KR20220162785A - 터치 커패시턴스 데이터의 조정 방법 및 장치, 전자 기기, 저장 매체 - Google Patents

터치 커패시턴스 데이터의 조정 방법 및 장치, 전자 기기, 저장 매체 Download PDF

Info

Publication number
KR20220162785A
KR20220162785A KR1020227038573A KR20227038573A KR20220162785A KR 20220162785 A KR20220162785 A KR 20220162785A KR 1020227038573 A KR1020227038573 A KR 1020227038573A KR 20227038573 A KR20227038573 A KR 20227038573A KR 20220162785 A KR20220162785 A KR 20220162785A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
compensation
touch
data
capacitance
value
Prior art date
Application number
KR1020227038573A
Other languages
English (en)
Inventor
쥔차오 옌
펑 장
Original Assignee
칩원 테크놀로지(베이징) 컴퍼니 리미티드
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 칩원 테크놀로지(베이징) 컴퍼니 리미티드 filed Critical 칩원 테크놀로지(베이징) 컴퍼니 리미티드
Publication of KR20220162785A publication Critical patent/KR20220162785A/ko

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/041Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
    • G06F3/0416Control or interface arrangements specially adapted for digitisers
    • G06F3/0418Control or interface arrangements specially adapted for digitisers for error correction or compensation, e.g. based on parallax, calibration or alignment
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/041Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/041Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
    • G06F3/0416Control or interface arrangements specially adapted for digitisers
    • G06F3/0418Control or interface arrangements specially adapted for digitisers for error correction or compensation, e.g. based on parallax, calibration or alignment
    • G06F3/04186Touch location disambiguation
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/041Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
    • G06F3/044Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by capacitive means
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/041Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
    • G06F3/044Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by capacitive means
    • G06F3/0443Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by capacitive means using a single layer of sensing electrodes
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/041Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
    • G06F3/044Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by capacitive means
    • G06F3/0446Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by capacitive means using a grid-like structure of electrodes in at least two directions, e.g. using row and column electrodes
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/041Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
    • G06F3/046Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by electromagnetic means

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Human Computer Interaction (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Position Input By Displaying (AREA)
  • Electronic Switches (AREA)

Abstract

본 발명은 터치 커패시턴스 데이터의 조정 방법 및 장치, 전자 기기, 저장 매체를 제공한다. 상기 방법은, 터치 커패시턴스 데이터를 획득하는 단계(S210); 설정된 보상 스텝 길이에 따라 상기 터치 커패시턴스 데이터를 타겟값으로 조정하는 데 필요한 보상 커패시턴스 값 변화량을 계산하는 단계(S220); 상기 터치 커패시턴스 데이터가 비선형 범위에 있는지 여부를 판단하는 단계(S230); 및 판단 결과에 따라 상기 보상 커패시턴스 값 변화량을 이용하여 상응한 보상 동작을 수행하는 단계(S240)를 포함한다. 상기 방법은 터치 커패시턴스 데이터가 타겟값 근처까지 자동으로 조정될 수 있도록 하여 터치 커패시턴스 데이터를 조정하는 정확도를 향상시킨다.

Description

터치 커패시턴스 데이터의 조정 방법 및 장치, 전자 기기, 저장 매체
관련 출원의 상호 참조
본 출원은 2020년 05월 06일에 중국 특허청에 제출되고, 출원번호가 202010375902.9이며, 명칭이 "터치 커패시턴스 데이터의 조정 방법 및 장치, 전자 기기, 저장 매체"인 중국 특허출원의 우선권을 주장하고, 그 전체 내용은 참조로서 본 발명에 인용된다.
본 발명은 터치 제어 기술 분야에 관한 것으로, 특히 터치 커패시턴스 데이터의 조정 방법 및 장치, 전자 기기, 저장 매체에 관한 것이다.
터치 제어 기기에서, 터치 패널 상의 다수의 터치 센서는 터치 전에 수집된 터치 커패시턴스 데이터를 모두 하나의 통일된 값으로 조정하여, 터치될 때 수집되는 커패시턴스 데이터가 모두 통일된 기준값을 가지게 함으로써 터치 감지의 정확도를 보장해야 한다.
기존의 방법에서는 직접 터치 센서의 보상 커패시턴스 값에 대해 선형적으로 조정하였으나, 보상 커패시턴스 값과 터치 커패시턴스 데이터 사이에는 비선형적인 관계가 존재하므로 이러한 조정 방법은 제한적이고 터치 커패시턴스 데이터를 조정하는 정확도를 보장할 수 없었다.
본 발명의 실시예는 터치 커패시턴스 데이터의 조정 방법을 제공하고, 상기 방법은,
터치 커패시턴스 데이터를 획득하는 단계;
설정된 보상 스텝 길이에 따라 상기 터치 커패시턴스 데이터를 타겟값으로 조정하는 데 필요한 보상 커패시턴스 값 변화량을 계산하는 단계;
상기 터치 커패시턴스 데이터가 비선형 범위에 있는지 여부를 판단하는 단계; 및
판단 결과에 따라, 상기 보상 커패시턴스 값 변화량을 이용하여 상응한 보상 동작을 수행하는 단계를 포함한다.
일 실시예에서, 판단 결과에 따라 상기 보상 커패시턴스 값 변화량을 이용하여 상응한 보상 동작을 수행하는 상기 단계는,
상기 터치 커패시턴스 데이터가 상기 비선형 범위 내에 있는 경우, 상기 보상 커패시턴스 값 변화량을 이용하여 현재 보상 커패시턴스 값에 대해 가속 보상을 진행하는 단계를 포함한다.
일 실시예에서, 상기 보상 커패시턴스 값 변화량을 이용하여 현재 보상 커패시턴스 값에 대해 가속 보상을 진행하는 상기 단계는,
공식 CnegNew=CnegInitial+Y*△CnegValue에 따라 타겟 보상 커패시턴스 값을 계산하는 단계를 포함하고, 여기서 CnegNew는 상기 타겟 보상 커패시턴스 값을 나타내고, CnegInitial는 현재 보상 커패시턴스 값을 나타내며, △CnegValue는 보상 커패시턴스 값 변화량을 나타내고, Y는 보상 커패시턴스 값과 상기 터치 커패시턴스 데이터의 대응 관계에 따라 설정된 파라미터이고;
상기 타겟 보상 커패시턴스 값을 보상 커패시턴스 주소에 기록하는 단계를 포함한다.
일 실시예에서, 판단 결과에 따라 상기 보상 커패시턴스 값 변화량을 이용하여 상응한 보상 동작을 수행하는 상기 단계는,
상기 터치 커패시턴스 데이터가 상기 비선형 범위 내에 있지 않은 경우, 상기 보상 커패시턴스 값 변화량을 이용하여 현재 보상 커패시턴스 값에 대해 선형 보상을 수행하는 단계를 포함한다.
일 실시예에서, 상기 보상 커패시턴스 값 변화량을 이용하여 현재 보상 커패시턴스 값에 대해 선형 보상을 수행하는 상기 단계는,
공식 CnegNew=CnegInitial+△CnegValue에 따라 타겟 보상 커패시턴스 값을 계산하는 단계를 포함하고, CnegNew는 상기 타겟 보상 커패시턴스 값을 나타내고, CnegInitial는 현재 보상 커패시턴스 값을 나타내며, △CnegValue는 보상 커패시턴스 값 변화량을 나타내고;
상기 타겟 보상 커패시턴스 값을 보상 커패시턴스 주소에 기록하는 단계를 포함한다.
일 실시예에서, 설정된 보상 스텝 길이에 따라 상기 터치 커패시턴스 데이터를 타겟값으로 조정하는 데 필요한 보상 커패시턴스 값 변화량을 계산하는 상기 단계는,
기설정된 타겟값을 획득하는 단계;
상기 터치 커패시턴스 데이터와 상기 타겟값의 차이를 계산하여 터치 커패시턴스 차이값을 얻는 단계; 및
설정된 보상 스텝 길이에 따라 상기 터치 커패시턴스 차이값을 상기 보상 스텝 길이로 나누어 상기 보상 커패시턴스 값 변화량을 얻는 단계를 포함한다.
일 실시예에서, 상기 터치 커패시턴스 데이터가 비선형 범위에 있는지 여부를 판단하는 상기 단계 이전에, 상기 방법은,
상기 터치 커패시턴스 데이터의 포화값을 획득하는 단계; 및
상기 포화값에 따라 상기 터치 커패시턴스 데이터의 비선형 범위를 계산하는 단계를 더 포함한다.
일 실시예에서, 상기 터치 커패시턴스 데이터가 비선형 범위에 있는지 여부를 판단하는 상기 단계는,
상기 터치 커패시턴스 데이터가 (RawSatur-X*CnegStep, RawSatur) 구간 내에 있는지 판단하는 단계를 포함하고,
여기서, RawSatur는 포화값을 나타내고, CnegStep는 상기 보상 스텝 길이를 나타내며, X는 보상 커패시턴스 값과 상기 터치 커패시턴스 데이터의 대응 관계에 따라 설정된 파라미터이다.
일 실시예에서, 판단 결과에 따라 상기 보상 커패시턴스 값 변화량을 이용하여 상응한 보상 동작을 수행하는 상기 단계 이후에, 상기 방법은,
설정된 자동 보상 반복 횟수에 따라 터치 커패시턴스 데이터의 획득 및 보상 동작을 반복하여 수행하는 단계를 더 포함한다.
일 실시예에서, 설정된 자동 보상 반복 횟수에 따라 터치 커패시턴스 데이터의 획득 및 보상 동작을 반복하여 수행하는 상기 단계는,
마지막 한 번을 제외하고, 매번 보상 동작이 수행될 때마다. 현재 보상 커패시턴스 값과 상기 터치 커패시턴스 데이터의 대응 관계에 따라 상기 비선형 범위 및 보상 정도를 재설정하는 단계; 및
마지막으로 보상 동작이 수행될 때, 현재 보상 커패시턴스 값에 대해 선형 보상을 진행하는 단계를 포함한다.
선택 가능한 일 실시형태에서, 설정된 보상 스텝 길이에 따라, 상기 터치 커패시턴스 데이터를 타겟값으로 조정하는 데 필요한 보상 커패시턴스 값 변화량을 계산하는 상기 단계는,
상기 터치 커패시턴스 데이터와 상기 타겟값의 차이값을 계산하는 단계;
계산식 △CnegValue=(RawCur-RawDest)/CnegStep에 따라 상기 보상 커패시턴스 값 변화량을 계산하는 단계를 포함하고, 여기서 RawCur는 상기 터치 커패시턴스 데이터이고, RawDest는 상기 타겟값이며, CnegStep은 상기 보상 스텝 길이이고, △CnegValue는 상기 보상 커패시턴스 값 변화량이다.
선택 가능한 일 실시형태에서, 설정된 보상 스텝 길이에 따라 상기 터치 커패시턴스 데이터를 타겟값으로 조정하는 데 필요한 보상 커패시턴스 값 변화량을 계산하는 상기 단계 이전에 상기 방법은,
제1 터치 데이터, 과거의 상기 제1 터치 커패시턴스 데이터에 대응되는 제1 보상 파라미터, 제2 터치 데이터 및 과거의 상기 제2 과거 터치 커패시턴스 데이터에 대응되는 제2 보상 파라미터를 획득하는 단계; 및
계산식 |R2-R1|/|C2-C1|에 따라 상기 보상 스텝 길이를 계산하는 단계를 더 포함하고, 여기서 R1은 제1 터치 데이터이고, R2는 제2 터치 데이터이며, C1은 제1 보상 파라미터이고, C2는 제2 보상 파라미터이다.
다른 양태에 따르면, 본 발명의 실시예는 터치 커패시턴스 데이터의 조정 장치를 더 제공하고, 상기 장치는,
터치 커패시턴스 데이터를 획득하는 데이터 획득 모듈;
설정된 보상 스텝 길이에 따라, 상기 터치 커패시턴스 데이터를 타겟값으로 조정하는 데 필요한 보상 커패시턴스 값 변화량을 계산하는 보상 커패시턴스 값 변화량 계산 모듈;
상기 터치 커패시턴스 데이터가 비선형 범위에 있는지 여부를 판단하는 비선형 판단 모듈; 및
판단 결과에 따라 상기 보상 커패시턴스 값 변화량을 이용하여 상응한 보상 동작을 수행하는 커패시턴스 보상 모듈을 포함한다.
제3 양태에 따르면, 본 발명은 전자 기기를 더 제공하고, 상기 전자 기기는,
프로세서; 및
프로세서에 의해 실행 가능한 명령을 저장하는 메모리를 포함하되,
상기 프로세서는 본 발명에서 제공하는 터치 커패시턴스 데이터의 조정 방법을 수행한다.
제4 양태에 따르면, 본 발명은 컴퓨터 판독 가능 저장 매체를 더 제공하고, 상기 저장 매체에는 컴퓨터 프로그램이 저장되고, 상기 컴퓨터 프로그램은 프로세서에 의해 실행되어 본 발명에서 제공하는 터치 커패시턴스 데이터의 조정 방법을 완성한다.
본 발명의 상기 실시예에서 제공하는 기술적 해결방안은 터치 커패시턴스 데이터를 획득하고, 보상 스텝 길이에 따라 보상 커패시턴스 값 변화량을 계산하여 터치 커패시턴스 데이터가 비선형 범위에 있는지 여부를 판단하고, 판단 결과에 따라 보상 커패시턴스 값 변화량을 이용하여 상응한 보상 동작을 수행함으로써, 터치 커패시턴스 데이터가 어떠한 범위에 있더라도 모두 적절한 보상을 얻어 타겟값 근처까지 조정될 수 있도록 하여 터치 커패시턴스 데이터를 조정하는 정확도를 향상시킨다.
본 발명의 실시예에 따른 기술적 해결방안을 보다 명확하게 설명하기 위하여, 아래 본 발명의 실시예에서 사용되는 도면에 대해 간단히 소개한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에서 제공하는 터치 커패시턴스 데이터의 조정 방법의 응용 장면 개략도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에서 제공하는 터치 커패시턴스 데이터의 조정 방법의 흐름 개략도이다.
도 3은 도 2에 대응되는 실시예 중 단계 S220의 세부 흐름도이다.
도 4는 본 발명의 다른 실시예에서 제공하는 터치 커패시턴스 데이터의 조정 방법의 과정 개략도이다.
도 5는 본 발명의 다른 실시예에서 제공하는 터치 커패시턴스 데이터의 조정 장치의 블록도이다.
아래 본 발명의 실시예에 첨부된 도면을 결부하여 본 발명의 실시예에 따른 기술적 해결방안에 대해 설명한다.
유사한 기호 및 문자는 아래의 첨부된 도면에서 유사한 항목을 나타내므로, 어느 한 항목이 하나의 도면에서 정의되었다면, 그 후의 도면에서는 이에 대한 추가 정의 및 해석이 필요하지 않다. 한편, 본 발명의 설명에서, 용어 "제1", "제2" 등은 단지 구분 설명하기 위한 것으로, 상대적 중요성을 나타내거나 암시하는 것으로 해석되어서는 안된다.
도 1은 본 발명의 실시예에서 제공하는 터치 커패시턴스 데이터의 조정 방법의 응용 장면 개략도이다. 도 1에 도시된 바와 같이, 상기 응용 장면에는 터치 제어 기기(100)가 포함된다. 상기 터치 제어 기기(100)는 핸드폰, 태블릿 PC 및 터치 패널이 설치된 다른 기기일 수 있다. 상기 터치 제어 기기(100)는 본 발명의 실시예에서 제공하는 터치 커패시턴스 데이터의 조정 방법을 사용하여 터치 센서의 보상 커패시턴스 값을 자동으로 조정함으로써 터치 커패시턴스 데이터가 타겟값 근처까지 조정될 수 있도록 하여 터치 커패시턴스 데이터를 조정하는 정확도를 향상시킬 수 있다.
상기 터치 제어 기기(100)는 터치 패널(110) 및 컨트롤러(120)를 포함한다. 터치 패널에는 복수의 터치 센서(111)가 포함된다. 컨트롤러(120)는 터치 패널(110)에 연결되고 본 발명의 실시예에서 제공하는 터치 커패시턴스 데이터의 조정 방법을 사용함으로써 터치 센서(111)에서 수집된 터치 커패시턴스 데이터에 대한 자동 조정을 구현할 수 있다.
본 발명은 전자 기기를 더 제공한다. 상기 전자 기기는 컨트롤러(120)일 수 있다. 컨트롤러(120)는 프로세서(121) 및 프로세서(121)에 의해 실행 가능한 명령을 저장하는 메모리(122)를 포함할 수 있고; 여기서, 상기 프로세서(121)는 본 발명에서 제공하는 터치 커패시턴스 데이터의 조정 방법을 구현할 수 있다.
메모리(122)는 정적 랜덤 액세스 메모리(Static Random Access Memory, SRAM), 전기적 소거 가능 프로그램 가능 판독 전용 메모리(Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory, EEPROM), 소거 가능 프로그램 가능 판독 전용 메모리(Erasable Programmable Read Only Memory, EPROM), 프로그램 가능 판독 전용 메모리(Programmable Red-Only Memory, PROM), 판독 전용 메모리(Read-Only Memory, ROM), 자기 메모리, 플래시 메모리, 자기 디스크 또는 광 디스크와 같은 임의의 유형의 휘발성 또는 비휘발성 저장 기기 또는 이들의 조합으로 구현될 수 있다.
본 발명은 컴퓨터 판독 가능 저장 매체를 더 제공하고, 저장 매체에는 컴퓨터 프로그램이 저장되고, 컴퓨터 프로그램은 프로세서(121)에 의해 실행되어 본 발명에서 제공하는 터치 커패시턴스 데이터의 조정 방법을 완성한다.
도 2는 본 발명의 실시예에서 제공하는 터치 커패시턴스 데이터의 조정 방법의 흐름 개략도이다. 도 2에 도시된 바와 같이, 상기 방법은 아래의 단계 S210-단계 S240을 포함한다.
단계 S210에서, 터치 커패시턴스 데이터를 획득한다.
일반적으로, 터치 제어 기기(100)에서는 각 터치 센서의 커패시턴스 데이터가 터치 전의 감지량이 특정값 근처까지 도달하도록 하기 위해 일반적으로 보상 커패시턴스 값을 설정하여 해당 커패시턴스 데이터를 조정한다. 따라서, 본 발명의 실시예에서 제공하는 터치 커패시턴스 데이터는 터치 패널 상의 각 터치 센서가 터치되기 전의 커패시턴스 데이터와 대응되는 보상 커패시턴스 값의 합이다. 본 단계에서, 터치 제어 기기(100)는 전원이 켜진 후, 스캔을 시작하여 터치 커패시턴스 데이터를 획득할 수 있다.
단계 S220에서, 설정된 보상 스텝 길이에 따라 상기 터치 커패시턴스 데이터를 타겟값으로 조정하는 데 필요한 보상 커패시턴스 값 변화량을 계산한다.
여기서, 타겟값은 미리 설정되고, 일 실시예에서, 타겟값은 터치 패널(110) 상의 대부분 터치 커패시턴스 데이터에 근접한 값이거나; 또는, 상기 타겟값은 실제 요구사항에 따라 설정된 값일 수 있다. 보상 커패시턴스 값 변화량은 현재 기준의 보상 커패시턴스 값이며, 터치 커패시턴스 데이터를 타겟값으로 조정하기 위해서는 커패시턴스 값의 변화량을 보상해야 한다.
설명해야 할 것은 일정한 범위 내에서 보상 커패시턴스 값과 터치 커패시턴스 데이터는 선형 변화 관계를 갖고 있다는 것이다. 보상 스텝 길이란 선형 변화 범위 내에서 보상 커패시턴스 값이 한 단위 증가할 때의 터치 커패시턴스 데이터의 변화량을 말한다.
선택 가능한 일 실시형태에서, 보상 스텝 길이는 아래의 방법으로 결정 및 설정될 수 있다. 우선 제1 터치 데이터, 과거의 제1 터치 커패시턴스 데이터에 대응되는 제1 보상 파라미터, 제2 터치 데이터 및 과거의 제2 터치 커패시턴스 데이터에 대응되는 제2 보상 파라미터를 획득할 수 있다. 여기서, 각 터치 센서의 보상 커패시턴스에 대해, 그 선형 변화 범위 내에서 먼저 보상 커패시턴스 값을 제1 보상 파라미터 C1로 설정하고, 이때의 터치 커패시턴스 데이터를 수집하여 제1 터치 데이터 R1을 얻을 수 있으며, 다시 보상 커패시턴스 값을 제2 보상 파라미터 C2로 설정하고, 이때의 터치 커패시턴스 데이터를 수집하여 제2 터치 데이터 R2를 얻을 수 있다. 공식 |R2-R1|/|C2-C1|에 따라 계산하여 보상 스텝 길이를 얻고, 여기서 |R2-R1|는 R2-R1의 절대치를 의미하고, |C2-C1|는 C2-C1의 절대치를 의미한다.
이에 보상 커패시턴스 값 변화량은 계산식 △CnegValue=(RawCur-RawDest)/CnegStep을 만족한다. 여기서, RawCur는 터치 커패시턴스 데이터이고, RawDest는 타겟값이며, CnegStep은 보상 스텝 길이이고, △CnegValue는 보상 커패시턴스 값 변화량이다.
단계 S210에서는 현재 터치 커패시턴스 데이터를 얻은 후 먼저 스캔을 중지한다. 본 단계에서는 설정된 보상 스텝 길이에 따라, 즉 보상 커패시턴스 값과 터치 커패시턴스 데이터 사이의 선형 변화 관계에 따라, 선형 조건에서 단계 S210에서 획득한 터치 커패시턴스 데이터를 타겟값으로 조정하는 데 필요한 보상 커패시턴스 값 변화량을 계산한다.
단계 S230에서, 상기 터치 커패시턴스 데이터가 비선형 범위에 있는지 여부를 판단한다.
비선형 범위란 터치 커패시턴스 데이터의 특정 범위를 말하고, 상기 특정 범위는 터치 커패시턴스 데이터 자체의 크기와 연관된다. 상기 특정 범위 내에서, 보상 커패시턴스 값과 터치 커패시턴스 데이터 사이의 대응 관계는 비선형 관계를 나타낸다. 본 단계에서는 현재 터치 커패시턴스 데이터가 상기 특정 범위 내에 있는지 여부를 판단한다.
단계 S240에서, 판단 결과에 따라 상기 보상 커패시턴스 값 변화량을 이용하여 상응한 보상 동작을 수행한다.
여기서, 판단 결과는 터치 커패시턴스 데이터가 비선형 범위에 있거나 비선형 범위에 있지 않는 것일 수 있다. 두 가지 범위 내에서 보상 커패시턴스 값과 터치 커패시턴스 데이터 사이의 대응 관계가 다르므로 현재 보상 커패시턴스 값에 대한 보상 정도도 달라야 한다. 이 두 가지 판단 결과에 대하여, 보상 커패시턴스 값 변화량을 이용하여 현재 보상 커패시턴스 값에 대해 상응한 보상 동작을 진행할 수 있다.
일 실시예에서, 터치 커패시턴스 데이터가 선형 범위 내에 있는 경우, 현재 보상 커패시턴스 값을 1단위의 보상 커패시턴스 값 변화량만큼 증가시킬 수 있고, 터치 커패시턴스 데이터가 선형 범위 내에 있지 않는 경우, 현재 보상 커패시턴스 값을 1단위보다 큰 보상 커패시턴스 값 변화량만큼 증가시킬 수 있다.
본 발명의 실시예에서 제공하는 기술적 해결방안은 터치 커패시턴스 데이터를 획득하고, 보상 스텝 길이에 따라 보상 커패시턴스 값 변화량을 계산하여, 터치 커패시턴스 데이터가 비선형 범위에 있는지 여부를 판단하고, 판단 결과에 따라 보상 커패시턴스 값 변화량을 이용하여 상응한 보상 동작을 수행함으로써, 터치 커패시턴스 데이터가 어떠한 범위에 있더라도 모두 적절한 보상을 얻어 타겟값 근처까지 조정될 수 있도록 한다.
일 실시예에서, 판단 결과에 따라 상기 보상 커패시턴스 값 변화량을 이용하여 상응한 보상 동작을 수행하는 상기 단계는, 상기 터치 커패시턴스 데이터가 상기 비선형 범위 내에 있는 경우, 상기 보상 커패시턴스 값 변화량을 이용하여 현재 보상 커패시턴스 값에 대해 가속 보상을 수행하는 단계를 포함할 수 있다. 여기서, 가속 보상이란 현재 보상 커패시턴스 값에 대해 상기 보상 커패시턴스 값 변화량보다 큰 보상을 진행하는 것을 말한다.
일 실시예에서, 상기 보상 커패시턴스 값 변화량을 이용하여 현재 보상 커패시턴스 값에 대해 가속 보상을 진행하는 단계는, 공식 CnegNew=CnegInitial+Y*△CnegValue에 따라 타겟 보상 커패시턴스 값을 계산하는 단계를 포함하고, 여기서 CnegNew는 상기 타겟 보상 커패시턴스 값을 나타내고, CnegInitial는 현재 보상 커패시턴스 값을 나타내며, △CnegValue는 보상 커패시턴스 값 변화량을 나타내고, Y는 보상 커패시턴스 값과 상기 터치 커패시턴스 데이터의 대응 관계에 따라 설정된 파라미터이며; 상기 타겟 보상 커패시턴스 값을 보상 커패시턴스 주소에 기록하는 단계를 포함할 수 있다.
여기서, 타겟 보상 커패시턴스 값이란 해당 보상이 완료된 후 업데이트되는 보상 커패시턴스 값을 말한다. 본 단계에서, Y는 1보다 큰 파라미터로서, Y는 보상 커패시턴스 값과 터치 커패시턴스 데이터의 대응 관계에 따라 설정될 수 있으며, 구체적으로, 보상 커패시턴스 값과 터치 커패시턴스 데이터 사이의 비선형 정도가 클수록 Y도 더 커진다. 보상 커패시턴스 주소는 메모리에 미리 저장되며, 본 단계에서는 먼저 메모리 중의 보상 커패시턴스 주소를 획득한 후, 다시 타겟 보상 커패시턴스 값을 상기 보상 커패시턴스 주소에 기록하여 보상 커패시턴스 값의 업데이트를 완료한다.
일 실시예에서, 판단 결과에 따라 상기 보상 커패시턴스 값 변화량을 이용하여 상응한 보상 동작을 수행하는 단계는, 상기 터치 커패시턴스 데이터가 상기 비선형 범위 내에 있지 않은 경우, 상기 보상 커패시턴스 값 변화량을 이용하여 현재 보상 커패시턴스 값에 대해 선형 보상을 수행하는 단계를 더 포함할 수 있다. 여기서, 선형 보상이란 현재 보상 커패시턴스 값에 대해 상기 보상 커패시턴스 값 변화량과 동등하게 보상을 진행하는 것을 말한다.
일 실시예에서, 상기 보상 커패시턴스 값 변화량을 이용하여 현재 보상 커패시턴스 값에 대해 선형 보상을 진행하는 단계는, 공식 CnegNew=CnegInitial+△CnegValue에 따라 상기 타겟 보상 커패시턴스 값을 계산하는 단계를 더 포함할 수 있고, 여기서 CnegNew는 상기 타겟 보상 커패시턴스 값을 나타내고, CnegInitial는 현재 보상 커패시턴스 값을 나타내며, △CnegValue는 보상 커패시턴스 값 변화량을 나타낸다.
선형 보상에서는 가속 보상과는 달리 선형 범위 내에 있으므로, 보상 커패시턴스 값과 터치 커패시턴스 데이터는 선형 관계를 띠고, 현재 보상 커패시턴스 값에 보상 커패시턴스 값 변화량을 더하면 바로 타겟 보상 커패시턴스 값을 얻을 수 있다. 타겟 보상 커패시턴스 값 계산이 완료된 후, 상기 타겟 보상 커패시턴스 값을 보상 커패시턴스 주소에 기록하여 보상 커패시턴스 값의 업데이트를 완료한다.
일 실시예에서, 도 3에 도시된 바와 같이, 설정된 보상 스텝 길이에 따라 상기 터치 커패시턴스 데이터를 타겟값으로 조정하는 데 필요한 보상 커패시턴스 값 변화량을 계산하는 상기 단계 S220는 아래의 단계 S221-단계 S223을 포함할 수 있다.
단계 S221에서, 기설정된 타겟값을 획득한다.
여기서, 타겟값은 과거 경험 데이터를 기반으로 설정된 것일 수 있는 바, 타겟값은 터치 패널(110) 상의 모든 터치 센서가 터치되지 않은 상태에서 수집된 터치 커패시턴스 데이터의 평균값일 수 있다.
단계 S222에서, 상기 터치 커패시턴스 데이터와 상기 타겟값의 차이를 계산하여 터치 커패시턴스 차이값을 얻는다.
단계 S223에서, 설정된 보상 스텝 길이에 따라 상기 터치 커패시턴스 차이값을 상기 보상 스텝 길이로 나누어 상기 보상 커패시턴스 값 변화량을 얻는다.
실제 응용에서, 터치 커패시턴스 데이터는 보상 커패시턴스 값의 증가에 따라 감소된다. 터치 커패시턴스 데이터가 타겟값보다 작은 경우 터치 커패시턴스 차이값은 음수이고 보상 커패시턴스 값 변화량도 음수이며; 반대로, 터치 커패시턴스 데이터이 타겟값보다 큰 경우 터치 커패시턴스 차이값은 양수이고 보상 커패시턴스 변화량도 양수이다.
일 실시예에서, 상기 터치 커패시턴스 데이터가 비선형 범위에 있는지 여부를 판단하는 상기 단계 S230 이전에, 본 발명의 실시예에서 제공하는 방법은, 상기 터치 커패시턴스 데이터의 포화값을 획득하는 단계; 상기 포화값에 따라 상기 터치 커패시턴스 데이터의 비선형 범위를 계산하는 단계를 더 포함할 수 있다.
여기서, 포화값은 특정한 값을 말하고, 터치 커패시턴스 데이터가 상기 특정값에 도달하는 경우, 터치 커패시턴스 데이터는 보상 커패시턴스 값의 증가에 따라 변화되지 않는다. 포화값 근처의 범위 내에서 터치 커패시턴스 데이터가 보상 커패시턴스 값에 따른 변화는 이미 비선형 관계를 띠게 된다. 경험 데이터를 기반으로 터치 커패시턴스 데이터의 포화값을 획득하면, 포화값에 따라 터치 커패시턴스 데이터의 비선형 범위를 계산할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 터치 커패시턴스 데이터가 비선형 범위에 있는지 여부를 판단하는 상기 단계 S230는 아래의 방식을 사용할 수 있다. 상기 터치 커패시턴스 데이터가 (RawSatur-X*CnegStep, RawSatur) 구간 내에 있는지 판단하는데, 여기서 RawSatur는 포화값을 나타내고, CnegStep는 상기 보상 스텝 길이를 나타내며, X는 보상 커패시턴스 값과 상기 터치 커패시턴스 데이터의 대응 관계에 따라 설정된 파라미터이다. 구체적으로, 터치 커패시턴스 데이터가 타겟값과 먼 경우 X는 상응하게 크게 설정될 수 있다.
다시 말해서, 먼저 RawSatur-X*CnegStep을 제1 임계값으로 하고, 다시 포화값 RawSatur를 제2 임계값으로 한 후, 상기 터치 커패시턴스 데이터가 상기 제1 임계값보다 크거나 같고 제2 임계값보다 작거나 같은지 판단할 수 있고, 그런 경우 상기 터치 커패시턴스 데이터가 포화값에 근접한다는 것을 나타내며, 이로써 터치 커패시턴스 데이터가 비선형 범위 내에 있다고 결정할 수 있고; 그렇지 않은 경우 터치 커패시턴스 데이터가 선형 범위 내에 있다고 결정할 수 있다.
일 실시예에서, 판단 결과에 따라 상기 보상 커패시턴스 값 변화량을 이용하여 상응한 보상 동작을 수행하는 상기 단계 S240 이후에, 본 발명의 실시예에서 제공하는 방법은, 설정된 자동 보상 반복 횟수에 따라 터치 커패시턴스 데이터의 획득 및 보상 동작을 반복하여 수행하는 단계를 더 포함할 수 있다.
여기서, 자동 보상 반복 횟수란 터치 커패시턴스 데이터에 대한 보상 동작이 반복으로 수행되는 횟수를 말한다. 본 단계에서, 한 번의 보상 동작이 완료되면, 즉 타겟 보상 커패시턴스 값 데이터가 보상 커패시턴스 주소에 기록된 후, 스캔을 시작하여 업데이트된 터치 커패시턴스 데이터를 획득하고, 터치 커패시턴스 데이터를 기반으로 다시 보상 동작을 수행한다. 상기 보상 동작의 구체적인 과정은 상술한 실시예의 설명을 참조할 수 있으며, 여기서는 더 이상 반복하지 않는다.
일 실시예에서, 마지막 한 번을 제외하고, 매번 보상 동작이 수행될 때마다 현재 보상 커패시턴스 값과 상기 터치 커패시턴스 데이터의 대응 관계에 따라 상기 비선형 범위 및 보상 정도를 재설정하고; 마지막으로 보상 동작이 수행될 때, 현재 보상 커패시턴스 값에 대해 선형 보상을 진행할 수 있다
여기서, 보상 정도란 보상 커패시턴스 값 변화량을 기초로 한 보상 커패시턴스 값의 실제 변화량과 계산하여 얻은 보상 커패시턴스 값 변화량의 비례값을 말한다. 터치 커패시턴스 데이터는 1차 보상이 진행될 때, 그 보상 커패시턴스 값과의 비선형 관계가 가장 강하고, 2차 보상이 진행될 때에는 1차 보상이 이미 완료되었으므로 터치 커패시턴스 데이터와 보상 커패시턴스 값 간의 비선형 관계가 약화되며, 이에 상응하게 비선형 범위 및 보상 정도를 감소시킬 수 있다. 일 실시예에서는 상기 실시예 중의 X 및 Y를 감소시킬 수 있다. 마지막으로 보상 동작이 수행될 때에는 터치 커패시턴스 데이터는 이전 여러 번의 보상 동작을 거친 후 과도하게 보상된 문제가 존재할 수 있으므로, 마지막에는 보상 커패시턴스 값에 대해 선형 보상을 수행하여, 부분적으로 과도하게 보상된 터치 커패시턴스 데이터가 타겟값 근처까지 복원되도록 할 수 있다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에서 제공하는 터치 커패시턴스 데이터의 조정 방법의 과정 개략도이다. 상기 과정은 단계 S410-단계 S460을 포함한다.
단계 S410에서, 터치 커패시턴스 데이터를 획득한다.
단계 S420에서, 설정된 보상 스텝 길이에 따라 상기 터치 커패시턴스 데이터를 타겟값으로 조정하는 데 필요한 보상 커패시턴스 값 변화량을 계산한다.
단계 S430에서, 상기 터치 커패시턴스 데이터가 비선형 범위에 있는지 여부를 판단한다. 그런 경우 단계 S440을 수행하고, 그렇지 않은 경우 단계 S450을 수행한다.
단계 S440에서, 상기 보상 커패시턴스 값 변화량을 이용하여 현재 보상 커패시턴스 값에 대해 가속 보상을 진행한다. 여기서, 가속 보상 방법은 상술한 실시예를 참조할 수 있다.
단계 S450에서, 상기 보상 커패시턴스 값 변화량을 이용하여 현재 보상 커패시턴스 값에 대해 선형 보상을 수행한다.
단계 S460에서, 마지막 보상인지 여부를 판단하고; 그런 경우 종료하고, 그렇지 않은 경우 단계 S410으로 돌아간다.
일 실시예에서, 터치 패널 상의 5개의 터치 센서를 예로 들면, 터치 커패시턴스 데이터가 {900, 1000, 1600, 2400, 2500}이고, 보상 커패시턴스 값은 {5, 5, 5, 5, 5}이며, 터치 커패시턴스 데이터 및 보상 커패시턴스 값 모두 미리 처리를 거쳐 정규화된 데이터라고 가정한다. 터치 커패시턴스 데이터의 타겟값을 1000으로, 포화값을 2500으로, 보상 스텝 길이를 500으로, 보상 횟수를 3으로 설정한다.
1차 보상 과정에서, 먼저 보상 커패시턴스 값 변화량을 계산한다. 도 3에 대응되는 실시예 중 보상 커패시턴스 값 변화량의 계산 방법에 따르면, 보상 커패시턴스 값 변화량의 계산 공식은 {(900-1000)/500, (1000-1000)/500, (1600-1000)/500, (2400-1000)/500, (2500-1000)/500}이고, 계산하여 얻은 보상 커패시턴스 값 변화량은 {-0.2, 0, 1.2, 2.8, 3}이다. 다음, 터치 커패시턴스 데이터가 비선형 범위에 있는지 여부를 판단한다. 터치 커패시턴스 데이터와 타겟값이 멀고 가까운지에 따라 X를 {0.5, 0.5, 0.8, 1.2, 1.2}로 설정할 수 있고, 비선형 범위의 구간 (RawSatur-X*CnegStep, RawSatur)에 따라 계산하여 얻은 비선형 범위는 각각 {(2250, 2500), (2250, 2500), (2100, 2500), (1900, 2500), (1900, 2500)}이며, 2400과 2500은 분명히 비선형 범위 내에 있으므로 가속 보상을 진행하고, Y는 각각 1.8과 2로 선택하며, 900, 1000, 1600은 선형 범위 내에 있으므로 선형 보상을 진행한다. 가속 보상 중 타겟 보상 커패시턴스 값의 계산 공식 CnegNew=CnegInitial+Y*△CnegValue 및 선형 보상 중 타겟 보상 커패시턴스 값의 계산 공식 CnegNew=CnegInitial+△CnegValue에 따라 업데이트된 보상 커패시턴스 값은 {4.8, 5, 6.2, 10.04, 11}이다. 다시 스캔하여 수집된 터치 커패시턴스 데이터는 {988, 1000, 1050, 1200, 1300}이다.
그 다음, 동일한 방법으로 현재 보상 커패시턴스 값에 대해 2차 보상을 수행하고, 보상 후 수집된 터치 커패시턴스 데이터는 {998, 1000, 1010, 1050, 1050}이다. 마지막으로 현재 보상 커패시턴스 값에 대해 선형 보상을 수행하고, 보상 후 수집된 터치 커패시턴스 데이터는 {1001, 1000, 1006, 1003, 1009}이다. 세 번의 보상을 거친 후 터치 커패시턴스 데이터와 타겟값 1000과의 거리가 모두 10보다 작아 예기한 목적에 도달하였다.
아래는 본 발명의 장치 실시예로서, 본 발명의 상술한 터치 커패시턴스 데이터의 조정 방법 실시예를 구현할 수 있다. 본 발명의 장치 실시예에서 기술되지 않은 세부사항은 본 발명의 터치 커패시턴스 데이터의 조정 방법 실시예를 참조하기 바란다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 도시된 터치 커패시턴스 데이터의 조정 장치의 블록도이다. 상기 장치는 데이터 획득 모듈(510), 보상 커패시턴스 값 변화량 계산 모듈(520), 비선형 판단 모듈(530) 및 커패시턴스 보상 모듈(540)을 포함한다.
데이터 획득 모듈(510)은 터치 커패시턴스 데이터를 획득한다.
보상 커패시턴스 값 변화량 계산 모듈(520)은 설정된 보상 스텝 길이에 따라 상기 터치 커패시턴스 데이터를 타겟값으로 조정하는 데 필요한 보상 커패시턴스 값 변화량을 계산한다.
비선형 판단 모듈(530)은 상기 터치 커패시턴스 데이터가 비선형 범위에 있는지 여부를 판단한다.
커패시턴스 보상 모듈(540)은 판단 결과에 따라 상기 보상 커패시턴스 값 변화량을 이용하여 상응한 보상 동작을 수행한다.
상기 장치의 각 모듈의 기능 및 작용의 구현 과정의 구체적인 내용은 상술한 터치 커패시턴스 데이터의 조정 방법의 대응되는 단계의 구현 과정을 참조할 수 있으므로 여기서는 더 이상 반복하지 않는다.
본 발명에서 제공하는 다양한 실시예에서 개시된 장치 및 방법은 다른 방식으로 구현될 수도 있다. 위에서 설명된 장치 실시예는 단지 예시적인 것으로서, 예를 들면, 첨부된 도면 중의 흐름도 및 블록도는 본 발명의 다양한 실시예에 따른 장치, 방법 및 컴퓨터 프로그램 제품의 구현 가능한 아키텍처, 기능 및 동작을 도시하였다. 이 점에서, 흐름도 또는 블록도 중의 각 블록은 지정된 논리적 기능을 구현하기 위한 하나 이상의 실행 가능한 명령을 포함하는 모듈, 프로그램 세그먼트 또는 코드의 일부를 나타낼 수 있다. 일부 대체 구현 방법에서, 블록에 표기된 기능도 첨부된 도면에 도시된 것과 다른 순서로 구현될 수도 있다. 예를 들어, 연속적인 2개의 블록은 실제로 병렬 실행될 수 있고, 관련 기능에 따라 때때로 역순으로 실행될 수도 있다. 또한, 블록도 및/또는 흐름도 중의 각 블록, 및 블록도 및/또는 흐름도 중의 블록의 조합은 지정된 기능 또는 동작을 수행하는 전용 하드웨어 기반 시스템에 의해 구현되거나 전용 하드웨어와 컴퓨터 명령의 조합으로 구현될 수도 있음에 유의해야 한다.
이 밖에, 본 발명의 각 실시예의 각 기능 모듈은 통합되어 하나의 독립된 부분을 형성할 수도 있고, 각 모듈이 단독으로 존재할 수도 있으며, 둘 이상의 모듈이 통합되어 하나의 독립된 부분을 형성할 수도 있다.
기능이 소프트웨어 기능 모듈의 형태로 구현되어 독립적인 제품으로 판매 또는 사용될 경우, 컴퓨터 판독 가능 저장 매체에 저장될 수 있다. 이러한 이해를 바탕으로, 본 발명의 기술적 해결수단은 본질적으로 또는 선행 기술에 기여하는 일부분 또는 상기 기술적 해결수단의 일부분은 소프트웨어 제품의 형태로 반영될 수 있으며, 상기 컴퓨터 소프트웨어 제품은 저장 매체에 저장되고, 컴퓨터 기기(개인용 컴퓨터, 서버, 또는 네트워크 기기 등일 수 있음)가 본 발명의 각 실시예에 따른 방법의 전부 또는 일부 단계를 수행하도록 하는 복수의 명령을 포함한다. 전술한 저장 매체는 U 디스크, 이동식 하드 디스크, 판독 전용 메모리(ROM, Read-Only Memory), 랜덤 액세스 메모리(RAM, Random Access Memory), 자기 디스크 또는 광 디스크 등 프로그램 코드를 저장할 수 있는 다양한 매체를 포함한다.
본 발명은 터치 커패시턴스 데이터의 조정 방법 및 장치, 전자 기기, 저장 매체를 제공하여 터치 커패시턴스 데이터가 타겟값 근처까지 자동으로 조정될 수 있도록 하여 터치 커패시턴스 데이터를 조정하는 정확도를 향상시킨다.
100: 터치 제어 기기 110: 터치 패널
111: 터치 센서 120: 컨트롤러
121: 프로세서 122: 메모리
510: 데이터 획득 모듈 520: 보상 커패시턴스 값 변화량 계산 모듈
530: 비선형 판단 모듈 540: 커패시턴스 보상 모듈

Claims (15)

  1. 터치 커패시턴스 데이터의 조정 방법으로서,
    터치 커패시턴스 데이터를 획득하는 단계;
    설정된 보상 스텝 길이에 따라, 상기 터치 커패시턴스 데이터를 타겟값으로 조정하는 데 필요한 보상 커패시턴스 값 변화량을 계산하는 단계;
    상기 터치 커패시턴스 데이터가 비선형 범위에 있는지 여부를 판단하는 단계; 및
    판단 결과에 따라, 상기 보상 커패시턴스 값 변화량을 이용하여 상응한 보상 동작을 수행하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 터치 커패시턴스 데이터의 조정 방법.
  2. 제1항에 있어서,
    판단 결과에 따라 상기 보상 커패시턴스 값 변화량을 이용하여 상응한 보상 동작을 수행하는 상기 단계는,
    상기 터치 커패시턴스 데이터가 상기 비선형 범위 내에 있는 경우, 상기 보상 커패시턴스 값 변화량을 이용하여 현재 보상 커패시턴스 값에 대해 가속 보상을 진행하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 터치 커패시턴스 데이터의 조정 방법.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 보상 커패시턴스 값 변화량을 이용하여 현재 보상 커패시턴스 값에 대해 가속 보상을 진행하는 상기 단계는,
    공식 CnegNew=CnegInitial+Y*△CnegValue에 따라 타겟 보상 커패시턴스 값을 계산하는 단계를 포함하고, 여기서 CnegNew는 상기 타겟 보상 커패시턴스 값을 나타내고, CnegInitial는 현재 보상 커패시턴스 값을 나타내며, △CnegValue는 보상 커패시턴스 값 변화량을 나타내고, Y는 보상 커패시턴스 값과 상기 터치 커패시턴스 데이터의 대응 관계에 따라 설정된 파라미터이고;
    상기 타겟 보상 커패시턴스 값을 보상 커패시턴스 주소에 기록하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 터치 커패시턴스 데이터의 조정 방법.
  4. 제1항에 있어서,
    판단 결과에 따라 상기 보상 커패시턴스 값 변화량을 이용하여 상응한 보상 동작을 수행하는 상기 단계는,
    상기 터치 커패시턴스 데이터가 상기 비선형 범위 내에 있지 않은 경우, 상기 보상 커패시턴스 값 변화량을 이용하여 현재 보상 커패시턴스 값에 대해 선형 보상을 진행하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 터치 커패시턴스 데이터의 조정 방법.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 보상 커패시턴스 값 변화량을 이용하여 현재 보상 커패시턴스 값에 대해 선형 보상을 수행하는 상기 단계는,
    공식 CnegNew=CnegInitial+△CnegValue에 따라 타겟 보상 커패시턴스 값을 계산하는 단계를 포함하고, 여기서 CnegNew는 상기 타겟 보상 커패시턴스 값을 나타내고, CnegInitial는 현재 보상 커패시턴스 값을 나타내며, △CnegValue는 보상 커패시턴스 값 변화량을 나타내고;
    상기 타겟 보상 커패시턴스 값을 보상 커패시턴스 주소에 기록하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 터치 커패시턴스 데이터의 조정 방법.
  6. 제1항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서,
    설정된 보상 스텝 길이에 따라, 상기 터치 커패시턴스 데이터를 타겟값으로 조정하는데 필요한 보상 커패시턴스 값 변화량을 계산하는 상기 단계는,
    기설정된 타겟값을 획득하는 단계;
    상기 터치 커패시턴스 데이터와 상기 타겟값의 차이를 계산하여 터치 커패시턴스 차이값을 얻는 단계; 및
    설정된 보상 스텝 길이에 따라, 상기 터치 커패시턴스 차이값을 상기 보상 스텝 길이로 나누어 상기 보상 커패시턴스 값 변화량을 얻는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 터치 커패시턴스 데이터의 조정 방법.
  7. 제1항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 터치 커패시턴스 데이터가 비선형 범위에 있는지 여부를 판단하는 상기 단계 이전에, 상기 방법은,
    상기 터치 커패시턴스 데이터의 포화값을 획득하는 단계; 및
    상기 포화값에 따라 상기 터치 커패시턴스 데이터의 비선형 범위를 계산하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 터치 커패시턴스 데이터의 조정 방법.
  8. 제1항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 터치 커패시턴스 데이터가 비선형 범위에 있는지 여부를 판단하는 상기 단계는,
    상기 터치 커패시턴스 데이터가 (RawSatur-X*CnegStep, RawSatur) 구간 내에 있는지 판단하는 단계를 포함하고, 여기서 RawSatur는 포화값을 나타내고, CnegStep는 상기 보상 스텝 길이를 나타내며, X는 보상 커패시턴스 값과 상기 터치 커패시턴스 데이터의 대응 관계에 따라 설정된 파라미터인 것을 특징으로 하는 터치 커패시턴스 데이터의 조정 방법.
  9. 제1항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서,
    판단 결과에 따라, 상기 보상 커패시턴스 값 변화량을 이용하여 상응한 보상 동작을 수행하는 상기 단계 이후에, 상기 방법은,
    설정된 자동 보상 반복 횟수에 따라, 터치 커패시턴스 데이터의 획득 및 보상 동작을 반복하여 수행하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 터치 커패시턴스 데이터의 조정 방법.
  10. 제9항에 있어서,
    설정된 자동 보상 반복 횟수에 따라, 터치 커패시턴스 데이터의 획득 및 보상 동작을 반복하여 수행하는 상기 단계는,
    마지막 한 번을 제외하고, 매번 보상 동작이 수행될 때마다 현재 보상 커패시턴스 값과 상기 터치 커패시턴스 데이터의 대응 관계에 따라 상기 비선형 범위 및 보상 정도를 재설정하는 단계; 및
    마지막으로 보상 동작이 수행될 때 현재 보상 커패시턴스 값에 대해 선형 보상을 수행하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 터치 커패시턴스 데이터의 조정 방법.
  11. 제1항 내지 제10항 중 어느 한 항에 있어서,
    설정된 보상 스텝 길이에 따라, 상기 터치 커패시턴스 데이터를 타겟값으로 조정하는 데 필요한 보상 커패시턴스 값 변화량을 계산하는 상기 단계는,
    상기 터치 커패시턴스 데이터와 상기 타겟값의 차이값을 계산하는 단계; 및
    계산식 △CnegValue=(RawCur-RawDest)/CnegStep에 따라 상기 보상 커패시턴스 값 변화량을 계산하는 단계를 포함하고, 여기서 RawCur는 상기 터치 커패시턴스 데이터이고, RawDest는 상기 타겟값이며, CnegStep은 상기 보상 스텝 길이이고, △CnegValue는 상기 보상 커패시턴스 값 변화량인 것을 특징으로 하는 터치 커패시턴스 데이터의 조정 방법.
  12. 제1항 내지 제10항 중 어느 한 항에 있어서,
    설정된 보상 스텝 길이에 따라, 상기 터치 커패시턴스 데이터를 타겟값으로 조정하는 데 필요한 보상 커패시턴스 값 변화량을 계산하는 상기 단계 이전에, 상기 방법은,
    제1 터치 데이터, 과거의 상기 제1 터치 커패시턴스 데이터에 대응되는 제1 보상 파라미터, 제2 터치 데이터 및 과거의 상기 제2 터치 커패시턴스 데이터에 대응되는 제2 보상 파라미터를 획득하는 단계;
    계산식 |R2-R1|/|C2-C1|에 따라 상기 보상 스텝 길이를 계산하는 단계를 더 포함하고, 여기서 R1은 제1 터치 데이터이고, R2는 제2 터치 데이터이며, C1은 제1 보상 파라미터이고, C2는 제2 보상 파라미터인 것을 특징으로 하는 터치 커패시턴스 데이터의 조정 방법.
  13. 터치 커패시턴스 데이터의 조정 장치로서,
    상기 장치는,
    터치 커패시턴스 데이터를 획득하는 데이터 획득 모듈;
    설정된 보상 스텝 길이에 따라, 상기 터치 커패시턴스 데이터를 타겟값으로 조정하는 데 필요한 보상 커패시턴스 값 변화량을 계산하는 보상 커패시턴스 값 변화량 계산 모듈;
    상기 터치 커패시턴스 데이터가 비선형 범위에 있는지 여부를 판단하는 비선형 판단 모듈; 및
    판단 결과에 따라, 상기 보상 커패시턴스 값 변화량을 이용하여 상응한 보상 동작을 수행하는 커패시턴스 보상 모듈을 포함하는 것을 특징으로 하는 터치 커패시턴스 데이터의 조정 장치.
  14. 전자 기기로서,
    프로세서; 및
    프로세서에 의해 실행 가능한 명령을 저장하는 메모리를 포함하고,
    상기 프로세서는 제1항 내지 제12항 중 어느 한 항에 따른 터치 커패시턴스 데이터의 조정 방법을 수행하는 것을 특징으로 하는 전자 기기.
  15. 컴퓨터 판독 가능 저장 매체로서,
    상기 저장 매체에는 컴퓨터 프로그램이 저장되고, 상기 컴퓨터 프로그램은 프로세서에 의해 실행되어 제1항 내지 제12항 중 어느 한 항에 따른 터치 커패시턴스 데이터의 조정 방법을 완성하는 것을 특징으로 하는 컴퓨터 판독 가능 저장 매체.
KR1020227038573A 2020-05-06 2020-12-17 터치 커패시턴스 데이터의 조정 방법 및 장치, 전자 기기, 저장 매체 KR20220162785A (ko)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202010375902.9A CN111522469B (zh) 2020-05-06 2020-05-06 触摸电容数据的调整方法及装置、电子设备、存储介质
CN202010375902.9 2020-05-06
PCT/CN2020/137359 WO2021223447A1 (zh) 2020-05-06 2020-12-17 触摸电容数据的调整方法及装置、电子设备、存储介质

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20220162785A true KR20220162785A (ko) 2022-12-08

Family

ID=71908806

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020227038573A KR20220162785A (ko) 2020-05-06 2020-12-17 터치 커패시턴스 데이터의 조정 방법 및 장치, 전자 기기, 저장 매체

Country Status (5)

Country Link
US (1) US11966539B2 (ko)
JP (1) JP7490819B2 (ko)
KR (1) KR20220162785A (ko)
CN (1) CN111522469B (ko)
WO (1) WO2021223447A1 (ko)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111522469B (zh) 2020-05-06 2021-08-20 北京集创北方科技股份有限公司 触摸电容数据的调整方法及装置、电子设备、存储介质
CN113033402A (zh) * 2021-03-25 2021-06-25 深圳市汇顶科技股份有限公司 电容指纹识别方法、电容指纹识别装置和电子设备
TWI807481B (zh) * 2021-11-12 2023-07-01 大陸商北京集創北方科技股份有限公司 自適應電容觸控偵測方法、電容式觸控晶片、觸控顯示裝置及資訊處理裝置
CN114113801B (zh) * 2022-01-24 2022-06-21 上海艾为微电子技术有限公司 电容检测方法及电容检测装置

Family Cites Families (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3405401B2 (ja) 1999-06-15 2003-05-12 日本電気株式会社 前置補償型線形化器および線形化増幅器
US7567240B2 (en) * 2005-05-31 2009-07-28 3M Innovative Properties Company Detection of and compensation for stray capacitance in capacitive touch sensors
US8279180B2 (en) * 2006-05-02 2012-10-02 Apple Inc. Multipoint touch surface controller
US8094128B2 (en) * 2007-01-03 2012-01-10 Apple Inc. Channel scan logic
CN101221479A (zh) * 2007-01-09 2008-07-16 义隆电子股份有限公司 具有按键结构的电容式触摸屏的检测补偿方法
US8629852B2 (en) * 2009-11-12 2014-01-14 Electronics And Telecommunications Research Institute Touch screen and method for compensating sensing capacitance variations and offset variations thereof
CN102541367B (zh) * 2010-12-29 2015-11-25 比亚迪股份有限公司 一种电容式触控检测电路、检测装置
WO2012108911A1 (en) * 2011-02-07 2012-08-16 Cypress Semiconductor Corporation Noise filtering devices, systems and methods for capacitance sensing devices
FR2988175B1 (fr) * 2012-03-13 2014-04-11 Nanotec Solution Procede de mesure capacitive par des electrodes non-regulieres, et appareil mettant en œuvre un tel procede
CN103324366B (zh) * 2012-03-20 2016-09-28 晨星软件研发(深圳)有限公司 电容检测装置及应用该电容检测装置的电容式触控系统
JP6006591B2 (ja) * 2012-09-13 2016-10-12 キヤノン株式会社 電子機器
TWI497390B (zh) * 2013-08-12 2015-08-21 Novatek Microelectronics Corp 觸控顯示裝置及其電容値感測方法
KR101532581B1 (ko) * 2013-11-27 2015-07-01 주식회사 지니틱스 터치입력위치 오류의 보정방법 및 이를 위한 장치
CN105630254B (zh) * 2014-10-28 2018-11-13 南京瀚宇彩欣科技有限责任公司 触控板及其触控感测单元的感应量的补偿方法
KR101738864B1 (ko) * 2015-06-01 2017-05-23 주식회사 하이딥 터치 압력을 감지하는 터치 입력 장치의 감도 보정 방법 및 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체
KR101762387B1 (ko) * 2015-07-24 2017-07-28 주식회사 하이딥 터치 압력 감도 보정 방법 및 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체
KR101762278B1 (ko) * 2016-02-05 2017-07-31 주식회사 하이딥 터치 압력 감도 보정 방법 및 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체
CN106293299B (zh) * 2016-08-16 2018-01-12 北京集创北方科技股份有限公司 用于电容感应识别系统的装置和方法
KR102564601B1 (ko) * 2016-09-19 2023-08-09 엘지디스플레이 주식회사 구동 회로, 터치 디스플레이 장치 및 그 구동 방법
TWM537259U (zh) * 2016-10-14 2017-02-21 奕力科技股份有限公司 三維觸控裝置
TWI608392B (zh) * 2017-01-18 2017-12-11 意象無限股份有限公司 觸控系統之偵測更新方法
CN107092407B (zh) * 2017-04-12 2023-10-03 北京集创北方科技股份有限公司 感应电容测量装置
CN107624176B (zh) * 2017-07-31 2020-08-28 深圳市汇顶科技股份有限公司 触摸检测方法、装置、触摸屏及电子终端
CN108073329B (zh) 2018-01-31 2021-04-27 北京集创北方科技股份有限公司 触控装置及其驱动方法和终端
CN108919997B (zh) * 2018-06-29 2021-06-29 中国联合网络通信集团有限公司 提高电容式触摸屏识别精确度的方法及装置
CN111488083B (zh) * 2019-01-25 2023-03-31 瑞昱半导体股份有限公司 具有自校准功能的电容式触摸检测装置
JP6604454B1 (ja) 2019-05-09 2019-11-13 富士通クライアントコンピューティング株式会社 情報処理装置、タッチパネル装置、及びプログラム
CN111522469B (zh) * 2020-05-06 2021-08-20 北京集创北方科技股份有限公司 触摸电容数据的调整方法及装置、电子设备、存储介质

Also Published As

Publication number Publication date
US11966539B2 (en) 2024-04-23
CN111522469A (zh) 2020-08-11
WO2021223447A1 (zh) 2021-11-11
JP2023525728A (ja) 2023-06-19
US20230185405A1 (en) 2023-06-15
JP7490819B2 (ja) 2024-05-27
CN111522469B (zh) 2021-08-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR20220162785A (ko) 터치 커패시턴스 데이터의 조정 방법 및 장치, 전자 기기, 저장 매체
CN109274309B (zh) 马达控制方法、装置、电子设备及存储介质
US20180182285A1 (en) Method and apparatus for establishing luminance compensation model, method and apparatus for compensating for luminance of display screen, and display device
AU2017232150B2 (en) Calculating device, graph display method of calculating device, and storage medium retaining graph display program
CN112764616B (zh) 一种电子墨水屏手写加速方法、装置、设备及存储介质
US12051013B2 (en) Learning device, learning method, and program therefor for shorten time in generating appropriate teacher data
KR102287948B1 (ko) 애니메이션 처리 장치 및 방법
US11480931B2 (en) Learning device, learning method, and program therefor
CN101800043A (zh) 一种显示矢量字体的方法和终端
CN113326356A (zh) 针对文本分类器的自然对抗样本生成方法及相关装置
CN111797614B (zh) 文本处理方法及装置
CN108387688B (zh) 传感器校正与气体检测方法、装置及设备、可读存储介质
CN115981617A (zh) 代码语句推荐方法、装置、电子设备及存储介质
CN111522470B (zh) 触摸数据处理方法及装置、电子设备、存储介质
CN110020285B (zh) 柱状图的处理方法及装置
CN111027344A (zh) 一种显示方法及装置
CN110908529B (zh) 可携式电子装置以及计算机可读纪录媒体
CN111625140B (zh) 触摸测试方法和触摸装置
CN113157163B (zh) 图标管理方法、图标管理装置和电子设备
KR102325954B1 (ko) 커서 정보 계산 방법
CN116931762A (zh) 滑动触摸坐标补偿方法、装置和计算机设备
CN118132158A (zh) 一种远程配置方法、装置、设备及机器可读存储介质
CN114722776A (zh) 一种白屏检测方法、装置、计算机设备及存储介质
CN118192405A (zh) 数字孪生系统中加工路径的矫正方法、加工方法和装置
CN113934326A (zh) 一种触控点的过滤方法及装置、电子设备、存储介质

Legal Events

Date Code Title Description
E902 Notification of reason for refusal