KR20220162349A - 디스플레이를 포함하는 전자 장치 및 이의 얼룩 검출 방법 - Google Patents

디스플레이를 포함하는 전자 장치 및 이의 얼룩 검출 방법 Download PDF

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Abstract

다양한 실시예들에 따른 전자 장치는 외부 디스플레이 패널의 박막트랜지스터를 테스트하는 TFT 어레이 테스터와 통신 연결되는 인터페이스, 인터페이스와 작동적으로 연결된 프로세서 및 인터페이스를 통해 TFT 어레이 테스터로부터 수신하는 테스트 데이터를 저장하는 메모리를 포함하고, 프로세서는 인터페이스로부터 테스트 데이터를 수신하고, 수신한 테스트 데이터를 그레이 스케일(gray scale)로 변환하여 제1데이터를 생성하고, 제1데이터를 기반으로 제1이미지를 생성하고, 제1이미지를 분석하여 디스플레이 패널 상의 얼룩(uneven light emission) 위치 및 얼룩의 특성을 검출하며 테스트 데이터는 어레이 테스터(array tester)를 이용하여 얻은 디스플레이 패널의 픽셀(pixel) 별 센싱 라인(sensing line) 출력 값을 포함할 수 있다.

Description

디스플레이를 포함하는 전자 장치 및 이의 얼룩 검출 방법{DISPLAY APPARATUS AND METHOD OF DETECTING UNEVEN LIGHT EMISSION DEFECT THEREOF}
본 문서는 전자 장치에 관한 것이며, 예를 들어 얼룩 검사 효율을 향상시키기 위한 전자 장치 및 이의 얼룩 검출 방법에 관한 것이다.
전자 장치는 유기 발광 다이오드(OLED: organic light emitting diodes) 디스플레이를 포함할 수 있다. 유기 발광 다이오드(OLED)는 유기 화합물 층으로 이루어진 LED 반도체 소자로서, 자체 발광하여 LCD(liquid crystal display)와는 달리 백라이트 없이도 동작할 수 있다. 또한, 유기 발광 다이오드(OLED)는 응답 속도가 빠르고 야외에서도 또렷한 화면을 제공할 수 있으며, 명도가 낮은 영상을 표시할 때 소자의 전력 소모가 줄어들기 때문에 실 사용 환경에서 전력 효율이 향상될 수 있다.
최근, 액정 디스플레이 및 플라즈마 디스플레이 등의 평판 디스플레이(Flat Panel Display, FPD) 제조 산업의 비중이 점점 증대되는 상황에서 이들 제품의 품질을 관리하는 것이 중요한 이슈가 되고 있다. 이에, 디스플레이 제조업체는 자동 검사 장치를 갖추어 불량을 사전에 검출하여 제품의 품질 수준을 유지하는데 노력하고 있다.
한편, 평판 디스플레이 공정 중, 포토(Photo) 공정에서는 이물이나 노광시 생기는 마스크 불량 및 공정조건에 따라서 얼룩 결함이 발생할 수 있다. 이러한 얼룩 결함은 마이크로 결함처럼 특정한 이물 또는 전극선의 오픈(Open)으로 발생하는 것이 아니라, 셀 (Cell)간의 간격이 미세하게 틀어지거나 셀을 이루는 선폭이 미세하게 넓어지거나 좁아져서 나타날 수 있다. 다시 말해 평판 디스플레이 상의 얼룩은 셀간의 간격이 미세하게 틀어져서 빛의 산란을 유발하는 결함을 의미할 수 있다. 얼룩을 검사하기 위해서 평판 디스플레이 제조 공정에서 평판 디스플레이로부터 일정거리를 두고, 사람이 목시 검사를 하거나 카메라를 이용하여 대략적으로 결함을 검출하는 매크로(Macro) 검사방식을 이용할 수 있다.
유기 발광 다이오드(OLED)를 비롯한 평판 디스플레이는 해상도를 증대시키기 위하여 단위 면적 당 더 많은 픽셀을 포함시킬 수 있다. 이로 인해 셀 (Cell)간의 간격이 줄어드는 추세이며, 이는 사람의 눈으로 얼룩을 검사하는데 한계를 가져올 수 있다. 카메라를 이용하는 비전 검사 역시 고성능의 카메라가 필요할 수 있으며, 주위 환경(예: 빛, 온도)에 따라 얼룩 판별에 어려움이 발생할 수 있다. 본 문서의 다양한 실시예들에 따르면, 카메라의 성능이나 주위 환경에 영향을 받지 않고 디스플레이 장치의 얼룩을 판별할 수 있는 전자 장치 및 이의 얼룩 검사 방법을 제공할 수 있다.
또한 카메라를 이용한 비전 검사는 디스플레이 패널의 점등을 수반하는데, 이로 인해 디스플레이 패널에 OLED와 같은 소자가 설치된 이후 얼룩 검사를 수행할 수 있다. 이후 얼룩을 검출하더라도 기 설치된 소자를 재활용하기는 어려울 수 있어 기 설치된 소자가 낭비될 수 있다. 또한, OLED와 같은 소자를 설치한 이후에나 얼룩을 검출할 수 있어 시간적으로도 낭비가 발생할 수 있다. 본 문서의 다양한 실시예들에 따르면 점등 검사 이전에 얼룩 검사를 수행하여 시간 및 소자의 낭비를 방지하는 전자 장치 및 이의 얼룩 검사 방법을 제공할 수 있다.
다양한 실시예들에 따른 전자 장치는 외부 디스플레이 패널의 박막트랜지스터를 테스트하는 TFT 어레이 테스터와 통신 연결되는 인터페이스, 인터페이스와 작동적으로 연결된 프로세서 및 인터페이스를 통해 TFT 어레이 테스터로부터 수신하는 테스트 데이터를 저장하는 메모리를 포함하고, 프로세서는 인터페이스로부터 테스트 데이터를 수신하고, 수신한 테스트 데이터를 그레이 스케일(gray scale)로 변환하여 제1데이터를 생성하고, 제1데이터를 기반으로 제1이미지를 생성하고, 제1이미지를 분석하여 디스플레이 패널 상의 얼룩(uneven light emission) 위치 및 얼룩의 특성을 검출하며 테스트 데이터는 어레이 테스터(array tester)를 이용하여 얻은 디스플레이 패널의 픽셀(pixel) 별 센싱 라인(sensing line) 출력 값을 포함할 수 있다.
다양한 실시예들에 따른 전자 장치의 얼룩 보정 방법에 있어서, 외부 디스플레이 패널의 박막트랜지스터를 테스트하는 TFT 어레이 테스터와 통신 연결되는 인터페이스로부터 테스트 데이터를 수신하는 동작, 수신한 테스트 데이터를 그레이 스케일(gray scale)로 변환하여 제1데이터를 생성하는 동작, 제1데이터를 기반으로 제1이미지를 생성하는 동작 및 제1이미지를 분석하여 디스플레이 패널 상의 얼룩(uneven light emission) 위치 및 얼룩 특성을 검출하는 동작을 포함할 수 있다. 이 때 테스트 데이터는 어레이 테스터(array tester)를 이용하여 얻은 디스플레이 패널의 픽셀(pixel) 별 센싱 라인(sensing line) 출력 값을 포함할 수 있다.
본 문서의 다양한 실시예에 따른 디스플레이를 포함하는 전자 장치 및 이의 얼룩 검사 방법에 의하면 TFT회로를 검사하는 과정에서 어레이 테스터(array tester)를 통해 얻어진 결과값을 보정하여 평판 디스플레이 상의 얼룩이 발생한 지점을 검출할 수 있다.
다양한 실시예에 따르면, 비전 검사를 수행하지 않고도 얼룩을 검사할 수 있어, 비전 검사에 동원되는 카메라의 성능이나 주위 환경에 관계없이 정확하게 디스플레이 장치의 얼룩을 판별할 수 있다.
다양한 실시예에 따르면, 비전 검사는 OLED를 포함하는 디스플레이 패널을 점등시켜야 진행할 수 있는 반면, 어레이 테스트는 점등하기 이전에 수행할 수 있어 비전 검사에 비해 이전 단계에서 얼룩을 검출할 수 있다. 이를 통해 시간 및 디스플레이 패널 상에 설치되는 소자를 절약하는 효과를 가져올 수 있다.
도 1은 다양한 실시예들에 따른, 어레이 테스트 장비의 블록도를 나타낸 것이다.
도 2는 다양한 실시예들에 따른 전자 장치의 블록도를 나타낸 것이다.
도 3은 다양한 실시예들에 따른 전자 장치의 테스트 데이터 및 얼룩 검출을 위한 변환된 이미지를 나타낸 것이다.
도 4는 다양한 실시예들에 따른 어레이 테스트를 진행하기 위한 회로도를 나타낸 것이다.
도 5는 도 4의 TFT 회로의 어레이 테스트 값을 나타낸 것이다.
도 6은 다양한 실시예들에 따른 전자 장치의 테스트 데이터의 보정 과정을 나타낸 것이다. 도 7은 다양한 실시예들에 따른 전자 장치의 테스트 데이터의 보정 값을 표로 정리한 것이다.
도 8 내지 도 10은 다양한 실시예들에 따른 전자 장치의 얼룩 검사 및 얼룩의 분류 과정을 나타낸 것이다.
도 11은 다양한 실시예에 따른 전자 장치의 테스트 데이터 보정 과정에서 디스플레이 패널의 면적이 큰 경우 변형된 보정 방법을 적용하는 과정을 나타낸 것이다.
도 12는 다양한 실시예에 따른 전자 장치의 얼룩 검사 방법의 순서도를 나타낸 것이다.
도 1은, 다양한 실시예들에 따른, 어레이 테스트 장비의 블록도를 나타낸 것이다.
도 1에 따른 어레이 테스트 장비(100)는 제 1 박막 트랜지스터(101), 커패시터(102), 제 2 박막 트랜지스터(103), 유기 발광 소자(104), 전원 드라이버(105), 스캔 드라이버(106), 데이터 드라이버(107)) 및 프로세서(120)를 포함할 수 있다.
일 실시예에 따르면, 제 1 박막 트랜지스터(101)는 스위칭 박막 트랜지스터를 포함할 수 있다. 제 1 박막 트랜지스터(101)의 게이트(gate) 전극은 스캔 드라이버(106)에 연결될 수 있으며, 제 1 박막 트랜지스터(101)의 소스(source) 전극은 전원 드라이버(105)에 연결될 수 있다.
일 실시예에 따르면, 제 2 박막 트랜지스터(103)의 게이트 전극은 커패시터(102)를 통해 전원 드라이버(105)와 연결될 수 있다. 제 1 박막 트랜지스터(101)는 스캔 드라이버(106)로부터 인가되는 스캔 신호에 의하여 구동될 수 있으며, 데이터 드라이버(107)로부터 인가되는 데이터 신호를 제 2 박막 트랜지스터(103)에 전달할 수 있다. 제 2 박막 트랜지스터(103)는 제 1 박막 트랜지스터(101)를 통하여 전달되는 데이터 신호를 수신할 수 있으며, 제 1 박막 트랜지스터(101)의 게이트 전극과 소스 전극 사이의 전압 차이에 대응하여 유기 발광 소자(104)로 유입되는 전류의 크기를 제어할 수 있다. 커패시터(102)는 제 1 박막 트랜지스터(101)를 통하여 전달되는 데이터 신호를 저장할 수 있다.
일 실시예에 따르면, 프로세서(120)는 소프트웨어(예: 프로그램)를 실행하여 프로세서(120)에 연결된 어레이 테스트 장비(100)의 적어도 하나의 다른 구성요소(예: 하드웨어 또는 소프트웨어 구성요소)를 제어할 수 있고, 다양한 데이터 처리 또는 연산을 수행할 수 있다. 일실시예에 따르면, 데이터 처리 또는 연산의 적어도 일부로서, 프로세서(120)는 다른 구성요소(예: 데이터 드라이버(107))로부터 수신된 명령 또는 데이터를 메모리(130)에 저장하고, 메모리(130)에 저장된 명령 또는 데이터를 처리하고, 결과 데이터를 비휘발성 메모리(미도시)에 저장할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 프로세서(120)는 그래픽 처리 장치, 신경망 처리 장치(NPU: neural processing unit), 이미지 시그널 프로세서, 센서 허브 프로세서, 또는 커뮤니케이션 프로세서를 포함할 수 있다.
일 실시예에 따르면, 유기발광다이오드(oled)는 TFT(thin flim transistor)제조, 증착(depositon), 봉지(encapsulation), 셀(cell) 및 모듈 공정을 거쳐 제조될 수 있다. 증착 공정은 유리 기판 위에 절연막, 반도체막, 금속막 등을 화학적으로 또는 물리적으로 형성하는 공정을 의미할 수 있다. 봉지 공정은 유기발광다이오드의 빛을 내는 유기 물질과 전극이 산소 및 수분에 반응하여 발광 특성을 잃는 것을 방지하기 위해 산소 및 수분을 차단하는 공정을 의미할 수 있다. 셀 공정은 제작한 TFT 기판을 용도에 맞춰 부품화시킬 수 있도록 잘라내는 공정을 의미할 수 있다. 모듈 공정은 셀 공정을 거친 패널에 부속품(예: display driver ic, 편광판)을 부착하여 모듈화해서 부품으로 사용할 수 있도록 제작하는 공정을 의미할 수 있다.
TFT 제조 공정은 박막 트랜지스터(thin film transistor, TFT)를 형성하는 공정을 의미할 수 있다. 박막 트랜지스터는 디스플레이 패널의 가장 작은 단위인 픽셀의 on/off를 제어하여 신호를 출력할 수 있다. 박막 트랜지스터는 작은 반도체의 일종으로 볼 수 있으며, 전기적인 신호를 제어하여 빛을 켜고 끄는 스위치 역할을 할 수 있다. 이러한 관점에서 TFT 제조 공정은 유리 기판 위에 디스플레이의 기본 요소인 픽셀의 전극 스위치를 제작하는 공정으로 이해될 수 있다.
일 실시예에 따르면, 박막 트랜지스터(thin film transistor, TFT)들은 다수의 마스크 공정을 통해 형성될 수 있다. 마스크 공정은 박막 증착(deposition) 공정, 세정(cleaning) 공정, 포토(photolithography) 공정, 식각(etching) 공정, 스트립(strip) 공정, 검사(inspection) 공정을 비롯한 일련의 공정을 포함할 수 있다. 각 마스크 공정에서는 이물질로 인한 불량이 발생할 수 있다. 예를 들어, 박막 트랜지스터 소자, 화소 전극 및 배선 중 적어도 어느 하나의 불량이 발생하는 경우 패널 상에 픽셀 불량(pixel defect)이 발생할 수 있다.
전기적 방식의 어레이 테스트 장비(full contact array tester)(100)는 유기발광다이오드(oled)의 불량 여부 및 불량이 발생한 위치를 검출하기 위하여 사용될 수 있다. 전기적 방식의 어레이 테스트 장비(full contact array tester)(100)는 TFT(thin film transistor) 어레이(array) 기판 상의 픽셀 내부에 포함된 커패시터(102)에 일정한 전하량을 충전시키고, 각 픽셀로부터 출력되는 전류 값을 확인하여 픽셀의 불량 여부를 테스트할 수 있다. 픽셀 불량이나 라인 불량은 일반적으로 배선의 불량으로 발생할 수 있으므로 회로 상에 단선(open)이 발생한 경우, 단선된 부분을 연결하는 방법으로 불량이 발생한 부분을 수리할 수 있다. 회로 상에 단락(short)이 발생한 경우 해당 부분을 단선시키는 방법으로 불량이 발생한 부분을 수리할 수 있다.
어레이(array)는 전자 장치의 서로 다른 영역 또는 구성요소(예: 픽셀들, 셀들 또는 다른 구조들)를 포함할 수 있다. 어레이 내의 픽셀들, 셀들 또는 다른 구조들은, 어레이 주변 회로에 의해 제어될 수 있다. 픽셀(pixel)은 하나의 전자 소자에 대응하는 어레이의 일부분을 의미할 수 있다. 일 실시예에서, 픽셀은 OLED 및 그와 대응 하는 픽셀 구동 회로를 포함하는 개념을 나타낼 수 있다.
다만, 어레이 테스트(array test)를 통해 출력되는 전류 값을 확인하더라도 개별적인 픽셀의 불량 여부를 판단할 수 있을 뿐, 전체 디스플레이 상의 얼룩(uneven light emission)결함 유무 및 얼룩 결함의 발생 위치까지 검출하기는 어려울 수 있다. 이러한 한계를 극복하고 얼룩 결함을 검출하기 위하여 비전(vision) 검사를 수행할 수 있다. 비전 검사는 인체의 시력을 이용하거나 고화질의 카메라 장비를 이용하여 수행될 수 있다. 카메라 장비를 이용하여 이미지를 촬영하고, 이러한 이미지를 데이터화 하여 저장 후 이러한 데이터를 보상하여 얼룩 결함을 개선할 수 있다. 이러한 비전 검사는 직관적으로 얼룩 결함을 찾아낼 수 있어, 개별적인 픽셀의 불량 여부만을 검출하는 어레이 테스터의 한계를 보완할 수 있다.
그러나 고화질의 이미지 출력을 위해 경박 단소화되는 디스플레이 패널의 특성 상, 인체를 이용한 시력 검사는 한계가 있을 수 있으며, 고화질의 카메라를 이용한 비전 검사 역시 고화질의 카메라를 필요로 하여 비용 및 시간이 소모되는 한계를 가질 수 있다. 그리고 비전 검사는 빛을 내는 유기 물질을 점등시켜 해당 이미지를 검사하는 방식으로, 유기 물질이 유리 기판에 증착된 후 수행될 수 있다. 유기 물질이 유리 기판에 증착된 후 비전 검사를 수행하여 얼룩의 위치를 검출하더라도 이미 증착된 유기 물질은 재활용이 어려울 수 있으며, 이 과정에서 유기 물질 및 유리 기판의 낭비가 발생할 수 있다.
본 문서의 다양한 실시예들에 따른 전자 장치 및 그의 얼룩 검출 방법에 의하면, 점등 검사를 하지 않고서도 어레이 테스트(array test)를 통해 출력되는 전류 값을 변환하여 얼룩(uneven light emission)결함 유무 및 얼룩 결함의 발생 위치를 검출할 수 있다. 점등 검사를 하지 않고 얼룩 결함을 찾아낼 경우 인체의 한계 및 카메라 장비의 한계를 극복할 수 있다. 또한, 고화질 카메라 장비에 들어가는 비용을 절약할 수 있으며, 유기 물질을 증착하기 전 얼룩이 발생하는 위치를 검출하여 유기 물질 및 유리 기판을 절약할 수 있다. 이하에서는 얼룩(uneven light emission)결함 유무 및 얼룩 결함의 발생 위치를 검출하기 위한 전자 장치 및 이의 얼룩 검출 방법에 대해 설명할 것이다.
도 2는 다양한 실시예들에 따른 전자 장치의 블록도를 나타낸 것이다.
도 2의 전자 장치(200)는 입출력 인터페이스(210), 입출력 인터페이스(210)와 작동적으로 연결된 프로세서(220) 및 메모리(230)를 포함할 수 있으며, 도시된 구성 중 일부가 생략 또는 치환될 수 있다.
다양한 실시예에 따르면, 입출력 인터페이스(210)는 전자 장치(200)가 외부 전자 장치(예: 도 1 의 어레이 테스트 장비(100))와 직접 또는 무선으로 연결되기 위해 사용될 수 있다. 이를 위해 입출력 인터페이스(210)는 하나 이상의 지정된 프로토콜들을 지원할 수 있다. 예를 들어, 입출력 인터페이스(210)의 지원 가능한 프로토콜은 HDMI(high definition multimedia interface), USB(universal serial bus) 인터페이스, SD카드 인터페이스, 또는 오디오 인터페이스를 포함할 수 있다.
일 실시예에 따르면, 입출력 인터페이스(210)는 어레이 테스트 장비(100)로부터 테스트 결과 정보를 수신하여 전자 장치(200) 내부의 프로세서(220) 및 메모리(230)로 전달할 수 있다. 또한, 입출력 인터페이스(210)는 외부 디스플레이 패널의 박막트랜지스터를 테스트하는 TFT 어레이 테스터와 통신 연결될 수 있다.
다양한 실시예에 따르면, 메모리(230)는 공지의 휘발성 메모리(volatile memory) 및 비휘발성 메모리(non-volatile memory)를 포함할 수 있으며, 구체적인 구현 예에 있어서는 한정되지 않는다. 메모리(230)는 프로세서(220)에서 수행될 수 있는 다양한 인스트럭션(instruction)들을 저장할 수 있다. 이와 같은 인스트럭션들은 프로세서(220)에 의해 인식될 수 있는 산술 및 논리 연산, 데이터 이동, 입출력을 포함하는 다양한 제어 명령을 포함할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 메모리(230)는 입출력 인터페이스(210)에서 전달받은 어레이 테스트 결과 정보를 저장할 수 있다.
다양한 실시예에 따르면, 프로세서(220)는 전자 장치(200)의 각 구성요소들의 제어 및/또는 통신에 관한 연산이나 데이터 처리를 수행할 수 있는 구성을 포함할 수 있다. 프로세서(220)는 적어도 하나의 디스플레이 패널(210) 및 메모리(230)를 포함하는 전자 장치(200)의 내부 구성요소와 기능적으로(functionally), 작동적으로(operatively) 및/또는 전기적으로(electrically) 연결될 수 있다.
프로세서(220)가 전자 장치(200) 내에서 구현할 수 있는 연산 및 데이터 처리 기능에는 한정됨이 없을 것이나, 본 문서에서는 TFT(thin film transistor) 공정 후 획득한 테스트 데이터를 이미지로 변환하여 얼룩(uneven light emission)을 검출하는 동작을 처리하기 위한 다양한 실시예들에 대해 설명하기로 한다. 박막 트랜지스터(thin film transistor, TFT)를 형성하는 TFT 공정 과정에 대해서는 앞선 도 1에서 설명한 바 있다. 후술할 프로세서(220)의 동작들은 메모리(230)에 저장된 인스트럭션들을 로딩 함으로써 수행될 수 있다.
다양한 실시예들에 따르면, 어레이 테스트 장비(예: 도 1의 어레이 테스트 장비(100))는 디스플레이 패널 상에서 픽셀(pixel)단위로 어레이 테스트(array test)를 진행하여 테스트 데이터를 출력할 수 있다. 어레이 테스트(array test)를 진행하여 테스트 데이터를 출력하는 과정에 대해서는 앞선 도 1에서 언급된 바 있으며, 도 4 내지 도 5를 통해 상세히 설명될 것이다. 프로세서(200)는 어레이 테스터 결과(테스트 데이터)를 수신하고 얼룩 결함 유무 및 결함의 위치를 검출하기 위한 연산을 수행할 수 있다. 이 연산 과정 및 연산을 통한 얼룩 검출 과정은 아래 도 6 내지 도 10을 통해 설명될 것이다.
다양한 실시예들에 따르면, 프로세서(220)는 테스트 데이터의 편차를 보정하여 제1데이터를 생성할 수 있다. 제1데이터를 생성하기 위한 편차 보정 방법에 대해서는 도 6 내지 도 7에서 상세히 설명될 것이다.
다양한 실시예들에 따르면, 프로세서(220)는 제1데이터를 설정된 스케일(scale)로 변환하여 제2데이터를 생성할 수 있다. 여기서 설정된 스케일은 0~255 사이의 값을 갖는 그레이(gray) 스케일을 포함할 수 있다. 프로세서(220)는 제2데이터를 기반으로 제1이미지를 생성할 수 있다.
일 실시예에 따르면, 프로세서(220)는 디스플레이 패널의 크기를 박막트랜지스터의 개수로 나누어 개별적인 박막트랜지스터의 크기를 파악하고, 파악된 박막트랜지스터의 크기 별로 디스플레이 패널 상에서 박막트랜지스터의 위치를 구분하고, 제2데이터를 박막 트랜지스터의 위치와 대응하여 픽셀(pixel) 별로 표시하고, 픽셀 단위로 표시된 제2데이터의 값에 대응하는 명도를 갖도록 표시하여 제1이미지를 생성할 수 있다.
다양한 실시예들에 따르면, 프로세서(220)는 제1이미지를 분석하여 디스플레이 패널 상의 얼룩(uneven light emission)을 검출할 수 있다. 디스플레이 패널 상의 얼룩은 지점(spot) 얼룩 및 포그(fog) 얼룩으로 분류될 수 있으며, 분류 과정에 대해서는 도 8 내지 도 10을 통해 상세히 설명될 것이다.
도 3은 다양한 실시예들에 따른 전자 장치의 테스트 데이터 및 얼룩 검출을 위한 변환된 이미지를 나타낸 것이다.
다양한 실시예들에 따르면, 프로세서(예: 도 2의 프로세서(220))는 디스플레이 패널 상에서 픽셀(pixel)단위로 어레이 테스트(array test)를 진행하여 테스트 데이터를 출력할 수 있다. 테스트 데이터 이미지(310)는 픽셀(pixel)별로 출력된 테스트 데이터를 라인(line) 별로 이미지화하여 나타낸 이미지를 의미할 수 있다. 테스트 데이터 영상화 이미지(320)는 픽셀(pixel)별로 출력된 테스트 데이터를 편차 보정 방식에 따라 보정 후 그레이 스케일로 이미지화하여 나타낸 것이다.
일 실시예에 따르면, 점등 영상(330)은 디스플레이 패널 상에 액정표시장치(liquid crystal display, LCD), 유기발광 다이오드 표시장치(organic light emitting diode display, OLED Display)와 같은 전계발광 표시장치(electroluminescence display, ELD), 전계 방출 표시장치(field emission display, FED), 플라즈마 디스플레이 패널(plasma display panel, PDP), 전기영동 표시장치(electrophoresis display, EPD) 중 적어도 어느 하나를 증착 후 점등시켜 얻을 수 있다. 테스트 데이터 이미지(310)와 달리 점등 영상(330)을 통해 디스플레이 패널 상에서 픽셀 단위로 어둡고 흐릿한 지역을 분류할 수 있다.
다만, 경박 단소화 되는 표시 장치의 특성으로 점등 검사를 하더라도 불량 및 얼룩(uneven light emission)을 검출하기 위해 고성능의 카메라가 더 필요할 수 있다. 또한, 점등 영상(330)을 이용하여 검사를 진행하고, 이후 디스플레이 패널 상의 결함(예: 얼룩(uneven light emission))을 검출하더라도 이미 디스플레이 패널 상에 액정표시장치(liquid crystal display, LCD), 유기발광 다이오드 표시장치(organic light emitting diode display, OLED Display)와 같은 전계발광 표시장치(electroluminescence display, ELD), 전계 방출 표시장치(field emission display, FED), 플라즈마 디스플레이 패널(plasma display panel, PDP), 전기영동 표시장치(electrophoresis display, EPD) 중 적어도 어느 하나가 증착되어 시간상으로나, 비용상으로 낭비가 발생할 수 있다.
본 문서에 따른 얼룩 검사 방법 및 이를 위한 전자 장치(200)는 점등 검사를 하지 않고서도 테스트 데이터를 보정 및 이미지화하여 디스플레이 패널 상의 얼룩 결함을 검출할 수 있다. 이를 통해, 고성능의 카메라 장비 없이도 디스플레이 패널의 검사를 진행할 수 있으며, 액정표시장치(Liquid Crystal Display, LCD) 등을 증착하기 이전 단계에서 디스플레이 패널 상의 불량 위치를 검출하여 유기 물질, 유리 기판 비용, 증착 시간 및 증착 비용을 절감할 수 있다.
도 4는 다양한 실시예들에 따른 어레이 테스트를 진행하기 위한 회로도를 나타낸 것이다.
전자 장치(예: 도 2의 전자 장치(200))는 픽셀 어레이를 포함할 수 있다. 또한, 픽셀 어레이 상의 픽셀들 각각은 도 4에 나타낸 회로(400)를 포함할 수 있다.
일 실시예에 따른 회로(400)는 제1커패시터(405), 제1트랜지스터(410), 제2트랜지스터(420) 및 제3트랜지스터(430)를 포함할 수 있다. 제2트랜지스터(420)는 드라이브 트랜지스터(drive transistor)를 포함할 수 있다.
회로(400)는 TFT 회로로 동작하여 일정한 수준의 전압을 공급받아 (예: 5V) 전류 값을 출력할 수 있다. 회로(400)는 TFT 특성을 반영할 수 있으며, 특히, drive transistor(예: 제2트랜지스터(420))의 특성에 따라 액정표시장치(liquid crystal display, LCD), 유기발광 다이오드 표시장치(organic light emitting diode display, OLED Display)와 같은 전계발광 표시장치(electroluminescence display, ELD), 전계 방출 표시장치(field emission display, FED), 플라즈마 디스플레이 패널(plasma display panel, PDP), 전기영동 표시장치(electrophoresis display, EPD) 의 발광이 달라질 수 있다.
도 5는 도 4의 TFT 회로의 어레이 테스트 값을 나타낸 것이다.
일 실시예에 따르면, TFT 회로에 일정한 전압(예: 5V)을 인가하여 일정한 패턴의 출력을 얻을 수 있다. 이 때 픽셀 단위로 불량이 존재하는 경우 패턴이 다르게 형성될 수 있다. 도 5의 그래프에서 x축은 게이트(gate)의 번호(number)를 의미할 수 있고, y축은 출력된 전류값(nA)을 의미할 수 있다. 도 5의 그래프에 따르면, 게이트 단위의 출력 패턴이 일정하게 형성되는 것을 확인할 수 있다.
도 6은 다양한 실시예들에 따른 전자 장치의 테스트 데이터의 보정 과정을 나타낸 것이다. 도 7은 다양한 실시예들에 따른 전자 장치의 테스트 데이터의 보정 값을 표로 정리한 것이다.
일 실시예에 따르면, 프로세서(예: 도 2의 프로세서(220))는 도 4의 회로(400)를 통해 테스트 데이터를 출력할 수 있다. 테스트 데이터 및 그의 출력 과정에 대해서는 앞선 도 2 내지 도 3을 통해 설명한 바 있다. 픽셀 별로 출력한 테스트 데이터를 라인 별로 나타내어 테스트 데이터 이미지(610)를 얻을 수 있고, 이를 편차 보정하여 테스트 데이터 영상화 이미지(620)를 얻을 수 있다. 편차 보정은 픽셀 단위로 수행될 수 있으며, 테스트 데이터에서 라인 별 데이터 값을 빼고, 셀 단위의 데이터 값을 더하여 보정값을 생성할 수 있다. 이를 수식으로 정리하면 다음과 같다.
[ 보정 값 = 테스트 데이터 값 - (라인 평균값 - 셀 평균값) ]
이런 방식을 이용하여 픽셀 단위로 보정값을 생성할 수 있으며, 예를 들어, 도 7의 표 720과 같은 결과를 얻을 수 있다. 도 7에 따르면, 테스트 데이터는 표 710과 같이 나타낼 수 있고, 라인 별로 라인 평균값(701)을 계산할 수 있다. 또한, 셀 평균값(703)을 구하여 앞서 언급한 것처럼 테스트 데이터에서 라인 별 데이터 값(701)을 빼고, 셀 단위의 데이터 값(703)을 더하여 표 720과 같은 보정값을 생성할 수 있다.
도 8 내지 도 10은 다양한 실시예들에 따른 전자 장치의 얼룩 검사 및 얼룩의 분류 과정을 나타낸 것이다.
일 실시예에 따르면, 프로세서(예: 도 2의 프로세서(220))는 편차 보정을 통하여 픽셀 단위로 보정값(예: 도 7의 표 720)을 생성할 수 있다. 또한, 보정 값을 그레이 스케일(gray scale)에 따라 변환하여 제1이미지를 생성할 수 있다. 그레이 스케일(gray scale) 변환은 이미지의 각 픽셀 값을 0~255 사이의 값으로 나타낼 수 있으며, 0은 검은색, 255는 흰색을 의미할 수 있다.
도 8에 따르면, 프로세서(220)는 그레이 스케일 값이 230을 초과하는 경우 얼룩(uneven light emission)으로 분류할 수 있다. 또한 얼룩으로 분류된 픽셀이 연속적으로 연결되어 있고, 연결된 픽셀의 수가 일정 수준(예: 8개)미만인 경우 해당 지점을 지점(spot) 얼룩(800)으로 분류할 수 있다.
도 9 내지 도 10에 따르면, 프로세서(220)는 특정 픽셀을 기준으로 특정 픽셀과 주변(상,하,좌,우 및 대각선)의 8개의 픽셀의 평균값이 30 이상이며, 해당 픽셀이 연속적으로 연결되어 있고, 연결된 픽셀의 수가 일정 수준(예: 30개)이상인 경우 해당 지점을 포그(fog) 얼룩으로 분류할 수 있다. 주위 픽셀의 평균값은 다음과 같이 면적 단위의 평균값을 구하는 공식을 통하여 계산될 수 있다.
[Area(X, Y) Differential Average = (D(X-1,Y-1)+D(X,Y-1)+D(X+1,Y-1)+D(X-1,Y)+D(X,Y)+D(X+1,Y)+D(X-1,Y+1)+D(X,Y+1)+D(X+1,Y+1))/9]
(X,Y)를 기준으로 해서, x축으로 +1, -1 지점 및 y축으로 +1, -1 지점들의 평균값을 계산할 수 있다. 이러한 방식으로 개별 픽셀의 그레이 스케일 값 및 주위 픽셀을 고려한 평균값을 구하고, 주위의 픽셀들과 대비할 수 있으며, 전체적으로 그레이 스케일 값이 주변 픽셀들과 다른 얼룩(uneven light emission)을 검출해낼 수 있다.
도 10은 주변 픽셀의 평균값이 30 이상이며, 해당 픽셀이 연속적으로 연결된 디스플레이 패널을 이미지화하여 나타낸 것이다. 일 실시예에 따르면, 프로세서(220)는 픽셀의 평균값이 30 이상인 픽셀들이 모인 지점(1000)을 포그(fog) 얼룩으로 분류할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 프로세서(220)는 제1이미지를 분석하여 얼룩 검출 후 제1이미지를 디스플레이 패널 상에 표시하고, 얼룩으로 분류된 픽셀의 좌표 정보를 취합하여 디스플레이 패널 상에 표시된 제1이미지 상에 검출된 얼룩의 위치(1000)를 표시할 수 있다.
도 11은 다양한 실시예에 따른 전자 장치의 테스트 데이터 보정 과정에서 디스플레이 패널의 면적이 큰 경우 변형된 보정 방법을 적용하는 과정을 나타낸 것이다.
도 11에 따르면, 앞선 도 6의 픽셀 단위 보정과는 달리 대형 면적의 디스플레이 패널의 경우 편차 보정에 있어 다른 방식을 적용할 수 있다. 편차 보정은 픽셀(pixel) 단위가 아닌 면적(area) 단위로 수행될 수 있으며, 테스트 데이터에서 라인 별 데이터 값을 빼고, 셀(cell) 단위의 데이터 값이 아닌 면적(area) 단위의 데이터 값을 더하여 보정값을 생성할 수 있다. 면적 단위의 데이터 값은 앞선 도 9에서 설명한 것처럼 주위 픽셀의 평균값(x축 및 y축으로 +1, -1 지점의 픽셀값 평균)을 구하는 방식으로 계산될 수 있다.
[(대형 면적 패널) 보정값 = 픽셀(pixel) 별 테스트 데이터(array pixel data) - (라인(line) 별 데이터의 평균값 - 면적(area) 단위 데이터의 평균값)]
다양한 실시예들에 따르면, 전자 장치(예: 도 2의 전자 장치(200))는 외부 디스플레이 패널의 박막트랜지스터를 테스트하는 TFT 어레이 테스터와 통신 연결되는 인터페이스(예: 도 2의 입출력 인터페이스(210)), 인터페이스와 작동적으로 연결된 프로세서(예: 도 2의 프로세서(220)) 및 인터페이스를 통해 TFT 어레이 테스터로부터 수신하는 테스트 데이터를 저장하는 메모리(예: 도 2의 메모리(230))를 포함하고, 프로세서(220)는 인터페이스(210)로부터 테스트 데이터를 수신하고, 수신한 테스트 데이터를 그레이 스케일(gray scale)로 변환하여 제1데이터를 생성하고, 제1데이터를 기반으로 제1이미지를 생성하고, 제1이미지를 분석하여 디스플레이 패널 상의 얼룩(uneven light emission) 위치 및 얼룩의 특성을 검출하며 테스트 데이터는 어레이 테스터(array tester)를 이용하여 얻은 디스플레이 패널의 픽셀(pixel) 별 센싱 라인(sensing line) 출력 값을 포함할 수 있다.
다양한 실시예들에 따르면, 프로세서(220)는 제1데이터를 픽셀(pixel)값, 라인(line) 값 및 셀(cell)값 단위로 나누고, 보정하여 제2데이터를 생성하고, 제2데이터를 기반으로 제1이미지를 생성할 수 있다.
다양한 실시예들에 따르면, 프로세서(220)는 디스플레이 패널의 크기를 박막트랜지스터의 개수로 나누어 개별적인 박막트랜지스터의 크기를 파악하고, 파악된 박막트랜지스터의 크기 별로 디스플레이 패널 상에서 박막트랜지스터의 위치를 구분하고, 제1이미지를 박막트랜지스터의 위치와 대응하여 픽셀(pixel) 별로 표시하며, 픽셀 단위로 나누어진 제1이미지의 그레이 스케일 값이 일정 수준을 초과하는 경우 얼룩(uneven light emission)으로 분류하고, 해당 픽셀의 좌표 정보를 메모리(240)에 저장할 수 있다.
다양한 실시예들에 따르면, 프로세서(220)는 얼룩으로 분류된 픽셀이 디스플레이 패널 상에서 제1수량 미만으로 연결된 경우 지점(spot) 얼룩으로 분류하고, 얼룩으로 분류된 픽셀이 디스플레이 패널 상에서 제2수량을 초과하여 연결된 경우 포그(fog) 얼룩으로 분류할 수 있다.
다양한 실시예들에 따르면, 프로세서(220)는 제1이미지를 분석하여 얼룩 검출 후 제1이미지를 디스플레이 패널 상에 표시하고, 얼룩으로 분류된 픽셀의 좌표 정보를 취합하여 디스플레이 패널 상에 표시된 제1이미지 상에 검출된 얼룩의 위치를 표시할 수 있다.
도 12는 다양한 실시예에 따른 전자 장치의 얼룩 검사 방법의 순서도를 나타낸 것이다.
도시된 방법(1200)은 앞서 도 2를 통해 설명한 전자 장치(예: 도 2의 전자 장치(200))에 의해 수행될 수 있으며, 이하에서는 앞서 설명한 바 있는 기술적 특징에 대해서는 설명을 생략하기로 한다.
다양한 실시예들에 따르면, 전자 장치(200)의 얼룩 보정 방법은 인터페이스(예: 도 2의 인터페이스(210))로부터 테스트 데이터를 수신하는 동작, 수신된 테스트 데이터를 그레이 스케일(gray scale)로 변환하여 제1데이터를 생성하는 동작, 제1데이터를 기반으로 제1이미지를 생성하는 동작 및 제1이미지를 분석하여 디스플레이 패널 상의 얼룩(uneven light emission) 위치 및 얼룩 특성을 검출하는 동작을 포함할 수 있다.
동작 1210에서 전자 장치(200)는 소정의 전압(예: 5V)을 개별 픽셀의 TFT 회로에 인가하고, 개별 픽셀들의 센싱 라인(sensing line)의 출력값을 확인하여 개별 픽셀이 포함된 디스플레이 패널의 불량 여부를 판단할 수 있다. 디스플레이 패널의 불량 및 TFT 공정 후 어레이 테스트 과정에 대해서는 앞선 도 1에서 설명한 바 있다. 여기서 출력값은 소정의 전압(예: 5V)이 인가된 박막트랜지스터(TFT)회로의 출력 값을 의미할 수 있다. 구체적으로 전자 장치(200)의 프로세서(예: 도 2의 프로세서(220))는 디스플레이 패널 상에서 픽셀(pixel)단위로 어레이 테스트(array test)를 진행하여 테스트 데이터를 출력할 수 있다.
동작 1220에서 프로세서(220)는 출력된 테스트 데이터의 편차를 보정하여 데이터를 생성할 수 있다. 편차 보정은 픽셀 단위로 수행될 수 있으며, 테스트 데이터에서 라인 별 데이터 값을 빼고, 셀 단위의 데이터 값을 더하여 보정값을 생성할 수 있다. 출력된 테스트 데이터의 편차를 보정하는 과정 및 그 실시예에 대해서는 앞선 도 6 내지 도 7을 통하여 설명한 바 있다.
동작 1230에서 프로세서(220)는 테스트 데이터를 그레이 스케일(gray scale)로 변환하여 제1데이터를 생성할 수 있다. 프로세서(220)는 생성된 제1데이터를 픽셀의 위치 별로 대응시켜 제1이미지를 생성할 수 있다.
일 실시예에 따르면, 일 실시예에 따르면, 프로세서(220)는 디스플레이 패널의 크기를 박막트랜지스터의 개수로 나누어 개별적인 박막트랜지스터의 크기를 파악하고, 파악된 박막트랜지스터의 크기 별로 디스플레이 패널 상에서 박막트랜지스터의 위치를 구분하고, 제1이미지를 박막 트랜지스터의 위치와 대응하여 픽셀(pixel) 별로 표시하고, 픽셀 단위로 나누어진 제1이미지의 그레이 스케일 값이 일정 수준을 초과하는 경우 얼룩(uneven light emission)으로 분류할 수 있다. 그레이 스케일(gray scale) 변환 및 이미지 생성 과정에 대해서는 앞선 도 8 내지 도 10을 통해 설명한 바 있다. 일 실시예에 따르면, 프로세서(220)는 메모리(230)상에 얼룩으로 분류된 해당 픽셀의 좌표 정보를 저장할 수 있다.
동작 1240에서 프로세서(220)는 생성된 제1이미지를 분석하여 얼룩을 검출할 수 있으며, 검출한 얼룩을 종류에 따라 분류할 수 있다. 예를 들어, 프로세서(220)는 얼룩으로 분류된 픽셀이 디스플레이 패널 상에서 제1수량 미만으로 연결된 경우 해당 픽셀들을 지점(spot) 얼룩으로 분류할 수 있다. 얼룩으로 분류된 픽셀이 디스플레이 패널 상에서 제2수량을 초과하여 연결된 경우 프로세서(220)는 해당 픽셀들을 포그(fog) 얼룩으로 분류할 수 있다.
일 실시예에 따르면, 프로세서(220)는 그레이 스케일 값이 230 이상이며, 해당 픽셀이 연속적으로 연결되어 있고, 연결된 픽셀의 수가 일정 수준(예: 8개)미만인 경우 해당 지점을 지점(spot) 얼룩으로 분류할 수 있다. 이 과정에 대해서는 앞선 도 8에서 설명한 바 있다.
일 실시예에 따르면, 프로세서(220)는 특정 픽셀을 기준으로 특정 픽셀과 주변(상,하,좌,우 및 대각선)의 8개의 픽셀의 평균값이 30 이상이며, 해당 픽셀이 연속적으로 연결되어 있고, 연결된 픽셀의 수가 일정 수준(예: 30개)이상인 경우 해당 지점을 포그(fog) 얼룩으로 분류할 수 있다. 픽셀의 평균값을 계산하는 과정 및 그 실시예에 대해서는 앞선 도 9 내지 도 10을 통해 설명한 바 있다.
다양한 실시예들에 따르면, 전자 장치(예: 도 2 의 전자 장치(200))의 얼룩 보정 방법은 외부 디스플레이 패널의 박막트랜지스터를 테스트하는 TFT 어레이 테스터와 통신 연결되는 인터페이스로부터 테스트 데이터를 수신하는 동작, 수신한 테스트 데이터를 그레이 스케일(gray scale)로 변환하여 제1데이터를 생성하는 동작, 제1데이터를 기반으로 제1이미지를 생성하는 동작 및 제1이미지를 분석하여 디스플레이 패널 상의 얼룩(uneven light emission) 위치 및 얼룩 특성을 검출하는 동작을 포함할 수 있다. 테스트 데이터는 어레이 테스터(array tester)를 이용하여 얻은 디스플레이 패널의 픽셀(pixel) 별 센싱 라인(sensing line) 출력 값을 포함할 수 있다.
다양한 실시예들에 따르면, 제1데이터를 기반으로 제1이미지를 생성하는 동작은 제1데이터를 픽셀(pixel)값, 라인(line) 값 및 셀(cell)값 단위로 나누고, 보정하여 제2데이터를 생성하는 동작 및 제2데이터를 디스플레이 패널 상의 박막트랜지스터(thin film transistor)의 위치 별로 대응시켜 제1이미지를 생성하는 동작을 더 포함할 수 있다.
다양한 실시예들에 따르면, 제1이미지를 분석하여 디스플레이 패널 상의 얼룩(uneven light emission) 위치 및 얼룩 특성을 검출하는 동작은 디스플레이 패널의 크기를 박막트랜지스터의 개수로 나누어 개별적인 박막트랜지스터의 크기를 파악하는 동작, 파악된 박막트랜지스터의 크기 별로 디스플레이 패널 상에서 박막트랜지스터의 위치를 구분하는 동작, 제1이미지를 박막트랜지스터의 위치와 대응하여 픽셀(pixel) 별로 표시하는 동작, 픽셀 단위로 나누어진 제1이미지의 그레이 스케일 값이 일정 수준을 초과하는 경우 얼룩(uneven light emission)으로 분류하는 동작 및 얼룩으로 분류된 해당 픽셀의 좌표 정보를 메모리에 저장하는 동작을 포함할 수 있다.
다양한 실시예들에 따르면, 픽셀 단위로 나누어진 제1이미지의 그레이 스케일 값이 일정 수준을 초과하는 경우 얼룩(uneven light emission)으로 분류하는 동작은 얼룩으로 분류된 픽셀이 디스플레이 패널 상에서 제1수량 미만으로 연결된 경우 지점(spot) 얼룩으로 분류하는 동작 및 얼룩으로 분류된 픽셀이 디스플레이 패널 상에서 제2수량을 초과하여 연결된 경우 포그(fog) 얼룩으로 분류하는 동작을 포함할 수 있다.
다양한 실시예들에 따르면, 제1이미지를 분석하여 얼룩 검출 후 제1이미지를 디스플레이 패널 상에 표시하는 동작 및 얼룩으로 분류된 픽셀의 좌표 정보를 취합하여 디스플레이 패널 상에 표시된 제1이미지 상에 검출된 얼룩의 위치를 표시하는 동작을 더 포함할 수 있다.
본 문서의 다양한 실시예들 및 이에 사용된 용어들은 본 문서에 기재된 기술적 특징들을 특정한 실시예들로 한정하려는 것이 아니며, 해당 실시예의 다양한 변경, 균등물, 또는 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 도면의 설명과 관련하여, 유사한 또는 관련된 구성요소에 대해서는 유사한 참조 부호가 사용될 수 있다. 아이템에 대응하는 명사의 단수 형은 관련된 문맥상 명백하게 다르게 지시하지 않는 한, 상기 아이템 한 개 또는 복수 개를 포함할 수 있다. 본 문서에서, "A 또는 B", "A 및 B 중 적어도 하나", "A 또는 B 중 적어도 하나", "A, B 또는 C", "A, B 및 C 중 적어도 하나", 및 "A, B, 또는 C 중 적어도 하나"와 같은 문구들 각각은 그 문구들 중 해당하는 문구에 함께 나열된 항목들 중 어느 하나, 또는 그들의 모든 가능한 조합을 포함할 수 있다.
본 문서의 다양한 실시예들은 기기(machine)(예: 전자 장치(200)) 의해 읽을 수 있는 저장 매체(storage medium)(예: 메모리(230))에 저장된 하나 이상의 명령어들을 포함하는 소프트웨어(예: 프로그램)로서 구현될 수 있다. 예를 들면, 기기(예: 전자 장치(200))의 프로세서(예: 프로세서(220))는, 저장 매체로부터 저장된 하나 이상의 명령어들 중 적어도 하나의 명령을 호출하고, 그것을 실행할 수 있다. 이것은 기기가 상기 호출된 적어도 하나의 명령어에 따라 적어도 하나의 기능을 수행하도록 운영되는 것을 가능하게 할 수 있다.

Claims (10)

  1. 전자 장치에 있어서,
    외부 디스플레이 패널의 박막트랜지스터를 테스트하는 TFT 어레이 테스터와 통신 연결되는 인터페이스;
    상기 인터페이스와 작동적으로 연결된 프로세서;및
    상기 인터페이스를 통해 상기 TFT 어레이 테스터로부터 수신하는 테스트 데이터를 저장하는 메모리를 포함하고,
    상기 프로세서는
    상기 인터페이스로부터 상기 테스트 데이터를 수신하고,
    수신한 상기 테스트 데이터를 그레이 스케일(gray scale)로 변환하여 제1데이터를 생성하고,
    상기 제1데이터를 기반으로 제1이미지를 생성하고,
    상기 제1이미지를 분석하여 상기 디스플레이 패널 상의 얼룩(uneven light emission) 위치 및 얼룩의 특성을 검출하며
    상기 테스트 데이터는
    어레이 테스터(array tester)를 이용하여 얻은 상기 디스플레이 패널의 픽셀(pixel) 별 센싱 라인(sensing line) 출력 값을 포함하는 전자 장치.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 프로세서는
    상기 제1데이터를 픽셀(pixel)값, 라인(line) 값 및 셀(cell)값 단위로 나누고, 보정하여 제2데이터를 생성하고,
    상기 제2데이터를 기반으로 상기 제1이미지를 생성하는 전자 장치.
  3. 제 1항에 있어서,
    상기 프로세서는
    상기 디스플레이 패널의 크기를 상기 박막트랜지스터의 개수로 나누어 개별적인 상기 박막트랜지스터의 크기를 파악하고,
    파악된 상기 박막트랜지스터의 크기 별로 상기 디스플레이 패널 상에서 상기 박막트랜지스터의 위치를 구분하고,
    상기 제1이미지를 상기 박막트랜지스터의 위치와 대응하여 픽셀(pixel) 별로 표시하며,
    픽셀 단위로 나누어진 상기 제1이미지의 그레이 스케일 값이 일정 수준을 초과하는 경우 얼룩(uneven light emission)으로 분류하고, 해당 픽셀의 좌표 정보를 상기 메모리에 저장하는 전자 장치.
  4. 제 3항에 있어서,
    상기 프로세서는
    얼룩으로 분류된 픽셀이 상기 디스플레이 패널 상에서 제1수량 미만으로 연결된 경우 지점(spot) 얼룩으로 분류하고,
    얼룩으로 분류된 픽셀이 상기 디스플레이 패널 상에서 제2수량을 초과하여 연결된 경우 포그(fog) 얼룩으로 분류하는 전자 장치.
  5. 제 3항에 있어서,
    상기 프로세서는
    상기 제1이미지를 분석하여 얼룩 검출 후 상기 제1이미지를 상기 디스플레이 패널 상에 표시하고
    얼룩으로 분류된 픽셀의 좌표 정보를 취합하여 상기 디스플레이 패널 상에 표시된 상기 제1이미지 상에 검출된 얼룩의 위치를 표시하는 전자 장치.
  6. 전자 장치의 얼룩 보정 방법에 있어서,
    외부 디스플레이 패널의 박막트랜지스터를 테스트하는 TFT 어레이 테스터와 통신 연결되는 인터페이스로부터 테스트 데이터를 수신하는 동작;
    수신한 상기 테스트 데이터를 그레이 스케일(gray scale)로 변환하여 제1데이터를 생성하는 동작;
    상기 제1데이터를 기반으로 제1이미지를 생성하는 동작;및
    상기 제1이미지를 분석하여 상기 디스플레이 패널 상의 얼룩(uneven light emission) 위치 및 얼룩 특성을 검출하는 동작을 포함하며
    상기 테스트 데이터는 어레이 테스터(array tester)를 이용하여 얻은 상기 디스플레이 패널의 픽셀(pixel) 별 센싱 라인(sensing line) 출력 값을 포함하는 방법.
  7. 제 6항에 있어서,
    상기 제1데이터를 기반으로 제1이미지를 생성하는 동작은
    상기 제1데이터를 픽셀(pixel)값, 라인(line) 값 및 셀(cell)값 단위로 나누고, 보정하여 제2데이터를 생성하는 동작;
    상기 제2데이터를 디스플레이 패널 상의 박막트랜지스터(thin film transistor)의 위치 별로 대응시켜 상기 제1이미지를 생성하는 동작을 더 포함하는 방법.
  8. 제 6항에 있어서,
    상기 제1이미지를 분석하여 상기 디스플레이 패널 상의 얼룩(uneven light emission) 위치 및 얼룩 특성을 검출하는 동작은
    상기 디스플레이 패널의 크기를 상기 박막트랜지스터의 개수로 나누어 개별적인 상기 박막트랜지스터의 크기를 파악하는 동작;
    파악된 상기 박막트랜지스터의 크기 별로 상기 디스플레이 패널 상에서 상기 박막트랜지스터의 위치를 구분하는 동작;
    상기 제1이미지를 상기 박막트랜지스터의 위치와 대응하여 픽셀(pixel) 별로 표시하는 동작;
    픽셀 단위로 나누어진 상기 제1이미지의 그레이 스케일 값이 일정 수준을 초과하는 경우 얼룩(uneven light emission)으로 분류하는 동작;및
    얼룩으로 분류된 해당 픽셀의 좌표 정보를 메모리에 저장하는 동작을 포함하는 방법.
  9. 제 8항에 있어서,
    픽셀 단위로 나누어진 상기 제1이미지의 그레이 스케일 값이 일정 수준을 초과하는 경우 얼룩(uneven light emission)으로 분류하는 동작은
    얼룩으로 분류된 픽셀이 상기 디스플레이 패널 상에서 제1수량 미만으로 연결된 경우 지점(spot) 얼룩으로 분류하는 동작;및
    얼룩으로 분류된 픽셀이 상기 디스플레이 패널 상에서 제2수량을 초과하여 연결된 경우 포그(fog) 얼룩으로 분류하는 동작을 포함하는 방법.
  10. 제 8항에 있어서,
    상기 제1이미지를 분석하여 얼룩 검출 후 상기 제1이미지를 상기 디스플레이 패널 상에 표시하는 동작;및
    얼룩으로 분류된 픽셀의 좌표 정보를 취합하여 상기 디스플레이 패널 상에 표시된 상기 제1이미지 상에 검출된 얼룩의 위치를 표시하는 동작을 더 포함하는 방법.
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JP2005092028A (ja) * 2003-09-19 2005-04-07 Casio Comput Co Ltd 表示駆動装置及び表示装置並びにその駆動制御方法
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