 수 있다.
연신 배선(181, 182)은 구리(Cu), 알루미늄(Al), 티타늄(Ti), 몰리브덴(Mo)과 같은 금속 재질 또는 구리/몰리브덴-티타늄(Cu/Moti), 티타늄/알루미늄/티타늄(Ti/Al/Ti) 등과 같은 금속 재질의 적층 구조로 이루어질 수 있으나, 이에 제한되는 것은 아니다.
도 3 내지 도 4b를 참조하면, 제1 연신 배선(181)은 제1 방향(X)으로 인접하여 배치된 게이트 패드(GP) 서로 연결할 수 있다. 또는 제1 연신 배선(181)은 제1 방향(X)으로 인접하여 배치된 비연신 배선에 연결될 수 있다. 제1 연신 배선(181)은 게이트 배선, 발광 신호 배선, 고전위 전압 배선 또는 저전위 전압 배선으로 기능할 수 있으나, 이에 제한되지는 않는다. 예를 들면, 제1 하부 연신 배선(181a)은 제1 방향(X)으로 나란히 배치된 상의 게이트 패드(GP)를 전기적으로 연결할 수 있다. 이에, 제1 하부 연신 배선(181a)은 게이트 배선으로 기능할 수 있다. 그리고, 제1 상부 연신 배선(181b)은 제1 방향(X)으로 나란히 배치된 비연신 배선에 연결될 수 있다. 이에, 제1 상부 연신 배선(181b)은 저전위 전압 배선으로 기능할 수 있다. 즉 제1 하부 연신 배선(181a)으로 구현되는 게이트 배선은 상기 하부 배선 패턴(122a) 상에 배치되고, 제1 상부 연신 배선(181b)으로 구현되는 저전위 전압 배선은 상부 배선 패턴(122b) 상에 배치될 수 있다.
도 3 내지 도 4b를 참조하면, 제2 연신 배선(182)은 제2 방향(Y)으로 인접하여 배치된 데이터 패드(DP) 서로 연결할 수 있다. 또는 제2 연신 배선(182)은 제2 방향(Y)으로 인접하여 배치된 비연신 배선에 연결될 수 있다. 제2 연신 배선(182)은 제1 데이터 전압 배선, 제2 데이터 전압 배선 또는 기준 전압 배선으로 기능할 수 있으나, 이에 제한되지는 않는다. 예를 들면, 제2 상부 연신 배선(182b)은 제2 방향(Y)으로 나란히 배치된 데이터 패드(DP)를 전기적으로 연결할 수 있다. 이에, 제2 상부 연신 배선(182b)은 제2 데이터 배선으로 기능할 수 있다. 그리고, 제2 하부 연신 배선(182a)은 제2 방향(Y)으로 나란히 배치된 비연신 배선에 연결될 수 있다. 이에, 제2 하부 연신 배선(182a)은 제1 데이터 배선으로 기능할 수 있다. 즉, 제2 하부 연신 배선(182a)으로 구현되는 제1 데이터 배선은 하부 배선 패턴(122a) 상에 배치되고, 제2 상부 연신 배선(182b)으로 구현되는 제2 데이터 배선은 상부 배선 패턴(122b) 상에 배치될 수 있다.
한편, 도 4a 및 도 4b에 도시된 바와 같이, 제1 하부 연신 배선(181a) 및 제2 하부 연신 배선(182a)은 하부 판 패턴(121a) 상에 배치된 하부 평탄화층(145a)의 상면 및 측면과 접하며 하부 배선 패턴(122a)의 상면으로 연장되어 형성될 수 있다. 그리고, 제1 상부 연신 배선(181b) 및 제2 상부 연신 배선(182b)은 상부 판 패턴(121b) 상에 배치된 상부 평탄화층(146b)의 상면 및 측면과 접하며 상부 배선 패턴(122b)의 상면으로 연장되어 형성될 수 있다.
<서브 화소 회로도>
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 서브 화소의 회로도이다.
이하에서는 설명의 편의상, 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 서브 픽셀(SPX)이 3T(Transistor)1C(Capacitor)의 화소 회로일 경우의 구조 및 이의 동작에 대해서 설명하나, 본 발명이 이에 한정되는 것은 아니다.
도 4a 내지 도 5를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 서브 픽셀(SPX)은 제1 스위칭 트랜지스터(150a), 제2 스위칭 트랜지스터(150b) 구동 트랜지스터(160) 스토리지 커패시터(CS), 기계 소자(170a) 및 발광 소자(170b)를 포함하여 구성될 수 있다.
제1 스위칭 트랜지스터(150a)는 제1 하부 연신 배선(181a)을 통해 공급된 게이트 신호(Scan)에 따라, 제2 하부 연신 배선(182a)을 통해 공급되는 제1 데이터 전압(Vdata1)을 기계 소자(170a)에 인가한다.
그리고, 제1 스위칭 트랜지스터(150a)의 게이트 전극(151a)은 제1 하부 연신 배선(181a)에 전기적으로 연결되고, 제1 스위칭 트랜지스터(150a)의 소스 전극(153a)은 제2 하부 연신 배선(182a)에 연결되고, 제1 스위칭 트랜지스터(150a)의 드레인 전극(154a)은 기계 소자(170a)에 연결된다.
기계 소자(170a)는 제1 스위칭 트랜지스터(150a)부터 인가된 제1 데이터 전압(Vdata1)에 따라 연신되도록 동작할 수 있다. 그리고, 기계 소자(170a)의 제1 전극(171a)은 제1 스위칭 트랜지스터(150a)에 연결되어, 제1 데이터 전압(Vdata1)을 인가 받고, 제2 전극(172a)은 제1 상부 연신 배선(181a)에 연결되어 저전위 전압(VSS)이 인가받는다. 이에, 도 4a에 도시된 바와 같이, 제1 데이터 전압(Vdata1)이 로우 레벨인 경우에는 기계 소자(170a)가 압축될 수 있다. 반면에, 도 4b에 도시된 바와 같이, 제1 데이터 전압(Vdata1)이 하이 레벨인 경우에는 기계 소자(170a)가 신장될 수 있다. 참고로 전술한 바와 같이, 기계 소자(170a)는 제1 전극(171a), 제2 전극(172a) 및 이의 사이에 배치되는 신축층(173a)으로 구성되므로 회로적으로는 커패시터로 모델링할 수 있다.
제2 스위칭 트랜지스터(150b)는 제1 하부 연신 배선(181a)을 통해 공급된 게이트 신호(Scan)에 따라, 제2 상부 연신 배선(182b)을 통해 공급되는 제2 데이터 전압(Vdata2)을 구동 트랜지스터(160)와 스토리지 커패시터(CS)에 인가한다.
그리고, 제2 스위칭 트랜지스터(150b)의 게이트 전극(151b)은 신축 연결 배선(191)을 통해 제1 하부 연신 배선(181a)에 전기적으로 연결되고, 제2 스위칭 트랜지스터(150b)의 소스 전극(153b)은 제2 상부 연신 배선(182b)에 연결되고, 제2 스위칭 트랜지스터(150b)의 드레인 전극(154b)은 구동 트랜지스터(160)의 게이트 전극(161)에 연결된다.
구동 트랜지스터(160)는 스토리지 커패시터(CS)에 저장된 제2 데이터 전압(Vdata2)에 대응하여, 고전위 전압(VDD)과 제2 데이터 전압(Vdata2)에 따른 구동 전류가 흐르게 동작할 수 있다.
그리고, 구동 트랜지스터(160)의 게이트 전극(161)은 제1 스위칭 트랜지스터(150a)의 드레인 전극(154a)에 전기적으로 연결되고, 구동 트랜지스터(160)의 소스 전극에는 고전위 전압(VDD)이 인가되고, 구동 트랜지스터(160)의 드레인 전극(164)은 발광 소자(170b)에 연결된다.
발광 소자(170b)는 구동 트랜지스터(160)에 의해 형성된 구동 전류에 따라 발광하도록 동작할 수 있다. 그리고, 발광 소자(170b)의 n전극(174)는 제1 상부 연신 배선(181b)에 연결되어 저전위 전압(VSS)이 인가되고, 발광 소자(170b)의 p전극(174)는 구동 트랜지스터(160)의 드레인 전극(164)에 연결되어 구동 전류에 해당하는 구동 전압이 인가될 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 서브 픽셀(SPX)은 제1 스위칭 트랜지스터(150a), 제2 스위칭 트랜지스터(150b), 구동 트랜지스터(160), 스토리지 커패시터(CS) 및 발광 소자(170b)를 포함하는 3T1C 구조로 구성되지만, 보상회로가 추가된 경우 4T1C, 4T2C, 5T2C, 6T1C, 6T2C, 7T1C, 7T2C 등으로 다양하게 구성될 수 있다.
전술한 바와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치는 복수의 화소의 높이를 제어하는 기계 소자(170a)를 포함할 수 있다. 이에, 기계 소자(170a)가 촉각 정보를 반영하는 제1 데이터 전압에 따라 신축됨으로써, 복수의 화소 각각의 높이가 가변될 수 있다. 따라서, 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치는 보다 효과적으로 촉각 디스플레이를 구현할 수 있다.
또한, 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치는 기계 소자가 복수의 내부에 배치됨으로써, 기계 소자를 별도로 제어하는 것이 아닌 데이터 배선을 통해 제어할 수 있다. 이에, 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치는 데이터 배선에 인가되는 데이터 전압을 통해 발광 소자를 제어할 수 있을 뿐만 아니라, 기계 소자 또한 제어할 수 있다. 이에, 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치는 기계 소자와 발광 소자를 한번에 제어할 수 있어, 시각 디스플레이와 촉각 디스플레이를 동기화시킬 수 있다.
본 발명의 다양한 실시예들에 따른 표시 장치는 다음과 같이 설명될 수 있다.
전술한 바와 같은 과제를 해결하기 위하여, 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치는 연신 가능한 하부 기판 및 하부 기판 상에 배치되고, 복수의 판 패턴과 복수의 배선 패턴으로 구성되는 패턴층 및 복수의 판 패턴 각각의 상부에 배치되는 복수의 화소를 포함하고, 복수의 화소 각각은 빛을 발광하는 발광 소자와 복수의 화소 각각의 높이를 제어하는 기계 소자를 구비하여, 시각 디스플레이와 촉각 디스플레이를 동시에 구현할 수 있다.
본 발명의 또 다른 특징에 따르면, 복수의 화소 각각은 발광 소자에 구동 전류를 인가하는 구동 트랜지스터, 기계 소자에 촉각 정보를 반영하는 제1 데이터 전압을 인가하는 제1 스위칭 트랜지스터 및 구동 트랜지스터에 시각 정보를 반영하는 제2 데이터 전압을 인가하는 제2 스위칭 트랜지스터를 포함할 수 있다.
본 발명의 또 다른 특징에 따르면, 제1 스위칭 트랜지스터 및 제2 스위칭 트랜지스터는 하나의 게이트 전압이 인가되어, 동시에 턴온될 수 있다.
본 발명의 또 다른 특징에 따르면, 제1 스위칭 트랜지스터는 게이트 배선에 연결되는 게이트 전극, 제1 데이터 전압을 전송하는 제1 데이터 배선에 연결되는 소스 전극 및 기계 소자에 연결되는 드레인 전극을 포함할 수 있다.
본 발명의 또 다른 특징에 따르면, 제2 스위칭 트랜지스터는 게이트 배선에 연결되는 게이트 전극, 제2 데이터 전압을 전송하는 제2 데이터 배선에 연결되는 소스 전극 및 구동 트랜지스터에 연결되는 드레인 전극을 포함할 수 있다.
본 발명의 또 다른 특징에 따르면, 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치는 제1 스위칭 트랜지스터의 게이트 전극과 제2 스위칭 트랜지스터의 게이트 전극을 전기적으로 연결하는 신축 연결 전극을 더 포함할 수 있다.
본 발명의 또 다른 특징에 따르면, 신축 연결 전극은 베이스 폴리머 및 전도성 입자를 포함할 수 있다.
본 발명의 또 다른 특징에 따르면, 발광 소자의 캐소드와 기계 소자는 하나의 저전위 전압 배선에 연결될 수 있다.
본 발명의 또 다른 특징에 따르면, 패턴층은 하부 기판 상에 배치되고, 복수의 하부 판 패턴과 복수의 하부 배선 패턴으로 구성되는 하부 패턴층 및 하부 패턴층 상에 배치되고, 복수의 상부 판 패턴과 복수의 상부 배선 패턴으로 구성되는 상부 패턴층을 포함할 수 있다.
본 발명의 또 다른 특징에 따르면, 하부 패턴층 및 상부 패턴층 사이에 충진되고 연신 가능한 충전층을 더 포함할 수 있다.
본 발명의 또 다른 특징에 따르면, 기계 소자는 하부 판 패턴 상에 배치되고, 발광 소자는 상부 판 패턴 상에 배치될 수 있다.
본 발명의 또 다른 특징에 따르면, 제1 스위칭 트랜지스터는 하부 판 패턴 상에 배치되고, 제1 스위칭 트랜지스터 및 구동 트랜지스터는 상부 판 패턴 상에 배치될 수 있다.
본 발명의 또 다른 특징에 따르면, 제1 데이터 전압을 전송하는 제1 데이터 배선은 하부 배선 패턴 상에 배치되고, 제2 데이터 전압을 전송하는 제2 데이터 배선은 상부 배선 패턴 상에 배치될 수 있다.
본 발명의 또 다른 특징에 따르면, 게이트 전압을 전송하는 게이트 배선은 하부 배선 패턴 상에 배치되고, 저전위 전압을 전송하는 저전위 전압 배선은 상부 배선 패턴 상에 배치될 수 있다.
본 발명의 실시예들을 더욱 상세하게 설명하였으나, 본 발명은 반드시 이러한 실시예로 국한되는 것은 아니고, 본 발명의 기술사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 다양하게 변형 실시될 수 있다. 따라서, 본 발명에 개시된 실시예들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시예에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 그러므로, 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다. 본 발명의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.
100: 표시 장치
111: 하부 기판
112: 상부 기판
120: 패턴층
121: 제1 판 패턴
122: 제1 배선 패턴
123: 제2 판 패턴
124: 제2 배선 패턴
141a: 하부 버퍼층
142a: 하부 게이트 절연층
143a: 하부 층간 절연층
144a: 하부 패시베이션층
145a: 하부 평탄화층
141b: 상부 버퍼층
142b: 상부 게이트 절연층
143b: 제1 상부 층간 절연층
144b: 제2 상부 층간 절연층
145b: 상부 패시베이션층
146b: 상부 평탄화층
147b: 뱅크
150a: 제1 스위칭 트랜지스터
150b: 제2 스위칭 트랜지스터
160: 구동 트랜지스터
151a, 151b, 161: 게이트 전극
152a, 152b, 162: 액티브층
153a, 153b: 소스 전극
154a, 154a, 164: 드레인 전극
170a: 기계 소자
171a: 제1 전극
172a: 제2 전극
173a: 신축층
170b: 발광 소자
171b: n형층
172b: 활성층
173b: p형층
174b: p전극
175b: n전극
181: 제1 연신 배선
182: 제2 연신 배선
190a : 제1 충진층
190b : 제2 충진층
191: 신축 연결 전극
PX: 화소
SPX: 서브 화소
GD: 게이트 드라이버
DD: 데이터 드라이버
GP: 게이트 패드
DP: 데이터 패드
PCB: 인쇄 회로 기판
PS: 파워 서플라이
AA: 표시 영역
NA: 비표시 영역

Claims (14)

  1. 연신 가능한 하부 기판; 및
    상기 하부 기판 상에 배치되고, 복수의 판 패턴과 복수의 배선 패턴으로 구성되는 패턴층; 및
    상기 복수의 판 패턴 각각의 상부에 배치되는 복수의 화소;를 포함하고,
    상기 복수의 화소 각각은,
    빛을 발광하는 발광 소자와 상기 복수의 화소 각각의 높이를 제어하는 기계 소자를 구비하는, 표시 장치.
  2. 제1 항에 있어서,
    상기 복수의 화소 각각은,
    상기 발광 소자에 구동 전류를 인가하는 구동 트랜지스터;
    상기 기계 소자에 촉각 정보를 반영하는 제1 데이터 전압을 인가하는 제1 스위칭 트랜지스터; 및
    상기 구동 트랜지스터에 시각 정보를 반영하는 제2 데이터 전압을 인가하는 제2 스위칭 트랜지스터를 포함하는, 표시 장치.
  3. 제2 항에 있어서,
    상기 제1 스위칭 트랜지스터 및 상기 제2 스위칭 트랜지스터는 하나의 게이트 전압이 인가되어, 동시에 턴온되는, 표시 장치.
  4. 제2 항에 있어서,
    상기 제1 스위칭 트랜지스터는,
    게이트 배선에 연결되는 게이트 전극;
    상기 제1 데이터 전압을 전송하는 제1 데이터 배선에 연결되는 소스 전극; 및
    상기 기계 소자에 연결되는 드레인 전극을 포함하는, 표시 장치.
  5. 제2 항에 있어서,
    상기 제2 스위칭 트랜지스터는,
    게이트 배선에 연결되는 게이트 전극;
    상기 제2 데이터 전압을 전송하는 제2 데이터 배선에 연결되는 소스 전극; 및
    상기 구동 트랜지스터에 연결되는 드레인 전극을 포함하는, 표시 장치.
  6. 제2 항에 있어서,
    상기 제1 스위칭 트랜지스터의 게이트 전극과 상기 제2 스위칭 트랜지스터의 게이트 전극을 전기적으로 연결하는 신축 연결 전극을 더 포함하는, 표시 장치.
  7. 제6 항에 있어서,
    상기 신축 연결 전극은 베이스 폴리머 및 전도성 입자를 포함하는, 표시 장치.
  8. 제1 항에 있어서,
    상기 발광 소자의 캐소드와 상기 기계 소자는 하나의 저전위 전압 배선에 연결되는, 표시 장치.
  9. 제3 항에 있어서,
    상기 패턴층은
    상기 하부 기판 상에 배치되고, 복수의 하부 판 패턴과 복수의 하부 배선 패턴으로 구성되는 하부 패턴층; 및
    상기 하부 패턴층 상에 배치되고, 복수의 상부 판 패턴과 복수의 상부 배선 패턴으로 구성되는 상부 패턴층을 포함하는, 표시 장치.
  10. 제9 항에 있어서,
    상기 하부 패턴층 및 상부 패턴층 사이에 충진되고 연신 가능한 충전층을 더 포함하는, 표시 장치.
  11. 제9 항에 있어서,
    상기 기계 소자는 상기 하부 판 패턴 상에 배치되고,
    상기 발광 소자는 상기 상부 판 패턴 상에 배치되는, 표시 장치.
  12. 제9 항에 있어서,
    상기 제1 스위칭 트랜지스터는 상기 하부 판 패턴 상에 배치되고,
    상기 제1 스위칭 트랜지스터 및 상기 구동 트랜지스터는 상기 상부 판 패턴 상에 배치되는, 표시 장치.
  13. 제9 항에 있어서,
    상기 제1 데이터 전압을 전송하는 제1 데이터 배선은 상기 하부 배선 패턴 상에 배치되고,
    상기 제2 데이터 전압을 전송하는 제2 데이터 배선은 상기 상부 배선 패턴 상에 배치되는, 표시 장치.
  14. 제9 항에 있어서,
    상기 게이트 전압을 전송하는 게이트 배선은 상기 하부 배선 패턴 상에 배치되고,
    저전위 전압을 전송하는 저전위 전압 배선은 상기 상부 배선 패턴 상에 배치되는, 표시 장치.
KR1020210192533A 2021-12-30 2021-12-30 표시 장치 KR20230102424A (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020210192533A KR20230102424A (ko) 2021-12-30 2021-12-30 표시 장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020210192533A KR20230102424A (ko) 2021-12-30 2021-12-30 표시 장치

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20230102424A true KR20230102424A (ko) 2023-07-07

Family

ID=87154980

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020210192533A KR20230102424A (ko) 2021-12-30 2021-12-30 표시 장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR20230102424A (ko)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR20210036706A (ko) 스트레쳐블 표시 장치
KR20210025417A (ko) 스트레쳐블 표시 장치
CN114447015A (zh) 显示装置
KR20210048807A (ko) 스트레쳐블 표시 장치
CN114520247A (zh) 可拉伸显示装置
US11714504B2 (en) Display device
KR20230102424A (ko) 표시 장치
JP7442598B2 (ja) 表示装置
JP7429748B2 (ja) 表示パネル及びそれを含む表示装置
US20230214077A1 (en) Touch panel and display device including the same
US20240128279A1 (en) Display device
US11874705B2 (en) Display device
US20230217707A1 (en) Display device
US20230215873A1 (en) Display device
US20230215874A1 (en) Display device
KR20240064409A (ko) 표시 장치
KR20230103933A (ko) 터치 패널 및 이를 포함하는 표시 장치
KR20240047052A (ko) 표시 장치
KR20220057124A (ko) 표시 장치
KR20220057103A (ko) 표시 장치
KR20220071060A (ko) 표시 장치
KR20230100996A (ko) 표시 장치
KR20240039414A (ko) 표시 장치
KR20240078019A (ko) 표시 장치
KR20240014305A (ko) 표시 장치