KR20220136617A - Electric Characteristic Test Equipment - Google Patents

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KR20220136617A
KR20220136617A KR1020210042475A KR20210042475A KR20220136617A KR 20220136617 A KR20220136617 A KR 20220136617A KR 1020210042475 A KR1020210042475 A KR 1020210042475A KR 20210042475 A KR20210042475 A KR 20210042475A KR 20220136617 A KR20220136617 A KR 20220136617A
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Abstract

Provided is an electrical characteristic inspection device. The electrical characteristic inspection device includes: a seating base having a seating groove on which a device under test is seated; a pressing member which fixes the device under test seated on the seating base so that the device under test is not separated from the seating base; a pin block provided on the side of the seating base opposite to the pressing member and having pins electrically connected by physically contacting terminals of the device under test, respectively; an actuator which lifts and lowers the pin block to electrically connect and disconnect the device under test; and a testing printed circuit board electrically connected to the pin block to generate electrical testing signals. Therefore, it is possible to reliably test the electrical characteristics of the device under test while protecting the pin block, the pins of the pin block, and the terminals of the device under test during a testing process.

Description

전기적 특성 검사 장치{Electric Characteristic Test Equipment}Electrical Characteristic Test Equipment

본 발명은 전기적 특성 검사 장치에 관한 것으로, 더 구체적으로 피검사품의 전기적 특성을 안정적으로 검사하는 동시에 검사 과정에서 핀 블록, 핀 블록의 핀들 및 피검사품의 커넥터의 단자들을 보호할 수 있는 구조를 갖는 전기적 특성 검사 장치에 관한 것이다.The present invention relates to an electrical characteristic inspection apparatus, and more particularly, having a structure capable of stably inspecting the electrical characteristics of an inspected object and protecting the pin block, pins of the pin block, and terminals of the connector of the inspected object during the inspection process It relates to an electrical property inspection device.

최근 모바일 디바이스(mobile device) 시장의 성장에 따라, 외부 커넥터(connector), 칩(chip) 커넥터, 집적 회로(Integrated Circuit : IC) 칩 등의 전자 부품이 소형화되고, 사용 목적에 따라 그 구성 및 형태가 다양화되는 추세에 있다.With the recent growth of the mobile device market, electronic components such as external connectors, chip connectors, and integrated circuit (IC) chips are downsized, and their configuration and shape according to the purpose of use. is on the verge of diversification.

이와 같은 전자 부품이 정상적으로 작동하는지 알기 위해 후공정에서 검사에 사용되는 테스트 소켓(test socket) 등과 같은 장치가 전기적 특성 검사 장치이다.A device such as a test socket used for inspection in a post-process in order to know whether such an electronic component operates normally is an electrical characteristic inspection device.

이러한 테스트 소켓이 포함하는 테스트 핀(pin)을 기준으로 일측에는 직접 회로 칩 등의 검사하고자 하는 부품의 단자가 위치하고, 그리고 타측에는 테스트 인쇄 회로 기판(Printed Circuit Board : PCB)가 위치한다. 이때, 검사하고자 하는 부품의 단자와 테스트 인쇄 회로 기판은 테스트 소켓에 의해 전기적으로 연결되어 전기적 신호가 양방으로 교환 가능하게 된다.A terminal of a component to be tested, such as a direct circuit chip, is located on one side based on a test pin included in the test socket, and a test printed circuit board (PCB) is located on the other side. At this time, the terminal of the component to be inspected and the test printed circuit board are electrically connected by the test socket, so that electrical signals can be exchanged in both directions.

이 경우, 검사하고자 하는 부품과 테스트 인쇄 회로 기판은 1:1로 연결되어야 하므로, 연결될 부품의 부위, 부품의 모양에 따라 테스트 소켓의 모양이 다양하게 결정된다. 따라서, 목적이 상이하거나 검사하고자 하는 부품의 모양이 다를 경우, 이에 적합한 서로 다른 테스트 소켓이 사용되어야 한다.In this case, since the part to be inspected and the test printed circuit board should be connected 1:1, the shape of the test socket is variously determined according to the part of the part to be connected and the shape of the part. Therefore, if the purpose is different or the shape of the part to be inspected is different, different test sockets suitable for this should be used.

일반적으로 테스트 소켓은 검사하고자 하는 전자 부품과 테스트 소켓이 만나는 플로팅 블록(floating block), 플로팅 블록이 이탈되지 않도록 하면서 외부로 노출되도록 상방에서 지지해주는 커버(cover) 블록을 포함한다.In general, a test socket includes a floating block where the electronic component to be inspected and the test socket meet, and a cover block supporting the floating block from above to be exposed to the outside while preventing the floating block from being separated.

이렇게 구성된 테스트 소켓을 이용하여 전자 부품에 대한 검사를 하기 위해서는, 테스트 소켓의 상방에는 전자 부품을, 그리고 하방에는 테스트 인쇄 회로 기판을 위치시키고, 이들 각각의 단자를 전기적으로 연결해야 한다. 따라서, 검사하고자 하는 전자 부품이 안착되는 플로팅 블록의 중심부에는 관통공이 형성되고, 관통공은 테스트 소켓 전체에 대해서 상응하도록 형성되어 도전성 핀들이 이를 관통하도록 한다. 검사하고자 하는 전자 부품 및 테스트 인쇄 회로 기판의 전극들과 도전성 핀들이 일치하도록 정렬한 뒤, 상방에 위치한 전자 부품을 일정 이상의 힘으로 눌러 전기적 접촉을 발생시키는 방식으로 전자 부품을 검사한다.In order to test the electronic component using the test socket configured as described above, the electronic component is placed above the test socket and the test printed circuit board is located below the test socket, and each of these terminals must be electrically connected. Accordingly, a through hole is formed in the center of the floating block on which the electronic component to be inspected is mounted, and the through hole is formed to correspond to the entire test socket so that the conductive pins pass through it. After aligning the electrodes of the electronic component to be inspected and the test printed circuit board with conductive pins, the electronic component is inspected by pressing the electronic component positioned above it with a certain force or higher to generate electrical contact.

그러나 테스트 소켓으로 전자 부품을 검사하기 위해 필요한 압착 정도에 대해서 쉽게 알 수 없으므로, 과압착이 일어나거나 필요한 만큼 압착을 하지 못하는 경우가 생긴다.However, since it is not easy to know the degree of compression required to inspect the electronic component with the test socket, over-compression may occur or the compression may not be performed as necessary.

이러한 과압착은 검사하고자 하는 전자 부품의 전극들과 접촉하는 도전성 핀들을 파손시킬 수 있으며, 그리고 필요한 만큼 압착이 이루어지지 않으면 전자 부품에 대한 검사가 안정적으로 이루어질 수 없다.Such over-compression may damage the conductive pins in contact with the electrodes of the electronic component to be inspected, and if necessary compression is not performed, the inspection of the electronic component cannot be performed stably.

대한민국 등록실용신안 제20-0471076호Republic of Korea Registered Utility Model No. 20-0471076

본 발명이 해결하고자 하는 과제는 피검사품의 전기적 특성을 안정적으로 검사하는 동시에 검사 과정에서 핀 블록, 핀 블록의 핀들 및 피검사품의 커넥터의 단자들을 보호할 수 있는 전기적 특성 검사 장치를 제공하는 데 있다.The problem to be solved by the present invention is to provide an electrical characteristic inspection device capable of stably inspecting the electrical characteristics of the inspected object and at the same time protecting the pin block, the pins of the pin block, and the terminals of the connector of the inspected object during the inspection process. .

본 발명이 해결하고자 하는 과제는 이상에 언급한 과제들에 제한되지 않으며, 언급되지 않는 또 다른 과제들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.The problem to be solved by the present invention is not limited to the problems mentioned above, and other problems not mentioned will be clearly understood by those skilled in the art from the following description.

상기한 과제를 달성하기 위하여, 본 발명은 전기적 특성 검사 장치를 제공한다. 이 전기적 특성 검사 장치는 피검사품이 안착되는 안착 홈을 갖는 안착 베이스, 안착 베이스에 안착된 피검사품이 안착 베이스로부터 이격되지 않도록 고정하는 누름 부재, 누름 부재에 대향하는 안착 베이스 쪽에 구비되어 피검사품의 단자들과 각각 물리적으로 접촉하여 전기적으로 연결되는 핀들을 구비하는 핀 블록, 핀 블록을 승강 및 하강시켜 피검사품과 전기적으로 연결 및 해제시키는 액추에이터, 및 핀 블록과 전기적으로 연결되어 전기적 검사 신호를 발생시키는 검사용 인쇄 회로 기판을 포함할 수 있다.In order to achieve the above object, the present invention provides an electrical property inspection apparatus. This electrical property inspection device is provided on a seating base having a seating groove in which the object to be inspected is seated, a pressing member for fixing the object to be inspected seated on the seating base so as not to be spaced apart from the seating base, and the seating base opposite the pressing member. A pin block having pins that are electrically connected to each other in physical contact with the terminals, an actuator that raises and lowers the pin block to electrically connect and release the test object, and is electrically connected to the pin block to generate an electrical inspection signal It may include a printed circuit board for inspection.

누름 부재는 공압 실린더의 작동에 의해 안착 베이스에 안착된 피검사품이 안착 베이스로부터 이격되지 않도록 고정할 수 있다.The pressing member can be fixed so that the inspection object seated on the seating base is not separated from the seating base by the operation of the pneumatic cylinder.

액추에이터는 전기 모터에 의해 구동되어 핀 블록을 승강시키는 정도를 조절할 수 있다.The actuator can be driven by an electric motor to adjust the degree to which the pin block is raised and lowered.

전기적 특성 검사 장치는 액추에이터와 검사용 인쇄 회로 기판 사이에 구비되어 핀 블록과 전기적으로 연결된 검사용 인쇄 회로 기판이 놓이는 승하강 베이스를 포함하되, 액추에이터는 승하강 베이스를 승강 및 하강시켜 핀 블록을 승강 및 하강 시킬 수 있다.The electrical property inspection device is provided between the actuator and the printed circuit board for inspection and includes an elevating base on which the printed circuit board for inspection electrically connected to the pin block is placed, wherein the actuator elevates and lowers the elevating base to elevate the pin block. and descending.

전기적 특성 검사 장치는 핀 블록, 검사용 인쇄 회로 기판 및 액추에이터가 일체형으로 형성된 승하강 부재를 포함하되, 액추에이터의 구동에 의해 핀 블록이 승강 및 하강할 수 있다.The electrical property inspection apparatus includes a lifting member in which the pin block, the printed circuit board for inspection, and the actuator are integrally formed, and the pin block may be raised and lowered by driving the actuator.

상술한 바와 같이, 본 발명의 과제의 해결 수단에 따르면 안착 베이스(base)에 안착된 피검사품이 안착 베이스로부터 이격되지 않도록 고정하는 누름 부재 및 누름 부재에 대향하는 안착 베이스 쪽에 구비되어 피검사품의 단자들과 각각 물리적으로 접촉하여 전기적으로 연결되는 핀들을 구비하는 핀 블록을 승강 및 하강시켜 피검사품과 전기적으로 연결 및 해제시키는 액추에이터(actuator)를 포함함으로써, 피검사품의 전기적 특성 검사를 하는 과정에서 핀 블록, 핀 블록의 핀들 및 피검사품의 커넥터의 단자들이 파손되는 것이 방지될 수 있다. 이에 따라, 피검사품의 전기적 특성을 안정적으로 검사하는 동시에 검사 과정에서 핀 블록, 핀 블록의 핀들 및 피검사품의 커넥터의 단자들을 보호할 수 있는 전기적 특성 검사 장치가 제공될 수 있다.As described above, according to the means for solving the problems of the present invention, it is provided on the side of the holding base opposite to the pressing member and the pressing member for fixing the inspection target seated on the seating base so as not to be spaced apart from the seating base, the terminal of the inspected product In the process of inspecting the electrical characteristics of the test item by including an actuator that lifts and lowers the pin block having pins that are electrically connected to each other and physically connects and releases the pin block to be electrically connected to and released from the test item. It can be prevented that the block, the pins of the pin block, and the terminals of the connector of the inspected object are damaged. Accordingly, it is possible to provide an electrical characteristic inspection apparatus capable of stably inspecting the electrical characteristics of the inspected object and protecting the pin block, pins of the pin block, and terminals of the connector of the inspected object during the inspection process.

또한, 본 발명의 과제의 해결 수단에 따르면 안착 베이스에 안착된 피검사품이 피검사품이 안착 베이스로부터 이격되지 않도록 고정하는 누름 부재 및 핀 블록, 검사용 인쇄 회로 기판 및 액추에이터가 일체형으로 형성된 승하강 부재를 포함함으로써, 피검사품의 전기적 특성 검사를 하는 과정에서 핀 블록, 핀 블록의 핀들 및 피검사품의 커넥터의 단자들이 파손되는 것을 방지하는 동시에 전기적 특성 검사 장치의 구조가 단순해질 수 있다. 이에 따라, 피검사품의 전기적 특성을 안정적으로 검사할 수 있으며, 핀 블록, 핀 블록의 핀들 및 피검사품의 커넥터의 단자들을 보호할 수 있는 동시에 구조가 단순화된 액추에이터 일체형 핀 블록을 포함하는 전기적 특성 검사 장치가 제공될 수 있다.In addition, according to a solution to the problem of the present invention, the pressing member and pin block for fixing the inspected object seated on the seating base so that the inspected object is not separated from the seating base, the printed circuit board for inspection and the actuator are integrally formed as an elevating member By including, the pin block, the pins of the pin block, and the terminals of the connector of the inspected object are prevented from being damaged in the process of inspecting the electrical characteristics of the inspection object, and the structure of the electrical characteristic inspection apparatus can be simplified. Accordingly, it is possible to stably inspect the electrical characteristics of the inspection object, and to protect the pin block, the pins of the pin block, and the terminals of the connector of the inspection object, and at the same time, the electrical characteristic inspection including the actuator-integrated pin block with a simplified structure A device may be provided.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 전기적 특성 검사 장치를 설명하기 위한 입체도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 전기적 특성 검사 장치를 설명하기 위한 분해 입체도이다.
도 3 내지 도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 전기적 특성 검사 장치의 검사 과정을 설명하기 위해 일면에서 바라본 정면도들이다.
도 6은 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 전기적 특성 검사 장치를 설명하기 위한 입체도이다.
도 7은 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 전기적 특성 검사 장치를 설명하기 위한 분해 입체도이다.
도 8 내지 도 10은 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 전기적 특성 검사 장치의 검사 과정을 설명하기 위해 일면에서 바라본 정면도들이다.1 is a three-dimensional view for explaining an electrical characteristic inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.
2 is an exploded three-dimensional view for explaining an electrical characteristic inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.
3 to 5 are front views viewed from one side in order to explain the inspection process of the electrical characteristic inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.
6 is a three-dimensional view for explaining an electrical characteristic inspection apparatus according to another embodiment of the present invention.
7 is an exploded three-dimensional view for explaining an electrical characteristic inspection apparatus according to another embodiment of the present invention.
8 to 10 are front views viewed from one side in order to explain an inspection process of an electrical characteristic inspection apparatus according to another embodiment of the present invention.

이하, 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명하기로 한다. 본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면들과 함께 상세하게 후술 되어 있는 실시예를 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 여기서 설명되는 실시예에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 형태로 구체화될 수도 있다. 오히려, 여기서 소개되는 실시예는 개시된 내용이 철저하고 완전해질 수 있도록 그리고 당업자에게 본 발명의 사상이 충분히 전달될 수 있도록 하기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. Advantages and features of the present invention, and a method of achieving them, will become apparent with reference to the embodiments described below in detail in conjunction with the accompanying drawings. However, the present invention is not limited to the embodiments described herein, and may be embodied in different forms. Rather, the embodiments introduced herein are provided so that this disclosure may be thorough and complete, and the spirit of the present invention may be sufficiently conveyed to those skilled in the art, and the present invention is only defined by the scope of the claims.

명세서 전문에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다. 따라서, 동일한 참조 부호 또는 유사한 참조 부호들은 해당 도면에서 언급 또는 설명되지 않았더라도, 다른 도면을 참조하여 설명될 수 있다. 또한, 참조 부호가 표시되지 않았더라도, 다른 도면들을 참조하여 설명될 수 있다.Like reference numerals refer to like elements throughout the specification. Accordingly, the same or similar reference signs may be described with reference to other drawings, even if not mentioned or described in the corresponding drawings. In addition, although reference numerals are not indicated, descriptions may be made with reference to other drawings.

본 명세서에서 사용된 용어는 실시예들을 설명하기 위한 것이며 본 발명을 제한하고자 하는 것은 아니다. 본 명세서에서, 단수형은 문구에서 특별히 언급하지 않는 한 복수형도 포함한다. 명세서에서 사용되는 '포함한다(comprises)' 및/또는 '포함하는(comprising)'은 언급된 구성요소, 단계, 동작 및/또는 장치는 하나 이상의 다른 구성요소, 단계, 동작 및/또는 장치의 존재 또는 추가를 배제하지 않는다. 또한, 바람직한 실시예에 따른 것이기 때문에, 설명의 순서에 따라 제시되는 참조 부호는 그 순서에 반드시 한정되지는 않는다.The terminology used herein is for the purpose of describing the embodiments and is not intended to limit the present invention. In this specification, the singular also includes the plural, unless specifically stated otherwise in the phrase. As used herein, 'comprises' and/or 'comprising' refers to the presence of one or more other components, steps, operations and/or devices mentioned. or addition is not excluded. In addition, since it is according to a preferred embodiment, reference signs provided in the order of description are not necessarily limited to the order.

하나의 구성 요소(element)가 다른 구성 요소와 '접속된(connected to)' 또는 '결합한(coupled to)'이라고 지칭되는 것은, 다른 구성 요소와 직접적으로 연결된 또는 결합한 경우, 또는 중간에 다른 구성 요소를 개재한 경우를 모두 포함한다. 반면, 하나의 구성 요소가 다른 구성 요소와 '직접적으로 접속된(directly connected to)' 또는 '직접적으로 결합한(directly coupled to)'으로 지칭되는 것은 중간에 다른 구성 요소를 개재하지 않은 것을 나타낸다. '및/또는'은 언급된 아이템(item)들의 각각 및 하나 이상의 모든 조합을 포함한다.When an element is referred to as 'connected to' or 'coupled to' with another element, it means that another element is directly connected or coupled to another element or in the middle. Includes all cases involving On the other hand, when one component is referred to as 'directly connected to' or 'directly coupled to' with another component, it indicates that other components are not interposed therebetween. 'and/or' includes each and every combination of one or more of the recited items.

공간적으로 상대적인 용어인 '아래(below)', '밑(beneath)', '하부(lower)', '위(above)', '상부(upper)' 등은 도면에 도시되어 있는 바와 같이 하나의 장치 또는 구성 요소들과 다른 장치 또는 구성 요소들과의 상관관계를 용이하게 기술하기 위해 사용될 수 있다. 공간적으로 상대적인 용어는 도면에 도시되어 있는 방향에 더하여 사용시 또는 동작 시 장치의 서로 다른 방향을 포함하는 용어로 이해되어야 한다. 예를 들면, 도면에 도시되어 있는 장치를 뒤집을 경우, 다른 장치의 '아래(below)' 또는 '밑(beneath)'으로 기술된 장치는 다른 장치의 '위(above)'에 놓일 수 있다. 따라서, 예시적인 용어인 '아래'는 아래와 위의 방향을 모두 포함할 수 있다. 장치는 다른 방향으로도 배향될 수 있고, 이에 따라 공간적으로 상대적인 용어들은 배향에 따라 해석될 수 있다.Spatially relative terms 'below', 'beneath', 'lower', 'above', 'upper', etc. It can be used to easily describe a device or component's correlation with another device or component. Spatially relative terms should be understood as terms including different orientations of the device in use or operation in addition to the orientation shown in the drawings. For example, if the device shown in the figure is turned over, a device described as 'beneath' or 'beneath' of another device may be placed 'above' of the other device. Accordingly, the exemplary term 'below' may include both the downward and upward directions. The device may also be oriented in other orientations, and thus spatially relative terms may be interpreted according to orientation.

또한, 본 명세서에서 기술하는 실시예들은 본 발명의 이상적인 예시도인 단면도 및/또는 평면도들을 참고하여 설명될 것이다. 도면들에 있어서, 막 및 영역들의 두께는 기술적 내용의 효과적인 설명을 위해 과장된 것이다. 따라서, 제조 기술 및/또는 허용 오차 등에 의해 예시도의 형태가 변형될 수 있다. 따라서, 본 발명의 실시예들은 도시된 특정 형태로 제한되는 것이 아니라 제조 공정에 따라 생성되는 형태의 변화도 포함하는 것이다. 따라서, 도면에서 예시된 영역들은 개략적인 속성을 가지며, 도면에서 예시된 영역들의 모양은 장치의 영역의 특정 형태를 예시하기 위한 것이며 발명의 범주를 제한하기 위한 것이 아니다.Further, the embodiments described herein will be described with reference to cross-sectional and/or plan views, which are ideal illustrative views of the present invention. In the drawings, thicknesses of films and regions are exaggerated for effective description of technical content. Accordingly, the shape of the illustrative drawing may be modified due to manufacturing technology and/or tolerance. Accordingly, the embodiments of the present invention are not limited to the specific form shown, but also include changes in the form generated according to the manufacturing process. Accordingly, the regions illustrated in the drawings have a schematic nature, and the shapes of the illustrated regions in the drawings are intended to illustrate specific shapes of regions of the device and not to limit the scope of the invention.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 전기적 특성 검사 장치를 설명하기 위한 입체도이고, 그리고 도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 전기적 특성 검사 장치를 설명하기 위한 분해 입체도이다.1 is a three-dimensional view for explaining an electrical characteristic inspection apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is an exploded three-dimensional view for explaining an electrical characteristic inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.

도 1 및 도 2를 참조하면, 전기적 특성 검사 장치는 피검사품(200)이 안착되는 안착 홈(111)을 갖는 안착 베이스(110), 안착 베이스(110)에 안착된 피검사품(200)이 안착 베이스(110)로부터 이격되지 않도록 고정하는 누름 부재(160), 누름 부재(160)에 대향하는 안착 베이스(110) 쪽에 구비되어 피검사품(200)의 커넥터(210)의 단자들(미도시)과 각각 물리적으로 접촉하여 전기적으로 연결되는 핀들을 구비하는 핀 블록(130), 핀 블록(132)을 승강 및 하강시켜 피검사품(200)과 전기적으로 연결 및 해제시키는 액추에이터(140), 및 핀 블록(130)이 구비되면서, 이와 전기적으로 연결되어 전기적 검사 신호를 발생시키는 검사용 인쇄 회로 기판(120a)을 포함할 수 있다.Referring to FIGS. 1 and 2 , the electrical property inspection apparatus includes a seating base 110 having a seating groove 111 in which the object to be inspected 200 is seated, and the object to be inspected 200 seated on the seating base 110 is seated. Terminals (not shown) of the connector 210 of the object to be inspected 200 are provided on the side of the pressing member 160 that is fixed not to be spaced apart from the base 110, the seating base 110 opposite the pressing member 160, and A pin block 130 having pins electrically connected to each other in physical contact, an actuator 140 for electrically connecting and releasing the pin block 132 by elevating and lowering the pin block 132, and a pin block ( As the 130 is provided, it may include a printed circuit board 120a for inspection that is electrically connected thereto to generate an electrical inspection signal.

누름 부재(160)는 공압 실린더(cylinder)의 작동에 의해 안착 베이스(110)에 안착된 피검사품(200)이 안착 베이스(110)로부터 이격되지 않도록 고정할 수 있다.The pressing member 160 may fix the object to be inspected 200 seated on the seating base 110 by the operation of a pneumatic cylinder so as not to be spaced apart from the seating base 110 .

여기서, 누름 부재(160)를 동작시키는 공압 실린더는 피검사품(200)을 눌러 고정하기 위한 압착 정도를 제어할 수 없기 때문에, 단순히 안착 베이스(100)의 안착 홈(111)에 안착된 피검사품(200)의 커넥터(210)가 핀 블록(130) 상에 조금 이격된 상태를 유지할 수 있도록 피검사품(200)을 눌러 고정하는 역할을 수행할 수 있다.Here, since the pneumatic cylinder operating the pressing member 160 cannot control the degree of compression for pressing and fixing the inspected object 200, the inspected object ( The connector 210 of the 200 may perform a role of pressing and fixing the object to be inspected 200 so that the connector 210 of the pin block 130 can be kept a little spaced apart.

즉, 피검사품(200)은 안착 베이스(100)의 안착 홈(111)에 안착되어 누름 부재(160)에 의해 고정된 상태에서는 핀 블록(130)과 접촉되지 않은 상태이고, 그리고 피검사품(200)의 커넥터(210)의 단자들도 핀 블록(130)의 핀들과 접촉되지 않은 상태일 수 있다.That is, the inspected object 200 is seated in the seating groove 111 of the seating base 100 and is not in contact with the pin block 130 in a state fixed by the pressing member 160, and the inspected object 200 ), the terminals of the connector 210 may also not be in contact with the pins of the pin block 130 .

액추에이터(140)는 전기 모터(motor)에 의해 구동되어 핀 블록(130)을 승강시키는 정도를 조절할 수 있다. 즉, 액추에이터(140)는 핀 블록(130) 및 핀 블록(130) 내의 핀들이 파손되지 않을 정도로 핀 블록(130)을 승강시켜 피검사품(200)의 커넥터(210)의 단자들과 이에 대응하는 핀 블록(130)의 핀들을 서로 물리적으로 접촉시켜 이들 사이의 안정적인 전기적 연결을 구현할 수 있다.The actuator 140 may be driven by an electric motor to adjust the degree of elevating the pin block 130 . That is, the actuator 140 elevates the pin block 130 to the extent that the pins in the pin block 130 and the pin block 130 are not damaged, so that the terminals of the connector 210 of the object to be inspected 200 and corresponding terminals thereof By physically contacting the pins of the pin block 130 with each other, it is possible to implement a stable electrical connection therebetween.

본 발명의 일 실시예에 따른 전기적 특성 검사 장치는 액추에이터(140)와 검사용 인쇄 회로 기판(120a) 사이에 구비되어 핀 블록(130)과 전기적으로 연결된 검사용 인쇄 회로 기판(120a)이 놓이는 승하강 베이스(112)를 포함할 수 있다. 액추에이터(140)는 승하강 베이스(112)를 승강 및 하강시킬 수 있다.Electrical characteristic inspection apparatus according to an embodiment of the present invention is provided between the actuator 140 and the inspection printed circuit board 120a, the pin block 130 and the electrically connected inspection printed circuit board 120a is placed A lowering base 112 may be included. The actuator 140 may raise and lower the elevating base 112 .

이에 따라, 액추에이터(140)의 구동에 따라 승하강 베이스(112)가 승강 및 하강하는 것에 의해 승하강 베이스(112)에 놓인 검사용 인쇄 회로 기판(120a)이 승강 및 하강될 수 있다. 즉, 액추에이터(140)의 구동에 따라 승하강 베이스(112)가 승강 및 하강하는 것에 의해 검사용 인쇄 회로 기판(120a)에 구비되어 전기적으로 연결된 핀 블록(130)이 승강 및 하강되기 때문에, 핀 블록(130)의 핀들이 이에 대응되는 피검사품(200)의 커넥터(210)의 단자들과 서로 물리적으로 접촉되거나 분리되어 전기적으로 연결 및 해제될 수 있다.Accordingly, the test printed circuit board 120a placed on the elevating base 112 may be elevated and lowered by the elevating base 112 elevating and lowering according to the driving of the actuator 140 . That is, since the elevating base 112 is elevated and lowered according to the driving of the actuator 140, the pin block 130 electrically connected to the pin block 130 provided on the inspection printed circuit board 120a is elevated and lowered. The pins of the block 130 may be physically contacted or separated from the corresponding terminals of the connector 210 of the inspected object 200 to be electrically connected and disconnected.

액추에이터(142)의 양측들에 해당하는 승하강 베이스(112)에는 지지축들(150a)이 결합되도록 구비될 수 있다. 지지축(150a)은 직선 움직임을 잡아주는 베어링(bearing)인 볼 부시(ball bush)일 수 있다. 이에 따라, 전기적 특성 검사 장치는 지지축(150a)에 의해 고정 부재와 연결되어 안정적으로 검사 위치에 고정될 수 있다.Support shafts 150a may be coupled to the elevating base 112 corresponding to both sides of the actuator 142 . The support shaft 150a may be a ball bush that is a bearing for holding a linear motion. Accordingly, the electrical property test apparatus may be connected to the fixing member by the support shaft 150a and stably fixed to the test position.

본 발명의 일 실시예에 따른 전기적 특성 검사 장치는 안착 베이스에 안착된 피검사품이 안착 베이스로부터 이격되지 않도록 고정하는 누름 부재 및 누름 부재에 대향하는 안착 베이스 쪽에 구비되어 피검사품의 커넥터의 단자들과 각각 물리적으로 접촉하여 전기적으로 연결되는 핀들을 구비하는 핀 블록을 승강 및 하강시켜 피검사품과 전기적으로 연결 및 해제시키는 액추에이터를 포함함으로써, 피검사품의 전기적 특성 검사를 하는 과정에서 핀 블록, 핀 블록의 핀들 및 피검사품의 커넥터의 단자들이 파손되는 것이 방지될 수 있다. 이에 따라, 피검사품의 전기적 특성을 안정적으로 검사하는 동시에 검사 과정에서 핀 블록, 핀 블록의 핀들 및 피검사품의 커넥터의 단자들을 보호할 수 있는 전기적 특성 검사 장치가 제공될 수 있다.The electrical characteristic inspection apparatus according to an embodiment of the present invention is provided on the side of the seating base opposite to the pressing member and the pressing member for fixing the inspection object seated on the seating base so as not to be spaced apart from the seating base, the terminals of the connector of the inspection object and In the process of inspecting the electrical characteristics of the inspection object by including an actuator that raises and lowers the pin block having pins that are electrically connected to each other and electrically connects and disconnects the inspected object, the pin block and the pin block The pins and terminals of the connector of the inspected object can be prevented from being damaged. Accordingly, it is possible to provide an electrical characteristic inspection apparatus capable of stably inspecting the electrical characteristics of the inspected object and protecting the pin block, pins of the pin block, and terminals of the connector of the inspected object during the inspection process.

도 3 내지 도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 전기적 특성 검사 장치의 검사 과정을 설명하기 위해 일면에서 바라본 정면도들이다.3 to 5 are front views viewed from one side in order to explain the inspection process of the electrical characteristic inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.

도 3 내지 도 5를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 전기적 특성 검사 장치의 검사 과정은 다음과 같다.3 to 5 , the inspection process of the electrical characteristic inspection apparatus according to an embodiment of the present invention is as follows.

안착 베이스(110)의 안착 홈(도 2의 111 참조)에 피검사품(200)이 안착된다. 이때, 피검사품(200)의 커넥터(도 2의 210 참조)은 핀 블록(130)의 핀들 상에 단순히 조금 이격된 상태로 안착될 수 있다.The object to be inspected 200 is seated in the seating groove (refer to 111 in FIG. 2 ) of the seating base 110 . At this time, the connector (refer to 210 of FIG. 2 ) of the object to be inspected 200 may be simply seated on the pins of the pin block 130 in a slightly spaced apart state.

안착 베이스(110)의 안착 홈에 피검사품(200)이 안착되면 공압 실린더의 작동에 의해 누름 부재(160)가 내려와 안착 베이스(110)에 안착된 피검사품(200)이 안착 베이스(110)로부터 이격되지 않도록 고정할 수 있다. 즉, 누름 부재(160)의 누름에 의해 피검사품(200)의 커넥터의 단자들은 핀 블록(130) 또는 핀 블록(130)의 핀들과 접촉되지 않은 상태를 유지하고, 그리고 피검사품(200)은 단순히 고정된 상태일 수 있다.When the inspected object 200 is seated in the seating groove of the seating base 110, the pressing member 160 comes down by the operation of the pneumatic cylinder and the inspected object 200 seated on the seating base 110 is removed from the seating base 110. It can be fixed so as not to be separated. That is, by pressing the pressing member 160, the terminals of the connector of the inspected object 200 maintain a state not in contact with the pin block 130 or the pins of the pin block 130, and the inspected object 200 is It may simply be in a fixed state.

누름 부재(160)가 안착 베이스(110)에 안착된 피검사품(200)이 안착 베이스(110)로부터 이격되지 않도록 고정하면, 액추에이터(140)의 구동에 의해 승하강 베이스(112)가 승강한다. 이러한 승하강 베이스(112)의 승강에 의해 승하강 베이스(112)에 놓인 검사용 인쇄 회로 기판(120a)이 승강될 수 있다. 이에 따라, 검사용 인쇄 회로 기판(120a)에 구비되어 전기적으로 연결된 핀 블록(130)이 승강하기 때문에, 핀 블록(130)의 핀들이 이에 대응되는 피검사품(200)의 커넥터의 단자들과 서로 물리적으로 접촉되어 전기적으로 연결된다.When the pressing member 160 is fixed so that the inspected object 200 seated on the seating base 110 is not spaced apart from the seating base 110, the elevating base 112 is lifted by driving the actuator 140. The inspection printed circuit board 120a placed on the elevating base 112 may be elevated by the elevating of the elevating base 112 . Accordingly, since the pin block 130 provided on the printed circuit board 120a for inspection and electrically connected to each other is raised and lowered, the pins of the pin block 130 correspond to the terminals of the connector of the object to be inspected 200 corresponding thereto and each other. They are physically contacted and electrically connected.

액추에이터(140)는 전기 모터에 의해 구동되어 승하강 베이스(112)를 승강시키는 정도를 조절할 수 있기 때문에, 액추에이터(140)는 핀 블록(130), 핀 블록(130)의 핀들 및 피검사품(200)의 커넥터의 단자들이 파손되지 않을 정도로 핀 블록(130)을 승강시킬 수 있다.Since the actuator 140 is driven by an electric motor to adjust the degree of elevating the elevating base 112, the actuator 140 includes the pin block 130, the pins of the pin block 130, and the item to be inspected 200. ), it is possible to elevate the pin block 130 to the extent that the terminals of the connector are not damaged.

이러한 상태에서 피검사품(200)에 대한 전기적 특성 검사가 수행된다.In this state, an electrical characteristic test is performed on the object to be inspected 200 .

도 6은 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 전기적 특성 검사 장치를 설명하기 위한 입체도이고, 그리고 도 7은 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 전기적 특성 검사 장치를 설명하기 위한 분해 입체도이다.6 is a three-dimensional view for explaining an electrical characteristic inspection apparatus according to another embodiment of the present invention, and FIG. 7 is an exploded three-dimensional view for explaining an electrical characteristic inspection apparatus according to another embodiment of the present invention.

도 6 및 도 7을 참조하면, 전기적 특성 검사 장치는 피검사품(200)이 안착되는 안착 홈(111)을 갖는 안착 베이스(110), 안착 베이스(110)에 안착된 피검사품(200)이 안착 베이스(110)로부터 이격되지 않도록 고정하는 누름 부재(160), 누름 부재(160)에 대향하는 안착 베이스(110) 쪽에 구비되어 피검사품(200)의 커넥터(210)의 단자들(미도시)과 각각 물리적으로 접촉하여 전기적으로 연결되는 핀들을 구비하는 핀 블록(130), 핀 블록(132)을 승강 및 하강시켜 피검사품(200)과 전기적으로 연결 및 해제시키는 액추에이터(140), 및 핀 블록(130)과 전기적으로 연결되어 전기적 검사 신호를 발생시키는 검사용 인쇄 회로 기판(120b)을 포함할 수 있다.Referring to FIGS. 6 and 7 , the electrical property inspection apparatus includes a seating base 110 having a seating groove 111 in which the object to be inspected 200 is seated, and the object to be inspected 200 seated on the seating base 110 is seated. Terminals (not shown) of the connector 210 of the object to be inspected 200 are provided on the side of the pressing member 160 that is fixed not to be spaced apart from the base 110, the seating base 110 opposite the pressing member 160, and A pin block 130 having pins electrically connected to each other in physical contact, an actuator 140 for electrically connecting and releasing the pin block 132 by elevating and lowering the pin block 132, and a pin block ( The test printed circuit board 120b may be electrically connected to 130 to generate an electrical test signal.

본 발명의 다른 일 실시예에 따른 전기적 특성 검사 장치는 핀 블록(130), 검사용 인쇄 회로 기판(120b) 및 액추에이터(140)가 일체형으로 형성된 승하강 부재를 포함할 수 있다. 즉, 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 전기적 특성 검사 장치는 액추에이터 일체형 핀 블록을 포함하는 전기적 특성 검사 장치일 수 있다.An electrical characteristic inspection apparatus according to another embodiment of the present invention may include a pin block 130, an inspection printed circuit board 120b, and an elevating member in which the actuator 140 is integrally formed. That is, the electrical characteristic testing apparatus according to another embodiment of the present invention may be an electrical characteristic testing apparatus including an actuator-integrated pin block.

여기서, 승하강 부재는 핀 블록(130), 핀 블록(130)이 구비된 승하강 플레이트(plate)(142), 지지축들(150)을 가져 승하강 플레이트(142)의 직선 움직임을 잡아주는 결합 베이스(144), 핀 블록(130)과 전기적으로 연결되어 전기적 검사 신호를 발생시키는 검사용 인쇄 회로 기판(120b) 및 핀 블록(130)이 구비된 승하강 플레이트를 승강 및 하강시키는 액추에이터(140)가 일체형으로 구성된 것일 수 있다.Here, the elevating member has a pin block 130 , an elevating plate 142 provided with a pin block 130 , and support shafts 150 to hold the linear movement of the elevating plate 142 . An actuator 140 for elevating and lowering the elevating plate provided with the coupling base 144, the pin block 130 and electrically connected to the printed circuit board 120b for inspection generating an electrical test signal and the pin block 130 ) may be integrally configured.

누름 부재(160)는 공압 실린더의 작동에 의해 안착 베이스(110)에 안착된 피검사품(200)이 안착 베이스(110)로부터 이격되지 않도록 고정할 수 있다.The pressing member 160 may be fixed so that the inspection target 200 seated on the seating base 110 is not spaced apart from the seating base 110 by the operation of the pneumatic cylinder.

여기서, 누름 부재(160)를 동작시키는 공압 실린더는 피검사품(200)을 눌러 고정하기 위한 압착 정도를 제어할 수 없기 때문에, 단순히 안착 베이스(100)의 안착 홈(111)에 안착된 피검사품(200)의 커넥터(210)가 핀 블록(130) 상에 조금 이격된 상태를 유지할 수 있도록 피검사품(200)을 눌러 고정하는 역할을 수행할 수 있다.Here, since the pneumatic cylinder operating the pressing member 160 cannot control the degree of compression for pressing and fixing the inspected object 200, the inspected object ( The connector 210 of the 200 may perform a role of pressing and fixing the object to be inspected 200 so that the connector 210 of the pin block 130 can be kept a little spaced apart.

즉, 피검사품(200)은 안착 베이스(100)의 안착 홈(111)에 안착되어 누름 부재(160)에 의해 고정된 상태에서는 핀 블록(130)과 접촉되지 않은 상태이고, 그리고 피검사품(200)의 커넥터(210)의 단자들도 핀 블록(130)의 핀들과 접촉되지 않은 상태일 수 있다.That is, the inspected object 200 is seated in the seating groove 111 of the seating base 100 and is not in contact with the pin block 130 in a state fixed by the pressing member 160, and the inspected object 200 ), the terminals of the connector 210 may also not be in contact with the pins of the pin block 130 .

액추에이터(140)는 전기 모터에 의해 구동되어 핀 블록(130)을 승강시키는 정도를 조절할 수 있다. 즉, 액추에이터(140)는 핀 블록(130) 및 핀 블록(130) 내의 핀들이 파손되지 않을 정도로 핀 블록(130)을 승강시켜 피검사품(200)의 커넥터(210)의 단자들과 이에 대응하는 핀 블록(130)의 핀들을 서로 물리적으로 접촉시켜 이들 사이의 안정적인 전기적 연결을 구현할 수 있다.The actuator 140 may be driven by an electric motor to adjust the degree of elevating the pin block 130 . That is, the actuator 140 elevates the pin block 130 to the extent that the pins in the pin block 130 and the pin block 130 are not damaged, so that the terminals of the connector 210 of the object to be inspected 200 and corresponding terminals thereof By physically contacting the pins of the pin block 130 with each other, it is possible to implement a stable electrical connection therebetween.

이에 따라, 액추에이터(140)의 구동에 따라 승하강 플레이트(142)가 승강 및 하강하는 것에 의해 승하강 플레이트(142)에 구비된 핀 블록(130)이 승강 및 하강될 수 있다. 즉, 액추에이터(140)의 구동에 따라 승하강 플레이트(142)가 승강 및 하강하는 것에 의해 검사용 인쇄 회로 기판(120b)과 전기적으로 연결된 핀 블록(130)이 승강 및 하강되기 때문에, 핀 블록(130)의 핀들이 이에 대응되는 피검사품(200)의 커넥터(210)의 단자들과 서로 물리적으로 접촉되거나 분리되어 전기적으로 연결 및 해제될 수 있다.Accordingly, the pin block 130 provided on the elevating plate 142 may be elevated and lowered by the elevating plate 142 elevating and lowering according to the driving of the actuator 140 . That is, since the pin block 130 electrically connected to the printed circuit board 120b for inspection is raised and lowered by the elevating plate 142 elevating and lowering according to the driving of the actuator 140, the pin block ( The pins of 130 are physically contacted or separated from the corresponding terminals of the connector 210 of the object to be inspected 200 to be electrically connected and disconnected.

본 발명의 다른 일 실시예에 따른 전기적 특성 검사 장치는 안착 베이스에 안착된 피검사품이 피검사품이 안착 베이스로부터 이격되지 않도록 고정하는 누름 부재 및 핀 블록, 검사용 인쇄 회로 기판 및 액추에이터가 일체형으로 형성된 승하강 부재를 포함함으로써, 피검사품의 전기적 특성 검사를 하는 과정에서 핀 블록, 핀 블록의 핀들 및 피검사품의 커넥터의 단자들이 파손되는 것을 방지하는 동시에 전기적 특성 검사 장치의 구조가 단순해질 수 있다. 이에 따라, 피검사품의 전기적 특성을 안정적으로 검사할 수 있으며, 핀 블록, 핀 블록의 핀들 및 피검사품의 커넥터의 단자들을 보호할 수 있는 동시에 구조가 단순화된 액추에이터 일체형 핀 블록을 포함하는 전기적 특성 검사 장치가 제공될 수 있다.An electrical characteristic inspection apparatus according to another embodiment of the present invention is a pressing member and pin block for fixing the inspection object seated on a seating base so that the inspection object is not separated from the seating base, a printed circuit board for inspection, and an actuator are integrally formed By including the elevating member, the pin block, the pins of the pin block, and the terminals of the connector of the inspected object are prevented from being damaged in the process of inspecting the electrical characteristics of the inspection object, and the structure of the electrical characteristic inspection apparatus can be simplified. Accordingly, it is possible to stably inspect the electrical characteristics of the inspection object, and to protect the pin block, the pins of the pin block, and the terminals of the connector of the inspection object, and at the same time, the electrical characteristic inspection including the actuator-integrated pin block with a simplified structure A device may be provided.

도 8 내지 도 10은 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 전기적 특성 검사 장치의 검사 과정을 설명하기 위해 일면에서 바라본 정면도들이다.8 to 10 are front views viewed from one side in order to explain an inspection process of an electrical characteristic inspection apparatus according to another embodiment of the present invention.

도 8 내지 도 10을 참조하면, 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 전기적 특성 검사 장치의 검사 과정은 다음과 같다.8 to 10 , the inspection process of the electrical characteristic inspection apparatus according to another embodiment of the present invention is as follows.

안착 베이스(110)의 안착 홈(도 7의 111 참조)에 피검사품(200)이 안착된다. 이때, 피검사품(200)의 커넥터(도 7의 210 참조)는 핀 블록(130)의 핀들 상에 단순히 조금 이격된 상태로 안착될 수 있다.The object to be inspected 200 is seated in the seating groove of the seating base 110 (refer to 111 in FIG. 7 ). At this time, the connector (refer to 210 of FIG. 7 ) of the object to be inspected 200 may be simply seated on the pins of the pin block 130 in a slightly spaced apart state.

안착 베이스(110)의 안착 홈에 피검사품(200)이 안착되면 공압 실린더의 작동에 의해 누름 부재(160)가 내려와 안착 베이스(110)에 안착된 피검사품(200)이 안착 베이스(110)로부터 이격되지 않도록 고정할 수 있다. 즉, 누름 부재(160)의 누름에 의해 피검사품(200)의 커넥터의 단자들은 핀 블록(130) 또는 핀 블록(130)의 핀들과 접촉되지 않은 상태를 유지하고, 그리고 피검사품(200)은 단순히 고정된 상태일 수 있다.When the inspected object 200 is seated in the seating groove of the seating base 110, the pressing member 160 comes down by the operation of the pneumatic cylinder and the inspected object 200 seated on the seating base 110 is removed from the seating base 110. It can be fixed so as not to be separated. That is, by pressing the pressing member 160, the terminals of the connector of the inspected object 200 maintain a state not in contact with the pin block 130 or the pins of the pin block 130, and the inspected object 200 is It may simply be in a fixed state.

누름 부재(160)가 안착 베이스(110)에 안착된 피검사품(200)이 안착 베이스(110)로부터 이격되지 않도록 고정하면, 액추에이터(140)의 구동에 의해 승하강 플레이트(142)가 승강한다. 이러한 승하강 플레이트(142)의 승강에 의해 승하강 플레이트(142)에 구비된 핀 블록(130)이 승강될 수 있다. 이에 따라, 검사용 인쇄 회로 기판(120b)과 전기적으로 연결된 핀 블록(130)이 승강하기 때문에, 핀 블록(130)의 핀들이 이에 대응되는 피검사품(200)의 커넥터의 단자들과 서로 물리적으로 접촉되어 전기적으로 연결된다.When the pressing member 160 is fixed so that the inspected object 200 seated on the seating base 110 is not spaced apart from the seating base 110 , the elevating plate 142 is lifted by driving the actuator 140 . The pin block 130 provided on the elevating plate 142 may be elevated by the elevating of the elevating plate 142 . Accordingly, since the pin block 130 electrically connected to the printed circuit board 120b for inspection is raised and lowered, the pins of the pin block 130 are physically connected to the terminals of the corresponding connector of the test object 200 and each other physically. contacted and electrically connected.

액추에이터(140)는 전기 모터에 의해 구동되어 승하강 플레이트(142)를 승강시키는 정도를 조절할 수 있기 때문에, 액추에이터(140)는 핀 블록(130), 핀 블록(130)의 핀들 및 피검사품(200)의 커넥터의 단자들이 파손되지 않을 정도로 핀 블록(130)을 승강시킬 수 있다.Since the actuator 140 is driven by an electric motor to adjust the degree of elevating the elevating plate 142 , the actuator 140 includes the pin block 130 , the pins of the pin block 130 , and the item to be inspected 200 . ), it is possible to elevate the pin block 130 to the extent that the terminals of the connector are not damaged.

이러한 상태에서 피검사품(200)에 대한 전기적 특성 검사가 수행된다.In this state, an electrical characteristic test is performed on the object to be inspected 200 .

이상, 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명의 실시예들을 설명하였지만, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들에는 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다.Above, embodiments of the present invention have been described with reference to the accompanying drawings, but those of ordinary skill in the art to which the present invention pertains can practice the present invention in other specific forms without changing the technical spirit or essential features. You will understand that there is Therefore, it should be understood that the embodiments described above are illustrative in all respects and not restrictive.

110 : 안착 베이스
111 : 안착 홈
112 : 승하강 베이스
120a, 120b : 검사용 인쇄 회로 기판
130 : 핀 블록
140 : 액추에이터
142 : 승하강 플레이트
144 : 결합 베이스
150a, 150b : 지지축
160 : 누름 부재
200 : 피검사품
210 : 커넥터110: seating base
111: seating groove
112: elevating base
120a, 120b: printed circuit board for inspection
130: pin block
140: actuator
142: elevating plate
144: combined base
150a, 150b: support shaft
160: press member
200: item to be inspected
210: connector

Claims (5)

피검사품이 안착되는 안착 홈을 갖는 안착 베이스;
상기 안착 베이스에 안착된 상기 피검사품이 상기 안착 베이스로부터 이격되지 않도록 고정하는 누름 부재;
상기 누름 부재에 대향하는 상기 안착 베이스 쪽에 구비되어 상기 피검사품의 단자들과 각각 물리적으로 접촉하여 전기적으로 연결되는 핀들을 구비하는 핀 블록;
상기 핀 블록을 승강 및 하강시켜 상기 피검사품과 전기적으로 연결 및 해제시키는 액추에이터; 및
상기 핀 블록과 전기적으로 연결되어 전기적 검사 신호를 발생시키는 검사용 인쇄 회로 기판을 포함하는 전기적 특성 검사 장치.a seating base having a seating groove in which the object to be inspected is mounted;
a pressing member for fixing the object to be inspected seated on the seating base so as not to be spaced apart from the seating base;
a pin block provided on a side of the seating base opposite to the pressing member and having pins electrically connected to each other in physical contact with the terminals of the object to be inspected;
an actuator that elevates and lowers the pin block to electrically connect and release the object to be inspected; and
and an inspection printed circuit board electrically connected to the pin block to generate an electrical inspection signal. 제 1항에 있어서,
상기 누름 부재는 공압 실린더의 작동에 의해 상기 안착 베이스에 안착된 상기 피검사품이 상기 안착 베이스로부터 이격되지 않도록 고정하는 전기적 특성 검사 장치.The method of claim 1,
The pressing member is an electrical characteristic inspection device for fixing the object to be inspected seated on the seating base by the operation of the pneumatic cylinder so as not to be spaced apart from the seating base. 제 1항에 있어서,
상기 액추에이터는 전기 모터에 의해 구동되어 상기 핀 블록을 승강시키는 정도를 조절하는 전기적 특성 검사 장치.The method of claim 1,
The actuator is driven by an electric motor to control the degree of lifting and lowering the pin block. 제 1항에 있어서,
상기 액추에이터와 상기 검사용 인쇄 회로 기판 사이에 구비되어 상기 핀 블록과 전기적으로 연결된 상기 검사용 인쇄 회로 기판이 놓이는 승하강 베이스를 포함하되,
상기 액추에이터는 상기 승하강 베이스를 승강 및 하강시켜 상기 핀 블록을 승강 및 하강 시키는 전기적 특성 검사 장치.The method of claim 1,
It is provided between the actuator and the printed circuit board for inspection and includes an elevating base on which the printed circuit board for inspection electrically connected to the pin block is placed,
The actuator is an electrical characteristic inspection device for elevating and lowering the elevating base to elevate and lower the pin block. 제 1항에 있어서,
상기 핀 블록, 상기 검사용 인쇄 회로 기판 및 상기 액추에이터가 일체형으로 형성되어 승하강 부재를 구성하되,
상기 액추에이터의 구동에 의해 상기 핀 블록이 승강 및 하강하는 전기적 특성 검사 장치.The method of claim 1,
The pin block, the printed circuit board for inspection, and the actuator are integrally formed to constitute an elevating member,
An electrical characteristic inspection device in which the pin block is raised and lowered by driving the actuator.
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