KR20230085693A - Apparatus and Method for Manufacturing large-area panel structure - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명의 기술적 사상은 대면적 패널 구조체의 제조 장치 및 이를 이용한 대면적 패널 구조체의 제조 방법에 관한 것이다.The technical idea of the present invention relates to an apparatus for manufacturing a large area panel structure and a method for manufacturing a large area panel structure using the same.
전자 부품을 외부의 환경으로부터 보호하기 위해서, 반도체 칩과 같은 전자 부품을 덮어 보호하는 몰딩층을 사용한다. 몰딩층을 형성하기 위한 방법에는 컴프레션 몰딩(Compression molding)과 트렌스퍼 몰딩(transfer molding)이 있다. 컴프레션 몰딩에서는 캐리어의 캐비티 상에 몰드를 공급하고, 전자 부품을 장착한 기판을 캐리어의 캐비티에 채워진 몰드에 가압하여 몰딩층을 형성하게 된다. 대면적 패널 구조체의 경우 그 크기 때문에, 휨 현상(Warpage)이 발생하고, 두께균일도(Total Thickness Variation)가 커지게 될 수 있으며, 대면적 패널 구조체의 일부분이 몰딩층에 의해 덮이지 않는 미성형 이슈가 발생할 수 있다.In order to protect electronic components from an external environment, a molding layer covering and protecting electronic components such as semiconductor chips is used. Methods for forming the molding layer include compression molding and transfer molding. In compression molding, a molding layer is formed by supplying a mold onto a cavity of a carrier and pressing a substrate on which an electronic component is mounted onto a mold filled in the cavity of the carrier. In the case of a large-area panel structure, due to its size, warpage may occur and total thickness variation may increase, and a non-molded issue in which a part of the large-area panel structure is not covered by the molding layer may occur.
본 발명의 기술적 사상이 해결하고자 하는 과제는 대면적 패널 구조체 제조 후에 대면적 패널 외곽부의 미성형 또는 플로우마크가 발생하지 않으며, 대면적 패널의 두께균일도 및 휨 현상을 감소시킬 수 있는 대면적 패널 구조체의 제조 방법을 제공하는데 있다.A problem to be solved by the technical idea of the present invention is a large-area panel structure capable of reducing the thickness uniformity and warpage of a large-area panel without generating non-forming or flow marks on the outer portion of the large-area panel after manufacturing the large-area panel structure. It is to provide a manufacturing method of.
본 발명이 해결하고자 하는 또 다른 과제는 대면적 패널 구조체 제조 후에 대면적 패널 외곽부의 미성형 또는 플로우마크가 발생하지 않으며, 대면적 패널의 두께균일도 및 휨 현상을 감소시킬 수 있는 대면적 패널 구조체의 제조 장치를 제공하는데 있다.Another problem to be solved by the present invention is a large-area panel structure that can reduce the thickness uniformity and warpage of the large-area panel without the occurrence of non-forming or flow marks on the outer portion of the large-area panel after manufacturing the large-area panel structure. It is to provide manufacturing equipment.
상술한 과제를 해결하기 위하여 본 발명의 기술적 사상은 적어도 하나의 몰드 이송 트레이 상에 입상 몰드를 공급하는 단계; 상기 몰드 이송 트레이를 대면적 트레이 상에 배치하는 단계; 재분배 트레이에 상기 입상 몰드를 통과시킴으로써, 캐리어 상에 입상 몰드층을 형성하는 단계; 상기 입상 몰드층의 균일도를 확인하는 단계; 및 반도체 칩들이 탑재된 패널 기판을 상기 입상 몰드층에 가압함으로써, 반도체 칩들을 덮는 대면적 패널의 몰딩층을 형성하는 단계; 를 포함하는 대면적 패널 구조체 제조 방법을 제공한다.In order to solve the above problems, the technical idea of the present invention is to supply granular molds on at least one mold transfer tray; placing the mold transfer tray on a large area tray; forming a granular mold layer on a carrier by passing the granular mold through a redistribution tray; checking the uniformity of the granular mold layer; and forming a molding layer of a large-area panel covering the semiconductor chips by pressing the panel substrate on which the semiconductor chips are mounted against the granular mold layer. It provides a large-area panel structure manufacturing method comprising a.
예시적인 일 실시예로, 상기 입상 몰드의 공급은 상기 몰드 이송 트레이 상의 단일의 개시 위치로부터 상기 개시 위치로 되돌아오는 이동 경로를 따라 이루어지며, 상기 이동 경로는 상기 몰드 이송 트레이를 가상적인 중앙선에 대해 대칭인 2개의 영역으로 분할했을 때 상기 분할선에 대해 대칭이며, , 상기 2개의 영역에서 각각 복수 회 꺾이는 것을 특징으로 한다.In one exemplary embodiment, the supply of the granular mold is made along a travel path from a single starting position on the mold transfer tray back to the starting position, the moving path moving the mold transfer tray relative to an imaginary centerline. It is symmetrical with respect to the dividing line when divided into two symmetric regions, and is characterized in that each of the two regions is bent multiple times.
예시적인 일 실시예로, 상기 몰드 이송 트레이 양 단변에 입상 몰드를 추가로 공급하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.As an exemplary embodiment, the method further comprises the step of additionally supplying granular molds to both ends of the mold transfer tray.
예시적인 일 실시예로, 상기 몰드 이송 트레이 외곽부에 상기 입상 몰드를 추가로 공급하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.As an exemplary embodiment, the method may further include supplying the granular mold to an outer portion of the mold transfer tray.
예시적인 일 실시예로, 상기 입상 몰드는 L 또는 U 형태로 추가로 공급되는 것을 특징으로 한다.As an exemplary embodiment, the granular mold is characterized in that it is additionally supplied in an L or U shape.
예시적인 일 실시예로, 상기 몰드 이송 트레이의 외곽부에 대한 입상 몰드 공급 시간은 상기 몰드 이송 트레이의 중심부에 대한 입상 몰드 공급 시간보다 더 긴 것을 특징으로 한다.In an exemplary embodiment, the granular mold supply time to the outer portion of the mold transfer tray is longer than the granular mold supply time to the central portion of the mold transfer tray.
예시적인 일 실시예로, 상기 재분배 트레이의 면적은 상기 대면적 트레이의 면적보다 더 넓은 것을 특징으로 한다.In an exemplary embodiment, the area of the redistribution tray is larger than that of the large-area tray.
예시적인 일 실시예로, 상기 재분배 트레이의 미세홀은 원형인 것을 특징으로 한다.As an exemplary embodiment, the microholes of the redistribution tray are circular.
예시적인 일 실시예로, 상기 재분배 트레이 외곽부의 미세홀 크기는 상기 재분배 트레이 중심부의 미세홀 크기보다 더 큰 것을 특징으로 한다.In an exemplary embodiment, the size of the microholes at the outer portion of the redistribution tray is larger than the size of the microholes at the center of the redistribution tray.
상술한 과제를 해결하기 위하여 본 발명의 기술적 사상은 하나의 몰드 이송 트레이 상에 입상 몰드를 공급하는 단계; 상기 몰드 이송 트레이로부터 대면적 트레이 상에 상기 입상 몰드를 공급하는 단계; 재분배 트레이에 상기 입상 몰드를 통과시킴으로써, 캐리어 상에 입상 몰드층을 형성하는 단계; 상기 입상 몰드층의 균일도를 확인하는 단계; 및 반도체 칩들이 탑재된 패널 기판을 상기 입상 몰드층에 가압함으로써, 반도체 칩들을 덮는 대면적 패널의 몰딩층을 형성하는 단계; 를 포함하는 대면적 패널 구조체의 제조 방법을 제공한다.In order to solve the above problems, the technical idea of the present invention is to supply a granular mold on one mold transfer tray; supplying the granular mold from the mold transfer tray onto a large-area tray; forming a granular mold layer on a carrier by passing the granular mold through a redistribution tray; checking the uniformity of the granular mold layer; and forming a molding layer of a large-area panel covering the semiconductor chips by pressing the panel substrate on which the semiconductor chips are mounted against the granular mold layer. It provides a method for manufacturing a large area panel structure comprising a.
예시적인 일 실시예로, 상기 몰드 이송 트레이 면적은 상기 대면적 트레이 면적의 0.25배 내지 0.5배인 것을 특징으로 한다.As an exemplary embodiment, the area of the mold transfer tray is 0.25 to 0.5 times the area of the large-area tray.
상술한 과제를 해결하기 위하여 본 발명의 기술적 사상은 패널 기판, 상기 패널 기판 상의 반도체 칩들, 및 상기 반도체 칩들을 덮는 몰드층을 포함하는 대면적 패널 구조체를 제조하기 위한, 대면적 패널 구조체의 제조 장치로서, 몰드 공급 장치; 대면적 트레이; 입상 몰드 패턴이 형성되는 제1 면을 포함하고, 상기 대면적 트레이의 상기 관통홀에 회전 가능하게 장착된 몰드 이송 트레이; 상기 몰드 이송 트레이의 아래에 배치되고, 상기 입상 몰드 패턴을 구성하는 입상 몰드가 통과하는 미세 홀들을 가지는 재분배 트레이; 상기 재분배 트레이의 아래에 배치되고, 상기 재분배 트레이의 상기 미세 홀들을 통과한 상기 입상 몰드가 적층되어 형성된 입상 몰드층이 수용된 캐비티를 가지는 캐리어; 상기 캐리어의 상기 캐비티에 내의 상기 입상 몰드층의 균일도를 검사하는 검사 장치; 및 반도체 칩들이 탑재된 패널 기판을 지지하고, 상기 캐리어의 상기 캐비티 내에 제공된 상기 입상 몰드층에 상기 반도체 칩들이 매립되도록 상기 패널 기판을 이동시키는 가압 장치; 를 포함하는 대면적 패널 구조체의 제조 장치를 제공한다.In order to solve the above problems, the technical idea of the present invention is a large area panel structure manufacturing apparatus for manufacturing a large area panel structure including a panel substrate, semiconductor chips on the panel substrate, and a mold layer covering the semiconductor chips. As a mold supply device; large area tray; a mold transfer tray including a first surface on which a granular mold pattern is formed and rotatably mounted in the through hole of the large area tray; a redistribution tray disposed below the mold transfer tray and having minute holes through which the granular mold constituting the granular mold pattern passes; a carrier disposed below the redistribution tray and having a cavity accommodating a granular mold layer formed by stacking the granular molds passing through the fine holes of the redistribution tray; an inspection device for inspecting uniformity of the granular mold layer in the cavity of the carrier; and a pressing device supporting a panel substrate on which semiconductor chips are mounted and moving the panel substrate so that the semiconductor chips are embedded in the granular mold layer provided in the cavity of the carrier. It provides a manufacturing apparatus for a large area panel structure comprising a.
예시적인 일 실시예로, 상기 몰드 공급 장치는, 상기 입상 몰드를 보관하는 몰드 보관부와, 상기 몰드 보관부에 연결되고, 상기 몰드 보관부로부터 전달된 상기 입상 몰드를 트레이 스테이지에 탑재된 상기 몰드 이송 트레이에 공급하는 트로프를 포함하는 입상 몰드 공급부; 상기 몰드 보관부를 진동시키도록 구성된 진동부; 및 상기 몰드 보관부의 무게를 검출하도록 구성된 무게 센서; 를 포함하는 것을 특징으로 한다.In an exemplary embodiment, the mold supply device includes a mold storage unit for storing the granular mold, the mold connected to the mold storage unit, and mounting the granular mold delivered from the mold storage unit on a tray stage. A granular mold supply unit including a trough for supplying to the transfer tray; a vibration unit configured to vibrate the mold storage unit; and a weight sensor configured to detect a weight of the mold storage unit. It is characterized in that it includes.
예시적인 일 실시예로, 상기 입상 몰드 공급부는 미리 정해진 이동 궤적을 따라 이동하면서 상기 입상 몰드를 상기 몰드 이송 트레이에 제공하여, 상기 몰드 이송 트레이의 상기 제1 면에 상기 입상 몰드 패턴을 형성하고, 상기 트레이 스테이지는 상기 입상 몰드 패턴이 형성된 상기 몰드 이송 트레이를 상기 대면적 트레이로 이송하는 것을 특징으로 한다.In one exemplary embodiment, the granular mold supply unit provides the granular mold to the mold transfer tray while moving along a predetermined movement trajectory, thereby forming the granular mold pattern on the first surface of the mold transfer tray; The tray stage is characterized in that the mold transfer tray on which the granular mold pattern is formed is transferred to the large-area tray.
본 발명의 예시적인 실시예들에 의하면, 상기 몰드 이송 트레이를 상기 대면적 트레이 상에 배치함으로써, 대면적 패널에도 적용 가능한 입상 몰드층을 형성할 수 있으며, 입상 몰드 패턴을 통해 대면적 패널 구조체의 플로우 마크나 미성형을 방지할 수 있으며, 입상 몰드의 재분배 과정을 통해 균일한 입상 몰드층을 형성함으로써, 두께균일도(Total Thickness Variation, TTV) 및 휨(Warpage) 현상이 감소된 대면적 패널 구조체를 제공할 수 있다.According to exemplary embodiments of the present invention, by disposing the mold transfer tray on the large-area tray, it is possible to form a granular mold layer applicable to a large-area panel, and through the granular mold pattern, the large-area panel structure It is possible to prevent flow marks or under-molding, and by forming a uniform granular mold layer through the process of redistribution of granular mold, a large-area panel structure with reduced Total Thickness Variation (TTV) and warpage phenomenon can provide
도 1은 본 발명의 예시적인 실시예들에 따른 대면적 패널 구조체의 제조 방법을 개략적으로 나타내는 흐름도이다.
도 2a 내지 도 2f는 대면적 패널 구조체 제조 방법의 각 단계를 나타내는 개념도이다.
도 3a 및 도 3b는 몰드 이송 트레이에 대한 트로프의 상대 위치가 이동하는 궤도를 나타내는 상면도이다.
도 4a는 입상 몰드층이 형성되는 캐리어를 개략적으로 나타내는 단면도이다. 도 4b는 입상 몰드층이 형성되는 캐리어를 개략적으로 나타내는 상면도이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 몰드 이송 트레이의 외곽부에 입상 몰드를 추가적으로 공급하는 단계를 더 포함하는 대면적 패널 구조체의 제조 방법을 나타내는 평면도이다.
도 6는 본 발명의 일 실시예에 따른 몰드 이송 트레이의 외곽부에 입상 몰드를 추가적으로 공급하는 단계를 더 포함하는 대면적 패널 구조체의 제조 방법을 나타내는 상면도이다.
도 7은, 본 발명의 일 실시예에 따른 몰드 이송 트레이의 외곽부에 대한 입상 몰드 공급 시간이 몰드 이송 트레이의 중심부에 대한 입상 몰드 공급 시간보다 더 긴 것을 특징으로 하는 대면적 패널 구조체의 제조 방법을 나타내는 상면도이다.
도 8a는 본 발명의 일 실시예에 따른 재분배 트레이를 나타내는 사시도이다. 도 8b는 본 발명의 일 실시예에 따른 재분배 트레이를 나타내는 사시도이다.
도 9는 본 발명의 일 실시예에 따른 대면적 패널 구조체의 제조 방법을 개략적으로 나타내는 흐름도이다.1 is a flowchart schematically illustrating a manufacturing method of a large area panel structure according to exemplary embodiments of the present invention.
2A to 2F are conceptual diagrams illustrating each step of a method for manufacturing a large-area panel structure.
3A and 3B are top views showing a trajectory in which the relative position of the trough relative to the mold transfer tray moves.
4A is a schematic cross-sectional view of a carrier on which a granular mold layer is formed. 4B is a top view schematically showing a carrier on which a granular mold layer is formed.
5 is a plan view illustrating a manufacturing method of a large-area panel structure further including a step of additionally supplying a granular mold to an outer portion of a mold transfer tray according to an embodiment of the present invention.
6 is a top view illustrating a method of manufacturing a large-area panel structure, further including a step of additionally supplying a granular mold to an outer portion of a mold transfer tray according to an embodiment of the present invention.
7 is a manufacturing method of a large-area panel structure, characterized in that the granular mold supply time to the outer portion of the mold transfer tray is longer than the granular mold supply time to the central portion of the mold transfer tray according to an embodiment of the present invention. is a top view showing
8A is a perspective view illustrating a redistribution tray according to an embodiment of the present invention. 8B is a perspective view illustrating a redistribution tray according to an embodiment of the present invention.
9 is a flowchart schematically illustrating a method of manufacturing a large-area panel structure according to an embodiment of the present invention.
이하, 첨부도면을 참조하여 본 발명 개념의 바람직한 실시예들을 상세히 설명하기로 한다. 그러나, 본 발명 개념의 실시예들은 여러 가지 다른 형태로 변형될 수 있으며, 본 발명 개념의 범위가 아래에서 상술하는 실시예들로 인해 한정되는 것으로 해석되어서는 안 된다. 본 발명 개념의 실시예들은 당 업계에서 평균적인 지식을 가진 자에게 본 발명 개념을 보다 완전하게 설명하기 위해서 제공되는 것으로 해석되는 것이 바람직하다. 동일한 부호는 시종 동일한 요소를 의미한다. 나아가, 도면에서의 다양한 요소와 영역은 개략적으로 그려진 것이다. 따라서, 본 발명 개념은 첨부한 도면에 그려진 상대적인 크기나 간격에 의해 제한되어지지 않는다.Hereinafter, preferred embodiments of the concept of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. However, embodiments of the inventive concept may be modified in many different forms, and the scope of the inventive concept should not be construed as being limited due to the embodiments described below. Embodiments of the inventive concept are preferably interpreted as being provided to more completely explain the inventive concept to those with average knowledge in the art. The same sign means the same element throughout. Further, various elements and areas in the drawings are schematically drawn. Accordingly, the inventive concept is not limited by the relative size or spacing drawn in the accompanying drawings.
제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성 요소들을 설명하는 데 사용될 수 있지만, 상기 구성 요소들은 상기 용어들에 의해 한정되지 않는다. 상기 용어들은 하나의 구성 요소를 다른 구성 요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다. 예를 들어, 본 발명 개념의 권리 범위를 벗어나지 않으면서 제1 구성 요소는 제2 구성 요소로 명명될 수 있고, 반대로 제2 구성 요소는 제1 구성 요소로 명명될 수 있다.Terms such as first and second may be used to describe various components, but the components are not limited by the terms. These terms are only used for the purpose of distinguishing one component from another. For example, a first element may be termed a second element, and conversely, a second element may be termed a first element, without departing from the scope of the inventive concept.
본 출원에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시예들을 설명하기 위해 사용된 것으로서, 본 발명 개념을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 출원에서, "포함한다" 또는 "갖는다" 등의 표현은 명세서에 기재된 특징, 개수, 단계, 동작, 구성 요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 개수, 동작, 구성 요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.Terms used in this application are only used to describe specific embodiments, and are not intended to limit the concept of the present invention. Singular expressions include plural expressions unless the context clearly dictates otherwise. In this application, the expression "comprises" or "has" is intended to indicate that there is a feature, number, step, operation, component, part, or combination thereof described in the specification, but one or more other features or It should be understood that the presence or addition of a number, operation, component, part, or combination thereof is not precluded.
달리 정의되지 않는 한, 여기에 사용되는 모든 용어들은 기술 용어와 과학 용어를 포함하여 본 발명 개념이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 공통적으로 이해하고 있는 바와 동일한 의미를 지닌다. 또한, 통상적으로 사용되는, 사전에 정의된 바와 같은 용어들은 관련되는 기술의 맥락에서 이들이 의미하는 바와 일관되는 의미를 갖는 것으로 해석되어야 하며, 여기에 명시적으로 정의하지 않는 한 과도하게 형식적인 의미로 해석되어서는 아니 될 것임은 이해될 것이다.Unless defined otherwise, all terms used herein, including technical terms and scientific terms, have the same meaning as commonly understood by a person of ordinary skill in the art to which the concept of the present invention belongs. In addition, commonly used terms as defined in the dictionary should be interpreted as having a meaning consistent with what they mean in the context of the technology to which they relate, and in an overly formal sense unless explicitly defined herein. It will be understood that it should not be interpreted.
도 1은 본 발명의 예시적인 실시예들에 따른 대면적 패널 구조체의 제조방법을 개략적으로 나타내는 흐름도이다. 도 2a 내지 도 2f는 대면적 패널 구조체의 제조 방법의 각 단계를 나타내는 개념도이다. 도 3a 및 도 3b는 몰드 이송 트레이에 대한 트로프의 상대 위치가 이동하는 궤도를 나타내는 평면도이다.1 is a flowchart schematically illustrating a manufacturing method of a large area panel structure according to exemplary embodiments of the present invention. 2A to 2F are conceptual views illustrating each step of a manufacturing method of a large-area panel structure. 3A and 3B are plan views showing a trajectory in which the relative position of the trough relative to the mold transfer tray moves.
도 1을 참조하면, 패널 기판(310), 반도체 칩들(320), 및 몰딩층(330)을포함하는 대면적 패널 구조체의 제조 방법은 적어도 하나의 몰드 이송 트레이 상에 입상 몰드(P)를 공급하는 단계(S110), 상기 몰드 이송 트레이를 대면적 트레이 상에 배치하는 단계(S120), 재분배 트레이에 상기 입상 몰드(P)를 통과시킴으로써, 입상 몰드층(PL)을 형성하는 단계(S130), 상기 입상 몰드층(PL)의 균일도를 확인하는 단계(S140), 및 반도체 칩들이 탑재된 패널 기판을 상기 입상 몰드층(PL)에 가압하여, 반도체 칩들을 덮는 몰딩층을 형성하는 단계(S150)를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 1 , a method of manufacturing a large-area panel structure including a
도 1 및 도 2a를 참조하면, 몰드 공급 장치(100)는 입상 몰드(P)를 적어도 하나의 몰드 이송 트레이(210) 상에 공급할 수 있다(S110). 몰드 공급 장치(100)는 입상 몰드(P)가 공급되는 통로인 트로프(Trough)(110), 입상 몰드(P)가 공급되기 전 입상 몰드(P)를 보관하는 몰드 보관부(120), 트로프(110) 및 몰드 보관부(120)를 진동시키는 진동부(130), 및 입상 몰드(P)의 중량을 측정하는 무게 센서(140)를 포함할 수 있다. Referring to FIGS. 1 and 2A , the
트로프(110)는 입상 몰드(P)를 공급하는 통로가 되며, 몰드 보관부(120)에 보관되는 입상 몰드(P)가 트로프를 통해 몰드 이송 트레이(210)로 공급될 수 있다. 트로프(110)는 입상 몰드(P)를 몰드 이송 트레이(210)로 공급하기 위한 개구부(미도시)가 포함될 수 있다. 몰드 보관부(120)로부터 입상 몰드(P)를 공급받기 위해 트로프(110)의 일부분은 몰드 보관부(120)에 연결될 수 있다. 도면 2a에는 트로프(110)가 직육면체의 형상으로 표현되어 있으나, 이에 한정되지 않고 예를 들어, 원기둥 형상일 수 있다. The
몰드 보관부(120)는 입상 몰드(P)를 보관할 수 있다. 몰드 보관부(120)의 상부에는 원공급부(미도시)가 위치할 수 있다. 상기 원공급부는 몰드 보관부(120)에 보관 중인 입상 몰드(P)의 양이 부족할 경우, 몰드 보관부(120)로 필요한 만큼의 입상 몰드(P)를 공급할 수 있다. The
진동부(130)는 몰드 보관부(120)와 트로프(110)를 진동시켜 입상 몰드(P)를 몰드 이송 트레이(210)에 공급할 수 있다. 진동부(130)의 동작은 제어부(180)에 의해 제어될 수 있다. 진동부(130)는 제어부(180)와 전기적 신호를 송수신하도록 구성될 수 있다. 제어부(180)에 의해 진동부(130)의 진동 속도가 제어됨으로써, 몰드 보관부(120) 및 트로프(110)의 진동 속도를 제어하고, 이를 통해 입상 몰드(P)의 공급 속도를 조절할 수 있다.The
무게 센서(140)는 입상 몰드(P)의 중량을 측정할 수 있다. 무게 센서(140)는 트로프(110)의 중량, 몰드 보관부(120)의 중량, 및 몰드 보관부(120)에 보관되어 있는 입상 몰드(P)의 중량을 합친 중량을 측정할 수 있다. 트로프(110) 및 몰드 보관부(120)의 중량은 일정하기 때문에, 무게 센서(140)를 통해 측정된 중량에서 트로프(110) 및 몰드 보관부(120)의 중량을 빼면 입상 몰드(P)의 중량을 구할 수 있다. 예를 들어, 무게 센서(140)는 적어도 하나의 무게 센서(미도시)를 포함할 수 있다. 무게 센서(140)는 제어부(180)와 전기적 신호를 송수신하도록 구성되며, 검출된 중량 정보를 제어부(180)에 전달하도록 구성될 수 있다.The
트로프(110)에 포함된 상기 개구부 아래에는 몰드 이송 트레이(210)를 유지하는 트레이 스테이지(150)가 배치될 수 있다. 트레이 스테이지(150)는 몰드 이송 트레이(210)를 지지하는 역할을 한다. A
트레이 스테이지(150)의 아래에는 트레이 스테이지(150)를 이동시키는 스테이지 구동부(160)가 배치될 수 있다. 스테이지 구동부(160)는 제어부(180)와 전기적 신호를 송수신하도록 구성될 수 있다. 스테이지 구동부(160)는 트레이 스테이지(150)를 임의의 속도로 이동 시킬 수 있으므로, 스테이지 구동부(160)에 의해 몰드 이송 트레이(210)에 대한 트로프(110)의 상대 위치가 이동될 수 있다. 스테이지 구동부(160)에 의해 트레이 스테이지(150)는 임의의 X축이나 Y축 방향으로 이동할 수 있고, X축 및 Y축 방향으로 동시에 이동할 수도 있다. 스테이지 구동부(160)의 이동속도는 제어부(180)의 제어 신호에 의해 제어될 수 있고, 스테이지 구동부(160)의 이동속도를 제어하여, 몰드 이송 트레이(210)에 대한 트로프(110)의 상대 속도를 제어할 수 있다.A
트레이 스테이지(150)의 양 측벽에는 이송부(170)가 배치될 수 있다. 이송부(170)는 입상 몰드(P)의 공급이 완료된 몰드 이송 트레이(210)를 대면적 트레이(220)상에 배치할 수 있다. 이송부(170)는 몰드 이송 트레이(210)를 파지 및 홀딩하며, 몰드 이송 트레이(210)를 스테이지 구동부(160)로 이송하거나 스테이지 구동부(160)로부터 목표 위치로 이송하도록 구성될 수 있다. 이송부(170)는 제어부(180)와 전기적 신호를 송수신하도록 구성되며, 이송부(170)의 동작은 제어부(180)에 의해 제어될 수 있다.
몰드 공급 장치(100)는 제어부(180)를 포함할 수 있다. 제어부(180)는 몰드 공급 장치(100)의 동작을 제어할 수 있다. 예를 들어, 제어부(180)는 몰드 공급 장치(100)와 전기적 신호를 송수신하도록 구성될 수 있고, 이를 통해 몰드 공급 장치(100)의 동작을 제어할 수 있다. 제어부(180)는 하드웨어, 펌웨어, 소프트웨어, 또는 이들의 임의의 조합으로 구현될 수 있다. 예를 들어, 제어부(180)는 워크 스테이션 컴퓨터, 데스크탑 컴퓨터, 랩 탑 컴퓨터, 태블릿 컴퓨터 등의 컴퓨팅 장치일 수 있다. 예를 들어, 제어부(180)는 ROM(Read Only Memory), RAM(Random Access Memory) 등의 메모리 장치와, 소정의 연산 및 알고리즘을 수행하도록 구성된 프로세서, 예를 들어 마이크로 프로세서, CPU(Central Processing Unit), GPU(Graphics Processing Unit) 등을 포함할 수 있다. 또한, 제어부(180)는 전기적 신호를 수신 및 송신하기 위한 수신기 및 전송기를 포함할 수 있다. 예를 들어, 제어부(180)는 진동 속도를 조절하기 위해 진동부(130)로부터 전기적 신호를 수신할 수 있고, 진동부(130)로부터 전기적 신호를 송신받아 이를 피드백할 수 있다. The
몰드 공급 장치(100)가 입상 몰드(P)를 몰드 이송 트레이(210) 상에 공급하는 과정을 살펴본다. A process in which the
먼저, 제어부(180)에 의해 동작하는 스테이지 구동부(160)는 트로프(110)가 몰드 이송 트레이(210)상의 소정의 개시 위치(211)(도 3a 참조)에 수직 방향(Z방향)으로 정렬되도록 트레이 스테이지(150)를 이동시킨다. First, the
다음으로, 무게 센서(140)로 몰드 보관부(120)에 보관되는 입상 몰드(P)의 중량을 검출한다. 만약, 검출된 입상 몰드(P)의 양이 미리 정해진 기준값보다 충분히 많은 경우, 제어부(180)에 의해 동작하는 진동부(130)가 몰드 보관부(120) 및 트로프(110)를 진동시켜 후술할 과정처럼 몰드 이송 트레이(210) 상에 입상 몰드(P)를 공급하여 몰드 이송 트레이(210) 상에 입상 몰드 패턴을 형성한다. 만약, 검출된 입상 몰드(P)의 양이 미리 정해진 기준값보다 적은 경우에는, 제어부(180)에 의해 동작하는 상기 원공급부가 몰드 보관부(120) 상에 입상 몰드(P)를 추가로 공급하고, 그 이후 진동부(130)가 몰드 보관부(120) 및 트로프(110)를 진동시켜 몰드 이송 트레이(210) 상에 입상 몰드(P)를 공급한다. 도면 2a에는 몰드 공급 장치(100)가 1개의 트로프(110)를 포함하는 것으로 도시되었으나, 이에 한정되지 아니하고 2개 이상의 트로프(110)를 포함할 수 있으며, 이 경우 몰드 공급 장치(100)는 2 이상의 몰드 이송 트레이(210)에 동시에 전술한 과정을 따라 입상 몰드(P)를 공급할 수 있다.Next, the weight of the granular mold P stored in the
예시적인 실시예에서, 입상 몰드(P)는 에폭시몰딩컴파운드(Epoxy Molding Compound, EMC)일 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 입상 몰드(P)는 폴리이미드 혹은 에폭시 수지에 무기필러와 같은 보강재가 포함된 수지, 구체적으로 ABF(Ajinomoto Build-up Film), FR-4(flame retardant4), BT(Bismaleimide Triazine) 등을 포함할 수 있다. 입상 몰드(P)는 예를 들어, 고형상 또는 파우더 형태일 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다.In an exemplary embodiment, the granular mold P may be an epoxy molding compound (EMC), but is not limited thereto. For example, the granular mold (P) is a polyimide or epoxy resin containing a reinforcing material such as an inorganic filler, specifically ABF (Ajinomoto Build-up Film), FR-4 (flame retardant4), BT (Bismaleimide Triazine) etc. may be included. The granular mold P may be, for example, in a solid or powder form, but is not limited thereto.
도 3a 및 도 3b는 몰드 이송 트레이(210)에 대한 트로프(110)의 상대 위치가 이동하는 궤도를 나타내는 평면도이다.3A and 3B are plan views illustrating a trajectory in which the relative position of the
이하에서, 도 3a 및 도 3b를 참조하여, S110에서, 몰드 이송 트레이(210)에 대한 트로프(110)의 상대 위치를 이동시켜, 몰드 이송 트레이(210)에 입상 몰드 패턴을 형성하는 방법을 설명한다.Hereinafter, a method of forming a granular mold pattern on the
도 3a 및 도 3b에 있어서, 몰드 이송 트레이(210)는 평면적 관점에서 사각형 형태이며, X축 방향에 평행한 두 가장자리들(212, 214)와, Y축 방향에 평행한 두 가장자리들(213, 215)를 가지는 것으로 예시된다. X축 방향에 평행한 두 가장자리들(212, 214)은 각각 장변의 가장자리이고, Y축 방향에 평행한 두 가장자리들(213, 215)은 각각 단변의 가장자리로 지칭될 수 있다. 또한, 가상의 중심선(A-A')은 몰드 이송 트레이(210)의 중심을 지나고 몰드 이송 트레이(210)를 2개의 영역을 지나는 선을 의미할 수 있다. 예를 들어, 가상의 중심선(A-A')은 X축 방향에 평행한 두 가장자리들(212, 214)의 중심들을 연결하는 선일 수 있다.3A and 3B, the
도 3a를 참조하면, 예시적인 실시예에서, 상대 위치는 먼저, 몰드 이송 트레이(210)의 개시 위치(211)로부터 X축과 평행하게, 일방의 단변의 가장자리(213) 부근까지 이동하고, 그 곳에서 타방의 장변의 가장자리(214)를 향해 일정거리(d1)를 Y축과 평행하게 이동한다. 그 후, 상대 위치는 장변의 중앙선(216) 부근까지 X축과 평행하게 이동하고, 그 곳에서 타방의 장변의 가장자리(214)를 향해 일정거리(d2)를 Y축과 평행하게 이동한다. 그 후, 상대 위치는 X 축과 평행하게 일방의 단변의 가장자리(213) 부근까지 이동하고, 그 곳에서 타방의 장변의 가장자리(214) 측을 향해 일정거리(d3)를 Y축과 평행하게 이동하게 된다. 그 후, 상대 위치는 장변의 중앙선(216) 부근까지 X축과 평행하게 이동하고, 그 곳에서 타방의 장변의 가장자리(214)측을 향해 일정거리(d4)를 Y축과 평행하게 이동한다. 그 후, 상대 위치는 X축과 평행하게 일방의 단변의 가장자리(213) 부근까지 이동하고, 그 곳에서 타방의 장변의 가장자리(214)측을 향해 일정거리(d5)를 Y축과 평행하게 이동한다. 상대 위치가 일정거리(d5)를 이동하여 타방의 장변의 가장자리(214) 부근에 오게 되면, 상대 위치는 X축과 평행하게 타방의 단변의 가장자리(215) 부근까지 이동한다. 그 후, 상대 위치는 일방의 장변의 가장자리(212)를 향해 일정거리(d5)를 Y축과 평행하게 이동하고, 장변의 중앙선(216) 부근까지 X축과 평행하게 이동한다. 그곳에서 상대 위치는 일방의 장변의 가장자리(212)를 향해 일정거리(d4)를 Y축과 평행하게 이동하고, 타방의 단변의 가장자리 (215) 부근까지 X축과 평행하게 이동한다. 그 후, 상대 위치는 일방의 장변의 가장자리(212)를 향해 일정거리(d3)를 Y축과 평행하게 이동하고, 장변의 중앙선(216) 부근까지 X축과 평행하게 이동한다. 그 곳에서, 상대 위치는 일방의 장변의 가장자리(212)를 향해 일정거리(d2)를 Y축과 평행하게 이동하고, 타방의 단변의 가장자리(215) 부근까지 X축과 평행하게 이동한다. 그 후, 상대 위치는 일방의 장변의 가장자리(212)를 향해 일정거리(d1)를 Y축과 평행하게 이동한다. 상대 위치가 일방의 장변 가장자리(212)부근에 오게 되면, 상대 위치는 X축과 평행하게 이동하여 개시 위치(211)로 이동한다. 이와 같은 과정을 통해 공급된 입상 몰드(P)는 몰드 이송 트레이(210) 상의 가상의 중심선(A-A')을 기준으로 서로 대칭될 수 있다. 도 3a에서는 위와 같이 상대 위치의 이동 궤도를 도시했으나, 상대 위치의 이동 궤도는 이에 한정되지 않는다. 예를 들어, 도 3a에서는 상대 위치가 직선으로 이동하는 것으로 도시되었으나, 이와 달리 몰드 이송 트레이(210)의 개시 위치(211)로부터 X축과 평행하게 일방의 단변의 가장자리(213) 부근까지 이동하고, 그 곳에서 U자를 그리도록 타방의 장변의 가장자리(214)를 향해 단변이 연장되는 방향으로 이동하면서 상대 위치의 이동 방향을 반전시킬 수 있다. 이 경우에도, 입상 몰드(P)는 몰드 이송 트레이(210) 상의 가상의 중심선(A-A')을 기준으로 서로 대칭될 수 있다.Referring to FIG. 3A , in an exemplary embodiment, the relative position first moves from the starting
몰드 이송 트레이(210)의 개시 위치(211)에서 입상 몰드(P)가 공급이 시작된 직후에는 입상 몰드(P)의 공급 속도가 설정 값이 이르지 못하나, 상대 위치의 이동 궤도에 따라 다시 개시 위치(211)로 되돌아오기 때문에, 이동 궤도 전체로 입상 몰드(P)의 양은 균등하게 공급된다. Immediately after the supply of the granular mold P starts at the starting
도 3b를 참조하면, 또다른 실시예에서, 도 3a에서 도시된 상대 위치의 이동 궤도에 따른 입상 몰드(P)의 공급 이후, 일방의 장변의 가장자리(212)로부터 타방의 장변의 가장자리(214)를 향하는 방향, 혹은 그 반대 방향으로 일방의 단변의 가장자리(213) 부근 및 타방의 단변의 가장자리(215) 부근에 입상 몰드(P)를 추가로 공급할 수도 있다. 이 경우에도, 입상 몰드(P)는 몰드 이송 트레이(210) 상의 가상의 중심선(A-A')을 기준으로 서로 대칭될 수 있다.Referring to FIG. 3B, in another embodiment, after the supply of the granular mold P according to the moving trajectory of the relative position shown in FIG. The granular mold P may be additionally supplied in the vicinity of the
도 3a 및 도 3b에 도시된 상대 위치의 이동 궤도를 따라 입상 몰드(P)가 공급되는 경우, 입상 몰드(P)가 무작위로 공급되는 경우보다 후술할 재분배과정에서 형성되는 입상 몰드층(PL)의 균일도가 더 향상될 수 있다. 입상 몰드층(PL)의 균일도가 향상되므로, 대면적 패널 구조체의 두께균일도 및 휨 현상이 감소될 수 있다.When the granular mold P is supplied along the moving trajectory of the relative position shown in FIGS. 3A and 3B, the granular mold layer PL formed in the redistribution process to be described later is different from the case where the granular mold P is randomly supplied. The uniformity of can be further improved. Since the uniformity of the granular mold layer PL is improved, thickness uniformity and warpage of the large-area panel structure may be reduced.
도 1 및 도 2b를 참조하면, 몰드 이송 트레이(210)를 대면적 트레이(220)상에 배치할 수 있다(S120). 몰드 이송 트레이(210)는 이송부(도2a의 170)에 의해 대면적 트레이(220) 상에 배치될 수 있다. 이송부(170)는 몰드 이송 트레이(210)를 이동시켜, 대면적 트레이(220) 내의 목표 영역 상에 몰드 이송 트레이(210)를 Z축 방향으로 정렬시킬 수 있다. 이송부(170)의 동작은 제어부(180)에 의해 제어될 수 있다. 도 2b에는 대면적 트레이(220) 상에 16개의 몰드 이송 트레이(210)가 배치되는 것으로 도시되었으나, 이에 한정되지 않고 더 적은 수 또는 더 많은 수의 몰드 이송 트레이(210)가 배치될 수 있다. 복수 개의 몰드 이송 트레이(210)를 대면적 트레이(220)상에 배치함으로써, 대면적 패널 구조체에도 활용할 수 있는 대면적 몰드를 제조할 수 있다.Referring to FIGS. 1 and 2B , the
도 1 및 도 2c를 참조하면, 재분배 트레이(230)에 입상 몰드(P)를 통과시킴으로써, 캐리어(240) 상에 입상 몰드층(PL)을 형성할 수 있다(S130). 입상 몰드층(PL)을 형성하는 단계(S130)는 몰드 이송 트레이(210)를 뒤집어 입상 몰드(P)를 재분배 트레이(230)를 향해 하강시키는 단계, 재분배 트레이(230)의 채질에 의해 입상 몰드(P)를 재분배하여 균일한 입상 몰드층(PL)을 형성하는 단계를 포함할 수 있다. 대면적 트레이(220)는 복수의 선형 구조물(미도시)로 구성될 수 있다. 상기 복수의 선형 구조물 중 적어도 일부의 선형 구조물이 뒤집어지면서, 대면적 트레이(220)에 배치된 복수의 몰드 이송 트레이들(210) 중 뒤집히는 상기 일부의 선형 구조물 상에 배치된 몰드 이송 트레이(210)가 뒤집힐 수 있다. 몰드 이송 트레이(210)가 뒤집히면서, 몰드 이송 트레이(210) 상의 입상 몰드(P)는 재분배 트레이(230)를 향해 하강(즉, 자유 낙하)할 수 있다. Referring to FIGS. 1 and 2C , the granular mold layer PL may be formed on the
재분배 트레이(230)는 대면적 트레이(220)의 아래에 배치될 수 있다. 재분배 트레이(230)는 대면적 트레이(220)와 Z 방향으로 정렬될 수 있다. 입상 몰드(P)가 하강할 시, 재분배 트레이(230)는 Z축 방향으로 위아래 진동하며 체질을 할 수 있다. 재분배 트레이(230)는 복수의 미세홀들(H)을 포함할 수 있기 때문에, 하강하는 입상 몰드(P)가 재분배 트레이(230)의 복수의 미세홀들(H)을 통과하여, 후술하듯이 이형 필름(F)이 부착된 캐비티(C)의 일 표면 상에 균일한 입상 몰드층(PL)을 형성할 수 있다. 후술하듯이 검사 장치(250)는 입상 몰드층(PL)의 균일도를 검사할 수 있다. 입상 몰드층(PL)이 균일한 경우, 대면적 패널 구조체의 두께균일도 및 휨 현상을 감소시킬 수 있다.The
도 4a는 입상 몰드층(PL)이 형성되는 캐리어(240)를 개략적으로 나타내는 단면도이다. 도 4b는 입상 몰드층(PL)이 형성되는 캐리어(240)를 개략적으로 나타내는 상면도이다. 이하에서, 도 2c, 도 4a, 및 도 4b를 함께 참조하여, 캐리어(240) 상에 입상 몰드층(PL)을 형성하는 단계를 보다 상세하게 설명한다.4A is a schematic cross-sectional view of the
도 2c 및 도 4a를 참조하면, 재분배 트레이(230)의 아래에는 캐리어(240)가 배치될 수 있다. 캐리어(240)는 이형 필름(F)을 흡착시키기 위해, 공기를 흡인하는 흡착 기구(미도시)를 포함할 수 있다. 캐리어(240)에는 캐비티(C)가 형성될 수 있다. 캐비티(C)는 평면적 관점에서 직사각형의 형상일 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다. 캐비티(C)를 정의하는 캐리어(240)의 표면 상에는 이형 필름(F)이 덮일 수 있다. 이형 필름(F)의 하면과 양 측면은 캐리어(240)와 접촉할 수 있다. 이형 필름(F)의 Z 방향 길이는 캐리어(240)에서 캐비티(C)가 형성되지 않은 영역(S2)의 Z 방향 길이보다 짧을 수 있다. 이형 필름(F) 상에는 재분배 트레이(230)를 통과한 입상 몰드(P)가 쌓여서 입상 몰드층(PL)이 형성될 수 있다.Referring to FIGS. 2C and 4A , a
다시 도 1, 도 2c, 도 4a, 및 도 4b를 참조하면, 캐리어(240)에 입상 몰드층(PL)을 형성한 후에, 이형 필름의 상면에 형성된 입상 몰드층(PL)의 균일도를 확인할 수 있다(S140). 예시적인 실시예에서, 입상 몰드층(PL)의 균일도는 검사 장치(250)를 통해 확인할 수 있다. 검사 장치(250)는 예를 들어, 카메라일 수 있다. 이 경우, 검사 장치(250)는 입상 몰드층(PL)의 적어도 4면, 예를 들어 입상 몰드층(PL) 외곽부인 제1 영역(S1), 제2 영역(S2), 제3 영역(S3), 및 제4 영역(S4), 혹은 그 이상의 이미지를 캡쳐하고, 이를 기준 이미지와 대비하여 입상 몰드층(PL)의 균일도를 확인할 수 있다. 입상 몰드층(PL)의 균일도가 기준을 통과하면 대면적 패널 구조체(300)의 몰딩층(330)을 형성하는 단계(S150)가 진행되지만, 입상 몰드층(PL)의 균일도가 기준을 통과하지 못하면 이를 폐기하고 적어도 하나의 몰드 이송 트레이(210) 상에 입상 몰드(P)를 공급하는 단계(S110)부터 다시 시작한다. S150 단계를 수행하여 두께균일도 및 휨 현상이 감소된 대면적 패널 구조체(300)를 제조할 수 있다.1, 2c, 4a, and 4b again, after forming the granular mold layer PL on the
도 1, 도 2d 내지 도 2f를 참조하면, 반도체 칩들이 탑재된 패널 기판(310)을 상기 입상 몰드층(PL)에 가압함으로써, 대면적 패널 구조체(300)의 몰딩층(330)을 형성할 수 있다(S150). 몰딩층(330)을 형성되는 단계(S150)는 입상 몰드층(PL) 상에 반도체 칩들이 탑재된 패널 기판(310)을 배치하는 단계(S151), 반도체 칩들이 탑재된 패널 기판(310)을 입상 몰드층(PL)에 가압함으로써 몰딩층(330)을 형성하는 단계(S153), 캐리어(240) 및 이형 필름이 제거되는 단계(S153)를 포함할 수 있다. Referring to FIGS. 1 and 2D to 2F , the
S151 단계에서, 준비된 패널 기판(310)은 패널 레벨 팬아웃 반도체 패키지용 기판일 수 있다. 패널 기판의 탑재면 상에는 복수 개의 반도체 칩들(320)이 실장될 수 있다. 패널 기판(310)의 X 방향 길이는 입상 몰드층(PL)이 형성된 영역(S1)의 X 방향 길이와 같거나 보다 더 짧을 수 있다.In step S151 , the
복수 개의 반도체 칩들(320)은 패널 기판(310)상에 배치될 수 있다. 복수 개의 반도체 칩들(320)은 다양한 종류의 복수의 개별 소자들을 포함할 수 있다. 예를 들어, 상기 복수의 개별 소자들은 다양한 미세 소자, 예를 들면 CMOS트랜지스터 등과 같은 MOSFET, CIS(CMOS imaging sensor) 등과 같은 이미지 센서, MEMS(micro-electro-mechanical system), 능동 소자, 수동 소자 등을 포함할 수 있다. A plurality of
패널 기판(310)은 캐리어(240) 상의 입상 몰드층(PL)이 형성된 영역(S1) 상에 입상 몰드층(PL)과 Z 방향으로 정렬되도록 배치될 수 있다. 패널 기판(310)은 패널 기판(310)상에 배치된 복수 개의 반도체 칩들(320)이 탑재된 탑재면이 입상 몰드층(PL)을 향하도록 배치될 수 있다.The
S153 단계에서, 패널 기판(310)에 탑재된 반도체 칩들(320)이 입상 몰드층(PL)에 매립되도록 가압 장치(260)에 의해 Z "?향으?* 하강할 수 있다. 반도체 칩들(320)이 입상 몰드층(PL)에 매립되도록 위치되면, 가압 장치(260)를 이용하여 입상 몰드층(PL)을 가압하고, 상기 입상 몰드층(PL)에 적정 열을 인가할 수 있다. 입상 몰드층(PL)에 적정 압력 및 열이 인가됨에 따라, 복수의 칩들(320) 및 패널 기판(310)을 덮는 몰딩층(330)이 형성될 수 있다. 몰딩층(330)은 패널 기판(310)의 하면(즉, 반도체 칩들(320)이 탑재된 패널 기판(310)의 탑재면)을 덮고, 복수의 칩들(320) 각각의 측벽 및 하면을 덮을 수 있다. 복수 개의 반도체 칩들(320)이 입상 몰드층(PL)을 향하는 방향으로 균일하게 가압되기 때문에, 대면적 패널 구조체(300)의 휨 현상(Warpage) 및 두께균일도 (Total Thickness Variation, TTV)가 감소될 수 있다.In step S153, the
S155 단계에서, 대면적 패널 구조체(300)의 몰딩층(330)을 형성한 이후, 캐리어(240) 및 캐리어 상의 이형 필름은 제거될 수 있다.In step S155 , after forming the
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 몰드 이송 트레이의 외곽부에 입상 몰드를 추가적으로 공급하는 단계를 더 포함하는 대면적 패널 구조체 제조 방법을 나타내는 평면도이다. 도 5에서 화살표는 입상 몰드(P)가 추가적으로 공급되는 경로를 표시한 것이다.5 is a plan view illustrating a method for manufacturing a large-area panel structure, which further includes supplying a granular mold to an outer portion of a mold transfer tray according to an embodiment of the present invention. In FIG. 5 , arrows indicate paths through which the granular mold P is additionally supplied.
도 5를 참조하면, 예시적인 실시예에서, 1차 입상 몰드 패턴 형성 공정을통해 몰드 이송 트레이(210) 상에 1차 입상 몰드 패턴(PA1)을 형성한 후에, 2차 입상 몰드 패턴 형성 공정을 수행할 수 있다. 예를 들어, 도 3a에 설명된 바와 같이 1차 입상 몰드 패턴 형성 공정을 통해 1차 입상 몰드 패턴(PA1)이 형성된 몰드 이송 트레이(210)에 대해, 2차 입상 몰드 패턴 형성 공정을 수행하여 2차 입상 몰드 패턴(PA2)을 형성할 수 있다. 몰드 이송 트레이(210) 상에 도 3a에 따른 상대 위치의 이동 궤도에 따라 입상 몰드(P)가 공급된 이후, 몰드 이송 트레이(210)의 외곽부에 입상 몰드(P)가 L 형태로 추가적으로 공급되는 것에 의해 2차 입상 몰드 패턴(PA2)이 형성될 수 있다. 다만 이에 한정되는 것은 아니고, 도 3b에 따른 상대 위치의 이동 궤도에 따라 입상 몰드(P)가 공급된 후, 입상 몰드(P)가 추가적으로 공급될 수도 있다. 몰드 이송 트레이(210)의 외곽부는 몰드 이송 트레이(210)의 내부 영역에 비해 방향 전환으로 인해 입상 몰드(P)의 공급량이 적을 수 있기 때문에, 입상 몰드(P)를 외곽부에 추가적으로 공급함으로써, 외곽부의 미성형 문제를 해결할 수 있으며 두께균일도를 감소시킬 수 있다. 제어부(180)는 몰드 공급 장치(100)의 동작을 제어하여 몰드 이송 트레이(210)의 외곽부에 입상 몰드(P)를 추가적으로 공급할 수 있다. 입상 몰드(P)의 추가적인 공급은, 외곽부에서 상대 위치의 이동속도를 느리게 조절하거나, 외곽부에서 공급되는 입상 몰드(P)의 양을 늘리는 방법으로 이루어 질 수 있다. 도 5에는 몰드 공급 장치(100)가 2개의 트로프(110)를 통해 몰드 이송 트레이(210)의 외곽부에 입상 몰드(P)를 L 형태로 추가적으로 공급하는 것으로 도시되었으나, 이에 한정되지 않고, 예를 들어 몰드 공급 장치(100)가 4개의 트로프(110)를 통해 몰드 이송 트레이(210)의 외곽부에 입상 몰드(P)를 공급할 수도 있다.Referring to FIG. 5 , in an exemplary embodiment, after the first granular mold pattern PA1 is formed on the
도 6는 본 발명의 일 실시예에 따른 몰드 이송 트레이의 외곽부에 입상 몰드를 추가적으로 공급하는 단계를 더 포함하는 대면적 패널 구조체 제조 방법을 나타내는 상면도이다. 도 6에서 화살표는 입상 몰드(P)가 추가적으로 공급되는 경로를 표시한 것이다.6 is a top view illustrating a method for manufacturing a large-area panel structure, which further includes a step of additionally supplying a granular mold to an outer portion of a mold transfer tray according to an embodiment of the present invention. In FIG. 6, an arrow indicates a path through which the granular mold P is additionally supplied.
도 6를 참조하면, 예시적인 실시예에서, 1차 입상 몰드 패턴 형성 공정을 통해 몰드 이송 트레이(210) 상에 1차 입상 몰드 패턴(PA3)을 형성한 후에, 2차 입상 몰드 패턴 형성 공정을 수행할 수 있다. 예를 들어, 도 3a에 설명된 바와 같이 1차 입상 몰드 패턴 형성 공정을 통해 1차 입상 몰드 패턴(PA3)이 형성된 몰드 이송 트레이(210)에 대해, 2차 입상 몰드 패턴 형성 공정을 수행하여 2차 입상 몰드 패턴(PA4)을 형성할 수 있다. 몰드 이송 트레이(210) 상에 도 3a 에 따른 상대 위치의 이동 궤도에 따라 입상 몰드(P)가 공급된 이후, 몰드 이송 트레이(210)의 외곽부에 입상 몰드(P)가 U 형태로 추가적으로 공급되는 것에 의해 2차 입상 몰드 패턴(PA4)이 형성될 수 있다. 몰드 이송 트레이(210)의 외곽부는 몰드 이송 트레이(210)의 내부 영역에 비해 방향 전환으로 인해 입상 몰드(P)의 공급량이 적을 수 있기 때문에, 입상 몰드(P)를 외곽부에 추가적으로 공급함으로써, 외곽부의 미성형 문제를 해결할 수 있으며 두께균일도를 감소시킬 수 있다. 제어부(180)는 몰드 공급 장치(100)의 동작을 제어하여 몰드 이송 트레이(210)의 외곽부에 입상 몰드(P)를 추가적으로 공급할 수 있다. 입상 몰드(P)의 추가적인 공급은, 외곽부에서 상대 위치의 이동속도를 느리게 조절하거나, 외곽부에서 공급되는 입상 몰드(P)의 양을 늘리는 방법으로 이루어 질 수 있다. 도 6에는 몰드 공급 장치(100)가 2개의 트로프(110)를 통해 몰드 이송 트레이(210)의 외곽부에 입상 몰드(P)를 U 형태로 추가적으로 공급하는 것으로 도시되었으나, 이에 한정되지 않고, 예를 들어 몰드 공급 장치(100)가 4개의 트로프(110)를 통해 몰드 이송 트레이(210)의 외곽부에 입상 몰드(P)를 공급할 수도 있다.Referring to FIG. 6 , in an exemplary embodiment, after the first granular mold pattern PA3 is formed on the
도 7은, 본 발명의 일 실시예에 따른 몰드 이송 트레이의 외곽부에 대한 입상 몰드 공급 시간이 몰드 이송 트레이의 중심부에 대한 입상 몰드 공급 시간보다 더 긴 것을 특징으로 하는 대면적 패널 구조체 제조 방법을 나타내는 상면도이다. 표시된 영역은 외곽부 영역으로, 입상 몰드(P)의 공급 시간이 더 긴 영역을 의미한다.7 is a method for manufacturing a large-area panel structure, characterized in that the granular mold supply time to the outer portion of the mold transfer tray is longer than the granular mold supply time to the central portion of the mold transfer tray according to an embodiment of the present invention. It is a top view showing The marked region is the outer region, and means a region where the supply time of the granular mold P is longer.
도 7을 참조하면, 예시적인 실시예에서, 몰드 공급 장치(100)를 통해 몰드 이송 트레이(210) 상에 입상 몰드(P)를 공급하는 과정에서, 몰드 이송 트레이(210)의 외곽부에 대한 입상 몰드(P) 공급 시간은 몰드 이송 트레이(230) 중심부에 대한 입상 몰드(P) 공급 시간보다 더 길 수 있다. 이는 제어부(180)에 의해 제어되는 스테이지 구동부(160)가 몰드 이송 트레이(210) 외곽부에서의 상대 위치 이동속도를 몰드 이송 트레이(210) 중심부에서의 상대 위치 이동속도보다 느리게함으로써 이루어질 수 있다. 몰드 이송 트레이(210)의 외곽부는 몰드 이송 트레이(210)의 내부 영역에 비해 방향 전환으로 인해 입상 몰드(P)의 공급량이 적을 수 있기 때문에, 외곽부에 대한 입상 몰드(P) 공급 시간을 중심부에 대한 입상 몰드(P) 공급 시간보다 더 길게 함으로써, 외곽부에 입상 몰드(P)를 더 공급할 수 있다. 이를 통해 외곽부의 미성형 문제를 해결할 수 있으며 두께균일도를 감소시킬 수 있다.Referring to FIG. 7 , in an exemplary embodiment, in the process of supplying the granular mold P on the
도 8a 본 발명의 일 실시예에 따른 재분배 트레이(230b)를 나타내는 사시도이다. 도 8b는 본 발명의 일 실시예에 따른 재분배 트레이(230c)를 나타내는 사시도이다.8A is a perspective view illustrating a
도 8a를 참조하면, 예시적인 실시예에서, 재분배 트레이(230b)의 면적은 대면적 트레이(220)의 면적보다 더 넓을 수 있다. 재분배 트레이(230)와 대면적 트레이(220)의 면적이 같은 경우, 재분배 트레이(230)의 외곽부에는 동일한 면적을 갖는 재분배 트레이(230)의 중심부보다 미세홀의 개수가 적기 때문에, 재분배 트레이(230)의 외곽부를 통과하는 입상 몰드(P)의 양이 재분배 트레이(230) 중심부를 통과하는 입상 몰드(P)의 양보다 적어 대면적 패널 구조체(300)의 외곽부가 미성형되고 몰딩층(330)의 두께균일도가 증가할 수 있다. 반면 재분배 트레이(230b)의 면적을 대면적 트레이(220)의 면적보다 넓게 하는 경우, 떨어지는 입상 몰드(P)는 모두 재분배 트레이(230)의 중심부를 통과하기 때문에, 대면적 패널 구조체(300)의 외곽부가 미성형되는 것을 방지할 수 있고, 몰딩층(330)의 두께균일도 또한 감소시킬 수 있다.Referring to FIG. 8A , in an exemplary embodiment, the area of the
재분배 트레이(230b)의 복수 개의 미세홀들(H)은 원형일 수 있다. 다만 이에 한정되는 것은 아니고, 예를 들어, 재분배 트레이(230b)의 복수 개의 미세홀들(H)은 사각형 등의 다각형 형상을 가질 수도 있다.The plurality of micro-holes H of the
도 8b에 따르면, 예시적인 실시예에서, 재분배 트레이(230c)의 외곽부 미세홀(H2)은 중심부 미세홀(H1)보다 더 클 수 있다. 재분배 트레이(230)의 외곽부 미세홀(H2)이 재분배 트레이(230)의 중심부 미세홀(H1)보다 같거나 더 작은 경우, 재분배 트레이(230)의 외곽부를 통과하는 입상 몰드(P)의 양이 재분배 트레이(230) 중심부를 통과하는 입상 몰드(P)의 양보다 적어 대면적 패널 구조체(300)의 외곽부가 미성형되고 몰딩층(330)의 두께균일도가 증가할 수 있다. 재분배 트레이(230c)의 외곽부 미세홀(H2)을 재분배 트레이(230)의 중심부 미세홀(H1)보다 더 크게 하므로써, 외곽부를 통과하는 입상 몰드(P)의 양이 증가하여, 대면적 패널 구조체(300)의 외곽부가 미성형되는 것을 방지할 수 있고, 몰딩층(330)의 두께균일도 또한 감소시킬 수 있다.According to FIG. 8B , in an exemplary embodiment, the outer micro-holes H2 of the
재분배 트레이(230c)의 복수 개의 미세홀들(H1, H2)은 원형일 수 있다. 다만 이에 한정되는 것은 아니고, 예를 들어, 재분배 트레이(230c)의 복수 개의 미세홀들(H1, H2)은 사각형 등의 다각형 형상을 가질 수도 있다.The plurality of micro-holes H1 and H2 of the
도 9는 본 발명의 일 실시예에 따른 대면적 패널 구조체의 제조 방법(S200)을 개략적으로 나타내는 흐름도이다. S230, S240, 및 S250 단계는 각각 도 1을 참조하여 설명한 S130, S140, 및 S150 단계와 동일하므로 이하에서는 S210, 및 S220 단계를 중심으로 설명한다.9 is a flowchart schematically illustrating a method (S200) of manufacturing a large-area panel structure according to an embodiment of the present invention. Since steps S230, S240, and S250 are the same as steps S130, S140, and S150 described with reference to FIG. 1, hereinafter, steps S210 and S220 will be mainly described.
도 2a 및 도 9를 참조하면, 하나의 몰드 이송 트레이(210) 상에 입상 몰드(P)가 공급될 수 있다(S210). 입상 몰드(P)는 도 3a 및 도 3b를 참조하여 전술한 바와 같은 방법으로 하나의 몰드 이송 트레이(210) 상에 공급될 수 있다. 일부 실시예에서, S210 단계에서, 하나의 몰드 이송 트레이(210)에는 입상 몰드(P)가 복수 번 공급될 수 있다. 예를 들어, S210 단계에서, 하나의 몰드 이송 트레이(210)에 입상 몰드(P)가 8번 공급되어, 8개의 입상 몰드 패턴이 하나의 몰드 이송 트레이(210) 상에 형성될 수 있다. 일부 실시예에서, S210 단계에서 이용되는 하나의 몰드 이송 트레이(210)는 S110 단계에서 이용되는 몰드 이송 트레이(210)보다 넓은 면적을 가질 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다. 일부 실시예에서, 하나의 몰드 이송 트레이(210)에 형성된 각각의 입상 몰드 패턴 양 단변에 입상 몰드(P)가 추가로 공급될 수 있다. 예를 들어 하나의 몰드 이송 트레이(210) 상에 4개의 입상 몰드 패턴이 형성되는 경우, 각각의 입상 몰드 패턴의 양 단변에 입상 몰드(P)가 추가로 공급될 수 있다. 일부 실시예에서, 하나의 몰드 이송 트레이(210)에 형성된 각각의 입상 몰드 패턴의 외곽부에는 입상 몰드(P)가 추가로 공급될 수 있다. 일부 실시예에서, 하나의 몰드 이송 트레이(210) 상에 입상 몰드(P)가 공급된 후, 입상 몰드(P)가 L 또는 U 형태로 추가로 공급될 수 있다. 일부 실시예에서, 하나의 몰드 이송 트레이(210)에 형성된 각각의 입상 몰드 패턴의 외곽부에서의 입상 몰드(P) 공급 시간은 각각의 입상 몰드 패턴의 중심부에서의 입상 몰드(P) 공급 시간보다 더 길 수 있다. 일부 실시예에서, 몰드 이송 트레이(210)의 면적은 대면적 트레이(220)의 면적의 약 0.25배 내지 약 0.5배일 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다.Referring to FIGS. 2A and 9 , a granular mold P may be supplied on one mold transfer tray 210 (S210). The granular mold P may be supplied onto one
복수 개의 입상 몰드 패턴이 형성된 하나의 몰드 이송 트레이(210)로부터 대면적 트레이(220) 상에 입상 몰드(P)가 공급될 수 있다(S220).The granular mold P may be supplied from one
먼저 복수 개의 입상 몰드 패턴이 형성된 하나의 몰드 이송 트레이(210)가 이송부(170)에 의해 대면적 트레이(220) 상으로 이동할 수 있다. 대면적 트레이(220) 상으로 이동된 하나의 몰드 이송 트레이(210)는 대면적 트레이(220) 상에 입상 몰드(P)를 공급할 수 있다. 예를 들어, 하나의 몰드 이송 트레이(210)는 회전 가능한 복수 개의 선형 구조물로 이루어질 수 있고, 복수 개의 선형 구조물 중 적어도 일부 개가 회전하여 입상 몰드(P)를 대면적 트레이(220) 상에 공급할 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다.First, one
일부 실시예에서, S210 단계와 S220 단계는 대면적 트레이(220) 전체에 입상 몰드(P)가 공급될 수 있도록 복수 번 이루어질 수 있다. 예를 들어, S210 단계에서 하나의 몰드 이송 트레이(210)에 4개의 입상 몰드 패턴이 형성되는 경우, 대면적 트레이(220) 전체에 입상 몰드(P)를 공급하기 위해 S210 단계 및 S220 단계는 4번 이루어질 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다.In some embodiments, steps S210 and S220 may be performed a plurality of times so that the granular mold P may be supplied to the entire
이상에서와 같이 도면과 명세서에서 예시적인 실시예들이 개시되었다. 본 명세서에서 특정한 용어를 사용하여 실시예들을 설명되었으나, 이는 단지 본 개시의 기술적 사상을 설명하기 위한 목적에서 사용된 것이지 의미 한정이나 청구범위에 기재된 본 개시의 범위를 제한하기 위하여 사용된 것은 아니다. 그러므로 본 기술분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 개시의 진정한 기술적 보호범위는 첨부된 청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다.As above, exemplary embodiments have been disclosed in the drawings and specifications. Embodiments have been described using specific terms in this specification, but they are only used for the purpose of explaining the technical spirit of the present disclosure, and are not used to limit the scope of the present disclosure described in the meaning or claims. Therefore, those of ordinary skill in the art will understand that various modifications and equivalent other embodiments are possible therefrom. Therefore, the true technical scope of protection of the present disclosure should be determined by the technical spirit of the appended claims.
100: 몰드 공급 장치
110: 트로프
120: 몰드 보관부
130: 진동부
140: 무게 센서
150: 트레이 스테이지
160: 스테이지 구동부 170: 이송부
180: 제어부 210: 몰드 이송 트레이
220: 대면적 트레이 230: 재분배 트레이
240: 캐리어 250: 검사 장치
260: 가압 장치 300: 대면적 패널 구조체
310: 패널 기판 320: 반도체 칩
330: 몰딩층 P: 입상 몰드100: mold supply device 110: trough
120: mold storage unit 130: vibration unit
140: weight sensor 150: tray stage
160: stage driving unit 170: transfer unit
180: control unit 210: mold transfer tray
220: large area tray 230: redistribution tray
240: carrier 250: inspection device
260: pressurizing device 300: large area panel structure
310: panel substrate 320: semiconductor chip
330: molding layer P: granular mold
Claims (14)
상기 몰드 이송 트레이를 대면적 트레이 상에 배치하는 단계;
재분배 트레이에 상기 입상 몰드를 통과시킴으로써, 캐리어 상에 입상 몰드층을 형성하는 단계;
상기 입상 몰드층의 균일도를 확인하는 단계; 및
반도체 칩들이 탑재된 패널 기판을 상기 입상 몰드층에 가압함으로써, 반도체 칩들을 덮는 대면적 패널의 몰딩층을 형성하는 단계;
를 포함하는 대면적 패널 구조체의 제조 방법.supplying a granular mold onto at least one mold transfer tray;
placing the mold transfer tray on a large area tray;
forming a granular mold layer on a carrier by passing the granular mold through a redistribution tray;
checking the uniformity of the granular mold layer; and
forming a molding layer of a large-area panel covering the semiconductor chips by pressing the panel substrate on which the semiconductor chips are mounted against the granular mold layer;
Method of manufacturing a large area panel structure comprising a.
상기 입상 몰드의 공급은 상기 몰드 이송 트레이 상의 단일의 개시 위치로부터 상기 개시 위치로 되돌아오는 이동 경로를 따라 이루어지며, 상기 이동 경로는 상기 몰드 이송 트레이를 가상적인 중앙선에 대해 대칭인 2개의 영역으로 분할했을 때 상기 중앙선에 대해 대칭이며, 상기 2개의 영역에서 각각 복수 회 꺾이는 것을 특징으로 하는 대면적 패널 구조체의 제조 방법.According to claim 1,
The supply of the granular mold is carried out along a movement path from a single starting position on the mold transfer tray back to the starting position, the moving path dividing the mold transfer tray into two areas symmetrical about an imaginary center line. A method of manufacturing a large-area panel structure, characterized in that it is symmetrical with respect to the center line when folded, and is bent a plurality of times in each of the two regions.
상기 몰드 이송 트레이 양 단변에 입상 몰드를 추가로 공급하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 대면적 패널 구조체의 제조 방법.According to claim 2,
The manufacturing method of the large-area panel structure, characterized in that it further comprises the step of additionally supplying a granular mold to both end sides of the mold transfer tray.
상기 몰드 이송 트레이 외곽부에 상기 입상 몰드를 추가로 공급하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 대면적 패널 구조체의 제조 방법.According to claim 1,
The manufacturing method of the large-area panel structure, characterized in that it further comprises the step of additionally supplying the granular mold to the outer portion of the mold transfer tray.
상기 입상 몰드는 L 또는 U 형태로 추가로 공급되는 것을 특징으로 하는 대면적 패널 구조체의 제조 방법.According to claim 4,
The method of manufacturing a large-area panel structure, characterized in that the granular mold is additionally supplied in an L or U shape.
상기 몰드 이송 트레이의 외곽부에 대한 입상 몰드 공급 시간은 상기 몰드 이송 트레이의 중심부에 대한 입상 몰드 공급 시간보다 더 긴 것을 특징으로 하는 대면적 패널 구조체의 제조 방법.According to claim 1,
The manufacturing method of the large-area panel structure, characterized in that the granular mold supply time to the outer portion of the mold transfer tray is longer than the granular mold supply time to the central portion of the mold transfer tray.
상기 재분배 트레이의 면적은 상기 대면적 트레이의 면적보다 더 넓은 것을 특징으로 하는 대면적 패널 구조체의 제조 방법.According to claim 1,
The method of manufacturing a large area panel structure, characterized in that the area of the redistribution tray is larger than the area of the large area tray.
상기 재분배 트레이의 미세홀은 원형인 것을 특징으로 하는 대면적 패널 구조체의 제조 방법.According to claim 1,
The method of manufacturing a large-area panel structure, characterized in that the fine holes of the redistribution tray are circular.
상기 재분배 트레이 외곽부의 미세홀 크기는 상기 재분배 트레이 중심부의 미세홀 크기보다 더 큰 것을 특징으로 하는 대면적 패널 구조체의 제조 방법.According to claim 1,
The method of manufacturing a large-area panel structure, characterized in that the size of the fine holes at the outer portion of the redistribution tray is larger than the size of the fine holes at the center of the redistribution tray.
상기 몰드 이송 트레이로부터 대면적 트레이 상에 상기 입상 몰드를 공급하는 단계;
재분배 트레이에 상기 입상 몰드를 통과시킴으로써, 캐리어 상에 입상 몰드층을 형성하는 단계;
상기 입상 몰드층의 균일도를 확인하는 단계; 및
반도체 칩들이 탑재된 패널 기판을 상기 입상 몰드층에 가압함으로써, 반도체 칩들을 덮는 대면적 패널의 몰딩층을 형성하는 단계;
를 포함하는 대면적 패널 구조체의 제조 방법.supplying granular molds on one mold transfer tray;
supplying the granular mold from the mold transfer tray onto a large-area tray;
forming a granular mold layer on a carrier by passing the granular mold through a redistribution tray;
checking the uniformity of the granular mold layer; and
forming a molding layer of a large-area panel covering the semiconductor chips by pressing the panel substrate on which the semiconductor chips are mounted against the granular mold layer;
Method of manufacturing a large area panel structure comprising a.
상기 몰드 이송 트레이 면적은 상기 대면적 트레이 면적의 0.25배 내지 0.5배인 것을 특징으로 하는 대면적 패널 구조체의 제조 방법.According to claim 10,
The method of manufacturing a large-area panel structure, characterized in that the area of the mold transfer tray is 0.25 to 0.5 times the area of the large-area tray.
몰드 공급 장치;
대면적 트레이;
입상 몰드 패턴이 형성되는 제1 면을 포함하고, 상기 대면적 트레이 상에 회전 가능하게 장착된 몰드 이송 트레이;
상기 몰드 이송 트레이의 아래에 배치되고, 상기 입상 몰드 패턴을 구성하는 입상 몰드가 통과하는 미세 홀들을 가지는 재분배 트레이;
상기 재분배 트레이의 아래에 배치되고, 상기 재분배 트레이의 상기 미세 홀들을 통과한 상기 입상 몰드가 적층되어 형성된 입상 몰드층이 수용된 캐비티를 가지는 캐리어;
상기 캐리어의 상기 캐비티에 내의 상기 입상 몰드층의 균일도를 검사하는 검사 장치; 및
반도체 칩들이 탑재된 패널 기판을 지지하고, 상기 캐리어의 상기 캐비티 내에 제공된 상기 입상 몰드층에 상기 반도체 칩들이 매립되도록 상기 패널 기판을 이동시키는 가압 장치;
를 포함하는 대면적 패널 구조체의 제조 장치.A large-area panel structure manufacturing apparatus for manufacturing a large-area panel structure including a panel substrate, semiconductor chips on the panel substrate, and a mold layer covering the semiconductor chips, comprising:
mold feeding device;
large area tray;
a mold transfer tray including a first surface on which a granular mold pattern is formed and rotatably mounted on the large-area tray;
a redistribution tray disposed below the mold transfer tray and having minute holes through which the granular mold constituting the granular mold pattern passes;
a carrier disposed below the redistribution tray and having a cavity accommodating a granular mold layer formed by stacking the granular molds passing through the fine holes of the redistribution tray;
an inspection device for inspecting uniformity of the granular mold layer in the cavity of the carrier; and
a pressing device that supports a panel substrate on which semiconductor chips are mounted and moves the panel substrate so that the semiconductor chips are embedded in the granular mold layer provided in the cavity of the carrier;
Manufacturing apparatus of a large area panel structure comprising a.
상기 몰드 공급 장치는,
상기 입상 몰드를 보관하는 몰드 보관부와, 상기 몰드 보관부에 연결되고, 상기 몰드 보관부로부터 전달된 상기 입상 몰드를 트레이 스테이지에 탑재된 상기 몰드 이송 트레이에 공급하는 트로프를 포함하는 입상 몰드 공급부;
상기 몰드 보관부를 진동시키도록 구성된 진동부; 및
상기 몰드 보관부의 무게를 검출하도록 구성된 무게 센서;
를 포함하는 대면적 패널 구조체의 제조 장치.According to claim 12,
The mold supply device,
a granular mold supply unit including a mold storage unit for storing the granular mold, and a trough connected to the mold storage unit and supplying the granular mold delivered from the mold storage unit to the mold transfer tray mounted on a tray stage;
a vibration unit configured to vibrate the mold storage unit; and
a weight sensor configured to detect a weight of the mold storage unit;
Manufacturing apparatus of a large area panel structure comprising a.
상기 입상 몰드 공급부는 미리 정해진 이동 궤적을 따라 이동하면서 상기 입상 몰드를 상기 몰드 이송 트레이에 제공하여, 상기 몰드 이송 트레이의 상기 제1 면에 상기 입상 몰드 패턴을 형성하고,
상기 트레이 스테이지는 상기 입상 몰드 패턴이 형성된 상기 몰드 이송 트레이를 상기 대면적 트레이로 이송하는 대면적 패널 구조체의 제조 장치.
According to claim 13,
the granular mold supply unit provides the granular mold to the mold transfer tray while moving along a predetermined movement trajectory to form the granular mold pattern on the first surface of the mold transfer tray;
wherein the tray stage transfers the mold transfer tray on which the granular mold pattern is formed to the large-area tray.
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