KR20230031060A

KR20230031060A - 단위셀 검사장치, 그를 포함하는 전극조립체 제조설비 및 제조방법

Info

Publication number: KR20230031060A
Application number: KR1020210113449A
Authority: KR
Inventors: 이관우; 정하용; 이종명; 박현재
Original assignee: 주식회사 엘지에너지솔루션
Priority date: 2021-08-26
Filing date: 2021-08-26
Publication date: 2023-03-07
Also published as: US20240055644A1; EP4276958A1; WO2023027373A1; CN116848681A; JP2024510131A

Abstract

본 발명의 단위셀 검사장치는 단위셀의 엣지부를 장파장 적외선으로 촬영하여 상기 단위셀에 포함된 전극의 엣지부 위치를 측정하는 검사유닛을 포함하며, 상기 검사유닛은, 상기 단위셀의 엣지부를 가열하여 상기 단위셀에 포함된 전극 엣지부의 온도를 상승시키는 메인 히팅부, 상기 단위셀의 엣지부를 장파장 적외선으로 촬영하여 상기 단위셀에 포함된 전극의 엣지부에 대한 열 사진을 취득하는 촬영부; 및 상기 촬영부에 의해 촬영된 열 사진에서 상기 전극의 엣지부를 측정하고, 측정된 전극 엣지부를 통해 전극 위치를 측정하는 검사부를 포함할 수 있다.

Description

단위셀 검사장치, 그를 포함하는 전극조립체 제조설비 및 제조방법{INSPECTION DEVICE FOR UNIT CELL, PRODUCING FACILITY AND METHOD OF ELECTRODE ASSEMBLY INCLUDING THE SAME}

본 발명은 장파장 적외선을 사용하여 단위셀에 포함된 전극을 측정하고 검사하는 단위셀 검사장치, 그를 포함하는 전극조립체 제조설비 및 제조방법에 관한 것이다.

일반적으로 이차전지(secondary battery)는 충전이 불가능한 일차 전지와는 달리 충전 및 방전이 가능한 전지를 말하며, 이러한 이차전지는 폰, 노트북 컴퓨터 및 캠코더 등의 첨단 전자 기기 분야에서 널리 사용되고 있다.

상기한 이차전지는 전극조립체가 금속 캔에 내장되는 캔형 이차전지와, 전극조립체가 파우치에 내장되는 파우치형 이차전지로 분류된다. 그리고 상기 파우치형 이차전지는 전극조립체, 전해액, 상기 전극조립체와 상기 전해액을 수용하는 파우치를 포함한다.

그리고 상기 전극조립체는 하나 이상의 단위셀을 포함하고, 상기 단위셀은 분리막을 개재한 상태로 제1 전극과 제2 전극이 교대로 배치되는 구조를 가진다. 여기서 제1 전극은 양극이고, 제2 전극음 음극이다. 특히 음극은 양극 보다 큰 면적을 가진다.

여기서 상기한 전극조립체는 단위셀의 최외각에 배치된 전극을 기준으로 단위셀을 다단으로 배치하게 되는데, 이때 단위셀의 최외각에 양극이 배치될 경우 양극은 음극 보다 면적이 작기 때문에 단위셀과 단위셀 사이의 전장 및 전폭 공차가 크게 발생하는 문제점이 있었다.

특허등록번호 제10-0958649호.

본 발명은 장파장 적외선을 사용하여 단위셀에 포함된 음극의 위치를 정확하게 측정할 수 있고, 이에 따라 음극을 기준으로 단위셀을 다단으로 배치할 수 있으며, 그 결과 단위셀과 단위셀 사이의 전장 및 전폭 공차를 크게 감소시킬 수 있다. 즉, 단위셀의 내부에 음극이 배치되더라도 장파장 적외선을 사용하여 음극의 위치를 정확하게 측정할 수 있는 단위셀 검사장치, 그를 포함하는 전극조립체 제조설비 및 제조방법을 해결하고자하는 과제로 한다.

상기 단위셀은 분리막과 분리막 사이에 전극이 배치되는 구조를 가지며, 상기 촬영부는 장파장 적외선으로 상기 분리막을 투과하여 상기 단위셀에 포함된 전극의 엣지부에 대한 열 사진을 취득할 수 있다.

상기 촬영부는, 상기 단위셀의 엣지부를 각각 촬영하는 4개의 장파장 적외선 카메라로 마련되고, 상기 메인 히팅부는, 상기 단위셀의 엣지부를 각각 고온의 빛으로 가열하여 상기 단위셀에 포함된 전극의 온도를 상승시키는 4개의 장파장 적외선 램프로 마련되고, 4개의 장파장 적외선 램프는 상기 4개의 장파장 적외선 카메라에 각각 결합될 수 있다.

상기 검사유닛은, 상기 촬영부에 위치한 상기 단위셀의 양쪽 단부를 지지함과 동시에 가열하여 상기 단위셀에 포함된 전극의 엣지부 온도를 상승시키는 보조 히팅부를 더 포함할 수 있다.

상기 단위셀 검사장치는, 상기 단위셀을 상기 검사유닛까지 이송하는 이송유닛을 더 포함할 수 있다.

상기 단위셀 검사장치는, 상기 검사유닛과 상기 이송유닛이 설치되는 본체유닛을 더 포함하고, 상기 본체유닛은, 상기 이송유닛이 설치되는 하부 본체와, 상기 하부 본체의 상부에 설치되는 상부 본체와, 상기 검사유닛을 상기 상부 본체에 결합하는 제1 브라켓을 포함하며, 상기 제1 브라켓은, 상기 상부 본체에 결합되는 상하 결합부, 상기 상하 결합부에 결합되는 좌우 결합부, 일단은 좌우 결합부에 결합되고 타단에 상기 촬영부가 결합되는 전후 결합부를 포함할 수 있다.

상기 상하 결합부는, 상기 상부 본체에 상기 단위셀의 두께방향으로 높이 조절 가능하게 결합되면서 상기 단위셀을 기준으로 상기 촬영부의 높이가 조절되고, 상기 좌우 결합부는, 상기 상하 결합부에 상기 단위셀의 전장방향으로 위치 조절 가능하게 결합되면서 상기 단위셀의 전장방향으로 상기 촬영부의 위치가 조절되며, 상기 촬영부는, 상기 전후 결합부에 상기 단위셀의 전폭방향으로 위치 조절 가능하게 결합되면서 상기 단위셀의 전폭방향으로 상기 촬영부의 위치가 조절될 수 있다.

상기 본체유닛은, 상하방향으로 위치하는 전후 결합부와 보조 히팅부를 연결하여 상기 전후 결합부의 고정력을 높이는 제2 브라켓을 더 포함하고, 상기 전후 결합부는 상기 제2 브라켓에 상기 단위셀의 두께방향으로 높이 조절 가능하게 결합될 수 있다.

상기 검사부는, 상기 촬영부에 의해 촬영된 열 사진과 미리 입력된 전극의 엣지부의 정상 사진을 대비하여 상기 전극 엣지부의 변형 여부를 더 검사할 수 있다.

상기 전극은 음극일 수 있다.

한편, 본 발명의 전극조립체 제조설비는 단위셀을 공급하는 단위셀 공급장치; 상기 단위셀 공급장치에 의해 공급된 상기 단위셀의 엣지부를 장파장 적외선으로 촬영하여 상기 단위셀에 포함된 전극의 엣지부 위치를 측정하고, 측정된 전극 엣지부를 통해 전극의 위치를 측정하는 청구항 1에 따른 단위셀 검사장치; 및 상기 단위셀 검사장치에 의해 측정된 전극의 위치를 기준으로 단위셀을 순차적으로 배치하는 단위셀 배치장치를 포함할 수 있다.

상기 단위셀 배치장치는, 전극 위치가 측정된 단위셀을 순차적으로 배치하는 단위셀 배치유닛과, 순차적으로 배치되는 단위셀의 배치 상태를 검사하는 단위셀 검사유닛을 포함할 수 있다.

한편, 본 발명의 전극조립체 제조방법은 (a) 단위셀을 공급하는 단계; (b) 공급된 단위셀의 엣지부를 장파장 적외선으로 촬영하여 상기 단위셀에 포함된 전극의 엣지부를 측정하고, 측정된 전극 엣지부를 통해 전극 위치를 측정하는 단계; 및 (c) 상기 전극 위치가 측정된 단위셀을 순차적으로 배치하여 전극조립체를 제조하는 단계를 포함하며, 상기 (b) 단계는, 상기 (a) 단계에서 공급된 단위셀을 이송하는 이송공정; 이송된 단위셀의 엣지부를 가열하여 상기 단위셀에 포함된 전극의 온도를 상승시키는 히팅공정; 상기 단위셀의 엣지부를 장파장 적외선으로 촬영하여 상기 단위셀에 포함된 전극의 엣지부에 대한 열 사진을 취득하는 촬영공정; 및 상기 전극의 엣지부의 열 사진에서 상기 전극의 엣지부를 측정하고, 측정된 전극 엣지부를 통해 전극 위치를 측정하는 검사공정을 포함할 수 있다.

상기 히팅공정은, 장파장 적외선 램프를 사용하여 상기 단위셀의 엣지부를 가열하고, 상기 촬영공정은, 장파장 적외선 카메라를 사용하여 상기 단위셀의 엣지부를 촬영할 수 있다.

상기 단위셀은, 분리막과 분리막 사이에 전극이 배치되는 구조를 가지되, 상기 전극은 음극으로 마련되고, 상기 촬영공정은, 장파장 적외선을 사용하여 상기 분리막을 투과한 다음 음극의 엣지부를 촬영할 수 있다.

본 발명의 단위셀 검사장치는 검사유닛을 포함함으로써 단위셀의 엣지부를 장파장 적외선으로 촬영할 수 있고, 상기 단위셀에 포함된 전극(즉, 음극) 엣지부의 위치를 정확하게 측정할 수 있으며, 더불어 전극 엣지부의 변형 여부를 검사할 수 있다.

또한, 본 발명의 전극조립체 제조설비는 단위셀 검사장치를 포함함으로써 단위셀에 포함된 음극을 기준으로 단위셀을 다단으로 배치할 수 있고, 그에 따라 단위셀과 단위셀 사이의 전장 및 전폭 공차를 크게 감소시킬 수 있으며, 그 결과 단위셀 배치 불량을 방지할 수 있다.

도 1은 본 발명의 제1 실시예에 따른 전극조립체를 도시한 측면도.
도 2는 본 발명의 제2 실시예에 따른 단위셀 검사장치를 도시한 정면 사시도.
도 3은 본 발명의 제2 실시예에 따른 단위셀 검사장치를 도시한 배면 사시도.
도 4는 본 발명의 제2 실시예에 따른 단위셀 검사장치를 도시한 정면도.
도 5는 본 발명의 제2 실시예에 따른 단위셀 검사장치를 도시한 배면도.
도 6은 본 발명의 제2 실시예에 따른 단위셀 검사장치를 도시한 측면도.
도 7은 본 발명의 제2 실시예에 따른 단위셀 검사장치를 도시한 평면도.
도 8은 본 발명의 제2 실시예에 따른 단위셀 검사장치의 제2 브라켓을 도시한 사시도.
도 9는 본 발명의 제2 실시예에 따른 단위셀 검사장치를 통해 단위셀 엣지부를 촬영하는 상태를 도시한 평면도.
도 10은 본 발명의 제3 실시예에 따른 전극조립체 제조설비를 도시한 측면도.
도 11은 본 발명의 제3 실시예에 따른 전극조립체 제조방법을 나타낸 순서도.
도 12는 본 발명의 실험예로, 촬영할 단위셀의 엣지부를 표시한 평면도.
도 13 및 도 14는 본 발명의 비교예와 제조예에 의해 촬영된 단위셀 엣지부에 대한 열 사진.

이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 본 발명의 실시예를 상세히 설명한다. 그러나 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다. 그리고 도면에서 본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 유사한 부분에 대해서는 유사한 도면 부호를 붙였다.

[본 발명의 제1 실시예에 따른 전극조립체]

본 발명의 제1 실시예에 따른 전극조립체(1)는 도 1에 도시되어 있는 것과 같이, 하나, 또는 둘 이상의 단위셀(10)이 상하방향으로 배치되는 구조를 가지며, 상기 단위셀(10)은 전극(11)과 분리막(12)이 교대로 배치되는 구조를 가진다.

상기 전극(11)은 양극(11a)과 음극(12b)을 포함하고, 상기 음극(11b)은 상기 양극(11a) 보다 큰 면적을 가진다. 물론, 분리막(12)은 음극(11b) 보다 큰 면적을 가진다.

예로, 전극조립체(1)는 도 1을 참조하면, 3개 이상의 단위셀(10)이 상하방향으로 배치되는 구조를 가지며, 상기 단위셀(10)은 양극(11a), 분리막(12), 음극(11b) 및 분리막(12)이 상하방향을 따라 순차적으로 배치되는 4층 구조를 가진다.

이와 같은 구조를 가진 본 발명의 제1 실시예에 따른 전극조립체(1)는 단위셀에 포함된 음극(11b)을 기준으로 단위셀(10)이 다단으로 배치된다.

즉, 도 1을 참조하면, 본 발명의 제1 실시예에 따른 전극조립체(1)에서 단위셀(10)은 분리막(12)과 분리막(12) 사이에 배치된 음극(11b)을 기준으로 배치되며, 이에 따라 단위셀들은 'α' 수직선을 기준으로 정렬되기 때문에 단위셀(10)과 단위셀(10) 사이의 전폭 공차 및 전장 공차를 감소할 수 있고, 그 결과 단위셀(10)의 배치불량을 방지할 수 있다.

여기서 분리막(12)과 분리막(12) 사이에 배치된 음극(11b)은 본 발명의 제2 실시예에 따른 단위셀 검사장치를 통해 측정된다. 특히 본 발명의 제2 실시예에 따른 단위셀 검사장치(200)는 단위셀(10) 내부에 배치된 음극(11b)의 위치를 정확히 측정할 수 있고, 특히 음극(11b) 엣지부의 변형 여부도 검사할 수 있다.

이하, 본 발명의 제2 실시예에 따른 단위셀 검사장치(200)를 첨부된 도면을 참조하여 자세히 설명한다.

한편, 본 발명은 양극(11a), 분리막(12), 음극(11b) 및 분리막(12)이 상하방향을 따라 순차적으로 배치되는 4층 구조의 단위셀(10)을 하나의 실시예로 설명한다.

[본 발명의 제2 실시예에 따른 단위셀 검사장치]

본 발명의 제2 실시예에 따른 단위셀 검사장치(200)는 장파장 적외선을 사용하여 단위셀(10)의 엣지부를 촬영함으로써 상기 단위셀(10)에 포함된 전극(즉, 음극)의 위치를 측정할 수 있고, 전극(11)의엣지부의 변형 여부도 검사할 수 있다.

즉, 본 발명의 제2 실시예에 따른 단위셀 검사장치(200)는 도 2 내지 도 9에 도시되어 있는 것과 같이, 이송유닛(210), 검사유닛(220) 및 본체유닛(230)을 포함한다.

이송유닛

이송유닛(210)은 공급된 단위셀(10)을 검사유닛까지 이송하기 위한 것이다.

즉, 이송유닛(210)은 공급된 단위셀(10)을 검사유닛(220)까지 이송하는 컨베이어벨트와, 컨베이어벨트에 일정한 간격으로 구비되고 컨베이어벨트를 따라 단위셀(10)이 이송되도록 컨베이어벨트에 단위셀(10)을 달라 붙게 하는 흡착부를 포함한다. 여기서 흡착부는 공기 흡입력을 이용하여 단위셀(10)을 흡착함에 따라 단위셀(10)을 컨베이어벨트에 달라 붙게 한다.

이와 같은 구조를 가진 이송유닛(210)은 단위셀(10)이 공급되면, 흡착부에 의해 단위셀(10)이 컨베이어벨트에 달라 붙게 되고, 컨베이어벨트에 달라 붙은 단위셀(10)은 컨베이어벨트에 의해 검사유닛(220)까지 이송된다. 이때 흡착부의 흡입력을 제거되면서 단위셀(10)은 컨베이어벨트로부터 떨어진다.

검사유닛

검사유닛(220)은 장파장 적외선을 통해 단위셀(10)의 엣지부를 촬영하여 상기 단위셀(10)에 포함된 전극(11), 바람직하게는 음극(11b)의 엣지부를 측정하고, 측정된 음극(11b) 엣지부를 통해 음극(11b)의 위치를 측정하는 구조를 가진다. 특히 검사유닛(220)은 음극(11b)의 엣지부를 측정할 때 음극(11b) 엣지부의 변형 여부도 검사한다.

즉, 검사유닛(220)은 메인 히팅부(221), 촬영부(222), 검사부(223) 및 보조 히팅부(224)를 포함한다.

메인 히팅부(221)는 장파장 적외선으로 전극(11)의 엣지부를 촬영하기 위해 단위셀(10)에 포함된 전극(11)의 엣지부의 온도를 상승시키기 위한 것이다.

즉, 메인 히팅부(221)는 이송유닛(210)으로부터 이송된 단위셀(10) 엣지부를 가열하여 상기 단위셀(10)에 포함된 전극(11)의 온도를 상승시킨다. 여기서 전극(11)은 양극(11a)과 음극(11b)을 포함한다. 이에 따라 메인 히팅부(221)는 단위셀(10)에 포함된 양극(11a) 엣지부와 음극(11b) 엣지부의 온도를 상승시킨다.

한편, 메인 히팅부(221)는 상기 단위셀(10)의 엣지부를 각각 고온의 빛으로 가열하여 상기 전극(11)의 엣지부의 온도를 상승시키는 4개의 장파장 적외선 램프로 마련된다.

한편, 장파장 적외선(long-wave infrared) 램프는 장파장 적외선을 발산하여 광원으로 물체를 조명 및 가열한다. 여기서 장파장 적외선은 파장 약700nm에 이르는 전자기파의 총칭으로, 빗의 스펙트럼에서 적색 부분의 바깥쪽에 해당한다. 즉, 단위셀에 포함된 전극(11)은 장파장 적외선을 흡수하면 전극(11) 내의 열운동에 의해 온도가 상승한다.

촬영부(222)는 상기 단위셀의 엣지부를 장파장 적외선으로 촬영하여 상기 단위셀(10)에 포함된 전극(11)의 엣지부에 대한 열 사진을 취득하기 위한 것이다.

즉, 촬영부(222)는 도 2를 참조하면 상기 단위셀(10)의 엣지부의 상부에 구비되고 상기 단위셀(10)의 엣지부를 각각 촬영하는 4개의 장파장 적외선 카메라로 마련된다. 상기 4개의 장파장 적외선 카메라는 상기 단위셀(10)의 엣지부에 위치한 전극(11)의 엣지부에 대한 열 사진을 각각 취득한다. 다시 말해 도 1을 참조하면 촬영부(222)는 단위셀(10)의 최상단에 배치된 양극(11a) 엣지부와 단위셀(10)의 내부에 배치된 음극(11b) 엣지부의 열 사진을 취득한다. 이때 음극(11b)은 양극(11a) 보다 큰 면적을 가지기 때문에 열 사진에는 양극(11a) 엣지부와 음극(11b) 엣지부가 겹친 상태로 표시된다(도 13 및 도 14 참조).

한편, 장파장 적외선(long-wave infrared) 카메라는 열화상 적외선 카메라라고도 하며, 물체에서 발산하는 열을 쉽게 탐지하는 기능을 가진다.

이에 따라 4개의 장파장 적외선 카메라는 단위셀(10)의 분리막(12)과 분리막(12) 사이에 배치된 음극(11b) 엣지부에서 발생하는 열을 쉽게 탐지할 수 있고, 이에 따라 음극(11b) 엣지부의 열 사진을 촬영할 수 있다.

이와 같은 구조를 가진 상기 촬영부(222)는, 단위셀(10)의 최상단에 배치된 양극(11a) 엣지부와 단위셀(10)의 내부에 배치된 음극(11b) 엣지부의 열 사진을 정확하게 촬영할 수 있다.

한편, 4개의 장파장 적외선 램프는 상기 4개의 장파장 적외선 카메라에 각각 결합된다. 즉, 장파장 적외선 램프는 장파장 적외선 카메라와 단위셀(10) 엣지부 사이에 배치된 상태로 장파장 적외선 카메라의 하부에 결합된다. 이에 따라 장파장 적외선 램프와 장파장 적외선 카메라로 조합된 조립체로 구성할 수 있다.

검사부(223)는 상기 촬영부(222)에 의해 촬영된 열 사진에서 상기 전극(11)의 엣지부 이미지를 측정하고, 측정된 전극(11)의 엣지부를 통해 전극(11)의 위치를 측정한다. 즉, 4개의 장파장 적외선 카메라로 촬영된 4개의 열 사진에서 전극(11)의 엣지부 이미지를 측정하고, 측정된 4개의 전극(11)의 엣지부를 연결하여 전극(11)의 위치(또는 이미지)를 측정한다.

특히 검사부(223)는 분리막(12)과 분리막(12) 사이에 배치된 전극(11)의 위치(또는 이미지)를 정확하게 측정할 수 있다.

한편, 검사부(223)는 상기 촬영부(222)에 의해 촬영된 열 사진과 미리 입력된 전극의 엣지부의 정상 사진을 대비하여 상기 전극(11)의 엣지부 변형 여부를 검사할 수 있다. 즉, 검사부(223)는 촬영된 열 사진에서 전극(11)의 엣지부의 이미지를 측정한 다음, 미리 입력된 정상 전극의 엣지부를 대비한다. 이때 측정 전극(11)의 엣지부가 접히거나 주름이 발생하거나 들뜸 형상이 발생하여 정상 범위를 벗어나면 불량으로 판단하고, 정상 범위 내에 위치하면 정상으로 판단한다.

한편, 검사유닛(220)은 전극 엣지부의 가열성을 높이기 위해 보조 히팅부(224)를 더 포함할 수 있다. 즉, 메인 히팅부(221)는 전극(11)의 엣지부 상면을 가열하고, 보조 히팅부(224)는 전극(11)의 엣지부 저면을 가열한다.

보다 상세히 설명하면, 상기 보조 히팅부(224)는 상기 촬영부(222)에 위치한 상기 단위셀(10)의 전장방향으로 양단을 각각 지지하는 지지판(224a)과, 지지판(224a)에 지지된 단위셀(10)의 양단을 각각 가열하는 가열편(224b)을 포함한다. 즉, 보조 히팅부(224)는 상기 단위셀(10)의 양단이 지지판(224a)에 지지되면 가열편(224b)이 지지판(224a)에 지지된 단위셀(10)의 양단을 가열하여 상기 단위셀(10)에 포함된 전극(11)의 엣지부 온도를 상승시킨다.

따라서 본 발명의 검사유닛(220)은 장파장 적외선을 적용함으로써 단위셀(10)에 포함된 전극(11), 특히 분리막(12)과 분리막(12) 사이에 배치된 전극인 음극(11b)의 위치를 정확하게 측정할 수 있고, 특히 전극(11)의 엣지부의 변형 여부를 손쉽게 검사할 수 있다.

본체유닛

본체유닛(230)은 상기 검사유닛(220)과 상기 이송유닛(210)이 설치되는 것으로, 이송유닛(210)이 설치되는 하부 본체(231)와, 하부 본체(231)의 상부에 설치되는 상부 본체(232) 및 검사유닛(220)을 상부 본체(232)에 결합하는 제1 브라켓(233)을 포함한다.

여기서 제1 브라켓(233)은 상기 상부 본체(232)에 결합되는 상하 결합부(233a), 상기 상하 결합부(233a)에 결합되는 좌우 결합부(233b), 일단은 좌우 결합부(233b)에 결합되고 타단은 상기 단위셀(10)의 이송방향으로 길게 연장되면서 상기 촬영부(222)가 결합되는 전후 결합부(233c)를 포함한다.

특히, 상하 결합부(233a)는 상기 상부 본체(232)에 결합되되, 상기 단위셀(10)을 향하는 방향(도 2에서 보았을 때 상하방향) 또는 반대방향으로 높이 조절 가능하게 결합되는 구조를 가지며, 이에 따라 상기 단위셀(10)을 기준으로 상기 촬영부(222)의 높이를 조절할 수 있다. 예로, 상기 상하 결합부(233a)에 단위셀(10)의 두께 방향으로 길게 제1 장홀(233a-1)이 형성되고, 상부 본체(232)에 상기 제1 장홀을 관통하여 제1 너트(233a-3)가 결합되는 제1 볼트(233a-2)가 형성된다. 이에 따라 제1 너트의 조임과 풀림에 따라 상기 제1 장홀 내에서 상하 결합부(233a)를 상승시키거나 또는 하강시킬 수 있고, 그에 따라 상하 결합부(233a)와 연동하여 촬영부(222)가 이동하면서 상기 단위셀(10)을 기준으로 상기 촬영부(222)의 높이를 조절할 수 있다.

또한, 좌우 결합부(233b)는 상기 상하 결합부(233a)에 결합되되, 상기 단위셀(10)의 전장방향(도 2를 참조하면 단위셀의 전장방향)으로 위치 조절 가능하게 결합되는 구조를 가진다. 이에 따라 상기 단위셀(10)의 전장방향으로 상기 촬영부(222)의 위치를 조절할 수 있다. 예로, 상기 좌우 결합부(233b)에 단위셀(10)의 전장방향으로 길게 제2 장홀(233b-1)이 형성되고, 상기 상하 결합부(233a)는 상기 좌우 결합부(233b)의 제2 장홀을 관통하여 제2 너트(233b-3)가 결합되는 제2 볼트(233b-2)가 형성된다. 이에 따라 제2 너트의 조임과 풀림에 따라 상기 제2 장홀 내에서 상기 좌우 결합부(233b)를 단위셀(10)의 전장방향으로 이동시킬 수 있고, 그 결과 좌우 결합부(233b)와 연동하여 상기 단위셀(10)의 전장방향으로 상기 촬영부(222)의 위치를 조절할 수 있다.

또한, 상기 촬영부(222)는 상기 전후 결합부(233c)에 결합되되, 상기 단위셀(10)의 전폭방향(도 2를 참조하면 단위셀의 전폭방향)으로 위치 조절 가능하게 결합되는 구조를 가진다. 이에 따라 단위셀(10)의 전폭방향으로 촬영부(222)의 위치를 조절할 수 있다. 예로, 상기 전후 결합부(233c)에 단위셀(10)의 전폭방향으로 길게 제3 장홀(233c-1)이 형성되고, 상기 촬영부(222)는 상기 전후 결합부(233c)의 제3 장홀을 관통하여 제3 너트(233c-3)가 결합되는 제3 볼트(233c-3)가 형성된다. 이에 따라 제3 너트의 조임과 풀림에 따라 상기 제3 장홀 내에서 상기 촬영부(222)를 단위셀(10)의 전폭방향으로 위치를 조절할 수 있다.

따라서 본 발명은 제1 브라켓(233)을 포함함으로써 단위셀(10)의 엣지부에 맞게 촬영부(222)의 위치를 정확하게 조절할 수 있다.

한편, 본체유닛(230)은 상하방향으로 위치하는 전후 결합부(233c)와 보조 히팅부(224)를 연결하여 상기 전후 결합부(233c)에 결합된 상기 촬영부(222)의 고정력을 높이는 제2 브라켓(234)을 더 포함한다.

즉, 제2 브라켓(234)은 촬영부(222)의 고정력을 높이기 위한 것으로, 전후 결합부(233c)의 단부를 보조 히팅부(224)에 연결시킴으로써 촬영부(222)의 고정력을 높일 수 있다.

한편, 전후 결합부(233c)는 제2 브라켓(234)에 상하방향으로 높이 조절 가능하게 결합되는 구조를 가진다. 예로, 제2 브라켓(234)에는 단위셀 방향으로 길게 제4 장홀(234a)이 형성되고, 상기 전후 결합부(233c)의 단부에는 제4 장홀을 관통하여 제4 너트(234c)가 결합되는 제4 볼트(234b)가 형성된다. 이에 따라 제4 너트의 조임 및 풀림에 따라 전후 결합부(233c)를 제2 브라켓(234)의 제4 장홀 내에서 이동시킬 수 있다.

따라서 본 발명의 제2 실시예에 따른 단위셀 검사장치(200)는 장파장 적외선을 사용함으로써 단위셀(10)에 포함된 전극(11), 특히 음극(11b) 엣지부를 정확하게 측정할 수 있고, 특히 음극(11b)의 변형 여부를 정확하게 검사할 수 있다.

이하, 본 발명의 제2 실시예에 따른 단위셀 검사장치(200)의 검사방법을 설명한다.

먼저, 단위셀(10)이 공급되면, 이송유닛(210)은 단위셀(10)을 검사유닛(220)까지 이송한다. 이때 단위셀(10)의 양단은 보조 히팅부(224)에 각각 지지된다. 이와 같은 상태에서 검사유닛(220)의 메인 히팅부(221)와 보조 히팅부(224)는 단위셀(10)의 양단을 가열하여 단위셀(10)에 포함된 전극(11)의 온도를 상승시킨다. 여기서 상기 메인 히팅부(221)는 4개의 장파장 적외선 램프로 마련되면서 단위셀(10)에 포함된 전극(11)의 엣지부 온도를 효과적으로 상승시킬 수 있다.

전극(11)의 온도가 상승하면, 촬영부(222)는 단위셀의 엣지부를 장파장 적외선으로 촬영하여 상기 단위셀(10)에 포함된 전극(11), 바람직하게는 음극(11b)의 엣지부에 대한 열사진을 취득한다. 이때 촬영부(222)는 음극(11b)이 단위셀(10)의 최상단에 위치하면 직접 열사진을 취득하고, 단위셀(10) 내에 위치하면, 분리막(12)을 투과하여 음극(11b)의 열사진을 취득한다.

다음으로, 검사부(223)는 취득한 음극(11b) 엣지부의 열 사진에서 음극(11b) 엣지부를 측정하고, 측정된 음극(11b) 엣지부를 연결하여 음극(11b) 위치를 측정할 수 있다. 특히 검사부(223)는 음극(11b) 엣지부의 열 사진과 입력된 전극(11)의 엣지부의 정상 사진을 대비하여 상기 전극(11)의 엣지부의 변형 여부를 검사한다. 즉, 검사부(223)는 음극(11b) 엣지부가 접히거나, 주름이 발생하거나 파단되는 등의 변형이 발생할 경우 불량으로 판별할 수 있다.

이하, 본 발명의 다른 실시예를 설명함에 있어 전술한 실시예와 동일한 구성과 기능을 가지는 구성에 대해서는 동일한 구성부호를 사용하며, 중복되는 설명은 생략한다.

[본 발명의 제3 실시예에 따른 전극조립체 제조설비]

본 발명의 제3 실시예에 따른 전극조립체 제조설비는 도 10에 도시되어 있는 것과 같이, 앞에서 설명한 제2 실시예에 따른 검사장치를 포함하는 구조를 가지며, 이에 따라 단위셀(10)에 포함된 전극인 음극(11b)을 기준으로 단위셀(10)을 다단으로 배치하여 전극조립체(1)를 제조할 수 있다.

즉, 본 발명의 제3 실시예에 따른 전극조립체 제조설비는 단위셀(10)을 공급하는 단위셀 공급장치(100), 상기 단위셀 공급장치(100)로부터 공급된 상기 단위셀(10)의 엣지부를 장파장 적외선으로 촬영하여 상기 단위셀(10)에 포함된 전극(11)의 엣지부 위치를 측정하고, 측정된 전극(11)의 엣지부를 통해 전극(11)의 위치를 측정하는 단위셀 검사장치(200), 및 상기 단위셀 검사장치(200)에 의해 검사가 완료된 단위셀(10)을 순차적으로 배치하여 전극조립체(1)를 제조하는 단위셀 배치장치(300)를 포함한다.

한편, 상기 단위셀 검사장치(200)는 제2 실시예의 단위셀 검사장치(200)와 동일한 구성과 기능을 가지며, 이에 따라 중복되는 설명은 생략한다.

상기 단위셀 배치장치(300)는 단위셀 검사장치(200)에서 측정된 단위셀에 포함된 전극인 음극(11b)을 기준으로 단위셀(10)을 배치하며, 이에 따라 단위셀(10)과 단위셀(10) 사이의 전장 및 전폭 공차를 감소시킬 수 있다.

예로, 상기 단위셀 배치장치(300)는 상기 단위셀 검사장치(200)에 의해 검사가 완료된 단위셀(10)을 단위셀(10)에 포함된 음극(11b)을 기준으로 배치하는 단위셀 배치유닛(310)과, 상기 단위셀 배치유닛(310)에 의해 순차적으로 배치되는 단위셀(10)의 배치 상태를 검사하는 단위셀 검사유닛(320)을 포함한다.

즉, 단위셀 검사유닛(320)은 최상단에 배치된 단위셀(10)을 촬영하여 단위셀(10)의 위치 및 형태를 측정한다. 다음으로 상기 최상단 단위셀(10)의 위에 다른 단위셀(10)을 적층한다. 다음으로 최상단 단위셀(10)의 위에 배치된 다른 단위셀(10)을 촬영하여 다른 단위셀(10)의 위치 및 형태를 측정한다. 다음으로 최상단 단위셀(10)과 다른 단위셀(10)을 대비하여 사행불량(틀어짐 등의 불량)을 검사한다.

한편, 단위셀 검사유닛(320)은 상부 본체(232)에 결합되고, 비전 카메라를 사용한다.

한편, 단위셀 배치유닛(310)은 최상단에 배치되는 단위셀(10)의 높이를 일정하게 유지시키기 위해 단위셀(10)이 배치되는 배치판을 설정된 간격으로 하강시킬 수 있다.

한편, 단위셀 검사유닛(320)은 배치되는 단위셀(10)을 조명하는 단위셀 조명부(321)를 더 포함하고, 상기 단위셀 조명부(321)는 상기 상부 본체(232)에 힌지 결합되되, 도 3에서 보았을 때 힌지를 중심으로 상 또는 하로 회전 가능하게 결합된다. 이에 따라 단위셀(10)을 안정적으로 조명할 수 있다.

따라서 본 발명의 제3 실시예에 따른 전극조립체 제조설비는 음극(11b)을 기준으로 단위셀(10)을 배치함으로써 정렬도를 높일 수 있고, 단위셀(10)과 단위셀(10) 사이의 전장 및 전폭 공차를 최소화할 수 있다.

이하, 본 발명의 제3 실시예에 따른 전극조립체 제조설비를 이용한 제조방법을 설명한다.

[본 발명의 제3 실시예에 따른 전극조립체 제조방법]

본 발명의 제3 실시예에 따른 전극조립체 제조방법은 도 11에 도시되어 있는 것과 같이, (a) 단위셀(10)을 공급하는 단계, (b) 공급된 단위셀(10)에 포함된 전극(11)의 엣지부를 측정하고, 측정된 전극(11)의 엣지부를 통해 전극(11)의 위치를 측정하는 단계, 및 (c) 정상으로 판별된 단위셀(10)을 순차적으로 배치하여 전극조립체를 제조하는 단계를 포함한다.

한편, 본 발명의 제3 실시예에 따른 전극조립체 제조방법은 전극조립체 제조설비를 사용하며, 상기 전극조립체 제조설비는 단위셀 공급장치(100), 단위셀 검사장치(200) 및 단위셀 배치장치(300)를 포함한다.

(a) 단계는 단위셀 공급장치(100)를 사용하여 단위셀(10)을 공급한다. 한편, 단위셀(10)은 전극(11)과 분리막(12)이 교대로 배치되는 구조를 가지며, 상기 전극(11)은 양극(11a) 및 음극(11b)을 포함한다. 한편, 음극(11b)은 양극(11a) 보다 큰 면적을 가지고, 분리막(12)은 음극(11b) 보다 큰 면적을 가진다.

여기서 단위셀(10)은 양극(11a), 분리막(12), 음극(11b) 및 분리막(12)이 상하방향을 따라 순차적으로 배치되는 4층 구조를 가진다.

(b) 단계는 단위셀 검사장치(200)를 이용하여 (a) 단계에서 공급된 단위셀의 엣지부를 장파장 적외선으로 촬영하여 상기 단위셀(10)에 포함된 전극 중 음극(11b)의 엣지부를 측정하고, 측정된 음극(11b) 엣지부를 통해 음극(11b) 위치를 측정한다.

예로, (b) 단계는 이송공정, 히팅공정, 촬영공정 및 검사공정을 포함하고, 단위셀 검사장치(200)는 이송유닛(210), 검사유닛(220)을 포함하고, 상기 검사유닛(220)은 이송부, 메인 히팅부(221), 촬영부(222), 검사부(223) 및 보조 히팅부(224)를 포함한다.

이송공정은 이송유닛(210)을 통해 상기 (a) 단계에서 공급된 단위셀(10)을 검사유닛(220)까지 이송한다.

히팅공정은 검사유닛(220)에 이송된 단위셀(10)의 양단(바람직하게는 단위셀의 엣지부)를 메인 히팅부(221)로 가열하여 단위셀(10)에 포함된 전극(11)의 온도를 상승시킨다. 이때 히팅공정에서 메인 히팅부(221)는 장파장 적외선 램프를 사용하여 상기 단위셀(10)의 엣지부를 가열한다.

특히 히팅공정은 보조 히팅부(224)를 사용하여 검사유닛(220)에 이송된 단위셀(10)의 단부 저면을 가열하여 단위셀(10)에 포함된 전극(11)의 온도를 상승시킨다.

촬영공정은 촬영부(222)를 통해 상기 단위셀(10)의 엣지부를 장파장 적외선으로 촬영하여 상기 단위셀(10)에 포함된 전극(11)의 엣지부에 대한 열 사진을 취득한다. 즉, 양극(11a) 엣지부의 열 사진과 음극(11b) 엣지부의 열사진을 취득한다.

이때 촬영부(222)는 장파장 적외선 카메라를 사용하여 상기 단위셀(10)의 엣지부를 정확하게 촬영한다.

정리하면, 상기 촬영공정은, 장파장 적외선을 사용하여 상기 양극(11a)의 엣지부는 직접 촬영하고, 상기 음극(11b)의 엣지부는 장파장 적외선을 사용하여 상기 분리막(12)을 투과한 다음 촬영한다.

검사공정은 검사부(223)를 통해 상기 전극 중 음극(11b) 엣지부의 열사진에서 음극(11b) 엣지부를 측정하고, 측정된 음극(11b) 엣지부들을 연결하여 음극(11b)의 위치를 측정한다. 이때 음극(11b)의 위치는 음극(11b)의 전체 면적일 수 있고, 음극(11b)의 중심점일 수도 있다.

특히 검사공정은 전극 엣지부에 대한 열 사진과 미리 입력된 전극의 엣지부에 대한 정상 사진을 대비하여 상기 전극의 엣지부 변형 여부를 검사한다.

(c) 단계는 단위셀 배치장치(300)를 통해 상기 (b) 단계에서 정상으로 판별된 단위셀(10)을 순차적으로 배치하여 전극조립체(1)를 제조한다. 이때 단위셀(10)은 음극(11b)을 기준으로 배치된다.

여기서 단위셀 배치장치(300)는 단위셀 배치유닛(310)과 단위셀 검사유닛(320)을 포함한다.

즉, (c) 단계는 상기 단위셀 검사장치(200)에 의해 검사가 완료된 단위셀(10)을 단위셀 배치유닛(310)을 통해 순차적으로 적층하여 전극조립체(1)를 제조한다.

이때 (c) 단계는 단위셀 검사유닛(320)을 통해 적층되는 단위셀(10)의 사행불량(즉, 틀어짐)을 검사한다.

상기와 같은 단계가 완료되면, 완제품 전극조립체(1)를 제조할 수 있다.

[실험예]

양극(11a), 분리막(12), 음극(11b) 및 분리막(12)이 상하방향을 따라 순차적으로 배치되는 4층 구조의 단위셀(10)을 복수개 준비한다.

비교예

광학계 열화상 카메라를 준비하고, 도 12에 도시된 바와 같이, 단위셀(10)의 엣지부(10a)를 촬영한다.

제조예

광학계 장파장 적외선 카메라를 준비하고, 도 12에 도시된 바와 같이, 단위셀(10)의 엣지부(10a)를 촬영한다. 한편, 제조예의 광학계 장파장 적외선 카메라는 본 발명의 제2 실시예에 포함된 촬영부(222)와 동일한 구조를 가진다.

실험결과

단위셀(10)의 엣지부를 촬영한 비교예의 사진과 제조예의 사진 중 일부를 대비하면 도 13 및 도 14와 같다.

도 13에서 단위셀(10)의 동일한 엣지부를 촬영한 비교예의 사진과 제조예의 사진을 대비하면, 양극(11a)의 엣지부(11a-1), 분리막(12) 및 음극(11b)의 엣지부(11b-1)가 촬영된 것을 확인할 수 있고, 특히 제조예는 비교예 보다 양극(11a)의 엣지부(11a-1), 분리막(12) 및 음극(11b)의 엣지부(11b-1)가 정확하고 선명하게 촬영된 것을 확인할 수 있다. 특히 제조예는 음극(11b)의 엣지부(11b-1)에 접힘이 발생한 것을 정확하게 확인할 수 있다.

도 14에서, 비교예의 사진과 제조예의 사진에서 양극(11a)의 엣지부(11a-1), 분리막(12) 및 음극(11b)의 엣지부(11b-1)가 촬영된 것을 확인할 수 있고, 특히 제조예는 비교예 보다 양극(11a)의 엣지부, 분리막(12) 및 음극(11b) 엣지부가 정확하게 촬영된 것을 확인할 수 있다. 특히 제조예는 음극(11b)의 엣지부(11b-1)에 주름이 발생한 것을 정확하게 확인할 수 있다.

따라서 광학계 장파장 적외선 카메라를 사용하는 제조예는 비교예 보다 음극(11b) 엣지부를 정확하게 촬영할 수 있다는 것을 확인할 수 있다.

본 발명의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 균등 개념으로부터 도출되는 다양한 실시 형태가 가능하다.

1: 전극조립체
10: 단위셀
10a: 단위셀 엣지부
11: 전극
11a: 양극
11a-1: 양극 엣지부
11b: 음극
11b-1: 음극 엣지부
12: 분리막
100: 단위셀 공급장치
200: 단위셀 검사장치
210: 이송유닛
220: 검사유닛
221: 메인 히팅부
222: 촬영부
223: 검사부
224: 보조 히팅부
224a: 지지판
224b: 가열편
230: 본체유닛
231: 하부 본체
232: 상부 본체
233: 제1 브라켓
233a: 상하 결합부
233b: 좌우 결합부
233c: 전후 결합부
234: 제2 브라켓
300: 단위셀 배치장치
310: 단위셀 배치유닛
320: 단위셀 검사유닛
321: 단위셀 조명부

Claims

단위셀의 엣지부를 장파장 적외선으로 촬영하여 상기 단위셀에 포함된 전극의 엣지부 위치를 측정하는 검사유닛을 포함하며,
상기 검사유닛은,
상기 단위셀의 엣지부를 가열하여 상기 단위셀에 포함된 전극 엣지부의 온도를 상승시키는 메인 히팅부,
상기 단위셀의 엣지부를 장파장 적외선으로 촬영하여 상기 단위셀에 포함된 전극의 엣지부에 대한 열 사진을 취득하는 촬영부; 및
상기 촬영부에 의해 촬영된 열 사진에서 상기 전극의 엣지부를 측정하고, 측정된 전극 엣지부를 통해 전극 위치를 측정하는 검사부를 포함하는 단위셀 검사장치.
청구항 1에 있어서,
상기 단위셀은 분리막과 분리막 사이에 전극이 배치되는 구조를 가지며,
상기 촬영부는 장파장 적외선으로 상기 분리막을 투과하여 상기 단위셀에 포함된 전극의 엣지부에 대한 열 사진을 취득하는 단위셀 검사장치.
청구항 1에 있어서,
상기 촬영부는, 상기 단위셀의 엣지부를 각각 촬영하는 4개의 장파장 적외선 카메라로 마련되고,
상기 메인 히팅부는, 상기 단위셀의 엣지부를 각각 고온의 빛으로 가열하여 상기 단위셀에 포함된 전극의 온도를 상승시키는 4개의 장파장 적외선 램프로 마련되고,
4개의 장파장 적외선 램프는 상기 4개의 장파장 적외선 카메라에 각각 결합되는 단위셀 검사장치.
청구항 1에 있어서,
상기 검사유닛은, 상기 촬영부에 위치한 상기 단위셀의 양쪽 단부를 지지함과 동시에 가열하여 상기 단위셀에 포함된 전극의 엣지부 온도를 상승시키는 보조 히팅부를 더 포함하는 단위셀 검사장치.
청구항 1에 있어서,
상기 단위셀 검사장치는, 상기 단위셀을 상기 검사유닛까지 이송하는 이송유닛을 더 포함하는 단위셀 검사장치.
청구항 5에 있어서,
상기 단위셀 검사장치는, 상기 검사유닛과 상기 이송유닛이 설치되는 본체유닛을 더 포함하고,
상기 본체유닛은, 상기 이송유닛이 설치되는 하부 본체와, 상기 하부 본체의 상부에 설치되는 상부 본체와, 상기 검사유닛을 상기 상부 본체에 결합하는 제1 브라켓을 포함하며
상기 제1 브라켓은, 상기 상부 본체에 결합되는 상하 결합부, 상기 상하 결합부에 결합되는 좌우 결합부, 일단은 좌우 결합부에 결합되고 타단에 상기 촬영부가 결합되는 전후 결합부를 포함하는 단위셀 검사장치.
청구항 6에 있어서,
상기 상하 결합부는, 상기 상부 본체에 상기 단위셀의 두께방향으로 높이 조절 가능하게 결합되면서 상기 단위셀을 기준으로 상기 촬영부의 높이가 조절되고,
상기 좌우 결합부는, 상기 상하 결합부에 상기 단위셀의 전장방향으로 위치 조절 가능하게 결합되면서 상기 단위셀의 전장방향으로 상기 촬영부의 위치가 조절되며,
상기 촬영부는, 상기 전후 결합부에 상기 단위셀의 전폭방향으로 위치 조절 가능하게 결합되면서 상기 단위셀의 전폭방향으로 상기 촬영부의 위치가 조절되는 단위셀 검사장치.
청구항 7에 있어서,
상기 본체유닛은, 상하방향으로 위치하는 전후 결합부와 보조 히팅부를 연결하여 상기 전후 결합부의 고정력을 높이는 제2 브라켓을 더 포함하고,
상기 전후 결합부는 상기 제2 브라켓에 상기 단위셀의 두께방향으로 높이 조절 가능하게 결합되는 단위셀 검사장치.
청구항 1에 있어서,
상기 검사부는, 상기 촬영부에 의해 촬영된 열 사진과 미리 입력된 전극의 엣지부의 정상 사진을 대비하여 상기 전극 엣지부의 변형 여부를 더 검사하는 단위셀 검사장치.
청구항 1에 있어서,
상기 전극은 음극인 단위셀 검사장치.
단위셀을 공급하는 단위셀 공급장치;
상기 단위셀 공급장치에 의해 공급된 상기 단위셀의 엣지부를 장파장 적외선으로 촬영하여 상기 단위셀에 포함된 전극의 엣지부 위치를 측정하고, 측정된 전극 엣지부를 통해 전극의 위치를 측정하는 청구항 1에 따른 단위셀 검사장치; 및
상기 단위셀 검사장치에 의해 측정된 전극의 위치를 기준으로 단위셀을 순차적으로 배치하는 단위셀 배치장치를 포함하는 전극조립체 제조설비.
청구항 11에 있어서,
상기 단위셀 배치장치는, 전극 위치가 측정된 단위셀을 순차적으로 배치하는 단위셀 배치유닛과, 순차적으로 배치되는 단위셀의 배치 상태를 검사하는 단위셀 검사유닛을 포함하는 전극조립체 제조설비.
(a) 단위셀을 공급하는 단계;
(b) 공급된 단위셀의 엣지부를 장파장 적외선으로 촬영하여 상기 단위셀에 포함된 전극의 엣지부를 측정하고, 측정된 전극 엣지부를 통해 전극 위치를 측정하는 단계; 및
(c) 상기 전극 위치가 측정된 단위셀을 순차적으로 배치하여 전극조립체를 제조하는 단계를 포함하며,
상기 (b) 단계는,
상기 (a) 단계에서 공급된 단위셀을 이송하는 이송공정;
이송된 단위셀의 엣지부를 가열하여 상기 단위셀에 포함된 전극의 온도를 상승시키는 히팅공정;
상기 단위셀의 엣지부를 장파장 적외선으로 촬영하여 상기 단위셀에 포함된 전극의 엣지부에 대한 열 사진을 취득하는 촬영공정; 및
상기 전극의 엣지부의 열 사진에서 상기 전극의 엣지부를 측정하고, 측정된 전극 엣지부를 통해 전극 위치를 측정하는 검사공정을 포함하는 전극조립체 제조방법.
청구항 13에 있어서,
상기 히팅공정은, 장파장 적외선 램프를 사용하여 상기 단위셀의 엣지부를 가열하고,
상기 촬영공정은, 장파장 적외선 카메라를 사용하여 상기 단위셀의 엣지부를 촬영하는 전극조립체 제조방법.
청구항 14에 있어서,
상기 단위셀은, 분리막과 분리막 사이에 전극이 배치되는 구조를 가지되, 상기 전극은 음극으로 마련되고,
상기 촬영공정은, 장파장 적외선을 사용하여 상기 분리막을 투과한 다음 음극의 엣지부를 촬영하는 전극조립체 제조방법.