KR20230046483A - 디스플레이 장치 및 디스플레이 장치의 보상 데이터 처리 방법 - Google Patents

디스플레이 장치 및 디스플레이 장치의 보상 데이터 처리 방법 Download PDF

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Abstract

본 개시의 실시예들은, 디스플레이 장치 및 디스플레이 장치의 보상 데이터 처리 방법에 관한 것으로서, 인접 영역의 보상 데이터에 대한 압축 손실 수준의 차이가 기 설정된 허용 손실 편차 이내가 되도록 압축 손실 수준을 조절하고 보상 데이터를 압축하므로, 이후 보상 데이터의 적용에 따른 영역별 보상 수준의 차이로 인해 인접 영역의 휘도 편차가 증가하는 것을 방지하고 서브픽셀의 열화에 대한 보상의 효과를 높여줄 수 있다.

Description

디스플레이 장치 및 디스플레이 장치의 보상 데이터 처리 방법{DISPLAY DEVICE AND METHOD FOR PROCESSING COMPENSATION DATA THEREOF}
본 개시의 실시예들은, 디스플레이 장치 및 디스플레이 장치의 보상 데이터 처리 방법에 관한 것이다.
정보화 사회가 발전함에 따라, 화상을 표시하는 디스플레이 장치에 대한 요구가 증가하고 있으며, 액정 디스플레이 장치, 유기발광 디스플레이 장치와 같은 다양한 유형의 디스플레이 장치가 활용된다.
디스플레이 장치는, 다수의 서브픽셀이 배치된 디스플레이 패널과, 다수의 서브픽셀을 구동하기 위한 각종 구동 회로를 포함할 수 있다. 그리고, 다수의 서브픽셀 각각에 적어도 하나 이상의 회로 소자가 배치될 수 있다.
디스플레이 장치의 구동 시간이 길어질수록 서브픽셀에 배치된 회로 소자의 열화가 발생할 수 있다. 그리고, 서로 다른 서브픽셀에 배치된 회로 소자의 열화 정도는 서로 다를 수 있다.
서로 다른 서브픽셀에 배치된 회로 소자의 열화 정도가 다를 경우, 서브픽셀 간의 구동 편차가 발생할 수 있으며, 서브픽셀 간의 구동 편차로 인해 디스플레이 품질이 저하될 수 있다.
따라서, 서브픽셀에 배치된 회로 소자의 열화와 서로 다른 서브픽셀에 배치된 회로 소자 간의 열화 편차로 인한 디스플레이 품질의 저하를 방지할 수 있는 방안이 요구된다.
본 개시의 실시예들은, 디스플레이 패널의 구동에 따른 서브픽셀의 열화를 보상하고, 보상에 따라 디스플레이 패널이 표시하는 이미지의 품질을 개선할 수 있는 방안을 제공할 수 있다.
본 개시의 실시예들은, 다수의 서브픽셀들이 배치된 디스플레이 패널, 다수의 서브픽셀들로 데이터 전압을 공급하는 데이터 구동 회로, 및 데이터 구동 회로를 제어하고 다수의 서브픽셀들에 대한 보상 데이터를 처리하는 컨트롤러를 포함하는 디스플레이 장치를 제공할 수 있다.
다수의 서브픽셀들 중 제1 영역에 배치된 제1 서브픽셀에 대한 제1 보상 데이터의 최종 압축 손실 수준과 제1 영역과 인접한 제2 영역에 배치된 제2 서브픽셀에 대한 제2 보상 데이터의 최종 압축 손실 수준의 차이는 기 설정된 허용 손실 편차 이하일 수 있다.
또는, 다수의 서브픽셀들 중 제1 영역에 배치된 제1 서브픽셀에 대한 제1 보상 데이터의 압축 손실 수준과 제1 영역과 인접한 제2 영역에 배치된 제2 서브픽셀에 대한 제2 보상 데이터의 압축 손실 수준의 차이는 기 설정된 허용 손실 편차보다 크고, 제1 보상 데이터 및 제2 보상 데이터 중 적어도 하나의 일부는 복원 시 손실되는 수준이 증가될 수 있다.
본 개시의 실시예들은, 다수의 서브픽셀들에 대한 보상 데이터를 생성하는 단계, 보상 데이터의 초기 압축 손실 수준을 설정하는 단계, 다수의 서브픽셀들 중 제1 서브픽셀에 대한 제1 보상 데이터의 초기 압축 손실 수준과 제1 서브픽셀과 인접한 제2 서브픽셀에 대한 제2 보상 데이터의 초기 압축 손실 수준을 비교하는 단계, 및 비교 결과에 따라 제1 보상 데이터의 최종 압축 손실 수준과 제2 보상 데이터의 최종 압축 손실 수준을 설정하는 단계를 포함하는 디스플레이 장치의 보상 데이터 처리 방법을 제공할 수 있다.
제1 보상 데이터의 최종 압축 손실 수준과 제2 보상 데이터의 최종 압축 손실 수준의 차이는 제1 보상 데이터의 초기 압축 손실 수준과 제2 보상 데이터의 초기 압축 손실 수준의 차이 이하일 수 있다.
본 개시의 실시예들에 의하면, 서브픽셀의 열화에 대한 보상 데이터 압축 시 인접 영역 간 압축 손실 수준의 차이를 허용 손실 편차 이내로 제어하므로, 보상 데이터가 적용된 이미지에서 인접 영역 간 보상 수준의 차이로 인한 화질 저하를 감소 또는 방지할 수 있다.
도 1은 본 개시의 실시예들에 따른 디스플레이 장치의 개략적인 구성을 나타낸 도면이다.
도 2a와 도 2b는 본 개시의 실시예들에 따른 디스플레이 장치에 포함된 서브픽셀의 회로 구조의 예시를 나타낸 도면이다.
도 3은 본 개시의 실시예들에 따른 센싱리스 보상 시스템의 개략적인 구성을 나타낸 도면이다.
도 4는 본 개시의 실시예들에 따른 센싱리스 보상 시스템에 의한 실시간 보상의 예시를 나타낸 도면이다.
도 5는 본 개시의 실시예들에 따른 센싱리스 보상 시스템의 열화 관리부의 개략적인 구성을 나타낸 도면이다.
도 6은 본 개시의 실시예들에 따른 디스플레이 장치의 보상 데이터 처리 방법의 예시를 나타낸 흐름도이다.
도 7은 도 6에 도시된 디스플레이 장치의 보상 데이터 처리 방법의 구체적인 예시를 나타낸 도면이다.
도 8은 본 개시의 실시예들에 따른 디스플레이 장치의 보상 데이터 처리 방법의 다른 예시를 나타낸 흐름도이다.
도 9는 도 8에 도시된 디스플레이 장치의 보상 데이터 처리 방법의 구체적인 예시를 나타낸 도면이다.
도 10은 본 개시의 실시예들에 따른 디스플레이 장치의 보상 데이터 처리 방법의 또 다른 예시를 나타낸 흐름도이다.
도 11은 도 10에 도시된 디스플레이 장치의 보상 데이터 처리 방법의 구체적인 예시를 나타낸 도면이다.
이하, 본 개시의 일부 실시예들을 예시적인 도면을 참조하여 상세하게 설명한다. 각 도면의 구성 요소들에 참조부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성 요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가질 수 있다. 또한, 본 개시를 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 개시의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략할 수 있다. 본 명세서 상에서 언급된 "포함한다", "갖는다", "이루어진다" 등이 사용되는 경우 "~만"이 사용되지 않는 이상 다른 부분이 추가될 수 있다. 구성 요소를 단수로 표현한 경우에 특별한 명시적인 기재 사항이 없는 한 복수를 포함하는 경우를 포함할 수 있다.
또한, 본 개시의 구성 요소를 설명하는 데 있어서, 제1, 제2, A, B, (a), (b) 등의 용어를 사용할 수 있다. 이러한 용어는 그 구성 요소를 다른 구성 요소와 구별하기 위한 것일 뿐, 그 용어에 의해 해당 구성 요소의 본질, 차례, 순서 또는 개수 등이 한정되지 않는다.
구성 요소들의 위치 관계에 대한 설명에 있어서, 둘 이상의 구성 요소가 "연결", "결합" 또는 "접속" 등이 된다고 기재된 경우, 둘 이상의 구성 요소가 직접적으로 "연결", "결합" 또는 "접속" 될 수 있지만, 둘 이상의 구성 요소와 다른 구성 요소가 더 "개재"되어 "연결", "결합" 또는 "접속"될 수도 있다고 이해되어야 할 것이다. 여기서, 다른 구성 요소는 서로 "연결", "결합" 또는 "접속" 되는 둘 이상의 구성 요소 중 하나 이상에 포함될 수도 있다.
구성 요소들이나, 동작 방법이나 제작 방법 등과 관련한 시간적 흐름 관계에 대한 설명에 있어서, 예를 들어, "~후에", "~에 이어서", "~다음에", "~전에" 등으로 시간적 선후 관계 또는 흐름적 선후 관계가 설명되는 경우, "바로" 또는 "직접"이 사용되지 않는 이상 연속적이지 않은 경우도 포함할 수 있다.
한편, 구성 요소에 대한 수치 또는 그 대응 정보(예: 레벨 등)가 언급된 경우, 별도의 명시적 기재가 없더라도, 수치 또는 그 대응 정보는 각종 요인(예: 공정상의 요인, 내부 또는 외부 충격, 노이즈 등)에 의해 발생할 수 있는 오차 범위를 포함하는 것으로 해석될 수 있다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 개시의 다양한 실시예들을 상세히 설명한다.
도 1은 본 개시의 실시예들에 따른 디스플레이 장치(100)의 개략적인 구성을 나타낸 도면이다.
도 1을 참조하면, 디스플레이 장치(100)는, 디스플레이 패널(110)과, 디스플레이 패널(110)을 구동하기 위한 게이트 구동 회로(120), 데이터 구동 회로(130) 및 컨트롤러(140) 등을 포함할 수 있다.
디스플레이 패널(110)은, 다수의 서브픽셀(SP)이 배치되는 액티브 영역(AA)과, 액티브 영역(AA)의 외측에 위치하는 논-액티브 영역(NA)을 포함할 수 있다.
디스플레이 패널(110)에는, 다수의 게이트 라인(GL)과 다수의 데이터 라인(DL)이 배치되고, 게이트 라인(GL)과 데이터 라인(DL)이 교차하는 영역에 서브픽셀(SP)이 위치할 수 있다.
게이트 구동 회로(120)는, 컨트롤러(140)에 의해 제어되며, 디스플레이 패널(110)에 배치된 다수의 게이트 라인(GL)으로 스캔 신호를 순차적으로 출력하여 다수의 서브픽셀(SP)의 구동 타이밍을 제어한다.
게이트 구동 회로(120)는, 하나 이상의 게이트 드라이버 집적 회로(GDIC: Gate Driver Integrated Circuit)를 포함할 수 있으며, 구동 방식에 따라 디스플레이 패널(110)의 일 측에만 위치할 수도 있고 양 측에 위치할 수도 있다.
각 게이트 드라이버 집적 회로(GDIC)는, 테이프 오토메티드 본딩(TAB: Tape Automated Bonding) 방식 또는 칩 온 글래스(COG: Chip On Glass) 방식으로 디스플레이 패널(110)의 본딩 패드에 연결될 수 있다. 또는, 각 게이트 드라이버 집적 회로(GDIC)는, GIP(Gate In Panel) 타입으로 구현되어 디스플레이 패널(110)에 직접 배치될 수도 있다. 또는, 각 게이트 드라이버 집적 회로(GDIC)는, 디스플레이 패널(110)에 집적화되어 배치될 수도 있다. 또는, 각 게이트 드라이버 집적 회로(GDIC)는, 디스플레이 패널(110)과 연결된 필름 상에 실장되는 칩 온 필름(COF: Chip On Film) 방식으로 구현될 수도 있다.
데이터 구동 회로(130)는, 컨트롤러(140)로부터 영상 데이터를 수신하고, 영상 데이터를 아날로그 형태의 데이터 전압(Vdata)으로 변환한다. 그리고, 게이트 라인(GL)을 통해 스캔 신호가 인가되는 타이밍에 맞춰 데이터 전압(Vdata)을 각각의 데이터 라인(DL)으로 출력하여 각각의 서브픽셀(SP)이 영상 데이터에 따른 밝기를 표현하도록 한다.
데이터 구동 회로(130)는, 하나 이상의 소스 드라이버 집적 회로(SDIC: Source Driver Integrated Circuit)를 포함할 수 있다.
각 소스 드라이버 집적 회로(SDIC)는, 시프트 레지스터, 래치 회로, 디지털 아날로그 컨버터, 출력 버퍼 등을 포함할 수 있다.
각 소스 드라이버 집적 회로(SDIC)는, 테이프 오토메티드 본딩(TAB) 방식 또는 칩 온 글래스(COG) 방식으로 디스플레이 패널(110)의 본딩 패드에 연결될 수 있다. 또는, 각 소스 드라이버 집적 회로(SDIC)는, 디스플레이 패널(110)에 직접 배치될 수 있다. 또는, 각 소스 드라이버 집적 회로(SDIC)는, 디스플레이 패널(110)에 집적화되어 배치될 수도 있다. 또는, 각 소스 드라이버 집적 회로(SDIC)는, 칩 온 필름(COF) 방식으로 구현될 수 있다. 이 경우, 각 소스 드라이버 집적 회로(SDIC)는, 디스플레이 패널(110)에 연결된 필름 상에 실장되고, 필름 상의 배선들을 통해 디스플레이 패널(110)과 전기적으로 연결될 수 있다.
컨트롤러(140)는, 게이트 구동 회로(120)와 데이터 구동 회로(130)로 각종 제어 신호를 공급하며, 게이트 구동 회로(120)와 데이터 구동 회로(130)의 동작을 제어할 수 있다.
컨트롤러(140)는, 인쇄 회로 기판, 또는 가요성 인쇄 회로 등 상에 실장되고, 인쇄 회로 기판, 또는 가요성 인쇄 회로 등을 통해 게이트 구동 회로(120) 및 데이터 구동 회로(130)와 전기적으로 연결될 수 있다.
컨트롤러(140)는, 각 프레임에서 설정된 타이밍에 따라 게이트 구동 회로(120)가 스캔 신호를 출력하도록 하며, 외부에서 수신한 영상 데이터를 데이터 구동 회로(130)에서 사용하는 데이터 신호 형식에 맞게 변환하여 변환된 영상 데이터를 데이터 구동 회로(130)로 출력한다.
컨트롤러(140)는, 영상 데이터와 함께 수직 동기 신호(VSYNC), 수평 동기 신호(HSYNC), 입력 데이터 인에이블 신호(DE: Data Enable), 클럭 신호(CLK) 등을 포함하는 각종 타이밍 신호를 외부(예: 호스트 시스템)로부터 수신한다.
컨트롤러(140)는, 외부로부터 수신한 각종 타이밍 신호를 이용하여 각종 제어 신호를 생성하고 게이트 구동 회로(120) 및 데이터 구동 회로(130)로 출력할 수 있다.
일 예로, 컨트롤러(140)는, 게이트 구동 회로(120)를 제어하기 위하여, 게이트 스타트 펄스(GSP: Gate Start Pulse), 게이트 시프트 클럭(GSC: Gate Shift Clock), 게이트 출력 인에이블 신호(GOE: Gate Output Enable) 등을 포함하는 각종 게이트 제어 신호(GCS)를 출력한다.
게이트 스타트 펄스(GSP)는, 게이트 구동 회로(120)를 구성하는 하나 이상의 게이트 드라이버 집적 회로(GDIC)의 동작 스타트 타이밍을 제어한다. 게이트 시프트 클럭(GSC)은, 하나 이상의 게이트 드라이버 집적 회로(GDIC)에 공통으로 입력되는 클럭 신호로서, 스캔 신호의 시프트 타이밍을 제어한다. 게이트 출력 인에이블 신호(GOE)는, 하나 이상의 게이트 드라이버 집적 회로(GDIC)의 타이밍 정보를 지정하고 있다.
또한, 컨트롤러(140)는, 데이터 구동 회로(130)를 제어하기 위하여, 소스 스타트 펄스(SSP: Source Start Pulse), 소스 샘플링 클럭(SSC: Source Sampling Clock), 소스 출력 인에이블 신호(SOE: Source Output Enable) 등을 포함하는 각종 데이터 제어 신호(DCS)를 출력한다.
소스 스타트 펄스(SSP)는, 데이터 구동 회로(130)를 구성하는 하나 이상의 소스 드라이버 집적 회로(SDIC)의 데이터 샘플링 스타트 타이밍을 제어한다. 소스 샘플링 클럭(SSC)은, 소스 드라이버 집적 회로(SDIC) 각각에서 데이터의 샘플링 타이밍을 제어하는 클럭 신호이다. 소스 출력 인에이블 신호(SOE)는, 데이터 구동 회로(130)의 출력 타이밍을 제어한다.
디스플레이 장치(100)는, 디스플레이 패널(110), 게이트 구동 회로(120), 데이터 구동 회로(130) 등으로 각종 전압 또는 전류를 공급해주거나, 공급할 각종 전압 또는 전류를 제어하는 전원 관리 집적 회로를 더 포함할 수 있다.
각각의 서브픽셀(SP)은, 게이트 라인(GL)과 데이터 라인(DL)의 교차에 의해 정의되는 영역일 수 있으며, 광을 발산하는 소자를 포함하여 적어도 하나 이상의 회로 소자가 배치될 수 있다.
일 예로, 디스플레이 장치(100)가 유기발광 디스플레이 장치인 경우, 다수의 서브픽셀(SP)에 유기 발광 다이오드(OLED)와 여러 회로 소자가 배치될 수 있다. 여러 회로 소자에 의해 유기 발광 다이오드(OLED)로 공급되는 전류를 제어함으로써, 영상 데이터에 대응하는 밝기를 각각의 서브픽셀(SP)이 나타낼 수 있다.
또는, 경우에 따라, 서브픽셀(SP)에 발광 다이오드(LED)나, 마이크로 발광 다이오드(μLED)가 배치될 수도 있다.
도 2a와 도 2b는 본 개시의 실시예들에 따른 디스플레이 장치(100)에 포함된 서브픽셀(SP)의 회로 구조의 예시를 나타낸 도면이다.
도 2a와 도 2b를 참조하면, 서브픽셀(SP)에 발광 소자(ED)와 발광 소자(ED)를 구동하기 위한 구동 트랜지스터(DRT)가 배치될 수 있다. 또한, 서브픽셀(SP)에 발광 소자(ED)와 구동 트랜지스터(DRT) 이외에 적어도 하나 이상의 회로 소자가 더 배치될 수 있다.
일 예로, 도 2a에 도시된 예시와 같이, 서브픽셀(SP)에 스위칭 트랜지스터(SWT)와 스토리지 커패시터(Cstg)가 더 배치될 수 있다.
다른 예로, 도 2b에 도시된 예시와 같이, 서브픽셀(SP)에 스위칭 트랜지스터(SWT), 센싱 트랜지스터(SENT) 및 스토리지 커패시터(Cstg)가 더 배치될 수 있다.
따라서, 도 2a는 서브픽셀(SP)에 발광 소자(ED) 이외에 2개의 박막 트랜지스터와 1개의 커패시터가 배치된 2T1C 구조를 예시로 나타내고, 도 2b는 서브픽셀(SP)에 발광 소자(ED) 이외에 3개의 박막 트랜지스터와 1개의 커패시터가 배치된 3T1C 구조를 예시로 나타낸다. 그러나, 본 개시의 실시예들은, 이에 한정되지는 아니한다.
또한, 도 2a와 도 2b에 도시된 예시는, 박막 트랜지스터가 모두 N 타입인 경우를 나타내나, 경우에 따라, 서브픽셀(SP)에 배치된 박막 트랜지스터는 P 타입일 수도 있다.
도 2a를 참조하면, 스위칭 트랜지스터(SWT)는, 데이터 라인(DL)과 제1 노드(N1) 사이에 전기적으로 연결될 수 있다. 데이터 라인(DL)을 통해 데이터 전압(Vdata)이 서브픽셀(SP)로 공급될 수 있다. 제1 노드(N1)는, 구동 트랜지스터(DRT)의 게이트 노드일 수 있다.
스위칭 트랜지스터(SWT)는, 게이트 라인(GL)으로 공급되는 스캔 신호에 의해 제어될 수 있다. 스위칭 트랜지스터(SWT)는, 데이터 라인(DL)을 통해 공급되는 데이터 전압(Vdata)이 구동 트랜지스터(DRT)의 게이트 노드에 인가되는 것을 제어할 수 있다.
구동 트랜지스터(DRT)는, 구동 전압 라인(DVL)과 발광 소자(ED) 사이에 전기적으로 연결될 수 있다.
구동 트랜지스터(DRT)의 제2 노드(N2)는 발광 소자(ED)와 전기적으로 연결될 수 있다. 제2 노드(N2)는, 구동 트랜지스터(DRT)의 소스 노드 또는 드레인 노드일 수 있다.
구동 트랜지스터(DRT)의 제3 노드(N3)는 구동 전압 라인(DVL)과 전기적으로 연결될 수 있다. 제3 노드(N3)는, 구동 트랜지스터(DRT)의 드레인 노드 또는 소스 노드일 수 있다. 구동 전압 라인(DVL)을 통해 제1 구동 전압(EVDD)이 구동 트랜지스터(DRT)의 제3 노드(N3)로 공급될 수 있다. 제1 구동 전압(EVDD)은, 고전위 구동 전압일 수 있다.
구동 트랜지스터(DRT)는, 제1 노드(N1)에 인가되는 전압에 의해 제어될 수 있다. 구동 트랜지스터(DRT)는, 발광 소자(ED)로 공급되는 구동 전류를 제어할 수 있다.
스토리지 커패시터(Cstg)는, 제1 노드(N1)와 제2 노드(N2) 사이에 전기적으로 연결될 수 있다. 스토리지 커패시터(Cstg)는, 제1 노드(N1)에 인가된 데이터 전압(Vdata)을 한 프레임 동안 유지시켜줄 수 있다.
발광 소자(ED)는, 제2 노드(N2)와 제2 구동 전압(EVSS)이 공급되는 라인 사이에 전기적으로 연결될 수 있다. 제2 구동 전압(EVSS)은, 저전위 구동 전압일 수 있다.
발광 소자(ED)는, 구동 트랜지스터(DRT)를 통해 공급되는 구동 전류에 따른 밝기를 나타낼 수 있다.
이와 같이, 서브픽셀(SP)은, 구동 트랜지스터(DRT) 이외에 스위칭 트랜지스터(SWT)를 더 포함하며, 발광 소자(ED)를 구동하여 영상 데이터에 따른 밝기를 나타낼 수 있다.
또는, 서브픽셀(SP)은, 도 2b에 도시된 예시와 같이, 센싱 트랜지스터(SENT)를 더 포함할 수도 있다.
센싱 트랜지스터(SENT)는, 기준 전압 라인(RVL)과 제2 노드(N2) 사이에 전기적으로 연결될 수 있다. 기준 전압 라인(RVL)을 통해 기준 전압(Vref)이 제2 노드(N2)로 공급될 수 있다.
센싱 트랜지스터(SENT)는, 게이트 라인(GL)으로 공급되는 스캔 신호에 의해 제어될 수 있다. 센싱 트랜지스터(SENT)를 제어하는 게이트 라인(GL)은 스위칭 트랜지스터(SWT)를 제어하는 게이트 라인(GL)과 동일할 수도 있고, 다를 수도 있다.
센싱 트랜지스터(SENT)는, 제2 노드(N2)에 기준 전압(Vref)이 인가되는 것을 제어할 수 있다. 또한, 센싱 트랜지스터(SENT)는, 경우에 따라, 기준 전압 라인(RVL)을 통해 제2 노드(N2)의 전압을 센싱하는 것을 제어할 수 있다.
이와 같이, 서브픽셀(SP)에 센싱 트랜지스터(SENT)가 더 배치된 구조에서, 발광 소자(ED)의 구동을 제어하여 영상 데이터에 따른 밝기를 나타낼 수 있다. 또한, 센싱 트랜지스터(SENT)와 기준 전압 라인(RVL)에 의해 서브픽셀(SP)에 배치된 회로 소자의 특성 값의 변화를 검출할 수도 있다.
서브픽셀(SP)이 영상 데이터에 따른 밝기를 나타내기 위하여, 구동 트랜지스터(DRT)와 발광 소자(ED)의 정확한 제어가 요구된다. 그러나, 구동 시간이 증가할수록 열화로 인해 구동 트랜지스터(DRT)나 발광 소자(ED)의 특성 값이 변경될 수 있다.
일 예로, 구동 트랜지스터(DRT)의 문턱 전압이나 이동도가 변동될 수 있다. 또한, 발광 소자(ED)의 문턱 전압이 변동될 수 있다.
이러한 구동 트랜지스터(DRT)나 발광 소자(ED)의 특성 값의 변동으로 인해 서브픽셀(SP) 간에 특성 값의 편차가 발생할 수 있다. 서브픽셀(SP) 간의 특성 값의 편차는 디스플레이 패널(110)을 통해 나타나는 이미지의 품질에 영향을 줄 수 있다.
서브픽셀(SP)에 센싱 트랜지스터(SENT)와 기준 전압 라인(RVL)이 배치된 경우, 기준 전압 라인(RVL)을 통해 서브픽셀(SP)의 특성 값의 변화를 센싱하고 특성 값의 변화를 보상할 수 있으나, 센싱을 위한 기간이 요구되므로 실시간 보상이 어려울 수 있다.
또한, 도 2a에 도시된 예시와 같이, 기준 전압 라인(RVL)이 배치되지 않은 구조일 경우, 서브픽셀(SP)의 특성 값의 변화를 검출하기 어려울 수 있다.
본 개시의 실시예들은, 서브픽셀(SP)에 배치된 회로 소자의 특성 값의 변화를 실시간으로 보상하여, 회로 소자의 열화로 인한 디스플레이 품질의 저하를 방지할 수 있는 방안을 제공한다.
본 명세서에서, 서브픽셀(SP)의 특성 값의 변화량은 서브픽셀(SP)의 열화량을 의미할 수 있다. 그리고, 서브픽셀(SP)의 열화량은 서브픽셀(SP)에 배치된 구동 트랜지스터(DRT) 및 발광 소자(ED) 중 적어도 하나의 특성 값의 변화량을 의미할 수 있다.
도 3은 본 개시의 실시예들에 따른 센싱리스 보상 시스템의 개략적인 구성을 나타낸 도면이다. 도 4는 본 개시의 실시예들에 따른 센싱리스 보상 시스템에 의한 실시간 보상의 예시를 나타낸 도면이다.
도 3을 참조하면, 본 개시의 실시예들에 따른 센싱리스 보상 시스템은, 열화 관리 회로(300)와 저장부(400)를 포함할 수 있다. 열화 관리 회로(300)와 저장부(400) 중 적어도 하나는 컨트롤러(140)에 포함될 수 있다. 또는, 열화 관리 회로(300)와 저장부(400) 중 적어도 하나는 컨트롤러(140)의 외부에 위치할 수 있다. 또한, 경우에 따라, 열화 관리 회로(300)에 포함된 구성과 저장부(400)에 포함된 구성의 일부만 컨트롤러(140)에 포함될 수도 있다.
열화 관리 회로(300)는, 데이터 신호 출력부(310), 열화 보상부(320) 및 열화 관리부(330)를 포함할 수 있다.
데이터 신호 출력부(310)는, 외부로부터 영상 데이터 신호를 수신할 수 있다. 데이터 신호 출력부(310)는, 영상 데이터 신호에 보상 값이 부가된 구동 데이터 신호를 데이터 구동 회로(130)로 출력할 수 있다.
데이터 신호 출력부(310)는, 열화 보상부(320)를 통해 영상 데이터 신호에 부가할 보상 값을 확인할 수 있다.
열화 보상부(320)는, 저장부(400)에 저장된 데이터에 기초하여 다수의 서브픽셀(SP) 각각에 배치된 회로 소자의 열화 정도를 확인할 수 있다. 열화 보상부(320)는, 회로 소자의 열화 정도에 대응하는 보상 값을 확인하고 데이터 신호 출력부(310)로 보상 값을 출력할 수 있다.
저장부(400)는, 다수의 서브픽셀(SP) 각각에 배치된 회로 소자의 열화 정도를 나타내는 데이터를 저장할 수 있다. 또한, 저장부(400)는, 열화 정도에 대응하는 보상 값에 관한 데이터를 저장할 수 있다.
일 예로, 저장부(400)는, 제1 저장부(410)와 제2 저장부(420)를 포함할 수 있다.
제1 저장부(410)는, 서브픽셀(SP)의 구동에 따라 실시간으로 누적되는 회로 소자의 열화 정도에 대한 데이터를 저장할 수 있다. 제1 저장부(410)에 저장되고 서브픽셀(SP) 각각의 실시간 열화 정도에 대한 데이터를 누적 스트레스 데이터라 할 수 있다. 누적 스트레스 데이터를 보상 데이터라 할 수 있다. 또는, 경우에 따라, 누적 스트레스 데이터에 대응하는 보상 값을 보상 데이터라 할 수도 있다.
제2 저장부(420)는, 누적 스트레스 데이터에 대응하는 보상 값을 저장할 수 있다. 제2 저장부(420)는, 일 예로, 룩-업 테이블의 형태로 누적 스트레스 데이터에 대응하는 보상 값을 저장할 수 있다.
데이터 신호 출력부(310)는, 열화 보상부(320)를 통해 서브픽셀(SP)의 누적 스트레스 데이터에 대한 보상 값을 확인하고, 영상 데이터 신호에 보상 값을 반영한 구동 데이터 신호를 데이터 구동 회로(130)로 출력할 수 있다.
데이터 구동 회로(130)는, 구동 데이터 신호에 따른 데이터 전압(Vdata)을 서브픽셀(SP)로 공급할 수 있다. 따라서, 서브픽셀(SP)의 열화 정도에 따른 보상 값이 반영된 데이터 전압(Vdata)이 서브픽셀(SP)로 공급될 수 있다.
일 예로, 도 4에 도시된 예시와 같이, 누적 스트레스 데이터가 제1 스트레스 값(Vstr1)이면 제1 스트레스 값(Vstr1)에 대응하는 제1 보상 값(Vcomp1)이 반영된 구동 데이터 신호가 데이터 구동 회로(130)로 입력될 수 있다. 누적 스트레스 데이터가 제2 스트레스 값(Vstr2)이면 제2 스트레스 값(Vstr2)에 대응하는 제2 보상 값(Vcomp2)이 반영된 구동 데이터 신호가 데이터 구동 회로(130)로 입력될 수 있다.
데이터 구동 회로(130)는, 서브픽셀(SP)의 누적 스트레스 데이터에 따른 보상 값이 실시간으로 반영된 데이터 전압(Vdata)을 서브픽셀(SP)로 공급할 수 있다. 서브픽셀(SP)에 배치된 회로 소자의 열화가 실시간으로 보상되며, 서브픽셀(SP)의 구동이 수행될 수 있다.
서브픽셀(SP)의 누적 스트레스 데이터는 서브픽셀(SP)이 구동되는 과정에서 실시간으로 갱신될 수 있다.
열화 관리부(330)는, 데이터 신호 출력부(310)가 출력하는 구동 데이터 신호를 수신할 수 있다.
구동 데이터 신호에 따른 데이터 전압(Vdata)이 서브픽셀(SP)로 공급되므로, 구동 데이터 신호에 대응하는 서브픽셀(SP)의 열화가 진행될 수 있다.
열화 관리부(330)는, 구동 데이터 신호에 따라 저장부(400)에 저장된 서브픽셀(SP)의 누적 스트레스 데이터를 갱신할 수 있다.
열화 관리부(330)에 의해 서브픽셀(SP)의 구동 중 서브픽셀(SP)의 누적 스트레스 데이터가 갱신되므로, 서브픽셀(SP) 내 배치된 회로 소자의 열화에 관한 정보가 실시간으로 갱신, 관리될 수 있다.
열화 관리부(330)는, 서브픽셀(SP)의 누적 스트레스 데이터의 적어도 일부를 압축하여 저장할 수 있다.
도 5는 본 개시의 실시예들에 따른 센싱리스 보상 시스템의 열화 관리부(330)의 개략적인 구성을 나타낸 도면이다.
도 5를 참조하면, 열화 관리부(330)는, 디코딩 모듈(331), 처리 모듈(332) 및 인코딩 모듈(333)을 포함할 수 있다.
열화 관리부(330)의 처리 모듈(332)은, 서브픽셀(SP)의 구동이 수행되면 서브픽셀(SP)의 구동에 따른 입력 스트레스 데이터를 수신할 수 있다. 입력 스트레스 데이터는 전술한 구동 데이터 신호에 대응하거나, 구동 데이터 신호에 기초하여 산출된 데이터일 수 있다.
처리 모듈(332)은, 기 저장된 누적 스트레스 데이터에 입력 스트레스 데이터를 부가하여, 누적 스트레스 데이터를 갱신할 수 있다.
기 저장된 누적 스트레스 데이터가 압축된 형태로 저장부(400)에 저장되어 있을 수 있다.
디코딩 모듈(331)은, 저장부(400)에 기 저장된 누적 스트레스 데이터를 복원하여 처리 모듈(332)로 출력할 수 있다.
처리 모듈(332)은, 디코딩 모듈(331)에 의해 복원된 누적 스트레스 데이터와 입력 스트레스 데이터를 합하여 갱신된 누적 스트레스 데이터를 생성할 수 있다. 처리 모듈(332)은, 갱신된 누적 스트레스 데이터를 인코딩 모듈(333)로 출력할 수 있다.
인코딩 모듈(333)은, 갱신된 누적 스트레스 데이터를 압축하고 압축된 누적 스트레스 데이터를 저장부(400)에 저장할 수 있다.
인코딩 모듈(333)은, 누적 스트레스 데이터의 적어도 일부를 무손실 압축할 수 있다. 인코딩 모듈(333)은, 누적 스트레스 데이터의 적어도 일부를 손실 압축할 수 있다. 인코딩 모듈(333)이 무손실 압축과 손실 압축을 함께 수행하므로, 누적 스트레스 데이터의 손실을 최소화며 누적 스트레스 데이터의 저장 효율을 높여줄 수 있다.
인코팅 모듈(333)은, 압축 대상인 누적 스트레스 데이터에 따라 압축 손실 수준을 결정할 수 있다. 압축 손실 수준은, 누적 스트레스 데이터의 크기나 복잡도에 따라 결정될 수 있다.
일 예로, 누적 스트레스 데이터의 크기가 크거나 복잡도가 높으면 누적 스트레스 데이터의 압축 손실 수준이 클 수 있다. 반대의 경우, 누적 스트레스 데이터의 압축 손실 수준은 작을 수 있다. 이러한 압축 손실 수준은 영역에 따라 독립적으로 설정될 수 있다.
도 6은 본 개시의 실시예들에 따른 디스플레이 장치(100)의 보상 데이터 처리 방법의 예시를 나타낸 흐름도이다. 도 7은 도 6에 도시된 디스플레이 장치(100)의 보상 데이터 처리 방법의 구체적인 예시를 나타낸 도면이다.
도 6을 참조하면, 디스플레이 패널(110)에 배치된 서브픽셀(SP)의 특성 편차를 보상하기 위한 보상 데이터가 생성될 수 있다(S600). 보상 데이터는, 일 예로, 컨트롤러(140)에 의해 생성될 수 있다.
이후 설명되는 실시예에서, 보상 데이터가 컨트롤러(140)에 의해 생성, 관리되는 경우를 예시적으로 설명하나, 보상 데이터는 디스플레이 장치(100) 내의 다른 구성이나 외부 구성에 의해 처리될 수도 있다.
보상 데이터는, 서브픽셀(SP)의 구동에 따라 누적되는 누적 스트레스 데이터를 의미할 수 있다.
또는, 경우에 따라, 보상 데이터는, 서브픽셀(SP)의 특성에 따른 휘도 편차를 보상하기 위한 데이터를 의미할 수도 있다. 이러한 경우, 서브픽셀(SP)이 나타내는 휘도를 측정하고 측정된 휘도를 기반으로 보상 데이터가 생성될 수 있다. 또는, 서브픽셀(SP)의 구동 시 서브픽셀(SP)에 흐르는 전류량을 측정하고 측정된 전류량을 기반으로 보상 데이터가 생성될 수 있다.
보상 데이터는, 압축되어 저장될 수 있다. 보상 데이터의 압축을 위한 압축 손실 수준이 결정될 수 있다. 보상 데이터의 압축을 위한 압축 손실 수준은 디스플레이 패널(110)의 영역별로 결정될 수 있다(S610).
보상 데이터가 디스플레이 패널(110)의 구동에 따른 서브픽셀(SP)의 열화를 보상하기 위한 데이터일 경우, 디스플레이 패널(110)의 영역에 따라 서브픽셀(SP)의 열화 정도가 다를 수 있다. 서브픽셀(SP)의 열화 정도의 차이로 인해 보상 데이터의 크기나 복잡도가 다를 수 있다. 보상 데이터는 미리 정해진 압축률에 따라 압축될 수 있으므로, 보상 데이터의 크기나 복잡도에 따라 압축 손실 수준이 다르게 설정될 필요가 있다.
도 7을 참조하면, 디스플레이 패널(110)에서 서브픽셀(SP)의 열화로 인해 디스플레이 패널(110)이 나타내는 휘도가 저하될 수 있다. 서브픽셀(SP)에 따라 열화 정도의 차이가 존재할 수 있으므로, 디스플레이 패널(110)의 영역에 따라 휘도가 저하되는 정도가 다를 수 있다.
일 예로, 도 7에 도시된 예시와 같이, 제1 영역(A1)의 휘도가 저하되는 정도가 제2 영역(A2)의 휘도가 저하되는 정도보다 클 수 있다.
제1 영역(A1)과 제2 영역(A2)은, 하나의 라인 상에 위치하는 영역일 수 있다. 일 예로, 제1 영역(A1)과 제2 영역(A2)은, 하나 이상의 게이트 라인(GL)에 의해 구동되거나 또는 하나 이상의 데이터 라인(DL)에 의해 구동되는 영역을 의미할 수 있다. 또는, 제1 영역(A1)과 제2 영역(A2)은, 액티브 영역(AA)에서 블록 단위로 구분되는 영역일 수 있다.
제1 영역(A1)과 제2 영역(A2)은 열화 정도가 유사한 영역을 의미할 수 있으며, 제1 영역(A1)과 제2 영역(A2)을 구분하는 방식은 특정 방식으로 한정되지 않을 수 있다.
휘도 저하가 큰 제1 영역(A1)에 위치하는 서브픽셀(SP)에 대한 보상 데이터의 복잡도나 크기는 휘도 저하가 상대적으로 작은 제2 영역(A2)에 위치하는 서브픽셀(SP)에 대한 보상 데이터의 복잡도나 크기보다 클 수 있다.
보상 데이터의 압축 시, 영역별로 압축 손실 수준이 결정될 수 있다.
일 예로, 열화 정도가 큰 제1 영역(A1)에 위치하는 서브픽셀(SP)에 대한 보상 데이터의 압축 손실 수준이 열화 정도가 상대적으로 작은 제2 영역(A2)에 위치하는 서브픽셀(SP)에 대한 보상 데이터의 압축 손실 수준보다 클 수 있다.
이와 같이, 보상 데이터의 압축을 위한 압축 손실 수준이 액티브 영역(AA)의 영역에 따라 독립적으로 설정될 수 있다.
압축 손실 수준이 결정되면, 결정된 압축 손실 수준에 따라 보상 데이터의 압축이 수행될 수 있다(S620).
보상 데이터는 디스플레이 장치(100)의 구동 시 서브픽셀(SP)의 편차 보상을 위해 복원되어 이용될 수 있다.
전술한 예시와 같이, 영역별로 압축 손실 수준이 결정되므로, 영역에 따른 열화 정도의 차이가 있더라도 보상 데이터가 압축, 저장되고, 보상 데이터에 의한 서브픽셀(SP)의 편차 보상이 이루어질 수 있다.
또한, 본 개시의 실시예들은, 영역별로 보상 데이터의 압축 손실 수준을 결정하며, 인접 영역의 압축 손실 수준의 차이를 조절함으로써, 보상 데이터에 의한 서브픽셀(SP)의 편차를 보상하며 보상 수준에 따라 나타나는 이미지의 품질을 개선할 수 있는 방안을 제공할 수 있다.
도 8은 본 개시의 실시예들에 따른 디스플레이 장치(100)의 보상 데이터 처리 방법의 다른 예시를 나타낸 흐름도이다.
도 9는 도 8에 도시된 디스플레이 장치(100)의 보상 데이터 처리 방법의 구체적인 예시를 나타낸 도면이다.
도 8을 참조하면, 컨트롤러(140)는, 서브픽셀(SP)의 특성 편차 보상을 위한 보상 데이터를 생성할 수 있다(S800).
보상 데이터는, 전술한 바와 같이, 서브픽셀(SP)의 구동에 따른 누적 스트레스 데이터일 수 있다. 또는, 보상 데이터는, 누적 스트레스 데이터에 대응하는 보상 값을 의미할 수도 있다. 보상 데이터는, 서브픽셀(SP)의 휘도 편차를 보상하기 위한 데이터일 수도 있다.
컨트롤러(140)는, 보상 데이터에 기초하여, 액티브 영역(AA)에서 영역별 초기 압축 손실 수준을 결정할 수 있다(S810).
초기 압축 손실 수준은 보상 데이터에 기초하여 결정될 수 있다. 일 예로, 보상 데이터의 복잡도가 크거나 크기가 크면 초기 압축 손실 수준은 높게 설정될 수 있다. 보상 데이터의 복잡도가 작거나 크기가 작으면 초기 압축 손실 수준은 낮게 설정될 수 있다.
컨트롤러(140)는, 초기 압축 손실 수준이 결정되면, 인접 영역 간 초기 압축 손실 수준을 비교할 수 있다(S820).
컨트롤러(140)는, 인접 영역 간 초기 압축 손실 수준의 차이가 기 설정된 허용 손실 편차보다 크면(S830), 인접 영역 간 초기 압축 손실 수준의 차이가 감소하도록 최종 압축 손실 수준을 설정할 수 있다(S840).
일 예로, 인접 영역 간 최종 압축 손실 수준의 차이가 기 설정된 허용 손실 편차 이하가 되도록 각각의 영역에 대한 최종 압축 손실 수준이 설정될 수 있다.
컨트롤러(140)는, 인접 영역 간 초기 압축 손실 수준의 차이가 기 설정된 허용 손실 편차 이하이면(S830), 각각의 영역에 대한 초기 압축 손실 수준을 최종 압축 손실 수준으로 설정할 수 있다(S850).
컨트롤러(140)는, 설정된 영역별 최종 압축 손실 수준에 기초하여 보상 데이터를 압축할 수 있다(S860).
도 9에 도시된 예시를 참조하면, 디스플레이 패널(110)에 배치된 서브픽셀(SP)의 열화에 따라 제1 영역(A1)의 휘도 저하 정도가 제2 영역(A2)의 휘도 저하 정도보다 클 수 있다. 제1 영역(A1)과 제2 영역(A2)은 서로 인접하게 위치하는 영역일 수 있다.
제1 영역(A1)에 위치하는 서브픽셀(SP)에 대한 보상 데이터가 제2 영역(A2)에 위치하는 서브픽셀(SP)에 대한 보상 데이터보다 클 수 있다.
따라서, 제1 영역(A1)에 대한 초기 압축 손실 수준은 클 수 있다. 제2 영역(A2)에 대한 초기 압축 손실 수준은 제1 영역(A1)에 대한 초기 압축 손실 수준에 비하여 상대적으로 작을 수 있다.
컨트롤러(140)는, 제2 영역(A2)에 대한 초기 압축 손실 수준을 증가시켜 제2 영역(A2)에 대한 최종 압축 손실 수준을 설정할 수 있다. 컨트롤러(140)는, 제1 영역(A1)에 대한 초기 압축 손실 수준을 제1 영역(A1)에 대한 최종 압축 손실 수준으로 설정할 수 있다.
제1 영역(A1)에 대한 초기 압축 손실 수준과 제2 영역(A2)에 대한 초기 압축 손실 수준의 차이보다 제1 영역(A1)에 대한 최종 압축 손실 수준과 제2 영역(A2)에 대한 최종 압축 손실 수준의 차이가 작을 수 있다.
보상 데이터의 압축은 최종 압축 손실 수준에 기초하여 수행될 수 있다.
인접하게 위치하는 제1 영역(A1)과 제2 영역(A2) 간의 압축 손실 수준 차이가 감소하므로, 영역별로 설정된 압축 손실 수준에 따라 압축된 보상 데이터가 복원되어 서브픽셀(SP)의 보상을 위해 이용될 경우 보상 후 각 영역이 나타내는 휘도 간의 편차가 감소될 수 있다.
본 개시의 실시예들에 의하면, 제1 영역(A1)과 제2 영역(A2)의 열화에 대한 보상이 이루어지면서, 보상 수준의 편차로 인해 보상이 적용된 이미지의 품질이 저하되는 것을 방지할 수 있다.
인접 영역의 압축 손실 수준의 차이를 감소시키기 위한 프로세스는 반복적으로 수행될 수 있다. 이를 통해, 압축 손실 수준의 조정하는 과정에서 인접 영역의 보상 수준의 차이가 증가하는 것을 방지할 수 있다.
도 10은 본 개시의 실시예들에 따른 디스플레이 장치(100)의 보상 데이터 처리 방법의 또 다른 예시를 나타낸 흐름도이다.
도 11은 도 10에 도시된 디스플레이 장치(100)의 보상 데이터 처리 방법의 구체적인 예시를 나타낸 도면이다.
도 10을 참조하면, 컨트롤러(140)는, 보상 데이터의 압축을 위해 각 영역별 초기 압축 손실 수준을 결정할 수 있다. 컨트롤러(140)는, 인접하게 위치하는 제1 영역(A1)과 제2 영역(A2)의 초기 압축 손실 수준을 비교할 수 있다(S1000).
컨트롤러(140)는, 제1 영역(A1)의 초기 압축 손실 수준과 제2 영역(A2)의 초기 압축 손실 수준의 차이가 기 설정된 허용 손실 편차 보다 크면(S1010), 제1 영역(A1)의 초기 압축 손실 수준과 제2 영역(A2)의 초기 압축 손실 수준을 서로 비교할 수 있다.
컨트롤러(140)는, 제1 영역(A1)의 초기 압축 손실 수준이 제2 영역(A2)의 초기 압축 손실 수준보다 크면(S1020), 제1 영역(A1)의 초기 압축 손실 수준에서 기 설정된 허용 손실 편차를 뺀 값을 제2 영역(A2)의 최종 압축 손실 수준으로 설정할 수 있다(S1031).
컨트롤러(140)는, 제1 영역(A1)의 초기 압축 손실 수준을 제1 영역(A1)의 최종 압축 손실 수준으로 설정할 수 있다(S1032).
제1 영역(A1)의 압축 손실 수준을 유지하며, 제2 영역(A2)의 압축 손실 수준을 증가시켜 영역 간 압축 손실 수준의 차이가 감소될 수 있다.
도 10에 도시된 예시는, 제1 영역(A1)의 초기 압축 손실 수준에서 기 설정된 허용 손실 편차를 빼는 방식에 의해 제1 영역(A1)과 제2 영역(A2) 간의 압축 손실 수준의 차이를 감소시키는 방식을 나타내나, 영역 간 압축 손실 수준의 차이가 기 설정된 허용 손실 편차 이하가 되도록 하는 다양한 방식이 이용될 수 있다.
컨트롤러(140)는, 제1 영역(A1)의 초기 압축 손실 수준이 제2 영역(A2)의 초기 압축 손실 수준보다 작으면(S1020), 제2 영역(A2)의 초기 압축 손실 수준에서 기 설정된 허용 손실 편차를 뺀 값을 제1 영역(A1)의 최종 압축 손실 수준으로 설정할 수 있다(S1041).
컨트롤러(140)는, 제2 영역(A2)의 초기 압축 손실 수준을 제2 영역(A2)의 최종 압축 손실 수준으로 설정할 수 있다(S1042).
컨트롤러(140)는, 제1 영역(A1)의 초기 압축 손실 수준과 제2 영역(A2)의 초기 압축 손실 수준의 차이가 기 설정된 허용 손실 편차 이하일 경우에는(S1010), 각 영역의 초기 압축 손실 수준을 각 영역의 최종 압축 손실 수준으로 설정할 수 있다(S1051).
컨트롤러(140)는, 각 영역별 최종 압축 손실 수준에 기초하여 보상 데이터를 압축할 수 있다(S1060).
이와 같이, 인접 영역 간의 압축 손실 수준의 차이를 감소시키는 프로세스는 인접 영역 간의 압축 손실 수준의 차이가 기 설정된 허용 손실 편차를 벗어나는 경우가 발생하지 않을 때까지 반복적으로 수행될 수 있다.
도 11을 참조하면, ①과 같이, 보상 데이터에 따라 초기 압축 손실 수준이 설정될 수 있다. 도 11은, 서로 인접하게 위치하는 6개의 영역(A1, A2, A3, A4, A5, A6)에 대한 초기 압축 손실 수준이 설정된 예시를 나타낸다.
도 11의 ①이 지시하는 바와 같이, 6개의 영역(A1, A2, A3, A4, A5, A6) 중 제2 영역(A2)의 초기 압축 손실 수준과 제3 영역(A3)의 초기 압축 손실 수준의 차이가 허용 손실 편차보다 클 수 있다. 제3 영역(A3)의 초기 압축 손실 수준과 제4 영역(A4)의 초기 압축 손실 수준의 차이가 허용 손실 편차보다 클 수 있다. 제4 영역(A4)의 초기 압축 손실 수준과 제5 영역(A5)의 초기 압축 손실 수준의 차이가 허용 손실 편차보다 클 수 있다.
제2 영역(A2) 내지 제5 영역(A5)이 허용 손실 편차를 초과하는 영역일 수 있다.
이러한 경우, 도 10을 통해 설명한 예시와 같이, 인접 영역의 초기 압축 손실 수준 중 큰 값에서 허용 손실 편차를 뺀 값을 초기 압축 손실 수준이 작은 영역에 대한 새로운 압축 손실 수준으로 설정할 수 있다.
일 예로, 제3 영역(A3)의 초기 압축 손실 수준보다 허용 손실 편차만큼 작은 값이 제2 영역(A2)에 대한 새로운 압축 손실 수준으로 설정될 수 있다. 제3 영역(A3)의 초기 압축 손실 수준보다 허용 손실 편차만큼 작은 값이 제4 영역(A4)에 대한 새로운 압축 손실 수준으로 설정될 수 있다.
이러한 과정에서, 초기 압축 손실 수준의 차이가 허용 손실 편차 이하인 인접 영역의 압축 손실 수준의 차이가 허용 손실 편차보다 크게 될 수 있다.
일 예로, 제2 영역(A2)의 초기 압축 손실 수준이 제2 영역(A2)의 새로운 압축 손실 수준으로 증가함에 따라, 제2 영역(A2)과 제1 영역(A1)의 압축 손실 수준의 차이가 허용 손실 편차보다 커질 수 있다.
제1 영역(A1)의 초기 압축 손실 수준과 제2 영역(A2)의 초기 압축 손실 수준의 차이는 허용 손실 편차 이하일 수 있다. 그리고, 제2 영역(A2)과 제3 영역(A3) 간의 압축 손실 수준의 차이를 조절하는 과정에서 제1 영역(A1)과 제2 영역(A2) 간의 압축 손실 수준의 차이가 허용 손실 편차보다 커질 수 있다.
따라서, ②가 지시하는 바와 같이, 인접 영역 간 압축 손실 수준의 차이가 기 설정된 허용 손실 편차 이내가 되도록 하는 프로세스가 반복적으로 수행될 수 있다.
제2 영역(A2)의 새로운 압축 손실 수준에서 허용 손실 편차를 뺀 값이 제1 영역(A1)의 새로운 압축 손실 수준으로 설정될 수 있다.
제1 영역(A1)과 제2 영역(A2) 간의 압축 손실 수준의 차이가 허용 손실 편차 이하가 될 수 있다.
전술한 과정을 반복적으로 수행하여 인접 영역 간 압축 손실 수준의 차이가 허용 손실 편차를 벗어나는 경우가 없으면, 압축 손실 수준을 조절하는 과정이 종료될 수 있다. ③이 지시하는 바와 같이, 인접 영역의 압축 손실 수준의 차이가 허용 손실 편차 이하가 되도록 각 영역에 대한 최종 압축 손실 수준이 설정될 수 있다.
이러한 경우, 하나의 영역을 사이에 두고 인접한 영역의 압축 손실 수준의 차이는 허용 손실 편차보다 클 수도 있다. 일 예로, 도 11에 도시된 예시에서, 제1 영역(A1)의 최종 압축 손실 수준과 제3 영역(A3)의 최종 압축 손실 수준의 차이는 허용 손실 편차보다 클 수 있다.
이러한 상태에서 전술한 프로세스가 종료될 수도 있고, 경우에 따라, 제1 영역(A1)과 제3 영역(A3)의 최종 압축 손실 수준의 차이도 허용 손실 편차 이하가 될 때까지 프로세스가 반복적으로 수행될 수도 있다.
이와 같이, 인접 영역 간의 압축 손실 수준의 차이가 기 설정된 허용 손실 편차 이내가 되도록 최종 압축 손실 수준을 설정한 후 압축을 수행하므로, 이후 보상 데이터의 적용에 따른 보상 수준의 차이로 인해 보상이 적용된 이미지의 품질이 저하되는 것을 방지하고 서브픽셀(SP)의 열화에 대한 보상의 효과를 높여줄 수 있다.
이상에서 설명한 본 개시의 실시예들을 간략하게 설명하면 아래와 같다.
본 개시의 실시예들에 따른 디스플레이 장치(100)는, 다수의 서브픽셀들(SP)이 배치된 디스플레이 패널(110), 다수의 서브픽셀들(SP)로 데이터 전압(Vdata)을 공급하는 데이터 구동 회로(130), 및 데이터 구동 회로(130)를 제어하고 다수의 서브픽셀들(SP)에 대한 보상 데이터를 처리하는 컨트롤러(140)를 포함할 수 있다.
다수의 서브픽셀들(SP) 중 제1 영역(A1)에 배치된 제1 서브픽셀에 대한 제1 보상 데이터의 최종 압축 손실 수준과 제1 영역(A1)과 인접한 제2 영역(A2)에 배치된 제2 서브픽셀에 대한 제2 보상 데이터의 최종 압축 손실 수준의 차이는 기 설정된 허용 손실 편차 이하일 수 있다.
제1 보상 데이터의 초기 압축 손실 수준은 제2 보상 데이터의 초기 압축 손실 수준보다 크고, 제2 보상 데이터의 최종 압축 손실 수준은 제2 보상 데이터의 초기 압축 손실 수준보다 클 수 있다.
제2 보상 데이터의 최종 압축 손실 수준은 제1 보상 데이터의 초기 압축 손실 수준보다 작을 수 있다.
제1 보상 데이터의 최종 압축 손실 수준은 제1 보상 데이터의 초기 압축 손실 수준과 동일할 수 있다.
제2 영역(A2)과 인접한 제3 영역(A3)에 배치된 제3 서브픽셀에 대한 제3 보상 데이터의 최종 압축 손실 수준과 제2 보상 데이터의 최종 압축 손실 수준의 차이는 기 설정된 허용 손실 편차 이하일 수 있다.
이러한 경우, 제3 보상 데이터의 초기 압축 손실 수준과 제2 보상 데이터의 최종 압축 손실 수준의 차이는 기 설정된 허용 손실 편차보다 클 수 있다. 또한, 제3 보상 데이터의 초기 압축 손실 수준과 제2 보상 데이터의 초기 압축 손실 수준의 차이는 기 설정된 허용 손실 편차 이하일 수 있다.
제3 보상 데이터의 최종 압축 손실 수준과 제1 보상 데이터의 최종 압축 손실 수준의 차이는 기 설정된 허용 손실 편차 이하일 수 있다.
또는, 제3 보상 데이터의 최종 압축 손실 수준과 제1 보상 데이터의 최종 압축 손실 수준의 차이는 기 설정된 허용 손실 편차보다 클 수 있다.
제1 보상 데이터의 초기 압축 손실 수준과 제2 보상 데이터의 초기 압축 손실 수준의 차이는 기 설정된 허용 손실 편차보다 크고, 제1 보상 데이터의 최종 압축 손실 수준과 제2 보상 데이터의 최종 압축 손실 수준의 차이는 기 설정된 허용 손실 편차와 동일할 수 있다.
또는, 제1 보상 데이터의 초기 압축 손실 수준과 제2 보상 데이터의 초기 압축 손실 수준의 차이는 기 설정된 허용 손실 편차 이하이고, 제1 보상 데이터의 최종 압축 손실 수준은 제1 보상 데이터의 초기 압축 손실 수준과 동일하고, 제2 보상 데이터의 최종 압축 손실 수준은 제2 보상 데이터의 초기 압축 손실 수준과 동일할 수 있다.
제1 보상 데이터의 초기 압축 손실 수준은 제2 보상 데이터의 초기 압축 손실 수준과 상이하고, 제1 보상 데이터의 최종 압축 손실 수준은 제2 보상 데이터의 최종 압축 손실 수준과 상이할 수 있다.
보상 데이터는 컨트롤러(140)가 데이터 구동 회로(130)로 출력하는 구동 데이터 신호에 따라 갱신될 수 있다.
본 개시의 실시예들에 따른 디스플레이 장치(100)는, 다수의 서브픽셀들(SP)에 배치된 디스플레이 패널(110), 다수의 서브픽셀들(SP)로 데이터 전압(Vdata)을 공급하는 데이터 구동 회로(130), 및 데이터 구동 회로(130)를 제어하고 다수의 서브픽셀들(SP)에 대한 보상 데이터를 처리하는 컨트롤러(140)를 포함하고, 다수의 서브픽셀들(SP) 중 제1 영역(A1)에 배치된 제1 서브픽셀에 대한 제1 보상 데이터의 압축 손실 수준과 제1 영역(A1)과 인접한 제2 영역(A2)에 배치된 제2 서브픽셀에 대한 제2 보상 데이터의 압축 손실 수준의 차이는 기 설정된 허용 손실 편차보다 크고, 제1 보상 데이터 및 제2 보상 데이터 중 적어도 하나의 일부는 복원 시 손실되는 수준이 증가될 수 있다. 복원 시 손실되는 수준이 증가되는 것은 보상 데이터의 복원 시 사용되는 손실 수준이 보상 데이터에 따라 결정되는 손실 수준보다 증가되는 것을 의미할 수 있다. 일 예로, 제1 보상 데이터는, 제1 보상 데이터의 크기나 복잡도에 따라 결정된 손실 수준에 따라 복원될 수 있다. 그리고, 제2 보상 데이터는, 제2 보상 데이터의 크기나 복잡도에 따라 결정된 손실 수준보다 증가된 손실 수준에 따라 복원될 수 있다.
본 개시의 실시예들에 따른 디스플레이 장치(100)의 보상 데이터 처리 방법은, 다수의 서브픽셀들(SP)에 대한 보상 데이터를 생성하는 단계, 보상 데이터의 초기 압축 손실 수준을 설정하는 단계, 다수의 서브픽셀들(SP) 중 제1 서브픽셀에 대한 제1 보상 데이터의 초기 압축 손실 수준과 제1 서브픽셀과 인접한 제2 서브픽셀에 대한 제2 보상 데이터의 초기 압축 손실 수준을 비교하는 단계, 및 비교 결과에 따라 제1 보상 데이터의 최종 압축 손실 수준과 제2 보상 데이터의 최종 압축 손실 수준을 설정하는 단계를 포함할 수 있다.
제1 보상 데이터의 최종 압축 손실 수준과 제2 보상 데이터의 최종 압축 손실 수준의 차이는 제1 보상 데이터의 초기 압축 손실 수준과 제2 보상 데이터의 초기 압축 손실 수준의 차이 이하일 수 있다.
제1 보상 데이터의 초기 압축 손실 수준과 제2 보상 데이터의 초기 압축 손실 수준의 차이는 기 설정된 허용 손실 편차보다 크고, 제1 보상 데이터의 최종 압축 손실 수준과 제2 보상 데이터의 최종 압축 손실 수준의 차이는 기 설정된 허용 손실 편차 이하일 수 있다.
제1 보상 데이터의 초기 압축 손실 수준은 제2 보상 데이터의 초기 압축 손실 수준보다 크고, 제2 보상 데이터의 초기 압축 손실 수준을 증가시켜 제2 보상 데이터의 최종 압축 손실 수준으로 설정할 수 있다.
이상의 설명은 본 개시의 기술 사상을 예시적으로 설명한 것에 불과한 것으로서, 본 개시가 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 개시의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 다양한 수정 및 변형이 가능할 것이다. 또한, 본 개시에 개시된 실시예들은 본 개시의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이므로 이러한 실시예에 의하여 본 개시의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 개시의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 개시의 권리 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.
100: 디스플레이 장치 110: 디스플레이 패널
120: 게이트 구동 회로 130: 데이터 구동 회로
140: 컨트롤러 300: 열화 관리 회로
310: 데이터 신호 출력부 320: 열화 보상부
330: 열화 관리부 331: 디코딩 모듈
332: 처리 모듈 333: 인코딩 모듈
400: 저장부 410: 제1 저장부
420: 제2 저장부

Claims (17)

  1. 다수의 서브픽셀들이 배치된 디스플레이 패널;
    상기 다수의 서브픽셀들로 데이터 전압을 공급하는 데이터 구동 회로; 및
    상기 데이터 구동 회로를 제어하고, 상기 다수의 서브픽셀들에 대한 보상 데이터를 처리하는 컨트롤러를 포함하고,
    상기 다수의 서브픽셀들 중 제1 영역에 배치된 제1 서브픽셀에 대한 제1 보상 데이터의 최종 압축 손실 수준과 상기 제1 영역과 인접한 제2 영역에 배치된 제2 서브픽셀에 대한 제2 보상 데이터의 최종 압축 손실 수준의 차이는 기 설정된 허용 손실 편차 이하인 디스플레이 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 제1 보상 데이터의 초기 압축 손실 수준은 상기 제2 보상 데이터의 초기 압축 손실 수준보다 크고,
    상기 제2 보상 데이터의 상기 최종 압축 손실 수준은 상기 제2 보상 데이터의 상기 초기 압축 손실 수준보다 큰 디스플레이 장치.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 제2 보상 데이터의 상기 최종 압축 손실 수준은 상기 제1 보상 데이터의 상기 초기 압축 손실 수준보다 작은 디스플레이 장치.
  4. 제2항에 있어서,
    상기 제1 보상 데이터의 상기 최종 압축 손실 수준은 상기 제1 보상 데이터의 상기 초기 압축 손실 수준과 동일한 디스플레이 장치.
  5. 제2항에 있어서,
    상기 제2 영역과 인접한 제3 영역에 배치된 제3 서브픽셀에 대한 제3 보상 데이터의 최종 압축 손실 수준과 상기 제2 보상 데이터의 상기 최종 압축 손실 수준의 차이는 상기 기 설정된 허용 손실 편차 이하인 디스플레이 장치.
  6. 제5항에 있어서,
    상기 제3 보상 데이터의 초기 압축 손실 수준과 상기 제2 보상 데이터의 상기 최종 압축 손실 수준의 차이는 상기 기 설정된 허용 손실 편차보다 큰 디스플레이 장치.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 제3 보상 데이터의 상기 초기 압축 손실 수준과 상기 제2 보상 데이터의 상기 초기 압축 손실 수준의 차이는 상기 기 설정된 허용 손실 편차 이하인 디스플레이 장치.
  8. 제5항에 있어서,
    상기 제3 보상 데이터의 상기 최종 압축 손실 수준과 상기 제1 보상 데이터의 상기 최종 압축 손실 수준의 차이는 상기 기 설정된 허용 손실 편차 이하인 디스플레이 장치.
  9. 제5항에 있어서,
    상기 제3 보상 데이터의 상기 최종 압축 손실 수준과 상기 제1 보상 데이터의 상기 최종 압축 손실 수준의 차이는 상기 기 설정된 허용 손실 편차보다 큰 디스플레이 장치.
  10. 제1항에 있어서,
    상기 제1 보상 데이터의 초기 압축 손실 수준과 상기 제2 보상 데이터의 초기 압축 손실 수준의 차이는 상기 기 설정된 허용 손실 편차보다 크고,
    상기 제1 보상 데이터의 상기 최종 압축 손실 수준과 상기 제2 보상 데이터의 상기 최종 압축 손실 수준의 차이는 상기 기 설정된 허용 손실 편차와 동일한 디스플레이 장치.
  11. 제1항에 있어서,
    상기 제1 보상 데이터의 초기 압축 손실 수준과 상기 제2 보상 데이터의 초기 압축 손실 수준의 차이는 상기 기 설정된 허용 손실 편차 이하이고,
    상기 제1 보상 데이터의 상기 최종 압축 손실 수준은 상기 제1 보상 데이터의 상기 초기 압축 손실 수준과 동일하고, 상기 제2 보상 데이터의 상기 최종 압축 손실 수준은 상기 제2 보상 데이터의 상기 초기 압축 손실 수준과 동일한 디스플레이 장치.
  12. 제1항에 있어서,
    상기 제1 보상 데이터의 초기 압축 손실 수준은 상기 제2 보상 데이터의 초기 압축 손실 수준과 상이하고,
    상기 제1 보상 데이터의 상기 최종 압축 손실 수준은 상기 제2 보상 데이터의 상기 최종 압축 손실 수준과 상이한 디스플레이 장치.
  13. 제1항에 있어서,
    상기 보상 데이터는 상기 컨트롤러가 상기 데이터 구동 회로로 출력하는 구동 데이터 신호에 따라 갱신되는 디스플레이 장치.
  14. 다수의 서브픽셀들에 배치된 디스플레이 패널;
    상기 다수의 서브픽셀들로 데이터 전압을 공급하는 데이터 구동 회로; 및
    상기 데이터 구동 회로를 제어하고, 상기 다수의 서브픽셀들에 대한 보상 데이터를 처리하는 컨트롤러를 포함하고,
    상기 다수의 서브픽셀들 중 제1 영역에 배치된 제1 서브픽셀에 대한 제1 보상 데이터의 압축 손실 수준과 상기 제1 영역과 인접한 제2 영역에 배치된 제2 서브픽셀에 대한 제2 보상 데이터의 압축 손실 수준의 차이는 기 설정된 허용 손실 편차보다 크고,
    상기 제1 보상 데이터 및 상기 제2 보상 데이터 중 적어도 하나의 일부는 복원 시 손실되는 수준이 증가되는 디스플레이 장치.
  15. 다수의 서브픽셀들에 대한 보상 데이터를 생성하는 단계;
    상기 보상 데이터의 초기 압축 손실 수준을 설정하는 단계;
    상기 다수의 서브픽셀들 중 제1 서브픽셀에 대한 제1 보상 데이터의 초기 압축 손실 수준과 상기 제1 서브픽셀과 인접한 제2 서브픽셀에 대한 제2 보상 데이터의 초기 압축 손실 수준을 비교하는 단계; 및
    상기 비교 결과에 따라 상기 제1 보상 데이터의 최종 압축 손실 수준과 상기 제2 보상 데이터의 최종 압축 손실 수준을 설정하는 단계를 포함하고,
    상기 제1 보상 데이터의 상기 최종 압축 손실 수준과 상기 제2 보상 데이터의 상기 최종 압축 손실 수준의 차이는 상기 제1 보상 데이터의 상기 초기 압축 손실 수준과 상기 제2 보상 데이터의 상기 초기 압축 손실 수준의 차이 이하인 디스플레이 장치의 보상 데이터 처리 방법.
  16. 제15항에 있어서,
    상기 제1 보상 데이터의 상기 초기 압축 손실 수준과 상기 제2 보상 데이터의 상기 초기 압축 손실 수준의 차이는 기 설정된 허용 손실 편차보다 크고,
    상기 제1 보상 데이터의 상기 최종 압축 손실 수준과 상기 제2 보상 데이터의 상기 최종 압축 손실 수준의 차이는 상기 기 설정된 허용 손실 편차 이하인 디스플레이 장치의 보상 데이터 처리 방법.
  17. 제16항에 있어서,
    상기 제1 보상 데이터의 상기 초기 압축 손실 수준은 상기 제2 보상 데이터의 상기 초기 압축 손실 수준보다 크고,
    상기 제2 보상 데이터의 상기 초기 압축 손실 수준을 증가시켜 상기 제2 보상 데이터의 상기 최종 압축 손실 수준으로 설정하는 디스플레이 장치의 보상 데이터 처리 방법.
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