KR20230083999A

KR20230083999A - 디스플레이 구동 회로 및 이의 동작 방법

Info

Publication number: KR20230083999A
Application number: KR1020220077089A
Authority: KR
Inventors: 김선영; 나중민; 박영
Original assignee: 삼성전자주식회사
Priority date: 2021-12-03
Filing date: 2022-06-23
Publication date: 2023-06-12

Abstract

본 개시의 기술적 사상에 따른 디스플레이 구동 회로는, 디스플레이 구동 회로가 구동하는 장치들을 제어하는 데이터를 변경하기 위한 인스트럭션(instruction)이 저장된 비휘발성 메모리를 제어하는 리비전 컨트롤러 및 인스트럭션에 기초하여 장치들을 제어하는 구동 컨트롤러를 포함하고, 리비전 컨트롤러는, 외부로부터 디스플레이 구동 회로로 전원이 인가되면, 비휘발성 메모리로부터 인스트럭션을 리딩(reading)하는 리딩 동작을 수행할 지 여부를 판단하고, 판단에 기초하여 생성된 지시 신호를 구동 컨트롤러로 전달할 수 있다.

Description

디스플레이 구동 회로 및 이의 동작 방법{DISPLAY DRIVING CIRCUIT AND OPERATING METHOD OF THE SAME}

본 개시의 기술적 사상은 디스플레이 구동 회로에 관한 것으로서, 구체적으로 디스플레이 패널에 이미지가 표시되도록 디스플레이 패널을 구동하는 디스플레이 구동 회로 및 이의 동작 방법에 관한 것이다.

디스플레이 장치는 이미지를 표시하는 디스플레이 패널 및 디스플레이 패널을 구동하는 디스플레이 구동 회로(Display Driver Integrated Circuit)를 포함한다. 디스플레이 구동 회로는 호스트로부터 이미지 데이터를 수신하고, 수신된 이미지 데이터에 대응하는 이미지 신호를 디스플레이 패널의 데이터 라인에 인가함으로써 디스플레이 패널(Display Panel)을 구동할 수 있다. 디스플레이 구동 회로는 디스플레이 패널, PMIC(Power management integrated circuit), 및 터치 집적 회로(Touch Integrated Circuit) 등을 제어할 수 있다.

디스플레이 구동 회로의 제조 단계 이후 디스플레이 구동 회로 및 디스플레이 구동 회로가 제어하는 장치들 중 적어도 하나의 결함을 보완하고자 하는 경우, 시간이 많이 소모되고 높은 비용이 들 수 있다. 따라서, 시간과 비용을 줄이면서도 디스플레이 구동 회로 및 디스플레이 구동 회로가 제어하는 장치들의 결함을 편리하게 개선할 수 있는 방법이 요구되고 있다.

본 발명의 기술적 사상이 해결하려는 과제는 장치들을 제어하는 데이터를 변경하기 위한 인스트럭션이 비휘발성 메모리에 미리 저장되고, 디스플레이 구동 회로가 비휘발성 메모리로부터 리딩한 인스트럭션을 적용하여 구동 동작을 함으로써 결함이 쉽게 보완되도록하는 디스플레이 구동 회로 및 이의 동작 방법을 제공한다.

상술한 기술적 과제를 달성하기 위한 기술적 수단으로서, 본 개시의 제1 측면은, 디스플레이 구동 회로에 있어서, 상기 디스플레이 구동 회로가 구동하는 장치들을 제어하는 데이터를 변경하기 위한 인스트럭션(instruction)이 저장된 비휘발성 메모리를 제어하는 리비전 컨트롤러, 및 상기 인스트럭션에 기초하여 상기 장치들을 제어하는 구동 컨트롤러를 포함하고, 상기 리비전 컨트롤러는, 외부로부터 상기 디스플레이 구동 회로로 전원이 인가되면, 상기 비휘발성 메모리로부터 상기 인스트럭션을 리딩(reading)하는 리딩 동작을 수행할 지 여부를 판단하고, 상기 판단에 기초하여 생성된 지시 신호를 상기 구동 컨트롤러로 전달하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 구동 회로를 제공할 수 있다.

또한, 상술한 기술적 과제를 달성하기 위한 기술적 수단으로서, 본 개시의 제2 측면은, 디스플레이 구동 회로에 있어서, 상기 디스플레이 구동 회로가 구동하는 장치들을 제어하는 데이터를 변경하기 위한 인스트럭션(instruction)이 저장된 제1 비휘발성 메모리로부터 상기 인스트럭션을 리딩(reading)하는 리비전 컨트롤러, 상기 디스플레이 구동 회로를 구동하기 위한 기초 데이터가 저장된 제2 비휘발성 메모리, 및 상기 기초 데이터 및 상기 인스트럭션 중 적어도 하나에 기초하여 상기 장치들을 제어하는 구동 컨트롤러를 포함하는 디스플레이 구동 회로를 제공할 수 있다.

또한, 상술한 기술적 과제를 달성하기 위한 기술적 수단으로서, 본 개시의 제3 측면은, 디스플레이 구동 회로의 동작 방법에 있어서, 외부로부터 디스플레이 구동 회로로 전원이 인가되면, 상기 비휘발성 메모리로부터 상기 인스트럭션을 리딩하는 리딩 동작을 수행할지 여부를 판단하는 단계, 상기 인스트럭션이 정상인지 또는 비정상인지 여부를 판단하는 단계, 및 상기 인스트럭션이 정상인지 또는 비정상인지 여부에 기초하여 상기 장치들을 제어하는 단계를 포함하는 디스플레이 구동 회로의 동작 방법을 제공할 수 있다.

본 개시의 기술적 사상에 따른 디스플레이 구동 회로는, 디스플레이 구동 회로가 구동하는 장치들을 제어하는 데이터를 변경하기 위한 인스트럭션이 미리 저장된 비휘발성 메모리로부터 인스트럭션을 리딩하고, 디스플레이 구동 회로가 인스트럭션에 기초하여 장치들을 제어하도록 할 수 있다. 인스트럭션에 기초하여 장치들을 제어하는 데이터가 변경될 수 있고, 변경된 데이터에 기초하여 장치들이 구동될 수 있다. 이에 따라, 디스플레이 구동 회로가 인스트럭션을 반영하여 장치들을 구동할 수 있고, 인스트럭션에 따라 장치들이 보완될 수 있다. 디스플레이 구동 회로가 호스트로부터 장치들을 제어하는 데이터를 변경하기 위한 커맨드들을 수신하기 어려운 경우에도 비휘발성 메모리로부터 인스트럭션을 수신하여 이를 반영하여 장치들을 제어함으로써, 장치들이 빠르게 제어될 수 있고, 장치들의 결함이 보다 빠르고 쉽게 개선될 수 있다.

디스플레이 구동 회로는 인스트럭션을 리딩할 지 여부를 판단할 수 있다. 인스트럭션이 비휘발성 메모리에 미리 저장된 경우에만 인스트럭션을 리딩할 수 있다. 또한, 디스플레이 구동 회로는 인스트럭션이 정상인지 비정상인지 여부를 판단할 수 있고, 인스트럭션이 정상인 경우 디스플레이 구동 회로가 인스트럭션을 반영하여 장치들을 구동하도록 함으로써, 오류가 없는 인스트럭션에 기초하여 장치들이 제어될 수 있다.

본 개시의 예시적 실시예들에서 얻을 수 있는 효과는 이상에서 언급한 효과들로 제한되지 아니하며, 언급되지 아니한 다른 효과들은 이하의 설명으로부터 본 개시의 예시적 실시예들이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명확하게 도출되고 이해될 수 있다. 즉, 본 개시의 예시적 실시예들을 실시함에 따른 의도하지 아니한 효과들 역시 본 개시의 예시적 실시예들로부터 당해 기술분야의 통상의 지식을 가진 자에 의해 도출될 수 있다.

도 1은 본 개시의 예시적인 실시 예에 따른 디스플레이 시스템을 나타내는 블록도이다.
도 2는 본 개시의 예시적인 실시 예에 따른 리비전 컨트롤러를 설명하기 위한 도면이다.
도 3은 본 개시의 예시적 실시예에 따른 디스플레이 장치를 설명하기 위한 블록도이다.
도 4는 일 실시예에 따라 제1 비휘발성 메모리에 저장되는 인스트럭션을 설명하기 위한 도면이다.
도 5는 일 실시예에 따른 리비전 컨트롤러의 동작 방법을 설명하기 위한 블록도이다.
도 6은 본 개시의 예시적 실시 예에 따른 리비전 컨트롤러의 동작 방법을 설명하기 위한 흐름도이다.
도 7은 본 개시의 예시적 실시 예에 따른 제1 리비전 컨트롤러의 동작 방법을 설명하기 위한 흐름도이다.
도 8은 본 개시의 예시적 실시 예에 따른 제2 리비전 컨트롤러의 동작 방법을 설명하기 위한 흐름도이다.
도 9는 본 개시의 예시적 실시예에 따른 데이터 및 인스트럭션을 설명하기 위한 타이밍도이다.
도 10은 본 개시의 예시적 실시예에 따른 제1 비휘발성 메모리에 인스트럭션이 저장되지 않은 경우를 설명하기 위한 타이밍도이다.
도 11은 본 개시의 예시적 실시예에 따른 인스트럭션이 로딩되는 것을 설명하기 위한 도면이다.
도 12는 본 개시의 예시적 실시예에 따른 제1 비휘발성 메모리에 부팅 커맨드가 저장된 경우를 설명하기 위한 타이밍도이다.

이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 실시 예에 대해 상세히 설명한다.

도 1은 본 개시의 예시적인 실시 예에 따른 디스플레이 시스템을 나타내는 블록도이다.

본 개시의 예시적인 실시 예에 따른 디스플레이 시스템(100)은 이미지 표시 기능을 가지는 전자 장치에 탑재될 수 있다. 예를 들면, 전자 장치는 스마트 폰(smartphone), 태블릿 PC(tablet personal computer), PMP(portable multimedia player), 카메라(camera), 웨어러블 장치(wearable device), 사물 인터넷 장치(internet of things), 텔레비전, DVD(digital video disk) 플레이어, 냉장고, 에어컨, 공기 청정기, 셋톱 박스(set-top box), 로봇, 드론, 각종 의료기기, 네비게이션(navigation) 장치, GPS 수신기(global positioning system receiver), 첨단 운전자 보조 시스템(Advanced Drivers Assistance System; ADAS), 차량용 장치, 가구 또는 각종 계측기기 등을 포함할 수 있다.

도 1을 참조하면, 디스플레이 시스템(100)은 호스트(120), 디스플레이 구동 회로(Display Driver Integrated Circuit)(130)(또는 디스플레이 구동 집적 회로라고 함), 메모리 시스템(170), 및 디스플레이 패널(140)을 포함할 수 있다. 예시적인 실시 예에 있어서, 디스플레이 구동 회로(130) 및 디스플레이 패널(140)은 하나의 모듈로서 구현될 수 있으며, 상기 모듈은 디스플레이 장치(110)로 지칭될 수 있다. 예를 들어, 디스플레이 구동 회로(130)가 TCP(Tape Carrier Package), COF(Chip On Film), FPC(Flexible Print Circuit) 등과 같은 회로 필름에 실장되어, TAB(Tape Automatic Bonding) 방식으로 디스플레이 패널(140)에 부착되거나, COG(Chip On Glass) 또는 COP(Chip On Plastic) 방식으로 디스플레이 패널(140)의 비표시 영역 상에 실장될 수 있다.

실시예에 따라, 디스플레이 구동 회로(130)는 디스플레이 패널(140), PMIC(Power management integrated circuit)(150), 및 터치 집적 회로(Touch Integrated Circuit)(160)중 적어도 하나를 제어할 수 있다. 다만, 디스플레이 구동 회로(130)가 제어하는 장치들은 나열한 종류에 반드시 제한되는 것은 아니다. 필요에 따라, PMIC(Power management integrated circuit)(150) 및 터치 집적 회로(Touch Integrated Circuit)(160)중 적어도 하나는 생략될 수 있다. 디스플레이 구동 회로(130), 디스플레이 패널(140), PMIC(Power management integrated circuit)(150), 및 터치 집적 회로(Touch Integrated Circuit)(160)는 하나의 모듈로서 구현될 수 있다.

호스트(120)는 디스플레이 시스템(100)을 전반적으로 제어할 수 있다. 호스트(120)는 디스플레이 패널(140)에 표시될 이미지 데이터(IDT)를 생성하고, 이미지 데이터(IDT) 및 커맨드(예를 들어, 구동 시작 커맨드)(CMD)를 디스플레이 구동 회로(130)에 전송할 수 있다. 예를 들어, 커맨드(CMD)는 휘도, 감마, 프레임 주파수, 디스플레이 구동 회로(130)의 동작 모드 등에 대한 설정 정보를 포함할 수 있다. 디스플레이 프로세서(121)는 디스플레이 구동 회로(130)에 클럭 신호 또는 동기화 신호 등을 전송할 수도 있다. 도 1에서는, 이미지 데이터(IDT) 및 커맨드(CMD)가 별도의 신호로 도시되어 있으나, 이에 반드시 제한되는 것은 아니며, 하나의 패킷으로 디스플레이 구동 회로(130)에 전송될 수 있고, 디스플레이 구동 회로(130)의 호스트 인터페이스(131)에서 서로 분리될 수 있다.

호스트(120)는 어플리케이션 프로세서일 수 있다. 그러나, 이에 제한되는 것은 아니며 호스트(120)는 CPU(Central Processing Unit), 마이크로 프로세서, 멀티미디어 프로세서, 그래픽 프로세서 등과 같은 다양한 종류의 프로세서로 구현될 수 있다. 예시적인 실시 예에 있어서, 호스트(120)는 집적 회로(integrated circuit(IC))로 구현될 수 있으며, 모바일 AP(Application Processor) 또는 SoC(system on chip)로 구현될 수 있다.

호스트(120)는 디스플레이 프로세서(121) 및 인터페이스 회로(122)를 포함할 수 있다. 디스플레이 프로세서(121)는 디스플레이 장치(110)의 동작을 제어할 수 있다. 디스플레이 프로세서(121)는 디스플레이 장치(110)에서 표시할 이미지 데이터(IDT) 및 디스플레이 장치(110)의 동작을 제어하기 위한 커맨드(CMD)를 인터페이스 회로(122)를 통해 디스플레이 장치(110)로 전송할 수 있다. 예시적으로, 디스플레이 구동 회로(130)는 외부로부터 전원이 인가되어 온(ON) 상태가 되면 호스트(120)로부터 커맨드(CMD)를 수신할 수 있다.

디스플레이 구동 회로(130)는 호스트(120)로부터 수신되는 이미지 데이터(IDT)를 디스플레이 패널(140)을 구동하기 위한 이미지 신호들로 변환하고, 변환된 이미지 신호들을 디스플레이 패널(140)에 공급함으로써, 디스플레이 패널(140)에 이미지를 표시할 수 있다.

디스플레이 구동 회로(130)는 호스트(120)로부터 수신되는 커맨드(CMD)에 응답하여, 장치들을 제어할 수 있다. 일 실시예에서, 디스플레이 구동 회로(130)는 커맨드(CMD)에 응답하여 장치들의 구동을 시작할 수 있다. 예시적으로, 디스플레이 구동 회로(130)는 커맨드(CMD)에 기초하여 디스플레이 패널(140)이 이미지를 표시하도록 제어할 수 있다.

디스플레이 구동 회로(130)는 호스트 인터페이스(131), 메모리(132), 및 구동 컨트롤러(133)를 포함할 수 있다. 디스플레이 구동 회로(130)는 호스트 인터페이스(131)를 통해 호스트(120)로부터 이미지 데이터(IDT), 및 커맨드(CMD)를 수신할 수 있다. 예시적인 실시 예에서, 호스트(120)의 인터페이스 회로(122) 및 디스플레이 구동 회로(130)의 호스트 인터페이스(131)는 MIPI(Mobile Industry Processor Interface(MIPI®)), MDDI(Mobile Display Digital Interface), 디스플레이포트 (DisplayPort), 또는 임베디드 디스플레이포트(embedded Display Port(eDP)) 등과 같은 직렬 인터페이스(serial interface) 중 하나로 구현될 수 있다.

메모리(132)는 호스트 인터페이스(131)를 통해 수신된 이미지 데이터(IDT)를 저장하고, 구동 컨트롤러(133)로 이미지 데이터(IDT)를 전송할 수 있다. 예시적인 실시 예에서, 이미지 데이터(IDT)는 메모리(132)에 저장되지 않고, 구동 컨트롤러(133)로 전송될 수 있다.

메모리(132)는 디스플레이 구동 회로(130)가 구동하기 위한 기본적인 데이터인 기초 데이터(BD)를 저장할 수 있다. 예시적으로, 기초 데이터는 디스플레이 구동 회로(130)의 구동 주파수, 구동 전압 레벨, 및 호스트 인터페이스(131)에 대한 성능 정보 등을 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 이미지 데이터(IDT)는 메모리(132)에 저장되지 않고, 기초 데이터(BD)가 메모리(132)에 저장될 수 있다.

메모리(132)는 OTP(One Time Programmable) 메모리, EEPROM (non-volatile memory such as a Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory), 플래시 메모리(flash memory), PRAM(Phase Change Random Access Memory), RRAM(Resistance Random Access Memory), NFGM (Nano Floating Gate Memory), PoRAM(Polymer Random Access Memory), MRAM (Magnetic Random Access Memory), FRAM(Ferroelectric Random Access Memory) 등을 포함할 수 있다. 다만, 나열한 예시에 반드시 제한되는 것은 아니다.

구동 컨트롤러(133)는 이미지 데이터(IDT), 커맨드(CMD), 및 기초 데이터(BD)를 수신하여, 디스플레이 구동 회로(130)가 제어하는 장치들을 제어하는 제어 신호(CS)들을 생성할 수 있다. 예시적으로, 디스플레이 구동 회로(130)는 드라이버(미도시)를 포함할 수 있고, 드라이버는 상기 제어 신호(CS)들에 응답하여, 디스플레이 패널(140)의 게이트 라인들 및 데이터 라인들에 전압을 제공할 수 있다. 터치 집적 회로(160), 및 PMIC(150)는 제어 신호(CS)에 기초하여 제어될 수 있다. 예시적으로, 구동 컨트롤러(133)는 커맨드(CMD) 및 기초 데이터(BD) 에 기초하여 디스플레이 구동 회로(130) 및 디스플레이 패널(140)로 전압을 제공하도록 PMIC(150)로 제어 신호(CS)를 제공할 수 있다.

디스플레이 패널(140)은 실제 이미지가 표시되는 표시부이며, 박막 트랜지스터 액정 디스플레이(thin film transistor-liquid crystal display; TFT-LCD), 유기 발광 다이오드 디스플레이(organic light emitting diode; OLED), 전계 방출 디스플레이(filed emission display), 플라즈마 디스플레이 패널(plasma display panel; PDP) 등 전기적으로 전달되는 이미지 신호들을 입력 받아 2차원 이미지를 표시하는 표시 장치 중 하나일 수 있다. 디스플레이 패널(140)은 다른 종류의 평판 디스플레이 또는 플랙서블 디스플레이 패널로 구현될 수 있다.

PMIC(150)는 외부 전원(external power)에 연결되어 구동될 수 있고, 예시적으로 배터리 전원(미도시)에 연결되어 구동될 수 있다. PMIC(150)는 디스플레이 구동 회로(130)와 하나의 패키지로 구성될 수 있으나, 반드시 이에 제한되지 않으며, 별도로 구성될 수도 있다. PMIC(150)는 디스플레이 구동 회로(130)나 디스플레이 패널(140)로 전압을 제공할 수 있다. PMIC(150)는 제어 신호(CS)를 수신할 수 있고, 제어 신호(CS)에 기초하여 디스플레이 구동 회로(130)나 디스플레이 패널(140)로 전압을 제공할 수 있다. 일 실시예에서, PMIC(150)는 제어 신호(CS)에 기초하여 디스플레이 패널(140)로 제공하는 전압 레벨을 제어할 수 있다.

터치 집적 회로(160)는 터치 패널(미도시)을 구동 및 제어할 수 있다. 터치 집적 회로(160)는 제어 신호(CS)를 수신할 수 있고, 제어 신호(CS)에 기초하여 터치 집적 회로(160)가 구동될 수 있다.

디스플레이 시스템(100)은 메모리 시스템(170)을 포함할 수 있다. 메모리 시스템(170)은 디스플레이 구동 회로(130)가 구동하는 장치들을 제어하는 데이터를 변경하기 위한 인스트럭션(instruction)이 저장된 비휘발성 메모리를 포함할 수 있다. 인스트럭션은 장치들을 제어하는 데이터를 변경하기 위한 데이터 및 커맨드를 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 인스트럭션은 장치들의 결함을 수정하기 위한 데이터 및 커맨드를 포함할 수 있다.

디스플레이 구동 회로(130)는 리비전 컨트롤러(134)를 포함할 수 있다. 리비전 컨트롤러(134)는 메모리 시스템(170)을 제어할 수 있다. 구체적으로, 리비전 컨트롤러(134)는 인스트럭션이 저장된 비휘발성 메모리를 제어할 수 있다. 리비전 컨트롤러(134)는 메모리 시스템(170)으로부터 인스트럭션을 리딩(reading)하는 리딩 동작을 수행할 지 여부를 판단할 수 있다. 리비전 컨트롤러(134)는 리딩 동작을 수행하는 것으로 판단하는 경우, 인스트럭션을 구동 컨트롤러(133)로 전달하거나, 구동 컨트롤러(133)가 인스트럭션을 독출하도록 제어할 수 있다.

구동 컨트롤러(133)는 인스트럭션에 기초하여 장치들을 제어할 수 있다. 구동 컨트롤러(133)는 리비전 컨트롤러(134)로부터 인스트럭션을 전달받을 수도 있고, 인스트럭션을 독출할 수도 있다. 구동 컨트롤러(133)는 인스트럭션을 반영하여 제어 신호(CS)를 생성할 수 있다. 예시적으로, 인스트럭션이 디스플레이 패널(140)의 휘도를 보정하기 위한 데이터 및 휘도 보정을 위한 커맨드를 포함할 수 있고, 구동 컨트롤러(133)는 인스트럭션에 기초하여 디스플레이 패널(140)의 휘도를 보정하는 제어 신호(CS)를 생성할 수 있다. 이하, 도 2를 참조하여 리비전 컨트롤러(134)에 대해 상세히 후술한다.

도 2는 본 개시의 예시적인 실시 예에 따른 리비전 컨트롤러를 설명하기 위한 도면이다. 도 2의 디스플레이 시스템(200), 호스트(210), 디스플레이 구동 회로(220), 제2 비휘발성 메모리(221), 구동 컨트롤러(222), 리비전 컨트롤러(224), 및 메모리 시스템(230)은 도 1의 디스플레이 시스템(100), 호스트(120), 디스플레이 구동 회로(130), 메모리(132), 구동 컨트롤러(133), 리비전 컨트롤러(134), 및 메모리 시스템(170)에 각각 대응되므로, 중복되는 내용은 생략한다.

도 2를 참조하면, 메모리 시스템(230)은 제1 비휘발성 메모리(231) 및 인터페이스 회로(233)를 포함할 수 있다. 제1 비휘발성 메모리(231)는 EEPROM (non-volatile memory such as a Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory), 플래시 메모리(flash memory), PRAM(Phase Change Random Access Memory), RRAM(Resistance Random Access Memory), NFGM (Nano Floating Gate Memory), PoRAM(Polymer Random Access Memory), MRAM (Magnetic Random Access Memory), FRAM(Ferroelectric Random Access Memory) 등을 포함할 수 있으나, 나열한 예시에 반드시 제한되는 것은 아니다.

제1 비휘발성 메모리(231)에는 인스트럭션(IT)이 저장될 수 있다. 장치들을 제어하는 데이터를 변경하기 위해 인스트럭션(IT)이 제1 비휘발성 메모리(231)에 저장될 수 있다. 일 실시예에서, 디스플레이 구동 회로(220)가 제조되면, 결함을 발견하기 위한 테스트가 수행될 수 있다. 테스트를 통해 결함이 발견되면, 결함을 보완하기 위한 인스트럭션(IT)이 제1 비휘발성 메모리(231)에 저장될 수 있다. 예시적으로, 인스트럭션(IT)은 호스트(210)로부터 디스플레이 구동 회로(220)로 전송되는 커맨드(CMD)중 적어도 일부, 제2 비휘발성 메모리(221)에 저장된 기초 데이터 중 변경하고자 하는 데이터, 및 디스플레이 구동 회로(220)가 제어하는 장치들을 수정하기 위한 데이터 등을 포함할 수 있다.

메모리 시스템(230)은 인터페이스 회로(233)를 포함할 수 있다. 제1 비휘발성 메모리(231)는 인스트럭션(IT)을 인터페이스 회로(233)를 통해 디스플레이 구동 회로(220)로 전송할 수 있다. 또한, 제1 비휘발성 메모리(231)는 제1 비휘발성 메모리(231)에 저장된 데이터 중 디스플레이 구동 회로(220)의 구동에 필요한 데이터를 인터페이스 회로(233)를 통해 디스플레이 구동 회로(220)로 전송할 수 있다.

디스플레이 구동 회로(220)는 제2 비휘발성 메모리(221), 구동 컨트롤러(222), 리비전 컨트롤러(224), 및 메모리 인터페이스(223)를 포함할 수 있다. 도 2에는 리비전 컨트롤러(224)가 구동 컨트롤러(222)와 하나의 집적 회로로 구현된 것으로 도시되어 있으나, 이에 반드시 제한되는 것은 아니며, 리비전 컨트롤러(224)와 구동 컨트롤러(222)는 별개의 집적 회로로 구현될 수도 있다. 또한, 실시예에 따라, 디스플레이 구동 회로(220)는 제1 비휘발성 메모리(231)를 포함할 수도 있다.

리비전 컨트롤러(224)는 외부로부터 디스플레이 구동 회로(220)로 전원이 인가되는 것에 기초하여 제1 비휘발성 메모리(231)로부터 인스트럭션(IT)을 리딩하는 리딩 동작을 수행할 지 여부를 판단할 수 있다. 일 실시예에서, 리비전 컨트롤러(224)는 외부로부터 디스플레이 구동 회로(220)로 전원이 인가되면 리딩 동작을 수행할 지 여부를 판단할 수 있다. 예시적으로, 디스플레이 구동 회로(220)는 PMIC(예를 들어, 도 1의 PMIC(150))로부터 전원이 인가될 수 있고, 리비전 컨트롤러(224)는 PMIC로부터 전원이 인가되면 리딩 동작을 수행할 지 여부를 판단할 수 있다.

일 실시예에서, 디스플레이 구동 회로(220)로 전원이 인가되면, 구동 컨트롤러(222)는 전원 신호(OS)를 생성할 수 있다. 전원 신호(OS)는 디스플레이 구동 회로(220)로 전원이 인가된 것을 나타내는 신호일 수 있다. 구동 컨트롤러(222)는 리비전 컨트롤러(224)로 전원 신호(OS)를 전달할 수 있다. 리비전 컨트롤러(224)는 전원 신호(OS)에 기초하여 리딩 동작을 수행할 지 여부를 판단할 수 있다. 예시적으로, 디스플레이 구동 회로(220)는 PMIC(예를 들어, 도 1의 PMIC(150))로부터 전원이 인가될 수 있고, 구동 컨트롤러(222)는 PMIC로부터 인가되는 전원에 기초하여 전원 신호(OS)를 생성할 수 있다. 리비전 컨트롤러(224)는 전원 신호(OS)를 수신하면 리딩 동작을 수행할 지 여부를 판단할 수 있다.

리비전 컨트롤러(224)는 전원 신호(OS)를 수신하는 경우, 리딩 동작을 수행할 지 여부를 판단할 수 있다. 리비전 컨트롤러(224)는 인스트럭션(IT)이 제1 비휘발성 메모리(231)에 저장되었는지 여부를 판단할 수 있다. 장치들을 제어하는 데이터를 변경하지 않아도 되는 경우, 인스트럭션(IT)이 제1 비휘발성 메모리(231)에 저장되지 않을 수 있다. 일 실시예에서, 테스트를 통해 디스플레이 구동 회로(220)가 제어하는 장치들에 결함이 발견되지 않은 경우, 인스트럭션(IT)이 제1 비휘발성 메모리(231)에 저장되지 않을 수 있다. 리비전 컨트롤러(224)는 인스트럭션(IT)이 제1 비휘발성 메모리(231)에 저장되지 않은 경우, 인스트럭션(IT)을 리딩하지 않을 수 있다.

리비전 컨트롤러(224)는 인스트럭션(IT)이 제1 비휘발성 메모리에 저장된 것으로 판단하는 경우, 인스트럭션(IT)을 리딩하는 리딩 동작을 수행할 수 있다. 리비전 컨트롤러(224)는 인스트럭션(IT)이 제1 비휘발성 메모리에 저장되지 않은 것으로 판단되는 경우, 리딩 동작을 중단할 수 있다. 즉, 리비전 컨트롤러(224)는 인스트럭션(IT)을 리딩하지 않을 수 있다. 리비전 컨트롤러(224)가 제1 비휘발성 메모리(231)로부터 리딩 동작을 수행한다는 것은, 제1 비휘발성 메모리(231)에서 독출(read)이 수행되도록 제어하는 것을 의미할 수 있다. 예를 들어, 리비전 컨트롤러(224)는 물리 주소(Add) 및 독출 커맨드(RCMD)를 제1 비휘발성 메모리(231)로 제공함으로써, 제1 비휘발성 메모리(231)가 인스트럭션(IT)을 독출하도록 제어할 수 있다.

리비전 컨트롤러(224)는 키데이터 비교를 통해 인스트럭션(IT)이 제1 비휘발성 메모리(231)에 저장되었는지 여부를 판단할 수 있다. 리비전 컨트롤러(224)는 제1 키데이터와 제2 키데이터를 비교할 수 있다. 제1 비휘발성 메모리(231)에는 리딩 동작을 수행할 지 여부를 판단하기 위한 제1 키데이터가 저장될 수 있다. 인스트럭션(IT)이 제1 비휘발성 메모리(231)에 저장되는 경우, 제1 키데이터도 함께 저장될 수 있다. 따라서, 제1 키데이터를 통해 제1 비휘발성 메모리(231)에 인스트럭션(IT)이 저장되었는지 여부를 판단할 수 있다. 제1 비휘발성 메모리(231)의 특정 주소에 제1 키데이터가 저장될 수 있고, 리비전 컨트롤러(224)는 제1 키데이터에 대해 독출 동작을 수행할 수 있다. 제2 키데이터는 리비전 컨트롤러(224)에 기 설정된 값을 의미할 수 있다.

리비전 컨트롤러(224)는 제1 키데이터와 제2 키데이터가 매칭되는 경우, 인스트럭션(IT)이 제1 비휘발성 메모리(231)에 저장된 것으로 판단하고, 리딩 동작을 수행할 수 있다.

리비전 컨트롤러(224)는 제1 키데이터와 제2 키데이터가 매칭되지 않는 경우, 인스트럭션(IT)이 제1 비휘발성 메모리(231)에 저장되지 않은 것으로 판단하고, 리딩 동작을 수행하지 않을 수 있다.

일 실시예에서, 리비전 컨트롤러(224)는 제1 비휘발성 메모리(231)에 저장된 인스트럭션(IT)이 정상인지 또는 비정상인지 여부를 판단할 수 있다. 인스트럭션(IT)에 오류가 있는지 여부를 판단함으로써, 오류가 존재하는 인스트럭션(IT)에 기초하여 디스플레이 구동 회로(220)가 구동 되는 것이 방지될 수 있고, 다른 결함이 발생되지 않을 수 있다. 리비전 컨트롤러(224)는 제1 비휘발성 메모리(231)에 대해 리딩 동작을 수행하는 것으로 판단하면, 인스트럭션(IT)이 정상인지 또는 비정상인지 여부를 판단할 수 있다. 리비전 컨트롤러(224)는 제1 비휘발성 메모리(231)에에 인스트럭션(IT)이 저장된 것으로 판단한 경우 인스트럭션(IT)을 리딩하고, 리딩한 인스트럭션(IT)이 정상인지 또는 비정상인지 여부를 판단할 수 있다. 예시적으로, 리비전 컨트롤러(224)는 리딩한 인스트럭션(IT)의 체크섬에 기초하여 인스트럭션(IT)이 정상인지 또는 비정상인지 여부를 판단할 수 있다. 체크섬에 대해 도4 및 도 5를 참조하여 상세히 후술한다.

리비전 컨트롤러(224)는 제1 비휘발성 메모리(231)에 저장된 인스트럭션(IT)이 정상인 것으로 판단하는 경우, 지시 신호(IS)를 생성할 수 있다. 리비전 컨트롤러(224)는 제1 비휘발성 메모리(231)에 저장된 인스트럭션이 비정상인 것으로 판단하는 경우, 지시 신호(IS)를 생성하지 않을 수 있다. 지시 신호(IS)는 구동 컨트롤러(222)가 인스트럭션(IT)에 기초하여 장치들을 제어하도록 지시하는 신호를 의미할 수 있다.

구동 컨트롤러(222)는 지시 신호(IS)를 수신할 수 있고, 인스트럭션(IT)을 반영하여 제어 신호(CS)를 생성할 수 있다. 리비전 컨트롤러(224)가 지시 신호(IS) 및 인스트럭션(IT)을 구동 컨트롤러(222)로 제공하도록 구현될 수 있다. 다만, 이에 반드시 제한되는 것은 아니며, 구동 컨트롤러(222)가 지시 신호(IS)를 수신하면 구동 컨트롤러(222)가 제1 비휘발성 메모리(231)에 대해 리딩 동작을 수행하도록 구현될 수도 있다.

구동 컨트롤러(222)는 커맨드(CMD), 지시 신호(IS), 및 기초 데이터(BD) 중 적어도 하나에 기초하여 제어 신호(CS)를 생성할 수 있다. 예시적으로, 구동 컨트롤러(222)는 커맨드(CMD), 지시 신호(IS), 및 기초 데이터(BD)에 기초하여 디스플레이 패널(예를 들어, 도 1의 디스플레이 패널(140))을 구동하는 제어 신호(CS)를 생성할 수 있다.

디스플레이 구동 회로(220)는 메모리 인터페이스(223)를 포함할 수 있다. 디스플레이 구동 회로(220)는 인스트럭션(IT)을 메모리 인터페이스(223)를 통해 수신할 수 있다. 예시적으로, 리비전 컨트롤러(224)는 메모리 인터페이스(223)를 통해 인스트럭션(IT)을 수신할 수 있다. 디스플레이 구동 회로(220)는 주소(Add) 및 독출 커맨드(RCMD)를 메모리 인터페이스(223)를 통해 전송할 수 있다. 예시적으로, 리비전 컨트롤러(224)는 메모리 인터페이스(223)를 통해 주소(Add) 및 독출 커맨드(RCMD)를 제1 비휘발성 메모리(231)로 전송할 수 있다.

제1 비휘발성 메모리(231)는 제2 비휘발성 메모리(221)보다 저장 용량이 클 수 있다. 예시적으로, 제1 비휘발성 메모리(231)는 플래시 메모리이고, 제2 비휘발성 메모리(221)는 OTP(One Time Programmable) 메모리일 수 있다. OTP 메모리는, 프로그램되지 않은 상태 또는 프로그램된 상태를 각각 가질 수 있는 복수의 OTP 셀들에 의해서 데이터를 저장할 수 있다. OTP 셀은 전원이 차단되어도 프로그램된 데이터를 손실하지 않고, 프로그램된 OTP 셀은 다시 프로그램될 수 없는, 즉 비가역적(irreversible) 특성을 가질 수 있다. 예를 들면, OTP 셀은 퓨즈(fuse) 또는 안티퓨즈(antifuse)를 포함할 수 있고, 전기적으로 프로그램될 수 있다. 제1 비휘발성 메모리(231) 및 제2 비휘발성 메모리(221) 각각의 종류는 상기 예시에 제한되는 것은 아니며, 다양한 종류의 비휘발성 메모리로 구현될 수 있다.

도 3은 본 개시의 예시적 실시예에 따른 디스플레이 장치를 설명하기 위한 블록도이다. 도 3의 구동 컨트롤러(310) 및 디스플레이 패널(320)은 도 1의 구동 컨트롤러(133) 및 디스플레이 패널(140)에 각각 대응될 수 있다.

도 3을 참조하면, 디스플레이 장치는 스캔 드라이버(640) 및 데이터 드라이버(330)를 포함할 수 있다. 다만, 디스플레이 구동 회로(350)는 스캔 드라이버(340)를 포함하지 않을 수도 있고, 스캔 드라이버(340)는 디스플레이 구동 회로(350)와 별개의 구성으로 디스플레이 장치에 포함될 수도 있다.

디스플레이 패널(320)은 매트릭스 형태로 배열되는 복수의 픽셀(PX)들을 포함하며, 프레임 단위로 이미지를 표시할 수 있다. 디스플레이 패널(320)은 행방향으로 배열된 스캔 라인들(SL1~SLn), 열방향으로 배열된 데이터 라인들(DL1~DLm) 및 상기 스캔 라인들(SL1~SLn) 및 데이터 라인들(DL1~DLm)의 교차 지점에 형성된 픽셀(PX)들을 포함할 수 있다.

구동 컨트롤러(310)는 커맨드(CMD), 지시 신호(IS), 및 인스트럭션(IR) 중 적어도 하나에 기초하여 제어 신호(예를 들어, 도 1의 제어 신호(CS))를 생성할 수 있다. 제어 신호는 제1 제어 신호(CTRL1) 및 제2 제어 신호(CTRL1) 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 제1 제어 신호(CTRL1)는 스캔 드라이버를 제어하는 신호를 의미하고, 제2 제어 신호(CTRL1) 데이터 드라이버를 제어하는 신호를 의미할 수 있다.

스캔 드라이버(340)는 구동 컨트롤러(310)로부터 제공되는 제1 제어 신호(CTRL1)에 응답하여, 스캔 라인들(SL1~SLn)에 순차적으로 스캔 온 신호를 공급함으로써, 스캔 라인들(SL1~SLn)을 순차적으로 선택할 수 있다. 스캔 드라이버(340)로부터 출력되는 스캔-온 신호에 따라, 스캔 라인들(SL1~SLn)이 순차적으로 선택되고, 선택된 스캔 라인에 연결된 픽셀(PX)들에 데이터 라인들(DL1~DLm)을 통해 픽셀(PX)들에 대응하는 계조 전압이 인가됨으로써, 디스플레이 동작이 수행될 수 있다. 계조 전압은 인스트럭션(IT)에 기초하여 조절된 값일 수 있다. 스캔 라인들(SL1~SLn)에 스캔 온 신호가 공급되지 않는 기간에는 스캔 오프 신호(예를 들어, 논리 하이 레벨의 스캔 전압)가 스캔 라인들(SL1~SLn)에 공급될 수 있다.

데이터 드라이버(330)는 제2 제어 신호(CTRL2)에 응답하여, 이미지 데이터(IDT)에 대응하는 데이터(DATA)를 아날로그 신호인 이미지 신호들로 변환하고, 이미지 신호들을 데이터 라인들(DL1~DLn)에 제공할 수 있다. 데이터 드라이버(330)는 복수의 채널 엠프들을 포함할 수 있으며, 복수의 채널 엠프들 각각은 대응하는 적어도 하나의 데이터 라인에 이미지 신호들을 제공할 수 있다.

구동 컨트롤러(310)는 디스플레이 패널(320)의 전반적인 동작을 제어할 수 있다. 구동 컨트롤러(310)는 하드웨어, 소프트웨어 또는 하드웨어와 소프트웨어의 조합으로 구현될 수 있으며, 예를 들어, 구동 컨트롤러(310)는 이하의 다양한 기능들을 수행하는 디지털 로직 회로들 및 레지스터들로 구현될 수 있다.

도 4는 일 실시예에 따라 제1 비휘발성 메모리에 저장되는 인스트럭션을 설명하기 위한 도면이다. 도 4의 제1 비휘발성 메모리(510)는 도 2의 제1 비휘발성 메모리(231)에 대응되므로, 중복되는 내용은 생략한다.

도 4를 참조하면, 제1 비휘발성 메모리(510)는 복수의 영역을 포함할 수 있다. 예를 들어, 제1 비휘발성 메모리(510)는 제1 영역(A1) 및 제2 영역(A2)을 포함할 수 있다. 제1 영역(A1)에는 인스트럭션이 저장되고, 제2 영역(A2)에는 세팅 데이터가 저장될 수 있다.

제1 영역(A1)은, 복수의 주소, 예컨대 주소 Add1~Add3을 포함할 수 있다. 복수의 주소 각각에 해당하는 위치에 데이터가 저장될 수 있다. 예를 들어, 주소 Add1에 제1 키데이터가 저장되고, 주소 Add2에 인스트럭션이 저장되고, 주소 Add3에 기준 체크섬이 저장될 수 있다. 주소는 제1 비휘발성 메모리(510)의 주소로서, 예컨대 리비전 컨트롤러(예를 들어, 도 2의 리비전 컨트롤러(224)가 인식하는 시스템 주소를 의미할 수 있다.

인스트럭션은 디스플레이 구동 회로(예를 들어, 도 2의 디스플레이 구동 회로(220))가 구동하는 장치들을 제어하는 데이터를 변경하기 위한 데이터 및 커맨드를 포함할 수 있다. 디스플레이 구동 회로가 구동하는 장치들을 제어하는 데이터를 변경하기 위한 모든 인스트럭션이 제1 비휘발성 메모리(510)에 저장될 수 있다. 일 실시예에서, 디스플레이 구동 회로가 제어하는 장치들의 모든 결함을 수정하기 위한 인스트럭션이 제1 비휘발성 메모리(510)에 저장될 수 있다. 예시적으로, 디스플레이 구동 회로가 제어하는 장치인 디스플레이 패널 및 PMIC에서 결함이 발생한 경우, 각각의 결함에 대응하는 인스트럭션이 주소 Add2에 저장될 수 있다. 리비전 컨트롤러(예를 들어, 도 2의 리비전 컨트롤러(224))가 제1 비휘발성 메모리(510)에 대해 리딩 동작을 수행하는 경우, 모든 인스트럭션이 독출될 수 있다.

인스트럭션은 부팅 커맨드를 포함할 수 있다. 부팅 커맨드는 호스트(예를 들어, 도 2의 호스트(210))가 디스플레이 구동 회로가 부팅되도록 디스플레이 구동 회로로 전송하는 커맨드처럼, 디스플레이 구동 회로가 부팅되도록 요청하는 커맨드를 의미할 수 있다. 리비전 컨트롤러가 제1 비휘발성 메모리(510)에 대해 리딩 동작을 수행하는 경우, 부팅 커맨드가 독출될 수 있다. 디스플레이 구동 회로는 제1 비휘발성 메모리(510)로부터 독출된 부팅 커맨드에 기초하여 부팅 동작을 수행할 수 있다. 제1 비휘발성 메모리(510)에 인스트럭션으로 부팅 커맨드가 저장됨에 따라, 호스트로부터 커맨드를 수신하지 않아도 디스플레이 구동 회로는 인스트럭션에 기초하여 부팅 동작을 수행할 수 있다. 이에 따라, 디스플레이 구동 회로가 부팅 동작을 수행하는데 소요되는 시간이 감소할 수 있고, 호스트와 디스플레이 구동 회로 간 커맨드를 전달하기 위한 인터페이스 파워가 감소될 수 있다.

인스트럭션이 제1 비휘발성 메모리(510)에 저장되면 제1 키데이터도 제1 비휘발성 메모리(510)에 저장될 수 있다. 예컨대, 주소 Add1에 제1 키데이터가 저장되고, 주소 Add2에 인스트럭션이 저장될 수 있다. 디스플레이 구동 회로 제조 후 결함 발견을 위한 테스트에서, 결함이 발견되지 않은 경우 제1 비휘발성 메모리(510)에 인스트럭션이 저장되지 않을 수 있다. 즉, 제1 비휘발성 메모리(510)에 인스트럭션이 저장되면 제1 키데이터도 함께 저장될 수 있고, 제1 비휘발성 메모리(510)에 인스트럭션이 저장되지 않는 경우, 제1 키데이터도 저장되지 않을 수 있다.

제1 키데이터는 리비전 컨트롤러가 리딩 동작을 수행할 지 여부를 판단하기 위한 데이터를 의미할 수 있다. 제1 키데이터에 기초하여 리비전 컨트롤러가 리딩 동작을 수행할 지 여부가 판단될 수 있다. 예시적으로, 제1 키데이터는 4byte일 수 있으나, 이에 반드시 제한되는 것은 아니다.

제1 비휘발성 메모리(510)에 기준 체크섬이 저장될 수 있다. 기준 체크섬은 제1 비휘발성 메모리(510)에 저장된 인스트럭션의 체크섬 값을 의미할 수 있다. 예를 들어, 주소 Add2에 저장된 인스트럭션의 체크섬이 주소 Add3에 저장될 수 있다. 일 실시예에서, 기준 체크섬은 제1 비휘발성 메모리(510)에 저장된 인스트럭션의 모든 byte를 더한 값일 수 있다.

기준 체크섬은 메모리 컨트롤러가 리딩한 인스트럭션의 오류를 검출하기 위해 사용될 수 있다. 리비전 컨트롤러는 제1 비휘발성 메모리(510)에 저장된 기준 체크섬과 리딩한 인스트럭션의 체크섬이 매칭되는지 여부를 통해, 리딩한 인스트럭션이 정상인지 또는 비정상인지 여부를 판단할 수 있다. 리비전 컨트롤러가 오류를 검출하는 방법은 도 5를 참조하여 상세히 후술한다.

제2 영역(A2)은 주소를 포함할 수 있고, 세팅 데이터가 저장될 수 있다. 예를 들어, 주소 Addk에 세팅 데이터가 저장될 수 있다. 세팅 데이터는 디스플레이 구동 회로 및 디스플레이 구동 회로가 제어하는 장치들을 세팅하기 위한 데이터를 의미할 수 있다. 예를 들어, 세팅 데이터는 디스플레이 패널의 전압 정보, 휘도 정보, 및 오프셋 보정 데이터 등을 포함할 수 있다. 다만, 이에 반드시 제한되는 것은 아니며 세팅 데이터는 디스플레이 구동 회로에서 구동하는 전압 레벨 및 속도 정보 등을 포함할 수 있다.

리비전 컨트롤러는 제1 비휘발성 메모리(510)로부터 세팅 데이터를 독출할 수 있다. 리비전 컨트롤러는 제1 비휘발성 메모리(510)로부터 제1 영역(A1)에 포함된 데이터들을 독출한 후 제2 영역(A2)에 포함된 데이터를 독출할 수 있다. 예를 들어, 리비전 컨트롤러는 제1 비휘발성 메모리(510)로부터 인스트럭션을 독출한 후 세팅 데이터를 독출할 수 있다. 리비전 컨트롤러는 제1 비휘발성 메모리(510)로부터 제1 영역(A1)에 포함된 데이터들와 제2 영역(A2)에 포함된 데이터를 동시에 독출할 수 있다. 예를 들어, 리비전 컨트롤러는 제1 비휘발성 메모리(510)로부터 인스트럭션 및 세팅 데이터를 동시에 독출할 수 있다.

리비전 컨트롤러가 제1 비휘발성 메모리(510)로부터 세팅 데이터를 독출하고 구동 컨트롤러로 세팅 데이터를 전달할 수도 있고, 구동 컨트롤러가 제1 비휘발성 메모리(510)로부터 세팅 데이터를 독출할 수도 있다. 예를 들어, 구동 컨트롤러는 제1 비휘발성 메모리(510)로부터 제2 영역(A2)에 포함된 데이터를 독출할 수 있다.

도 5는 일 실시예에 따른 리비전 컨트롤러의 동작 방법을 설명하기 위한 블록도이다. 도 5의 제1 비휘발성 메모리(510), 리비전 컨트롤러(520), 및 구동 컨트롤러(540)는 도 2의 제1 비휘발성 메모리(510), 리비전 컨트롤러(520), 및 구동 컨트롤러(540)에 각각 대응되므로, 중복되는 내용은 생략한다. 이하에서는, 도 4를 참조하여 함께 설명한다.

도 5를 참조하면, 리비전 컨트롤러(520) 및 구동 컨트롤러(540)는 동일한 집적 회로로 구현될 수도 있고, 별개의 집적 회로로 구현될 수도 있다. 실시예에 따라, 제1 비휘발성 메모리(510) 는 디스플레이 구동 회로에 포함될 수 있다.

리비전 컨트롤러(520)는 제1 리비전 컨트롤러(521) 및 제2 리비전 컨트롤러(522)를 포함할 수 있다. 제1 리비전 컨트롤러(521)는 제1 비휘발성 메모리(510)로부터 인스트럭션을 리딩하는 리딩 동작을 수행할 지 여부를 판단할 수 있다.

제1 리비전 컨트롤러(521)는 제1 비휘발성 메모리(510)에 저장된 제1 키데이터를 이용하여 리딩 동작을 수행할 지 여부를 판단할 수 있다. 제1 리비전 컨트롤러(521)는 주소를 이용하여 제1 키데이터를 독출할 수 있다. 제1 리비전 컨트롤러(521)는 주소(Add) 및 독출 커맨드(RCMD)를 제1 비휘발성 메모리(510)로 제공함으로써, 제1 비휘발성 메모리(510)가 제1 키데이터를 독출하도록 제어할 수 있다. 예시적으로, 제1 리비전 컨트롤러(521)는 제1 비휘발성 메모리(510)가 주소 Add 1에 저장된 제1 키데이터를 독출하도록 제어할 수 있다.

제1 리비전 컨트롤러(521)는 제1 키데이터와 제2 키데이터를 비교할 수 있다. 제2 키데이터는 제1 리비전 컨트롤러(521)에 기 설정된 값으로 암호화된 패턴일 수 있다. 제1 리비전 컨트롤러(521)는 제1 키데이터와 제2 키데이터가 매칭되는 경우, 리딩 동작을 수행하는 것으로 판단할 수 있다. 한편, 매칭은 제1 키데이터와 제2 키데이터가 완전히 동일하여 일치하는 경우를 의미 할 수 있으며, 제1 키데이터와 제2 키데이터가 일치하지 않고 제1 키데이터와 대응하는 값이 제2 키데이터인 경우를 의미할 수도 있으나, 이에 제한되지 않는다.

제1 리비전 컨트롤러(521)는 리딩 동작을 수행하는 것으로 판단한 경우, 판별 신호(DS)를 생성할 수 있다. 제1 리비전 컨트롤러(521)는 판별 신호(DS)를 제2 리비전 컨트롤러(522)로 전달할 수 있다. 실시예에 따라, 제1 리비전 컨트롤러(521)는 리딩 동작을 수행하는 것으로 판단하면, 제2 리비전 컨트롤러(522)가 인스트럭션을 리딩하도록 제어할 수 있다. 제1 리비전 컨트롤러(521)는 판별 신호(DS)를 제2 리비전 컨트롤러(522)로 전달하고, 제2 리비전 컨트롤러(522)가 판별 신호(DS)를 수신하면, 제2 리비전 컨트롤러(522)는 제1 비휘발성 메모리(510)로부터 인스트럭션을 리딩할 수 있다.

도 5에는, 제2 리비전 컨트롤러(522)가 인스트럭션을 리딩하는 것으로 도시되어 있으나, 이에 제한되는 것은 아니다. 제1 리비전 컨트롤러(521)는 리딩 동작을 수행하는 것으로 판단하면, 인스트럭션을 리딩할 수 있다. 제1 리비전 컨트롤러(521)는 제2 리비전 컨트롤러(522)로 인스트럭션을 전달할 수 있다. 예시적으로, 제1 리비전 컨트롤러(521)는 주소 Add2 및 독출 커맨드(RCMD1)를 제1 비휘발성 메모리(510)로 제공함으로써, 제1 비휘발성 메모리(510)가 인스트럭션을 독출하도록 제어할 수 있다. 제1 리비전 컨트롤러(521)는 독출한 인스트럭션을 제2 리비전 컨트롤러(522)로 전달할 수 있다.

제1 키데이터와 제2 키데이터가 매칭되는 경우, 제1 리비전 컨트롤러(521)는 제1 비휘발성 메모리(510)로부터 인스트럭션을 리딩할 수도 있고, 제2 리비전 컨트롤러(522)가 리딩 동작을 수행할 수도 있다. 예시적으로, 제1 리비전 컨트롤러(521)가 제1 키데이터와 제2 키데이터가 일치한다고 판단한 경우, 판별 신호(DS)를 제2 리비전 컨트롤러(522)로 전달하고, 제2 리비전 컨트롤러(522)는 판별 신호(DS)를 수신하여 인스트럭션을 리딩할 수도 있다. 이하에서는, 제2 리비전 컨트롤러(522)가 판별 신호(DS)를 수신한 경우, 인스트럭션을 리딩하는 것을 가정한다.

제1 리비전 컨트롤러(521)는 제1 키데이터와 제2 키데이터가 매칭되지 않는 경우, 리딩 동작을 수행하지 않는 것으로 판단할 수 있다. 제1 리비전 컨트롤러(521)는 제1 비휘발성 메모리(510)로부터 인스트럭션을 리딩하지 않을 수 있다. 제1 리비전 컨트롤러(521)는 리딩 동작을 수행하지 않는 것으로 판단한 경우, 판별 신호(DS)를 생성하지 않을 수 있다. 제2 리비전 컨트롤러(522)는 제1 리비전 컨트롤러(521)로부터 판별 신호(DS)를 수신할 수 없고, 제1 비휘발성 메모리(510)로부터 인스트럭션을 리딩하지 않을 수 있다.

제2 리비전 컨트롤러(522)는 제1 비휘발성 메모리(510)로부터 리딩한 인스트럭션이 정상인지 또는 비정상인지 여부를 판단할 수 있다. 제2 리비전 컨트롤러(522)는 제1 리비전 컨트롤러(521)로부터 판별 신호(DS)를 수신할 수 있고, 판별 신호(DS)를 수신하면 제1 리비전 컨트롤러(521)가 리딩한 인스트럭션이 정상인지 또는 비정상인지 여부를 판단할 수 있다.

제2 리비전 컨트롤러(522)는 판별 신호(DS)를 수신하면 제1 비휘발성 메모리(510)로부터 인스트럭션을 독출할 수 있다. 제1 리비전 컨트롤러(521)가 인스트럭션을 리딩한 경우, 제2 리비전 컨트롤러(522)는 제1 리비전 컨트롤러(521)로부터 인스트럭션 및 판별 신호(DS)를 전달받을 수도 있다.

제2 리비전 컨트롤러(522)는 제1 비휘발성 메모리(510)에 저장된 기준 체크섬을 이용하여 리딩 동작을 수행할 지 여부를 판단할 수 있다. 제2 리비전 컨트롤러(522)는 제1 리비전 컨트롤러(521)로부터 판별 신호(DS)를 수신하면 제1 비휘발성 메모리(510)로부터 기준 체크섬 및 인스트럭션을 리딩할 수 있다.

제2 리비전 컨트롤러(522)는 주소를 이용하여 기준 체크섬 및 인스트럭션을 독출할 수 있다. 제2 리비전 컨트롤러(522)는 주소(Add) 및 독출 커맨드(RCMD)를 제1 비휘발성 메모리(510)로 제공함으로써, 제1 비휘발성 메모리(510)가 기준 체크섬 및 인스트럭션을 독출하도록 제어할 수 있다. 예시적으로, 제2 리비전 컨트롤러(522)는 제1 비휘발성 메모리(510)가 주소 Add 2에 저장된 인스트럭션을 독출하고, 주소 Add 3에 저장된 기준 체크섬을 독출하도록 제어할 수 있다.

제2 리비전 컨트롤러(522)는 기준 체크섬과 리딩한 인스트럭션의 체크섬을 비교할 수 있다. 일 실시예에서, 제2 리비전 컨트롤러(522)는 리딩한 인스트럭션의 체크섬을 계산하여 리딩 체크섬을 생성할 수 있다. 제2 리비전 컨트롤러(522)는 리딩 체크섬과 기준 체크섬이 매칭되는 경우, 제1 비휘발성 메모리(510)로부터 리딩한 인스트럭션이 정상인 것으로 판단할 수 있다. 제2 리비전 컨트롤러(522)는 리딩한 인스트럭션이 정상인 것으로 판단한 경우, 지시 신호(IS)를 생성할 수 있다. 제2 리비전 컨트롤러(522)는 지시 신호(IS)를 구동 컨트롤러(540)로 전달할 수 있다. 한편, 매칭은 리딩 체크섬과 기준 체크섬이 완전히 동일하여 일치하는 경우를 의미 할 수 있으며, 리딩 체크섬과 기준 체크섬이 일치하지 않고 리딩 체크섬과 대응하는 값이 기준 체크섬인 경우를 의미할 수도 있으나, 이에 제한되지 않는다.

제2 리비전 컨트롤러(522)는 리딩 체크섬과 기준 체크섬이 매칭되지 않는 경우, 제1 비휘발성 메모리(510)로부터 리딩한 인스트럭션이 비정상인 것으로 판단할 수 있다. 제2 리비전 컨트롤러(522)는 인스트럭션이 비정상인 것으로 판단한 경우 지시 신호(IS)를 생성하지 않을 수 있다. 제2 리비전 컨트롤러(522)는 리딩한 인스트럭션에 오류가 있는지 여부를 검출함으로써, 오류가 존재하는 인스트럭션에 기초하여 디스플레이 구동 회로가 장치들을 제어하는 것을 방지할 수 있다.

구동 컨트롤러(540)는 제2 리비전 컨트롤러(522)로부터 지시 신호(IS)를 수신하는 경우, 인스트럭션에 기초하여 장치들을 제어할 수 있다. 구동 컨트롤러(540)는 제2 리비전 컨트롤러(522)로부터 인스트럭션을 수신할 수 있다. 구동 컨트롤러(540)는 지시 신호(IS) 및 인스트럭션에 기초하여 장치들을 제어할 수 있다.

구동 컨트롤러(540)는 제1 비휘발성 메모리(510)로부터 인스트럭션을 독출할 수도 있다. 예시적으로, 구동 컨트롤러(540)는 주소 및 독출 커맨드를 제1 비휘발성 메모리(510)로 제공함으로써, 제1 비휘발성 메모리(510)가 인스트럭션을 독출하도록 제어할 수 있다. 구동 컨트롤러(540)는 지시 신호(IS)를 수신하면, 인스트럭션 및 기초 데이터에 기초하여 장치들을 제어할 수 있다. 구동 컨트롤러(540)는 지시 신호(IS)를 수신하지 않는 경우, 기초 데이터에 기초하여 장치들을 제어할 수 있다.

일 실시예에서, 제2 리비전 컨트롤러(522)는 필요에 따라 생략될 수도 있다. 제2 리비전 컨트롤러(522)가 생략되는 경우, 제1 리비전 컨트롤러(521)는 판별 신호(DS)를 지시 신호(IS)로서 구동 컨트롤러(540)로 전달할 수 있다. 구동 컨트롤러(540)는 제1 리비전 컨트롤러(521)로부터 인스트럭션을 수신할 수도 있고, 판별 신호(DS)에 기초하여 제1 비휘발성 메모리(510)로부터 인스트럭션을 독출할 수도 있다.

도 6은 본 개시의 예시적 실시 예에 따른 리비전 컨트롤러의 동작 방법을 설명하기 위한 흐름도이다. 구체적으로, 도 6은 도 2에서 전술한 디스플레이 구동 회로(220)의 동작 방법을 나타내는 흐름도이다. 상술한 내용과 중복되는 내용은 생략한다.

단계 S610에서, 디스플레이 구동 회로는 리딩 동작을 수행할 지 여부를 판단할 수 있다. 디스플레이 구동 회로는 제1 비휘발성 메모리로부터 인스트럭션을 리딩하는 동작을 수행할 지 여부를 판단할 수 있다. 디스플레이 구동 회로는 외부로부터 디스플레이 구동 회로로 전원이 인가되면, 리딩 동작을 수행할 지 여부를 판단할 수 있다. 디스플레이 구동 회로는 리딩 동작을 수행하는 것으로 판단한 경우, 단계 S620을 수행하고, 리딩 동작을 수행하지 않는 것으로 판단한 경우, 종료할 수 있다. 즉, 디스플레이 구동 회로는 인스트럭션을 리딩하지 않을 수 있다.

단계 S620에서, 디스플레이 구동 회로는 인스트럭션이 정상인지 여부를 판단할 수 있다. 디스플레이 구동 회로는 제1 비휘발성 메모리로부터 리딩한 인스트럭션이 정상인지 또는 비정상인지 여부를 판단할 수 있다. 디스플레이 구동 회로는 리딩한 인스트럭션이 정상인 것으로 판단한 경우, 단계 S630을 수행할 수 있다. 일 실시예에서, 디스플레이 구동 회로는 리딩한 인스트럭션이 정상인 것으로 판단한 경우, 지시 신호를 생성할 수 있다.

디스플레이 구동 회로는 인스트럭션이 정상인 경우 장치들을 제어할 수 있다. 디스플레이 구동 회로는 인스트럭션이 정상인 경우, 인스트럭션에 기초하여 장치들을 제어할 수 있다.

디스플레이 구동 회로는 리딩한 인스트럭션이 비정상인 것으로 판단한 경우, 종료할 수 있다. 즉, 디스플레이 구동 회로는 지시 신호를 생성하지 않을 수 있다. 디스플레이 구동 회로는 리딩한 인스트럭션이 비정상인 경우 인스트럭션을 반영하지 않고 구동할 수 있다. 실시예에 따라, 단계 S620은 생략될 수 있다. 디스플레이 구동 회로는 단계 S610을 수행한 후 단계 S630을 수행할 수도 있다.

도 7은 본 개시의 예시적 실시 예에 따른 제1 리비전 컨트롤러의 동작 방법을 설명하기 위한 흐름도이다. 도 7은 도 5에서 전술한 제1 리비전 컨트롤러(521)의 동작 방법을 나타내는 흐름도이다. 구체적으로, 도 7은 도 6의 단계 S610을 설명하기 위한 흐름도이다. 상술한 내용과 중복되는 내용은 생략한다.

단계 S710에서, 제1 리비전 컨트롤러는 제1 비휘발성 메모리로부터 제1 키데이터를 리딩할 수 있다. 제1 리비전 컨트롤러는 제1 비휘발성 메모리에 저장된 제1 키데이터를 이용하여 리딩 동작을 수행할 지 여부를 판단할 수 있다. 제1 리비전 컨트롤러는 제1 키데이터가 제1 비휘발성 메모리에 저장되었는지 여부에 기초하여 리딩 동작을 수행할 지 여부를 판단할 수 있다.

단계 S720에서, 제1 리비전 컨트롤러는 제1 키데이터와 제2 키데이터가 매칭되는지 여부를 판단할 수 있다. 제1 키데이터는 제1 비휘발성 메모리에 인스트럭션이 저장되었는지 판단하기 위한 암호 패턴일 수 있다. 인스트럭션이 제1 비휘발성 메모리에 저장되는 경우 제1 키데이터도 함께 저장될 수 있다. 제2 키데이터는 제1 리비전 컨트롤러에 기 설정된 암호화된 패턴일 수 있다. 제1 리비전 컨트롤러는 제1 키데이터와 제2 키데이터가 매칭되는 경우 단계 S730을 수행할 수 있다. 제1 리비전 컨트롤러는 제1 키데이터와 제2 키데이터가 매칭되지 않는 경우 단계 S750을 수행할 수 있다.

제1 리비전 컨트롤러는 제1 키데이터를 독출할 수 있다. 제1 리비전 컨트롤러는 제1 비휘발성 메모리로 주소 및 독출 커맨드를 제공함으로써 제1 비휘발성 메모리가 제1 키데이터를 독출하도록 제어할 수 있다. 제1 리비전 컨트롤러는 독출한 제1 키데이터와 기 설정된 제2 키데이터를 비교할 수 있다.

단계 S730에서, 제1 리비전 컨트롤러는 인스트럭션이 제1 비휘발성 메모리에 저장된 것으로 판단할 수 있다. 제1 리비전 컨트롤러는 인스트럭션이 제1 비휘발성 메모리에 저장된 것으로 판단하고 리딩 동작을 수행할 수 있다(단계 S740). 예시적으로, 제1 리비전 컨트롤러는 제1 키데이터와 제2 키데이터가 일치하는 경우, 인스트럭션이 제1 비휘발성 메모리에 저장된 것으로 판단할 수 있고, 제1 리비전 컨트롤러로부터 인스트럭션을 리딩할 수 있다.

일 실시예에서, 제1 리비전 컨트롤러는 단계 S730을 수행하면, 인스트럭션을 리딩하는 것으로 판단하고 판별 신호를 생성할 수 있다. 제1 리비전 컨트롤러는 판별 신호를 제2 리비전 컨트롤러로 전달할 수 있다. 단계 S740에서, 제1 리비전 컨트롤러는 리딩 동작을 수행할 수 있다. 제1 리비전 컨트롤러는 리딩한 인스트럭션을 제2 리비전 컨트롤러로 전달할 수 있다. 다만, 이에 반드시 제한되는 것은 아니며, 제2 리비전 컨트롤러가 리딩 동작을 수행하도록 구현된 경우, 단계 S740은 생략될 수도 있다. 제2 리비전 컨트롤러는 제1 리비전 컨트롤러로부터 판별 신호를 수신하여 인스트럭션을 리딩할 수 있다.

단계 S750에서, 제1 리비전 컨트롤러는 인스트럭션이 제1 비휘발성 메모리에 저장되지 않은 것으로 판단할 수 있다. 제1 리비전 컨트롤러는 인스트럭션이 제1 비휘발성 메모리에 저장되지 않은 것으로 판단하고 리딩 동작을 중단할 수 있다(단계 S760). 예시적으로, 제1 리비전 컨트롤러는 제1 키데이터와 제2 키데이터가 일치하지 않는 경우, 인스트럭션이 제1 비휘발성 메모리에 저장되지 않은 것으로 판단할 수 있고, 제1 리비전 컨트롤러로부터 인스트럭션을 리딩하지 않을 수 있다.

도 8은 본 개시의 예시적 실시 예에 따른 제2 리비전 컨트롤러의 동작 방법을 설명하기 위한 흐름도이다. 도 8은 도 5에서 전술한 제2 리비전 컨트롤러(522)의 동작 방법을 나타내는 흐름도이다. 구체적으로, 도 8은 도 6의 단계 S620을 설명하기 위한 흐름도이다. 도 8의 단계들은 제1 리비전 컨트롤러가 도 7의 단계 S730을 수행한 후 수행될 수 있다. 상술한 내용과 중복되는 내용은 생략한다.

단계 S810에서, 제2 리비전 컨트롤러는 제1 비휘발성 메모리로부터 인스트럭션을 리딩할 수 있다. 일 실시예에서, 제2 리비전 컨트롤러는 제1 리비전 컨트롤러로부터 판별 신호를 수신할 수 있다. 제2 리비전 컨트롤러는 판별 신호를 수신하면, 인스트럭션을 리딩할 수 있다. 제1 리비전 컨트롤러가 인스트럭션을 리딩하고, 제1 리비전 컨트롤러로부터 인스트럭션을 전달받은 경우 단계 S810은 생략될 수도 있다. 예를 들어, 제1 리비전 컨트롤러가 제2 리비전 컨트롤러는 제1 리비전 컨트롤러로부터 인스트럭션 및 판별 신호를 전달받을 수 있다. 또한, 도 8에는 단계 S810을 수행된 후 단계 S830이 수행되는 것으로 도시되어 있으나, 이에 반드시 제한되는 것은 아니며, 단계 S830이 수행된 후 단계 S810이 수행될 수도 있고, 단계 S810 및 단계 830이 동시에 수행될 수도 있다.

단계 S820에서, 제2 리비전 컨트롤러는 제1 비휘발성 메모리로부터 리딩한 인스트럭션의 체크섬을 계산하여 리딩 체크섬을 생성할 수 있다. 단계 S830에서 제2 리비전 컨트롤러는 제1 비휘발성 메모리로부터 기준 체크섬을 리딩할 수 있다. 예시적으로, 제2 리비전 컨트롤러는 주소 및 독출 커맨드를 제1 비휘발성 메모리로 제공함으로써 제1 비휘발성 메모리가 기준 체크섬을 독출하도록 제어할 수 있다.

단계 S840에서, 제2 리비전 컨트롤러는 기준 체크섬과 리딩 체크섬이 매칭되는지 여부를 판단할 수 있다. 제2 리비전 컨트롤러는 리딩 체크섬과 기준 체크섬이 매칭되는 경우 제1 비휘발성 메모리로부터 리딩한 인스트럭션이 정상인 것으로 판단할 수 있다(단계 S850). 예시적으로, 제2 리비전 컨트롤러는 기준 체크섬과 리딩 체크섬이 일치하는 경우, 리딩한 인스트럭션이 정상인 것으로 판단할 수 있다. 제2 리비전 컨트롤러는 리딩한 인스트럭션이 정상인 것으로 판단한 경우, 지시 신호를 생성할 수 있다(S870). 지시 신호는 구동 컨트롤러(예를 들어, 도 5의 구동 컨트롤러(540))로 전달될 수 있다. 구동 컨트롤러는 제2 리비전 컨트롤러로부터 지시 신호를 수신하는 경우, 구동 컨트롤러는 기초 데이터 및 인스트럭션에 기초하여 디스플레이 구동 회로가 제어하는 장치들을 제어할 수 있다.

단계 S860에서, 제2 리비전 컨트롤러는 리딩 체크섬과 기준 체크섬이 매칭되지 않는 경우 제1 비휘발성 메모리로부터 리딩한 인스트럭션이 비정상인 것으로 판단할 수 있다. 제2 리비전 컨트롤러는 제1 비휘발성 메모리로부터 리딩한 인스트럭션이 비정상인 것으로 판단한 경우, 종료할 수 있다. 즉, 제2 리비전 컨트롤러는 리딩한 인스트럭션이 비정상인 것으로 판단한 경우, 지시 신호를 생성하지 않을 수 있다. 예시적으로, 제2 리비전 컨트롤러는 리딩 체크섬과 기준 체크섬이 일치하지 않는 경우, 지시 신호를 생성하지 않을 수 있다. 지시 신호는 구동 컨트롤러로 전달되지 않을 수 있고, 구동 컨트롤러는 기초 데이터에 기초하여 디스플레이 구동 회로가 제어하는 장치들을 제어할 수 있다.

도 9 내지 도 12는 본 개시의 예시적 실시 예에 따른 디스플레이 시스템의 동작을 설명하기 위한 타이밍도들이다. 도 9는 본 개시의 예시적 실시예에 따른 데이터 및 인스트럭션을 설명하기 위한 타이밍도이다.

도 9를 참조하면, 전원 신호(OS)는 디스플레이 구동 회로로 공급되는 전원을 나타내는 신호를 의미할 수 있다. 전원 신호(OS)는 디스플레이 구동 회로로 전원이 인가된 것을 나타내는 신호로, 디스플레이 구동 회로로 전원이 인가된 경우나 디스플레이 구동 회로가 리셋(reset)되어 다시 전원이 인가된 경우를 포함할 수 있다. 전원 신호(OS)는 리비전 컨트롤러로 제공될 수 있다. 일 실시예에서, 구동 컨트롤러는 전원 신호(OS)를 생성할 수 있고, 리비전 컨트롤러로 전원 신호(OS)를 전달할 수 있다.

디스플레이 구동 회로로 전원이 인가되면 전원 신호(OS)는 로직 로우 레벨에서 로직 하이 레벨로 변할 수 있다. 예시적으로, 제1 시점(t0)에서 전원 신호(OS)는 로직 로우 레벨에서 로직 하이 레벨로 변할 수 있다. 다만 이에 반드시 제한되는 것은 아니며, 디스플레이 구동 회로로 전원이 인가되면 전원 신호(OS)는 로직 하이 레벨에서 로직 로우 레벨로 변할 수 있다.

디스플레이 구동 회로로 전원이 인가되면, 구동 컨트롤러는 제2 비휘발성 메모리에 저장된 기초 데이터를 리딩할 수 있다. 기초 데이터는 디스플레이 구동 회로가 구동하기 위한 기본적인 데이터를 의미할 수 있다. 예시적으로, 기초 데이터는 디스플레이 구동 회로의 구동 주파수, 구동 전압 레벨, 및 호스트 인터페이스에 대한 성능 정보 등을 포함할 수 있다.

구동 컨트롤러는 전원 신호(OS)의 로직 레벨이 변하는 것에 기초하여 기초 데이터를 리딩할 수 있다. 구동 컨트롤러는 전원 신호(OS)의 로직 레벨이 변한 후, 일정 시간 뒤에 기초 데이터를 리딩하는 동작을 시작할 수 있다. 예를 들어, 제1 시점(t0)으로부터 시간(T1) 뒤인 제2 시점(t1)에서, 구동 컨트롤러는 제2 비휘발성 메모리로부터 기초 데이터를 리딩할 수 있다.

구동 컨트롤러는 제1 비휘발성 메모리에 저장된 인스트럭션을 로딩할 수 있다. 구동 컨트롤러는 제1 비휘발성 메모리에 저장된 인스트럭션을 리딩하거나 리비전 컨트롤러로부터 인스트럭션을 전달받아 인스트럭션을 로딩할 수 있다.

디스플레이 구동 회로로 전원이 인가되면, 구동 컨트롤러는 제1 비휘발성 메모리에 저장된 인스트럭션을 로딩할 수 있다. 일 실시예에서, 구동 컨트롤러는 전원 신호(OS)의 로직 레벨이 변하는 것에 기초하여 인스트럭션을 로딩할 수 있다. 구동 컨트롤러는 전원 신호(OS)의 로직 레벨이 변한 후, 일정 시간 뒤에 인스트럭션을 로딩하는 동작을 시작할 수 있다. 예를 들어, 제1 시점(t0)으로부터 시간(T2) 뒤인 제3 시점(t2)에서, 구동 컨트롤러는 제1 비휘발성 메모리로부터 인스트럭션을 리딩할 수 있다. 시간(T2)은 시간(T1)보다 긴 시간일 수 있다.

구동 컨트롤러가 인스트럭션을 로딩하는 시점인 제3 시점(t2) 이전에 리비전 컨트롤러의 동작이 수행될 수 있다. 리비전 컨트롤러는 전원 신호(OS)에 기초하여 인스트럭션에 대해 리딩 동작을 수행할 지 여부 및 인스트럭션이 정상인지 여부를 판단할 수 있다. 리비전 컨트롤러는 전원 신호(OS)의 로직 레벨이 변하는 것에 기초하여 인스트럭션을 리딩할지 여부를 판단할 수 있다. 리비전 컨트롤러는 제1 시점(t0) 이후 리딩 동작을 수행할 지 여부 및 인스트럭션이 정상인지 여부를 판단할 수 있다. 다만 이에 반드시 제한되는 것은 아니며, 제1 시점(t0)으로부터 시간(T2) 뒤인 제3 시점(t2)에서, 리비전 컨트롤러는 리딩 동작을 수행할 지 여부 및 인스트럭션이 정상인지 여부를 판단할 수 있고, 구동 컨트롤러는 제3 시점(t2) 이후 인스트럭션을 로딩할 수도 있다.

리비전 컨트롤러가 인스트럭션에 대해 리딩 동작을 수행하는 것으로 판단하고, 인스트럭션이 정상인 것으로 판단한 경우, 구동 컨트롤러는 인스트럭션을 로딩할 수 있다.

커맨드(CMD)는 호스트로부터 디스플레이 구동 회로로 전송될 수 있다. 커맨드(CMD)는 휘도, 감마, 프레임 주파수, 디스플레이 구동 회로(130)의 동작 모드 등에 대한 설정 정보를 포함할 수 있다. 예를 들어, 커맨드(CMD)는 디스플레이 구동 회로가 제어하는 디스플레이 패널이 표시를 시작하도록 지시하는 디스플레이 패널 시작 명령일 수 있다. 이하에서는, 커맨드(CMD)가 디스플레이 패널 시작 명령임을 가정하여 설명한다. 커맨드(CMD)는 구동 컨트롤러가 인스트럭션을 로딩한 이후, 구동 컨트롤러로 전달될 수 있다. 예시적으로, 제3 시점(t2) 이후의 제4 시점(t3)에서, 커맨드(CMD)는 구동 컨트롤러로 전달될 수 있다. 구동 컨트롤러는 커맨드(CMD)에 기초하여 디스플레이 패널이 이미지 데이터를 표시하도록 제어할 수 있다. 구체적으로, 구동 컨트롤러는 커맨드(CMD)에 기초하여 제어 신호를 생성하고, 제어 신호에 기초하여 디스플레이 패널로 전압이 인가될 수 있다.

전압 신호(VS)는 디스플레이 패널로 공급되는 전압을 나타내는 신호를 의미할 수 있다. 전압 신호(VS)는 디스플레이 패널로 공급되는 전원이나 전압을 나타낼 수 있다. 커맨드(CMD)에 기초하여 전압 신호(VS)의 로직 레벨이 변할 수 있다. 전압 신호(VS)의 로직 레벨이 변하면 디스플레이 패널이 표시 동작을 시작할 수 있다. 전압 신호(VS)가 로직 로우 레벨에서 로직 하이 레벨로 변하면 디스플레이 패널은 이미지를 표시할 수 있다. 예시적으로, 제5 시점(t4)에서 전압 신호(VS)는 로직 로우 레벨에서 로직 하이 레벨로 변할 수 있다.

구동 컨트롤러는 제1 비휘발성 메모리에 저장된 세팅 데이터를 로딩할 수 있다. 즉, 구동 컨트롤러가 제1 비휘발성 메모리로부터 세팅 데이터를 리딩하거나, 리비전 컨트롤러가 리딩한 세팅 데이터를 전달받는 것을 의미할 수 있다. 세팅 데이터는 디스플레이 구동 회로 및 디스플레이 구동 회로가 제어하는 장치들을 세팅하기 위한 데이터를 의미할 수 있다. 예를 들어, 세팅 데이터는 디스플레이 패널의 전압 정보, 휘도 정보, 및 오프셋 보정 데이터 등을 포함할 수 있다. 다만, 이에 반드시 제한되는 것은 아니며 세팅 데이터는 디스플레이 구동 회로에서 구동하는 전압 레벨 및 속도 정보 등을 포함할 수 있다.

구동 컨트롤러는 전압 신호(VS)의 로직 레벨이 변하는 것에 기초하여 세팅 데이터를 로딩할 수 있다. 구동 컨트롤러는 전압 신호(VS)의 로직 레벨이 변하면 세팅 데이터를 로딩하는 동작을 시작할 수 있다. 예를 들어, 제5 시점(t4)에서, 구동 컨트롤러는 제1 비휘발성 메모리로부터 세팅 데이터를 리딩할 수 있다. 다른 예로, 제5 시점(t4)에서, 리비전 컨트롤러는 제1 비휘발성 메모리로부터 세팅 데이터를 리딩하고, 구동 컨트롤러는 리비전 컨트롤러로부터 세팅 데이터를 전달받을 수 있다.

한편, 도 9에는 구동 컨트롤러가 세팅 데이터를 로딩하는 시점과 전압 신호(VS)의 레벨이 변한 시점이 일치하는 것으로 도시되어 있으나, 이에 반드시 제한되는 것은 아니다. 구동 컨트롤러가 세팅 데이터를 로딩하기 시작한 이후 전압 신호(VS)의 레벨이 변할 수도 있다. 또한, 전압 신호(VS)의 레벨이 변한 후 일정 시간 뒤에 구동 컨트롤러가 세팅 데이터를 로딩하기 시작할 수도 있다.

도 10은 본 개시의 예시적 실시예에 따른 제1 비휘발성 메모리에 인스트럭션이 저장되지 않은 경우를 설명하기 위한 타이밍도이다. 도 10을 참조하면, 도 10은 도 9와 비교 시, 제1 비휘발성 메모리에 인스트럭션이 저장되지 않은 경우를 나타낸다. 상술한 내용 중 중복되는 내용은 생략한다.

도 10을 참조하면, 구동 컨트롤러는 제1 비휘발성 메모리에 저장된 인스트럭션을 로딩할 수 있다. 구동 컨트롤러는 제1 비휘발성 메모리에 저장된 인스트럭션을 리딩하거나 리비전 컨트롤러로부터 인스트럭션을 전달받아 인스트럭션을 로딩할 수 있다. 구동 컨트롤러가 인스트럭션을 로딩하기 이전에 리비전 컨트롤러의 동작이 수행될 수 있다. 리비전 컨트롤러는 전원 신호(OS)에 기초하여 인스트럭션에 대해 리딩 동작을 수행할 지 여부 및 인스트럭션이 정상인지 여부를 판단할 수 있다. 리비전 컨트롤러는 전원 신호(OS)의 로직 레벨이 변하는 것에 기초하여 인스트럭션을 리딩할지 여부를 판단할 수 있다. 리비전 컨트롤러는 제1 시점(t0) 이후 리딩 동작을 수행할 지 여부 및 인스트럭션이 정상인지 여부를 판단할 수 있다.

리비전 컨트롤러가 인스트럭션에 대해 리딩 동작을 수행하지 않는 것으로 판단하거나, 인스트럭션이 비정상인 것으로 판단한 경우, 구동 컨트롤러는 인스트럭션을 로딩하지 않을 수 있다. 예시적으로, 구동 컨트롤러는 제2 시점(t1) 이후 인스트럭션을 로딩하지 않을 수 있다.

제3 시점(t2)에서, 커맨드(CMD)는 구동 컨트롤러로 전달될 수 있다. 구동 컨트롤러는 커맨드(CMD)에 기초하여 디스플레이 패널이 이미지 데이터를 표시하도록 제어할 수 있다.

구동 컨트롤러는 제1 비휘발성 메모리에 저장된 세팅 데이터를 로딩할 수 있다. 예를 들어, 제4 시점(t3)에서, 구동 컨트롤러는 제1 비휘발성 메모리로부터 세팅 데이터를 로딩할 수 있다.

도 11은 본 개시의 예시적 실시예에 따른 인스트럭션이 로딩되는 것을 설명하기 위한 도면이다. 도 11을 참조하면, 도 11은 도 9와 비교 시, 인스트럭션이 기초 데이터보다 먼저 로딩되는 경우를 나타낸다. 상술한 내용 중 중복되는 내용은 생략한다.

도 11을 참조하면, 전원 신호(OS)가 수신되면, 리비전 컨트롤러의 동작이 수행될 수 있다. 리비전 컨트롤러는 전원 신호(OS)에 기초하여 인스트럭션에 대해 리딩 동작을 수행할 지 여부 및 인스트럭션이 정상인지 여부를 판단할 수 있다. 리비전 컨트롤러는 전원 신호(OS)의 로직 레벨이 변하는 것에 기초하여 인스트럭션을 리딩할지 여부를 판단할 수 있다. 예시적으로, 리비전 컨트롤러는 제2 시점(t1)에서, 리딩 동작을 수행할 지 여부 및 인스트럭션이 정상인지 여부를 판단할 수 있다.

리비전 컨트롤러가 인스트럭션에 대해 리딩 동작을 수행하는 것으로 판단하고, 인스트럭션이 정상인 것으로 판단한 경우, 구동 컨트롤러는 인스트럭션을 로딩할 수 있다. 예시적으로, 구동 컨트롤러는 제2 시점(t1) 이후, 인스트럭션을 로딩할 수 있다.

디스플레이 구동회로로 전원이 인가되면, 구동 컨트롤러는 제2 비휘발성 메모리에 저장된 기초데이터를 로딩할 수 있다. 일 실시예에서, 구동 컨트롤러는 전원 신호(OS)의 로직 레벨이 변하는 것에 기초하여 기초 데이터를 로딩할 수 있다. 예를 들어, 제3 시점(t2)에서, 구동 컨트롤러는 제2 비휘발성 메모리로부터 기초 데이터를 리딩할 수 있다.

도 12는 본 개시의 예시적 실시예에 따른 제1 비휘발성 메모리에 부팅 커맨드가 저장된 경우를 설명하기 위한 타이밍도이다. 도 12를 참조하면, 도 12는 도 9와 비교 시, 제1 비휘발성 메모리에 부팅 커맨드가 저장된 경우를 나타낸다. 상술한 내용 중 중복되는 내용은 생략한다.

도 12를 참조하면, 구동 컨트롤러는 제1 비휘발성 메모리에 저장된 인스트럭션을 로딩할 수 있다. 구동 컨트롤러는 제1 비휘발성 메모리에 저장된 인스트럭션을 리딩하거나 리비전 컨트롤러로부터 인스트럭션을 전달받아 인스트럭션을 로딩할 수 있다.

제1 비휘발성 메모리에는 부팅 커맨드가 저장될 수 있다. 부팅 커맨드는 인스트럭션으로 저장될 수 있다. 부팅 커맨드는 디스플레이 구동 회로가 부팅되도록 요청하는 커맨드를 의미할 수 있다. 디스플레이 구동 회로로 전원이 인가되면, 구동 컨트롤러는 제1 비휘발성 메모리에 저장된 인스트럭션을 로딩할 수 있다. 로딩한 인스트럭션은 부팅 커맨드를 포함할 수 있다. 구동 컨트롤러가 부팅 커맨드를 로딩함으로써, 디스플레이 패널은 표시를 시작할 수 있다. 구동 컨트롤러는 부팅 커맨드를 포함하는 인스트럭션에 기초하여 디스플레이 패널이 이미지 데이터를 표시하도록 제어할 수 있다.

부팅 커맨드에 기초하여 전압 신호(VS)의 로직 레벨이 변할 수 있다. 전압 신호(VS)의 로직 레벨이 변하면 디스플레이 패널이 표시 동작을 시작할 수 있다. 전압 신호(VS)가 로직 로우 레벨에서 로직 하이 레벨로 변하면 디스플레이 패널은 이미지를 표시할 수 있다. 예시적으로, 제4 시점(t3)에서 전압 신호(VS)는 로직 로우 레벨에서 로직 하이 레벨로 변할 수 있다.

제1 비휘발성 메모리에 인스트럭션으로 부팅 커맨드가 저장됨에 따라 호스트로부터 커맨드를 수신하지 않아도 디스플레이 구동 회로는 부팅 동작을 수행할 수 있다. 이에 따라, 디스플레이 구동 회로가 부팅 동작을 수행하는데 소요되는 시간이 감소할 수 있고, 호스트와 디스플레이 구동 회로 간 커맨드를 전달하기 위한 인터페이스 파워가 감소될 수 있다.

이상에서와 같이 도면과 명세서에서 예시적인 실시 예들이 개시되었다. 본 명세서에서 특정한 용어를 사용하여 실시 예들을 설명되었으나, 이는 단지 본 개시의 기술적 사상을 설명하기 위한 목적에서 사용된 것이지 의미 한정이나 특허청구범위에 기재된 본 개시의 범위를 제한하기 위하여 사용된 것은 아니다. 그러므로 본 기술분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시 예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 개시의 진정한 기술적 보호범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다.

Claims

디스플레이 구동 회로에 있어서,
상기 디스플레이 구동 회로가 구동하는 장치들을 제어하는 데이터를 변경하기 위한 인스트럭션(instruction)이 저장된 비휘발성 메모리를 제어하는 리비전 컨트롤러; 및
상기 인스트럭션에 기초하여 상기 장치들을 제어하는 구동 컨트롤러;를 포함하고,
상기 리비전 컨트롤러는,
외부로부터 상기 디스플레이 구동 회로로 전원이 인가되면, 상기 비휘발성 메모리로부터 상기 인스트럭션을 리딩(reading)하는 리딩 동작을 수행할 지 여부를 판단하고, 상기 판단에 기초하여 생성된 지시 신호를 상기 구동 컨트롤러로 전달하는 것을 특징으로 하는, 디스플레이 구동 회로.
제1 항에 있어서,
상기 리비전 컨트롤러는,
상기 인스트럭션이 상기 비휘발성 메모리에 저장되었는지 여부를 판단하고,
상기 인스트럭션이 상기 비휘발성 메모리에 저장된 것으로 판단되는 경우, 상기 리딩 동작을 수행하는 것을 특징으로 하는, 디스플레이 구동 회로.
제1 항에 있어서,
상기 리비전 컨트롤러는,
상기 인스트럭션이 상기 비휘발성 메모리에 저장되었는지 여부를 판단하고,
상기 인스트럭션이 상기 비휘발성 메모리에 저장되지 않은 것으로 판단되는 경우, 상기 리딩 동작을 중단하는 것을 특징으로 하는, 디스플레이 구동 회로.
제2 항에 있어서,
상기 리비전 컨트롤러는,
상기 리딩 동작을 수행할 지 여부를 판단하기 위해 상기 비휘발성 메모리에 저장된 제1 키데이터와 기 설정된 제2 키데이터를 비교하고, 상기 제1 키데이터와 상기 제2 키데이터가 매칭되는 경우, 상기 인스트럭션이 상기 비휘발성 메모리에 저장된 것으로 판단하는 것을 특징으로 하는, 디스플레이 구동 회로.
제3 항에 있어서,
상기 리비전 컨트롤러는,
상기 리딩 동작을 수행할 지 여부를 판단하기 위해 상기 비휘발성 메모리에 저장된 제1 키데이터와 기 설정된 제2 키데이터를 비교하고, 상기 제1 키데이터와 상기 제2 키데이터가 매칭되지 않는 경우, 상기 인스트럭션이 상기 비휘발성 메모리에 저장되지 않은 것으로 판단하는 것을 특징으로 하는, 디스플레이 구동 회로.
제2 항에 있어서,
상기 리비전 컨트롤러는,
상기 인스트럭션 및 상기 비휘발성 메모리에 저장된 상기 인스트럭션의 체크섬(checksum) 값인 기준 체크섬에 기초하여 상기 인스트럭션이 정상인지 또는 비정상인지 여부를 판단하는 것을 특징으로 하는, 디스플레이 구동 회로.
제6 항에 있어서,
상기 리비전 컨트롤러는,
상기 리딩 동작을 수행하여 상기 인스트럭션을 리딩하고,
상기 리딩한 인스트럭션의 체크섬을 계산하여 리딩 체크섬을 생성하는 것을 특징으로 하는, 디스플레이 구동 회로.
제7 항에 있어서,
상기 리비전 컨트롤러는,
상기 계산한 리딩 체크섬과 상기 기준 체크섬을 비교하고, 상기 리딩 체크섬과 상기 기준 체크섬이 매칭되는 경우, 상기 리딩한 인스트럭션이 정상인 것으로 판단하고, 상기 지시 신호를 생성하는 것을 특징으로 하는, 디스플레이 구동 회로.
제7 항에 있어서,
상기 리비전 컨트롤러는,
상기 계산한 리딩 체크섬과 상기 기준 체크섬을 비교하고, 상기 리딩 체크섬과 상기 기준 체크섬이 매칭되지 않는 경우, 상기 리딩한 인스트럭션이 비정상인 것으로 판단하는 것을 특징으로 하는, 디스플레이 구동 회로.
제1 항에 있어서,
상기 리비전 컨트롤러는,
상기 리딩 동작을 수행하는 경우,
상기 장치들을 부팅시키기 위해 상기 비휘발성 메모리에 저장된 부팅 커맨드를 리딩하는 것을 특징으로 하는, 디스플레이 구동 회로.
제1 항에 있어서,
상기 리비전 컨트롤러는,
상기 인스트럭션을 리딩한 후, 상기 디스플레이 구동 회로 및 상기 장치들을 세팅하기 위해 상기 비휘발성 메모리에 저장된 세팅 데이터를 리딩하는 것을 특징으로 하는, 디스플레이 구동 회로.
디스플레이 구동 회로에 있어서,
상기 디스플레이 구동 회로가 구동하는 장치들을 제어하는 데이터를 변경하기 위한 인스트럭션(instruction)이 저장된 제1 비휘발성 메모리로부터 상기 인스트럭션을 리딩(reading)하는 리비전 컨트롤러;
상기 디스플레이 구동 회로를 구동하기 위한 기초 데이터가 저장된 제2 비휘발성 메모리; 및
상기 기초 데이터 및 상기 인스트럭션 중 적어도 하나에 기초하여 상기 장치들을 제어하는 구동 컨트롤러;를 포함하는, 디스플레이 구동 회로.
제12 항에 있어서,
외부로부터 상기 디스플레이 구동 회로로 전원이 인가되면,
상기 구동 컨트롤러는,
상기 제2 비휘발성 메모리로부터 상기 기초 데이터를 리딩하고,
상기 리비전 컨트롤러는,
상기 제1 비휘발성 메모리로부터 상기 인스트럭션을 리딩하는 것을 특징으로 하는, 디스플레이 구동 회로.
제12 항에 있어서,
상기 리비전 컨트롤러는
상기 제1 비휘발성 메모리로부터 상기 인스트럭션을 리딩하는 리딩 동작을 수행할 지 여부를 판단하는 제1 리비전 컨트롤러; 및
상기 인스트럭션이 정상인지 또는 비정상인지 여부를 판단하는 제2 리비전 컨트롤러를 포함하고,
상기 제1 리비전 컨트롤러가 상기 리딩 동작을 수행하는 경우, 상기 제2 리비전 컨트롤러는 상기 리딩한 인스트럭션이 정상인지 또는 비정상인지 여부를 판단하는 것을 특징으로 하는, 디스플레이 구동 회로.
제14 항에 있어서,
상기 제1 리비전 컨트롤러는,
상기 리딩 동작을 수행할 지 여부를 판단하기 위해 상기 제1 비휘발성 메모리에 저장된 제1 키데이터와 기 설정된 제2 키데이터를 비교하고, 상기 제1 키데이터와 상기 제2 키데이터가 매칭되는 경우, 상기 리딩 동작을 수행하고 판별 신호를 생성하는, 디스플레이 구동 회로.
제15 항에 있어서,
상기 제2 리비전 컨트롤러는,
상기 제1 리비전 컨트롤러로부터 상기 판별 신호를 수신한 경우,
상기 제1 리비전 컨트롤러가 리딩한 인스트럭션의 체크섬(checksum)을 계산하여 리딩 체크섬을 생성하는 것을 특징으로 하는, 디스플레이 구동 회로.
제16 항에 있어서,
상기 제2 리비전 컨트롤러는,
상기 계산한 리딩 체크섬과 상기 제1 비휘발성 메모리에 저장된 상기 인스트럭션의 체크섬(checksum) 값인 기준 체크섬을 비교하고,
상기 리딩 체크섬과 상기 기준 체크섬이 매칭되는 경우, 상기 리딩한 인스트럭션이 정상인 것으로 판단하고, 지시 신호를 생성하는 것을 특징으로 하는, 디스플레이 구동 회로.
제17 항에 있어서,
상기 구동 컨트롤러는,
상기 제2 리비전 컨트롤러로부터 상기 지시 신호를 수신하는 경우,
상기 기초 데이터 및 상기 인스트럭션에 기초하여 상기 장치들을 제어하는 것을 특징으로 하는, 디스플레이 구동 회로.
제12 항에 있어서,
상기 리비전 컨트롤러는,
상기 인스트럭션을 리딩하는 경우, 상기 장치들을 부팅시키기 위해 상기 제1 비휘발성 메모리에 저장된 부팅 커맨드를 리딩하는 것을 특징으로 하는, 디스플레이 구동 회로.
디스플레이 구동 회로의 동작 방법에 있어서,
외부로부터 디스플레이 구동 회로로 전원이 인가되면, 비휘발성 메모리로부터 인스트럭션을 리딩하는 리딩 동작을 수행할지 여부를 판단하는 단계;
상기 인스트럭션이 정상인지 또는 비정상인지 여부를 판단하는 단계; 및
상기 인스트럭션이 정상인지 또는 비정상인지 여부에 기초하여 장치들을 제어하는 단계; 를 포함하는, 디스플레이 구동 회로의 동작 방법.